KR200494511Y1 - Photo-sensitive resin structure for sandblasting - Google Patents

Photo-sensitive resin structure for sandblasting Download PDF

Info

Publication number
KR200494511Y1
KR200494511Y1 KR2020190005249U KR20190005249U KR200494511Y1 KR 200494511 Y1 KR200494511 Y1 KR 200494511Y1 KR 2020190005249 U KR2020190005249 U KR 2020190005249U KR 20190005249 U KR20190005249 U KR 20190005249U KR 200494511 Y1 KR200494511 Y1 KR 200494511Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
photosensitive resin
meth
resin layer
acrylate
sandblasting
Prior art date
Application number
KR2020190005249U
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20200001490U (en
Inventor
사토시 시모노단
무네토시 이리사와
구니히토 가지야
Original Assignee
미쓰비시 세이시 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미쓰비시 세이시 가부시키가이샤 filed Critical 미쓰비시 세이시 가부시키가이샤
Publication of KR20200001490U publication Critical patent/KR20200001490U/en
Application granted granted Critical
Publication of KR200494511Y1 publication Critical patent/KR200494511Y1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24CABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
    • B24C1/00Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods
    • B24C1/10Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods for compacting surfaces, e.g. shot-peening
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/028Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/09Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/093Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antistatic means, e.g. for charge depletion

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Architecture (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)

Abstract

(과제) 본 고안의 과제는, 높은 내블라스트성을 가짐과 함께, 보존시에 경화 전의 감광성 수지층에 주름이 잘 생기지 않는, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체를 제공하는 것이다.
(해결 수단) 지지체, 감광성 수지층, 커버 필름을 이 순서대로 적층한 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에 있어서, 감광성 수지층이 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 광 중합 개시제 및 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트 화합물을 함유하고, 또한, 커버 필름의 두께가 50 ∼ 150 ㎛ 인 폴리에틸렌 필름 또는 폴리프로필렌 필름인 것을 특징으로 하는 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체.
(Problem) The subject of this invention is providing the photosensitive resin structural body for sandblasting which has high blast resistance and does not easily generate wrinkles in the photosensitive resin layer before hardening at the time of preservation|save.
(Solution) In the photosensitive resin construction for sandblasting in which a support, a photosensitive resin layer, and a cover film are laminated in this order, the photosensitive resin layer is (A) alkali-soluble resin, (B) photoinitiator and (C) urethane ( A photosensitive resin composition for sand blasting, characterized in that it contains a meth)acrylate compound and is a polyethylene film or polypropylene film having a cover film thickness of 50 to 150 µm.

Description

샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체 {PHOTO-SENSITIVE RESIN STRUCTURE FOR SANDBLASTING}Photosensitive resin composition for sandblasting {PHOTO-SENSITIVE RESIN STRUCTURE FOR SANDBLASTING}

본 고안은, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에 관한 것이다.The present invention relates to a photosensitive resin composition for sand blasting.

종래, 유리, 석재, 금속, 플라스틱, 세라믹 등을 절삭하여, 릴리프 형성함에 있어서는, 샌드 블라스트 처리에 의한 가공이 실시되고 있다. 피처리체 상에 마스크재로서 포토리소그래피법 등에 의해 패터닝된 감광성 수지층을 형성하고, 그 후, 연마제를 내뿜어 비마스크부를 선택적으로 절삭하는 샌드 블라스트 처리가 실시되고 있다.Conventionally, in cutting glass, stone, metal, plastic, ceramic, etc. and forming a relief, the process by a sandblasting process is implemented. A photosensitive resin layer patterned by a photolithography method or the like is formed on an object to be processed as a mask material, and then sandblasting is performed in which an abrasive is sprayed to selectively cut a non-masked portion.

이 샌드 블라스트 처리용의 마스크재인 감광성 수지층을 형성하기 위해 사용되는 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체는, 지지체, 감광성 수지층, 커버 필름을 이 순서대로 적층한 구성을 갖고 있는 것이 일반적이다. 그리고, 감광성 수지층은, 예를 들어, 알칼리 가용성 수지, 우레탄(메트)아크릴레이트 및 광 중합 개시제를 함유하는, 네거티브형의 감광성 수지 조성물을 함유하고 있다. 또, 알칼리 가용성 수지로는, 셀룰로오스 유도체, 또는, 카르복실기 함유 아크릴 수지가 사용되고 있다 (예를 들어, 특허문헌 1 ∼ 3).The photosensitive resin structural body for sandblasting used in order to form the photosensitive resin layer which is a mask material for this sandblasting process generally has a structure which laminated|stacked the support body, the photosensitive resin layer, and the cover film in this order. And the photosensitive resin layer contains the negative photosensitive resin composition containing alkali-soluble resin, urethane (meth)acrylate, and a photoinitiator, for example. Moreover, as alkali-soluble resin, a cellulose derivative or a carboxyl group-containing acrylic resin is used (for example, patent documents 1-3).

감광성 수지 조성물의 내블라스트성을 높게 하기 위해서는, 경화 후의 감광성 수지층의 탄성을 높게 할 필요가 있으며, 그 때문에 우레탄(메트)아크릴레이트의 배합량의 증량이나, 감광성 수지층의 막 두께를 두껍게 할 필요가 있었다. 그러나, 우레탄(메트)아크릴레이트의 배합량의 증량이나, 막 두께를 두껍게 하면, 경화 전의 감광성 수지층의 점성이 증가해 버려, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체를 드라이 필름으로서 보존 중에, 감광성 수지층에 주름이 생기는 문제가 발생하였다. 그 대책으로서, 감광성 수지층과의 박리 강도를 낮게 하기 위해, 실리콘 등의 박리제를 적층한 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름이 커버 필름으로서 사용되고 있다 (예를 들어, 특허문헌 4). 그러나, 박리제의 전사를 꺼리는 피처리체에는 사용할 수 없기 때문에, 다른 수단에 의한 대책이 요구되고 있었다.In order to increase the blast resistance of the photosensitive resin composition, it is necessary to increase the elasticity of the photosensitive resin layer after curing. there was However, if the compounding amount of urethane (meth)acrylate is increased or the film thickness is increased, the viscosity of the photosensitive resin layer before curing increases. This problem occurred. As a countermeasure, in order to make peeling strength with a photosensitive resin layer low, the polyethylene terephthalate (PET) film which laminated|stacked release agents, such as silicone, is used as a cover film (for example, patent document 4). However, since the release agent cannot be used for an object to be treated which is reluctant to transfer, countermeasures by other means have been demanded.

일본 특허공보 제3449572호Japanese Patent Publication No. 3449572 일본 특허공보 제3846958호Japanese Patent Publication No. 3846958 일본 공개특허공보 평10-69851호Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-69851 일본 공개특허공보 2014-206746호Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-206746

본 고안의 과제는, 높은 내블라스트성을 가짐과 함께, 보존시에 경화 전의 감광성 수지층에 주름이 잘 생기지 않는, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a photosensitive resin construct for sandblasting that has high blast resistance and is less prone to wrinkles in the photosensitive resin layer before curing during storage.

본 고안자들은, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, 지지체, 감광성 수지층, 커버 필름을 이 순서대로 적층한 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에 있어서, 감광성 수지층이 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 광 중합 개시제 및 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트 화합물을 함유하고, 또한, 커버 필름의 두께가 50 ∼ 150 ㎛ 인 폴리에틸렌 필름 또는 폴리프로필렌 필름인 것을 특징으로 하는 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에 의해 상기 과제를 해결하였다.The present inventors, as a result of earnest examination to solve the above problems, in the photosensitive resin construction for sandblasting in which a support, a photosensitive resin layer, and a cover film are laminated in this order, the photosensitive resin layer is (A) alkali-soluble resin, ( B) a photopolymerization initiator and (C) a urethane (meth) acrylate compound, and the cover film is a polyethylene film or a polypropylene film having a thickness of 50 to 150 μm. In a photosensitive resin composition for sandblasting The above problem was solved by

본 고안의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체는, 내샌드 블라스트성을 향상시키기 때문에, 감광성 수지층의 점성이 증가하였을 때나, 감광성 수지층의 두께를 두껍게 하였을 때에, 종래부터 문제였던, 보존시에 경화 전의 감광성 수지층에 주름이 발생하는 문제를 억제할 수 있는 효과가 얻어진다. 또, 실리콘 등의 박리제를 적층한 PET 커버 필름을 사용하지 않기 때문에, 박리제의 전사를 꺼리는 피처리체에 대한 사용이 가능해진다.Since the photosensitive resin composition for sandblasting of the present invention improves sandblast resistance, when the viscosity of the photosensitive resin layer increases or when the thickness of the photosensitive resin layer is thickened, which has been a problem in the past, before curing during storage The effect which can suppress the problem which wrinkles generate|occur|produce in the photosensitive resin layer is acquired. Moreover, since the PET cover film which laminated|stacked the release agent, such as silicone, is not used, use with respect to the to-be-processed object which is reluctant to transfer of a release agent becomes possible.

도 1 은, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체의 구성을 나타낸 단면도이다.
도 2 는, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체의 구성을 나타낸 단면도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which showed the structure of the photosensitive resin structural body for sandblasting.
It is sectional drawing which showed the structure of the photosensitive resin structural body for sandblasting.

이하, 본 고안의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에 대해 상세하게 설명한다. 본 고안의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체는, 지지체, 감광성 수지층, 커버 필름을 이 순서대로 적층한 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체로서, 감광성 수지층이 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 광 중합 개시제 및 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트 화합물을 함유하고, 또한, 커버 필름의 두께가 50 ∼ 150 ㎛ 인 폴리에틸렌 필름 또는 폴리프로필렌 필름인 것을 특징으로 한다.Hereinafter, the photosensitive resin composition for sandblasting of the present invention will be described in detail. The photosensitive resin composition for sandblasting of the present invention is a photosensitive resin composition for sandblasting in which a support, a photosensitive resin layer, and a cover film are laminated in this order, wherein the photosensitive resin layer is (A) alkali-soluble resin, (B) photoinitiator and (C) a urethane (meth)acrylate compound, and is characterized in that it is a polyethylene film or a polypropylene film having a thickness of 50 to 150 µm of the cover film.

(A) 알칼리 가용성 수지로는, 이하에 기재하는 알칼리 가용성 셀룰로오스 유도체, 카르복실기 함유 아크릴 수지 등을 들 수 있다.(A) As alkali-soluble resin, the alkali-soluble cellulose derivative described below, a carboxyl group-containing acrylic resin, etc. are mentioned.

알칼리 가용성 셀룰로오스 유도체로는, 셀룰로오스아세테이트프탈레이트, 하이드록시프로필메틸셀룰로오스프탈레이트, 하이드록시프로필메틸셀룰로오스아세테이트프탈레이트, 하이드록시프로필메틸셀룰로오스아세테이트숙시네이트 등을 들 수 있다.Examples of the alkali-soluble cellulose derivative include cellulose acetate phthalate, hydroxypropylmethylcellulose phthalate, hydroxypropylmethylcellulose acetate phthalate, and hydroxypropylmethylcellulose acetate succinate.

카르복실기 함유 아크릴 수지로는, (메트)아크릴레이트를 주성분으로 하고, 이것에 에틸렌성 불포화 카르복실산을 공중합시켜 이루어지는 아크릴계 중합체를 들 수 있다. 또, 그 밖의 공중합 가능한 에틸렌성 불포화기를 갖는 단량체를 공중합시켜도 된다.As a carboxyl group-containing acrylic resin, the acrylic polymer which has (meth)acrylate as a main component and copolymerizes this with ethylenically unsaturated carboxylic acid is mentioned. Moreover, you may copolymerize the monomer which has another copolymerizable ethylenically unsaturated group.

상기 (메트)아크릴레이트로는, 예를 들어, 메틸(메트)아크릴레이트, 에틸(메트)아크릴레이트, n-프로필(메트)아크릴레이트, 이소프로필(메트)아크릴레이트, n-부틸(메트)아크릴레이트, 이소부틸(메트)아크릴레이트, n-헥실(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, 시클로헥실(메트)아크릴레이트, 벤질(메트)아크릴레이트, 2-하이드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-하이드록시프로필(메트)아크릴레이트, 글리시딜(메트)아크릴레이트, 라우릴(메트)아크릴레이트, 테트라하이드로푸르푸릴(메트)아크릴레이트, 2-(디메틸아미노)에틸(메트)아크릴레이트, 2-(디에틸아미노)에틸(메트)아크릴레이트, 2,2,2-트리플루오로에틸(메트)아크릴레이트, 2,2,3,3-테트라플루오로프로필(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.As said (meth)acrylate, for example, methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, n-propyl (meth)acrylate, isopropyl (meth)acrylate, n-butyl (meth) Acrylate, isobutyl (meth) acrylate, n-hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, glycidyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, 2- (dimethylamino) Ethyl (meth) acrylate, 2- (diethylamino) ethyl (meth) acrylate, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl ( meth)acrylate and the like.

상기 에틸렌성 불포화 카르복실산으로서, 아크릴산, 메타크릴산, 크로톤산 등의 모노카르복실산이 바람직하게 사용되고, 말레산, 푸마르산, 이타콘산 등의 디카르복실산이나, 그것들의 무수물이나 하프 에스테르를 사용할 수도 있다. 이들 중에서도, 아크릴산, 메타크릴산이 특히 바람직하다.As the ethylenically unsaturated carboxylic acid, monocarboxylic acids such as acrylic acid, methacrylic acid, and crotonic acid are preferably used, dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid, and itaconic acid, anhydrides and half esters thereof are used. may be Among these, acrylic acid and methacrylic acid are particularly preferable.

상기 그 밖의 공중합 가능한 에틸렌성 불포화기를 갖는 단량체로는, 예를 들어, 스티렌, α-메틸스티렌, p-메틸스티렌, p-에틸스티렌, p-메톡시스티렌, p-에톡시스티렌, p-클로로스티렌, p-브로모스티렌, (메트)아크릴로니트릴, (메트)아크릴아미드, 디아세톤아크릴아미드, 비닐톨루엔, 아세트산비닐, 비닐-n-부틸에테르 등을 들 수 있다.Examples of the other copolymerizable monomer having an ethylenically unsaturated group include styrene, α-methylstyrene, p-methylstyrene, p-ethylstyrene, p-methoxystyrene, p-ethoxystyrene, and p-chloro Styrene, p-bromostyrene, (meth)acrylonitrile, (meth)acrylamide, diacetoneacrylamide, vinyltoluene, vinyl acetate, vinyl-n-butyl ether, etc. are mentioned.

(A) 알칼리 가용성 수지의 산가는, 30 ∼ 500 mgKOH/g 인 것이 바람직하고, 100 ∼ 300 mgKOH/g 인 것이 보다 바람직하다. 이 산가가, 30 mgKOH/g 미만에서는 알칼리 현상의 시간이 길어지는 경향이 있고, 한편, 500 mgKOH/g 을 초과하면, 내블라스트성이 저하되는 경우가 있다.(A) It is preferable that it is 30-500 mgKOH/g, and, as for the acid value of alkali-soluble resin, it is more preferable that it is 100-300 mgKOH/g. When this acid value is less than 30 mgKOH/g, the time for alkali development tends to become long, on the other hand, when it exceeds 500 mgKOH/g, blast resistance may fall.

또, (A) 알칼리 가용성 수지의 질량 평균 분자량은, 10,000 ∼ 200,000 인 것이 바람직하고, 10,000 ∼ 150,000 인 것이 보다 바람직하다. 질량 평균 분자량이, 10,000 미만에서는 본 고안의 감광성 수지 조성물을 피막 상태로 형성하는 것이 곤란해지는 경우가 있고, 한편, 200,000 을 초과하면 알칼리 현상액에 대한 용해성이 악화되는 경향이 있다.Moreover, it is preferable that it is 10,000-200,000, and, as for the mass average molecular weight of (A) alkali-soluble resin, it is more preferable that it is 10,000-150,000. When the mass average molecular weight is less than 10,000, it may become difficult to form the photosensitive resin composition of the present invention in a film state.

(B) 광 중합 개시제로는, 벤조페논, N,N,N',N'-테트라메틸-4,4'-디아미노벤조페논 (미힐러케톤), N,N,N',N'-테트라에틸-4,4'-디아미노벤조페논, 4-메톡시-4'-디메틸아미노벤조페논, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1,2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노-프로파논-1 등의 방향족 케톤 ; 2-에틸안트라퀴논, 페난트렌퀴논, 2-tert-부틸안트라퀴논, 옥타메틸안트라퀴논, 1,2-벤즈안트라퀴논, 2,3-벤즈안트라퀴논, 2-페닐안트라퀴논, 2,3-디페닐안트라퀴논, 1-클로로안트라퀴논, 2-메틸안트라퀴논, 1,4-나프토퀴논, 9,10-페난트라퀴논, 2-메틸1,4-나프토퀴논, 2,3-디메틸안트라퀴논 등의 퀴논류 ; 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인페닐에테르 등의 벤조인에테르 화합물 ; 벤조인, 메틸벤조인, 에틸벤조인 등의 벤조인 화합물 ; 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체 ; 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-비스(메톡시페닐)이미다졸 이량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(o-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸 이량체 ; 9-페닐아크리딘, 1,7-비스(9,9'-아크리디닐)헵탄 등의 아크리딘 유도체 ; N-페닐글리신, N-페닐글리신 유도체, 쿠마린계 화합물 등을 들 수 있다. 상기 2,4,5-트리아릴이미다졸 이량체에 있어서의 2 개의 2,4,5-트리아릴이미다졸의 아릴기의 치환기는, 동일하여 대칭인 화합물을 부여해도 되고, 상이하여 비대칭인 화합물을 부여해도 된다. 또, 디에틸티오크산톤과 디메틸아미노벤조산의 조합과 같이, 티오크산톤계 화합물과 3 급 아민 화합물을 조합해도 된다. 이들은 단독으로, 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용된다.(B) Photoinitiators include benzophenone, N,N,N',N'-tetramethyl-4,4'-diaminobenzophenone (Michler's ketone), N,N,N',N'- Tetraethyl-4,4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butanone-1 aromatic ketones such as ,2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholino-propanone-1; 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone, 2-tert-butylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone, 2,3-di Phenylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-methylanthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,10-phenanthraquinone, 2-methyl1,4-naphthoquinone, 2,3-dimethylanthraquinone quinones such as; benzoin ether compounds such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, and benzoin phenyl ether; Benzoin compounds, such as benzoin, methyl benzoin, and ethyl benzoin; benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal; 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(o-chlorophenyl)-4,5-bis(methoxyphenyl)imidazole dimer, 2-(o- Fluorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(o-methoxyphenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(p-methoxyphenyl)-4 2,4,5-triaryl imidazole dimers, such as a 5-diphenyl imidazole dimer; acridine derivatives such as 9-phenylacridine and 1,7-bis(9,9'-acridinyl)heptane; and N-phenylglycine, N-phenylglycine derivatives, and coumarin-based compounds. The substituents of the aryl groups of two 2,4,5-triaryl imidazole in the said 2,4,5- triaryl imidazole dimer may provide the same and symmetric compound, and are different and asymmetric You may provide a phosphorus compound. Moreover, you may combine a thioxanthone type compound and a tertiary amine compound like the combination of diethyl thioxanthone and dimethylamino benzoic acid. These are used individually or in combination of 2 or more types.

(C) 우레탄(메트)아크릴레이트로는, 다가 하이드록실기를 갖는 화합물과 다가 이소시아네이트 화합물이 반응한 말단 이소시아네이트기를 갖는 화합물과, 하이드록실기를 갖는 (메트)아크릴레이트 화합물의 반응 생성물을 들 수 있다. 상기 다가 하이드록실기를 갖는 화합물로는, 하이드록실기를 갖는 폴리에스테르류, 폴리에테르류 등을 들 수 있지만, 폴리에스테르류로는, 락톤류가 개환 중합된 폴리에스테르류, 폴리카보네이트류, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 디프로필렌글리콜 등의 알킬렌글리콜과, 말레산, 푸마르산, 글루타르산, 아디프산 등의 디카르복실산의 축합 반응으로 얻어진 폴리에스테르류를 들 수 있다. 상기 락톤류로는, 구체적으로는 δ-발레로락톤, ε-카프로락톤, β-프로피오락톤, α-메틸-β-프로피오락톤, β-메틸-β-프로피오락톤, α,α-디메틸-β-프로피오락톤, β,β-디메틸-β-프로피오락톤 등을 들 수 있다. 또, 상기 폴리카보네이트류로는, 구체적으로는 비스페놀 A, 하이드로퀴논, 디하이드록시시클로헥사논 등의 디올과, 디페닐카보네이트, 포스겐, 무수 숙신산 등의 카르보닐 화합물의 반응 생성물을 들 수 있다. 또, 상기 폴리에테르류로는, 구체적으로는 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜, 폴리테트라메틸렌글리콜, 폴리펜타메틸렌글리콜 등을 들 수 있다.(C) Examples of the urethane (meth)acrylate include a reaction product of a compound having a terminal isocyanate group in which a compound having a polyvalent hydroxyl group and a polyvalent isocyanate compound reacted, and a (meth)acrylate compound having a hydroxyl group. have. Examples of the compound having a polyvalent hydroxyl group include polyesters and polyethers having a hydroxyl group. Examples of the polyesters include polyesters obtained by ring-opening polymerization of lactones, polycarbonates, and ethylene. Polyesters obtained by condensation reaction of alkylene glycols such as glycol, propylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, and dipropylene glycol with dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid, glutaric acid, and adipic acid can be heard Specific examples of the lactones include δ-valerolactone, ε-caprolactone, β-propiolactone, α-methyl-β-propiolactone, β-methyl-β-propiolactone, α,α- dimethyl-β-propiolactone, β,β-dimethyl-β-propiolactone, and the like. Specific examples of the polycarbonates include reaction products of diols such as bisphenol A, hydroquinone and dihydroxycyclohexanone, and carbonyl compounds such as diphenyl carbonate, phosgene, and succinic anhydride. Moreover, as said polyether, polyethyleneglycol, polypropylene glycol, polytetramethylene glycol, polypentamethylene glycol, etc. are mentioned specifically,.

상기 다가 하이드록실기를 갖는 화합물과 반응하는 다가 이소시아네이트 화합물로는, 구체적으로는 디메틸렌디이소시아네이트, 트리메틸렌디이소시아네이트, 테트라메틸렌디이소시아네이트, 펜타메틸렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 헵타메틸렌디이소시아네이트, 2,2-디메틸펜탄-1,5-디이소시아네이트, 옥타메틸렌디이소시아네이트, 2,5-디메틸헥산-1,6-디이소시아네이트, 2,2,4-트리메틸펜탄-1,5-디이소시아네이트, 노나메틸렌디이소시아네이트, 2,2,4-트리메틸헥산디이소시아네이트, 데카메틸렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트 등의 지방족 또는 지환식의 디이소시아네이트 화합물을 들 수 있고, 그 화합물의 단독 또는 2 종류 이상의 혼합물을 사용할 수 있다.Examples of the polyvalent isocyanate compound that reacts with the compound having a polyvalent hydroxyl group include dimethylene diisocyanate, trimethylene diisocyanate, tetramethylene diisocyanate, pentamethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, heptamethylene diisocyanate, 2,2-dimethylpentane-1,5-diisocyanate, octamethylene diisocyanate, 2,5-dimethylhexane-1,6-diisocyanate, 2,2,4-trimethylpentane-1,5-diisocyanate, nona and aliphatic or alicyclic diisocyanate compounds such as methylene diisocyanate, 2,2,4-trimethylhexane diisocyanate, decamethylene diisocyanate and isophorone diisocyanate. can

또한, 하이드록실기를 갖는 (메트)아크릴레이트 화합물로는, 구체적으로는 하이드록시메틸아크릴레이트, 하이드록시메틸메타크릴레이트, 2-하이드록시에틸아크릴레이트, 2-하이드록시에틸메타크릴레이트, 3-하이드록시프로필아크릴레이트, 3-하이드록시프로필메타크릴레이트를 들 수 있고, 또 그것들에 ε-카프로락톤을 1 ∼ 10 ㏖ 부가한 화합물 등을 들 수 있다.In addition, as a (meth)acrylate compound which has a hydroxyl group, specifically, hydroxymethyl acrylate, hydroxymethyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 3 -Hydroxypropyl acrylate and 3-hydroxypropyl methacrylate are mentioned, The compound etc. which added 1-10 mol of epsilon caprolactone to them are mentioned.

본 고안에 관련된 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트는, 카르복실기를 함유하고 있어도 된다. 카르복실기를 함유함으로써, 수지층 제거액에 대한 용해성이 향상되는 경향이 있다. 카르복실기를 함유하는 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트는, 우선, 디이소시아네이트 화합물과, 카르복실기를 갖는 디올 화합물을 양 말단에 이소시아네이트기가 남도록 반응시키고, 이어서 이 반응물의 말단 이소시아네이트기에, 하이드록실기를 갖는 (메트)아크릴레이트 화합물을 반응시키거나 함으로써 얻을 수 있다.(C) Urethane (meth)acrylate which concerns on this invention may contain the carboxyl group. By containing a carboxyl group, there exists a tendency for the solubility with respect to a resin layer removal liquid to improve. (C) urethane (meth)acrylate containing a carboxyl group is first reacted with a diisocyanate compound and a diol compound having a carboxyl group so that an isocyanate group remains at both terminals, and then the terminal isocyanate group of this reactant has a hydroxyl group It can obtain by making a (meth)acrylate compound react.

본 고안의 감광성 수지층에는, 필요에 따라 상기 성분 (A) ∼ (C) 이외의 성분을 함유시켜도 된다. 이와 같은 성분으로는, 광 중합성 단량체, 용제, 열 중합 금지제, 가소제, 착색제 (염료, 안료), 광 발색제, 광 감색제, 열 발색 방지제, 충전제, 소포제, 난연제, 밀착성 부여제, 레벨링제, 박리 촉진제, 산화 방지제, 향료, 열 경화제, 발수제 및 발유제 등을 들 수 있고, 각각 0.01 ∼ 20 질량% 정도 함유할 수 있다. 이들 성분은 1 종을 단독으로, 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다.You may make the photosensitive resin layer of this invention contain components other than the said component (A)-(C) as needed. Such components include a photopolymerizable monomer, a solvent, a thermal polymerization inhibitor, a plasticizer, a colorant (dye, a pigment), a photochromic agent, a photochromic agent, a thermal color development inhibitor, a filler, an antifoaming agent, a flame retardant, an adhesion imparting agent, a leveling agent. , a peeling accelerator, an antioxidant, a fragrance, a thermosetting agent, a water repellent, an oil repellent, etc., and can contain about 0.01-20 mass %, respectively. These components can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 광 중합성 단량체란, 성분 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트 이외의, 분자 내에 적어도 1 개의 중합 가능한 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물이다. 예를 들어, 다가 알코올에 α,β-불포화 카르복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물, 비스페놀 A 계 (메트)아크릴레이트 화합물, 글리시딜기 함유 화합물에 α,β-불포화 카르복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물, (메트)아크릴산알킬에스테르, 에틸렌옥사이드 또는 프로필렌옥사이드 변성 (메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 광 중합성 화합물은 단독으로, 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The said photopolymerizable monomer is a compound which has at least 1 superposition|polymerization ethylenically unsaturated group in a molecule|numerator other than component (C) urethane (meth)acrylate. For example, a compound obtained by reacting an α,β-unsaturated carboxylic acid with a polyhydric alcohol, a bisphenol A (meth)acrylate compound, or a compound obtained by reacting an α,β-unsaturated carboxylic acid with a glycidyl group-containing compound , (meth)acrylic acid alkylester, ethylene oxide or propylene oxide modified (meth)acrylate, etc. are mentioned. These photopolymerizable compounds can be used individually or in combination of 2 or more types.

또, 상기 광 중합성 단량체로는, 분자 내에 3 개 이상의 중합 가능한 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물을 사용해도 된다. 분자 내에 3 개 이상의 중합 가능한 에틸렌성 불포화기를 갖는 광 중합성 화합물로는, 예를 들어, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 디트리메틸올프로판테트라(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리글리시딜에테르트리(메트)아크릴레이트 중 적어도 1 종을 함유하는 것을 들 수 있다.Moreover, as said photopolymerizable monomer, you may use the compound which has 3 or more superposition|polymerizable ethylenically unsaturated groups in a molecule|numerator. Examples of the photopolymerizable compound having three or more polymerizable ethylenically unsaturated groups in the molecule include trimethylolpropane tri(meth)acrylate, ditrimethylolpropanetetra(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth) ) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, trimethylolpropane triglycidyl ether tri (meth) acrylate The thing containing at least 1 type is mentioned.

감광성 수지층에 있어서, 성분 (A) 의 배합량은, 성분 (A), (B) 및 (C) 의 총량에 대해 15 ∼ 65 질량% 인 것이 바람직하고, 25 ∼ 45 질량% 인 것이 보다 바람직하다. 성분 (A) 의 배합량이 15 질량% 미만에서는, 피막성이 나빠지는 경우가 있고, 알칼리 현상성이 저하되는 경우가 있다. 성분 (A) 의 배합량이 65 질량% 를 초과하면, 내블라스트성이 저하되는 경우가 있다.Photosensitive resin layer WHEREIN: It is preferable that it is 15-65 mass % with respect to the total amount of components (A), (B), and (C), and, as for the compounding quantity of component (A), it is more preferable that it is 25-45 mass %. . If the compounding quantity of a component (A) is less than 15 mass %, film property may worsen and alkali developability may fall. When the compounding quantity of a component (A) exceeds 65 mass %, blast resistance may fall.

성분 (B) 의 배합량은, 성분 (A), (B) 및 (C) 의 총량에 대해 0.1 ∼ 10 질량% 인 것이 바람직하고, 0.2 ∼ 5 질량% 인 것이 보다 바람직하다. 성분 (B) 의 배합량이 0.1 질량% 미만에서는, 광 중합성이 불충분해지는 경향이 있다. 한편, 10 질량% 를 초과하면, 노광시에 감광성 수지층의 표면에서 흡수가 증대되어, 감광성 수지층 내부의 광 가교가 불충분해지는 경향이 있다.It is preferable that it is 0.1-10 mass % with respect to the total amount of components (A), (B), and (C), and, as for the compounding quantity of a component (B), it is more preferable that it is 0.2-5 mass %. If the compounding quantity of a component (B) is less than 0.1 mass %, there exists a tendency for photopolymerization to become inadequate. On the other hand, when it exceeds 10 mass %, absorption increases on the surface of the photosensitive resin layer at the time of exposure, and there exists a tendency for the photocrosslinking inside the photosensitive resin layer to become inadequate.

성분 (C) 의 배합량은, 성분 (A), (B) 및 (C) 의 총량에 대해 30 ∼ 80 질량% 인 것이 바람직하고, 40 ∼ 70 질량% 인 것이 보다 바람직하다. 성분 (C) 의 배합량이 30 질량% 미만에서는, 내블라스트성이 저하하는 경향이 있고, 또, 광 감도가 불충분해지는 경향이 있다. 한편, 80 질량% 를 초과하면, 막 표면의 점착성이 증가하는 경향이 있다.It is preferable that it is 30-80 mass % with respect to the total amount of components (A), (B), and (C), and, as for the compounding quantity of a component (C), it is more preferable that it is 40-70 mass %. If the compounding quantity of a component (C) is less than 30 mass %, there exists a tendency for blast resistance to fall, and there exists a tendency for a photosensitivity to become inadequate. On the other hand, when it exceeds 80 mass %, there exists a tendency for the adhesiveness of the film|membrane surface to increase.

본 고안의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체는, 도 1 에 나타내는 바와 같이, 지지체 (1), 감광성 수지층 (3), 커버 필름 (4) 이 적층된 드라이 필름의 구성체이다. 또, 도 2 에 나타내는 바와 같이, 지지체 (1), 박리층 (2), 감광성 수지층 (3), 커버 필름 (4) 이 적층된 드라이 필름의 구성으로 해도 된다.The photosensitive resin structural body for sandblasting of this invention is a structural body of the dry film in which the support body 1, the photosensitive resin layer 3, and the cover film 4 were laminated|stacked, as shown in FIG. Moreover, as shown in FIG. 2, it is good also as a structure of the dry film in which the support body 1, the peeling layer 2, the photosensitive resin layer 3, and the cover film 4 were laminated|stacked.

지지체 (1) 로는, 활성 광선을 투과시키는 투명 필름이 바람직하다. 지지체 (1) 의 두께는, 얇은 편이 광의 굴절이 적으므로 바람직하고, 두꺼운 편이 도공 안정성이 우수하기 때문에, 10 ∼ 100 ㎛ 가 바람직하다. 지지체 (1) 에 적합한 필름으로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리카보네이트 등의 필름을 들 수 있다. 박리층 (2) 으로는, 폴리비닐알코올, 알칼리 가용성 수지와 우레탄(메트)아크릴레이트의 혼합물 등을 들 수 있다. 감광성 수지층 (3) 은, 감광성 수지 조성물로 이루어지는 층이다. 감광성 수지층 (3) 의 건조막 두께는, 두꺼운 편이 내샌드 블라스트성이 우수하기 때문에 바람직하고, 지나치게 두꺼우면 해상성이 저하되는 점에서 10 ∼ 150 ㎛ 인 것이 바람직하고, 30 ∼ 120 ㎛ 인 것이 보다 바람직하다. 커버 필름 (4) 이란, 미경화 또는 경화된 감광성 수지층 (3) 을 박리시킬 수 있으면 되고, 이형성이 높은 수지가 사용된다. 본 고안에서는 박리성이 높고, 감광성 수지층 (3) 과의 밀착성이 양호한 점에서 폴리에틸렌 필름 또는 폴리프로필렌 필름을 사용한다.As the support body 1, the transparent film which transmits an actinic light is preferable. As for the thickness of the support body 1, since the thin one has little refraction of light, it is preferable, and since the thick one is excellent in coating stability, 10-100 micrometers is preferable. As a film suitable for the support body 1, films, such as a polyethylene terephthalate and a polycarbonate, are mentioned. As the peeling layer 2, polyvinyl alcohol, the mixture of alkali-soluble resin, and urethane (meth)acrylate, etc. are mentioned. The photosensitive resin layer 3 is a layer which consists of a photosensitive resin composition. As for the dry film thickness of the photosensitive resin layer 3, since the thicker one is excellent in sand blast resistance, it is preferable, and when it is too thick, it is preferable that it is 10-150 micrometers at the point which resolution falls, and it is 30-120 micrometers. more preferably. With the cover film 4, what is necessary is just to be able to peel the non-hardened or hardened|cured photosensitive resin layer 3, and resin with high releasability is used. In this invention, a polyethylene film or a polypropylene film is used at the point with high peelability and adhesiveness with the photosensitive resin layer 3 being favorable.

커버 필름 (4) 의 두께는, 두꺼운 편이 감광성 수지 구성체의 보존시의 주름 발생을 억제하는 효과가 얻어지는 점에서 바람직하고, 지나치게 두꺼우면 임의의 길이의 롤 형태로 하였을 때에 롤 직경이 커져, 취급성의 저하, 비용이 비싸지는 등의 문제도 발생하기 쉬워지는 점에서 50 ∼ 150 ㎛ 이고, 75 ∼ 120 ㎛ 가 보다 바람직하다. 지나치게 얇으면 보존시에 주름이 발생하기 쉬워지는 점에서 바람직하지 않다. 또, 커버 필름 (4) 이, 감광성 수지층 (3) 과의 박리 강도를 저하시키는 실리콘 등의 이형제가 적층된 폴리에스테르 필름 등인 경우, 박리제가 노광용 마스크 필름 (포토마스크) 이나 피처리체에 전사될 가능성이 있는 점에서 바람직하지 않다.As for the thickness of the cover film 4, the thicker one is preferable at the point which the effect of suppressing the generation|occurrence|production of wrinkles at the time of storage of the photosensitive resin structure is acquired, and when it is too thick, the roll diameter becomes large when it is set as the roll form of arbitrary length, and handleability is It is 50-150 micrometers, and 75-120 micrometers is more preferable at the point which also becomes easy to generate|occur|produce problems, such as a fall and cost becoming high. When it is too thin, it is unpreferable from the point which wrinkles become easy to generate|occur|produce at the time of storage. In addition, when the cover film 4 is a polyester film or the like laminated with a release agent such as silicone that lowers the peel strength with the photosensitive resin layer 3, the release agent may be transferred to the exposure mask film (photomask) or the object to be processed. It is not preferable in terms of possibility.

실시예Example

이하 실시예에 의해 본 고안을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 고안은 이 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of Examples, but the present invention is not limited to these Examples.

(실시예 1 ∼ 10, 비교예 1 ∼ 4)(Examples 1 to 10, Comparative Examples 1 to 4)

이하에 나타내는 감광성 수지 조성물을, 와이어 바를 사용하여, 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름 (지지체 (1), 상품명 : R310, 25 ㎛ 두께, 미츠비시 케미컬사 제조) 상에 도공하고, 80 ℃ 에서 8 분간 건조시키고, 용제 성분을 날려 버리고, PET 필름의 편면 상에 감광성 수지층 (3) (건조막 두께 : 100 ㎛) 을 도포하고, 표 1 에 나타내는 커버 필름 (4) 을 감광성 수지층 (3) 상에 라미네이트하여 밀착시켜, 실시예 1 ∼ 10, 비교예 1 ∼ 4 의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체를 제조하였다.The photosensitive resin composition shown below is coated on a polyethylene terephthalate (PET) film (support body (1), trade name: R310, 25 micrometers thickness, Mitsubishi Chemical Corporation make) using a wire bar, and dried at 80 degreeC for 8 minutes. and blow off the solvent component, apply the photosensitive resin layer 3 (dry film thickness: 100 µm) on one side of the PET film, and apply the cover film 4 shown in Table 1 on the photosensitive resin layer 3 It laminated and adhered, and the photosensitive resin structural body for sandblasting of Examples 1-10 and Comparative Examples 1-4 was manufactured.

Figure 112019133830440-utm00001
Figure 112019133830440-utm00001

(감광성 수지 조성물의 조제)(Preparation of photosensitive resin composition)

이하에 나타내는 성분을 혼합하여, 감광성 수지 조성물을 얻었다. 각 성분 배합량의 단위는, 질량부를 나타낸다.The components shown below were mixed, and the photosensitive resin composition was obtained. The unit of each component compounding quantity represents a mass part.

(A) 셀룰로오스아세테이트프탈레이트 (와코 순약사 제조) 17 부(A) 17 parts of cellulose acetate phthalate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.)

(B-1) 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체 1.5 부(B-1) 1.5 parts of 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer

(B-2) N,N,N',N'-테트라에틸-4,4'-디아미노벤조페논 0.2 부(B-2) 0.2 parts of N,N,N',N'-tetraethyl-4,4'-diaminobenzophenone

(C) 시코 (등록 상표) UV-3000B (닛폰 합성 화학 공업사 제조) 32 부(C) SIKO (registered trademark) UV-3000B (manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.) 32 copies

(광 중합성 단량체) 펜타에리트리톨트리아크릴레이트 6 부(Photopolymerizable monomer) 6 parts of pentaerythritol triacrylate

(안료) 프탈로시아닌 그린 0.1 부(pigment) phthalocyanine green 0.1 part

메틸에틸케톤 (MEK) 43.2 부43.2 parts of methyl ethyl ketone (MEK)

보존시에 있어서의 주름의 발생을 조사하기 위해, 상기 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체를 20 ㎝ × 20 ㎝ 로 컷하여, 검정 폴리백에 넣고, 30 ℃, 60 % R.H. 의 분위기에 8 일간 보존하였다. 보존 후 꺼내어 감광성 수지층 (3) 의 주름을 확인한 결과, 실시예 1 및 6 의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에는, 약간의 물결침은 있지만, 감광성 수지층 (3) 에 주름의 발생은 보이지 않았다. 실시예 2 ∼ 4, 실시예 7 ∼ 9 의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체는, 감광성 수지층 (3) 에 주름의 발생은 없었다. 실시예 5 및 실시예 10 의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에서는, 감광성 수지층 (3) 에 주름은 발생하지 않지만, 약간 비용이 비싸졌다. 한편, 비교예 1 및 비교예 3 의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체는, 감광성 수지층 (3) 에 주름의 발생이 보였다. 또, 비교예 2 및 비교예 4 는, 감광성 수지층 (3) 에 주름은 발생하지 않지만, 비용이 비싸지고, 실시예 5 및 실시예 10 에 비해, 개선성이 보이지 않았다. 따라서, 커버 필름 (4) 이 두께 50 ∼ 150 ㎛ 의 폴리에틸렌 필름 또는 폴리프로필렌 필름인 것에 의해, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체의 주름 발생을 억제할 수 있는 것을 알 수 있다.In order to investigate the occurrence of wrinkles during storage, the photosensitive resin construct for sandblasting was cut to 20 cm x 20 cm, placed in a black polybag, and stored at 30 DEG C, 60% R.H. was stored for 8 days in an atmosphere of As a result of taking out after storage and confirming the wrinkles of the photosensitive resin layer 3, although there was some wavy in the photosensitive resin structures for sandblasting of Examples 1 and 6, generation|occurrence|production of wrinkles was not seen in the photosensitive resin layer 3. As for the photosensitive resin structural body for sandblasting of Examples 2-4 and Examples 7-9, generation|occurrence|production of the wrinkle did not exist in the photosensitive resin layer 3. In the photosensitive resin structural body for sandblasting of Example 5 and Example 10, although wrinkles did not generate|occur|produce in the photosensitive resin layer 3, the cost became slightly high. On the other hand, in the photosensitive resin structural body for sandblasting of the comparative example 1 and the comparative example 3, generation|occurrence|production of wrinkles was seen in the photosensitive resin layer 3 . Moreover, although the wrinkle did not generate|occur|produce in the photosensitive resin layer 3 in the comparative example 2 and the comparative example 4, cost became high, and improvement was not seen compared with Example 5 and Example 10. Therefore, when the cover film 4 is a 50-150 micrometers-thick polyethylene film or a polypropylene film, it turns out that the wrinkle generation of the photosensitive resin structural body for sandblasting can be suppressed.

상기의 보존 후의 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체를, 커버 필름 (4) 을 벗긴 후에, 감광성 수지층 (3) 이 접하도록, 3 ㎜ 두께의 유리판에 첩부하고, 다음으로, 50, 70, 100, 150, 200 ㎛ 라인 & 스페이스의 패턴을 갖는 포토마스크를 개재하여 노광하였다. 다음으로, 지지체 (1) 를 벗기고, 1.0 질량% 탄산나트륨 수용액으로 알칼리 현상을 실시하고, 비노광부의 감광성 수지층 (3) 을 제거하였다. 이 때, 실시예 1 ∼ 10 및 비교예 2 와 비교예 4 에 대해서는, 100 ㎛ 라인 & 스페이스를 해상할 수 있는 것을 알 수 있었다. 한편, 비교예 1 및 비교예 3 에 대해서는, 감광성 수지층 (3) 의 주름의 영향으로, 포토마스크를 밀착시킬 수 없어, 릴리프 화상의 형성이 불가능하였다.After peeling off the cover film 4, the photosensitive resin structure for sandblasting after said preservation|save is affixed on the glass plate of 3 mm thickness so that the photosensitive resin layer 3 may contact, Next, 50, 70, 100, 150 , exposed through a photomask having a pattern of 200 μm line & space. Next, the support body 1 was peeled off, alkali development was performed with 1.0 mass % sodium carbonate aqueous solution, and the photosensitive resin layer 3 of a non-exposure part was removed. At this time, about Examples 1-10 and Comparative Example 2 and Comparative Example 4, it turned out that 100 micrometers line & space can be resolved. On the other hand, in Comparative Example 1 and Comparative Example 3, under the influence of wrinkles of the photosensitive resin layer 3, the photomask could not be brought into close contact, and the formation of a relief image was impossible.

다음으로, 탄화규소 분말 (나니와 연마 공업 제조, GC#1200) 을 사용하여, 샌드 블라스트 처리를 실시하였다. 실시예 1 ∼ 10 및 비교예 2 와 비교예 4 에 대해서는, 깊이 방향으로 1 ㎜ 까지 절삭할 수 있어, 내블라스트성은 양호하였다.Next, it sandblasted using silicon carbide powder (the Naniwa Abrasive Industry make, GC#1200). About Examples 1-10 and Comparative Example 2 and Comparative Example 4, it was possible to cut to 1 mm in the depth direction, and the blast resistance was favorable.

본 고안은, 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체로서 널리 이용할 수 있다.The present invention can be widely used as a photosensitive resin structural body for sandblasting.

1 : 지지체
2 : 박리층
3 : 감광성 수지층
4 : 커버 필름
1: support
2: release layer
3: photosensitive resin layer
4: cover film

Claims (1)

지지체, 감광성 수지층, 커버 필름을 이 순서대로 적층한 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체에 있어서, 감광성 수지층이 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 광 중합 개시제 및 (C) 우레탄(메트)아크릴레이트 화합물을 함유하고, 또한, 커버 필름의 두께가 50 ∼ 150 ㎛ 인 폴리에틸렌 필름 또는 폴리프로필렌 필름인 것을 특징으로 하는 샌드 블라스트용 감광성 수지 구성체.In the photosensitive resin construction for sandblasting in which a support, a photosensitive resin layer, and a cover film are laminated in this order, the photosensitive resin layer is (A) alkali-soluble resin, (B) photoinitiator, and (C) urethane (meth) acrylate A photosensitive resin composition for sand blasting, characterized in that it is a polyethylene film or polypropylene film containing a compound and having a cover film thickness of 50 to 150 µm.
KR2020190005249U 2018-12-26 2019-12-24 Photo-sensitive resin structure for sandblasting KR200494511Y1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018242263A JP2020106581A (en) 2018-12-26 2018-12-26 Photosensitive resin structure for sand blasting
JPJP-P-2018-242263 2018-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200001490U KR20200001490U (en) 2020-07-06
KR200494511Y1 true KR200494511Y1 (en) 2021-10-27

Family

ID=71133258

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020190005249U KR200494511Y1 (en) 2018-12-26 2019-12-24 Photo-sensitive resin structure for sandblasting

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2020106581A (en)
KR (1) KR200494511Y1 (en)
CN (1) CN211698583U (en)
TW (1) TWM592986U (en)

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3449572B2 (en) 1994-08-12 2003-09-22 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin composition and photosensitive dry film using the same
JPH1069851A (en) 1996-08-28 1998-03-10 Hitachi Chem Co Ltd Manufacture of barrier plate
JP3846958B2 (en) 1997-03-03 2006-11-15 旭化成エレクトロニクス株式会社 Photosensitive resin composition for sandblasting and use thereof
JP4159094B2 (en) * 2003-10-15 2008-10-01 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin composition and photosensitive dry film using the same
JP4509638B2 (en) * 2004-04-26 2010-07-21 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin composition and photosensitive dry film using the same
KR101071420B1 (en) * 2005-05-26 2011-10-07 코오롱인더스트리 주식회사 Photopolymerizable Resin Composition For Sandblast Resist and dry film photo resist formed thereof
JP5782162B2 (en) 2014-05-29 2015-09-24 三菱製紙株式会社 Photosensitive film for sandblasting
TWI687769B (en) * 2015-05-12 2020-03-11 日商三菱製紙股份有限公司 Photo-sensitive resin composition for sandblasting and sandblasting process

Also Published As

Publication number Publication date
CN211698583U (en) 2020-10-16
JP2020106581A (en) 2020-07-09
KR20200001490U (en) 2020-07-06
TWM592986U (en) 2020-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5650945B2 (en) Photosensitive film for sandblasting
JP6684147B2 (en) Photosensitive resin composition for sandblasting and sandblasting method
WO2014200028A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, mask material for sand-blasting, and surface treatment method for object to be treated
JP2015143834A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, mask material for sand blasting, and surface processing method of process object
KR200494511Y1 (en) Photo-sensitive resin structure for sandblasting
JP5731994B2 (en) Sandblasting
JP3236461U (en) Photosensitive resin composition for sandblasting
JP2021017004A (en) Photosensitive film for sand blast
JP5782162B2 (en) Photosensitive film for sandblasting
JP6018664B2 (en) Photosensitive film for sandblasting
WO2014119562A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, sandblasting mask material, and surface processing method of object to be processed
JP6799499B2 (en) How to form a pattern on a curved surface
WO2021246382A1 (en) Photosensitive resin composition for sandblasting use and photosensitive film for sandblasting use
JP2023127135A (en) Photosensitive resin composition for sandblasting and dry film
JP2023148940A (en) Photosensitive film for sand blasting
JP2023120948A (en) Peeling method
JP2015001591A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, mask material for sandblasting, and method for working surface of workpiece
JP3328599B2 (en) Photosensitive resin composition
JP2020134694A (en) Photosensitive resin composition for sand blast and sand blast treatment
JP2002196485A (en) Photosensitive resin composition
JP4421708B2 (en) Photosensitive resin composition
JP2000250214A (en) Photosensitive resin composition
JP3105438B2 (en) Photoresist composition
JP2001022062A (en) Photosensitive resin composition
JP2001083700A (en) Photosensitive resin composition

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment