JP2001264251A - 光沢計測方法 - Google Patents
光沢計測方法Info
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- JP2001264251A JP2001264251A JP2000080032A JP2000080032A JP2001264251A JP 2001264251 A JP2001264251 A JP 2001264251A JP 2000080032 A JP2000080032 A JP 2000080032A JP 2000080032 A JP2000080032 A JP 2000080032A JP 2001264251 A JP2001264251 A JP 2001264251A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 新規な光沢計測方法を提供する。
【解決手段】 サンプルに対し光源の光を照射し、サン
プル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光
器で受光する。この計測を入射角の異なる複数のエリア
に対しておこない、前記のエリアへの光の入射角の相違
による受光器の測定値の差を求める。この差より光沢を
計測する。
プル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光
器で受光する。この計測を入射角の異なる複数のエリア
に対しておこない、前記のエリアへの光の入射角の相違
による受光器の測定値の差を求める。この差より光沢を
計測する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光沢の計測に関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】光沢の
検査方法は、ＪＩＳのＺ８７４１に規定されており、そ
こには大きく２種類の光沢度が記載されている。１つの
光沢度は、鏡面光沢度である。光源の入射角度と受光
（測定）の角度を同じにして、１つの受光器で計測し、
その受光量の標準値との比を求める。もう１つの光沢度
は、対比光沢度であり、対比光沢度とは、２つの異なっ
た条件で測った反射光束の比をいう。対比光沢度では標
準板は用いない。３つの方法が知られており、１つの方
法では、受光の条件（正反射光の垂直成分と平行成分）
を複数設定して計測し、それらの受光量の比を求める。
別の方法では、光源の角度に対して受光（計測）の角度
（正反射方向と拡散反射方向）で測定する。もう１つの
方法では、受光器の２つの異なった開き角に対する反射
光束の比を求める。本発明者は、光沢についての考察か
ら本願の新規な光沢度検査法に到達したものであるが、
上述の光沢度検査法の分類でいえば、新規な対比光沢度
測定法と考えられる。
検査方法は、ＪＩＳのＺ８７４１に規定されており、そ
こには大きく２種類の光沢度が記載されている。１つの
光沢度は、鏡面光沢度である。光源の入射角度と受光
（測定）の角度を同じにして、１つの受光器で計測し、
その受光量の標準値との比を求める。もう１つの光沢度
は、対比光沢度であり、対比光沢度とは、２つの異なっ
た条件で測った反射光束の比をいう。対比光沢度では標
準板は用いない。３つの方法が知られており、１つの方
法では、受光の条件（正反射光の垂直成分と平行成分）
を複数設定して計測し、それらの受光量の比を求める。
別の方法では、光源の角度に対して受光（計測）の角度
（正反射方向と拡散反射方向）で測定する。もう１つの
方法では、受光器の２つの異なった開き角に対する反射
光束の比を求める。本発明者は、光沢についての考察か
ら本願の新規な光沢度検査法に到達したものであるが、
上述の光沢度検査法の分類でいえば、新規な対比光沢度
測定法と考えられる。
【０００３】本発明の目的は、新規な光沢計測方法を提
供することである。
供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光沢計測方
法において、サンプルに対し光源の光を照射し、サンプ
ル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光器
で受光する。この計測を入射角の異なる複数のエリアに
対しておこない、前記のエリアへの光の入射角の相違に
よる受光器の測定値の差を求める。こうして、計測の角
度（反射条件）の違いによるサンプルの見え方の違いに
よってサンプルの光沢（つや）を測る。たとえば、この
光沢計測方法において、複数の受光器を用いてそれぞれ
入射角の異なるエリアからの光を受光する。また、たと
えば、この光沢計測方法において、サンプルを光源に対
し相対的に移動しつつ計測を行う。
法において、サンプルに対し光源の光を照射し、サンプ
ル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光器
で受光する。この計測を入射角の異なる複数のエリアに
対しておこない、前記のエリアへの光の入射角の相違に
よる受光器の測定値の差を求める。こうして、計測の角
度（反射条件）の違いによるサンプルの見え方の違いに
よってサンプルの光沢（つや）を測る。たとえば、この
光沢計測方法において、複数の受光器を用いてそれぞれ
入射角の異なるエリアからの光を受光する。また、たと
えば、この光沢計測方法において、サンプルを光源に対
し相対的に移動しつつ計測を行う。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の実施の形態を説明する。なお、図面において、同じ
参照記号は同一または同等のものを示す。光沢（つや）
について、次のような一般的な経験的事実がある。つや
のあるものは、つやのないものに比べ、光が直接はねか
える部分が輝いて（明るく）見える。また、つやのある
ものは、つやのないものに比べ、光がはねかえらない部
分が濃く鮮やかに見える。一方、つやのないものは、つ
やのあるものに比べ、光が直接はねかえる部分の周囲が
薄く白っぽく見える。これらのことから、つやの有る無
しは、サンプルに当てる光の方向とその見え方によって
区別できると考えられる。したがって、計測の角度の違
いによって、見える見え方が違うことによってサンプル
のつやを測ることができると考えられる。そこで、以下
のような計測方法でつやを測ったところ、その計測方法
はつやの測定に有効であることがわかった。
明の実施の形態を説明する。なお、図面において、同じ
参照記号は同一または同等のものを示す。光沢（つや）
について、次のような一般的な経験的事実がある。つや
のあるものは、つやのないものに比べ、光が直接はねか
える部分が輝いて（明るく）見える。また、つやのある
ものは、つやのないものに比べ、光がはねかえらない部
分が濃く鮮やかに見える。一方、つやのないものは、つ
やのあるものに比べ、光が直接はねかえる部分の周囲が
薄く白っぽく見える。これらのことから、つやの有る無
しは、サンプルに当てる光の方向とその見え方によって
区別できると考えられる。したがって、計測の角度の違
いによって、見える見え方が違うことによってサンプル
のつやを測ることができると考えられる。そこで、以下
のような計測方法でつやを測ったところ、その計測方法
はつやの測定に有効であることがわかった。
【０００６】図１は計測方法を示す。光沢度の測定対象
であるサンプル板１０を設置し、光源１２によりサンプ
ル板（ワーク）を照射する。サンプル板１０上の複数
（ここでは２つ）の計測エリア１４の上方に、計測エリ
ア１４からの光を受け取るＣＣＤカメラ１６、１７を設
置する。この配置において、光源１２からの光は、異な
る入射角で計測エリア１４に入射する。なお、ＣＣＤカ
ラーカメラ１４，１６は、計測エリアからの正反射光束
が入射しない角度に設置される。この状態で、サンプル
板１０の表面の計測エリア１４からの光がＣＣＤカメラ
１６，１７により測定される。こうして、複数の計測エ
リア１４にそれぞれ対応する複数のＣＣＤカラーカメラ
１６、１７が、それぞれ計測エリア１４からの光を測定
する。そして、データ処理部１８において、複数の計測
エリア１４のカラー画像を解析する。ここで、計測エリ
アの画像から画像データが求められ、それぞれのエリア
で得られた画像データの差を解析する。これにより、反
射条件の異なるエリア間の差を基にサンプルのつやが判
定される。
であるサンプル板１０を設置し、光源１２によりサンプ
ル板（ワーク）を照射する。サンプル板１０上の複数
（ここでは２つ）の計測エリア１４の上方に、計測エリ
ア１４からの光を受け取るＣＣＤカメラ１６、１７を設
置する。この配置において、光源１２からの光は、異な
る入射角で計測エリア１４に入射する。なお、ＣＣＤカ
ラーカメラ１４，１６は、計測エリアからの正反射光束
が入射しない角度に設置される。この状態で、サンプル
板１０の表面の計測エリア１４からの光がＣＣＤカメラ
１６，１７により測定される。こうして、複数の計測エ
リア１４にそれぞれ対応する複数のＣＣＤカラーカメラ
１６、１７が、それぞれ計測エリア１４からの光を測定
する。そして、データ処理部１８において、複数の計測
エリア１４のカラー画像を解析する。ここで、計測エリ
アの画像から画像データが求められ、それぞれのエリア
で得られた画像データの差を解析する。これにより、反
射条件の異なるエリア間の差を基にサンプルのつやが判
定される。
【０００７】図２は別の測定方法を示す。ここでは、サ
ンプル板２０の上方に設けた１次元光源（たとえば蛍光
灯）２２によりサンプル板２０を照射する。サンプル板
２０の上に３箇所の計測エリア２４が設定される。ＣＣ
Ｄカラーカメラ２６は、計測エリア２４を含む広い範囲
からの光を受け取る。これにより、図１に示したよう
に、各計測エリア２４に光源２２からの光が異なる入射
角で入射したときの光が測定される。(この光は正反射
光ではない。）ＣＣＤカメラ２６のデータは信号処理部
２８において解析される。ここで、カメラ２４により得
られた画像の１部が抽出され、たとえばＬａｂ値に変換
され、抽出した面積での平均が求められる。計測データ
は、計測エリア２４に対応する部分の画像から複数の抽
出点で求められる。なお、図において矢印で示すように
サンプル板２０を移動しつつ測定を行える。これによ
り、サンプル板の製造の際にオンラインでの計測ができ
る。
ンプル板２０の上方に設けた１次元光源（たとえば蛍光
灯）２２によりサンプル板２０を照射する。サンプル板
２０の上に３箇所の計測エリア２４が設定される。ＣＣ
Ｄカラーカメラ２６は、計測エリア２４を含む広い範囲
からの光を受け取る。これにより、図１に示したよう
に、各計測エリア２４に光源２２からの光が異なる入射
角で入射したときの光が測定される。(この光は正反射
光ではない。）ＣＣＤカメラ２６のデータは信号処理部
２８において解析される。ここで、カメラ２４により得
られた画像の１部が抽出され、たとえばＬａｂ値に変換
され、抽出した面積での平均が求められる。計測データ
は、計測エリア２４に対応する部分の画像から複数の抽
出点で求められる。なお、図において矢印で示すように
サンプル板２０を移動しつつ測定を行える。これによ
り、サンプル板の製造の際にオンラインでの計測ができ
る。
【０００８】図３、図４、図５及び図６に示すグラフ
は、測定データの１例を示す。これらのグラフにおい
て、縦軸はＣＩＥが定めた均等色空間の１つであるＬａ
ｂ表色系で表わした指数（Ｌ値、ａ値、ｂ値）であり、
横軸は計測点を表わす。サンプル板２０は、４枚の床板
合板２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄである。サンプル
板はたとえば３０ｃｍ＊６０ｃｍの大きさであり、計測
エリア２４は、５ｃｍ＊２０ｃｍの大きさである。ま
た、計測エリア２４として３つの計測エリア２４Ａ、２
４Ｂ、２４Ｃが設けられる。各計測エリア２４Ａ、２４
Ｂ、２４Ｃに、光源２２からの光が異なる入射角で入射
している。各サンプル板２０について、３つの計測エリ
ア２４Ａ、２４Ｂ、２４ＣごとにＬ、ａ、ｂのそれぞれ
の計測値が求められる。各計測エリア２４において、そ
れぞれ抽出点で平均値が求められる。各計測エリア２４
では、光源２２に平行な方向にそって１０〜１６点での
測定結果が得られる。図３〜図６に示されるように、各
計測エリアにおいてデータの再現性はよい。各エリア内
では測定値はほぼ同じである。
は、測定データの１例を示す。これらのグラフにおい
て、縦軸はＣＩＥが定めた均等色空間の１つであるＬａ
ｂ表色系で表わした指数（Ｌ値、ａ値、ｂ値）であり、
横軸は計測点を表わす。サンプル板２０は、４枚の床板
合板２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄである。サンプル
板はたとえば３０ｃｍ＊６０ｃｍの大きさであり、計測
エリア２４は、５ｃｍ＊２０ｃｍの大きさである。ま
た、計測エリア２４として３つの計測エリア２４Ａ、２
４Ｂ、２４Ｃが設けられる。各計測エリア２４Ａ、２４
Ｂ、２４Ｃに、光源２２からの光が異なる入射角で入射
している。各サンプル板２０について、３つの計測エリ
ア２４Ａ、２４Ｂ、２４ＣごとにＬ、ａ、ｂのそれぞれ
の計測値が求められる。各計測エリア２４において、そ
れぞれ抽出点で平均値が求められる。各計測エリア２４
では、光源２２に平行な方向にそって１０〜１６点での
測定結果が得られる。図３〜図６に示されるように、各
計測エリアにおいてデータの再現性はよい。各エリア内
では測定値はほぼ同じである。
【０００９】次に、測定データについて検討する。計測
エリア２４Ａと２４Ｃで得られたＬａｂ測定値の差Δ
Ｌ、Δａ、Δｂは次の通りであった。なお、括弧内は、
サンプル板２０（Ｄ）を基準とした場合の差を示す。
エリア２４Ａと２４Ｃで得られたＬａｂ測定値の差Δ
Ｌ、Δａ、Δｂは次の通りであった。なお、括弧内は、
サンプル板２０（Ｄ）を基準とした場合の差を示す。
【００１０】サンプル板２０Ａについて、 ΔＬ＝２０.２ （ ３.８） Δａ＝ １.５ （−０.２） Δｂ＝ ３.９ （−２.１） サンプル板２０Ｂについて、 ΔＬ＝１６.９ （ ０.５） Δａ＝ １.４ （−０.３） Δｂ＝ ４.３ （−１.７） サンプル板２０Ｃについて、 ΔＬ＝１８.０ （ １.６） Δａ＝ １.８ （−０.１） Δｂ＝ ５.７ （−０.３） サンプル板２０Ｄについて、 ΔＬ＝１６.４ （基準値＝０） Δａ＝ １.７ （基準値＝０） Δｂ＝ ６.０ （基準値＝０）
【００１１】また、図７、図８、図９のグラフは、４つ
のサンプル板２０についてそれぞれエリア間のＬ値、ａ
値、ｂ値の変化を示す。これらのグラフにおいて、縦軸
はＣＩＥが定めた均等色空間の１つであるＬａｂ表色系
で表わした指数（Ｌ値、ａ値、ｂ値）であり、横軸はサ
ンプル板２０の床板合板２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０
Ｄを表わす。グラフの下側部分は、エリア２４Ｂのデー
タとエリア２４Ａでのデータの差を示し、上側部分は、
エリア２４Ｃのデータとエリア２４Ｂでのデータの差を
示す。なお、両者の和は、エリア２４Ｃのデータとエリ
ア２４Ａでのデータの差に対応する。
のサンプル板２０についてそれぞれエリア間のＬ値、ａ
値、ｂ値の変化を示す。これらのグラフにおいて、縦軸
はＣＩＥが定めた均等色空間の１つであるＬａｂ表色系
で表わした指数（Ｌ値、ａ値、ｂ値）であり、横軸はサ
ンプル板２０の床板合板２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０
Ｄを表わす。グラフの下側部分は、エリア２４Ｂのデー
タとエリア２４Ａでのデータの差を示し、上側部分は、
エリア２４Ｃのデータとエリア２４Ｂでのデータの差を
示す。なお、両者の和は、エリア２４Ｃのデータとエリ
ア２４Ａでのデータの差に対応する。
【００１２】２つのエリア２４Ａ、２４ＣでのＬａｂの
色差を評価すると、Ｌ値については、板２０Ａがエリア
間のＬの差が最も大きい。また、板２０Ｄがエリア間の
Ｌの差が最も小さい。ｂ値については、板２０Ｄがエリ
ア間のｂの差が最も大きい。また、板２０Ａがエリア間
のｂの差が最も小さい。ａ値の差は小さかった。つやが
あるほどエリアの間のｂ値に差が発生すると考えると、
つやはサンプル板２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄの順
に大きくなり、サンプル板２０Ａと２０Ｄではｂ値の差
で２.１となる。また、Ｌ値の差が小さいことがつやと
関係があるとすると、つやの順序はサンプル板２０Ａ、
２０Ｃ、２０Ｂ、２０Ｄとなり、つやの大きさはサンプ
ル板２０Ｂがサンプル板２０Ｄに次いで大きい。目示判
定では、サンプル板２０Ａが最もつやがなく、色が薄く
見えた。サンプル板２０Ｂは濃く見えた。またサンプル
板２０Ｄはつやがあるように見えた。目視判定と測定結
果と対比すると、このサンプル板２０では、ｂ値が最も
つやに関連すると判断される。なお、上述の例ではカラ
ーカメラで計測している。白黒のサンプルの場合、つや
はＬ値のみで判断する。
色差を評価すると、Ｌ値については、板２０Ａがエリア
間のＬの差が最も大きい。また、板２０Ｄがエリア間の
Ｌの差が最も小さい。ｂ値については、板２０Ｄがエリ
ア間のｂの差が最も大きい。また、板２０Ａがエリア間
のｂの差が最も小さい。ａ値の差は小さかった。つやが
あるほどエリアの間のｂ値に差が発生すると考えると、
つやはサンプル板２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄの順
に大きくなり、サンプル板２０Ａと２０Ｄではｂ値の差
で２.１となる。また、Ｌ値の差が小さいことがつやと
関係があるとすると、つやの順序はサンプル板２０Ａ、
２０Ｃ、２０Ｂ、２０Ｄとなり、つやの大きさはサンプ
ル板２０Ｂがサンプル板２０Ｄに次いで大きい。目示判
定では、サンプル板２０Ａが最もつやがなく、色が薄く
見えた。サンプル板２０Ｂは濃く見えた。またサンプル
板２０Ｄはつやがあるように見えた。目視判定と測定結
果と対比すると、このサンプル板２０では、ｂ値が最も
つやに関連すると判断される。なお、上述の例ではカラ
ーカメラで計測している。白黒のサンプルの場合、つや
はＬ値のみで判断する。
【００１３】ただし、Ｌａｂの測定値について、どの値
が最もつやと関連するかは、サンプルによって変わる。
計測対象のサンプルについてあらかじめ計測値の差と目
視判定によるつやとの関連を決定しておくと、測定デー
タからつやと計測値との関連が判断できる。この関係を
用いて、計測値をつやの計測に使用できる。たとえば、
ワークの製造工程において、計測対象のワークが光源に
対し相対的に移動しているときに、複数のエリアでの測
定結果の差が所定範囲内に収まるようにオンラインで監
視する。
が最もつやと関連するかは、サンプルによって変わる。
計測対象のサンプルについてあらかじめ計測値の差と目
視判定によるつやとの関連を決定しておくと、測定デー
タからつやと計測値との関連が判断できる。この関係を
用いて、計測値をつやの計測に使用できる。たとえば、
ワークの製造工程において、計測対象のワークが光源に
対し相対的に移動しているときに、複数のエリアでの測
定結果の差が所定範囲内に収まるようにオンラインで監
視する。
【００１４】以上に説明したように、本計測方法によ
り、光の当り方（光の反射条件）による見え方の違いを
計測できることがわかった。また、この見え方の違い
は、つやと何らかの関係があると考えることができた。
り、光の当り方（光の反射条件）による見え方の違いを
計測できることがわかった。また、この見え方の違い
は、つやと何らかの関係があると考えることができた。
【００１５】なお、各サンプル板がほぼ均一であるの
で、異なるエリアの間の測定値の差は、実質的に、図１
に示すシステムにおける同じエリアの入射角の異なる測
定値の差に対応する。サンプル板のむらが大きい場合な
どに、注目エリアについてつやを判定したい場合、その
エリアについて入射角の異なる画像を求めデータを測定
すると、そのエリアについてのつやが判定できる。この
場合、たとえば、サンプル板を光源に対して移動しつ
つ、異なる時点で同じエリアについて計測する。
で、異なるエリアの間の測定値の差は、実質的に、図１
に示すシステムにおける同じエリアの入射角の異なる測
定値の差に対応する。サンプル板のむらが大きい場合な
どに、注目エリアについてつやを判定したい場合、その
エリアについて入射角の異なる画像を求めデータを測定
すると、そのエリアについてのつやが判定できる。この
場合、たとえば、サンプル板を光源に対して移動しつ
つ、異なる時点で同じエリアについて計測する。
【００１６】
【発明の効果】本発明の計測方法により、光の当り方に
よる見え方の違いを計測できる。また、この見え方の違
いは、つやと何らかの関係がある。
よる見え方の違いを計測できる。また、この見え方の違
いは、つやと何らかの関係がある。
【図１】 つやの計測方法を説明するための図
【図２】 つやの別の計測方法を説明するための図
【図３】 サンプル板２０Ａについて、３つの計測エリ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
【図４】 サンプル板２０Ｂについて、３つの計測エリ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
【図５】 サンプル板２０Ｃについて、３つの計測エリ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
【図６】 サンプル板２０Ｄについて、３つの計測エリ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
アごとに測定したＬ、ａ、ｂのそれぞれの計測値を示す
グラフ
【図７】 ４枚のサンプル板の間のＬ値の変化を示すグ
ラフ
ラフ
【図８】 ４枚のサンプル板の間のａ値の変化を示すグ
ラフ
ラフ
【図９】 ４枚のサンプル板の間のｂ値の変化を示すグ
ラフ
ラフ
１０ サンプル板、 １２ 光源、 １４ 計測エ
リア、 １６，１７ ＣＣＤカメラ、 １８ デー
タ処理部、 ２０ サンプル板、 ２２光源、
２４ 計測エリア、 ２６ ＣＣＤカラーカメラ、
２８ 信号処理部。
リア、 １６，１７ ＣＣＤカメラ、 １８ デー
タ処理部、 ２０ サンプル板、 ２２光源、
２４ 計測エリア、 ２６ ＣＣＤカラーカメラ、
２８ 信号処理部。
Claims (3)
- 【請求項１】 サンプルに対し光源の光を照射し、 サンプル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で
受光器で受光し、 この計測を入射角の異なる複数のエリアに対しておこな
い、 前記のエリアへの光の入射角の相違による受光器の測定
値の差を求める光沢計測方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載された光沢計測方法にお
いて、 複数の受光器を備え、それぞれ入射角の異なるエリアか
らの光を受光することを特徴とする光沢計測方法。 - 【請求項３】 請求項１または２に記載された光沢計測
方法において、 サンプルを光源に対し相対的に移動することを特徴とす
る光沢計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000080032A JP2001264251A (ja) | 2000-03-22 | 2000-03-22 | 光沢計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000080032A JP2001264251A (ja) | 2000-03-22 | 2000-03-22 | 光沢計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001264251A true JP2001264251A (ja) | 2001-09-26 |
Family
ID=18597195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000080032A Pending JP2001264251A (ja) | 2000-03-22 | 2000-03-22 | 光沢計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001264251A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007071723A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Seiko Epson Corp | 表示装置のぎらつき測定方法およびぎらつき測定装置 |
| EP2913659A1 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical system and optical quality measuring apparatus |
| EP2913658A1 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical system and optical quality measuring apparatus |
| WO2020017755A1 (ko) * | 2018-07-20 | 2020-01-23 | 삼성전자 주식회사 | 전자 디바이스의 표면 측정 장치 및 방법 |
| CN111213047A (zh) * | 2017-05-22 | 2020-05-29 | 深圳配天智能技术研究院有限公司 | 一种视觉检测参数的确定方法、视觉检测设备以及视觉检测系统 |
-
2000
- 2000-03-22 JP JP2000080032A patent/JP2001264251A/ja active Pending
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| US7643061B2 (en) | 2005-09-07 | 2010-01-05 | Seiko Epson Corporation | Scintillation measuring method of display device and scintillation measuring device |
| JP4581927B2 (ja) * | 2005-09-07 | 2010-11-17 | セイコーエプソン株式会社 | 表示装置のぎらつき測定方法およびぎらつき測定装置 |
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