KR19990035472A - 인쇄회로기판 검사시 안전장치 - Google Patents

인쇄회로기판 검사시 안전장치 Download PDF

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KR19990035472A
KR19990035472A KR1019970057275A KR19970057275A KR19990035472A KR 19990035472 A KR19990035472 A KR 19990035472A KR 1019970057275 A KR1019970057275 A KR 1019970057275A KR 19970057275 A KR19970057275 A KR 19970057275A KR 19990035472 A KR19990035472 A KR 19990035472A
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공영준
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전주범
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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판(PCB)의 성능을 검사하는 장치에 관한 것으로서,
본 발명은 In Circuit Test : ICT 측정과정에서 Function Test : FT 측정과정으로 전환하거나 또는 FT측정과정에서 ICT측정과정으로 테스트 핀을 전환시킬 때 소프트웨어적인 프로그램을 배제한 비교적 간단한 하드웨어로 안전장치를 구현함으로서, 인쇄회로기판에 전원을 공급하는 전원장치로 인한 시스템의 손상을 방지할 수 있으므로 인쇄회로기판 검사의 신뢰성을 향상시킬수 있는 것이다.

Description

인쇄회로기판 검사시 안전장치
본 발명은 인쇄회로기판(Print Circuit Board : PCB)의 성능을 검사하는 장치에 있어서, 특히 인쇄회로기판(PCB)상에 삽입되는 부품이 쇼트(Shot)되어 있는지의 여부 또는 부품이 인쇄회로기판상에 미삽입되어 있는지의 여부 등을 검사하는 인써키트테스트(In Circuit Test : ICT)와 부품의 삽입이 완료된 인쇄회로기판(PCB)의 실질적인 기능을 검사하는 기능검사(Function Test : FT)를 동시에 수행할 때 인쇄회로기판에 공급되는 전원의 영향으로부터 검사시스템의 손상을 방지할수 있도록 하는 인쇄회로기판 검사시 안전장치에 관한 것이다.
이를 좀 더 상세히 설명하면,
인쇄회로기판상에 삽입되어 있는 검사 대상체인 부품(10)이 단락(Short)되어 있는지의 여부 또는 그 부품(10)이 인쇄회로기판상에 미삽입되어 있는지의 여부 등을 검사하는 인써키트테스트(ICT)는 상기 검사대상체인 부품(10)이 삽입된 인쇄회로기판(20)에 별도의 외부 전원장치(30)로부터 전원을 공급하지 않는 상태에서 검사를 수행하는 장치이다.
반면, 부품(10)의 삽입이 완료된 인쇄회로기판(20)의 실질적인 기능을 검사하는 것이 기능검사(FT)로서, 이러한 기능검사(FT)는 부품(10)이 삽입된 인쇄회로기판(20)에 별도로 외부전원장치(30)로부터 전원을 공급한 상태에서 검사를 수행하는 장치이다.
종래에는 인쇄회로기판(20)상에 삽입되는 부품(10)의 상태를 검사하기 위한 인써키트 테스트(ICT)와 상기 부품(10)의 삽입된 완료된 인쇄회로기판(20)의 기능을 검사하기 위한 검사기능(FT)를 동시에 수행하기 위해서 인쇄회로기판(20)에 접촉되어지는 테스트 핀(Test Pin)에 인가되는 신호를 전환시키기 위해 소프트웨어(SoftWare)적인 프로그램(Progaram)으로 테스트 핀의 전환시간(Delay Time)을 주었다.
이와같이 된 종래의 인쇄회로기판에 대한 인써키트(ICT)와 기능검사(FT)의 동시 수행은 검사시스템에 따라서 전환시간의 설정이 모호하게 되는 문제가 발생되었고,
또한, ICT의 검사과정에서 FT의 검사 과정으로 테스트 핀을 절환시킬 때 소프트웨어적으로 전환시간의 설정이 맞지 않게 되어 인쇄회로기판에 공급되어지는 외부 전원장치에 의하여 전체시스템이 파괴되는 문제도 발생되었다.
본 발명은 상기와 같은 종래의 인쇄회로기판에 대한 In Circuit Test 와 Function Test를 동시에 수행시 발생되고 있는 제반의 문제를 해소할 수 있는 인쇄회로기판 검사시 안전장치를 제공하려는 것이다.
본 발명은 인쇄회로기판 검사시 인써키트테스트(ICT)와 기능검사(FT)를 동시에 수행할때 테스트 핀의 신호절환이 요구되는데, 이때 인쇄회로기판에 전원을 공급하는 전원장치에 의한 시스템의 파손을 방지할수 있도록 된 인쇄회로기판 검사시 안전장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 인써키트테스트(ICT) 과정에서 기능검사(FT) 과정으로 전환하거나 또는 기능검사(FT) 과정에서 인써키트테스트(ICT)과정으로 테스트 핀을 전환시킬 때 소프트웨어적인 프로그램을 배제한 비교적 간단한 하드웨어로 안전장치를 실현함으로서, 인쇄회로기판 검사의 신뢰도를 향상시킬수 있도록 된 인쇄회로기판 검사시 안전장치를 제공하는데 다른 목적이 있다.
본 발명의 상기 및 기타목적은 부품(10)이 삽입되어 있는 인쇄회로기판(20)의 성능을 검사하는 장치에 있어서,
상기 인쇄회로판(20)상에 삽입되어 있는 부품(10)이 단락 또는 개방상태인지의 여부를 측정하는 ICT측정부(60)와 상기 부품(10)이 완전히 삽입된 인쇄회로기판(20)의 기능을 측정하는 FT측정부(70)를 제어함과 동시에 선택모드신호를 비교회로부(300)와 논리회로부(200)로 출력하는 메인제어부(100)와 상기 메인제어부(100)로부터 출력되는 선택모드신호와 비교회로부(300)의 연산증폭기(90)의 출력신호에 따라 ICT측정과 FT측정을 수행하게 동작하는 릴레이(RY1∼RY5)와,
상기 비교회로부(300)의 전계효과트랜지스터(FET)의 상태 변화에 따라 동작하는 릴레이(RY1)에 의하여 상기 인쇄회로기판(20)에 전원을 공급하는 전원장치(30)를 구비하여서 된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사시 안전장치에 의하여 달성된다.
도 1 - 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사시 안전장치의 회로도이고,
도 2 - 도 1의 각 지점에서 출력되는 신호의 타이밍 차트이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
10 : 부품 20 : 인쇄회로기판
30 : 전원장치 40 : NOT게이트회로
50 : OR게이트회로 60 : ICT측정부
70 : FT측정부 90 : 연산증폭기
100 : 메인제어부 200 : 논리회로부
300 : 비교회로부
FET : 전계효과트랜지스터 RY1∼RY5: 릴레이
본 발명의 상기 및 기타 목적과 특징 및 효과는 첨부된 도면에 의거 설명되는 실시예에 의하여 보다 명확하게 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사시 안전장치의 회로도이고, 도 2는 도 1의 각 지점에서 출력되는 신호의 타이밍 차트이다.
부품(10)은 인쇄회로기판(20)상에 삽입되어지는 검사의 대상체로서, 인써키트테스트(ICT) 과정시 ICT측정부(60)에 의하여 측정되어진다.
인쇄회로기판(20)은 그 상단에 복수개의 부품(10)을 삽입하고 있는 검사의 대상체로서, 검사기능(Function Test : FT) 과정시 FT측정부(70)에 의하여 측정되어 진다.
상기 인쇄회로기판(20)의 일측에는 외부로 부터 전원이 공급될수 있도록 릴레이(RY5)의 접점스위치를 매개로하여 전원장치(30)에 접속되어 있다.
전원장치(Power Supply)(30)는 상기 부품(10)이 삽입된 인쇄회로기판(20)의 기능검사(FT)를 수행시 인쇄회로기판(20)에 소정의 전원을 공급할 수 있도록 릴레이(RY5)의 접점스위치를 매개로하여 인쇄회로기판(20)에 접속되어 있다.
ICT측정부(60)는 상기 인쇄회로기판(20)상에 삽입되어 있는 부품(10)이 단락되어 있는지의 여부 또는 개방상태로 되어 있는지의 여부 등을 측정하는 장치로서,
메인제어부(100)로부터 출력되는 선택모드신호(예컨대, 로우('L')신호)가 OR게이트회로(50)와 NOT게이트회로(40)로 이루어진 논리회로부(200)와 저항(R1∼R3)과 콘덴서(C) 및 연산증폭기(90)와 가변저항(VR) 및 전계효과트랜지스터(FET)로 이루어진 비교회로부(300)에 인가되어 릴레이(RY1∼RY5)를 제어할 수 있도록 논리회로부(200)와 비교회로부(300)에 접속되어 있다.
FT측정부(70)는 상기 복수개의 부품(10)의 삽입이 완료된 인쇄회로기판(20)의 지능을 검사하기 위한 측정자로서,
메인제어부(100)로 부터 출력되는 선택모드신호(예컨대, 하이('H')신호)가 OR게이트회로(50)와 NOT게이트회로(40)로 구성된 논리회로부(200)에 인가됨과 동시에 저항(R1∼R3)과 가변저항(VR) 및 콘덴서(C)와 연산증폭기(90) 및 전계효과트랜지스터(FET)로 구성된 비교회로부(300)에 인가되어 릴레이(RY1∼RY5)를 제어할수 있도록 논리회로부(200)와 비교회로부(300)에 접속되어 있다.
메인제어부(100)는 전체시스템을 제어하는 장치로서,
ICT측정 또는 FT측정을 수행하기 위한 선택모드신호(예컨데, ICT측정시에는 로우('L')신호를 출력, 한편 FT측정시에는 하이('H')신호를 출력)를 각각의 논리회로부(200)와 비교회로부(300)에 출력할수 있도록 되어 있다.
논리회로부(200)는 메인제어부(100)로 부터 출력되어온 선택모드와 비교회로부(300)로부터 비교 처리된 신호를 논리적으로 연산하여 가각의 ICT측정부(60)와 FT측정부(70)에 접속된 릴레이(RY1∼RY4)를 제어할수 있도록 NOT게이트회로(40)와 OR게이트회로(50)로 구성된 것으로서,
상기 논리회로부(200)의 OR게이트(50) 일측 입력단은 메인제어부(100)의 선택모드신호출력측에 접속되어 있고, OR게이트(50) 타측 입력단은 비교회로부(300)의 연산증폭기(90) 출력단과 전계효과트랜지스터(FET)의 드레이단에 접속되어 있으며, 상기 OR게이트(50) 출력단은 각각의 릴레이(RY3∼RY4)의 여자부에 접속됨과 동시에 NOT게이트회로(40)의 입력단에 접속되어 있다.
상기 NOT게이트회로(40)의 출력단은 각각의 릴레이(RY1∼RY2)의 여자부에 접속되어 있다.
비교회로부(300)는 FT측정부(70)에서 인쇄회로기판(20)의 기능을 측정하고자할때 상기 인쇄회로기판(20)에 공급되는 전원을 전원장치(30)로 부터 공급(ON) 또는 차단(OFF)시킬 수 있도록 릴레이(RY5)를 제어함과 동시에 메인제어부(100)로 부터 출력되는 선택신호에 따라 릴레이(RY1∼RY4)를 제어하도록 논리회로부(200)로 비교신호를 인가하도록 된 것으로서,
연산증폭기(90)의 반전입력단(-)은 저항(RY2)을 매개로 그라운드(GND)에 접속됨과 동시에 저항(R1)을 통하여 메인제어부(100)의 선택모드신호출력단에 접속되고, 상기 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)은 콘덴서(C)를 매개로 하여 그라운드(GND)에 접속됨과 동시에 가변저항(VR)을 통하여 메이제어부(100)의 선택모드신호출력단에 접속되며, 연산증폭기(90)의 출력단은 논리회로부(200)의 타측입력단에 접속됨과 동시에 전계효과트랜지스터(FET)의 드레인단에 접속되어 있다.
상기비교회로부(200)의 전계효과트랜지스터(FET) 게이트단은 저항(R3)을 매개로 메인제어부(100)의 선택모드신호출력단에 접속됨과 동시에 상기 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)에 접속된 가변저항(VR)과 반전입력단(-)에 접속되어 있는 저항(R1)에 접속되어 있으며,
상기 전계효과트랜지스터(FET)의 소스단은 릴레이(RY5)의 여자부에 접속되어 있다.
이하, 본 발명에 작동관계를 설명한다.
먼저, 인쇄회로기판(20)에 삽입되어 있는 부품(10)이 단락되어 있거나 또는 개방되어 있는지의 여부 등을 측정하는 과정을 수행한후 인쇄회로기판(20)의 기능검사(FT)을 바로 이어서 수행하도록 작업자가 메인제어부(100)에 설치된 키보드(Key Board)를 조작하여 ICT측정 실행 명령을 하달하게 되면,
상기 메인제어부(100)는 하달된 명령신호에 의하여 ICT측정에 해당되는 로우(LOW)상태의 선택모드신호를 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50) 일측입력단과 비교회로부(300)의 저항(R1)을 통하여 연산증폭기(90)의 반전입력단(-) 및 가변저항(VR)을 통하여 상기연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)과 저항(R3)을 통하여 전계효과트랜지스터(FET)의 게이트단으로 출력하게 된다.
상기메인제어부(100)로부터 출력되어 온 'L'상태의 선택모드신호는 저항(R1∼R2)에 의해 전압분배바이어스되어 연산증폭기(90)의 반전입력단(-)으로 입력된다.
이때, 상기 비교회로부(300)의 연산증폭기(90) 반전입력단(-)으로 입력되는 신호의 크기를 V1이라 하고 이를 수식으로 구하면 다음과 같다.
여기서, Vcc란 연산증폭기(90)에 공급되는 전원 전압을 의미한다.
또한, 상기 메인제어부(100)로부터 출력되는 'L'상태의 모드선택신호는 가변저항(VR)과 콘덴서(C)에 의해 소정의 시정수(K)값을 갖게되어 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)으로 입력된다.
이때, 상기 비교회로부(300)의 연산증폭기(90) 비반전입력단(+)에 접속된 콘덴서(C)의 충전 및 방전전압(VRE)은 가변저항(VR)과 콘덴서(C)가 갖는 시정수(K)에 의하여 결정되는데, 그 시정수(K)는 다음과 같은식에 의하여 결정된다.
시정수(K)=VR×C 이다.
상기 비교회로부(300)의 연산증폭기(90)는 그 출력신호를 로우('L')상태로하여 연산증폭기(90)의 출력측(P1)을 통하여 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50) 타측입력단으로 입력되게 함과 동시에 전계효과트랜지스터(FET)의 드레인단으로 흐르게 된다.
따라서, 상기 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50)는 '2'개의 입력단으로 입력되는 로우상태의 신호에 의하여 그 출력단(R2)에 접속되어 있는 릴레이(RY3∼RY4)의 여자부가 여자되지 않아 상기 릴레이(RY3)는 'b'접점상태를 유지하게 됨과 동시에 릴레이(RY4) 는 'a'접점상태를 유지하게 된다.
한편, 상기 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50)의 출력단(R2)에 접속되어 있는 NOT게이트회로(40)에 의하여 OR게이트,회로(50)의 출력단(R2)으로 출력되는 로우상태의 신호는 하이(HIGH:'H')상태의 신호로 반전되어 NOT게이트회로(40)의 출력단에 접속되어 있는 각각의 릴레이(RY1∼RY2)의 여자부를 여자시키므로서 릴레이(RY1)는 온(ON)상태가 되고, 동시에 릴레이(RY2)는 오프(OFF)상태가 된다.
상기 비교회로부(300)의 전계효과트랜지스터(FET)의 게이트단에 로우상태의 신호가 인력되므로 전계효과트랜지스터(FET)는 턴오프(Turn OFF)상태를 유지하게 되어 상기 전계효과트랜지스터(FET)의 소스단에 접속되어 있는 릴레이(RY5)는 오프(OFF)상태를 유지하게 되고, 상기 오프상태를 유지하는 릴레이(RY5)에 의하여 전원장치(30)에서 출력되는 전원전압은 부품(10)이 삽입되어 있는 인쇄회로기판(20)에 공급되지 않게 된다.
따라서, 상기 온상태로 된 릴레이(RY1)와 오프상태, 즉 'b'접점을 유지하고 있는 상태에 있는 릴레이(RY3)에 의하여 작업자가 지시한 ICT측정이 가능하게 인쇄회로판(20)에 삽입된 부품(10)의 리드에 접속되는 테스트 핀(Test Pin)을 통하여 ICT측정이 실행되고, 그 ICT측정의 결과는 ICT측정부(60)를 통해 메인제어부(100)로 입력되어 작업자가 용이하게 이해할수 있도록 부가적인 장치(예컨대, 모니터)에 디스플레이(Display)된다.
이렇게 ICT측정이 완료되면 그 다음 측정 과정인 기능검사(FT)를 하기 위해 메인제어부(100)는 FT측정에 해당되는 'H'상태의 선택모드신호를 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50) 일측입력단과 비교회로부(300)의 각각의 저항(R1, R3)및 가변저항(VR)으로 출력하게 된다.
상기메인제어부(100)러부터 'H'상태의 선택모드신호를 일측의 입력단으로 입력받은 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50)는 그 출력단(R2)으로 도 2에 도시된 바와같이 'H'상태의 신호를 각 릴레이(RY3∼RY4)의 여자부로 출력하게 됨과 동시에 NOT게이트회로(40)의 입력단으로 출력하게 된다.
상기 논리회로부(200)의 OR게이트회로(50)의 출력단(R2)으로 'H'상태의 신호를 입력받은 릴레이(RY3∼RY4) 여자부는 여자상태 즉 온(ON) 상태로 되어 릴레이(RY3)는 단락상태('b'접점상태)에서 개방상태('a'접점상태)로 전환되고, 릴레이(RY4)는 개방상태('a'접점상태)에서 단락상태('b'접점상태)로 전환된다.
이때, 상기 논리회로부(200)의 NOT게이트회로(40)로 입력되는 'H'상태의 신호는 NOT게이트회로(40)에 의하여 반전되고, 상기 NOT게이트회로(40)에서 반전되어 출력되는 'L'상태의 신호는 각각의 릴레이(RY1∼RY2) 여자부로 흐르게 되어 릴레이(RY1)는 단락상태(즉, 'b'접점상태)에서 개방상태('a'접점상태)로 복귀되고, 릴레이(RY2)는 개방상태(즉, 'a'접점상태)에서 단락상태(즉, 'b'접점상태)로 복귀된다.
한편, 상기메인제어부(100)로부터 'H'상태의 선택모드신호를 입력받은 비교회로부(300)의 저항(R1)과 저항(R3) 및 가변저항(VR)중에서 상기저항(R1)으로 입력되는 'H'상태의 신호는 저항(R1∼R2)에 의하여 다음과 같은 공식으로 분배되어 연산증폭기(90)의 반전입력단(-)으로 입력되어 진다.
상기 연산증폭기(90)의 반전입력단(-)으로 입력되는 신호(V1)는
이다.
또한, 상기 비교회로부(300)의 가변저항(VR)으로 입력되는 'H'상태의 신호는 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)에 접속되어 가변저항(VR)과 콘덴서(C)가 갖는 소정의 시정수(K)값으로 결여되어져 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)으로 입력된다.
상기비교회로부(300)의 연산증폭기(90) 비반전입력단에 접속된 가변저항(VR)과 콘덴서(C)에 의해 결정되는 시정수(K)는 다음과 같은 공식에 의하여 성립된다.
시정수(K)=가변저항(VR)×콘덴서(C)이다.
따라서, 도 1에 도시된 바와 같이 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)에 접속된 콘덴서(C)의 충전전압이 도 2에 도시된 바와같이 시정수(K)에 도달될 때 까지 상기 연산증폭기(90)의 반전입력단(-)으로 입력되는 신호(V1)에 의하여 연산증폭기(90)는 그 출력단(P1)으로 'L'상태의 신호를 출력하다가 상기 연산증폭기(90)의 비반전입력단(+)에 접속된 콘덴서(C)의 충전전압이 도 2에 도시된 바와같이 시정수(K)에 도달되는 순간 상기 연산증폭기(90)는 그 출력단(P1)으로 'H'상태의 신호를 출력하게 된다.
상기비교회로부(300)의 연산증폭기(90)의 출력단(P1)으로 출력되는 'H'상태의 신호는 전계효과트랜지스터(FET)의 드레인단에 입력되고, 상기메인제어부(100)로부터 저항(R3)을 매개로하여 'H'상태의 선택모드 신호를 게이트단으로 입력받은 전계효과트랜지스터(FET)는 턴온(Turn On)되며, 상기 턴온된 비교회로부(300)의 전계효과트랜지스터(FET)에 의하여 소스단(P3)에 접속되어 있는 릴레이(RY5)의 여자부가 여자상태, 즉 온(ON)상태로 된다.
상기 온 상태로 된 릴레이(RY5)에 의해 전원장치(30)에서 출력되는 전원전업은 릴레이(RY5)의 접점부를 통하여 부품(10)이 삽입된 인쇄회로기판(20)에 공급된다.
따라서, 복귀상태로 된 릴레이(RY2)와 개방상태('a'접점상태)에서 단락상태('b'접점상태)로 전환된 릴레이(RY4,RY5)에 의하여 FT측정이 가능하게 부품(10)이 삽입된 인쇄회로기판(20)에 접속되는 테스트 핀(Test Pin)을 통해 메인제어부(100)로 입력되어 작업자가 용이하게 파악할 수 있도록 이렇게 FT측정이 완료되면 디스플레이 된다.
이렇게 FT측정이 완료되면 ICT측정을 하기 위해 메인제어부(100)는 ICT 측정에 해당되는 'L'상태의 선택모드신호를 논리회로부(200)와 비교회로부(300)에 출력하여 앞에서 설명한 과정을 반복 수행하게 된다.
이와같은 본 발명 작동관계를 도표로 나타내면 다음과 같다.
P1 P2 P3 릴레이(RY1, RY2) 릴레이(RY3, RY4) 릴레이(RY5)
a L L→H L→H ON→OFF ON→OFF OFF
b L→H H H OFF ON OFF→ON
c H H H→L OFF ON ON→OFF
d H→L H→L L OFF→ON ON→OFF OFF
상술한 바와 같이 본 발명은 In Circuit Test : ICT 측정과정에서 Function Test : FT 측정과정으로 전환하거나 또는 FT측정과정에서 ICT측정과정으로 테스트 핀을 전환시킬 때 소프트웨어적인 프로그램을 배제한 비교적 간단한 하드웨어로 안전장치를 구현함으로서, 인쇄회로기판에 전원을 공급하는 전원장치로 인한 시스템의 손상을 방지할 수 있으므로 인쇄회로기판 검사의 신뢰성을 향상시킬수 있는 것이다.

Claims (3)

  1. 부품(10)이 삽입되어 있는 인쇄회로기판(20)의 성능을 검사하는 장치에 있어서,
    상기 인쇄회로판(20)상에 삽입되어 있는 부품(10)이 단락 또는 개방상태인지의 여부를 측정하는 ICT측정부(60)와 상기 부품(10)이 완전히 삽입된 인쇄회로기판(20)의 기능을 측정하는 FT측정부(70)를 제어함과 동시에 선택모드신호를 비교회로부(300)와 논리회로부(200)로 출력하는 메인제어부(100)와,
    상기 메인제어부(100)로부터 출력되는 선택모드신호와 비교회로부(300)의 연산증폭기(90)의 출력신호에 따라 ICT측정과 FT측정을 수행하게 동작하는 릴레이(RY1∼RY5)와,
    상기 비교회로부(300)의 전계효과트랜지스터(FET)의 상태 변화에 따라 동작하는 릴레이(RY1)에 의하여 상기 인쇄회로기판(20)에 전원을 공급하는 전원장치(30)를 구비하여서 된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사시 안전장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    논리회로부(200)는 상기메인제어부(100)로부터 출력되는 선택모드신호를 논리적으로 연산되게 NOT게이트회로(40)와 OR게이트회로(50)로 구성한 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사시 안전장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    비교회로부(300)는 상기메인제어부(100)로부터 출력되는 선택모드신호를 저항(VR)과 콘덴서(C)의 시정수로 조절하여 연산증폭기(90) 및 전계효과트랜지스터(FET)로 스위칭할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 인쇄회로 검사시 안전장치.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100642127B1 (ko) * 1999-12-31 2006-11-13 두산인프라코어 주식회사 기판점검장비의 전원제어장치 및 방법
KR100815244B1 (ko) * 2006-09-13 2008-03-19 한국과학기술원 스위치 내부저항 보상을 이용한 아이씨티 및 이를 이용한측정 방법

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