KR19990031267A - TF panel array test device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 TFT 패널 어레이 테스트 장치에 관한 것으로 본 발명에서는 TFT 패널 어레이 테스트 장치를 TFT 패널 어레이가 로딩되어 전기적인 테스트가 진행되는 테스트 툴 및 로딩되는 TFT 패널 어레이의 상황에 맞추어 적절한 테스트 프레임이 공급되는 테스트 프레임 공급 툴로 이원화하고, 이를 통해, TFT 패널 어레이의 상황에 알맞게 적절한 종류의 테스트 프레임이 자동·공급되도록 함으로써, 첫째, 제품의 전체적인 생산시간을 저감시킬 수 있고, 둘째, 테스트 공정의 완전 자동화를 달성할 수 있다.The present invention relates to a TFT panel array test apparatus. In the present invention, the TFT panel array test apparatus is provided with a test tool in which a TFT panel array is loaded to perform an electrical test, and an appropriate test frame is supplied according to the situation of the loaded TFT panel array. By dualizing with a test frame supply tool, it is possible to automatically supply and supply the appropriate type of test frame according to the situation of the TFT panel array, firstly, to reduce the overall production time of the product, and secondly to fully automate the test process. Can be achieved.
Description
본 발명은 티에프티(TFT; Thin Film Transistor:이하, TFT라 칭함) 패널 어레이 테스트 장치에 관한 것으로, 좀더 상세하게는 장치의 구조를 개선하여 제품의 전체적인 생산시간을 저감시키고, 공정의 완전 자동화를 달성할 수 있도록 하는 TFT 패널 어레이 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a thin film transistor (TFT) panel array test apparatus, and more particularly, to improve the structure of the apparatus to reduce the overall production time of the product, and to fully automate the process. The present invention relates to a TFT panel array test apparatus that can be achieved.
일반적으로, TFT 패널 어레이는 여러 단계의 제조 공정을 거쳐 제조되어지는 바, 이때, 각 제조 공정의 파이널 스텝(Final step)에서는 소정의 테스트가 진행되며, 이에 따라, 각 TFT 패널 어레이는 항상 일정 수준 이상으로 그 성능이 유지되고 있다.In general, a TFT panel array is manufactured through several stages of manufacturing processes. At this time, a predetermined test is performed at a final step of each manufacturing process, so that each TFT panel array is always at a predetermined level. The performance is maintained above.
여기서, TFT 패널 어레이는 견고한 고정 스테이지를 구비한 테스트 장치에 안정적으로 로딩된 후, 상술한 테스트를 수행받음으로써, 양호한 제품으로 완성·출하되고 있다.Here, the TFT panel array is stably loaded into a test apparatus having a rigid fixing stage and then completed and shipped as a good product by performing the above test.
도 1은 이러한 기능을 수행하는 종래의 TFT 패널 어레이 테스트 장치의 구조를 개략적으로 도시한 예시도이다.1 is an exemplary diagram schematically showing the structure of a conventional TFT panel array test apparatus that performs this function.
도 1에 도시된 바와 같이, 어느 하나의 제조공정을 끝마친 TFT 패널 어레이(3)는 품질을 검증받기 위한 테스트, 예컨대, 전기신호 테스트를 위해 로봇 등의 운송장치(미도시)를 통해 본체(1)로 로딩된다.As shown in FIG. 1, the TFT panel array 3 that has completed one of the manufacturing processes has a main body 1 through a transportation device (not shown) such as a robot for testing a quality, for example, an electrical signal test. Is loaded).
여기서, 본체(1)에는 고정 스테이지(2)가 설치되는 바, TFT 패널 어레이(3)는 이러한 고정 스테이지(2)에 정확히 놓여져, 본체(1)상에 안정적으로 고정된다.Here, the fixed stage 2 is provided in the main body 1, and the TFT panel array 3 is correctly placed on this fixed stage 2, and is stably fixed on the main body 1.
이때, 고정 스테이지(2)의 상부면에는 TFT 패널 어레이(3)로 전기적인 신호를 전달하는 테스트 프레임(4)이 설치되며, 이러한 테스트 프레임(4)에는 다수개의 테스트 탐침(미도시)들이 구비된다.In this case, a test frame 4 for transmitting an electrical signal to the TFT panel array 3 is installed on an upper surface of the fixed stage 2, and the test frame 4 includes a plurality of test probes (not shown). do.
이러한 상태에서, 테스트 프레임(4)은 상술한 테스트 탐침들을 통해 TFT 패널 어레이(3)와 접촉된 후, 테스트 회로(S)에서 출력되는 전기신호를 이용하여 TFT 패널 어레이(3)를 적절히 테스트 한다.In this state, the test frame 4 is in contact with the TFT panel array 3 through the above-described test probes, and then appropriately tests the TFT panel array 3 using the electrical signal output from the test circuit S. FIG. .
그런데, 이와 같은 전기적인 테스트를 수행받는 TFT 패널 어레이(3)에 있어서, 그것의 게이트 패드 및 데이터 패드는 그 배치위치가 서로 다른 바, 이에 따라, 종래의 테스트 공정에서는 TFT 패널 어레이(3)의 각 패드별로 적절한 테스트를 수행하기 위하여, 테스트 프레임(4)을 게이트 패드 테스트용 테스트 프레임 및 데이터 패드 테스트용 테스트 프레임의 2 종류로 나누어 기 구비하고, 이러한 2 종류의 테스트 프레임(4)을 TFT 패널 어레이(3)의 각 패드 고정위치가 변경될 때 마다 운송장치 및 작업자의 수작업으로 그 종류를 바꾸어 투입함으로써, TFT 패널 어레이(3)의 상황에 따라서 적절한 테스트 공정이 진행되도록 한다. 이에 따라, TFT 패널 어레이(3)는 자신에게 구비된 각 패드의 배치위치별로 적절한 테스트 공정을 수행받을 수 있다.However, in the TFT panel array 3 subjected to such an electrical test, its gate pads and data pads have different arrangement positions, and accordingly, in the conventional test process, the TFT panel array 3 In order to perform an appropriate test for each pad, the test frame 4 is divided into two types, a test frame for a gate pad test and a test frame for a data pad test, and these two types of test frames 4 are divided into TFT panels. Whenever the pad fixing position of the array 3 is changed, the type of the pad is changed by manual operation of the transportation device and the operator, so that an appropriate test process can be carried out according to the situation of the TFT panel array 3. Accordingly, the TFT panel array 3 may be subjected to an appropriate test process for each placement position of each pad provided therein.
이 후, TFT 패널 어레이(3)는 각 공정 스텝을 마칠때마다 이러한 테스트를 매번 거치게 됨으로써, 좀더 양호한 제품으로 적절히 제조된다.Thereafter, the TFT panel array 3 is subjected to such a test every time each process step is completed, so that the TFT panel array 3 is properly manufactured into a better product.
그러나, 이러한 기능을 수행하는 종래의 TFT 패널 어레이 테스트 장치에는 몇 가지 중대한 문제점이 있다.However, there are some serious problems with the conventional TFT panel array test apparatus that perform this function.
첫째, 상술한 바와 같이, 종래의 테스트 프레임은 게이트 패드 테스트용 테스트 프레임 및 데이터 패드 테스트용 테스트 프레임의 2 종류로 나누어 기 구비되고, 이러한 2 종류의 테스트 프레임은 TFT 패널 어레이의 각 패드 고정위치가 변경될 때 마다 일일이 운송장치 및 작업자의 수작업에 의해 그 종류가 바뀌어 투입되어야 하는 바, 이에 따라, 제품의 전체적인 생산시간이 증가하는 문제점이 있다.First, as described above, the conventional test frame is divided into two types, a test frame for a gate pad test and a test frame for a data pad test, and these two types of test frames have respective pad fixing positions of the TFT panel array. Whenever it is changed, the type must be changed and input by the manual operation of the transport device and the worker, and accordingly, there is a problem that the overall production time of the product increases.
둘째, 상술한 바와 같이 테스트 프레임의 교체는 그 절차가 매우 까다로워 작업자의 보조 작업이 요구됨으로써, 테스트 공정의 완전 자동화를 방해하는 요인으로 작용하는 문제점이 있다.Second, as described above, the replacement of the test frame is very demanding, and thus requires a worker's auxiliary work, which causes a problem of preventing a full automation of the test process.
따라서, 본 발명의 목적은 TFT 패널 어레이 테스트 장치를 TFT 패널 어레이가 로딩되어 전기적인 테스트가 진행되는 테스트 툴 및 로딩되는 TFT 패널 어레이의 상황에 맞추어 적절한 테스트 프레임이 공급되는 테스트 프레임 공급 툴로 이원화하고, 이를 통해, TFT 패널 어레이의 상황에 알맞게 적절한 종류의 테스트 프레임이 자동·공급되도록 함으로써, 제품의 전체적인 생산시간을 저감시키고, 테스트 공정의 완전 자동화를 달성할 수 있도록 하는 TFT 패널 어레이 테스트 장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to dualize a TFT panel array test apparatus into a test tool in which a TFT panel array is loaded to perform an electrical test, and a test frame supply tool in which an appropriate test frame is supplied according to the situation of the loaded TFT panel array, Through this, it is possible to provide a TFT panel array test apparatus that can reduce the overall production time of the product and achieve complete automation of the test process by automatically supplying the appropriate type of test frame to the situation of the TFT panel array. have.
도 1은 종래의 TFT 패널 어레이 테스트 장치의 구조를 개략적으로 도시한 예시도.1 is an exemplary view schematically showing the structure of a conventional TFT panel array test apparatus.
도 2는 본 발명에 따른 TFT 패널 어레이 테스트 장치의 구조를 개략적으로 도시한 예시도.2 is an exemplary view schematically showing the structure of a TFT panel array test apparatus according to the present invention.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 로딩된 TFT 패널 어레이를 전기적으로 테스트하는 전기 테스트 툴과; 테스트 프레임을 적재한 상태로 상기 전기 테스트 툴의 인접부에 배치되며 상기 테스트 프레임을 상기 전기 테스트 툴로 공급하여 상기 TFT 패널 어레이 및 상기 테스트 프레임이 전기적으로 접촉되도록 하는 테스트 프레임 공급 툴을 포함하며, 상기 전기 테스트 툴은 제 1 본체와; 상기 제 1 본체상에 설치되어 상기 테스트 프레임을 이송하는 이송레일과; 상기 이송레일의 소정 영역에 개재된 상태로 상기 제 1 본체의 회로부와 연결되며, 상기 이송레일을 통해 이송되는 상기 테스트 프레임을 고정하는 테스트 스테이지를 포함하고, 상기 테스트 프레임 공급 툴은 제 2 본체와; 상기 제 2 본체의 저부에 형성되어 상기 테스트 프레임을 상기 제 2 본체의 상측으로 푸싱하는 제 1 푸싱부와; 상기 제 2 본체의 측부에 형성되어 상기 제 1 푸싱부를 통해 푸싱된 상기 테스트 프레임을 상기 이송레일로 푸싱하여 상기 테스트 프레임이 상기 이송레일에 탑재되도록 하는 제 2 푸싱부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is an electrical test tool for electrically testing a loaded TFT panel array; A test frame supply tool disposed at an adjacent portion of the electric test tool with a test frame loaded thereon and supplying the test frame to the electric test tool such that the TFT panel array and the test frame are in electrical contact with each other; The electrical test tool includes a first body; A conveying rail installed on the first body to convey the test frame; A test stage connected to a circuit portion of the first body in a state interposed in a predetermined region of the transfer rail, and fixing the test frame transferred through the transfer rail, wherein the test frame supply tool is connected to a second body. ; A first pushing part formed at a bottom of the second main body to push the test frame to an upper side of the second main body; And a second pushing unit formed at a side of the second body to push the test frame pushed through the first pushing unit to the transport rail so that the test frame is mounted on the transport rail.
이에 따라, 본 발명에서는 TFT 패널 어레이의 테스트 시간이 현저히 저감되고, 공정의 완전 자동화가 적절히 달성된다.Accordingly, in the present invention, the test time of the TFT panel array is significantly reduced, and the complete automation of the process is appropriately achieved.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 TFT 패널 어레이 테스트 장치를 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a TFT panel array test apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 TFT 패널 어레이 테스트 장치의 구조를 개략적으로 도시한 예시도이다.2 is an exemplary view schematically showing the structure of a TFT panel array test apparatus according to the present invention.
이에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 TFT 패널 어레이 테스트 장치는 로딩된 TFT 패널 어레이(3)를 전기적으로 테스트하는 전기 테스트 툴(10)과, 테스트 프레임(4)을 적재한 상태로 전기 테스트 툴(10)의 인접부에 배치되며 테스트 프레임(4)을 전기 테스트 툴(10)로 공급하여 TFT 패널 어레이(3) 및 테스트 프레임(4)이 전기적으로 접촉되도록 하는 테스트 프레임 공급 툴(20)을 포함한다.As shown therein, the TFT panel array test apparatus according to the present invention includes an electrical test tool 10 for electrically testing the loaded TFT panel array 3 and an electrical test tool (with a test frame 4 loaded therein). A test frame supply tool 20 disposed in the vicinity of 10 and supplying the test frame 4 to the electrical test tool 10 such that the TFT panel array 3 and the test frame 4 are in electrical contact. do.
이때, 상술한 전기 테스트 툴(10)은 제 1 본체(11)와, 제 1 본체(11)상에 설치되어 테스트 프레임(4)을 이송하는 이송레일(12)과, 이송레일(12)의 일정 영역에 개재된 상태로 제 1 본체(11)의 회로부(S)와 연결되며, 이송레일(12)을 통해 이송되는 테스트 프레임(4)을 고정하는 테스트 스테이지(13)를 포함한다.At this time, the above-described electrical test tool 10 is provided on the first main body 11, the first main body 11, the transfer rail 12 for transporting the test frame 4, and the transfer rail 12 It is connected to the circuit portion (S) of the first body 11 in a state interposed in a predetermined region, and includes a test stage 13 for fixing the test frame (4) transferred through the transfer rail (12).
또한, 상술한 테스트 프레임 공급 툴(20)은 제 2 본체(21)와, 제 2 본체(21)의 저부에 형성되어 테스트 프레임(4)을 제 2 본체(21)의 상측으로 푸싱하는 제 1 푸싱부(22)와, 제 2 본체(21)의 측부에 형성되어 제 1 푸싱부(22)를 통해 푸싱된 테스트 프레임(4)을 상술한 이송레일(12)로 푸싱하여 테스트 프레임(4)이 이송레일(12)에 탑재되도록 하는 제 2 푸싱부(23)를 포함한다.In addition, the test frame supply tool 20 described above is formed in the second main body 21 and the bottom of the second main body 21 to push the test frame 4 to the upper side of the second main body 21. The test frame 4 is formed by pushing the pushing unit 22 and the test frame 4 formed on the side of the second main body 21 and pushed through the first pushing unit 22 to the transfer rail 12 described above. And a second pushing portion 23 to be mounted on the conveying rail 12.
여기서, 제 2 본체(21)에 적재된 테스트 프레임(4)들은 그것의 공급이 TFT 패널 어레이(3)의 테스트 상황에 맞추어 알맞게 이루어질 수 있도록 게이트 패드 테스트용 테스트 프레임(4a)들 및 데이터 패드 테스트용 테스트 프레임(4b)들로 적절히 번갈아가며 적재된다. 이에 따라, 제 2 푸싱부(23)를 통해 이송레일(12)로 공급되는 테스트 프레임(4)들은 TFT 패널 어레이(3)의 테스트 상황에 알맞는 임의의 차례로 그 순서를 바꾸어가며 공급된다.Here, the test frames 4 loaded on the second main body 21 are the test frame 4a and the data pad test for the gate pad test so that its supply can be made according to the test situation of the TFT panel array 3. The test frames 4b are alternately stacked with each other. Accordingly, the test frames 4 supplied to the conveyance rails 12 through the second pushing section 23 are supplied in an arbitrary order in accordance with the test situation of the TFT panel array 3.
한편, 상술한 테스트 스테이지(13)에는 이송레일(12)에 탑재되어 이송되는 테스트 프레임(4)들이 고정되는 바, 이와 아울러 테스트 스테이지(13)에는 TFT 패널 어레이(3)가 공급되며, 이에 따라, 공급된 TFT 패널 어레이(3)는 테스트 스테이지(13)에 고정된 테스트 프레임(4)과 알맞게 접촉되어 요구되는 전기 테스트를 적절히 수행받을 수 있다.Meanwhile, the test frame 4 mounted on the transfer rail 12 is fixed to the test stage 13 described above, and the TFT panel array 3 is supplied to the test stage 13. The supplied TFT panel array 3 is in proper contact with the test frame 4 fixed to the test stage 13 so that the required electrical test can be properly performed.
이하, 이러한 본 발명의 작용을 상세히 설명한다.Hereinafter, the operation of the present invention will be described in detail.
먼저, 본 발명의 전체 장치를 제어하는 제어 콘트롤러(미도시)는 테스트 프레임 공급 툴(20)을 제어하여 제 1 푸싱부(22)를 한 스텝 밀어올린다. 이에 따라, 제 1 푸싱부(22)에 적재된 테스트 프레임(4)들도 한 스텝 밀려 올라간다.First, a control controller (not shown) that controls the entire apparatus of the present invention controls the test frame supply tool 20 to push up the first pushing section 22 one step. As a result, the test frames 4 mounted on the first pushing part 22 are pushed up by one step.
이어서, 제어 콘트롤러는 제 2 푸싱부(23)를 제어하여 밀려 올라온 테스트 프레임(4)을 전기 테스트 툴(10)의 이송레일(12)로 밀어낸다. 이에 따라, 테스트 프레임(4)은 이송레일(12)에 적절히 탑재된다.Subsequently, the control controller controls the second pushing unit 23 to push the pushed up test frame 4 onto the transfer rail 12 of the electric test tool 10. Accordingly, the test frame 4 is suitably mounted on the conveyance rail 12.
이때, 테스트 프레임(4)은 상술한 바와 같이, TFT 패널 어레이(3)의 테스트 상황에 대응되도록 적절한 순서로 기 적재되는 바, 만약 현 단계의 공정이 TFT 패널 어레이(3)의 게이트 패드 부분을 테스트하는 공정인 경우, 상술한 과정을 통해 기 적재되어 있던 게이트 패드 테스트용 테스트 프레임(4a)은 TFT 패널 어레이(3)의 상황에 맞추어 이송레일로 신속히 공급된다. 이에 따라, 작업 공정이 진행될 때, 작업자는 일일이 테스트 프레임(4)을 TFT 패널 어레이(3)의 상황에 맞추어 교체하지 않아도 되며, 상술한 전기 테스트 툴(10)에는 요구되는 적절한 테스트 프레임(4)이 신속히 공급된다.At this time, as described above, the test frame 4 is preloaded in a proper order so as to correspond to the test situation of the TFT panel array 3. In the case of a test process, the test frame 4a for gate pad test previously loaded through the above-mentioned process is quickly supplied to the conveyance rail according to the situation of the TFT panel array 3. Accordingly, when the work process is in progress, the operator does not have to replace the test frame 4 in accordance with the situation of the TFT panel array 3, and the appropriate test frame 4 is required for the above-described electrical test tool 10. This is supplied quickly.
계속해서, 이송레일(12)은 제어 콘트롤러의 제어에 따라 적절히 구동된 후, 탑재된 테스트 프레임(4)을 상술한 테스트 스테이지(13)로 이송한다. 이에 따라, 테스트 프레임(4)은 테스트 스테이지(13)상에 적절히 고정된다.Subsequently, the transfer rail 12 is driven appropriately under the control of the control controller, and then transfers the mounted test frame 4 to the above-described test stage 13. Thus, the test frame 4 is properly fixed on the test stage 13.
이어서, TFT 패널 어레이(3)를 운송하는 운송장치(미도시)는 TFT 패널 어레이(3)를 테스트 스테이지(13)상에 고정된 테스트 프레임(4)으로 운송하여 어렌지한다. 이에 따라, 테스트 프레임(4)은 자신이 구비한 테스트 탐침들을 통해 TFT 패널 어레이(3)와 적절히 접촉된다.Subsequently, a transportation device (not shown) for transporting the TFT panel array 3 is arranged by transporting the TFT panel array 3 to the test frame 4 fixed on the test stage 13. Accordingly, the test frame 4 is in proper contact with the TFT panel array 3 through the test probes provided therewith.
이에 맞추어, 제어 콘트롤러는 제 1 본체(11)의 회로부(S)를 제어하여, 상술한 테스트 스테이지(13)로 기 지정된 전기 테스트 신호가 출력되도록 한다. 이에 따라, 테스트 스테이지(13)에 고정된 테스트 프레임(4)은 이와 같이 출력된 전기 테스트 신호를 입력받은 후 TFT 패널 어레이(3)를 적절히 테스트 한다. 그 결과, TFT 패널 어레이(3)는 그 품질을 정확히 검증받는다.In accordance with this, the control controller controls the circuit unit S of the first main body 11 to output the predetermined electrical test signal to the test stage 13 described above. Accordingly, the test frame 4 fixed to the test stage 13 receives the electric test signal output as described above and then properly tests the TFT panel array 3. As a result, the TFT panel array 3 is correctly verified for its quality.
종래의 경우, 테스트 프레임은 TFT 패널 어레이의 각 패드 고정위치가 변경될 때 마다 일일이 운송장치 및 작업자의 수작업에 의해 종류가 바뀌어 투입되어야 했던 바, 이에 따라, 제품의 전체적인 생산시간이 증가하고, 공정의 완전한 자동화가 이루어질 수 없는 심각한 문제점이 야기되었다.In the conventional case, the test frame had to be changed by the manual operation of the transport device and the operator every time the pad fixing position of the TFT panel array was changed, and accordingly, the overall production time of the product was increased, and the process A serious problem has arisen in which full automation of the system cannot be achieved.
그러나, 본 발명의 경우, 상술한 바와 같이, 테스트 프레임(4)을 TFT 패널 어레이(3)의 상황에 알맞게 종류별로 기 적재해 두고, 이를 전기 테스트 툴(10) 및 테스트 프레임 공급 툴(20)을 통해 적절히 공급·테스트 함으로써, 작업자의 수작업 없이도, 신속한 전기 테스트 공정이 진행되도록 하여 제품의 전체적인 생산시간을 저감시킴과 아울러 공정의 완전한 자동화를 달성할 수 있다.However, in the case of the present invention, as described above, the test frame 4 is preloaded for each type according to the situation of the TFT panel array 3, and the test frame 4 and the electric test tool 10 and the test frame supply tool 20 are loaded. By properly supplying and testing through this process, a rapid electrical test process can be carried out without the manual labor of the operator, thereby reducing the overall production time of the product and achieving complete automation of the process.
이 후, TFT 패널 어레이(3)는 각 공정 스텝을 마칠때마다 상술한 본 발명의 TFT 패널 어레이 테스트 장치를 통한 전기 테스트를 매번 거치게 됨으로써, 좀더 양호한 제품으로 적절히 제조되어 외부로 출하된다.Thereafter, the TFT panel array 3 is subjected to the electric test through the above-described TFT panel array test apparatus of the present invention each time each process step is completed, so that the TFT panel array 3 is manufactured as a better product and shipped to the outside.
이와 같이, 본 발명에서는 TFT 패널 어레이 테스트 장치의 구조를 TFT 패널 어레이 테스트 전용 툴 및 테스트 프레임 공급 전용 툴로 이원화 함으로써, 제품의 전체적인 생산시간을 저감시킬 수 있고, 공정의 완전 자동화를 달성할 수 있다.As described above, in the present invention, by dualizing the structure of the TFT panel array test apparatus into a TFT panel array test-only tool and a test frame supply-only tool, the overall production time of the product can be reduced, and the complete automation of the process can be achieved.
이러한 본 발명은 생산라인에서 제조되어지는 전 품종의 TFT 패널 어레이에서 두루 유용한 효과를 나타낸다.This invention exhibits useful effects throughout all varieties of TFT panel arrays to be manufactured in production lines.
그리고, 본 발명의 특정한 실시예가 설명 및 도시되었지만 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다.And while certain embodiments of the invention have been described and illustrated, it will be apparent that the invention may be embodied in various modifications by those skilled in the art.
이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 첨부된 특허청구의 범위안에 속한다 해야 할 것이다.Such modified embodiments should not be understood individually from the technical spirit or point of view of the present invention and such modified embodiments should fall within the scope of the appended claims of the present invention.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 TFT 패널 어레이 테스트 장치에서는 TFT 패널 어레이 테스트 장치를 TFT 패널 어레이가 로딩되어 전기적인 테스트가 진행되는 테스트 툴 및 로딩되는 TFT 패널 어레이의 상황에 맞추어 적절한 테스트 프레임이 공급되는 테스트 프레임 공급 툴로 이원화하고, 이를 통해, TFT 패널 어레이의 상황에 알맞게 적절한 종류의 테스트 프레임이 자동·공급되도록 함으로써, 첫째, 제품의 전체적인 생산시간을 저감시킬 수 있고, 둘째, 테스트 공정의 완전 자동화를 달성할 수 있다.As described in detail above, in the TFT panel array test apparatus according to the present invention, the TFT panel array test apparatus may include a test frame in which the TFT panel array is loaded to perform an electrical test, and an appropriate test frame according to the situation of the loaded TFT panel array. By dualizing with the supplied test frame supplying tool, it is possible to automatically supply the appropriate type of test frame according to the situation of the TFT panel array, firstly, to reduce the overall production time of the product, and secondly, to complete the test process. Automation can be achieved.
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1997
- 1997-10-10 KR KR1019970051916A patent/KR19990031267A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101229669B1 (en) * | 2006-03-03 | 2013-02-04 | 황창훈 | Apparatus of substrate loading and unloading for large-sized OLED |
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Legal Events
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