KR200258557Y1 - 집적회로캐리어 - Google Patents

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KR200258557Y1
KR200258557Y1 KR2020010029159U KR20010029159U KR200258557Y1 KR 200258557 Y1 KR200258557 Y1 KR 200258557Y1 KR 2020010029159 U KR2020010029159 U KR 2020010029159U KR 20010029159 U KR20010029159 U KR 20010029159U KR 200258557 Y1 KR200258557 Y1 KR 200258557Y1
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KR2020010029159U
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박성문
김홍렬
함종욱
진석호
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주식회사 오킨스전자
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Abstract

본 고안은 소정의 시험대상집적회로를 탑재하여 소정의 운반시스템에 의해 시험위치로 이동하는 집적회로캐리어에 관한 것으로서, 상기 시험대상집적회로를 탑재하기 위한 탑재개구부를 갖는 집적회로탑재실이 중앙영역에 형성되는 보우트형상의 베이스와; 상기 베이스의 높이방향을 따라 이동하도록 상기 베이스에 결합되는 누름조작부와; 상기 누름조작부의 누름조작에 대응하여 상기 베이스의 높이방향을 따라 이동하도록 상기 집적회로탑재실 내벽면의 대향영역에 설치되는 한 쌍의 누름이동부와; 상기 누름이동부의 이동에 대응하여 회동하도록 상기 베이스에 결합되고, 상기 집적회로탑재실의 내부에 위치하는 집적회로접촉부와 상기 누름이동부의 이동경로상에 위치하는 누름접촉부와 상기 누름조작부의 누름조작시 상기 누름이동부로부터 상기 누름접촉부에 인가되는 압력에 따라 상기 집적회로탑재실에 탑재된 시험대상집적회로의 노출표면을 상기 집적회로접촉부가 가압하는 접촉위치로부터 상기 시험대상집적회로의 탑재영역으로부터 상기 집적회로접촉부가 이탈되는 이탈위치로 상기 집적회로접촉부가 이동하도록 상기 집적회로접촉부 및 누름접촉부를 연결하는 연결부를 가지는 한 쌍의 래치부와; 상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름이동부 및 누름조작부를 원위치로 이동시키는 누름복귀부와; 상기 누름조작부의 누름조작 해제시 상기 집적회로접촉부가 상기 이탈위치로부터 상기 접촉위치로 이동하도록 상기 래치부를 회동시키는 래치복귀부와; 상기 접촉위치에서 상기 이탈위치로 향하는 외부압력에 대항하여 상기 접촉위치로 이동한 집적회로접촉부가 상기 이탈위치를 향하여 이동하는 것을 방지하는 스토퍼부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 집적회로캐리어를 운반시스템에 의해 이동시키는 동안 발생하는 외부충격에 대항하여 시험대상집적회로의 탑재위치를 안정적으로 유지할 수 있다.

Description

집적회로캐리어{CARRIER FOR IC}
본 고안은 집적회로캐리어에 관한 것으로서, 보다 상세히는 시험대상집적회로를 탑재하여 운반시스템에 의해 시험위치로 이동되는 집적회로캐리어에 관한 것이다.
다수의 집적회로를 시험하려면 흡착운송장치를 사용하여 집적회로캐리어에 집적회로를 탑재시킨 후, 소정의 운반시스템을 사용하여 집적회로시험소켓이 설치된 시험위치로 순차적으로 이동시켜야 한다.
이러한 집적회로캐리어의 중앙영역에는 집적회로캐리어를 탑재하기 위한 집적회로탑재실이 형성되어 있고, 집적회로탑재실의 내벽면에는 인위적인 조작에 의해 탑재된 시험대상집적회로의 요동을 방지하기 위한 대향하는 한 쌍의 래치부가 마련되어 있다. 그리고 집적회로탑재실은 시험대상집적회로의 탑재상태에서 집적회로시험소켓과 전기적으로 접촉시킬 수 있도록 바닥면에 시험대상집적회로의 단자를 노출시키기 위한 접촉개구부가 형성되어 있는 것과 그렇지 않은 것이 있다.
집적회로탑재실의 바닥면에 접촉개구부가 형성되어 있지 않은 집적회로캐리어의 경우 집적회로시험소켓의 인접영역에서 흡착운송장치를 사용하여 집적회로캐리어로부터 시험대상집적회로를 언로우드시킨 후, 집적회로시험소켓의 단자에 시험대상집적회로의 단자를 접촉시키는 과정이 필요하다.
한편, 집적회로의 시험이 완료되면 시험대상집적회로를 탑재한 상태로 운반시스템을 사용하여 소정의 언로딩위치로 이동시킨 후, 시험결과에 따라 양품과 불량품으로 분리하여 집적회로캐리어에 탑재된 집적회로를 언로딩시킨다. 그런 다음, 다른 시험대상집적회로를 탑재하기 위해 집적회로캐리어를 집적회로탑재위치로 이동시킨다.
이러한 집적회로의 시험과정에서 집적회로캐리어에 탑재된 시험대상집적회로의 탑재위치정보는 집적회로캐리어를 시험위치 또는 언로딩위치로 이동시키거나 시험대상집적회로를 언로딩시킬 때 운반시스템 또는 흡착운송장치의 제어데이터로 사용되므로 시험대상집적회로는 집적회로집적회로캐리어에 처음 탑재될 때의 최초탑재위치를 유지할 필요가 있다.
그런데, 종래의 집적회로캐리어에 따르면, 래치부는 인위적인 조작에 대응하여 시험대상집적회로의 요동을 방지할 수 있을 뿐이므로 시험위치 또는 언로딩위치로 이동하는 동안 집적회로캐리어에 가해지는 외부충격에 의해 시험대상집적회로가 최초탑재위치를 이탈할 염려가 있다. 시험대상집적회로가 최초탑재위치를 이탈하는 경우 시험대상집적회로와 집적회로시험소켓사이의 전기적 오접촉 또는 언로딩작업오차가 발생함으로써 시험의 신뢰성이 떨어지거나 언로딩오차교정을 위한 추가작업부담이 발생한다는 문제점이 있었다.
따라서, 본 고안의 목적은, 운반시스템에 의해 이동하는 동안 발생하는 외부충격에 대항하여 시험대상집적회로의 탑재위치를 안정적으로 유지할 수 있는 집적회로캐리어를 제공하는 것이다.
도1은 본 고안의 실시예에 따른 집적회로캐리어의 사시도,
도2는 도1에 도시한 집적회로캐리어의 Ⅱ-Ⅱ선 단면도로서,
도2a는 시험대상집적회로를 탑재하기 전의 상태를 도시한 도면,
도2b는 시험대상집적회로를 탑재한 상태를 도시한 도면,
도2c는 시험대상집적회로의 단자와 집적회로시험소켓의 단자가 접촉한 상태를 도시한 도면이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 집적회로캐리어 11 : 베이스
13 : 집적회로탑재실 21 : 누름조작부
23 : 누름이동부 25 : 조작부스프링
27 : 누름이동부스프링 31 : 래치부
40 : 스토퍼돌기수용홈 45 : 스토퍼돌기
103 : 집적회로시험소켓 105 : 시험대상집적회로
상기 목적은, 본 고안에 따라, 소정의 시험대상집적회로를 탑재하여 소정의 운반시스템에 의해 시험위치로 이동하는 집적회로캐리어에 있어서, 상기 시험대상집적회로를 탑재하기 위한 탑재개구부를 갖는 집적회로탑재실이 중앙영역에 형성되는 보우트형상의 베이스와; 상기 베이스의 높이방향을 따라 이동하도록 상기 베이스에 결합되는 누름조작부와; 상기 누름조작부의 누름조작에 대응하여 상기 베이스의 높이방향을 따라 이동하도록 상기 집적회로탑재실 내벽면의 대향영역에 설치되는 한 쌍의 누름이동부와; 상기 누름이동부의 이동에 대응하여 회동하도록 상기 베이스에 결합되고, 상기 집적회로탑재실의 내부에 위치하는 집적회로접촉부와 상기 누름이동부의 이동경로상에 위치하는 누름접촉부와 상기 누름조작부의 누름조작시 상기 누름이동부로부터 상기 누름접촉부에 인가되는 압력에 따라 상기 집적회로탑재실에 탑재된 시험대상집적회로의 노출표면을 상기 집적회로접촉부가 가압하는 접촉위치로부터 상기 시험대상집적회로의 탑재영역으로부터 상기 집적회로접촉부가 이탈되는 이탈위치로 상기 집적회로접촉부가 이동하도록 상기 집적회로접촉부 및 누름접촉부를 연결하는 연결부를 가지는 한 쌍의 래치부와; 상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름이동부 및 누름조작부를 원위치로 이동시키는 누름복귀부와; 상기 누름조작부의 누름조작 해제시 상기 집적회로접촉부가 상기 이탈위치로부터 상기 접촉위치로 이동하도록 상기 래치부를 회동시키는 래치복귀부와; 상기 접촉위치에서 상기 이탈위치로 향하는 외부압력에 대항하여 상기 접촉위치로 이동한 집적회로접촉부가 상기 이탈위치를 향하여 이동하는 것을 방지하는 스토퍼부를 포함하는 것을 특징으로 집적회로캐리어에 의해 달성된다.
여기서, 제작을 용이하게 하기 위해 상기 스토퍼부는 상기 접촉위치에서 상기 이탈위치로 향하는 외부압력이 가해질 때 상기 래치부가 회동하는 회동경로의시작점에 위치하도록 상기 누름이동부로부터 상기 래치부를 향해 돌출형성된 스토퍼돌기를 포함하고; 상기 래치부의 상기 스토퍼돌기에 대향하는 영역에는 상기 누름조작부의 누름조작시 상기 집적회로접촉부가 상기 접촉위치에서 상기 이탈위치를 향해 이동할 수 있도록 상기 스토퍼돌기를 수용하는 스토퍼돌기수용홈을 형성할 수 있다.
한편, 본 고안은 상기 누름이동부가 상기 누름조작부와 분리 형성되고; 상기 집적회로탑재실의 바닥면에는 상기 시험위치에서 소정의 집적회로시험소켓의 시험단자에 접촉할 수 있도록 상기 탑재된 시험대상집적회로의 외부접속단자가 노출되는 접촉개구부가 형성되어 있으며; 상기 누름복귀부는 상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름이동부를 원위치로 탄성이동시키는 누름이동부탄성부와, 상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름조작부를 원위치로 탄성이동시키는 조작부탄성부를 포함하는 집적회로캐리어에 적용할 수 있다.
이하에서, 첨부도면을 참조하여 본 고안을 상세히 설명하기로 한다.
도1은 본 고안의 실시예에 따른 집적회로캐리어의 사시도이고, 도2는 도1에 도시한 집적회로캐리어의 Ⅱ-Ⅱ선 단면도로서, 도2a는 시험대상집적회로를 탑재하기 전의 상태를 도시한 도면, 도2b는 시험대상집적회로를 탑재한 상태를 도시한 도면, 도2c는 시험대상집적회로의 단자와 집적회로시험소켓의 단자가 접촉한 상태를 도시한 도면이다.
본 고안의 실시예에 따른 집적회로캐리어는, 이들 도면에 도시된 바와 같이, 시험대상집적회로(105)를 탑재하기 위한 탑재개구부(15)를 갖는집적회로탑재실(13)이 중앙영역에 형성되어 있는 보우트형상의 베이스(11)를 갖는다. 집적회로탑재실(13) 내벽의 대각선방향 영역에는 래치수용부(51a, 51b)가 각각 베이스(11)의 상면으로부터 소정 높이구간에 걸쳐 절취 형성되어 있다. 한편, 집적회로탑재실(13)의 바닥면에는 탑재된 시험대상집적회로(105)의 단자(107)를 외부로 노출시키기 위한 접촉개구부(55)가 형성되어 있다.
집적회로탑재실(13) 외측의 베이스(11) 상부에는 누름조작부(21)가 이격 설치되어 있다. 누름조작부(21)는 베이스(11)의 높이방향을 따라 왕복이동가능하도록 베이스(11)에 결합되어 있고, 중앙영역에는 집적회로탑재실(13)의 탑재개구부(15)에 대응하는 개구부가 형성되어 있다. 베이스(11)와 누름조작부(21)사이에는 누름조작부(21)의 누름조작해제시 누름조작부(21)를 원위치로 복귀시키기 위한 한 쌍의 조작부스프링(25a, 25b)이 집적회로탑재실(13)을 사이에 두고 분리 설치되어 있다.
각 래치수용부(51a, 51b)에는 막대형상의 누름이동부(23a, 23b)가 일단이 누름조작부(21)의 하부에서 외부로 돌출되도록 수용되어 있다. 여기서, 누름이동부(23a, 23b)는 누름조작부(21)와 일체로 형성할 수 있으나, 본 실시예에서는 집적회로캐리어의 조립작업성을 향상시키기 위해 분리 형성되어 있다.
각 누름이동부(23a, 23b)의 하방에는 누름조작부(21)의 누름조작해제시 누름이동부(23a, 23b)를 원위치로 탄성이동시키는 누름이동부스프링(27a, 27b)이 설치되어 있다. 여기서, 누름이동부스프링(27a, 27b)을 누름이동부(23a, 23b)의 하방에 설치하는 대신 후술하는 래치부(31a, 31b)의 회동축(33a, 33b)에 설치하는 방법도 채용되고 있다.
또한, 각 래치수용부(51a, 51b)에는 회동축(33a, 33b)에 의해 베이스(11)에 결합된 래치부(31a, 31b)가 수용되어 있다. 이러한 래치부(31a, 31b)는 누름이동부(23a, 23b)의 하측에 위치하는 거의 일자형상의 누름접촉부(37a, 37b)와 집적회로탑재실(13)의 내부에 위치하고 단부영역이 집적회로탑재실(13)의 바닥면을 향해 굴절된 꺽어진 일자형상의 집적회로접촉부(35a, 35b)를 갖고 있다. 누름접촉부(37a, 37b)와 집적회로접촉부(35a, 35b)는 원호형상의 연결부(32a, 32b)에 의해 연결된다. 여기서, 연결부(32a, 32b)는 누름조작부(21)의 누름조작시 하강하는 누름이동부(23a, 23b)에 의해 누름접촉부(37a, 37b)에 가해지는 압력에 따라 집적회로탑재실(13)에 탑재된 시험대상집적회로(105)의 노출표면을 집적회로접촉부(35a, 35b)가 가압하는 접촉위치로부터 시험대상집적회로(105)의 탑재영역으로부터 집적회로접촉부(35a, 35b)가 이탈되는 이탈위치로 집적회로접촉부(35a, 35b)가 이동하도록 누름접촉부(37a, 37b)와 집적회로접촉부(35a, 35b)를 연결한다. 누름접촉부(37a, 37b)의 자유단부에는 누름이동부스프링(27a, 27b)에 결합되는 스프링결합돌기(39a, 39b)가 형성되어 있다.
한편, 누름이동부(23a, 23b) 하부의 집적회로탑재실측 표면에는, 종래의 집적회로캐리어와 달리 본 고안이 갖는 특징적인 부분으로, 집적회로접촉부(35a, 35b)의 접촉위치에서 이탈위치를 향하는 외부압력이 가해질 때 래치부(31a, 31b)가 회동하는 것을 방지하기 위한 스토퍼돌기(45a, 45b)가 누름이동부(23a, 23b)로부터 래치부(31a, 31b)의 인접영역까지 연장형성되어 있다. 그리고, 연결부(32a, 32b)의 스토퍼돌기(45a, 45b)에 대향하는 영역에는 누름조작부(21)의 누름조작시 집적회로접촉부(35a, 35b)가 접촉위치에서 이탈위치를 향해 이동할 수 있도록 스토퍼돌기(45a, 45b)를 수용하기 위한 스토퍼돌기수용홈(40a, 40b)이 형성되어 있다.
이러한 구성을 갖는 집적회로캐리어(1)에 따라 집적회로를 시험하는 과정을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 누름조작부(21)를 누름조작하여 집적회로접촉부(35a, 35b)를 이탈위치로 이동시킨다. 누름조작부(21)를 누름조작하면 누름이동부(23a, 23b)가 베이스(11)의 높이방향을 따라 하강하면서 누름접촉부(37a, 37b)에 압력을 가하고 , 이에 따라 래치부(31a, 31b)가 회동함으로써 집적회로접촉부(35a, 35b)는 접촉위치에서 이탈위치로 이동된다.
다음에, 흡착운송장치(도시되지 않음)를 사용하여 시험대상집적회로(105)를 집적회로탑재실(13)에 탑재시킨다. 시험대상집적회로(105)의 탑재는 탑재개구부(15)를 통해 단자(107)가 접촉개구부(55)로부터 노출되도록 이루어진다.
다음에, 누름조작부(21)를 누름조작해제하여 누름조작부(21) 및 누름이동부(23a, 23b)를 원위치로, 집적회로접촉부(35a, 35b)를 접촉위치로 이동시킨다. 누름조작부(21)를 누름조작해제하면 누름조작부(21) 및 누름이동부(23a, 23b)는 조작부스프링(25a, 25b) 및 누름이동부스프링(27a, 27b)에 의해 각각 탄성적으로 원위치로 복귀한다. 한편, 누름이동부스프링(27a, 27b)에 의해 누름이동부(23a, 23b)가 베이스의 높이방향을 따라 상승하면, 래치부(31a, 31b)는 집적회로접촉부(35a, 35b)가 이탈위치로부터 접촉위치로 이동하도록 회동된다.
다음에, 시험대상집적회로(105)를 탑재한 집적회로캐리어(1)를 시험위치로 이동시킨다. 집적회로캐리어(1)의 이동은 운반시스템()에 의해 시험대상집적회로(105)의 단자와 집적회로시험소켓(101)의 단자(103)가 상호 전기적으로 접촉하도록 이루어진다. 이 이동과정에서 접촉위치에 있는 집적회로접촉부(35a, 35b)에 접촉위치에서 이탈위치를 향하는 외부압력이 가해지더라도, 종래의 집적회로캐리어의 경우와는 달리, 스토퍼돌기(45a, 45b)에 의해 래치부(31a, 31b)의 회동이 저지되기 때문에 집적회로접촉부(35a, 35b)는 이탈위치를 향해 이동하지 않고 최초탑재위치를 안정적으로 유지한다.
다음에, 시험대상집적회로(105)를 시험한다. 이 때, 시험대상집적회로의 시험은 집적회로캐리어(1)에 탑재된 상태에서 소정의 집적회로시험프로그램에 따라 이루어진다. 시험결과데이터는 후술하는 시험대상집적회로(105)의 언로딩작업시 제어데이터로 이용된다.
다음에, 집적회로캐리어(1)를 운반시스템(도시되지 않음)을 사용하여 언로딩위치로 이송시킨다. 이 이동과정에서 접촉위치에 있는 집적회로접촉부(35a, 35b)에 접촉위치에서 이탈위치를 향하는 외부압력이 가해지더라도, 종래의 집적회로캐리어의 경우와는 달리, 스토퍼돌기(45a, 45b)에 의해 래치부의 회동이 저지되기 때문에 집적회로접촉부(35a, 35b)는 이탈위치를 향해 이동하지 않고 최초탑재위치를 안정적으로 유지한다.
다음에, 시험결과에 따라 집적회로캐리어(1)에 탑재된 시험대상집적회로(105)를 언로딩시킨다. 시험대상집적회로(105)의 언로딩작업은 누름조작부(21)를 누름조작하여 집적회로접촉부(35a, 35b)를 이탈위치로 이동시킨 후 운송흡착장치(도시되지 않음)를 사용하여 이루어진다. 언로딩작업이 완료되면 시험대상집적회로(105)는 양품과 불량품으로 분리된다.
마지막으로, 다른 시험대상집적회로를 탑재하기 위해 집적회로캐리어(1)를 집적회로탑재위치로 이동시킨다. 이 때, 집적회로캐리어(1)의 이동은 누름조작부(21)를 누름조작해제하여 집적회로접촉부(35a, 35b)를 접촉위치로 이동시킨 후, 운반시스템(도시되지 않음)을 사용하여 이루어진다.
상술한 바와 같이, 래치부(31a, 31b)의 누름이동부(23a, 23b)측 단부의 인접영역에 위치하는 스토퍼돌기(45a, 45b)를 누름이동부(23a, 23b)에 형성함으로써, 접촉위치에 있는 집적회로접촉부(35a, 35b)에 접촉위치에서 이탈위치로 향하는 외부압력이 가해질 때 집적회로접촉부(35a, 35b)가 접촉위치에서 이탈위치를 향해 이동하는 것을 방지할 수 있다.
상술한 실시예에서는 접촉위치에서 이탈위치를 향하는 외부압력이 가해질 때 래치부(31a, 31b)의 누름이동부(23a, 23b)측 단부가 회동하는 회동경로의 시작점에 스토퍼돌기(25a, 25b)를 형성하고 있으나, 래치부(31a, 31b)의 다른 부분의 회동경로상에 스토퍼돌기(45a, 45b)를 형성할 수 있다.
그리고, 상술한 실시예에서는 스토퍼돌기(45a, 45b)를 누름이동부(23a, 23b)에 형성하고 있으나 베이스(11)에 형성하여 본 고안을 실시할 수 있다.
또한, 상술한 실시예에서는 돌기형상으로 스토퍼부를 형성하고 있으나, 막대형상등 다른 형태로 스토퍼부를 형성하여 본 고안을 실시할 수 있다.
한편, 본 고안은 DIR(Dual In-Line)형 집적회로, QFP(Quad Flat Package)형 집적회로, SOP(Small Out-line Package)형 집적회로등 집적회로의 종류에 따라 적절히 변형하여 실시할 수 있음은 물론이다.
따라서, 본 고안에 따르면, 집적회로캐리어를 운반시스템에 의해 이동시키는 동안 발생하는 외부충격에 대항하여 시험대상집적회로의 탑재위치를 안정적으로 유지함으로써, 집적회로시험의 신뢰성을 향상시키고 언로딩오차교정에 따른 추가작업부담을 줄일 수 있게 된다.

Claims (3)

  1. 소정의 시험대상집적회로를 탑재하여 소정의 운반시스템에 의해 시험위치로 이동하는 집적회로캐리어에 있어서,
    상기 시험대상집적회로를 탑재하기 위한 탑재개구부를 갖는 집적회로탑재실이 중앙영역에 형성되는 보우트형상의 베이스와;
    상기 베이스의 높이방향을 따라 이동하도록 상기 베이스에 결합되는 누름조작부와;
    상기 누름조작부의 누름조작에 대응하여 상기 베이스의 높이방향을 따라 이동하도록 상기 집적회로탑재실 내벽면의 대향영역에 설치되는 한 쌍의 누름이동부와;
    상기 누름이동부의 이동에 대응하여 회동하도록 상기 베이스에 결합되고, 상기 집적회로탑재실의 내부에 위치하는 집적회로접촉부와 상기 누름이동부의 이동경로상에 위치하는 누름접촉부와 상기 누름조작부의 누름조작시 상기 누름이동부로부터 상기 누름접촉부에 인가되는 압력에 따라 상기 집적회로탑재실에 탑재된 시험대상집적회로의 노출표면을 상기 집적회로접촉부가 가압하는 접촉위치로부터 상기 시험대상집적회로의 탑재영역으로부터 상기 집적회로접촉부가 이탈되는 이탈위치로 상기 집적회로접촉부가 이동하도록 상기 집적회로접촉부 및 누름접촉부를 연결하는 연결부를 가지는 한 쌍의 래치부와;
    상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름이동부 및 누름조작부를 원위치로 이동시키는 누름복귀부와;
    상기 누름조작부의 누름조작 해제시 상기 집적회로접촉부가 상기 이탈위치로부터 상기 접촉위치로 이동하도록 상기 래치부를 회동시키는 래치복귀부와;
    상기 접촉위치에서 상기 이탈위치로 향하는 외부압력에 대항하여 상기 접촉위치로 이동한 집적회로접촉부가 상기 이탈위치를 향하여 이동하는 것을 방지하는 스토퍼부를 포함하는 것을 특징으로 집적회로캐리어.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼부는 상기 접촉위치에서 상기 이탈위치로 향하는 외부압력이 가해질 때 상기 래치부가 회동하는 회동경로의 시작점에 위치하도록 상기 누름이동부로부터 상기 래치부를 향해 돌출형성된 스토퍼돌기를 포함하고;
    상기 래치부의 상기 스토퍼돌기에 대향하는 영역에는 상기 누름조작부의 누름조작시 상기 집적회로접촉부가 상기 접촉위치에서 상기 이탈위치를 향해 이동할 수 있도록 상기 스토퍼돌기를 수용하는 스토퍼돌기수용홈이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 집적회로캐리어.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 누름이동부는 상기 누름조작부와 분리 형성되고;
    상기 집적회로탑재실의 바닥면에는 상기 시험위치에서 소정의 집적회로시험소켓의 시험단자에 접촉할 수 있도록 상기 탑재된 시험대상집적회로의 외부접속단자가 노출되는 접촉개구부가 형성되어 있으며;
    상기 누름복귀부는 상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름이동부를 원위치로 탄성이동시키는 누름이동부탄성부와, 상기 누름조작부의 누름조작해제시 상기 누름조작부를 원위치로 탄성이동시키는 조작부탄성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로캐리어.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100785510B1 (ko) * 2007-01-08 2007-12-13 주식회사 오킨스전자 반도체칩 패키지 캐리어
KR100898409B1 (ko) 2007-07-05 2009-05-21 주식회사 오킨스전자 리드프레임 방식 칩 패키지용 번인 소켓
KR101345814B1 (ko) * 2012-03-28 2014-02-14 주식회사 오킨스전자 반도체칩 패키지 캐리어

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