JP7231533B2 - ステータの製造方法 - Google Patents
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Description
例えば特許文献1には、複数のセグメント導体のうち接合する2つの端部にそれぞれレーザ光を照射し、当該2つの端部同士を溶接する技術が開示されている。
溶接の良否判断のために、溶接されたセグメントコイル間に電流を印加して電位差を測定することがある。セグメントコイル間の溶接部分は、溶接されていない部分に比較して、電荷が流れやすい。そのため、セグメントコイル間の接合面積が十分に広い、すなわち溶接が良好である場合、接合面積が狭い、すなわち溶接が不良である場合に比較して、セグメントコイル間に所定の電流を印加した際における電位差が小さい。このように、溶接されたセグメントコイル間に電流を印加して電位差を測定することによって、溶接の良否を判断することができる。
複数のセグメントコイルを接合したコイルを有するステータの製造方法であって、
前記複数のセグメントコイルそれぞれの端部に酸化膜を形成する工程と、
前記複数のセグメントコイルのうち、異なる2つのセグメントコイルの端部同士をレーザ溶接する工程と、
レーザ溶接された前記異なる2つのセグメントコイル間に電流を印加して電位差を測定する工程と、を備える。
[参考例1~4]
参考例1では、平均膜厚が100nmである酸化膜21a、22aが形成されるようにセグメントコイル21、22に酸化用レーザを照射した。そして、接合面積が、2.5mm2、3.0mm2、3.5mm2、4.0mm2、4.5mm2となるようにセグメントコイル21、22に接合用レーザを照射し、これをそれぞれサンプルとした。参考例2では、平均膜厚を1000nmとして酸化膜21a、22aを形成した点以外は参考例1と同様にしてサンプルを準備した。参考例3では、平均膜厚を10nmとして酸化膜21a、22aを形成した点以外は参考例1と同様にしてサンプルを準備した。参考例4では、酸化膜21a、22aを形成しなかった点以外は参考例1と同様にしてサンプルを準備した。
[実施例1、比較例1]
実施例1では、照射ピッチが29μmである酸化用レーザをセグメントコイル21、22に照射した。そして、セグメントコイル21、22に接合用レーザを照射し、これをサンプルとした。比較例1では、酸化膜21a、22aを形成しなかった点以外は実施例1と同様にしてサンプルを準備した。
11、12 プローブ
13 直流電圧計
14 直流電源
20 コイル
21、22 セグメントコイル
21a、22a 酸化膜
23 接合部
Claims (1)
- 複数のセグメントコイルを接合したコイルを有するステータの製造方法であって、
前記複数のセグメントコイルそれぞれの端部に酸化膜を形成する工程と、
前記複数のセグメントコイルのうち、異なる2つのセグメントコイルの端部同士をレーザ溶接する工程と、
レーザ溶接された前記異なる2つのセグメントコイル間に電流を印加して電位差を測定する工程と、を備える、
ステータの製造方法。
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JP2019118159A (ja) | 2017-12-26 | 2019-07-18 | トヨタ自動車株式会社 | セグメント導体の接合方法 |
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