CN114328042A - 一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种挂载硬盘功耗模拟电路、方法、装置以及介质，包括：处理器、控制开关、电阻。其中，处理器与存储主机连接，接收存储主机发送的控制信号。处理器连接各控制开关，根据控制信号控制各控制开关的导通与关断。各控制开关与对应的电阻连接，共同组成负载电路；其中，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。
Description
技术领域
本申请涉及电子电路技术领域，特别是涉及一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质。
背景技术
在数据时代，存储设备作为数据的载体发挥着互联网基石的作用。存储设备中数据的可靠性、可用性、和可恢复性一直是存储领域关注的重点问题。为保证存储设备的高可靠性、我们一般对存储设备进行多种测试，而挂载硬盘例如串行连接SCSI(SerialAttached SCSI，SAS)盘、串口硬盘(Serial Advanced Technology Attachment harddisk，SATA)盘的功耗测试是存储主机对挂载硬盘的顺序、随机读写时功耗的稳定性测试。
目前存储设备对挂载硬盘的功耗测试多采用实际的SAS、SATA盘进行测试。但企业级SAS、SATA盘价格昂贵，且在挂载测试时所需硬盘数量在数十块到数百块不，整体测试成本较高。
由此可见，如何在存储主机对挂载硬盘的功耗的稳定性测试时，减少测试成本是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质，用于在存储主机对挂载硬盘的功耗的稳定性测试时，减少测试成本。
为解决上述技术问题，本申请提供一种挂载硬盘功耗模拟电路，该电路包括：
处理器1、控制开关3、电阻；
所述处理器1与存储主机2连接，接收所述存储主机2发送的控制信号；
所述处理器1连接各所述控制开关3，根据所述控制信号控制各所述控制开关3的导通与关断；
各所述控制开关3与对应的所述电阻连接，共同组成负载电路；其中，所述负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
优选的，所述控制开关3为MOS管。
为解决上述技术问题，本申请还提供一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，应用于上述的挂载硬盘功耗模拟电路，该方法包括：
获取存储主机发送的控制信号；
根据所述控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，所述负载电路包括控制开关和电阻，所述负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
优选的，所述控制信号包括：
所述待测硬盘类型和所述测试类型。
优选的，所述待测硬盘类型包括：
SATA盘测试和SAS盘测试。
优选的，所述测试类型包括：
顺序读写测试、随机读写测试以及自定义测试。
优选的，还包括：
若所述待测硬盘类型不是所述SATA盘测试或所述SAS盘测试，则发送报警信号。
为解决上述技术问题，本申请还提供一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，该装置包括：
获取模块，用于获取存储主机发送的控制信号；
控制模块，用于根据所述控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，所述负载电路包括控制开关和电阻，所述负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
为解决上述技术问题，本申请还提供另一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，该装置包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的步骤。
为解决上述技术问题，本申请还提供一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的步骤。
本申请所提供的挂载硬盘功耗模拟电路，包括：处理器、控制开关、电阻。其中，处理器与存储主机连接，接收存储主机发送的控制信号。处理器连接各控制开关，根据控制信号控制各控制开关的导通与关断。各控制开关与对应的电阻连接，共同组成负载电路；其中，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。相对于当前技术中，采用实际的挂载硬盘进行测试导致测试成本的提高，采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该挂载硬盘功耗模拟电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，适用于多种硬盘测试，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。并且，负载电路的个数设置较为灵活，可以提供较实际挂载硬盘更大的功耗测试范围。
此外，本申请所提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法应用于上述的挂载硬盘功耗模拟电路，本申请所提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置以及介质与挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法相对应，效果同上。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路的结构图；
图2为本申请实施例提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的流程图；
图3为本申请实施例提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置的结构图；
图4为本申请实施例提供的另一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置的结构图；
附图标记如下：1为处理器，2为存储主机，3为控制开关。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护范围。
在数据时代，存储设备作为数据的载体发挥着互联网基石的作用。存储设备中数据的可靠性、可用性、和可恢复性一直是存储领域关注的重点问题。为保证存储设备的高可靠性、我们一般对存储设备进行多种测试，而挂载硬盘(SAS、SATA盘)的功耗测试是存储主机对挂载硬盘的顺序、随机读写时功耗的稳定性测试。
目前存储设备对挂载硬盘的功耗测试多采用实际的SAS、SATA盘进行测试。但企业级SAS、SATA盘价格昂贵，且在挂载测试时所需硬盘数量在数十块到数百块不，整体测试成本较高。
由此可见，如何在存储主机对挂载硬盘的功耗的稳定性测试时，减少测试成本是本领域技术人员亟待解决的问题。
本申请的核心是提供一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质，用于在存储主机对挂载硬盘的功耗的稳定性测试时，减少测试成本。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。
图1为本申请实施例提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路的结构图，如图1所示，该电路包括：
处理器1、控制开关3、电阻R；
处理器1与存储主机2连接，接收存储主机2发送的控制信号；
处理器1连接各控制开关3，根据控制信号控制各控制开关3的导通与关断；
各控制开关3与对应的电阻R连接，共同组成负载电路；其中，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
如图1所示，在本实施例中，处理器1采用的是M054微控制器，其与存储主机2通过I2C进行信息交互。M054微控制器运行频率最高可达50MHz，因此可应用于各种各样的工业控制和需要高性能CPU的领域。此外，M054微控制器上还集成有许多系统级外设功能，例如：I/O端口、通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART)、I2C总线(Inter-Integrated Circuit)、串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)等，以减少系统外围元器件数量，节省电路板空间和系统成本。此外，M054微控制器带有ISP和ICP功能，允许用户无需取下芯片，直接在电路板上对程序存储器进行升级。存储主机2通过VBUS为处理器1和负载电路供电。
在本实施例中，控制开关3可以是MOS管，可以是三极管，也可以是其他开关器件，只需满足通过存储主机2的控制，能够控制负载电路的接入与断开即可，这里不做限定。可以理解的是，MOS管属于电压控制型半导体器件，具有输入电阻高、噪声小、功耗低、没有二次击穿现象、安全工作区域宽、受温度和辐射影响小、制造工艺简单、制造成本低等优点，特别适用于高灵敏度和低噪声的电路。
需要说明的是，控制开关3和电阻R应当是一一对应的关系，即一个控制开关3可以控制一个电阻R的接入或断开。该电阻R可以是单独的一个，也可以是一组。负载电路的总功耗应当按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置，具体的，各电阻R的阻值应当结合挂载硬盘的功耗浮动范围进行设置，使得全部负载电路的总功耗满足对挂载硬盘的功耗的模拟。可以理解的是，由于使用负载电路模拟挂载硬盘，因此可以提供较实际的挂载硬盘更大的功耗测试范围。在本实施例中，由于处理器1为M054微控制器，其具有32位嵌入式处理器的内核，因此，本实施例中的负载电路可以设置为32路，当然，也可以更少。可以理解的是，负载电路的路数越多，其功耗的变化越精细，更有利于存储主机2对挂载硬盘的功耗的稳定性进行测试。并且，使用多路负载电路模拟挂载硬盘，适用于不同类型的挂载硬盘，在测试时使用控制开关3进行操控，无需更换硬盘，减少了人力资源的浪费。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路，包括：处理器、控制开关、电阻。其中，处理器与存储主机连接，接收存储主机发送的控制信号。处理器连接各控制开关，根据控制信号控制各控制开关的导通与关断。各控制开关与对应的电阻连接，共同组成负载电路；其中，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。相对于当前技术中，采用实际的挂载硬盘进行测试导致测试成本的提高，采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该挂载硬盘功耗模拟电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，适用于多种硬盘测试，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。并且，负载电路的个数设置较为灵活，可以提供较实际挂载硬盘更大的功耗测试范围。
在上述实施例中，对于控制开关的种类不做限定，在本实施例中，控制开关3为MOS管。
可以理解的是，三极管的导通电阻较大，MOS管的导通电阻较小，因此，作为控制开关3，选择MOS管的控制效率更高。并且，有些MOS管的源极和漏极可以互换，而三极管的集电极和发射机并不能互换，因此，MOS管的灵活性更好。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路，控制开关为MOS管。MOS管属于电压控制型半导体器件，具有输入电阻高、噪声小、功耗低、没有二次击穿现象、安全工作区域宽、受温度和辐射影响小、制造工艺简单、制造成本低等优点。
图2为本申请实施例提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，应用于上述的挂载硬盘功耗模拟电路，该方法包括：
S10：获取存储主机发送的控制信号。
在步骤S10中，处理器通过I2C总线实现与存储主机的信息交互，处理器根据存储主机发送的控制信号决定负载电路的接入与断开。在本实施例中，处理器可以是M054微控制器，其具有运行频率较高的优势。
S11：根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
在本实施例中，控制信号包含着处理器的控制逻辑。例如，该控制信号为SATA盘顺序读写测试，则处理器按照对应编写的逻辑控制各负载电路的接入与断开，以及接入的时间。需要说明的是，负载电路由控制开关和对应的电阻，依照挂载硬盘的结构连接构成。控制开关和电阻应当是一一对应的关系，即一个控制开关可以控制一个电阻的接入或断开。该电阻可以是单独的一个，也可以是一组。并且，各电阻的阻值应当结合挂载硬盘的功耗浮动范围进行设置。可以理解的是，由于使用负载电路模拟挂载硬盘，因此可以提供较实际的挂载硬盘更大的功耗测试范围。在本实施例中，由于处理器为M054微控制器，其具有32位嵌入式处理器的内核，因此，本实施例中的负载电路可以设置为32路，当然，也可以更少。可以理解的是，负载电路的路数越多，其功耗的变化越精细，更有利于存储主机对挂载硬盘的功耗的稳定性进行测试。并且，使用多路负载电路模拟挂载硬盘，适用于不同类型的挂载硬盘，在测试时使用控制开关进行操控，无需更换硬盘，减少了人力资源的浪费。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，应用于上述的挂载硬盘功耗模拟电路，该方法包括：获取存储主机发送的控制信号；根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。相对于当前技术中，采用实际的挂载硬盘进行测试导致测试成本的提高，采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该挂载硬盘功耗模拟电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，适用于多种硬盘测试，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。并且，负载电路的个数设置较为灵活，可以提供较实际挂载硬盘更大的功耗测试范围。
控制信号代表着处理器的控制逻辑，在具体实施中，技术人员预先编写的控制逻辑可能有多种，对应的，在测试时控制信号也应当有多种。因此，在本实施例中，控制信号包括：
待测硬盘类型和测试类型。
需要说明的是，在本实施例中，待测硬盘类型指的是挂载硬盘的类型。在具体实施中，其可以是SAS盘，也可以是SATA盘，或者是其他盘。测试类型指挂载硬盘的读写方式，其可以是顺序读写，或者是随机读写，或者是技术人员自定义的读写方式。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，将控制信号分为不同的类型，不同的类型对应不同的控制逻辑，实现了挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的适用性，采用本技术方案可以模拟多种挂载硬盘的功耗。
在上述实施例的基础上，在本实施例中，待测硬盘类型包括：
SATA盘测试和SAS盘测试。
在具体实施中，处理器可以根据存储主机的控制信号模拟SATA盘或SAS盘的功耗。具体的，处理器可以通过控制不同的负载电路实现SATA盘测试和SAS盘测试的区分。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，将待测硬盘类型分为SATA盘测试和SAS盘测试，以实现挂载硬盘功耗模拟电路对不同种类的挂载硬盘的功耗的模拟。
在上述实施例的基础上，在本实施例中，测试类型包括：
顺序读写测试、随机读写测试以及自定义测试。
在具体实施中，存储主机需要对挂载硬盘的顺序、随机读写时的功耗的响应稳定性进行测试。因此，在本实施例中，测试类型包括顺序读写测试、随机读写测试以及自定义测试。其中，自定义测试为技术人员根据实际需要，自定义的一种测试逻辑。在具体实施中，可以根据负载电路导通时间的变化来模拟不同的测试类型。并且，可以根据同一时刻下，负载电路导通的路数模拟读测试和写测试。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，将测试类型分为顺序读写测试、随机读写测试以及自定义测试，增加了测试的多样性。
在具体实施中，挂载硬盘通常为SAS盘和SATA盘，在测试时只关心存储主机对SAS盘和SATA盘的功耗的响应稳定性。因此，在上述实施例的基础上，在本实施例中，还包括：
若待测硬盘类型不是SATA盘测试或SAS盘测试，则发送报警信号。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，当待测硬盘类型不是SATA盘测试或SAS盘测试时，发送报警信号，表示当前的待测硬盘类型不是所需的类型，提示技术人员进行检修，避免造成资源的浪费。
在上述实施例中，对于挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法进行了详细描述，本申请还提供挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置对应的实施例。需要说明的是，本申请从两个角度对装置部分的实施例进行描述，一种是基于功能模块的角度，另一种是基于硬件的角度。
图3为本申请实施例提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置的结构图，如图3所示，该装置包括：
获取模块10，用于获取存储主机发送的控制信号。
控制模块11，用于根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，包括获取模块和控制模块。通过获取存储主机发送的控制信号，根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。相对于当前技术中，采用实际的挂载硬盘进行测试导致测试成本的提高，采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该挂载硬盘功耗模拟电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，适用于多种硬盘测试，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。并且，负载电路的个数设置较为灵活，可以提供较实际挂载硬盘更大的功耗测试范围。
由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述，这里暂不赘述。
图4为本申请实施例提供的另一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置的结构图，如图4所示，该装置包括：存储器20，用于存储计算机程序；
处理器21，用于执行计算机程序时实现如上述实施例所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的步骤。
本实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置可以包括但不限于智能手机、平板电脑、笔记本电脑或台式电脑等。
其中，处理器21可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器21可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable LogicArray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器21也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器21可以集成有图像处理器(Graphics Processing Unit，GPU)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器21还可以包括人工智能(Artificial Intelligence，AI)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器20可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器20还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。本实施例中，存储器20至少用于存储以下计算机程序201，其中，该计算机程序被处理器21加载并执行之后，能够实现前述任一实施例公开的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的相关步骤。另外，存储器20所存储的资源还可以包括操作系统202和数据203等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。其中，操作系统202可以包括Windows、Unix、Linux等。数据203可以包括但不限于待测硬盘类型、测试类型、报警信号等。
在一些实施例中，挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置还可包括有显示屏22、输入输出接口23、通信接口24、电源25以及通信总线26。
本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构并不构成对挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置的限定，可以包括比图示更多或更少的组件。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，包括存储器和处理器，处理器在执行存储器存储的程序时，能够实现如下方法：获取存储主机发送的控制信号，并根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
本申请实施例提供的挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，通过获取存储主机发送的控制信号，根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。相对于当前技术中，采用实际的挂载硬盘进行测试导致测试成本的提高，采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该挂载硬盘功耗模拟电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，适用于多种硬盘测试，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。并且，负载电路的个数设置较为灵活，可以提供较实际挂载硬盘更大的功耗测试范围。
最后，本申请还提供一种计算机可读存储介质对应的实施例。计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述方法实施例中记载的步骤。
可以理解的是，如果上述实施例中的方法以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本申请实施例提供的计算机可读存储介质，通过获取存储主机发送的控制信号，根据控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，负载电路包括控制开关和电阻，负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。相对于当前技术中，采用实际的挂载硬盘进行测试导致测试成本的提高，采用本技术方案，按照挂载硬盘的功耗的阈值设置负载电路的功耗，通过负载电路的功耗模拟挂载硬盘的功耗，根据存储主机的控制信号控制负载电路的接入与断开，实现对模拟的挂载硬盘的功耗的测试，减少了测试的成本。并且该挂载硬盘功耗模拟电路通过控制开关控制负载电路的接入与断开，适用于多种硬盘测试，测试时无需更换挂载硬盘，减少了人力资源的浪费。并且，负载电路的个数设置较为灵活，可以提供较实际挂载硬盘更大的功耗测试范围。
以上对本申请所提供的一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (10)
1.一种挂载硬盘功耗模拟电路，其特征在于，包括：
处理器(1)、控制开关(3)、电阻；
所述处理器(1)与存储主机(2)连接，接收所述存储主机(2)发送的控制信号；
所述处理器(1)连接各所述控制开关(3)，根据所述控制信号控制各所述控制开关(3)的导通与关断；
各所述控制开关(3)与对应的所述电阻连接，共同组成负载电路；其中，所述负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
2.根据权利要求1所述的挂载硬盘功耗模拟电路，其特征在于，所述控制开关(3)为MOS管。
3.一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，其特征在于，应用于权利要求1或2所述的挂载硬盘功耗模拟电路，该方法包括：
获取存储主机发送的控制信号；
根据所述控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，所述负载电路包括控制开关和电阻，所述负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
4.根据权利要求3所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，其特征在于，所述控制信号包括：
所述待测硬盘类型和所述测试类型。
5.根据权利要求4所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，其特征在于，所述待测硬盘类型包括：
SATA盘测试和SAS盘测试。
6.根据权利要求4所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，其特征在于，所述测试类型包括：
顺序读写测试、随机读写测试以及自定义测试。
7.根据权利要求5所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法，其特征在于，还包括：
若所述待测硬盘类型不是所述SATA盘测试或所述SAS盘测试，则发送报警信号。
8.一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取存储主机发送的控制信号；
控制模块，用于根据所述控制信号控制各负载电路的接入与断开，其中，所述负载电路包括控制开关和电阻，所述负载电路的总功耗按照挂载硬盘的功耗的阈值进行设置。
9.一种挂载硬盘功耗模拟电路的控制装置，其特征在于，包括存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求3至7任意一项所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求3至7任意一项所述的挂载硬盘功耗模拟电路的控制方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111447190.8A CN114328042A (zh) | 2021-11-30 | 2021-11-30 | 一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111447190.8A CN114328042A (zh) | 2021-11-30 | 2021-11-30 | 一种挂载硬盘功耗模拟电路及其控制方法、装置以及介质 |
Publications (1)
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|---|---|
| CN114328042A true CN114328042A (zh) | 2022-04-12 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2021
- 2021-11-30 CN CN202111447190.8A patent/CN114328042A/zh active Pending
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