KR20060127862A - 이산화염소 생성에 있어서의 ｐＨ 저하 위한 염 부가 - Google Patents

이산화염소 생성에 있어서의 ｐＨ 저하 위한 염 부가 Download PDF

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Abstract

본 발명은 다양한 산업 및 다양한 표면 및 시스템의 무기 침착물 제거를 가능케 하는, pH가 저하된 이산화염소 용액에 관한 것이다. 본 이산화염소 용액은 5 미만의 pH를 갖는다. 무기 침착물을 제거하고 살균하기 위한, pH가 저하된 이산화염소 용액의 제조 및 사용 방법 또한 존재한다.
이산화염소, 무기 침착물 제거, 살균,

Description

이산화염소 생성에 있어서의 ｐＨ 저하 위한 염 부가 {ADDITION OF SALT TO DEPRESS pH IN THE GENERATION OF CHLORINE DIOXIDE}
관련 출원의 상호 참조:
본 출원은 2003년 12월 18일에 출원된 미국 특허 출원 제60/481,811호의 정식출원이다.
연방 후원받는 연구 또는 개발에 관한 진술:
없음.
본 발명은 이산화염소 생성 및 효과적으로 무기 침착물을 제거하기 위한 pH 감소에 관한 것이다.
무기 침착물은 식품 및 음료 부문에서부터 세탁 및 제품세정 부문까지의 산업 영역의 문제점이다.
미국 특허 제6,416,645호 및 제6,402,916호에는, 아염소산나트륨을 이산화염소로 빠르고 효율적으로 변환시키기 위한 이온 교환 및 촉매작용의 조합이 개시되어 있다. 본 발명은, 제6,416,645호 및 제6,402,916호 특허에 기재된 바와 같이, 아염소산나트륨이 이온 교환 및 촉매 시스템을 통과하는 동안, 아염소산나트륨에 염을 부가하여, 이산화염소의 pH를 억제하며, 결과적으로 사용된 산 염 및 이산화 염소를 생성시킨다. 모든 염은 이산화염소 용액의 pH를 감소시키는 효과를 가질 것이다. pH를 감소시키는데 바람직한 염은 인산나트륨, 황산나트륨, 질산나트륨 및 아세트산나트륨이다.
무기 침착물을 제거하기 위한 다양한 시장에서 사용되는 매우 다양한 제품들이 시판되고 있다. 이들 제품들은 만족스러운 방식으로 작동하지만, 침착물이 있는 표면에 대한 가혹성, 사람 또는 환경에 대한 위험성 또는 저장 기간을 제한하는 불안정성을 포함하는 넓은 범위의 한계들을 갖는다. 전형적인 무기 침착물 제거제는 또한 시스템 세정을 완료하기 위해 별도의 살균제 사용을 필요로 한다.
다양한 시스템 및 공정에 사용되기에 안전하고, 안전하고 효과적인 방식으로 제조되는 무기 침착물 제거제를 갖는 능력은, 장비를 운전할 때 더 나은 효율을 가능케 하는, 보다 간단한 클리닝 공정을 가능케 하기 때문에, 유리하다. 다양한 시스템 및 다양한 조건에서 살균제로서도 사용될 무기 침착물 제거제의 능력은, 시스템 살균을 가능케 하면서도 또한 임의의 무기 침착물 제거를 가능하도록 하여, 무기 침착물 제거 및 살균 공정 모두를 달성하기 위해 단계를 따로 거칠 필요를 감소시키기 때문에, 클리닝 공정을 단순화시킬 것이다.
발명의 개요
본 발명은 무기 침착물 제거제 및 살균제로서의 이산화염소의 제조 및 사용 방법을 가능케 한다. 무기 침착물을 효과적으로 제거하면서, 동시에 시스템을 살균하는 작업 능력은 더 넓은 범위의 조건 하에서 단순화를 가능케 하고, 클리닝 공정 중 추가적인 장비 또는 추가적인 단계에 대한 필요를 제거시킨다. 본 발명은, 이산화염소가 감소된 pH를 갖고 효과적인 무기 침착물 제거제이면서 여전히 효과적으로 시스템을 살균하도록 하는 방법을 제공한다. 본 발명은 특허 제6,416,645호 및 제6,402,916호의 방법으로의 염 부가를 사용하여, 5 이하로 이산화염소의 pH를 감소시켜 무기 침착물에 사용될 수 있게 한다. 무기 침착물을 제거하는 가장 바람직한 상태의 이산화염소는 pH 3 미만일 것이다. 낮은 pH의 이산화염소는, 비어스톤 및 밀크스톤 등에서 흔히 나타나는 탄산염, 인산염 등과 같은, 흔히 발견되는 그러한 무기 침착물의 감소를 가능케 한다.
5 ZClO2 + MX 는 수지 층을 통과하며, 여기서 5 Z+가 소실되고, (5+n) H+가 획득되어 5 HClO2 + HnX를 생성하고, 그리고 나서, 촉매를 통과하여 4 ClO2 + Cl- + HnX + 2H2O를 생성하며, 여기서 Z는 임의의 알칼리 금속이고, n 아래첨자는 X의 원자가와 같고, M은 염 용액으로부터의 양이온이며, X는 염 용액으로부터의 음이온이다.
본 발명은 pH가 감소된 이산화염소를 사용하여 무기 침착물을 감소시키면서도 이산화염소의 완전한 살균 능력을 보유하는 방법을 제공한다.
낮은 pH의 이산화염소 용액 조성물의 제조 방법으로서, 여기서 아염소산염 용액 및 염 용액은 이온 교환 수지를 통과하여, 아염소산염을 그 산 형태 및 그 염의 산으로 변환시키고 나서, 낮은 pH의 이산화염소 용액을 생성하는 촉매를 통과한다. 이산화염소 용액은 5 이하의 pH를 가지며, 더욱 바람직하게는, 이산화염소 용액은 3 미만의 pH를 갖는다.
바람직하게는, 아염소산염 용액 및 염 용액은 아염소산 및 염 용액의 산 형태를 형성하는 양이온 교환 수지를 통과하고 나서, 둘 다 금속계 촉매를 통과하여, 염소 이온, 물 및 산 형태의 염 용액을 포함하는 낮은 pH의 이산화염소 용액을 형성한다.
아염소산염 용액은 아염소산 알칼리 금속, 가장 바람직하게는 아염소산나트륨이다. 하지만, 양이온을 수지 중 수소 이온으로 교환할 일원자가, 이원자가, 삼원자가, 또는 그들의 조합과 같은 임의의 이온성 화합물일 수 있다. 염 용액은 나트륨 염, 바람직하게는 인산나트륨 또는 질산나트륨 또는 황산나트륨 또는 아세트산나트륨 또는 이들의 임의의 조합일 수 있다. 염 용액은 가장 바람직하게는, 황산나트륨이다.
상기 기재된 방법에 의해 제조되는 바와 같이 형성된, 낮은 pH의 이산화염소 용액을 사용하여 무기 침착물을 제거하는 조성물 또한 포함된다.

Claims (7)

  1. 아염소산염 용액 및 염 용액이 이온 교환 수지를 통과하고 나서, 촉매를 통과하여, 무기 침착물을 제거하기 위해 표면에 또는 시스템 내에 적용되는, 낮은 pH의 이산화염소 용액을 형성하는, 낮은 pH의 이산화염소 조성물 제조 방법.
  2. 제1항에 있어서, 이산화염소 용액이 살균제 및 무기 침착물 제거제인 제조 방법.
  3. 제1항에 있어서, 이산화염소 용액이 5 이하의 pH를 갖는 제조 방법.
  4. 제1항에 있어서, 이산화염소 용액이 3 미만의 pH를 갖는 제조 방법.
  5. 제1항에 있어서, 아염소산염 용액이 아염소산나트륨인 제조 방법.
  6. 아염소산염 용액 및 염 용액이, 아염소산 및 염 용액의 산 형태를 형성하는 양이온 교환 수지를 통과하고 나서, 둘 다 금속계 촉매를 통과하여, 염소 이온, 물 및 염 용액의 산 형태를 포함하는, 낮은 pH의 이산화염소 용액을 형성하는, 낮은 pH의 이산화염소 용액 제조 방법.
  7. 제1항의 제조 방법에 의해 제조되는 바와 같은 낮은 pH의 이산화염소 용액 조성물.
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