KR20020058369A - array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof - Google Patents
array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20020058369A KR20020058369A KR1020000086438A KR20000086438A KR20020058369A KR 20020058369 A KR20020058369 A KR 20020058369A KR 1020000086438 A KR1020000086438 A KR 1020000086438A KR 20000086438 A KR20000086438 A KR 20000086438A KR 20020058369 A KR20020058369 A KR 20020058369A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- gate
- layer
- electrode
- pad
- array substrate
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136231—Active matrix addressed cells for reducing the number of lithographic steps
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
- G02F2201/123—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode pixel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76838—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
- H01L21/76886—Modifying permanently or temporarily the pattern or the conductivity of conductive members, e.g. formation of alloys, reduction of contact resistances
- H01L21/76892—Modifying permanently or temporarily the pattern or the conductivity of conductive members, e.g. formation of alloys, reduction of contact resistances modifying the pattern
- H01L21/76894—Modifying permanently or temporarily the pattern or the conductivity of conductive members, e.g. formation of alloys, reduction of contact resistances modifying the pattern using a laser, e.g. laser cutting, laser direct writing, laser repair
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same.
일반적으로 액정 표시 장치는 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치이다.In general, a liquid crystal display device arranges two substrates on which electrodes are formed so that the surfaces on which the two electrodes are formed face each other, injects a liquid crystal material between the two substrates, and applies a voltage to the two electrodes to generate an electric field. By moving the liquid crystal molecules, the image is expressed by the transmittance of light that varies accordingly.
액정 표시 장치는 다양한 형태로 이루어질 수 있는데, 현재 박막 트랜지스터와 박막 트랜지스터에 연결된 화소 전극이 행렬 방식으로 배열된 능동 행렬 액정 표시 장치(Active Matrix LCD : AM-LCD)가 해상도 및 동영상 구현 능력이 우수하여 가장 주목받고 있다.Liquid crystal displays may be formed in various forms. Currently, an active matrix LCD (AM-LCD) having a thin film transistor and pixel electrodes connected to the thin film transistors arranged in a matrix manner has excellent resolution and video performance. It is most noticed.
이러한 액정 표시 장치는 하부의 어레이 기판에 화소 전극이 형성되어 있고 상부 기판인 컬러 필터 기판에 공통 전극이 형성되어 있는 구조로, 상하로 걸리는 기판에 수직한 방향의 전기장에 의해 액정 분자를 구동하는 방식이다. 이는, 투과율과 개구율 등의 특성이 우수하며, 상판의 공통 전극이 접지 역할을 하게 되어 정전기로 인한 액정셀의 파괴를 방지할 수 있다.The liquid crystal display has a structure in which a pixel electrode is formed on a lower array substrate and a common electrode is formed on a color filter substrate, which is an upper substrate, and drives liquid crystal molecules by an electric field in a direction perpendicular to an up and down substrate. to be. This is excellent in characteristics such as transmittance and aperture ratio, and the common electrode of the upper plate serves as a ground, thereby preventing the destruction of the liquid crystal cell due to static electricity.
액정 표시 장치의 상부 기판은 화소 전극 이외의 부분에서 발생하는 빛샘 현상을 막기 위해 블랙 매트릭스(black matrix)를 더 포함한다.The upper substrate of the liquid crystal display may further include a black matrix to prevent light leakage occurring in portions other than the pixel electrode.
한편, 액정 표시 장치의 하부 기판인 어레이 기판은 박막을 증착하고 마스크를 이용하여 사진 식각하는 공정을 여러 번 반복함으로써 형성되는데, 통상적으로 마스크 수는 5장 내지 6장이 사용되고 있으며, 마스크의 수가 어레이 기판을 제조하는 공정수를 대표한다.The array substrate, which is a lower substrate of the liquid crystal display, is formed by repeatedly depositing a thin film and performing a photolithography process using a mask several times. Typically, 5 to 6 masks are used, and the number of masks is an array substrate. Represents the number of processes to manufacture.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, a conventional array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판에 대한 평면도이고, 도 2는 도 1에서 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면도이다.1 is a plan view of a conventional array substrate for a liquid crystal display device, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 1.
도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 액정 표시 장치용 어레이 기판에서는 투명한 절연 기판(10) 위에 가로 방향을 가지는 게이트 배선(21)과, 게이트 배선(21)에서 연장된 게이트 전극(22), 게이트 배선(21)의 일끝단에 위치하는 게이트 패드(23)가 형성되어 있다.1 and 2, in the array substrate for a liquid crystal display device, a gate wiring 21 having a horizontal direction on the transparent insulating substrate 10, a gate electrode 22 extending from the gate wiring 21, The gate pad 23 located at one end of the gate wiring 21 is formed.
게이트 배선(21)과 게이트 전극(22) 및 게이트 패드(23) 상부에는 게이트 절연막(30)이 형성되어 있으며, 그 위에 액티브층(41)과 오믹 콘택층(51, 52)이 순차적으로 형성되어 있다.The gate insulating layer 30 is formed on the gate wiring 21, the gate electrode 22, and the gate pad 23, and the active layer 41 and the ohmic contact layers 51 and 52 are sequentially formed thereon. have.
오믹 콘택층(51, 52) 위에는 게이트 배선(21)과 직교하는 데이터 배선(61), 데이터 배선(61)에서 연장된 소스 전극(62), 게이트 전극(22)을 중심으로 소스 전극(62)과 마주 대하고 있는 드레인 전극(63) 및 데이터 배선(61)의 일끝단에 위치하는 데이터 패드(64)가 형성되어 있다.On the ohmic contact layers 51 and 52, the data line 61 orthogonal to the gate line 21, the source electrode 62 extending from the data line 61, and the source electrode 62 around the gate electrode 22. The drain electrode 63 and the data pad 64 positioned at one end of the data line 61 are formed to face each other.
데이터 배선(61)과 소스 및 드레인 전극(62, 63), 그리고 데이터 패드(64)는 보호층(70)으로 덮여 있으며, 보호층(70)은 게이트 절연막(30)과 함께 드레인 전극(63), 게이트 패드(23) 및 데이터 패드(64)를 각각 드러내는 제 1 내지 제 3 콘택홀(71, 72, 73)을 가진다.The data line 61, the source and drain electrodes 62 and 63, and the data pad 64 are covered with a protective layer 70, and the protective layer 70 is together with the gate insulating layer 30 and the drain electrode 63. And first to third contact holes 71, 72, and 73 exposing the gate pad 23 and the data pad 64, respectively.
이어, 보호층(70) 상부에는 투명 도전 물질로 이루어진 화소 전극(81)과 보조 게이트 패드(82) 및 보조 데이터 패드(83)가 형성되어 있다. 화소 전극(81)은 게이트 배선(21)과 데이터 배선(61)이 교차하여 정의되는 화소 영역에 위치하며, 제 1 콘택홀(71)을 통해 드레인 전극(62)과 연결되어 있고, 일부가 게이트 배선(21)과 중첩하여 스토리지 캐패시터를 이룬다. 한편, 보조 게이트 패드(82)와 보조 데이터 패드(83)는 제 2 및 제 3 콘택홀(72, 73)을 통해 게이트 패드(23) 및 데이터 패드(64)와 각각 연결되어 있다.Next, the pixel electrode 81, the auxiliary gate pad 82, and the auxiliary data pad 83 made of a transparent conductive material are formed on the passivation layer 70. The pixel electrode 81 is positioned in the pixel area defined by the gate line 21 and the data line 61 intersecting, and is connected to the drain electrode 62 through the first contact hole 71, and part of the gate electrode 81 is connected to the drain electrode 62. The storage capacitor overlaps with the wiring 21 to form a storage capacitor. The auxiliary gate pad 82 and the auxiliary data pad 83 are connected to the gate pad 23 and the data pad 64 through the second and third contact holes 72 and 73, respectively.
도 3a 내지 도 3e는 이러한 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 과정을 도시한 것으로, 도 1의 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면에 해당한다. 그러면, 도 3a 내지 도 3e를 참조하여 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 방법에 대하여 설명한다.3A to 3E illustrate a manufacturing process of such an array substrate for a liquid crystal display, and correspond to a cross section taken along line II-II of FIG. 1. Next, a method of manufacturing a conventional array substrate for a liquid crystal display device will be described with reference to FIGS. 3A to 3E.
도 3a에 도시한 바와 같이, 기판(10) 상에 금속 물질을 증착하고 제 1 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 게이트 배선(21)과 게이트 전극(22) 및 게이트 패드(23)를 형성한다.As shown in FIG. 3A, a metal material is deposited on the substrate 10 and patterned using a first mask to form the gate wiring 21, the gate electrode 22, and the gate pad 23.
다음, 도 3b에 도시한 바와 같이 게이트 절연막(30), 비정질 실리콘, 불순물이 함유된 비정질 실리콘을 순차적으로 증착한 후, 제 2 마스크를 이용한 사진 식각(photolithography) 공정으로 액티브층(41)과 불순물 반도체층(53)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 3B, the gate insulating layer 30, amorphous silicon, and amorphous silicon containing impurities are sequentially deposited, and then the active layer 41 and the impurities are subjected to a photolithography process using a second mask. The semiconductor layer 53 is formed.
이어, 도 3c에 도시한 바와 같이 금속층을 증착하고 제 3 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 데이터 배선(도 1의 61)과 소스 전극(62), 드레인 전극(63) 및 데이터 패드(64)를 형성하고, 소스 전극(62)과 드레인 전극(63) 사이에 드러난 불순물 반도체층(53)을 식각하여 오믹 콘택층(51, 52)을 완성한다.Subsequently, as shown in FIG. 3C, a metal layer is deposited and patterned using a third mask, thereby forming a data line (61 of FIG. 1), a source electrode 62, a drain electrode 63, and a data pad 64. The impurity semiconductor layer 53 exposed between the source electrode 62 and the drain electrode 63 is etched to complete the ohmic contact layers 51 and 52.
다음, 도 3d에 도시한 바와 같이 보호층(70)을 증착하고 제 4 마스크를 이용하여 보호층(70)과 게이트 절연막(30)을 패터닝함으로써, 드레인 전극(63)과 게이트 패드(23) 및 데이터 패드(64)를 각각 드러내는 제 1 내지 제 3 콘택홀(71, 72, 73)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 3D, the protective layer 70 is deposited and the protective layer 70 and the gate insulating film 30 are patterned by using a fourth mask, whereby the drain electrode 63 and the gate pad 23 and First to third contact holes 71, 72, and 73 respectively exposing the data pads 64 are formed.
다음, 도 3e에 도시한 바와 같이 투명 도전 물질을 증착하고 제 5 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로, 화소 전극(81)과 보조 게이트 패드(82) 및 보조 데이터 패드(83)를 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 3E, the pixel electrode 81, the auxiliary gate pad 82, and the auxiliary data pad 83 are formed by depositing a transparent conductive material and performing a photolithography process using a fifth mask.
이와 같이, 5장의 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 어레이 기판을 제조할 수 있는데, 사진 식각 공정은 세정과 감광막 도포, 노광 및 현상, 그리고 식각 등 여러 공정을 수반하고 있다. 따라서, 사진 식각 공정을 한번만 단축해도 제조 시간이 상당히 줄어들고, 제조 비용을 감소시킬 수 있으며 불량 발생율이 적어지므로, 마스크 수를 줄여 어레이 기판을 제조하는 것이 바람직하다.As described above, an array substrate may be manufactured by a photolithography process using five masks. The photolithography process involves various processes such as cleaning, photoresist coating, exposure and development, and etching. Therefore, even if the photolithography process is shortened only once, manufacturing time can be considerably reduced, manufacturing cost can be reduced, and defect occurrence rate is reduced. Therefore, it is desirable to manufacture an array substrate by reducing the number of masks.
본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 제조 공정을 감소시키고, 불량을 방지할 수 있는 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, which can reduce a manufacturing process and prevent defects.
도 1은 일반적인 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도.1 is a plan view of an array substrate for a general liquid crystal display device.
도 2는 도 1에서 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 1. FIG.
도 3a 내지 도 3e는 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판을 제조하는 공정을 도시한 단면도.3A to 3E are cross-sectional views showing a process of manufacturing a conventional array substrate for a liquid crystal display device.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도.4 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.
도 5는 도 4에서 Ⅴ-Ⅴ선을 따라 자른 단면도.FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line VV of FIG. 4. FIG.
도 6a 내지 도 6e는 본 발명에 따라 어레이 기판을 제조하는 공정을 도시한 단면도.6A-6E are cross-sectional views illustrating a process of fabricating an array substrate in accordance with the present invention.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도.7 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display according to a second embodiment of the present invention.
도 8은 도 7에서 Ⅷ-Ⅷ선을 따라 자른 단면도.FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line VII-VII of FIG. 7. FIG.
도 9는 본 발명에서 게이트 링크부에 단선이 발생한 경우를 도시한 단면도.9 is a cross-sectional view illustrating a case where disconnection occurs in the gate link unit in the present invention.
도 10은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 어레이 기판의 게이트 링크부에 대한단면도.10 is a cross-sectional view of a gate link portion of an array substrate according to a third embodiment of the present invention.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판에서는 기판 위에 다수의 게이트 배선과 상기 게이트 배선에 연결되어 있는 게이트 전극, 게이트 배선의 일끝단에 위치하는 게이트 패드 및 게이트 배선과 게이트 패드를 연결하는 게이트 링크부가 형성되어 있다. 그 위에 게이트 절연막이 형성되어 이들을 덮고 있으며, 게이트 절연막은 게이트 패드를 일부 드러내는 개구부를 가진다. 게이트 절연막 상부에는 반도체층과 오믹 콘택층이 차례로 형성되어 있고, 그 위에 게이트 배선과 교차하여 화소 영역을 정의하는 데이터 배선, 데이터 배선에서 연장된 소스 전극 및 소스 전극 맞은편에 위치하는 드레인 전극, 데이터 배선의 일끝단에 위치하는 데이터 패드가 형성되어 있다. 데이터 배선과 소스 및 드레인 전극 상부에는 드레인 전극을 일부 드러내는 콘택홀을 가지는 보호층이 형성되어 있다. 다음, 화소 영역에는 상기 콘택홀을 통해 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극이 형성되어 있으며, 게이트 절연막 위에는 게이트 링크부를 덮고 있는 보호 패턴이 형성되어 있다. 여기서, 반도체층은 소스 및 드레인 전극 사이를 제외하고 데이터 배선, 그리고 소스 및 드레인 전극과 같은 모양을 가지며, 보호층과 동일한 모양으로 이루어진다.In the array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention for achieving the above object, a plurality of gate wirings and gate electrodes connected to the gate wirings, gate pads located at one end of the gate wirings, and gate wirings and gates on the substrate. A gate link portion connecting the pad is formed. A gate insulating film is formed thereon and covers them, and the gate insulating film has an opening that partially exposes the gate pad. A semiconductor layer and an ohmic contact layer are sequentially formed on the gate insulating layer, and a data wiring defining a pixel region intersecting with the gate wiring, a source electrode extending from the data wiring, a drain electrode positioned opposite the source electrode, and data A data pad located at one end of the wiring is formed. A protective layer having a contact hole exposing a part of the drain electrode is formed on the data line and the source and drain electrodes. Next, a pixel electrode connected to the drain electrode through the contact hole is formed in the pixel area, and a protective pattern covering the gate link part is formed on the gate insulating layer. Here, the semiconductor layer has the same shape as the data line and the source and drain electrodes except between the source and drain electrodes, and has the same shape as the protective layer.
본 발명에서, 보호 패턴은 화소 전극과 동일한 물질로 이루어질 수 있고, 또는 보호층과 동일한 물질로 이루어질 수도 있다.In the present invention, the protective pattern may be made of the same material as the pixel electrode, or may be made of the same material as the protective layer.
한편, 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제조 방법에서는 기판을 구비하고, 기판 위에 다수의 게이트 배선과 게이트 배선에 연결되어 있는 게이트 전극, 게이트 배선의 일끝단에 위치하는 게이트 패드 및 게이트 배선과 게이트 패드를 연결하는 게이트 링크부를 형성한다. 이어, 게이트 배선 상부에 게이트 절연막, 비정질 실리콘층, 불순물 비정질 실리콘층 및 금속층을 순차적으로 증착한 후, 금속층과 불순물 비정질 실리콘을 패터닝하여 게이트 배선과 교차하여 화소 영역을 정의하는 데이터 배선, 데이터 배선에서 연장된 소스 전극 및 소스 전극 맞은편에 위치하는 드레인 전극, 데이터 배선의 일끝단에 위치하는 데이터 패드 및 오믹 콘택층을 형성한다. 다음, 데이터 배선이 형성된 기판 상부에 절연 물질을 증착하고, 반도체층과 함께 패터닝하여 보호층 및 액티브층을 형성한다. 다음, 게이트 절연막 상부에 게이트 링크부를 덮는 보호 패턴을 형성하고, 화소 영역에는 콘택홀을 통해 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극을 형성하다.Meanwhile, in the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, a gate electrode including a substrate and connected to a plurality of gate wires and gate wires on the substrate, a gate pad positioned at one end of the gate wire, and a gate wire and a gate pad Form a gate link portion connecting the. Subsequently, a gate insulating film, an amorphous silicon layer, an impurity amorphous silicon layer, and a metal layer are sequentially deposited on the gate wiring, and then the metal layer and the impurity amorphous silicon are patterned to intersect with the gate wiring to define a pixel region in the data wiring and data wiring. An extended source electrode, a drain electrode positioned opposite the source electrode, a data pad positioned at one end of the data line and an ohmic contact layer are formed. Next, an insulating material is deposited on the substrate on which the data line is formed, and patterned together with the semiconductor layer to form a protective layer and an active layer. Next, a protective pattern covering the gate link part is formed on the gate insulating layer, and a pixel electrode connected to the drain electrode is formed in the pixel region through the contact hole.
여기서, 보호 패턴은 화소 전극과 동일한 공정에서 형성될 수 있으며, 또는 보호층과 동일한 공정에서 형성될 수도 있다.Here, the protective pattern may be formed in the same process as the pixel electrode, or may be formed in the same process as the protective layer.
이와 같이 본 발명에서는 보호층과 액티브층을 같은 공정으로 형성하여 제조 공정을 감소시키는데 있어서, 게이트 링크부 상에 보호층을 형성하지 않을 경우, 게이트 링크부를 덮는 보호 패턴을 형성하여 화소 전극 식각액에 의해 게이트 링크부가 단선되는 것을 방지할 수 있다.As described above, in the present invention, when the protective layer and the active layer are formed in the same process to reduce the manufacturing process, when the protective layer is not formed on the gate link portion, a protective pattern covering the gate link portion is formed to form a pixel electrode etchant. The disconnection of the gate link portion can be prevented.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치용어레이 기판 및 그 제조 방법에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, an array substrate for a liquid crystal display device and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
먼저, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도이고, 도 5는 도 4에서 Ⅴ-Ⅴ선을 따라 자른 단면도이다.First, FIG. 4 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line VV of FIG. 4.
도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 기판(110) 위에 일 방향의 게이트 배선(121)과 게이트 배선(121)에서 연장된 게이트 전극(122), 게이트 배선(121)의 일끝단에 위치하는 게이트 패드(123)가 형성되어 있다.As shown in FIGS. 5 and 6, the gate wiring 121 and the gate electrode 122 extending from the gate wiring 121 in one direction on the substrate 110 and positioned at one end of the gate wiring 121 are positioned. The gate pad 123 is formed.
게이트 배선(121) 상부에는 실리콘 질화막(SiNx)이나 실리콘 산화막(SiO2)으로 이루어진 게이트 절연막(130)이 기판(110) 전면에 형성되어 게이트 배선(121)과 게이트 전극(122) 및 게이트 패드(123)를 덮고 있으며, 게이트 절연막(130)은 게이트 패드(123)를 일부 드러내는 제 1 콘택홀(131)을 가진다.A gate insulating layer 130 formed of a silicon nitride film (SiN x ) or a silicon oxide film (SiO 2 ) is formed on the entire surface of the substrate 110 on the gate wiring 121 to form the gate wiring 121, the gate electrode 122, and the gate pad. The gate insulating layer 130 may cover the first and second gates 123 and 123 to expose the gate pad 123.
이어, 게이트 절연막(130) 위에는 비정질 실리콘으로 이루어진 액티브층(141)이 형성되어 있고, 그 위에 불순물이 포함된 비정질 실리콘으로 이루어진 오믹 콘택층(151, 152)이 형성되어 있다.Next, an active layer 141 made of amorphous silicon is formed on the gate insulating layer 130, and ohmic contact layers 151 and 152 made of amorphous silicon containing impurities are formed thereon.
오믹 콘택층(151, 152) 위에는 데이터 배선(161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 그리고 데이터 패드(164)가 형성되어 있다. 데이터 배선(161)은 게이트 배선(121)과 직교하여 화소 영역을 정의하고, 소스 전극(162)은 데이터 배선(161)에서 연장되어 있으며, 드레인 전극(163)은 소스 전극(162)과 분리되어 게이트 전극(122)을 중심으로 소스 전극(162)과 마주 대하고 있고, 데이터 패드(164)는 데이터 배선(161)의 일끝단에 위치하여 외부의 구동 회로로부터 화상 신호를 인가받는다.The data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163, and the data pad 164 are formed on the ohmic contact layers 151 and 152. The data line 161 defines a pixel area orthogonal to the gate line 121, the source electrode 162 extends from the data line 161, and the drain electrode 163 is separated from the source electrode 162. The data pad 164 is positioned at one end of the data line 161 to face the source electrode 162 with respect to the gate electrode 122, and receives an image signal from an external driving circuit.
여기서, 오믹 콘택층(151, 152)은 데이터 배선(161), 소스 및 드레인 전극(162, 163), 그리고 데이터 패드(164)와 같은 모양을 가진다.Here, the ohmic contact layers 151 and 152 have the same shape as the data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163, and the data pad 164.
다음, 데이터 배선(161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 그리고 데이터 패드(164) 상부에는 보호층(171)이 형성되어 이들을 덮고 있으며, 보호층(171)은 드레인 전극(163)과 데이터 패드(164)를 각각 드러내는 제 2 및 제 3 콘택홀(172, 173)을 가진다. 여기서, 보호층(171)은 액티브층(141)과 동일한 모양을 가지며, 액티브층(141)은 소스 및 드레인 전극(162, 163) 사이를 제외하고 데이터 배선(161), 소스 및 드레인 전극(162, 163), 그리고 데이터 패드(164)와 같은 형태로 이루어진다.Next, a passivation layer 171 is formed on the data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163, and the data pad 164 to cover the passivation layer 171. The second and third contact holes 172 and 173 respectively expose the data pad 164. Here, the protective layer 171 has the same shape as the active layer 141, and the active layer 141 has the data line 161, the source and drain electrodes 162 except between the source and drain electrodes 162 and 163. , 163, and the data pad 164.
한편, 보호층(171)은 게이트 패드(123)가 위치하는 패드부에서는 제거되어 있다.The protective layer 171 is removed from the pad portion where the gate pad 123 is located.
다음, 화소 영역에는 투명 도전 물질로 이루어진 화소 전극(181)이 형성되어 있고, 게이트 패드(123)와 데이터 패드(164) 상부에는 각각 보조 게이트 패드(182) 및 보조 데이터 패드(183)가 형성되어 있다. 화소 전극(181)은 제 2 콘택홀(172)을 통해 드레인 전극(163)과 연결되어 있고, 게이트 배선(121)과 일부 중첩하여 스토리지 캐패시터를 형성한다. 한편, 보조 게이트 패드(182)는 게이트 절연막(130)의 제 1 콘택홀(131)을 통해 게이트 패드(123)와 접촉하고, 보조 데이터 패드(183)는 제 3 콘택홀(173)을 통해 데이터 패드(164)와 접촉되어 있다.Next, a pixel electrode 181 made of a transparent conductive material is formed in the pixel area, and an auxiliary gate pad 182 and an auxiliary data pad 183 are formed on the gate pad 123 and the data pad 164, respectively. have. The pixel electrode 181 is connected to the drain electrode 163 through the second contact hole 172, and partially overlaps the gate wiring 121 to form a storage capacitor. Meanwhile, the auxiliary gate pad 182 contacts the gate pad 123 through the first contact hole 131 of the gate insulating layer 130, and the auxiliary data pad 183 receives data through the third contact hole 173. It is in contact with the pad 164.
여기서는 화소 전극(181)과 게이트 배선(121)만으로 스토리지 캐패시터를 형성하지만, 데이터 배선(161)과 같은 물질로 게이트 배선(121)과 중첩하는 캐패시터 전극을 형성하고 캐패시터 전극과 화소 전극(181)을 연결함으로써 스토리지 캐패시터의 용량을 향상시킬 수도 있다. 이러한 경우, 캐패시터 전극 하부에는 비정질 실리콘층과 불순물 비정질 실리콘층이 위치하게 된다.Here, the storage capacitor is formed using only the pixel electrode 181 and the gate wiring 121, but a capacitor electrode overlapping the gate wiring 121 is formed of the same material as the data wiring 161, and the capacitor electrode and the pixel electrode 181 are formed. By connecting, you can increase the capacity of the storage capacitor. In this case, an amorphous silicon layer and an impurity amorphous silicon layer are positioned under the capacitor electrode.
이러한 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 과정에 대하여 도 6a 내지 도 6e를 참조하여 상세히 설명한다.A manufacturing process of such an array substrate for a liquid crystal display will be described in detail with reference to FIGS. 6A to 6E.
먼저, 도 6a에 도시한 바와 같이 투명 기판(110) 위에 금속 물질을 증착하고 제 1 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 일 방향의 게이트 배선(121)과 게이트 전극(122) 및 게이트 패드(123)를 형성한다.First, as illustrated in FIG. 6A, a metal material is deposited on the transparent substrate 110 and patterned by using a first mask, thereby forming the gate wiring 121, the gate electrode 122, and the gate pad 123 in one direction. Form.
이어, 도 6b에 도시한 바와 같이 실리콘 질화막이나 실리콘 산화막으로 이루어진 게이트 절연막(130)과 비정질 실리콘층(140) 및 불순물이 도핑된 비정질 실리콘층을 차례로 증착하고 금속층을 스퍼터링과 같은 방법으로 증착한 후, 감광막을 도포하고 제 2 마스크로 패터닝하여 데이터 배선(도 5의 161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 데이터 패드(164), 그리고 오믹 콘택층(151, 152)을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 6B, the gate insulating layer 130 formed of the silicon nitride film or the silicon oxide film, the amorphous silicon layer 140, and the amorphous silicon layer doped with impurities are sequentially deposited, and then the metal layer is deposited by sputtering. The photoresist is coated and patterned with a second mask to form data lines (161 of FIG. 5), source and drain electrodes 162 and 163, data pads 164, and ohmic contact layers 151 and 152.
다음, 도 6c에 도시한 바와 같이 실리콘 질화막이나 실리콘 산화막 또는 유기 절연막을 증착하여 보호층(170)을 형성한 다음, 감광막을 도포하고 제 3 마스크로 노광한 후 현상하여 감광막 패턴(191, 192)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 6C, a protective layer 170 is formed by depositing a silicon nitride film, a silicon oxide film, or an organic insulating film, and then applying a photoresist film, exposing with a third mask, and developing the photoresist film patterns 191 and 192. To form.
여기서, 제 3 마스크는 석영(quartz) 기판(210)과 그 위에 형성되어 있는 빛을 완전히 차단하는 광차단막(230), 그리고 빛을 일부만 투과시키는 반투과막(220)으로 이루어진다. 제 3 마스크에서 보호층(170)이 남게 될 부분에 대응하는영역(A)에는 반투과막(220) 및 광차단막(230)이 모두 형성되어 있고, 콘택홀(131, 172, 173)이 형성될 부분에 대응하는 영역(C)에는 두 막 모두 존재하지 않으며, 그 외 나머지 부분에 대응하는 영역(B)에는 반투과막(220)만 형성되어 있다. 따라서, 제 3 마스크로 노광 후 현상된 감광막 패턴(191, 192)은 A 영역에서 제 1 두께를 가지고, B 영역에서는 제 1 두께보다 작은 제 2 두께를 가지며, C 영역에서는 감광막 패턴이 모두 제거되어 있다.Here, the third mask includes a quartz substrate 210, a light blocking film 230 that completely blocks the light formed thereon, and a semi-transmissive film 220 that transmits only part of the light. Both the transflective film 220 and the light blocking film 230 are formed in the region A corresponding to the portion where the protective layer 170 remains in the third mask, and the contact holes 131, 172, and 173 are formed. Both layers do not exist in the region C corresponding to the portion to be formed, and only the transflective layer 220 is formed in the region B corresponding to the remaining portion. Accordingly, the photoresist patterns 191 and 192 developed after exposure with the third mask have a first thickness in the A region, a second thickness smaller than the first thickness in the B region, and all of the photoresist patterns are removed in the C region. have.
다음, 6d에 도시한 바와 같이 감광막 패턴(191, 192)과 보호층(170), 비정질 실리콘층(140) 및 게이트 절연막(130)을 패터닝하여, 보호층(171)과 액티브층(141), 그리고 제 1 내지 제 3 콘택홀(131, 172, 173)을 형성한다.Next, as illustrated in 6d, the photoresist patterns 191 and 192, the protective layer 170, the amorphous silicon layer 140, and the gate insulating layer 130 are patterned to form the protective layer 171 and the active layer 141. The first to third contact holes 131, 172, and 173 are formed.
이어, 도 6e에 도시한 바와 같이 ITO(indium-tin-oxide)와 같은 투명 도전 물질을 증착하고 제 4 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 패터닝하여 화소 전극(181)과 보조 게이트 패드(182) 및 보조 데이터 패드(183)를 형성한다. 화소 전극(181)은 제 2 콘택홀(172)을 통해 드레인 전극(163)과 연결되고, 게이트 배선(121)과 일부 중첩되도록 한다.Subsequently, as illustrated in FIG. 6E, a transparent conductive material such as indium-tin-oxide (ITO) is deposited and patterned by a photolithography process using a fourth mask to form the pixel electrode 181, the auxiliary gate pad 182, and the auxiliary. The data pad 183 is formed. The pixel electrode 181 is connected to the drain electrode 163 through the second contact hole 172 and partially overlaps the gate wiring 121.
여기서, 보조 게이트 패드(182) 및 보조 데이터 패드(183)는 패드를 보호하기 위한 것으로 생략할 수도 있다.Here, the auxiliary gate pad 182 and the auxiliary data pad 183 may be omitted to protect the pad.
이와 같이, 본 발명에서는 4장의 마스크로 어레이 기판을 제조하여 제조 공정 및 비용을 감소시킬 수 있다.As described above, in the present invention, an array substrate may be manufactured using four masks, thereby reducing manufacturing processes and costs.
본 발명에 따른 어레이 기판에서 패드부의 게이트 패드(123)와 게이트 배선(121)이 연결되는 게이트 링크부(L) 상에는 게이트 절연막(130)만이 위치하게된다.In the array substrate according to the present invention, only the gate insulating layer 130 is positioned on the gate link portion L to which the gate pad 123 and the gate wiring 121 of the pad part are connected.
그런데, 이러한 어레이 기판에서 게이트 링크부(L) 형성시 핀홀(pin hole)이 발생할 수 있는데, 이는 게이트 링크부(L)를 약화시키게 되고 이후 화소 전극(181)을 형성하기 위해 식각할 때 게이트 링크부(L) 상부에는 게이트 절연막(130)만 위치하므로 식각액이 핀홀에 의해 약화된 부분으로 침투하게 되어 게이트 링크부(L)의 단선이 일어난다.However, in the array substrate, a pin hole may occur when the gate link portion L is formed, which weakens the gate link portion L and subsequently gates when etching to form the pixel electrode 181. Since only the gate insulating layer 130 is positioned on the upper portion L, the etchant penetrates into the portion weakened by the pinhole, and disconnection of the gate link portion L occurs.
따라서, 이러한 문제를 방지하기 위해 본 발명에 따른 제 2 실시예에서는 화소 전극 형성시 게이트 링크부 상에 화소 전극과 같은 물질로 이루어진 보호 패턴을 형성한다.Therefore, in order to prevent such a problem, in the second embodiment of the present invention, a protective pattern made of the same material as the pixel electrode is formed on the gate link part when the pixel electrode is formed.
이러한 본 발명의 제 2 실시예에 대하여 도 7 및 도 8에 도시하였다.7 and 8 show a second embodiment of this invention.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 어레이 기판의 평면도이고, 도 8은 도 7에서 Ⅷ-Ⅷ선을 따라 자른 단면도이다.7 is a plan view of an array substrate according to a second exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line VII-VII of FIG. 7.
여기서, 제 2 실시예는 게이트 링크부를 제외하고 앞선 제 1 실시예와 동일한 구조 및 제조 방법으로 이루어지므로 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.Here, since the second embodiment has the same structure and manufacturing method as the first embodiment except for the gate link portion, the description of the same parts will be omitted.
도 7 및 도 8에 도시한 바와 같이, 게이트 패드(123)와 게이트 배선(121) 사이에 위치하는 게이트 링크부(124) 상에는 게이트 절연막(130)이 형성되어 있으며, 그 위에 화소 전극(181)과 같은 투명 도전 물질로 이루어진 보호 패턴(184)이 형성되어 있다. 이러한 보호 패턴(184)은 게이트 링크부(124)를 덮고 있어, 화소 전극(181) 형성시 사용되는 식각액이 게이트 절연막(130)을 통해 게이트 링크부(124)로 침투하는 것을 방지할 수 있다.As shown in FIGS. 7 and 8, a gate insulating layer 130 is formed on the gate link portion 124 positioned between the gate pad 123 and the gate wiring 121, and the pixel electrode 181 is disposed thereon. A protective pattern 184 made of a transparent conductive material such as is formed. The protection pattern 184 covers the gate link part 124, thereby preventing the etchant used to form the pixel electrode 181 from penetrating into the gate link part 124 through the gate insulating layer 130.
한편, 본 발명의 제 2 실시예에서는 게이트 링크부에서 단선이 발생할 경우, 보호 패턴을 이용하여 단선을 수리할 수도 있다.Meanwhile, in the second embodiment of the present invention, when disconnection occurs in the gate link unit, the disconnection may be repaired by using a protection pattern.
도 9는 게이트 링크부에서 단선이 일어난 경우를 도시한 단면도로서, 도 7에서 Ⅹ-Ⅹ선을 따라 자른 단면에 해당하는 것이다.FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a disconnection occurring in the gate link unit, and corresponds to a cross section taken along the line VII-VII in FIG. 7.
도 9에 도시한 바와 같이, 게이트 링크부(124)가 단선될 경우 레이저를 이용하여 단선된 게이트 링크부(124)의 양단과 상부의 보호 패턴(184)을 각각 단락시켜 단선을 수리할 수 있다.As shown in FIG. 9, when the gate link unit 124 is disconnected, the disconnection may be repaired by shorting the protective patterns 184 at both ends and the upper end of the disconnected gate link unit 124 using a laser. .
여기서는 게이트 링크부 상에 투명 도전 물질로 보호 패턴을 형성하였으나, 보호층과 같은 물질로 보호 패턴을 형성하여 게이트 링크부의 손상을 방지할 수도 있다.Here, although the protective pattern is formed of a transparent conductive material on the gate link portion, the protective pattern may be formed of the same material as the protective layer to prevent damage to the gate link portion.
이러한 예를 도 10에 도시하였는데, 기판(110) 위의 게이트 링크부(124) 상에는 게이트 절연막(130)이 형성되어 있고, 그 위에 비정질 실리콘으로 이루어진 반도체층(144) 및 보호층(도 7의 171)과 같은 물질로 이루어진 보호 패턴(174)이 형성되어 있다.10 illustrates a gate insulating film 130 formed on the gate link portion 124 on the substrate 110, and a semiconductor layer 144 and a protective layer (made of amorphous silicon) formed thereon. A protective pattern 174 made of the same material as 171 is formed.
여기서, 보호층(171)과 액티브층(도 7의 141)이 같은 공정으로 이루어지므로 보호 패턴(174) 하부에 보호 패턴(174)과 동일한 모양의 반도체층(144)이 위치하게 된다.Here, since the protective layer 171 and the active layer 141 of FIG. 7 are formed in the same process, the semiconductor layer 144 having the same shape as the protective pattern 174 is positioned under the protective pattern 174.
이와 같이, 본 발명에서는 보호 패턴을 게이트 링크부 상에 형성하여 화소 전극 식각액에 의해 단선이 발생하는 것을 방지할 수 있다.As described above, in the present invention, a protection pattern may be formed on the gate link part to prevent disconnection from being generated by the pixel electrode etchant.
본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 본 발명의 정신을 벗어나지않는 이상 다양한 변화와 변형이 가능하다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various changes and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
본 발명에서는 4장의 마스크를 이용하여 어레이 기판을 제조함으로써 제조 비용을 감소시키는데 있어서, 보호층과 액티브층을 같은 공정으로 형성하여 게이트 링크부 상에 보호층을 형성하지 않을 경우, 게이트 링크부를 덮는 보호 패턴을 형성하여 화소 전극 식각액에 의해 게이트 링크부가 단선되는 것을 방지할 수 있다.In the present invention, in manufacturing the array substrate using four masks to reduce the manufacturing cost, when the protective layer and the active layer are formed in the same process and do not form a protective layer on the gate link portion, the protection that covers the gate link portion A pattern may be formed to prevent the gate link unit from being disconnected by the pixel electrode etchant.
한편, 보호 패턴을 화소 전극과 같은 물질로 형성할 경우, 게이트 링크부가 단선되었을 때 경우 레이저를 이용하여 도전 패턴과 게이트 링크부를 단락시켜 단선을 수리할 수도 있다.On the other hand, when the protective pattern is formed of the same material as the pixel electrode, when the gate link unit is disconnected, the disconnection may be repaired by shorting the conductive pattern and the gate link unit using a laser.
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000086438A KR100694576B1 (en) | 2000-12-29 | 2000-12-29 | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000086438A KR100694576B1 (en) | 2000-12-29 | 2000-12-29 | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020058369A true KR20020058369A (en) | 2002-07-12 |
KR100694576B1 KR100694576B1 (en) | 2007-03-13 |
Family
ID=27689458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000086438A KR100694576B1 (en) | 2000-12-29 | 2000-12-29 | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100694576B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200458346Y1 (en) * | 2010-06-09 | 2012-02-15 | 한동수 | Foot protection apparatus of door |
KR101287205B1 (en) * | 2006-06-29 | 2013-07-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | Liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100338009B1 (en) * | 1999-04-08 | 2002-05-24 | 윤종용 | Thin Film Transistor Substrate for Liquid Crystal Display Panels And a Manufacturing Method of thereof |
-
2000
- 2000-12-29 KR KR1020000086438A patent/KR100694576B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101287205B1 (en) * | 2006-06-29 | 2013-07-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | Liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
KR200458346Y1 (en) * | 2010-06-09 | 2012-02-15 | 한동수 | Foot protection apparatus of door |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100694576B1 (en) | 2007-03-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100391157B1 (en) | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof | |
US7888677B2 (en) | Method for manufacturing a thin film transistor array panel for a liquid crystal display and a photolithography method for fabricating thin films | |
KR101221261B1 (en) | Array substrate for LCD and the fabrication method thereof | |
KR20020000921A (en) | A method for fabricating array substrate for liquid crystal display device and the same | |
US20020054247A1 (en) | Method for fabricating an array substrate of a liquid crystal display device | |
KR100650401B1 (en) | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof | |
US7538399B2 (en) | Thin film transistor substrate and manufacturing method thereof | |
KR20040061787A (en) | manufacturing method of array substrate for liquid crystal display device | |
KR100870522B1 (en) | Liquid Crystal Display Device and Method of Fabricating The same | |
KR100558714B1 (en) | Liquid crystal display and fabricating method thereof | |
KR100679516B1 (en) | Liquid crystal display and fabricating method of the same | |
KR20010027685A (en) | Thin film transistor array panel for liquid crystal display and manufacturing method of the same | |
KR100650400B1 (en) | array panel of liquid crystal display device and manufacturing method thereof | |
KR100694576B1 (en) | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof | |
KR100413512B1 (en) | an array panel for liquid crystal display and manufacturing method thereof | |
KR100558713B1 (en) | Liquid crystal display panel apparatus of horizontal electronic field applying type and fabricating method thereof | |
KR100558717B1 (en) | Liquid crystal display panel of horizontal electronic field applying type and fabricating method thereof | |
KR100558716B1 (en) | Liquid crystal display panel and fabricating method thereof | |
KR100637061B1 (en) | Liquid crystal display panel of horizontal electronic field applying type and fabricating method thereof | |
KR100583313B1 (en) | Liquid crystal display and fabricating method thereof | |
KR100558715B1 (en) | Liquid crystal display panel and fabricating method thereof | |
KR100646172B1 (en) | Liquid crystal display and fabricating method thereof | |
KR101006474B1 (en) | array substrate for liquid crystal display device and manufacturing method of the same | |
KR20020056111A (en) | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof | |
KR20020058269A (en) | array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121228 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131227 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150227 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160226 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |