KR102557374B1

KR102557374B1 - 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법 및 시스템, 컴퓨터 저장 매체

Info

Publication number: KR102557374B1
Application number: KR1020217003905A
Authority: KR
Inventors: 천 톈
Original assignee: 광동 오포 모바일 텔레커뮤니케이션즈 코포레이션 리미티드
Priority date: 2018-09-30
Filing date: 2018-09-30
Publication date: 2023-07-20
Also published as: EP3709036A1; EP3709036A4; CN111263891B; WO2020062306A1; JP7223835B2; JP2021533654A; KR20210030425A; CN111263891A; US20200132755A1; US11614484B2; EP3709036B1

Abstract

본 발명은 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법 및 시스템, 컴퓨터 저장 매체를 제공한다. 상기 방법은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하는 단계(101) - 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타냄 - 와, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하는 단계(102)와, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하는 단계(103)와, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 단계(104)를 포함한다.

Description

어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법 및 시스템, 컴퓨터 저장 매체

본 발명은 단말기의 충전 기술 분야에 관한 것으로, 더 구체적으로 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법 및 시스템, 컴퓨터 저장 매체에 관한 것이다.

급속 충전 기술은 어댑터를 이용하여 다단식 정전류 방식으로 단말기의 배터리를 충전할 수 있기 때문에 안전성과 신뢰성을 확보하면서 급속 충전이 가능하며, 단말기의 충전 속도가 크게 향상된다. 급속 충전할 때에 어댑터와 단말기는 양방향 통신을 수행하므로 어댑터가 명령을 보내는 시간은 플래시 충전 효과에 영향을 미친다.

종래의 기술에서 오실로스코프로 어댑터가 명령을 보내는 시간을 검출할 때, 검출 명령의 수량이 많고 또한 검출 과정이 복잡하기 때문에, 검출 효율 및 검출 정확도가 낮다.

본 출원의 실시예는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법 및 시스템, 컴퓨터 저장 매체를 제공하며, 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 검출할 때, 검출 명령의 수량을 감소하고, 검출 과정을 간소화하며, 검출 효율 및 검출 정확도를 크게 향상시킬 수 있다.

본 발명의 제 1 양태에서, 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법이 제공된다. 상기 방법은,

어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하는 단계 - 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타냄 - 와,

클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하는 단계와,

첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하는 단계와,

제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 단계를 포함한다.

본 출원의 실시예는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법 및 시스템, 컴퓨터 저장 매체를 제공한다. 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하고, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타내며, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하고, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하며, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성한다. 보다시피, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호에 따라 통신을 수행할 때의 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 하강 에지와 상승 에지를 각각 확정하고, 클럭 신호의 하강 에지와 상승 에지에 따라 진일보로 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 획득한다. 본 출원의 테스트 시스템은 어댑터와 통신할 때에 직접 어댑터의 시간 매개 변수를 검출하므로, 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 검출할 때, 검출 명령의 수량을 감소하고, 검출 과정을 간소화하며, 검출 효율 및 검출 정확도를 크게 향상시킬 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법의 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 시스템의 개략도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 보드의 개략도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 시스템과 어댑터 사이의 연결을 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 클럭 신호의 개략도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 명령을 전송할 때의 클럭 신호 및 데이터 신호의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 유효 인터럽트의 상승 에지 및 하강 에지의 개략도이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 시스템의 구조를 나타내는 개략도 1이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 시스템의 구조를 나타내는 개략도 2이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 기술적 해결책을 명확하고 완전하게 설명한다. 본 명세서에 기재된 실시예는 본 발명을 설명하는 데에 사용되며, 본 발명을 한정하고자 하는 것은 아니다. 또한 편리하게 설명하기 위하여, 첨부된 도면에는 본 발명에 관련된 부분만 도시되고 있다.

단말기를 급속 충전할 때에, 플래시 충전을 실현하기 위하여 전용 어댑터와 전용 배터리가 필요하다. 일반적으로 플래시 충전용 어댑터에 마이크로 컨트롤러 유닛(Microcontroller Unit, MCU) 스마트 칩이 설치되어 있기 때문에, 상기 어댑터는 스마트 충전기로 업그레이드될 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 어댑터로 단말기를 급속 충전하는 과정은 주로 아래 다섯 단계를 포함한다.

단계 1: 단말기는 어댑터의 유형을 검출하고, 어댑터는 어댑터와 단말기 사이의 핸드 셰이크 통신을 시작하며, 어댑터는 급속 충전 모드를 사용할지 여부를 문의하는 제 1 명령을 단말기로 전송하고, 단말기가 급속 충전 모드를 사용하는 데에 동의하면, 급속 충전 통신 과정은 단계 2로 들어간다.

단계 2: 어댑터는 어댑터의 출력 전압이 적절한지 여부를 문의하는 제 2 명령을 단말기로 전송하고, 단말기가 어댑터의 출력 전압이 높거나 낮거나 또는 적절하다고 응답한 후에, 어댑터는 출력 전압이 적절할 때까지 출력 전압을 조정한다.

단계 3: 어댑터는 단말기가 현재 지원할 수 있는 최대 충전 전류를 문의하는 제 3 명령을 단말기로 전송하고, 단말기가 어댑터의 문의에 응답하여 최대 충전 전류를 알려주면, 단계 4로 들어간다.

단계 4: 어댑터는 출력 전류를 단말기가 현재 지원할 수 있는 최대 충전 전류로 설정하고, 정전류 단계로 들어가며, 즉 단계 5로 들어간다.

단계 5: 정전류 단계에서, 어댑터는 특정 시간 간격으로 단말기의 배터리의 현재 전압을 문의하는 제 4 명령을 단말기로 전송하고, 단말기는 배터리의 현재 전압을 어댑터에 피드백하며, 어댑터는 단말기가 피드백한 배터리의 현재 전압에 따라 단말기가 양호하게 접촉하고 있는지 여부 및 단말기의 현재 충전 전류값을 낮출 필요가 있는지 여부를 판단한다.

정전류 단계는 단계 5에서 어댑터의 출력 전류가 변하지 않는다는 것을 의미하는 것이 아니라,‘정전류’는 다단식 정전류를 의미하며, 즉 출력 전류는 일정한 기간 내에 변하지 않는다.

어댑터와 단말기 사이에서 양방향 통신을 수행하고, 다단식 정전류 충전 방식으로 단말기를 충전함으로써 급속 충전을 실현하기 때문에, 어댑터에서 전송되는 명령의 각 매개 변수는 플래시 충전 효과에 큰 영향을 미친다. 따라서, 어댑터로부터 전송되는 명령의 매개 변수를 검출하는 것은 매우 중요하다.

이하, 본 출원의 첨부된 도면을 참조하여 본 출원의 실시예의 기술적 해결책을 명확하고 완전하게 설명한다.

본 출원의 실시예는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법이 제공한다. 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법의 흐름도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템에 의해 수행되는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법은 아래 단계를 포함한다.

단계 101, 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하며, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타낸다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에 어댑터로부터 송신된 클럭 신호를 수신한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 어댑터가 테스트 시스템에 명령을 전송할 때, 클럭 신호를 사용하여 명령의 전송 시간을 제어할 수 있다. 구체적으로, 어댑터는 클럭 신호를 테스트 시스템에 전송함으로써, 어댑터와 테스트 시스템 사이의 양방향 통신이 클럭 신호의 클럭 주기에 따라 수행되도록 한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터의 매개 변수를 검출하는 시스템일 수 있다. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 시스템의 개략도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 테스트 시스템은 테스트 보드, 전자 부하 및 호스트 컴퓨터를 포함한다. 테스트 보드는 전자 부하에 연결되어 있고, 또한 전자 부하와 협동할 수 있으며, 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor, MOSFET, MOS) 스위치를 제어함으로써, 단말기의 상태를 모의할 수 있다. 구체적으로, 본 출원의 실시예에서, 테스트 보드는 검출된 어댑터의 다양한 값을 호스트 컴퓨터로 전송할 수 있으며, 예를 들어, 테스트 보드는 검출된 어댑터의 출력 상태를 호스트 컴퓨터에 보고할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 도 2를 기반으로, 도 3은 테스트 보드의 구조를 나타내는 개략도이고, 도 3에 도시된 바와 같이, 테스트 보드에 MCU 및 MOS가 통합될 수 있으며, VBUS 는 USB 전압을 나타내고, GND는 전원 접지를 나타낸다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 도 2를 기반으로, 도 4는 테스트 시스템과 어댑터 사이의 연결을 나타내는 개략도이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 테스트 시스템의 테스트 보드는 어댑터에 연결되어 있으며, 어댑터와 양방향 통신할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터에 연결되어 어댑터와 통신함으로써, 어댑터로 단말기를 급속 충전하는 과정을 모의할 수 있으며, 따라서 어댑터의 각 매개 변수를 직접 테스트할 수 있으며, 오실로스코프를 통해 어댑터의 매개 변수의 테스트 결과를 획득할 필요가 없다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터에 연결되어 어댑터와 통신함으로써, 어댑터로 단말기를 급속 충전하는 과정을 모의하는 과정에서, 수신된 클럭 신호의 첫 인터럽트는 어댑터로 단말기를 급속 충전하는 과정에서의 제 1 바이트일 수 있으며, 즉 상술한 단계 1에서의 급속 충전 모드를 사용할지 여부를 문의하는 제 1 명령의 제 1 바이트일 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 클럭 신호의 첫 인터럽트는 어댑터로부터 송신되는, 어댑터의 매개 변수를 검출하는 데에 사용되는 테스트 바이트일 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 어댑터는 단말기를 급속 충전하는 데에 사용된다. 구체적으로, 어댑터와 단말기는 USB 인터페이스를 통해 연결될 수 있다. USB 인터페이스는 일반적인 USB 인터페이스, 마이크로 USB 인터페이스, 또는 Type C 인터페이스 등일 수 있다. USB 인터페이스의 파워 라인은 어댑터로 단말기를 충전하는 데에 사용된다. USB 인터페이스의 파워 라인은 USB 인터페이스의 VBUS 라인 및/또는 접지선일 수 있다. USB 인터페이스의 데이터 라인은 어댑터와 단말기가 양방향 통신하는 데에 사용된다. 데이터 라인은 USB 인터페이스의 D+ 라인 및/또는 D- 라인일 수 있다. ‘양방향 통신’은 어댑터와 단말기 사이의 정보를 교환을 가리킨다.

또한, 본 출원의 실시예에서, 어댑터는 일반 충전 모드 또는 급속 충전 모드를 지원할 수 있다. 급속 충전 모드의 충전 전류는 일반 충전 모드의 충전 전류보다 크고, 즉 급속 충전 모드의 충전 속도는 일반 충전 모드의 충전 속도보다 빠르다. 일반적으로 일반 충전 모드는 정격 출력 전압이 5V이고, 또한 정격 출력 전류가 2.5A이하인 충전 모드를 가리킨다. 또한 일반 충전 모드에서 어댑터의 출력 포트 D+ 및 D-는 단락될 수 있다. 급속 충전 모드에서 어댑터는 D+ 및 D-를 통해 단말기와 통신하고 또한 데이터를 교환할 수 있다.

본 출원의 실시예에서, 어댑터는 단말기를 급속 충전하는 결정적인 요소이기 때문에, 어댑터의 성능 매개 변수를 테스트하는 것이 매우 중요하다. 어댑터의 성능 매개 변수는 명령을 전송하는 시간 매개 변수, 출력 전압, 출력 전류 등을 포함할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템과 어댑터가 연결된 후에, 어댑터는 USB 인터페이스의 데이터 라인을 통해 테스트 시스템에 클럭 신호를 보낼 수 있다. 클럭 신호는 어댑터와 테스트 시스템 간의 통신 타이밍(communication timing)을 지시하는 데에 사용된다. 구체적으로, 어댑터는 주동적으로 테스트 시스템에 클럭 신호를 전송하고, 어댑터가 테스트 시스템에 연결되어 있는 동안 클럭 신호의 전송을 유지할 수 있기 때문에, 어댑터는 통신 타이밍의 제어하에 테스트 시스템과 양방향 통신할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 통신 타이밍은 번갈아 발생하는 어댑터의 명령 전송 기간 및 어댑터의 명령 수신 기간을 포함한다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에 D+ 데이터 라인을 통해 어댑터로부터 송신된 클럭 신호를 수신한다.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 클럭 신호의 개략도이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 본 출원의 실시예에 있어서, D+ 데이터 라인의 클럭 신호는 로우 레벨과 하이 레벨을 포함한다. 하나의 클럭 사이클에는 하나의 로우 레벨과 하나의 하이 레벨이 포함된다. 예를 들어, 하나의 클럭 사이클에는 10μs의 로우 레벨과 500μs의 하이 레벨이 포함된다.

도 5를 기반으로, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 명령을 전송할 때의 클럭 신호 및 데이터 신호의 개략도이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 어댑터에서 단말기로 전송되는 각 명령은 8비트의 데이터를 포함한다. 어댑터는 클럭 신호의 연속된 8개의 클럭 사이클을 통해 단말기에 8비트의 데이터를 전송한다. 여기서, 연속된 8개의 클럭 사이클에 있어서의 각 클럭 사이클의 처음 10μs는 인터럽트(interrupt)이고, 마지막 500μs는 데이터이다. 어댑터가 단말기로부터 수신한 각 응답 명령은 10비트의 데이터를 포함한다. 어댑터는 클럭 신호의 연속된 10개의 클럭 사이클을 통해 단말기로부터 10비트의 데이터를 수신한다. 연속된 10개의 클럭 사이클에 있어서의 각 클럭 사이클의 처음 500μs는 데이터이고, 나머지 10μs는 인터럽트이다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에 수신된 클럭 신호에 따라 어댑터의 시간 매개 변수를 테스트할 수 있다.

단계 102, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터로부터 전송된 클럭 신호를 수신한 다음에, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 채집한다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 클럭 신호를 수신한 다음에, 클럭 신호의 유효 인터럽트 및 구형파를 수집함으로서, 클럭 신호의 제 1 유효 인터럽트, 제 1 구형파 및 제 2 유효 인터럽트를 획득할 수 있으며, 즉, 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 상술한 단계 1에서 어댑터가 보낸 제 1 명령은 급속 충전 모드를 사용할지 여부를 확정하는 데에 사용되므로, 테스트 시스템은 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 테스트할 때에 어댑터에서 보낸 제 1 명령에 대하여 타이밍 테스트를 수행할 필요가 있으며, 따라서 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파를 수집할 필요가 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 테스트할 때에 연속된 두개의 유효 인터럽트를 통해 데이터 전송 시간 간격과 데이터 전송 지속 시간을 확정할 수 있으므로, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 수집할 필요가 있다.

단계 103, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트를 획득한 후에, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트에 따라 어댑터가 명령 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 진일보로 확정할 수 있다. 구체적으로, 테스트 시스템은 먼저 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트의 상승 에지 및 하강 에지를 검출함으로써, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득할 수 있다.

도 6을 기반으로, 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 유효 인터럽트의 상승 에지 및 하강 에지의 개략도이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 테스트 시스템은 제 1 유효 인터럽트의 하강 에지 및 상승 에지, 구형파의 하강 에지 및 제 2 유효 인터럽트의 하강 에지를 수집할 수 있다.

단계 104, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득한 다음에, 진일보로 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 테스트 결과를 생성할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지를 확정한 다음에, 제 1 하강 에지와 제 1 상승 에지에 따라 유효 인터럽트의 인터럽트 지속 시간을 확정할 수 있다. 또한, 제 1 하강 에지와 제 2 하강 에지에 따라 데이터 전송 지속 시간을 확정할 수 있다. 또한, 제 2 하강 에지와 제 3 하강 에지에 따라 시간 간격을 확정할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템이 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성할 때, 테스트 보드를 통해 직접 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격을 획득할 수 있으며, 또는 먼저 테스트 보드를 통해 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지를 호스트 컴퓨터로 전송한 다음에, 호스트 컴퓨터를 통해 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격을 획득할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 결과는 어댑터에 대응하는 시간 매개 변수의 테스트 결과를 나타낸다. 구체적으로, 테스트 결과에 따라 어댑터에 대응하는 시간 매개 변수가 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 확정할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 결과는 유효 인터럽트의 인터럽트 지속 시간을 나타내는 제 1 결과, 명령 데이터 전송 지속 시간을 나타내는 제 2 결과, 전송 시간 간격을 나타내는 제 3 결과를 포함한다.

본 출원의 실시예에 따른 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법은, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하고, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타내며, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하고, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하며, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성한다. 보다시피, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호에 따라 통신을 수행할 때의 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 하강 에지와 상승 에지를 각각 확정하고, 클럭 신호의 하강 에지와 상승 에지에 따라 진일보로 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 획득한다. 본 출원의 테스트 시스템은 어댑터와 통신할 때에 직접 어댑터의 시간 매개 변수를 검출하므로, 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 검출할 때, 검출 명령의 수량을 감소하고, 검출 과정을 간소화하며, 검출 효율 및 검출 정확도를 크게 향상시킬 수 있다.

상술한 실시예를 기반으로, 본 출원의 다른 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 것은 아래 단계를 포함할 수 있다.

단계 104a, 제 1 하강 에지와 제 1 상승 에지에 따라 인터럽트 지속 시간을 확정한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지를 획득한 다음에, 진일보로 제 1 하강 에지와 제 1 상승 에지에 따라 인터럽트 지속 기간을 확정할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 인터럽트 지속 시간은 어댑터로부터 전송된 클럭 신호 중 유효 인터럽트가 얼마나 오래 지속되는지를 나타낸다. 따라서 테스트 시스템은 먼저 인터럽트 지속 시간을 확정할 수 있으며, 그 다음에 어댑터의 클럭 신호가 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 확정할 수 있다.

단계 104b, 제 1 하강 에지와 제 2 하강 에지에 따라 전송 지속 시간을 확정한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지를 획득한 다음에, 진일보로 제 1 하강 에지 및 제 2 하강 에지에 따라 전송 지속 시간을 확정할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 전송 지속 시간은 어댑터가 명령을 전송할 때의 데이터 전송 지속 시간을 나타낸다. 따라서 테스트 시스템은 먼저 전송 지속 시간을 확정할 수 있으며, 그 다음에 어댑터의 명령 시간이 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 확정할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 전송 지속 시간은 하나의 완전한 바이트를 전송하는 데에 걸리는 시간, 즉 테스트 시스템이 하나의 바이트에 대응하는 첫 유효 인터럽트를 수신한 시점으로부터 상기 바이트에 대응하는 마지막 비트를 응답 완료한 시점까지의 지속 시간을 나타낸다.

단계 104bc, 제 2 하강 에지와 제 3 하강 에지에 따라 시간 간격을 확정한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지와 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득한 다음에, 진일보로 제 2 하강 에지와 제 3 하강 에지에 따라 시간 간격을 확정할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 시간 간격은 어댑터가 명령을 전송할 때의 서로 다른 바이트 사이의 전송 간격을 나타낸다. 따라서 테스트 시스템은 시간 간격을 확정한 다음에, 진일보로 어댑터의 명령 시간이 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 판단할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 시간 간격은 서로 인접한 두 바이트 사이의 시간 간격, 즉 어댑터가 서로 인접한 두개의 바이트를 연속적으로 전송할 때의 시간 간격을 나타낸다.

단계 104d, 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격을 확정한 다음에, 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정할 때에 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값과 인터럽트 지속 시간을 비교하고, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값과 전송 지속 시간을 비교하고, 미리 설정된 시간 간격 문턱값과 시간 간격을 비교함으로써, 비교 결과에 따라 테스트 결과를 확정할 수 있다.

본 출원의 실시예에 따른 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하고, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타내며, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하고, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하며, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성한다. 보다시피, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호에 따라 통신을 수행할 때의 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 하강 에지와 상승 에지를 각각 확정하고, 클럭 신호의 하강 에지와 상승 에지에 따라 진일보로 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 획득한다. 본 출원의 테스트 시스템은 어댑터와 통신할 때에 직접 어댑터의 시간 매개 변수를 검출하므로, 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 검출할 때, 검출 명령의 수량을 감소하고, 검출 과정을 간소화하며, 검출 효율 및 검출 정확도를 크게 향상시킬 수 있다.

상술한 실시예를 기반으로, 본 출원의 또 하나의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정하기 전에, 즉 단계 104d 전에, 테스트 시스템에 의해 수행되는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법은 아래 단계를 더 포함할 수 있다.

단계 105, 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 획득한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정하기 전에, 우선 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 획득할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값은 어댑터에 대응하는 타이밍 요구 사항을 나타낸다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 미리 설정할 수 있다. 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값은 어댑터로부터 전송된 클럭 신호 중 유효 인터럽트에 대한 타이밍 요구 사항을 나타낸다. 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값은 어댑터가 명령을 전송할 때의 데이터 전송에 대한 타이밍 요구 사항을 나타낸다. 미리 설정된 시간 간격 문턱값은 어댑터가 두개의 연속된 바이트를 전송할 때의 시간 간격에 대한 타이밍 요구 사항을 나타낸다.

본 출원의 실시예에 있어서, 진일보로 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정하는 것은 아래 단계를 포함한다.

단계 201, 인터럽트 지속 시간 및 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값에 따라 제 1 결과를 획득한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간과 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값을 획득한 다음에, 진일보로 인터럽트 지속 시간과 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값에 따라 제 1 결과를 획득할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간을 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값과 비교함으로써, 비교 결과에 따라 진일보로 제 1 결과를 확정할 수 있다. 제 1 결과는 어댑터가 클럭 신호 중 유효 인터럽트에 대한 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 나타낸다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간과 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값을 비교한 다음에, 인터럽트 지속 시간이 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 제 1 결과는 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 인터럽트 지속 시간과 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값을 비교한 다음에, 인터럽트 지속 시간이 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 제 1 결과는 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정할 수 있다.

단계 202, 전송 지속 시간 및 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값에 따라 제 2 결과를 획득한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 전송 지속 시간과 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값을 획득한 다음에, 진일보로 전송 지속 시간과 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값에 따라 제 2 결과를 획득할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 전송 지속 시간을 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값과 비교함으로써, 비교 결과에 따라 진일보로 제 2 결과를 확정할 수 있다. 제 2 결과는 어댑터가 하나의 바이트를 전송하는 데에 걸리는 시간에 대한 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 나타냅니다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 전송 지속 시간과 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값을 비교한 다음에, 전송 지속 시간이 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 제 2 결과는 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 전송 지속 시간과 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값을 비교한 다음에, 전송 지속 시간이 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 제 2 결과는 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정할 수 있다.

단계 203, 시간 간격 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값에 따라 제 3 결과를 획득한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 시간 간격과 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 획득한 다음에, 진일보로 시간 간격과 미리 설정된 시간 간격 문턱값에 따라 제 3 결과를 획득할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 시간 간격과 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 비교함으로써, 비교 결과에 따라 진일보로 제 3 결과를 확정할 수 있다. 제 3 결과는 어댑터가 두개의 연속된 바이트를 전송할 때의 시간 간격에 대한 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 나타냅니다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 시간 간격과 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 비교한 다음에, 시간 간격이 미리 설정된 시간 간격 문턱값 이상인 경우, 제 3 결과는 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정할 수 있다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 시간 간격과 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 비교한 다음에, 시간 간격이 미리 설정된 시간 간격 문턱값보다 작은 경우, 제 3 결과는 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정할 수 있다.

단계 204, 제 1 결과, 제 2 결과 및 제 3 결과에 따라 테스트 결과를 확정한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 제 1 결과, 제 2 결과 및 제 3 결과를 획득한 다음에, 제 1 결과, 제 2 결과 및 제 3 결과에 따라 어댑터의 테스트 결과를 생성할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 결과에 따라 어댑터의 시간 매개 변수가 미리 설정된 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 판정할 수 있으며, 즉 어댑터가 클럭 신호 중 유효 인터럽트에 대한 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부, 어댑터가 하나의 바이트를 전송하는 데에 걸리는 시간에 대한 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부 및 어댑터가 두개의 연속된 바이트를 전송할 때의 시간 간격에 대한 타이밍 요구 사항을 충족하는지 여부를 판정할 수 있다.

상술한 실시예를 기반으로, 본 출원의 또 하나의 실시예에 있어서, 도 8은 본 출원의 실시예에 따른 테스트 시스템의 구조를 나타내는 개략도 1이다. 도 8에 도시된 바와 같이, 본 출원의 실시예에 따른 테스트 시스템(1)은 수신 부분(11), 획득 부분(12) 및 생성 부분(13)을 포함한다.

수신 부분(11)은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하는 데에 사용되며, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타낸다.

획득 부분(12)은 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하는 데에 사용되고, 또한 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하는 데에 사용된다.

생성 부분(13)은 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 데에 사용된다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 생성 부분(13)은 구체적으로 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지에 따라 인터럽트 지속 기간을 확정하고, 제 1 하강 에지 및 제 2 하강 에지에 따라 전송 지속 시간을 확정하고, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 시간 간격을 확정하며, 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정하는 데에 사용된다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 생성 부분(13)이 인터럽트 지속 시간, 전송 지속 시간 및 시간 간격에 따라 테스트 결과를 확정하기 전에, 획득 부분(12)은 또한 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 획득하는 데에 사용되며, 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값은 어댑터에 대응하는 타이밍 요구 사항을 나타낸다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 획득 부분(12)은 구체적으로 인터럽트 지속 시간 및 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값에 따라 제 1 결과를 획득하고, 전송 지속 시간 및 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값에 따라 제 2 결과를 획득하며, 시간 간격 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값에 따라 제 3 결과를 획득하는 데에 사용된다.

생성 부분(13)은 구체적으로 제 1 결과, 제 2 결과 및 제 3 결과에 따라 테스트 결과를 확정하는 데에 사용된다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 획득 부분(12)은 또한 인터럽트 지속 시간이 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 제 1 결과는 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하는 데에 사용된다. 획득 부분(12)은 또한 인터럽트 지속 시간이 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 제 1 결과는 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 데에 사용된다. 획득 부분(12)은 또한 전송 지속 시간이 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 제 2 결과는 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하는 데에 사용된다. 획득 부분(12)은 또한 전송 지속 시간이 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 제 2 결과는 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 데에 사용된다. 획득 부분(12)은 또한 시간 간격이 미리 설정된 시간 간격 문턱값 이상인 경우, 제 3 결과는 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하는 데에 사용된다. 획득 부분(12)은 또한 시간 간격이 미리 설정된 시간 간격 문턱값보다 작은 경우, 제 3 결과는 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 데에 사용된다.

도 9는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 시스템의 구조를 나타내는 개략도 2이다. 도 9에 도시된 바와 같이, 테스트 시스템(1)은 테스트 보드(14), 호스트 컴퓨터(15) 및 전자 부하(16)를 더 포함한다. 테스트 보드에 프로세서와 프로세서에서 실행 가능한 명령이 저장된 메모리가 통합되어 있다. 선택적으로, 테스트 시스템(1)은 통신 인터페이스(17)와 테스트 보드(14), 호스트 컴퓨터(15), 전자 부하(16) 및 통신 인터페이스(17)를 연결하는 데에 사용되는 버스(18)를 더 포함할 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 호스트 컴퓨터(15)에도 프로세서 및 메모리가 통합되어 있을 수 있으며, 또한 테스트 보드(14)의 프로세서 및 메모리와 같은 기능을 갖는다.

본 출원의 실시예에 있어서, 프로세서는 주문형 집적 회로(Application Specific Integrated Circuit, ASIC), 디지털 신호 프로세서(Digital Signal Processor, DSP), 디지털 신호 프로세서 장치(Digital Signal Processing Device, DSPD), 프로그래머블 로직 디바이스(Programmable Logic Device, PLD), 필드 프로그래머블 게이트 어레이(Field-Programmable Gate Array, FPGA), 중앙 처리 장치(central processing unit, CPU), 컨트롤러, 마이크로 컨트롤러 및 마이크로 프로세서 중 적어도 하나일 수 있다. 서로 다른 장치인 경우, 프로세서의 기능을 실현하는 데에 사용되는 전자 장치는 다른 장치일 수 있으며, 본 출원의 실시예는 구체적으로 한정하지 않는다. 테스트 시스템(1)은 프로세서에 연결된 메모리를 더 포함할 수 있다. 메모리는 실행 가능 프로그램 코드를 저장하는 데에 사용된다. 프로그램 코드는 컴퓨터 조작 명령을 포함한다. 메모리는 고속 랜덤 액세스 메모리(Random Access Memory, RAM)을 포함할 수 있거나 또는 비 휘발성 메모리를 포함할 수 있으며, 예를 들어, 적어도 2개의 자기 저장 장치를 포함한다.

본 출원의 실시예에 있어서, 메모리는 명령과 데이터를 저장하는 데에 사용된다.

또한, 본 출원의 실시예에 있어서, 프로세서는 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하고, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타내며, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하며, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하고, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 데에 사용된다.

실제 응용에 있어서, 메모리는 랜덤 액세스 메모리(Random Access Memory, RAM)와 같은 휘발성 메모리, 또는 읽기 전용 메모리(Read-Only Memory, ROM), 플래시 메모리(flash memory), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk drive, HDD), 솔리드 스테이트 드라이브(solid-state drive, SSD) 등과 같은 비 휘발성 메모리, 또는 상기 유형의 메모리의 조합일 수 있으며, 프로세서에 명령 및 데이터를 제공하는 데에 사용된다.

또한, 본 실시예에서의 각 기능 유닛은 하나의 처리 유닛에 통합될 수 있고, 또는 각각의 유닛이 물리적으로 별도로 존재할 수도 있고, 또는 2개 이상의 유닛이 하나의 유닛에 통합될 수도 있다. 통합 유닛은 하드웨어 또는 소프트웨어 기능 유닛의 형태로 구현될 수 있다.

상기 통합된 유닛은 소프트웨어 기능 유닛 형태로 구현되어 별도의 제품으로 판매되거나 사용되는 경우, 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장될 수 있다. 이러한 이해를 기초로 하여, 본 실시예의 기술방안의 본질, 혹은 기술 분야에 기여하는 부분 또는 기술적 방안의 일부 또는 전부를 소프트웨어 제품의 형태로 구현될 수 있다. 상기 컴퓨터 소프트웨어 제품은 하나의 저장 매체에 저장되며, 컴퓨터 장치(개인용 컴퓨터, 서버 또는 네트워크 장치일 수 있음)또는 프로세서가 본 실시예에 따른 방법의 전부 또는 일부를 실행할 수 있도록 하는 다수의 명령어를 포함한다. 상기 저장 매체는 USB 플래시 메모리, 모바일 하드 디스크, 읽기 전용 메모리(ROM, Read-Only Memory), 랜덤 액세스 메모리(RAM, Random Access Memory), 자기 디스크 또는 광디스크 등의 각종 프로그램 코드를 저장 가능한 매체를 포함한다.

본 출원의 실시예에 따른 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하고, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타내며, 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하고, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하며, 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성한다. 보다시피, 본 출원의 실시예에 있어서, 테스트 시스템은 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호에 따라 통신을 수행할 때의 첫 유효 인터럽트, 구형파 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 하강 에지와 상승 에지를 각각 확정하고, 클럭 신호의 하강 에지와 상승 에지에 따라 진일보로 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 획득한다. 본 출원의 테스트 시스템은 어댑터와 통신할 때에 직접 어댑터의 시간 매개 변수를 검출하므로, 어댑터가 명령을 전송하는 시간 매개 변수를 검출할 때, 검출 명령의 수량을 감소하고, 검출 과정을 간소화하며, 검출 효율 및 검출 정확도를 크게 향상시킬 수 있다.

본 출원의 실시예에 있어서, 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체가 제공된다. 프로그램이 프로세서에 의해 실행되면, 상술한 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법을 실행한다.

구체적으로, 본 출원의 실시예에 따른 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법에 대응하는 프로그램 명령은 광 디스크, 하드 디스크, USB 플래시 디스크 등 저장 매체에 저장될 수 있다. 저장 매체에 저장된 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법에 대응하는 프로그램 명령이 전자 장치에 의해 판독되거나 또는 실행되면, 아래 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법을 실행한다: 어댑터와 연결된 후에, 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하고, 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타낸다; 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득한다; 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득한다; 제 1 하강 에지, 제 1 상승 에지, 제 2 하강 에지 및 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성한다.

당업자라면 본 출원의 실시예는 방법, 시스템 또는 컴퓨터 프로그램을 제공할 수 있다는 것을 이해할 수 있다. 따라서, 본 출원은 하드웨어 실시예, 소프트웨어 실시예 또는 소프트웨어와 하드웨어를 결합한 실시예를 포함할 수 있다. 또한, 본 출원은 컴퓨터 사용 가능한 저장 매체(자기 저장 장치, 광학 메모리 등을 포함하지만, 이것에 한정되지 않음)에 저장된 하나 이상의 컴퓨터 프로그램의 형태로 구현될 수 있으며, 컴퓨터 프로그램은 컴퓨터 사용 가능한 프로그램 코드를 포함한다.

본 출원은 본 출원의 실시예에 따른 방법, 장치(시스템) 및 컴퓨터 프로그램의 흐름도 및/또는 블록도를 참조하여 설명한다. 흐름도 및/또는 블록도의 각 흐름 및/또는 블록, 흐름도 및/또는 블록도의 흐름 및/또는 블록의 조합은 컴퓨터 프로그램 명령에 의해 실현될 수 있음을 이해하기 바란다. 이러한 컴퓨터 프로그램 명령은 범용 컴퓨터, 전용 컴퓨터, 임베디드 프로세서, 또는 다른 프로그램 가능한 데이터 처리 장치의 프로세서에 제공되어 기계를 형성할 수 있으며, 컴퓨터 또는 다른 프로그램 가능한 데이터 처리 장치의 프로세서에서 명령을 실행함으로써, 흐름도의 하나이상의 흐름 및/또는 블록도의 하나 이상의 블록에 의해 지정되는 기능을 실현하기 위한 디바이스를 생성할 수 있다.

이러한 컴퓨터 프로그램 명령은 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 처리 장치가 특정 방식으로 작동하도록 지시할 수 있는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장될 수 있으며, 따라서 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장된 명령은 명령 장치를 포함하는 제품을 생성할 수 있으며, 명령 장치는 흐름도의 하나이상의 흐름 및/또는 블록도의 하나 이상의 블록에 의해 지정되는 기능을 실현한다.

이러한 컴퓨터 프로그램 명령은 컴퓨터 또는 다른 프로그램 가능한 데이터 처리 장치에 로드될 수 있으며, 따라서 컴퓨터 또는 다른 프로그램 가능한 데이터 처리 장치에서 일련의 프로세스 단계를 수행하여 컴퓨터에 의해 실행되는 처리를 생성할 수 있으며, 그 결과, 컴퓨터 또는 다른 프로그램 가능한 데이터 처리 장치에서 실행되는 명령은 흐름도의 하나 이상의 흐름 및/또는 블록도의 하나 이상의 블록에 의해 지정되는 기능을 실현하기 위한 단계를 제공한다.

상술한 것은 단지 본 출원의 바람직한 실시예일 뿐이며, 본 출원의 보호 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다.

Claims

어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법으로서,
상기 어댑터와 연결된 후에, 상기 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하는 단계와,
상기 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 상기 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 상기 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하는 단계와,
상기 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 상기 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 상기 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하는 단계와,
상기 제 1 하강 에지, 상기 제 1 상승 에지, 상기 제 2 하강 에지 및 상기 제 3 하강 에지에 따라 상기 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 단계를 포함하고,
상기 제 1 하강 에지, 상기 제 1 상승 에지, 상기 제 2 하강 에지 및 상기 제 3 하강 에지에 따라 상기 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 것은,
상기 제 1 하강 에지와 상기 제 1 상승 에지에 따라 인터럽트 지속 시간을 확정하는 것과,
상기 제 1 하강 에지와 상기 제 2 하강 에지에 따라 전송 지속 시간을 확정하는 것과,
상기 제 2 하강 에지와 상기 제 3 하강 에지에 따라 시간 간격을 확정하는 것과,
상기 인터럽트 지속 시간, 상기 전송 지속 시간 및 상기 시간 간격에 따라 상기 테스트 결과를 확정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 1 항에 있어서,
상기 인터럽트 지속 시간, 상기 전송 지속 시간 및 상기 시간 간격에 따라 상기 테스트 결과를 확정하기 전에, 상기 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법은,
미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 획득하는 단계를 더 포함하며,
상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값은 상기 어댑터에 대응하는 타이밍 요구 사항을 나타내는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 2 항에 있어서,
상기 인터럽트 지속 시간, 상기 전송 지속 시간 및 상기 시간 간격에 따라 상기 테스트 결과를 확정하는 것은,
상기 인터럽트 지속 시간 및 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값에 따라 제 1 결과를 획득하는 것과,
상기 전송 지속 시간 및 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값에 따라 제 2 결과를 획득하는 것과,
상기 시간 간격 및 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값에 따라 제 3 결과를 획득하는 것과,
상기 제 1 결과, 상기 제 2 결과 및 상기 제 3 결과에 따라 테스트 결과를 확정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 3 항에 있어서,
상기 인터럽트 지속 시간 및 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값에 따라 제 1 결과를 획득하는 것은,
상기 인터럽트 지속 시간이 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 상기 제 1 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하는 것과,
상기 인터럽트 지속 시간이 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 상기 제 1 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 4 항에 있어서,
상기 타이밍 요구 사항은 상기 어댑터로부터 전송된 클럭 신호 중 유효 인터럽트에 대한 요구 사항인 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 3 항에 있어서,
상기 전송 지속 시간 및 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값에 따라 제 2 결과를 획득하는 것은,
상기 전송 지속 시간이 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 상기 제 2 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하는 것과,
상기 전송 지속 시간이 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 상기 제 2 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 6 항에 있어서,
상기 타이밍 요구 사항은 상기 어댑터가 하나의 바이트를 전송하는 데에 걸리는 시간에 대한 요구 사항인 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 3 항에 있어서,
상기 시간 간격 및 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값에 따라 제 3 결과를 획득하는 것은,
상기 시간 간격이 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값 이상인 경우, 상기 제 3 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하는 것과,
상기 시간 간격이 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값보다 작은 경우, 상기 제 3 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 8 항에 있어서,
상기 타이밍 요구 사항은 상기 어댑터가 두개의 연속된 바이트를 전송할 때의 시간 간격에 대한 요구 사항인 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
제 1 항에 있어서,
상기 인터럽트 지속 시간은 상기 어댑터로부터 전송된 클럭 신호 중 유효 인터럽트가 얼마나 오래 지속되는지를 나타내고, 상기 전송 지속 시간은 상기 어댑터가 명령을 전송할 때의 데이터를 전송하는 데에 걸리는 시간을 나타내며, 상기 시간 간격은 상기 어댑터가 명령을 전송할 때의 서로 다른 바이트 사이의 전송 간격을 나타내는 것을 특징으로 하는 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 방법.
테스트 시스템으로서,
수신 부분, 획득 부분 및 생성 부분을 포함하고,
상기 수신 부분은 어댑터와 연결된 후에, 상기 어댑터로부터 송신되는 클럭 신호를 수신하는 데에 사용되며, 상기 클럭 신호는 명령의 전송 시간을 나타내고,
상기 획득 부분은 상기 클럭 신호에 대응하는 첫 유효 인터럽트, 상기 첫 유효 인터럽트에 대응하는 구형파 및 상기 첫 유효 인터럽트에 대응하는 다음 유효 인터럽트를 획득하는 데에 사용되고, 또한 상기 첫 유효 인터럽트에 대응하는 제 1 하강 에지 및 제 1 상승 에지, 상기 구형파에 대응하는 제 2 하강 에지 및 상기 다음 유효 인터럽트에 대응하는 제 3 하강 에지를 획득하는 데에 사용되며,
상기 생성 부분은 상기 제 1 하강 에지, 상기 제 1 상승 에지, 상기 제 2 하강 에지 및 상기 제 3 하강 에지에 따라 어댑터의 시간 매개 변수의 테스트 결과를 생성하는 데에 사용되고,
상기 생성 부분은 구체적으로 상기 제 1 하강 에지 및 상기 제 1 상승 에지에 따라 인터럽트 지속 기간을 확정하고, 상기 제 1 하강 에지 및 상기 제 2 하강 에지에 따라 전송 지속 시간을 확정하고, 상기 제 2 하강 에지 및 상기 제 3 하강 에지에 따라 시간 간격을 확정하며, 상기 인터럽트 지속 시간, 상기 전송 지속 시간 및 상기 시간 간격에 따라 상기 테스트 결과를 확정하는 데에 사용되는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
제 11 항에 있어서,
상기 생성 부분이 상기 인터럽트 지속 시간, 상기 전송 지속 시간 및 상기 시간 간격에 따라 상기 테스트 결과를 확정하기 전에, 상기 획득 부분은 또한 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 미리 설정된 시간 간격 문턱값을 획득하는 데에 사용되며, 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값, 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 및 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값은 상기 어댑터에 대응하는 타이밍 요구 사항을 나타내는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
제 12 항에 있어서,
상기 획득 부분은 구체적으로 상기 인터럽트 지속 시간 및 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값에 따라 제 1 결과를 획득하고, 상기 전송 지속 시간 및 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값에 따라 제 2 결과를 획득하며, 상기 시간 간격 및 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값에 따라 제 3 결과를 획득하는 데에 사용되며,
상기 생성 부분은 구체적으로 상기 제 1 결과, 상기 제 2 결과 및 상기 제 3 결과에 따라 상기 테스트 결과를 확정하는 데에 사용되며,
상기 획득 부분은 또한 상기 인터럽트 지속 시간이 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 상기 제 1 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하고, 상기 인터럽트 지속 시간이 상기 미리 설정된 인터럽트 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 상기 제 1 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하며, 상기 전송 지속 시간이 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값 이상인 경우, 상기 제 2 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하고, 상기 전송 지속 시간이 상기 미리 설정된 전송 지속 시간 문턱값보다 작은 경우, 상기 제 2 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하며, 상기 시간 간격이 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값 이상인 경우, 상기 제 3 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족하지 않는다고 확정하고, 상기 시간 간격이 상기 미리 설정된 시간 간격 문턱값보다 작은 경우, 상기 제 3 결과는 상기 타이밍 요구 사항을 충족한다고 확정하는 데에 사용되는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
테스트 시스템으로서,
테스트 보드, 호스트 컴퓨터 및 전자 부하를 포함하고,
상기 테스트 보드와 상기 호스트 컴퓨터에 프로세서와 메모리가 통합되어 있으며, 상기 메모리는 상기 프로세서에서 실행 가능한 명령을 저장하는 데에 사용되고, 상기 메모리에 저장된 명령이 상기 프로세서에 의해 실행되면 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 방법을 실행하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
컴퓨터 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독 가능 저장 매체로서, 테스트 시스템에 적용되고,
상기 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행되면, 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 방법을 실행하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능 저장 매체.
삭제
삭제