KR20060090767A - 전기 회로를 한정하는 방법 및 전기 회로의 약하거나 혹은불량한 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법 - Google Patents

전기 회로를 한정하는 방법 및 전기 회로의 약하거나 혹은불량한 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법 Download PDF

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이스트반 마가이
페렌크 파제카스
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제너럴 일렉트릭 캄파니
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Abstract

적어도 하나의 전기적 접합부 또는 접촉부를 갖는 전기 회로를 한정하는 방법이 개시된다. 무결함 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간의 참조 함수가 제공된다. 그 다음에, 한정될 전기 회로는 적어도 하나의 측정 전기 임펄스에 의해 가열된다. 다음 단계는 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간 데이터를 획득하는 것이다. 후속의 단계는 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터를 참조 함수와 비교하고, 획득된 데이터 및 참조 함수 사이의 차이에 근거하여 전기 회로를 한정하는 것이다.
본 발명의 다른 특징으로서, 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법이 또한 개시된다. 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 가능한 위치의 열 전기 전압 대 시간의 참조 함수가 제공된다. 그 다음에, 전기 회로는 적어도 하나의 측정 전기 임펄스에 의해 가열되고, 후속하여 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간 데이터가 획득된다. 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부는 획득된 데이터 및 참조 함수 사이의 유사성에 따라 국소화된다.

Description

전기 회로를 한정하는 방법 및 전기 회로의 약하거나 혹은 불량한 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법{METHOD FOR QUALIFYING JOINTS AND CONTACTS OF ELECTRIC CIRCUITS}
도 1은 한정될 접합부를 갖는 전기 회로 및 측정 장치의 접속을 도시하는 도면,
도 2는 브라스 와이어 및 아연 피복재 사이의 불량 접촉부를 갖는 전기 회로의 열 전압 대 시간을 도시하는 도면,
도 3은 생산 공정에 있어서 필라멘트 램프 회로 및 측정 장치의 접속을 도시하는 도면,
도 4는 무결함 필라멘트 램프 회로의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면,
도 5는 결함 필라멘트 램프 회로의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면,
도 6은 생산 공정에 있어서 최종 테스트 동안 측정 장치 및 필라멘트 램프의 접속을 도시하는 도면,
도 7은 전기 회로의 접합부 및 접촉부를 한정하는 방법의 블록도,
도 8은 H7 필라멘트 램프를 갖는 자동 반사기의 무결함 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면,
도 9는 H7 필라멘트 램프를 갖는 자동 반사기의 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면,
도 10은 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법의 블록도,
도 11은 H7 필라멘트 램프의 전기 회로의 구조를 도시하는 도면,
도 12는 무결함 H7 필라멘트 램프의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면,
도 13 내지 도 17은 각종 결함 접합부를 갖는 H7 필라멘트 램프의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 테스트 회로 2 : 전기 회로
3 : 측정 와이어 5 : 접합부
6 : 접촉부 10 : 측정 장치
본 발명은 생산 공정 동안 및 그 생산 공정의 종료 시에 전기 회로의 접합부 또는 접촉부를 한정하는 방법에 관한 것이다. 또한 본 발명은 전기 회로 내의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법에 관한 것이 다.
스폿(spot) 용접 한정에 근거하여 전극 및 워크피스(work-piece) 사이의 열 전기 전압을 측정하는 스폿 용접이 알려져 있다.
미국 특허 5,399,827은 스폿 용접 접합부의 온도를 결정하는 방법과 장치 및 스폿 용접 접합부의 품질을 평가하는 방법을 개시한다. 용접 동작의 완료 후에, 용접 전류는 차단되며, 각종 금속으로 이루어지는 워크피스를 갖는 용접 전극이 열전쌍으로서 기능한다. 온도 대 시간 곡선은 측정된 열 전기 전압을 통해 결정된다. 스폿 용접의 품질은 온도 대 시간의 과정으로부터 평가된다.
미국 특허 5,721,415는 스폿 용접 이후의 평가 시간 간격으로 온도 편차에 근거하는 스폿 용접의 품질을 평가하는 평가 시간 간격을 확인하는 방법 및 장치를 개시한다. 양호한 품질 스폿의 온도 곡선은 일부 영역에서 대략 선형적이며, 스폿 용접 시에 응결 열에 의해 야기되는 온도 드롭 시의 지연에 기인될 수 있는 약간 위쪽으로 부풀어 오른 형상을 갖는다.
상기 특허의 두 가지 방법은 접합 동작, 즉 열 전기 전압을 초래하는 스폿 용접에 의해 생성된 열을 사용한다. 이 전압은 워크피스 및 용접 전극 사이에 발생된다.
생산 공정 이후에 전기 회로의 몇몇 접합부 및 접촉부를 한정하고, 크림핑(crimping) 및 볼팅(bolting)과 같이 현저한 열을 생성하지 않는 제조물의 접합부 의 결함을 검출함과 아울러, 스위치 또는 접속기의 결함을 검출하는 방법이 특히 요구된다. 이러한 한정은 고속이면서 신뢰 가능해야 한다. 또한, 결함 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법이 요구된다.
본 발명의 예시적인 실시예에서, 적어도 하나의 전기적 접합부 또는 접촉부를 갖는 전기 회로를 한정하는 방법이 개시된다. 무결함 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간의 참조 함수가 제공된다. 그 다음에, 한정될 전기 회로는 적어도 하나의 측정 전기 임펄스에 의해 가열된다. 다음 단계는 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간 데이터를 획득하는 것이다. 후속의 단계는 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터를 참조 함수와 비교하고, 획득된 데이터 및 참조 함수 사이의 차이에 근거하여 전기 회로를 한정하는 것이다.
본 발명의 다른 특징의 예시적인 실시예에서, 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법이 개시된다. 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 가능한 위치의 열 전기 전압 대 시간의 참조 함수가 제공된다. 이후, 전기 회로는 적어도 하나의 측정 전기 임펄스에 의해 가열되고, 후속하여 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간 데이터가 획득된다. 그 다음에, 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터가 참조 함수와 비교된다. 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부는 획득된 데 이터 및 참조 함수 사이의 유사성에 따라 국소화된다.
이들 방법을 이용하는 것은 종래 기술에 비해 몇 가지 장점을 갖게 된다. 몇몇 접합부 및 접촉부를 갖는 전기 회로의 한정은 생산 공정 이후에 또한 행해질 수 있다. 크림핑, 프레싱, 볼팅과 같이, 현저한 열 발생 없이 수행되는 생산 시의 기계적 결합부, 및 접속기나 스위치와 같은 접촉부가 또한 한정될 수 있다. 전기 회로 또는 기기의 잠재적인 전기 접촉 결함이 또한 검출되고 국소화될 수 있다.
도 1을 참조하면, 측정 장치(10) 및 한정될 전기 회로(2)의 접속이 도시되어 있다. 전기 회로(2)는 접합부(5) 및 접촉부(6)로 이루어지며 측정 와이어(3)에 의해 측정 장치의 접속 레일(4)에 접속된다. 전기 회로(2) 및 측정 와이어(3)는 테스트 회로(1)를 함께 형성한다. 크림핑 또는 프레싱과 같은 용접, 땜납 또는 기계적 형성에 의해 행해진 전기적 접합부가 접합부로서 이해되는 한편, 접속기 또는 스위치와 같은 분리 가능한 전기적 접합부가 접촉부로 불린다. 측정 장치(10)는 전기 측정 임펄스를 발생하는 임펄스 발생기와, 전기 회로(2)를 측정 장치에 접속하는 접속 수단(본 실시예에서 측정 와이어는 3임)과, 열 전기 전압 대 시간 데이터를 획득하는 데이터 획득 보드와, 무결함 전기 회로의 참조 함수를 제공하는 참조 함수 유닛과, 전기 회로(2)의 열 전기 전압 대 시간 데이터를 제공된 참조 함수와 비교하는 비교 유닛과, 획득된 데이터 및 참조 함수 사이의 차이에 근거하여 전기 회로(2)를 한정하는 한정 유닛을 포함한다. 접속 수단의 접촉부가 테스트 회로(1)의 일부분이므로, 본 실시예에서 측정 와이어(3)의 결합인 접촉 수단의 결함은, 전기 회로(2)에 대해 불량한 한정을 또한 야기한다. 데이터 획득 동안 전기 간섭 을 방지하기 위해, 테스트 회로(1)는 스위치(8)에 의해 임펄스 발생기로부터 분리될 수 있다.
한정될 전기 회로(2)는 상이한 금속 부분으로 이루어진다. 전기 회로에서 접합된 상이한 금속 부분은 열전쌍을 생성한다. 본 발명에서, 2개의 금속 부분은 재생 가능하게 측정될 수 있는 열 전기 전압, 즉, 실질적으로 동일한 크기 및 형상이 반복적으로 획득되는 열 전기 전압을 초래하는 경우에 상이한 것으로 간주된다. 짧은 측정 전류 임펄스에 의해 테스트 회로(1)를 가열하는 경우, 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 영역이 가열되고, 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부에서의 열전쌍은 열 전기 전압을 초래한다. 이러한 관점에서, 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 영역은 증대된 접촉 저항의 환경에서 위치하는 소량의 물질이다.
가열에 후속하여, 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부가 냉각된다. 열 전기 전압 과도 현상이 발생하며, 즉, 열 전기 전압 대 시간이 측정되고, 측정된 데이터가 저장된다. 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 위치 및 유형에 따라, 열 전기 전압 대 시간 데이터는 상이하다. 참조 열 전기 전압 대 시간 데이터는 측정 전기 임펄스에 의한 가열 및 그 후속 냉각 동안 무결함 전기 회로의 동작을 모델링함으로써 제공된다. 참조 함수를 모델링하는 결과로서, 데이터 세트 또는 수학식 또는 적어도 하나의 수치가 획득된다. 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터가 참조 함수와 비교되고 참조 함수와 측정된 열 전기 전압 사이에 사전 결정된 차이가 존재하는 경우 전기 회로는 결함 회로로서 한정된 다.
전기 회로 내의 접합부 또는 접촉부의 수가 회로 내의 열전쌍의 수를 결정한다. 전기 회로 내의 접합된 또는 접촉된 상이한 금속 물질이 많을수록, 열전쌍이 더 생성된다. 전기 회로에 하나 이상의 짧은 측정 전기 임펄스를 인가하는 경우, 짧은 전류 임펄스에 의해 여기되는 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 영역이 가열되고 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부에서의 열전쌍이 열 전기 전압을 초래한다. 열 전기 전압 대 시간 다이어그램의 형상은 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 위치에 따라 다르다. 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 가능한 위치에 열 전기 전압 대 시간의 참조 데이터 세트가 할당된다. 결함 전기 회로의 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터의 형상은 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 위치에 할당된 참조 데이터 세트의 향상과 비교된다. 참조 데이터 세트 중 하나의 형상에 대한 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터의 형상의 유사성에 따라라 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 위치가 결정된다.
도 2는 브라스 와이어 및 아연 피복재 사이의 불량 접촉부를 갖는 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간을 도시하는 도면이다. 도면에 2개의 측정 임펄스가 도시되어 있다. 첫 번째 짧은 측정 임펄스의 하강 에지 이후에, 열 전기 전압은 동일한 변화를 나타내며 초기 전압값으로서 거의 동일한 값을 취한다. 두 번째 측정 임펄스에 의해 전기 회로를 가열하면, 브라스 와이어 및 아연 피복재 사이의 불량 접촉점의 영역이 가열되고 나서 냉각된다. 두 번째 측정 임펄스의 하강 에지 이후 에, 열 전기 전압은 브라스 와이어 및 아연 피복재의 불량 접속 영역의 냉각 곡선 및 음의 피크를 나타낸다.
본 발명은 이하 필라멘트 램프 회로를 일례로 하여 설명될 것이다. 필라멘트 램프의 통상적인 산업 및 국내 애플리케이션의 요건에 부가하여, 자동 산업 분야에서는 인스톨된 필라멘트 램프의 품질에 관한 특별한 요건을 갖는다. 자동차의 대량 생산 공정에 있어서의 결함 램프는 과잉 비용을 초래하는 한편, 불량한 접촉, 플래싱(flashing) 또는 단축된 수명 램프로 이루어지는 자동차의 동작에 있어서의 안전 위험성이 초래된다.
필라멘트 램프의 품질을 향상시키기 위한 시도가 행해져 왔다. 생산 공정에 몇 가지 체크 포인트가 전개되며, 램프의 무결함 동작에 대한 검사는 생산 공정의 종료 시에 연속적으로 수행된다.
행해진 시도에도 불구하고, 불량한 접촉이나 플래싱 램프의 검출을 성취하는 것은 여전히 문제가 있다. 현재 알려진 방법은 냉각된 또는 가열된 전기 저항을 임계 파라미터로서 이용하여 필라멘트 램프 전기 회로를 한정하는 것이다.
이제 도 3을 참조하면, 필라멘트 램프 생산 공정에 있어서 필라멘트 램프 회로 및 측정 장치의 접속이 도시되어 있다. 이 도 3은 도 1과 유사하며 필라멘트 램프 회로가 전기 회로(2)를 대체하고 있다는 점에서 차이가 있다. 전극(31) 및 필라멘트(32) 사이의 접합부의 생성 후에, 필라멘트 램프 회로의 접합부의 한정이 수행될 것이다. 리드인(lead-in) 와이어(33)에 접합하는 전극(31)은 홀더(34)에 고정된다. 리드인 와이어(33)는 레일(36) 및 측정 와이어(37)를 통해 임펄스 발생 기 및 데이터 획득 보드를 접속한다. 이 경우, 테스트될 전기 회로는 필라멘트(32), 전극(31), 리드인 와이어(33), 홀더(34), 측정 와이어(37) 및 이들 사이를 접촉하는 접합부로 구성된다. 전극(31) 및 리드인 와이어(33)의 용접 스테이지 또는 필라멘트 램프 회로 생산 공정의 임계점의 임의의 스테이지에서 유사한 특정 회로가 구축될 수 있다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 양호한 품질(비플래싱(non-flashing)) 및 플래싱 필라멘트 램프 회로의 열 전기 전압 대 시간 다이어그램이 도시되어 있다.
도 4에서, 열 전기 전압 대 시간 데이터의 그래프는 접합부의 시퀀스에서 접촉 저항이 증대되지 않는다는 것, 즉, 측정 전기 임펄스의 전류에 의해 가열되지 않는다는 것을 보여준다. 접합부에 의해 생성된 열전쌍 중 임의의 열전쌍으로부터 열 전기 전압이 발생하지 않으므로, 그래프는 본질적으로 일정하며, 일정한 라인으로 중첩된 전자기 외란만이 보여질 수 있다.
도 5에서, 플래싱 필라멘트 램프 회로의 열 전기 전압 대 시간이 도시되어 있다. 측정 임펄스의 전류는 필라멘트 램프 전기 회로를 즉시 가열시킨다. 측정 전기 임펄스의 종료 후에, 불량 접촉 접합부의 영역의 자연적인 냉각이 발생된다. 불량 접촉 접합부에서의 열전쌍에 의해 생성된 열 전기 전압이 측정되어 도시되어 있다.
전기 회로의 접합부 및 접촉부를 한정하는 방법은 생산 공정의 종료 시에 또는 임계점에서, 초기 스테이지에 사용될 수 있다. 필라멘트 램프 생산 공정의 초기 스테이지에서, 필라멘트 램프 회로는 함께 접합된 2개의 금속 부분과, 금속 부 분을 고정하여 이들을 접합 장치에 접속하는 2개의 홀더로 구성된다. 비록 생산 공정의 종료 시이더라도, 필라멘트 램프 전기 회로는 필라멘트, 이 필라멘트를 외부 접속기에 접속하는 부가적인 부분, 및 램프 제품의 최종 테스트 기기의 집합 브러쉬로 구성된다. 측정 장치는 최종 테스트 기기의 집합 브러쉬에 접속된다. 본 명세서에서 "테스트 회로"란 용어는 필라멘트 램프를 측정 장치에 접속하는 접속기 또는 콜렉터(collectors)를 포함하는 전기 회로를 전체적으로 암시한다.
도 6을 참조하면, 생산 공정에 있어서 최종 테스트 동안 측정 장치 및 필라멘트 램프의 배치가 도시되어 있다.
도 6은 도 3과 유사하지만, 이들 사이에 약간의 차이가 있으며, 이 차이는 램프의 통상적인 최종 테스트 동안 필라멘트 램프 회로의 한정으로부터 발생한다는 것이다. 생산 공정의 종료 시에, 최종 테스트 프로세스를 통해 필라멘트 램프가 이동한다. 생산라인으로부터의 검사된 램프(63)는 통상적인 최종 테스트 기기의 탄소 브러쉬(62)에 접속된다. 또한 통상적인 접촉 테스트, 필라멘트 램프 회로의 접합부 및 접촉부의 평가가 수행된다. 테스트 기기의 탄소 브러쉬(62)는 측정 와이어(64) 및 레일(61)에 의해 임펄스 발생기 및 데이터 획득 보드에 접속된다. 이 경우, 테스트될 회로(60)는 필라멘트 램프(63), 탄소 브러쉬(62), 측정 와이어(64), 레일(61) 및 이들 사이를 접촉하는 접합부로 구성된다. 필라멘트 램프가 결함이 있거나 또는 램프 및 특정 장치 사이의 접속이 결함이 있는 경우, 필라멘트 램프 회로는 결함이 있는 것으로 보인다.
도 7을 참조하면, 필라멘트 램프 전기 회로의 접합부 및 접촉부를 한정하는 방법의 블록도가 도시되어 있다.
블록도의 좌측 블록으로부터 개시하여, 하나 이상의 전기 측정 임펄스가 전기 회로의 접촉 및 접합 부분에 이르게 된다. 측정 임펄스의 진폭은 1-14V의 범위이고 그 길이는 5-30㎳이다. (필요하다면) 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 영역이 가열된다. 측정은 생산 공정의 환경에서 수행되므로, 전기 간섭을 방지하기 위해서는 전기 임펄스의 하강 에지 이후에 테스트 회로가 임펄스 발생기로부터 분리되는 경우에 바람직하다.
데이터 획득 보드는 열 전기 전압 대 시간 데이터를 획득한다. 데이터 획득 보드는 바람직하게 공업 컴퓨터 내에 일체화되어 있다. 샘플링 주파수는 1 kHz보다 높으며, 데이터 획득의 전압 범위는 0.5-5㎷이다.
양호한 품질의 전기 회로에 속하는 참조 데이터 세트 또는 참조 함수는 측정 장치에 디지털적으로 저장되어 있다. 참조 데이터 세트 또는 참조 함수는 디지털 또는 아날로그 전자 설비에 의해 획득된 데이터와 비교된다. 이러한 디지털 또는 아날로그 설비는 공업 컴퓨터에 일체화되어 있은 경우에 바람직하다. 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터와, 참조 열 전기 전압 대 시간 데이터 세트 또는 이미 기록된 참조 함수와의 비교는, 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터 및 참조 함수에 대해 도시된 그래프 형상의 차이에 근거한다.
비교 결과에 의하면, 전기 회로는 양호한 품질 또는 결함이 있는 회로로서 한정된다. 결함이 있는 전기 회로는 생산 공정으로부터 제거되거나 신호가 가해진다.
도 8 및 도 9를 참조하면, H7 필라멘트 램프를 갖는 자동 반사기에 속하는 무결함 전기 회로 및 결함 전기 회로에서의 열 전기 전압 대 시간 다이어그램이 도시되어 있다. 도 8에서, 무결함 전기 회로의 다이어그램은 각 측정 임펄스에 후속하여 베이스 전압 상에 중첩된 전기적 외란만을 제공한다. 도 9에서, 첫 번째 가열 임펄스의 현저한 효과는 존재하지 않으나, 보다 긴 두 번째 임펄스의 하강 에지에 후속하여 나타나는 열 전기 전압의 시간 편차만큼 불량 접촉점의 자연 냉각이 인식될 수 있다.
도 10을 참조하면, 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법의 블록도가 도시되어 있다. 도 10의 블록도는 도 7의 블록도와 유사하다. 차이점이 또한 존재하며, 이는 다음과 같다. 즉, 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 가능한 위치에 참조 함수가 할당되고, 이들이 획득된 데이터 세트와 비교된다. 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 위치에서 결함이 있는 전기 회로를 측정하여 이들 참조 함수를 제공한다. 결함이 있는 접촉부의 위치는, 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터의 형상과, 각종 결함 위치에 할당된 참조 함수 중 한 기능의 형상과의 유사성에 따라 결정된다. 즉, 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 국소화는 획득된 열 전기 전압 시간 데이터 및 참조 함수의 전압 그래프의 유사한 형상에 근거한다. 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 위치에 관한 정보는 생산 품질 및 신뢰성을 향상시키도록 사용될 수 있다.
도 11은 H7 필라멘트 램프의 전기 회로의 구조를 도시한다. 리드인 와이어(11)가 호일(12)에 접속된다. 호일(12)의 역할은 램프 전구의 글래어(glare)를 통해 전류를 리드하는 것이다. 호일(12)은 몰리브덴 전극(13)에 접속되고 몰리브덴 전극(13)은 몰리브덴 파이프(15, 16)에 용접된다. 텅스텐 나선 형상의 필라멘트(14)의 2개의 단부는 몰리브덴 파이프(15, 16)의 벽을 가압함으로써, 이들 파이프에 고정된다.
도 12는 무결함 H7 필라멘트 램프의 열 전기 전압 대 시간 다이어그램을 도시한다. 도 12로부터 알 수 있는 바와 같이, 필라멘트 전기 회로에서 짧지도 않고 길지도 않은 측정 임펄스가 임의의 가열을 생성한다. 다른 램프 구성에서 부품의 순서가 대칭적이지 않은 경우(예를 들면, 필라멘트 및 몰리브덴 전극 중 하나 사이의 부가적인 부품이 존재하는 경우), 무결함 필라멘트 회로의 참조 함수는 일정한 전압 대 시간 곡선과 상이하다.
도 13 내지 도 17은 각종 결함 접합부를 갖는 H7 필라멘트 램프의 열 전기 전압 대 시간 다이어그램을 도시한다.
도 13에서, 제 1 및 제 2 임펄스의 하강 에지에 후속하는 열 전기 전압의 시간 편차는 몰리브덴 파이프(15, 16) 및 텅스텐 필라멘트(14)의 종단 사이의 결함이 있는 전기 접촉부를 나타낸다.
도 14에서, 임펄스의 하강 에지에 후속하는 열 전기 전압의 시간 편차는 몰리브덴 파이프(15) 및 몰리브덴 전극(13) 사이의 용접 결함부가 약하거나 불량하다는 것을 나타낸다.
도 15에서, 열 전기 전압은 첫 번째 및 두 번째 임펄스의 하강 에지에 후속하여 상이한 크기를 각각 갖는다. 이 상이한 크기는 몰리브덴 파이프(16) 및 몰리브덴 전극(13) 사이의 용접 접합부에서의 결함이 있는 접촉부를 나타낸다.
도 16 및 도 17에서, 몰리브덴 호일(12)의 동일한 결함에 의해 야기된 열 전기 전압의 시간 편차를 나타낸다. 두 도면의 차이는 램프가 상이한 극성을 갖는 테스트 회로에 램프가 접속된다는 점이다. 특성적인 열 전기 변화는 보다 짧은 첫 번째 측정 임펄스의 하강 에지에 후속하는 한편, 보다 긴 두 번째 측정 임펄스는 도 16의 도면에 현저한 효과를 초래하지 않는다는 것이다. 보다 짧고 보다 긴 측정 임펄스의 사용은 잠재적으로 결함이 있는 램프가 노출되도록 하고 램프 내의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부가 국소화되도록 한다.
본 발명은 본 명세서에서 도시되고 개시된 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명의 범위 내에서 다른 요소, 개선책, 변형예가 존재한다. 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 전기 회로를 한정하는 방법 및 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법이 자동차 혹은 기기 내의 전기 회로와 같이 각종 금속 물질로 이루어지는 임의의 전기 회로를 테스트하거나 한정하도록 이용될 수 있다는 것이 명백해질 것이다. 이들 방법의 이용은 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부에 한정되지 않으며, 회로 내의 부품의 부재를 검출하는 에에 적용할 수 있다. 예를 들면, 탄소 브러쉬를 갖지 않는 전기 발생기의 전기 폐회로는 탄소 브러쉬를 적절하게 갖는 유사한 회로와 달라야 한다.
이상과 같은 본 발명에 의하면, 전기 회로의 몇 가지 접합부 및 접촉부를 한정하고, 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화함으로써, 전기 회로 또는 기기의 잠재적인 전기 접촉 결함이 또한 검출되고 국소화될 수 있게 된다.

Claims (10)

  1. 적어도 하나의 전기적 접합부 또는 접촉부를 갖는 전기 회로를 한정하는 방법으로서,
    무결함 전기 회로의 열 전기 전압 대 시간의 참조 함수를 제공하는 단계와,
    적어도 하나의 측정 전기 임펄스에 의해 전기 회로를 가열하는 단계와,
    전기 회로의 열 전기 전압 대 시간 데이터를 획득하는 단계와,
    획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터를 참조 함수와 비교하는 단계와,
    획득된 데이터 및 참조 함수 사이의 차이에 근거하여 전기 회로를 한정하는 단계
    를 포함하는 전기 회로를 한정하는 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 참조 함수는 측정 전기 임펄스에 의한 가열 및 그 후속 냉각 동안 무결함 전기 회로의 동작을 모델링함으로써 마련되는 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 참조 함수는 측정 전기 임펄스에 의한 가열 및 그 후속 냉각 동안 무결 함 전기 회로의 측정에 의해 제공되는 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상이한 길이의 2개 이상의 측정 전기 임펄스가 전기 회로에 인가되는 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 전기 회로의 한정은 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터 및 참조 함수를 도시한 그래프 형상의 차이에 근거하는 방법.
  6. 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법으로서,
    전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 가능한 위치의 열 전기 전압 대 시간의 참조 함수를 제공하는 단계와,
    적어도 하나의 측정 전기 임펄스에 의해 전기 회로를 가열하는 단계와,
    전기 회로의 열 전기 전압 대 시간 데이터를 획득하는 단계와,
    획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터와 참조 함수를 비교하는 단계와,
    획득된 데이터 및 참조 함수 사이의 유사성에 따라 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 단계
    를 포함하는 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 참조 함수는 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 각종 가능한 위치에 따라 결함이 있는 전기 회로의 측정에 의해 제공되는 방법.
  8. 제 6 항에 있어서,
    2개 이상의 측정 전기 임펄스가 전기 회로에 인가되는 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 측정 전기 임펄스는 상이한 길이를 갖는 방법.
  10. 제 6 항에 있어서,
    상기 전기 회로의 약하게 혹은 불량하게 접촉하는 접합부 또는 접촉부의 국 소화는 획득된 열 전기 전압 대 시간 데이터 및 참조 함수를 도시한 그래프 형상의 차이에 근거하는 방법.
KR1020060012698A 2005-02-10 2006-02-09 전기 회로를 한정하는 방법 및 전기 회로의 약하거나 혹은불량한 접합부 또는 접촉부를 국소화하는 방법 KR20060090767A (ko)

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