KR102462979B1 - 마이크로컨트롤러 유닛과 안테나를 위한 2단계 자가 테스트 회로 - Google Patents

마이크로컨트롤러 유닛과 안테나를 위한 2단계 자가 테스트 회로 Download PDF

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리차드 앨런 듀크
존 로렌스 페인
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사우쓰와이어 컴퍼니, 엘엘씨
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Abstract

시스템 (100)은 개시된다. 시스템 (100)은 안테나(150)와 프로세서(105)를 포함한다. 프로세서(105)는 적어도 4개의 포트, 즉 연속성 컴포넌트의 제 1 부분에 연결된 제1 입력 포트, 안테나의 제 1 부분에 연결되고 제 2 저항을 통해 접지에 연결된 제 1 저항과 직렬로 연결된 제 1 출력 포트, 제 3 저항(180)을 통해 안테나(150)의 제 1 부분에 결합된 제 2 출력 포트, 안테나(150)의 제 2 부분에 결합되고 제 4 저항(190)을 통해 접지에 연결된 제 2 입력 포트를 포함한다. 프로세서는 교류 검출 모드, 교류 자가 테스트 모드, 및 연속성 테스트 모드의 3개의 동작 모드 중 하나에 프로세서(105)를 두기 위해 적절한 포트를 활성화 및 비활성화하도록 동작 가능하다.

Description

마이크로컨트롤러 유닛과 안테나를 위한 2단계 자가 테스트 회로
본 출원은 마이크로컨트롤러 유닛과 안테나를 위한 2단계 자가 테스트 회로에 관한 것이다.
본 출원은 2017년 8월 11일에 출원된 PCT 국제 특허 출원으로서, 2016년 8월 16일자로 출원된 미국 가출원 제 62/375,563호의 우선권 이익을 주장하고 이는 본원에 참조로서 통합된다.
전기 작업자는 보통 전기선으로 작업해야 하고, 라인(line)이 뜨거워 지지 않도록 해야 한다. 따라서, 작업 시작 전에 라인이 뜨거운지 테스트 하는 것이 현명하고 필요하다. 전기 작업자는 비접촉식 전압(non-contact voltage)(“NCV”) 검출기를 사용하여 라인이 뜨거운지 여부를 테스트 한다. 이러한 비접촉식 전압 검출기는 라인의 전압 상태를 알기 위해 라인을 만지는 과정이 필요하지 않기 때문에 유용하다. 그러나, 비접촉식 전압 검출기는 위험하고 부정적인 결과를 초래할 수 있는 고장을 겪을 수 있다. 예를 들어, 비접촉식 전압 검출기의 배터리가 약하거나 안테나의 배선이 끊어질 수 있다. 종래의 비접촉식 전압 검출기는 이러한 많은 고장 상태를 검출하지 못하여 전기 작업자에게 잠재적으로 안전하지 않은 작업 조건을 초래하는 문제가 있다.
본 개시물에 통합되어 개시물의 일부를 구성하는 첨부 도면은, 본 개시물의 다양한 실시예를 도시한다.
도 1은 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다.
도 2는 교류 검출 모드에서 동작하는 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다.
도 3은 비접촉식 전압 검출기(100) 및 교류 자가 테스트 모드에서 동작하는 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다.
도 4는 연속성 테스트 모드에서 동작하는 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다.
도 5는 감도를 향상시키고, 회로 부하를 감소시키고, 부품 선택을 용이하게 하기 위한 변형을 갖는 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다.
도 6은 비접촉식 전압 검출기 및 자가 테스트 회로의 제 2 실시예이다.
도 7은 비접촉식 전압 검출기 및 자가 테스트 회로의 제 3 실시예이다.
개요
NCV 검출기를 테스트하기 위한 2단계의 자가 테스트 장치 및 방법이 고안되었다. 본 실시예에 대한 논의는 NCV 검출기에 관한 것이지만, 이 시험 장치는 예를 들어, 클램프 미터(clamp meters) 및 멀티미터(multimeters)를 포함하지만 이에 제한되지 않는 다른 테스트 장치에 통합될 수 있다. 이 기술은 광범위한 회로 및 구성 요소에 통합될 수 있으므로 사용자의 안전 마진을 향상시킬 수 있다.
개시된 실시예는 2개의 독립 스테이지에서 교류 신호 경로 테스트 및 안테나 연속성 검증을 수행한다. 이를 통해 각 스테이지를 독립적으로 최적화하여 가장 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있다. 교류 신호 경로 테스트는 인쇄 회로 기판의 자가 테스트 소스 및 감지 회로로부터의 긴 병렬 트레이스 간의 커플링을 고려하지 않고, 보다 중요한 민감도 테스트를 수행할 수 있다. 안테나 연속성 검증은 시뮬레이션 된 교류 테스트 신호를 안테나에 주입할 때 종래 기술 시스템에서 가능한 것보다 더 높은 테스트 전류를 사용할 수 있다. 이 더 높은 시험 전류는 종래 기술 시스템보다 인쇄 회로 기판에 대한 주변 안테나 연결을 검출하는데 더 효과적이다. 본 실시예는 저항 및 안테나와 함께 마이크로컨트롤러 유닛(“MCU”) 또는 프로세서를 사용하여 교류 전압 존재 여부를 테스트할 도체에 용량 결합시킨다. 프로세서는 복수의 포트를 갖는다. 첫번째 포트는 시스템이 교류 감지 모드에 있을 때 안테나에서 교류 전압을 감지하는 입력으로 사용된다. 시스템이 교류 자가 테스트 모드에 있을 때 두번째 포트를 사용하여 저항을 통해 신호를 첫번째 포트에 주입할 수 있다. 연속성 테스트 모드에 있을 때 한 쌍의 레지스터와 함께 제 3 및 제 4 포트가 안테나를 통해 신호를 주입하는데 사용될 수 있다. 따라서 시스템은 두가지 다른 테스트 모드, 즉 교류 자가 테스트 모드 및 연속성 테스트 모드에서 작동할 수 있다. 시스템은 통상의 교류 검출 동작 모드 중에 주기적으로 예를 들어, 2ms 미만의 짧은 시간 동안, 이러한 모드에 들어가거나, 테스트 모드가 최종 사용자에 의해 야기될 수 있다.
시스템은 안테나 및 프로세서를 포함한다. 프로세서는 복수의 포트, 즉 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 1 입력 포트; 상기 안테나의 제 1 부분에 연결되고 제 2 저항을 통해 접지에 연결된 제 1 저항에 직렬로 연결된 제 1 출력 포트; 제 3 저항을 통해 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 2 출력 포트; 및 안테나의 제 2 부분에 결합되고 제 4 저항을 통해 접지에 연결되는 제 2 입력 포트를 포함한다. 프로세서는 적절한 포트를 활성화 및 비활성화하여 교류 감지 모드, 자가 테스트 모드 및 연속성 테스트 모드의 세가지 작동 모드 중 하나에 프로세서를 배치한다.
대안의 시스템은 안테나 및 프로세서를 포함한다. 프로세서는 복수의 포트, 즉 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 1 입력 포트, 직접 또는 제 5 저항을 통해 제 1 저항과 제 2 저항의 접합부가 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 1 저항 및 제 2 저항을 통해 접지에 직렬로 연결된 제 1 출력 포트, 제 3 저항을 통해 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 2 출력 포트, 안테나의 제 2 부분에 연결되고 제 4 저항을 통해 접지에 직접적으로 또는 스위치를 통해 연결된 제 2 입력 포트를 포함한다. 프로세서는 적절한 포트를 활성화 및 비활성화하여 교류 감지 모드, 자가 테스트 모드 및 연속성 테스트 모드의 세 가지 작동 모드 중 하나에 프로세서를 배치한다.
동작 모드를 포함하는 복수의 모드로 동작함으로써 안테나를 테스트하고 사용하는 방법 또한 개시된다. 이 방법은 세 가지 모드 중 하나에서 작동한다. 제 1 모드에서, 제 1 출력 포트로부터의 교류 신호는 안테나의 제 1 레그(leg)에서 회로 내로 주입되고, 교류 신호의 존재는 제 1 입력 포트에서 검출된다. 제 2 모드에서, 제 2 출력 포트로부터의 전압은 안테나를 통해 주입되고, 제 2 입력 포트에서의 전압의 일부분의 존재가 검출된다. 제 3 모드에서, 안테나로부터의 신호는 제 1 입력 포트에서 수신된다.
다른 시스템 또한 개시된다. 이 시스템은 제 1 부분 및 제 2 부분을 갖는 안테나 및 프로세서를 포함한다. 프로세서는, 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 1 입력 포트, 안테나의 제 1 부분에 연결되고 제 2 저항을 통해 접지에 연결된 제 1 저항에 직렬로 연결된 제 1 출력 포트, 및 제 3 저항을 통해 안테나의 제 2 부분에 연결된 제 2 출력 포트를 포함한다.
개시된 추가의 시스템은 제 1 부분 및 제 2 부분을 갖는 안테나, 및 프로세서를 포함한다. 프로세서는, 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 1 입력 포트, 안테나의 상기 제 1 부분에 연결되고 제 2 저항을 통해 접지에 연결된 제 1 저항에 직렬로 연결된 제 1 출력 포트, 제 3 저항을 통해 안테나의 제 2 부분에 연결된 제 2 출력 포트, 및 안테나의 제 1 부분에 연결되고 제 4 저항을 통해 접지에 연결되는 제 2 입력 포트를 포함한다.
전술한 개요 및 하기의 예시적인 실시 예는 모두 예시적이고 설명적인 것이며, 설명되고 청구된 바와 같이 개시의 범위를 제한하는 것으로 간주되어서는 안된다. 또한, 여기에 설명 된 것들 이외에 특징들 및/또는 변형들이 제공 될 수있다. 예를 들어, 본 발명의 실시 예들은 예시적인 실시 예들에서 설명된 다양한 특징 조합들 및 서브 조합들에 관한 것일 수있다.
실시예
다음의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한다. 가능하면, 동일한 참조 번호가 도면 및 이하의 설명에서 동일하거나 유사한 요소를 나타내기 위해 사용된다. 본 개시물의 실시예가 설명될 수 있지만, 이에 대한 수정, 개조 및 다른 구현이 가능하다. 예를 들어, 도면에 예시된 요소에 대한 대체, 추가 또는 수정이 이루어질 수 있고, 본원에 기재된 방법은 개시된 방법을 단계로 대체, 재정렬 또는 추가함으로써 수정될 수 있다. 따라서, 이하의 상세한 설명은 본 발명을 제한하지 않는다. 그대신, 본 발명의 적절한 범위는 첨부된 청구범위에 의해 한정된다.
도 1은 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다. 테스트 하는 시스템(100)은 입력(I1), 출력(O1), 입력(I2) 및 출력(O2)를 갖는 프로세서(105)를 포함한다. 프로세서는 마이크로 프로세서, 마이크로 컨트롤러, 디지털 신호 프로세서일 수 있으며 회로의 원하는 성능에 영향을 주는 동등한 아날로그 및/또는 디지털 회로로 대체될 수 있다. 입력(I1)은 프로세서(105)의 스위치(S1)(110) 및 안테나(150)의 제 1 부분에 연결된다. 출력(O1)은 프로세서(105)의 스위치(S2)(120) 및 저항(R1)(160)을 통해 안테나(150)의 제 1 부분 및 입력(I1)에 연결된다. 저항(R1)(160)은 접지와 저항(R2)(170)을 지나 안테나(150)에 연결되는 것과 동일한 노드에 연결된다. 출력(O2)은 안테나(150)를 통해 저항(R3)(180)과 직렬로 커플링 되어 입력(2)(I2)과 저항(R4)(190)을 통해 접지에 연결된다. 출력(02)은 스위치(S3)(130)에 연결되고, 입력(I2)은 스위치(S4)(140)에 연결된다.
스위치(S1)(110)를 통한 입력 1은 교류 전압을 검출하는 역할을 한다. 스위치(S2)(120)를 통한 출력 1(O1)은 자가 테스트 전압을 출력하는데 사용된다. 출력 2(O2)는 연속 전원 전압을 제공하는데 사용된다. 그리고 입력(I2)은 안테나(150)를 통한 연속성을 검출하는데 사용된다. 이 회로의 사용은 도 2 내지 도 4에서 보다 상세히 설명될 것이다.
도 2는 교류 검출 모드에서 동작하는 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다. 교류 검출 모드에서 동작할 때, 스위치(S2, S3, S4)(120, 130, 140)는 모두 열려있고, 스위치(S1)(110)는 닫혀있다. 교류 검출 모드에서 안테나에 용량성으로 결합된 교류 전압이 있다면 이는 프로세서(105)에 의해 수신되고 교류 전압은 사용자에게 표시될 수 있다. 표시는 조명, 소리 및/또는 감지된 전압의 표시 형태일 수 있다.
도 3은 비접촉식 전압 검출기(100) 및 교류 자가 테스트 모드에서 동작하는 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다. 교류 자가 테스트 모드에서, 스위치(S1)(110) 및 스위치(S2)(120)는 닫혀 있고, 스위치(S3)(130) 및 스위치(S4)(140)는 열려 있다. 이 두번째 포트는 교류 신호 경로를 자가 테스트할 때 디지털 출력 포트로 구성될 수 있다. 포트(S2)(120)는 배터리 전압, 스텝-업(stepped-up) 또는 스텝-다운(stepped down) 배터리 전압과 회로 공통간에 교대로 결합된다. 이는 시뮬레이터된 교류 신호를 생성하며, 이 신호는 저항(R1)(160)을 통해 포트(I1)에 인가된다. 교류 신호는 저항(R2)(170)을 통해 접지로 흐른다. 저항(R1)(160) 및 저항(R2)(170)은 원하는 테스트 진폭을 제공하는 크기이다. 종래 기술의 시스템과 달리, 이 시뮬레이션된 교류 자가 테스트 신호는 안테나를 통해 흐르지 않는다. 프로세서(105)는 스위치(S1)(110)를 통해 수신된 신호를 검사하여 교류 셀프-테스트가 성공했는지 실패했는지를 결정한다. 교류 자체 검사가 실패하면 장치의 사용자에게 표시등, 부저 또는 다른 표시로 알릴 수 있다. 또한 교류 감지 모드에서 장치 작동이 비활성화되어 사용자에게 알릴 수 있다.
도 4는 연속성 테스트 모드에서 동작하는 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다. 연속성 테스트 모드에서 스위치(S1)(110) 및 스위치(S2)(120)는 열려있고, 스위치(S3)(130) 및 스위치(S4)(140)는 닫혀있다. 포트(O2)는 안테나 연속성 테스트 신호의 소스를 제공한다. 이 포트는 배터리 전압 또는 프로세서(105) 내부의 몇 가지 스텝-업 또는 스텝-다운 배터리 전압에 연결된다. 포트(O2)는 저항(R3)(180)을 통해 안테나(150)의 제 1 부분에 연결된다. 출력 포트(02)에서의 전압, 저항(R3)(180) 및 저항(R4)(190)의 상대 크기는 입력(I2) 및 스위치(S4)(140)를 통해 프로세서(105)에 의해 검출된다. 제 1 안테나 부분과 인쇄 회로 기판 사이 또는 제 2 안테나 부분과 인쇄 회로 기판 사이의 접속이 실패하면 입력(I2)에서 측정된 기대치로부터의 편차가 발생하게 된다. 이 연속성 테스트는 정상 주입 신호보다 몇 배 큰 테스트 전류로 수행할 수 있고, 주변 연결을 찾는 데 있어 보다 안정적이고 일관된 결과를 얻을 수 있다. 이는 안테나를 통해 연속성을 점검하지 못하는 종래 기술 시스템에 대한 개선으로서, 안테나 또는 프로브가 종래 시스템에서 파괴되면 종래 기술 시스템은 여전히 자가 테스트를 통과할 수 있다.
도 5는 감도를 향상시키고, 회로 부하를 감소시키고, 부품 선택을 용이하게 하기 위한 변형을 갖는 비접촉식 전압 검출기(100) 및 자가 테스트 회로의 일 실시예를 도시한다. 당업자는 검출 회로의 감도를 감소시키는 것을 피하기 위해 저항(R2)(170) 및 저항(R4)(190)이 매우 높은 값을 갖는다는 것을 인식할 수 있다. 높은 저항 값을 갖는 저항(R5)(200)을 추가하면 교류 자가 테스트 신호의 크기를 설정할 때 저항(R1)(160) 및 저항(R2)(170)에 편리한 값을 선택함으로써 발생할 수 있는 감도 감소가 제거된다. 스위치(S5)(210)의 추가는 연속성 테스트가 수행되는 경우를 제외하고는 저항(R4)(190)을 절연시킨다. 연속성 테스트 모드를 제외한 모든 모드에서 개방된 스위치(S5)(210)는 아날로그 스위치, 전계 효과 트랜지스터 또는 임의의 다른 적절하고 누설이 적은 개별 부품 또는 집적 부품일 수 있다. 그것은 출력(O2) 또는 다른 편리한 수단에 의해 활성화될 수 있다. 당업자는 저항(R5)(200) 및 스위치(S5)(210)의 추가가 도 2 내지 도 4에 개시된 동작의 기본 원리를 변경하지 않는다는 것을 인식할 수 있다.
도 6은 연속성 테스트 모드를 위한 안테나 연결이 역전된 것을 제외하고는, 도 5와 유사한 비접촉식 전압 검출기 및 자가 테스트 회로의 실시예이다. 포트(O2)는 저항(R3)(180)을 통해 안테나(150)의 제 1 부분보다 제 2 부분에 연결된다. 또한 입력(I2)과 함께 스위치(S5)(210)와 직렬로 연결된 저항(R4)(190)으로 구성된 연속성 테스트 모드 컴포넌트는 안테나의 제 2 부분보다 제 1 부분에 연결된다. 5개의 스위치 모두의동작을 포함하여 연속성 테스트 모드의 동작은 전술한 것과 동일하다.
도 7은 입력(I1)이 교류 전압 검출 기능 및 연속성 검출 기능 모두를 수행한다는 것을 제외하고는, 도 6과 유사한 비접촉식 전압 검출기 및 자가 테스트 회로의 실시예이다. 이는 프로세서(105)에 하나의 입력을 덜 요구하는 이점을 갖는다. 이 실시예에서, 입력(I2)은 사용되지 않으며 입력(I1) 상의 스위치(S1)(110)은 모든 동작 모드에서 폐쇄되므로 선택적으로 구비할 수 있다. 스위치(S2)(120) 및 스위치(S3)(130)는 전술한 바와 같이 동작한다. 교류 셀프-테스트 모드에서 동작할 때 스위치(S2)(120)는 닫히고 스위치(S3)(130)는 열린다. 연속성 테스트 모드에서 동작할 때 스위치(S2)(120)는 열리고, 스위치(S3)(130)는 닫힌다.
시스템(100)의 사용자는 기계적 스위치, 버튼 또는 다른 방법의 사용을 통해 조작 모드를 쉽게 전환할 수 있다. 시스템(100)은 제 1 동작 모드로부터 임의의 다른 동작 모드로 전이할 수 있다. 그러나 시스템이 자가 테스트 모드 또는 연속성 테스트 모드를 실패하면, 시스템(100)은 이용불가되고 교류 검출 모드에 진입할 수 없다.
시스템은 사용자가 시스템을 교류 검출 모드에 놓는 동안 매우 짧은 기간 동안 테스트 모드 중 하나 또는 둘 다에 주기적으로 진입할 수 있다. 이러한 방식으로, 시스템은 동작 중에도, 예를 들어, 2초마다 완전성을 주기적으로 점검할 수 있다. 이 기능을 통해 사용자가 시스템을 교류 감지 모드로 전환하면 처음에 교류 자가 테스트 및 연속성 테스트를 수행할 수 있다. 그 뒤 교류 감지 모드로 들어가고 주기적으로, 예를 들어 2초마다, 짧게(밀리초(milliseconds) 단위로) 교류 자가 테스트 모드와 연속성 감지 모드 중 하나 또는 둘 다에 들어간다. 이러한 방식으로 시스템은 주기적으로 완전성을 점검한다.
본 발명의 실시예는 개별 전자 소자, 논리 게이트를 포함하는 패키지 또는 집적 전자 칩, 마이크로 프로세서를 이용하는 회로 또는 전자 소자, 마이크로 프로세서를 포함하는 단일칩을 포함하는 전기 회로에서 실시될 수 있다. 본 발명의 실시예들은 기계적, 광학적 및 양자 기술을 포함하지만 이에 한정되지 않는, 예를 들어, AND, OR, NOT과 같은 논리 연산을 수행할 수 있는 다른 기술을 사용하여 실시될 수 있다. 또한, 본 개시물의 실시예는 범용 컴퓨터, 임의의 다른 회로 또는 시스템에서 실시될 수 있다. 상기 논의를 통해, 스위치에 대한 참조가 이루어졌지만, 본 개시물을 본 후 당업자는 능동 소자(op-amp) 또는 트랜지스터와 같은 소자가 사용될 수 있음을 이해할 것이다.
상세한 설명은 예시를 포함하지만, 개시의 범위는 다음의 청구 범위에 의해 표시된다. 또한, 명세서가 구조적 특징 및/또는 방법론적 행위들의 특정한 언어로 설명되었지만, 청구 범위는 상술한 특징들 또는 행위들로 제한되지 않는다. 오히려 상술한 특징 및 동작은 본 개시의 실시예이다.
전술한 내용은 당업자가 본 개시의 양태를 더 잘 이해할 수 있도록 몇몇 실시예들의 특징을 개략적으로 설명한다. 당업자는 본원에서 소개한 실시예들의 동일한 목적을 수행하거나 동일한 장점을 달성하기 위한 다른 프로세스 및 구조를 설계 또는 변경하기 위한 기초로서 본 개시물을 용이하게 사용할 수 있다. 또한, 당업자는 이러한 동등한 구성이 본 개시물의 사상 범위를 벗어나지 않고, 본 개시물의 사상 범위를 벗어나지 않으면서 본 개시물에서의 다양한 변경, 대체 및 변형을 행할 수 있음을 알아야 한다.

Claims (21)

  1. 제 1 부분 및 제 2 부분을 갖는 안테나; 및
    프로세서를 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 1 입력 포트;
    상기 안테나의 제 1 부분에 연결되고 제 2 저항을 통해 접지에 연결된 제 1 저항과, 직렬로 연결된 제 1 출력 포트;
    제 3 저항을 통해 상기 안테나의 제 1 부분에 연결된 제 2 출력 포트; 및
    상기 안테나의 제 2 부분에 연결되고 제 4 저항을 통해 접지에 연결된 제 2 입력 포트를 포함하고,
    상기 프로세서가 교류 자가 테스트 모드에 있을 때, 상기 제 1 입력 포트 및 상기 제 1 출력 포트는 둘 다 활성이고, 상기 제 2 출력 포트 및 상기 제 2 입력 포트는 둘 다 비활성이고,
    상기 프로세서가 연속성 테스트 모드에 있을 때, 상기 제 1 입력 포트 및 상기 제 1 출력 포트는 둘 다 비활성이고, 상기 제 2 출력 포트 및 상기 제 2 입력 포트는 둘 다 활성인 것을 특징으로 하는 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 프로세서가 교류 검출 모드에 있을 때,
    상기 제 1 입력 포트는 활성이고,
    상기 제 1 출력 포트, 상기 제 2 출력 포트 및 상기 제 2 입력 포트는 비활성인 것을 특징으로 하는 시스템.
  3. 삭제
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 프로세서가 교류 자가 테스트 모드에 있을 때,
    교류 전압은 상기 제 1 출력 포트 상에 인가되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 제 1 입력 포트는 상기 교류 전압의 존재를 검출하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  6. 제 4항에 있어서,
    상기 제 1 입력 포트가 교류 전압의 존재를 검출하지 못한 경우, 자가 테스트가 실패한 것으로 표시되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  7. 삭제
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 프로세서가 연속성 테스트 모드에 있을 때,
    전압은 상기 제 2 출력 포트 상에 인가되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 전압의 일부는 상기 제 2 입력 포트에서 검출되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  10. 제 8항에 있어서,
    상기 전압의 잘못된 부분이 상기 제 2 입력 포트에서 검출될 때, 연속성이 실패한 것으로 표시되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  11. 제 1 모드에서, 프로세서의 제1 출력 포트로부터의 교류 신호를 안테나의 제 1 부분의 회로로 주입하고, 상기 프로세서의 제1 입력 포트에서 상기 교류 신호의 존재를 검출하는 단계 - 상기 제1 입력 포트는 상기 안테나의 제1 부분에 연결되고, 상기 제1 출력 포트는 상기 안테나의 제1 부분과 연결되고 제2 저항을 통해 접지에 연결된 제1 저항과 직렬로 연결됨 -; 및
    제 2 모드에서, 상기 프로세서의 제2 출력 포트로부터의 전압을 안테나의 제 1 부분을 통해 주입하고, 상기 프로세서의 제2 입력 포트에서 안테나의 제2 부분 상의 전압의 존재를 검출하는 단계 - 상기 제2 출력 포트는 제3 저항을 통해 상기 안테나의 제2 부분에 연결되고, 상기 제2 입력 포트는 상기 안테나의 제1 부분에 연결되고, 상기 안테나의 제1 부분은 제4 저항을 통해 접지에 연결됨 -; 를 포함하고,
    상기 프로세서가 교류 자가 테스트 모드에 있을 때, 상기 제1 입력 포트 및 상기 제1 출력 포트는 둘 다 활성이고, 상기 제2 출력 포트 및 상기 제2 입력 포트는 둘 다 비활성이고,
    상기 프로세서가 연속성 테스트 모드에 있을 때, 상기 제1 입력 포트 및 제1 출력 포트는 둘 다 비활성이고, 상기 제2 출력 포트 및 상기 제2 입력 포트는 둘 다 활성인 안테나를 테스트하는 방법.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 제 1 모드에서, 상기 교류 신호가 상기 제1 입력 포트에서 검출되지 않을 때, 교류 자가 테스트가 실패했다는 표시를 제공하는 단계를 더 포함하는 안테나를 테스트하는 방법.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 제 2 모드에서 상기 전압의 일부가 상기 제2 입력 포트에서 예상되는 전압으로 수용되지 않을 때, 연속성 테스트가 실패했다는 표시를 제공하는 단계를 더 포함하는 안테나를 테스트하는 방법.
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 제 11항에 있어서,
    제1 모드에서, 교류 전압은 상기 제1 출력 포트 상에 인가되는 것을 특징으로 하는 안테나를 테스트하는 방법.
  18. 제 17항에 있어서,
    상기 제1 입력 포트는 상기 교류 전압의 존재를 검출하는 것을 특징으로 하는 안테나를 테스트하는 방법.
  19. 제 17항에 있어서,
    상기 제1 입력 포트가 교류 전압의 존재를 검출하지 못한 경우, 자가 테스트가 실패한 것으로 표시되는 것을 특징으로 하는 안테나를 테스트하는 방법.
  20. 삭제
  21. 제1 부분 및 제2 부분을 갖는 안테나; 및
    프로세서를 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 안테나의 제1 부분에 연결된 제1 입력 포트;
    상기 안테나의 제1 부분에 연결되고 제2 저항을 통해 접지에 연결된 제1 저항과, 직렬로 연결된 제1 출력 포트;
    제3 저항을 통해 상기 안테나의 제 2 부분에 연결된 제2 출력 포트; 및
    상기 안테나의 제1 부분에 연결된 제2 입력 포트를 포함하고, 상기 안테나의 제1 부분은 제4 저항을 통해 접지에 연결되고,
    상기 프로세서가 교류 자가 테스트 모드에 있을 때, 상기 제1 입력 포트 및 상기 제1 출력 포트는 둘 다 활성이고, 상기 제2 출력 포트 및 상기 제2 입력 포트는 둘 다 비활성이고,
    상기 프로세서가 연속성 테스트 모드에 있을 때, 상기 제1 입력 포트 및 상기 제1 출력 포트는 둘 다 비활성이고, 상기 제2 출력 포트 및 상기 제2 입력 포트는 둘 다 활성인 것을 특징으로 하는 시스템.
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