KR200201792Y1 - 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극 - Google Patents

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KR200201792Y1
KR200201792Y1 KR2020000014697U KR20000014697U KR200201792Y1 KR 200201792 Y1 KR200201792 Y1 KR 200201792Y1 KR 2020000014697 U KR2020000014697 U KR 2020000014697U KR 20000014697 U KR20000014697 U KR 20000014697U KR 200201792 Y1 KR200201792 Y1 KR 200201792Y1
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Abstract

본 고안은 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극에 관한 것으로서, 플라즈마 디스플레이 패널의 패턴을 검사하기 위해 패널의 가장자리에 일정한 그룹을 이뤄 형성된 콘넥터 전극의 마지막 콘넥터 전극과 연장된 보조전극을 다른 그룹에 형성하여 쌍을 이뤄 패턴을 검사하는 패턴검사기나 그룹별로 측정하는 패턴검사기에서 콘넥터 전극의 마지막 전극패턴을 용이하게 검사할 수 있도록 함으로써 플라즈마 디스플레이 패널의 완성품 수율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극{DUMMY CONNECTOR PATTERNS OF THE PLASMA DISPLAY PANEL}
본 고안은 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 플라즈마 디스플레이 패널의 패턴을 검사하기 위해 패널의 가장자리에 일정한 그룹을 이뤄 형성된 콘넥터 전극의 마지막 콘넥터 전극과 연장된 보조전극을 다른 그룹에 형성하여 쌍을 이뤄 패턴을 검사하는 패턴검사기나 그룹별로 측정하는 패턴검사기에서 콘넥터 전극의 마지막 전극패턴을 용이하게 검사할 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극에 관한 것이다.
일반적으로 PDP(Plasma Display panel)는 상판 글라스와 하판 글라스 및 그 사이의 칸막이에 의해 밀폐된 유리사이에 Ne+Ar, Ne+Xe 등의 가스를 넣어 양극과 음극의 전극에 의해 전압을 인가하여 네온광을 발광시켜 표시광으로 이용하는 전자표시장치를 말하는 것이다.
따라서, 플라즈마 디스플레이는 마주보는 상판 글라스와 하판 글라스의 세로 전극패턴과 가로 전극사이에 구성 교차점을 방전셀로 형성하여 방전을 온오프함으로써 갖가지 문자나 패턴을 표시한다.
PDP는 발광형으로 선명한 대형표시가 가능하기 때문에 FA(공장자동화)용으로 많이 사용되었으나 현재는 표시장치의 소형 경량화, 고성능화와 함께 퍼스널 컴퓨터 등 OA(사무자동화) 등으로 많이 활용하고 있으며 대형 패널로 표시품위가 높을 뿐만 아니라 응답속도가 빠르기 때문에 벽걸이TV로 채용되면서 수요가 급증하고 있다.
이와 같은 PDP는 상판 글라스와 하판 글라스에 형성된 전극패턴의 교차점에서 플라즈마 발생에 의한 방전에 의해 발광하도록 구성되었기 때문에 상판 글라스와 하판 글라스에 형성된 전극패턴의 전기적인 특성에 따라 완성품의 수율이 결정된다.
따라서, PDP 완성품의 수율을 향상시키기 위해 상판 글라스와 하판 글라스에 형성된 전극패턴에 대한 전기적인 특성을 검사하게 되는데 본 고안은 그 중에서 콘넥터 전극을 사용하여 전극패턴 배선의 단락여부 및 다른 전극패턴 배선과의 합선여부를 검사하는 경우에 대해 다루고자 한다.
도 1은 일반적인 PDP의 상판 글라스와 하판 글라스에 형성된 전극패턴을 나타낸 도면으로써, (가)는 상판 글라스에 형성된 전극패턴이고, (나)는 하판 글라스에 형성된 전극패턴이다.
여기에 도시된 바와 같이 상판 글라스(10)와 하판 글라스(11)의 표면에는 다수개의 전극패턴(10a)(10b)(11a)(11b)이 형성되어 있음을 볼 수 있다. 또한, 전극패턴(10a)(10b)(11a)(11b)에 전원 등을 공급하기 위한 콘넥터 전극(10c)(11c)이 형성되어 있다.
이 전극패턴(10a)(10b)(11a)(11b)은 통상, 42인치 PDP의 경우 선폭은 50㎛, 피치(pitch)는 200㎛인 반면, 선길이는 1m에 달하기 때문에 전극패턴(10a)(10b)(11a)(11b)을 형성하는 공정에서뿐만 아니라 그 후에 반복되는 열처리와 같은 제조과정에서 배선이 끊어지거나(open) 인접한 다른 배선과 연결되는(short) 경우가 빈번히 발생한다.
따라서, PDP 제조공정의 중간중간에 전극패턴(10a)(10b)(11a)(11b)의 양측에 형성된 콘넥터 전극(10c)(11c)을 통해 전극패턴(10a)(10b)(11a)(11b)의 전기적인 특성을 검사하는 패턴검사 공정이 필수적으로 들어가 전극패턴(10a)(10b)(11a) (11b)의 단락여부 및 합선여부를 검사함으로써 PDP 완성품의 수율을 높일 수 있도록 한다.
도 2는 본 출원인이 별도 출원한 '정전용량 근접센서 프로브를 이용한 스캔방식의 검사장치 및 방법'에 개시된 정전용량 근접센서 프로브를 이용하여 전극패턴의 단락여부 및 합선여부를 검사하는 방법을 나타낸 도면이다.
여기에 도시된 바와 같이 제 1전극패턴(P1)의 좌측에서 연장된 제 1콘넥터 전극(C1)에 제 1프로브(TP1)가 설치되고, 제 2전극패턴(P2)의 우측에서 연장된 제 2콘넥터 전극(C2)에 제 3프로브(TP3)가 설치된다. 그리고, 제 3전극패턴(P3)의 좌측에서 연장된 제 3콘넥터 전극(C3)에 제 2프로브(TP2)가 설치되고, 제 4전극패턴(P4)의 우측에서 연장된 제 4콘넥터 전극(C4)에 제 4프로브(TP4)가 설치된다.
또한, 제 1전극패턴(P1)과 제 3전극패턴(P3)의 우측에서 정전용량을 측정하기 위한 제 2정전용량프로브(CP2)와 제 2전극패턴(P2)과 제 4전극패턴(P4)의 좌측에서 정전용량을 측정하기 위한 제 1정전용량프로브(CP1)가 각각 설치된다.
그리고, 제 1프로브(TP1)는 제 1콘넥터전극(C1)에 전원전압을 인가하기 위한 제 1전원스위치(ⅠS)와 접지전압을 인가하기 위한 제 1접지스위치(ⅠG)가 설치되어 있으며 제 1콘넥터전극(C1)의 상태를 측정할 수 있도록 구성된다. 또한, 제 2프로브(TP2)는 제 3콘넥터전극(C3)에 전원전압을 인가하기 위한 제 2전원스위치(ⅡS)가 설치되어 있으며 제 3콘넥터전극(C3)의 상태를 측정할 수 있도록 구성된다. 또한, 제 3프로브(TP3)는 제 2콘넥터전극(C2)에 전원전압을 인가하기 위한 제 3전원스위치(ⅢS)와 접지전압을 인가하기 위한 제 3접지스위치(ⅢG)가 설치되어 있으며 제 2콘넥터전극(C2)의 상태를 측정할 수 있도록 구성된다. 또한, 제 4프로브(TP4)는 제 4콘넥터전극(C4)에 전원전압을 인가하기 위한 제 4전원스위치(ⅣS)가 설치되어 있으며 제 4콘넥터전극(C4)의 상태를 측정할 수 있도록 구성된다.
그리고, 제 1정전용량프로브(CP1)는 제 2전극패턴(P2)과 제 4전극패턴(P4)에 의해 변화되는 정전용량의 변화를 감지하도록 구성되며 제 2정전용량프로브(CP2)는 제 1전극패턴(P1)과 제 4전극패턴(P4)에 의해 변화되는 정전용량의 변화를 감지하도록 구성된다.
위와 같이 제 1내지 제 4프로브(TP1,TP2,TP3,TP4)와 제 1내지 제 2정전용량프로브(CP1,CP2)가 한 조를 이뤄 PDP의 전극패턴을 검사하게 된다.
위와 같이 설치된 상태에서 플라즈마 디스플레이 패널의 전극패턴 상태를 검사하게 된다.
도 3에 도시된 바와 같이 Ⅰ단계에서부터 Ⅴ단계로 이루어진 사이클을 순차적으로 스캔하면서 테스트를 수행하게 된다.
먼저, Ⅰ단계에서는 기준값을 측정하게 된다. 제 1내지 제 4프로브(TP1,TP2,TP3,TP4)에 접지전압(GND) 및 전원전압(VC)을 공급하지 않은 상태에서 제 1내지 제 2정전용량 프로브(CP1,CP2)의 상태를 측정한다.
다음으로, Ⅱ단계에서는 제 1전극패턴(P1)의 오픈여부를 측정하는 단계로써 제 1접지스위치(ⅠG)를 온시켜 제 1콘넥터전극(C1)에 접지전압(GND)을 인가한 상태에서 제 2정전용량프로브(CP2)에서 측정된 정전용량값의 변화로 제 1전극패턴(P1)의 단락여부를 판정하게 된다. 다시말해, 제 2정전용량 프로브(CP2)에서 측정된 정전용량값이 기준값과 동일할 경우에는 제 1전극패턴(P1)은 끊어진 것으로 판단하고 측정된 정전용량값이 기준값보다 클 경우에는 정상인 것으로 판단하게 된다.
다음으로, Ⅲ단계에서는 제 1전극패턴(P1)과 제 2,3,4전극패턴(P2,P3,P4)간에 합선된 상태를 측정하는 단계로써 제 1접지스위치(ⅠG)를 온시켜 제 1콘넥터전극(C1)에 접지전압(GND)을 인가한 상태에서 제 2,3,4전원스위치(ⅡS,ⅢS,ⅣS)를 온시켜 제 2,3,4콘넥터전극(C2,C3,C4)에 전원전압(VC)을 인가하면서 제 2,3,4프로브(TP2,TP3,TP4)에서 전압을 측정하여 전원전압(VC)이 측정될 경우에는 모두 정상이지만, 제 2,3,4프로브(TP2,TP3,TP4) 중 적어도 어느 하나 이상의 프로브에서 접지전압(GND)이 측정될 경우에는 제 1전극패턴(P1)에 인가되는 접지전압(GND)으로 전류패스가 형성된 것으로써 제 1전극패턴(P1)과 제 2,3,4전극패턴(P2,P3,P4) 중 적어도 어느 하나이상의 전극패턴과 합선된 상태로 판단하게 된다.
다음으로, Ⅳ단계에서는 제 2전극패턴(P2)의 오픈여부를 측정하는 단계로써 제 3접지스위치(ⅢG)를 온시켜 제 2콘넥터전극(C2)에 접지전압(GND)을 인가한 상태에서 제 1정전용량프로브(CP1)에서 측정된 정전용량값의 변화로 제 2전극패턴(P2)의 단락여부를 판정하게 된다. 다시말해, 제 1정전용량 프로브(CP1)에서 측정된 정전용량값이 기준값과 동일할 경우에는 제 2전극패턴(P2)은 끊어진 것으로 판단하고 측정된 정전용량값이 기준값보다 클 경우에는 정상인 것으로 판단하게 된다.
다음으로, Ⅴ단계에서는 제 2전극패턴(P2)과 제 1,3,4전극패턴(P1,P3,P4)간에 합선된 상태를 측정하는 단계로써 제 3접지스위치(ⅢG)를 온시켜 제 2콘넥터전극(C2)에 접지전압(GND)을 인가한 상태에서 제 1,2,4전원스위치(ⅠS,ⅡS,ⅣS)를 온시켜 제 1,3,4콘넥터전극(C1,C3,C4)에 전원을 인가하면서 제 1,2,4프로브(TP1,TP2,TP4)에서 전압을 측정하여 전원전압(VC)이 측정될 경우에는 모두 정상이지만, 제 1,2,4프로브(TP1,TP2,TP4) 중 적어도 어느 하나 이상의 프로브에서 접지전압이 측정될 경우에는 제 2전극패턴(P2)에 인가되는 접지전압으로 전류패스가 형성된 것으로써 제 2전극패턴(P2)과 제 1,3,4전극패턴(P1,P3,P4) 중 적어도 어느 하나이상의 전극패턴과 합선된 상태로 판단하게 된다.
이와 같이 제 1내지 제 4프로브(TP1,TP2,TP3,TP4)를 한 조로 하여 한 사이클 동안에 제 1전극패턴(P1)과 제 2전극패턴(P2)의 단락여부와 합선여부를 측정하고, 제 1내지 제 4프로브(TP1,TP2,TP3,TP4)를 다음 전극패턴으로 이동한 후 다시 동일한 방법으로 제 3전극패턴(P3)과 제 4전극패턴(P4)의 단락여부와 합선여부를 측정하는 작업을 반복하게 된다.
이렇게 콘넥터 전극을 하나 건너 하나씩 전극패턴을 건너뛰면서 전극패턴의 좌우에 전극패턴에서 연장된 콘넥터 전극을 일정한 그룹으로 묶어서 형성된다. 따라서, 4개의 프로브를 한 조로 이루어 측정하는 패턴검사기는 도 4의 (가)와 같이 제 4프로브(TP4)가 콘넥터 전극과 접촉되지 않게 된다. 또한, 콘넥터 전극의 그룹이 시작되는 위치에서는 도 4의 (나)와 같이 제 1프로브(TP1)가 콘넥터 전극과 접촉되지 않아 정확한 측정이 이루어지지 않는 문제점이 있다.
본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창작된 것으로서, 본 고안의 목적은 전극패턴을 연장하여 좌우에 형성된 콘넥터 전극의 그룹의 첫 번째 콘넥터 전극과 마지막 콘넥터 전극의 보조전극을 다른 그룹에도 형성함으로써 프로브 4개를 한 조로 형성하여 플라즈마 디스플레이 패널의 전극패턴을 측정할 때 또는 그룹별 접촉식 측정방식에서도 모든 콘넥터 전극과 접촉하여 테스트를 할 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극을 제공함에 있다.
도 1은 일반적인 PDP의 상판 글라스와 하판 글라스에 형성된 전극패턴을 나타낸 도면으로써, (가)는 상판 글라스에 형성된 전극패턴이고, (나)는 하판 글라스에 형성된 전극패턴이다.
도 2는 일반적인 정전용량 근접센서 프로브를 이용한 스캔방식의 검사장치를 나타낸 구성도이다.
도 3은 도 2의 검사장치를 이용하여 테스트하는 순서를 나타낸 도면이다.
도 4는 종래의 검사장치에 의해 측정할 때 프로브와 콘넥터 전극과의 관계를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명에 의해 형성된 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 고안에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극을 나타낸 도면이다.
- 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 -
10 : 상판 글라스 11 : 하판 글라스
10a,10b,11a,11b : 전극패턴
TP1,TP2,TP3,TP4 : 제 1내지 제 4프로브
CP1,CP2 : 제 1내지 제 2정전용량프로브
C1,C2,C3,C4,Cn-2,Cn-1,Cn,Cn',Cn+1,Cn+1',Cn+2 : 콘넥터 전극
P1,P2,P3,P4,Pn-2,Pn-1,Pn,Pn+1,Pn+2 : 전극패턴
ⅠS,ⅡS,ⅢS,ⅣS : 제 1내지 제 4전원스위치
ⅠG : 제 1접지스위치 ⅢG : 제 3접지스위치
G1,G2,G3,G4 : 제 1내지 제 4그룹
상기와 같은 목적을 이루기 위한 본 고안은 플라즈마 디스플레이 패널의 상판글라스와 하판글라스에 형성되는 전극패턴을 좌우로 연장하여 그룹으로 묶어 형성된 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극에 있어서, 상기 상판글라스에 형성된 전극패턴의 그룹에서 당 그룹의 마지막 전극패턴에서 연장된 콘넥터 전극이 당 그룹내에 형성됨과 아울러 다음 그룹의 첫 번째 위치에도 형성되고, 다음 그룹의 첫 번째 전극패턴에서 연장된 콘넥터 전극이 당 그룹에 형성됨과 아울러 이전 그룹의 마지막 위치에도 형성되며, 상기 하판글라스에 형성된 전극패턴의 그룹간 경계에 위치한 어느 한 전극패턴이 인접한 그룹으로도 연장되어 콘텍터 전극이 형성된 것 을 특징으로 한다.
이와 같이 이루어진 본 고안은 4개의 프로브를 한 조로 형성하여 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극과 접촉하여 전극패턴의 전기적인 특성을 측정할 때 측정하던 콘넥터 전극 그룹에서 다음 콘넥터 전극 그룹으로 이동할 때 첫 번째 콘넥터 전극과 마지막 콘넥터 전극은 해당 그룹이나 다음 그룹에서 연장된 콘넥터 전극에 의해 프로브와 접촉하여 전극패턴을 테스트할 수 있도록 할뿐만 아니라 콘넥터 전극의 그룹별로 검사하는 접촉식 측정방식에 마지막 전극패턴을 용이하게 측정할 수 있도록 한다.
이하, 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 또한 본 실시예는 본 고안의 권리범위를 한정하는 것은 아니고, 단지 예시로 제시된 것이며 종래 구성과 동일한 부분은 동일한 부호 및 명칭을 사용한다.
도 5는 본 고안에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극을 나타낸 도면이다.
여기에 도시된 바와 같이 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극은 전극패턴을 하나 건너 하나씩 좌우로 연장하여 일정한 그룹을 이뤄 형성된다.
그리고, 제 1그룹(G1)의 마지막 전극패턴인 제 n전극패턴(Pn)에서 연장되는 제 n콘넥터 전극(Cn)과 제 n'콘넥터 전극(Cn')이 제 1그룹(G1)과 제 2그룹(G2)으로 분기되어 제 1그룹(G1)과 제 2그룹(G2)에 각각 형성된다. 그리고, 제 2그룹(G2)의 첫 번째 전극패턴인 제 n+1전극패턴(Pn+1')에서 연장되는 제 n+1콘넥터 전극(Cn+1)과 제 n+1'콘넥터 전극(Cn+1')이 제 1그룹(G1)과 제 2그룹(G2)으로 분기되어 제 1그룹(G1)과 제 2그룹(G2)에 각각 형성된다.
따라서, 도 5의 (가)에 도시된 바와 같이 제 1그룹(G1)의 마지막 부분인 제 n-2, n-1, n, n+1전극패턴(Pn-2,Pn-1,Pn,Pn+1)을 측정할 때 제 1내지 제 4프로브(TP1,TP2,TP3,TP4)와 접촉되는 콘넥터 전극은 제 n-2, n-1, n, n+1'콘넥터 전극(Cn-2,Cn-1,Cn,Cn+1')으로 제 n+1'콘넥터 전극(Cn+1')은 제 2그룹(G2)에서 연장된 보조전극으로 이 보조전극을 이용하여 전극패턴을 전기적인 특성을 정확하게 측정할 수 있게 된다.
또한, 도 5의 (나)에 도시된 바와 같이 제 2그룹(G2)의 처음 부분인 제 n, n+1, n+2, n+3전극패턴(Pn,Pn+1,Pn+2,Pn+3)을 측정할 때 제 1내지 제 4프로브(TP1,TP2,TP3,TP4)와 접촉되는 콘넥터 전극은 제 n', n+1, n+2, n+3콘넥터 전극(Cn',Cn+1,Cn+2,Cn+3)으로 제 n'콘넥터 전극(Cn')은 제 1그룹(G1)에서 연장된 보조전극으로 이 보조전극을 이용하여 전극패턴을 전기적인 특성을 정확하게 측정할 수 있게 된다.
따라서, 제 n, n+1전극패턴(Pn,Pn+1)은 제 1그룹(G1)과 제 2그룹(G2)의 콘넥터 전극에 의해 이중으로 측정된다.
도 6은 본 고안에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극을 나타낸 도면이다.
여기에 도시된 콘텍터 전극은 플라즈마 디스플레이 패널의 하판글라스에 형성된 콘넥터 전극으로써 전극패턴의 제 4그룹(G4)에 있는 제 n전극패턴(Pn)과 제 n-1전극패턴(Pn-1) 중에서 제 n전극패턴(Pn)에서 연장되는 제 n콘넥터 전극(Cn)을 제 4그룹(G4)에도 형성하고 또한, 제 3그룹(G3)의 제 n-1콘넥터 전극(Cn-1) 다음으로 제 n'콘텍터 전극(Cn')을 연장하여 형성하였다.
이와 같이 하판글라스에 형성된 전극패턴을 전기적 특성을 측정할 때 제 3그룹(G3)과 제 4그룹(G4)간의 경계에 형성된 제 n전극패턴(Pn)은 제 3그룹(G3)에서 측정할 때와 제 4그룹(G4)에서 측정할 때 모두 측정되면서 인접한 전극패턴의 정확한 전기적 특성의 측정이 이루어질 수 있도록 한다.
상기한 바와 같이 본 고안은 플라즈마 디스플레이 패널의 패턴을 검사하기 위해 패널의 가장자리에 일정한 그룹을 이뤄 형성된 콘넥터 전극의 마지막 콘넥터 전극과 연장된 보조전극을 다른 그룹에 형성하여 쌍을 이뤄 패턴을 검사하는 패턴검사기나 그룹별로 측정하는 접촉식 패턴검사기에서 콘넥터 전극의 마지막 전극패턴을 용이하게 검사할 수 있도록 하여 플라즈마 디스플레이 패널의 모든 전극패턴을 측정할 수 있어 플라즈마 디스플레이 패널의 완성품 수율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.

Claims (1)

  1. 플라즈마 디스플레이 패널의 상판글라스와 하판글라스에 형성되는 전극패턴을 좌우로 연장하여 그룹으로 묶어 형성된 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극에 있어서,
    상기 상판글라스에 형성된 전극패턴의 그룹에서 당 그룹의 마지막 전극패턴에서 연장된 콘넥터 전극이 당 그룹내에 형성됨과 아울러 다음 그룹의 첫 번째 위치에도 형성되고, 다음 그룹의 첫 번째 전극패턴에서 연장된 콘넥터 전극이 당 그룹에 형성됨과 아울러 이전 그룹의 마지막 위치에도 형성되며,
    상기 하판글라스에 형성된 전극패턴의 그룹간 경계에 위치한 어느 한 전극패턴이 인접한 그룹으로도 연장되어 콘텍터 전극이 형성된 것
    을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극.
KR2020000014697U 2000-05-24 2000-05-24 플라즈마 디스플레이 패널의 콘넥터 전극 KR200201792Y1 (ko)

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