KR102209062B1 - 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치 - Google Patents

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한신희
임정호
허정
홍순우
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Abstract

본 발명은 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치에 관한 것으로, 반도체 소자 테스트 소켓 보드의 유형에 상관 없이 모두 적용하여 반도체 소자를 가압하여 고정하는 래치의 개폐작동을 제어할 수 있도록 함을 목적으로 한다.
본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치는, 테스트 트레이에 일렬로 나열 배치된 복수개의 반도체 소자 테스트 소켓들이 수용되는 수용홀이 길이방향을 따라 형성된 베이스, 상기 수용홀을 사이에 두고 서로 대향되도록 배치되며 상기 베이스의 길이방향을 따라 형성되어 상기 반도체 소자 테스트 소켓들에 구비된 래치에 개방에 필요한 가압력을 일률적으로 전달하는 개방부를 포함한다.

Description

반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치{Latch opening and closing control device of semiconductor device test socket}
본 발명은 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 소자 테스트 소켓 보드의 유형에 상관 없이 모두 적용하여 반도체 소자를 가압하여 고정하는 래치의 개폐작동을 제어할 수 있는 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 반도체 소자는 전자 기기에 사용되는 부품을 통칭하며, 일 예로 반도체 칩을 통하여 전기적인 특성을 갖도록 구성된 디램(DRAM), 에스램(SRAM) 등과 같은 부품을 포함할 수 있다.
이에 반도체 소자는 제조의 완성 단계에서 그 전기적인 특성을 테스트 하는 테스트 공정을 거치기 된다. 테스트 공정은 실질적으로 반도체 소자를 대상으로 테스트를 수행하는 테스트 장치와 테스트 장치에 반도체 소자를 제공하기 위한 테스트 핸들러를 통하여 진행된다.
테스트 핸들러는 테스트 트레이에 다수의 반도체 소자들을 수납한 상태로 테스트 장치로 이동한 다음, 테스트 트레이에 수납된 상태 그대로 테스트 장치에 접속시킴으로써, 한번에 많은 개수의 반도체 소자들을 동시에 테스트할 수 있도록 한다.
이때, 테스트 트레이에는 수납한 반도체 소자들 각각을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 반도체 소자 테스트 소켓들이 장착된다.
이에 래치는 반도체 소자를 수납하고자 할 때 래치 개방 장치를 통해서 반도체 소자가 수납되는 공간이 개방되도록 동작한다. 그러나, 래치 개방 장치는 테스트 트레이 타입 유형이 바뀔 때 마다 함께 래치 개방 장치도 교체를 해야하기 때문에 번거로울 뿐만 아니라 작업시간도 함께 증가되는 문제점이 있다.
공개특허공보 제10-2012-0031547호
본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 반도체 소자 테스트 소켓 보드의 유형에 상관 없이 모두 적용하여 반도체 소자를 가압하여 고정하는 래치의 개폐작동을 제어할 수 있는 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치는, 테스트 트레이에 일렬로 나열 배치된 복수개의 반도체 소자 테스트 소켓들이 수용되는 수용홀이 길이방향을 따라 형성된 베이스, 상기 수용홀을 사이에 두고 서로 대향되도록 배치되며 상기 베이스의 길이방향을 따라 형성되어 상기 반도체 소자 테스트 소켓들에 구비된 래치에 개방에 필요한 가압력을 일률적으로 전달하는 한 쌍의 개방부를 포함한다.
그리고, 상기 개방부는 상측에서 하측으로 갈수록 서로 점진적으로 가까워지는 경사각을 갖도록 설치된다.
또한, 상기 개방부는 복수로 분할형성되어 베이스의 길이방향을 따라 서로 접하도록 배치된다.
그리고, 상기 반도체 소자 테스트 소켓의 폭의 따라 개방부를 이동시켜 상기 개방부 간의 간격을 조절하는 간격조절부를 더 포함한다.
본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치는, 베이스의 길이방향을 따라 수용홀을 형성하여 각 열마다 배치된 모든 반도체 소자 테스트 소켓들을 한번에 수용할 수 있고, 그 수용과정에서 개방부를 통해 한 열에 위치한 모든 반도체 소자 테스트 소켓의 래치에 가압력을 일률적으로 전달할 수 있어, 다양한 타입의 반도체 소자 테스트 소켓에 모두 적용하여 사용할 수 있고, 그 구성이 간소하여 제품의 생산단가를 현저히 절감할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치를 도시한 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치가 반도체 소자 테스트 소켓에 적용된 예를 도시한 확대 사사도.
도 3은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치가 적용되는 트레이를 도시한 도.
도 4 내지 도 6은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치가 적용되는 반도체 소자 테스트 소켓을 도시한 분해 사시도.
도 7은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치에 적용된 개방부가 반도체 소자 테스트 소켓의 폭에 간격이 조절되는 상태를 도시한 도.
도 8은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치에 적용된 이동플레이트와 간격조절부의 관계를 도시한 도.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다.
그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참고로 하여 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다.
도 1은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치를 도시한 사시도이고, 도 2는 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치가 반도체 소자 테스트 소켓에 적용된 예를 도시한 확대 사사도이며, 도 3은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치가 적용되는 트레이를 도시한 도이고, 도 4 내지 도 6은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치가 적용되는 반도체 소자 테스트 소켓을 도시한 분해 사시도이다.
본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치(1)는 반도체 소자 테스트 소켓 보드의 유형에 상관 없이 모두 적용하여 반도체 소자를 가압하여 고정하는 래치의 개폐작동을 제어할 수 있도록 한 제품이다.
이를 위해 본 발명에 따른 래치(111) 개방장치는, 베이스(10), 개방부(20)를 포함할 수 있다.
베이스(10)는 일정한 높이와 면적을 갖는 작업대(2)의 상면에 배치된다.
베이스(10)에는 테스트 트레이(T)에 배치된 복수개의 반도체 소자 테스트 소켓(100)들이 수용되는 수용홀(11)이 길이방향을 따라 형성된다.
도 에 예시된 바와 같이 테스트 트레이(T)에는 다수개의 반도체 소자 테스트 소켓(100)이 종,횡 방향을 따라 배치된다. 따라서, 테스트 트레이(T)에는 반도체 소자 테스트 소켓(100)이 복수열로 형성된다.
그리고, 반도체 소자(160)는 작업대(2)에서 수평방향 이송용 로드레스 실린더(4)와 수직 방향 이송용 로드레스 슬린더(5)에 의해 수평, 수직 방향으로 이동되는 테스트 핸들러(3)에 의해 반도체 소자 테스트 소켓(100)에 공급된다.
또한, 수용홀(11)에는 테스트 트레이(T)의 횡 방향을 따라 배열된 반도체 소자 테스트 소켓(100)들이 수용된다.
이를 위해, 작업대(2)에는 반도체 소자(160)를 테스트 하기 위한 테스트 트레이(T)에 대응되는 면적을 갖는 승강홀(2a)이 수직방향으로 관통형성된다.
즉, 테스트 트레이(T)는 승강홀(2a)에서 실린더와 같은 승강장치(미도시)를 통해 베이스(10)에 대해 상승 또는 하강되며, 상승 시에는 어느 한 열에 배열된 반도체 소자 테스트 소켓(100)이 수용홀(11)에 수용된다.
그리고, 베이스(10)는 일측과 타측이 로드레스 실린더와 같은 이송장치(미도시)를 통해 작업대(2)의 수평방향을 따라 왕복이동될 수 있다.
이때, 이송장치는 2개 한 쌍으로 구성되어 베이스(10)의 양측면 또는 양측 저면에 결합될 수 있으며, 전술한 작업대(2)에 고정된 상태에서 베이스(10)를 테스트 트레이(T)의 종 방향을 따라 일정 시간 간격으로 이송시켜 후술되는 개방부(20)가 각 열에 위치된 반도체 소자 테스트 소켓(100)들에 가압력을 전달할 수 있도록 한다.
이를 보다 구체적으로 설명하면, 이송장치는 도 에 예시된 바와 같이 베이스(10)를 테스트 트레이(T)의 1열에 위치한 반도체 소자 테스트 소켓(100)에서부터 n열에 위치한 반도체 소자 테스트 소켓(100)까지 단계적으로 이송시켜 테스트 트레이(T)의 상승에 의해 각 열에 위치된 반도체 소자 테스트 소켓(100)이 수용홀(11)에 순차적으로 수용될 수 있도록 한다.
개방부(20)는 2개 한 쌍으로 구성되어 수용홀(11)을 사이에 두고 서로 대향되도록 배치되며 베이스(10)의 길이방향을 따라 형성되어 반도체 소자 테스트 소켓(100)들에 각각 구비된 래치(111)에 개방에 필요한 가압력을 일률적으로 전달한다.
이하, 개방부(20)의 작용에 대해 설명하기 위해 도 를 참고하여 반도체 소자 테스트 소켓(100)의 일 실시예에 대해 설명한다.
반도체 소자 테스트 소켓(100)은 반도체 소자(160)의 외부접속단자(미도시)들에 접속되는 소켓 핀(미도시)들이 상면에서 돌출 형성되어 있고, 반도체 소자(160)의 양측면을 가압하여 고정하는 래치(111)가 소켓 핀들의 주변부에 설치된 소켓 베이스(110), 소켓 베이스(110)의 상부에 장착되며, 중앙 부분에 반도체 소자(160)가 수용되는 소정 깊이의 수용홈(120a)이 형성되어 있고, 소켓 핀들을 노출시키는 개구부(120b)가 형성된 어댑터(120), 소켓 베이스(110)가 상면에 장착되고, 소켓 핀과 전기적으로 연결된 테스트 보드 접속 커넥터(131)가 하면에 형성된 소켓 플레이트(130), 반도체 소자(160)를 측방으로 가압하는 수평 푸시 바(141)가 어댑터(120)의 수용홈(120a)에 수용된 반도체 소자(160)의 적어도 서로 이웃하는 두 측방에 설치된 적어도 한 쌍의 얼라이너(140) 및 탄성 부재(151)를 개재하여 소켓 베이스(110) 상부의 소정 높이에 결합되며, 하강 시 래치(111)를 가압하여 래치(111)의 가압을 해제하는 래치 누름 돌기(152)와, 하강시 얼라이너(140)를 가압하여 수평 푸시 바(141)를 구동시키는 소켓 커버(150)를 포함할 수 있다.
이때, 수평 푸시 바(141)는 얼라이너 몸체(143)에 수평으로 삽입 설치되며 어댑터(120)의 안축으로 일부분이 돌출된다. 수직 푸시 바(142)는 밑면이 어댑터(120) 외측으로 하향 경사진 경사면으로 형성된다, 수직 푸시(52)는 소켓 커버(150)에 의해 하강된다.
그리고, 수평 푸시 바(141)는 얼라이너 몸체(143)에 수평으로 삽입 설치되며, 어댑터(120)의 안쪽으로 일부분이 돌출된다. 수평 푸시 바(141)의 일단이 제2 탄성 부재(144)에 의해 얼라이너 몸체(143)에 고정된다.
또한, 수평 푸시 바(141)의 상부에는 수직 푸시 바(142)의 경사면과 정합되는 경사면을 갖는다. 수직 푸시 바(142)와 수평 푸시 바(141)의 경사면은 서로 면 접촉된다. 제2 탄성 부재(144)는 수직 푸시 바(142)에 의해 누르는 힘이 해제될 때, 수평 푸시 바(141)와 수직 푸시 바(142)에 복원력을 제공한다.
그리고, 테스트 트레이(T)가 승강장치에 의해 승강되어 어느 한 열에 배치된 반도체 소자 테스트 소켓(100)들이 수용홀(11)에 수용되는 과정에서 소켓 커버(150)의 상면 양측이 개방부(20)에 의해 하 방향으로 가압되면서 얼라이너(140)의 수직 푸시 바(142)를 가압한다.
소켓 커버(150)는 하강시 수직 푸시 바(142)를 가압하여 하강시키고, 수평 푸시 바(141)는 반도체 소자(160)의 측방에서 밀려난다.
소켓 커버(150)가 상승하면 수직 푸시 바(142)를 가압하던 힘은 사라진다. 수평 푸시 바(141)를 뒤로 미는 힘이 사라져서 수평 푸시 바(141)는 제자리로 복귀하려 하므로, 수직 푸시 바(142)는 상승하며, 수평 푸시 바(141)는 제자리로 복귀되면서 반도체 소자(160)를 두 측방에서 가압한다.
이로 인해, 반도체 소자(160)는 어댑터(120)의 서로 인접하는 측벽을 위치 정렬의 기준으로 하여 두 측벽 사이의 모서리 쪽에 정렬된다. 반도체 소자(160)의 외부접속단자는 소켓 핀과 접속되며, 반도체 소자(160)는 래치(111)에 의해 어댑터(120) 내에서 고정된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치(1)는, 베이스(10)의 길이방향을 따라 수용홀(11)을 형성하여 각 열마다 배치된 모든 반도체 소자 테스트 소켓(100)들을 한번에 수용할 수 있고, 그 수용과정에서 개방부(20)를 통해 한 열에 위치한 모든 반도체 소자 테스트 소켓(100)의 래치(111)에 가압력을 일률적으로 전달할 수 있어, 다양한 타입의 반도체 소자 테스트 소켓(100)에 모두 적용하여 사용할 수 있고, 그 구성이 간소하여 제품의 생산단가를 현저히 절감할 수 있는 장점을 제공할 수 있다.
나아가, 개방부(20)는 베이스(10)의 생산 단가를 보다 절감할 수 있도록 상측에서 하측으로 갈수록 서로 점진적으로 가까워지는 경사각을 갖도록 설치될 수 있다.
즉, 개방부(20)의 하단이 소켓 커버(150)에 접촉되어 가압력이 발생되도록 하는 바, 개방부(20)를 수직으로 설치할 경우에는 개방부(20) 간의 간격이 넓어져 소켓 커버(150)가 개방부(20)의 사이로 인입되어 가압되지 아니하는 현상이 발생될 수 있다.
따라서, 개방부(20)를 경사진 형태로 설치하면 베이스(10)의 길이를 증가하지 않고도 개방부(20)의 하단이 소켓 커버(150)의 상면 양측에 각각 접촉되도록 할 수 있어 베이스(10)의 생산 단가를 절감할 수 있다.
그리고, 개방부(20)는 유지보수가 용이하도록 복수개로 분할되어 베이스(10)에 개별적으로 설치될 수 있다. 이때, 각 개방부(20)는 그 양측면이 서로 접하거나 소정간격 이격되도록 베이스(10)의 길이방향을 따라 설치될 수 있다.
다음으로, 도 7 및 도 8을 참고하여 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치에 적용된 간격조절부를 설명한다.
도 7은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치에 적용된 개방부가 반도체 소자 테스트 소켓의 폭에 간격이 조절되는 상태를 도시한 도이고, 도 8은 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치에 적용된 이동플레이트와 간격조절부의 관계를 도시한 도이다.
도 7은 반도체 소자 테스트 소켓(100)의 폭에 따라 개방부(20)의 간격이 단계적으로 조절되는 과정을 도시한 평면도이다.
간격조절부(30)는 반도체 소자 테스트 소켓(100)의 폭의 따라 개방부(20) 간의 간격을 조절하는 기능을 수행한다.
이때, 베이스(10)는 개방부(20) 간의 간격을 조절할 수 있도록 2개 한 쌍으로 구성되어 서로 일정간격 이격되고 전술한 이송장치에 의해 작업대(2)의 길이방향을 따라 왕복이동되며, 내부에 슬라이딩공간이 형성된 하우징(12), 양측이 하우징(12)의 슬라이딩공간에 고정되며 부동상태를 유지하는 부동플레이트(13), 양측에 슬라이딩공간을 따라 슬라이딩될 수 있는 슬라이딩바(14a)가 형성되고 부동플레이트(13)와 대향되는 이동플레이트(14)를 포함할 수 있다.
고정플레이트(12) 및 이동플레이트(13)에는 전술한 개방부(20)가 각각 결합된다.
슬라이딩바(14a)에는 수평방향으로 관통되는 고정홀이 형성되고, 고정홀에는 캡(141a)이 수용된 후 볼트나 피스를 통해 고정된다.
따라서, 캡(141a)은 슬라이딩바(14a)와 함께 이동될 수 있다.
캡(141a)은 전측이 슬라이딩바(14a)의 전측으로 돌출되어 제1실린더(30a)와 마주한다.
캡(141a)은 후면이 개방되고 내부에 빈 공간이 형성되며, 개방된 부분에는 이동가이드(1411a)가 위치된다.
이동가이드(1411a)는 슬라이딩바(14a)의 후측으로 돌출되며, 그 후단이 하우징(12)의 슬라이딩공간에 마련된 수직지지벽(12a) 또는 슬라이딩공간의 바닥면에 고정된다.
캡(141a)의 내부공간에는 간격조절부(30)에 의해 이동된 이동플레이트(14)를 원위치로 복귀시키기 위한 복귀부(142a)가 수용된다.
복귀부(142a)는 코일스프링으로 형성될 수 있으며, 전측과 후측이 각각 캡(141a)의 내벽면과 이동가이드(1411a)에 고정된다.
이동가이드(1411a)는 캡(141a)의 내경 보다는 작은 직경을 갖도록 형성되어, 이동플레이트(14)가 유동플레이트(13)와 멀어질수록 캡(141a)의 내부공간으로 점진적으로 들어가는 형태가 된다.
간격조절부(30)는 하우징(12)의 슬라이딩 공간에 각각 나란하게 배치되는 제1실린더(30a)와 제2실린더(30b)를 포함할 수 있다.
제1실린더(30a)와 제2실린더(30b)는 서로 다른 길이를 갖도록 형성되며, 도면에서는 제1실린더(30a)가 제2실린더(30b)보다 짧은 길이를 갖도록 형성된 예를 도시하였다.
따라서, 반도체 소자 테스트 소켓(100)의 크기가 비교적 작은 경우에는 도 7(a)와 및 도 7(b)와 같이 제1실린더(30a)의 피스톤(301a)을 전진 또는 후진시켜 이동플레이트(14)를 이동시킴으로써, 개방부(20) 간의 간격을 조절하면 된다.
이때, 제1실린더(30a)의 피스톤(301a)은 캡(141a)을 직접 밀며, 캡(141a)은 복귀부(142a)를 압축시키면서 이동되며 그 과정에서 이동가이드(1411a)가 캡(141a)의 내부공간으로 수용된다.
나아가, 제1실린더(30a)의 피스톤(301a)이 후진되면 복귀부(142a)가 다시 원래의 형태로 팽창되어 이동플레이트(14)가 원위치로 복귀된다.
그리고, 반도체 소자 테스트 소켓(100)의 크기가 비교적 큰 경우에는 도 7(c)와 같이 제2실린더(30b)의 피스톤(301b)을 전진시켜 이동플레이트(14)를 이동시킴으로써, 개방부(20) 간의 간격을 조절하면 된다.
이때, 제2실린더(30b)의 피스톤(301b)은 슬라이딩바(14a)를 직접 밀며, 캡(141a)은 슬라이딩바(14a)와 동일 방향으로 이동되면서 복귀부(142a)를 압축시킨다.
나아가, 제2실린더(30b)의 피스톤(301b)이 후진되는 경우에도 복귀부(142a)가 다시 원래의 형태로 팽창되어 이동플레이트(14)가 원위치로 복귀된다.
부가적으로, 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치는 하우징(12)의 슬라이딩공간에 각각 배치되는 픽스용실린더(50), 픽스용실린더(50)에 의해 슬라이딩공간으로 인입되거나 또는 외부로 인출되며, 인출시에는 슬라이딩바(14a)와 접촉되어 이동플레이트(14)의 이동을 제한하는 스토퍼(60)를 더 포함할 수 있다.
한편, 간격조절부는 전술한 실린더(30a,30b) 이외에도 이동플레이트(14)에 결합되는 랙(미도시), 모터(미도시)의 동력으로 정방향 또는 역방향으로 회전되면서 랙 및 이에 결합된 이동플레이트(13)를 부동플레이트(12)에 대해 전진 또는 후진시켜 개방부(20) 간의 간격을 조절하는 피니언(미도시) 또는, 이동플레이트(14)에 결합되며 모터(미도시)의 동력으로 정방향 또는 역방향으로 회전되면서 이동플레이트(14)를 부동플레이트(13)에 대해 전진 또는 후진시켜 개방부(20) 간의 간격을 조절하는 캠(미도시) 또는, 이동플레이트(14)를 부동플레이트(13)에 대해 전진 또는 후진시켜 개방부(20) 간의 간격을 조절하는 서보모터(미도시) 등 다양한 제품으로 대체 적용될 수 있음을 밝힌다.
본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
1 : 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어장치
10 : 베이스 11 : 수용홀
12 : 하우징 13 : 부동플레이트
14 : 이동플레이트 20 : 개방부
30 : 간격조절부 30a : 제1실린더
30b : 제2실린더 100 : 반도체 소자 테스트 소켓
110 : 소켓 베이스 111 : 래치
120 : 어댑터 120a : 수용홈
130 : 소켓 플레이트 131 : 테스트 보드 접속 커넥터
140 : 얼라이너 141 : 수평 푸시 바
142 : 수직 푸시 바 150 : 소켓 커버
151 : 탄성 부재 152 : 래치 누름 돌기
160 : 반도체 소자

Claims (4)

  1. 테스트 트레이에 일렬로 나열 배치된 복수개의 반도체 소자 테스트 소켓들이 수용되는 수용홀이 길이방향을 따라 형성된 베이스,
    상기 수용홀을 사이에 두고 서로 대향되도록 배치되며 상기 베이스의 길이방향을 따라 형성되어 상기 반도체 소자 테스트 소켓들에 구비된 래치에 개방에 필요한 가압력을 일률적으로 전달하는 한 쌍의 개방부를 포함하는 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 개방부는 상측에서 하측으로 갈수록 서로 점진적으로 가까워지는 경사각을 갖도록 설치되는 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 개방부는 복수로 분할형성되어 베이스의 길이방향을 따라 서로 접하도록 배치되는 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 반도체 소자 테스트 소켓의 폭의 따라 개방부를 이동시켜 상기 개방부 간의 간격을 조절하는 간격조절부를 더 포함하는 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치.
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