KR20010092248A - 염료 침투법에 의해 크랙을 검출하여 자동으로 결함을검출하는 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 염료 침투법에 의한 크랙 검출에 의해 결함을 자동으로 검출하는 방법으로서, 염료 침투 테스트용 가공편들을 염료 함유 침투제로 처리하므로, 염료는 표면 결함(부)들에서 농축되며, 예정된 현상(현색) 기간이 경과한 후 적어도 하나의 이미지 기록 장치에 의해 기록되고, 염료가 농축된 면적을 스캐닝하고 검출하여 이미지 처리 장치에서 결함에 대해 상기 기록을 평가하며, 결함들을 검출하고 그에 상응하는 신호들을 출력하는데, 침투제에 의한 처리와 선택적인 현상과 적어도 두 개의 기록(A1, A2)을 얻는 것에 후속하여 동일한 가공편에 관한 기록들(A1, A2)을 적어도 2회(t1, t2) 만들고, 서로 다른 회수(t1, t2)에서 산출된 기록들(A1, A2)을 비교하고 광학적 이미지 처리 장치의 평가 로직(logic)에 의해 상기 비교를 평가하며, 기준 시간차에 대한 변화 한계치 위에 있는 기록들(A1, A2)에 상응하는 면적에서 시간의 기간(△t1, t2)에 걸친 침투제 농축 변화들을 나타내는 신호들을 평가 로직에 의해 출력하고, 미리 한정된 규격 간격에 의한 또는 미리 한정된 표면적에서의 결함 크기 평가, 양호/불량 정보와 같은, 크랙 형성에 관련된 평가 변수들을 산출하기 위해 측정된 가공편 관련 인자들을 평가한다.

Description

염료 침투법에 의해 크랙을 검출하여 자동으로 결함을 검출하는 방법{AUTOMATIC ERROR DETECTION METHOD USED DURING CRACK INSPECTION ACCORDING TO THE DYE PENETRATION METHOD}

연속 주조 시스템, 와이어 단부 테스트 등과 같은 연속해서 테스트할 가공편들을 생산하는 생산 시스템에서 염료 침투제 테스트에 의한 자동화된 광학적 결함 검출이 이미 공지되어 있다. 현재, 염료가 덮인 가공편으로부터의 이미지는 소위 광학적 이미지 검출에 의해 이미 광학적으로 평가되고 있으며, 공지되어 있는 염료 침투법에 의해 볼 수 있게 된 결함은 광학적 스캐닝 및 이미지 검출법에 의해 검출되고 또 저장된 결함 로직에 의해 비교된다. 염료 침투 테스트에서 새로워진 관심이 보여지고 있는데, 그 이유는 최근에 예컨대 알루미늄 비임 용, 경량 금속 모터블록 용 등의 티타늄 합금 그렇지 않으면 알루미늄 또는 마그네슘 합금과 같은 비철 금속에 관한 사용이 빈번해지고, 또한 밸브 요소 용, 스트레스를 많이 받는 부분의 코팅 용과 같은 세라믹에 관한 사용도 증가하고 있기 때문이다. 여기서 관심 있는 것은 마그네슘 또는 알루미늄 합금 또는 세라믹으로 제조된 부류의 비자화(比磁化) 가공편의 크랙에 대한 -프로세스 제어에서의- 일상적인 시험이다.

따라서, 관심사항은 크랙 검출법인데, 공지된 방식에 있어서 염료 침투 테스트용 가공편은 염료가 있는 테스트제(testing agents), 표면 결함부에서의 염료의 농축에 의해 처리되고, 형광 염료의 경우에는 UV 램프와 같은 조명 장치에 의한 조명 하에 평가될 뿐만 아니라, 적당하게 흡수하는 염료의 경우에는 레이저 또는 다른 램프에 의해 평가된다.

이 경우, 가공편은 통상 염료 침투 테스트를 위해 세정, 필요하다면 산 세척을 하고 건조하여 마련되며, 염료 특히 형광 염료도 갖는 테스트제로 스프레이하고, 표면 결함부 특히 크랙에 상기 염료를 농축한 후, 예컨대 긁어내거나 씻어냄으로써 과다한 염료 함유 테스트제를 제거하며, 전술한 방식으로 처리된 가공편을 현상액(developer)에 의해 처리하고 나서, 적절하다면 소정의 현상(현색) 시간이 경과한 후 UV 또는 가시 전등 아래서 기록하고 평가한다. 현상 후 경과된 시간 중에 크랙을 검출할 수 있는 시간은 매우 짧으므로(종종 일분 미만 정도), 측정은 현상에 후속하여 특정의 재현가능한 시간 주기 이내에서 정밀하게 이루어져야 한다.

지금까지, 이러한 염료 침투 시험은 주로 조작원에 의한 육안 검사로 행하여져 왔다. 출원인은 이미 그러한 염료 침투 테스트 및 그와 관련된 장치를 제안한바 있다. 그러나 잦은 에러로 인해 그 테스트를 수행하는 사람들은 피로해지게 되었으므로, 이미지 프로세싱에 의한 자동화된 검출 시스템이 이미 제안되었으며 예를 들면, DE 19639020.6 또는 19645377.1 이 있으며 중복 설명을 회피하고자 상기 명세서 전문을 참고하고자 한다.

이미 DE 3907372에서는 염료 침투법에 의해 표면 크랙을 평가하는 장치를 모니터하는 방법을 개시하였다. 여기서는 램프 휘도와 테스트제의 품질을 모니터하며, 불만족스러운 결과가 나온 경우에 시스템은 스위치 오프되고 카메라에 의해 테스트 시편의 품질을 체크한다. 신호를 모니터하는 것은 단지 시스템을 스위치 오프하는 데에만 사용되지만, 테스트제의 함량이나 램프 휘도를 제공하는 것은 말할 것도 없고 시스템 거동에 관련된 데이타의 분류정리도 제공되지 않는다. 따라서 공지된 상기 시스템은 단지 시스템을 스위치 오프하는 기능을 수행할 따름이다. DE 19645377.1 에서는 이미 시스템의 신뢰성과 체크능력을 체크하고 또 기록(분류정리)하는 방식을 개시하였다.

DE 19645377.1 에서는 시편에 관한 기록 장치의 초점 또는 기하학적 배치와 같은 이미지 기록 장치의 설정에서의 변화를 자동으로 체크하는 것을 제안하였는데, 이들은 쉽게 변화하며, 세정제, 테스트액, 산세척제 및 온도의 품질과 같은, 테스트에 중요한 영향을 미치는 인자들이다.

공지된 방법에 있어서, 이미 현재 요구되는 테스트 방법과 그 한계, 테스트 에러와 그 처리, 성능 한계설정, 공차 정보 등이 모니터되며, 결과의 분류정리와 결과의 재생성 -즉, 검출 시스템 자체의 기능적 함량의 검출도 또한 보장된다. 이는 테스트 시스템 특히 자동 테스트 시스템이라면 비교적 긴 조작 기간에 걸쳐서 추가의 안정성을 제공하며, 비용을 줄이는 것에 관련된 그리고 결함 많은 것으로 분류되어야 할 가공편을 더욱 신뢰성 있게 검토하는 확실성을 증가시키는 것에 관련된 30가지 관점이 있다.

미리 형성된 테스트 결함이 있는 소위 테스트 보디들을 규칙적으로 통과시킴으로써, 그것들이 올바르게 검출되어 왔는가를 결정할 수 있지만, 이 방법에 의해서는 그 테스트 보디가 검출되지 않았다는 것을 확립하는 것만 가능할 뿐 그것이 검출되진 않은 이유를 검출할 수 는 없다. 분류정리가 생성되지 아니하였으므로 시스템이 더 이상 만족스럽게 조작되지 않은 시점과 그 이유를 설명하는 것은 불가능했다.

이 경우에, 측정은 침투제에 의해 실행되는데, 이는 표면장력 현상이 없기 때문에 서서히 함몰시키고 결함, 공극, 기공, 함몰부(수축부) 등의 그 외의 표면변화를 일으킨다. 동시에, 시간에 따른 침투제에 있어서의 주어진 변화는 가공편의 성분들(그리이스의 잔류함량, 오염물 등)과의 혼합, 침투제의 용매의 증발로부터 비롯되는 농도 변화의 결과로서 시간에 따라 발생하며, 따라서 지금까지 측정은 침투제/현상액에 의한 가공편의 처리, 그 후 결함부의 "블루밍(blooming)"이라 부르는 결함 징후 변화에 이어서 비교적 짧은 시간의 주기(기간) 이내에서 실행되어 왔다. 이것은, 결함부에서/내의 침투 염료의 재빠른 농축이 감소한다는 것과, 염료가 결함부로부터 다시 확산(이동)된다는 것과, 그에 따라서 콘트라스트는 점차적으로 더 열악해진다는 것을 의미한다. 따라서, 염료 분말법에 의한 결함 평가는 측정 결과에 지대한 영향을 미치는 동적인 변화에 대해 이루어진다. 시간에 따른 결함 징후에서의 그러한 변화는 공지된 시스템의 단순한 자체 체크 성질에 의해서는 고려될 수 없었다. 결함 징후의 동역학(동적 변화)의 결과 종종 에러가 발생되는데, 그 이유는 침투제/현상액의 도포와 이미지 처리 장치에 의한 시편 기록 사이의 시간 주기가 정확하게 유지될 수 없기 때문이다. 종래 기술에 따르면, 결함 징후의 동적 거동으로 인해 종종 틀린 평가가 발생되며, 그 이유는 신속한 "블루밍"으로 인해 몇몇 결함이 과대평가되고 다른 것들이 검출되지 않았기 때문이다.

따라서, 염료 침투법에 의해 크랙 테스트 시스템의 신뢰성과 효과가 이미 개선되었지만 침투액이 가공편에 의존하여 매우 상이한 정도로 농축되었다는 문제가 여전히 남아 있다. 동시에, 가공편의 표면 조건과 그 위에 형성된 침투액의 표면장력은 재료에 따라 상이하고 -결함 징후의 블루밍은 결함의 형태에 의존하여 발생함- 다시 말하자면, 결함의 깊이, 재료의 기공률(porosity) 또는 표면의 평활도에 의존하여 상이한 비율로 된다.

본 발명은 염료 침투법에 의해 크랙을 검출하여 자동으로 결함을 검출하는 방법에 관한 것으로서, 염료 침투용 가공편은 염료를 함유하는 침투제에 의해 처리되므로 염료는 표면 결함부에 농축되고, 예정된 현색 기간(development period)이 지난 후 적어도 하나의 이미지 기록 장치에 의해 기록되며, 기록된 것은 염료가 농축된 면적의 스캐닝과 검출에 의해 이미지 처리 장치에서 결함에 대해 평가되며, 결함이 검출되고 그에 상응하는 신호가 출력된다.

도 1은 염료 침투법의 블록 다이어그램이고,

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 크랙 테스트 시스템을 개략적으로 예시한 도면이며,

도 3은 기록 장치가 여러 개인 본 발명의 추가의 실시예에 따른 크랙 테스트 시스템의 개략적인 예시도이다.

따라서 본 발명의 목적은 침투제 테스트에 의한 결함의 검출을 개선하는 방법을 제공하는 것이다.

본 발명에 따르면, 상기 목적은 다름과 같은 단계들로 되는 포괄적인 방법에 의해 달성된다.

즉, 침투제에 의한 처리에 후속하여 동일한 가공편에 관한 기록들(A1, A2)을 적어도 2회(t1, t2) 만드는 단계와,

서로 다른 회수(t1, t2)에서 산출된 기록들(A1, A2)을 비교하고 광학적 이미지 처리 장치의 평가 로직(logic)에 의해 상기 비교를 평가하는 단계와,

기준 시간차에 대한 변화 한계치 위에 있는 기록들(A1, A2)에 상응하는 면적에서 시간의 기간(△t1, t2)에 걸친 침투제 농축 변화들을 나타내는 신호들을 평가 로직에 의해 출력하는 단계와,

미리 한정된 규격 간격에 의한 또는 미리 한정된 표면적에서의 결함 크기 평가, 양호/불량 정보와 같은, 크랙 형성에 관련된 평가 변수들을 산출하기 위해 가공편에 관련된 인자들과 테스트 시스템에 관련된 조작 변수들을 고려하여 신호들의 출력을 평가하는 단계를 포함한다.

또한, 종속항으로부터 유익한 개선점이 이루어진다.

표면 불연속부에 농축된 염료의 동적 거동은 이제 신뢰성 있게 얻어지고 평가되므로, 표면 결함의 완전히 새로운 평가가 가능하다. 시간 간격에서의 기록과 콘트라스트에서의 차이를 측정한 결과 이미지 처리 방법에 의한 결함 징후의 시간 거동을 수집하면, 다양한 시간에서 이루어진 기록들 사이의 차이에 관한 데이타 처리 시스템의 일부에서의 자동 평가의 결과로서, 결함을 분류하는 것과, 그 결함을 평가하는 것과, 그에 따라 특정 형태의 결함을 갖는 징후를 출력하는 것을 가능하게 한다.

이전에 주로 사람에 의해 실행했던 평가와 비교해서 본 발명에 의한 방법은, 카메라들이 어떠한 피로 현상도 가질 수 없으므로, 항상 유사한 이미지에 관해 비교적 장고하는 중에 불가피하게 발생하는 사람의 결점을 회피할 수 있다는 장점이있다.

따라서, 놀랍게도 본 발명에 따르면 이제는 시간에 걸쳐 결함 징후의 동적 거동을 통하여 결함을 분류하는 것이 가능해진다. 그러한 시스템에 있어 초기치를 측정하여 저장한다는 사실은 시스템이 매우 광범위한 시편과 테스트액에 대해 설정될 수 있다는 것을 의미한다. 기록 장치를 통하여 결함 징후를 평가하는 결과로서, 이제 모니터한 조작 변수들에 관해 드러난(기록된) 테스트 리포트를 작성할 수 있다.

이미지 기록 장치에 의해 윈도우를 설정하고 윈도우를 스캐닝하여 광학적 이미지 처리가 수행되는 것이 유익하고, 크랙 결함의 선택과 평가와 징후는 테스트 시퀀스(사이클 시간)와 링크되며, 이로부터 얻은 데이타는 컴퓨터에서 처리된다.

동시에, 고정적으로 예정된 시간 간격에서 기록을 산출하는 기록장치를 마련할 수 있다. 고정된 시간 간격에서 적어도 두 개의 기록을 산출하는 단일 기록 유니트를 마련함으로써, 크랙 테스트 시스템의 전체 크기와 그것의 비용이 낮게 유지될 수 있으며, 또한 완전히 동일하게 조작되지 않는 다수의 기록 장치의 사용으로부터 야기되는 문제를 회피할 수 있게 된다.

그러나, 이송 장치에 의해, 동일한 물리적 방향을 갖는 테스트할 가공편을 서로 거리를 두고 배치된 2개 이상의 기록 장치 K1, K2, ..., Kn를 지나 안내하는 것도 가능하므로, 침투제에 의한 처리 후에 일정한 물리적 방향을 갖는 가공편의 여러 기록 장치 K1, K2, ...,Kn에 의해 여러차례 이루어진 기록 A1, A2, ..., An이 산출되며, 여러 기록 장치 K1, K2, ...,Kn로부터의 기록을 평가 로직에 의해 서로비교하고, 그 기록간의 차이로부터, 기록간 경과되는 시간 간격에 기초하여 신호를 형성하며, 그 후 이들 신호는 결함의 형태나 동적 거동에 대해 중요해진다. 컨베이어와 다수의 기록 장치를 사용하므로 많은 부품을 신속하게 테스트할 수 있는 장점을 얻는다. 기준 데이타 △A1, A2 및 기록간 경과된 각 시간 사이의 시간차 △tn, tn+1에 관련한 데이타가 평가 로직의 메모리에 저장되고 평가 로직은 측정된 차이값이 규정된 기준치 내에 있는지를 비교하게 되는 것이 유리하다. 이로써 특정 시간 간격 내에 표시된 결함만을 선정할 수 있게 된다.

두 측정 사이에 고정된 시간 간격이 설정되지 않는다면, 이는 이미지 기록 장치의 두 기록 An, An+1 사이의 시간차 △tn, tn+1를 측정하고 또 이 시간 기간 △tn, tn-1을 이 시간 간격에서 결정된 콘트라스트 변화에 할당함으로써 대체될 수 있다. 이것은 가령, 부품들이 예정된 횟수에 기록 장치를 지나 안내될 수 없는 경우에 필요하게 된다.

어떠한 경우에도, 모니터 장치들에 의해 예정된 시간 간격에서 시스템의 구성부품들을 모니터하고 측정치 처리 장치에 의해 체크되는 모니터 신호를 출력하는 것이 권유되며 따라서, 신호가 출력된다. 이 경우에, 적어도 하나의 이미지 기록 장치의 기하학적 형상, 초점, 및 기능; 및/또는 그 방법에 사용된 액체의 활동성; 테스트액 및/또는 현상액 및/또는 산세척액 및/또는 세정 수단 및 또는 조(bath) 온도(들)과 같은 조 데이터; 레벨; 오염이 모니터 장치에 의해 체크된다. 이들 모니터 신호는 시스템 및/또는 그것의 재조정 장치를 제어하는데 사용될 수 있다.

본 발명에 따른 방법에 의한 품질 제어의 정밀도와 시스템의 조작성을 입증하는 효과에 의해, 통상 매체에 관한 측정치 처리 장치로부터의 신호 및/또는 모니터 신호를 기록하는 것이 필요하고 또 불가피하다. 이를 위해, 일반적으로 부품 식별 번호와 항목의 수효를 직접 측정하고, 적합하다면 이들을 기록하는 것도 필요하다. 모니터 신호는, 조명 휘도 및/또는 조명 모니터 센서들의 센서 감도 및/또는 테스트제의 농도와 양과 산세척제의 양 및/또는 초점 또는 감도의 기하학적 배치와 같은 이미지 기록 장치(들)의 설정을 재조정하는 데에 사용된다.

시스템의 "인테그럴 테스트(integral test)"로서, 기준 결함이 있는 테스트 편들을 자동으로 통과시킬 수 있고 이들을 측정함으로써 전체 시스템의 조작성을 체크할 수 있다.

본 발명에 의해 조명 시스템과 모니터 시스템을 조작성에 대해 체크해보면 명료하듯이, 시스템의 조작을 체크할 수 있고 동일한 레벨에서 유지할 수 있다. 체크 시스템과 그것의 구성요소들의 기능을 자동으로 예정된 시간 간격에서 고정함으로써, 후술하는 장점을 얻게 된다.

첫 번째, 시편에 관한 결함들 사이의 구별들 실행할 수 있고 따라서 방법의 정밀도와 파워를 상당히 개선할 수 있다. 또한, 분류정리를 비롯하여, 전체의 조작 시간에 걸친 시스템의 거동에 관한 체크를 실행하는 것도 가능하게 된다.

이하 개략도를 이용하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하겠으나, 본 발명의 범위는 이러한 실시예에 의해 한정되는 것은 아니며 당업자라면 바라는 추가의 실시예가 이루어질 수 있다는 것을 인식할 것이다.

도 1에서 알 수 있는 바와 같이, 염료 침투법에 의한 크랙 테스트 방법에 있어서 테스트할 시편(아주 종종 비철임)을 예비세정(선세정)하고, 필요하다면 산세척을 하고 건조시킨 후 소위 염료 침투제라 칭하는 테스트제로 처리한다. 특정 시간의 기간 후에 과다한 염료 침투제를 제거하고, 간헐적으로 가공편들을 세정하고 나서 현상액으로 처리한다. 현상 시간이 지난 후에 가공편을 건조시키며, 필요할 경우에는, 여러 회에 걸쳐 검사하고 나서 여러 회에서의 개개의 기록을 기초로 하여 가공편의 결함성에 관해 진술하게 되는데, 적합하다면 분류정리(기록)도 이루어진다.

도 1에서 알 수 있듯이, 현상된 가공편(10)이 시편으로서 테스트 스테이션으로 안내되며, 여기서 사실상 개략적으로 도시한 염료 침투제 탱크(12)로부터 스프레이 노즐에 의해 염료 침투제를 도포하며, 그 시편은 다른 스테이션들을 통과하며, 여기서 시편을 세정액과 산세척액과 현상액 및 염료 용액에 의해 처리한다(도시하지 않음). 스프레이 헤드들에 대한 라인 리딩(5) 내에는 , 바람직하게는 DE-A-4438510.2에 따른 테스트제 체크 및 계량 리도싱 시스템(17)이 인라인으로 마련된다.

거기서, 테스트제를 조작성에 대해 체크하며, 필요하다면, 염료 등이 계량되어 탱크(12) 속으로 들어갈 수 있다. 형광 염료로 조작하는 본 실시예의 경우에, 시편은 UV 램프(11)에 의해 조사되며, 이는 잇달아 공지된 방식으로 모니터될 수 있으며, 따라서 그것의 전류도 재조정될 수 있다.

순환 펌프에 연결된 저장 용기(12)로부터 (유사 실시예에서는 스프레이에 의해), 표면 결함 표시에 사용되는 테스트액(13a)이 스프레이 시스템의 스프레이 헤드(13)들에 의해 공급 라인들 통해 공급되며 가공편(10)의 표면 위로 분사된다. 염료 입자들, 가공편 위로 살포되는 테스트액 -통상 물리적 현상으로 알려져 있음- 은 표면 장력에 의해 크랙들에 농축된다. 따라서 크랙들이 있는 위치에서 입자 농축의 증가가 발생한다. 과도한 테스트액은 가령 와이핑에 의해 제거한다. 그 후 시편을 현상액으로 처리한다. 개개의 테스트 배치와 시편에 의해 결정되는 현상 시간이 경과한 후에 가공편(10)의 표면은 램프(11)에 의해 조사되며, 그 결과 테스트액 내의 입자들은 형광을 발하게 되거나 흡수를 유발하게 되며, 표면 크랙들의 영역에 농축되어지는 염료 입자들은 카메라(16)에 의해 기록되며, 이 기록은 이미지 처리 시스템(22) 내에 저장된다. 약 20 내지 150 초의 시간 간격이 경과한 후에, 두 번째 기록이 이루어지는데 이것도 유사하게 이미지 처리 시스템(22)에 저장된다. 이미지 처리 장치 내에서 평가 로직에 의해 상기 두 기록을 서로 비교하고, 비교치에 대해 시간 간격을 할당한다. 적합하게는, 다른 회(차례)에서 또 다른 기록도 하여 처리할 수 있다. 그 후 연산된 비교치들을 다른 평가 로직에서, 저장된기준치 테이블과 비교하며 이러한 방식에서 이미지 변화값이 예정된 범위 내에 있는지 또는 예정된 한계치 위에 있는지를 결정한다. 따라서, 결함 표시(징후)는 그 후 연산 로직에 의해 출력될 수 있고 또 분류되거나 또는 측정부로 리젝트될 수 있다. 바람직하게는 자체 체크 시스템이 관련 조작 인자들의 모니터 또는 자체 모니터를 위해 시스템의 조작성과 연관되는데, 다시 말하자면 규정된 값의 간격 이내에서 개개의 조작 변수들을 유지한다. 그러한 자체 체크 시스템은 체크한 값이 요구되는 측정치 범위를 벗어날 경우 특정 한도 이내로 재조정하며, 그 결과 예컨대 표시제의 때 이른 교체의 결과로서 발생하거나 또는 UV 램프 등과 같은 조명 수단의 때 이른 일상적인 교체의 결과로서 발생하는 것과 같은 재료의 불필요한 낭비를 피할 수 있다. 이 결과 테스트 시스템의 서비스 수명이 상당히 증가되며, 장기간 중단없이 작동할 수 있고, 관련된 조작 비용은 물론이고 재료와 파워에 대한 것도 유사하게 줄일 수 있게 된다. 자체 체크 장치(14)는 분류정리 장치(30)에 연결되는 것이 좋으며, 이것은 테스트 리포트를 산출해 내고 이 리포트를 이용하여 시스템의 조작성을 입증할 수 있다.

도 3에는 본 발명에 따른 방법을 실행하기 위한 시스템의 다른 실시예가 예시되어 있다. 이 경우에, 측정 장치들(16, 161, 1611)의 그룹들은 개개의 기록을 출력할 수 있고, 이 기록들은 이미지 처리 장치(22)의 각각의 입력으로 공급된다. 이 경우에, 각 가공편(10)의 두 개 이상의 기록이 여러 번(여러 회) 이루어지고, 두 기록 사이의 차이가 예컨대 뺄셈에 의해 결정된다. 이들 차이는 예컨대 육안식별 디스플레이 장치(20) 또는 하류에 연결된 분류 장치로 공급될 수 있으며, 이 장치는 불량으로 분류된 부품들을 자동으로 분리된다.

광도치를 기초로 한 데이터 흐름의 등록은 카메라 대신에 다이오드 셀이나 또는 당업자가 알 수 있는 다른 수단에 의해서도 유리하게 사용될 수 있다. 물론, 분류정리도 또한 원격 데이터 통신을 통해 그 장치로부터 원격으로 생성 및 저장될 수 있다.

이제 첫 번째로, 가공편의 표면 상에서의 테스트제의 동역학적 거동을 평가한다는 사실은 놀랍게도 결함들을 분류하는 것을 가능하게 하며 이런 방식으로 리젝트된 부품과 사용 가능한 부품 사이에 더욱 정밀한 구별을 할 수 있게 하며, 적합하다면 품질에 의한 부품의 순위를 예컨대 품질 A와 B로 정할 수도 있다.

비록 지금까지 바람직한 실시예를 예시하여 본 발명을 설명하였지만, 당업자라면 여러 가지의 변형이 본 발명이 보호범위에 속한다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명은 어떠한 방식으로도 전술한 실시예에 한정되지 않는다.

Claims (15)

1. 염료 침투법에 의한 크랙 검출에 의해 결함을 자동으로 검출하는 방법으로서, 염료 침투 테스트용 가공편들을 염료 함유 침투제로 처리하고, 표면 결함(부)들에 상기 염료를 농축시키고, 예정된 현상(현색) 기간이 경과한 후 표면 결함(부)에 농축된 염료를 적어도 하나의 이미지 기록 장치에 의해 기록하고, 염료가 농축된 면적을 스캐닝하고 검출하여 이미지 처리 장치에서 상기 기록된 것을 평가하며, 결함들을 검출하고 그에 상응하는 신호들을 출력하는, 그러한 방법에 있어서,

   침투제에 의한 처리에 후속하여 동일한 가공편에 관한 기록들(A1, A2)을 적어도 2회(t1, t2) 만드는 단계와,

   서로 다른 회수(t1, t2)에서 산출된 기록들(A1, A2)을 비교하고 광학적 이미지 처리 장치의 평가 로직(logic)에 의해 상기 비교를 평가하는 단계와,

   기준 시간차에 대한 변화 한계치 위에 있는 기록들(A1, A2)에 상응하는 면적에서 시간의 기간(△t1, t2)에 걸친 침투제 농축 변화들을 나타내는 신호들을 평가 로직에 의해 출력하는 단계와,

   미리 한정된 규격 간격에 의한 또는 미리 한정된 표면적에서의 결함 크기 평가, 양호/불량 정보와 같은, 크랙 형성에 관련된 평가 변수들을 산출하기 위해 가공편에 관련된 인자들과 테스트 시스템에 관련된 조작 변수들을 고려하여 신호들의 출력을 평가하는 단계를

   포함하는 것인 결함의 자동 검출 방법.
2. 청구항 1에 있어서, 광학적 이미지 처리는 윈도우즈를 설정하고 이미지 기록 장치에 의해 그 윈도우즈를 스캐닝함으로써 실행되며, 크랙 결함들의 선택과 평가와 징후는 자동적으로 테스트 시퀀스(사이클 시간)와 링크되고, 그로부터 얻은 데이터를 컴퓨터에서 처리하는 것을 특징으로 하는 방법.
3. 청구항 1 또는 2에 있어서, 이미지 기록 장치는 고정적으로 예정된 시간 간격으로 기록들을 산출하는 것을 특징으로 하는 방법.
4. 청구항 1 또는 2에 있어서, 이송 장치에 의해, 동일한 물리적 방향으로 가공편을 서로 거리를 두고 배치된 2개 이상의 기록 장치(K1, K2, ..., Kn)를 지나 안내함으로써, 침투제에 의한 처리 후에 일정한 물리적 방향을 갖는 가공편의 여러 기록 장치(K1, K2, ...,Kn)에 의해 서로 다른 횟수에서 이루어진 기록(A1, A2, ..., An)이 산출되며,

   여러 기록 장치(K1, K2, ...,Kn)로부터의 기록(A1, A2, ..., An)을 평가 로직에 의해 서로 비교하고, 그 기록(A1, A2, ..., An)간의 차이로부터, 기록간 경과되는 시간 간격에 기초하여 신호를 형성하는 것을 특징으로 하는 방법.
5. 선행 청구항 중 하나의 항에 있어서, 이미지 변화(△A1, A2)용 기준 데이타 및 기록(A1, A2, ..., An)간 경과된 각 시간의 기간 사이의 시간차(△tn, tn+1)에관련한 데이타가 평가 로직의 메모리에 저장되고, 평가 로직은 측정된 차이값이 규정된 기준치 내에 있는지를 알기 위해 비교를 행하며, 그에 따라 예정된 시간 간격 내에 있는 결함만을 나타내는 신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 방법.
6. 청구항 2에 있어서, 테스트 시퀀스의 사이클 시간이 고정되지 않는다면, 시간 간격은 이미지 기록 장치의 두 기록(An, An+1) 사이의 시간차(△tn, tn+1)를 측정하고 또 이 시간의 기간(△tn, tn-1)을 이 시간 간격에서 결정된 비교 변화에 할당함으로써 한정되는 것을 특징으로 하는 방법.
7. 선행 청구항 중 하나의 항에 있어서, 시스템의 구성 부품들과 인자들이 모니터 장치에 의해 예정된 시간 간격으로 모니터되며, 모니터 신호들이 출력되고 측정치 처리 장치에 의해 체크되며, 그에 따라 신호들이 출력되는 것을 특징으로 하는 방법.
8. 청구항 7에 있어서, 모니터될 시스템의 구성부품들과 인자들은 적어도 하나의 이미지 기록 장치의 기하학적 형상, 초점, 및 기능; 조명 장치의 기능 및/또는 이 방법에 사용되는 액체의 활동성인 것인 것을 특징으로 하는 방법.
9. 청구항 8에 있어서, 테스트액, 현상액 및 산세척액을 상기 방법에 사용하는 것을 특징으로 하는 방법.
10. 청구항 8에 있어서, 모니터한 조(bath) 데이터는 각각의 조 온도, 레벨 및 오염인 것인 것을 특징으로 하는 방법.
11. 청구항 7에 있어서, 시스템 및/또는 시스템의 재조정 장치를 제어하기 위해 모니터 신호들을 사용하는 것을 특징으로 하는 방법.
12. 청구항 1 내지 11 중 하나의 항에 있어서, 측정치 처리 장치로부터의 신호들 및/또는 모니터 신호들은 매체 상에 기록되는 것을 특징으로 하는 방법.
13. 선행 청구항 중 하나의 항에 있어서, 가공편에 관련된 인자들을 직접 측정하고, 적합하게는 기록하는 것을 특징으로 하는 방법.
14. 청구항 7 내지 12 중 하나의 항에 있어서, 모니터 신호는, 조명 휘도 및/또는 조명 모니터 센서들의 센서 감도 및/또는 테스트제의 농도와 양 및/또는 세정제의 농도와 양 및/또는 산세척제의 양 및/또는 초점 또는 감도의 기하학적 배치와 같은 이미지 기록 장치(들)의 설정을 재조정하는 데에 사용되는 것인 것을 특징으로 하는 방법.
15. 선행 청구항 중 하나의 항에 있어서, 기준 결함들이 있는 테스트 시편들을자동으로 통과시키고, 그것들을 측정함으로써 전체 시스템의 조작성을 체크하는 것을 특징으로 하는 방법.