KR20060102145A - 액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법 - Google Patents

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KR20060102145A
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Abstract

본 발명은 액정표시소자의 기판 합착공정 이후, 액정패널 내부의 이물질에 의한 휘점을 리페어하는 방법을 제안하고자 하는바, 이물질에 의해 휘점불량부가 발생한 부위에 복수개의 레이저 장비를 여러 각도로 위치시키고 초점을 일치시켜 레이저빔을 조사함으로써 휘점 불량부를 흑화시켜 이물질 주변에서의 빛샘에 의한 휘점불량을 원천적으로 제거하고자 하는 액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법에 관한 것으로, 제 1 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 단계와, 상기 제 1 기판과의 사이에 액정층을 두고 제 2 기판을 대향합착하여 액정패널을 형성하는 단계와, 상기 액정패널의 휘점 불량 유무를 검사하는 단계와, 상기 휘점불량부에 초점이 맞춰지도록 복수개의 레이저 장비를 배치하고 레이저빔을 조사하여 상기 휘점 불량부를 흑화시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
휘점, 이물질, 레이저 리페어

Description

액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법{Liquid Crystal Display Device And Method For Repairing Bright Spot Of The Same}
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 의한 휘점 리페어 과정을 나타낸 공정단면도.
도 2는 본 발명의 제 2 실시예에 의한 휘점 리페어 과정을 나타낸 공정단면도.
도 3은 본 발명의 제 3 실시예에 의한 휘점 리페어 과정을 나타낸 공정단면도.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 제 4 실시예에 의한 휘점 리페어 과정을 나타낸 공정단면도.
*도면의 주요 부분에 대한 부호설명
11 : 제 1 기판 12 : 제 2 기판
13 : 액정층 13a : 액정분자
21 : 블랙 매트릭스 22 : 컬러필터층
23 : 오버코트층 30 : 이물질
50 : 흑화영역 L1,L2,L3 : 레이저 장비
본 발명은 액정표시소자(LCD ; Liquid Crystal Display Device)에 관한 것으로, 특히 액정셀 내부의 이물질에 의해 발생하는 휘점불량을 제거하고자 하는 액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법에 관한 것이다.
최근, 계속해서 주목받고 있는 평판표시소자 중 하나인 액정표시소자는 액체의 유동성과 결정의 광학적 성질을 겸비하는 액정에 전계를 가하여 광학적 이방성을 변화시키는 소자로서, 종래 음극선관(Cathode Ray Tube)에 비해 소비전력이 낮고 부피가 작으며 대형화 및 고정세가 가능하여 널리 사용되고 있다.
이러한 특성을 갖는 액정표시소자는 상부기판인 컬러필터(color filter) 기판과 하부기판인 TFT(Thin Film Transistor) 어레이 기판이 서로 대향되도록 합착되고, 그 사이에 유전 이방성을 갖는 액정층이 형성되는 구조로 구비되어, 화소 선택용 어드레스(address) 배선을 통해 수십 만개의 화소에 부가된 박막트랜지스터(TFT)를 스위칭 동작시켜 해당 화소에 전압을 인가해 주는 방식으로 구동된다.
상기와 같은 액정표시소자를 제조하기 위해서는, 크게 박막트랜지스터 어레이 기판 공정, 컬러필터 기판 공정, 액정셀 공정 등을 수행하여야 한다.
상기 박막트랜지스터 어레이 기판 공정은 증착(deposition) 및 포토리소그래피(photolithography), 식각(etching) 공정을 반복하여 유기 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 공정이다.
그리고, 상기 컬러 필터 기판 공정은 블랙 매트릭스(black matrix)가 형성된 유기 기판 상에 일정한 순서로 배열되어 색상을 구현하는 적(Red), 녹(Green), 청(Blue)의 컬러필터층을 제작한 후, 공통전극용 ITO막을 형성하는 공정이다.
또한, 액정셀 공정은 박막 트랜지스터 어레이 기판과 컬러필터 어레이 기판 사이에 일정한 틈이 유지되도록 합착한 후, 그 틈 사이로 액정을 주입하여 액정층을 형성하는 공정이다.
이때, 상기 액정셀 공정 이전에 박막트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 기판 상의 각종 회로 패턴의 동작상태를 테스트하고 불량화소를 검출하기 위해 테스트 공정을 수행한다.
화소의 불량에는 화소영역 별 색상 불량, 항상 백색을 표시하는 휘점 불량, 항상 블랙을 표시하는 암점 불량 등의 포인트 디펙트(point defect)와, 인접한 데이터 배선 간의 단락으로 인해 발생하는 라인 디펙트(line defect) 등이 있다.
이 때, 포인트 디펙트가 발견되면 레이저 리페어 기술을 이용해서 배선을 단선화시킴으로써 포인트 디펙트가 발견된 단위 화소를 암점화시키는 리페어 과정을 수행하여 제품을 양품화시킨다.
즉, 레이저 장비를 이용하여 배선을 단락시켜 플로팅시킴으로써 화소전극에 데이터 신호가 인가되지 않도록 하여 해당 화소를 암점화시키는 것이다.
하나의 단위 화소에 불량이 발생할 경우, 그 점이 암점(흑)이면 주위 화소가 백(白)표시인 경우 눈에 띄지 않지만, 그 점이 휘점(백)이면 주위 화소가 흑(黑)표시인 경우 심하게 눈에 띄므로, 불량 화소에 대해서 암점화시키는 것이 유리하다.
결국, 암점화된 단위 화소는 화상을 디스플레이하는 역할을 수행하지 못하 나, 단위 화소 하나에 대해 암점처리된 것은 스펙-인(spec-in)이므로 다음 공정을 계속 수행할 수 있다.
그러나, 종래 기술에 의한 액정표시소자에 있어서, 상기 테스트 공정 이후에도 여전히 이물질이 존재하는 경우에는, 상기 이물질에 의해 PI 인쇄시 인쇄성이 떨어져 이물 주변으로 프리틸트각(pretilt angle) 및 앵커링 에너지(anchoring energy)가 달라져 액정분자의 규칙적인 배열이 깨어지게 된다. 따라서, 이물 주변으로 빛샘이 발생하게 된다.
특히, 블랙 레밸(Black level)로 갈수록 이물 주변의 빛샘이 상대적으로 두드러져 블랙 레밸에서 휘점불량으로 인식하게 된다. IPS 모드 액정표시소자에서와 같이 수평 전계에 의해 액정이 배열하는 경우에는, 이러한 휘점 불량이 고품격 액정표시소자를 만드는데 큰 제약이 되고 있다.
더욱이, 이러한 휘점불량이 액정셀 공정 이후, 액정셀 내부에 형성된 이물질에 의한 것인 경우에는 대향합착된 기판을 분리할 수도 없으므로 불량을 리페어하기가 어렵다.
또한, 이물질에 의한 휘점 불량의 크기는 수십 ㎛ 정도이므로 리페어 하기가 더더욱 용이하지 않다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 상,하부 기판 합착공정 이후 액정셀 내부에 이물질이 확인되는 경우, 이물질에 의해 휘점불량부가 발생한 부위에 복수개의 레이저 장비를 여러 각도로 위치시키고 초점을 일 치시켜 레이저빔을 조사함으로써 휘점 불량부를 흑화시켜 이물질 주변에서의 빛샘에 의한 휘점불량을 원천적으로 제거하고자 하는 액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시소자는 일정한 간격을 갖고 접착된 제 1 ,제 2 기판과 상기 제 1 ,제 2 기판 사이에 충진된 액정층을 구비한 액정패널과, 상기 액정패널 중 휘점 불량이 발생된 부분의 제 1 기판 또는 제 2 기판에 흑화영역을 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 박막트랜지스터 어레이가 형성된 제 1 기판과, 상기 제 1 기판에 대향되어 컬러필터층을 포함한 컬러필터 어레이가 형성된 제 2 기판과, 상기 제 1 ,제 2 기판 사이에 형성된 액정층과, 휘점 불량이 발생된 부분의 상기 컬러필터층에 흑화영역을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 박막트랜지스터 어레이가 형성된 제 1 기판과, 상기 제 1 기판에 대향되어 오버코트층을 포함한 컬러필터 어레이가 형성된 제 2 기판과, 상기 제 1 ,제 2 기판 사이에 형성된 액정층과, 휘점 불량이 발생된 부분의 상기 오버코트층에 흑화영역을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이와같이 본 발명에 의한 액정표시소자는 휘점 불량을 리페어하기 위해 흑화영역을 기판, 컬러필터층, 또는 오버코트층에 구비하는바, 상기 흑화영역은 다수개의 레이저 빔 조사에 의해 형성되는 것을 특징으로 한다.
한편, 본발명의 또다른 목적을 달성하기 위한 액정표시소자의 휘점 리페어 방법은 제 1 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 단계와, 상기 제 1 기판과의 사이에 액정층을 두고 제 2 기판을 대향합착하여 액정패널을 형성하는 단계와, 상기 액정패널의 휘점 불량 유무를 검사하는 단계와, 상기 휘점불량부에 초점이 맞춰지도록 복수개의 레이저 장비를 배치하고 레이저빔을 조사하여 상기 휘점 불량부를 흑화시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
즉, 액정표시소자의 기판 합착공정 이후, 액정패널 내부의 이물질에 의한 휘점을 리페어하는 방법을 제안하고자 하는바, 이물질에 의해 휘점불량부가 발생한 부위에 복수개의 레이저 장비를 여러 각도로 위치시키고 초점을 일치시켜 레이저빔을 조사함으로써 휘점 불량부를 흑화시키는 것을 특징으로 한다. 이 때, 복수개의 레이저 장비 초점을 한 부분에 집중시켜 강한 에너지의 레이저빔을 조사하므로 인접 화소에 흑화로 인한 영향을 최소화할 수 있다.
한편, 복수개 레이저 장비의 초점을 포커싱하는 부분은 기판, 오버코트층, 컬러필터층이 되도록 하여 상기 구성요소가 흑화 또는 변형되어 빛샘을 차광하도록 한다. 레이저 빔 조사는 상부기판에 대해 할 수도 있고, 하부기판에 대해 할 수도 있다. 다만, 액정표시소자 구동에 필요한 회로 패턴에는 레이저가 가해지지 않도록 한다.
이로써, 고 전력의 고가 레이저 장비를 사용하지 않고 저가의 레이저 장비 여러대로 레이저 리페어를 수행할 수 있어 장비 투자 가격을 줄일 수 있다.
한편, 종래에서와 같이 하나의 화소영역 전체를 암점화시키는 것이 아니라 화소영역 내 일정 영역만을 부분 암점화시키는 것이므로 화이트 레밸 휘도에서 암점 불량으로 감지될 염려가 없다.
그리고, 본 발명의 또다른 목적을 달성하기 위한 액정표시소자의 휘점 리페어 방법은 제 1 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 단계와, 상기 제 1 기판과의 사이에 액정층을 두고 제 2 기판을 대향합착하여 액정패널을 형성하는 단계와, 상기 액정패널의 휘점 불량 유무를 검사하는 단계와, 상기 휘점 불량이 확인된 지점의 제 1 , 제 2 기판 중 어느 하나에 레이저빔을 조사하여 기판을 국부적으로 식각해 음각영역을 형성하는 단계와, 상기 음각영역에 불투명 물질을 채우는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
즉, 기판을 직접 흑화시켜 암점화시키는 이외에, 기판을 식각하여 음각영역을 형성한 후, 상기 음각영역에 잉크와 같은 불투명 물질을 매립하여 휘점 불량부를 암점화시키는 것이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법에 대해 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1, 도 2 및 도 3은 각각 본 발명의 제 1 ,제 2 ,제 3 실시예에 의한 휘점 리페어 과정을 나타낸 공정단면도이고, 도 4a 및 도 4b는 본 발명의 제 4 실시예에 의한 휘점 리페어 과정을 나타낸 공정단면도이다.
먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 소자를 구동하기 위한 각종 패턴이 형성되어 있는 제 1 ,제 2 기판(11,12)을 대향합착하고 그 사이에 액정층(13)을 형성한 다. 상기 제 1 ,제 2 기판의 가장자리에 형성되는 실런트(미도시)가 액정층이 외부로 흘러나오지 않도록 두 기판을 완전히 접착시키는 접착제 역할을 한다.
이 때, 상기 제 1 기판(11)은 박막트랜지스터 어레이 기판으로, 단위 화소영역을 정의하는 게이트 배선 및 데이터 배선과, 상기 게이트 배선 및 데이터 배선의 교차 지점에 형성된 박막트랜지스터와, 상기 박막트랜지스터에 연결되어 액정층을 구동하기 위한 전압을 인가하는 화소전극의 패턴(29)들이 상기 각 단위 화소영역에 형성되어 있다.
그리고, 상기 제 2 기판(12)은 컬러필터층 어레이 기판으로, 빛샘을 방지하기 위한 블랙 매트릭스(21)와, 상기 블랙 매트릭스 상에 색상을 구현하기 위한 R,G,B의 컬러필터층(22)과, 상기 컬러필터층의 표면을 평탄화하기 위해 형성되는 오버코트층(23), 또는 상기 제 1 기판(11)의 화소전극에 대향하여 액정층을 구동하기 위한 전압을 인가하는 공통전극(미도시)이 형성되어 있다.
여기서, IPS모드의 액정표시소자에 있어서는 상기 제 1 기판(11)의 단위 화소영역에 화소전극만 형성되는 것이 아니라, 공통전극과 화소전극이 일정한 간격을 갖고 평행하도록 형성되어 있다. 그리고, 제 2 기판(12) 상에는 공통전극이 형성되지 않고 오버코트층(23)만 형성된다.
그리고, 상기와 같은 패턴이 형성되어 있는 제 1 ,제 2 기판(11,12)의 내측면에는 배향막(미도시)이 형성되어 액정층의 초기배향 방향을 결정해준다.
이와같이 구성된 액정표시소자는 제 1 기판의 화소전극과 제 2 기판의 공통전극 사이에 형성되는 수직전계에 의해 액정분자(13a)들이 재배열됨으로써 화이트 또는 블랙의 이미지를 표시한다.
상기와 같은 액정표시소자는 제 1 ,제 2 기판(11,12)을 대향 합착하기 전에, 라인 디펙트(line defect) 및 포인트 디펙트(point defect) 등의 불량을 테스트하기 위해 MPS(Mass Production System) 테스트 공정을 거치게 되는데, 디펙트가 발견된 단위 화소를 암점화시키는 리페어 과정을 수행하여 제품을 양품화시킨다.
그러나, 제 1 ,제 2 기판을 대향합착하여 액정패널을 완성한 후, 액정패널 내부의 이물질에 의해 빛샘이 발생하는 문제점이 있었다. 이것은 기판 상에 패턴을 형성하는 과정에서 잔재하는 이물질에 의해 발생하는 것으로, 이물질(30)에 의해 배향막 인쇄시 인쇄성이 떨어져 이물질 주변으로 액정분자(13a)의 규칙적인 배열이 깨어지게 된다. 따라서, 화상에 블랙이 표시되어야 함에도 불구하고 액정의 배열상태가 깨져버린 이물질 주변에서 휘점이 발생하게 되어 고품격 액정표시소자를 만드는데 큰 제약이 되고 있다.
따라서, 액정셀 공정이 완성된 액정표시소자에 있어서의 휘점 불량을 제거하기 위해서 복수개의 레이저 장비를 여러각도를 배치하고 상기 휘점불량부에 대해 초점을 맞추어 레이저빔을 조사함으로써 휘점불량부를 흑화 또는 변형시켜 빛샘을 차광할 수 있도록 한다.
구체적으로, 도 1에 도시된 바와 같이, 제 1 기판(11) 상부에 복수개의 레이저 장비(L1,L2,L3)를 여러각도로 배치시키고, 이물질(30)이 형성된 부위에 대응되는 제 1 기판(11)에 상기 레이저의 초점이 일치되도록 한후 레이저빔을 조사한다.
그러면, 복수개의 레이저빔에 의한 강한 에너지에 의해 상기 복수개의 레이 저 빔에 의해 레이저가 조사된 부분의 제 1 기판이 국부적으로 흑화 또는 변형되어 흑화영역(50)이 형성되는데, 흑화영역에 의해 투과율이 떨어지게 된다. 즉, 이물질을 그대로 둔 상태에서 이물질이 형성된 부위의 기판을 국부적으로 흑화시켜 원하지 않는 빛샘을 차광하는 것이다.
이때, 레이저 장비는 적어도 2개 이상을 준비하여 여러 각도에서 하나의 초점을 향하여 레이저빔이 조사될 수 있도록 하여 리페어 공정을 수행하고, 강한 에너지가 방사되는 고가의 레이저 장비보다는 저가의 레이저 장비를 여러개 사용하여 장비 투자 코스트를 낮추는 것이 보다 바람직할 것이다.
한편, 상기에서와 같이, 박막트랜지스터 등의 패턴(29)이 형성되어 있는 제 1 기판(11)을 흑화시키는데 한정되지 않고, 도 2에 도시된 바와 같이, 컬러필터층(22) 및 오버코트층(23)이 형성되어 있는 제 2 기판(12)을 흑화시켜도 무방하다. 즉, 제 2 기판(12) 내부의 원하는 위치에 모든 레이저 장비의 초점을 맞춘 후 레이저빔을 조사하여 국부적으로 흑화시킴으로써 흑화영역(50)을 형성하는 것이다.
이상에서는, 기판을 흑화시켜 휘점 불량부를 암점화시키는 방법을 설명하였으나, 도 3에 도시된 바와 같이, 컬러필터층(22) 또는 오버코트층(23)을 흑화 또는 변형시켜, 컬러필터층(22) 또는 오버코트층(23) 내부에 흑화영역을 형성하여 빛샘을 차단할 수도 있다.
즉, 복수개의 레이저 장비(L1,L2,L3)를 여러 각도로 배치하고 그 초점을 휘점불량부에 상응하는 컬러필터층(22) 또는 오버코트층(23)에 맞춘 후, 레이저빔을 조사하는데, 이경우 컬러필터층 또는 오버코트층이 국부적으로 레이저 장비의 강한 에너지에 의해 변색되어 암점화된다.
이때, 이물질에 의해 리페어가 요구되는 영역의 크기(D)에 상응하도록 기판, 컬러필터층 또는 오버코트층을 흑화시킨다.
다만, 액정표시소자를 구동하기 위해 요구되는 배선, 전극 및 박막트랜지스터 등의 회로패턴에는 레이저빔이 조사되지 않도록 한다.
그리고, 기판, 컬러필터층, 오버코트층의 물성을 변화시켜 흑화시킴으로써 암점화시키는 이외에, 하기에서와 같이, 레이저 장비를 이용하여 기판을 식각하고 식각된 음각영역에 불투명 물질을 채워 암점화시킬 수도 있다.
먼저, 도 4a에 도시된 바와 같이, 소자를 구동하기 위한 각종 패턴이 형성되어 있는 제 1 ,제 2 기판(111,112)을 대향합착하고 그 사이에 액정층(113)을 형성한다.
그러나, 기판 대향합착한 이후, 액정패널 내부에 잔여하는 이물질에 의해 휘점 불량이 발생할 수 있는바, 레이저 장비를 사용하여 휘점 불량이 발생한 지점에 대해 레이저 빔을 조사하여 기판을 식각한다.
이 때, 레이저 장비는 적어도 하나 이상 사용하는데, 복수개의 레이저 장비(L1,L2,L3)를 사용하는 경우 복수개의 레이저 장비를 여러각도로 배치하고 휘점불량부에 대해 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하여 기판을 식각함으로써 음각영역(150)을 형성한다.
레이저 빔을 조사하는 방법은 레이저 빔의 초점을 기판 표면에서 원하는 부분까지 내려가면서 기판을 완전히 뚫지 않는 범위 내에서 조사한다.
그리고, 도 4b에 도시된 바와 같이, 식각된 기판 음각영역(150)에 불투명 물질 일예로, 잉크(145)를 떨어뜨려 휘점이 발생하는 부분을 암점화시킨다.
이와같이, 기판을 식각하여 음각화된 영역에 잉크가 채워지면 리페어하고자 하는 영역이 잉크에 의해 불투명하게 되어, 이물질 주변에서의 휘점불량을 원천적으로 제거할 수 있다. 또한, 액정패널 완성 후에도 액정셀 내부의 이물질에 의한 휘점 불량을 리페어할 수 있게 된다.
이때, 액정표시소자는 노말리 블랙 타입(normally black type)인 것이 바람직하다. 왜냐하면, 단위 화소가 암점이 되면 주위 화소가 백(白)표시인 경우 눈에 띄지 않게 되므로, 화상표시시 화상품질에 끼치는 영향이 미비하기 때문이다.
한편, 이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기와 같은 본 발명의 액정표시소자 및 그 휘점 리페어 방법은 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 복수개의 레이저 장비를 여러 각도로 위치시키고 휘점불량부가 발생한 부위에 초점을 일치킨 후 레이저빔을 조사하여 휘점 불량부를 흑화시키는데, 이로써 이물질 주변에서의 빛 투과에 의한 휘점불량을 원천적으로 제거할 수 있다.
둘째, 액정표시소자의 기판 합착공정 이후, 액정패널 내부의 이물질에 의한 휘점을 리페어할 수 있으므로 소자의 불량율을 최소화할 수 있다.
셋째, 복수개의 레이저 장비를 하나의 초점으로 일치시켜 강한 에너지의 레이저 빔을 조사하므로 인접 화소에 흑화로 인한 영향을 최소화할 수 있다.
넷째, 고 전력의 고가 레이저 장비를 사용하지 않고 저가의 레이저 장비 여러대로 레이저 리페어를 수행할 수 있어 장비 투자 가격을 줄일 수 있다.
다섯째, 종래의 리페어 과정에서는 단위 화소영역 전체를 암점화하여 휘점 불량을 해결하였으나, 본 발명에서는 단위 화소영역 중에서도 이물질이 위치한 최소한 영역만 부분 암점화함으로써 암점화된 영역을 최소화할 수 있다.

Claims (16)

  1. 일정한 간격을 갖고 접착된 제 1 ,제 2 기판과 상기 제 1 ,제 2 기판 사이에 충진된 액정층을 구비한 액정패널과,
    상기 액정패널 중 휘점 불량이 발생된 부분의 제 1 기판 또는 제 2 기판에 흑화영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 흑화영역은 다수개의 레이저 빔 조사에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 흑화영역은 다수개의 레이저 빔 조사에 의해 형성된 음각영역에 불투명 물질이 매립되어 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  4. 박막트랜지스터 어레이가 형성된 제 1 기판과,
    상기 제 1 기판에 대향되어 컬러필터층을 포함한 컬러필터 어레이가 형성된 제 2 기판과,
    상기 제 1 ,제 2 기판 사이에 형성된 액정층과,
    휘점 불량이 발생된 부분의 상기 컬러필터층에 흑화영역을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 흑화영역은 다수개의 레이저 빔 조사에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  6. 박막트랜지스터 어레이가 형성된 제 1 기판과,
    상기 제 1 기판에 대향되어 오버코트층을 포함한 컬러필터 어레이가 형성된 제 2 기판과,
    상기 제 1 ,제 2 기판 사이에 형성된 액정층과,
    휘점 불량이 발생된 부분의 상기 오버코트층에 흑화영역을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 흑화영역은 다수개의 레이저 빔 조사에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
  8. 제 1 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 단계와,
    상기 제 1 기판과의 사이에 액정층을 두고 제 2 기판을 대향합착하여 액정패널을 형성하는 단계와,
    상기 액정패널의 휘점 불량 유무를 검사하는 단계와,
    상기 휘점불량부에 초점이 맞춰지도록 복수개의 레이저 장비를 배치하고 레 이저빔을 조사하여 상기 휘점 불량부를 흑화시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 휘점불량부에 대응하는 제 1 기판에 대해 상기 복수개의 레이저 장비의 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 휘점불량부에 대응하는 제 2 기판에 대해 상기 복수개의 레이저 장비의 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 2 기판에 컬러필터층을 형성하는 단계와,
    상기 컬러필터층을 포함한 전면에 오버코트층을 형성하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 휘점불량부에 대응하는 오버코트층에 대해 상기 복수개의 레이저 장비 의 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 휘점불량부에 대응하는 컬러필터층에 대해 상기 복수개의 레이저 장비의 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  14. 제 1 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 단계와,
    상기 제 1 기판과의 사이에 액정층을 두고 제 2 기판을 대향합착하여 액정패널을 형성하는 단계와,
    상기 액정패널의 휘점 불량 유무를 검사하는 단계와,
    상기 휘점 불량이 확인된 지점의 제 1 , 제 2 기판 중 어느 하나에 레이저빔을 조사하여 기판을 국부적으로 식각해 음각영역을 형성하는 단계와,
    상기 음각영역에 불투명 물질을 채우는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 휘점불량부에 대응하는 제 1 기판에 대해 적어도 하나 이상의 레이저 장비의 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
  16. 제 14 항에 있어서,
    상기 휘점불량부에 대응하는 제 2 기판에 대해 적어도 하나 이상의 레이저 장비의 초점을 맞추어 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 휘점 리페어 방법.
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