CN106154072B - 一种电子设备测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及通信领域，公开了一种电子设备测试系统及方法，该方法为：对待测设备执行上电操作并进行性能测试；在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备返回的串口数据，并根据串口数据确定待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中；对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试。这样，利用串口的RTS信号，从测试设备直接控制待测设备的上电和掉电状态，不仅操作方法简单，成本很低，而且一台测试设备可以控制多台待测设备，并同时记录多台待测设备的测试结果。

Description

一种电子设备测试系统及方法

技术领域

本发明涉及通信领域，特别涉及一种电子设备测试系统及方法。

背景技术

电子设备在应用过程中，不可避免会出现意外断电的问题，在这种情况下，对设备的可靠性提出了较高的要求，如何测试验证设备具备这种在意外失去电力的情况下，还能保持可靠性等特点，这需要模拟掉电环境和条件。

现有的电子设备测试方法中，一般有两种，第一种方法：通过单片机来控制待测设备的通断电，具体的，采用一个单片机，对单片机编程，通过单片机中的运行逻辑配合单片机周围的外围电路来执行待测设备的通断电操作；第二种方法：采用继电器电路，通过继电器设置定时值，根据设置的定时值对待测设备进行通断电操作。

然而，目前的方案不仅电路复杂，操作繁琐，而且只能适应特定的测试需求，可靠性低。

发明内容

本发明实施例提供一种电子设备测试系统及方法，用以解决现有技术中电路复杂、操作繁琐以及可靠性不高的问题。

本发明实施例提供的具体技术方案如下：

一种电子设备测试系统，包括：测试设备、电源适配器和电源控制电路；其中，

电源适配器，与电源控制电路相连接，用于为待测设备供电；

电源控制电路，与所述待测设备相连接，用于控制所述待测设备的开关状态；

测试设备，分别与所述电源控制电路和所述待测设备相连接，用于通过控制所述电源控制电路，对所述待测设备进行上电操作和掉电操作，并与所述待测设备进行通信，分别记录上电操作和掉电操作时的数据。

这样，不仅操作方法简单，成本很低，而且一台测试设备可以控制多台待测设备，可以同时记录多台待测设备的测试结果。

较佳的，进一步包括：

至少三根地线GND，分别位于所述电源适配器与所述电源控制电路之间、所述电源适配器与所述待测设备之间，以及所述测试设备与所述待测设备之间。

较佳的，所述电源控制电路具体包括：

第一电阻，一端连接所述测试设备，另一端连接三极管的基极；

第二电阻，一端连接所述三极管的基极，另一端接地；

三极管，通过集电极连接第三电阻，通过发射极接地；

第三电阻，一端连接所述电源适配器；

MOS管，通过源极连接所述电源适配器，通过漏极连接第四电阻，通过栅极连接所述三极管的集电极；

第四电阻，一端连接所述待测设备。

一种电子设备测试的方法，包括：

对待测设备执行上电操作并进行性能测试；

在预设时间范围内，判断是否接收到所述待测设备返回的串口数据，并根据所述串口数据确定所述待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中；

对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试。

这样，不仅操作方法简单，成本很低，而且一台测试设备可以控制多台待测设备，可以同时记录多台待测设备的测试结果。

较佳的，对待测设备执行上电操作，并进行性能测试，包括：

根据上电串口指令，将串口的RTS信号设置为高电平，并通过RTS信号线将高电平信号传输到电源控制电路，对待测设备执行上电操作并进行性能测试；

对待测设备执行掉电操作，包括：

根据掉电串口指令，将串口的RTS信号设置为低电平，并通过RTS信号线将低电平信号发送到电源控制电路，对待测设备执行掉电操作。

较佳的，将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中，包括：

先将测试产生的数据记录在串口缓冲区中；

依次读取所述串口缓冲区的数据，并将读取的所有数据保存在指定存储空间中。

较佳的，在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备发送的串口数据，并根据所述串口数据确定所述待测设备的工作状态，包括：

在预设时间范围内，当接收到所述待测设备发送的指定串口数据时，确定所述待测设备处于正常工作状态，否则，确定所述待测设备处于异常工作状态。

较佳的，确定所述待测设备处于正常工作状态之后，执行掉电操作之前，进一步包括：

确定执行掉电操作的预设周期，并判定能够按照所述预设周期执行后续掉电操作；其中，所述预设周期大于所述预设时间范围；

确定所述待测设备处于异常工作状态之后，执行掉电操作之前，进一步包括：

判定能够直接执行掉电操作。

较佳的，确定所述待测设备的工作状态之后，执行掉电操作之前，进一步包括：

根据用户的指令向所述待测设备发送指定附加性能测试的参数，并接收所述待测设备基于所述参数反馈的数据。

较佳的，执行掉电操作之后，进入下一轮测试之前，进一步包括：

清空当前串口缓冲区保留的数据以及记录当前测试次数的序号；

向用户弹出询问界面，当接收到用户选择的继续测试指令时，确定可以进入下一轮测试。

附图说明

图1为本发明实施例中电子设备测试系统结构示意图；

图2为本发明实施例中电源控制电路的结构示意图；

图3为本发明实施例中电子设备测试的概述流程示意图；

图4为本发明实施例中电子设备测试的具体流程示意图。

具体实施方式

为了测试设备在意外掉电的情况下，仍然保持可靠性等特点。本发明实施例中，采用串口的RTS信号，从测试设备直接控制待测设备的上电和掉电状态，通过简便的模拟掉电环境和条件对待测设备进行性能测试。

下面结合附图对本发明优选的实施方式进行详细说明。

参阅图1所示，本发明实施例中，电子设备测试系统的结构示意图。

一种电子设备测试系统，包括：测试设备、电源适配器和电源控制电路；其中，

电源适配器，与电源控制电路相连接，用于为待测设备供电；

电源控制电路，与待测设备相连接，用于控制待测设备的开关状态；

测试设备，分别与电源控制电路和待测设备相连接，用于通过控制电源控制电路，对待测设备进行上电操作和掉电操作，并与待测设备进行通信，分别记录上电操作和掉电操作时的数据。

其中，该电路至少有三根地线(Ground，GND)，分别位于电源适配器与电源控制电路之间、电源适配器与待测设备之间，以及测试设备与待测设备之间。

该系统还包括：USB转串口线(这里用的是USB转RS232串口线)，至少包括4个分支，分别位于测试设备与电源控制电路之间(串口的RTS信号线)、测试设备与待测设备之间、以及测试设备与地线之间；其中，在测试设备与待测设备之间有USB转串口线的两个分支，一个分支用于测试设备向待测设备发送数据，另一个分支用于待测设备向测试设备发送数据。

此外，本发明实施例中，测试设备有多个接口，用于同时进行多台待测设备的测试。

其中，参阅图2所示，电源控制电路包括：

第一电阻，一端连接测试设备，另一端连接三极管的基极；

第二电阻，一端连接三极管的基极，另一端接地；

三极管，通过集电极连接第三电阻，通过发射极接地；

第三电阻，一端连接电源适配器；

MOS管，通过源极连接电源适配器，通过漏极连接第四电阻，通过栅极连接三极管的集电极；

第四电阻，一端连接待测设备。

在该电源控制电路中，当三极管处于导通状态时，MOS管的栅极是低电平，该电路处于导通状态，当三极管处于断开状态时，MOS管的栅极是高电平，该电路处于断开状态。

参阅图3所示，基于上述电子设备的测试系统，其对应的方法的具体流程为：

步骤300：对待测设备执行上电操作并进行性能测试。

本发明实施例中，在执行步骤300时，根据上电串口指令，将串口的RTS信号设置为高电平，并通过RTS信号线将高电平信号传输到电源控制电路，对待测设备执行上电操作并进行性能测试。

具体的，当通过RTS信号线将高电平信号传输到电源控制电路时，电源控制电路中的三极管处于导通状态，MOS管的栅极处于低电平，此时MOS管就处于导通状态，待测设备就处于上电状态。

步骤310：在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备返回的串口数据，并根据串口数据确定待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中。

具体的，在执行步骤320时，在预设时间范围内，当接收到待测设备发送的指定串口数据时，确定待测设备处于正常工作状态，否则，确定待测设备处于异常工作状态。

例如，预设时间范围是5秒，只要在5秒之内接收到待测设备发送的指定串口数据时，则确定该设备是处于正常的工作状态，超过5秒，或者在5秒之内没有收到指定的串口数据时，则确定该设备是处于异常的工作状态。

这里，指定的串口数据是：“The device has intered into the launcher”。

在数据保存时，先将测试产生的数据记录在串口缓冲区中；依次读取串口缓冲区的数据，并将读取的所有数据保存在指定存储空间中。

进一步的，确定待测设备处于正常工作状态之后，执行掉电操作之前，确定执行掉电操作的预设周期，并判定能够按照预设周期执行后续掉电操作；其中，预设周期大于预设时间范围。

例如，需要进行100次测试，预设周期是10秒，每一次测试开始时，假设在5秒之内收到指定的串口数据时，在10秒的时候测试设备判定能够执行掉电操作。

确定待测设备处于异常工作状态之后，执行掉电操作之前，判定能够直接执行掉电操作。

例如，需要进行100次测试，预设周期是10秒，每一次测试开始时，假设在5秒之内没有收到指定的串口数据，则测试设备判定能够直接执行掉电操作。

此外，确定待测设备的工作状态之后，执行掉电操作之前，可以根据用户的指令向待测设备发送指定附加性能测试的参数，并接收待测设备基于参数反馈的数据。

例如，测试设备根据用户的指令“Write_Nand”向待测设备发送参数，用于指示待测设备在“Nand Flash”中写入数据，待测设备接收到该指令以后，向测试设备发送数据“BeginWrite Nand Flash！！！”，然后开始在“Nand Flash”中写入数据，测试设备收到该数据之后进行分析，假设指示待测设备在写入数据5秒钟后，进行断电操作，这个数据用于检查待测设备在写入数据的时候，突然掉电，对文件系统完整性的影响。

步骤320：对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试。

本发明实施例中，在执行步骤320时，根据掉电串口指令，将串口的RTS信号设置为低电平，并通过RTS信号线将低电平信号发送到电源控制电路，对待测设备执行掉电操作。

具体的，当通过RTS信号线将低电平信号传输到电源控制电路时，电源控制电路中的的三极管处于关闭状态，MOS管的栅极处于高电平，此时MOS管就处于断开状态，待测设备就处于掉电状态。

进一步地，进行掉电操作之后，进入下一轮测试之前，清空当前串口缓冲区保留的数据以及记录当前测试次数的序号；向用户弹出询问界面，当接收到用户的继续测试指令时，确定可以进入下一轮测试。

例如，每进行下一轮测试前，需要向用户弹出询问界面，如果用户选择退出测试，则直接可以按下CTRL+C，退出测试操作，如果用户选择继续测试，则重复上述测试操作。

基于上述实施例，下面结合一个具体的应用场景对上述实施例作出进一步详细的说明，请参阅图4所示。

步骤400：打开测试设备。

步骤401：测试设备询问是否需要退出测试。

若是，则执行步骤402，否则，执行步骤404。

这里，测试设备可以提前预设信号，监控按键信息。例如，当接收到CTRL+C的时候，可以退出测试流程。每进行下一轮测试前，都会向用户弹出询问界面。

步骤402：测试设备退出测试流程。

步骤403：测试设备对待测设备执行掉电操作，打印完成测试的提示信息。

步骤404：测试设备清空串口缓冲区中的数据，并且打印当前测试的次数。

步骤405：测试设备通过串口的RTS信号线对待测设备执行上电操作。

步骤406：测试设备等待待测设备的串口信息。

步骤407：测试设备判断等待是否超时。

具体的，在待测设备上电后，判断是否在预设时间范围内收到指定的串口信息，如果是，则执行步骤408，否则，执行步骤410。

步骤408：测试设备对待测设备执行掉电操作。

步骤409：测试设备打印出错信息。

步骤410：测试设备按照预设周期进行掉电操作。

步骤411：测试设备打印本次操作的测试时间。

通过每一次测试时间的记录有助于对待测设备的性能测试数据的分析。

综上所述，本发明实施例中，提出了一种电子设备测试系统及方法，该方法为：对待测设备执行上电操作并进行性能测试；在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备返回的串口数据，并根据串口数据确定待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中；对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试。这样，利用串口的RTS信号，从测试设备直接控制待测设备的上电和掉电状态，不仅操作方法简单，成本很低，而且一台测试设备可以控制多台待测设备，可以同时记录多台待测设备的测试结果。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的系统。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令系统的制造品，该指令系统实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (5)

1.一种电子设备测试的方法，其特征在于，应用于电子设备测试系统，该系统包括测试设备、电源适配器和电源控制电路，其中，电源适配器，与电源控制电路相连接，用于为待测设备供电；电源控制电路，与所述待测设备相连接，用于控制所述待测设备的上电和掉电状态；测试设备，分别与所述电源控制电路和所述待测设备相连接，用于通过控制所述电源控制电路，对所述待测设备进行上电操作和掉电操作，并与所述待测设备进行通信，分别记录上电操作和掉电操作时的数据，以及所述方法包括：

对待测设备执行上电操作并进行性能测试；

在预设时间范围内，判断是否接收到所述待测设备返回的串口数据，并根据所述串口数据确定所述待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中；

对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试；

在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备发送的串口数据，并根据所述串口数据确定所述待测设备的工作状态，包括：

在预设时间范围内，当接收到所述待测设备发送的指定串口数据时，确定所述待测设备处于正常工作状态，否则，确定所述待测设备处于异常工作状态；以及

确定所述待测设备处于正常工作状态之后，执行掉电操作之前，进一步包括：

确定执行掉电操作的预设周期，并判定能够按照所述预设周期执行后续掉电操作；其中，所述预设周期大于所述预设时间范围；

确定所述待测设备处于异常工作状态之后，执行掉电操作之前，进一步包括：

判定能够直接执行掉电操作。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对待测设备执行上电操作，并进行性能测试，包括：

根据上电串口指令，将串口的RTS信号设置为高电平，并通过RTS信号线将高电平信号传输到电源控制电路，对待测设备执行上电操作并进行性能测试；

对待测设备执行掉电操作，包括：

根据掉电串口指令，将串口的RTS信号设置为低电平，并通过RTS信号线将低电平信号发送到电源控制电路，对待测设备执行掉电操作。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中，包括：

先将测试产生的数据记录在串口缓冲区中；

依次读取所述串口缓冲区的数据，并将读取的所有数据保存在指定存储空间中。

4.如权利要求1－3任一项所述的方法，其特征在于，确定所述待测设备的工作状态之后，执行掉电操作之前，进一步包括：

根据用户的指令向所述待测设备发送指定附加性能测试的参数，并接收所述待测设备基于所述参数反馈的数据。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，执行掉电操作之后，进入下一轮测试之前，进一步包括：

清空当前串口缓冲区保留的数据以及记录当前测试次数的序号；

向用户弹出询问界面，当接收到用户选择的继续测试指令时，确定可以进入下一轮测试。