JP2001353579A - 溶接品質良否判定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 抵抗溶接機により、溶接された電子機器等の
溶接部の品質は溶接条件の変動により、左右されるた
め、予め溶接時の温度上昇と通電時間の波形特性を測定
解析し、溶接条件（溶接電流・通電時間・加圧力）の制
限範囲を設定しておき、製品の溶接時の温度上昇と通電
時間との測定値をこの制限範囲と比較し、溶接品質の良
否が判定できる溶接品質良否判定装置を実現することを
課題とする。 【解決手段】 溶接時の溶接条件と、溶接時の溶接部１
６の温度、及び溶接部１６の抵抗値が予め対応して記憶
された溶接データ記憶部と、溶接時における溶接部１６
の温度を計測する温度検出手段と、計測された温度に対
応し溶接部１６の抵抗値を溶接データ記憶部に基いて換
算し、抵抗値と予め定められた溶接品質良否判定制限範
囲とを比較し、溶接部１６の溶接品質良否判定を行う良
否判定手段と、を備えたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、抵抗溶接機によ
り、抵抗溶接された電子機器等に用いられる抵抗溶接品
の溶接品質の良否を判定する溶接品質良否判定装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、構造物の接合部、又は電子機
器等に用いられる抵抗溶接品を加工製造する際の抵抗溶
接は、電極に与えられる溶接条件（溶接電流・通電時間
・加圧力）の変化によって影響を受けるため、一般に最
良のモデル品の溶接条件をそのまま採用し、この溶接条
件を一定に制御して抵抗溶接していた。そしてその品質
検査は、抜き取り検査により行うか、場合によっては、
抵抗溶接時に流した電流値や電流波形などを計測して良
否の判定を行っていた。しかし、この溶接条件に起因し
た問題として、加圧力に対する溶接電流・通電時間の過
多により生じるスパッタ・爆飛、および加圧力に対する
溶接電流・通電時間の不足により生じる溶接剥がれが発
生し易く、不安定なものであった。

【０００３】また、これまでの抵抗溶接は、主に構造物
の接合に用いられていたが、例えば大電流を流す板状の
導電パターン等、近年電気回路の接合に用いられること
もあり、溶接強度だけでなく接合部の電気抵抗特性をも
満足する必要が出てきている状況にある。従って、溶接
後の品質検査は、所定数ごとの抜き取りにより、機械的
特性としての剥離試験、ナゲット径の測定、および電気
的特性として接合部の電気抵抗値を測定している。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このように、抵抗溶接
品質は溶接条件の変動により、大きく左右され、溶接部
のスパッタ・爆飛、溶接剥がれ等を発生する恐れがあ
り、しかも電源負荷変動による溶接電流の変動や、電極
のへたり・被溶接材実装状態による実効加圧力の変動に
より、溶接条件を所定値に設定しても、必ずしも同じナ
ゲット状態を形成するこはできないという問題があっ
た。従って、抜き取り検査等による剥離試験および接合
部の電気抵抗値測定で溶接品質精度を高めることは難し
く、また、全数検査が不可能な上、不良解析するまでに
時間を要し、その間に不良品を製造してしまう恐れがあ
った。

【０００５】本発明は、このような問題を解決するもの
で、溶接時の温度上昇と通電時間の波形特性を測定解析
し、溶接条件（溶接電流・通電時間・加圧力）の制限範
囲および接合部の温度上昇と電気抵抗値との換算表を設
定すると共に、製品の接合部の溶接時における温度上昇
データを取得し、換算表との比較により、溶接品質の良
否が判定できる溶接品質良否判定装置を実現することを
課題とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、所定の溶接条件により、抵抗溶接された
溶接部の溶接品質の良否を判定する溶接品質良否判定装
置において、前記所定の溶接条件、溶接時の前記溶接部
の温度、及び前記溶接部の抵抗値が予め対応して記憶さ
れた溶接データ記憶部と、溶接時における前記溶接部の
温度を計測する温度検出手段と、良否判定時において、
前記溶接部の溶接時における温度を前記温度検出手段に
より計測し、計測された温度に対応した該溶接部の抵抗
値を前記溶接データ記憶部に基いて検出し、該抵抗値と
予め定められた溶接品質良否判定制限範囲とを比較し、
比較結果に応じて、該溶接部の溶接品質良否判定を行う
良否判定手段と、を備えたことを特徴とするものであ
る。

【０００７】また、前記良否判定手段により、前記溶接
部が良と判定された時における溶接条件を記憶する記憶
手段を備え、前記記憶手段により記憶された溶接条件に
基いて、次の溶接がなされることを特徴とするものであ
る。

【０００８】また、前記溶接データ記憶部と前記良否判
定手段とを含むコンピュータを備え、前記コンピュータ
は、試験用に抵抗溶接される溶接部の溶接時の温度を各
溶接条件毎に前記温度検出手段により測定し、該温度を
該溶接時における各溶接条件に対応させて該各溶接条件
と共に前記溶接データ記憶部に記憶させておき、更に前
記抵抗溶接後、該各溶接条件毎に抵抗溶接した該溶接部
における抵抗値を該溶接部に流される電流に基いて検出
し、該検出した抵抗値を該各溶接条件及び前記温度と対
応させて該溶接データ記憶部に記憶するものであること
を特徴とするものである。

【０００９】また、前記溶接条件は、抵抗溶接時に流れ
る溶接電流、抵抗溶接時に要した通電時間、溶接部にか
かる加圧力、のうち少なくとも１つを含むものであるこ
とを特徴とするものである。

【００１０】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について、図
面を参照して説明する。

【００１１】図１は本発明の第１の実施の形態に係る溶
接品質良否判定装置によるデータ取得用テストピースの
発熱温度と電気抵抗測定ブロック図で、図２は本発明の
第１の実施の形態に係る溶接品質良否判定装置による電
子機器の溶接部の溶接品質良否判定検査を示すブロック
図である。

【００１２】本溶接品質良否判定装置１０は、溶接機２
０により溶接された電子機器の溶接部１６の溶接品質良
否を判定するための装置である。この溶接品質良否判定
装置１０は、図１（Ａ）に示されるように、予め溶接部
１６として被溶接材であるテストピース５０を用いて、
溶接時におけるテストピース５０の発熱温度を赤外線温
度計１１で測定する。そして、この溶接時における各種
溶接条件（溶接電流・通電時間・加圧力）に対し、測定
した発熱温度をＡデータ表１５ａにマトリックス状に整
理蓄積する。

【００１３】その後、図１（Ｂ）に示されるように、上
記の各種溶接条件で抵抗溶接されたそれぞれのテストピ
ース５０の電気抵抗測定値を溶接後に測定し、Ｂデータ
表１５ｂを作成する。具体的には上記所定の溶接条件に
て溶接されたあるテストピース５０に対し、一定の電流
下の溶接部における抵抗値を、この電流と測定された電
圧とから検出する。加圧力及び発熱温度は、上述におい
て予め判っているため、この加圧力と発熱温度とを対応
させて抵抗値をＢデータ表１５ｂとして記憶する。この
ようにして、各種溶接条件に基いて溶接を行った溶接部
１６に対し、溶接品質の良否判定を剥離試験等で実証
し、その良否判定結果をパソコン（パーソナルコンピュ
ータ）１２に作業者がインプットする。この剥離試験等
による溶接品質の良否判定は、溶接部１６の剥離強度が
所定値以上（ここでは「２００Ｎ」以上）を良品と判断
し、この良否判定結果に基いて、溶接品質良否を判定す
るための溶接条件の制限範囲（図中の斜線で示す）を設
定し、Ｂデータ表１５ｂとしてパソコン１２に記憶した
ものである。又、抵抗値の良範囲は図１（Ｂ）のＢデー
タ表１５ｂの斜線に示すように、所定の抵抗値以内（こ
こでは「０．１２Ω」以下）とし、この良範囲は本実施
例では剥離試験の良否判定結果から得られた制限範囲に
相当したものとなっている。

【００１４】そして、この抵抗値データをパソコン１２
により、上述で記憶されたＡデータ表１５ａと整合させ
て、図１（Ｃ）に示すように、Ｃデータ表１５ｃを作成
し完了処理する。その結果、最終的なデータであるＣデ
ータ表１５ｃに示す制限範囲は、Ｂデータ表１５ｂに示
す剥離試験で良と判定された良範囲であって、且つ溶接
部の抵抗値をも満足した良範囲に相当している。このＣ
データ表１５ｃを作成することにより、例えば実際の抵
抗溶接時において加圧力（２００Ｎ）、溶接電流（９．
０ＫＡ）、溶接時間（２０ｍｓ）、の各溶接条件で抵抗
溶接された溶接部１６は、溶接時における発熱温度の測
定値が例えば「摂氏７１℃」であれば、この測定データ
がＣデータ表１５ｃと比較されて、溶接品質良否が判定
される。

【００１５】この比較により、発熱温度の測定値（摂氏
７１℃）は溶接条件の制限範囲内なので剥離性は良品と
判断され、同時にその溶接部１６の抵抗値は「０．１０
Ω」と換算され、溶接部１６の電気抵抗特性をも満足し
ていることが判定される。

【００１６】従って、実際の電子機器の溶接部１６の溶
接品質良否判定検査は、図２に示すように、電子機器の
溶接部の溶接時における発熱温度を赤外線温度計１１で
測定し、この測定値が上記Ｃデータ表１５ｃで電気抵抗
値に換算されると共に、この測定発熱温度（又は、換算
電気抵抗値）がＣデータ表１５ｃに記憶された最適溶接
条件、及び最適測定発熱温度（又は、換算電気抵抗値）
の制限範囲内にあるかどうかが比較されて、良否の判定
がなされることになる。

【００１７】本第１の実施の形態に係る溶接品質良否判
定装置１０は、図１および図２に示すように、溶接時に
おける溶接部１６（又は、テストピース５０）の発熱温
度を測定する赤外線温度計１１と、赤外線温度計１１か
らのデータを受信して、パソコン１２にこのデータを送
信すると共に、パソコン１２からの指令信号である溶接
条件（溶接電流・通電時間・加圧力）を抵抗溶接機２０
の溶接ヘッドコントローラ２１と溶接電源２２に信号処
理部１３を介して送信するＩ／Ｏ回路１４と、溶接条件
の算出処理および溶接後の溶接部１６（又は、テストピ
ース５０）の電気抵抗算出処理等を行ってＣデータ表１
５ｃを作成し記憶処置するパソコン１２等より構成され
ている。

【００１８】パソコン１２は、赤外線温度計１１で測定
した溶接時における溶接部１６（又は、テストピース５
０）の発熱温度を、各種溶接条件（溶接電流・通電時間
・加圧力）に対応させてマトリックス状のＡデータ表１
５ａにまとめて処理記憶し、さらに溶接後のテストピー
ス５０の電気抵抗値を算出処理してＢデータ表１５ｂを
作成し、このデータをＡデータ表１５ａと整合させてＣ
データ表１５ｃを作成処理するものである。また、パソ
コン１２は、データを記憶するメモリや、良否判定する
プログラム、及び信号処理部１３とＩ／Ｏ回路部１４を
含むものである。

【００１９】更に、各種溶接条件で溶接されたテストピ
ース５０の良否判定は実際の剥離試験等で実証し、その
剥離強度をパソコン１２に作業者がインプットしてか
ら、溶接品質良否を判定するための溶接条件の制限範囲
を設定する。この設定処理データは、パソコン１２内の
上記Ｂデータ表１５ｂ、Ｃデータ表１５ｃにまとめてい
る。そして、実際の電子機器の溶接部１６の溶接時にお
ける発熱温度を赤外線温度計１１で測定したデータが、
Ｃデータ表１５ｃで電気抵抗値に換算されると共に、こ
の測定発熱温度（又は、換算電気抵抗値）がＣデータ表
１５ｃに記憶された最適溶接条件等の制限範囲内にある
かどうかが比較されて、溶接部１６の溶接品質の良否の
判定がなされることになる。

【００２０】溶接機２０は、溶接部１６（又は、テスト
ピース５０）を把持して加圧Ｐを加える一対の電極２３
と、パソコン１２からの指令信号である溶接条件（溶接
電流・通電時間・加圧力）を信号処理部１３とＩ／Ｏ回
路１４を介して受信し、一対の電極２３を制御コントロ
ールする溶接コントローラ２１と、溶接部１６（又は、
テストピース５０）を溶接するための溶接電源２２等よ
り構成されている。この溶接機２０は、溶接部１６（又
は、テストピース５０）を重ね合わせて、一対の電極２
３で把持し、加圧Ｐを加えた状態で所定時間通電して溶
接部１６（又は、テストピース５０）を抵抗溶接し、ナ
ゲット１７を形成するものである。

【００２１】実際の電子機器の溶接部１６の溶接品質良
否判定検査は、図２に示すように、電子機器の溶接部の
溶接時における発熱温度を赤外線温度計１１で測定し、
この測定値が上記Ｃデータ表１５ｃで電気抵抗値に換算
されると共に、Ｃデータ表１５ｃに記憶された最適溶接
条件等の制限範囲と比較されて、良否の判定がなされる
ことになる。

【００２２】溶接された電子機器の溶接部１６の溶接品
質検査は、図２に示すように、電子機器の溶接部１６の
溶接時における発熱温度を赤外線温度計１１で測定し、
その測定データをＩ／Ｏ回路１４と信号処理部１３とを
介してパソコン１２に送信する。そして、パソコン１２
で受信した発熱温度データと、パソコン１２に記憶され
ているＣデータ表１５ｃとがパソコン１２のプログラム
にある比較良否判定ステップ３１で比較されて、発熱温
度データが電気抵抗値に換算されると共に、この測定発
熱温度（又は、換算電気抵抗値）がＣデータ表１５ｃに
記憶された最適溶接条件、及び最適測定発熱温度（又
は、換算電気抵抗値）の制限範囲内にあるかどうかが比
較されて、良否の判定がなされることになる。

【００２３】例えば加圧力（３００Ｎ）、溶接電流
（９．０ＫＡ）、通電時間（２０ｍｓ）、の各溶接条件
で抵抗溶接された溶接部１６は、溶接時における発熱温
度の測定値が例えば「摂氏６０℃」であれば、この測定
データはＣデータ表１５ｃと比較されて、最適溶接条
件、及び最適測定発熱温度（又は、換算電気抵抗値）の
制限範囲内となっているので良品と判定され、同時にそ
の溶接部１６の抵抗値は「０．１２Ω」と換算され、電
気抵抗特性をも満足していることが判定される。一方、
加圧力（３００Ｎ）、溶接電流（９．０ＫＡ）、通電時
間（１０ｍｓ）、の各溶接条件で抵抗溶接された溶接部
１６は、溶接時における発熱温度の測定値が例えば「摂
氏５１℃」であれば、この測定データはＣデータ表１５
ｃと比較されて、最適溶接条件、及び最適測定発熱温度
（又は、換算電気抵抗値）の制限範囲外となっているの
で不良品と判定され、不良品処置される。この時の換算
抵抗値は「０．１５Ω」となり、制限範囲外となってい
る。尚、本例に限らず、例えば剥離試験が良と判定され
る発熱温度が測定されたとしても、抵抗値が規定の値以
下とならなければ不良と判定される。尚、これらのデー
タ表は、パソコン１２にインストールされている表計算
ソフト等で作成する。

【００２４】これにより、本溶接品質良否判定装置で電
子機器の溶接部の溶接品質良否が判定されるため、実際
の製品での抜き取り検査による剥離試験等を行うことも
なく、製品の溶接時における溶接部の発熱温度を赤外線
温度計で測定するだけで、溶接部の溶接品質良否判定が
行えるため、溶接品質精度を向上することができる。

【００２５】そして、この溶接品質良否判定装置は、構
造物の接合部に適用するだけでなく、電気回路の接合部
にも用いることが可能となり、非破壊かつ非接触で溶接
工程を妨げることもなく、リアルタイムに検査を行うこ
とができる。

【００２６】次に、第２の実施の形態に係る溶接品質良
否判定装置について、図面を参照して説明する。

【００２７】図３は本発明の第２の実施の形態に係る溶
接品質良否判定装置の検査蓄積データから算出した溶接
最適値を抵抗溶接機へフィードバックすることによる溶
接自動補正制御ブロック図である。

【００２８】本第２の実施の形態に係る溶接品質良否判
定装置１０は、第１の実施の形態に係る溶接品質良否判
定装置１０で得られた溶接部１６の溶接良否判定が良と
判定された時の溶接条件を抵抗溶接機２０にフィードバ
ックして、この溶接条件を今までの溶接条件と自動的に
入れ換え補正するか、又はこの溶接条件を最適条件のメ
ニューに加えて、次の溶接時にこの溶接条件を追加して
用いるようにしたものである。従って、溶接品質良否判
定装置１０は第１の実施の形態に係るものと同一なの
で、その説明を省略し、信号処理についてのみ図面を参
照して説明する。

【００２９】本第２の実施の形態に係る溶接品質良否判
定装置１０は、第１の実施の形態に係るものと同じよう
に、溶接時における溶接部１６（又は、テストピース５
０）の発熱温度を赤外線温度計１１で測定し、各種溶接
条件（溶接電流・通電時間・加圧力）に対する発熱温度
をデータ表にマトリックス状に整理蓄積すると共に、溶
接後の各溶接部１６（又は、テストピース５０）に対す
る抵抗値をデータ表にマトリックス状に整理蓄積した
後、それぞれの溶接品質の良否判定を、剥離試験等で実
証し（この剥離強度をパソコン１２に作業者がインプッ
トする）、この剥離試験等による溶接品質の良否判定結
果に基いて、溶接品質良否を判定するための溶接条件の
制限範囲を設定し、Ｂデータ表１５ｂとしてパソコン１
２に記憶したものである。

【００３０】従って、実際の製品における溶接部１６の
溶接品質良否判定検査は、図３に示すように、電子機器
の溶接部１６の溶接時における発熱温度を赤外線温度計
１１で測定し、その測定データをＩ／Ｏ回路１４と信号
処理部１３とを介してパソコン１２に送信する。そし
て、パソコン１２で受信した発熱温度データと、パソコ
ン１２に記憶されているＣデータ表１５ｃとが比較良否
判定ステップ３１で比較されて、発熱温度データが電気
抵抗値に換算されると共に、この測定発熱温度（又は、
換算電気抵抗値）がＣデータ表１５ｃに記憶された最適
溶接条件、及び最適測定発熱温度（又は、換算電気抵抗
値）の制限範囲内にあるかどうかが比較されて、良否の
判定がなされる。そして、この判定が良の場合には、そ
の時の溶接条件の溶接最適値（最適溶接電流・最適通電
時間・最適加圧力）が最適溶接条件のメニューに加えら
れて、データ表等を記憶しているメモリ２５に記憶さ
れ、新しく図３に示すようなＤデータ表１５ｄが作成さ
れ、次の溶接時にこのメモリ２５から溶接最適値を読み
出し、信号処理器１３とＩ／Ｏ回路１４を介して抵抗溶
接機２０にフィードバックし、読み出した溶接電流、通
電時間、加圧力に基いて、溶接を行うようにしたもので
ある。

【００３１】例えば、図３に示すように、加圧力（２０
０Ｎ）、溶接電流（８．８ＫＡ）、通電時間（２０ｍ
ｓ）、の新規溶接条件（この場合、図２で示されたＣデ
ータ表１５ｃには記憶されてなく、新たに設定された溶
接電流「８．８ＫＡ」を用いたものとする）で抵抗溶接
された溶接部１６に対し、溶接時における発熱温度の測
定値を例えば「摂氏６９℃」とする。この測定データは
Ｃデータ表１５ｃと比較されて、最適測定発熱温度の制
限範囲内（「摂氏６０℃」乃至「摂氏７１℃」）となっ
ているので良品と判定される。そして、その溶接部１６
の抵抗値は、発熱温度が「摂氏７１℃」の時の抵抗値が
「０．１０Ω」で、発熱温度が「摂氏６５℃」の時の抵
抗値が「０．１１Ω」であることから、「０．１１Ω」
以下と推定換算され、電気抵抗特性をも満足しているこ
とが判定される。この良の判定による最適溶接条件と最
適発熱温度（又は、換算電気抵抗値）が、パソコン１２
のメモリ２５に新たに記憶され、図２に示すＣデータ表
１５ｃが図３に示すＤデータ表１５ｄとして、追加修正
されることになる。そして、次の溶接時にこのメモリ２
５からこの溶接最適値を読み出し、信号処理器１３とＩ
／Ｏ回路１４を介して抵抗溶接機２０にフィードバック
され、読み出した溶接電流（８．８ＫＡ）、通電時間
（２０ｍｓ）、加圧力（２００Ｎ）、に基いて、溶接が
行われる。

【００３２】これにより、本溶接品質良否判定装置１０
で得られた溶接部１６の溶接良否判定で良と判定された
最適溶接条件を抵抗溶接機２０にフィードバックして、
次の溶接時に自動補正するようにしているため、常に変
動する工場電源状態や部品実装状態においても、人が思
考することなく自動で溶接条件を設定できるため、製造
工程の歩留まりを向上することができる。

【００３３】

【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、溶
接品質精度を向上でき、非破壊かつ非接触で溶接工程を
妨げることなく、リアルタイムに検査を行うことができ
る。さらに、常に変動する工場電源状態や部品実装状態
においても、人が思考することなく自動で溶接条件を設
定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る溶接品質良否
判定装置によるデータ取得用テストピースの発熱温度と
電気抵抗測定ブロック図である。

【図２】本発明の第１の実施の形態に係る溶接品質良否
判定装置による電子機器の溶接部の溶接品質良否判定検
査を示すブロック図である。

【図３】本発明の第２の実施の形態に係る溶接品質良否
判定装置の検査蓄積データから算出した溶接最適値を抵
抗溶接機へフィードバックすることによる溶接自動補正
ブロック図である。

【符号の説明】

１０・・・溶接品質良否判定装置 １１・・・赤外線温度計 １２・・・パソコン １３・・・信号処理部 １４・・・Ｉ／Ｏ回路 １５・・・データ表 １６・・・溶接部 １７・・・電源 １８・・・電圧計 ２０・・・抵抗溶接機 ２１・・・溶接ヘッドコントローラ ２２・・・溶接電源 ２３・・・電極 ２５・・・溶接最適値 ３０・・・電気抵抗測定部 ３１・・・比較良否判定

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定の溶接条件により、抵抗溶接された
   溶接部の溶接品質の良否を判定する溶接品質良否判定装
   置において、 前記所定の溶接条件、溶接時の前記溶接部の温度、及び
   該溶接部の抵抗値が予め対応して記憶された溶接データ
   記憶部と、 溶接時における前記溶接部の温度を計測する温度検出手
   段と、 良否判定時において、前記溶接部の溶接時における温度
   を前記温度検出手段により計測し、計測された温度に対
   応した該溶接部の抵抗値を前記溶接データ記憶部に基い
   て検出し、該抵抗値と予め定められた溶接品質良否判定
   制限範囲とを比較し、比較結果に応じて、該溶接部の溶
   接品質良否判定を行う良否判定手段と、を備えたことを
   特徴とする溶接品質良否判定装置。
2. 【請求項２】 前記良否判定手段により、前記溶接部が
   良と判定された時における溶接条件を記憶する記憶手段
   を備え、前記記憶手段により記憶された溶接条件に基い
   て、次の溶接がなされることを特徴とする請求項１記載
   の溶接品質良否判定装置。
3. 【請求項３】 前記溶接データ記憶部と前記良否判定手
   段とを含むコンピュータを備え、前記コンピュータは、
   試験用に抵抗溶接される溶接部の溶接時の温度を各溶接
   条件毎に前記温度検出手段により測定し、該温度を該溶
   接時における各溶接条件に対応させて該各溶接条件と共
   に前記溶接データ記憶部に記憶させておき、 更に前記抵抗溶接後、該各溶接条件毎に抵抗溶接した該
   溶接部における抵抗値を該溶接部に流される電流に基い
   て検出し、該検出した抵抗値を該各溶接条件及び前記温
   度と対応させて該溶接データ記憶部に記憶するものであ
   ることを特徴とする請求項１記載の溶接品質良否判定装
   置。
4. 【請求項４】 前記溶接条件は、抵抗溶接時に流れる溶
   接電流、抵抗溶接時に要した通電時間、溶接部にかかる
   加圧力、のうち少なくとも１つを含むものであることを
   特徴とする請求項１記載の溶接品質良否判定装置。