CN202182934U - Cd芯片功能参数自动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了CD芯片功能参数自动测试装置包括CPU处理模块(211)、初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)、时钟信号输出模块(215)、USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)、SD卡接口数据处理模块(218)以及LCD显示模块(21a)。本实用新型实现了CD芯片功能参数自动化测试，节省了芯片测试过程所需时间，提高了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及CD芯片功能参数自动测试装置。
背景技术
目前的CD芯片具有直接解析存储在CD光盘、USB盘、SD卡上的文件系统，自动识别和解码CD/MP3文件并且播放。
但是CD芯片功能参数测试方法还是手工分步测试，如先测试CD播放功能，再测试内核电源的工作电流，其中测试内核电源的工作电流需要依靠外部搭线方式，需要较多人员花费较长时间去全面测试CD芯片的性能以及参数指标，导致效率低，耗时长。
实用新型内容
针对现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了CD芯片功能参数自动测试装置。
本实用新型提供了CD芯片功能参数自动测试装置，包括CPU处理模块、初始化CD芯片模块、音频参数诊断模块、多路选择开关模块、时钟信号输出模块、USB接口数据处理模块、CD伺服驱动模块、SD卡接口数据处理模块以及LCD显示模块；
CPU处理模块分别与初始化CD芯片模块、音频参数诊断模块、多路选择开关模块以及LCD显示模块连接；多路选择开关模块分别与USB接口数据处理模块、CD伺服驱动模块以及SD卡接口数据处理模块连接；
音频参数诊断模块连接待测CD芯片的音频输出模块；
多路选择开关模块214连接待测CD芯片的USB解码模块、CD伺服解码模块以及SD卡解码模块；
初始化CD芯片模块连接待测CD芯片的闪存存储模块；
时钟信号输出模块连接待测CD芯片的时钟模块。
在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括电源输出模块，电源输出模块给待测CD芯片的电源模块供电。
在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括工作电流测量模块，工作电流测量模块连接CPU处理模块，工作电流测量模块通过串联方式与待测CD芯片的电源模块连接。
在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括按键模块，按键模块连接CPU处理模块。
本实用新型实现了CD芯片功能参数自动化测试，节省了芯片测试过程所需时间，提高了工作效率。
附图说明
下面结合附图来对本实用新型作进一步详细说明，其中：
图1是本实用新型的流程图；
图2是本实用新型的CD芯片功能参数自动测试装置结构图。
具体实施方式
本实用新型的CD芯片功能参数自动测试装置包括：CPU处理模块211，初始化CD芯片模块212，音频参数诊断模块213，多路选择开关模块214，时钟信号输出模块215，USB接口数据处理模块216，CD伺服驱动模块217，SD卡接口数据处理模块218，电源输出模块219，LCD显示模块21a，按键模块21b，工作电流测量模块21c。
音频参数诊断模块213诊断结果输入到CPU处理模块211，按键模块21b输入按键信息到CPU处理模块211，工作电流测量模块输出测量值到CPU处理模块211，CPU处理模块211输出启动信号给初始化CD芯片模块212，输出控制信号给多路选择开关模块214，输出测试过程以及结果给LCD显示模块；
初始化CD芯片模块212输出程序给闪存存储模块222；
音频输出模块224输出信号给音频参数诊断模块213，输出诊断结果到CPU处理模块211；
CPU处理模块211输出控制信号到多路选择开关模块214，完成通道自动切换；
时钟信号输出模块215输出时钟信号到时钟模块228；
U盘23输入信号到USB接口数据处理模块216，输出信号到多路选择开关模块214；
CD机芯24输入信号到CD伺服驱动模块217，输出控制信号给CD机芯24，CD伺服驱动模块217输出信号到多路选择开关模块214；
SD卡25输入信号到SD卡接口数据处理模块218，输出信号到多路选择开关模块214；
电源输出模块219输出电源信号给电源模块223；
CPU处理模块211输出信号到LCD显示模块21a；
按键模块21b输出按键信号到CPU处理模块211；
工作电流测量模块21c输出测量值到CPU处理模块211。
按照图1所示组建测试装置，测试装置上电后首先完成初始化，同时给待测CD芯片22提供电源和主频时钟信号，LCD显示模块21a输出显示初始化过程；CPU处理模块211输出控制信号给初始化待测CD芯片22，初始化待测CD芯片22输出测试程序给待测CD芯片闪存存储模块222，完成待测CD芯片22初始化。举例：按键模块21b输出按键信号给CPU处理模块211，启动CD芯片功能参数自动测试，CPU处理模块211按照预定顺序开始功能参数自动测试，输出控制信号给多路选择开关模块214选择导通USB接口数据处理模块216，将处理后USB数据输入到待测CD芯片USB解码模块225，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块224输出音频信号到音频参数诊断模块213，诊断结果输出给CPU处理模块211，输出信号给LCD显示模块21a，输出显示待测CD芯片22USB接口测试结果。
同理，CPU处理模块211输出控制信号给多路选择开关模块214选择导通CD伺服驱动模块217，CD机芯25输出数据给待测CD芯片CD伺服解码模块226，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块224输出音频信号到音频参数诊断模块213，诊断结果输出到CPU处理模块211，输出信号给LCD显示模块21a，输出显示待测CD芯片22CD伺服接口测试结果。
同理，CPU处理模块211输出控制信号给多路选择开关模块214选择导通SD卡接口数据处理模块218，将处理后SD卡里数据输入到待测CD芯片SD卡解码模块227，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块224输出音频信号到音频参数诊断模块213，诊断结果输出到CPU处理模块211，输出信号给LCD显示模块21a，输出显示待测CD芯片22SD卡接口测试结果。
同理，线路板布线时将工作电流测量模块通过串联方式与待测CD芯片22电源模块相连接；工作电流测量模块(22)主要由电流转换电压(I-V转换)电路(如MAX471)、ADC芯片(如MAX1361)电路与其他外围电路组成。
采用本实用新型测试装置的整个测试过程，如图2所示，具体描述如下：
将待测CD芯片22放入CD芯片功能参数自动测试装置锁紧座上，外部设备如U盘23、CD机芯24、SD卡25与该测试装置相连。
自动测试CD芯片功能参数的装置通过电源输出模块219给待测CD芯片的电源模块223供电，通过时钟信号输出模块215给待测CD芯片的时钟模块228提供主频时钟信号，线路板布线时将工作电流测量模块21c通过串联方式与待测CD芯片22电源模块相连接，LCD显示模块21a显示初始化过程，CPU处理模块211控制初始化CD芯片模块212工作，将测试程序加载到待测CD芯片22的闪存存储模块222，完成待测CD芯片22初始化；通过按键模块21b发送命令启动CD芯片功能参数自动测试，工作电流测量模块输出测量值到CPU处理模块211，分析判断待测芯片的工作电流是否超出设置范围，若超出范围则关断电源输出模块219，LCD显示模块21a提示错误信息，没有超出范围，CPU处理模块211按照预定顺序开始进行下列功能参数自动测试中的一种：(1)CPU处理模块211输出控制信号自动控制多路选择开关模块214选择导通USB接口数据处理模块216，将处理后USB数据输入到待测CD芯片USB解码模块225，解码后音频数据输入到CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块224输出音频信号到音频参数诊断模块213，输出的诊断结果输出给CPU处理模块211，输出信号给LCD显示模块21a，输出显示待测CD芯片22USB接口测试结果；(2)CPU处理模块211输出控制信号自动控制多路选择开关模块214选择导通CD伺服驱动模块217，将CD机芯25输出数据输入到待测CD芯片CD伺服解码模块226，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块224输出音频信号到音频参数诊断模块213，输出的诊断结果输入到CPU处理模块211，输出信号给LCD显示模块21a，输出显示待测CD芯片22CD伺服接口测试结果；(3)CPU处理模块211输出控制信号自动控制多路选择开关模块214选择导通SD卡接口数据处理模块218，处理后SD卡里数据输入到待测CD芯片SD卡解码模块227，解码后音频数据输入到待测CD芯片内核处理模块221，通过音频输出模块224输出音频信号到音频参数诊断模块213，输出的诊断结果输入到CPU处理模块211，输出信号给LCD显示模块21a，输出显示待测CD芯片22SD卡接口测试结果；若三项功能测试全部通过，通过LCD显示模块21a显示待测CD芯片22测试通过，否则显示测试失败。
以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，但本实用新型保护范围并不局限于此。任何本领域的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，均可对其进行适当的改变或变化，而这种改变或变化都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，包括CPU处理模块(211)、初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)、时钟信号输出模块(215)、USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)、SD卡接口数据处理模块(218)以及LCD显示模块(21a)；
CPU处理模块(211)分别与初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)以及LCD显示模块(21a)连接；多路选择开关模块(214)分别与USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)以及SD卡接口数据处理模块(218)连接；
音频参数诊断模块(213)连接待测CD芯片的音频输出模块(224)；
多路选择开关模块(214)连接待测CD芯片的USB解码模块(225)、CD伺服解码模块(226)以及SD卡解码模块(227)；
初始化CD芯片模块(212)连接待测CD芯片的闪存存储模块(222)；
时钟信号输出模块(215)连接待测CD芯片的时钟模块(228)。
2.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括电源输出模块(219)，电源输出模块(219)给待测CD芯片的电源模块(223)供电。
3.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括工作电流测量模块(21c)，工作电流测量模块(21c)连接CPU处理模块(211)，工作电流测量模块(21c)通过串联方式与待测CD芯片(22)的电源模块连接。
4.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括按键模块(21b)，按键模块(21b)连接CPU处理模块(211)。
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