KR102544276B1 - 카메라 모듈용 테스트 소켓 - Google Patents

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Abstract

카메라 모듈용 테스트 소켓은 베이스와; 베이스의 상부에 수평방향으로 이격되게 배치된 한 쌍의 지지벽과; 한 쌍의 지지벽 상부에 고정되고 통공이 형성되고 카메라 모듈과 접속되어 카메라 모듈를 테스트하는 핀 블록이 구비된 고정 플레이트 모듈와; 한 쌍의 지지벽 사이로 진퇴 가능하게 배치된 슬라이드 블록과; 카메라 모듈이 안착되는 모듈 안착부가 형성된 소켓바디와; 슬라이드 블록에 배치되고 소켓바디를 승강시키는 소켓바디 승강기구와; 베이스에 고정되고 슬라이드 블록과 연결되어 카메라 모듈을 통공 아래의 제1위치로 전진시키고, 카메라 모듈을 고정 플레이트 모듈의 아래 주변의 제2위치로 후퇴시키는 카메라 모듈 이동기구를 포함하고, 고정 플레이트 모듈 및 실린더가 고정된 상태에서, 카메라 모듈이 수평 방향으로 이동되고 승강될 수 있기 때문에, 고정 플레이트 모듈 및 실린더가 이동되는 경우 보다 안정적이며, 고정 플레이트 모듈 및 실린더가 이동되는 경우 보다 실린더 작동을 위한 소비전력을 저감할 수 있는 이점이 있다.

Description

카메라 모듈용 테스트 소켓{Test Socket for camera module}
본 발명은 카메라 모듈용 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 카메라 모듈이 안착되는 소켓 바디를 갖는 카메라 모듈용 테스트 소켓에 관한 것이다.
카메라 모듈은 이동 단말기나 제조장비 등의 각종 기기에 장착되어 화상이나 영상을 획득하는 기기이다.
이러한 카메라 모듈의 일예는 이미지 센서와 렌즈 등을 포함할 수 있고, 각 부품이 조립된 상태에서, 기기에 장착될 수 있다.
카메라 모듈은 그 제조완료 후, 별도의 테스트 소켓(이하, 카메라 모듈용 테스트 소켓)에 의해 성능 테스트될 수 있다.
대한민국 등록특허공보 10-1308741 B1(2013년09월17일 공고)에는 카메라 모듈을 테스트할 수 있는 카메라 모듈용 테스트 소켓이 개시되고, 이러한 카메라 모듈용 테스트 소켓은 카메라 모듈이 안착되는 안착홈이 형성된 모듈 가이드 박스를 포함하고, 카메라 모듈과 접속하여 카메라 모듈을 테스트하는 핀 블록을 포함한다.
대한민국 등록특허공보 10-1308741 B1(2013년09월17일 공고)에 개시된 카메라 모듈용 테스트 소켓은 실린더가 슬라이딩 블럭과 커버 플레이트와 인쇄회로기판과 커버 및 핀 블록이 함께 모듈 가이드박스으로 이동되고, 핀 블록이 모듈 가이드박스로 하강되어 카메라 모듈을 테스트한다.
대한민국 등록특허공보 10-1308741 B1(2013년09월17일 공고)
종래 기술에 따른 슬라이딩 블럭과 커버 플레이트와 인쇄회로기판과 커버 및 핀 블록이 함께 모듈 가이드박스로 모두 이동되므로, 실린더 작동을 위한 소비전력이 높고, 전체 높이가 높아지거나 낮아지므로 주변의 공간 활용도가 낮은 문제점이 있다.
본 발명은 소비전력을 최소화할 수 있고, 주변의 공간 활용도가 높은 카메라 모듈용 테스트 소켓을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 카메라 모듈용 테스트 소켓은 베이스와; 베이스의 상부에 배치되고 수평방향으로 이격되는 한 쌍의 지지벽과; 한 쌍의 지지벽 상부에 고정되고 통공이 형성되고 카메라 모듈과 접속되어 카메라 모듈를 테스트하는 핀 블록이 구비된 고정 플레이트 모듈와; 한 쌍의 지지벽 사이로 진퇴 가능하게 배치된 슬라이드 블록과; 카메라 모듈이 안착되는 모듈 안착부가 형성된 소켓바디와; 슬라이드 블록에 배치되고 소켓바디를 승강시키는 소켓바디 승강기구와; 베이스에 고정되고 슬라이드 블록과 연결되어 카메라 모듈을 통공 아래의 제1위치로 전진시키고, 카메라 모듈을 고정 플레이트 모듈의 아래 주변의 제2위치로 후퇴시키는 카메라 모듈 이동기구를 포함한다.
고정 플레이트 모듈과, 한 쌍의 지지벽과 베이스의 사이에는 슬라이드 블록 및 소켓바디가 진퇴 가능하게 수용되는 수용공간이 형성될 수 있다.
고정 플레이트 모듈은 한 쌍의 지지벽 상부에 고정된 커버 플레이트와; 핀블록과 연결된 인쇄회로기판과; 인쇄회로기판에 연결된 케이블 커넥터와 커버 플레이트의 상부에 배치되고 인쇄회로기판을 덮는 탑 커버를 포함할 수 있다.
케이블 커넥터에 연결된 고정 케이블을 더 포함할 수 있다.
카메라 모듈 이동기구는 슬라이드 블록과 피스톤 로드로 연결되어 슬라이드 블록을 진퇴시키는 고정 실린더를 포함할 수 있다. 고정 실린더는 베이스에 고정 장착될 수 있다.
고정 실린더에는 공압 라인이 연결될 수 있다.
베이스는 한 쌍의 지지벽의 간격 보다 작은 간격으로 이격된 한 쌍의 수평 샤프트를 포함할 수 있고, 슬라이드 블록은 수평 샤프트를 따라 슬라이드 안내되는 한 쌍의 슬라이드 부싱을 포함할 수 있다.
베이스에는 상기 카메라 모듈이 핀블록과 얼라인되는 위치일 때 슬라이드 부싱을 구속하는 스토퍼가 형성될 수 있다.
베이스는 한 쌍의 지지벽 중 어느 하나가 세워진 제1베이스와; 제1베이스와 이격되고 한 쌍의 지지벽 중 다른 하나가 세워진 제2베이스와; 제1베이스와 제2베이스를 잇고 카메라 모듈 이동기구가 고정된 제3베이스를 포함할 수 있다.베이스는 제1베이스와 제2베이스를 잇고 제3베이스와 이격되며 슬라이드 블록을 슬라이드 안내하는 제4베이스를 더 포함할 수 있다.
슬라이드 블록에는 소켓바디 승강기구가 수용되는 승강기구 수용부가 형성될 수 있다. 승강기구는 소켓 바디를 승강시키는 승강로드를 갖고 적어도 일부가 승강기구 수용부에 수용된 승강 실린더를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 카메라 모듈이 향하는 통공의 위치 및 높이가 고정인 상태에서 카메라 모듈이 테스트 되므로, 통공의 위치나 높이가 가변되는 경우 보다 신뢰성 높게 카메라 모듈을 테스트할 수 있는 이점이 있다.
또한, 고정 플레이트 모듈 및 실린더가 고정된 상태에서, 카메라 모듈이 수평 방향으로 이동되고 승강될 수 있기 때문에, 고정 플레이트 모듈 및 실린더가 이동되는 경우 보다 안정적이며, 고정 플레이트 모듈 및 실린더가 위치 이동되는 경우 보다 실린더 작동을 위한 소비전력을 저감할 수 있는 이점이 있다.
또한, 케이블 커넥터 및 고정 케이블이 위치 고정인 상태에서 작동되므로, 케이블 커넥터가 위치 이동되는 경우 보다 신뢰성이 높고 고정 케이블을 통한 신호의 품질이 높은 이점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 카메라 모듈 테스트 소켓이 테스트 준비 일 때의 사시도,
도 2는 도 1에 도시된 카메라 모듈 테스트 소켓의 평면도,
도 3은 도 1에 도시된 카메라 모듈 테스트 소켓의 저면도,
도 4는 도 2에 도시된 소켓 바디에 카메라 모듈이 안착되었을 때의 평면도,
도 5는 도 1에 도시된 소켓 바디와 슬라이드 블록이 통공의 아래로 이동되었을 때의 사시도,
도 6은 본 발명에 따른 소켓 바디가 상승되었을 때의 소켓 바디와 승강기구와 슬라이딩 블록이 도시된 단면도,
도 7은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 카메라 모듈 테스트 소켓이 테스트 준비 일 때의 평면도,
도 8은 도 7에 도시된 소켓 바디 및 슬라이드 블록이 통공의 아래로 전진되고, 소켓 바디가 상승되었을 때의 평면도이다.
이하에서는 본 발명의 구체적인 실시 예를 도면과 함께 상세히 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 카메라 모듈 테스트 소켓이 테스트 준비 일 때의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 카메라 모듈 테스트 소켓의 평면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 카메라 모듈 테스트 소켓의 저면도이고, 도 4는 도 2에 도시된 소켓 바디에 카메라 모듈이 안착되었을 때의 평면도이며, 도 5는 도 1에 도시된 소켓 바디와 슬라이드 블록이 통공의 아래로 이동되었을 때의 사시도이고, 도 6은 본 발명에 따른 소켓 바디가 상승되었을 때의 소켓 바디와 소켓바디 승강기구와 슬라이딩 블록이 도시된 단면도이다.
카메라 모듈 테스트 소켓은 그 위치나 높이가 가변되지 않고 일정한 고정모듈(S)과, 그 위치가 가변되는 가변모듈(M)을 포함할 수 있고, 카메라 모듈(C)은 가변모듈(M)에 안착되어 가변모듈(M)과 함께 고정모듈(S)로 이동할 수 있다.
고정모듈(M)은 카메라 모듈(C)에 접속되는 핀 블록(41)을 포함할 수 있다. 그리고, 고정모듈(S)은 핀 블록(41)과 전기적으로 연결되는 인쇄회로기판(42)을 포함할 수 있다. 그리고, 고정모듈(S)은 인쇄회로기판(42)과 연결된 케이블 커넥터(43)를 더 포함할 수 있다.
카메라 모듈 테스트 소켓은 케이블 커넥터(43)에 연결된 고정 케이블(48)을 더 포함할 수 있다.
가변모듈(M)은 카메라 모듈(C)을 핀 블록(41)으로 이동시킬 수 있고, 카메라 모듈(C)은 핀 블록(41)으로 이동되어 핀 블록(41)과 접속될 수 있고, 테스트될 수 있다.
본 실시예는 핀 블록(41), 인쇄회로기판(42) 및 케이블 커넥터(43)의 위치가 고정이고, 고정 케이블(48)은 케이블 커넥터(43)에 연결된 상태일 수 있고, 케이블 커넥터(43)의 위치가 변경되지 않기 때문에, 고정 케이블(48)은 케이블 커넥터(43)에 신뢰성 높게 연결 유지될 수 있다.
만약, 카메라 모듈 테스트 소켓의 작동 중 케이블 커넥터(43)의 위치가 가변되면, 고정 케이블(48)은 케이블 커넥터(43)와 연결된 상태에서 그 일단이 케이블 커넥터(43)와 함께 이동될 수 있고, 고정 케이블(48)과 케이블 커넥터(43)의 접속 불량이 발생될 가능성이 높다.
반면에, 본 실시예와 같이, 케이블 커넥터(43)의 위치가 변화되지 않고 일정한 경우, 고정 케이블(48)은 케이블 커넥터(43)와 견고하게 연결 유지될 수 있고, 고정 케이블(48)과 케이블 커넥터(43)의 접촉 불량 가능성은 최소화될 수 있다.
이하, 카메라 모듈용 테스트 소켓의 상세 구성에 대해 설명한다.
카메라 모듈용 테스트 소켓은 베이스(10)와; 한 쌍의 지지벽(20)(30)과; 고정 플레이트 모듈(40)과; 슬라이드 블록(50)와, 소켓바디(60)와, 소켓바디 승강기구(70)와, 카메라 모듈 이동기구(80)를 포함한다.
베이스(10)와, 한 쌍의 지지벽(20)(30)과, 고정 플레이트 모듈(40)는 카메라 모듈의 검사 작업 도중에 위치가 고정인 고정모듈(S)을 구성할 수 있다.
그리고, 슬라이드 블록(50)와, 소켓바디(60)와, 소켓바디 승강기구(70)은 카메라 모듈의 검사 작업 도중에 위치가 가변되는 가변모듈(M)을 구성할 수 있다.
베이스(10)는 카메라 모듈용 테스트 소켓을 지지하는 것으로서, 복수개 부재의 결합체로 구성되는 것이 가능하고, 단일부재로 구성되는 것도 가능하다.
베이스(10)는 슬라이드 블록(50)의 슬라이딩을 안내할 수 있다. 베이스(10)는 한 쌍의 수평 샤프트(11)(12)를 포함할 수 있다. 한 쌍의 수평 샤프트(11)(12)를 나란하게 배치될 수 있고, 슬라이드 블록(50)의 양측을 안정적으로 슬라이드 안내할 수 있다.
한 쌍의 수평 샤프트(11)(12)는 한 쌍의 지지벽(20)(30)의 간격(G1) 보다 작은 간격(G2)으로 이격될 수 있다.
베이스(10)는 카메라 모듈 이동기구(80)를 지지할 수 있다. 카메라 모듈 이동기구(80)는 베이스(10)에 고정될 수 있다.
베이스(10)는 한 쌍의 지지벽(20)(30) 중 어느 하나(20)가 세워진 제1베이스(13)와, 제1베이스(13)와 이격되고 한 쌍의 지지벽(20)(30) 중 다른 하나(30)가 세워진 제2베이스(14)를 포함할 수 있다.
베이스(10)는 카메라 모듈 이동기구(80) 특히, 고정 실린더(84)가 고정된 제3베이스(15)를 포함할 수 있다. 제3베이스(15)는 제1베이스(13)와 제2베이스(14)를 잇게 형성될 수 있다.
베이스(10)는 슬라이드 블록(50)을 슬라이드 안내하는 제4베이스(16)를 더 포함할 수 있다. 제4베이스(16)은 제1베이스(13)와 제2베이스(14)를 잇고 제3베이스(15)와 이격될 수 있다. 슬라이드 블록(50)의 저면은 제4베이스(16)의 상면을 따라 미끌어질 수 있고, 슬라이드 블록(50)은 중앙이 쳐지지 않고, 안정적으로 슬라이드될 수 있다.
베이스(10)에는 카메라 모듈(C)이 핀블록(41)과 얼라인되는 위치일 때 후술하는 슬라이드 부싱(51)(52)을 구속하는 스토퍼(17)(18)가 형성될 수 있다.
한 쌍의 지지벽(20)(30)은 베이스(10)의 상부에 배치될 수 있다. 한 쌍의 지지벽(20)(30)은 수평방향으로 서로 이격되게 배치될 수 있다.
한 쌍의 지지벽(20)(30)은 베이스(10)와 별도로 제조된 후 베이스(10)에 장착되는 것이 가능하고, 베이스(10)에서 일체로 돌출 형성되는 것도 가능함은 물론이다.
한 쌍의 지지벽(20)(30)은 고정 플레이트 모듈(40)를 베이스(10)와 이격되게 고정 플레이트 모듈(40)을 지지할 수 있고, 한 쌍의 지지벽(20)(30)과 고정 플레이트 모듈(40)와 베이스(10)의 사이에는 슬라이드 블록(50) 및 소켓바디(60)가 진퇴 가능하게 수용되는 수용공간(S)이 형성될 수 있다.
고정 플레이트 모듈(40)은 한 쌍의 지지벽(20)(30) 상부에 고정될 수 있다. 고정 플레이트 모듈(40)에는 통공(H)이 형성될 수 있다. 고정 플레이트 모듈(40)에는 카메라 모듈(C)과 접속되어 카메라 모듈(C)을 테스트하는 핀 블록(41)이 구비될 수 있다.
고정 플레이트 모듈(40)은 한 쌍의 지지벽(20)(30) 상부에 고정된 커버 플레이트(44)와, 핀블록(41)과 연결된 인쇄회로기판(42)과, 인쇄회로기판(42)에 연결된 케이블 커넥터(43)와; 커버 플레이트(44)의 상부에 배치되고 인쇄회로기판을 덮는 탑 커버(46)를 포함할 수 있다. 고정 플레이트 모듈(40)은 커버 플레이트(44)에 배치되고 통공(H)이 형성된 테스트보드(45)를 더 포함할 수 있다.
그리고, 카메라 모듈용 테스트 소켓은 케이블 커넥터(43)에 연결된 고정 케이블(48)을 더 포함할 수 있다.
슬라이드 블록(50)은 슬라이드 블록(50)은 소켓바디(60)의 위치를 가변시키는 캐리어일 수 있다.
슬라이드 블록(50)은 한 쌍의 지지벽(20)(30) 사이로 진퇴 가능하게 배치될 수 있다. 슬라이드 블록(50)은 소켓바디(60)를 한 쌍의 지지벽(20)(30) 사이의 수용공간(S)으로 전진시킬 수 있고, 한 쌍의 지지벽(20)(30) 사이의 수용공간(S)에 위치하는 소켓바디(60)를 수용공간(S) 외부로 후퇴시킬 수 있다.
슬라이드 블록(50)은 베이스(10)에 무빙 가능하게 배치된 무빙 모듈 가이드 박스일 수 있다.
슬라이드 블록(50)은 수평 샤프트(11)(12)를 따라 슬라이드될 수 있고, 이를 위해, 수평 샤프트(11)(12)를 따라 안내되는 한 쌍의 슬라이드 부싱(51)(52)을 포함할 수 있다.
슬라이드 블록(50)은 카메라 모듈 이동기구(80)의 후술하는 피스톤 로드(82)가 연결된 볼록 바디(53)를 포함할 수 있다. 그리고, 슬라이드 부싱(51)(52)는 블록 바디(53)를 사이에 두고 서로 나란하게 형성될 수 있다.
소켓바디(60)에는 카메라 모듈(C)이 안착되는 모듈 안착부(62)가 형성될 수 있다. 소켓바디(60)는 슬라이드 볼록(50) 위에 승강 가능하게 배치될 수 있다. 소켓바디(60)는 슬라이드 블록(50) 위에 배치된 상태에서 통공(H)을 향해 상승될 수 있고, 슬라이드 블록(50) 위에 배치된 상태에서 통공(H)과 멀어지게 하강될 수 있다.
소켓바디 승강기구(70)는 슬라이드 블록(50)에 배치되고 소켓바디(60)를 승강시킬 수 있다.
슬라이드 블록(50)에는 도 8에 도시된 바와 같이, 소켓바디 승강기구(70)가 수용되는 승강기구 수용부(54)가 형성될 수 있다. 승강기구 수용부(54)는 블록 바디(53)의 상면에 함몰된 형상으로 형성될 수 있다.
소켓바디 승강기구(70)는 소켓 바디(60)를 승강시키는 승강로드(72)를 갖고 적어도 일부가 승강기구 수용부(54)에 수용된 승강 실린더(74)를 포함할 수 있다.
승강 실린더(74)는 공압 실린더나 유압실린더 등의 실린더를 포함할 수 있다. 승강 실린더(74)가 공압 실린더일 경우, 승강 실린더(74)에는 공압 라인(76, 도 1 및 도 2 참조)이 연결될 수 있다.
카메라 모듈 이동기구(80)는 베이스(10)에 고정되고 슬라이드 블록(50)과 연결될 수 있다.
카메라 모듈 이동기구(80)는 카메라 모듈(C)을 통공 아래의 제1위치(P1)로 전진시키고, 카메라 모듈(C)을 고정 플레이트 모듈(40)의 아래 주변의 제2위치(P2)로 후퇴시킬 수 있다.
카메라 모듈 이동기구(80)는 슬라이드 블록(50)과 피스톤 로드(82)로 연결되어 슬라이드 블록(82)을 진퇴시키는 고정 실린더(84)를 포함할 수 있다.
고정 실린더(84)는 베이스(10)에 고정 장착될 수 있다.
고정 실린더(84)는 공압 실린더 또는 유압 실린더 등과 같은 실린더일 수 있다. 고정 실린더(84)가 공압 실린더일 경우, 고정 실린더(84)에는 공압 라인(86)이 연결될 수 있다.
이하, 상기와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 카메라 모듈 테스트 소켓은 도 1에 도시된 바와 같이, 소켓바디(60)가 한 쌍의 지지벽(20)(30) 사이의 외부에 위치되게 대기할 수 있다.
작업자 또는 로봇은 도 4에 도시된 바와 같이, 소켓바디(60)의 소켓 안착부(62)로 카메라 모듈(C)을 안착시킬 수 있고, 카메라 모듈(C)에 안착된 후 카메라 모듈 이동기구(80)는 구동될 수 있다.
카메라 모듈 이동기구(80)의 고정 실린더(84)는 실린더 로드(82)를 당길 수 있고, 슬라이드 블록(50)은 실린더 로드(82)에 이끌려, 수용공간(S)으로 진입될 수 있다. 슬라이드 블록(50)은 소켓바디 승강기구(70) 및 소켓바디(60)와 함께 고정 플레이트 모듈(40)의 아래로 전진될 수 있다.
슬라이드 블록(50)은 한 쌍의 슬라이드 부싱(51)(52)이 한 쌍의 스토퍼(17)(18)에 접촉되어 걸릴 수 있고, 이때, 카메라 모듈(C)은, 고정 플레이트 모듈(40)의 통공(H) 아래에 위치될 수 있다.
카메라 모듈(C)이 통공(H) 아래에 위치된 후, 소켓바디 승강기구(70)의 승강 실린더(74)는 구동될 수 있고, 승강 로드(72)는 소켓바디(60)를 상승시킬 수 있고, 소켓바디(60)의 소켓 안착부(62)는 고정 플레이트 모듈(40)의 핀 블록(41)을 향새 상승될 수 있고, 소켓 안착부(62)에 안착된 카메라 모듈(C)은 핀 블록(41)에 접속될 수 있다.
고정 플레이트 모듈(40)의 핀 블록(41)은 접속된 카메라 모듈(C)로 구동신호 또는 테스트신호를 인가할 수 있고, 카메라 모듈(C)은 정상작동 또는 테스트 작동될 수 있다.
상기와 같은 카메라 모듈(C)의 테스트 후, 소켓바디 승강기구(70)는 소켓바디(60) 및 카메라 모듈(C)를 하강시킬 수 있다.
그리고, 카메라 모듈 이동기구(80)는 소켓바디(60)의 하강이 완료되면, 소켓바디(60)를 한 쌍의 지지벽(20)(30) 사이의 외부로 후퇴시킬 수 있다.
소켓바디(60)의 후퇴시, 카메라 모듈(C)은 외부로 노출될 수 있고, 작업자 또는 로봇은 테스트 완료된 카메라 모듈(C)을 모듈 안착부(62)에서 꺼낼 수 있다.
도 7은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 카메라 모듈 테스트 소켓이 테스트 준비 일 때의 평면도이고, 도 8은 도 7에 도시된 소켓 바디 및 슬라이드 블록이 통공의 아래로 전진되고, 소켓 바디가 상승되었을 때의 평면도이다.
본 실시예는 소켓바디(60)에 복수개의 모듈 안착홈(62A)(62B)이 형성될 수 있고, 복수개의 모듈 안착홈(62A)(62B)은 서로 이격되게 형성될 수 있다.
복수개의 모듈 안착홈(62A)(62B)은 슬라이딩 블록(50)의 진퇴 방향(X)과 직교한 방향(Y)으로 이격될 수 있다.
그리고, 고정 플레이트 모듈(40)에는 복수개 통공(H1)(H2)이 형성될 수 있다. 복수개 통공(H1)(H2)은 복수개의 모듈 안착홈(62A)(62B)과 같이, 슬라이딩 블록(50)의 진퇴 방향(X)과 직교한 방향(Y)으로 이격될 수 있다.
복수개의 모듈 안착홈(62A)(62B)과 복수개 통공(H1)(H2)은 1:1 대응될 수 있고, 고정 플레이트 모듈(40)에는 복수개의 모듈 안착홈(62A)(62B)과 동일 개수의 핀 블록이 구비될 수 있다.
본 실시예의 카메라 모듈 테스트 소켓은 복수개의 카메라 모듈(C1)(C2)을 함께 테스트할 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다.
따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10: 베이스 20,30: 지지벽
40: 고정 플레이트 모듈 50: 슬라이등 블록
60: 소켓바디 70: 소켓바디 승강기구
80: 카메라모듈 이동기구 C: 카메라 모듈

Claims (11)

  1. 베이스;
    상기 베이스의 상부에 배치되고 수평방향으로 이격되는 한 쌍의 지지벽;
    상기 한 쌍의 지지벽 상부에 고정되고 통공이 형성되며 카메라 모듈의 접속시 상기 카메라 모듈를 테스트하는 핀 블록이 구비된 고정 플레이트 모듈;
    상기 한 쌍의 지지벽 사이로 진퇴 가능하게 배치된 슬라이드 블록;
    카메라 모듈이 안착되는 모듈 안착부가 형성된 소켓바디;
    상기 슬라이드 블록에 배치되고 상기 소켓바디를 승강시키는 소켓바디 승강기구; 및
    상기 베이스에 고정되고 상기 슬라이드 블록과 연결되어 상기 모듈 안착부에 안착된 카메라 모듈을 상기 통공 아래의 제1위치로 전진시키고, 상기 카메라 모듈을 상기 고정 플레이트 모듈의 아래 주변의 제2위치로 후퇴시키는 카메라 모듈 이동기구를 포함하고,
    상기 고정 플레이트 모듈은
    상기 한 쌍의 지지벽 상부에 고정된 커버 플레이트;
    상기 커버 플레이트에 배치되고 상기 통공이 형성된 테스트보드;
    상기 핀블록과 연결된 인쇄회로기판;
    상기 인쇄회로기판에 연결된 케이블 커넥터; 및
    상기 커버 플레이트의 상부에 배치되고 상기 인쇄회로기판을 덮는 탑 커버를 포함하고,
    상기 소켓바디 승강기구는
    상기 소켓바디를 승강시키는 승강로드를 갖는 승강 실린더를 포함하고,
    상기 슬라이드 블록은
    상기 카메라 모듈 이동기구의 피스톤 로드가 연결된 블록 바디를 포함하고,
    상기 블록 바디의 상면에는 상기 승강 실린더의 적어도 일부가 수용되는 승강기구 수용부가 함몰 형성된
    카메라 모듈용 테스트 소켓.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 고정 플레이트 모듈과, 한 쌍의 지지벽과 상기 베이스의 사이에는 상기 슬라이드 블록과, 소켓바디와, 소켓바디 승강기구 및 카메라 모듈이 진퇴 가능하게 수용되는 수용공간이 형성된 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 케이블 커넥터에 연결된 고정 케이블을 더 포함하는 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 카메라 모듈 이동기구는
    상기 슬라이드 블록과 피스톤 로드로 연결되어 상기 슬라이드 블록을 진퇴시키는 고정 실린더를 포함하고,
    상기 고정 실린더는 상기 베이스에 고정 장착된 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 고정 실린더에는 공압 라인이 연결된 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 베이스는 상기 한 쌍의 지지벽의 간격 보다 작은 간격으로 이격된 한 쌍의 수평 샤프트를 포함하고,
    상기 슬라이드 블록은 상기 수평 샤프트를 따라 슬라이드 안내되는 한 쌍의 슬라이드 부싱을 포함하는 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 베이스에는 상기 카메라 모듈이 상기 핀블록과 얼라인되는 위치일 때 상기 슬라이드 부싱을 구속하는 스토퍼가 형성된 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 베이스는 상기 한 쌍의 지지벽 중 어느 하나가 세워진 제1베이스;
    상기 제1베이스와 이격되고 상기 한 쌍의 지지벽 중 다른 하나가 세워진 제2베이스; 및
    상기 제1베이스와 제2베이스를 잇고 상기 카메라 모듈 이동기구가 고정된 제3베이스를 포함하는 카메라 모듈용 테스트 소켓.
  10. 삭제
  11. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR102598754B1 (ko) * 2021-04-01 2023-11-06 디플러스(주) 부품 검사 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008012609A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Denso Wave Inc 直線移動装置
KR101308741B1 (ko) * 2013-06-04 2013-09-17 김광일 카메라 모듈용 테스트 소켓
KR101448961B1 (ko) * 2013-09-30 2014-10-14 프라임텍 주식회사 Ⅴｃｍ 모듈 검사용 소켓
KR101710601B1 (ko) * 2016-09-23 2017-02-28 프라임텍 주식회사 노이즈를 저감한 카메라 모듈 검사용 비자성 소켓

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008012609A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Denso Wave Inc 直線移動装置
KR101308741B1 (ko) * 2013-06-04 2013-09-17 김광일 카메라 모듈용 테스트 소켓
KR101448961B1 (ko) * 2013-09-30 2014-10-14 프라임텍 주식회사 Ⅴｃｍ 모듈 검사용 소켓
KR101710601B1 (ko) * 2016-09-23 2017-02-28 프라임텍 주식회사 노이즈를 저감한 카메라 모듈 검사용 비자성 소켓

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