CN108931756B - 一种电能表掉电检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电能表技术领域，尤其涉及一种电能表掉电检测方法，它包括以下步骤：S1、通过计量芯片检测电能表的掉电状态，若检测到掉电信息，则跳转到步骤S3，若没有检测到掉电信息，则跳转到步骤S2；S2、通过MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来检测电能表的掉电状态，若检测到掉电信息，则首先判断计量芯片的掉电检测功能损坏，将损坏信息传递给MCU，然后跳转到下一步；若没有检测到掉电信息，则返回步骤S1重新检测；S3、判断电能表处于掉电状态，并且将掉电状态信息传递给MCU。采用这种方法能较早的检测到掉电信息，进而提供较多的掉电保护时间。
Description
技术领域
本发明涉及电能表技术领域，尤其涉及一种电能表掉电检测方法。
背景技术
现有技术电能表掉电检测主要是依靠MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来实现掉电检测的，但是检测的都是电源电路的输出端，所以这种检测方法检测到的掉电时间比较晚，进而使得掉电保护时间比较短，即在电源断开输入后，输出给系统正常供电的时间比较短，这样就导致了备用电源可能连接不及时，或者备用电池欠压，或者数据备份不及时，最终会导致数据存储不可靠或者状态混乱等不可预估的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种电能表掉电检测方法，采用这种方法能较早的检测到掉电信息，进而提供较多的掉电保护时间。
本发明所采用的技术方案是：一种电能表掉电检测方法，它包括以下步骤：
S1、通过计量芯片检测电能表的掉电状态，若检测到掉电信息，则跳转到步骤S3，若没有检测到掉电信息，则跳转到步骤S2；
S2、通过MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来检测电能表的掉电状态，若检测到掉电信息，则首先判断计量芯片的掉电检测功能损坏，将损坏信息传递给MCU，然后跳转到下一步；若没有检测到掉电信息，则返回步骤S1重新检测；
S3、判断电能表处于掉电状态，并且将掉电状态信息传递给MCU。
步骤S1具体包括以下步骤：
S11、读取计量芯片中电压暂降状态寄存器；
S12、判断电压暂降状态寄存器中的A、B、C相是否均暂降，若均暂降，则暂降次数加1，然后跳转到下一步，若没有均暂降，则暂降次数清零，然后继续重复本步骤；
S13、判断暂降次数是否大于等于X次，若是，则计量芯片输出掉电信号，若否，则返回步骤S12。
所述X为两次。
步骤S11读取计量芯片中的电压暂降状态寄存器后还需要判断读取的值是否合法。
步骤S12中所述的暂降判断方法具体包括以下步骤：
S121、设置计量芯片的暂降阈值V以及暂降半波数N，且设定半周波数初始为0；
S122、计量芯片采集电压波形半波的峰值，然后判断采样到的半波峰值是否小于设定的暂降阈值V，若小于则半周波数加1，然后跳转到下一步；若大于则将半周波数清零，然后继续重复本步骤；
S123、判断半周波数是否大于设定的暂降半波数N，若大于，则判断暂降；若小于，则返回步骤S12。
所述N为3。
步骤S2需要连续检测到三次掉电信息，才会判断计量芯片的掉电检测功能损坏，将损坏信息传递给MCU，然后跳转到下一步。
步骤S3之后，MCU控制大功率器件关闭，且同时将数据备份存储。
采用以上方法与现有技术相比，本发明具有以下优点：在掉电检测中，检测点越靠后电路过程延时越严重，而计量芯片采样的是系统输入电源的最前端，这样通过计量芯片来进行掉电检测，能更早的检测到掉电情况，提供更多的掉电保护时间。而且计量芯片为电能表现有器件，无需增加硬件成本，而且实现计量芯片进行掉电检测也比较方便；并且计量芯片高精度AD采样，可以保证检测结果准确、可靠。
具体实施方式
以下通过具体实施方式对本发明做进一步描述，但是本发明不仅限于以下具体实施方式。
一种电能表掉电检测方法，首选需要配置电能表中的计量芯片，使它具备掉电检测功能，即设置计量芯片的暂降阈值V以及暂降半波数N，然后计量芯片会采集电压波形半波的峰值，然后判断采样到的半波峰值是否小于设定的暂降阈值V，并且连续多次采样到的半波峰值小于设定的阈值V，则判断为暂降状态，如果不是连续多次采样到的半波峰值小于设定的阈值V，则判断不是暂降状态。
如果电能表的A、B、C三相都处于暂降状态，并且是连续多次同时处于暂降状态，则从计量芯片可以判断电能表处于掉电状态了，将这个信号发送给MCU，然后MCU进行后续的操作处理。在本具体实施例中，只要连续两次检测到A、B、C三相均处于暂降状态，则可以判断电能表处于掉电状态了。
因为计量芯片是处于系统输入电源的最前端，所以计量芯片是能最快的判断电能表是否掉电的，即计量芯片与MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来同时判断是否掉电，计量芯片判断为掉电状态之后，MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器还不能判断出来，所以本申请就先采用计量芯片进行判断，如果判断出来是掉电状态，则直接通知MCU进行后续处理，这样速度最快，但是MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器也还是会去判断的，即在计量芯片判断出来不是掉电状态时，MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器会去判断这个掉电情况，因为是可能出现计量芯片判断出现错误的情况的，这样设置可以保证判断掉电情况的准确性。
并且判断是处于掉电状态后，MCU控制主循环各模块进入掉电处理、关闭大功耗器件、掉电数据存储、掉电端口配置后系统进入掉电流程。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的技术人员应当理解，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行同等替换；而这些修改或者替换，并不使相应的技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神与范围。
Claims (6)
1.一种电能表掉电检测方法，其特征在于，它包括以下步骤：
S1、通过计量芯片检测电能表的掉电状态，若检测到掉电信息，则跳转到步骤S3，若没有检测到掉电信息，则跳转到步骤S2；
S2、通过MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来检测电能表的掉电状态，若检测到掉电信息，则首先判断计量芯片的掉电检测功能损坏，将损坏信息传递给MCU，然后跳转到下一步；若没有检测到掉电信息，则返回步骤S1重新检测；
S3、判断电能表处于掉电状态，并且将掉电状态信息传递给MCU；
步骤S1具体包括以下步骤：
S11、读取计量芯片中电压暂降状态寄存器；
S12、判断电压暂降状态寄存器中的A、B、C相是否均暂降，若均暂降，则暂降次数加1，然后跳转到下一步，若没有均暂降，则暂降次数清零，然后继续重复本步骤；
S13、判断暂降次数是否大于等于X次，若是，则计量芯片输出掉电信号，若否，则返回步骤S12；
且步骤S12中所述的暂降判断方法具体包括以下步骤：
S121、设置计量芯片的暂降阈值V以及暂降半波数N，且设定半周波数初始为0；
S122、计量芯片采集电压波形半波的峰值，然后判断采样到的半波峰值是否小于设定的暂降阈值V，若小于则半周波数加1，然后跳转到下一步；若大于则将半周波数清零，然后继续重复本步骤；
S123、判断半周波数是否大于设定的暂降半波数N，若大于，则判断暂降；若小于，则返回步骤S12。
2.根据权利要求1所述的一种电能表掉电检测方法，其特征在于：所述X为两次。
3.根据权利要求1所述的一种电能表掉电检测方法，其特征在于：步骤S11读取计量芯片中的电压暂降状态寄存器后还需要判断读取的值是否合法。
4.根据权利要求1所述的一种电能表掉电检测方法，其特征在于：所述N为3。
5.根据权利要求1所述的一种电能表掉电检测方法，其特征在于：步骤S2需要连续检测到三次掉电信息，才会判断计量芯片的掉电检测功能损坏，将损坏信息传递给MCU，然后跳转到下一步。
6.根据权利要求1所述的一种电能表掉电检测方法，其特征在于：步骤S3之后，MCU控制大功率器件关闭，且同时将数据备份存储。
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