CN109597228B - 一种面板检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种面板检测方法，所述检测方法包括：S10、提供一主机、至少两个光学探头；S20、所述主机发送点亮指令以及输入共电极电压给面板组；S30、所述光学探头分别检测所述面板组中任一面板的闪烁值并传回给所述主机；S40、所述主机判断所述闪烁值是否为最佳闪烁值；S50、所述主机判断所述闪烁值为最佳闪烁值，将所述面板的所述最佳闪烁值对应的共电极电压记录为所述面板的最佳共电极电压；S60、所述主机判断所述闪烁值不是最佳闪烁值，所述主机调整输入共电极电压值，并重复S20至S40；有益效果：本发明实施例通过将原有的一个主机对应一个光学探头的模式切换为一个主机对应两个或者多个光学探头，达到提高模组生产良率的技术效果。

Description

一种面板检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种面板检测方法。
背景技术
随着科技的发展，液晶显示器在人们生活中的应用越来越广泛；随着液晶显示技术的发展，液晶显示器的种类也越来越多。但是，所有种类的液晶显示器的驱动方式都是一致的，即利用施加电场来改变液晶分子的排列方式，而使得光在液晶层中的相位延迟不同来改变透射率，进而来显示不同的灰阶亮度。然而由于液晶的纯度以及配向膜等原因，驱动液晶时必须使用极性反转的方式去驱动，即在不同的时间使用正负号相反的电压驱动液晶，不然就会造成液晶出现极化，从而影响显示效果，甚至损坏显示器。不仅如此，还要使得正负极性的平均值相互抵消，即施加的电压不能有直流的成分。所以驱动液晶显示器时，必须要使得正负极性电压相对于VCOM(共电极电压)对称。理想情况下，我们施加在液晶两端的电压均是相对于VCOM对称的，然而由于电路之间的耦合，常常会使得正负压出现一定偏差，从而导致画面Flicker(闪烁)。
在生产液晶面板时，在模组厂内会进行VCOM调整，从而使得面板的Flicker达到最佳。其中，Flicker是一数值变量，其越大则表示面板的闪烁越严重，一般面板有一个VCOM值可以对应到Flicker最小的点，也就是对应此时的面板闪烁状况最佳。
现有技术为一个主机搭配一个光学探头来检测面板的Flicker值，由于光学探头本身有一定的误差且其需要定时矫正(一般为3～6个月一次)，而且光学探头与主机之间是需要通过一根USB线相连来传输数据，在正常模组生产过程中经常性由于探头本身出现问题或者连接线相接不良导致传输给主机的Flicker值是不准确的，就会出现无论主机端如何调整VCOM值，其反馈回来的Flicker值不变，此时主机就会随机找一个值当做此面板的最佳VCOM，并把它烧录进此面板内，这样导致出货给客户的面板不是最佳VCOM，从而使得闪烁严重，导致客户抱怨或者厂内良率偏低。
综上所述，现有技术的面板检测方法，由于采用一个主机搭配一个光学探头来检测面板的闪烁值，导致传输给主机的闪烁值不准确，造成产品闪烁严重，影响生产良率。故，有必要提供一种新的面板检测方法来改善这一缺陷。
发明内容
本发明实施例提供一种面板检测方法，用于解决现有技术由于采用一个主机搭配一个光学探头来检测面板的闪烁值，导致传输给主机的闪烁值不准确，造成产品闪烁严重，影响生产良率的技术问题。
本发明实施例提供一种面板检测方法，所述方法包括：
S10、提供一主机、以及光学探头组，所述光学探头组至少包括两个光学探头，所述光学探头通过USB线与所述主机相连，用于检测面板的闪烁值；
S20、所述主机发送点亮指令以及输入共电极电压给面板组；
S30、所述光学探头分别检测所述面板组中任一面板的闪烁值并传回给所述主机；
S40、所述主机判断所述闪烁值是否为最佳闪烁值；
S50、所述主机判断所述闪烁值为最佳闪烁值，则所述主机将所述面板的所述最佳闪烁值对应的共电极电压记录为所述面板的最佳共电极电压，并将所述最佳共电极电压烧录在所述面板内；
S60、所述主机判断所述闪烁值不是最佳闪烁值，所述主机调整输入共电极电压值，并重复所述步骤S20至S40，直至所述主机判断所述闪烁值为最佳闪烁值时结束。
根据本发明一优选实施例，在步骤S20中若所述面板组中任一面板已烧录最佳共电极电压，则传送下一片面板进行补位检测。
根据本发明一优选实施例，在步骤S30中所述光学探头的数量与所述面板组内的面板数量相等。
根据本发明一优选实施例，在步骤S40中判断最佳闪烁值的方法是通过比较得到最小闪烁值，所述最小闪烁值即为最佳闪烁值。
根据本发明一优选实施例，在步骤S60中所述主机调整输入共电极电压值的调整范围是以最佳共电极电压为中心值来回选取。
本发明实施例还提供一种面板检测方法，所述方法包括：
S101、收集同批次面板的最佳共电极电压的范围，即最大最佳共电极电压值与最小最佳共电极电压值；
S102、提取所述范围内的中心值；
S103、确认在所述同批次面板中所述中心值对应的任一面板的闪烁值之间差异最大的闪烁值差；
S104、主机发送点亮指令，输入所述中心值给任一面板；
S105、所述主机使用光学探头组回读闪烁值并相互之间做减法运算；
S106、将差值与所述闪烁值差作比较；
S107、差值大于所述闪烁值差，报警通知工程师校正探头或者检查连线；
S108、差值小于所述闪烁值差，找最佳共电极电压和最佳闪烁值；
S109、找到最佳共电极电压后确认所述最佳共电极电压是否在所述范围内；
S110、在所述范围内，正常出货；
S111、不在所述范围内，则重复所述步骤S107至S109，直至所述最佳共电极电压是在所述范围内时结束。
根据本发明一优选实施例，在S105中所述光学探头组至少包括两个光学探头，所述闪烁值的个数与所述光学探头的数量相等。
根据本发明一优选实施例，在S105中对所有读取的闪烁值分别两两做减法运算，得到其中最大的差值。
根据本发明一优选实施例，在S108中先找最佳闪烁值，找到最佳闪烁值后，与所述最佳闪烁值对应的即为最佳共电极电压。
根据本发明一优选实施例，在S108中找最佳闪烁值的方法是通过比较得到最小闪烁值，所述最小闪烁值即为最佳闪烁值。
有益效果：本发明实施例提供的一种面板检测方法，通过将现有技术采用一个主机对应一个光学探头的模式切换为一个主机对应两个或者多个光学探头，避免由于探头本身的异常或者连接线接触不良导致的闪烁异常，达到提高模组生产良率的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的检测面板闪烁值的治具的结构图；
图2为本发明第一优选实施例提供的面板检测方法流程图；
图3为本发明第二优选实施例提供的面板检测方法流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
现有技术的面板检测方法，由于采用一个主机搭配一个光学探头来检测面板的闪烁值，导致传输给主机的闪烁值不准确，造成产品闪烁严重，影响生产良率，本实施例能够解决该缺陷。
如图1所示，本发明实施例提供的检测面板闪烁值的治具的结构图，从图中可以很直观地看到本发明的各组成部分，以及各组成部分之间的相对位置关系，所述检测面板闪烁值的治具包括一主机101、以及光学探头组，所述光学探头组至少包括两个光学探头，第一光学探头102和第二光学探头103，所述第一光学探头102通过第一连接线104与所述主机101相连，所述第二光学探头103通过第二连接线105与所述主机101相连，所述连接线可以为USB线，所述第一光学探头102对应检测第一面板106，所述第二光学探头103对应检测第二面板107。
在此实施例中，所述主机101连接两个或者多个光学探头检测面板的闪烁值，通过比较多个采集的闪烁值，避免当一个主机对应一个光学探头模式时，由于探头本身的异常或者连接线接触不良导致的所检测的闪烁值不准确，还可以提高检测效率。
如图2所示，本发明第一优选实施例提供的面板检测方法流程图，所述检测方法包括：
S201、提供一主机、以及光学探头组，所述光学探头组至少包括两个光学探头，所述光学探头通过USB线与所述主机相连，用于检测面板的闪烁值；
S202、所述主机发送点亮指令以及输入共电极电压给面板组；
S203、所述光学探头分别检测所述面板组中任一面板的闪烁值并传回给所述主机；
S204、所述主机判断所述闪烁值是否为最佳闪烁值；
S205、所述主机判断所述闪烁值为最佳闪烁值，则所述主机将所述面板的所述最佳闪烁值对应的共电极电压记录为所述面板的最佳共电极电压，并将所述最佳共电极电压烧录在所述面板内；
S206、所述主机判断所述闪烁值不是最佳闪烁值，所述主机调整输入共电极电压值，并重复所述步骤S202至S205，直至所述主机判断所述闪烁值为最佳闪烁值时结束。
在此较佳实施例中，在步骤S20中若所述面板组中任一面板已烧录最佳共电极电压，则传送下一片面板进行补位检测；在步骤S30中所述光学探头的数量与所述面板组内的面板数量相等；在步骤S40中判断最佳闪烁值的方法是通过比较得到最小闪烁值，所述最小闪烁值即为最佳闪烁值；在步骤S60中所述主机调整输入共电极电压值的调整范围是以最佳共电极电压为中心值来回选取。
如图3所示，本发明第二优选实施例提供的面板检测方法流程图，所述检测方法包括：
S301、收集同批次面板的最佳共电极电压的范围，即最大最佳共电极电压值与最小最佳共电极电压值；
S302、提取所述范围内的中心值；
S303、确认在所述同批次面板中所述中心值对应的任一面板的闪烁值之间差异最大的闪烁值差；
S304、主机发送点亮指令，输入所述中心值给任一面板；
S305、所述主机使用光学探头组回读闪烁值并相互之间做减法运算；
S306、将差值与所述闪烁值差作比较，判断差值是否小于所述闪烁值差；
S307、差值大于所述闪烁值差，报警通知工程师校正探头或者检查连线；
S308、差值小于所述闪烁值差，找最佳共电极电压和最佳闪烁值；
S309、找到最佳共电极电压后确认所述最佳共电极电压是否在所述范围内；
S310、在所述范围内，正常出货；
S311、不在所述范围内，则重复所述步骤S307至S309，直至所述最佳共电极电压是在所述范围内时结束。
其中，在S105中所述光学探头组至少包括两个光学探头，所述闪烁值的个数与所述光学探头的数量相等，对所有读取的闪烁值分别两两做减法运算，得到其中最大的差值，在S108中先找最佳闪烁值，找到最佳闪烁值后，与所述最佳闪烁值对应的即为最佳共电极电压，找最佳闪烁值的方法是通过比较得到最小闪烁值，所述最小闪烁值即为最佳闪烁值。
在此较佳实施例中，通过设置两步判断程序对所采集的数据进行进一步检测准确性，若不能通过这两步判断程序，即报警通知工程师校正探头或者检查连线，将制程问题解决后得到标准最佳闪烁值，然后将此最佳闪烁值对应的最佳共电极电压烧录入面板内，使产品品质达到最佳，大大提高了模组的生产良率。
综上所述，本发明实施例提供的一种面板检测方法，通过将现有技术采用一个主机对应一个光学探头的模式切换为一个主机对应两个或者多个光学探头，避免由于探头本身的异常或者连接线接触不良导致的闪烁异常，达到提高模组生产良率的技术效果，解决了现有技术由于采用一个主机搭配一个光学探头来检测面板的闪烁值，导致传输给主机的闪烁值不准确，造成产品闪烁严重，影响生产良率的技术问题。
以上对本发明实施例所提供的一种面板检测方法进行了详细介绍。应理解，本文所述的示例性实施方式应仅被认为是描述性的，用于帮助理解本发明的方法及其核心思想，而并不用于限制本发明。

Claims (5)

1.一种面板检测方法，其特征在于，所述方法包括：
S101、收集同批次面板的最佳共电极电压的范围，即最大最佳共电极电压值与最小最佳共电极电压值；
S102、提取所述范围内的中心值；
S103、确认在所述同批次面板中所述中心值对应的任一面板的闪烁值之间差异最大的闪烁值差；
S104、主机发送点亮指令，输入所述中心值给任一面板；
S105、所述主机使用光学探头组回读闪烁值并相互之间做减法运算；
S106、将差值与所述闪烁值差作比较；
S107、差值大于所述闪烁值差，报警通知工程师校正探头或者检查连线；
S108、差值小于所述闪烁值差，找最佳共电极电压和最佳闪烁值；
S109、找到最佳共电极电压后确认所述最佳共电极电压是否在所述范围内；
S110、在所述范围内，正常出货；
S111、不在所述范围内，则重复所述步骤S107至S109，直至所述最佳共电极电压是在所述范围内时结束。
2.如权利要求1所述的面板检测方法，其特征在于，在S105中所述光学探头组至少包括两个光学探头，所述闪烁值的个数与所述光学探头的数量相等。
3.如权利要求1所述的面板检测方法，其特征在于，在S105中对所有读取的闪烁值分别两两做减法运算，得到其中最大的差值。
4.如权利要求1所述的面板检测方法，其特征在于，在S108中先找最佳闪烁值，找到最佳闪烁值后，与所述最佳闪烁值对应的即为最佳共电极电压。
5.如权利要求1所述的面板检测方法，其特征在于，在S108中找最佳闪烁值的方法是通过比较得到最小闪烁值，所述最小闪烁值即为最佳闪烁值。
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