KR20010060486A - Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법 - Google Patents

Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20010060486A
KR20010060486A KR1019990062780A KR19990062780A KR20010060486A KR 20010060486 A KR20010060486 A KR 20010060486A KR 1019990062780 A KR1019990062780 A KR 1019990062780A KR 19990062780 A KR19990062780 A KR 19990062780A KR 20010060486 A KR20010060486 A KR 20010060486A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cpu
main memory
error
self
led
Prior art date
Application number
KR1019990062780A
Other languages
English (en)
Inventor
김경석
Original Assignee
박종섭
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박종섭, 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 박종섭
Priority to KR1019990062780A priority Critical patent/KR20010060486A/ko
Publication of KR20010060486A publication Critical patent/KR20010060486A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14—Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402—Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1415—Saving, restoring, recovering or retrying at system level
    • G06F11/1417—Boot up procedures
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/27—Built-in tests
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/32—Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/324—Display of status information
    • G06F11/325—Display of status information by lamps or LED's
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00—Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06—Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/44—Arrangements for executing specific programs
    • G06F9/4401—Bootstrapping
    • G06F9/4406—Loading of operating system

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

본 발명은 PPC(Power Personal Computer) 메인 메모리 자가 진단 장치, 특히, PPC 계열 프로세서를 장착한 보드에 대한 메인 메모리를 자가 진단 할 수 있도록 한 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법에 관한 것으로서, 본 발명 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법에 의하면, CPU에서 보드에 장착된 메인 메모리에 대한 자가진단을 수행하여 사용자에게 메인 메모리의 이상 유무를 쉽게 확인 할 수 있도록 하는 한편, 신속한 성능 검증이 가능하므로 개발 비용이 절감될 수 있다는 효과가 있다.

Description

ＰＰＣ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법{DEVICE AND METHOD FOR SELF-TESTING OF PPC MAIN MEMORY}
본 발명은 PPC(Power Personal Computer) 메인 메모리 자가 진단 장치에 관한 것으로, 특히, PPC 계열 프로세서를 장착한 보드에 대한 메인 메모리를 자가 진단 할 수 있도록 한 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법에 관한 것이다.
종래 CPU를 가지는 보드들의 일반적인 구성은 도 1 에 도시한 바와 같이, 컴퓨터의 중추부분으로 기본처리장치, 주기억장치, 제어장치 및 채널(입출력처리장치) 등의 주요부분을 통합한 CPU(100)와, 재생용 리프레시 펄스를 이용하여 메모리에 들어있는 내용을 유지할 수 있으며 MOS의 메모리에 사용되는 DRAM(10)과, 컴퓨터를 구동 할 수 있는 부팅용 프로그램을 저장하고 있는 롬(20)과, 사용자가 원하는 타이밍 정합 또는 여러 가지 기능을 구현하기 위한 PLD(30)와, 다른 여러 가지 장치(40)로 구성된다.
즉, 종래의 CPU가 장착된 보드는 기본적으로 부트 롬과 메인 메모리를 필요로 하는데, 부트 롬의 경우는 통상 소켓처리가 가능하고 또한 라이트 기능은 별도의 디바이스를 사용하여 처리하므로 리드/라이트 기능에서 오류를 일으킬 가능성이 희박하다.
그 이유는 대 다수의 롬 라이트 장치들은 라이트/리드/검증의 3단계를 거쳐서 리드/라이트 기능을 검증할 수 있게 되어 있으므로 만일 부트 롬에서 오류가 발생한다면 개발단계에서 쉽게 파악이 가능하다.
그러나, 메인 메모리의 경우에는 온-보드 상태로 장착되는 경우가 많고 또한 별도의 리드/라이트에 대한 기능 확인 절차를 거치지 않고 사용함으로써, 메인 메모리의 기능 오류를 파악하기가 어렵다.
특히, CPU는 기본적으로 부트-업과 동시에 메인 메모리를 억세스하기 때문에 만일 메인 메모리에 이상이 발생할 경우에는 시스템이 즉시 정지되어 버림으로써, 어디에 이상이 있는지 파악하기가 어렵게 되고, 시스템이 복잡할 경우에는 하나의 보드에 여러개의 디바이스들이 장착되므로 에러의 원인을 한정시키고 문제를 해결하는데 상당한 노력이 필요하게 된다는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해소하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 PPC 계열의 CPU가 장착된 보드에서 시스템의 부트-업이 발생 할 때 메인 메모리의 이상 유무를 자동으로 검사하여 오동작의 위치를 쉽게 확인 할 수 있도록 한 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법을 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치는, 어드레스 신호 및 데이터를 전송하는 CPU와; 상기 CPU에서 전송된 어드레스 신호 및 데이터에 의해 온/오프되어 사용자에게 메인 메모리에 오류가 발생한 것을알려주는 제 1, 제 2 LED로 구성된 것을 특징으로 한다.
한편, 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치는, 어드레스 신호 및 데이터를 전송하는 CPU와; 상기 CPU에서 전송된 어드레스 신호 및 데이터를 입력받아 이에 상응하는 제어신호를 출력하는 EPLD와; 상기 EPLD에서 전송된 제어신호에 의해 온/오프되어 메인 메모리에 오류가 발생한 것을 알려주는 제 1, 제 2 LED로 구성된 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법은 CPU에서 전원 온 또는 리셋에 의해 부트-업 과정이 시작되는 부팅단계와; 상기 CPU에서 롬에 저장되어 있는 프로그램 카운터와 SSP를 초기화시켜 주는 PC 및 SSP 초기화 단계와; 상기 CPU에서 롬의 메모리 맵에 의한 뱅크 초기화를 수행하는 뱅크 초기화 단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리에 오류가 발생했는지 이상유무를 테스트하는 자가진단 단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리에 오류가 발생했는지의 여부를 판단하는 오류여부 판단단계와; 상기 오류 판단단계에서 메인 메모리에 오류가 발생했으면 상기 자가진단 단계로 되돌아가고, 오류가 발생하지 않았으면 상기 CPU에서 디바이스들을 초기화하는 디바이스 초기화단계와; 상기 CPU에서 오퍼레이팅 시스템을 로딩시키는 오퍼레이팅 시스템 로딩단계로 구성된 것을 특징으로 한다.
도 1 은 CPU를 가지는 보드들의 일반적인 구성을 나타낸 블록도,
도 2 는 본 발명의 일 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치를 나타낸 블록도,
도 3 은 본 발명의 이 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치를 나타낸 블록도,
도 4 는 본 발명의 일 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법을 나타낸 순서도,
도 5 는 본 발명의 일 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법에서 메인 메모리 테스트 단계를 나타낸 순서도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : CPU 200 : EPLD
300 : 제 1 LED 400 : 제 2 LED
이하, 본 발명의 일 실시예에 의한 본 발명의 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2 는 일 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치를 나타낸 블록도이고, 도 3 은 이 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치를 나타낸 블록도이며, 도 4 는 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법을 나타낸 순서도, 도 5 는 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법에서 자가진단 단계를 나타낸 순서도이다.
본 발명은 도 2, 도 3 에 도시한 바와 같이, CPU(100), EPLD(200) 및 제 1, 제 2 LED(300, 400)로 구성되며, 상기 CPU(100)는 어드레스 신호 및 데이터를 전송하는 역할을 하고, 상기 EPLD(200)는 상기 CPU(100)로부터 전송된 어드레스 신호 및 데이터를 입력받아 이에 상응하는 제어신호를 출력하는 역할을 하고, 상기 제 1, 제 2 LED(300, 400)는 상기 CPU(100) 및 EPLD(200)에서 전송된 어드레스 신호 및 데이터와 제어신호를 입력받아 온/오프 동작을 하는 역할을 한다.
이하, 상기와 같이 구성된 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법의 일 실시예에 따른 동작과정을 설명하면 다음과 같다.
사용자가 PPC(Power Personal Computer)의 전원을 온하거나 리셋시키면, CPU(100)에서 사용자의 전원 온 또는 리셋에 의해 부트-업 과정을 실행시키고(S100), 상기 CPU(100)에서 롬(ROM)(20)에 저장되어 있는 프로그램 카운터와 SSP(Supervisor Stack Pointer)를 초기화한다(S200).
이어서, 상기 CPU(100)에서 롬(20)의 메모리 맵에 의한 뱅크 초기화를 수행한 후(S300), 상기 CPU(100)에서 메인 메모리(DRAM : Dynamic Random AccessMemory)(10)에 오류가 발생했는지 이상유무를 테스트한다(S400).
즉, 부트-업 프로그램의 실행위치가 (20)롬 영역인지 메인 메모리(10) 영역인지의 여부를 판단하고(S410), 상기 롬 영역여부 판단단계(S410)에서 자가진단 프로그램 영역이 롬(20) 영역이 아니면 종료하고, 롬(20) 영역이면 상기 CPU(100)에서 제 1 LED(300)를 온시킨 후 일정시간이 지난 후 상기 제 1 LED(300)를 오프시킨다(S420).
또한, 상기 CPU(100)에서 메인 메모리(10)를 순서적으로 라이트 동작이 완료되면, 제 2 LED(400)를 온시킨 후 일정 시간이 지난 후 상기 제 2 LED(400)를 오프시키고(S430), 상기 CPU(100)에서 메인 메모리(10)에 오류가 발생하면 상기 제 1, 제 2 LED(300, 400)를 모두 온시킨 후 검사되는 메모리의 번지를 고정시킨다(S440).
한편, 상기 CPU(100)에서 메인 메모리(10)의 검사가 정상적이면 상기 제 1, 제 2 LED(300, 400)를 오프시키게 되고(S450), 상기와 같은 자가진단 프로그램에 의해 상기 CPU(100)에서 메인 메모리(10)에 오류가 발생했는지의 여부를 판단한다(S500).
이어서, 상기 오류여부 판단단계(S500)에서 메인 메모리(10)에 오류가 발생했으면 상기 자가진단 단계(S400)로 되돌아가고, 상기 메인 메모리(10)에 오류가 발생하지 않았으면 상기 CPU(100)에서 디바이스(40)들을 초기화한 후(S600), 오퍼레이팅 시스템을 로딩시킨다(S700).
한편, 상기 오류여부 판단단계(S500)에서 메인 메모리(10)에 오류가 발생했으면, 상기 CPU(100)에서 어드레스 신호 및 데이터를 전송하고, 상기 제 1, 제 2 LED(300, 400)에서 상기 CPU(100)로부터 전송된 어드레스 신호 및 데이터를 입력받아 턴온되어 사용자에게 상기 메인 메모리(10)에 오류가 발생한 것을 인식시켜 주고, 검사중인 메모리 번지의 위치를 알려준다.
한편, 이 실시예에 따른 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치를 설명하면, 상기 CPU(100)에서 전송된 어드레스 신호 및 데이터를 전송하면, EPLD(200)에서 상기 CPU(100)로부터 전송된 어드레스 신호 및 데이터를 입력받아 이에 상응하는 제어신호를 출력하고, 상기 제 1, 제 2 LED(300, 400)에서 상기 EPLD(200)로부터 전송된 제어신호에 의해 턴온되어 사용자에게 상기 메인 메모리(10)에 오류가 발생한 것을 알려준다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법은, CPU에서 보드에 장착된 메인 메모리에 대한 자가진단을 수행하여 사용자에게 메인 메모리의 이상 유무를 쉽게 확인 할 수 있도록 하는 한편, 신속한 성능 검증이 가능하므로 개발 비용이 절감될 수 있다는 효과가 있다.

Claims (4)

  1. 어드레스 신호 및 데이터를 전송하는 CPU와; 상기 CPU에서 전송된 어드레스 신호 및 데이터에 의해 온/오프되어 사용자에게 메인 메모리에 오류가 발생한 것을 알려주는 제 1, 제 2 LED로 구성된 것을 특징으로 하는 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치.
  2. 어드레스 신호 및 데이터를 전송하는 CPU와; 상기 CPU에서 전송된 어드레스 신호 및 데이터를 입력받아 이에 상응하는 제어신호를 출력하는 EPLD와; 상기 EPLD에서 전송된 제어신호에 의해 온/오프되어 사용자에게 메인 메모리에 오류가 발생한 것을 알려주는 제 1, 제 2 LED로 구성된 것을 특징으로 하는 PPC 메인 메모리 자가 진단 장치.
  3. CPU에서 전원 온 또는 리셋에 의해 부트-업 과정이 시작되는 부팅단계와; 상기 CPU에서 롬에 저장되어 있는 프로그램 카운터와 SSP를 초기화시켜 주는 PC 및 SSP 초기화 단계와; 상기 CPU에서 롬의 메모리 맵에 의한 뱅크 초기화를 수행하는 뱅크 초기화 단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리에 오류가 발생했는지 이상유무를 테스트하는 자가진단 단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리에 오류가 발생했는지의 여부를 판단하는 오류여부 판단단계와; 상기 오류 판단단계에서 메인 메모리에 오류가 발생했으면 상기 자가진단 단계로 되돌아가고, 오류가 발생하지 않았으면 상기 CPU에서 디바이스들을 초기화하는 디바이스 초기화단계와; 상기 CPU에서 오퍼레이팅 시스템을 로딩시키는 오퍼레이팅 시스템 로딩단계로 구성된 것을 특징으로 하는 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 자가진단 단계는 부트-업 프로그램의 실행위치가 롬영역인지 메인 메모리 영역인지의 여부를 판단하는 롬 영역여부 판단단계와; 상기 롬 영역여부 판단단계에서 자가진단 프로그램이 롬 영역이 아니면 종료하고, 롬 영역이면 상기 CPU에서 제 1 LED를 온시킨 후 일정시간이 지난후 제 1 LED를 오프시키는 제 1 LED 구동단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리를 순서적으로 라이트 동작이 완료되면, 제 2 LED를 온시킨 후 일정시간이 지난후 제 2 LED를 오프시키는 제 2 LED 구동단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리에 오류가 발생하면 상기 제 1, 제 2 LED를 모두 온시킨 후 검사되는 메모리의 번지를 고정시키는 제 1, 제 2 LED 턴온 및 메모리번지 고정단계와; 상기 CPU에서 메인 메모리 검사가 정상적이면 상기 제 1, 제 2 LED를 오프시키는 제 1, 제 2 LED 오프단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 PPC 메인 메모리 자가 진단 방법.
KR1019990062780A 1999-12-27 1999-12-27 Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법 KR20010060486A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990062780A KR20010060486A (ko) 1999-12-27 1999-12-27 Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990062780A KR20010060486A (ko) 1999-12-27 1999-12-27 Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20010060486A true KR20010060486A (ko) 2001-07-07

Family

ID=19630266

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990062780A KR20010060486A (ko) 1999-12-27 1999-12-27 Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20010060486A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101032680B1 (ko) * 2009-08-04 2011-05-06 한국산업기술대학교산학협력단 Ｌｅｄ를 이용하여 ｐｃ 마더보드의 고장 상태를 표시하는 장치 및 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101032680B1 (ko) * 2009-08-04 2011-05-06 한국산업기술대학교산학협력단 Ｌｅｄ를 이용하여 ｐｃ 마더보드의 고장 상태를 표시하는 장치 및 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100932562B1 (ko) 집적 회로 및 이의 테스트 방법
US4646298A (en) Self testing data processing system with system test master arbitration
US6681354B2 (en) Embedded field programmable gate array for performing built-in self test functions in a system on a chip and method of operation
JPH11212817A (ja) ハードウェア支援ファームウェア追跡方法及び装置
KR20010072036A (ko) 집적 회로의 셀프테스트를 실행하기 위한 셀프테스트장치를 포함하는 집적 회로
JP2006127553A (ja) プログラムのテスト及びデバッギングが容易な中央処理装置
KR960018891A (ko) 셀프테스트 기능을 내장한 싱글칩 마이크로프로세서
US5813043A (en) Method and system including memory patching utilizing a transmission control signal and circuit
US20080129313A1 (en) Recording medium, test apparatus and diagnostic method
US20110029816A1 (en) Personal computer diagnostic test before executing operating system
JPS60175152A (ja) 浮動小数点加速プロセツサの自己試験のための方法及び装置
US6442725B1 (en) System and method for intelligent analysis probe
JP3200565B2 (ja) マイクロプロセッサおよびその検査方法
KR20010060486A (ko) Ｐｐｃ 메인 메모리 자가 진단 장치 및 방법
US7437283B2 (en) System for evaluating target board by using evaluation microcomputer in which storage of environment data are powered by evaluation tool
US20190332506A1 (en) Controller and function testing method
US20030237036A1 (en) Semiconductor integrated circuit with built-in self-test function and system including the same
US5797032A (en) Bus for connecting extension cards to a data processing system and test method
KR19980019215A (ko) 자기진단 유닛을 구비한 마이크로컴퓨터(Microcomputer with self-diagnostic unit)
KR20000061449A (ko) 컴퓨터 시스템에서의 자가 진단 방법 및 그 장치
JPS5911452A (ja) パリテイチエツク回路の試験方式
KR0156061B1 (ko) 마이크로프로세서보드의 검사장치
JPH1153214A (ja) パーソナルコンピュータのブート不良検出システム
JPS63140342A (ja) エラ−検出回路の試験方式
CN115408287A (zh) 板卡中基础软件的检测方法、装置、设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
WITN Withdrawal due to no request for examination