KR200276956Y1 - 테스트용번인시스템의접속장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 테스트용 번인시스템에 관한 것으로서, 특히, 번인보드의 접속패드에 상,하로 동작하면서 접속부가 접속되어 전기를 도전하는 접속핀과; 상기 접속핀을 홈부내에 삽입 고정하여 상,하 동작을 안내하고, 상기 접속핀을 번인보드의 접속패드로 가압하여 접속시키기 위하여 소켓플레이트에 형성된 가압돌기와; 상기 가압돌기의 외주면이 끼워져 이동할 수 있는 가이드공이 형성되어 소켓플레이트의 이동을 안내하는 홀플레이트로 구성된 테스트용 번인시스템의 접속장치인 바, 접속핀이 동작하면서 번인보드의 접속패드에 접촉시키므로 접속핀의 손상을 방지하고, 접촉불량으로 인한 전기적인 누설을 방지하도록 하는 매우 유용하고 효과적인 고안이다.

Description

테스트용 번인시스템의 접속장치

본 고안은 번인 시스템(Burn-In System)에 관한 것으로, 특히, 번인 보드의 접속패드에 접속되는 접속핀을 홀플레이트의 가이드공으로 끼워지면서 소켓플레이트에 고정되는 가압돌기로 눌러주어 스프링에 의하여 탄성적으로 접속핀이 동작하면서 번인보드의 접속패드에 접촉시키므로 접속핀의 손상을 방지하고, 접촉불량으로 인한 전기적인 누설을 방지하도록 하는 테스트용 번인 시스템의 접속장치에 관한 것이다.

일반적으로, 수 많은 공정을 거치면서 제작된 반도체소자를 사용하기 전에 회로가 제대로 동작하는 지 여부를 제조 단계에서 확인 하기 위하여 번인 테스트를 거치게 된다.

이러한 번인 테스트(Burn-In Test)는 번인 시스템(Burn-In System)에 의하여 이루어지게 되는 것으로서, 이 번인 테스트 단계는 고온에서 어떤 특정 길이의 시간(에를 들면 83℃, 63시간)동안 반도체 소자의 회로를 동작시켜 초기 수명 혹은 초기 고장이 심사되는 부품의 검사단계를 말하는 것이다.

종래에는 제조된 반도체소자의 회로특성을 측정하기 위하여 테스트용 번인 시스템에 장착되는 소켓에 번인 보드를 밀어서 끼워 삽입하는 방법을 사용하여 소켓에 장착된 접속핀이 번인 보드의 패드에 접속되도록 하여 전기적인 통전을 수행하도록 한다.

그런데, 상기한 바와 같이, 종래에는 번인보드를 소켓에 끼워서 접속시키는 과정에서 소켓의 접속핀이 번인보드에 밀려서 접속핀이 파손되기가 쉬울 뿐만아니라 빈번하게 번인보드를 소켓에 끼워서 접속시키는 과정에서 접속핀과 번인보드의 패드부위에 손상을 입게 되어서 번인테스시에 접속불량으로 인한 측정이 제대로 이루어지지 않는 문제점이 있었다.

본 고안은 이러한 점을 감안하여 안출한 것으로서, 번인 보드의 접속패드에 접속되는 접속핀을 홀플레이트의 가이드공으로 끼워지면서 소켓플레이트에 고정되는 가압돌기로 눌러주어 스프링에 의하여 탄성적으로 접속핀이 동작하면서 번인보드의 접속패드에 접촉시키므로 접속핀의 손상을 방지하고, 접촉불량으로 인한 전기적인 누설을 방지하는 것이 목적이다.

도 1은 본 고안에 따른 테스트용 번인시스템의 접속장치의 사시도.

도 2는 본 고안에 따른 테스트용 번인시스템의 접속장치의 구성을 보인 도면.

도 3은 본 고안에 따른 테스트용 번인 시스템의 요부 구성 단면을 보인 도면

도 4는 본 고안에 따른 테스트용 번인 시스템의 접속장치의 사용 상태를 보인 도면.

-도면의 주요부분에 대한 부호의 설명-

10 : 번인보드 12 : 접속돌출부

14 : 홀더부 16 : 접속패드

20 : 홀플레이트 22 : 가이드공

30 : 접속핀 32 : 접속부

34 : 걸림턱부 40 : 가압돌기

42 : 홈부 50 : 스프링

60 : 소켓플레이트

이러한 목적은 번인보드의 접속패드에 상,하로 동작하면서 접속부가 접속되어 전기를 도전하는 접속핀과; 상기 접속핀을 홈부내에 삽입 고정하여 상,하 동작을 안내하고, 상기 접속핀을 번인보드의 접속패드로 가압하여 접속시키기 위하여 소켓플레이트에 형성된 가압돌기와; 상기 가압돌기의 외주면이 끼워져 이동할 수 있는 가이드공이 형성되어 소켓플레이트의 이동을 안내하는 홀플레이트로 구성된 테스트용 번인시스템의 접속장치를 제공함으로써 달성된다.

이하, 첨부한 도면에 의거하여 본 고안의 구성에 대하여 상세히 설명한다.

우선, 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 본 고안인 번인 시스템의 접속장치의 구성을 살펴 보면, 번인보드(10)의 접속패드(16)에 상,하로 동작하면서 접속부(32)가 접속되어 전기를 도전하는 접속핀(30)과; 상기 접속핀(30)을 홈부(42)내에 삽입 고정하여 상,하 동작을 안내하고, 상기 접속핀(30)을 번인보드(10)의 접속패드(16)로 가압하여 접속시키기 위하여 소켓플레이트(60)에 형성된 가압돌기(40)와; 상기 가압돌기(40)의 외주면이 끼워져 이동할 수 있는 가이드공(22)이 형성되어 소켓플레이트(60)의 이동을 안내하는 홀플레이트(2)로 구성된다.

그리고, 상기 번인보드(10)의 접속패드(16) 양측 모서리에 번인보드(10)의 의 위치를 고정시키도록 홀플레이트(20)의 외측면에 끼워지는 홀더부(14)가 돌출 형성된다.

그리고, 상기 접속핀(30)의 접속부(32) 반대측 단부에는 접속핀(32)이 동작 중에 가압돌기(40)에서 이탈되는 것을 방지하기 위하여 가압돌기(40)에 걸려지는 걸림턱부(34)가 형성된다.

또한, 상기 가압돌기(40)의 홈부(42)내에는 접속핀(30)을 홀프레이트(20)로 당겨주는 스프링(50)이 설치되어 접속핀(30)이 홀플레이트(20)의 저면부분에 접촉되어 있으며, 가압돌기(40)가 접속핀(30)을 누르면, 번인보드(10)의 접속패드(16)로 이동하도록 구성된다.

이하, 본 고안의 작용을 개략적으로 살펴보도록 한다.

본고안의 실시예의 사용 상태를 살펴 보면, 먼저 도 1에 도시된 바와 같이, 반도체소자의 회로를 번인 테스트를 하기 위하여 번인보드(10)의 접속돌출부(12)를 상,하로 위치한 홀플레이트(20)의 사이로 진입시켜 번인보드(10)의 홀더부(14)를 홀플레이트(20)의 외측으로 접촉시켜 고정 시키도록 한다.

그리고, 상기 번인보드(10)를 고정시킨 후에 소켓과 번인보드(10)를 서로 도전시키기 위하여 상,하로 위치한 번인 보드(10)를 눌러주게 되면, 소켓플레이트(60)에 고정된 가압돌기(40)가 상,하측으로 동시에 동작하여 홀플레이트(20)의 가이드공(22)을 따라 이동하게 된다.

이때, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 가압돌기(40)가 접속핀(30)의 배면을 눌러주게 되어 접속핀(30)이 가압돌기(40)의 홈부(42)내에서 스프링(50)의 탄성력을 이기면서 상,하로 이동하여 번인보드(10)의 접속패드(16)에 접속되어 전기적으로 도전되는 상태로 있게 되는 것으로서, 전기적인 통전 상태는 소켓플레이트(60)의 미도시된 배선을 통하여 가압돌기(40), 접속핀(30)을 거쳐 번인보드(10)의 접속패드(16)로 연결되어 전기적으로 통전되는 상태로 있게 된다.

한편, 번인보드(10)를 이용하여 반도체소자 회로의 번인테스트를 마친 후에 소켓플레이트(60)의 가압 상태를 해제하여서 상,하로 원상태로 복귀시키게 되면, 도 3에 도시된 상태로 주요 부분이 위치하게 된다.

따라서, 상기한 바와 같이 본 고안에 따른 테스트용 번인 시스템의 접속장치를 사용하게 되면, 번인 보드의 접속패드에 접속되는 접속핀을 홀플레이트의 가이드공으로 끼워지면서 소켓플레이트에 고정되는 가압돌기로 눌러주어 스프링에 의하여 탄성적으로 접속핀이 동작하면서 번인보드의 접속패드에 접촉시켜 번인보드를 상,하 양측에서 감싸듯이 눌러서 고정하므로 접속핀의 손상을 방지하고, 접촉불량으로 인한 전기적인 누설을 방지하도록 하는 매우 유용하고 효과적인 고안이다.

Claims (3)

1. 번인보드의 접속패드에 상,하로 동작하면서 접속부가 접속되어 전기를 도전하는 접속핀과;

   상기 접속핀을 홈부내에 삽입 고정하여 상, 하 동작을 안내하고, 상기 접속핀을 번인보드의 접속패드로 가압하여 접속시키기 위하여 소켓플레이트에 형성된 가압돌기와;

   상기 가압돌기의 외주면이 끼워져 이동할 수 있는 가이드공이 형성되어 소켓플레이트의 이동을 안내하는 홀플레이트와;

   상기 가압돌기의 홈부내에는 접속핀을 홀프레이트로 당겨주도록 설치된 스프링으로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트용 번인시스템의 접속장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 번인보드의 접속패드 양측 모서리에 홀플레이트에 번인보드의 위치를 고정하는 홀더부가 돌출되어 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트용 번인 시스템의 접속장치.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 접속핀의 접속부 반대측 단부에는 가압돌기에서 접속핀이 이탈되는 것을 방지하는 걸림턱부가 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트용 번인시스템의 접속장치.