KR200444066Y1 - Insert for test handler - Google Patents

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KR200444066Y1
KR200444066Y1 KR2020070006507U KR20070006507U KR200444066Y1 KR 200444066 Y1 KR200444066 Y1 KR 200444066Y1 KR 2020070006507 U KR2020070006507 U KR 2020070006507U KR 20070006507 U KR20070006507 U KR 20070006507U KR 200444066 Y1 KR200444066 Y1 KR 200444066Y1
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insert
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구태흥
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Abstract

본 고안은 테스트핸들러용 인서트에 관한 것으로, 본 고안에 따르면 인서트의 안착공간의 일면을 이루는 벽이 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시키되, 안정성을 위해 안착공간의 규격이 가변된 상태에서 벽이 고정될 수 있도록 하는 기술이 개시된다.The present invention relates to an insert for a test handler. According to the present invention, the wall forming one surface of the seating space of the insert is provided to be movable toward the seating space, thereby varying the size of the seating space according to the movement, and seating for stability. A technique is disclosed in which a wall can be fixed in a state in which the size of the space is changed.

테스트핸들러, 테스트트레이, 인서트, 규격 변환 Test handler, test tray, insert, standard conversion

Description

테스트핸들러용 인서트{INSERT FOR TEST HANDLER}Inserts for test handlers {INSERT FOR TEST HANDLER}

도1은 일반적인 테스트트레이에 대한 개략도이다.1 is a schematic diagram of a general test tray.

도2는 본 고안의 제1실시예에 따른 인서트에 대한 평면도이다.2 is a plan view of an insert according to a first embodiment of the present invention.

도3 및 도4는 도2의 인서트에 대한 단면도이다.3 and 4 are cross-sectional views of the insert of FIG.

도5는 도2의 인서트에 적용될 수 있는 볼트의 단면도이다.5 is a cross-sectional view of a bolt that may be applied to the insert of FIG.

도6 내지 도13은 도2의 인서트의 변형예를 설명하기 위한 참조도이다.6 to 13 are reference views for explaining a modification of the insert of FIG. 2.

도14는 본 고안의 제2실시예에 따른 인서트에 대한 평면도이다.14 is a plan view of an insert according to a second embodiment of the present invention.

도15 및 도16은 도14의 인서트에 대한 단면도이다.15 and 16 are cross-sectional views of the insert of FIG.

도17 및 도18은 도14의 인서트의 변형예를 설명하기 위한 참조도이다.17 and 18 are reference diagrams for explaining a modification of the insert of FIG.

*도면의 주요부위에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

200 : 인서트200: Insert

210 : 인서트바디210: insert body

220 : 이동벽부재220: moving wall member

230 : 볼트230: Bolt

1430 : 위치결정판1430: positioning plate

1830 : 링1830: Ring

본 고안은 테스트핸들러용 인서트에 관한 것으로, 보다 상세히는 하나의 인서트에 다양한 규격의 반도체소자를 안착시킬 수 있는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to an insert for a test handler, and more particularly, to a technology capable of mounting semiconductor devices of various specifications on one insert.

테스트핸들러라 함은 생산된 반도체소자의 출하에 앞서 그 양부를 테스터에 의해 테스트하고자 할 경우, 테스터에 반도체소자를 공급한 후 테스트 완료된 반도체소자를 그 테스트 결과에 따라서 분류하는 장치로서, 그에 대한 자세한 기술적 사항은 대한민국 등록특허공보 등록번호 10-0553992호 등과 같은 다수의 공개문서들을 통해 이미 공개되어 있다.The test handler is a device that classifies the tested semiconductor device according to the test result after supplying the semiconductor device to the tester if the tester wants to test the quality of the semiconductor device before shipment. Technical matters are already disclosed through a number of public documents such as Korean Patent Publication No. 10-0553992.

일반적으로 테스트핸들러는, 로딩위치에서 고객트레이에 적재된 반도체소자들을 테스트트레이로 로딩시킨 후, 테스트위치에서 테스트트레이에 적재된 상태의 반도체소자들을 테스터에 공급하고, 언로딩위치에서 테스트가 완료된 반도체소자들을 테스트트레이로부터 고객트레이로 언로딩시키도록 되어 있다.In general, the test handler loads the semiconductor devices loaded in the customer tray into the test tray at the loading position, and then supplies the semiconductor devices loaded in the test tray to the tester at the test position, and the semiconductor is tested at the unloading position. The devices are to be unloaded from the test tray into the customer tray.

도1은 일반적인 테스트트레이에 대한 개략도로서, 도1에서 참조되는 바와 같이, 일반적인 테스트트레이(10)는 복수의 인서트(11, '캐리어모듈'이라고 명명하기도 함)들이 행렬형태로 프레임(12)에 장착되는 구조를 가지고 있으며, 하나의 인서트(11)에는 하나 또는 둘 이상의 반도체소자들을 안착시킬 수 있도록 되어 있다. 참고로 도1의 테스트트레이는 하나의 인서트(11)에 하나의 반도체소자가 안착되는 예를 표현하고 있다.FIG. 1 is a schematic diagram of a general test tray. Referring to FIG. 1, a general test tray 10 includes a plurality of inserts 11 (sometimes referred to as 'carrier modules') arranged in a frame 12 in a matrix form. It has a structure to be mounted, one insert 11 is to be able to seat one or more semiconductor elements. For reference, the test tray of FIG. 1 represents an example in which one semiconductor device is seated on one insert 11.

한편, 인서트(11)에는 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간(11a)이 형성되어 있는 데, 이러한 안착공간(11a)은 인서트마다 규격화되어 있어서 특정 규격을 가진 반도체소자만이 안착될 수 있도록 되어 있다.On the other hand, the insert 11 has a seating space (11a) is formed to be a semiconductor device is seated, this seating space (11a) is standardized for each insert so that only a semiconductor device having a specific specification can be seated have.

그런데 테스트핸들러는 경우에 따라서 규격이 다른 반도체소자의 테스트를 지원해야 할 필요가 있게 된다. 이러한 경우 테스트트레이(10)를 교체하거나 인서트(11)를 교체하여야 하는 데, 테스트트레이(10)를 교체하는 경우 자원의 낭비 및 교체비용의 증가-테스트핸들러에는 수장 내지 수십장의 테스트트레이가 구비됨-를 가져오고, 인서트(11)만을 교체하는 경우에도 마찬가지로 자원의 낭비 및 교체비용의 증가-한 장의 테스트트레이에는 일반적으로 128 내지 256개의 인서트가 배열되며, 인서트 하나당 가격은 수천원 이상임-를 가져온다.However, in some cases, the test handler needs to support testing of semiconductor devices having different specifications. In this case, the test tray 10 or the insert 11 should be replaced. When replacing the test tray 10, waste of resources and an increase in the replacement cost-test handlers are provided with several to several dozen test trays. -And the replacement of only the insert 11 also leads to waste of resources and an increase in the replacement cost-a single test tray typically has 128 to 256 inserts arranged, with an insert costing more than a few thousand won. .

따라서 인서트의 교체 없이도 다양한 규격의 반도체소자에 대한 테스트를 지원할 수 있는 기술의 필요성이 요구된다.Accordingly, there is a need for a technology capable of supporting testing of semiconductor devices of various specifications without replacing inserts.

그러한 필요성에 의해 제시된 종래의 기술로는 일본국 가부시키가이샤 아드반테스트사에서 대한민국에 출원한 공개번호 10-2006-0003893호(전자부품 핸들링 장치용 인서트, 트레이, 및 전자부품핸들링 장치)에 개시된 것(이하 '종래기술'이라 함)을 들 수 있다.Conventional techniques proposed by such a necessity include those disclosed in Japanese Patent Application Publication No. 10-2006-0003893 (inserts, trays, and electronic component handling devices for electronic component handling devices) filed with the Republic of Japan by Advantest. (Hereinafter referred to as 'prior art').

종래기술에 의한 인서트에 의하면 피시험 전자부품을 수납하는 전자부품 수납부(해당 공보 상에 도면 부호 19로 표기 됨)가 형성되어 있는 동시에, 전자부품 수납부에 수납된 피시험 전자부품의 측면이 당접하는 당접부를 갖는 인서트 본체(해당 공보 상에 도면 부호 161로 표기 됨, 이하 '인서트바디'라 명명 함)와, 전자 부품 수납부에 수납된 피시험 전자부품을 인서트 본체의 당접부로 밀어 붙일 수 있는 압부부재(해당 공보 상에 도면 부호 166, 166'으로 표기 됨)와, 인서트 본체에 상하 움직임이 자유롭게 부착된 구동체(실시예 상에 구동부재로 명명되어 있으며 도면 부호 165, 165'로 표기 됨)를 구비하고 있다. According to the insert according to the prior art, an electronic component accommodating part (denoted by reference numeral 19 in the relevant publication) for accommodating the electronic component under test is formed, and at the same time, the side of the electronic component under test is stored in the electronic component accommodating part. An insert body having abutting contact portion (denoted by reference numeral 161 in the relevant publication, hereinafter referred to as 'insert body') and an electronic component under test stored in the electronic component accommodating portion can be pushed into the contact portion of the insert body. A pressure member (denoted by reference numerals 166 and 166 'in the publication) and a drive body freely attached to the insert body by vertical movement (named as a driving member in the embodiment and designated by reference numerals 165 and 165'). Is provided).

위와 같은 종래기술에서 구동체가 구동 플레이트(해당 공보 상에 도면 부호 162로 표기 됨)에 의해 눌려지면 구동체가 하 방향으로 이동하면서 압부부재가 수평 방향으로 이동하여 전자부품 수납부로부터 퇴피하게끔 되어 있고, 구동 플레이트에 의한 구동체의 누름이 해제 되면 구동 플레이트가 상승하면서 압부부재 또한 전자부품 측으로 이동하도록 됨으로써 다양한 규격의 전자부품이 전자부품 수납부에 안착될 수 있도록 하고 있다.In the prior art as described above, when the driving body is pressed by the driving plate (denoted by reference numeral 162 in the relevant publication), the pressing member moves in the horizontal direction while the driving body moves downward, thereby evacuating from the electronic component housing. When the pressing of the driving body by the driving plate is released, the driving plate is raised to move the pressure member to the electronic component side, thereby allowing electronic components of various specifications to be seated on the electronic component receiving unit.

그런데, 테스트핸들러에서 장치의 안정성은 중요한 요소로 고려되어야 한다. 그러한 장치의 안정성 측면에서 볼 때, 종래기술의 경우에는 구동플레이트, 구동체 및 압부부재가 반도체소자의 로딩 및 언로딩 시마다 작동되어야 하기 때문에 장치의 안정성을 떨어트려 잼 발생의 개연성을 높이게 된다.However, the stability of the device in the test handler should be considered as an important factor. In view of the stability of such a device, in the prior art, since the driving plate, the driving body and the pressing member must be operated every time the loading and unloading of the semiconductor element, the stability of the device is reduced to increase the probability of jam occurrence.

또한, 구동플레이트, 구동체 및 압부부재와 기타 래치(전자부품 수납부에 수납된 전자부품을 유지시키는 장치)의 작동을 위한 구조가 자그마한 인서트에 모두 구비되어야 한다는 점 및 잼 발생을 최대한 방지하여야 한다는 점에서 인서트의 구조를 매우 정교하게 구성시켜야 하기 때문에 가공성 및 조립성이 떨어질뿐더러 부품수의 많은 증가로 인하여 생산성 또한 떨어지게 된다.In addition, the structure for the operation of the driving plate, the driving body and the pressing member and other latches (a device for holding the electronic components stored in the electronic component accommodating portion) should be provided on the small insert, and the occurrence of jam should be prevented as much as possible. In this regard, the structure of the insert must be very precisely constructed, which leads to poor workability and assembly, and also to a large increase in the number of parts, thereby decreasing productivity.

본 고안은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 고안의 목적은 반도체소자가 안착되는 안착공간의 일 측면을 이루는 벽이 이동된 상태에서 고정될 수 있는 기술을 제공하는 것이다.The present invention is devised to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a technology that can be fixed in the state that the wall forming a side of the seating space in which the semiconductor device is moved.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 테스트핸들러용 인서트는, 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간을 가지는 인서트바디; 및 상기 인서트바디에 결합되어 있거나 결합될 수 있도록 되어 있고, 일 측면이 상기 안착공간을 이루는 벽면이며, 상기 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시킬 수 있는 적어도 하나의 이동벽부재; 및 상기 이동벽부재의 위치를 고정시키기 위해 마련되는 고정부재; 를 포함하는 것을 특징으로 한다.An insert for a test handler according to the present invention for achieving the above object, the insert body having a seating space in which the semiconductor device can be seated; And at least one side that is coupled to or can be coupled to the insert body, the side surface of which forms the seating space, and which is movable to the seating space so that the size of the seating space can be changed according to movement. One moving wall member; And a fixing member provided to fix the position of the movable wall member. Characterized in that it comprises a.

상기 이동벽부재는 상기 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조; 를 포함하는 것을 또 하나의 특징으로 한다.The movable wall member has a latch structure for maintaining a seating state of the semiconductor device seated in the seating space; It is another feature to include a.

상기 인서트바디에는 볼트체결홀이 형성되어 있고, 상기 이동벽부재에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 0°의 각을 이루는 선상에 볼트통과장공이 형성되어 있으며, 상기 고정부재는 상기 볼트통과장공의 임의 위치를 통과하여 상기 볼트체결홀에 체결될 수 있는 볼트인 것을 또 하나의 특징으로 한다.The insert body is formed with a bolt fastening hole, and the movable wall member is formed with a bolt passing hole on a line that forms an angle of 0 ° with the moving direction of the movable wall member, and the fixing member is formed of the bolt passing hole. Another feature is that the bolt can be fastened to the bolt fastening hole passing through any position.

상기 인서트바디에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 0°보다 크고 90°보다 작은 각을 이루는 선상에 복수의 볼트체결홀이 나란히 형성되어 있고, 상기 이동벽부재에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 90°의 각을 이루는 선상에 볼트통과장공이 형성되어 있으며, 상기 고정부재는 상기 볼트통과공을 통과하여 상기 복수의 볼트체결홀 중 어느 하나에 체결될 수 있는 볼트인 것을 또 하나의 특징으로 한다.The insert body has a plurality of bolted fastening holes formed side by side on a line that forms an angle greater than 0 ° and less than 90 ° with the movement direction of the movable wall member, and the movable wall member has a movement direction of 90 with the movable wall member. A bolt passing hole is formed on a line forming an angle of °, and the fixing member is a bolt that can be fastened to any one of the plurality of bolt fastening holes through the bolt passing hole.

상기 인서트바디에는 볼트체결홀이 형성되어 있고, 상기 이동벽부재에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 0°의 각을 이루는 선상에 복수의 볼트통과공이 나란히 형성되어 있으며, 상기 고정부재는 상기 복수의 볼트통과공 중 어느 하나를 통과하여 상기 볼트체결홀에 체결될 수 있는 볼트인 것을 또 하나의 특징으로 한다.The insert body has bolt fastening holes formed therein, and the movable wall member has a plurality of bolt through holes formed side by side on a line forming an angle of 0 ° with the moving direction of the movable wall member, and the fixing member includes the plurality of fixing members. Another feature is that the bolt that can be fastened to the bolt fastening hole through any one of the bolt through hole.

상기 인서트바디에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 90°를 이루는 선상에 복수의 볼트체결홀이 형성되어 있고, 상기 이동벽부재에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 0°보다 크고 90°보다 작은 각을 이루는 선상에 상기 복수의 볼트체결홀에 각각 대응되는 복수의 볼트통과공이 나란히 형성되어 있으며, 상기 고정부재는 상기 복수의 볼트통과공 중 어느 하나의 볼트통과공을 통과하여 상기 어느 하나의 볼트통과공에 대응하는 볼트체결홀에 체결될 수 있는 볼트인 것을 또 하나의 특징으로 한다.The insert body has a plurality of bolted fastening holes formed on a line that forms a 90 ° direction with the moving direction of the movable wall member, and the movable wall member has an angle greater than 0 ° and less than 90 ° with the moving direction of the movable wall member. A plurality of bolt through holes corresponding to the plurality of bolt fastening holes are formed side by side on a line forming a line, and the fixing member passes through any one of the plurality of bolt through holes, through which one of the bolt through holes passes. Another feature is that the bolt can be fastened to the bolt fastening hole corresponding to the ball.

상기 인서트바디와 상기 이동벽부재의 각 접촉면에는 톱니가 형성되어 있는 것을 또 하나의 특징으로 한다.Another feature is that the teeth are formed on each contact surface of the insert body and the movable wall member.

또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 테스트핸들러용 인서트는, 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간을 가지는 인서트바디; 및 상기 인서트 바디에 결합되어 있거나 결합될 수 있도록 되어 있고, 일 측면이 상기 안착공간을 이루는 벽면이며, 상기 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시킬 수 있는 복수의 이동벽부재; 및 상기 복수의 이동벽부재들 간의 상대적 위치를 결정하는 위치결정부재; 를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the insert for the test handler according to the present invention for achieving the above object, the insert body having a seating space on which the semiconductor device can be seated; And it is coupled to or can be coupled to the insert body, one side is a wall surface constituting the seating space, it is provided to be movable toward the seating space is a plurality that can vary the size of the seating space according to the movement Moving wall member; And a positioning member for determining a relative position between the plurality of moving wall members. Characterized in that it comprises a.

상기 복수의 이동벽부재들 중 적어도 하나는 상기 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조; 를 포함하는 것을 또 하나의 특징으로 한다.At least one of the plurality of movable wall members may include a latch structure for maintaining a seating state of a semiconductor device seated in the seating space; It is another feature to include a.

상기 복수의 이동벽부재들 각각에는 적어도 하나의 끼움홈 또는 끼움돌기가 형성되어 있고, 상기 위치결정부재는 상기 복수의 이동벽부재들에 형성된 다수의 끼움홈 또는 끼움돌기에 대응되는 다수의 끼움돌기 또는 끼움홈이 형성되어 있으며, 상기 안착공간을 노출시키기 위한 노출홀이 형성되어 있는 것을 또 하나의 특징으로 한다.At least one fitting groove or fitting protrusion is formed in each of the plurality of moving wall members, and the positioning member includes a plurality of fitting protrusions corresponding to the plurality of fitting grooves or fitting protrusions formed in the plurality of moving wall members. Or it is characterized in that the fitting groove is formed, the exposure hole for exposing the seating space is formed.

상기 복수의 이동벽부재들 각각에는 적어도 하나의 끼움홈이 형성되어 있고, 상기 위치결정부재는 상기 복수의 이동벽부재들에 형성된 다수의 끼움홈에 끼움될 수 있는 두께를 가진 링인 것을 것을 또 하나의 특징으로 한다.At least one fitting groove is formed in each of the plurality of moving wall members, and the positioning member is a ring having a thickness that can be fitted into a plurality of fitting grooves formed in the plurality of moving wall members. It is characterized by.

그리고 본 고안은, 작동 기구로부터 회전력을 인가받기 위한 헤드부; 및 상기 헤드부로부터 하방으로 연장되며, 상기 헤드부로부터 일정 간격 하방으로 이격된 위치에 탄성공간을 가지는 체결부; 를 포함하며, 상기 체결부는 상기 탄성공간 을 형성시키기 위해 상기 탄성공간이 있는 부위의 두께가 상기 체결부가 상기 헤드부에 접촉되는 지점의 두께보다 확대된 것을 특징으로 하는 볼트를 포함한다.And the present invention, the head for receiving a rotational force from the operating mechanism; And a fastening part extending downward from the head part and having an elastic space at a position spaced downward by a predetermined distance from the head part; The fastening part includes a bolt, characterized in that the thickness of the portion having the elastic space is larger than the thickness of the point where the fastening portion is in contact with the head portion to form the elastic space.

이하에서는 상술한 바와 같은 본 고안에 따른 테스트핸들러용 인서트에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 동일 구성에 대하여는 동일 부호를 표기하도록 하고, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축하기로 한다.Hereinafter, a test handler insert according to the present invention as described above will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the same reference numerals are denoted for the same configuration, and overlapping descriptions are omitted or compressed as much as possible for the sake of brevity. Let's do it.

<제1실시예>First Embodiment

도2는 본 고안의 제1실시예에 따른 인서트(200)에 대한 평면도이고, 도3은 도2의 인서트(200)를 I1-I1 선을 따라 절개한 후 A1 방향에서 바라본 단면도이다.FIG. 2 is a plan view of the insert 200 according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken from the direction A 1 after cutting the insert 200 of FIG. 2 along the line I 1 -I 1 . .

도2 및 도3을 참조하여 보면, 본 고안의 제1실시예에 따른 인서트(200)는 인서트바디(210), 4개의 이동벽부재(220) 및 볼트(230) 등을 포함하여 구성된다.2 and 3, the insert 200 according to the first embodiment of the present invention includes an insert body 210, four moving wall members 220, a bolt 230, and the like.

인서트바디(210)는 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간(S)과 도3에 도시된 바와 같이 안착공간(S)의 각 측방으로 이동벽부재(220)가 하방으로 이탈 방지되게 안착되도록 하는 걸림턱(211)이 형성되어 있다. 그리고 이 걸림턱(211)에는 볼트체결홀(211a)이 형성되어 있다.Insert body 210 is a mounting space (S) that can be a semiconductor device is seated and as shown in Figure 3 so that the moving wall member 220 is mounted to each side of the seating space (S) to be prevented from falling downward A locking jaw 211 is formed. The locking jaw 211 is formed with a bolt fastening hole 211a.

각각의 이동벽부재(220)는 안착공간(S)의 일 측벽을 이루고 있으며, 인서트바디(210)에 안착공간(S)의 각 측방에서 걸림턱(211)에 걸릴 수 있도록 안착 결합 되어 있다. 또한 각각의 이동벽부재(220)는 안착공간(S)을 향하여 이동 가능하게, 더 정확히는 안착공간(S) 방향으로 진퇴 가능하게 마련되며, 이동에 따라서 안착공간(S)의 규격을 가변시킬 수 있도록 되어 있다. 이러한 이동벽부재(220)에는 볼트(230)가 통과될 수 있는 볼트통과장공(221)이 형성되어 있는 데, 이러한 볼트통과장공(221)은 이동벽부재(220)의 이동방향으로 길쭉한 모양을 가진다.Each moving wall member 220 forms a side wall of the seating space (S), and is coupled to the insert body 210 so as to be caught by the locking step 211 in each side of the seating space (S). In addition, each movable wall member 220 is provided to be movable toward the seating space (S), more precisely to be able to move forward and backward in the seating space (S), it is possible to vary the size of the seating space (S) according to the movement It is supposed to be. The moving wall member 220 is formed with a bolt passing hole 221 through which the bolt 230 can be passed. The bolt passing hole 221 has an elongated shape in the moving direction of the moving wall member 220. Have

그리고 볼트(230)는 이동벽부재(220)가 이동된 위치에서 고정될 수 있도록 이동벽부재(220)를 인서트바디(210)에 고정시키는 고정부재로서의 역할을 수행한다. 즉, 볼트(230)는 이동벽부재(220)의 볼트통과장공(221)의 임의의 위치를 통과한 후 인서트바디(210)의 볼트체결홀(211a)에 체결됨으로써 인서트바디(210)에 이동벽부재(220)가 고정될 수 있도록 한다.The bolt 230 serves as a fixing member for fixing the moving wall member 220 to the insert body 210 so that the moving wall member 220 can be fixed at the moved position. That is, the bolt 230 moves to the insert body 210 by being fastened to the bolt fastening hole 211a of the insert body 210 after passing through an arbitrary position of the bolt passing hole 221 of the movable wall member 220. The wall member 220 may be fixed.

위와 같은 제1실시예에 따른 인서트(200)에 의하면, 도2 및 도3에 도시된 바와 같이 안착공간(S)이 최소의 규격을 가지도록 된 상태에서는 이동벽부재(220)의 후방(안착공간으로 향하는 방향을 전방으로 정의 함)으로 여유공간(P)이 형성됨을 알 수 있다.According to the insert 200 according to the first embodiment as described above, the rear (moving) of the movable wall member 220 in a state in which the seating space (S) has a minimum size, as shown in Figures 2 and 3 It can be seen that the free space (P) is formed in the forward direction to define the direction toward the space.

만일 테스트될 반도체소자의 규격이 커지게 되면 관리자는 볼트(230)를 풀어 이동벽부재(220)를 반도체소자의 규격에 대응하는 정도로 후방으로 이동시킨 다음 볼트(230)를 다시 체결함으로써 도4에서 참조되는 바와 같이 안착공간(S)의 규격을 변환시켜 규격이 커진 반도체소자가 안착공간(S)에 안착될 수 있도록 한다. 이 때 안착공간(S)의 규격은 규격 변환용 지그 등을 이용하여 적절히 조율될 수 있다.If the size of the semiconductor device to be tested becomes large, the manager loosens the bolt 230 and moves the movable wall member 220 to the rear corresponding to the size of the semiconductor device, and then tightens the bolt 230 again in FIG. 4. As described, the size of the seating space S is converted to allow the semiconductor device having a larger size to be seated in the seating space S. At this time, the size of the seating space (S) can be appropriately tuned using a standard conversion jig or the like.

한편, 이동벽부재(220)는 이동성이 상실될 수 있을 정도로 인서트바디(210) 에 결합되어야 한다. 따라서 인서트바디(210)에 단단하게 고정되어야 함으로 볼트(230)를 꽉 죄어주거나, 도4의 확대 도시된 부분에서 참조되는 바와 같이 볼트(230)의 헤드부(231)와 이동벽부재(220)의 접촉 부위에 마찰재(240)를 개제시키거나, 도4의 다른 확대 도시된 부분에서 참조되는 바와 같이 인서트바디(210)와 이동벽부재(220)의 각 접촉면에 톱니를 형성키는 방법이 고려될 수 있다. 또한, 도5에 도시된 바와 같은 볼트(230)를 사용하여 그 고정력을 더욱 키우는 것도 고려될 수 있다.On the other hand, the movable wall member 220 should be coupled to the insert body 210 to the extent that the mobility can be lost. Therefore, the bolt body 230 must be tightly fixed by being firmly fixed to the insert body 210, or the head portion 231 and the movable wall member 220 of the bolt 230 as referred to in the enlarged view of FIG. Considering a method of forming a friction material 240 at a contact portion of the contact or forming a tooth on each contact surface of the insert body 210 and the movable wall member 220 as referred to in another enlarged portion of FIG. Can be. It may also be considered to further increase its holding force using bolts 230 as shown in FIG.

도5를 참조하여 특징적 구성을 가지는 볼트(230)에 대하여 살펴보면, 도5의 볼트(230)는 드라이버와 같은 작동 기구로부터 회전력을 인가받기 위한 헤드부(231)와 헤드부(231)로부터 하방으로 연장되며 헤드부(231)로부터 일정 간격 하방으로 이격된 위치에 탄성공간(232a)을 가지는 체결부(232)를 포함하여 구성된다. 그리고 체결부(232)는 탄성공간(232a)을 형성시키기 위해 탄성공간(232a)이 있는 부위의 두께(W1)가 체결부(232)가 헤드부(231)에 접촉되는 지점의 두께(W2)보다 확대되어 있다. 즉, 도5의 볼트(230)가 체결되면 탄성공간(232a)이 있는 부분의 탄성력으로 인하여 그 고정력이 더욱 커지게 되는 것이다. 그리고, 이동벽부재의 볼트통과장공과 인서트바디의 볼트체결홀 역시 이 볼트에 대응할 수 있도록 깊이가 깊어질 수록 크 직경이 커지게 형성시키면 그 고정력은 한층 더 커질 것이다.Referring to the bolt 230 having a characteristic configuration with reference to Figure 5, the bolt 230 of Figure 5 is downward from the head portion 231 and the head portion 231 for receiving rotational force from the operating mechanism such as a driver It includes a fastening part 232 extending and having an elastic space 232a at a position spaced downward from the head 231 by a predetermined interval. In addition, the fastening part 232 has a thickness W at the point where the fastening part 232 is in contact with the head part 231 at the thickness W 1 of the portion having the elastic space 232a to form the elastic space 232a. It is larger than 2 ). That is, when the bolt 230 of FIG. 5 is fastened, the fixing force becomes larger due to the elastic force of the portion having the elastic space 232a. In addition, the bolt passing hole of the movable wall member and the bolt fastening hole of the insert body also have a larger diameter so as to correspond to the bolt, and the larger the diameter, the greater the fixing force will be.

위와 같은 제1실시예에 의하면 볼트통과장공(221)의 길쭉한 방향으로의 길이에 대응되는 만큼 안착공간의 규격이 가변된 상태에서 고정될 수 있게 된다.According to the first embodiment as described above, the size of the seating space can be fixed as long as the length of the bolt passing hole 221 in the elongated direction is varied.

참고로 도6은 도4의 상태를 평면에서 도시한 것이고, 도7은 안착공간(S)의 규격이 최대일 때의 상태를 평면에서 도시한 것이다. 도7을 참조하면 안착공간(S)의 규격이 최대가 되었을 시에는 여유공간(P)이 존재하지 않음을 알 수 있다.For reference, FIG. 6 is a plan view of the state of FIG. 4, and FIG. 7 is a plan view of a state when the size of the seating space S is the maximum. Referring to Figure 7, it can be seen that the free space (P) does not exist when the size of the seating space (S) is the maximum.

한편, 제1실시예에서는 4개의 이동벽부재(220)를 구성시키고 있으나 실시하기에 따라서는 1개, 2개 또는 3개의 이동벽부재(220)를 구성시킴으로써도 안착공간(S)의 규격이 가변되는 기술을 실현하는 것이 가능함을 알 수 있을 것이며, 볼트통과장공(221)을 장공으로 형성시키고 볼트체결홀(211a)을 정공으로 형성시키고 있으나 볼트통과장공(221)을 정공으로 하고 볼트체결홀(211a)을 장공으로 형성시키는 것도 얼마든지 가능함을 알 수 있을 것이며, 고정부재로써 볼트(230)를 구성시키고 있으나 이외에도 이동벽부재(220)의 이동성이 상실될 수 있을 정도로 인서트바디(210)에 결합시킬 수 있는 것이라면 다른 부재도 사용 가능함을 알 수 있을 것이다.Meanwhile, in the first embodiment, four moving wall members 220 are configured, but according to the embodiment, the size of the seating space S is also achieved by configuring one, two, or three moving wall members 220. It can be seen that it is possible to realize a variable technology, the bolt through hole 221 is formed as a long hole and the bolt fastening hole 211a is formed as a hole, but the bolt through hole 221 as a hole and bolt fastening hole It will be appreciated that it is also possible to form the long (211a) in the long hole, but the bolt 230 is configured as a fixing member, but in addition to the insert body 210 to the extent that the mobility of the movable wall member 220 can be lost. It will be appreciated that other members can be used as long as they can be combined.

그리고, 제1실시예에서는 4개의 이동벽부재(220)가 단지 일 측벽만을 형성하고 있지만 4개의 이동벽부재(220) 중 일부에 별도의 개방장치에 의해 안착공간을 개방 혹은 개방해제함으로써 반도체소자의 안착을 돕고 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조를 포함하도록 구성하는 것도 가능하다. 이러한 래치구조에 대한 자세한 기술적 사항은 대한민국 등록특허공보 등록번호 10-0468412호 등과 같은 다수의 공개문서들을 통해 이미 공개되어 있다.In the first embodiment, the four movable wall members 220 form only one sidewall, but the semiconductor device is opened or released by a separate opening device on some of the four movable wall members 220. It is also possible to include a latch structure to help the seating and to maintain the seating state of the semiconductor device seated in the seating space. Detailed technical details of the latch structure is already disclosed through a number of publications such as Korean Patent Publication No. 10-0468412.

또한, 제1실시예에서는 이동벽부재(220)를 인서트바디(210)와 별개로 구성하여 인서트바디(210)와 결합가능하게 형성시키고 있으나, 이동벽부재(220)가 인서트 바디(210)와 분리되지 않고 이동은 가능하게 형성시키는 것도 가능할 것이다.In addition, in the first embodiment, the movable wall member 220 is formed separately from the insert body 210 to be coupled to the insert body 210, but the movable wall member 220 is connected to the insert body 210. It would be possible to make the movement possible without separation.

<제1실시예의 제1변형예><First Modified Example of First Embodiment>

도8에 따른 인서트(800)는 이동벽부재(820)에 볼트통과공(821a 내지 821c)이 이동벽부재(820)의 이동방향으로 나란히 정공으로 형성되어 있다. 물론 각각의 볼트통과공(821a 내지 821c)이 서로 차단될 수도 있지만 도8에 도시된 바와 같이 미세한 규격조정이 가능하도록 볼트통과공(821a 내지 821c)의 중심 간의 거리를 가급적 줄이기 위해 서로 연통되는 것이 더 바람직할 수 있다.In the insert 800 according to FIG. 8, bolt through holes 821a to 821c are formed in the moving wall member 820 in parallel with the moving direction of the moving wall member 820. Of course, each of the bolt through holes 821 a to 821 c may be blocked from each other, but as shown in FIG. 8, it is communicated with each other to reduce the distance between the centers of the bolt through holes 821 a to 821 c as much as possible. More preferred.

도9는 도8과 같은 변형예에 따른 인서트(800)의 규격변환상태를 표현하고 있다. 즉, 도8과 같이 볼트(830)가 부호 821a의 볼트통과공을 통과하여 인서트바디(810)에 이동벽부재(820)를 고정시키고 있는 상태에서 도9에서 도시된 바와 같이 볼트(830)가 부호 821b의 볼트통과공을 통과하여 인서트바디(810)에 이동벽부재(820)를 고정시키는 상태로 되면, 안착공간(S)의 규격이 커짐을 알 수 있다. 이러한 변형예에서는 볼트통과공(821a 내지 821c)의 개수 및 볼트통과공(821a 내지 821c)의 중심 간 거리만큼 안착공간(S)의 규격이 가변될 수 있게 된다.FIG. 9 illustrates a standard conversion state of the insert 800 according to the modification example of FIG. 8. That is, as illustrated in FIG. 9, the bolt 830 passes through the bolt through hole 821a to fix the movable wall member 820 to the insert body 810 as shown in FIG. 8. When the moving wall member 820 is fixed to the insert body 810 through the bolt through hole of 821b, it can be seen that the size of the seating space S is increased. In this modified example, the size of the seating space S may be varied by the number of bolt through holes 821a to 821c and the distance between the centers of the bolt through holes 821a to 821c.

도10은 이동벽부재(1020)에 볼트통과장공(1021)을 형성시키되, 볼트통과장공(1021)의 주변에 서로 연통되는 원형의 홈(1022)을 다수개 나란히 형성시킴으로써, 볼트(1030)의 헤드부가 해당 원형의 홈(1022)에 정합될 수 있도록 하는 것도 가능하다. 이러한 경우 볼트(1030)를 전부 해체시키지 않고도 볼트(1030)의 헤드부만 원형의 홈(1022)에서 이탈시킨 후 이동벽부재(1020)를 이동시킬 수 있어서 규격 변환에 따른 시간이 절감될 수 있게 된다.10 shows a bolt through hole 1021 in the movable wall member 1020, and forms a plurality of circular grooves 1022 in parallel with each other around the bolt through hole 1021, so that the bolt 1030 is formed side by side. It is also possible to allow the head portion to mate with the corresponding groove 1022. In such a case, the moving wall member 1020 can be moved after removing only the head of the bolt 1030 from the circular groove 1022 without dismantling the bolt 1030 so that the time according to the standard conversion can be saved. do.

<제1실시예의 제2변형예>Second Modified Example of First Embodiment

도11에 따른 인서트(1100)는 이동벽부재(1120)에 이동벽부재(1120)의 이동방향으로 수직하게 길쭉한 볼트통과장공(1121)을 형성시키고, 인서트바디(1110)에는 이동벽부재(1120)의 이동방향과 0°보다 크고 90°보다 작은 각(θ)을 이루는 선상에 3개의 볼트체결홀(1111a 내지 1111c)을 형성시킨다.The insert 1100 according to FIG. 11 forms an elongated bolt passage hole 1121 in the moving direction of the movable wall member 1120 in the movable wall member 1120, and the movable wall member 1120 in the insert body 1110. Three bolting holes 1111a to 1111c are formed on a line that forms an angle θ of greater than 0 ° and less than 90 ° with the direction of movement.

도11은 현재 볼트(1130)가 부호 1111a의 볼트체결홀에 체결된 경우 안착공간(S)의 규격이 최소가 된 상태를 보이고 있으며, 도12는 도11과 같은 상태의 단면형상을 도시하고 있다. 도11 및 도12와 같은 상태에서 볼트(1130)가 부호 1111b 또는 1111c의 볼트체결홀에 체결되면 이동벽부재(1120)가 후방(안착공간과 반대방향)으로 후퇴하면서 안착공간(S)의 규격이 도11 및 도12의 상태에서 보다는 커지는 것을 알 수 있다.11 shows a state where the size of the seating space S is minimized when the bolt 1130 is fastened to the bolt fastening hole of 1111a, and FIG. 12 shows a cross-sectional shape as shown in FIG. . 11 and 12, when the bolt 1130 is fastened to the bolt fastening hole of 1111b or 1111c, the movable wall member 1120 retreats backward (in the opposite direction to the seating space), and the size of the seating space S is shown. It can be seen that this is larger than in the state of Figs. 11 and 12.

또, 위와 같은 제2변형예는 도13과 같은 구조로 응용될 수 있다.In addition, the second modification as described above may be applied to the structure as shown in FIG.

도13을 참조하면, 인서트바디(1310)에는 이동벽부재(1320)의 이동방향과 90°를 이루는 선상에 3개의 볼트체결홀(1311a 내지 1311c)이 나란히 형성되어 있고, 이동벽부재(1320)에는 이동벽부재(1320)의 이동방향과 0°보다 크고 90°보다 작은 각(θ)을 이루는 선상에 3개의 볼트체결홀(1311a 내지 1311c)에 대응하는 볼트통과공(1321a 내지 1321c)이 나란히 형성되어 있는데, 이 또한 위의 제2변형예와 동일한 원리에 의해서 안착공간(S)의 규격이 가변될 수 있음을 알 수 있다.Referring to FIG. 13, three bolt fastening holes 1311a to 1311c are formed side by side in the insert body 1310 along a line that forms a 90 ° direction of movement of the movable wall member 1320, and the movable wall member 1320. The bolt through holes 1321a to 1321c corresponding to the three bolt fastening holes 1311a to 1311c are arranged side by side on a line that forms an angle θ greater than 0 ° and less than 90 ° with the moving direction of the moving wall member 1320. Although it is formed, it can also be seen that the size of the seating space (S) can be changed by the same principle as the second modification.

한편, 제1실시예의 제1 및 제2변형예에서도 제1실시예와 마찬가지로 1개, 2개 또는 3개의 이동벽부재를 구성시키는 것, 인서트바디에 형성되는 구조와 이동벽부재에 형성되는 구조가 서로 바뀌는 것, 고정부재로써 볼트이외의 부재를 사용하는 것, 4개의 이동벽부재 중 일부에 래치구조를 포함하도록 구성하는 것, 이동벽부재가 인서트바디와 분리되지 않고 이동은 가능하게 형성시키는 것도 가능할 것이다.On the other hand, in the first and second modified examples of the first embodiment, as in the first embodiment, one, two or three moving wall members are formed, the structure formed on the insert body and the structure formed on the moving wall member. To be interchanged with each other, using non-bolt members as fastening members, configuring some of the four movable wall members to include a latch structure, and allowing the movable wall member to be movable without being separated from the insert body It would also be possible.

<제2실시예>Second Embodiment

도14는 본 고안의 제2실시예에 따른 인서트(1400)에 대한 저면도이고, 도15는 도14의 인서트(1400)를 I2-I2 선을 따라 절개한 후 A2 방향에서 바라본 단면도이다.FIG. 14 is a bottom view of the insert 1400 according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 15 is a cross-sectional view of the insert 1400 of FIG. 14 viewed from the A 2 direction after cutting along the line I 2 -I 2. to be.

도14 및 도15를 참조하여 보면, 본 고안의 제2실시예에 따른 인서트(1400)는 인서트바디(1410), 4개의 이동벽부재(1420) 및 위치결정판(1430) 등을 포함하여 구성된다.14 and 15, the insert 1400 according to the second embodiment of the present invention includes an insert body 1410, four moving wall members 1420, a positioning plate 1430, and the like. .

인서트바디(1410)는 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간(S)을 가지고 있으며, 이러한 안착공간(S)의 각 측방으로는 후술되는 이동벽부재(1420)가 안착된다.The insert body 1410 has a seating space S on which a semiconductor device can be seated. A moving wall member 1420 to be described below is seated on each side of the seating space S. FIG.

각각의 이동벽부재(1420)는 안착공간(S)의 일 측벽을 이루고 있으며, 안착공 간(S)의 각 측방에서 인서트바디(1410)에 안착 결합되도록 되어 있다. 또한 각각의 이동벽부재(1420)는 안착공간(S)을 향하여 이동 가능하게, 더 정확히는 안착공간(S) 방향으로 진퇴 가능하게 마련되며, 이동에 따라서 안착공간(S)의 규격을 가변시킬 수 있도록 되어 있다. 이러한 각 이동벽부재(1420)의 저면에는 도15에 도시된 바와 같이 끼움홈(1421)이 형성되어 있다.Each moving wall member 1420 forms one side wall of the seating space S, and is coupled to the insert body 1410 at each side of the seating space S. In addition, each movable wall member 1420 is provided to be movable toward the seating space (S), more precisely to be able to move forward and backward in the seating space (S), and can change the size of the seating space (S) according to the movement. It is supposed to be. A fitting groove 1421 is formed at the bottom of each of the movable wall members 1420 as shown in FIG. 15.

위치결정판(1430)은 복수의 이동벽부재(1420)들 간의 상대적인 위치를 결정하기 위한 위치결정부재로서, 이동벽부재(1420)에 형성된 끼움홈(1421)에 끼움될 수 있는 끼움돌기(1431)가 형성되어 있으며, 안착공간(S)을 하방으로 노출시키기 위한 노출홀(1432)이 형성되어 있다.The positioning plate 1430 is a positioning member for determining a relative position between the plurality of moving wall members 1420. The positioning plate 1430 may be fitted into the fitting groove 1421 formed in the moving wall member 1420. Is formed, and an exposure hole 1432 for exposing the seating space S downward is formed.

그리고 상기한 인서트바디(1410)에는 위치결정판(1430)이 이동벽부재(1420)에 결합된 상태에서 인서트바디에 고정될 수 있게 하는 복수의 고정장치(1411)가 구비되어 있다.In addition, the insert body 1410 includes a plurality of fixing devices 1411 for allowing the positioning plate 1430 to be fixed to the insert body in a state in which the positioning plate 1430 is coupled to the movable wall member 1420.

위와 같은 제2실시예에 따르면 위치결정판(1430)에 의해 복수의 이동벽부재(1420)들 간의 상대적인 위치가 결정되며, 복수의 고정장치(1411)에 의해 위치결정판(1430)이 인서트바디(1410)에 고정되기 때문에, 다른 규격, 보다 자세히는 끼움돌기(1431)의 위치가 다른 위치결정판(1430')을 사용함에 의해 안착공간(S)의 규격을 가변시킬 수 있게 된다.According to the second embodiment as described above, the relative position between the plurality of moving wall members 1420 is determined by the positioning plate 1430, and the positioning plate 1430 is inserted into the insert body 1410 by the plurality of fixing devices 1411. ), It is possible to vary the size of the seating space (S) by using a different positioning, more specifically, the positioning plate (1430 ') of the position of the fitting projection (1431) is different.

즉, 도15와 같은 상태에서 도15의 위치결정판(1430)에서 마주보는 끼움돌기(1431) 간의 거리(L)보다 더 큰 도16에서와 같은 끼움돌기(1431') 간의 거리(L', L' > L)를 가지는 위치결정판(1430')을 적용하게 되면, 도16에 도시된 바와 같이 안착공간(S)이 더욱 커지게 됨을 알 수 있다. 참고로, 본 실시예에서는 위치결정판(1430)이 고정장치(1411)에 의해 인서트바디(1410)에 고정되는 것으로 설명하였지만 실시하기에 따라서는 인서트바디 및 위치결정판에 끼움홈 및 끼움돌기를 형성시켜 상호 결합될 수 있게 하는 것도 가능하다. 또한, 본 실시예에서는 위치결정판(1430)에 끼움돌기(1431)가 구비되고 이동벽부재(1420)에 끼움홈(1421)이 구비되는 것으로 도시되고 있으나 실시하기에 따라서는 위치결정판에 끼움홈이 형성되고 이동벽부재에 끼움돌기가 형성되는 것도 얼마든지 고려될 수 있을 것이다.That is, the distances L ′ and L between the fitting protrusions 1431 ′ as in FIG. 16 are larger than the distance L between the fitting protrusions 1431 facing the positioning plate 1430 of FIG. 15 in the state as shown in FIG. 15. When the positioning plate 1430 having '> L) is applied, it can be seen that the seating space S becomes larger as shown in FIG. For reference, in the present embodiment, the positioning plate 1430 has been described as being fixed to the insert body 1410 by the fixing device 1411. According to the embodiment, fitting grooves and fitting protrusions are formed on the insert body and the positioning plate. It is also possible to allow them to be joined together. In addition, although the fitting protrusion 1431 is provided in the positioning plate 1430 and the fitting groove 1421 is provided in the movable wall member 1420 in the present embodiment, the fitting groove is provided in the positioning plate according to the embodiment. It is also possible to consider how much is formed and the fitting projection formed on the movable wall member.

<제2실시예의 제1변형예><First Modified Example of Second Embodiment>

도17에 따른 인서트(1700)는 위치결정판(1730)에 다수의 끼움홈(1731 내지 1733)이 나란히 형성되어 있고, 이동벽부재(1720)에는 끼움돌기(1721)가 형성된 것을 도시하고 있다.The insert 1700 according to FIG. 17 shows a plurality of fitting grooves 1731 to 1733 formed side by side in the positioning plate 1730, and a fitting protrusion 1721 is formed in the movable wall member 1720.

도17과 같은 변형예에 따르면 위치결정판(1730)의 교체 없이도 안착공간(S)의 규격을 가변시킬 수 있게 된다.According to a modification as shown in FIG. 17, the size of the seating space S can be changed without replacing the positioning plate 1730.

또한, 위치결정판에 끼움돌기가 형성되고, 이동벽부재에 다수의 끼움홈이 형성되는 구성도 가능하다.In addition, the fitting protrusion is formed in the positioning plate, and a plurality of fitting grooves are formed in the movable wall member.

<제2실시예의 제2변형예>Second Modified Example of Second Embodiment

도18은 위치결정부재로서 링(1830)이 적용된 것을 보여주고 있다.18 shows that the ring 1830 is applied as the positioning member.

복수의 이동벽부재(1820)에는 각각 끼움홈(1821)이 형성되어 있고, 링(1830) 은 복수의 이동벽부재(1820)에 형성된 끼움홈(1831)들에 일체로 끼움된다. 이러한 변형예의 경우 규격이 다른 링(1830)만 교체해줌으로써 안착공간(S)의 규격을 가변시킬 수 있게 된다.The plurality of moving wall members 1820 are formed with fitting grooves 1821, and the ring 1830 is integrally fitted with the fitting grooves 1831 formed in the plurality of moving wall members 1820. In this modified example, by changing only the ring 1830 having a different size, the size of the seating space S can be changed.

한편, 제2실시예와 제2실시예의 제1 및 제2변형예에서도 제1실시예와 비슷한 원리로 서로 마주보는 2개의 이동벽부재를 구성시키는 것, 4개의 이동벽부재 중 일부에 래치구조를 포함하도록 구성하는 것, 이동벽부재가 인서트바디와 분리되지 않고 이동은 가능하게 형성시키는 것도 가능할 것이다.On the other hand, in the first and second modifications of the second embodiment and the second embodiment, two moving wall members facing each other on a principle similar to that of the first embodiment, and a latch structure on a part of the four moving wall members To be configured to include, the moving wall member is not separated from the insert body it will also be possible to form the movement possible.

이상에서는 본 고안의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하였지만, 상술한 실시예는 본 고안의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 고안이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 고안의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.In the above described with reference to the accompanying drawings for a preferred embodiment of the present invention, but the above-described embodiment is only described as a preferred example of the present invention, it is understood that the present invention is limited to only the above embodiment The scope of the present invention should be understood as the claims and equivalent concepts described below.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 고안에 따르면, 안착공간의 일 측벽을 형성하는 이동부재가 이동된 상태에서 인서트바디에 고정될 수 있기 때문에 장치의 안정성이 담보되어 잼발생의 개연성을 억제시킬 수 있는 효과가 있다.As described in detail above, according to the present invention, since the movable member forming one side wall of the seating space can be fixed to the insert body in the moved state, the stability of the device is secured, and the effect of suppressing the probability of jam occurrence There is.

Claims (12)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간을 가지는 인서트바디; 및An insert body having a seating space in which the semiconductor device may be seated; And 상기 인서트바디에 결합되어 있거나 결합될 수 있도록 되어 있고, 일 측면이 상기 안착공간을 이루는 벽면이며, 상기 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시킬 수 있는 적어도 하나의 이동벽부재; 및At least one that is coupled to or can be coupled to the insert body, one side is a wall surface constituting the seating space, is provided to be movable toward the seating space to change the size of the seating space according to the movement Moving wall member; And 상기 이동벽부재가 이동된 위치에서 이동성이 상실될 수 있게 고정될 수 있도록 상기 이동벽부재를 상기 인서트바디에 고정시키는 고정부재; 를 포함하며,A fixing member for fixing the movable wall member to the insert body so that the movable wall member can be fixed to lose mobility in the moved position; Including; 상기 이동벽부재는 상기 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조; 를 포함하고,The movable wall member has a latch structure for maintaining a mounting state of the semiconductor device is mounted in the seating space; Including, 상기 인서트바디에는 볼트체결홀이 형성되어 있고,The insert body has a bolt fastening hole is formed, 상기 이동벽부재에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 0°의 각을 이루는 선상에 복수의 볼트통과공이 나란히 형성되어 있으며,The moving wall member has a plurality of bolt passing holes formed side by side on a line forming an angle of 0 ° with the moving direction of the moving wall member, 상기 고정부재는 상기 복수의 볼트통과공 중 어느 하나를 통과하여 상기 볼트체결홀에 체결될 수 있는 볼트인 것을 특징으로 하는The fixing member is a bolt that can be fastened to the bolt fastening hole by passing through any one of the plurality of bolt through holes. 테스트핸들러용 인서트.Insert for test handler. 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간을 가지는 인서트바디; 및An insert body having a seating space in which the semiconductor device may be seated; And 상기 인서트바디에 결합되어 있거나 결합될 수 있도록 되어 있고, 일 측면이 상기 안착공간을 이루는 벽면이며, 상기 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시킬 수 있는 적어도 하나의 이동벽부재; 및At least one that is coupled to or can be coupled to the insert body, one side is a wall surface constituting the seating space, is provided to be movable toward the seating space to change the size of the seating space according to the movement Moving wall member; And 상기 이동벽부재가 이동된 위치에서 이동성이 상실될 수 있게 고정될 수 있도록 상기 이동벽부재를 상기 인서트바디에 고정시키는 고정부재; 를 포함하며,A fixing member for fixing the movable wall member to the insert body so that the movable wall member can be fixed to lose mobility in the moved position; Including; 상기 이동벽부재는 상기 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조; 를 포함하고,The movable wall member has a latch structure for maintaining a mounting state of the semiconductor device is mounted in the seating space; Including, 상기 인서트바디에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 90°를 이루는 선상에 복수의 볼트체결홀이 형성되어 있고,The insert body has a plurality of bolted fastening holes are formed on a line forming a 90 ° to the moving direction of the movable wall member, 상기 이동벽부재에는 상기 이동벽부재의 이동방향과 0°보다 크고 90°보다 작은 각을 이루는 선상에 상기 복수의 볼트체결홀에 각각 대응되는 복수의 볼트통과공이 나란히 형성되어 있으며,The moving wall member has a plurality of bolt through holes respectively corresponding to the plurality of bolt fastening holes formed side by side on a line forming an angle greater than 0 ° and less than 90 ° with the moving direction of the moving wall member. 상기 고정부재는 상기 복수의 볼트통과공 중 어느 하나의 볼트통과공을 통과하여 상기 어느 하나의 볼트통과공에 대응하는 볼트체결홀에 체결될 수 있는 볼트인 것을 특징으로 하는The fixing member is a bolt that can be fastened to the bolt fastening hole corresponding to any one of the bolt through hole through the one through the bolt through hole of the plurality of bolt through holes. 테스트핸들러용 인서트.Insert for test handler. 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간을 가지는 인서트바디; 및An insert body having a seating space in which the semiconductor device may be seated; And 상기 인서트바디에 결합되어 있거나 결합될 수 있도록 되어 있고, 일 측면이 상기 안착공간을 이루는 벽면이며, 상기 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시킬 수 있는 적어도 하나의 이동벽부재; 및At least one that is coupled to or can be coupled to the insert body, one side is a wall surface constituting the seating space, is provided to be movable toward the seating space to change the size of the seating space according to the movement Moving wall member; And 상기 이동벽부재가 이동된 위치에서 이동성이 상실될 수 있게 고정될 수 있도록 상기 이동벽부재를 상기 인서트바디에 고정시키는 고정부재; 를 포함하며,A fixing member for fixing the movable wall member to the insert body so that the movable wall member can be fixed to lose mobility in the moved position; Including; 상기 이동벽부재는 상기 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조; 를 포함하고,The movable wall member has a latch structure for maintaining a seating state of the semiconductor device seated in the seating space; Including, 상기 인서트바디와 상기 이동벽부재의 각 접촉면에는 톱니가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는A tooth is formed in each contact surface of the insert body and the movable wall member. 테스트핸들러용 인서트.Insert for test handler. 삭제delete 삭제delete 반도체소자가 안착될 수 있는 안착공간을 가지는 인서트바디; 및An insert body having a seating space in which the semiconductor device may be seated; And 상기 인서트바디에 결합되어 있거나 결합될 수 있도록 되어 있고, 일 측면이 상기 안착공간을 이루는 벽면이며, 상기 안착공간을 향하여 이동 가능하게 마련됨으로써 이동에 따라 상기 안착공간의 규격을 가변시킬 수 있는 복수의 이동벽부재; 및Is coupled to the insert body or can be coupled, one side is a wall surface constituting the seating space, is provided to be movable toward the seating space is a plurality of that can vary the size of the seating space according to the movement Moving wall member; And 상기 인서트바디에 고정되며, 상기 복수의 이동벽부재들 간의 상대적 위치를 결정하는 위치결정부재; 를 포함하며,A positioning member fixed to the insert body and determining a relative position between the plurality of movable wall members; Including; 상기 복수의 이동벽부재들 중 적어도 하나는 상기 안착공간에 안착되는 반도체소자의 안착상태를 유지시키는 래치구조; 를 포함하고,At least one of the plurality of movable wall members may include a latch structure for maintaining a seating state of a semiconductor device seated in the seating space; Including, 상기 복수의 이동벽부재들 각각에는 적어도 하나의 끼움홈 또는 끼움돌기가 형성되어 있고,At least one fitting groove or fitting protrusion is formed in each of the plurality of movable wall members. 상기 위치결정부재는 상기 복수의 이동벽부재들에 형성된 다수의 끼움홈 또는 끼움돌기에 대응되는 다수의 끼움돌기 또는 끼움홈이 형성되어 있으며, 상기 안착공간을 노출시키기 위한 노출홀이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는The positioning member is formed with a plurality of fitting protrusions or fitting grooves corresponding to the plurality of fitting grooves or fitting protrusions formed in the plurality of movable wall members, the exposure hole for exposing the seating space is formed Characterized 테스트핸들러용 인서트.Insert for test handler. 삭제delete 삭제delete
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101532952B1 (en) * 2010-06-23 2015-07-01 (주)테크윙 Method for unloading semiconductor device in testhandler
KR102096906B1 (en) * 2018-12-26 2020-05-28 선테스트코리아 주식회사 Automatic test machine for burn-in board
KR102193725B1 (en) * 2019-12-31 2020-12-21 (주)마이크로컨텍솔루션 Test socket
KR102213076B1 (en) * 2020-01-07 2021-02-08 (주)마이크로컨텍솔루션 Test socket

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103785619A (en) * 2012-10-26 2014-05-14 泰克元有限公司 Insert for test sorting machine
CN103785619B (en) * 2012-10-26 2017-03-01 泰克元有限公司 Testing, sorting machine plug-in unit

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