JP2021529320A - アダプタテスト装置、方法及びコンピューター記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
Description
テストモジュール及び電子負荷によって電子装置の作動状態を模擬して、作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得するステップと、
模擬バッテリ電圧値に基づいて、被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御するステップと、
被テストアダプタの目標出力状態を検出し、且つ検出された被テストアダプタの出力情報を獲得するステップと、
被テストアダプタの出力情報に基づいて、被テストアダプタのテスト結果を出力するステップと、
を含む。
電子負荷によって負荷調整命令を受信し、負荷調整命令及びテストモジュールに基づいて電子装置の異なる作動状態を模擬し、電子負荷は電圧調整機能を有し、作動状態と模擬バッテリ電圧値の間に対応関係があること、
模擬された作動状態に基づいて、作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得すること、
を含む。
テストモジュールとホストコンピュータの接続を介して、テストモジュールは模擬バッテリ電圧値をホストコンピュータに送信すること、
ホストコンピュータは模擬バッテリ電圧値に基づいて制御命令を出力すること、
制御命令に基づいて被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御すること、
を含む。
模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタが定電圧モードにあるように制御すること、を含む。
模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタが低電圧保護モードにあるように制御すること、を含む。
模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタの出力電圧が定格出力電圧範囲内に維持されるように制御し、且つ模擬バッテリ電圧値が上昇すると、被テストアダプタの出力電流は減少されること、を含む。
模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタが出力をオフして出力電圧を有しないように制御するか、又は被テストアダプタが出力電圧なしのプリセット期間の後に再び出力電圧を有するように制御すること、を含む。
被テストアダプタの出力情報と被テストアダプタの目標出力情報を比較すること、
比較結果に基づいて、被テストアダプタのテスト結果を出力すること、
を含み、被テストアダプタの目標出力情報と被テストアダプタの目標出力状態との間に対応関係が存在する。
電子負荷は負荷調整命令を受信し、負荷調整命令及びテストモジュールに基づいて電子装置の異なる作動状態を模擬し、電子負荷は電圧調整機能を有し、作動状態と模擬バッテリ電圧値の間に対応関係があること、
模擬された作動状態に基づいて、作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得すること、
を含む。
このように、本出願の実施形態において、被テストアダプタとアダプタテスト装置が接続された後、模擬された電子装置の異なる作動状態に基づいて被テストアダプタをテストすることにより、アダプタテストの全面性を確保するだけではなく、アダプタの製品品質を向上させることができ、電子装置を直接に実際の負荷として被テストアダプタをテストして引き起こすテストの不便及びテスト操作人員の安全に危険をもたらす問題を効果的に回避し、アダプタテストの安全性を確保するとともに、アダプタのテスト効率を高める。
テストモジュールとホストコンピュータの接続を介して、テストモジュールは模擬バッテリ電圧値をホストコンピュータに送信すること、
ホストコンピュータは模擬バッテリ電圧値に基づいて制御命令を出力すること、
制御命令に基づいて被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御すること、
を含む。
模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタが定電圧モードにあるように制御すること、を含む。
模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタが低電圧保護モードにあるように制御すること、を含む。
模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタの出力電圧が定格出力電圧範囲内に維持されるように制御し、且つ模擬バッテリ電圧値が上昇すると、被テストアダプタの出力電流は減少されること、を含む。
模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、制御命令に基づいて、被テストアダプタが出力をオフして出力電圧を有しないように制御するか、又は被テストアダプタが出力電圧なしのプリセット期間の後に再び出力電圧を有するように制御すること、を含む。
被テストアダプタの出力情報と被テストアダプタの目標出力情報を比較すること、
比較結果に基づいて、被テストアダプタのテスト結果を出力すること、
を含み、被テストアダプタの目標出力情報と被テストアダプタの目標出力状態との間に対応関係が存在する。
電子負荷によって負荷調整命令を受信し、負荷調整命令に基づいて電子負荷の負荷を調整し、テストモジュールは電子負荷の負荷に基づいて電子装置の異なる作動状態を模擬し、電子負荷は電圧調整機能を有し、作動状態と模擬バッテリ電圧値の間に対応関係があること、
模擬された作動状態に基づいて、作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得すること、
を含む。
電子負荷は負荷調整命令を受信し、負荷調整命令に基づいて電子負荷の負荷を調整し、テストモジュールは電子負荷の負荷に基づいて電子装置の異なる作動状態を模擬し、電子負荷は電圧調整機能を有し、作動状態と模擬バッテリ電圧値の間に対応関係があること、
模擬された作動状態に基づいて、作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得すること、
を含む。
Claims (23)
- アダプタテスト装置であって、
テストモジュール、ホストコンピュータ及び電子負荷を含み、
前記テストモジュールは、前記電子負荷に接続されており、電子装置の作動状態を模擬して、前記作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得するために用いられ、
前記テストモジュールは、被テストアダプタに接続されており、前記模擬バッテリ電圧値に基づいて、前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御するために用いられ、
前記テストモジュールは、前記ホストコンピュータに接続されており、前記被テストアダプタの目標出力状態を検出し、且つ検出された前記被テストアダプタの出力情報を前記ホストコンピュータに送信するために用いられ、
前記ホストコンピュータは、前記被テストアダプタの出力情報に基づいて、前記被テストアダプタのテスト結果を出力するために用いられる、
ことを特徴とするアダプタテスト装置。 - 前記電子負荷は電圧調整機能を有し且つ負荷調整命令を受信するために用いられ、前記負荷調整命令及び前記テストモジュールに基づいて前記電子装置の異なる作動状態を模擬し、作動状態と模擬バッテリ電圧値の間に対応関係がある、
ことを特徴とする請求項1に記載のアダプタテスト装置。 - 前記テストモジュールは、さらに前記模擬バッテリ電圧値を前記ホストコンピュータに送信するために用いられ、
前記ホストコンピュータは、さらに前記模擬バッテリ電圧値に基づいて制御命令を出力し且つ前記制御命令を前記テストモジュールに送信するために用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御するために用いられる、
ことを特徴とする請求項1に記載のアダプタテスト装置。 - 前記テストモジュールは、具体的には、前記模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、前記制御命令に基づいて、前記被テストアダプタが定電圧モードにあるように制御するために用いられる、
ことを特徴とする請求項3に記載のアダプタテスト装置。 - 前記テストモジュールは、具体的には、前記模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、前記制御命令に基づいて、前記被テストアダプタが低電圧保護モードにあるように制御するために用いられる、
ことを特徴とする請求項3に記載のアダプタテスト装置。 - 前記被テストアダプタの出力情報は、前記被テストアダプタの出力電圧及び前記被テストアダプタの出力電流を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載のアダプタテスト装置。 - 前記定電圧モードでは、前記被テストアダプタの出力電圧は定格出力電圧範囲内に維持され、前記模擬バッテリ電圧値が増加すると、前記被テストアダプタの出力電流は減少される、
ことを特徴とする請求項6に記載のアダプタテスト装置。 - 前記低電圧保護モードでは、前記被テストアダプタは出力を切断して出力電圧を有しないか、又は前記被テストアダプタは出力電圧なしのプリセット期間の後に再び出力電圧を有する、
ことを特徴とする請求項6に記載のアダプタテスト装置。 - 前記ホストコンピュータは、具体的には、前記被テストアダプタの出力情報と前記被テストアダプタの目標出力情報を比較し、比較結果に基づいて、前記被テストアダプタのテスト結果を出力するために用いられ、
前記被テストアダプタの目標出力情報と前記被テストアダプタの目標出力状態との間に対応関係が存在する、
ことを特徴とする請求項1に記載のアダプタテスト装置。 - 前記テストモジュールは、テストボードと、前記テストボードに電力を供給する外部電源と、を含む、
ことを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載のアダプタテスト装置。 - テストボードであって、
前記テストボードは、少なくとも金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)部材及びマイクロコントローラユニット(MCU)部材を含み、
前記テストボードは、電子負荷と協同して、電子装置の作動状態を模擬して、被テストアダプタをテストするために用いられる、
ことを特徴とするテストボード。 - アダプタテストシステムであって、
被テストアダプタと、請求項1〜10のいずれか一項に記載のアダプタテスト装置と、を含み、前記アダプタテスト装置は、前記被テストアダプタをテストするために用いれる、
ことを特徴とするアダプタテストシステム。 - アダプタテスト方法であって、
前記アダプタテスト方法は、テストモジュール、ホストコンピュータ及び電子負荷を含むアダプタテスト装置に適用可能であり、前記アダプタテスト方法は、
前記テストモジュール及び前記電子負荷によって電子装置の作動状態を模擬して、前記作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得するステップと、
前記模擬バッテリ電圧値に基づいて、前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御するステップと、
前記被テストアダプタの目標出力状態を検出し、且つ検出された前記被テストアダプタの出力情報を獲得するステップと、
前記被テストアダプタの出力情報に基づいて、前記被テストアダプタのテスト結果を出力するステップと、
を含む、
ことを特徴とするアダプタテスト方法。 - 前記テストモジュール及び前記電子負荷によって電子装置の作動状態を模擬して、前記作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得することは、
前記電子負荷によって負荷調整命令を受信し、前記負荷調整命令及び前記テストモジュールに基づいて電子装置の異なる作動状態を模擬し、前記電子負荷は電圧調整機能を有し、作動状態と模擬バッテリ電圧値の間に対応関係があること、
模擬された作動状態に基づいて、前記作動状態に対応する模擬バッテリ電圧値を獲得すること、
を含む、
ことを特徴とする請求項13に記載のアダプタテスト方法。 - 前記模擬バッテリ電圧値に基づいて、前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御することは、
前記テストモジュールと前記ホストコンピュータの接続を介して、前記テストモジュールは前記模擬バッテリ電圧値を前記ホストコンピュータに送信すること、
前記ホストコンピュータは前記模擬バッテリ電圧値に基づいて制御命令を出力すること、
前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御すること、
を含む、
ことを特徴とする請求項13に記載のアダプタテスト方法。 - 前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御することは、
前記模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、前記制御命令に基づいて、前記被テストアダプタが定電圧モードにあるように制御すること、を含む、
ことを特徴とする請求項15に記載のアダプタテスト方法。 - 前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御することは、
前記模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、前記制御命令に基づいて、前記被テストアダプタが低電圧保護モードにあるように制御すること、を含む、
ことを特徴とする請求項15に記載のアダプタテスト方法。 - 前記被テストアダプタの出力情報は、前記被テストアダプタの出力電圧及び前記被テストアダプタの出力電流を含む、
ことを特徴とする請求項13に記載のアダプタテスト方法。 - 前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御することは、
前記模擬バッテリ電圧値が第一プリセット閾値より大きい場合、前記制御命令に基づいて、前記被テストアダプタの出力電圧が定格出力電圧範囲内に維持されるように制御し、且つ前記模擬バッテリ電圧値が上昇すると、前記被テストアダプタの出力電流は減少されること、を含む、
ことを特徴とする請求項18に記載のアダプタテスト方法。 - 前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが目標出力状態にあるように制御することは、
前記模擬バッテリ電圧値が第二プリセット閾値より小さい場合、前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが出力をオフして出力電圧を有しないように制御するか、又は前記制御命令に基づいて前記被テストアダプタが出力電圧なしのプリセット期間の後に再び出力電圧を有するように制御すること、を含む、
ことを特徴とする請求項18に記載のアダプタテスト方法。 - 前記被テストアダプタの出力情報に基づいて、前記被テストアダプタのテスト結果を出力することは、
前記被テストアダプタの出力情報と前記被テストアダプタの目標出力情報を比較すること、
比較結果に基づいて、前記被テストアダプタのテスト結果を出力すること、
を含み、前記被テストアダプタの目標出力情報と前記被テストアダプタの目標出力状態との間に対応関係が存在する、
ことを特徴とする請求項13〜20のいずれか一項に記載のアダプタテスト方法。 - アダプタテスト装置であって、
テストモジュール、電子負荷及びホストコンピュータを含み、
前記テストモジュールには、第一プロセッサ及び前記第一プロセッサで実行可能なコンピュータプログラムを格納するために用いられる第一メモリが統合され、
前記ホストコンピュータには、第二プロセッサ及び前記第二プロセッサで実行可能なコンピュータプログラムを格納するために用いられる第二メモリが統合され、
前記第一メモリに格納されたコンピュータプログラム及び前記第二メモリに格納されたコンピュータプログラムが前記第一プロセッサ及び前記第二プロセッサによって実行されると、請求項13〜21のいずれか一項に記載の方法を実現する、
ことを特徴とするアダプタテスト装置。 - コンピュータ記憶媒体であって、
前記コンピュータ記憶媒体にはアダプタテストプログラムが格納されており、前記アダプタテストプログラムが第一プロセッサ及び第二プロセッサによって実行されると、請求項13〜21のいずれか一項に記載の方法を実現する、
ことを特徴とするコンピュータ記憶媒体。
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