JP2002196485A - Photosensitive resin composition - Google Patents

Photosensitive resin composition

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JP2002196485A
JP2002196485A JP2000398365A JP2000398365A JP2002196485A JP 2002196485 A JP2002196485 A JP 2002196485A JP 2000398365 A JP2000398365 A JP 2000398365A JP 2000398365 A JP2000398365 A JP 2000398365A JP 2002196485 A JP2002196485 A JP 2002196485A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive resin composition which is excellent in sandblasting-proof, resist peelability, developer-proof and storage stability of the resist. SOLUTION: The photosensitive resin composition comprises 0.5-30 weight percent of a carboxylic acid degeneration polycaprolactone diol (B), 0.1-20 weight percent of a photoinitiator (C) and 0.1-5 weight percent of a light chromogenic dye (D) for 100 weight percent of an acrylic urethane resin including a carboxyl group (A).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は耐サンドブラスト
性、レジスト剥離性に優れた感光性樹脂組成物に関し、
特にドライフィルムレジストの形態として使用可能な感
光性樹脂組成物に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosensitive resin composition having excellent sandblast resistance and resist stripping properties.
In particular, the present invention relates to a photosensitive resin composition usable as a form of a dry film resist.

【0002】[0002]

【従来の技術】ポリエステルフィルムなどのベースフィ
ルム上に感光性樹脂組成物を層状に塗布乾燥成層し、そ
の上からポリエステルフィルム、ポリエチレンフィル
ム、ポリビニルアルコールフィルムなどの保護フィルム
を積層した3層ラミネートフィルムは、一般にドライフ
ィルムレジスト(以下DFRと略記することがある)と
称され、プリント配線基板の製造用、金属の精密加工用
等に広く利用されている。その使用にあたっては、まず
DFRからベースフィルムまたは保護フィルムのうち接
着力の小さいほうの一方のフィルムを剥離除去して、感
光性樹脂組成物層の側を銅張基板の銅面表面に張り付け
た後、パターンマスクを他方のフィルム上に当接させた
状態で露光し(当該他方のフィルムを剥離除去してから
露光する場合もある)、次いでその他方のフィルムを剥
離除去して現像に供する。露光後の現像方式としては、
溶剤現像型のものと希アルカリ現像型のものとがある。
2. Description of the Related Art A three-layer laminated film comprising a photosensitive resin composition applied in layers on a base film such as a polyester film, dried and laminated, and a protective film such as a polyester film, a polyethylene film, or a polyvinyl alcohol film is laminated thereon. Generally, it is called a dry film resist (hereinafter, may be abbreviated as DFR), and is widely used for manufacturing a printed wiring board, precision processing of a metal, and the like. In use, first, one of the base film or the protective film having the smaller adhesive strength is peeled off and removed from the DFR, and the photosensitive resin composition layer side is attached to the copper surface of the copper-clad substrate. Exposure is performed in a state where the pattern mask is in contact with the other film (the exposure may be performed after the other film is peeled off), and then the other film is peeled off and subjected to development. As a development method after exposure,
There are a solvent development type and a dilute alkali development type.

【0003】DFRのほか、該基材面に直接感光性樹脂
組成物を塗布成層し、その上に積層したポリエステルフ
ィルムなどのフィルムを介してパターンマスクを密着さ
せ、露光を行う方法も良く知られている。また近年、か
かるプリント配線基板の製造を中心とするDFRの用途
以外にプラズマディスプレイパネルの隔壁形成等にDF
Rを用いたサンドブラスト法が行われるようになってき
た。
[0003] In addition to DFR, there is also a well-known method in which a photosensitive resin composition is applied directly onto the substrate surface, and a pattern mask is adhered through a film such as a polyester film laminated thereon to perform exposure. ing. In recent years, in addition to the use of DFR mainly for the manufacture of such printed wiring boards, DF is used for forming partition walls of plasma display panels and the like.
Sandblasting using R has been performed.

【0004】かかる用途に用いることのできるDFR用
の感光性樹脂組成物としては、例えば、2個以上の
(メタ)アクリロイル基を含有し、酸価50〜250m
gKOH/g、硬化後のTgが5〜95℃のカルボキシ
ル基変性ウレタン(メタ)アクリレート化合物と酸価が
50〜250mgKOH/gのアルカリ可溶性高分子化
合物と光重合開始剤からなる感光性樹脂組成物(特開平
8−54734号公報)が提案されている。しかし、上
記の開示技術では耐現像液性に問題があり、現像時の
現像液濃度や現像時間等を厳しく管理する必要があると
いう欠点があった。そこで、本出願人は先にカルボキ
シル基含有アクリルウレタン系樹脂100重量部に対し
て、酸価が10〜250のアクリル系樹脂を0〜20重
量部、ヘキサアリールビイミダゾールを0.5〜10重
量部、ロイコ染料を0.05〜3重量部含有する感光性
樹脂組成物(特許3034823号)を開示した。
As a photosensitive resin composition for DFR that can be used for such applications, for example, it contains two or more (meth) acryloyl groups and has an acid value of 50 to 250 m.
gKOH / g, a photosensitive resin composition comprising a carboxyl group-modified urethane (meth) acrylate compound having a cured Tg of 5 to 95 ° C, an alkali-soluble polymer compound having an acid value of 50 to 250 mgKOH / g, and a photopolymerization initiator (Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 8-54534) has been proposed. However, the disclosed technology has a problem in developing solution resistance, and has a drawback that it is necessary to strictly control the developing solution concentration and the developing time during development. Therefore, the applicant of the present invention previously provided 0 to 20 parts by weight of an acrylic resin having an acid value of 10 to 250 and 0.5 to 10 parts by weight of a hexaarylbiimidazole based on 100 parts by weight of a carboxyl group-containing acrylic urethane resin. , A photosensitive resin composition containing 0.05 to 3 parts by weight of a leuco dye (Japanese Patent No. 3034823).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
の開示技術ではレジストの耐現像液性は満足した結果が
得られたもののレジストの耐サンドブラスト性(耐ブラ
スト性と略記することもある)やブラスト後のレジスト
剥離性に改善の余地があった。市場での更なる耐ブラス
ト性の向上とブラスト後のレジスト剥離性の向上(剥離
時間が短い)への要求を満足させることはできないのが
実状である。
However, in the above-mentioned disclosed technology, although the resist has a satisfactory developing solution resistance, the resist has good sand blast resistance (sometimes abbreviated as blast resistance) and after blasting. There was room for improvement in the resist strippability. In reality, it is not possible to satisfy the demand for further improvement in blast resistance and improvement in resist peelability after blasting (shorter stripping time) in the market.

【0006】[0006]

【問題を解決するための手段】そこで、本発明者らはか
かる事情に鑑み、鋭意研究をした結果、カルボキシル基
含有アクリルウレタン系樹脂(A)100重量部に対し
て、カルボン酸変性ポリカプロラクトンジオール化合物
(B)を0.5〜30重量部、光重合開始剤(C)を
0.1〜20重量部及び光発色性染料(D)を0.05
〜5重量部含有してなる感光性樹脂組成物が、耐ブラス
ト性、ブラスト後のレジスト剥離性に優れ、かつレジス
トの保存安定性、耐現像液性の点でも良好な性能をもつ
ことを見いだし本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems In view of such circumstances, the present inventors have conducted intensive studies and as a result, based on 100 parts by weight of a carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A), a carboxylic acid-modified polycaprolactone diol. 0.5 to 30 parts by weight of the compound (B), 0.1 to 20 parts by weight of the photopolymerization initiator (C) and 0.05 of the photochromic dye (D)
It has been found that a photosensitive resin composition containing up to 5 parts by weight has excellent blast resistance, excellent resist stripping properties after blasting, and has good performance in terms of resist storage stability and developer resistance. The present invention has been completed.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明で使用するカルボキシル基含有アクリルウレタン
系樹脂(A)は、カルボキシル基含有ジオール化合物
(a1)とジイソシアネート化合物(a2)を通常1:
2のモル比で反応させて得られる化合物(a3)にポリ
オール(a4)を付加させ、更にエチレン性不飽和基含
有ヒドロキシ化合物(a5)を付加させて得られるもの
が好ましく、更にはかかるカルボキシル基含有ジオール
化合物(a1)としては分子量が500以下、又ジイソ
シアネート化合物(a2)としては分子量が300以下
のものが好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail.
The carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A) used in the present invention comprises a carboxyl group-containing diol compound (a1) and a diisocyanate compound (a2) usually in a ratio of 1:
A compound obtained by adding a polyol (a4) to a compound (a3) obtained by reacting at a molar ratio of 2 and further adding an ethylenically unsaturated group-containing hydroxy compound (a5) is preferable, and further, such a carboxyl group The diol compound (a1) preferably has a molecular weight of 500 or less, and the diisocyanate compound (a2) preferably has a molecular weight of 300 or less.

【0008】上記の分子量が500以下のカルボキシル
基含有ジオール化合物(a1)としては、具体的に酒石
酸、ジヒドロキシメチル酢酸、ビス(4−ヒドロキシフ
ェニル)酢酸、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)プロ
ピオン酸、2,2−ビス(ヒドロキシエチル)プロピオ
ン酸、2,2−ビス(ヒドロキシプロピル)プロピオン
酸、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)酪酸、4,4−
ビス(p−ヒドロキシフェニル)ペンタン酸、2,4−
ジヒドロキシ安息香酸、3,5−ジヒドロキシ安息香
酸、ホモゲンチジン酸等が挙げられ、好適には2,2−
ビス(ヒドロキシメチル)酪酸、2,2−ビス(ヒドロ
キシメチル)プロピオン酸、2,2−ビス(ヒドロキシ
エチル)プロピオン酸、2,2−ビス(ヒドロキシプロ
ピル)プロピオン酸が用いられる。該カルボキシル基含
有ポリオール化合物(a1)の分子量が500を越える
と反応溶媒への溶解性が低下してジイソシアネートとの
反応性が低下し好ましくない。
The carboxyl group-containing diol compound (a1) having a molecular weight of 500 or less is specifically exemplified by tartaric acid, dihydroxymethylacetic acid, bis (4-hydroxyphenyl) acetic acid, 2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid 2,2-bis (hydroxyethyl) propionic acid, 2,2-bis (hydroxypropyl) propionic acid, 2,2-bis (hydroxymethyl) butyric acid, 4,4-
Bis (p-hydroxyphenyl) pentanoic acid, 2,4-
Examples thereof include dihydroxybenzoic acid, 3,5-dihydroxybenzoic acid, and homogentisic acid.
Bis (hydroxymethyl) butyric acid, 2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid, 2,2-bis (hydroxyethyl) propionic acid, and 2,2-bis (hydroxypropyl) propionic acid are used. If the molecular weight of the carboxyl group-containing polyol compound (a1) exceeds 500, the solubility in the reaction solvent is reduced, and the reactivity with diisocyanate is undesirably reduced.

【0009】また分子量300以下のジイソシアネート
化合物(a2)としては、具体的にヘキサメチレンジイ
ソシアネート、ヘプタンメチレンジイソシアネート、
2,2−ジメチルペンタン−1,5−ジイソシアネー
ト、オクタメチレンジイソシアネート、2,5−ジメチ
ルヘキサン−1,6−ジイソシアネート、2,2,4−
トリメチルペンタン−1,5−ジイソシアネート、ノナ
メチレンジイソシアネート、2,2,4−トリメチルヘ
キサンジイソシアネート、デカメチレンジイソシアネー
ト、ウンデカメチレンジイソシアネート、ドデカメチレ
ンジイソシアネート、トリデカメチレンジイソシアネー
ト、ペンタデカメチレンジイソシアネート、ブテンジイ
ソシアネート、1,3−ブタジエン−1,4−ジイソシ
アネート、2−ブチニレンジイソシアネート、トルエン
ジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、1,
3−キシリレンジイソシアネート、1,4−キシリレン
ジイソシアネート、4,4’−ジフェニルメタンジイソ
シアネート、ナフチレンジイソシアネート、ヘキサメチ
レンジイソシアネートやジフェニルメタンジイソシアネ
ートの水添加体等が挙げられ、好適にはヘキサメチレン
ジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、トル
エンジイソシアネートが用いられる。該ジイソシアネー
ト化合物(a2)の分子量が300を越えるとジオール
化合物との反応性が低下して好ましくない。
Specific examples of the diisocyanate compound (a2) having a molecular weight of 300 or less include hexamethylene diisocyanate, heptane methylene diisocyanate,
2,2-dimethylpentane-1,5-diisocyanate, octamethylene diisocyanate, 2,5-dimethylhexane-1,6-diisocyanate, 2,2,4-
Trimethylpentane-1,5-diisocyanate, nonamethylene diisocyanate, 2,2,4-trimethylhexane diisocyanate, decamethylene diisocyanate, undecamethylene diisocyanate, dodecamethylene diisocyanate, tridecamethylene diisocyanate, pentadecamethylene diisocyanate, butene diisocyanate, 1 , 3-butadiene-1,4-diisocyanate, 2-butynylene diisocyanate, toluene diisocyanate, isophorone diisocyanate,
3-xylylene diisocyanate, 1,4-xylylene diisocyanate, 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, naphthylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, water-added products of diphenylmethane diisocyanate, etc., preferably hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate , Toluene diisocyanate is used. If the molecular weight of the diisocyanate compound (a2) exceeds 300, the reactivity with the diol compound decreases, which is not preferable.

【0010】(a3)に付加反応させるポリオール(a
4)としては、分子量500以上のものが好ましく、更
には500〜10000、特には500〜4000であ
り、分子量が500未満では硬化レジストの柔軟性が低
下して好ましくない。具体的にはポリエーテル系ポリオ
ール、ポリエステル系ポリオール、ポリカーボネート系
ポリオール、アルキレンオキサイド変性ビスフェノール
系ジオール、アクリル系ポリオール、ポリブタジエン系
ポリオール、ポリオレフィン系ポリオールが挙げられ
る。更には、1,6−ヘキサンジオール等の低分子ジオ
ールとイソホロンジイソシアネート等のポリイソシナネ
ートをα:α−1(αは2以上の整数)のモル比で反応
させて得られたウレタン系ジオールも挙げられる。
The polyol (a) to be subjected to an addition reaction to (a3)
As 4), those having a molecular weight of 500 or more are preferred, and more preferably 500 to 10,000, particularly 500 to 4000. If the molecular weight is less than 500, the flexibility of the cured resist is lowered, which is not preferred. Specific examples include polyether-based polyols, polyester-based polyols, polycarbonate-based polyols, alkylene oxide-modified bisphenol-based diols, acrylic polyols, polybutadiene-based polyols, and polyolefin-based polyols. Further, a urethane diol obtained by reacting a low molecular weight diol such as 1,6-hexanediol and a polyisocyanate such as isophorone diisocyanate in a molar ratio of α: α-1 (α is an integer of 2 or more). Are also mentioned.

【0011】更に、エチレン性不飽和基含有ヒドロキシ
化合物(a5)としては、2−ヒドロキシエチル(メ
タ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)ア
クリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレー
ト、2−(メタ)アクリロイロキシエチル−2−ヒドロ
キシプロピルフタレート、グリセリンジ(メタ)アクリ
レート、2−ヒドロキシ−3−アクリロイロキシプロピ
ル(メタ)アクリレート等が挙げられ、好適には2−ヒ
ドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ
プロピル(メタ)アクリレートが用いられる。
Further, as the hydroxy compound containing an ethylenically unsaturated group (a5), 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, 2- (meth) acrylate ) Acryloyloxyethyl-2-hydroxypropyl phthalate, glycerin di (meth) acrylate, 2-hydroxy-3-acryloyloxypropyl (meth) acrylate and the like, preferably 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; 2-hydroxypropyl (meth) acrylate is used.

【0012】カルボキシル基含有アクリルウレタン系樹
脂(A)を調製するにはまず、上記ジオール化合物(a
1)とジイソシアネート化合物(a2)を反応させて反
応生成物(a3)を得る。該反応は公知の反応手段を用
いることができ、例えば、酢酸エチル、メチルエチルケ
トン等の溶媒中で溶媒の沸点以下(好ましくは60〜8
0℃)の温度で(a1)と(a2)を反応させればよ
い。本発明においては、上記の如くジオール化合物(a
1)とジイソシアネート化合物(a2)との反応モル比
を1:2程度にすることにより両末端にイソシアネート
を付加することができ、後述する分子量500以上のポ
リオール(a4)の導入が効率良く行われる。
To prepare the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A), first, the diol compound (a)
The reaction product (a3) is obtained by reacting 1) with the diisocyanate compound (a2). The reaction can be carried out using a known reaction means, for example, in a solvent such as ethyl acetate or methyl ethyl ketone or below the boiling point of the solvent (preferably 60 to 8).
(A1) and (a2) may be reacted at a temperature of 0 ° C.). In the present invention, as described above, the diol compound (a
By making the reaction molar ratio of 1) and the diisocyanate compound (a2) about 1: 2, isocyanate can be added to both ends, and a polyol (a4) having a molecular weight of 500 or more, which will be described later, is efficiently introduced. .

【0013】次いで、反応生成物(a3)に分子量50
0以上のポリオール(a4)を添加し、該溶媒の沸点以
下の温度で反応させる。この時反応を促進するためにジ
ブチルチンラウレート等の公知の触媒を添加するのが有
利である。触媒は該ポリオール(a4)に対して0.0
1〜0.1重量%程度使用し、60〜80℃で3〜10
時間程度反応させる。反応生成物(a3)と該ポリオー
ルとの反応モル比はβ:β−1(βは2以上の整数)程
度にすることにより両末端にイソシアネートを付加でき
るが、反応モル比によっては、その後必要に応じて更に
(a2)を反応させると後述する(a5)の導入が効率
よく行われる。更に、エチレン性不飽和基含有ヒドロキ
シ化合物(a5)を系に仕込み反応させ、残存ジイソシ
アネート基含有率が0.1〜0.5重量%程度になった
時点で反応を終了してカルボキシル基含有アクリルウレ
タン系樹脂(A)が得られる。
Next, the reaction product (a3) has a molecular weight of 50
0 or more polyols (a4) are added and reacted at a temperature not higher than the boiling point of the solvent. At this time, it is advantageous to add a known catalyst such as dibutyltin laurate to accelerate the reaction. The catalyst is used in an amount of 0.0 to the polyol (a4).
Use about 1-0.1% by weight, and 3-10 at 60-80 ° C
Let react for about an hour. The isocyanate can be added to both terminals by setting the reaction molar ratio of the reaction product (a3) and the polyol to about β: β-1 (β is an integer of 2 or more). When (a2) is further reacted according to the above, the introduction of (a5) described later is efficiently performed. Further, an ethylenically unsaturated group-containing hydroxy compound (a5) is charged into the system and reacted. When the residual diisocyanate group content becomes about 0.1 to 0.5% by weight, the reaction is terminated, and the carboxyl group-containing acrylic compound is removed. The urethane resin (A) is obtained.

【0014】本発明で使用するカルボキシル基含有アク
リルウレタン系樹脂(A)は、酸価が10〜150mg
KOH/g、好ましくは50〜130mgKOH/gが
有利であるので(a1)、(a2)、(a4)、(a
5)の種類や配合割合、縮合度等を選択して上記範囲に
するのが望ましい。酸価が10mgKOH/g未満では
解像度が劣ることがあり、150mgKOH/gを越え
ると耐現像液性が劣ることがあり好ましくない。
The carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A) used in the present invention has an acid value of 10 to 150 mg.
Since KOH / g, preferably 50 to 130 mg KOH / g, is advantageous, (a1), (a2), (a4), (a
It is desirable to select the type, blending ratio, degree of condensation, and the like in 5) to make the above ranges. If the acid value is less than 10 mgKOH / g, the resolution may be poor, and if it exceeds 150 mgKOH / g, the developer resistance may be poor, which is not preferable.

【0015】上記範囲に酸価を調整する以外に(A)中
に占める反応生成物(a3)の重量割合を15〜65重
量%とすることが好ましく、かかる含有量が15重量%
未満では硬化レジストの充分な強度が得られず、逆に6
5重量%を越えると硬化レジストの柔軟性が低下して好
ましくない。
In addition to adjusting the acid value within the above range, the weight ratio of the reaction product (a3) in (A) is preferably 15 to 65% by weight, and the content is 15% by weight.
If it is less than 6, sufficient strength of the cured resist cannot be obtained.
If it exceeds 5% by weight, the flexibility of the cured resist is undesirably reduced.

【0016】本発明の組成物において(A)に配合され
るカルボン酸変性ポリカプロラクトンジオール化合物
(B)とは、カルボキシル基含有ジオール化合物にε-
カプロラクトンを開環付加反応させることにより得るこ
とができ、カルボキシル基含有ジオールとしては前述し
た(A)の説明中で開示した(a1)が用いられ、
(B)として具体的には下記一般式(1)〜(6)で示
されるものが挙げられるが、特に一般式(1)〜(3)
のものが好ましく、特には(1)が好ましい。
In the composition of the present invention, the carboxylic acid-modified polycaprolactone diol compound (B) compounded in (A) is defined as a carboxylic acid-containing diol compound having a ε-
Caprolactone can be obtained by a ring-opening addition reaction. As the carboxyl group-containing diol, (a1) disclosed in the above description of (A) is used,
Specific examples of (B) include those represented by the following general formulas (1) to (6), and in particular, those represented by general formulas (1) to (3)
Are preferred, and (1) is particularly preferred.

【0017】 [0017]

【0018】 [0018]

【0019】 [0019]

【0020】 [0020]

【0021】 [0021]

【0022】 [0022]

【0023】上記一般式(1)〜(6)において、R1
はH、CH3、CH2CH3のいずれかを、R2、R3はC
2、CH2CH2、C64のいずれかを、mは0〜3の
整数を示す。なお一般式(1)〜(3)におけるnは、
1〜50の整数、より好ましくは1〜30の整数、特に
好ましくは2〜20の整数で、かかるnが0の時DFR
として保存した時に感光性樹脂組成物中にゲルが発生し
たり、結晶が析出して保存安定性を損うことがあり、5
0を越えて付加した際はレジスト剥離性が不足する。ま
た、一般式(4)〜(6)におけるnは、1〜25の整
数、より好ましくは1〜15の整数、特に好ましくは1
〜10の整数で、かかるnが0の時あるいは25を越え
て付加した際は上記一般式(1)〜(3)の場合と同様
の欠点が発生する。
In the above general formulas (1) to (6), R 1
Represents any of H, CH 3 and CH 2 CH 3 , and R 2 and R 3 represent C
H 2, CH 2 CH 2, one of the C 6 H 4, m is an integer of 0 to 3. Note that n in the general formulas (1) to (3) is
An integer of 1 to 50, more preferably an integer of 1 to 30, particularly preferably an integer of 2 to 20, and when such n is 0, DFR
When stored as a gel, a gel may be generated in the photosensitive resin composition or crystals may be precipitated to impair the storage stability.
If it is added in excess of 0, the resist strippability will be insufficient. Further, n in the general formulas (4) to (6) is an integer of 1 to 25, more preferably an integer of 1 to 15, and particularly preferably 1
When n is 0 or an integer exceeding 25, the same drawbacks as those in the above general formulas (1) to (3) occur.

【0024】かかる化合物(B)は酸価が10〜500
mgKOH/gが好ましく、更には10〜250mgK
OH/gであり、水酸基価は30〜500mgKOH/
gが好ましく、更には45〜250mgKOH/gであ
る。酸価が10mgKOH/g未満ではレジスト剥離性
が劣る場合があり、500mgKOH/gを越えると耐
現像性が劣ることがあり好ましくない。水酸基価が30
mgKOH/g未満では剥離性が劣る場合があり、50
0mgKOH/gを越えるとDFRとした時、上記と同
様に保存安定性が劣ることがあり好ましくない。かかる
(B)の市販品として具体的には、ダイセル化学工業社
製『Placcel 205BA』、『Placcel
210BA』、『Placcel 220BA』等が
挙げられる。
The compound (B) has an acid value of 10 to 500.
mgKOH / g is preferred, and more preferably 10 to 250 mgK
OH / g and a hydroxyl value of 30 to 500 mg KOH /
g is preferable, and more preferably 45 to 250 mgKOH / g. If the acid value is less than 10 mgKOH / g, the resist stripping properties may be poor, and if it exceeds 500 mgKOH / g, the development resistance may be poor, which is not preferable. Hydroxyl value is 30
If the amount is less than mgKOH / g, the releasability may be poor.
If it exceeds 0 mgKOH / g, when DFR is used, storage stability may be inferior as described above, which is not preferable. Specific examples of the commercially available product (B) include “Placcel 205BA” and “Placcel 205BA” manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
210BA "and" Placcel 220BA ".

【0025】上記(B)の配合量はカルボキシル基含有
アクリルウレタン系樹脂(A)100重量部に対して、
0.5〜30重量部である必要があり、好ましくは1〜
30重量部、特には3〜25重量部である。かかる配合
量が0.5重量部未満ではレジスト剥離性、耐ブラスト
性が不充分となり、30重量部を越えると上記と同様に
DFRの保存安定性が低下して不適当である。
The compounding amount of the above (B) is based on 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A).
0.5 to 30 parts by weight, preferably 1 to
30 parts by weight, especially 3 to 25 parts by weight. If the amount is less than 0.5 part by weight, the resist stripping property and the blast resistance become insufficient, and if it exceeds 30 parts by weight, the storage stability of the DFR deteriorates similarly to the above, which is inappropriate.

【0026】光重合開始剤(C)としては、ベンゾイン
化合物、ベンゾフェノン化合物、アセトフェノン化合
物、ヘキサアリールビイミダゾール化合物、チオキサン
トン化合物、ベンゾトリアゾール化合物、トリアジン化
合物、アクリジン化合物、2−メチル−〔4−(メチル
チオ)フェニル〕−2−モルフォリノ−1−プロパノ
ン、トリブロモメチルフェニルスルホン、N−フェニル
グリシン、ジフェニルジスルフィド、ジベンジル、ジア
セチル、アントラキノン、ナフトキノン、ピバロインエ
チルエーテル、フェニルグリオキシレート、α−ヒドロ
キシイソブチルフェノン、ジベンゾスパロン、1−(4
−イソプロピルフェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチ
ル−1−プロパノンが挙げられ、これらの1種類又は2
種類以上が用いられる。
Examples of the photopolymerization initiator (C) include benzoin compounds, benzophenone compounds, acetophenone compounds, hexaarylbiimidazole compounds, thioxanthone compounds, benzotriazole compounds, triazine compounds, acridine compounds, 2-methyl- [4- (methylthiophene) ) Phenyl] -2-morpholino-1-propanone, tribromomethylphenylsulfone, N-phenylglycine, diphenyldisulfide, dibenzyl, diacetyl, anthraquinone, naphthoquinone, pivaloin ethyl ether, phenylglyoxylate, α-hydroxyisobutylphenone , Dibenzosparone, 1- (4
-Isopropylphenyl) -2-hydroxy-2-methyl-1-propanone;
More than one type is used.

【0027】ベンゾイン化合物としては、ベンゾインメ
チルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾイン
イソプロピルエーテル、ベンゾインn−ブチルエーテ
ル、ベンゾインフェニルエーテルが挙げられる。
Examples of the benzoin compound include benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin n-butyl ether and benzoin phenyl ether.

【0028】ベンゾフェノン化合物としては、3,3’
−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン、ベンゾフェ
ノン、p,p’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノ
ン、p,p’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン
が挙げられる。
As the benzophenone compound, 3,3 ′
-Dimethyl-4-methoxybenzophenone, benzophenone, p, p'-bis (dimethylamino) benzophenone, p, p'-bis (diethylamino) benzophenone.

【0029】アセトフェノン化合物としては、1,1−
ジクロロアセトフェノン、p−t−ブチルジクロロアセ
トフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2,
2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2
−ジクロロ−4−フェノキシアセトフェノンが挙げられ
る。
As the acetophenone compound, 1,1-
Dichloroacetophenone, pt-butyldichloroacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 2,
2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2
-Dichloro-4-phenoxyacetophenone.

【0030】ヘキサアリールビイミダゾール化合物とし
ては、2,2’−ビス(o−クロロフェニル)−4,
5,4’,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダ
ゾール、2,2’−ビス(o−クロロフェニル)−4,
5,4’,5’−テトラフェニル−1,1’−ビイミダ
ゾール、2,2’−ビス(o−フルオロフェニル)−
4,5,4’,5’−テトラフェニル−1,1’−ビイ
ミダゾール、2,2’−ビス(o−メトキシフェニル)
−4,5,4’,5’−テトラフェニル−1,1’−ビ
イミダゾール、2,2’−ビス(p−メトキシフェニ
ル)−4,5,4’,5’−テトラフェニル−1,1’
−ビイミダゾール、2,4,2’,4’−ビス[ビ(p
−メトキシフェニル)]−5,5’−ジフェニル−1,
1’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4−ジメ
トキシフェニル)−4,5,4’,5’−ジフェニル−
1,1’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(p−メチ
ルチオフェニル)−4,5,4’,5’−ジフェニル−
1,1’−ビイミダゾール、ビス(2,4,5−トリフ
ェニル)−1,1’−ビイミダゾール等が挙げられ、更
には特公昭45−37377号公報に開示される1,
2’−、1,4’−、2,4’−で共有結合している該
化合物の互変異性体を用いることもできる。上記の中で
も2,2’−ビス(o−クロロフェニル)−4,5,
4’,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾー
ルが好適に用いられる。
The hexaarylbiimidazole compounds include 2,2'-bis (o-chlorophenyl) -4,
5,4 ′, 5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (o-chlorophenyl) -4,
5,4 ', 5'-tetraphenyl-1,1'-biimidazole, 2,2'-bis (o-fluorophenyl)-
4,5,4 ', 5'-tetraphenyl-1,1'-biimidazole, 2,2'-bis (o-methoxyphenyl)
-4,5,4 ', 5'-tetraphenyl-1,1'-biimidazole, 2,2'-bis (p-methoxyphenyl) -4,5,4', 5'-tetraphenyl-1, 1 '
-Biimidazole, 2,4,2 ', 4'-bis [bi (p
-Methoxyphenyl)]-5,5'-diphenyl-1,
1'-biimidazole, 2,2'-bis (2,4-dimethoxyphenyl) -4,5,4 ', 5'-diphenyl-
1,1′-biimidazole, 2,2′-bis (p-methylthiophenyl) -4,5,4 ′, 5′-diphenyl-
Examples thereof include 1,1′-biimidazole and bis (2,4,5-triphenyl) -1,1′-biimidazole, and further include 1,1′-biimidazole and 1,1′-biimidazole disclosed in JP-B-45-37377.
Tautomers of the compounds covalently bonded at 2′-, 1,4′- and 2,4′- can also be used. Among the above, 2,2′-bis (o-chlorophenyl) -4,5
4 ', 5'-Tetraphenyl-1,2'-biimidazole is preferably used.

【0031】チオキサントン化合物としては、2−クロ
ロチオキサントン、2−メチルチオキサントン、2,4
−ジエチルチオキサントンが挙げられる。
As the thioxanthone compound, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2,4
-Diethylthioxanthone.

【0032】ベンゾトリアゾール化合物としては、1,
2,3−ベンゾトリアゾール、1−クロロ−1,2,3
−ベンゾトリアゾール、4−カルボキシ−1,2,3−
ベンゾトリアゾール、5−カルボキシ−1,2,3−ベ
ンゾトリアゾール、ビス(N−2−エチルヘキシル)ア
ミノメチレン−1,2,3−ベンゾトリアゾール、ビス
(N−2−エチルヘキシル)アミノメチレン−1,2,
3−トリルトリアゾール、ビス(N−2−ヒドロキシエ
チル)アミノメチレン−1,2,3−ベンゾトリアゾー
ルが挙げられる。
As the benzotriazole compound, 1,
2,3-benzotriazole, 1-chloro-1,2,3
-Benzotriazole, 4-carboxy-1,2,3-
Benzotriazole, 5-carboxy-1,2,3-benzotriazole, bis (N-2-ethylhexyl) aminomethylene-1,2,3-benzotriazole, bis (N-2-ethylhexyl) aminomethylene-1,2 ,
3-tolyltriazole and bis (N-2-hydroxyethyl) aminomethylene-1,2,3-benzotriazole.

【0033】トリアジン化合物としては、2,4,6−
トリス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2−フ
ェニル−4,6−ビス(トリクロロメチル)−s−トリ
アジン、2−メチル−4,6−ビス(トリクロロメチ
ル)−s−トリアジン、2−n−プロピル−4,6−ビ
ス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2−(p−
クロロフェニル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)
−s−トリアジン、2−(p−トリル)−4,6−ビス
(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2,4−ビス
(トリクロロメチル)−4’−メトキシフェニル−s−
トリアジン、2−(4−メトキシ−ナフト−1−イル)
−4,6−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジ
ン、2−(4−エトキシ−ナフト−1−イル)−4,6
−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2−
[4−(2−エトキシエチル)−ナフト−1−イル]−
4,6−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、
2−(4,7−ジメトキシ−ナフト−1−イル)−4,
6−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2−
(アセナフト−5−イル)−4,6−ビス(トリクロロ
メチル)−s−トリアジン、2−(2’,4’−ジクロ
ロフェニル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−s
−トリアジン、2−n−ノニル−4,6−ビス(トリク
ロルロメチル)−s−トリアジン、2−(α,α,β−
トリクロロエチル)−4,6−ビス(トリクロロメチ
ル)−s−トリアジン、2−スチリル−4,6−ビス
(トリクロロメチル)−s−トリアジン、2−p−メチ
ルスチリル−4,6−ビス(トリクロロメチル)−s−
トリアジン、2−p−メトキシスチリル−4,6−ビス
(トリクロロメチル)−s−トリアジンが挙げられる。
As the triazine compound, 2,4,6-
Tris (trichloromethyl) -s-triazine, 2-phenyl-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-methyl-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-n- Propyl-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (p-
Chlorophenyl) -4,6-bis (trichloromethyl)
-S-triazine, 2- (p-tolyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2,4-bis (trichloromethyl) -4'-methoxyphenyl-s-
Triazine, 2- (4-methoxy-naphth-1-yl)
-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (4-ethoxy-naphth-1-yl) -4,6
-Bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-
[4- (2-ethoxyethyl) -naphth-1-yl]-
4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine,
2- (4,7-dimethoxy-naphth-1-yl) -4,
6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-
(Acenaphth-5-yl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (2 ′, 4′-dichlorophenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s
-Triazine, 2-n-nonyl-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (α, α, β-
Trichloroethyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-styryl-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-p-methylstyryl-4,6-bis (trichloro Methyl) -s-
Triazine and 2-p-methoxystyryl-4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine.

【0034】アクリジン化合物としては2−メチル−
[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−
1−プロルパノンアクリジン、9−フェニルアクリジン
が挙げられる。
As the acridine compound, 2-methyl-
[4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-
1-Prolpanone acridine, 9-phenyl acridine.

【0035】また、上記光重合開始剤(C)の配合量と
しては、カルボキシル基含有アクリルウレタン系樹脂
(A)100重量部に対して、0.1〜20重量部、好
ましくは0.5〜15重量部が必要であり、かかる配合
量が0.1重量部未満では感度が著しく低下して良好な
作業性が得られず、逆に20重量部を越えるとDFRの
保存安定性が低下して本発明の目的を達成することがで
きない。また、2,2’−ビス(o−クロロフェニル)
−4,5,4’,5’−テトラフェニル−1,2’−ビ
イミダゾールが(C)全量の20重量%以上を占めると
き、耐現像液性、耐ブラスト性がより得られ易く、20
重量%未満では耐現像液性が低下する。
The photopolymerization initiator (C) is used in an amount of 0.1 to 20 parts by weight, preferably 0.5 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A). When the amount is less than 0.1 part by weight, the sensitivity is remarkably reduced and good workability cannot be obtained. Conversely, when the amount exceeds 20 parts by weight, the storage stability of the DFR deteriorates. Therefore, the object of the present invention cannot be achieved. Also, 2,2′-bis (o-chlorophenyl)
When -4,5,4 ', 5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole accounts for 20% by weight or more of the total amount of (C), the developer resistance and the blast resistance are more easily obtained.
If it is less than 10% by weight, the developer resistance will be reduced.

【0036】光発色性染料(D)としては、ビス(4−
N,N−ジエチルアミノ−o−トリル)メチレンチオフ
ェニルメタン、ビス(4−N,N−ジエチルアミノ−o
−トリル)ベンジルチオフェニルメタン、ロイコクリス
タルバイオレット、ロイコマラカイトグリーン、ロイコ
ダイアモンドグリーン等のロイコ染料が挙げられ、中で
もロイコクリスタルバイオレット、ロイコマラカイトグ
リーン、ロイコダイアモンドグリーンの1種または2種
以上が好適に用いられ、その配合量としては、カルボキ
シル基含有アクリルウレタン系樹脂(A)100重量部
に対して、0.05〜5重量部、好ましくは0.1〜3
重量部が必要である。かかる配合量が0.05重量部未
満では感度が著しく低下して良好な作業性が得られず、
逆に5重量部を越えるとDFRの保存安定性が低下して
本発明の目的を達成することができない。
As the photochromic dye (D), bis (4-
N, N-diethylamino-o-tolyl) methylenethiophenylmethane, bis (4-N, N-diethylamino-o
-Tolyl) benzylthiophenylmethane, leuco crystal violet, leucomalachite green, leuco diamond green, and other leuco dyes, and among them, one or more of leuco crystal violet, leucomalachite green, and leuco diamond green are preferably used. The amount thereof is 0.05 to 5 parts by weight, preferably 0.1 to 3 parts by weight, per 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A).
Parts by weight are required. If the amount is less than 0.05 part by weight, the sensitivity is remarkably reduced and good workability cannot be obtained.
Conversely, if the amount exceeds 5 parts by weight, the storage stability of the DFR decreases, and the object of the present invention cannot be achieved.

【0037】本発明においては、上記(A)〜(D)以
外に、酸価が50〜250mgKOH/gのアクリル系
樹脂(E)を添加することにより、耐現像液性を更に向
上させることができる。かかるアクリル系樹脂(E)の
酸価としては、70〜200mgKOH/gが好まし
く、更には100〜170mgKOH/gである。酸価
が50mgKOH/g未満では現像性の付与に関し、十
分な添加効果が得られず、解像度が低下し、逆に250
mgKOH/gを越えると耐現像液性や耐ブラスト性が
低下することがある。
In the present invention, in addition to the above (A) to (D), by adding an acrylic resin (E) having an acid value of 50 to 250 mgKOH / g, the developer resistance can be further improved. it can. The acid value of the acrylic resin (E) is preferably from 70 to 200 mgKOH / g, and more preferably from 100 to 170 mgKOH / g. When the acid value is less than 50 mgKOH / g, sufficient addition effect cannot be obtained for imparting developability, and the resolution is lowered.
If it exceeds mgKOH / g, the developer resistance and the blast resistance may decrease.

【0038】かかる酸価が50〜250mgKOH/g
のアクリル系樹脂(E)は、通常はカルボキシル基含有
のアクリル系樹脂が用いられ、(メタ)アクリル酸エス
テルを主成分とし、上記酸価を満足するようにエチレン
性不飽和カルボン酸を配合し、必要に応じて他の共重合
可能なモノマーを共重合したアクリル系共重合体であ
る。ここで(メタ)アクリル酸エステルとしては、メチ
ル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレー
ト、プロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)ア
クリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチ
ルヘキシル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メ
タ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ジ
メチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシ
エチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メ
タ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレートな
どが例示される。
The acid value is 50 to 250 mgKOH / g
As the acrylic resin (E), an acrylic resin containing a carboxyl group is usually used, and a (meth) acrylic ester is a main component, and an ethylenically unsaturated carboxylic acid is blended so as to satisfy the above acid value. And an acrylic copolymer obtained by copolymerizing other copolymerizable monomers as required. Here, as the (meth) acrylate, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, cyclohexyl Examples thereof include (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, dimethylaminoethyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate, and glycidyl (meth) acrylate.

【0039】エチレン性不飽和カルボン酸としては、ア
クリル酸、メタクリル酸、クロトン酸などのモノカルボ
ン酸が好適に用いられ、そのほか、マレイン酸、フマー
ル酸、イタコン酸などのジカルボン酸、あるいはそれら
の無水物やハーフエステルも用いることができる。これ
らの中では、アクリル酸とメタクリル酸が特に好まし
い。他の共重合可能モノマーとしては、アクリルアミ
ド、メタクリルアミド、アクリロニトリル、メタクリロ
ニトリル、スチレン、α−メチルスチレン、酢酸ビニ
ル、アルキルビニルエーテルなどが例示できる。
As the ethylenically unsaturated carboxylic acid, monocarboxylic acids such as acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid and the like are preferably used. In addition, dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid and itaconic acid and anhydrides thereof are also used. Products and half esters can also be used. Of these, acrylic acid and methacrylic acid are particularly preferred. Examples of other copolymerizable monomers include acrylamide, methacrylamide, acrylonitrile, methacrylonitrile, styrene, α-methylstyrene, vinyl acetate, and alkyl vinyl ether.

【0040】更に、かかるアクリル系樹脂(E)の重量
平均分子量は30000〜200000が好ましく、特
に40000〜150000、殊に40000〜130
000である。重量平均分子量が30000未満では耐
現像液性に関し充分な効果が得られず、逆に20000
0を越えると現像性が低下し、解像度が低下して好まし
くない。
Further, the weight average molecular weight of the acrylic resin (E) is preferably 30,000 to 200,000, particularly 40,000 to 150,000, particularly 40,000 to 130.
000. If the weight average molecular weight is less than 30,000, a sufficient effect on the developer resistance cannot be obtained.
If it exceeds 0, the developing property is lowered and the resolution is lowered, which is not preferable.

【0041】かかるアクリル系樹脂(E)の配合量は、
上記のカルボキシル基含有アクリルウレタン系樹脂
(A)100重量部に対して、1〜50重量部とするこ
とが必要で、配合量が1重量部未満では期待する耐現像
液性が得られず、また50重量部を越えると、硬化レジ
ストが硬くなり過ぎて耐ブラスト性の低下を招いて本発
明の目的を達成することができない。
The amount of the acrylic resin (E) is as follows:
The amount is required to be 1 to 50 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the above-mentioned carboxyl group-containing acrylic urethane-based resin (A). If the compounding amount is less than 1 part by weight, the expected developer resistance cannot be obtained. If the amount exceeds 50 parts by weight, the cured resist becomes too hard, and the blast resistance is reduced, so that the object of the present invention cannot be achieved.

【0042】また、本発明においては、上記の(A)〜
(D)以外に、更に酸価を有しないアクリルウレタン系
樹脂(F)をカルボキシル基含有アクリルウレタン系樹
脂(A)100重量部に対して1〜100重量部、好ま
しくは3〜70重量部、特に好ましくは5〜50重量部
含有するとき現像性を低下させずに耐ブラスト性を更に
向上させることができる。配合量が、1重量部未満では
期待する耐ブラスト性の向上効果が得られず、また10
0重量部を越えると現像性の低下により解像力が低下す
る。
In the present invention, the above (A) to (A)
In addition to (D), an acrylic urethane-based resin (F) having no acid value is used in an amount of 1 to 100 parts by weight, preferably 3 to 70 parts by weight, based on 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane-based resin (A). Particularly preferably, when the content is 5 to 50 parts by weight, the blast resistance can be further improved without lowering the developing property. If the amount is less than 1 part by weight, the expected effect of improving blast resistance cannot be obtained.
If the amount exceeds 0 parts by weight, the resolving power decreases due to a decrease in developability.

【0043】酸価を有しないアクリルウレタン系樹脂
(F)は、例えば、分子量500〜10,000、好ま
しくは500〜4,000のポリオール(ポリエステル
ポリオールやポリエーテルポリオール)nモルに、ポリ
イソシアネート化合物(n+1)モルを反応させた後、
更にエチレン性不飽和基含有ヒドロキシ化合物を反応さ
せて得られる(nは1以上の整数である。)化合物であ
る。かかる分子量500〜10,000のポリオールや
ポリイソシアネート化合物、エチレン性不飽和基含有ヒ
ドロキシ化合物としては(A)成分の説明に記載のもの
と同様のものが挙げられる。反応方法についても(A)
成分の説明に記載の方法を採用することができる。
The acrylic urethane resin (F) having no acid value may be prepared, for example, by adding a polyol (polyester polyol or polyether polyol) having a molecular weight of 500 to 10,000, preferably 500 to 4,000, to a polyisocyanate compound. After reacting (n + 1) moles,
Further, it is a compound obtained by reacting an ethylenically unsaturated group-containing hydroxy compound (n is an integer of 1 or more). Examples of the polyol, polyisocyanate compound, and ethylenically unsaturated group-containing hydroxy compound having a molecular weight of 500 to 10,000 include those similar to those described in the description of the component (A). Regarding the reaction method (A)
The method described in the description of the components can be employed.

【0044】本発明においては、上記の(A)〜(F)
以外に、エチレン性不飽和化合物を耐現像性付与のため
に添加してもよく、該エチレン性不飽和化合物として
は、単官能モノマー、2官能モノマー、3官能以上のモ
ノマーが挙げられる。
In the present invention, the above (A) to (F)
In addition, an ethylenically unsaturated compound may be added for imparting development resistance. Examples of the ethylenically unsaturated compound include a monofunctional monomer, a difunctional monomer, and a trifunctional or higher monomer.

【0045】単官能モノマーとしては、2−ヒドロキシ
エチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル
(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)
アクリレート、2−フェノキシ−2−ヒドロキシプロピ
ル(メタ)アクリレート、2−(メタ)アクリロイルオ
キシ−2−ヒドロキシプロピルフタレート、3−クロロ
−2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、グリ
セリンモノ(メタ)アクリレート、2−(メタ)アクリ
ロイルオキシエチルアシッドホスフェート、フタル酸誘
導体のハーフ(メタ)アクリレート、N−メチロール
(メタ)アクリルアミドが挙げられる。
As monofunctional monomers, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth)
Acrylate, 2-phenoxy-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2- (meth) acryloyloxy-2-hydroxypropyl phthalate, 3-chloro-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, glycerin mono (meth) acrylate, 2 -(Meth) acryloyloxyethyl acid phosphate, phthalic acid derivative half (meth) acrylate, and N-methylol (meth) acrylamide.

【0046】2官能モノマーとしては、エチレングリコ
ールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ
(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ
(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メ
タ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)ア
クリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アク
リレート、ブチレングリコールジ(メタ)アクリレー
ト、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、
エチレンオキサイド変性ビスフェノールA型ジ(メタ)
アクリレート、プロピレンオキサイド変性ビスフェノー
ルA型ジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオ
ールジ(メタ)アクリレート、グリセリンジ(メタ)ア
クリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレ
ート、エチレングリコールジグリシジルエーテルジ(メ
タ)アクリレート、ジエチレングリコールジグリシジル
エーテルジ(メタ)アクリレート、フタル酸ジグリシジ
ルエステルジ(メタ)アクリレート、ヒドロキシピバリ
ン酸変性ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレー
トが挙げられる。
Examples of the bifunctional monomer include ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, propylene glycol di (meth) acrylate, and polypropylene. Glycol di (meth) acrylate, butylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate,
Ethylene oxide modified bisphenol A type di (meth)
Acrylate, propylene oxide-modified bisphenol A type di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, glycerin di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, ethylene glycol diglycidyl ether di (meth) Examples include acrylate, diethylene glycol diglycidyl ether di (meth) acrylate, diglycidyl phthalate di (meth) acrylate, and hydroxypivalic acid-modified neopentyl glycol di (meth) acrylate.

【0047】3官能以上のモノマーとしては、トリメチ
ロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリ
スリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリス
リトールペンタ(メタ)アクリレート、トリ(メタ)ア
クリロイルオキシエトキシトリメチロールプロパン、グ
リセリンポリグリシジルエーテルポリ(メタ)アクリレ
ートが挙げられる。
The trifunctional or higher functional monomers include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, tri (meth) acryloyloxyethoxytrimethylolpropane and glycerin poly Glycidyl ether poly (meth) acrylate is exemplified.

【0048】上記エチレン性不飽和化合物はカルボキシ
ル基含有アクリルウレタン系樹脂(A)100重量部に
対して、0.5〜30重量部、好ましくは1〜20添加
することができ、0.5重量部未満では十分な耐現像液
性が得られず、30重量部以上では可塑化効果が大きく
DFRとした際の保存安定性が損なわれる。
The ethylenically unsaturated compound can be added in an amount of 0.5 to 30 parts by weight, preferably 1 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the acrylic urethane-based resin (A) having a carboxyl group. If the amount is less than 30 parts by weight, sufficient developer resistance cannot be obtained, and if the amount is more than 30 parts by weight, the plasticizing effect is large and the storage stability when DFR is used is impaired.

【0049】本発明ではその他、クリスタルバイオレッ
ト、マラカイトグリーン、ブリリアントグリーン、パテ
ントブルー、メチルバイオレット、ビクトリアブルー、
ローズアニリン、パラフクシン、エチレンバイオレット
等の着色染料、密着性付与剤、可塑剤、酸化防止剤、熱
重合禁止剤、溶剤、表面張力改質材、安定剤、連鎖移動
剤、消泡剤、難燃剤などの添加剤を適宜添加することが
できる。
In the present invention, crystal violet, malachite green, brilliant green, patent blue, methyl violet, Victoria blue,
Colored dyes such as roseaniline, parafuchsin, ethylene violet, etc., adhesion promoters, plasticizers, antioxidants, thermal polymerization inhibitors, solvents, surface tension modifiers, stabilizers, chain transfer agents, defoamers, flame retardants Such additives as can be added as appropriate.

【0050】本発明の感光性樹脂組成物はポリエステル
フィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリスチレンフィ
ルムなどのベースフィルム面に塗工した後、その塗工面
の上からポリエチレンフィルム、ポリビニルアルコール
系フィルム、ポリエステルフィルムなどの保護フィルム
を被覆してDFRを製造することにより実用化されるこ
とが多い。また、ディップコート法、フローコート法、
スクリーン印刷法等の常法により、被処理体上に直接塗
工することもできる。
The photosensitive resin composition of the present invention is applied to a base film surface such as a polyester film, a polypropylene film, and a polystyrene film, and then protected from above the coated surface with a polyethylene film, a polyvinyl alcohol-based film, a polyester film, and the like. It is often put to practical use by manufacturing a DFR by coating a film. In addition, dip coating, flow coating,
It can also be applied directly on the object to be processed by a conventional method such as a screen printing method.

【0051】次に上記DFRを用いてプリント配線基板
製造のためのレジストパターンを形成する方法を説明す
る。DFRによってレジストパターンを形成させるに
は、ベースフィルム及び保護フィルムと感光性樹脂組成
物層との接着力を比較し、接着力の低い方のフィルムを
剥離し、感光性樹脂組成物層を銅板やガラス面、ITO
膜等の基板に貼り付けた後、他方のフィルム上にパター
ンマスクを密着させて露光する。感光性樹脂組成物が粘
着性を有しないときは、前記他方のフィルムを剥離して
からパターンマスクを感光性樹脂組成物層に直接接触さ
せて露光することもできる。露光は通常紫外線照射によ
り行い、その際の光源としては、高圧水銀灯、超高圧水
銀灯、カーボンアーク灯、キセノン灯、メタルハライド
ランプ、ケミカルランプなどが用いられる。紫外線照射
後は、必要に応じ加熱を行って、硬化の完全を図ること
もできる。露光後は、レジスト上のフィルムを剥離除去
してから現像を行う。本発明の感光性樹脂組成物は希ア
ルカリ現像型であるので、露光後の現像は、炭酸ナトリ
ウム、炭酸カリウムなどのアルカリの0.1〜2重量%
程度の希薄水溶液を用いえばよい。
Next, a method of forming a resist pattern for manufacturing a printed wiring board using the above-mentioned DFR will be described. In order to form a resist pattern by DFR, the adhesive strength between the base film and the protective film and the photosensitive resin composition layer is compared, the film having the lower adhesive strength is peeled off, and the photosensitive resin composition layer is formed on a copper plate or the like. Glass surface, ITO
After being attached to a substrate such as a film, exposure is performed by bringing a pattern mask into close contact with the other film. When the photosensitive resin composition does not have adhesiveness, the other film may be peeled off, and then the pattern mask may be brought into direct contact with the photosensitive resin composition layer for exposure. Exposure is usually performed by ultraviolet irradiation, and as a light source at that time, a high-pressure mercury lamp, an ultra-high-pressure mercury lamp, a carbon arc lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, a chemical lamp, or the like is used. After irradiation with ultraviolet rays, heating can be performed as necessary to complete the curing. After the exposure, development is performed after the film on the resist is removed. Since the photosensitive resin composition of the present invention is of a dilute alkali developing type, development after exposure is carried out at 0.1 to 2% by weight of alkali such as sodium carbonate and potassium carbonate.
A dilute aqueous solution of a certain degree may be used.

【0052】本発明の感光性樹脂組成物は上記用途以外
にサンドブラスト法による隔壁形成を行う時にも有用
で、かかる方法について以下説明する。まず、基板とし
てリブ形成用ガラス基板を用いる以外は上記と同様にし
てレジストパターンを形成する。上記の如くレジストの
パターンが形成された後、粒子径が1〜100μm程度
のSiC、SiO2、Al23、、炭酸カルシウム等を、
ブラスト圧0.05〜1MPaで基板に吹き付けてサン
ドブラストを行う。サンドブラスト後、残っている硬化
レジストのパターンの剥離を行い、目的とする隔壁が形
成される。硬化レジストのパターンの剥離除去は、水酸
化ナトリウム、水酸化カリウムなどの0.1〜5重量%
程度の濃度のアルカリ水溶液からなるアルカリ剥離液を
用いて行う。また、アルカリ水溶液で剥離させる代わり
に、硬化レジストのパターンを焼失させることも可能で
ある。
The photosensitive resin composition of the present invention is useful for forming a partition wall by a sandblasting method in addition to the above-mentioned applications, and such a method will be described below. First, a resist pattern is formed in the same manner as described above except that a glass substrate for forming a rib is used as a substrate. After the resist pattern is formed as described above, SiC, SiO 2 , Al 2 O 3 , calcium carbonate, etc., having a particle size of about 1 to 100 μm,
Sandblasting is performed by spraying onto the substrate at a blast pressure of 0.05 to 1 MPa. After the sandblasting, the remaining pattern of the cured resist is peeled off to form a desired partition wall. The removal of the pattern of the cured resist is performed by using 0.1 to 5% by weight of sodium hydroxide, potassium hydroxide, or the like.
This is performed using an alkaline stripping solution composed of an alkaline aqueous solution having a moderate concentration. Instead of stripping with an aqueous alkaline solution, it is also possible to burn off the pattern of the cured resist.

【0053】本願発明の組成物は上記の他ガラスの食刻
やセラミック加工等のサンドブラスト法にも有用で、更
にはガラス製のメタルマスクの作製や墓標の食刻等にも
用いることができる。
The composition of the present invention is also useful for the above-mentioned sand blasting methods such as glass engraving and ceramic processing, and can also be used for producing glass metal masks and engraving gravestones.

【0054】[0054]

【実施例】以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明
する。なお、実施例中「%」、「部」とあるのは、断り
のない限り重量基準を意味する。 〔カルボキシル基含有アクリルウレタン系樹脂(A1)
の製造〕温度計、攪拌機、水冷コンデンサー、窒素ガス
吹き込み口を備えた4つ口フラスコに、2,2−ビス
(ヒドロキシメチル)プロピオン酸(a1)104g
(0.78mol)とヘキサメチレンジイソシアネート
(a2)261g(1.55mol)、酢酸エチル45
0gを仕込み、窒素雰囲気下で70℃で残存イソシアネ
ート基が8.2%となるまで両者を反応させて反応生成
物(a3)を得た。次いで平均分子量600のポリエチ
レングリコール(a4)700g(1.16mol)、
ジブチルチンラウリレート0.15gを加えて更に反応
させ、残存イソシアネート基が0.3%となった時点で
ヘキサメチレンジイソシアネート(a2)131.2g
(0.78mol)を新たに加えて反応を続け、残存イ
ソシアネート基が2.3%となったところで2ーヒドロ
キシエチルアクリレート(a5)90.0g(0.76
mol)を加え反応させ、残存イソシアネート基が0.
3%となった時点で反応を終了し、カルボキシル基含有
アクリルウレタン系樹脂(A1)〔酸価28.7mgK
OH/g、(a3)の含有量31%、固形分74%〕を
得た。
The present invention will be specifically described below with reference to examples. In the examples, “%” and “part” mean on a weight basis unless otherwise specified. [Carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A1)
Production of 104 g of 2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid (a1) in a four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a water-cooled condenser, and a nitrogen gas inlet.
(0.78 mol), 261 g (1.55 mol) of hexamethylene diisocyanate (a2), and ethyl acetate 45
After charging 0 g, the two were reacted under a nitrogen atmosphere at 70 ° C. until the residual isocyanate groups became 8.2% to obtain a reaction product (a3). Next, 700 g (1.16 mol) of polyethylene glycol (a4) having an average molecular weight of 600,
0.15 g of dibutyltin laurate was added and further reacted. When the residual isocyanate group became 0.3%, 131.2 g of hexamethylene diisocyanate (a2) was obtained.
(0.78 mol) was added, and the reaction was continued. When the remaining isocyanate groups became 2.3%, 90.0 g (0.76 mol) of 2-hydroxyethyl acrylate (a5) was added.
mol), and the mixture was reacted.
The reaction was terminated when the concentration reached 3%, and the carboxyl group-containing acrylic urethane-based resin (A1) [acid value of 28.7 mgK
OH / g, (a3) content 31%, solid content 74%].

【0055】〔カルボキシル基含有アクリルウレタン系
樹脂(A2)の製造〕温度計、攪拌機、水冷コンデンサ
ー、窒素ガス吹き込み口を備えた4つ口フラスコに、
2,2−ビス(ヒドロキシメチル)プロピオン酸(a
1)119.5g(0.89mol)とイソホロンジイ
ソシアネート(a2)396.2g(1.78mo
l)、酢酸エチル435gを仕込み、窒素雰囲気下60
℃で残存イソシアネート基が8.2%となるまで反応さ
せて反応生成物(a3)を得た。次いで平均分子量10
00のポリエチレングリコール(a4)445.6g
(0.45mol)、ジブチルチンラウリレート0.1
5gを加えて更に約5時間反応させ、残存イソシアネー
ト基が3.0%となった時点で2ーヒドロキシエチルア
クリレート(a5)61.4g(0.46mol)を加
え反応させ、残存イソシアネート基が0.3%となった
時点で反応を終了し、カルボキシル基含有アクリルウレ
タン系樹脂(A2)〔酸価30.5mgKOH/g、
(a3)の含有量50%、固形分70%〕を得た。
[Production of carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A2)] In a four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a water-cooled condenser, and a nitrogen gas inlet,
2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid (a
1) 119.5 g (0.89 mol) and 396.2 g (1.78 mol) of isophorone diisocyanate (a2)
l), 435 g of ethyl acetate was charged, and the mixture was charged under a nitrogen atmosphere to 60 g.
The mixture was reacted at 8.2 ° C. until the residual isocyanate groups became 8.2% to obtain a reaction product (a3). Then average molecular weight 10
445.6 g of polyethylene glycol (a4) of 00
(0.45 mol), dibutyltin laurate 0.1
5 g was added and the reaction was further continued for about 5 hours. When the remaining isocyanate group became 3.0%, 61.4 g (0.46 mol) of 2-hydroxyethyl acrylate (a5) was added and reacted, and the remaining isocyanate group became 0%. The reaction was terminated at the time of 0.3%, and the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A2) [acid value 30.5 mgKOH / g,
(A3) content: 50%, solid content: 70%].

【0056】〔酸価を有しないアクリルウレタン系樹脂
(F1)の製造〕温度計、攪拌機、水冷コンデンサー、
窒素ガス吹き込み口を備えた4つ口フラスコに、イソホ
ロンジイソシアネート222g(1.0mol)と平均
分子量1000のポリプロピレングリコール670g
(0.67mol)を仕込み、窒素雰囲気下、80℃で
反応させ、残存イソシアネート基が3.4%となった時
点で2ーヒドロキシエチルアクリレート79.0g
(0.67mol)を加え反応させ、残存イソシアネー
ト基が0.3%となった時点でメチルエチルケトン24
3g添加し、アクリルウレタン系樹脂(F1)〔酸価は
0mgKOH/g、固形分80%〕を得た。
[Production of acrylic urethane resin (F1) having no acid value] Thermometer, stirrer, water-cooled condenser,
In a four-necked flask equipped with a nitrogen gas inlet, 222 g (1.0 mol) of isophorone diisocyanate and 670 g of polypropylene glycol having an average molecular weight of 1,000
(0.67 mol) and reacted at 80 ° C. under a nitrogen atmosphere. When the remaining isocyanate groups became 3.4%, 79.0 g of 2-hydroxyethyl acrylate was used.
(0.67 mol) and allowed to react. When the remaining isocyanate groups became 0.3%, methyl ethyl ketone 24 was added.
By adding 3 g, an acrylic urethane-based resin (F1) [acid value: 0 mgKOH / g, solid content: 80%] was obtained.

【0057】実施例1 上記のカルボキシル基含有アクリルウレタン系樹脂(A
1)溶液135.1部(該アクリルウレタン系樹脂(A
1)換算で100部)、カルボン酸変性ポリカプロラク
トンジオール〔ダイセル化学工業社製『Placcel
205BA』:2,2−ビス(ヒドロキシメチル)酪
酸とε-カプロラクトンの開環付加反応生成物、水酸基
価223mgKOH/g、酸価110mgKOH/g〕
(B1)10部、2,2’−ビス(o−クロロフェニ
ル)−4,5,4’,5’−テトラフェニル−1,2’
−ビイミダゾール(C1)4.0部、P,P′−ビス
(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン(C2)0.2部、
ロイコクリスタルバイオレット(D1)1.0部、更に
マラカイトグリーン(D2)0.05部及びメチルエチ
ルケトン95部を配合してよく混合し感光性樹脂組成物
を調製した。かかる組成物について以下の方法で耐ブラ
スト性、レジスト剥離性、耐現像液性、レジストの保存
安定性の評価を行なうための評価に先立ち該組成物を用
いてDFRを作成した。
Example 1 The above carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A
1) 135.1 parts of a solution (the acrylic urethane resin (A
1) 100 parts in terms of conversion), carboxylic acid-modified polycaprolactone diol [Placcel manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
205BA ": Ring-opening addition reaction product of 2,2-bis (hydroxymethyl) butyric acid and ε-caprolactone, hydroxyl value 223 mgKOH / g, acid value 110 mgKOH / g]
(B1) 10 parts, 2,2′-bis (o-chlorophenyl) -4,5,4 ′, 5′-tetraphenyl-1,2 ′
-Biimidazole (C1) 4.0 parts, P, P'-bis (diethylamino) benzophenone (C2) 0.2 parts,
1.0 part of leuco crystal violet (D1), 0.05 part of malachite green (D2) and 95 parts of methyl ethyl ketone were blended and mixed well to prepare a photosensitive resin composition. A DFR was prepared using the composition prior to the evaluation for evaluating the blast resistance, the resist stripping property, the developer resistance, and the storage stability of the resist by the following method.

【0058】上記組成物を、ギャップ8ミルのアプリケ
ーターを用いて厚さ25μmのポリエステルフィルム上
に塗工し、室温で1分30秒放置した後、60℃、90
℃、110℃のオーブンでそれぞれ3分間乾燥して、レ
ジスト厚40μmのDFRとした(ただし保護フィルム
は設けていない)。 [耐ブラスト性]上記DFRをオーブンで60℃に予熱
したリブ形成用ガラス基板(日本電気硝子社製、リブ形
成用組成物『白リブDLS−3551』が200μm厚
コーティングされたガラス基板)上に、ラミネートロー
ル温度100℃、ラミネートロール圧0.3MPa、ラ
ミネート速度1m/minにてラミネートした。ラミネ
ート後、室温に10分間放置することにより除熱し、ラ
イン/スペース=80/200のネガパターンを持つマ
スクを密着させてオーク製作所製の平行露光機『EXM
−1201』にて、ストウファーステップタブレット7
段相当量の露光を行った。次いで、0.3%炭酸ナトリ
ウム水溶液(30℃)を用いて、スプレー圧0.10M
Paで最少現像時間の1.5倍の時間現像を行いレジス
トパターンを作製した後、不二製作所社製の『PNEU
MA BLASTER』(ハイパーノズル、圧送エアー
圧:0.3MPa、切削剤:炭酸カルシウム系粉体S4
#600、粉体供給量:220g/min)を用いて、
リブボトム幅が110μmとなるまでサンドブラストを
行ってブラスト後のレジスト状態を顕微鏡にて目視観察
して以下の通り評価した。 ◎ −−−レジストにダメージが無く、リブも良好に形
成された。 ○ −−−レジストの一部(端部)にややダメージが認
められるが、リブ形成は良好であった。 × −−−レジストの全部にダメージがあり、リブにも
ダメージが生じた。
The above composition was coated on a 25 μm-thick polyester film using an applicator having a gap of 8 mils, left at room temperature for 1 minute 30 seconds, and then dried at 60 ° C., 90 ° C.
The resultant was dried in an oven at 110 ° C. and an oven at 110 ° C. for 3 minutes to obtain a DFR having a resist thickness of 40 μm (provided that no protective film was provided). [Blasting resistance] The above DFR was preheated to 60 ° C. in an oven on a glass substrate for rib formation (a glass substrate coated with a 200 μm thick rib-forming composition “White Rib DLS-3551” manufactured by NEC Corporation). Laminating was performed at a laminating roll temperature of 100 ° C., a laminating roll pressure of 0.3 MPa, and a laminating speed of 1 m / min. After lamination, heat is removed by leaving the laminate at room temperature for 10 minutes, and a mask having a negative pattern of line / space = 80/200 is brought into close contact with it, and a parallel exposure machine “EXM” manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd.
-1201 ”, Stouffer Step Tablet 7
Exposure was performed in an amount equivalent to a step. Then, using a 0.3% aqueous sodium carbonate solution (30 ° C.), a spray pressure of 0.10 M
After performing development for 1.5 times the minimum development time with Pa to form a resist pattern, “PNEU” manufactured by Fuji Manufacturing Co., Ltd.
MA BLASTER "(Hyper nozzle, compressed air pressure: 0.3 MPa, cutting agent: calcium carbonate powder S4
# 600, powder supply amount: 220 g / min)
Sand blasting was performed until the rib bottom width became 110 μm, and the resist state after blasting was visually observed with a microscope, and evaluated as follows. A: The resist was not damaged and the ribs were well formed. −-- A part of the resist (end) was slightly damaged, but the rib formation was good. C: All the resist was damaged, and the ribs were also damaged.

【0059】[レジスト剥離性]上記耐ブラスト性の評
価で形成したリブ上のレジストを35℃の1%水酸化ナ
トリウム水溶液中に浸漬し、レジストが完全に剥離する
時間を測定した。 ◎−−−30秒未満 ○−−−30〜60秒 ×−−−60秒を越える
[Resistability of Resist] The resist on the rib formed in the evaluation of the blast resistance was immersed in a 1% aqueous solution of sodium hydroxide at 35 ° C., and the time required for complete removal of the resist was measured. ◎ −−− less than 30 seconds ○ −−− 30−60 seconds × −−− more than 60 seconds

【0060】[耐現像液性]上記DFRをオーブンで6
0℃に予熱したリブ形成用ガラス基板(日本電気硝子社
製、リブ形成用組成物『白リブDLS−3551』が2
00μm厚コーティングされたガラス基板)上に、ラミ
ネートロール温度100℃、同ロール圧0.3MPa、
ラミネート速度1m/minにてラミネートした。ラミ
ネート後、室温に10分間放置することにより除熱し、
オーク製作所製の平行露光機『EXM−1201』に
て、幅30〜200μmの範囲で10μm毎にスペース
幅が得られる様にしたポジパターンを形成するマスク
と、スペース幅が300μm一定でライン幅が30から
200μmの範囲で10μm毎に得られるようにしたネ
ガパターンを形成するマスクを密着させて、ストウファ
ーステップタブレット7段相当量で露光を行った。次い
で、0.3%炭酸ナトリウム水溶液(30℃)を用い
て、スプレー圧0.10MPaで最少現像時間の1.5
倍の時間で現像を行って、以下の通り評価した。 ◎ −−−80μmのポジパターンが解像し、且つ60
μmのネガパターンにダメージが無かった。 ○ −−−80μm以上のポジパターンが解像し、且つ
60μmのネガパターンにはダメージはあったものの8
0μmのネガパターンにダメージが無かった。 × −−−80μm以上のポジパターンが解像不良また
は/解像していても80μmネガパターンにダメージが
有る。
[Developer resistance] The above DFR was heated in an oven at 6
A glass substrate for rib formation preheated to 0 ° C. (manufactured by NEC Corporation, a composition for rib formation “white rib DLS-3551” was 2
On a glass substrate coated with a thickness of 00 μm), a laminating roll temperature of 100 ° C., a roll pressure of 0.3 MPa,
Lamination was performed at a lamination speed of 1 m / min. After lamination, heat is removed by leaving at room temperature for 10 minutes,
With a parallel exposure machine “EXM-1201” manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd., a mask for forming a positive pattern in which a space width can be obtained every 10 μm within a range of 30 to 200 μm, and a line width equal to 300 μm and a constant width. A mask for forming a negative pattern which can be obtained every 10 μm in a range of 30 to 200 μm was brought into close contact with the mask, and exposure was performed in an amount equivalent to 7 steps of a Stouffer step tablet. Then, using a 0.3% aqueous sodium carbonate solution (30 ° C.) and a spray pressure of 0.10 MPa, a minimum development time of 1.5
The development was performed for twice as long and evaluated as follows. ◎ −−− 80 μm positive pattern was resolved and 60
The μm negative pattern was not damaged. ○ −−−− 80 μm or more positive pattern was resolved and 60 μm negative pattern was damaged, but 8
The 0 μm negative pattern was not damaged. C: Even if the positive pattern of 80 μm or more has poor resolution / resolution, the negative pattern of 80 μm is damaged.

【0061】[レジストの保存安定性]上記組成物をポ
リエステルフィルム上に乾燥膜厚が40μmとなるよう
500mm幅で塗工乾燥後、カバーフィルムとしてポリ
エチレンフィルムで挟んで三層構成とし、その後支管外
径82.2mmの支管に直径が300mm、フィルムの
全長さが150mとなるよう巻付けてスリットし、30
℃、40RH%に設定した恒温恒湿機中にて黒ポリ遮光
下、2日間放置した。放置後のDFRの状態を観察する
ことにより保存安定性を調べた。 ○ −−−DFR中での結晶の発生やムラの発生が起こ
らなかった。 × −−−DFR中での結晶の発生が認められた。また
はムラが発生した。
[Preservation Stability of Resist] The above composition was coated on a polyester film with a width of 500 mm so as to have a dry film thickness of 40 μm, dried and then sandwiched between polyethylene films as a cover film to form a three-layer structure. It is wound around a branch pipe having a diameter of 82.2 mm so as to have a diameter of 300 mm and a total length of the film of 150 m, and is slit.
It was left for 2 days in a thermo-hygrostat set at 40 ° C. and 40 RH% under black poly light shielding. The storage stability was examined by observing the state of the DFR after standing. −: Crystal generation and unevenness did not occur in DFR. C: Generation of crystals in DFR was observed. Or unevenness has occurred.

【0062】実施例2 実施例1のダイセル化学工業社製『Placcel 2
05BA』(B1)に代えてダイセル化学工業社製『P
laccel 220BA』(2,2−ビス(ヒドロキ
シメチル)酪酸とε-カプロラクトンの開環付加反応生
成物、水酸基価56mgKOH/g、酸価28mgKO
H/g)を使用した以外は実施例1と同様に実験し、同
様に評価した。
Example 2 “Placcel 2” of Example 1 manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
05BA ”(B1) instead of“ P ”manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
lacel 220BA "(Ring-opening addition reaction product of 2,2-bis (hydroxymethyl) butyric acid and ε-caprolactone, hydroxyl value 56 mgKOH / g, acid value 28 mgKO
H / g), except that H / g) was used.

【0063】実施例3 実施例1のダイセル化学工業社製『Placcel 2
05BA』(B1)に代えて、2,2−ビス(ヒドロキ
シメチル)プロピオン酸とε-カプロラクトンの開環付
加物(水酸基価60mgKOH/g、酸価30mgKO
H/g)を使用した以外は実施例1と同様に実験し、同
様に評価した。
Example 3 "Placcel 2" manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
05BA ”(B1), and a ring-opened adduct of 2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid and ε-caprolactone (hydroxyl value 60 mg KOH / g, acid value 30 mg KO)
H / g), except that H / g) was used.

【0064】実施例4 実施例1における感光性樹脂組成物に更にメタクリル酸
メチル/n−ブチルアクリレート/スチレン/メタクリ
ル酸の共重合体〔共重合重量比が40/25/12/2
3、酸価149.8mgKOH/g、ガラス転移温度5
6.2℃、平均分子量42000〕(E1)10部を添
加して、実施例1と同様に実験し同様に評価した。
Example 4 The photosensitive resin composition of Example 1 was further added to a copolymer of methyl methacrylate / n-butyl acrylate / styrene / methacrylic acid (copolymer weight ratio was 40/25/12/2).
3, acid value 149.8mgKOH / g, glass transition temperature 5
6.2 [deg.] C., average molecular weight 42,000] (E1) 10 parts were added, and an experiment was conducted in the same manner as in Example 1 to evaluate the same.

【0065】実施例5 実施例1における組成物に更に酸価を有しないアクリル
ウレタン系樹脂(F1)12.5部を添加して、実施例
1と同様に実験し同様に評価した。
Example 5 An experiment was carried out in the same manner as in Example 1 except that 12.5 parts of an acrylic urethane resin (F1) having no acid value was further added to the composition in Example 1, and the same evaluation was conducted.

【0066】実施例6 実施例1における組成物に、更に実施例4で使用した
(E1)10部及び実施例5で使用した(F1)12.
5部を添加して、実施例1と同様に実験し同様に評価し
た。
Example 6 10 parts of (E1) used in Example 4 and (F1) used in Example 5 were added to the composition in Example 1
Five parts were added, the experiment was performed in the same manner as in Example 1, and the evaluation was performed in the same manner.

【0067】実施例7 実施例1において、(A1)の替りに(A2)を同量添
加して実施例1と同様に実験し同様に評価した。
Example 7 An experiment was performed in the same manner as in Example 1 except that the same amount of (A2) was added instead of (A1), and the same evaluation was performed.

【0068】実施例8 実施例1において、(B1)の添加量を20部に変更し
た以外は実施例1と同様に実験し同様に評価した。
Example 8 An experiment was conducted in the same manner as in Example 1 except that the addition amount of (B1) was changed to 20 parts, and the same evaluation was performed.

【0069】実施例9 実施例1において、(C1)の添加量を8.0部に変更
した以外は実施例1と同様に実験し同様に評価した。
Example 9 An experiment was conducted in the same manner as in Example 1 except that the addition amount of (C1) was changed to 8.0 parts, and the same evaluation was performed.

【0070】実施例10 実施例1において、(D1)に替えてロイコマラカイト
グリーン(D3)に変更した以外は実施例1と同様に実
験し同様に評価した。
Example 10 An experiment was carried out in the same manner as in Example 1 except that leukomalachite green (D3) was used instead of (D1), and the same evaluation was performed.

【0071】比較例1 実施例1において(B1)の添加量を0.3部に変更し
て組成物を調製し、実施例1と同様に実験し同様に評価
した。
Comparative Example 1 A composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that the addition amount of (B1) was changed to 0.3 part, and the same experiment and experiment as in Example 1 were performed.

【0072】比較例2 実施例1において、(B1)の配合量を50部とした以
外は同様に実験し同様に評価した。
Comparative Example 2 An experiment was conducted in the same manner as in Example 1 except that the blending amount of (B1) was changed to 50 parts, and the same evaluation was conducted.

【0073】比較例3 実施例1において、(C1)の配合量を0.05部とし
た以外は同様評価を行った。
Comparative Example 3 The same evaluation was performed as in Example 1 except that the amount of (C1) was changed to 0.05 part.

【0074】比較例4 実施例1において、(C1)の配合量を25部とした以
外は同様に評価を行った。
Comparative Example 4 Evaluation was made in the same manner as in Example 1 except that the blending amount of (C1) was changed to 25 parts.

【0075】比較例5 実施例1において、(D1)の配合量を0.03部とし
た以外は同様に評価を行った。
Comparative Example 5 Evaluation was made in the same manner as in Example 1, except that the amount of (D1) was changed to 0.03 part.

【0076】比較例6 実施例1において、(D1)の配合量を8部とした以外
は同様に評価を行った。実施例及び比較例の評価結果を
表1に示す。
Comparative Example 6 Evaluation was made in the same manner as in Example 1 except that the blending amount of (D1) was changed to 8 parts. Table 1 shows the evaluation results of the examples and the comparative examples.

【0077】 〔表1〕 耐ブラスト性 レジスト剥離性 耐現像液性 保存安定性 実施例1 ○ ○ ○ ○ 〃 2 ○ ○ ○ ○ 〃 3 ○ ○ ○ ○ 〃 4 ○ ◎ ◎ ○ 〃 5 ◎ ○ ○ ○ 〃 6 ◎ ◎ ◎ ○ 〃 7 ○ ○ ○ ○ 〃 8 ○ ○ ○ ○ 〃 9 ○ ○ ○ ○ 〃 10 ○ ○ ○ ○ 比較例1 ○ × ○ ○ 〃 2 × ○ × × 〃 3 (レジストパターン形成不可能) ○ 〃 4 ○ ○ ○ × 〃 5 (レジストパターン形成不可能) ○ 〃 6 ○ ○ ○ × [Table 1] Blast resistance Resist stripping resistance Developer resistance Storage stability Example 1 ○ ○ ○ ○ 〃 2 ○ ○ ○ ○ 〃 3 ○ ○ ○ ○ 4 ○ ◎ ◎ ○ 5 5 ◎ ○ ○ ○ 〃 6 ◎ ◎ ◎ ○ 〃 7 ○ ○ ○ ○ 8 8 ○ ○ ○ ○ 9 9 ○ ○ ○ ○ 〃 10 ○ ○ ○ ○ Comparative Example 1 ○ × ○ ○ 〃 2 × ○ × × 3 3 (Resist pattern formation Impossible) ○ 4 4 ○ ○ ○ × 5 5 (resist pattern cannot be formed) ○ 6 6 ○ ○ ○ ×

【0078】[0078]

【発明の効果】本発明の感光性樹脂組成物は、カルボキ
シル基含有アクリルウレタン系樹脂(A)100重量部
に対して、カルボン酸変性ポリカプロラクトンジオール
化合物(B)を0.5〜30重量部、光重合開始剤
(C)を0.1〜20重量部及び光発色性染料(D)を
0.05〜5重量部含有しているため耐ブラスト性、レ
ジスト剥離性、耐現像液性、レジストの保存安定性に優
れ、各種のサンドブラスト用途に有用で、特にプラズマ
ディスプレイの隔壁形成向けのサンドブラスト用途に有
用である。
According to the photosensitive resin composition of the present invention, the carboxylic acid-modified polycaprolactone diol compound (B) is used in an amount of 0.5 to 30 parts by weight based on 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A). Contains 0.1 to 20 parts by weight of a photopolymerization initiator (C) and 0.05 to 5 parts by weight of a photochromic dye (D), so that blast resistance, resist peeling property, developer resistance, It has excellent storage stability of the resist and is useful for various sandblasting applications, and is particularly useful for sandblasting applications for forming partition walls of plasma displays.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/004 507 G03F 7/004 507 512 512 7/028 7/028 Fターム(参考) 2H025 AA00 AB11 AB15 AB17 AC01 AD01 BC66 BC85 CA01 CA14 CA28 CC15 CC20 FA03 FA17 4J011 PA88 PB40 PC02 PC08 QB24 RA07 SA06 SA07 SA22 SA25 SA26 SA36 SA64 SA78 SA88 UA01 VA01 WA01 4J027 AG03 AG04 AG05 AG09 AG23 AG24 AG27 AG33 CA09 CB10 CC05 CD10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G03F 7/004 507 G03F 7/004 507 512 512 7/028 7/028 F term (reference) 2H025 AA00 AB11 AB15 AB17 AC01 AD01 BC66 BC85 CA01 CA14 CA28 CC15 CC20 FA03 FA17 4J011 PA88 PB40 PC02 PC08 QB24 RA07 SA06 SA07 SA22 SA25 SA26 SA36 SA64 SA78 SA88 UA01 VA01 WA01 4J027 AG03 AG04 AG05 AG09 AG23 AG24 AG27 AG33 CA09 CB10 CC05 CD10

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カルボキシル基含有アクリルウレタン系
樹脂(A)100重量部に対して、カルボン酸変性ポリ
カプロラクトンジオール化合物(B)を0.5〜30重
量部、光重合開始剤(C)を0.1〜20重量部及び光
発色性染料(D)を0.05〜5重量部含有してなるこ
とを特徴とする感光性樹脂組成物。
1. A carboxylic acid-modified polycaprolactone diol compound (B) of 0.5 to 30 parts by weight and a photopolymerization initiator (C) of 0 to 100 parts by weight of a carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A). A photosensitive resin composition comprising 1 to 20 parts by weight and 0.05 to 5 parts by weight of a photochromic dye (D).
【請求項2】 カルボキシル基含有アクリルウレタン系
樹脂(A)が、カルボキシル基含有ジオール化合物(a
1)とジイソシアネート化合物(a2)を反応させて得
られる反応生成物(a3)に、ポリオール(a4)を付
加反応させ、その後にエチレン性不飽和基含有ヒドロキ
シ化合物(a5)を付加反応させることにより得られる
化合物であって、1分子中にエチレン性不飽和基を1個
以上含有することを特徴とする請求項1記載の感光性樹
脂組成物。
2. The method according to claim 1, wherein the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A) is a carboxyl group-containing diol compound (a)
The reaction product (a3) obtained by reacting 1) with the diisocyanate compound (a2) is subjected to an addition reaction with a polyol (a4), followed by an addition reaction with an ethylenically unsaturated group-containing hydroxy compound (a5). The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the compound is obtained and contains one or more ethylenically unsaturated groups in one molecule.
【請求項3】 カルボキシル基含有ジオール化合物(a
1)の分子量が500以下で、ジイソシアネート化合物
(a2)の分子量が300以下であり、且つ反応生成物
(a3)の(A)中での含有量が15〜65重量%であ
ることを特徴とする請求項2記載の感光性樹脂組成物。
3. A carboxyl group-containing diol compound (a)
The molecular weight of 1) is 500 or less, the molecular weight of the diisocyanate compound (a2) is 300 or less, and the content of the reaction product (a3) in (A) is 15 to 65% by weight. The photosensitive resin composition according to claim 2, wherein
【請求項4】 カルボン酸変性ポリカプロラクトンジ
オール化合物(B)がカルボキシル基含有ジオール化合
物にε-カプロラクトンを開環付加反応させることによ
り得られた化合物であることを特徴とする請求項1〜3
いずれか記載の感光性樹脂組成物。
4. The carboxylic acid-modified polycaprolactone diol compound (B) is a compound obtained by subjecting a carboxyl group-containing diol compound to a ring-opening addition reaction of ε-caprolactone.
The photosensitive resin composition according to any one of the above.
【請求項5】 光重合開始剤(C)として、2’−ビス
(o−クロロフェニル)−4,5,4’,5’−テトラ
フェニル−1,2’−ビイミダゾールを20重量%以上
含むことを特徴とする請求項1〜4いずれか記載の感光
性樹脂組成物。
5. A photopolymerization initiator (C) containing at least 20% by weight of 2′-bis (o-chlorophenyl) -4,5,4 ′, 5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole. The photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 4, wherein
【請求項6】 光発色性染料(D)として、ロイコクリ
スタルバイオレット、ロイコマラカイトグリーン、ロイ
コダイアモンドグリーンのいずれか1種または2種以上
を含むことを特徴とする請求項1〜5いずれか記載の感
光性樹脂組成物。
6. The photochromic dye (D) comprises one or more of leuco crystal violet, leucomalachite green, and leuco diamond green. Photosensitive resin composition.
【請求項7】 更にカルボキシル基含有アクリルウレタ
ン系樹脂(A)100重量部に対して、酸価が50〜2
50mgKOH/gのアクリル系樹脂(E)を1〜50
重量部含有してなることを特徴とする請求項1〜6いず
れか記載の感光性樹脂組成物。
7. An acid value of 50 to 2 with respect to 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane resin (A).
50 mg KOH / g of acrylic resin (E) is
The photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the photosensitive resin composition comprises parts by weight.
【請求項8】 更にカルボキシル基含有アクリルウレタ
ン系樹脂(A)100重量部に対して、酸価を有しない
アクリルウレタン系樹脂(F)を1〜100重量部含有
してなることを特徴とする請求項1〜7いずれか記載の
感光性樹脂組成物。
8. An acrylic urethane-based resin (F) having no acid value is contained in an amount of 1 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the carboxyl group-containing acrylic urethane-based resin (A). The photosensitive resin composition according to claim 1.
【請求項9】 ドライフィルムレジストに用いることを
特徴とする請求項1〜8いずれか記載の感光性樹脂組成
物。
9. The photosensitive resin composition according to claim 1, which is used for a dry film resist.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002229191A (en) * 2001-02-06 2002-08-14 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The Photosensitive resin composition and its use
JP2006053263A (en) * 2004-08-10 2006-02-23 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing resist pattern and method for producing printed wiring board
KR100611393B1 (en) * 2003-11-06 2006-08-11 주식회사 하이닉스반도체 Composition for organic bottom anti-reflective coating and method for pattern formation using the same
JP2007086292A (en) * 2005-09-21 2007-04-05 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The Photoresist film, and photosensitive resin composite

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10312057A (en) * 1997-05-09 1998-11-24 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The Photosensitive resin composition
JP2000310854A (en) * 1999-04-28 2000-11-07 Hitachi Chem Co Ltd Photocurable resin composition and pattern producing method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10312057A (en) * 1997-05-09 1998-11-24 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The Photosensitive resin composition
JP2000310854A (en) * 1999-04-28 2000-11-07 Hitachi Chem Co Ltd Photocurable resin composition and pattern producing method

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002229191A (en) * 2001-02-06 2002-08-14 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The Photosensitive resin composition and its use
JP4563598B2 (en) * 2001-02-06 2010-10-13 日本合成化学工業株式会社 Photosensitive resin composition and use thereof
KR100611393B1 (en) * 2003-11-06 2006-08-11 주식회사 하이닉스반도체 Composition for organic bottom anti-reflective coating and method for pattern formation using the same
JP2006053263A (en) * 2004-08-10 2006-02-23 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing resist pattern and method for producing printed wiring board
JP4622379B2 (en) * 2004-08-10 2011-02-02 日立化成工業株式会社 Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing resist pattern, and method for producing printed wiring board
JP2007086292A (en) * 2005-09-21 2007-04-05 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The Photoresist film, and photosensitive resin composite
JP4592544B2 (en) * 2005-09-21 2010-12-01 日本合成化学工業株式会社 Photosensitive resin composition and photoresist film

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