KR20030054799A - 액정표시장치용 액정셀의 제조공정 - Google Patents

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Abstract

본 발명에서는, 제 1 영역과 제 1 영역의 주변부인 제 2 영역을 가지며, 상기 제 1 영역 상에 위치하는 적어도 하나 이상의 액정셀과; 상기 제 2 영역의 코너 컷(corner cut)부에 위치하며, 공통 단자, 게이트 단자, 데이터 단자로 이루어진 보조 검사 단자를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판을 제공하므로써, 첫째, 원장 기판 상태에서 전압 인가 및 외관 검사가 가능하므로, 불량의 조기 검출이 가능하여 추가적인 불량 발생을 예방할 수 있고, 둘째, 셀 단위 절단 공정 전에, 검사 공정을 수행하므로 리워크 공정을 통한 리페어 공정이 가능해지는 장점을 가진다.

Description

액정표시장치용 액정셀의 제조공정{Manufacturing Process of Liquid Crystal Cell for Liquid Crystal Display Device}
본 발명은 액정표시장치용 액정셀의 제조공정에 관한 것으로, 특히 액정셀 검사공정에 관한 것이다.
최근에 액정표시장치는 소비전력이 낮고, 휴대성이 양호한 기술집약적이며 부가가치가 높은 차세대 첨단 디스플레이(display)소자로 각광받고 있다.
이러한 액정표시장치 중에서도, 각 화소(pixel)별로 전압의 온/오프를 조절할 수 있는 스위칭 소자인 박막트랜지스터가 구비된 액티브 매트릭스형 액정표시장치가 해상도 및 동영상 구현능력이 뛰어나 가장 주목받고 있다.
일반적으로, 액정표시장치는 박막트랜지스터 및 화소 전극을 형성하는 어레이 기판 제조 공정과 컬러필터 및 공통 전극을 형성하는 컬러필터 기판 제조 공정을 통해, 각각 어레이 기판 및 컬러필터 기판을 형성하고, 이 두 기판 사이에 액정을 개재하는 액정셀 공정을 거쳐 완성된다.
상기 액정셀 공정은 어레이 공정이나 컬러필터 공정에 비해 상대적으로 반복되는 공정이 거의 없는 것이 특징이라고 할 수 있다. 전체 공정은 액정 분자의 배향을 위한 배향막 형성공정과 셀 갭(cell gap) 형성공정, 합착 공정, 셀 절단(cutting) 공정, 액정주입 공정, 검사 공정으로 크게 나눌 수 있다.
도 1은 종래의 액정표시장치용 액정셀 기판에 대한 평면도로서, 액정표시장치의 검사공정을 위한 전압인가 구조를 중심으로 도시하였다.
상기 액정셀은 합착 기판을 셀 단위로 절단한 후, 진공 주입법에 의해 액정을 주입 및 봉지한 다음 검사공정이 진행되는 액정셀에 관한 것이다.
도시한 바와 같이, 화면을 구현하는 영역으로 정의되는 액티브 영역(I ; active area) 및 액티브 영역(I)의 외곽부인 비액티브 영역(II)으로 이루어진 어레이 기판(10)과, 어레이 기판(10)의 액티브 영역(I)과 대응된 위치에 컬러필터 기판(12)이 배치되어 있고, 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(12) 사이에는 액정층(14)이 개재되어 있다.
상기 비액티브 영역(II)은 한 예로 좌측 외곽부인 제 1 비액티브 영역(IIa)과 상측 외곽부인 제 2 비액티브 영역(IIb)으로 이루어지며, 제 1, 2 비액티브 영역(IIa, IIb) 상에는 외부회로와 연결되는 게이트 및 데이터 패드(16, 18)가 각각 형성되어 있고, 제 1, 2 비액티브 영역(IIa, IIb)의 가장자리에 위치하는 더미(dummy) 영역에는 액정셀의 검사공정에 이용되는 제 1, 2 검사용 단자 그룹(24, 30)이 각각 형성되어 있다.
제 1 검사용 단자 그룹(24)은 게이트 단자(20) 및 제 1 공통 단자(22)로 구성되고, 제 2 검사용 단자 그룹(30)은 데이터 단자(26) 및 제 2 공통 단자(28)로 구성된다.
좀 더 상세하게 설명하면, 상기 게이트 및 데이터 단자(20, 26)는 비표시 영역(II)의 외곽부에 위치하는 쇼팅바(미도시)에서 인출된 단자로써, 검사공정을 위해 홀수번째 배선을 묶는 홀수번째 게이트 및 데이터 단자(20a, 26a)와 짝수번째 배선을 묶는 짝수번째 게이트 및 데이터 단자(20b, 26b)로 이루어진다.
그리고, 상기 제 1, 2 공통 단자(22, 28)는 공통 신호를 컬러필터 기판(12)의 공통 전극(미도시)에 인가하기 위한 단자로 이용된다.
이와 같이, 기존의 액정셀 공정에서는 합착 기판을 셀 단위로 절단한 후 진공 주입법에 의해 액정셀을 제작하는 방법으로서, 이러한 액정셀 공정에서의 검사공정이란 셀 단위로 제 1, 2 기판에 전압을 인가하여 선 결함(line defect), 점 결결함(point defect), 오염 얼룩과 같은 불량이 검출하거나 또는 액정의 배열이 제대로 제어되지 않는 영역에서 발생되는 도메인(domain) 불량 요인을 전압의 세기로 리페어하는 공정이 가능하다.
그리고, 이러한 액정셀은 상, 하 외부면에 편광판을 부착한 후, 시야각을 조정하여 셀 내의 이물이나 얼룩을 육안으로 검사하는 외관 검사가 가능하다.
그러나, 단위셀 단위로 검사공정을 진행하는 경우에는 다음과 같은 문제점이 있다.
첫째, 단위셀로 절단한 다음 액정 주입 및 봉지 후 검사공정이 이어지므로, 제품 불량의 조기 검출이 어렵다.
둘째, 검사공정 전 셀 단위 절단 공정 중에 액정셀 공정을 위한 얼라인 키(예를 들면, 배향막 인쇄키, 씰 패턴 인쇄키, 합착키 등)가 절단되기 때문에 리워크 공정을 통한 리페어가 어렵다.
세째, 단위셀 검사 공정 전에 진행되는 진공 주입법에 의한 액정 주입 공정에서는, 고진공 챔버에서 장시간의 공정이 요구되므로 액정셀 공정 효율이 떨어지는 단점이 있다.
상기 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명에서는 액정 적하 후, 합착 공정을 진행할 수 있는 액정적하 방식을 이용하여, 합착 기판을 셀 단위로 절단하지 않고 원장 상태에서 조기 불량 검출을 하여 생산수율이 향상된 액정표시장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
기존의 진공주입법에 의해 액정주입시에는 액정 주입구를 가지는 씰 패턴을 형성 후, 두 기판의 합착 후 액정 주입구를 통해 모세관 현상을 이용하여 고진공챔버내에서 액정을 주입하는 방법이었으나, 액정적하 방식에서는 별도의 액정 주입구가 생략된 씰 패턴내에 액정을 적하한 후, 합착 공정을 진행하는 방식으로 진공주입법에 의한 액정 주입공정보다 공정 소요시간을 훨씬 줄일 수 있어 공정효율이 향상되는 장점을 가진다.
도 1은 종래의 액정표시장치용 액정셀 기판에 대한 평면도.
도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치용 액정셀 공정을 단계별로 나타낸 공정 흐름도.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 보조 검사 단자를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판에 대한 평면도.
도 4는 상기 도 3의 "V" 영역에 대한 확대도.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 보조 검사 단자를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판에 대한 평면도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
110 : 원장 기판 110a : 제 1 원장 기판
110b : 제 2 원장 기판 IVa, IVb : 상부, 하부 코너 컷 영역
116 : 게이트 단자 118 : 제 1 공통 단자
120 : 제 1 보조 검사 단자 122 : 데이터 단자
124 : 제 2 공통 단자 126 : 제 2 보조 검사 단자
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제 1 특징에서는 제 1 영역과 제 1 영역의 주변부인 제 2 영역을 가지며, 상기 제 1 영역 상에 위치하는 적어도 하나 이상의 액정셀과; 상기 제 2 영역의 코너 컷(corner cut)부에 위치하며, 공통 단자, 게이트 단자, 데이터 단자로 이루어진 보조 검사 단자를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판을 제공한다.
상기 액정셀은 공통 전극을 포함하는 제 1 기판과, 게이트 및 데이터 배선을 포함하는 제 2 기판과, 상기 제 1, 2 기판 사이에 개재된 액정층으로 이루어지는 것이며, 상기 액정층은 적하방식에 의해 이루어진 것을 특징으로 한다.
상기 게이트 및 데이터 단자는 게이트 및 데이터 배선과 각각 연결되고, 상기 공통 단자는 공통 전극과 연결되는 것이며, 상기 게이트 및 데이터 단자는 홀수번째 배선과 연결되는 홀수번째 게이트 및 데이터 단자 및 짝수번째 배선과 연결되는 짝수번째 게이트 및 데이터 단자이고, 상기 게이트 및 데이터 배선과 게이트 및 데이터 단자를 연결하는 중간부분에 게이트 및 데이터 쇼팅바를 더욱 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 코너 컷부는 동일 방향으로 상, 하 관계를 가지는 제 1, 2 코너 컷부로 이루어지며, 상기 보조 검사 단자는 제 1 코너 컷부에 위치하는 공통 단자와, 제 2 코너 컷부에 위치하는 게이트 및 데이터 단자로 이루어진 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 공통 단자는 공통 전극에서 인출된 단자인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 2 특징에서는, 제 1 영역과, 상기 제 1 영역의 주변부를 이루는 제 2 영역으로 이루어지며, 상기 제 1 영역에 적어도 하나 이상의 셀을 가짐에 있어서, 공통 전극을 포함하는 셀을 가지는 제 1 기판과, 게이트 및 데이터 배선을 포함하는 셀을 가지는 제 2 기판을 구비하는 단계와; 상기 제 2 영역의 코너 컷부에 게이트, 데이터, 공통 단자를 포함하는 보조 검사 단자를 형성하는 단계와; 상기 제 1, 2 기판 상에 배향막을 각각 형성하는 단계와; 상기 배향막이 형성된 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판에 씰 패턴 및 스페이서를 형성하는 단계와; 상기 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판 상에 액정을 적하하는 단계와; 상기 액정이 적하된 기판과 또 하나의 기판을 서로 합착하는 단계와; 상기 합착 기판을 보조 검사 단자를 통하여 보조 검사하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 공정을 제공한다.
상기 보조 검사 단계 이후에는, 상기 합착 기판을 셀 단위로 절단하는 단계와, 상기 합착 기판을 주 검사하는 단계를 포함하며, 상기 코너 컷부는 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판의 모서리부를 노출시키는 영역으로, 상기 제 2 기판의 모서리부를 노출시키는 코너 컷부에 보조 검사 단자가 형성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 보조 검사 공정은 직류 전압을 인가하는 온/오프 검사 장치를 이용하여 이루어지는 공정인 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치용 액정셀 공정을 단계별로 나타낸 공정 흐름도이다.
ST1에서는, 제 1, 2 기판을 초기세정하는 단계로서, 배향막을 도포하기 전에 기판 상에 존재할 수 있는 이물질을 제거하기 위한 단계이다.
상기 제 1, 2 기판은 컬러필터 및 어레이 공정을 거쳐 형성된 기판으로, 한 예로 상기 제 1 기판은 어레이 기판이고, 제 2 기판은 컬러필터 기판이다.
특히, 본 발명에 따른 제 1, 2 기판에는 예비 검사 공정을 위한 보조 검사단자를 형성하는 것을 특징으로 한다. 상기 보조 검사단자가 형성되는 위치는 셀 영역 사이 더미(dummy) 영역인 것을 특징으로 한다.
전술한 보조 검사단자에 대해서는 별도의 도면을 참조하여 후술하기로 한다.
ST2에서는, 세정 단계를 거친 제 1, 2 기판 상에 배향막을 각각 형성하는 단계로서, 제 1, 2 기판 상에 고분자 박막으로 이루어진 배향막을 인쇄하는 단계와, 인쇄된 배향막을 예비 건조기와 경화로를 거쳐 소성처리하는 단계와, 상기 소성처리된 배향막의 표면을 러빙(rubbing)처리하는 단계를 포함한다.
상기 러빙처리 공정은, 러빙포를 이용하여 배향막을 일정한 방향으로 문질러주는 것으로, 러빙방향에 따라 액정 분자들이 정렬하게 된다.
ST3에서는 상기 ST2 단계를 거친 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판 상에 셀 단위로 씰 패턴(seal pattern)을 형성하고, 스페이서(spacer)를 산포하는 단계이다.
상기 씰 패턴은 액정 형성을 위한 갭을 형성하고, 형성된 액정의 누설을 방지하는 두 가지 기능을 한다.
이 씰 패턴은 유리섬유(glass fiber)가 섞인 열경화성 수지로 이루어진 실런트(sealant)를 일정하게 원하는 패턴으로 형성하는 공정으로써, 주로 스크린 인쇄법에 의해 형성된다.
기판이 대형화됨에 따라 열경화성 수지외에 광경화성 수지를 사용할 수 있다.
그리고, 상기 스페이서는 상부 및 하부 기판 사이의 갭을 정밀하고 균일하게 유지하여, 상기 기판 상에 균일한 밀도로 산포되어야 되고, 산포 방식은 크게 알코올 등에 스페이서를 혼합하여 분사하는 습식 산포법과 스페이서 만을 산포하는 건식 산포법으로 나눌 수 있다.
상기 스페이서는 볼 스페이서외에 기판이 대형화됨에 따라 셀갭 조절에 어려운 점을 해결하기 위해 패턴드 스페이서(patterned spacer)를 사용할 수 있다.
한 예로, 상기 씰 패턴 및 스페이서 산포는 컬러필터 기판인 제 2 기판 상에 형성된다.
ST4에서는, 씰 패턴 및 스페이서가 산포된 제 2 기판 상에 적하방식에 의해 액정을 형성하는 단계로서, 통상적인 진공 챔버내에 상기 제 2 기판을 안치하는 단계와, 상기 제 2 기판의 셀 단위 씰 패턴 내부에 액정을 적하하는 단계이다.
특히, 액정 적하 단계에서는 별도의 고진공 챔버를 구비하지 않아도 된다는 점과, 모세관 현상을 이용하는 것이 아니므로 공정 시간을 상당히 줄일 수 있다.
ST5에서는, 액정을 적하한 후 제 1, 2 기판을 합착시키는 단계로서, 두 기판의 합착 정도는 두기판의 설계시 주어지는 합착 마진(margin)에 의해 결정되는 것으로 보통 수 마이크로미터(㎛)정도의 정밀도가 요구된다.
이 단계에서는, 액정이 적하된 제 2 기판 상에, 제 1 기판을 대향되게 배치한 후, 가압하여 제 2 기판 상의 여분의 액정을 배출함과 동시에 두 기판을 열처리 및 씰 패턴의 경화를 통해 합착시키는 단계이다.
ST6에서는, 합착 기판 상태로 보조 검사공정을 실시하는 단계이다.
이 단계에서는 액정셀 공정 중 조기 불량 검출을 통해 불량 발생원인을 신속히 파악하여, 제품 불량률을 감소시키는 것을 목적으로 한다.
상기 보조 검사 공정에서는 합착 기판의 더미 영역에 형성된 보조 검사 단자를 통해 액정셀에 전압을 인가하면서 육안관측 또는 현미경 관측을 통해 진행된다.
이 보조 검사 공정에서는 액정셀에 나타날 수 있는 이물에 의한 불량, 박막 트랜지스터 소자 불량에 의한 점 결함, 게이트 및 데이터 배선의 단선에 의한 선 결함 또는 셀 두께가 부분적으로 달라짐에 의한 광학 특성의 결함 등의 검사가 가능하다.
그리고, 상기 보조 검사 공정은 직류전압을 이용하는 온/오프(on/off) 검사를 이용하는 검사 공정으로 하는 것이 바람직하다.
ST7에서는, 보조 검사 공정을 거친 기판을 셀 단위로 절단하는 단계이다.
셀 단위 절단 공정은, 합착된 기판의 양면을 유리보다 경도가 높은 다이아몬드 재질의 펜 또는 텅스텐 카바이드(Tungsten Carbide) 재질의 커팅휠(cutting wheel)을 이용하여 기판 표면에 절단선을 형성하는 스크라이브(scribe)공정과, 상기 절단선에 힘을 가하여 개개의 셀로 분리하는 브레이크(break)공정으로 이루어진다.
ST8 단계에서는 액정셀에 대한 주 검사 공정 단계이다.
상기 주 검사 공정은 기존의 검사 공정을 적용할 수 있으며, 상기 ST6에서의 보조 검사 공정 보다 종합적이고 정밀한 검사 공정이 요구되는 것으로, 교류전압을 인가하는 방식의 오토 프로브(auto probe) 검사로 이루어지며, 이 주 검사 공정을 겨쳐 양품의 액정셀을 선별하게 된다.
검사 공정 후에는 쇼팅바를 잘라내는 그라인딩(grinding) 공정이 포함된다.
다음, 상술한 단계를 모두 거친 액정셀은 품질검사를 통해 선별된 액정셀의 외측에 각각 편광판을 부착한 후 구동회로를 연결하면 액정표시장치가 완성된다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
<실시예 1>
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 보조 검사 단자를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판에 대한 평면도로서, 한 예로 원장 기판내 두 개의 셀이 배치되는 구조를 도시하였다.
도시한 바와 같이, 원장 기판(110)은 하부 기판인 제 1 원장 기판(110a)과, 제 1 원장 기판(110a)과 대응되게 배치된 상부 기판인 제 2 원장 기판(110b)으로 이루어지고, 이 제 1, 2 원장 기판(110a, 110b)은 서로 동일 방향에서 상, 하 엇갈린 위치에 상부 및 하부 코너 컷(corner cut) 영역(IVa, IVb)을 가지는 것을 특징으로 한다. 상기 상부 및 하부 코너 컷 영역(IVa, IVb)은 다수 개의 공정을 진행함에 있어서, 기판의 진행방향을 나타내는 목적으로 형성된다.
상기 상부 코너 컷 영역(IVa)은 제 1 원장 기판(110a)의 내부 모서리부를 노출시키는 영역이고, 하부 코너 컷 영역(IVb)은 제 2 원장 기판(110b)의 외부 모서리부를 노출시키는 영역이 된다.
본 실시예에서는, 상기 하부 코너 컷 영역(IVb)에 제 1, 2 보조 검사 단자(120, 126)가 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.
좀 더 상세히 설명하면, 제 1 보조 검사 단자(120)는 게이트 단자(116) 및 제 1 공통 단자(118)로 이루어지며, 제 2 보조 검사 단자(126)는 데이터 단자(122)및 제 2 공통 단자(124)로 이루어진다.
본 발명에 따른 보조 검사 단자와 액정셀과의 연결관계의 한 예에 대해서 도면을 참조하여 설명한다.
도 4는 상기 도 3의 "V 영역"에 대한 확대 도면으로서, 제 1 원장 기판(110a)에 형성된 어레이 기판과 보조 검사 단자 간의 연결구조를 중심으로 도시하였다.
도시한 바와 같이, 제 1 원장 기판(110a)내의 제 2 액정셀(114)은 제 1 영역(VIa)과 제 1 영역(VIa)의 주변부인 제 2 영역(VIb)으로 이루어지는데, 제 1 영역(VIa)은 액티브 영역 및 비 액티브 영역으로 이루어지고, 제 2 영역(VIb)은 검사 공정을 거친 후 절단되는 영역에 해당된다.
상기 제 1 영역(VIa)에는 제 1 방향으로 다수 개의 게이트 배선(128)이 형성되어 있고, 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로는 다수 개의 데이터 배선(130)이 형성되어 있으며, 게이트 및 데이터 배선(128, 130)의 제 2 영역(VIb)과 근접한 끝단부에는 게이트 및 데이터 패드(132, 134)가 각각 형성되어 있다. 그리고, 게이트 및 데이터 패드(132, 134)는 제 2 영역(VIb)에 형성된 게이트 및 데이터 쇼팅바(136, 138)를 통해 홀수번째 배선(140, 144)과 짝수번째 배선(142, 146)끼리 묶여져 있다.
그리고, 제 2 방향으로 게이트 및 데이터 배선(128, 130)과 독립적으로 제 1, 2 공통 배선(148, 150)이 형성되어 있고, 제 1, 2 공통 배선(148, 150)의 끝단부에는 제 1, 2 공통 패드(152, 154)가 형성되어 있다. 그리고, 이 제 1, 2 공통배선(148, 150)에는 다수 개의 Ag 도트(156)가 형성되어 있어, 미도시한 제 2 원장 기판내의 컬러필터 기판과 전기적으로 연결되도록 하는 역할을 한다.
그리고, 게이트 및 데이터 단자(116, 122)는 게이트 및 데이터 쇼팅바(136, 138)와 각각 연결되고, 제 1, 2 공통 패드(152, 154)는 제 1, 2 공통 단자(118, 124)와 각각 연결된다. 좀 더 상세히 설명하면, 게이트 및 데이터 쇼팅바(136, 138)에서의 홀수번째 배선(140, 144)은 홀수번째 게이트 및 데이터 단자(116a, 122a)와 연결되고, 짝수번째 배선(142, 146)은 짝수번째 게이트 및 데이터 단자(116b, 122b)와 연결구성된다.
즉, 게이트 및 데이터 단자(116, 122)를 통해 게이트 및 데이터 배선(128, 130)에 게이트 및 데이터 신호가 인가함에 있어서, 한 예로 중간 레벨의 그레이(gray) 신호를 인가할 수 있으며, 제 1, 2 공통 단자(118, 124)를 통해 공통 신호를 제 1, 2 공통 패드(152, 154)에 인가하여 제 1, 2 액정셀(112, 114)이 동시에 온/오프 검사가 가능하게 한다.
이 온/오프 검사를 통해서는 선 결함 또는 점 결함 불량이나, 액정층의 배열 특성에 따른 도메인 불량, 배향 얼룩, 오염 얼룩 불량 등을 검출할 수 있다.
그리고, 도면으로 제시하지는 않았지만 또 다른 액정셀도 상기 보조 검사 단자와 연결관계를 갖거나, 또는 별도의 보조 검사 단자를 구성할 수도 있다.
<실시예 2>
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 보조 검사 단자를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판에 대한 평면도이다.
도시한 바와 같이, 본 실시예에서는 보조 검사 단자를 구성함에 있어서, 상부 코너 컷 영역(IVa)에는 제 1, 2 공통 단자(210a, 210b)를 형성하고, 하부 코너 컷 영역(IVb)에 게이트 및 데이터 단자(212, 214)를 각각 형성하는 것을 특징으로 한다.
상기 게이트 및 데이터 단자(212, 214)는 홀수번째 게이트 및 데이터 단자(212a, 214a)와 짝수번째 게이트 및 데이터 단자(212b, 214b)로 이루어진다.
본 실시예에서는 제 1, 2 공통 단자(210a, 210b)를 구성함에 있어서, 제 2 원장 기판(110b)내에 위치하는 공통 전극이 형성된 기판에서 인출되어 구성되는 것을 특징으로 한다. 이때, 제 1, 2 액정셀(112, 114)의 두 기판은 Ag 도트를 통해 전기적으로 연결구성되는 것은 제 1 실시예와 동일하다.
그러나, 본 발명에 따른 보조 검사 단자는 상기 실시예들로 한정되지 않고, 본 발명의 취지에 어긋나지 않는 한도 내에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.
이와 같이 본 발명에 따른 보조 검사 단자를 포함하는 액정셀 공정에 의하면 다음과 같은 효과를 가진다.
첫째, 원장 기판 상태에서 전압 인가 및 외관 검사가 가능하므로, 불량의 조기 검출이 가능하여 추가적인 불량 발생을 예방할 수 있다.
둘째, 셀 단위 절단 공정 전에, 검사 공정을 수행하므로 리워크 공정을 통한 리페어 공정이 가능해진다.

Claims (12)

  1. 제 1 영역과 제 1 영역의 주변부인 제 2 영역을 가지며, 상기 제 1 영역 상에 위치하는 적어도 하나 이상의 액정셀과;
    상기 제 2 영역의 코너 컷(corner cut)부에 위치하며, 공통 단자, 게이트 단자, 데이터 단자로 이루어진 보조 검사 단자
    를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 액정셀은 공통 전극을 포함하는 제 1 기판과, 게이트 및 데이터 배선을 포함하는 제 2 기판과, 상기 제 1, 2 기판 사이에 개재된 액정층으로 이루어지는 것인 액정표시장치용 액정셀 기판.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 액정층은 적하방식에 의해 이루어진 것인 액정표시장치용 액정셀 기판.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 게이트 및 데이터 단자는 게이트 및 데이터 배선과 각각 연결되고, 상기 공통 단자는 공통 전극과 연결되는 것인 액정표시장치용 액정셀 기판.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 게이트 및 데이터 단자는 홀수번째 배선과 연결되는 홀수번째 게이트 및 데이터 단자 및 짝수번째 배선과 연결되는 짝수번째 게이트 및 데이터 단자인 액정표시장치용 액정셀 기판.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 게이트 및 데이터 배선과 게이트 및 데이터 단자를 연결하는 중간부분에 게이트 및 데이터 쇼팅바를 더욱 포함하는 액정표시장치용 액정셀 기판.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 코너 컷부는 동일 방향으로 상, 하 관계를 가지는 제 1, 2 코너 컷부로 이루어지며, 상기 보조 검사 단자는 제 1 코너 컷부에 위치하는 공통 단자와, 제 2 코너 컷부에 위치하는 게이트 및 데이터 단자로 이루어진 것인 액정표시장치용 액정셀 기판.
  8. 제 2 항 또는 제 7 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 공통 단자는 공통 전극에서 인출된 단자인 액정표시장치용 액정셀 기판.
  9. 제 1 영역과, 상기 제 1 영역의 주변부를 이루는 제 2 영역으로 이루어지며, 상기 제 1 영역에 적어도 하나 이상의 셀을 가짐에 있어서, 공통 전극을 포함하는 셀을 가지는 제 1 기판과, 게이트 및 데이터 배선을 포함하는 셀을 가지는 제 2 기판을 구비하는 단계와;
    상기 제 2 영역의 코너 컷부에 게이트, 데이터, 공통 단자를 포함하는 보조 검사 단자를 형성하는 단계와;
    상기 제 1, 2 기판 상에 배향막을 각각 형성하는 단계와;
    상기 배향막이 형성된 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판에 씰 패턴 및 스페이서를 형성하는 단계와;
    상기 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판 상에 액정을 적하하는 단계와;
    상기 액정이 적하된 기판과 또 하나의 기판을 서로 합착하는 단계와;
    상기 합착 기판을 보조 검사 단자를 통하여 보조 검사하는 단계
    를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 공정.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 보조 검사 단계 이후에는, 상기 합착 기판을 셀 단위로 절단하는 단계와, 상기 합착 기판을 주 검사하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 액정셀 공정.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 코너 컷부는 제 1, 2 기판 중 어느 한 기판의 모서리부를 노출시키는 영역으로, 상기 제 2 기판의 모서리부를 노출시키는 코너 컷부에 보조 검사 단자가 형성되는 것인 액정표시장치용 액정셀 공정.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 보조 검사 공정은 직류 전압을 인가하는 온/오프 검사 장치를 이용하여 이루어지는 공정인 액정표시장치용 액정셀 공정.
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