CN104535841A - 一种天线检测系统及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明属于天线测试领域，提供了一种天线检测系统及装置。在本发明中，通过将测试模块分别置于预设区域，在进行天线测试时对所述预设区域的驻波比进行测试；并通过检测电路与所述电源以及所述测试模块连接，在进行天线测试或校准所述天线检测系统时控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开，这样就不需要人工在不同区域进行切换，实现自动化驻波比测试，节约人力物力，并提高测试效率。
Description
技术领域
本发明属于天线测试领域，尤其涉及一种天线检测系统及装置。
背景技术
天线的驻波比不利于信号的发射，在无线电通信中，天线与馈线的阻抗不匹配或天线与发射机的阻抗不匹配，高频能量就会产生发射折回，并与前进的部分干扰汇合，发生驻波，之所以驻波的危害大，是因为发射传输给天线，会有一部分电波被反射回来，最终产生热量，使得馈线升温，反射电波在发射台输出口也可以产生相当高的电压，有可能损坏电台。
而目前的天线检测电路复杂，不能在进行驻波比测试时自动进行不同区域的测试，需要人工一个区域一个区域的进行测试，浪费人力物力，效率低下。
发明内容
本发明提供了一种天线检测系统，旨在解决现有进行天线检测测试时需要一个区域一个区域进行手动切换，造成人力物力浪费的问题。
为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：一种天线检测系统，与电源连接，所述天线检测系统包括：
测试模块，分别置于预设区域，用于在进行天线测试时时对所述预设区域的驻波比进行测试；
检测电路，与所述电源以及所述测试模块连接，用于在进行天线测试或校准所述天线检测系统时控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开。
进一步地，所述检测电路包括：第一控制单元、第二控制单元、开关单元以及驱动电路；
所述第一控制单元的输出端与所述驱动电路的输入端连接，用于在进行天线测试时根据预设程序输出控制所述驱动电路工作的第一控制信号；
所述第二控制单元的输入端与所述电源连接，输出端与所述驱动电路的输入端连接，用于在对所述天线检测系统进行校准时控制所述驱动电路工作的第二控制信号；
所述驱动电路的输入端与所述第一控制单元输出端以及所述第二控制单元输出端连接，输出端与所述开关单元的控制端连接，电源端与所述电源连接；
所述开关单元的电源端与所述电源连接，输出端分别与所述测试模块连接，用于根据所述第一控制信号或所述第二控制信号控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开。
进一步地，所述第一控制单元为微处理器MCU，所述第二控制单元为数码开关。
进一步地，所述开关单元为电子开关；
所述电子开关的电源端与所述电源连接，所述电子开关的控制端与所述驱动电路的输出端连接，所述电子开关的输出端与所述测试模块连接。
进一步地，所述驱动电路包括：第一电容、第二电容、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一NPN三极管、第一PMOS管、第一稳压管；
所述第一电阻的第一端为所述驱动电路的输入端，所述第一电阻的第二端与所述第一NPN三极管的基极以及所述第一电容的第一端连接，所述第一电容的第二端接地，所述第一NPN型三极管的集电极与所述第二电阻的第一端以及所述第一PMOS管的栅极连接，所述第二电阻的第二端和所述第一PMOS管的源极与所述电源连接，所述第一PMOS管的漏极与所述第三电阻的第一端以及所述第二电容的第一端连接，所述第三电阻的第二端和所述第二电容的第二端与所述第一稳压管的阴极连接，所述第一稳压管的阳极和所述第一NPN型三极管的发射极共接于地，所述第一稳压管的阴极为所述驱动电路的输出端。
本发明的目的还在于提供一种天线检测装置，所述天线检测装置包括上述所述的天线检测系统。
在本发明中，通过将测试模块分别置于预设区域，在进行天线测试时对所述预设区域的驻波比进行测试；并通过检测电路与所述电源以及所述测试模块连接，在进行天线测试或校准所述天线检测系统时控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开，这样就不需要人工在不同区域进行切换，实现自动化驻波比测试，节约人力物力，并提高测试效率。
附图说明
图1是本发明实施例提供的天线检测系统的电路结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述：
图1示出了本发明实施例提供的天线检测系统的模块结构，为了便于说明，仅列出与本发明实施例相关的部分，详述如下：
本发明实施例提供的天线检测系统，与电源VCC连接，天线检测系统包括：
测试模块100，分别置于预设区域，用于在进行天线测试时时对预设区域的驻波比进行测试；
检测电路200，与电源以及测试模块连接，用于在进行天线测试或校准天线检测系统时控制测试模块与电源进行连接或者断开。
在本实施例中，测试模块100为驻波比可调失配负载。
作为本发明一优选实施例，检测电路200包括：第一控制单元201、第二控制单元202、开关单元203以及驱动电路204；
第一控制单元201的输出端与驱动电路204的输入端连接，用于在进行天线测试时根据预设程序输出控制驱动电路204工作的第一控制信号；
第二控制单元202的输入端与电源VCC连接，输出端与驱动电路204的输入端连接，用于在对天线检测系统进行校准时控制驱动电路204工作的第二控制信号；
驱动电路204的输入端与第一控制单元201输出端以及第二控制单元202输出端连接，输出端与开关单元203的控制端连接，电源端与电源VCC连接；
开关单元203的电源端与电源VCC连接，输出端分别与测试模块100连接，用于根据第一控制信号或第二控制信号控制测试模块100与电源VCC进行连接或者断开。
作为本发明一优选实施例，第一控制单元201为微处理器MCU，第二控制单元202为数码开关。
开关单元203为电子开关；
电子开关的电源端与电源VCC连接，电子开关的控制端与驱动电路204的输出端连接，电子开关的输出端与测试模块100连接。
作为本发明一优选实施例，驱动电路204包括：第一电容C1、第二电容C2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一NPN三极管Q1、第一PMOS管Q2、第一稳压管D1；
第一电阻R1的第一端为驱动电路204的输入端，第一电阻R1的第二端与第一NPN三极管Q1的基极以及第一电容C1的第一端连接，第一电容C1的第二端接地，第一NPN型三极管Q1的集电极与第二电阻R2的第一端以及第一PMOS管Q2的栅极连接，第二电阻R2的第二端和第一PMOS管Q2的源极与电源VCC连接，第一PMOS管Q2的漏极与第三电阻R3的第一端以及第二电容C2的第一端连接，第三电阻R3的第二端和第二电容C2的第二端与第一稳压管D1的阴极连接，第一稳压管D1的阳极和第一NPN型三极管Q1的发射极共接于地，第一稳压管D1的阴极为驱动电路204的输出端。
下面对本发明提供的天线检测系统的电路结构的工作原理进行说明：
在进行天线测试时，微处理器MCU通过驱动电路204驱动电子开关的开关进行切换，以使测试负责100在预设区域中的不同地点进行测试驻波比；
当进行天线检测系统校准时，通过数码开关控制驱动电路204，其工作原理与天线测试时一样，天线测试时是自动控制，通过微处理器MCU输出控制信号，适用于驻波比自动测试，在进行天线检测系统校准时是手动控制，适用于校准。
本发明实施例还提供了一种天线检测装置，该天线检测装置包括上述实施例中的天线检测系统。
在本发明实施例中，通过将测试模块别置于预设区域，在进行天线测试时对所述预设区域的驻波比进行测试；并通过检测电路与所述电源以及所述测试模块连接，在进行天线测试或校准所述天线检测系统时控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开，这样就不需要人工在不同区域进行切换，实现自动化驻波比测试，节约人力物力，并提高测试效率。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种天线检测系统，与电源连接，其特征在于，所述天线检测系统包括：
测试模块，分别置于预设区域，用于在进行天线测试时对所述预设区域的驻波比进行测试；
检测电路，与所述电源以及所述测试模块连接，用于在进行天线测试或校准所述天线检测系统时控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开。
2. 根据权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，所述检测电路包括：第一控制单元、第二控制单元、开关单元以及驱动电路；
所述第一控制单元的输出端与所述驱动电路的输入端连接，用于在进行天线测试时根据预设程序输出控制所述驱动电路工作的第一控制信号；
所述第二控制单元的输入端与所述电源连接，输出端与所述驱动电路的输入端连接，用于在对所述天线检测系统进行校准时控制所述驱动电路工作的第二控制信号；
所述驱动电路的输入端与所述第一控制单元输出端以及所述第二控制单元输出端连接，输出端与所述开关单元的控制端连接，电源端与所述电源连接；
所述开关单元的电源端与所述电源连接，输出端分别与所述测试模块连接，用于根据所述第一控制信号或所述第二控制信号控制所述测试模块与所述电源进行连接或者断开。
3. 根据权利要求2所述的天线检测系统，其特征在于，所述第一控制单元为微处理器MCU，所述第二控制单元为数码开关。
4. 根据权利要求3所述的天线检测系统，其特征在于，所述开关单元为电子开关；
所述电子开关的电源端与所述电源连接，所述电子开关的控制端与所述驱动电路的输出端连接，所述电子开关的输出端与所述测试模块连接。
5. 根据权利要求4所述的天线检测系统，其特征在于，所述驱动电路包括：第一电容、第二电容、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一NPN三极管、第一PMOS管、第一稳压管；
所述第一电阻的第一端为所述驱动电路的输入端，所述第一电阻的第二端与所述第一NPN三极管的基极以及所述第一电容的第一端连接，所述第一电容的第二端接地，所述第一NPN型三极管的集电极与所述第二电阻的第一端以及所述第一PMOS管的栅极连接，所述第二电阻的第二端和所述第一PMOS管的源极与所述电源连接，所述第一PMOS管的漏极与所述第三电阻的第一端以及所述第二电容的第一端连接，所述第三电阻的第二端和所述第二电容的第二端与所述第一稳压管的阴极连接，所述第一稳压管的阳极和所述第一NPN型三极管的发射极共接于地，所述第一稳压管的阴极为所述驱动电路的输出端。
6. 一种天线检测装置，其特征在于，所述天线检测装置包括如权利要求1-5任一项所述的天线检测系统。
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