KR102618271B1 - 번들 픽업 장치, 브러시 제조장치, 번들 피커 제조방법, 및 번들 픽업 장치의 대응 부품 제조방법 - Google Patents
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Abstract
브러시 제조 분야를 개선하기 위해, 본 발명은 특히 브러시 제조장치의 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8)를 포함하는 번들 픽업 장치(4)를 제안한다. 작동 위치에서 재료 박스(2) 내에 유지된 브리슬 공급부(3)와 대면하는 전면(11) 상에 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 포함한다. 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 노치 개구(13)를 한정하고 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 배향된 2 개의 대향하는 나이프 에지(14,15)를 가진다. 번들 픽업 장치(4)의 다른 부분은 상기 번들 피커(8)에 대향하는 분리 에지(17)가 제공된 상대 부품(9)를 포함한다. 브리슬 필라멘트(16)가 가능한 한 부드럽게 브리슬 공급부(3)로부터 제거되도록 하기 위해, 2 개의 나이프 에지(14,15) 또는 분리 에지(17) 중 적어도 하나는 라운드처리된다.
Description
본 발명은 브러시 제조 장치용 번들 픽업 장치에 관한 것이다. 번들 픽업 장치(bundle pickup devices)는 재료 박스에 대해 이동 가능한 번들 피커(picker)와, 상기 이동 가능한 번들 피커에 대해 고정된 대응 부품(counterpart)을 포함하며, 상기 번들 피커는 전면에서 사용 위치의 브리슬 재료와 대면하고 있는 적어도 하나의 번들 픽업 노치를 가지고, 상기 번들 픽업 노치는 상기 브리슬 공급부에서 상기 다수의 브리슬을 픽업하고, 픽업된 브리슬 번들을 브러시 제조장치로 공급하며, 번들 픽업 노치는 번들 피커의 이동 방향을 가로 지르는 방향으로 배향된 번들 픽업 노치의 노치 개구를 형성하는 두 개의 나이프 에지를 한정하고, 대응 부품은 번들 피커와 마주하는 분할 에지를 갖는다.
또한, 본 발명은 브리슬 공급부를 저장하기 위한 재료 박스 및 번들 픽업 장치를 가지고, 브리슬 번들을 재료 박스로부터 제거하기 위한 적어도 하나의 번들 피커를 갖는 브러시 제조장치에 관한 것이다.
또한, 본 발명은 번들 픽업 장치를 제조하는 방법 및 번들 픽업 장치의 대응 부품을 제조하는 방법에 관한 것이다.
이러한 번들 픽업 장치, 브러시 제조장치, 번들 피커를 생산하는 방법 및 번들 픽업 장치의 대응 부품을 제조하는 방법은 다른 실시예에서 종래 기술로부터 알려져 있다.
브리슬-필라멘트라고도 함-을 재료 박스(소정 길이의 브리슬로 절단하기 위한 저장 컨테이너라고도 함)에서 분할하거나 제거할 때, 각각의 브리슬은 재료 박스에서 번들 피커를 통하여 번들 픽업 노치 안에 분리된다.
번들 피커가 번들 픽업 노치로써 재료 박스 앞의 픽업 영역을 떠나자마자 번들 픽업 노치는 소위 대응 부품으로 폐쇄되어, 한정된 수의 브리슬 필라멘트의 번들이 번들 픽업 노치 안에 고정적으로 배치된다.
이 브리슬 필라멘트 번들은 번들 피커를 사용하여 다음 단계로 전달된다.
브리슬 필라멘트 번들은 브러시 제조장치의 스터핑 도구에 공급되고 브러시 몸체에 와이어 앵커와 함께 이 스터핑 도구에 의해 고정될 수 있다.
다른 유형의 브러시 제조에서, 브리슬 번들은, 카세트 또는 다른 용기 내에 한정된 브리슬 번들들을 한정하는, 번들 픽업 장치에 의해 공급된다.
그러나, 번들 픽업 노치에 배치된 브리슬 번들을 흡입장치를 이용하여 번들 픽업 노치에서 제거하고, 카세트 또는 다른 용기에 공급하는 것도 가능하다. 이러한 접근법은 브러시의 소위 고정없는 제조와 관련하여 사용된다.
종래의 브러시 제조장치에서는, 브리슬 번들은 양쪽 선단에서 절단되는 둥근 브리슬 필라멘트들로 이루어진다. 그 번들들은 번들 피커와 번들 피커 대응 부품을 사용하여 브러시 제조장치의 재료 박스에서 꺼내고, 스터핑 도구로 반으로 접은 다음, 앵커 와이어로 브러시 몸체 또는 브러시 몸체에 채운다. 다진 후, 번들의 끝은 밀링 커터로 특정 길이 또는 프로파일로 절단된다. 결과적으로 여러 번의 연마 작업을 통해 브리슬 번들의 끝이 라운드처리된다. 재료 박스에서 브리슬 번들을 분리할 때 그리고 브리슬 번들을 브러시 몸체에 삽입할 때 개별 브리슬 번들 또는 개별 브리슬 필라멘트가 지연될 수 있다. 이 문맥에서의 지연은 브리슬 번들의 브리슬 또는 개별 브리슬 필라멘트 번들이 한쪽으로 옮겨져서, 예를 들어 생산된 브러시의 브리슬 영역을 채우는 작업이 끝난 후 위쪽으로 세워질 수 있음을 의미한다.
이것은 종래의 브러시 제조장치로부터 공지된 바와 같이, 브리슬 장의 후속적인 밀링 및 연마에 의해 개선된다. 예를 들어, 단부가 전처리되고 재료 박스로부터 분리된 후에 필라멘트 단부의 처리가 더 이상 허용되지 않는 브리슬 필라멘트와 같이 더 까다로운 브리슬 재료가 처리에 사용되는 경우, 보다 높은 요구가 브리슬 픽업 장치에 의한 브리슬 번들의 제거 및 공급이 존재한다.
이러한 특별한 요구 사항은 특히 둥근 브리슬 필라멘트, 화학적으로 및/또는 기계적으로 날카롭게 된 브리슬 필라멘트 및 브리슬 단부에 마킹이 제공되는 브리슬 필라멘트의 가공에서 발생한다. 원형이 아닌 브리슬 필라멘트(예를 들어, 정사각형, 다각형, x 자형 또는 심지어 중공 형 단면을 갖는 것)의 경우에도, 재료 박스로부터의 붕소 필라멘트의 제거 및 하류 처리 단계로의 공급 특히 까다롭다.
번들 피커는 재료 박스에 번들 픽업 노치가 있는 획 및 반환 스트로크에서 두 개의 역 지점 사이를 통과하는 경우가 많다. 복귀 스트로크 동안, 번들 픽업 노치는 비어 있으며 재료 박스에 대응 부품체를 통과한 후에 이미 브리슬 필라멘트로 채워질 수 있다. 운동의 또 다른 반전 후, 번들 픽업 노치는 대응 부품에 다시 부딪치고 대응 부품에 형성되고 번들 피커와 마주하는 소위 분단을 발생시킨다.
이 때, 번들 픽업 노치의 폐쇄는 번들 픽업 노치가 대응 부품의 분할 에지를 지나 슬라이드 함으로써 시작하고, 대응 부품의 대응 부품과 마주하는 번들 피커에 의해 커버되고 그리고나서 폐쇄된다. 번들 픽업 노치를 닫을 때, 번들 픽업 노치 내의 브리슬 필라멘트는 최종적으로 재료 박스의 브리슬 필라멘트와 분리된다. 일부 브리슬 필라멘트는 대응 부품의 분할 에지가 형성된 대응 부품의 팁을 따라 재료 박스 내로 강제 복귀된다. 일부 브리슬 필라멘트는 번들 픽업 노치에 보관된다. 대응 부품에 의해 번들 픽업 노치를 닫을 때, 개별적인 브리슬 필라멘트가 손상될 수 있다. 손상된 요소들이 재료 박스로 다시 밀리거나 번들 픽업 노치에 남을 위험이 있다.
따라서, 손상된 브리슬 필라멘트가 처리되거나, 나중에 재료 박스 내로 밀어 넣은 브리슬 필라멘트가 번들 픽업 노치에 의해 재료 박스로부터 제거된 후 후속 공정 단계에 공급될 수 있다.
손상된 브리슬 필라멘트의 처리는 최종 브러시의 오류를 거부할 수 있는 정도까지 심각한 결과를 초래할 수 있다. 손상된 브리슬 필라멘트 중 일부는 꼬임을 가지고 브리슬 번들에서 측면으로 엿볼 수 있다. 일부 필라멘트는 휘게 하여 생산된 브러시의 브리슬 필드를 들여다 본다. 특히 브러시의 경우, 손상된 브리슬 필라멘트는 칫솔질 중 실패할 수 있으며, 필요하다면 삼키기도 한다.
따라서, 본 발명의 목적은 번들 픽업 장치, 브러시 제조장치 및 종래 기술에 따른 번들 픽업 장치 및 브러시 제조로부터 공지된 단점을 감소시키는, 정의된 유형의 번들 픽업 장치의 번들 피커 및 대응 부품을 제조하는 방법을 제공하는 것이다.
상기 목적은 독립항에 제공된 수단 및 특징으로 언급된 유형의 번들 픽업 장치로 달성되며, 특히 두 개의 나이프 에지 및/또는 분할 에지 중 적어도 하나는 그 종방향 연장을 횡단하도록 라운드 처리된다.
실제로, 에지의 기하학적 구조는 재료 박스의 브리슬 공급부로부터 브리슬 번들의 분리에 상호 작용하며, 즉 한편으로는 번들 피커의 적어도 하나의 나이프 에지와 다른 한편으로는 대응 부품의 가장자리를 분할, 재료 박스에서 브리슬 필라멘트를 손상없이 제거하는 데 중요한 역할을 담당한다. 번들 픽업 노치의 영역에서 제거 동안 협력하는 에지들 중 적어도 하나를 라운드처리함으로써, 에지들 사이에 모재 피복을 클램핑함으로써 모재 필라멘트를 제거할 때 개별 브리슬 필라멘트의 손상 위험이 감소될 수 있고, 따라서 다음 오류를 줄이거나 피할 수 있다.
재료 박스에서 브리슬 번들을 제거하고 제거된 브리슬 번들을 운반하기 위하여 대응 부품의 분할 에지에 두 개의 나이프 에지가 있는 번들 피커는 작은 거리로 하류 가공 단계로 이동하기 때문에, 가장자리를 아주 작은 거리까지 나눈다. 위에서 설명한 라운드처리에 의해, 브리슬 필라멘트는 더 조심스럽게 제거될 수 있다. 특히, 분할 에지와 나이프 에지 중 하나 사이의 브리슬 필라멘트가 갇히게 될 위험이 있는 경우, 각각의 에지를 라운드처리 하면 영향을 받은 브리슬 필라멘트가 비교적 쉽게 번들 픽업 노치 또는 비교적 부드럽게 푸시될 수 있다. 재료 박스에 다시 운반된다.
두 개의 나이프 에지의 하류 처리 단계 후 나이프 에지에 대한 분배 위치에 있는 브리슬 번들의 운송 방향 중 적어도 하나가 라운드 처리되어있는 것이 특히 바람직할 수 있다. 그러나 나이프 에지 및/또는 분할 에지 둘 다 라운드처리될 수도 있다. 이러한 방식으로, 브리슬 번들은 분배 위치 브리슬 번들의 방향으로 번들 피커의 스트로크에서 뿐만 아니라 재료 박스로부터 제거될 수 있다. 따라서 번들 피커의 복귀 행정으로도 부드러운 제거가 가능하다. 적어도 하나의 나이프 에지 및/또는 분할 에지는 반경 방향으로 그 길이 방향에 대해 횡 방향으로 라운드처리 될 수 있다. 하나 이상의 나이프 에지 및/또는 분할 에지의 반경 또는 반경은 0.005 내지 0.03 mm, 보다 바람직하게는 0.005 mm 내지 0.02 mm 일 수 있다.
상호 작용하는 표면의 품질은 또한 재료 박스로부터 번들을 부드럽게 제거하는 데 중요할 수 있기 때문에, 적어도 하나의 나이프 에지 및/또는 에지의 표면이 평탄화되면 유리할 수 있다. 바람직하게는, 상기 표면은 Ra <0.1, 또는 심지어 Ra <0.05, 보다 바람직하게는 Ra <0.02의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값을 가질 수 있다. 이러한 방식으로, 브리슬 필라멘트가 번들 픽업 노치의 방향으로 또는 특히 재료 박스 내로 용이하게 미끄러져 손상되거나 뒤틀리거나 구부러지지 않고 특히 활주할 수 있는 특히 부드러운 에지 표면이 생성된다.
상기 문제점을 해결하기 위해, 청구항 제 5 항의 수단 및 특징을 갖는 전술한 유형의 번들 픽업 장치가 제안된다. 따라서, 번들 픽업 장치의 적어도 하나의 나이프 에지의 길이가 번들 피커의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 측정된 번들 픽업 노치의 높이보다 작도록 제공된다. 이러한 방식으로, 나이프 에지와 분할 에지 사이의 브리슬 필라멘트가 대응 부품상에서 클램프되고 손상될 수 있는 길이가 감소될 수 있다. 이 경우, 적어도 하나의 나이프 에지의 길이는 번들 픽업 장치로 제거될 브리슬 필라멘트의 길이보다 짧을 수 있다.
이 특징은 또한 본 발명에 따른 번들 픽업 장치와 관련하여 전술한 특징과 결합될 수 있음을 알아야 한다. 개별 번들 필라멘트가 번들 픽업 노치에 의해 재료 박스로부터 제거될 때 손상될 위험을 더 줄이기 위해, 나이프 에지 챔퍼 및/또는 나이프 에지가 번들 픽업 노치의 종축에 횡 방향으로 배향되고 적어도 하나의 나이프 에지는 나비 형상으로 형성된다. 이를 통해 나이프의 길이가 제한될 수 있다. 그러나, 번들의 길이 방향 축선을 가로 지르는 2 개의 사이에서, 번들의 노치 방향 편평한면 및 적어도 하나의 나이프 에지가 각각 적어도 하나의 나이프 에지 챔퍼 및/또는 적어도 하나의 나이프 에지 원호를 감소시킬 수도 있다. 이 모든 것이 적어도 하나의 나이프 에지가 적어도 두 개의 나이프 에지 챔퍼 및/또는 나이프 에지 아크 사이에 배치되어, 적어도 하나의 나이프 에지의 길이는 가로로 측정된 번들 픽업 노치의 높이보다 작을 수 있다.
또한 이와 같이, 나이프 에지의 길이는 감소될 수 있고, 번들 피커의 이동 방향을 가로 질러 측정된 번들 픽업 노치의 높이보다 작을 수 있다. 또한, 나이프 에지는 적어도 2 개의 나이프 에지 챔퍼 또는 나이프 에지 아크 사이에 대칭적으로 배치될 수 있다.
번들 픽업 노치는 적어도 2 개의 나이프 에지들 중 하나에 인접하여, 특히 번들 번들의 이송 방향으로 나이프의 후방 에지에 대해, 번들 픽업 노치 내로의 평평한 입구 챔퍼를 가질 수 있다. 나이프 에지로부터 시작하는 입구 챔퍼가 증가하여, 그 과정에서 나이프 에지로부터 시작하는 입구 챔퍼가 증가하는 재료 두께를 가지므로 나이프 에지에 인접하여 나이프 에지보다 인접한 측면보다 얇은 두께를 갖도록 제공될 수 있다. 상기 입구 챔퍼의 나이프 에지 부분으로부터 멀어지는 방향을 향한다.
또한, 번들 픽업 노치의 종 방향 중심 축에 대해 횡 방향 또는 직각으로 배향된 번들 픽업 노치의 적어도 하나의 노치 에지가 라운드 처리되면 유리할 수 있다. 이 경우에, 적어도 하나의 노치 에지는 노치 에지 반경, 바람직하게는 0.005 내지 0.03 mm의 길이를 갖는 노치 에지 반경으로 라운딩처리될 수 있다.
상기 문제점을 해결하기 위해, 제 9 항의 수단 및 특징을 갖는 전술한 유형의 번들 픽업 장치가 제안된다. 따라서, 특히, 분할 에지의 길이가 번들 집기의 이동 방향을 가로 지르는 방향으로 측정된 대응 부품의 높이보다 작거나 및/또는 방향을 가로 질러 측정된 번들 픽업 노치의 높이보다 작도록 제공된다.
따라서, 분할 에지의 길이는 번들 픽업 장치로 브리슬 공급부에서 제거할 수 있는 브리슬 필라멘트의 길이보다 짧을 수 있다. 이 특징은 또한 본 발명에 따른 번들 픽업 장치와 관련하여 전술한 특징과 결합될 수 있다.
본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 또 다른 실시예에서, 대응 부품은 분할 에지의 종 방향에 대해 횡 방향으로 배향된 적어도 하나의 분할 에지 챔퍼 및/또는 횡 방향으로 배향된 적어도 하나의 분할 에지 챔퍼의 길이가 제한되도록 제공될 수 있다.
그러나, 대응 부품은 분할 에지의 종 방향 연장을 가로 지르는 방향으로 적어도 2 개의 분할 에지 챔퍼 및/또는 분할 에지의 종 방향 연장을 가로 지르는 방향으로 배향된 적어도 2 개의 분할 에지 아크를 가질 수 있다. 분할 에지가 배치된다. 이것은 분할 에지의 길이가 번들 집게의 이동 방향을 가로 지르는 방향으로 측정된 대응 부품보다 작도록 설정된다.
분할 에지는 적어도 하나의 분할 에지 챔퍼 및/또는 적어도 하나의 분할 에지 아크를 통해 대응 부품의 상부 측 및/또는 하부 측에 연결될 수 있다. 따라서, 두 경우 모두, 분할 에지의 길이는 번들 픽업 장치의 이동 방향을 가로 질러 측정된 대응 부품보다 작을 수 있다. 이 측정은 분할 에지의 길이를 줄이기 위해 나이프 에지 챔퍼 및/또는 반경 및/또는 하나 이상의 나이프 에지 영역에서 번들 피커에 대한 나이프 에지 아크의 부착과 유사하다. 이것은 분열 에지와 번들 피커의 적어도 하나의 나이프 에지 사이에 형성될 수 있는 클램핑 영역의 길이를 최소화하여 재료 박스로부터 브리슬 필라멘트를 제거하는 동안 브리슬 필라멘트에 대한 손상을 줄이거나 피하는 것을 목적으로 한다.
이와 관련하여, 나이프 에지들 및/또는 분할 에지 중 적어도 하나가 번들 피커의 이동 방향에 대해 및/또는 배치될 브리슬 번들들의 방향에 평행하게 배향되는 것이 유리할 수 있다. 하나 이상의 나이프 에지 및 분할 에지 모두는 원호형 에지의 일부 또는 전체 원호에 형성될 수 있다.
원칙적으로, 분할 에지에 대해 횡단 또는 직각으로 배향된 적어도 하나의 에지는 라운딩될 수 있다. 특히, 브리슬 필라멘트와 접촉 할 수 있는 가장자리가 있는 경우에는 이러한 라운드처리가 적절할 수 있다. 이 방법으로 대응 부품의 모든 가장자리를 라운드처리 할 수도 있다. 둥근 에지는 반경, 바람직하게는 0.005 mm 내지 0.03 mm의 길이의 반경으로 라운드처리될 수 있다.
상기 목적은 청구항 12의 수단 및 특징을 갖는 번들 픽업 장치에 의해서도 달성된다. 특히, 앞에서 언급된 형태의 번들 픽업 장치에서, 번들 피커는 전방 측면에 대하여 횡방향으로 또는 직각으로 배향된 적어도 하나의 단부 챔퍼 및/또는 일정한 반경으로 한정된 단부면을 포함하는 것이 제안된다.
이 경우 적어도 하나의 챔퍼는 번들 피커의 끝면에 대해 20 ° 내지 80 °의 각도로 정렬된다. 챔퍼의 폭은 0.05 mm에서 0.4 mm 사이일 수 있다. 적어도 하나의 단부 챔퍼의 에지가 0.005 mm 내지 0.03 mm의 반경을 갖는 것이 유리할 수 있다.
상기 목적은 청구항 14의 수단 및 특징을 갖는 번들 픽업 장치에 의해서도 달성된다. 특히, 앞에서 언급된 유형의 번들 픽업 장치에서, 대응 부품의 박스 측에 대면하는 브리슬 공급부 및/또는 대응 부품의 픽업 측면을 향한 번들 픽업 노치가 적어도 하나의 측면 챔퍼 및/또는 적어도 한면 반경/지주를 가지며, 이를 통해 박스 측면의 각각의 측면 전 방면 및/또는 제한된다.
이 경우, 박스 측면의 측면 챔퍼 인접 측면 중 하나에 대해 20 ° 내지 80 °의 각도로 박스 측면 상에 적어도 하나의 측면 챔퍼가 정렬된다. 또한 대응 부품의 측부상의 적어도 하나의 챔퍼는 측면 챔퍼에 인접한 구매자 측의 측면에 대해 20 ° 내지 80 °의 각도로 정렬될 수 있다.
이 경우 각각의 측면 챔퍼는 0.05mm와 0.4mm 사이의 챔퍼 폭을 가진다. 측면 경사의 에지 에지는 0.005mm에서 0.03mm 사이의 반경으로 라운딩 할 수 있다.
이러한 브러시 제조장치에서 재료 박스는 2 개 또는 3 개 이상의 개별 브리슬 매거진과 함께 사용되며,이 브리슬에서 브리슬 번들은 번들과 적어도 하나의 번들 픽업 노치를 사용하여 제거 할 수 있다. 원칙적으로 이것은 재료 박스의 개별 브리슬 매거진을 점차적으로 제거 위치로 가져옴으로써 수행된다. 이를 위해 재료 박스는 피벗 축을 중심으로 선회 가능하다. 피봇 축을 중심으로 재료 박스의 피봇 팅을 가능하게 하기 위해, 재료 박스의 대응 부품 및 대향하는 면을 향하는 번들 피커가 상응하는 곡선을 가지며, 특히 원호 윤곽을 따라 만곡된 것이 유리할 수 있으며, 그것은 대응 부품을 따라 과거에 선회될 수 있다.
이와 관련하여, 브리슬 공급부에 대향하는 대응 부품의 박스 측이 적어도 제 1 섹션 및 제 2 섹션으로 세분되는 것이 유리할 수 있다. 이 경우, 제 1 섹션은 제 1 반경만큼 종 방향 범위를 따라 구부러 질 수 있다. 또한, 제 2 부분은 제 2 반경만큼 종 방향 범위를 따라 구부러 질 수 있다. 두 번째 반경이 첫 번째 반경보다 클 수 있다.
본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 다른 실시예에서, 분할 에지(17)의 하나의 자유단에서, 적어도 제 1 부분에서 대응 부품의 앞서 언급한 브리슬 공급 대면 측은 예를 들어, 배열되어 두 번째 섹션으로 나뉜다. 제 1 섹션은 길이 방향 연장 부를 따라 제 1 반경에 의해 구부러질 수 있고, 그 동안에 제 2 섹션은 직선 경로가 구부러진 경로를 갖는다.
대응 부품의 생산을 용이하게 하고, 특히 대응 부품에서 분할 에지의 재료 - 완만한 라운딩을 허용하기 위해, 제 1 반경이 제 2 반경과 반대 방향으로 구부러지면 이점이 될 수 있다. 예를 들어 재료 박스 및 브리슬 공급원으로부터 구부러진 경우, 분할 에지는 대응 부품의 제 1 부분의 자유단에 배열될 수 있다.
대응 부품의 통상적인 변형예에서, 분할 에지는 접선 방향으로 서로 접근하는 2 개의 반경, 즉 재료 박스를 향하는 반경 및 번들 집게와 마주하는 반경으로 형성되는 것이 제공된다. 분할 에지가 여기에서 라운드처리된 경우 대응 부품의 재료가 상대적으로 많이 손실되면 라운드처리가 수반된다. 이것은 비교적 먼 뒤로 라운드처리함으로써 통상적으로 제조된 대응 부품의 분할 에지가 전체 번들 픽업 장치의 기하학적 구조의 값 비싼 적응을 초래한다는 것을 의미한다.
박스 측의 제 1 부분이 제 2 부분의 반경과 비교하여 굴곡되는 음의 방향으로 배치된 반경으로 인해, 재료 손실을 적게 하면서 분할 에지의 바람직한 라운드처리가 가능하다. 여기에서, 둘의 분할 에지는 대응 부품의 박스 측면의 첫 번째 섹션의 반경에 반대로 접근하고 다른 한편으로는 상대자의 픽업 측면, 반지름에는 접선 접근 경로가 없지만 오히려 교차하는 코스로 인해 분할 에지 리드의 재료 손실이 낮은 라운드처리에 유리한 기하학적 조건이 발생한다.
재료 박스로부터의 브리슬 필라멘트의 제거를 더욱 신뢰성 있고 부드럽게 하기 위해, 번들 피커의 적어도 하나의 표면이 평탄화될 수 있다.
구체적으로는, 예를 들면, 적어도 하나의 면 또는 나이프 에지 반경, 하나 또는 나이프 에지 경사, 나이프 에지 아크, 노치 에지 반경, 단면, 챔퍼, 정면 반경 및/또는 챔퍼 에지가 적어도 하나의 경사를 가질 수 있다.
또한, 번들 픽업 노치의 내면을 평활하게 할 수 있다. 각각 매끄럽게 된 표면은 0.1 미만, 0.05 미만, 및 특히 바람직하게는 0.02 미만의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값 Ra를 가질 수 있다. 이것은 또한 브리슬 필라멘트를 보다 부드럽게 처리할 수 있다.
유사한 방식으로, 대응 부품은 또한 적어도 하나의 평탄한 표면을 가질 수 있다. 따라서, 대응 부품의 다른면 중, 분할 에지 반경의 표면, 분할 에지 경사, 분할 에지 아크, 박스 측의 측면, 대응 부품의 수신 측의 측면, 측면 챔퍼, 측면 반경 및/또는 적어도 하나의 챔퍼는 대응 부품상의 챔퍼 중 적어도 하나를 포함한다.
평탄화된 표면의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값 Ra는 0.1 미만, 바람직하게는 0.05 미만, 특히 바람직하게는 0.02 미만일 수 있다. 번들 피커 및/또는 대응 부품분의 표면, 특히 제거 공정 중에 브리슬 필라멘트와 직접 접촉 할 수 있는 이전에 구체적으로 지정된 번들 피커 및/또는 대응 부품분의 표면의 평탄화 또는 매우 매끄러운 디자인은 브리슬을 재료 박스에 넣고 브리슬 공급부의 브리슬 필라멘트를 제거한다. 이는 특히 마지막 브리슬 필라멘트가 브리슬 공급부로부터 분리될 때 및/또는 번들 픽업 노치상의 적어도 하나의 나이프 에지 및/또는 대응 부품의 분할 에지가 라운드처리될 때 특히 그러하다.
픽업 측면에서, 대응 부품은 하류 처리 단계, 특히 스터핑 도구에서 브리슬 필라멘트의 분배 위치에 인접하게 배치된 공구에 유입면 챔퍼가 있는 한면 또는 양면에 제공될 수 있다.
번들 피커의 번들 픽업 노치는 조정 가능한 번들 픽업 노치일 수 있다.
번들 픽업 노치를 조정하기 위해, 번들 픽업 장치는 필요에 따라 번들 픽업 노치의 노치 깊이가 변경될 수 있는 조정 장치를 가질 수 있다. 필요한 경우, 이 조정 장치로 번들 픽업 노치의 노치 형상을 변경하거나 번들 제거에 배치된 번들을 번들 픽업 노치에서 배출할 수 있다.
적어도 하나의 번들 픽업 노치 및/또는 적어도 하나의 나이프 에지 및/또는 분할 에지 및/또는 적어도 하나의 챔퍼는 HSC 밀링에 의해 및/또는 번들 픽업 노치에서 특히 효율적으로 만족스러운 품질로 생성될 수 있다.
번들 피커 및/또는 대응 부품의 매끄러운 표면은 연마에 의해 제조될 수 있다.
또한, 적어도 하나의 나이프 에지의 적어도 하나의 나이프 에지 반경, 분할 에지의 분할 에지 반경 및/또는 번들 피커상의 적어도 하나의 챔퍼의 경사 에지에서의 적어도 하나의 반경 및/또는 대응 부품상에서 연마, 연마 및/또는 연마에 의해 생산 및 /
그 중에서도 진동 연마, 유동 연마, 플라즈마 연마, 드래그 연마, 드래그 정삭 및/또는 핸드 폴리싱 및/또는 전기 화학적 디버링이 가능한 방법으로 사용된다. 앞에서 언급한 방법 중 하나만 사용하여 위에서 언급한 표면 또는 반지름과 호를 만들거나 여러 차례 연속적으로 수행하는 절차를 통해 생산할 수 있다.
본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 특히 바람직한 실시예에서, 번들 피커는 피봇 축을 중심으로 선회 가능하거나 회전 가능한 원호형 분할기일 수 있다.
본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 다른 변형예에서, 번들 피커는 피봇 축을 중심으로 선회 가능하거나 회전 가능한 원형 번들 픽업 디스크인 것이 또한 제공될 수 있다. 이것은 어떻게 구성되어 있는지에 관계없이 번들 피커에 배열될 수 있다. 또한 수 개의 브리슬 번들과 동일한 허브에서 재료 박스를 제거하기 위해 선택적으로 다른 노치 형상으로 여러 번들 픽업 노치가 배치될 수 있다.
특히, 원호형 분할기 또는 원형 시트 또는 원형 번들 픽업 디스크로 설계된 번들 피커를 사용하는 경우, 상대 부품의 수신 측을 향한 번들 피커가 볼록하게 동일한 반지름으로 오목하게 구부러진 경우 유용 할 수 있다 번들 피커의 특정 반경 앞에서 만곡되고,
나이프 에지 및/또는 분할 에지가 0.4mm와 1.4mm 사이의 길이 및/또는 적어도 하나의 직선, 예를 들어, 번들의 이동 방향에 대해 직각 인 경우, 나이프 에지 및/또는 분할 에지가 길이 0.01 mm 사이이고 0.8 mm를 갖는다.
상기 목적은 또한 브러시 제조장치에 관한 독립항의 수단 및 특징을 포함하는 전술한 유형의 브러시 제조장치에 의해 달성된다.
특히, 번들 픽업 장치가 번들 픽업 장치의 청구항에 관한 특허 청구 범위 중 하나 인 점에서 상기 언급된 유형의 브러시 제조장치에서 문제가 해결된다.
상기 목적은 또한 번들 피커, 특히 제 1 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 따른 번들 픽업 장치의 번들 피커를 제조하는 방법에 의해 달성되며, 제 24 항의 수단 및 특징을 포함한다.
번들 피커를 제조하는 방법에서, 특히 제 1 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 따른 번들 픽업 장치가 상기 언급된 문제점을 해결하기 위해 제공되며, 특히 적어도 하나의 번들 픽업 노치 및/또는 적어도 하나의 나이프 에지 챔퍼 및/또는 나이프 에지 아크 및/또는 챔퍼 및/또는 상기 챔퍼의 반경 및/또는 상기 번들 피커상의 상부면 및/또는 하부 에지 챔퍼 및/또는 노치 에지 번들 픽업 노치 및/또는 번들 피커상의 적어도 하나의 경사의 에지 및/또는 번들 픽업 노치의 내측면이 HSC 밀링 및/또는 HSC 연마에 의해 생성된다.
상기 목적은 또한 제 25 항에 따른 방법에 의해 달성되고, 특히 제 1 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 따른 번들 픽업 장치의 번들 피커 제조방법에 의해 달성된다. 상기 번들 피커의 적어도 하나의 매끄러운 표면은 연마 및/또는 폴리싱에 의해 제조 및/또는 재가공된다. 적절한 경우 이 프로세스를 이전에 정의한 프로세스 단계와 결합할 수 있다.
이 경우, 적어도 하나의 나이프 에지 반경, 나이프 에지 챔퍼, 나이프 에지 아크, 노치 에지 반경, 단면, 챔퍼,면 반경, 적어도 하나의 챔퍼의 챔퍼 에지 및 또는 번들 픽업 노치의 내측면은 연마 및/또는 연마 및/또는 후 처리에 의해 평활하게 될 수 있다.
또한, 이 방법에서, 적어도 하나의 나이프 에지 반경, 하나의 나이프 에지 챔퍼, 하나의 나이프 에지 아크, 하나의 노치 에지, 적어도 하나의 챔퍼 및/또는 번들 픽업 노치의 내측면 또는 챔퍼 에지, 반경, 단부면, 단부 챔퍼는 플라즈마 연마, 드래그 연마, 드래그 마무리 및/또는 수작업 연마 및/또는 전기 화학적 디버링에 의해 수행될 수 있다.
이 경우, 연마제로서, 습식 및/또는 건식 입자, 도재 연마용 플라스틱 연마재, 세라믹 연마재, 스테인레스 칩, 구리 핀, 특히 직경이 약 0.2 mm이고 길이가 약 1 mm 인 스테인레스 스틸 연마제, 지르코니아 볼을 사용할 수 있다.
상기 목적은 또한, 번들 픽업 장치의 대응 부품을 제조하는 방법에 관한 독립항의 수단 및 특징을 갖는 대응 부품을 제조하기 위한 전술한 방법에 의해 달성된다.
특히, 번들 픽업 장치의 대응 부품, 특히 제 1 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 따른 번들 픽업 장치를 제조하는 방법이 제안되며, 여기서 대응 부품품의 적어도 하나의 매끄럽게 된 표면은 연마 및/또는 연마에 의해 제조된다.
예로서, 다음의 표면이 생성 및/또는 완성될 수 있다: 분할 에지 반경, 분할 에지 경사, 분할 에지 아크, 측면, 측면 챔퍼, 측면 반경 및/또는 적어도 한면에 챔퍼가 있다.
이 경우, 제조 및/또는 후 처리는 진동 마무리, 유동 연마, 플라즈마 연마, 드래그 연마, 드래그 마무리 및/또는 핸드 폴리싱 및/또는 전기 화학적 디버링에 의해 수행될 수 있다.
연마제 또는 연마제로서, 습식 및/또는 건식 과립, 자기 연마 체, 플라스틱 연마 체, 세라믹 연마체, 칩, 구리 스틱, 특히 직경이 약 0.2 mm이고 길이가 약 1 mm 인 것, 스테인레스 연마제, 지르코니아 볼, 미세 연마제, 플라스틱 연마제, 습식 연마제, 연마 페이스트, 호두 과립, 옥수수 과립 및/또는 건식 연마 과립이 사용된다.
생산 또는 후 처리 방법으로서의 진동 마무리에 의해, 특히 구리 핀이 연마제 및/또는 연마제로서 사용되는 경우, 합리적인 시간의 지출로 고품질 가공 결과를 신뢰성있게 달성하는 것이 가능하다.
드래그 그라인딩시, 다수의 공작물, 즉 복수 개의 번들 피커 및/또는 대응 부품이 캐리어에 부착되어 하나의 작업으로 동시에 처리될 수 있다.
다른 것들 중, 이 세립의 호두 과립은 연마 또는 연마제로 사용될 수 있으며 가공 시간이 단축될 수 있다.
전술한 번들 픽업 장치의 대응 부품 및 번들 피커는 경화성 강, 예를 들어 HS 강으로 제조될 수 있다.
이 경우, 연강은 소프트 상태의 단면 또는 표면에 공차가 있는 소재로 제작할 수 있다.
그런 다음 홀 및 장착 및 정렬 에지와 같은 개별 윤곽을 만들 수 있다.
이어서, 번들 피커의 블랭크 및/또는 대응 부품을 그의 전방 측에서 경화시키고 연마하여 측정 할 수 있다.
이것은 보통 반제품이다.
이어서, 번들 피커 및/또는 대응 부품의 제조 또는 완성에 대한 청구 범위에서 설명된 처리 단계가 수행될 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 브러시 제조장치의 사시도로서, 피봇 축을 중심으로 선회가능한 번들 피커를 가진 원호형 분할기의 형태의 번들 픽업 장치와 스터핑 도구를 가진, 브러시 제조장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 제 1 변형예의 사시도를 도시하며, 번들 픽업 노치의 나이프 에지가 나이프 에지에 인접하게 배열된 2 개의 나이프 에지 챔퍼에 의해 길이가 감소되고, 번들 피커는 또한 상부 측면 및 하부 측면 경사를 가지는 것을 보여주고,
도 2a는 도 2의 원으로 표시된 상세를 확대하여 도시하고, 나이프 에지의 길이에 대응하는 길이로 각각 상측 및 하측 분할 에지 챔퍼를 부착함으로써 대응 부품의 분할 에지가 감소되는 것을 보여주고,
도 3은 본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 다른 실시예의 또 다른 사시도로서, 번들 픽업 노치의 나이프 에지가 나이프 에지에 인접된 2 개의 나이프 에지 아크 또는 원호에 의해 경계 지어지며,
도 3a는 도 3의 원으로 표시한 부분의 확대도로서, 번들 픽업 장치의 대응 부분의 분할 에지가 번들 피커의 나이프 에지에 대응하여 직선형으로 형성되고, 나이프 에지 및 분할 에지가 번들 피커의 이동 방향에 직각으로 배향된 것을 보여주고,
도 4는 본 발명에 따른 제 3 실시예의 번들 픽업 장치의 사시도를 도시하며,
도 4a는 도 4의 원으로 표시된 부분을 확대하여 도시한 것으로, 각각의 경우에 나이프 에지 및 에지 아크는 나이프 에지로 이어지는 상부 측 및 하부 측 에지에 접하게 되는 것을 알 수 있고,
도 5는 날카로운 분할 에지가 형성된 테이퍼 형 대응 부품에 인접한 위치에서의 종래의 번들 피커의 평면도이고,
도 5a는 도 5에서 원으로 표시된 세부 사항의 확대도로서, 날카로운 나이프 에지와 예리한 분할 에지 사이에 배치된 브리슬 필라멘트가 보일 수 있으며,
도 6은 라운드처리된 분할 에지를 갖는 대응 부품에 인접한 위치에 있는 본 발명에 따른 번들 피커의 평면도이며,
도 6a는 도 6의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 번들 피커의 라운드처리된 나이프 에지와 대응 부품의 라운드처리된 분할 에지 사이에 배치된 브리슬 필라멘트가 도시되어 있으며,
도 7은 대응 부품의 팁에서 예리하고 급격히 경사진 분할 에지를 갖는 종래의 대응 구조물의 평면도이고,
도 8은 도 7에 도시된 대응 부품의 평면도로서, 분할 에지의 라운딩 후에 명확하게 관찰될 수 있는 데, 분할 에지의 라운딩처리에 의해 대응 부품의 팁이 크게 단축된다는 것을 명확하게 알 수 있고,
도 9는 본 발명에 따른 대응 부품의 평면도로서, 대응 부품의 박스 측은 제 1 반경을 갖는 제 1 섹션 및 제 1 반경과 반대 방향으로 절곡된 제 2 반경을 갖는 제 2 섹션으로 이루어진다는 것을 알 수 있고,
도 10은 분할 에지의 라운딩 후의 9에 도시된 대응 부품의 평면도이고, 도시된 측정 팁에 의해 분할 에지가 라운딩에 의해 배치되는 대응 부품의 팁이 두 개의 서로 다른 반경으로 인해 대응 부품의 박스 측면의 두 섹션의 반경은 상대적으로 단축되고,
도 11은 원호형 분할기의 형태의 번들 피커의 평면도로서, 번들 피커는 평균 표면 조도 Ra가 약 0.4 인 평탄화된 표면을 갖는 번들 픽업 노치를 포함하고,
도 12 내지 도 14는 3 개의 상이한 번들 피커의 3 개의 측면도를 도시하며,
도 12a는, 도 12에 원형으로 표시된 부분의 확대도로서, 원호의 단부면에서 에지가 처리되지 않고,
도 13a는 도 13의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 번들 피커의 단부면의 단부면에는 2 개의 에지측 단부 챔퍼가 제공되고, 단부면의 단부면 및 챔퍼면은 평탄화되고 Ra의 평균 표면 조도 값은 약 0.1이고,
도 14a는 도 14의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 단부면은 원호의 전면에 0.005 mm 내지 0.03의 반경으로 라운딩처리된 에지 챔퍼가 제공되고, 단부면의 표면 조도 및 챔퍼면 및 반경은 Ra <0.05의 평균 표면 조도 값을 가지며,
도 15는 본 발명에 따른 대응 부품의 평면도이고,
도 16은 도 15에 도시된 대응 부품의 제 1 변형을 도시한 도면으로서 도 15의 절단선을 따라 절단한 정면도이고,
도 17은 본 발명에 따른 대응 부품의 또 다른 변형예의 도면으로서, 도 15의 절단선을 따라 절단한 제 2 정면도를 도시하고,
도 18은 도 15에 도시된 절단선을 따라 절단된, 본 발명에 따른 대응 부품의 제 3 변형예의 정면도를 도시하고,
도 16a는 도 16의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 대응 부품의 에지 중 어느 것도 가공되지 않은 것을 보여주고,
도 17a는 도 17의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 대응 부품의 박스 측 및 픽업 측에는 각각 측면 챔퍼가 제공되는 것을 볼 수 있으며,
도 18a는 도 18의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 대응 부품의 박스 측 및 픽업 측에는 반경이 라운드처리된 측면 챔퍼의 챔퍼가 있는 에지 측 측면 챔퍼가 제공되는 것을 알 수 있으며,
도 19는 본 발명에 따른 또 다른 대응 부품의 측면도를 도시하며, 분할 에지는 대응 부품의 팁에서 볼 수 있으며,
도 20은 본 발명에 따른 또 다른 대응 부품의 측면도이며, 분할 에지는 대응 부품의 팁에서 볼 수 있으며,
도 19a는 도 19의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 분할 에지는 2 개의 분할 에지 챔퍼에 의해 경계가 정해지고,
도 20a는 도 20에서 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 분할 에지는 2 개의 분할 에지 아크에 의해 경계 지워지고,
도 21은 원호형 분할기 형태의 종래 기술에 따른 번들 피커의 사시도이고,
도 22는 챔퍼가 없고 반경이 없는 종래 기술의 번들 픽업 장치의 확대도이고,
도 23 내지 도 39는 번들 픽업 노치가 있는 번들 피커의 다양한 변형으로, 나이프 에지 챔퍼 및/또는 나이프 에지 아크 뿐만 아니라 번들 픽업 노치를 커버하는 상부 및/또는 하부 번들 픽업 노치의 다양한 조합으로 길이가 제한되고,
도 40은 총 3 개의 다른 크기의 번들 픽업 노치를 갖는 원호형 분할기의 형태의 본 발명에 따른 번들 피커의 사시도로서, 그 각각의 나이프 에지는 상이한 나이프 에지 챔퍼 및 나이프 에지 원호에 의해 길이가 정해지고,
도 41은 본 발명에 따른 번들 피커의 깊이 및 단면에서 조정될 수 있는 아치형 노치를 갖는 원호형 분할기의 형태의 사시도를 도시하고,
도 42는 복수의 번들 픽업 노치가 제공된 원형 번들 픽업 디스크의 사시도이고, 좌측의 3 개의 번들 픽업 노치는 표준 번들 픽업 노치이고, 중간의 3 개의 번들 픽업 노치 하나의 출구 방향은 축 방향으로 배치되고, 우측의 3 개의 번들 픽업 노치는 평행 출구를 갖는 것들이며, 출구 방향은 서로 평행하게 배향되고, 모든 노치는 도시된 변형예 중 하나에 따라 형성될 수 있다.
도 2는 본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 제 1 변형예의 사시도를 도시하며, 번들 픽업 노치의 나이프 에지가 나이프 에지에 인접하게 배열된 2 개의 나이프 에지 챔퍼에 의해 길이가 감소되고, 번들 피커는 또한 상부 측면 및 하부 측면 경사를 가지는 것을 보여주고,
도 2a는 도 2의 원으로 표시된 상세를 확대하여 도시하고, 나이프 에지의 길이에 대응하는 길이로 각각 상측 및 하측 분할 에지 챔퍼를 부착함으로써 대응 부품의 분할 에지가 감소되는 것을 보여주고,
도 3은 본 발명에 따른 번들 픽업 장치의 다른 실시예의 또 다른 사시도로서, 번들 픽업 노치의 나이프 에지가 나이프 에지에 인접된 2 개의 나이프 에지 아크 또는 원호에 의해 경계 지어지며,
도 3a는 도 3의 원으로 표시한 부분의 확대도로서, 번들 픽업 장치의 대응 부분의 분할 에지가 번들 피커의 나이프 에지에 대응하여 직선형으로 형성되고, 나이프 에지 및 분할 에지가 번들 피커의 이동 방향에 직각으로 배향된 것을 보여주고,
도 4는 본 발명에 따른 제 3 실시예의 번들 픽업 장치의 사시도를 도시하며,
도 4a는 도 4의 원으로 표시된 부분을 확대하여 도시한 것으로, 각각의 경우에 나이프 에지 및 에지 아크는 나이프 에지로 이어지는 상부 측 및 하부 측 에지에 접하게 되는 것을 알 수 있고,
도 5는 날카로운 분할 에지가 형성된 테이퍼 형 대응 부품에 인접한 위치에서의 종래의 번들 피커의 평면도이고,
도 5a는 도 5에서 원으로 표시된 세부 사항의 확대도로서, 날카로운 나이프 에지와 예리한 분할 에지 사이에 배치된 브리슬 필라멘트가 보일 수 있으며,
도 6은 라운드처리된 분할 에지를 갖는 대응 부품에 인접한 위치에 있는 본 발명에 따른 번들 피커의 평면도이며,
도 6a는 도 6의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 번들 피커의 라운드처리된 나이프 에지와 대응 부품의 라운드처리된 분할 에지 사이에 배치된 브리슬 필라멘트가 도시되어 있으며,
도 7은 대응 부품의 팁에서 예리하고 급격히 경사진 분할 에지를 갖는 종래의 대응 구조물의 평면도이고,
도 8은 도 7에 도시된 대응 부품의 평면도로서, 분할 에지의 라운딩 후에 명확하게 관찰될 수 있는 데, 분할 에지의 라운딩처리에 의해 대응 부품의 팁이 크게 단축된다는 것을 명확하게 알 수 있고,
도 9는 본 발명에 따른 대응 부품의 평면도로서, 대응 부품의 박스 측은 제 1 반경을 갖는 제 1 섹션 및 제 1 반경과 반대 방향으로 절곡된 제 2 반경을 갖는 제 2 섹션으로 이루어진다는 것을 알 수 있고,
도 10은 분할 에지의 라운딩 후의 9에 도시된 대응 부품의 평면도이고, 도시된 측정 팁에 의해 분할 에지가 라운딩에 의해 배치되는 대응 부품의 팁이 두 개의 서로 다른 반경으로 인해 대응 부품의 박스 측면의 두 섹션의 반경은 상대적으로 단축되고,
도 11은 원호형 분할기의 형태의 번들 피커의 평면도로서, 번들 피커는 평균 표면 조도 Ra가 약 0.4 인 평탄화된 표면을 갖는 번들 픽업 노치를 포함하고,
도 12 내지 도 14는 3 개의 상이한 번들 피커의 3 개의 측면도를 도시하며,
도 12a는, 도 12에 원형으로 표시된 부분의 확대도로서, 원호의 단부면에서 에지가 처리되지 않고,
도 13a는 도 13의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 번들 피커의 단부면의 단부면에는 2 개의 에지측 단부 챔퍼가 제공되고, 단부면의 단부면 및 챔퍼면은 평탄화되고 Ra의 평균 표면 조도 값은 약 0.1이고,
도 14a는 도 14의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 단부면은 원호의 전면에 0.005 mm 내지 0.03의 반경으로 라운딩처리된 에지 챔퍼가 제공되고, 단부면의 표면 조도 및 챔퍼면 및 반경은 Ra <0.05의 평균 표면 조도 값을 가지며,
도 15는 본 발명에 따른 대응 부품의 평면도이고,
도 16은 도 15에 도시된 대응 부품의 제 1 변형을 도시한 도면으로서 도 15의 절단선을 따라 절단한 정면도이고,
도 17은 본 발명에 따른 대응 부품의 또 다른 변형예의 도면으로서, 도 15의 절단선을 따라 절단한 제 2 정면도를 도시하고,
도 18은 도 15에 도시된 절단선을 따라 절단된, 본 발명에 따른 대응 부품의 제 3 변형예의 정면도를 도시하고,
도 16a는 도 16의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 대응 부품의 에지 중 어느 것도 가공되지 않은 것을 보여주고,
도 17a는 도 17의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 대응 부품의 박스 측 및 픽업 측에는 각각 측면 챔퍼가 제공되는 것을 볼 수 있으며,
도 18a는 도 18의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 대응 부품의 박스 측 및 픽업 측에는 반경이 라운드처리된 측면 챔퍼의 챔퍼가 있는 에지 측 측면 챔퍼가 제공되는 것을 알 수 있으며,
도 19는 본 발명에 따른 또 다른 대응 부품의 측면도를 도시하며, 분할 에지는 대응 부품의 팁에서 볼 수 있으며,
도 20은 본 발명에 따른 또 다른 대응 부품의 측면도이며, 분할 에지는 대응 부품의 팁에서 볼 수 있으며,
도 19a는 도 19의 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 분할 에지는 2 개의 분할 에지 챔퍼에 의해 경계가 정해지고,
도 20a는 도 20에서 원으로 표시된 부분의 확대도로서, 분할 에지는 2 개의 분할 에지 아크에 의해 경계 지워지고,
도 21은 원호형 분할기 형태의 종래 기술에 따른 번들 피커의 사시도이고,
도 22는 챔퍼가 없고 반경이 없는 종래 기술의 번들 픽업 장치의 확대도이고,
도 23 내지 도 39는 번들 픽업 노치가 있는 번들 피커의 다양한 변형으로, 나이프 에지 챔퍼 및/또는 나이프 에지 아크 뿐만 아니라 번들 픽업 노치를 커버하는 상부 및/또는 하부 번들 픽업 노치의 다양한 조합으로 길이가 제한되고,
도 40은 총 3 개의 다른 크기의 번들 픽업 노치를 갖는 원호형 분할기의 형태의 본 발명에 따른 번들 피커의 사시도로서, 그 각각의 나이프 에지는 상이한 나이프 에지 챔퍼 및 나이프 에지 원호에 의해 길이가 정해지고,
도 41은 본 발명에 따른 번들 피커의 깊이 및 단면에서 조정될 수 있는 아치형 노치를 갖는 원호형 분할기의 형태의 사시도를 도시하고,
도 42는 복수의 번들 픽업 노치가 제공된 원형 번들 픽업 디스크의 사시도이고, 좌측의 3 개의 번들 픽업 노치는 표준 번들 픽업 노치이고, 중간의 3 개의 번들 픽업 노치 하나의 출구 방향은 축 방향으로 배치되고, 우측의 3 개의 번들 픽업 노치는 평행 출구를 갖는 것들이며, 출구 방향은 서로 평행하게 배향되고, 모든 노치는 도시된 변형예 중 하나에 따라 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예는 도 1 및 도 2를 참조하여 보다 상세하게 설명된다.
도 1은 브리슬 공급부(3)를 저장하기 위한 재료 박스(2) 및 재료 박스(2)로부터 브리슬 번들을 제거하기 위한 번들 피커(8)를 갖는 번들 픽업 장치(4)를 구비한 브러시 제조장치를 전체적으로 1로 나타낸다.
도 1에 나타낸 브러시 제조장치(1)는 또한 스터핑 도구(5)를 가진다.
번들 픽업 장치(4)에 의해 재료 박스(2)로부터 제거된 브리슬 번들은 대응하는 고정 장치(6)에 준비가 되어있는 브러시 몸체(7)에 채워 넣기 위해 이것으로 전달될 수 있다.
고정 장치(6)의 도움으로, 브러시 몸체(7)는 스터핑 도구(5)에 대한 브리슬의 충전에 필요한 위치로 이동될 수 있다.
번들 픽업 장치(4)는 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8) 및 이 번들 피커(8)에 대해 고정된 대응 부품(9)을 포함한다.
도 1에는, 재료 박스(2)의 좌측에 필요에 따라 대응 부품(9)과 유사하게 설계될 수 있는 재료 홀더(10)가 도시되어 있다.
번들 피커(8)는 전면(11)에 사용 위치에서 재료 박스(2)내에 고정된 브리슬 공급부(3)에 대면하는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 갖는다.
번들 피커(8)는 브리슬 공급부(3)로부터 브리슬을 픽업(pickup)하여 단일화하고, 브리슬 제조장치(1)에 픽업한 브리슬 번들을 전달하기 위해, 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)와 함께 적어도 재료 박스(2) 및 그 내부에 위치한 브리슬 공급부(3)상의 공급 위치로 이동될 수 있다.
번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 2 개의 노치 개구(13)를 가지며, 노치 개구(13)는 번들 피커(8)의 이동방향에 대하여 횡방향으로 배치된다.
대응 부품(9)에는 번들 피커(8)를 향한 분할 에지(17)가 구비된다.
예컨대 도 6 및 도 6a에 도시된 바와 같이, 2 개의 나이프 에지(14, 15) 및 분할 에지(17) 중 적어도 하나는 그 길이 방향을 가로 지르는 방향으로 라운드처리된다.
이것은 브리슬 필라멘트(16)를 브리슬 공급부(3)로부터 브리슬 필라멘트(16)를 분리할 때 각 브리슬 필라멘트(16)를 보호하기 위한 것이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 재료 박스(2)는 3 개의 매거진을 포함하고, 각각은 브리슬 필라멘트(16)의 공급부를 갖는다.
재료 박스(2)를 피봇 축을 중심으로 이중 화살표의 방향으로 피봇시킴으로써, 개개의 매거진은 번들 피커(8)에 대한 브리슬 필라멘트(16)의 제거에 요구되는 위치로 이동될 수 있다.
또한, 도 5 및 도 5a는 종래 기술에서 알려진 바와 같이 번들 피커(8) 및 대응 부품(9)을 도시한다.
도 5a에 따르면, 거기에 도시된 나이프 에지(15) 및 분할 에지(17) 모두가 예리하게 됨으로써, 두 부분 사이에 배치된 브리슬 필라멘트(16)가 재료 박스(2)로부터 제거되는 동안 손상될 수 있음을 명확히 알 수 있다.
도 6 및 도 6a에 도시된 바와 같이, 나이프 에지(14, 15)들중, 브리슬 번들의 이동방향으로 후방에 있는, 적어도 하나의 나이프 에지(15)는 라운드처리되어 있다.
여기서, 나이프 에지(15)에는 나이프 에지 반경(15a)이 제공되고, 분할 에지(17)는 분할 에지 반경(17a)을 가지도록 라운드처리된다.
나이프 에지 반경(15a)과 분할 에지 반경(17a)은 각각 나이프 에지(14, 15) 및 분할 에지(17)의 길이 방향 연장부에 대해 횡방향으로 배향된다.
나이프 에지(14 및/또는 15) 및 분할 에지(17)가 라운드처리된 이들 반경(15a 및 17a)은 0.005 mm 내지 0.03 mm, 보다 바람직하게는 0.005 mm 내지 0.02 mm 사이의 길이를 가질 수 있다.
라운드처리된 나이프 에지(14, 15)의 표면 및 라운드처리된 분할 에지(17)의 표면이 매끄럽게 된다는 것은 주목할 만하다.
나이프 에지(14, 15) 및 분할 에지(17)의 매끄러운 표면은 Ra <0.1, 바람직하게는 Ra <0.05, 특히 바람직하게는 Ra <0.02의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값을 가질 수 있다.
도 1, 도 40 및 도 41에 따르면, 번들 피커(8)는 피벗 축을 중심으로 선회 가능한, 원호형 분할기(18)이거나, 원형 번들 픽업 디스크(19)이라고 지칭된다.
또한, 도 2 내지 도 4a 및 도 24 내지 도 39는 나이프 에지들(14, 15) 중 적어도 하나의 길이는, 번들 피커(8)의 이동 방향에 대한 횡방향으로 측정된 번들 픽업 노치(12)의 최대 높이보다 더 작다는 것을 보여준다.
번들 픽업 노치(12)의 실시예에 따라, 번들 피커(8)의 평면(20)을 향한 번들 픽업 노치(12)의 길이방향 축에 대해 횡단면과 각각의 나이프 에지(14,15)는 나이프 에지 챔퍼(21) 및/또는 나이프 에지 아크(22)가 형성될 수 있다.
이러한 나이프 에지 챔퍼(21) 및/또는 그러한 나이프 에지 아크(22)를 부착함으로써, 나이프 에지(14 및/또는 15)의 길이가 제한될 수 있으며, 이는 브러시 제조장치(1)의 재료 박스(2) 내의 브리슬 공급부(3)로부터 브리슬 필라멘트(16)를 처리가능하게 한다.
본 발명에 따른 번들 픽업 노치(12)의 일부 실시예에서, 도 4a, 도 5a, 도 35, 도 36, 도 40에 도시된 바와 같이, 번들 픽업 노치(12) 및 적어도 하나의 나이프 에지(14, 15)의 종축에 횡 방향으로 배향된 번들 피커(8)의 적어도 하나의 나이프 에지 챔퍼(21) 및/또는 적어도 하나의 나이프 에지 아크(22)는 비교적 큰 반경의 형태로 형성되어, 적어도 두 개의 나이프 에지 챔퍼(21) 사이 및/또는 적어도 두 개의 나이프 에지(22)가 배열된다.
이는 또한 각각의 나이프 에지(14, 15)의 길이를 감소 시키며, 따라서 번들 피커(8)의 이동 방향을 가로 질러 측정된 번들 픽업 노치(12)의 최대 높이보다 작고 또한 브리슬 필라멘트(16)의 길이보다 작다.
이 경우, 나이프 에지 챔퍼(21)와 나이프 에지 아크(22)의 조합은 필요에 따라 나이프 에지(14, 15)의 각 측면 또는 나이프 에지(14, 15)의 양 측면에만 존재할 수 있다.
또한, 도 4 및 도 4a는 본 발명에 따른 번들 픽업 장치(4)의 추가 상세 도를 보여주며, 이는 브리슬 공급부(3)로부터 브리슬 필라멘트(16)의 부드러운 제거를 가능하게 한다.
여기서, 2 개의 나이프 에지(14, 15) 중 적어도 하나에 인접한 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)에서 편평한 입구 챔퍼(23)를 갖는다는 것을 알 수 있다.
번들 피커(8)의 실시예에 따르면, 도 4 및 도 4a, 도 23 내지 도 39에 도시된 바와 같이, 번들 픽업 노치(12)의 종 방향 중심축에 직각으로 배향된 노치 에지(24)는 바람직하게는 0.005 mm와 0.03 mm 사이의 길이를 갖는 노치 에지 반경(24a)을 갖는 번들 픽업 노치(12)이다.
도 2 내지 도 4a, 도 19 내지 도 20a를 참조하면, 분할 에지(17)의 길이가 번들 피커(8)의 이동을 가로 지르는 방향으로 측정된 대응 부품(9)의 최대 높이보다 작음이 주목된다.
분할 에지(17)의 길이 감소를 달성하기 위해, 대응 부품(9)은 분할 에지(17)의 종 방향 범위를 가로 지르는 방향으로 배향된 적어도 하나의 분할 에지 챔퍼(25) 또는 종 방향 범위를 가로 지르는 방향으로 배향된 적어도 하나의 분할 에지 아크(26) 분할 에지(17)의 반경 방향으로 연장된다.
분할 에지 챔퍼(25)와 분할 에지 아크(26) 둘다에 의해, 분할 에지(17)는 그 길이가 제한된다.
도 4a에 따르면, 대응 부품(9)은 분할 에지 챔퍼(25)를 향한 분할 에지(17)의 종 방향 범위를 가로 지르는 2 개를 갖는다.
이는 도 4a에 특히 잘 나타나 있다.
분할 에지(17)는 두 개의 챔퍼(25) 사이에 배치되어 분할 에지(17)의 길이는 번들 피커(8)의 이동 방향을 가로 지르는 방향으로 측정된 대응 부품(9)의 높이보다 작다.
필요한 경우, 분할 에지의 챔퍼(25)는 라운드처리된다.
또한, 도 3a 및 4a는 본 발명에 따른 대응 부품(9)의 다른 변형예를 도시한다.
이 경우, 대응 부품(9)은 분할 에지(17)의 길이 방향 연장부를 횡단하는 2 개의 분할 에지 아크(26)를 가지며, 따라서 분할 에지(17)의 길이는(12)의 최대 높이보다 작고 브리슬 필라멘트(16)의 길이보다 작은 대응 부품(9)의 최대 높이를 갖는다.
물론, 분할 에지(17)와 분할 에지(17)가 배치되는 상부(27) 및 하부(28) 사이의 이동을 이러한 분할 에지 아크(26)와 함께 그러한 분할 에지 챔퍼(25)와 함께 브리지할 수 있다.
특히, 분할 에지 챔퍼(25)를 사용할 때, 브리슬 필라멘트(16)에 가능한 한 부드럽고 완만한 이동을 제공하기 위해, 특히 반경을 제공하도록 분할 에지 챔퍼(25)의 에지를 라운드처리 하는 것이 가능하다.
도 2 내지 4a 및 19 내지 19a는 나이프 에지(14, 15) 중 적어도 하나 및 분할 에지(17)는 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 직각으로 향하는 것을 보여준다.
또한, 각각의 나이프 에지(14, 15) 또는 각각의 분할 에지(17)가 나이프 에지 챔퍼(21) 또는 분할 에지 챔퍼(25) 또는 나이프 에지 아크(22)에 의해 한쪽 측면 또는 양쪽 측면에 결속된다(도 3a 및 도 19a 및 도 20a 참조).
도 20 및 도 20a에 도시된 분할 에지(17)는 2 개의 분할 에지 아크(26) 사이에 배치된 0.01mm와 0.8mm 사이의 직선 길이를 갖는다.
이것은 본 발명에 따른 번들 픽업 장치(4)에서 생각할 수 있는 임의의 분할 에지(17)에 적용될 수 있다.
번들 피커(8)의 전면(11)에 대한 횡단부는 정렬된 단부면(29)의 전면(11)을 가로 지르는 횡단면은 적어도 하나의 에지측 단부 챔퍼(31)에 의한 번들 피커(8)의 실시예에 따라 제한되는 단부면(30)을 갖는다.
도 13 내지 도 14a는 단부면(30)이 2 개의 에지측 단부 챔퍼(31)에 의해 구획된 번들 피커(8)를 도시한다.
이 경우, 에지측 단부 챔퍼(31)는 번들 피커(8)의 단부면(30)에 대해 20°내지 30°로 정렬될 수 있고, 0.05mm 내지 0.4mm 사이의 챔퍼 폭을 갖는다.
도 14 및 도 14a에 따른 번들 피커(8)의 예시적인 실시예에 따르면, 단부 챔퍼(31)의 챔퍼 에지(31a)는 0.005 mm와 0.03 mm 사이의 반경으로 라운드처리된다.
특히, 도 17 내지 도 18a는 브리슬 공급부(3)에 대면하는 대응 부품(9)의 박스 측면(32) 및 번들 피커(8)를 향한 대응 부품(9)의 픽업 측면(33)들은 각각 에지 측 챔퍼(41)를 가지고, 박스 측면(32)의 각 단부면(30)과 픽업 측면(33)에 의해 제한된다.
상술한 번들 피커(8)의 실시예와 관련하여 상술한 바와 같이, 대응 부품(9)의 박스 측면(32)의 에지측 챔퍼(41)가 에지측 챔퍼(41)에 인접한 측면(40)에 대하여 20 ° 내지 80 °의 각도로 정렬된다. 또한 대응 부품(9)의 픽업 측면(33)에서, 에지 측 챔퍼(41)는 상대 부품(9)의 픽업 측면(33)의 인접한 측면(40)에 대하여 20 ° 내지 30 °의 각도로 정렬된다.
도 18 및 도 18a에 따른 대응 부품(9)의 실시예에서, 박스 측면(32) 상에 배열된 2 개의 에지 측 챔퍼(41) 및 픽업 측면(33) 상에 배열된 에지측 챔퍼(41)는 챔퍼 에지(41a)를 갖는다. 에지의 가장자리가 라운드처리 되어있는 이 반지름은 0.005 내지 0.03 mm이다.
에지측 챔퍼(41) 뿐만 아니라 에지측 단부 챔퍼(31)의 챔퍼 폭은 0.05 mm와 0.4 mm 사이이다.
또한, 도 9 및 도 10은 브리슬 공급부(3)를 향하는 대응 부품(9)의 박스 측면(32)이 제 1 섹션(34)과 제 2 섹션(35)으로 분할되는 것을 도시한다.
이 경우, 제 1 섹션(34)은 제 1 반경(34a)에 의해 종 방향 연장부를 따라 절곡된다.
제 2 섹션(35)은 제 2 반경(35a)에 의해 그 종방향 연장부를 따라 절곡된다.
이 경우, 제 1 반경(34a)은 제 2 반경(35a)의 반대 방향으로 절곡된다.
분할 에지(17)는 제 1 섹션(34)의 팁으로 지칭될 수 있는 자유단(42)에서 상대 부품(9) 상에 형성된다. 이 경우, 제 2 반경(35a)은 제 1 반경(34a)보다 가시적으로 크다.
도 7 및 도 8은 종래 기술로부터 이미 알려진 대응 부품(9)을 도시한다. 이 경우, 박스 측면(32)은 제 1 반경으로 만곡되고, 픽업 측면(33)은 제 2 반경으로 제공된다. 이 대응 부품(9)의 분할 에지(17)는 박스 측면(32) 및 픽업 측면(33)의 접선 방향 접근 반경으로부터 형성된다.
분단 에지(17)가 라운드 처리되면, 도 7 내지 도 10에 도시된 측정 팁(36)으로부터 비교적 큰 거리가 발생한다. 이것은 이 상대 부품(9)의 분할 에지(17)를 라운드처리 하는데 필요한 재료의 광범위한 제거에 기인한다.
이는 분할 에지(17)가 라운드처리하여 대응 부품(9)을 멀리 후퇴시킴으로써 자유단(42)를 짧게 한다는 것을 의미한다. 이는 번들 픽업 장치(4)의 전체 기하학적 구조가 어느 정도로 조정되어야 한다.
비교에 따르면, 본 발명에 따른 대응 부품(9)의 라운드처리된 분할 에지(17)의 상대 위치로부터 대응 부품(9)의 치수의 최소 변화만을 갖는 분할 에지(17)의 라운딩이 측정 팁(36)의 자유단(42)의 최소 감소가 수반되므로 분할 에지(17)의 라운딩에 의한 번들 픽업 장치(4)의 재설계가 필요하지 않다.
필요에 따라, 번들 피커(8)의 재료 박스(2)에 대면하는 표면 및 번들 피커(8)을 향하는 대응 부품(9)의 표면도 평활화될 수 있다. 이 경우, 평활면의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값 Ra는 0.1 미만, 바람직하게는 0.05, 보다 바람직하게는 0.02 미만일 수 있다.
원칙적으로, 번들 피커(8) 및 대응 부품의 양면 모두가 평활화될 수 있다.
또한, 나이프 에지 반경(15a), 나이프 에지 챔퍼(21), 분할 에지 챔퍼(25)의 분할 에지 반경(17a), 에지측 단부 챔퍼(31) 및 에지측 챔퍼(41) 뿐만 아니라 나이프 에지 아크(22), 나이프 에지 챔퍼들(21), 분할 에지 챔퍼들(25), 단부 챔퍼들(31) 및 에지측 챔퍼(41)의 에지들을 라운딩처리하기 위한 분할 에지 아크들(26) 및 반경뿐만 아니라 상부 및 하부 사이드 챔퍼들(43)은 번들 피커(8)에서 평활화될 수 있다.
도 41은 본 발명에 따른 번들 픽업 장치(4)의 번들 피커(8)를 도시하며, 번들 피커(8)의 번들 픽업 노치(12)는 조정 가능한 번들 픽업 노치(12)이다.
이 번들 픽업 노치(12)를 조정하기 위해, 번들 픽업 장치(4)는 번들 피커(8) 상에 배열된 번들 픽업 노치(12)의 노치 깊이 및/또는 단면 형상을 조정하기 위한 조정 장치(37)를 포함한다. 번들 픽업 노치(12)의 노치 깊이 및/또는 횡단면 형상을 조정하기 위해, 조절판(38)이 번들 픽업 노치(12) 내로 후방으로부터 삽입될 수 있다.
도 22 내지 도 39는 본 발명에 따른 번들 피커(8)의 다른 실시예를 도시한다. 도 23은 노치 에지 반경(24a)에 의해 노치 에지(24)가 라운드처리된 번들 픽업 노치(12)를 갖는 번들 피커(8)을 도시한다.
도 24는 2 개의 나이프 에지(14, 15)가 나이프 에지 반경(15a)에 의해 둥그스름한 번들 피커(8)를 도시한다. 이 번들 피커(8)의 노치 에지(24)는 또한 노치 에지 반경(24a)에 의해 라운드처리된다.
번들 픽업 노치(12)는 적어도 하부 사이드챔퍼(43)에 의해 덮여 져서,이 번들 피커(8)의 두 나이프 에지(14, 15)의 에지 길이가 감소하게 된다.
도 25는 후방 나이프 에지(15)가 각각 2 개의 나이프 에지 챔퍼(21)에 의해 양측으로 구획된 번들 피커(8)를 도시한다. 이 번들 피커(8)에서, 번들 픽업 노치(12)는 하부 사이드 챔퍼(43)에 의해 적어도 위쪽이 덮여있다.
도 26에 따른 번들 피커(8)는 번들 피커(8)의 후방 나이프 에지(15)에 인접하게 배치된 입구 챔퍼(23)에 의해 도 25에 도시된 번들 피커(8)와 다르다.
도 27에 따른 번들 피커(8)는 번들 픽업 노치(12)를 덮어 나이프 에지(14) 및 후방 나이프 에지(15)의 길이를 감소시키는 적어도 하나의 하부 사이드 챔퍼(43)을 갖는다.
또한, 후방 나이프 에지(15)는 각각의 나이프 에지 아크(22)에 의해 양 측면에서 길이가 제한된다.
도 28은 도 27에 따른 후방 나이프 에지(15)에 인접하게 배치된 입구 챔퍼(23)과 다른 번들 피커(8)를 도시한다.
도 29는 도 28에 도시된 바와 같이 번들 피커(8)과 비교하여 번들 피커(8)을 도시한다. 노치 에지 반경(24a)에 의해 라운드 처리된 노치 에지(24) 및 나이프 에지 반경(15a)에 의해 라운드 처리된 후방 나이프 에지(15)를 갖는다.
도 30은 상측 및 하측 사이드 챔퍼(43)을 갖는 다른 번들 피커(8)를 도시한다. 2 개의 나이프 에지(14, 15)의 길이는 각각 2 개의 나이프 에지 챔퍼(21) 길이에 의해 제한된다. 전방 나이프 에지(14) 및 후방 나이프 에지(15)에 인접하여 각각의 입구 챔퍼(23)가 형성된다.
도 31은 상측 및 하측 상에 사이드 챔퍼(43)을 갖는 번들 피커(8)를 도시한다. 나이프 에지(14, 15)는 두 개의 나이프 에지 아크(22)에 의해 길이가 제한된다. 나이프 에지(14)에 인접하고 또한 나이프 에지(15)에 인접하여, 입구 챔퍼(23)가 각각의 경우에 이 번들 피커(8)상의 번들 픽업 노치(12)에 형성된다.
도 32는 하부 사이드 챔퍼를 갖지 않은 번들 피커(8)을 도시한다. 이 번들 피커(8)의 후방 나이프 에지(15)는 길이가 2 개의 나이프 에지 챔퍼(21)에 의해 양측으로 제한된다.
도 33은 도 32에 도시된 바와 같이 번들 피커(8)와는 노치 에지 반경(24a)에 의해 라운드 처리된 노치 에지(24) 및 나이프 에지 반경(15a)에 의해 라운드 처리된 후방 나이프 에지(15)들에 의해 다른 번들 피커(8)를 도시한다.
도 34는 두 개의 나이프 에지(14, 15)의 전방 나이프 에지(14)가 두 개의 나이프 에지 챔퍼(21)에 의해 양측 선단에서 경계가 지워지는 점에서 도 32에 도시된 번들 피커(8)와는 다른 번들 피커(8)을 도시한다.
도 35는 도 34에 도시된 번들 피커(8)과 동일한 구조를 갖는 번들 피커(8)을 도시하며, 번들 피커(8)의 전방 나이프 에지(14) 및 후방 나이프 에지(15)는 각각 나이프 에지 반경(15a)에 의해 라운드 처리된다.
이 번들 피커(8)의 노치 에지(24)는 노치 에지 반경(24a)에 의해 라운드처리 처리된다는 점도 주목할 만하다.
도 36은 하부 사이드 챔퍼(43)가 없는 번들 피커(8)를 도시하며, 하부 사이드 챔퍼(43)는 후방 나이프 에지(15)가 길이 방향으로 각각의 나이프 - 에지 아크(22)에 의해 양측으로 구획된다.
도 37은 도 36에 도시된 번들 피커(8)와 다른 번들 피커(8)를 도시한다. 상기 번들 피커(8)는 노치 에지 반경(24a)으로 라운드처리된 노치 에지(24) 및 나이프 에지 반경(15a)으로 라운드 처리된 나이프 에지(15)를 갖는다.
도 38은 각각 전방 나이프 에지(14) 및 그 후방 나이프 에지(15)가 길이 방향으로 2 개의 나이프 에지 아크(22)에 의해 경계가 정해진 번들 피커(8)를 도시한다.
도 39는 도 38에 따른 번들 피커(8)와는 라운드 처리된 노치 에지(24) 및 라운드 처리된 후방 나이프 에지(15)에 의해 다른, 그렇지 않으면 동일한 번들 피커(8)를 도시한다.
노치 에지(24)는 이전에 언급된 노치 에지 반경(24a)에 의해 라운드 처리된다. 나이프 에지(14 및 15)는 각각의 나이프 에지 반경(15a)에 의해 라운드처리된다.
번들 픽업 노치(12), 나이프 에지(14 및 15), 분할 에지(17), 대응 부품(9)상 및 번들 피커(8)상의 모든 챔퍼(21, 25, 31 및 41)는 HSC 밀링 및/또는 HSC 연마로 만들어진다.
번들 피커(8), 상대 부품(9)의 평활한 표면, 및 적어도 하나의 나이프 에지(14, 15) 및 분할 에지(17)를 라운드처리하기 위한 반경은 폴리싱에 의해 또는 적어도 후처리에 의해 형성된다. 이것은 특히 진동 연마, 유동 연마, 플라즈마 폴리싱, 드래그 연마, 드래그 피니싱 및/또는 핸드 폴리싱 및/또는 전기 화학적 디버링에 의해 수행될 수 있다. 존재하는 에지, 특히 에지측 챔퍼(31a, 41a)가 상대적으로 작으면 에지 라운드 처리를 위한 반경은 이러한 연마 방법으로 제조되거나 적어도 후속적으로 마무리될 수 있다.
또한, 번들 피커(8)상의 단부면(30) 및 박스 측면(32)상의 측면(40) 및 대응 부품(9)의 픽업 측면(33), 에지측 단부 챔퍼(31), 에지측 챔퍼(41)의 챔퍼면 및 번들 픽업 노치(12)의 내측면(39)은 이러한 방식으로 제조될 수 있다(도 12a, 도 12a, 도 14a 참조).
도 13a에 따른 번들 피커(8)의 단부 챔퍼(31) 및 단부면(30)의 챔퍼 표면은 평균 표면 조도 값(Ra)이 0.1이다.
단부 챔퍼(31)의 챔퍼 표면, 반경-라운드처리된 챔퍼 에지(31a)의 표면 및 도 14a의 번들 피커(8)의 단부면(30)의 평균 표면 조도(Ra)는 0.05이다.
도 17a에 따른 대응 부품 부분(9)의 에지측 챔퍼(41) 및 측면(40)의 챔퍼면은, 평균 표면 조도 값(Ra)이 0.1이다.
도 18a의 에지측 챔퍼(41)의 챔퍼면, 라운드처리된 챔퍼 에지(41a)의 표면 및 대응 부품(9)의 측면(40)의 평균 표면 조도(Ra)는 0.05이다.
원칙적으로, 요구 사항에 따라, 챔퍼 및 각각의 표면, 특히 번들 피커(8) 및 대응 부품(9)의 브리슬 필라멘트(16)와 접촉할 수 있는 각각의 표면은 평탄화될 수 있다.
적어도 번들 피커(8)의 전면(11)의 표면, 챔퍼(21, 25)들의 표면 및 번들 피커(8)상의 아크(22, 26)의 표면 및 챔퍼(21,25)들의 한정에 의해 라운드 처리된 에지들은 연마 및/또는 폴리싱 및/또는 후처리에 의해 처리될 수 있다.
번들 피커(8) 및 상대 부품(9)의 평활한 표면의 제조 또는 재작업은 진동 연마, 유동 연마, 플라즈마 연마, 드래그 연마, 드래그 피니싱 및/또는 핸드 연마 및/또는 전기 화학적 디버링에 의해 구체적으로 수행될 수 있다.
연마 또는 연마제는 습식 및/또는 건식 입자, 도재 연마용 플라스틱 연마재, 세라믹 연마재, 스테인레스 칩, 구리 핀, 스테인레스 강 연마제, 지르코니아, 미세 연마제, 플라스틱 연마제, 습식 연마 페이스트, 연마 페이스트, 호두 과립, 옥수수 입자 및/또는 건식 연마 과립이 사용된다.
도 44에 도시된 대응 부품(9)의 하단부에, 브리슬 필라멘트(16)를 스터핑 도구(5)에 전달하기 위한 흡입 챔퍼(44)가 도시되어있다.
브러시 제조 분야에서 개선하기 위해, 무엇보다도, 브러시 제조장치(1)의 가동 번들 피커(8)의 재료 박스(2)에 대하여 상대적으로 이동가능한 번들 피커(8)를 포함하는 번들 픽업 장치(4)가 제안되고, 재료 박스(2)의 브리슬 공급부(3)는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 갖는다.
번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 노치 개구(13)를 한정하고 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 배향된 2 개의 나이프 에지(14, 15)를 포함한다.
번들 픽업 장치(4)의 부분은 분할 에지(17)에 대면하는 번들 피커(8)가 제공된 대응 부품(9)이다.
브리슬 공급부(4)로부터 브리슬 필라멘트(16)를 가능한 한 부드럽게 제거하기 위해, 두 개의 나이프 에지(14,15) 중 적어도 하나 및 분할 에지(17)는 라운드 처리된다.
1: 브러시 제조장치 2: 재료 박스
3: 브리슬 공급부 4: 번들 픽업 장치
5: 스터핑 도구 6: 고정 장치
7: 브러시 몸체 8: 번들 피커
9: 대응 부품 10: 재료 홀더
11: 번들 피커의 전면 12: 번들 픽업 노치
13: 노치 개구 14: 나이프 에지
15: 나이프 에지 15a: 나이프 에지 반경
16: 브리슬 필라멘트 17: 분할 에지
17a: 분할 에지 반경 18: 원호형 분할기
19: 번들 픽업 디스크 20: 번들 피커의 평면
21: 나이프 에지 챔퍼 22: 나이프 에지 아크
23: 입구 챔퍼 24: 노치 에지
24a: 노치 에지 반경 25: 분할 에지 챔퍼
26: 분할 에지 아크 27: 대응 부품의 상부
28: 대응 부품의 바닥 29: 단부면
30: 단부면 31: 에지측 단부 챔퍼
31a: 챔퍼 에지 32: 박스 측면
33: 픽업 측면 34: 제1섹션
34a: 제 1 반경 35: 제2섹션
35a: 제 2 반경 36: 측정 팁
37: 조정 장치 38: 조절판
39: 12의 내측면 40: 측면
41: 에지측 챔퍼 41a: 41의 챔퍼 에지
42: 자유단 43: 사이드 챔퍼
44: 9의 흡입 챔퍼
3: 브리슬 공급부 4: 번들 픽업 장치
5: 스터핑 도구 6: 고정 장치
7: 브러시 몸체 8: 번들 피커
9: 대응 부품 10: 재료 홀더
11: 번들 피커의 전면 12: 번들 픽업 노치
13: 노치 개구 14: 나이프 에지
15: 나이프 에지 15a: 나이프 에지 반경
16: 브리슬 필라멘트 17: 분할 에지
17a: 분할 에지 반경 18: 원호형 분할기
19: 번들 픽업 디스크 20: 번들 피커의 평면
21: 나이프 에지 챔퍼 22: 나이프 에지 아크
23: 입구 챔퍼 24: 노치 에지
24a: 노치 에지 반경 25: 분할 에지 챔퍼
26: 분할 에지 아크 27: 대응 부품의 상부
28: 대응 부품의 바닥 29: 단부면
30: 단부면 31: 에지측 단부 챔퍼
31a: 챔퍼 에지 32: 박스 측면
33: 픽업 측면 34: 제1섹션
34a: 제 1 반경 35: 제2섹션
35a: 제 2 반경 36: 측정 팁
37: 조정 장치 38: 조절판
39: 12의 내측면 40: 측면
41: 에지측 챔퍼 41a: 41의 챔퍼 에지
42: 자유단 43: 사이드 챔퍼
44: 9의 흡입 챔퍼
Claims (32)
- 브러시 제조장치(1)의 번들 픽업 장치(4)이고, 상기 번들 픽업 장치(4)는 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8) 및 상기 이동 가능한 번들 피커(8)에 대해 고정된 대응 부품(9)를 포함하고,
상기 번들 피커(8)는 전면(11)에 재료 박스(2)내에 고정된 브리슬 공급부(3)에 대면하는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 가지며, 상기 번들 픽업 노치(12)는 브리슬 공급부(3)에서 브리슬 번들을 제거하고, 수용한 하나의 브리슬 번들을 브러시 제조장치(1)의 브리슬 공급부(3)상의 그리고 공급 위치의 대응 부품(9)상의 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)로써 배출하고,
상기 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 노치 개구(13)를 한정하고 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 배향된 2 개의 나이프 에지(14, 15)를 포함하는 브러시 제조장치(1)의 번들 픽업 장치(4)에 있어서,
상기 대향하는 나이프 에지들(14, 15)중 적어도 하나의 나이프 에지 또는 분할 에지(17)는 길이방향 연장부에 대하여 횡방향으로 라운드 처리되어 있고,
상기 나이프 에지(14, 15) 중 적어도 하나에 인접한 번들 픽업 노치(12)는 상기 번들 픽업 노치(12)에서 편평한 입구 챔퍼(23)을 가지는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치. - 제 1 항에 있어서, 2 개의 나이프 에지(14, 15) 중 브리슬 번들의 이송 방향의 적어도 하나의 후방 나이프 에지(15)는 라운드 처리되어 있는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 나이프 에지 반경(15a)을 갖는 적어도 하나의 나이프 에지(14,15) 또는 분할 에지(17)는 분할 에지, 나이프 에지 반경(15a) 또는 분할 에지 반경(17a)이 0.005 mm와 0.03 mm 사이, 또는 0.005 mm와 0.02 mm 사이의 길이를 갖는 반경(17a)을 갖는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 적어도 하나의 나이프 에지(14, 15)의 표면 또는 분할 에지(17)의 표면이 평활화되고, Ra의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값이 0.1 미만인 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서,
번들 픽업 장치(4)는 상기 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8)와, 상기 번들 피커(8)에 대해 고정된 대응 부품(9)를 포함하고,
상기 번들 피커(8)는, 전면(11)에 사용 위치에서 재료 박스(2)내에 고정된 브리슬 공급부(3)에 대면하는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 가지고, 브리슬 공급부(3)로부터 브리슬 번들을 픽업하고, 픽업한 브리슬 번들을 브리슬 공급부(3)상의 번들 픽업 노치(12)로써 브러시 제조장치(1)로 전달하며, 상대 부품(9)상의 공급위치로 이동하고,
상기 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 이동 방향을 가로 지르는 방향으로 제한하는 2 개의 노치 개구(13)를 가지며, 상대 부품(9)은 번들 피커(8)에 대면하는 하나의 분할 에지(17)를 가지는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치에 있어서,
상기 적어도 하나의 나이프 에지(14, 15)의 길이는 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 측정된 상기 나이프 에지(14, 15)의 높이보다 작은 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치. - 제 5 항에 있어서, 상기 번들 피커(8)의 평면(20)을 향하는 상기 번들 픽업 노치(12)의 길이방향 축에 대하여 횡 방향으로 그리고 상기 번들 피커(8)의 적어도 하나의 나이프 에지 상기 나이프 에지(14, 15)의 길이에 의해 나이프 에지 챔퍼(21) 또는 나이프 에지 아크(22)가 형성되어, 상기 나이프 에지 챔퍼 상기 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향보다 작은 적어도 하나의 나이프 에지(14,15)는 번들 픽업 노치(12)의 높이 또는 상기 번들 픽업 노치 번들 피커(8) 및 적어도 하나의 나이프 에지(14,15)의 번들 픽업 노치(12) 배향된 평탄면(20)은 각각 적어도 하나의 나이프 에지 챔퍼(21) 또는 적어도 하나의 나이프 적어도 2 개의 나이프 에지 챔퍼(21) 또는 나이프 에지 아크(22) 사이의 적어도 하나의 나이프 에지(14, 15)가 형성되도록 에지 아크(22) 적어도 하나의 나이프 에지(14, 15)는 번들 피커(8)의 이동 방향을 가로 질러 측정된 번들 픽업 노치(12)의 높이보다 작은 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 픽업 노치(12)의 노치 에지 반경(24a)을 가지는 상기 번들 픽업 노치(12)의 길이 방향 중심축에 대해 적어도 하나의 횡단 또는 수직인 하나는 길이가 0.005 mm 내지 0.03 mm 사이의 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 픽업 장치(4)는 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8) 및 상기 이동 가능한 번들 피커(8)에 대해 고정된 대응 부품(9)를 포함하고,
상기 번들 피커(8)는 전면(11)에 사용 위치에서 재료 박스(2)내에 고정된 브리슬 공급부(3)에 대면하는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 가지며, 상기 번들 픽업 노치(12)는 브리슬 공급부(3)에서 브리슬 번들을 제거하고, 수용한 하나의 브리슬 번들을 브러시 제조장치(1)에 브리슬 공급부(3)상의 그리고 공급 위치의 대응 부품(9)상의 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)로써 배출하고,
상기 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 노치 개구(13)를 한정하고 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 배향된 2 개의 나이프 에지(14, 15)를 포함하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치에 있어서,
상기 분할 에지(17)의 길이는 상기 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 측정된 대응 부품(9)의 횡단 높이보다 작고 또는, 상기 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 측정된 번들 픽업 노치(12)의 높이보다 작은 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치. - 제 9 항에 있어서, 상기 대응 부품(9)은 상기 분할 에지(17)의 종 방향 연장에 대하여 횡단하는 방향으로 향하는 적어도 하나가 분할 에지 챔퍼(25) 또는 상기 분할 에지(17)의 종방향에 대하여 횡단하는 방향으로 향하는 적어도 하나의 분할 에지 아크(26)를 가지고, 분할 에지 아크(26)에 의해 분할 에지(17)는 길이가 제한되어 있거나, 상기 대응 부품(9)은 분할 에지의 종 방향 범위를 가로 지르는 적어도 2 개 분할 에지(17)가 그 사이에 배열된 분할 에지(17)의 종 방향 범위를 횡단하는 적어도 2 개의 종 방향 분할 에지 챔퍼(25) 또는 적어도 2 개의 종 방향 대응 부품(9)의 측정된 높이의 상기 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향보다 작은, 또는 이동 방향에 횡 방향으로 측정된 번들 픽업 노치의 높이보다 작은 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 나이프 에지들(14, 15) 중 적어도 어느 하나 또는 상기 분할 에지(17)는 상기 번들 피커(8)의 직각방향으로 향하거나 적어도 하나의 나이프 에지(14,15) 또는 분할 에지(17)는 이동 방향에 대해 직각으로 배향되거나 또는 나이프 에지(14,15) 또는 분할 에지(17)는 원호 형상의 에지의 일부에 형성되거나 또는 전체 원호 형상인 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 픽업 장치(4)는 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8) 및 상기 이동 가능한 번들 피커(8)에 대해 고정된 대응 부품(9)를 포함하고, 상기 번들 피커(8)는 전면(11)에 사용 위치에서 재료 박스(2)내에 고정된 브리슬 공급부(3)에 대면하는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 가지며, 상기 번들 픽업 노치(12)는 브리슬 공급부(3)에서 브리슬 번들을 제거하고, 수용한 하나의 브리슬 번들을 브러시 제조장치(1)에 브리슬 공급부(3)상의 그리고 공급 위치의 대응 부품(9)상의 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)로써 배출하고,
상기 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 노치 개구(13)를 한정하고 번들 피커(8)의 이동 방향에 대해 횡 방향으로 배향된 2 개의 나이프 에지(14, 15)를 포함하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치에 있어서,
상기 번들 피커(8)는 번들 피커(8)의 전면(11)에 대해 횡방향으로 향하는 단부면(29)를 가고, 노치 개구(13)에 대해 횡 방향으로 배향된 단부면(29)을 가지며, 적어도 하나의 단부 챔퍼(31) 또는 단부 반경에 의해 한정되는 단부면(30)을 포함하는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치. - 제 12 항에 있어서, 상기 번들 피커(8)의 단부면(30)에 대해 20 ° 내지 80 °의 각도로 적어도 하나의 단부 챔퍼(31)가 정렬되고, 단부 챔퍼(31)는 0.05mm 내지 0.4mm 사이의 챔퍼 폭 또는 0.005mm 내지 0.03mm 사이의 반경을 갖는 라운딩된 챔퍼 에지(31a)를 가지는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 픽업 장치(4)는 재료 박스(2)에 대해 이동 가능한 번들 피커(8) 및 상기 이동 가능한 번들 피커(8)에 대해 고정된 대응 부품(9)를 포함하고,
상기 번들 피커(8)는, 전면(11)에 사용 위치에서 재료 박스(2)내에 고정된 브리슬 공급부(3)에 대면하는 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12)를 가지고, 브리슬 공급부(3)로부터 브리슬 번들을 픽업하고, 픽업한 브리슬 번들을 브리슬 공급부(3)상의 번들 픽업 노치(12)로써 브러시 제조장치(1)로 전달하며, 상대 부품(9)상의 공급위치로 이동하고,
상기 번들 픽업 노치(12)는 번들 픽업 노치(12)의 이동 방향을 가로 지르는 방향으로 제한하는 2 개의 노치 개구(13)를 가지며, 상대 부품(9)은 번들 피커(8)에 대면하는 하나의 분할 에지(17)를 가지는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치에 있어서,
상기 대응 부품(9)의 박스 측면(32)을 대면하는 브리슬 공급부(3) 또는 번들 피커(8)를 대면하는 대응 부품(9)의 픽업 측면(33)은 적어도 하나의 에지측 챔퍼(41)를 가지고 또는 박스 측면(32)의 각 측면(40)및 픽업 측면(33)이 한정되는 적어도 하나의 반경을 가지는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치. - 제 14 항에 있어서, 상기 박스 측면(32)상의 적어도 하나의 에지측 챔퍼(41)는 에지측 챔퍼(41) 인접 측면 중 하나에 대하여 20 ° 내지 80 °의 각을 이루고, 상기 픽업 측면(33)상의 적어도 하나의 시트 안테나(42)가 정렬되고 또는 에지측 챔퍼(41)가 0.05mm 내지 0.4mm 사이의 챔퍼 폭을 가지며 또는 에지측 챔퍼(41)의 챔퍼 에지(41a)가 0.005 mm와 0.03 mm 사이의 반경으로 라운드처리되는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 대응 부품(9)의 박스 측면(32)과 대면하는 적어도 하나의 브리슬 공급부(3)가 분할 에지의 하나의 자유단(42)에 배치되고, 제2 섹션(35)은 상기 제 2 반경과 반대 방향으로 구부러지고, 또는 상기 제 2 반경은 상기 제 1 반경보다 큰 제 2 반경을 가지며, 하나의 자유단(42)에서 적어도 제 1 섹션(34)에서 대응 부품(9)의 박스 측면(32)과 마주하는 하나 또는 브리슬 공급부(3)를 가지며, 제 1 섹션(34)은 제 1 반경(34a) 주위의 종 방향 연장 부를 따라 구부러지고, 제 2 섹션(35)은 직선으로 절곡되는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 피커(8)의 적어도 하나 또는 나이프 에지 반경(15a)의 표면이 평활화되고, 하나 또는 나이프 에지 원호(22), 하나 또는 노치 에지 반경(24a), 하나 또는 단부면(30), 하나 또는 그 이상의 단부 챔퍼(31), 하나 또는 또는 번들 픽업 노치(12)의 내측면(39) 중 적어도 하나의 경사면(21,31) 또는 챔퍼 에지(31a)는 평균 조도 값 또는 표면 조도 값 Ra이 0.1 미만인 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 14항에 있어서, 대응 부품(9)의 적어도 하나 또는 분할 에지 반경(17a)의 표면, 분할 에지 챔퍼(25), 하나 또는 분할 에지 아크(26), 대응 부품(9)의 박스 측면(32)의 하나 또는 측면(40), 상기 챔퍼(25, 41) 중 적어도 하나의 에지(41a) 중 하나 또는 측면 반경 또는 하나 또는 챔퍼 에지(41a)는 상기 대응 부품(9)의 피커 측(32) 평활면의 평균 조도 값 또는 표면 조도 값 Ra가 0.1 미만인 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 픽업 노치(12)는 조정 가능한 번들 픽업 노치(12)이고, 상기 번들 픽업 장치(4)는 조정 장치(37)를 구비하고, 번들 픽업 노치(12)의 노치 깊이 또는 횡단면 형상을 조정하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 번들 픽업 노치(12) 또는 상기 적어도 하나의 나이프 에지(14,15) 또는 상기 분할 에지(17) 또는 적어도 하나의 챔퍼(21, 31, 43)는 HSC 밀링 또는 HSC 연마에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 번들 피커(8) 또는 대응 부품(9)의 매끄러운 면은 진동 연마 또는 플로우 연마, 플라스마 연마, 견인 루프, 드래그 피니싱 또는 핸드 폴리싱 또는 전기 화학적 디버링에 의해 제조되는 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치의 번들 픽업 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 번들 피커(8)는 피봇 축 또는 회전 가능한 원호형 분할기(18) 또는 피벗 축을 중심으로 피봇 가능 또는 회전 가능한 번들 픽업 디스크(19)에 대해 피봇될 수 있는 것을 특징으로 하는 번들 픽업 장치.
- 브러시 제조장치이고, 브리슬 공급부(3)를 저장하기 위한 재료 박스(2) 및 재료 박스(2)로부터 브리슬 번들을 제거하기 위한 적어도 하나의 번들 피커(8)를 가진 번들 픽업 장치(4)를 포함하는 브러시 제조장치(1)에 있어서, 상기 번들 픽업 장치(4)는 청구항 제1항 내지 제6항, 및 제8항 내지 제22항 중 어느 하나의 번들 픽업 장치인 것을 특징으로 하는 브러시 제조장치.
- 제 1 항 내지 제6항, 제8항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 따른 번들 픽업 장치(4)의 번들 피커(8)을 제조하는 방법에 있어서,
적어도 하나의 번들 픽업 노치(12) 또는 적어도 하나의 나이프 에지 챔퍼(21) 또는 나이프 에지 아크(22) 또는 단부 챔퍼(31) 또는 스퍼의 반경 또는 번들상의 상부 또는 하부 사이드 챔퍼(43) 상기 번들 피커(8)상의 적어도 하나의 챔퍼(21, 31, 43)의 번들 픽업 노치(12) 또는 챔퍼 에지(31a)의 픽업(8) 또는 노치 에지 반경 또는 번들 픽업 노치(12)의 내측면(39)은 HSC 밀링 또는 HSC 연마에 의해 제조된 것을 특징으로 하는 번들 피커 제조방법. - 제24항에 있어서, 연마 또는 폴리싱 또는 제조 또는 후 처리에 의해 번들 피커(8)의 표면을 매끄럽고 부드럽게 하는 것을 특징으로 하는 번들 피커 제조방법.
- 제 25 항에 있어서, 적어도 하나의 나이프 에지 반경(15a), 하나의 나이프 에지 챔퍼(21), 하나의 나이프 에지 아크(22), 하나의 노치 에지, 적어도 하나의 챔퍼 또는 번들 픽업 노치(12)의 내측면(39) 또는 챔퍼 에지(31a), 반경(24a), 단부면(30), 단부 챔퍼(31)는 연마 또는 폴리싱 또는 제조 또는 후처리에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 25 항에 있어서, 진동 연마, 흐름 연마, 플라즈마 연마, 드래그 연마, 드래그 마무리 또는 핸드 폴리싱 또는 전기 화학적 디버링에 의한 생산 또는 후처리가 일어나는 것을 특징으로 하는 방법.
- 번들 픽업 장치(4)의 대응 부품(9)를 제조하는 방법으로서, 적어도 하나의 분할 에지 반경(17a), 분할 에지 아크(26), 측면(40), 에지측 챔퍼(41), 측면 챔퍼 또는 대응 부품(9)의 챔퍼의 적어도 하나의 챔퍼 에지(41a)가 HSC 밀링 또는 HSC 루프에 의해 생성되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 28 항에 있어서, 연마 또는 폴리싱에 의해 대응 부품(9)의 매끄러운 표면이 제조 또는 후 처리되는 것을 특징으로 하는 번들 픽업 장치의 대응 부품 제조방법.
- 제 29 항에 있어서, 분할 에지 반경(17a), 분할 에지 챔퍼(25), 분할 에지 아크(26), 측면(40), 시트 안테나(측면 챔퍼) 챔퍼의 측면 반경 또는 적어도 하나의 챔퍼 에지(41a)가 연마 또는 폴리싱 또는 재작업에 의해 대응 부품(9) 상에 생성되는 것을 특징으로 하는 번들 픽업 장치의 대응 부품 제조방법.
- 제 29 항에 있어서, 슬라이드 연마, 유동 연마, 플라즈마 연마, 드래그 연마, 드래그 피니싱 또는 핸드 폴리싱 또는 전기 화학적 디버링에 의한 생산 또는 후 처리가 발생함을 특징으로 하는 번들 픽업 장치의 대응 부품 제조방법.
- 제 24 항에 있어서, 연마 또는 연마제는 습식 또는 건식 입자, 도재 연마용 플라스틱 연마재, 세라믹 연마재, 스테인레스 칩, 구리 핀, 스테인레스 강 연마제, 지르코니아, 미세 연마제, 플라스틱 연마제, 습식 연마 페이스트, 연마 페이스트, 호두 과립, 옥수수 입자 또는 건식 연마 과립이 사용되는 것을 특징으로 하는 번들 픽업 장치의 대응 부품 제조방법.
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