KR20020056111A - array panel of liquid crystal display and manufacturing method thereof - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same.
액정 표시 장치는 하부의 어레이 기판과 상부의 컬러 필터 기판을 각각 형성하고 배치하므로, 빛샘과 같은 문제가 발생할 수 있다. 또한, 어레이 기판은 여러 장의 마스크를 이용하여 제조하는데, 마스크의 수를 줄여 제조 비용을 감소시키는 것이 바람직하다.Since the liquid crystal display forms and arranges the lower array substrate and the upper color filter substrate, respectively, problems such as light leakage may occur. In addition, the array substrate is manufactured using several masks, and it is desirable to reduce the manufacturing cost by reducing the number of masks.
본 발명에서는 슬릿과 같은 미세 패턴을 가지는 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 여러 층의 막을 한꺼번에 식각하여 4장의 마스크로 어레이 기판을 제조함으로써 제조 비용을 감소시킬 수 있고, 데이터 배선 형성시 게이트 배선과 나란한 방향으로 차광 패턴을 형성하여 화소 전극과 중첩시킴으로써, 합착마진을 향상시켜 빛샘을 방지할 수 있다.In the present invention, a photolithography process using a mask having a fine pattern, such as a slit, may be used to reduce the manufacturing cost by etching an array of layers at once and manufacturing an array substrate using four masks. By forming a light shielding pattern and overlapping the pixel electrode, the adhesion margin can be improved to prevent light leakage.
Description
본 발명은 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same.
일반적으로 액정 표시 장치는 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치이다.In general, a liquid crystal display device arranges two substrates on which electrodes are formed so that the surfaces on which the two electrodes are formed face each other, injects a liquid crystal material between the two substrates, and applies a voltage to the two electrodes to generate an electric field. By moving the liquid crystal molecules, the image is expressed by the transmittance of light that varies accordingly.
액정 표시 장치는 다양한 형태로 이루어질 수 있는데, 현재 박막 트랜지스터와 박막 트랜지스터에 연결된 화소 전극이 행렬 방식으로 배열된 능동 행렬 액정 표시 장치(Active Matrix LCD : AM-LCD)가 해상도 및 동영상 구현 능력이 우수하여 가장 주목받고 있다.Liquid crystal displays may be formed in various forms. Currently, an active matrix LCD (AM-LCD) having a thin film transistor and pixel electrodes connected to the thin film transistors arranged in a matrix manner has excellent resolution and video performance. It is most noticed.
이러한 액정 표시 장치는 하부의 어레이 기판에 화소 전극이 형성되어 있고 상부 기판인 컬러 필터 기판에 공통 전극이 형성되어 있는 구조로, 상하로 걸리는 기판에 수직한 방향의 전기장에 의해 액정 분자를 구동하는 방식이다. 이는, 투과율과 개구율 등의 특성이 우수하며, 상판의 공통 전극이 접지 역할을 하게 되어 정전기로 인한 액정셀의 파괴를 방지할 수 있다.The liquid crystal display has a structure in which a pixel electrode is formed on a lower array substrate and a common electrode is formed on a color filter substrate, which is an upper substrate, and drives liquid crystal molecules by an electric field in a direction perpendicular to an up and down substrate. to be. This is excellent in characteristics such as transmittance and aperture ratio, and the common electrode of the upper plate serves as a ground, thereby preventing the destruction of the liquid crystal cell due to static electricity.
액정 표시 장치의 상부 기판은 화소 전극 이외의 부분에서 발생하는 빛샘 현상을 막기 위해 블랙 매트릭스(black matrix)를 더 포함한다.The upper substrate of the liquid crystal display may further include a black matrix to prevent light leakage occurring in portions other than the pixel electrode.
한편, 액정 표시 장치의 하부 기판인 어레이 기판은 박막을 증착하고 마스크를 이용하여 사진 식각하는 공정을 여러 번 반복함으로써 형성되는데, 통상적으로 마스크 수는 5장 내지 6장이 사용되고 있으며, 마스크의 수가 어레이 기판을 제조하는 공정수를 나타낸다.The array substrate, which is a lower substrate of the liquid crystal display, is formed by repeatedly depositing a thin film and performing a photolithography process using a mask several times. Typically, 5 to 6 masks are used, and the number of masks is an array substrate. The process water which manufactures this is shown.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, a conventional array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판에 대한 평면도이고, 도 2는 도 1에서 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면도이다.1 is a plan view of a conventional array substrate for a liquid crystal display device, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 1.
도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 액정 표시 장치용 어레이 기판에서는 투명한 절연 기판(10) 위에 가로 방향을 가지는 게이트 배선(21)과, 게이트 배선(21)에서 연장된 게이트 전극(22)이 형성되어 있다.1 and 2, in the array substrate for a liquid crystal display device, a gate wiring 21 having a horizontal direction and a gate electrode 22 extending from the gate wiring 21 are disposed on the transparent insulating substrate 10. Formed.
게이트 배선(21)과 게이트 전극(22) 상부에는 게이트 절연막(30)이 형성되어 있으며, 그 위에 액티브층(41)과 오믹 콘택층(51, 52)이 순차적으로 형성되어 있다.The gate insulating film 30 is formed on the gate wiring 21 and the gate electrode 22, and the active layer 41 and the ohmic contact layers 51 and 52 are sequentially formed thereon.
오믹 콘택층(51, 52) 위에 게이트 배선(21)과 직교하는 데이터 배선(61), 데이터 배선(61)에서 연장된 소스 전극(62), 게이트 전극(22)을 중심으로 소스 전극(62)과 마주 대하고 있는 드레인 전극(63) 및 게이트 배선(21)과 중첩하는 캐패시터 전극(65)이 형성되어 있다.The data electrode 61 orthogonal to the gate wiring 21 on the ohmic contact layers 51 and 52, the source electrode 62 extending from the data wiring 61, and the source electrode 62 centering on the gate electrode 22. The capacitor electrode 65 which overlaps with the drain electrode 63 and the gate wiring 21 which opposes is formed.
데이터 배선(61)과 소스 및 드레인 전극(62, 63), 그리고 캐패시터 전극(65)은 보호층(70)으로 덮여 있으며, 보호층(70)은 드레인 전극(63)과 캐패시터 전극(65)을 각각 드러내는 제 1 및 제 2 콘택홀(71, 72)을 가진다.The data line 61, the source and drain electrodes 62 and 63, and the capacitor electrode 65 are covered with a protective layer 70, and the protective layer 70 connects the drain electrode 63 and the capacitor electrode 65. Respectively, the first and second contact holes 71 and 72 are exposed.
게이트 배선(21)과 데이터 배선(61)이 교차하여 정의되는 화소 영역의 보호층(70) 상부에는 화소 전극(81)이 형성되어 있는데, 화소 전극(81)은 제 1 및 제 2콘택홀(71, 72)을 통해 각각 드레인 전극(62) 및 캐패시터 전극(65)과 연결되어 있다.The pixel electrode 81 is formed on the passivation layer 70 of the pixel area defined by the gate line 21 and the data line 61 intersecting. The pixel electrode 81 is formed of the first and second contact holes ( 71 and 72 are connected to the drain electrode 62 and the capacitor electrode 65, respectively.
이러한 어레이 기판에서는, 게이트 배선(21)을 통해 게이트 전극(22)에 전압이 인가되었을 때, 액티브층(41)에 전자가 집중되고 전도성 채널이 형성됨으로써 소스 및 드레인 전극(62, 63) 사이에 전류가 흐를 수 있게 되어, 데이터 배선(61)에서 전달된 화상 신호가 소스 전극(62)과 드레인 전극(63)을 통해 화소 전극(81)에 도달하게 된다.In such an array substrate, when a voltage is applied to the gate electrode 22 through the gate wiring 21, electrons are concentrated in the active layer 41 and a conductive channel is formed between the source and drain electrodes 62 and 63. Current can flow, and the image signal transmitted from the data line 61 reaches the pixel electrode 81 through the source electrode 62 and the drain electrode 63.
도 3a 내지 도 3e는 이러한 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 과정을 도시한 것으로, 도 1의 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면에 해당한다. 그러면, 도 3a 내지 도 3e를 참조하여 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 방법에 대하여 설명한다.3A to 3E illustrate a manufacturing process of such an array substrate for a liquid crystal display, and correspond to a cross section taken along line II-II of FIG. 1. Next, a method of manufacturing a conventional array substrate for a liquid crystal display device will be described with reference to FIGS. 3A to 3E.
도 3a에 도시한 바와 같이, 기판(10) 상에 금속 물질을 증착하고 제 1 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 게이트 배선(21)과 게이트 전극(22)을 형성한다.As shown in FIG. 3A, the gate wiring 21 and the gate electrode 22 are formed by depositing a metal material on the substrate 10 and patterning the same using a first mask.
다음, 도 3b에 도시한 바와 같이 게이트 절연막(30), 비정질 실리콘, 불순물이 함유된 비정질 실리콘을 순차적으로 증착한 후, 제 2 마스크를 이용한 사진 식각(photolithography) 공정으로 액티브층(41)과 불순물 반도체층(53)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 3B, the gate insulating layer 30, amorphous silicon, and amorphous silicon containing impurities are sequentially deposited, and then the active layer 41 and the impurities are subjected to a photolithography process using a second mask. The semiconductor layer 53 is formed.
이어, 도 3c에 도시한 바와 같이 금속층을 증착하고 제 3 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 데이터 배선(도 1의 61)과 소스 전극(62), 드레인 전극(63) 및 캐패시터 전극(65)을 형성하고, 소스 전극(62)과 드레인 전극(63) 사이에 드러난 불순물 반도체층(53)을 식각하여 오믹 콘택층(51, 52)을 완성한다.Subsequently, as shown in FIG. 3C, a metal layer is deposited and patterned using a third mask, thereby forming the data wiring (61 of FIG. 1), the source electrode 62, the drain electrode 63, and the capacitor electrode 65. The impurity semiconductor layer 53 exposed between the source electrode 62 and the drain electrode 63 is etched to complete the ohmic contact layers 51 and 52.
다음, 도 3d에 도시한 바와 같이 보호층(70)을 증착하고 제 4 마스크를 이용하여 보호층(70)과 게이트 절연막(30)을 패터닝함으로써, 드레인 전극(63)과 캐패시터 전극(65)을 드러내는 제 1 및 제 2 콘택홀(71, 72)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 3D, the protective layer 70 is deposited and the protective layer 70 and the gate insulating film 30 are patterned using a fourth mask to thereby form the drain electrode 63 and the capacitor electrode 65. The exposed first and second contact holes 71 and 72 are formed.
다음, 도 3e에 도시한 바와 같이 투명 도전 물질을 증착하고 제 5 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 제 1 및 제 2 콘택홀(71, 72)을 통해 드레인 전극(63) 및 캐패시터 전극(65)과 접촉하는 화소 전극(81)을 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 3E, the transparent conductive material is deposited and patterned using a fifth mask, thereby forming a drain electrode 63 and a capacitor electrode 65 through the first and second contact holes 71 and 72. The pixel electrode 81 in contact is formed.
이와 같이, 5장의 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 어레이 기판을 제조할 수 있는데, 사진 식각 공정에는 세정, 감광막 도포, 노광 및 현상, 식각 등 여러 공정을 수반하고 있다. 따라서, 사진 식각 공정을 한번만 단축해도 제조 시간이 상당히 많이 줄어들고 제조 비용을 감소시킬 수 있으며, 불량 발생율이 적어지므로, 마스크 수를 줄여 어레이 기판을 제조하는 것이 바람직하다.As described above, an array substrate may be manufactured by a photolithography process using five masks. The photolithography process involves various processes such as cleaning, photoresist coating, exposure and development, and etching. Therefore, shortening the photolithography process only once can significantly reduce the manufacturing time, reduce the manufacturing cost, and reduce the incidence of defects. Therefore, it is desirable to manufacture the array substrate by reducing the number of masks.
한편, 도 4는 이러한 어레이 기판과 상부의 컬러 필터 기판을 배치한 단면도로서, 도 1의 Ⅱ-Ⅱ선에 따른 단면에 대응하며, 설명의 편의를 위하여 상부 기판에는 블랙 매트릭스만을 도시하였다.4 is a cross-sectional view of such an array substrate and an upper color filter substrate, corresponding to a cross section taken along the line II-II of FIG. 1, and for convenience of description, only the black matrix is illustrated on the upper substrate.
도 4에 도시한 바와 같이, 블랙 매트릭스(91)는 화소 전극(81) 이외의 부분에 대응하도록 배치되어 있는데, 어레이 기판과 컬러 필터 기판의 배치시 오정렬이 발생할 수 있으므로, 오정렬에 의한 빛샘을 방지하기 위해 블랙 매트릭스(91)와 화소 전극(81)은 일부 중첩하도록 되어 있다. 여기서, 캐패시터 전극(65) 상부의 화소 전극(81)은 블랙 매트릭스(91)와 중첩되지 않는데, 이는 화소 전극(81)의 일끝단과 중첩하는 캐패시터 전극(65) 및 게이트 배선(21)이 빛을 차단하는 역할을 하기 때문이다.As shown in FIG. 4, the black matrix 91 is disposed to correspond to a portion other than the pixel electrode 81, but misalignment may occur when the array substrate and the color filter substrate are disposed, thereby preventing light leakage due to misalignment. In order to do this, the black matrix 91 and the pixel electrode 81 partially overlap each other. Here, the pixel electrode 81 on the capacitor electrode 65 does not overlap the black matrix 91, which means that the capacitor electrode 65 and the gate wiring 21 overlap with one end of the pixel electrode 81. This is because it serves to block.
여기서, 블랙 매트릭스(91)와 화소 전극(81)이 중첩되는 폭(A)은 합착 마진에 의해 결정되며, 그 크기는 일반적으로 5 ㎛ 정도가 된다.Here, the width A at which the black matrix 91 and the pixel electrode 81 overlap is determined by the bonding margin, and the size thereof is generally about 5 μm.
그런데, 컬러 필터 기판과 어레이 기판을 합착시키고 이후 공정을 진행할 경우, 공정의 온도 등에 따라 기판의 크기가 달라질 수 있다. 이때, 컬러 필터 기판과 어레이 기판은 그 종류가 다르기 때문에 기판의 크기 변화 정도도 각각 다르게 된다. 또한, 공정 중에 오차가 발생하여, 이에 따라 블랙 매트릭스와 화소 전극이 중첩하도록 형성되더라도, 게이트 배선에 인접한 부분에서 블랙 매트릭스와 화소 전극이 어긋나게 되어 빛이 새는 문제가 발생한다.However, when the color filter substrate and the array substrate are bonded to each other and the subsequent process is performed, the size of the substrate may vary depending on the temperature of the process. At this time, since the color filter substrate and the array substrate are different types, the degree of change in the size of the substrate is also different. In addition, even if an error occurs during the process, and thus the black matrix and the pixel electrode are formed to overlap, the black matrix and the pixel electrode are misaligned at a portion adjacent to the gate wiring, causing light leakage.
본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 제조 공정을 감소시키고, 빛샘을 방지할 수 있는 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, which can reduce a manufacturing process and prevent light leakage.
도 1은 일반적인 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도.1 is a plan view of an array substrate for a general liquid crystal display device.
도 2는 도 1에서 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 1. FIG.
도 3a 내지 도 3e는 종래의 액정 표시 장치용 어레이 기판을 제조하는 공정을 도시한 단면도.3A to 3E are cross-sectional views showing a process of manufacturing a conventional array substrate for a liquid crystal display device.
도 4는 종래의 액정 표시 장치에 대한 단면도.4 is a cross-sectional view of a conventional liquid crystal display device.
도 5는 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도.5 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention;
도 6은 도 5에서 Ⅵ-Ⅵ선을 따라 자른 단면도.6 is a cross-sectional view taken along the line VI-VI in FIG. 5.
도 7a 내지 도 7d는 본 발명에 따라 어레이 기판을 제조하는 공정을 도시한 단면도.7A-7D are cross-sectional views illustrating a process of fabricating an array substrate in accordance with the present invention.
도 8은 본 발명에 따른 마스크를 도시한 단면도.8 is a cross-sectional view showing a mask according to the present invention.
도 9는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 단면도.9 is a cross-sectional view of a liquid crystal display device according to the present invention.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 표시 장치에서는 기판 위에 일 방향을 가지는 다수의 게이트 배선과 게이트 배선에 연결되어 있는 게이트 전극이 형성되어 있고, 그 위에 게이트 절연막이 형성되어 있다. 게이트 절연막 상부에는 반도체층과 오믹 콘택층이 차례로 형성되어 있으며, 그 위에 게이트 배선과직교하는 데이터 배선, 데이터 배선에서 연장된 소스 전극 및 소스 전극 맞은편에 위치하는 드레인 전극이 형성되어 있다. 또한, 데이터 배선과 같은 물질로 이루어지고, 게이트 배선에 나란한 방향으로 연장된 차광 패턴이 형성되어 있다. 이어, 데이터 배선과 소스 및 드레인 전극, 차광 패턴 상부에 드레인 전극을 일부 드러내는 콘택홀을 가지는 보호층이 형성되어 있다. 다음, 보호층 상부에는 드레인 전극과 연결되어 있으며, 차광 패턴의 일부와 중첩하는 화소 전극이 형성되어 있다.In the liquid crystal display according to the present invention for achieving the above object, a plurality of gate wirings having one direction and gate electrodes connected to the gate wirings are formed on a substrate, and a gate insulating film is formed thereon. A semiconductor layer and an ohmic contact layer are sequentially formed on the gate insulating layer, and a data wiring orthogonal to the gate wiring, a source electrode extending from the data wiring, and a drain electrode positioned opposite the source electrode are formed thereon. Further, a light shielding pattern made of the same material as the data wiring and extending in a direction parallel to the gate wiring is formed. Subsequently, a protective layer is formed on the data line, the source and drain electrodes, and a contact hole exposing a part of the drain electrode over the light blocking pattern. Next, a pixel electrode connected to the drain electrode and overlapping a part of the light blocking pattern is formed on the passivation layer.
여기서, 오믹 콘택층은 데이터 배선, 소스 및 드레인 전극과 같은 모양을 가지며, 반도체층은 소스 및 드레인 전극 사이를 제외하고 데이터 배선, 소스 및 드레인 전극과 동일한 모양으로 이루어질 수 있다.Here, the ohmic contact layer may have the same shape as the data line, the source and the drain electrode, and the semiconductor layer may have the same shape as the data line, the source and the drain electrode except between the source and the drain electrode.
차광 패턴에서 화소 전극과 중첩되지 않는 부분의 폭은 2 ㎛일 수 있다.A portion of the light blocking pattern that does not overlap the pixel electrode may have a width of 2 μm.
또한, 차광 패턴은 드레인 전극과 연결되어 있을 수 있다.In addition, the light blocking pattern may be connected to the drain electrode.
본 발명에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판에서는 데이터 배선과 같은 물질로 이루어지고, 게이트 배선과 일부 중첩하며, 화소 전극과 연결되어 있는 캐패시터 전극을 더 포함할 수도 있다.The array substrate for a liquid crystal display according to the present invention may further include a capacitor electrode made of the same material as the data line, partially overlapping the gate line, and connected to the pixel electrode.
한편, 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 방법에서는 기판을 구비하고, 기판 위에 금속 물질을 증착한 후 제 1 마스크로 패터닝하여 게이트 배선과 게이트 전극을 형성한다. 이어, 게이트 배선 상부에 게이트 절연막, 비정질 실리콘층, 불순물 비정질 실리콘층 및 금속층을 순차적으로 증착한다. 다음, 제 2 마스크로 금속층과 불순물 비정질 실리콘층 및 비정질 실리콘층을 차례로 패터닝하여 반도체층과 오믹 콘택층, 데이터 배선, 소스 전극 및 드레인 전극, 그리고 차광 패턴을 형성한다. 다음, 데이터 배선 상부에 절연 물질을 증착하고, 제 3 마스크를 이용한 패터닝 공정으로 드레인 전극을 일부 드러내는 콘택홀을 가지는 보호층을 형성한다. 이어, 보호층 상부에 투명 도전 물질을 증착하고 제 4 마스크로 패터닝하여, 콘택홀을 통해 드레인 전극과 연결되고, 차광 패턴과 일부 중첩하는 화소 전극을 형성한다.Meanwhile, in the method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention, a substrate is provided, a metal material is deposited on the substrate, and patterned with a first mask to form a gate wiring and a gate electrode. Subsequently, a gate insulating film, an amorphous silicon layer, an impurity amorphous silicon layer, and a metal layer are sequentially deposited on the gate wiring. Next, the metal layer, the impurity amorphous silicon layer, and the amorphous silicon layer are sequentially patterned with a second mask to form a semiconductor layer, an ohmic contact layer, a data line, a source electrode and a drain electrode, and a light shielding pattern. Next, an insulating material is deposited on the data line, and a protective layer having a contact hole exposing a part of the drain electrode is formed by a patterning process using a third mask. Subsequently, a transparent conductive material is deposited on the passivation layer and patterned with a fourth mask to form a pixel electrode connected to the drain electrode through the contact hole and partially overlapping the light blocking pattern.
여기서, 차광 패턴은 드레인 전극과 연결되어 있을 수 있다.Here, the light blocking pattern may be connected to the drain electrode.
또한, 제 2 마스크는 소스 및 드레인 전극 사이에 대응하는 부분에 다수의 슬릿 패턴을 가질 수 있다.In addition, the second mask may have a plurality of slit patterns at portions corresponding between the source and drain electrodes.
이와 같이 본 발명에서는 4장의 마스크를 이용하여 어레이 기판을 제조함으로써 제조 비용을 절감할 수 있으며, 데이터 배선과 같은 물질로 게이트 배선과 나란한 방향의 차광 패턴을 형성하여 화소 전극과 일부 중첩시킴으로써, 공정 마진을 향상시켜 빛샘 불량을 방지할 수 있다.As described above, in the present invention, manufacturing costs can be reduced by fabricating an array substrate using four masks, and a process margin is formed by forming a light shielding pattern in a direction parallel to the gate wiring using a material such as data wiring and partially overlapping the pixel electrode. It is possible to prevent light leakage by improving the
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
먼저, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도이고, 도 6은 도 5에서 Ⅵ-Ⅵ선을 따라 자른 단면도이다.First, FIG. 5 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line VI-VI in FIG. 5.
도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 기판(110) 위에 일 방향의 게이트 배선(121)과 게이트 배선(121)에서 연장된 게이트 전극(122)이 형성되어 있다.5 and 6, the gate wiring 121 in one direction and the gate electrode 122 extending from the gate wiring 121 are formed on the substrate 110.
게이트 배선(121) 상부에는 게이트 절연막(130)이 형성되어 게이트 배선(121) 및 게이트 전극(122)을 덮고 있다.A gate insulating layer 130 is formed on the gate wiring 121 to cover the gate wiring 121 and the gate electrode 122.
이어, 게이트 절연막(130) 위에는 반도체층(141, 145)이 형성되어 있고, 그 위에 오믹 콘택층(151, 152, 155)이 형성되어 있다. 여기서, 게이트 전극(122) 상부의 반도체층(141)은 박막 트랜지스터의 액티브층이 된다.Subsequently, semiconductor layers 141 and 145 are formed on the gate insulating layer 130, and ohmic contact layers 151, 152 and 155 are formed thereon. Here, the semiconductor layer 141 on the gate electrode 122 becomes an active layer of the thin film transistor.
오믹 콘택층(151, 152, 155) 위에는 데이터 배선(161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 차광 패턴(164) 및 캐패시터 전극(165)이 형성되어 있다. 데이터 배선(161)은 게이트 배선(121)과 직교하여 화소 영역을 정의하고, 소스 전극(162)은 데이터 배선(161)에서 연장되어 있으며, 드레인 전극(163)은 소스 전극(162)과 분리되어 게이트 전극(122)을 중심으로 소스 전극(162)과 마주 대하고 있다. 드레인 전극(163)과 연결되어 있는 차광 패턴(164)은 게이트 배선(121)과 나란한 방향으로 연장되어 있으며, 캐패시터 전극(165)은 게이트 배선(121)과 일부 중첩하여 게이트 배선(121)과 함께 스토리지 캐패시터를 형성한다.The data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163, the light blocking pattern 164, and the capacitor electrode 165 are formed on the ohmic contact layers 151, 152, and 155. The data line 161 defines a pixel area orthogonal to the gate line 121, the source electrode 162 extends from the data line 161, and the drain electrode 163 is separated from the source electrode 162. The gate electrode 122 faces the source electrode 162. The light blocking pattern 164 connected to the drain electrode 163 extends in a direction parallel to the gate wiring 121, and the capacitor electrode 165 partially overlaps the gate wiring 121 to be together with the gate wiring 121. Form a storage capacitor.
여기서, 오믹 콘택층(151, 152)은 데이터 배선(161), 그리고 소스 및 드레인 전극(162, 163)과 같은 모양을 가지며, 반도체층(141)은 소스 및 드레인 전극(162, 163) 사이 즉, 박막 트랜지스터의 채널에 해당하는 부분을 제외하고 데이터 배선(161), 소스 및 드레인 전극(162, 163)과 같은 모양을 가진다.Here, the ohmic contact layers 151 and 152 have the same shape as the data line 161 and the source and drain electrodes 162 and 163, and the semiconductor layer 141 is formed between the source and drain electrodes 162 and 163. Except for the portion corresponding to the channel of the thin film transistor, it has the same shape as the data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163.
다음, 데이터 배선(161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 그리고 캐패시터 전극(165) 상부에는 보호층(170)이 형성되어 이들을 덮고 있으며, 보호층(170)은 드레인 전극(163)과 캐패시터 전극(165)을 각각 드러내는 제 1 및 제 2 콘택홀(171, 172)을 가진다.Next, a passivation layer 170 is formed on the data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163, and the capacitor electrode 165 to cover the passivation layer 170. First and second contact holes 171 and 172 exposing the capacitor electrode 165, respectively.
다음, 화소 영역에는 투명 도전 물질로 이루어진 화소 전극(181)이 형성되어있는데, 화소 전극(181)은 제 1 콘택홀(171)을 통해 드레인 전극(163)과 연결되어 있다. 또한, 캐패시터 전극(165)과 일부 중첩하여 제 2 콘택홀(172)을 통해 캐패시터 전극(165)과 연결되어 있고, 차광 패턴(164)과도 일부 중첩되어 있다.Next, a pixel electrode 181 made of a transparent conductive material is formed in the pixel area, and the pixel electrode 181 is connected to the drain electrode 163 through the first contact hole 171. The capacitor electrode 165 partially overlaps the capacitor electrode 165 and is connected to the capacitor electrode 165 through the second contact hole 172, and partially overlaps the light blocking pattern 164.
여기서, 차광 패턴(164)은 액정 표시 장치의 합착 마진을 증가시켜 빛샘을 방지하기 위한 것이다.Here, the light blocking pattern 164 is to prevent light leakage by increasing the bonding margin of the liquid crystal display.
이하, 이러한 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조 과정에 대하여 도 7a 내지 도 7d를 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a manufacturing process of the array substrate for a liquid crystal display will be described in detail with reference to FIGS. 7A to 7D.
먼저, 도 7a에 도시한 바와 같이 투명 기판(110) 위에 금속 물질을 증착하고 제 1 마스크를 이용하여 패터닝함으로써, 일 방향의 게이트 배선(121) 및 게이트 배선(121)에서 연장된 게이트 전극(122)을 형성한다.First, as shown in FIG. 7A, a metal material is deposited on the transparent substrate 110 and patterned using a first mask, thereby extending the gate electrode 122 and the gate electrode 122 extending from the gate wiring 121 in one direction. ).
이어, 도 7b에 도시한 바와 같이 게이트 절연막(130)과 비정질 실리콘층 및 불순물로 도핑된 비정질 실리콘층을 차례로 증착하고 금속층을 스퍼터링과 같은 방법으로 증착한 후, 제 2 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 패터닝하여 데이터 배선(도 5의 161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 차광 패턴(164), 캐패시터 전극(165), 그리고 오믹 콘택층(151, 152, 155) 및 반도체층(141, 145)을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 7B, the gate insulating layer 130, the amorphous silicon layer, and the amorphous silicon layer doped with impurities are sequentially deposited, and the metal layer is deposited by the same method as sputtering, followed by a photolithography process using a second mask. The patterned data line (161 of FIG. 5), the source and drain electrodes 162 and 163, the light shielding pattern 164, the capacitor electrode 165, and the ohmic contact layers 151, 152 and 155 and the semiconductor layer 141 are formed. 145).
이때, 사진 식각 공정에서는 회절 노광을 이용하여 여러 층의 막을 한꺼번에 식각하는데, 이러한 회절 현상을 이용하기 위해 제 2 마스크는 슬릿 패턴을 포함한다. 이러한 제 2 마스크에 대하여 도 8에 도시하였다.At this time, in the photolithography process, several layers of films are etched at once by using diffraction exposure. In order to use the diffraction phenomenon, the second mask includes a slit pattern. This second mask is shown in FIG. 8.
도시한 바와 같이, 제 2 마스크는 빛이 차단되는 영역(D), 회절 노광 영역(E) 및 빛이 투과되는 영역(F)으로 이루어진다. 빛이 차단되는 영역(D)은 데이터 배선(161)과 소스 및 드레인 전극(162, 163), 차광 패턴(164), 그리고 캐패시터 전극(165)가 형성되는 영역에 대응하며, 회절 노광 영역(E)은 소스 및 드레인 전극(162, 163) 사이의 채널이 형성되는 부분에 대응하고, 빛이 투과되는 영역(F)은 그 외 나머지 부분에 대응한다. 여기서, 회절 노광 영역(E)에는 빛을 회절시키기 위해 노광기의 분해능보다 작은 간격으로 이루어진 다수의 슬릿이 형성되어 있다.As shown, the second mask includes a region D where light is blocked, a diffraction exposure region E, and a region F through which light is transmitted. The region D where light is blocked corresponds to a region where the data line 161, the source and drain electrodes 162 and 163, the light shielding pattern 164, and the capacitor electrode 165 are formed, and the diffraction exposure region E ) Corresponds to the portion where the channel between the source and drain electrodes 162 and 163 is formed, and the region F through which light is transmitted corresponds to the remaining portion. Here, in the diffraction exposure area E, a plurality of slits are formed at intervals smaller than the resolution of the exposure machine in order to diffract the light.
다음, 도 7c에 도시한 바와 같이 실리콘 질화막이나 실리콘 산화막 또는 유기 절연막을 증착한 다음, 제 3 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 패터닝하여 드레인 전극(163)과 캐패시터 전극(165)을 각각 드러내는 제 1 및 제 2 콘택홀(171, 172)을 가지는 보호층(170)을 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 7C, first, a silicon nitride film, a silicon oxide film, or an organic insulating film is deposited, and then patterned by a photolithography process using a third mask to expose the drain electrode 163 and the capacitor electrode 165, respectively. The protective layer 170 having the second contact holes 171 and 172 is formed.
이어, 도 7d에 도시한 바와 같이 ITO(indium-tin-oxide)와 같은 투명 도전 물질을 증착하고 제 4 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 화소 전극(181)을 형성하는데, 화소 전극(181)은 제 1 콘택홀(171)을 통해 드레인 전극(163)과 연결되고, 게이트 배선(121)과 나란한 일단은 캐패시터 전극(165)과 중첩하여 제 2 콘택홀(172)을 통해 캐패시터 전극(165)과 연결되며, 다른 일단은 차광 패턴(164)과 일부 중첩하도록 한다.Subsequently, as illustrated in FIG. 7D, a transparent conductive material such as indium-tin-oxide (ITO) is deposited and the pixel electrode 181 is formed by a photolithography process using a fourth mask. One end is connected to the drain electrode 163 through the first contact hole 171, and one end parallel to the gate wiring 121 is overlapped with the capacitor electrode 165 to be connected to the capacitor electrode 165 through the second contact hole 172. The other end is partially overlapped with the light shielding pattern 164.
이와 같이 액정 표시 장치용 어레이 기판을 4장의 마스크를 이용하여 제조함으로써 제조 공정을 감소시킬 수 있다.Thus, the manufacturing process can be reduced by manufacturing the array substrate for liquid crystal display devices using four masks.
도 9는 이러한 방법으로 제조된 어레이 기판을 이용한 액정 표시 장치의 단면도로서, 설명의 편의를 위해 상부에는 블랙 매트릭스만을 도시하였다.FIG. 9 is a cross-sectional view of a liquid crystal display using an array substrate manufactured by the above method, and for convenience of description, only a black matrix is shown on the top.
도 9에 도시한 바와 같이, 블랙 매트릭스(211)는 화소 전극(181) 이외의 부분에 대응하도록 배치되어 있는데, 화소 전극(181)과 소정 간격 중첩되어 있다. 앞서 언급한 바와 같이, 블랙 매트릭스(211)와 화소 전극(181)이 중첩하는 폭(B)은 합착 마진을 고려하여 약 5 ㎛ 정도가 된다. 이때, 게이트 배선(121)에 인접한 부분의 화소 전극(181)은 게이트 배선(121)에 나란한 차광 패턴(164)과 중첩되어 있는데, 화소 전극(181)과 중첩되지 않는 차광 패턴(164)의 폭(C)은 게이트 배선(121)과 화소 전극(181) 사이의 간격을 고려하여 약 2 ㎛ 정도로 이루어진다.As shown in FIG. 9, the black matrix 211 is disposed to correspond to a portion other than the pixel electrode 181 and overlaps the pixel electrode 181 at a predetermined interval. As mentioned above, the width B where the black matrix 211 and the pixel electrode 181 overlap is about 5 μm in consideration of the bonding margin. In this case, the pixel electrode 181 of the portion adjacent to the gate wiring 121 overlaps the light blocking pattern 164 parallel to the gate wiring 121, but the width of the light blocking pattern 164 not overlapping with the pixel electrode 181. (C) is about 2 μm in consideration of the gap between the gate wiring 121 and the pixel electrode 181.
이러한 폭(C)은 게이트 배선(121)에 인접한 부분에서 블랙 매트릭스(211)와 화소 전극(181)이 어긋나더라도 이 부분에서 빛이 새는 것을 방지한다. 따라서, 합착 마진이 종래의 5 ㎛에서 7 ㎛로 증대된다.This width C prevents light leakage from the black matrix 211 and the pixel electrode 181 in a portion adjacent to the gate wiring 121. Therefore, the bonding margin is increased from the conventional 5 mu m to 7 mu m.
본 발명에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판에서는 4장의 마스크를 이용하여 제조함으로써 제조 비용을 절감할 수 있으며, 데이터 배선과 같은 물질로 게이트 배선과 나란한 방향의 차광 패턴을 형성하여 화소 전극과 일부 중첩시킴으로써 공정 마진을 향상시킨다. 따라서, 빛샘 불량을 방지할 수 있다.In the liquid crystal display array substrate according to the present invention, manufacturing costs can be reduced by manufacturing using four masks, and a light shielding pattern in a direction parallel to the gate wiring is formed of a material such as data wiring to partially overlap the pixel electrode. Improve process margins Therefore, the light leakage defect can be prevented.
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Cited By (3)
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KR100794758B1 (en) * | 2006-08-03 | 2008-01-15 | 우 옵트로닉스 코포레이션 | Color filter substrate and method for manufacturing same |
US7422916B2 (en) | 2004-06-29 | 2008-09-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of manufacturing thin film transistor panel |
TWI409559B (en) * | 2010-08-27 | 2013-09-21 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Liquid crystal display (lcd) panel |
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