KR20020064116A - 아이씨 테스트 시스템 - Google Patents

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KR20020064116A
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홍기혹
김관우
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엘지이노텍 주식회사
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    • G—PHYSICS
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Abstract

본 발명은 IC 테스트 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 메이커에서 제공하는 IC에 대한 응용 회로가 꾸며지는 응용 회로부와, 외부에서 입력되는 제어 신호에 따라 전원을 가변시켜 상기 응용 회로부로 인가하는 파워 서플라이와, 상기 응용 회로부로부터 출력되는 전압 및 전류의 크기를 측정하고, 이를 디지털 신호로 변환시켜 출력하는 디지털 멀티메터와, 상기 파워 서플라이를 제어하고, 상기 디지털 멀티메터로부터 출력되는 디지털 신호에 따라 입력 전압의 변화에 따른 상기 IC의 출력 전압 및 전류를 디스플레이하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
따라서 상기와 같이 구성된 본 발명에 따르면 IC를 장착후 자동으로 전압을 가변시키면서 입력전압에 대한 변화율을 자동으로 측정함으로써 IC 테스트시 시간적 손실을 줄이고, 측정 데이터의 신뢰도를 높일 수 있다.

Description

아이씨 테스트 시스템{IC TEST SYSTEM}
본 발명은 IC 테스트 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 IC의 전압과 전류의 변화에 따른 전기적 특성을 자동으로 검사할 수 있는 IC 테스트 시스템에 관한 것이다.
일반적으로 종래의 IC는 메이커에서 발행하는 데스트 회로 등을 이용하여 IC의 전압 및 전류 특성을 측정할 때 IC로 인가되는 전원을 수동으로 가변하면서 각 입력전압에 대한 변화율을 측정하는 방식이 사용되었다.
그러나 이러한 종래의 IC 테스트 시스템은 가변해야 할 전압의 입력값을 일일이 테스트자가 수동으로 변화하면서 측정해야 함으로써 하나의 IC를 테스트하기 위해 시간적 손실이 발생하며, 측정 데이터의 신뢰도가 떨어지는 문제점이 있다.
따라서 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, IC를 장착후 자동으로 전압을 가변시키면서 입력전압에 대한 변화율을 자동으로 측정함으로써 IC 테스트시 시간적 손실을 줄이고, 측정 데이터의 신뢰도를 높이도록 하는데 있다.
도 1은 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템의 구성을 나타낸 블록도
도 2는 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템을 이용하여 Quad2-input NAND gate를 테스트한 결과를 나타낸 표
도 3은 도 2의 테스트 결과를 나타낸 그래프
<도면중 주요부분에 대한 부호의 설명>
100 : IC 테스트 시스템101 : 전선
102 : GPIB 케이블110 : 응용 회로부
111 : IC120 : 파워 서플라이
130 : 디지털 멀티메터140 : 컴퓨터
141 : 모니터
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,
메이커에서 제공하는 IC에 대한 응용 회로가 꾸며지는 응용 회로부와,
외부에서 입력되는 제어 신호에 따라 전원을 가변시켜 상기 응용 회로부로 인가하는 파워 서플라이와,
상기 응용 회로부로부터 출력되는 전압 및 전류의 크기를 측정하고, 이를 디지털 신호로 변환시켜 출력하는 디지털 멀티메터와,
상기 파워 서플라이를 제어하고, 상기 디지털 멀티메터로부터 출력되는 디지털 신호에 따라 입력 전압의 변화에 따른 상기 IC의 출력 전압 및 전류를 디스플레이하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기에서 상기 컴퓨터는 테스트 시작시 상기 파워 서플라이 및 디지털 멀티메터로 소정의 신호를 출력하여 응답에 따라 결선 여부 및 동작 상태를 확인한다.
이하, 본 발명에 의한 IC 테스트 시스템의 구성을 도 1을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 1을 참조하면 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템(100)은 응용 회로부(110)와, 파워 서플라이(120)와, 디지털 멀티메터(Digital Mulitmeter)(130)와, 컴퓨터(140)로 이루어진다.
응용 회로부(110)는 메이커에서 제공하는 IC(111)에 대한 응용 회로가 꾸며진다. 여기에서 응용 회로부(110)는 IC(111)의 종류에 따라 그 응용 회로가 변경되며, 응용 회로의 성능 및 특성을 향상시키기 위해 별도의 회로가 추가될 수도 있다.
파워 서플라이(120)는 컴퓨터(140)에서 입력되는 제어 신호에 따라 전원을 가변시켜 응용 회로부(110)로 인가한다. 여기에서 파워 서플라이(120)와 컴퓨터(140)간의 통신은 IEEE 488.2 통신 규약을 따르고, 여기에서 또한 파워 서플라이(120)와 컴퓨터(140)는 GPIB 케이블(102)에 의해 연결된다. 여기에서 또 파워 서플라이(120)와 응용 회로부(110)는 전선(101)에 의해 연결된다.
디지털 멀티메터(130)는 응용 회로부(110)로부터 출력되는 전압 및 전류의 크기를 측정하고, 이를 디지털 신호로 변환시켜 출력한다. 여기에서 디지털 멀티메터(130)는 응용 회로부(110)와 전선(101)에 의해 연결된다.
컴퓨터(140)는 파워 서플라이(120)가 전원을 가변시키도록 이로 제어 신호를 출력하고, 디지털 멀티메터(130)로부터 출력되는 디지털 신호에 따라 입력 전압의 변화에 따른 IC(111)의 출력 전압 및 전류를 디스플레이 또는 출력한다. 여기에서 컴퓨터(140)와 디지털 멀티메터(130)의 통신은 IEEE 488.2 통신 규약을 따르고, 여기에서 또한 컴퓨터(140)와 디지털 멀티메터(130)는 GPIB 케이블(102)에 의해 연결된다. 여기에서 또 컴퓨터(140)는 테스트 시작시 파워 서플라이(120) 및 디지털 멀티메터(130)로 소정의 신호를 출력하여 응답에 따라 결선 여부 및 동작 상태를 확인하여 상태에 따라 모니터(141)를 통해 결선 상태 및 동작 상태 등을 출력한다.
이하 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템의 동작을 도 2 및 도 3을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템을 이용하여 Quad2-input NAND gate를 테스트한 결과를 나타낸 표이고, 도 3은 도 2의 테스트 결과를 나타낸 그래프이다.
도 2 및 도 3을 참조하여 본 발명의 동작을 설명하면, 먼저 테스트자가 모든 결선을 마친 상태에서 컴퓨터(140)를 조작하여 테스트를 시작하면, 컴퓨터(140)는 파워 서플라이(120)와 디지털 멀티메터(130)로 IEEE 488.2 통신 규약에 따라 소정의 신호를 출력하고, 파워 서플라이(120)와 디지털 멀티메터(130)로부터 응답되는 신호에 따라 시스템의 상태를 확인한다. 여기에서 시스템의 이상이 없으면 컴퓨터(140)는 모니터(141)에 '시스템 양호' 등의 문자를 디스플레이시켜 시스템의이상무를 알리며, GPIB 케이블(102)의 접속 불량 또는 장치 이상으로 컴퓨터(140)로 아무런 응답이 없거나 특정 응답이 전송되면 컴퓨터(140)는 모니터(141)에 '시스템 이상-케이블 접속확인' 등의 문자를 디스플레이시켜 시스템의 이상을 테스트자에게 알린다.
시스템에 아무런 이상이 없으면 컴퓨터(140)는 파워 서플라이(120)로 제어 신호를 출력하는데, 파워 서플라이(120)에서 원하는 전압이 출력되도록 하고, 디지털 멀티메터(130)를 통해 출력되는 디지털 신호에 의해 IC(111)의 출력 전압 및 전류를 측정후 이를 메모리(도시 생략)에 저장한 다음 목표값과 비교하여 원하는 값만큼 파워 서플라이(120)를 제어하여 입력 전원을 가변시킨다. 즉, 파워 서플라이(120)의 출력 전압을 0.00~2.60V에서는 목표값을 0.20V 단위로 변경시키고, 2.60~4.00V에서는 목표값을 0.05V 단위로 변경시키며, 4.00~7.00V에서는 목표값을 다시 0.20V로 변경되도록 제어한다. 여기에서 컴퓨터(140)는 내부 소프트웨어의 변경에 따라 파워 서플라이(120)의 출력 전압의 크기 및 단위를 자유롭게 가변시킬 수 있다.
그런 다음 컴퓨터(140)는 모든 전압 및 전류의 측정이 완료되면 모니터(141)를 통해 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같은 표와 그래프를 출력한다. 여기에서 컴퓨터(140)는 프린터(도시 생략)를 통해 출력하거나 데이터를 다른 장치로도 출력 가능하다.
따라서 테스트를 원하는 IC를 메이커에서 제공한 응용 회로를 이용하여 구성한 테스트 보드에 삽입후 파워 서플라이를 통해 전원을 자동으로 가변시켜 각각의입력 전원에 따른 출력 전압과 출력 전류를 디스플레이시킬 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 IC 테스트 시스템에 의하면, IC를 장착후 자동으로 전압을 가변시키면서 입력전압에 대한 변화율을 자동으로 측정함으로써 IC 테스트시 시간적 손실을 줄이고, 측정 데이터의 신뢰도를 높일 수 있다.

Claims (2)

  1. 메이커에서 제공하는 IC에 대한 응용 회로가 꾸며지는 응용 회로부와,
    외부에서 입력되는 제어 신호에 따라 전원을 가변시켜 상기 응용 회로부로 인가하는 파워 서플라이와,
    상기 응용 회로부로부터 출력되는 전압 및 전류의 크기를 측정하고, 이를 디지털 신호로 변환시켜 출력하는 디지털 멀티메터와,
    상기 파워 서플라이를 제어하고, 상기 디지털 멀티메터로부터 출력되는 디지털 신호에 따라 입력 전압의 변화에 따른 상기 IC의 출력 전압 및 전류를 디스플레이하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC 테스트 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 컴퓨터는,
    테스트 시작시 상기 파워 서플라이 및 디지털 멀티메터로 소정의 신호를 출력하여 응답에 따라 결선 여부 및 동작 상태를 확인하는 것을 특징으로 하는 IC 테스트 시스템.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100750568B1 (ko) * 2006-10-31 2007-08-20 한양대학교 산학협력단 반도체칩의 시험 장치

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JPH09264933A (ja) * 1996-03-28 1997-10-07 Ando Electric Co Ltd Ｉｃテスタの並列試験方法
KR19990070715A (ko) * 1998-02-24 1999-09-15 김덕중 선형 아이씨 테스터용 고전압 옵션 회로
KR20010079990A (ko) * 1999-08-16 2001-08-22 오우라 히로시 Ｉｃ 시험장치의 타이밍 교정방법 및 그 교정방법을이용한 교정기능을 갖는 ｉｃ 시험장치

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