KR19990024441A

KR19990024441A - 인터럽트 방식의 고장 진단 장치 및 그 방법

Info

Publication number: KR19990024441A
Application number: KR1019970045539A
Authority: KR
Inventors: 원용규
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1997-09-02
Filing date: 1997-09-02
Publication date: 1999-04-06
Also published as: KR100269187B1

Abstract

본 발명은 인터럽트 방식의 고장 진단 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 다수의 검사 포인트들을 가지는 복수의 모듈의 고장을 진단하는 고장 진단 장치는, 모든 모듈들의 한 개 이상의 검사 포인트에서 소정 레벨의 고장 신호가 입력되면 인터럽트 신호를 출력하고, 모듈중에서 어느 모듈이 고장인지를 나타내는 모듈 고장 신호를 출력하는 고장 감지부; 고장인 모듈을 선택하고, 선택된 모듈의 검사 포인트들중 어느 검사 포인트에서 고장 신호가 발생했는지에 대한 검사 포인트 고장 신호를 출력하는 세부 고장 검사부; 및 고장 감지부와 세부 고장 검사부에서 출력되는 모듈 고장 신호와 검사 포인트 고장 신호를 입력 받아 그에 따른 고장 모듈과 검사 포인트의 이름을 표시하는 디스플레이부; 및 고장 감지부에서 발생된 인터럽트 신호에 의해 수행중이던 동작을 일시 중지하고 모듈 고장 신호를 해석하여 고장인 모듈을 판단한 후 세부 고장 검사부에 모듈 선택 신호를 출력하여 고장인 모듈의 검사 포인트들로부터 검사 포인트 고장 신호를 입력받는 제어부를 포함함을 특징으로 한다.

본 발명에 의하면 인터럽트 방식의 자기 진단 장치로서 고장 검사에 따른 CPU의 로드를 감소시켜 효과적인 장비 운용을 할 수 있다.

Description

인터럽트 방식의 고장 진단 장치 및 그 방법

본 발명은 마이크로 프로세서 응용 장치내에 내장되어 주변 연결된 장치의 고장을 진단하는 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 인터럽트 방식의 고장 진단 장치 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로 마이크로 프로세서 응용 장치내에서 그 응용 장치에 연결된 주변 장치들의 고장을 파악하여 사용자에게 그 고장에 대해 알리는 장치는 마이크로 프로세서를 이용하여 폴링(polling) 방식으로 그 주변 장치들의 상태를 점검하는 장치였다.

도 1은 종래의 고장 진단 장치의 일실시예를 도시한 것으로서, 고장 진단 장치는 중앙 처리 장치(100), 디코더(110), 버퍼(120, 121,..,120+(n-1))) 및 디스플레이 메모리(130)를 구비한다. 중앙 처리 장치(100)는 다른 일을 수행하다가 일정 주기마다 디코더(110)에 소정의 코드 신호를 주어 한 버퍼(120, 121,..,120+(n-1)중 어느 하나)를 인에이블시켜 그 버퍼에서 받은 데이터 신호를 포트(port 0)를 통해 입력 받는다. 디코더(110)는 중앙 처리 장치(100)로부터 입력받은 서로 다른 비트 신호에 따라 오직 한 개의 버퍼(120, 121,..,120+(n-1)들 중 하나)를 인에이블할 수 있는 신호를 출력한다. 버퍼(120, 121,..,120+(n-1))는 인에이블 상태에서 외부에 연결된 주변 모듈(150, 151,..,150+(n-1))로부터 소정의 신호를 입력받아 그대로 중앙 처리 장치(100)로 출력한다. 디스플레이 메모리(150)는 중앙 처리 장치(100)의 명령에 따라 사용자에게 보일 수 있는 고장 정보를 기억하였다가 디스플레이기(140)에 표시해 준다. 중앙 처리 장치(100)는 주기적으로 버퍼(120, 121,..,120+(n-1))를 차례로 인에이블시켜 주변 모듈의 정보들을 입력 받는다.

여기서 각 모듈(150, 151,..,150+(n-1) 고장 진단 포인트(Det 0~Det N)는 각각 버퍼(120, 121,..,120+(n-1)의 하나)의 데이터 라인과 연결된다. 고장 진단 포인트(Det 0~Det N)는 풀업(pull-up) 저항으로 연결되어 있어 정상인 경우 풀업 저항에 걸린 전압(Vcc)과 같은 전압이 되고, 고장이 발생한 경우에는 그와 다른 레벨의 전압이 된다.

상술한 폴링 방식의 고장 진단 장치는, 중앙 처리 장치(100)가 처리할 일이 많을 때 계속 주기적으로 고장 진단을 위한 검사까지 병행해야 하므로 처리할 다른 일에 지장을 초래하고, 실제로 고장이 자주 발생하지 않는 주변 장치에 대해 주기적으로 고장 진단을 하는데 따른 시간 낭비의 문제도 발생시킨다. 또한 고장 포인트에 거는 풀업 저항은, 실제로 해당 고장 포인트에 연결된 부분의 접속이 해제되었을 때 그 풀업 저항에 걸린 전압이 여전히 도 1의 버퍼(120, 121,..,120+(n-1)중의 하나)로 출력되어 중앙 처리 장치(100)에 의해 고장이 아닌 상태로 해석된다는 문제점이 있다.

본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위해 인터럽트 방식을 사용한 고장 진단 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

도 1은 종래의 고장 진단 장치의 구성도이다.

도 2는 본 발명의 고장 진단 장치의 구성도이다.

도 3은 도 2의 상세 구성도이다.

도 4는 본 발명의 고장 진단 방법의 흐름도를 도시한 것이다.

상술한 목적을 달성하기 위한, 다수의 검사 포인트들을 가지는 복수의 모듈의 고장을 진단하는 고장 진단 장치는, 상기 모듈들의 한 개 이상의 검사 포인트에서 소정 레벨의 고장 신호가 입력되면 인터럽트 신호를 출력하고, 상기 고장 신호가 입력된 모듈을 나타내는 모듈 고장 신호를 출력하는 고장 감지부; 고장인 모듈을 선택하여 상기 선택된 모듈의 어느 검사 포인트에서 고장 신호가 발생했는지를 검출하여, 이에 대한 검사 포인트 고장 신호를 출력하는 세부 고장 검사부; 및 상기 고장 감지부와 상기 세부 고장 검사부에서 출력되는 상기 모듈 고장 신호와 검사 포인트 고장 신호를 입력 받아 그에 따른 고장 모듈과 검사 포인트의 이름을 표시하는 디스플레이부; 및 상기 고장 감지부에서 발생된 인터럽트 신호에 의해 수행중이던 동작을 일시 중지하고 상기 모듈 고장 신호를 해석하여 고장인 모듈을 판단한 후 상기 세부 고장 검사부에 모듈 선택 신호를 출력하여 상기 고장인 모듈의 검사 포인트들로부터 상기 검사 포인트 고장 신호를 입력받는 제어부를 포함함을 특징으로 한다.

상기 고장 감지부는, 각 모듈내의 상기 검사 포인트들을 병렬로 입력하여 부정 논리곱한 1 비트의 신호로서 출력하는 다수의 모듈 신호 변환부; 상기 모듈 신호 변환부로부터 입력된 신호를 반전하여 출력하는 다수의 반전부; 및 상기 반전부로부터의 신호들을 병렬로 입력하여 논리곱에 따라 변환한 1비트의 신호를 상기 제어부의 인터럽트 단자로 출력하는 인터럽트 신호 발생부를 포함함을 특징으로 한다.

상기 모듈 신호 변환부는, 각각의 출력 신호인 1비트씩의 신호를 한 데이터 신호로서 상기 제어부의 제1데이터 입출력 단자 및 상기 디스플레이부에 출력함을 특징으로 한다.

상기 세부 고장 검사부는, 각각 서로 다른 모듈과 연결되어 인에이블 신호가 입력되면 검사 포인트들의 신호를 데이터라인을 통해 상기 제어부의 제2데이터 입출력 단자로 전송하는 다수의 검사 포인트 신호 전송부; 및 입력 단자에서 상기 제어부로부터 모듈 선택 신호를 받아 그에 따른 출력라인을 한 개 선택하여 상기 서로 다른 출력라인에 연결된 상기 검사 포인트 신호 전송부의 인에이블 단자로 인에이블 신호를 출력하는 모듈 선택부를 포함함을 특징으로 한다.

상기 디스플레이부는, 상기 모듈 고장 신호와 상기 검사 포인트 고장 신호의 가능한 모든 신호와 그 신호를 발생하게 하는 고장 부위들인 모듈들과 검사 포인트들의 이름을 모두 기억/저장 하고 있는 메모리; 및 상기 메모리로부터 전송된 모듈과 검사 포인트의 이름을 사용자에게 표시하는 표시 장치를 포함함을 특징으로 한다.

상술한 다른 목적을 달성하기 위한, 다수의 검사 포인트를 가지는 복수의 모듈을 제어하는 시스템에서 상기 모듈의 제어를 위한 제어부, 고장 신호에 대응한 상기 모듈과 검사 포인트 이름을 저장한 메모리를 구비하여 상기 모듈의 고장을 진단하는 고장 진단 방법은, 상기 모듈의 검사 포인트에서 고장이 발생하면 인터럽트를 거는 제1단계; 상기 인터럽트가 걸리면 수행중이던 다른 동작을 멈추고, 고장난 모듈을 판별하는 제2단계; 상기 고장난 모듈을 선택하여 검사 포인트로부터 데이터를 전송받아 고장 부분인 검사 포인트를 판별하는 제3단계; 상기 고장난 모듈과 그 검사 포인트의 이름을 디스플레이하는 제4단계를 포함함을 특징으로 한다.

상기 제2단계의 고장난 모듈의 판별은, 상기 각 모듈의 검사 포인트 각각의 전압 레벨을 반영한 1 비트의 신호를 출력하는 단계; 상기 1 비트의 신호가 모듈수만큼의 비트수를 가진 데이터로서 상기 제어부와 상기 메모리에 출력되는 단계; 상기 제어부는 상기 데이터에서 고장이라고 판별되는 전압 레벨을 발생한 모듈을 판별하고, 상기 메모리는 상기 데이터에 대응되는 모듈명을 서치하는 단계를 포함함을 특징으로 한다.

상기 제3단계의 고장 모듈 선택은, 상기 제어부에서 상기 고장난 모듈의 검사 포인트로부터의 신호가 상기 제어부와 상기 메모리에 전송 될 수 있도록 하는 것임을 특징으로 한다.

이하에서 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 고장 진단 장치를 도시한 것으로서, 고장 진단 장치는 고장 감지부(200), 세부 고장 검사부(210) 및 디스플레이부(220) 및 제어부(230)를 구비한다. 고장 진단 장치는 m개의 검사 포인트를 구비한 n개의 모듈들(240,241,..240+(n-1))을 제어하는 소정의 제어 장치내에 포함되어, 그 모듈들의 고장을 감지하고 어느 모듈의 어느 장소에서 고장이 발생했는지를 판별하여 사용자에게 표시하기 위한 장치이다. 고장 감지부(200)는 모든 모듈들(240,241,..240+(n-1))의 검사 포인트의 신호를 소정의 방식으로 변환하여 제어부(230)의 인터럽트 단자에 출력하고, 각 모듈의 검사 포인트의 신호를 소정의 다른 방식으로 변환한 한 비트의 신호를 모아 전체 모듈에 대한 데이터 신호로서 제어부(230)의 데이터 입출력 단자에 전송한다. 세부 고장 검사부(210)는 제어부(230)로부터 소정의 데이터를 입력받아 그에 따라 하나의 모듈을 선택하여 그 모듈의 검사 포인트로부터의 데이터들을 제어부(230)의 데이터 입출력 단자에 전송한다. 디스플레이부(220)는 고장 감지부(200)와 세부 고장 검사부(210)에서 전송 가능한 데이터의 모든 조합과 그 조합에 맞는 모듈 및 그 모듈의 검사 포인트의 이름을 기억/저장하고 있다가 고장 감지부(200)와 세부 고장 검사부(210)로부터 입력되는 데이터에 따라 기억/저장하고 있던 데이터를 찾아 그 데이터에 대응하느 모듈과 검사 포인트의 이름의 데이터를 전송하는 메모리(221)와 그 메모리(221)로부터 전송된 모듈과 검사 포인트의 이름을 표시하는 표시 장치(222)을 구비한다. 여기서 메모리(221)는 전원이 나가도 저장한 데이터를 잃지 않는 롬(ROM)이어야 하고 표시 장치(222)는 7-세그먼트, LCD 또는 CRT가 될 수 있다. 롬에 든 모듈과 검사 포인트 이름의 데이터는 표시 장치의 문자 또는 그림의 출력 방식에 따라 그 포맷이 다르다. 제어부(230)는 통상의 CPU 또는 마이크로 프로세서이며, 인터럽트 단자를 통해 인터럽트 신호가 들어오면 수행중이거나 제어중이던 동작을 일시 중지하고 상기 모듈들의 고장 상태를 점검하는 동작을 수행한다. 고장 상태 점검을 위한 동작은 먼저 고장 감지부(200)로부터 입력되는 모듈 고장 신호를 해석하여 고장인 모듈이 어느것인지를 판단한 후 세부 고장 검사부(210)에 모듈 선택 신호를 출력하여 고장인 모듈로부터 검사 포인트들의 신호가 출력되도록 한다. 사용자가 디스플레이부(220)의 표시 장치(222)에 표시된 고장 모듈과 그 모듈의 보다 세부적인 위치인 검사 포인트의 이름을 보고 고장 부위를 복구하면 정상 신호가 제어부(230)로 들어가게 되어 제어부(230)는 고장 진단 동작을 마치고 일시 중지 했던 수행중이던 동작을 계속한다.

도 3은 도 2의 상세 구성도를 도시한 것으로서, 도 2의 제어부(230)는 여기서 8051CPU(350)에 해당한다. 8051CPU(350)는 인텔(intel) 계열의 8비트 마이크로프로세서로서 각종 주변 장치 제어 및 연산 기능을 가진다. 도 2의 고장 감지부(200)는, 모듈 신호 변환부(300, 301,.., 300+(n-1)), 반전부(310~317) 및 인터럽트 신호 발생부(320)로서 구성된다. 모듈 신호 변환부(300, 301,.., 300+(n-1))는 각 모듈(240,241,..240+(n-1))내의 검사 포인트들을 하나씩 병렬로 입력하여 부정 논리곱한 결과인 1 비트의 신호를 출력한다. 또한 각 모듈의 검사 포인트에 대해 부정 논리곱한 출력 신호인 1비트씩의 신호를 모든 모듈에 대해 모아 n 비트의 한 데이터 신호로서 8051CPU(350)의 제1데이타 입출력 단자(port1) 및 디스플레이 메모리(220)에 출력한다. 반전부(310~317)는 각각의 모듈 신호 변환부(300, 301,.., 300+(n-1))로부터 입력된 신호를 반전하여 출력한다. 인터럽트 신호 발생부(320)는 반전부(310~317)로부터의 신호들을 병렬로 입력하여 논리곱에 따라 변환한 1비트의 신호를 상기 8051CPU(350)의 인터럽트 단자로 출력한다.

도 2의 세부 고장 검사부(210)는 검사 포인트 신호 전송부(330, 331,..,330+(n-1)) 및 모듈 선택부(340)로서 구성된다. 검사 포인트 신호 전송부(330, 331,..,330+(n-1))는 각각 서로 다른 모듈과 연결되어 있으며, 인에이블 단자를 포함하여 그 단자에 소정 레벨의 인에이블 신호가 들어올 때에만 동작하여 검사 포인트들의 신호를 데이터라인을 통해 8051CPU(350)의 제2데이터 입출력 단자(port0)로 전송한다. 모듈 선택부(340)는 8051CPU(350)와 연결된 입력부에서 소정의 신호(A0~A2)를 받으면 그에 따른 출력라인(ACQm1~ACQmn)을 한 개 선택하여 그 선택된 출력라인에 연결된 검사 포인트 신호 전송부(330, 331,..,330+(n-1))중 하나의 인에이블 단자로 소정 레벨의 인에이블 신호를 출력한다.

도 2의 메모리(221)는 도 3에서 디스플레이 롬(ROM)(360)으로 나타내진다. 디스플레이 롬(360)은 고장 감지부(200)에 구비된 모듈 신호 변환부(300, 301,.., 300+(n-1))로부터 출력된 1비트의 신호들을 한꺼번에 하나의 데이터로서 입력받아 미리 저장하고 있던 값들중에서 같은 것을 찾아 그에 대응하는 모듈 이름을 출력한다. 예를 들어 입력되는 데이터가 '1000000'이면 모듈 1, '01000000'이면 모듈 2와 같은 식으로 모듈 고장에 대한 내용을 포함한 데이터에 대해 그와 상응하는 모듈 이름들을 기억하여 출력하는 것이다. 또한 검사 포인트 신호 전송부(330, 331,..,330+(n-1))로부터 출력되는 한 모듈의 검사 포인트 데이터를 입력받아, 미리 저장하고 있던 값들 중에서 같은 것을 찾아 상술한 예에서와 같이 그에 대응하여 저장된 검사 포인트의 이름을 출력한다. 여기서 디스플레이 롬(360)의 출력 데이터의 포맷은, 즉 모듈 이름과 검사 포인트의 이름의 포맷은 표시 장치(222)에 전송되었을 때 사용자가 알아볼 수 있게 디스플레이되도록 한 표시 장치(370) 자체가 가지는 글자 또는 그림 포맷에 따른다.

이하에서 본 발명의 동작을 자세히 설명한다.

도 4는 본 발명에 따른 고장 진단 방법의 흐름도를 도시한 것으로서, 먼저 도 3의 8051CPU(350)는 인터럽트 신호가 들어왔는지를 판단한다(400단계). 인터럽트 신호가 들어왔으면 8051CPU(350)는 수행중이던 동작을 일시 멈추고 데이터 입출력 단자(port1)의 데이터, 즉 모듈 신호 변환부(300, 301,.., 300+(n-1))들로부터의 신호인 모듈 고장 신호를 읽어 각각의 비트를 검사한다(410단계). 8051CPU(350)는 읽은 비트중에서 고장임을 나타내는 비트에 대해 어느 모듈이 고장인지를 판단한다(420단계). 8051CPU(350)는 420단계에서 고장이라고 판단한 모듈을 선택하는 신호를 출력한다(430단계). 도 3의 8051CPU(350)의 어드레스 핀 중 k 개를 선택하여 k 비트의 신호를 보냄으로써 2^k개의 모듈을 선택할 수 있다. 모듈이 선택된다는 것은 모듈과 연결된 검사 포인트 신호 전송부(330, 331,..,330+(n-1))중 하나의인에이블 단자로 인에이블 신호가 입력됨을 의미한다. 인에이블 신호에 의해 입력 신호를 통과시키는 한 개의 검사 포인트 신호 전송부(330, 331,..,330+(n-1))는 자신과 연결된 검사 포인트들로부터 m 비트의 데이터인 입력 신호를 8051CPU(350)의 제2입출력 단자(port 0)와 디스플레이 롬(360)으로 전송한다(440단계). 그러면 디스플레이 롬(360)은 상술한 모듈 고장 신호와 검사 포인트 고장 신호를 입력하여 저장되어 있는 데이터와 비교하고 해당 데이터에 대응되는 모듈 이름과 검사 포인트의 이름을 표시 장치(222)에 출력하여 표시 장치(222)에 고장 모듈과 고장 검사 포인트의 이름이 쓰여지도록 한다(450단계). 사용자는 표시 장치(222)에 쓰인 고장 정보에 따라 해당 모듈과 검사 포인트의 고장을 쉽게 확인하여 고칠 수 있다.

Claims

다수의 검사 포인트들을 가지는 복수의 모듈의 고장을 진단하는 고장 진단 장치에 있어서,

상기 모듈들의 한 개 이상의 검사 포인트에서 소정 레벨의 고장 신호가 입력되면 인터럽트 신호를 출력하고, 상기 고장 신호가 입력된 모듈을 나타내는 모듈 고장 신호를 출력하는 고장 감지부;

고장인 모듈을 선택하여 상기 선택된 모듈의 어느 검사 포인트에서 고장 신호가 발생했는지를 검출하여, 이에 대한 검사 포인트 고장 신호를 출력하는 세부 고장 검사부; 및

상기 고장 감지부와 상기 세부 고장 검사부에서 출력되는 상기 모듈 고장 신호와 검사 포인트 고장 신호를 입력 받아 그에 따른 고장 모듈과 검사 포인트의 이름을 표시하는 디스플레이부; 및

상기 고장 감지부에서 발생된 인터럽트 신호에 의해 수행중이던 동작을 일시 중지하고 상기 모듈 고장 신호를 해석하여 고장인 모듈을 판단한 후 상기 세부 고장 검사부에 모듈 선택 신호를 출력하여 상기 고장인 모듈의 검사 포인트들로부터 상기 검사 포인트 고장 신호를 입력받는 제어부를 포함함을 특징으로 하는 고장 진단 장치.
제 1항에 있어서, 상기 고장 감지부는,

각 모듈내의 상기 검사 포인트들을 병렬로 입력하여 부정 논리곱한 1 비트의 신호로서 출력하는 다수의 모듈 신호 변환부;

상기 모듈 신호 변환부로부터 입력된 신호를 반전하여 출력하는 다수의 반전부; 및

상기 반전부로부터의 신호들을 병렬로 입력하여 논리곱에 따라 변환한 1비트의 신호를 상기 제어부의 인터럽트 단자로 출력하는 인터럽트 신호 발생부를 포함함을 특징으로 하는 고장 진단 장치.
제 2항에 있어서, 상기 모듈 신호 변환부는,

각각의 출력 신호인 1비트씩의 신호를 한 데이터 신호로서 상기 제어부의 제1데이터 입출력 단자 및 상기 디스플레이부에 출력함을 특징으로 하는 고장 진단 장치.
제 1항에 있어서, 상기 세부 고장 검사부는,

각각 서로 다른 모듈과 연결되어 인에이블 신호가 입력되면 검사 포인트들의 신호를 데이터라인을 통해 상기 제어부의 제2데이터 입출력 단자로 전송하는 다수의 검사 포인트 신호 전송부; 및

입력 단자에서 상기 제어부로부터 모듈 선택 신호를 받아 그에 따른 출력라인을 한 개 선택하여 상기 서로 다른 출력라인에 연결된 상기 검사 포인트 신호 전송부의 인에이블 단자로 인에이블 신호를 출력하는 모듈 선택부를 포함함을 특징으로 하는 고장 진단 장치.
제 1항에 있어서, 상기 디스플레이부는,

상기 모듈 고장 신호와 상기 검사 포인트 고장 신호의 가능한 모든 신호와 그 신호를 발생하게 하는 고장 부위들인 모듈들과 검사 포인트들의 이름을 모두 기억/저장 하고 있는 메모리; 및

상기 메모리로부터 전송된 모듈과 검사 포인트의 이름을 사용자에게 표시하는 표시 장치를 포함함을 특징으로 하는 고장 진단 장치.
다수의 검사 포인트를 가지는 복수의 모듈을 제어하는 시스템에서 상기 모듈의 제어를 위한 제어부, 고장 신호에 대응한 상기 모듈과 검사 포인트 이름을 저장한 메모리를 구비하여 상기 모듈의 고장을 진단하는 고장 진단 방법에 있어서,

상기 모듈의 검사 포인트에서 고장이 발생하면 인터럽트를 거는 제1단계;

상기 인터럽트가 걸리면 수행중이던 다른 동작을 멈추고, 고장난 모듈을 판별하는 제2단계;

상기 고장난 모듈을 선택하여 검사 포인트로부터 데이터를 전송받아 고장 부분인 검사 포인트를 판별하는 제3단계;

상기 고장난 모듈과 그 검사 포인트의 이름을 디스플레이하는 제4단계를 포함함을 특징으로 하는 고장 진단 방법.
제 6항에 있어서, 상기 제2단계의 고장난 모듈의 판별은,

상기 각 모듈의 검사 포인트 각각의 전압 레벨을 반영한 1 비트의 신호를 출력하는 단계;

상기 1 비트의 신호가 모듈수만큼의 비트수를 가진 데이터로서 상기 제어부와 상기 메모리에 출력되는 단계;

상기 제어부는 상기 데이터에서 고장이라고 판별되는 전압 레벨을 발생한 모듈을 판별하고, 상기 메모리는 상기 데이터에 대응되는 모듈명을 서치하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 고장 진단 방법.
제 6항에 있어서, 상기 제3단계의 고장 모듈 선택은,

상기 제어부에서 상기 고장난 모듈의 검사 포인트로부터의 신호가 상기 제어부와 상기 메모리에 전송 될 수 있도록 하는 것임을 특징으로 하는 고장 진단 방법.