KR102386210B1

KR102386210B1 - Method for cooling hot plate, Apparatus and Method for treating substrate

Info

Publication number: KR102386210B1
Application number: KR1020180122610A
Authority: KR
Inventors: 정성철; 오두영; 한상복
Original assignee: 세메스 주식회사
Priority date: 2018-10-15
Filing date: 2018-10-15
Publication date: 2022-04-12
Also published as: CN111048444A; KR20200042255A; CN111048444B

Abstract

본 발명의 실시예는 기판을 열 처리하는 장치 및 그 장치의 가열 플레이트를 냉각하는 방법을 제공한다.
챔버의 처리 공간 내에 배치되어 기판을 가열 처리하는 가열 플레이트를 냉각하는 방법으로는, 상기 처리 공간에서 상기 기판을 제거한 후에, 상기 처리 공간을 개방시키고, 상기 처리 공간의 외부에 형성된 기류가 상기 처리 공간 내에 유입되어 상기 가열 플레이트를 냉각한다. 이로 인해 가열 플레이트의 냉각 시간을 단축시킬 수 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An embodiment of the present invention provides an apparatus for heat treating a substrate and a method for cooling a heating plate of the apparatus.
In a method of cooling a heating plate disposed in a processing space of a chamber to heat a substrate, after removing the substrate from the processing space, the processing space is opened, and an airflow formed outside the processing space is applied to the processing space It flows in to cool the heating plate. This can shorten the cooling time of the heating plate.

Description

TECHNICAL FIELD [0001] Method for cooling hot plate, Apparatus and Method for treating substrate

본 발명은 기판을 열 처리하는 장치 및 그 장치의 가열 플레이트를 냉각하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for heat treating a substrate and a method for cooling a heating plate of the apparatus.

반도체 소자를 제조하기 위해서는 세정, 증착, 사진, 식각, 그리고 이온주입 등과 같은 다양한 공정이 수행된다. 이러한 공정들 중 사진 공정은 기판 상에 감광액과 같은 액막을 형성하는 공정을 포함한다. In order to manufacture a semiconductor device, various processes such as cleaning, deposition, photography, etching, and ion implantation are performed. Among these processes, a photographic process includes a process of forming a liquid film such as a photoresist on a substrate.

기판 상에 액막을 형성한 후에는, 기판을 가열하여 액막 상에 유기물을 날려 액막을 안정화시키는 베이크 공정이 진행된다. 베이크 공정은 가열 플레이트에 기판을 올려놓고, 기판을 상온에 비해 매우 높은 온도로 가열하는 공정을 포함한다.After the liquid film is formed on the substrate, a baking process in which the liquid film is stabilized by heating the substrate and blowing organic substances onto the liquid film is performed. The baking process includes a process of placing a substrate on a heating plate and heating the substrate to a very high temperature compared to room temperature.

이러한 가열 공정은 고온으로 인한 열변형 및 손상 등을 주기적으로 확인하고, 유지 보수해야한다. 따라서 일정 매의 기판들에 대한 베이크 공정이 완료되거나 일정 주기에 도달되면, 가열 플레이트를 냉각시키고, 가열 플레이트와 이의 주변 장치에 대한 손상 확인 및 유지 보수를 진행한다.In this heating process, thermal deformation and damage caused by high temperature should be periodically checked and maintained. Accordingly, when the baking process for a predetermined number of substrates is completed or a predetermined period is reached, the heating plate is cooled, and damage to the heating plate and its peripheral devices is checked and maintenance is performed.

그러나 가열 플레이트를 자연 냉각하는 데에는 적어도 수 시간을 필요로 한다. 이로 인해 가열 플레이트의 냉각 시간을 단축하고자, 가열 플레이트에 상온의 기판 또는 지그를 강제 접촉시키는 방안이 제기되었다. 그러나 가열 플레이트는 냉각되는 과정에서 수축과 같은 열변형이 발생되며, 이는 냉매 기능을 수행하는 기판을 손상시킨다.However, at least several hours are required to naturally cool the heating plate. For this reason, in order to shorten the cooling time of the heating plate, a method of forcibly contacting a substrate or a jig at room temperature with the heating plate has been proposed. However, in the process of cooling the heating plate, thermal deformation such as shrinkage occurs, which damages the substrate performing the refrigerant function.

한국 등록 특허 10-1605721Korean registered patent 10-1605721

본 발명은 가열 플레이트의 냉각 시간을 단축시킬 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 일 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide an apparatus and method capable of shortening the cooling time of a heating plate.

또한 본 발명은 별도의 추가되는 장치의 설치없이 가열 플레이트의 냉각 속도를 향상시킬 수있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 일 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide an apparatus and method capable of improving the cooling rate of a heating plate without installing a separate additional device.

본 발명의 실시예는 기판을 열 처리하는 장치 및 그 장치의 가열 플레이트를 냉각하는 방법을 제공한다. SUMMARY OF THE INVENTION An embodiment of the present invention provides an apparatus for heat treating a substrate and a method for cooling a heating plate of the apparatus.

챔버의 처리 공간 내에 배치되어 기판을 가열 처리하는 가열 플레이트를 냉각하는 방법으로는, 상기 처리 공간에서 상기 기판을 제거한 후에, 상기 처리 공간을 개방시키고, 상기 처리 공간의 외부에 형성된 기류가 상기 처리 공간 내에 유입되어 상기 가열 플레이트를 냉각한다. In a method of cooling a heating plate disposed in a processing space of a chamber to heat a substrate, after removing the substrate from the processing space, the processing space is opened, and an airflow formed outside the processing space is applied to the processing space It flows in to cool the heating plate.

상기 가열 플레이트를 냉각할 때와 상기 처리 공간에서 상기 기판을 처리할 때에 상기 기류의 유속은 상이하게 제공될 수 있다. 상기 가열 플레이트를 냉각할 때에 상기 기류의 유속은 상기 처리 공간에서 상기 기판을 처리할 때보다 크게 제공될 수 있다.When cooling the heating plate and when processing the substrate in the processing space, the flow rate of the air stream may be provided differently. When cooling the heating plate, the flow rate of the airflow may be provided to be greater than when processing the substrate in the processing space.

상기 처리 공간은 상부 바디와 하부 바디의 조합에 의해 형성되고, 상기 처리 공간의 개폐는 상기 상부 바디 또는 상기 하부 바디의 승하강에 의해 이루어지며, 상기 가열 플레이트를 냉각할 때의 상기 상부 바디와 상기 하부 바디 간의 이격된 거리는 상기 처리 공간에서 상기 기판을 처리할 때의 상기 이격된 거리보다 더 크게 제공될 수 있다.The processing space is formed by a combination of an upper body and a lower body, and the opening and closing of the processing space is performed by elevating and lowering the upper body or the lower body, and the upper body and the upper body when the heating plate is cooled The spaced distance between the lower bodies may be provided to be greater than the spaced distance when processing the substrate in the processing space.

제1그룹에 속하는 기판들은 상기 가열 플레이트에 의해 제1온도로 가열 처리되고, 상기 가열 플레이트의 냉각은 제1그룹에 속하는 기판들에 대해 가열 처리가 종료된 후에 이루어지며, 상기 제1그룹에 속하는 기판들에 대해 가열 처리가 이루어지는 동안에는 상기 가열 플레이트에 제공된 히터에 연결된 전원이 계속적으로 온(On)되고, 상기 가열 플레이트를 냉각할 때에는 상기 전원을 오프(Off)할 수 있다.Substrates belonging to the first group are heat-treated to a first temperature by the heating plate, and cooling of the heating plate is performed after the heat treatment for the substrates belonging to the first group is finished, and the substrates belonging to the first group are heated. While the substrates are subjected to heat treatment, the power connected to the heater provided to the heating plate is continuously turned on, and when the heating plate is cooled, the power can be turned off.

내부 공간을 가지는 하우징, 상기 내부 공간에 배치되며 기판을 가열 처리하는 처리 공간을 가지는 가열 유닛, 상기 내부 공간에 배치되며 상기 기판을 냉각 처리하는 냉각 유닛, 그리고 상기 내부 공간에 기류를 형성하는 기류 형성 유닛을 포함하는 장치를 이용하여 상기 기판을 처리하는 방법으로는, 상기 기판을 상기 가열 유닛의 가열 플레이트 상에 배치하여 상기 기판을 가열 처리하는 단계와 상기 처리 공간에서 상기 기판을 제거한 후에 상기 가열 플레이트를 냉각하는 단계를 포함하되, 상기 냉각하는 단계는 상기 처리 공간을 개방시키고, 상기 처리 공간의 외부에 형성된 상기 기류가 상기 처리 공간 내에 유입되어 상기 가열 플레이트를 냉각한다. A housing having an internal space, a heating unit disposed in the internal space and having a processing space for heating a substrate, a cooling unit disposed in the internal space for cooling the substrate, and an airflow forming in the internal space A method of processing the substrate using an apparatus including a unit includes the steps of: placing the substrate on a heating plate of the heating unit to heat-treat the substrate; and after removing the substrate from the processing space, the heating plate and cooling, wherein the cooling opens the processing space, and the airflow formed outside the processing space flows into the processing space to cool the heating plate.

상기 냉각하는 단계에는 상기 가열 처리하는 단계보다 상기 기류의 유속이 크게 제공될 수 있다.In the cooling step, the flow rate of the air stream may be greater than that in the heat treatment step.

상기 처리 공간은 상부 바디와 하부 바디의 조합에 의해 형성되고, 상기 처리 공간의 개폐는 상기 상부 바디 또는 상기 하부 바디의 승하강에 의해 이루어지며, 상기 냉각하는 단계에서 상기 상부 바디와 상기 하부 바디 간의 이격된 거리는 상기 가열 처리하는 단계에서 상기 이격된 거리보다 더 크게 제공될 수 있다.The processing space is formed by a combination of an upper body and a lower body, and the opening and closing of the processing space is made by elevating and lowering the upper body or the lower body, and in the cooling step, between the upper body and the lower body The spaced distance may be provided to be greater than the spaced distance in the heat treatment step.

기판을 처리하는 장치는 내부 공간을 가지는 하우징, 상기 내부 공간에 배치되며, 기판을 가열 처리하는 가열 유닛, 상기 내부 공간에 기류를 형성하는 기류 형성 유닛, 그리고 상기 가열 유닛 및 상기 기류 형성 유닛을 제어하는 제어기를 포함하되, 상기 가열 유닛은 내부에 처리 공간을 가지는 챔버 및 상기 처리 공간에서 상기 기판을 가열하는 가열 플레이트를 포함하고, 상기 제어기는 상기 처리 공간에서 기판이 제거된 상태에서 상기 가열 플레이트를 냉각할 때에 상기 내부 공간에 형성된 기류가 상기 처리 공간 내에 유입되도록 상기 처리 공간을 상기 내부 공간에 개방시켜 상기 기류에 의해 상기 가열 플레이트가 냉각되도록 상기 가열 유닛 및 상기 기류 형성 유닛을 제어한다. An apparatus for processing a substrate includes a housing having an inner space, a heating unit disposed in the inner space and heat-processing a substrate, an airflow forming unit forming an airflow in the inner space, and controlling the heating unit and the airflow forming unit wherein the heating unit includes a chamber having a processing space therein and a heating plate heating the substrate in the processing space, wherein the controller operates the heating plate in a state in which the substrate is removed from the processing space. When cooling, the heating unit and the airflow forming unit are controlled so that the processing space is opened to the interior space so that the airflow formed in the interior space flows into the processing space to cool the heating plate by the airflow.

상기 제어기는 상기 가열 플레이트를 냉각할 때에 상기 기류의 유속이 상기 처리 공간에서 상기 기판을 가열 처리할 때보다 크도록 상기 기류 형성 유닛을 제어할 수 있다.The controller may control the airflow forming unit so that when cooling the heating plate, a flow rate of the airflow is greater than when heating the substrate in the processing space.

상기 가열 챔버는, 서로 조합되어 내부에 상기 처리 공간을 형성하는 상부 바디와 하부 바디를 포함하고, 상기 가열 유닛은 상기 하부 바디와 상기 상부 바디 중 하나를 승하강시켜 상기 상부 바디와 상기 하부 바디 간의 상대 높이를 조절하는 승강 유닛을 더 포함하되, 상기 제어기는 상기 가열 플레이트를 냉각할 때에 상기 하부 바디와 상기 상부 바디 간의 이격 거리가 상기 처리 공간에서 상기 기판을 처리할 때의 상기 이격 거리보다 크도록 상기 승강 유닛을 제어할 수 있다.The heating chamber includes an upper body and a lower body that are combined with each other to form the processing space therein, and the heating unit raises and lowers one of the lower body and the upper body between the upper body and the lower body. Further comprising a lifting unit for adjusting the relative height, wherein the controller is configured to cool the heating plate so that the separation distance between the lower body and the upper body is greater than the separation distance when processing the substrate in the processing space. It is possible to control the lifting unit.

상기 가열 플레이트는, 기판이 놓여지는 지지 플레이트, 상기 지지 플레이트에 놓여진 기판을 가열하는 히터, 그리고 상기 히터를 온(On) 또는 오프(Off)하는 전원을 포함하되, 상기 제어기는 상기 가열 플레이트를 냉각할 때에 상기 히터를 오프(Off)하고, 상기 처리 공간에서 상기 제1그룹에 속하는 기판들에 대한 가열 처리가 연속적으로 이루어지는 동안에는 상기 히터를 온(On)할 수 있다.The heating plate includes a support plate on which a substrate is placed, a heater for heating the substrate placed on the support plate, and a power source for turning on or off the heater, wherein the controller cools the heating plate In this case, the heater may be turned off, and the heater may be turned on while the heat treatment of the substrates belonging to the first group is continuously performed in the processing space.

상기 기류 형성 유닛은 상기 내부 공간에 에어를 공급하는 팬 유닛 및 상기 내부 공간을 배기하는 배기 유닛을 포함하고, 상부에서 바라볼 때 상기 팬 유닛과 상기 배기 유닛의 사이에는 상기 가열 유닛 및 상기 냉각 유닛이 위치될 수 있다.The airflow forming unit includes a fan unit for supplying air to the inner space and an exhaust unit for exhausting the inner space, and when viewed from above, the heating unit and the cooling unit are disposed between the fan unit and the exhaust unit when viewed from above. This can be located.

상기 하우징의 일측벽에는 상기 기판이 반출입되는 반출입구가 형성되고, 상기 팬 유닛은 상기 배기 유닛보다 상기 반출입구에 더 가깝게 위치되며, 상기 냉각 유닛은 상기 가열 유닛보다 상기 팬 유닛에 더 가깝게 위치되고, 상기 가열 유닛은 상기 냉각 유닛보다 상기 배기 유닛에 더가깝게 위치될 수 있다.A port inlet through which the substrate is carried in and out is formed in one wall of the housing, the fan unit is located closer to the inlet than the exhaust unit, and the cooling unit is located closer to the fan unit than the heating unit, , the heating unit may be located closer to the exhaust unit than the cooling unit.

상부에서 바라볼 때 상기 팬 유닛, 상기 냉각 유닛, 상기 가열 유닛, 그리고 상기 배기 유닛은 일 방향을 따라 순차적으로 배열될 수 있다.When viewed from above, the fan unit, the cooling unit, the heating unit, and the exhaust unit may be sequentially arranged in one direction.

본 발명의 실시예에 의하면, 냉각 단계에는 가열 처리 단계보다 큰 유속의 기류를 형성한다. 이로 인해 가열 플레이트의 냉각 시간을 단축시킬 수 있다.According to an embodiment of the present invention, in the cooling step, an air stream having a higher flow rate than in the heat treatment step is formed. This can shorten the cooling time of the heating plate.

또한 본 발명의 실시예에 의하면, 가열 플레이트를 냉각할 때의 상부 바디와 하부 바디 간의 이격된 거리는 상기 기판을 가열 처리할 때보다 더 크게 제공된다. 이로 인해 가열 플레이트를 냉각할 때는 기판을 가열 처리할 때보다 처리 공간에 더 다량의 기류가 유입되어 가열 플레이트의 냉각 시간을 단축시킬 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, the spaced distance between the upper body and the lower body when cooling the heating plate is greater than when the substrate is heat-treated. For this reason, when the heating plate is cooled, a larger amount of airflow flows into the processing space than when the substrate is heat-treated, so that the cooling time of the heating plate can be shortened.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 개략적으로 보여주는 사시도이다.
도 2는 도 1의 도포 블럭 또는 현상 블럭을 보여주는 기판 처리 장치의 단면도이다.
도 3은 도 1의 기판 처리 장치의 평면도이다.
도 4는 도 3의 반송 로봇의 핸드의 일 예를 보여주는 도면이다.
도 5는 도 3의 열처리 챔버의 일 예를 개략적으로 보여주는 평면도이다.
도 6은 도 5의 열처리 챔버의 정면도이다.
도 7은 도 6의 가열 유닛을 보여주는 단면도이다.
도 8은 도 7의 기판 지지 유닛을 보여주는 평면도이다.
도 9는 가열 플레이트를 냉각하는 과정을 보여주는 플로우 차트이다.
도 10 내지 도 12는 도 9의 가열 처리 단계를 보여주는 도면이다.
도 13은 도 9의 냉각하는 단계를 보여주는 도면이다.
도 14는 가열 처리 공정과 냉각 처리 공정 간의 히터 상태를 보여주는 그래프이다.
도 15는 제1그룹의 가열 처리 공정, 제2그룹의 가열 처리 공정, 그리고 냉각 처리 공정 간의 히터 상태를 보여주는 그래프이다.
도 16은 도 3의 액 처리 챔버의 일 예를 개략적으로 보여주는 도면이다.1 is a perspective view schematically illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the substrate processing apparatus showing the application block or the developing block of FIG. 1 .
3 is a plan view of the substrate processing apparatus of FIG. 1 .
FIG. 4 is a view showing an example of a hand of the transport robot of FIG. 3 .
5 is a plan view schematically illustrating an example of the heat treatment chamber of FIG. 3 .
6 is a front view of the heat treatment chamber of FIG. 5 .
FIG. 7 is a cross-sectional view showing the heating unit of FIG. 6 .
8 is a plan view illustrating the substrate support unit of FIG. 7 .
9 is a flowchart showing a process of cooling the heating plate.
10 to 12 are views showing the heat treatment step of FIG. 9 .
FIG. 13 is a view showing the cooling step of FIG. 9 .
14 is a graph illustrating a state of a heater between a heat treatment process and a cooling treatment process.
15 is a graph showing a heater state between a first group heat treatment process, a second group heat treatment process, and a cooling treatment process.
16 is a diagram schematically illustrating an example of the liquid processing chamber of FIG. 3 .

이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면들을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 본 발명의 실시 예는 여러 가지 형태로 변형할 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래의 실시 예들로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시 예는 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해 과장된 것이다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. Embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited to the following embodiments. This embodiment is provided to more completely explain the present invention to those of ordinary skill in the art. Therefore, the shape of the element in the drawings is exaggerated to emphasize a clearer description.

본 실시예의 설비는 반도체 웨이퍼 또는 평판 표시 패널과 같은 기판에 대해 포토리소그래피 공정을 수행하는 데 사용될 수 있다. 아래에서는 기판으로 웨이퍼가 사용된 경우를 예로 들어 설명한다.The equipment of this embodiment may be used to perform a photolithography process on a substrate such as a semiconductor wafer or a flat panel display panel. Hereinafter, a case in which a wafer is used as a substrate will be described as an example.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 개략적으로 보여주는 사시도이고, 도 2는 도 1의 도포 블럭 또는 현상 블럭을 보여주는 기판 처리 장치의 단면도이며, 도 3은 도 1의 기판 처리 장치의 평면도이다.1 is a perspective view schematically showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the substrate processing apparatus showing the application block or the developing block of FIG. 1 , and FIG. 3 is the substrate processing apparatus of FIG. 1 is a plan view of

도 1 내지 도 3을 참조하면, 기판 처리 장치(1)는 인덱스 모듈(20,index module), 처리 모듈(30, treating module), 그리고 인터페이스 모듈(40, interface module)을 포함한다. 일 실시예에 의하며, 인덱스 모듈(20), 처리 모듈(30), 그리고 인터페이스 모듈(40)은 순차적으로 일렬로 배치된다. 이하, 인덱스 모듈(20), 처리 모듈(30), 그리고 인터페이스 모듈(40)이 배열된 방향을 제1 방향(12)이라 하고, 상부에서 바라볼 때 제1 방향(12)과 수직한 방향을 제2 방향(14)이라 하고, 제1 방향(12) 및 제2 방향(14)에 모두 수직한 방향을 제3 방향(16)이라 한다.1 to 3 , the substrate processing apparatus 1 includes an index module 20 , a processing module 30 , and an interface module 40 . According to an embodiment, the index module 20 , the processing module 30 , and the interface module 40 are sequentially arranged in a line. Hereinafter, a direction in which the index module 20 , the processing module 30 , and the interface module 40 are arranged is referred to as a first direction 12 , and a direction perpendicular to the first direction 12 when viewed from the top is referred to as a first direction 12 . A second direction 14 is referred to, and a direction perpendicular to both the first direction 12 and the second direction 14 is referred to as a third direction 16 .

인덱스 모듈(20)은 기판(W)이 수납된 용기(10)로부터 기판(W)을 처리 모듈(30)로 반송하고, 처리가 완료된 기판(W)을 용기(10)로 수납한다. 인덱스 모듈(20)의 길이 방향은 제2 방향(14)으로 제공된다. 인덱스 모듈(20)은 로드 포트(22)와 인덱스 프레임(24)을 가진다. 인덱스 프레임(24)을 기준으로 로드 포트(22)는 처리 모듈(30)의 반대 측에 위치된다. 기판들(W)이 수납된 용기(10)는 로드 포트(22)에 놓인다. 로드 포트(22)는 복수 개가 제공될 수 있으며, 복수의 로드 포트(22)는 제2 방향(14)을 따라 배치될 수 있다. The index module 20 transfers the substrate W from the container 10 in which the substrate W is accommodated to the processing module 30 , and accommodates the processed substrate W in the container 10 . The longitudinal direction of the index module 20 is provided in the second direction 14 . The index module 20 has a load port 22 and an index frame 24 . With reference to the index frame 24 , the load port 22 is located on the opposite side of the processing module 30 . The container 10 in which the substrates W are accommodated is placed on the load port 22 . A plurality of load ports 22 may be provided, and the plurality of load ports 22 may be disposed along the second direction 14 .

용기(10)로는 전면 개방 일체 식 포드(Front Open Unified Pod:FOUP)와 같은 밀폐용 용기(10)가 사용될 수 있다. 용기(10)는 오버헤드 트랜스퍼(Overhead Transfer), 오버헤드 컨베이어(Overhead Conveyor), 또는 자동 안내 차량(Automatic Guided Vehicle)과 같은 이송 수단(도시되지 않음)이나 작업자에 의해 로드 포트(22)에 놓일 수 있다. As the container 10, a closed container 10 such as a Front Open Unified Pod (FOUP) may be used. The vessel 10 may be placed at the load port 22 by an operator or a transfer means (not shown) such as an Overhead Transfer, Overhead Conveyor, or Automatic Guided Vehicle. can

인덱스 프레임(24)의 내부에는 인덱스 로봇(2200)이 제공된다. 인덱스 프레임(24) 내에는 길이 방향이 제2 방향(14)으로 제공된 가이드 레일(2300)이 제공되고, 인덱스 로봇(2200)은 가이드 레일(2300) 상에서 이동 가능하게 제공될 수 있다. 인덱스 로봇(2200)은 기판(W)이 놓이는 핸드(2220)를 포함하며, 핸드(2220)는 전진 및 후진 이동, 제3 방향(16)을 축으로 한 회전, 그리고 제3 방향(16)을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다. An index robot 2200 is provided inside the index frame 24 . A guide rail 2300 having a longitudinal direction in the second direction 14 is provided in the index frame 24 , and the index robot 2200 may be provided to be movable on the guide rail 2300 . The index robot 2200 includes a hand 2220 on which the substrate W is placed, and the hand 2220 moves forward and backward, rotates about the third direction 16 , and moves in the third direction 16 . It may be provided to be movable along with it.

처리 모듈(30)은 기판(W)에 대해 도포 공정 및 현상 공정을 수행한다. 처리 모듈(30)은 도포 블럭(30a) 및 현상 블럭(30b)을 가진다. 도포 블럭(30a)은 기판(W)에 대해 도포 공정을 수행하고, 현상 블럭(30b)은 기판(W)에 대해 현상 공정을 수행한다. 도포 블럭(30a)은 복수 개가 제공되며, 이들은 서로 적층되게 제공된다. 현상 블럭(30b)은 복수 개가 제공되며, 현상 블럭들(30b)은 서로 적층되게 제공된다. 도 2의 실시예에 의하면, 도포 블럭(30a)은 2개가 제공되고, 현상 블럭(30b)은 2개가 제공된다. 도포 블럭들(30a)은 현상 블럭들(30b)의 아래에 배치될 수 있다. 일 예에 의하면, 2개의 도포 블럭들(30a)은 서로 동일한 공정을 수행하며, 서로 동일한 구조로 제공될 수 있다. 또한, 2개의 현상 블럭들(30b)은 서로 동일한 공정을 수행하며, 서로 동일한 구조로 제공될 수 있다.The processing module 30 performs a coating process and a developing process on the substrate W. The processing module 30 has an application block 30a and a developing block 30b. The coating block 30a performs a coating process on the substrate W, and the developing block 30b performs a development process on the substrate W. A plurality of application blocks 30a are provided, and they are provided to be stacked on each other. A plurality of developing blocks 30b are provided, and the developing blocks 30b are provided to be stacked on each other. According to the embodiment of Fig. 2, two application blocks 30a are provided, and two developing blocks 30b are provided. The application blocks 30a may be disposed below the developing blocks 30b. According to an example, the two application blocks 30a may perform the same process as each other, and may be provided in the same structure. In addition, the two developing blocks 30b may perform the same process as each other, and may be provided in the same structure.

도 4를 참조하면, 도포 블럭(30a)은 열처리 챔버(3200), 반송 챔버(3400), 액 처리 챔버(3600), 그리고 버퍼 챔버(3800)를 가진다. 열처리 챔버(3200)는 기판(W)에 대해 열처리 공정을 수행한다. 열처리 공정은 냉각 공정 및 가열 공정을 포함할 수 있다. 액처리 챔버(3600)는 기판(W) 상에 액을 공급하여 액막을 형성한다. 액막은 포토레지스트막 또는 반사방지막일 수 있다. 반송 챔버(3400)는 도포 블럭(30a) 내에서 열처리 챔버(3200)와 액처리 챔버(3600) 간에 기판(W)을 반송한다. Referring to FIG. 4 , the application block 30a includes a heat treatment chamber 3200 , a transfer chamber 3400 , a liquid processing chamber 3600 , and a buffer chamber 3800 . The heat treatment chamber 3200 performs a heat treatment process on the substrate W. The heat treatment process may include a cooling process and a heating process. The liquid processing chamber 3600 supplies a liquid on the substrate W to form a liquid film. The liquid film may be a photoresist film or an antireflection film. The transfer chamber 3400 transfers the substrate W between the heat treatment chamber 3200 and the liquid treatment chamber 3600 in the application block 30a.

반송 챔버(3400)는 그 길이 방향이 제1 방향(12)과 평행하게 제공된다. 반송 챔버(3400)에는 반송 로봇(3422)이 제공된다. 반송 로봇(3422)은 열처리 챔버(3200), 액처리 챔버(3600), 그리고 버퍼 챔버(3800) 간에 기판을 반송한다. 일 예에 의하면, 반송 로봇(3422)은 기판(W)이 놓이는 핸드(3420)를 가지며, 핸드(3420)는 전진 및 후진 이동, 제3 방향(16)을 축으로 한 회전, 그리고 제3 방향(16)을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다. 반송 챔버(3400) 내에는 그 길이 방향이 제1 방향(12)과 평행하게 제공되는 가이드 레일(3300)이 제공되고, 반송 로봇(3422)은 가이드 레일(3300) 상에서 이동 가능하게 제공될 수 있다. The transfer chamber 3400 is provided so that its longitudinal direction is parallel to the first direction 12 . The transfer chamber 3400 is provided with a transfer robot 3422 . The transfer robot 3422 transfers a substrate between the heat treatment chamber 3200 , the liquid processing chamber 3600 , and the buffer chamber 3800 . According to an example, the transfer robot 3422 has a hand 3420 on which the substrate W is placed, and the hand 3420 moves forward and backward, rotates about the third direction 16 , and the third direction. It may be provided movably along (16). A guide rail 3300 having a longitudinal direction parallel to the first direction 12 is provided in the transfer chamber 3400 , and the transfer robot 3422 may be provided movably on the guide rail 3300 . .

도 4는 도 3의 반송 로봇의 핸드의 일 예를 보여주는 도면이다. 도 4를 참조하면, 핸드(3420)는 베이스(3428) 및 지지 돌기(3429)를 가진다. 베이스(3428)는 원주의 일부가 절곡된 환형의 링 형상을 가질 수 있다. 베이스(3428)는 기판(W)의 직경보다 큰 내경을 가진다. 지지 돌기(3429)는 베이스(3428)로부터 그 내측으로 연장된다. 지지 돌기(3429)는 복수 개가 제공되며, 기판(W)의 가장자리 영역을 지지한다. 일 예에 의하며, 지지 돌기(3429)는 등 간격으로 4개가 제공될 수 있다. FIG. 4 is a view showing an example of a hand of the transport robot of FIG. 3 . Referring to FIG. 4 , the hand 3420 has a base 3428 and a support protrusion 3429 . The base 3428 may have an annular ring shape in which a portion of the circumference is bent. The base 3428 has an inner diameter greater than the diameter of the substrate W. As shown in FIG. A support protrusion 3429 extends inwardly from the base 3428 . A plurality of support protrusions 3429 are provided, and support an edge region of the substrate W. As shown in FIG. According to an example, four support protrusions 3429 may be provided at equal intervals.

열처리 챔버(3200)는 복수 개로 제공된다. 열처리 챔버들(3200)은 제1방향(12)을 따라 나열되게 배치된다. 열처리 챔버들(3200)은 반송 챔버(3400)의 일측에 위치된다.A plurality of heat treatment chambers 3200 are provided. The heat treatment chambers 3200 are arranged in a row along the first direction 12 . The heat treatment chambers 3200 are located at one side of the transfer chamber 3400 .

도 5는 도 3의 열처리 챔버의 일 예를 개략적으로 보여주는 평면도이고, 도 6은 도 5의 열처리 챔버의 정면도이다. 도 5 및 도 6을 참조하면, 열처리 챔버(3200)는 하우징(3210), 냉각 유닛(3220), 가열 유닛(3230), 반송 플레이트(3240), 기류 형성 유닛(3250), 그리고 제어기(1900)를 포함한다. 5 is a plan view schematically illustrating an example of the heat treatment chamber of FIG. 3 , and FIG. 6 is a front view of the heat treatment chamber of FIG. 5 . 5 and 6 , the heat treatment chamber 3200 includes a housing 3210 , a cooling unit 3220 , a heating unit 3230 , a conveying plate 3240 , an airflow forming unit 3250 , and a controller 1900 . includes

하우징(3210)은 내부 공간을 가지는 직육면체의 형상으로 제공된다. 하우징(3210)의 일측벽에는 기판(W)이 출입되는 반입구(도시되지 않음)가 형성된다. 예컨대, 하우징(3210)의 일측벽은 반송 챔버(3400)와 마주하는 면일 수 있다. 반출입구(3214)는 개방된 상태로 유지될 수 있다. 선택적으로 반출입구(3214)를 개폐하도록 도어(도시되지 않음)가 제공될 수 있다. 하우징(3210)의 내부 공간에는 냉각 유닛(3220), 가열 유닛(3230), 그리고 반송 플레이트(3240)가 위치된다. 냉각 유닛(3220) 및 가열 유닛(3230)은 제2 방향(14)을 따라 나란히 제공된다. 일 예에 의하면, 냉각 유닛(3220)은 가열 유닛(3230)에 비해 반송 챔버(3400)에 더 가깝게 위치될 수 있다.The housing 3210 is provided in the shape of a rectangular parallelepiped having an inner space. An inlet (not shown) through which the substrate W enters and exits is formed in one wall of the housing 3210 . For example, one side wall of the housing 3210 may be a surface facing the transfer chamber 3400 . The carrying inlet 3214 may be maintained in an open state. Optionally, a door (not shown) may be provided to open and close the loading/unloading port 3214 . A cooling unit 3220 , a heating unit 3230 , and a conveying plate 3240 are positioned in the inner space of the housing 3210 . The cooling unit 3220 and the heating unit 3230 are provided side by side along the second direction 14 . According to an example, the cooling unit 3220 may be located closer to the transfer chamber 3400 than the heating unit 3230 .

냉각 유닛(3220)은 냉각판(3222)을 가진다. 냉각판(3222)은 상부에서 바라볼 때 대체로 원형의 형상을 가질 수 있다. 냉각판(3222)에는 냉각부재(3224)가 제공된다. 일 예에 의하면, 냉각부재(3224)는 냉각판(3222)의 내부에 형성되며, 냉각 유체가 흐르는 유로로 제공될 수 있다. The cooling unit 3220 has a cooling plate 3222 . The cooling plate 3222 may have a generally circular shape when viewed from the top. A cooling member 3224 is provided on the cooling plate 3222 . According to an example, the cooling member 3224 is formed inside the cooling plate 3222 and may be provided as a flow path through which the cooling fluid flows.

가열 유닛(3230)은 기판(W)을 상온보다 높은 온도로 가열하는 장치(1000)로 제공된다. 가열 유닛(3230)은 상압 또는 이보다 낮은 감압 분위기에서 기판(W)을 가열하여 베이크 처리한다. 도 7은 도 6의 가열 유닛을 보여주는 단면도이다. 도 7을 참조하면, 가열 유닛(1000)은 챔버(1100), 기판 지지 유닛(1300), 그리고 배기 부재(1500)를 포함한다. The heating unit 3230 is provided as the apparatus 1000 for heating the substrate W to a temperature higher than room temperature. The heating unit 3230 heats the substrate W in an atmospheric pressure or a reduced pressure atmosphere lower than this to bake. FIG. 7 is a cross-sectional view showing the heating unit of FIG. 6 . Referring to FIG. 7 , the heating unit 1000 includes a chamber 1100 , a substrate support unit 1300 , and an exhaust member 1500 .

챔버(1100)는 내부에 기판(W)을 가열 처리하는 처리 공간(1110)을 제공한다. 처리 공간(1110)은 외부와 차단된 공간으로 제공된다. 챔버(1100)은 상부 바디(1120), 하부 바디(1140), 그리고 실링 부재(1160)를 포함한다. The chamber 1100 provides a processing space 1110 for heat-processing the substrate W therein. The processing space 1110 is provided as a space blocked from the outside. The chamber 1100 includes an upper body 1120 , a lower body 1140 , and a sealing member 1160 .

상부 바디(1120)는 하부가 개방된 통 형상으로 제공된다. 상부 바디(1120)의 상면에는 배기홀(1124) 및 유입홀(1122)이 형성된다. 배기홀(1124)은 상부 바디(1120)의 중심에 형성된다. 배기홀(1124)은 처리 공간(1110)의 분위기를 배기한다. 유입홀(1122)은 복수 개가 이격되도록 제공되며, 배기홀(1124)을 감싸도록 배열된다. 유입홀들(1124)은 처리 공간(1110)에 외부의 기류를 유입한다. 일 예에 의하면, 유입홀(1122)은 4 개이고, 외부의 기류는 에어일 수 있다.The upper body 1120 is provided in a cylindrical shape with an open lower portion. An exhaust hole 1124 and an inlet hole 1122 are formed on the upper surface of the upper body 1120 . The exhaust hole 1124 is formed in the center of the upper body 1120 . The exhaust hole 1124 exhausts the atmosphere of the processing space 1110 . A plurality of inlet holes 1122 are provided to be spaced apart, and are arranged to surround the exhaust holes 1124 . The inlet holes 1124 introduce an external airflow into the processing space 1110 . According to an example, the number of inlet holes 1122 may be four, and the external airflow may be air.

하부 바디(1140)는 상부가 개방된 통 형상으로 제공된다. 하부 바디(1140)의 측벽의 일부는 처리 공간에 외부의 기체가 도입되는 가스 도입부(1600)로 제공된다. 하부 바디(1140)는 상부 바디(1120)의 아래에 위치된다. 상부 바디(1120) 및 하부 바디(1140)는 상하 방향으로 서로 마주보도록 위치된다. 상부 바디(1120) 및 하부 바디(1140)는 서로 조합되어 내부에 처리 공간(1110)을 형성한다. 상부 바디(1120) 및 하부 바디(1140)는 상하 방향에 대해 서로의 중심축이 일치되게 위치된다. 하부 바디(1140)는 상부 바디(1120)와 동일한 직경을 가질 수 있다. 즉, 하부 바디(1140)의 상단은 상부 바디(1120)의 하단과 대향되게 위치될 수 있다.The lower body 1140 is provided in a cylindrical shape with an open top. A portion of the sidewall of the lower body 1140 is provided as a gas introduction unit 1600 through which external gas is introduced into the processing space. The lower body 1140 is located below the upper body 1120 . The upper body 1120 and the lower body 1140 are positioned to face each other in the vertical direction. The upper body 1120 and the lower body 1140 are combined with each other to form a processing space 1110 therein. The upper body 1120 and the lower body 1140 are positioned so that their central axes coincide with each other in the vertical direction. The lower body 1140 may have the same diameter as the upper body 1120 . That is, the upper end of the lower body 1140 may be positioned to face the lower end of the upper body 1120 .

상부 바디(1120) 및 하부 바디(1140) 중 하나는 승강 부재(1130)에 의해 개방 위치와 차단 위치로 이동되고, 다른 하나는 그 위치가 고정된다. 본 실시예에는 하부 바디(1140)의 위치가 고정되고, 상부 바디(1120)가 이동되는 것으로 설명한다. 개방 위치는 상부 바디(1120)와 하부 바디(1140)가 서로 이격되어 처리 공간(1110)이 개방되는 위치이다. 차단 위치는 하부 바디(1140) 및 상부 바디(1120)에 의해 처리 공간(1110)이 외부로부터 밀폐되는 위치이다. One of the upper body 1120 and the lower body 1140 is moved to the open position and the closed position by the lifting member 1130 , and the other one is fixed. In this embodiment, it will be described that the position of the lower body 1140 is fixed and the upper body 1120 is moved. The open position is a position where the upper body 1120 and the lower body 1140 are spaced apart from each other and the processing space 1110 is opened. The blocking position is a position where the processing space 1110 is sealed from the outside by the lower body 1140 and the upper body 1120 .

일 예에 의하면, 개방 위치에서 상부 바디(1120)와 하부 바디(1140)의 이격 거리는 공정에 따라 달리 제공될 수 있다. 기판의 가열 처리 공정이 진행될 때에는 이격 거리가 제1거리(D₁)를 가지도록 상부 바디(1120)가 승하강되고, 가열 플레이트의 냉각 공정이 진행될 때에는 이격 거리가 제2거리(D₂)를 가지도록 상부 바디(1120)가 승하강될 수 있다. 제1거리(D₁)는 제2거리(D₂)보다 작은 거리로 제공될 수 있다.According to an example, the separation distance between the upper body 1120 and the lower body 1140 in the open position may be provided differently depending on the process. When the heat treatment process of the substrate is in progress, the upper body 1120 is raised and lowered so that the separation distance has a first distance (D ₁ ), and when the cooling process of the heating plate is performed, the separation distance is the second distance (D ₂ ) The upper body 1120 may be raised and lowered to have it. The first distance D ₁ may be provided as a distance smaller than the second distance D ₂ .

실링 부재(1160)는 상부 바디(1120)와 하부 바디(1140) 사이에 위치된다. 실링 부재(1160)는 상부 바디(1120)와 하부 바디(1140)가 접촉될 때 처리 공간이 외부로부터 밀폐되도록 한다. 실링 부재(1160)는 환형의 링 형상으로 제공될 수 있다. 실링 부재(1160)는 하부 바디(1140)의 상단에 고정 결합될 수 있다. The sealing member 1160 is positioned between the upper body 1120 and the lower body 1140 . The sealing member 1160 seals the processing space from the outside when the upper body 1120 and the lower body 1140 come into contact with each other. The sealing member 1160 may be provided in an annular ring shape. The sealing member 1160 may be fixedly coupled to the upper end of the lower body 1140 .

기판 지지 유닛(1300)은 처리 공간(1110)에서 기판(W)을 지지한다. 기판 지지 유닛(1300)은 하부 바디(1140)에 고정 결합된다. 기판 지지 유닛(1300)은 가열 플레이트(1310), 리프트 핀(1340), 그리고 지지핀(1360)을 포함한다. 도 8는 도 7의 기판 지지 유닛을 보여주는 평면도이다. 도 7 및 도 8을 참조하면, 가열 플레이트(1310)는 지지 플레이트(1320) 및 히터(1420)를 포함한다. 지지 플레이트(1320)는 히터(1400)로부터 발생된 열을 기판(W)으로 전달한다. 지지 플레이트(1320)는 원형의 판 형상으로 제공된다. 지지 플레이트(1320)의 상면은 기판(W)보다 큰 직경을 가진다. 지지 플레이트(1320)의 상면은 기판(W)이 놓이는 안착면(1320a)으로 기능한다. 안착면(1320a)에는 복수의 리프트 홀들(1322)이 형성된다. 리프트 홀들은 서로 상이한 영역에 위치된다. 상부에서 바라볼 때 리프트 홀들(1322)은 각각 지지 플레이트(1320)의 상면의 중심을 감싸도록 배열된다. 각각의 리프트 홀들(1322)은 원주 방향을 따라 서로 이격되게 배열된다. 리프트 홀들(1322)은 서로 간에 동일 간격으로 이격되게 위치될 수 있다. 예컨대, 리프트 홀들(1322)은 3 개로 제공될 수 있다. 지지 플레이트(1320)는 질화 알루미늄(AlN)을 포함하는 재질로 제공될 수 있다.The substrate support unit 1300 supports the substrate W in the processing space 1110 . The substrate support unit 1300 is fixedly coupled to the lower body 1140 . The substrate support unit 1300 includes a heating plate 1310 , a lift pin 1340 , and a support pin 1360 . FIG. 8 is a plan view illustrating the substrate support unit of FIG. 7 . 7 and 8 , the heating plate 1310 includes a support plate 1320 and a heater 1420 . The support plate 1320 transfers heat generated from the heater 1400 to the substrate W. The support plate 1320 is provided in a circular plate shape. The upper surface of the support plate 1320 has a larger diameter than the substrate W. As shown in FIG. The upper surface of the support plate 1320 functions as a seating surface 1320a on which the substrate W is placed. A plurality of lift holes 1322 are formed on the seating surface 1320a. The lift holes are located in different areas from each other. When viewed from the top, the lift holes 1322 are respectively arranged to surround the center of the upper surface of the support plate 1320 . Each of the lift holes 1322 is arranged to be spaced apart from each other along the circumferential direction. The lift holes 1322 may be positioned to be spaced apart from each other at the same distance. For example, three lift holes 1322 may be provided. The support plate 1320 may be made of a material including aluminum nitride (AlN).

히터(1420)는 지지 플레이트(1320)에 놓여진 기판(W)을 가열 처리한다. 히터(1420)는 지지 플레이트(1320)에 놓여진 기판(W)보다 아래에 위치된다. 히터(1420)는 복수 개로 제공된다. 히터들(1420)은 지지 플레이트(1320) 내에 위치되거나, 지지 플레이트(1320)의 저면에 위치될 수 있다. 각 히터들(1420)은 동일 평면 상에 위치된다. 일 예에 의하면, 각 히터들(1420)은 안착면의 서로 상이한 영역을 서로 다른 온도로 가열할 수 있다. 히터들(1420) 중 일부는 안착면(1320a)의 중앙 영역을 제1온도로 가열하고, 히터들(1420) 중 다른 일부는 안착면(1320a)의 가장자리 영역을 제2온도로 가열할 수 있다. 제2온도는 제1온도보다 높은 온도일 수 있다. 히터들(1420)은 프린팅된 패턴 또는 열선일 수 있다. The heater 1420 heats the substrate W placed on the support plate 1320 . The heater 1420 is positioned below the substrate W placed on the support plate 1320 . A plurality of heaters 1420 are provided. The heaters 1420 may be located in the support plate 1320 or located on the bottom of the support plate 1320 . Each of the heaters 1420 is located on the same plane. According to an example, each of the heaters 1420 may heat different regions of the seating surface to different temperatures. Some of the heaters 1420 may heat a central region of the seating surface 1320a to a first temperature, and other of the heaters 1420 may heat an edge region of the seating surface 1320a to a second temperature. . The second temperature may be a temperature higher than the first temperature. The heaters 1420 may be printed patterns or hot wires.

리프트 핀(1340)은 지지 플레이트(1320) 상에서 기판(W)을 승하강시킨다. 리프트 핀(1342)은 복수 개로 제공되며, 각각은 수직한 상하 방향을 향하는 핀 형상으로 제공된다. 각각의 리프트 홀(1322)에는 리프트 핀(1340)이 위치된다. 구동 부재(미도시)는 각각의 리프트 핀들(1342)을 승강 위치와 하강 위치 간에 이동시킨다. 여기서 승강 위치는 리프트 핀(1342)의 상단이 안착면(1320a)보다 높은 위치이고, 하강 위치는 리프트 핀(1342)의 상단이 안착면(1320a)과 동일하거나 이보다 낮은 위치로 정의한다. 구동 부재(미도시)는 챔버(1100)의 외부에 위치될 수 있다. 구동 부재(미도시)는 실린더일 수 있다.The lift pins 1340 elevate the substrate W on the support plate 1320 . A plurality of lift pins 1342 are provided, and each of the lift pins 1342 is provided in the shape of a pin facing in the vertical direction. A lift pin 1340 is positioned in each lift hole 1322 . A driving member (not shown) moves each of the lift pins 1342 between an elevated position and a lowered position. Here, the lifting position is defined as a position where the upper end of the lift pin 1342 is higher than the seating surface 1320a, and the lowering position is defined as a position where the upper end of the lift pin 1342 is the same as or lower than the seat surface 1320a. A driving member (not shown) may be located outside the chamber 1100 . The driving member (not shown) may be a cylinder.

지지핀(1360)은 기판(W)이 안착면(1320a)에 직접적으로 접촉되는 것을 방지한다. 지지핀(1360)은 리프트 핀(1342)과 평행한 길이 방향을 가지는 핀 형상으로 제공된다. 지지핀(1360)은 복수 개로 제공되며, 각각은 안착면(1320a)에 고정 설치된다. 지지핀들(1360)은 안착면(1320a)으로부터 위로 돌출되게 위치된다. 지지핀(1360)의 상단은 기판(W)의 저면에 직접 접촉되는 접촉면으로 제공되며, 접촉면은 위로 볼록한 형상을 가진다. 이에 따라 지지핀(1360)과 기판(W) 간의 접촉 면적을 최소화할 수 있다.The support pin 1360 prevents the substrate W from directly contacting the seating surface 1320a. The support pin 1360 is provided in a pin shape having a longitudinal direction parallel to the lift pin 1342 . A plurality of support pins 1360 are provided, and each is fixedly installed on the seating surface 1320a. The support pins 1360 are positioned to protrude upward from the seating surface 1320a. The upper end of the support pin 1360 is provided as a contact surface in direct contact with the bottom surface of the substrate W, and the contact surface has a convex upward shape. Accordingly, the contact area between the support pin 1360 and the substrate W may be minimized.

가이드(1380)는 기판(W)이 안착면(1320a)의 정 위치에 놓여지도록 기판(W)을 가이드한다. 가이드(1380)는 안착면(1320a)을 감싸는 환형의 링 형상을 가지도록 제공된다. 가이드(1380)는 기판(W)보다 큰 직경을 가진다. 가이드(1380)의 내측면은 지지 플레이트(1320)의 중심축에 가까워질수록 하향 경사진 형상을 가진다. 이에 따라 가이드(1380)의 내측면에 걸친 기판(W)은 그 경사면을 타고 정위치로 이동된다. The guide 1380 guides the substrate W so that the substrate W is placed in a regular position on the seating surface 1320a. The guide 1380 is provided to have an annular ring shape surrounding the seating surface 1320a. The guide 1380 has a larger diameter than the substrate W. The inner surface of the guide 1380 has a downwardly inclined shape as it approaches the central axis of the support plate 1320 . Accordingly, the substrate W spanning the inner surface of the guide 1380 is moved to the original position riding the inclined surface.

배기 부재(1500)는 처리 공간(1110) 내부를 강제 배기한다. 배기 부재(1500)는 배기관(1530), 감압 부재(1560), 그리고 안내판(1520)을 포함한다. 배기관(1530)는 길이 방향이 수직한 상하 방향을 향하는 관 형상을 가진다. 배기관(1530)는 상부 바디(1120)의 상벽을 관통하도록 위치된다. 일 예에 의하면, 배기관(1530)는 배기홀(1122)에 삽입되게 위치될 수 있다. 즉, 배기관(1530)의 하단은 처리 공간(1110) 내에 위치되고, 배기관(1530)의 상단은 처리 공간(1110)의 외부에 위치된다. 배기관(1530)의 상단에는 감압 부재(1560)가 연결된다. 감압 부재(1560)는 배기관(1530)를 감압한다. 이에 따라 처리 공간(1110)의 분위기는 통공(1522) 및 배기관(1530)를 순차적으러 거쳐 배기된다.The exhaust member 1500 forcibly exhausts the inside of the processing space 1110 . The exhaust member 1500 includes an exhaust pipe 1530 , a pressure reducing member 1560 , and a guide plate 1520 . The exhaust pipe 1530 has a tubular shape in which the longitudinal direction is perpendicular to the vertical direction. The exhaust pipe 1530 is positioned to pass through the upper wall of the upper body 1120 . According to an example, the exhaust pipe 1530 may be positioned to be inserted into the exhaust hole 1122 . That is, the lower end of the exhaust pipe 1530 is located in the processing space 1110 , and the upper end of the exhaust pipe 1530 is located outside the processing space 1110 . A pressure reducing member 1560 is connected to the upper end of the exhaust pipe 1530 . The pressure reducing member 1560 depressurizes the exhaust pipe 1530 . Accordingly, the atmosphere of the processing space 1110 is exhausted sequentially through the through hole 1522 and the exhaust pipe 1530 .

안내판(1520)은 중심에 통공(1522)을 가지는 판 형상을 가진다. 안내판(1520)은 배기관(1530)의 하단으로부터 연장된 원형의 판 형상을 가진다. 안내판(1520)은 통공(1522)과 배기관(1530)의 내부가 서로 통하도록 배기관(1530)에 고정 결합된다. 안내판(1520)은 지지 플레이트(1320)의 상부에서 지지 플레이트(1320)의 지지면과 마주하게 위치된다. 안내판(1520)은 하부 바디(1140)보다 높게 위치된다. 일 예에 의하면, 안내판(1520)은 상부 바디(1120)와 마주하는 높이에 위치될 수 있다. 상부에서 바라볼 때 안내판(1520)은 유입홀(1124)과 중첩되게 위치되고, 상부 바디(1120)의 내측면과 이격되는 직경을 가진다. 이에 따라 안내판(1520)의 측단과 상부 바디(1120)의 내측면 간에는 틈이 발생되며, 이 틈은 유입홀(1124)을 통해 유입된 기류가 기판(W)으로 공급되는 흐름 경로로 제공된다.The guide plate 1520 has a plate shape having a through hole 1522 in the center. The guide plate 1520 has a circular plate shape extending from the lower end of the exhaust pipe 1530 . The guide plate 1520 is fixedly coupled to the exhaust pipe 1530 so that the through hole 1522 and the inside of the exhaust pipe 1530 communicate with each other. The guide plate 1520 is positioned on the upper portion of the support plate 1320 to face the support surface of the support plate 1320 . The guide plate 1520 is positioned higher than the lower body 1140 . According to an example, the guide plate 1520 may be positioned at a height facing the upper body 1120 . When viewed from the top, the guide plate 1520 is positioned to overlap the inlet hole 1124 and has a diameter spaced apart from the inner surface of the upper body 1120 . Accordingly, a gap is generated between the side end of the guide plate 1520 and the inner surface of the upper body 1120 , and this gap is provided as a flow path through which the air flow introduced through the inlet hole 1124 is supplied to the substrate W.

다시 도 5 및 도 6을 참조하면, 기류 형성 유닛(3500)은 하우징(3210)의 내부 공간(3212)에 기류를 형성한다. 기류는 내부 공간(3212)에서 대체로 일 방향을 향해 흐를 수 있다. 기류 형성 유닛(3500)은 팬 유닛(3252) 및 배기 유닛(3254)을 포함한다.Referring back to FIGS. 5 and 6 , the airflow forming unit 3500 forms an airflow in the inner space 3212 of the housing 3210 . Airflow may flow in generally one direction in the interior space 3212 . The airflow forming unit 3500 includes a fan unit 3252 and an exhaust unit 3254 .

팬 유닛(3252)은 내부 공간(3212)에 에어를 공급하고, 배기 유닛(3254)은 내부 공간(3212)을 배기한다. 팬 유닛(3252) 및 배기 유닛(3254) 각각은 하우징(3210)에 설치된다. 팬 유닛(3252)은 에어 공급이 가능한 팬(3252a) 및 에어 공급 라인(3252b)을 포함하고, 배기 유닛(3254)은 내부 공간(3212)을 배기 가능한 에어 배기 라인(3254b) 및 감압 부재(3254a)를 포함할 수 있다. 예컨대, 팬 유닛(3252)은 하우징(3210)의 천장면에 설치되고, 배기 유닛(3254)은 하우징(3210)의 바닥면에 설치될 수 있다. 이에 따라 내부 공간(3212)에는 일 방향으로 갈수록 하향 경사진 흐름의 기류가 형성될 수 있으며, 처리 공간(1110)에서 발생된 파티클이 그 외부에 노출되더라도, 하향 경사진 흐름의 기류가 파티클의 확산을 억제한다. The fan unit 3252 supplies air to the internal space 3212 , and the exhaust unit 3254 exhausts the internal space 3212 . Each of the fan unit 3252 and the exhaust unit 3254 is installed in the housing 3210 . The fan unit 3252 includes a fan 3252a and an air supply line 3252b capable of supplying air, and the exhaust unit 3254 exhausts the internal space 3212 with an air exhaust line 3254b and a pressure reducing member 3254a ) may be included. For example, the fan unit 3252 may be installed on the ceiling surface of the housing 3210 , and the exhaust unit 3254 may be installed on the bottom surface of the housing 3210 . Accordingly, an airflow of a downwardly inclined flow may be formed in the inner space 3212 in one direction, and even if the particles generated in the processing space 1110 are exposed to the outside, the airflow of the downwardly inclined flow may diffuse the particles. suppress

상부에서 바라볼 때 팬 유닛(3252)과 배기 유닛(3254)은 제2방향(14)과 평행한 방향을 따라 배치된다. 상부에서 바라볼 때 팬 유닛(3252)과 배기 유닛(3254)은 그 사이에 냉각 유닛(3220) 및 가열 유닛(3230)이 위치되도록 배치된다. 일 예에 의하면, 팬 유닛(3252)은 배기 유닛(3254)보다 하우징(3210)에 형성된 반출입구(3214)에 더 가깝게 위치될 수 있다. 상부에서 바라볼 때 냉각 유닛(3220)은 가열 유닛(3230)보다 팬 유닛(3252)에 더 가깝게 위치되고, 가열 유닛(3230)은 냉각 유닛(3220)보다 배기 유닛(3254)에 더 가깝게 위치될 수 있다. 이로 인해 팬 유닛(3252)으로부터 공급된 에어는 냉각 유닛(3220)을 통과하여 상온보다 낮은 온도의 기류를 형성할 수 있다. When viewed from above, the fan unit 3252 and the exhaust unit 3254 are disposed along a direction parallel to the second direction 14 . When viewed from above, the fan unit 3252 and the exhaust unit 3254 are arranged such that a cooling unit 3220 and a heating unit 3230 are positioned therebetween. According to an example, the fan unit 3252 may be located closer to the inlet 3214 formed in the housing 3210 than the exhaust unit 3254 . When viewed from the top, the cooling unit 3220 is located closer to the fan unit 3252 than the heating unit 3230 , and the heating unit 3230 is located closer to the exhaust unit 3254 than the cooling unit 3220 . can Due to this, the air supplied from the fan unit 3252 may pass through the cooling unit 3220 to form an airflow having a temperature lower than room temperature.

기류 형성 유닛(3500)은 하우징(3210)의 내부 공간(3212)에 제1유속의 기류 또는 제2유속의 기류를 형성할 수 있다. 여기서 제1유속은 제2유속보다 작은 유속일 수 있다. 일 예에 의하면, 처리 공간(1110)에서 기판(W)의 가열 처리할 때에는 제1유속의 기류를 형성하고, 가열 플레이트(1310)를 냉각할 때에는 제2유속의 기류를 형성할 수 있다. 기류의 유속은 팬 유닛(3252)과 배기 유닛(3254) 중 적어도 하나를 통해 조절할 수 있다. 본 실시예에는 팬 유닛(3252)의 알피엠(RPM)을 조절하여 기류의 유속을 조절하는 것으로 설명한다.The airflow forming unit 3500 may form an airflow of a first flow rate or an airflow of a second flowrate in the inner space 3212 of the housing 3210 . Here, the first flow rate may be a smaller flow rate than the second flow rate. According to an example, when the substrate W is heat-treated in the processing space 1110 , an airflow of a first flow rate may be formed, and an airflow of a second flow rate may be formed when the heating plate 1310 is cooled. The flow rate of the airflow may be adjusted through at least one of the fan unit 3252 and the exhaust unit 3254 . In this embodiment, it will be described that the flow rate of the air flow is controlled by adjusting the RPM of the fan unit 3252 .

제어기(1900)는 기판(W)의 가열 처리 공정과 가열 플레이트(1310)의 냉각 공정이 각각 이루어지도록 가열 유닛(3230) 및 기류 형성 유닛(3500)을 제어한다. 제어기(1900)는 수행하고자 하는 공정의 종류에 따라 승강 부재(1130) 및 팬 유닛(3252)을 달리 제어할 수 있다. 제어기(1900)는 기판 가열 처리 공정과 가열 플레이트(1310)의 냉각 공정에 따라 상부 바디(1120)와 하부 바디(1140) 간의 이격 거리 및 기류의 유속을 달리 제어할 수 있다. 본 실시예에서 기판(W)의 가열 처리 공정은 기판(W)이 처리 공간(1110)에서 가열되는 공정과 처리 공간(1110)에 기판(W)이 반입 및 반출되는 과정을 포함하는 것으로 설명한다. 일 예에 의하면, 가열 플레이트(1310)의 냉각 공정이 진행될 때에는 기판(W)의 가열 처리 공정이 진행될 때보다 기류의 유속이 크게 제공될 수 있다. 또한 가열 플레이트(1310)의 냉각 공정이 진행될 때에는 기판(W)의 가열 처리 공정이 진행될 때보다이격 거리가 크게 제공될 수 있다.The controller 1900 controls the heating unit 3230 and the airflow forming unit 3500 so that the heating process of the substrate W and the cooling process of the heating plate 1310 are respectively performed. The controller 1900 may control the lifting member 1130 and the fan unit 3252 differently according to the type of process to be performed. The controller 1900 may differently control the separation distance between the upper body 1120 and the lower body 1140 and the flow rate of the airflow according to the substrate heat treatment process and the cooling process of the heating plate 1310 . In this embodiment, the heat treatment process of the substrate W will be described as including a process in which the substrate W is heated in the processing space 1110 and a process in which the substrate W is loaded into and out of the processing space 1110 . . According to an example, when the cooling process of the heating plate 1310 is performed, the flow rate of the airflow may be greater than when the heating process of the substrate W is performed. Also, when the cooling process of the heating plate 1310 is performed, a larger separation distance may be provided than when the heating process of the substrate W is performed.

다음은 상술한 장치로 기판(W)을 가열 처리하고, 가열 플레이트(1310)를 냉각 처리하는 방법을 설명한다. 도 9는 가열 플레이트를 냉각하는 과정을 보여주는 플로우 차트이고, 도 10 내지 도 12는 도 9의 가열 처리 단계를 보여주는 도면이며, 도 13은 도 9의 냉각하는 단계를 보여주는 도면이다. Next, a method of heating the substrate W and cooling the heating plate 1310 with the above-described apparatus will be described. 9 is a flowchart showing a process of cooling the heating plate, FIGS. 10 to 12 are views showing the heat treatment step of FIG. 9 , and FIG. 13 is a view showing the cooling step of FIG. 9 .

기판(W)을 가열 처리하는 단계(S100)에는, 액 처리 챔버(3600)에서 액막이 형성된 기판(W)을 반송 로봇(3422)에 의해 하우징(3210)에 반입한다. 하우징(3210)의 내부 공간(3212)에는 제1유속의 기류가 형성된다. 하우징(3210)에 반입된 기판(W)은 반송 플레이트(3240)에 의해 가열 유닛(3230)으로 반송된다. 히터(1420)에 연결된 전원은 계속적으로 온(On) 상태를 유지하여 가열 플레이트(1310)가 공정 온도를 유지시킨다. 상부 바디(1120)는 하부 바디(1140)로부터 제1거리(D₁)만큼 이격되게 이동되고, 기판(W)은 제1거리(D₁)의 개방 영역으로 통해 처리 공간(1110)에 반입된다. 이후 상부 바디(1120)는 하강되어 처리 공간(1110)을 밀폐하고, 기판(W)은 공정 온도로 가열 처리된다. 이후 상부 바디(1120)를 하부 바디(1140)로부터 제1거리(D₁)만큼 이격되게 승강 이동시키고, 반송 플레이트(3240)에 의해 기판(W)은 제1거리(D₁)의 개방 영역을 통해 처리 공간(1110)으로부터 반출되어 냉각 유닛(3220)으로 반송되어 냉각 처리된다. 냉각 처리가 완료된 기판(W)은 반송 로봇(3422)에 의해 인터페이스 모듈(40)로 반송된다. In the heat treatment of the substrate W ( S100 ), the substrate W on which the liquid film is formed in the liquid processing chamber 3600 is loaded into the housing 3210 by the transfer robot 3422 . In the inner space 3212 of the housing 3210, an airflow of a first flow rate is formed. The substrate W loaded into the housing 3210 is transferred to the heating unit 3230 by the transfer plate 3240 . The power connected to the heater 1420 continuously maintains an on state so that the heating plate 1310 maintains the process temperature. The upper body 1120 is moved to be spaced apart from the lower body 1140 by a first distance D ₁ , and the substrate W is loaded into the processing space 1110 through an open area of the first distance D ₁ . . Thereafter, the upper body 1120 is lowered to seal the processing space 1110 , and the substrate W is heated to a process temperature. Thereafter, the upper body 1120 is moved up and down to be spaced apart from the lower body 1140 by a first distance D ₁ , and the substrate W by the carrier plate 3240 moves the open area of the first distance D ₁ . It is transported out of the processing space 1110 through the refrigeration unit 3220 to be cooled and processed. The substrate W after the cooling process is completed is transferred to the interface module 40 by the transfer robot 3422 .

가열 플레이트(1310)로부터 기판(W)이 제거되어 기판(W)의 가열 처리 단계(S100)가 완료되면, 가열 플레이트(1310)를 냉각하는 단계(S200)를 진행한다.When the substrate W is removed from the heating plate 1310 and the heating treatment step S100 of the substrate W is completed, a step S200 of cooling the heating plate 1310 is performed.

가열 플레이트(1310)를 냉각하는 단계(S200)에는, 히터(1420)에 연결된 전원을 오프(Off)한다. 상부 바디(1120)를 하부 바디(1140)로부터 제1거리(D₁)보다 큰 제2거리(D₂)만큼 이격되게 승강 이동시킨다. 하우징(3210)의 내부 공간(3212)에는 기류가 제1유속에서 제2유속으로 조절된다. 이로 인해 기판(W)을 가열 처리하는 단계보다 더 많은 양의 기류가 처리 공간(1110)으로 유입되며, 가열 플레이트(1310)를 냉각시킨다. In the step of cooling the heating plate 1310 ( S200 ), the power connected to the heater 1420 is turned off. The upper body 1120 is moved up and down to be spaced apart from the lower body 1140 by a second distance D ₂ greater than the first distance D ₁ . In the inner space 3212 of the housing 3210, the air flow is adjusted from the first flow rate to the second flow rate. Due to this, a larger amount of airflow flows into the processing space 1110 than the step of heat-treating the substrate W, and the heating plate 1310 is cooled.

상술한 실시예에는 가열 플레이트(1310)를 냉각함에 있어서, 가열 플레이트(1310)에 냉매를 직접 접촉시켜 냉각하는 방식이 아닌 비접촉 냉각 방식이다. 따라서 비접촉 냉각 방식은 접촉 냉각 방식에 비해 공정이 단순하며, 냉매 이동 및 냉매 접촉 과정에 발생되는 사고 등을 방지할 수 있다.In the above-described embodiment, in cooling the heating plate 1310 , it is a non-contact cooling method, rather than a method of cooling by directly contacting a refrigerant to the heating plate 1310 . Therefore, the non-contact cooling method has a simpler process than the contact cooling method, and accidents occurring during the refrigerant movement and contact with the refrigerant can be prevented.

또한 기판(W)을 가열 처리하는 단계(S100)에는 가열 플레이트(1310)를 냉각하는 단계(S200)에 비해 상부 바디(1120)와 하부 바디(1140) 간의 이격 거리가 작게 제공된다. 이는 기판(W)을 가열 처리하는 단계(S100)에서 상부 바디(1120)의 이동 거리를 최소화함으로써 기판(W)의 가열 처리 단계(S100)에 소요되는 시간을 단축할 수 있다. 또한 처리 공간(1110)의 개방 영역이 냉각하는 단계에 비해 줄어들기 때문에 처리 공간(1110)에 유입되는 기류의 양을 최소화함으로써, 가열 플레이트(1310)의 온도가 하락되는 것을 최소화하기 위함이다. In addition, in the step S100 of heating the substrate W, the separation distance between the upper body 1120 and the lower body 1140 is provided to be smaller than the step S200 of cooling the heating plate 1310 . This minimizes the moving distance of the upper body 1120 in the heat-treating step (S100) of the substrate (W), thereby reducing the time required for the heat-treating step (S100) of the substrate (W). In addition, since the open area of the processing space 1110 is reduced compared to the cooling step, the amount of airflow flowing into the processing space 1110 is minimized, thereby minimizing the decrease in the temperature of the heating plate 1310 .

또한 기판(W)을 가열 처리하는 단계(S100)에는 가열 플레이트(1310)를 냉각하는 단계에 비해 기류의 유속이 작게 제공된다. 이로 인해 처리 공간(1110)에 유입되는 기류의 양을 최소화함으로써, 기판(W)을 가열 처리하는 중에 가열 플레이트(1310)의 온도 하락을 최소화할 수 있다. In addition, in the step ( S100 ) of heating the substrate ( W ), the flow rate of the airflow is provided to be smaller than that of the step of cooling the heating plate ( 1310 ). Accordingly, by minimizing the amount of airflow flowing into the processing space 1110 , the temperature drop of the heating plate 1310 may be minimized while the substrate W is heat-treated.

이와 반대로, 가열 플레이트(1310)를 냉각하는 단계(S200)에는 기판(W)을 가열 처리하는 단계(S100)에 비해 처리 공간(1110)에 유입되는 기류의 양이 늘어나므로, 기판(W)을 가열 처리할 때(S100)에 비해 가열 플레이트(1310)의 온도 하락 폭을 높일 수 있다. Conversely, in the step (S200) of cooling the heating plate (1310), since the amount of airflow flowing into the processing space (1110) is increased compared to the step (S100) of heat processing the substrate (W), the substrate (W) Compared to the heat treatment ( S100 ), the temperature drop width of the heating plate 1310 may be increased.

또한 본 실시예에는 단일의 기판(W)에 대해 가열 처리 공정이 완료되면, 가열 플레이트(1310)를 냉각 처리하는 공정이 수행되는 것으로 설명하였다. 그러나 도 14와 같이, 제1그룹에 속하는 기판들이 연속하여 가열 처리 공정(P₁)을 수행하고, 그 이후에 가열 플레이트(1310)를 냉각 처리하는 공정(Pc)을 수행할 수 있다. 제1그룹의 기판들에 대해 가열 처리가 이루어지고 있는 중(P₁)에는 제1그룹의 기판들이 반출입되는 과정에서 처리 공간(1110)의 개폐 여부에 관계없이, 히터(1420)에 연결된 전원을 계속적으로 온(On) 상태로 유지하여 가열 플레이트(1310)의 온도가 떨어지는 것을 방지할 수 있다.In addition, in the present embodiment, it has been described that when the heat treatment process is completed for the single substrate W, the process of cooling the heating plate 1310 is performed. However, as shown in FIG. 14 , the substrates belonging to the first group may sequentially perform a heat treatment process P ₁ , and then perform a cooling treatment process Pc of the heating plate 1310 . While the first group of substrates are being heated (P ₁ ), the power connected to the heater 1420 is turned on regardless of whether the processing space 1110 is opened or closed while the first group of substrates are being transported in and out. By continuously maintaining the on state, it is possible to prevent the temperature of the heating plate 1310 from dropping.

이와 반대로, 제1그룹에 속하는 기판들의 가열 처리 공정(P₁)이 종료되어 가열 플레이트(1310)의 냉각 처리 공정(Pc)이 시작될 때에는 전원을 오프(off)할 수 있다. Conversely, when the heat treatment process P ₁ of the substrates belonging to the first group ends and the cooling treatment process Pc of the heating plate 1310 starts, the power may be turned off.

또한 도 15와 같이, 제1그룹에 속하는 기판들의 가열 처리 공정(P₁)이 종료되고, 제2그룹에 속하는 기판들은 제1그룹의 기판보다 낮은 온도로 가열 처리할 경우(P2)에는, 제2그룹에 속하는 기판들의 가열 처리 공정(P₂)을 시작하기 전에 가열 플레이트(1310)의 냉각 처리 공정을 수행할 수 있다. 여기서 가열 플레이트(1310)의 냉각은, 제2그룹의 기판들의 가열 처리 공정(P₂)을 수행하고자 가열 플레이트(1310)의 공정 온도로 신속히 조절하기 위함이다.Also, as shown in FIG. 15 , when the heat treatment process (P ₁ ) of the substrates belonging to the first group is finished, and the substrates belonging to the second group are heat-treated at a lower temperature than the substrates of the first group (P2), the second Before starting the heat treatment process P ₂ of the substrates belonging to the second group, a cooling treatment process of the heating plate 1310 may be performed. Here, the cooling of the heating plate 1310 is to quickly adjust the process temperature of the heating plate 1310 to perform the heat treatment process P ₂ of the second group of substrates.

다시 도 5 및 도 6을 참조하면, 반송 플레이트(3240)는 대체로 원판 형상을 제공되고, 기판(W)과 대응되는 직경을 가진다. 반송 플레이트(3240)의 가장자리에는 노치(3244)가 형성된다. 노치(3244)는 상술한 반송 로봇(3422)의 핸드(3420)에 형성된 돌기(3429)와 대응되는 형상을 가질 수 있다. 또한, 노치(3244)는 핸드(3420)에 형성된 돌기(3429)와 대응되는 수로 제공되고, 돌기(3429)와 대응되는 위치에 형성된다. 핸드(3420)와 반송 플레이트(3240)가 상하 방향으로 정렬된 위치에서 핸드(3420)와 반송 플레이트(3240)의 상하 위치가 변경하면 핸드(3420)와 반송 플레이트(3240) 간에 기판(W)의 전달이 이루어진다. 반송 플레이트(3240)는 가이드 레일(3249) 상에 장착되고, 구동기(3246)에 의해 가이드 레일(3249)을 따라 제1영역(3212)과 제2영역(3214) 간에 이동될 수 있다. 반송 플레이트(3240)에는 슬릿 형상의 가이드 홈(3242)이 복수 개 제공된다. 가이드 홈(3242)은 반송 플레이트(3240)의 끝단에서 반송 플레이트(3240)의 내부까지 연장된다. 가이드 홈(3242)은 그 길이 방향이 제2 방향(14)을 따라 제공되고, 가이드 홈(3242)들은 제1 방향(12)을 따라 서로 이격되게 위치된다. 가이드 홈(3242)은 반송 플레이트(3240)와 가열 유닛(3230) 간에 기판(W)의 인수인계가 이루어질 때 반송 플레이트(3240)와 리프트 핀(1340)이 서로 간섭되는 것을 방지한다. Referring back to FIGS. 5 and 6 , the transport plate 3240 is provided in a substantially disk shape, and has a diameter corresponding to that of the substrate W. As shown in FIG. A notch 3244 is formed at the edge of the conveying plate 3240 . The notch 3244 may have a shape corresponding to the protrusion 3429 formed on the hand 3420 of the transfer robot 3422 described above. In addition, the notches 3244 are provided in a number corresponding to the protrusions 3429 formed on the hand 3420 , and are formed at positions corresponding to the protrusions 3429 . When the upper and lower positions of the hand 3420 and the carrier plate 3240 are changed in a position where the hand 3420 and the carrier plate 3240 are vertically aligned, the substrate W between the hand 3420 and the carrier plate 3240 is transfer takes place The transport plate 3240 is mounted on the guide rail 3249 , and may be moved between the first region 3212 and the second region 3214 along the guide rail 3249 by a driver 3246 . A plurality of slit-shaped guide grooves 3242 are provided in the carrying plate 3240 . The guide groove 3242 extends from the end of the carrying plate 3240 to the inside of the carrying plate 3240 . The length direction of the guide grooves 3242 is provided along the second direction 14 , and the guide grooves 3242 are spaced apart from each other along the first direction 12 . The guide groove 3242 prevents the transfer plate 3240 and the lift pins 1340 from interfering with each other when the substrate W is transferred between the transfer plate 3240 and the heating unit 3230 .

기판(W)의 가열은 기판(W)이 지지 플레이트(1320) 상에 직접 놓인 상태에서 이루어지고, 기판(W)의 냉각은 기판(W)이 놓인 반송 플레이트(3240)가 냉각판(3222)에 접촉된 상태에서 이루어진다. 냉각판(3222)과 기판(W) 간에 열전달이 잘 이루어지도록 반송 플레이트(3240)은 열전달율이 높은 재질로 제공된다. 일 예에 의하면, 반송 플레이트(3240)은 금속 재질로 제공될 수 있다. The substrate W is heated in a state where the substrate W is placed directly on the support plate 1320 , and the substrate W is cooled by the transfer plate 3240 on which the substrate W is placed and the cooling plate 3222 . made in contact with The transfer plate 3240 is made of a material having a high heat transfer rate so that heat transfer between the cooling plate 3222 and the substrate W is well achieved. According to one example, the transport plate 3240 may be provided with a metal material.

열처리 챔버들(3200) 중 일부의 열처리 챔버에 제공된 가열 유닛(3230)은 기판(W) 가열 중에 가스를 공급하여 포토레지스트의 기판(W) 부착률을 향상시킬 수 있다. 일 예에 의하면, 가스는 헥사메틸디실란(hexamethyldisilane) 가스일 수 있다. The heating unit 3230 provided in some of the heat treatment chambers 3200 may supply a gas while heating the substrate W to improve the adhesion rate of the photoresist to the substrate W. According to an example, the gas may be hexamethyldisilane gas.

액처리 챔버(3600)는 복수 개로 제공된다. 액처리 챔버들(3600) 중 일부는 서로 적층되도록 제공될 수 있다. 액 처리 챔버들(3600)은 반송 챔버(3402)의 일측에 배치된다. 액 처리 챔버들(3600)은 제1방향(12)을 따라 나란히 배열된다. 액 처리 챔버들(3600) 중 일부는 인덱스 모듈(20)과 인접한 위치에 제공된다. 이하, 이들 액처리 챔버를 전단 액처리 챔버(3602)(front liquid treating chamber)라 칭한다. 액 처리 챔버들(3600)은 중 다른 일부는 인터페이스 모듈(40)과 인접한 위치에 제공된다. 이하, 이들 액처리 챔버를 후단 액처리 챔버(3604)(rear heat treating chamber)라 칭한다. A plurality of liquid processing chambers 3600 are provided. Some of the liquid processing chambers 3600 may be provided to be stacked on each other. The liquid processing chambers 3600 are disposed at one side of the transfer chamber 3402 . The liquid processing chambers 3600 are arranged side by side in the first direction 12 . Some of the liquid processing chambers 3600 are provided adjacent to the index module 20 . Hereinafter, these liquid treatment chambers will be referred to as a front liquid treating chamber 3602 (front liquid treating chamber). Other portions of the liquid processing chambers 3600 are provided adjacent to the interface module 40 . Hereinafter, these liquid treatment chambers are referred to as rear heat treating chambers 3604 (rear heat treating chambers).

전단 액처리 챔버(3602)는 기판(W)상에 제1액을 도포하고, 후단 액처리 챔버(3604)는 기판(W) 상에 제2액을 도포한다. 제1액과 제2액은 서로 상이한 종류의 액일 수 있다. 일 실시예에 의하면, 제1액은 반사 방지막이고, 제2액은 포토레지스트이다. 포토레지스트는 반사 방지막이 도포된 기판(W) 상에 도포될 수 있다. 선택적으로 제1액은 포토레지스트이고, 제2액은 반사방지막일 수 있다. 이 경우, 반사방지막은 포토레지스트가 도포된 기판(W) 상에 도포될 수 있다. 선택적으로 제1액과 제2액은 동일한 종류의 액이고, 이들은 모두 포토레지스트일 수 있다.The front stage liquid processing chamber 3602 applies the first liquid on the substrate W, and the rear stage liquid processing chamber 3604 applies the second liquid on the substrate W. The first liquid and the second liquid may be different types of liquid. According to one embodiment, the first liquid is an anti-reflection film, and the second liquid is a photoresist. The photoresist may be applied on the substrate W on which the anti-reflection film is applied. Optionally, the first liquid may be a photoresist, and the second liquid may be an anti-reflection film. In this case, the anti-reflection film may be applied on the photoresist-coated substrate (W). Optionally, the first liquid and the second liquid are the same type of liquid, and they may both be photoresist.

도 16은 도 3의 액 처리 챔버의 일 예를 개략적으로 보여주는 도면이다. 도 16을 참조하면, 액 처리 챔버(3602, 3604)는 하우징(3610), 컵(3620), 지지유닛(3640), 그리고 액 공급 유닛(3660)을 가진다. 하우징(3610)은 대체로 직육면체의 형상으로 제공된다. 하우징(3610)의 측벽에는 기판(W)이 출입되는 반입구(도시되지 않음)가 형성된다. 반입구는 도어(도시되지 않음)에 의해 개폐될 수 있다. 컵(3620), 지지유닛(3640), 그리고 액 공급 유닛(3660)은 하우징(3610) 내에 제공된다. 하우징(3610)의 상벽에는 하우징(3260) 내에 하강 기류를 형성하는 팬필터유닛(3670)이 제공될 수 있다. 컵(3620)은 상부가 개방된 처리 공간을 가진다. 지지유닛(3640)은 처리 공간 내에 배치되며, 기판(W)을 지지한다. 지지유닛(3640)은 액처리 도중에 기판(W)이 회전 가능하도록 제공된다. 액 공급유닛(3660)은 지지유닛(3640)에 지지된 기판(W)으로 액을 공급한다. 16 is a diagram schematically illustrating an example of the liquid processing chamber of FIG. 3 . Referring to FIG. 16 , the liquid processing chambers 3602 and 3604 include a housing 3610 , a cup 3620 , a support unit 3640 , and a liquid supply unit 3660 . The housing 3610 is provided in the shape of a substantially rectangular parallelepiped. An inlet (not shown) through which the substrate W enters and exits is formed on the sidewall of the housing 3610 . The inlet may be opened and closed by a door (not shown). The cup 3620 , the support unit 3640 , and the liquid supply unit 3660 are provided in the housing 3610 . A fan filter unit 3670 for forming a downdraft in the housing 3260 may be provided on the upper wall of the housing 3610 . The cup 3620 has a processing space with an open top. The support unit 3640 is disposed in the processing space and supports the substrate W. The support unit 3640 is provided so that the substrate W is rotatable during liquid processing. The liquid supply unit 3660 supplies the liquid to the substrate W supported by the support unit 3640 .

다시 도 2 및 도 3을 참조하면, 버퍼 챔버(3800)는 복수 개로 제공된다. 버퍼 챔버들(3800) 중 일부는 인덱스 모듈(20)과 반송 챔버(3400) 사이에 배치된다. 이하, 이들 버퍼 챔버를 전단 버퍼(3802)(front buffer)라 칭한다. 전단 버퍼들(3802)은 복수 개로 제공되며, 상하 방향을 따라 서로 적층되게 위치된다. 버퍼 챔버들(3802, 3804) 중 다른 일부는 반송 챔버(3400)와 인터페이스 모듈(40) 사이에 배치된다 이하. 이들 버퍼 챔버를 후단 버퍼(3804)(rear buffer)라 칭한다. 후단 버퍼들(3804)은 복수 개로 제공되며, 상하 방향을 따라 서로 적층되게 위치된다. 전단 버퍼들(3802) 및 후단 버퍼들(3804) 각각은 복수의 기판들(W)을 일시적으로 보관한다. 전단 버퍼(3802)에 보관된 기판(W)은 인덱스 로봇(2200) 및 반송 로봇(3422)에 의해 반입 또는 반출된다. 후단 버퍼(3804)에 보관된 기판(W)은 반송 로봇(3422) 및 제1로봇(4602)에 의해 반입 또는 반출된다. Referring back to FIGS. 2 and 3 , a plurality of buffer chambers 3800 are provided. Some of the buffer chambers 3800 are disposed between the index module 20 and the transfer chamber 3400 . Hereinafter, these buffer chambers will be referred to as a front buffer 3802 (front buffer). The front-end buffers 3802 are provided in plurality, and are positioned to be stacked on each other in the vertical direction. Another portion of the buffer chambers 3802 and 3804 is disposed between the transfer chamber 3400 and the interface module 40 hereinafter. These buffer chambers are referred to as rear buffer 3804 (rear buffer). The rear end buffers 3804 are provided in plurality, and are positioned to be stacked on each other in the vertical direction. Each of the front-end buffers 3802 and the back-end buffers 3804 temporarily stores a plurality of substrates W. As shown in FIG. The substrate W stored in the shear buffer 3802 is loaded or unloaded by the index robot 2200 and the transfer robot 3422 . The substrate W stored in the downstream buffer 3804 is carried in or carried out by the transfer robot 3422 and the first robot 4602 .

현상 블럭(30b)은 열처리 챔버(3200), 반송 챔버(3400), 그리고 액처리 챔버(3600)를 가진다. 현상 블럭(30b)의 열처리 챔버(3200), 반송 챔버(3400), 그리고 액처리 챔버(3600)는 도포 블럭(30a)의 열처리 챔버(3200), 반송 챔버(3400), 그리고 액처리 챔버(3600)와 대체로 유사한 구조 및 배치로 제공되므로, 이에 대한된다. 다만, 현상 블록(30b)에서 액처리 챔버들(3600)은 모두 동일하게 현상액을 공급하여 기판을 현상 처리하는 현상 챔버(3600)로 제공된다.The developing block 30b has a heat treatment chamber 3200 , a transfer chamber 3400 , and a liquid treatment chamber 3600 . The heat treatment chamber 3200 , the transfer chamber 3400 , and the liquid treatment chamber 3600 of the developing block 30b are the heat treatment chamber 3200 , the transfer chamber 3400 , and the liquid treatment chamber 3600 of the application block 30a . ) and is provided in a structure and arrangement substantially similar to that of However, in the developing block 30b, all of the liquid processing chambers 3600 are provided as the developing chamber 3600 for processing the substrate by supplying a developer in the same manner.

인터페이스 모듈(40)은 처리 모듈(30)을 외부의 노광 장치(50)와 연결한다. 인터페이스 모듈(40)은 인터페이스 프레임(4100), 부가 공정 챔버(4200), 인터페이스 버퍼(4400), 그리고 반송 부재(4600)를 가진다. The interface module 40 connects the processing module 30 to the external exposure apparatus 50 . The interface module 40 includes an interface frame 4100 , an additional process chamber 4200 , an interface buffer 4400 , and a transfer member 4600 .

인터페이스 프레임(4100)의 상단에는 내부에 하강기류를 형성하는 팬필터유닛이 제공될 수 있다. 부가 공정 챔버(4200), 인터페이스 버퍼(4400), 그리고 반송 부재(4600)는 인터페이스 프레임(4100)의 내부에 배치된다. 부가 공정 챔버(4200)는 도포 블럭(30a)에서 공정이 완료된 기판(W)이 노광 장치(50)로 반입되기 전에 소정의 부가 공정을 수행할 수 있다. 선택적으로 부가 공정 챔버(4200)는 노광 장치(50)에서 공정이 완료된 기판(W)이 현상 블럭(30b)으로 반입되기 전에 소정의 부가 공정을 수행할 수 있다. 일 예에 의하면, 부가 공정은 기판(W)의 에지 영역을 노광하는 에지 노광 공정, 또는 기판(W)의 상면을 세정하는 상면 세정 공정, 또는 기판(W)의 하면을 세정하는 하면 세정공정일 수 있다. 부가 공정 챔버(4200)는 복수 개가 제공되고, 이들은 서로 적층되도록 제공될 수 있다. 부가 공정 챔버(4200)는 모두 동일한 공정을 수행하도록 제공될 수 있다. 선택적으로 부가 공정 챔버(4200)들 중 일부는 서로 다른 공정을 수행하도록 제공될 수 있다.A fan filter unit for forming a descending airflow therein may be provided at an upper end of the interface frame 4100 . The additional process chamber 4200 , the interface buffer 4400 , and the transfer member 4600 are disposed inside the interface frame 4100 . The additional process chamber 4200 may perform a predetermined additional process before the substrate W, which has been processed in the application block 30a, is loaded into the exposure apparatus 50 . Optionally, the additional process chamber 4200 may perform a predetermined additional process before the substrate W, which has been processed in the exposure apparatus 50 , is loaded into the developing block 30b. According to one example, the additional process is an edge exposure process of exposing the edge region of the substrate W, a top surface cleaning process of cleaning the upper surface of the substrate W, or a bottom surface cleaning process of cleaning the lower surface of the substrate W can A plurality of additional process chambers 4200 may be provided, and these may be provided to be stacked on each other. All of the additional process chambers 4200 may be provided to perform the same process. Optionally, some of the additional process chambers 4200 may be provided to perform different processes.

인터페이스 버퍼(4400)는 도포 블럭(30a), 부가 공정챔버(4200), 노광 장치(50), 그리고 현상 블럭(30b) 간에 반송되는 기판(W)이 반송도중에 일시적으로 머무르는 공간을 제공한다. 인터페이스 버퍼(4400)는 복수 개가 제공되고, 복수의 인터페이스 버퍼들(4400)은 서로 적층되게 제공될 수 있다.The interface buffer 4400 provides a space in which the substrate W transferred between the application block 30a, the additional process chamber 4200, the exposure apparatus 50, and the developing block 30b temporarily stays during the transfer. A plurality of interface buffers 4400 may be provided, and a plurality of interface buffers 4400 may be provided to be stacked on each other.

일 예에 의하면, 반송 챔버(3400)의 길이 방향의 연장선을 기준으로 일 측면에는 부가 공정 챔버(4200)가 배치되고, 다른 측면에는 인터페이스 버퍼(4400)가 배치될 수 있다.According to an example, the additional process chamber 4200 may be disposed on one side of the transfer chamber 3400 along the lengthwise extension line, and the interface buffer 4400 may be disposed on the other side thereof.

반송 부재(4600)는 도포 블럭(30a), 부가 공정챔버(4200), 노광 장치(50), 그리고 현상 블럭(30b) 간에 기판(W)을 반송한다. 반송 부재(4600)는 1개 또는 복수 개의 로봇으로 제공될 수 있다. 일 예에 의하면, 반송 부재(4600)는 제1로봇(4602) 및 제2로봇(4606)을 가진다. 제1로봇(4602)은 도포 블럭(30a), 부가 공정챔버(4200), 그리고 인터페이스 버퍼(4400) 간에 기판(W)을 반송하고, 인터페이스 로봇(4606)은 인터페이스 버퍼(4400)와 노광 장치(50) 간에 기판(W)을 반송하고, 제2로봇(4604)은 인터페이스 버퍼(4400)와 현상 블럭(30b) 간에 기판(W)을 반송하도록 제공될 수 있다.The transfer member 4600 transfers the substrate W between the application block 30a, the addition process chamber 4200, the exposure apparatus 50, and the developing block 30b. The transfer member 4600 may be provided as one or a plurality of robots. According to an example, the conveying member 4600 includes a first robot 4602 and a second robot 4606 . The first robot 4602 transfers the substrate W between the application block 30a, the additional process chamber 4200, and the interface buffer 4400, and the interface robot 4606 uses the interface buffer 4400 and the exposure apparatus ( 50), and the second robot 4604 may be provided to transfer the substrate W between the interface buffer 4400 and the developing block 30b.

제1로봇(4602) 및 제2로봇(4606)은 각각 기판(W)이 놓이는 핸드를 포함하며, 핸드는 전진 및 후진 이동, 제3 방향(16)에 평행한 축을 기준으로 한 회전, 그리고 제3 방향(16)을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다. The first robot 4602 and the second robot 4606 each include a hand on which the substrate W is placed, and the hand moves forward and backward, rotates about an axis parallel to the third direction 16, and It may be provided to be movable along three directions (16).

인덱스 로봇(2200), 제1로봇(4602), 그리고 제2 로봇(4606)의 핸드는 모두 반송 로봇(3422)의 핸드(3420)와 동일한 형상으로 제공될 수 있다. 선택적으로 열처리 챔버의 반송 플레이트(3240)와 직접 기판(W)을 주고받는 로봇의 핸드는 반송 로봇(3422)의 핸드(3420)와 동일한 형상으로 제공되고, 나머지 로봇의 핸드는 이와 상이한 형상으로 제공될 수 있다.The hands of the index robot 2200 , the first robot 4602 , and the second robot 4606 may all have the same shape as the hand 3420 of the transfer robot 3422 . Optionally, the hand of the robot directly exchanging the substrate W with the transfer plate 3240 of the heat treatment chamber is provided in the same shape as the hand 3420 of the transfer robot 3422, and the hands of the other robot are provided in a different shape. can be

일 실시예에 의하면, 인덱스 로봇(2200)은 도포 블럭(30a)에 제공된 전단 열처리 챔버(3200)의 가열 유닛(3230)과 직접 기판(W)을 주고받을 수 있도록 제공된다. According to one embodiment, the index robot 2200 is provided to directly exchange the substrate W with the heating unit 3230 of the front heat treatment chamber 3200 provided in the application block 30a.

또한, 도포 블럭(30a) 및 현상 블럭(30b)에 제공된 반송 로봇(3422)은 열처리 챔버(3200)에 위치된 반송 플레이트(3240)와 직접 기판(W)을 주고받을 수 있도록 제공될 수 있다. In addition, the transfer robot 3422 provided in the application block 30a and the developing block 30b may be provided to directly transfer the substrate W with the transfer plate 3240 located in the heat treatment chamber 3200 .

다음에는 상술한 기판 처리 장치(1)를 이용하여 기판을 처리하는 방법의 일 실시예에 대해 설명한다. Next, an embodiment of a method of processing a substrate using the above-described substrate processing apparatus 1 will be described.

기판(W)에 대해 도포 처리 공정(S20), 에지 노광 공정(S40), 노광 공정(S60), 그리고 현상 처리 공정(S80)이 순차적으로 수행된다. A coating process ( S20 ), an edge exposure process ( S40 ), an exposure process ( S60 ), and a developing process ( S80 ) are sequentially performed on the substrate W .

도포 처리 공정(S20)은 열처리 챔버(3200)에서 열처리 공정(S21), 전단 액처리 챔버(3602)에서 반사방지막 도포 공정(S22), 열처리 챔버(3200)에서 열처리 공정(S23), 후단 액처리 챔버(3604)에서 포토레지스트막 도포 공정(S24), 그리고 열처리 챔버(3200)에서 열처리 공정(S25)이 순차적으로 이루어짐으로써 수행된다. The coating treatment process (S20) is a heat treatment process (S21) in the heat treatment chamber 3200, an anti-reflection film application process (S22) in the front stage liquid treatment chamber 3602, a heat treatment process (S23) in the heat treatment chamber 3200, and a subsequent liquid treatment The photoresist film coating process ( S24 ) in the chamber 3604 and the heat treatment process ( S25 ) in the heat treatment chamber 3200 are sequentially performed.

이하, 용기(10)에서 노광 장치(50)까지 기판(W)의 반송 경로의 일 예를 설명한다. Hereinafter, an example of the transport path of the substrate W from the container 10 to the exposure apparatus 50 will be described.

인덱스 로봇(2200)은 기판(W)을 용기(10)에서 꺼내서 전단 버퍼(3802)로 반송한다. 반송 로봇(3422)은 전단 버퍼(3802)에 보관된 기판(W)을 전단 열처리 챔버(3200)로 반송한다. 기판(W)은 반송 플레이트(3240)에 의해 가열 유닛(3230)에 기판(W)을 반송한다. 가열 유닛(3230)에서 기판의 가열 공정이 완료되면, 반송 플레이트(3240)는 기판을 냉각 유닛(3220)으로 반송한다. 반송 플레이트(3240)는 기판(W)을 지지한 상태에서, 냉각 유닛(3220)에 접촉되어 기판(W)의 냉각 공정을 수행한다. 냉각 공정이 완료되면, 반송 플레이트(3240)가 냉각 유닛(3220)의 상부로 이동되고, 반송 로봇(3422)은 열처리 챔버(3200)에서 기판(W)을 반출하여 전단 액처리 챔버(3602)로 반송한다. The index robot 2200 takes the substrate W out of the container 10 and transfers it to the shear buffer 3802 . The transfer robot 3422 transfers the substrate W stored in the front-end buffer 3802 to the front-end heat treatment chamber 3200 . The substrate W is transferred to the heating unit 3230 by the transfer plate 3240 . When the heating process of the substrate in the heating unit 3230 is completed, the transfer plate 3240 transfers the substrate to the cooling unit 3220 . The transfer plate 3240 is in contact with the cooling unit 3220 while supporting the substrate W to perform a cooling process of the substrate W. When the cooling process is completed, the transfer plate 3240 is moved to the upper part of the cooling unit 3220 , and the transfer robot 3422 takes out the substrate W from the heat treatment chamber 3200 and moves it to the front stage liquid treatment chamber 3602 . return it

전단 액처리 챔버(3602)에서 기판(W) 상에 반사 방지막을 도포한다. An anti-reflection film is applied on the substrate W in the front stage liquid processing chamber 3602 .

반송 로봇(3422)이 전단 액처리 챔버(3602)에서 기판(W)을 반출하여 열처리 챔버(3200)로 기판(W)을 반입한다. 열처리 챔버(3200)에는 상술한 가열 공정 및 냉각 공정 순차적으로 진행되고, 각 열처리 공정이 완료되면, 반송 로봇(3422)은 기판(W)을 반출하여 후단 액처리 챔버(3604)로 반송한다. The transfer robot 3422 unloads the substrate W from the front stage liquid processing chamber 3602 and carries the substrate W into the heat treatment chamber 3200 . In the heat treatment chamber 3200 , the above-described heating process and cooling process are sequentially performed, and when each heat treatment process is completed, the transfer robot 3422 takes out the substrate W and transfers it to the downstream liquid treatment chamber 3604 .

이후, 후단 액처리 챔버(3604)에서 기판(W) 상에 포토레지스트막을 도포한다. Thereafter, a photoresist film is applied on the substrate W in the downstream liquid processing chamber 3604 .

반송 로봇(3422)이 후단 액처리 챔버(3604)에서 기판(W)을 반출하여 열처리 챔버(3200)으로 기판(W)을 반입한다. 열처리 챔버(3200)에는 상술한 가열 공정 및 냉각 공정이 순차적으로 진행되고, 각 열처리 공정이 완료되면, 반송 로봇(3422)은 기판(W)을 후단 버퍼(3804)로 반송한다. 인터페이스 모듈(40)의 제1로봇(4602)이 후단 버퍼(3804)에서 기판(W)을 반출하여 보조 공정챔버(4200)로 반송한다. The transfer robot 3422 unloads the substrate W from the downstream liquid processing chamber 3604 and carries the substrate W into the heat treatment chamber 3200 . The above-described heating process and cooling process are sequentially performed in the heat treatment chamber 3200 , and when each heat treatment process is completed, the transfer robot 3422 transfers the substrate W to the downstream buffer 3804 . The first robot 4602 of the interface module 40 unloads the substrate W from the downstream buffer 3804 and transports it to the auxiliary process chamber 4200 .

보조 공정챔버(4200)에서 기판(W)에 대해 에지 노광 공정이 수행된다.An edge exposure process is performed on the substrate W in the auxiliary process chamber 4200 .

이후, 제1로봇(4602)이 보조 공정챔버(4200)에서 기판(W)을 반출하여 인터페이스 버퍼(4400)로 기판(W)을 반송한다.Thereafter, the first robot 4602 unloads the substrate W from the auxiliary process chamber 4200 and transfers the substrate W to the interface buffer 4400 .

이후, 제2로봇(4606)은 인터페이스 버퍼(4400)에서 기판(W)을 반출하여 노광 장치(50)로 반송한다.Thereafter, the second robot 4606 unloads the substrate W from the interface buffer 4400 and transfers it to the exposure apparatus 50 .

현상 처리 공정(S80)은 열처리 챔버(3200)에서 열처리 공정(S81), 액처리 챔버(3600)에서 현상 공정(S82), 그리고 열처리 챔버(3200)에서 열처리 공정(S83)이 순차적으로 이루어짐으로써 수행된다. The developing process ( S80 ) is performed by sequentially performing the heat treatment process ( S81 ) in the heat treatment chamber 3200 , the developing process ( S82 ) in the liquid treatment chamber 3600 , and the heat treatment process ( S83 ) in the heat treatment chamber 3200 . do.

이하, 노광 장치(50)에서 용기(10)까지 기판(W)의 반송 경로의 일 예를 설명한다, Hereinafter, an example of a transport path of the substrate W from the exposure apparatus 50 to the container 10 will be described.

제2로봇(4606)이 노광 장치(50)에서 기판(W)을 반출하여 인터페이스 버퍼(4400)로 기판(W)을 반송한다.The second robot 4606 unloads the substrate W from the exposure apparatus 50 and transfers the substrate W to the interface buffer 4400 .

이후, 제1로봇(4602)이 인터페이스 버퍼(4400)에서 기판(W)을 반출하여 후단 버퍼(3804)로 기판(W)을 반송한다. 반송 로봇(3422)은 후단 버퍼(3804)에서 기판(W)을 반출하여 열처리 챔버(3200)로 기판(W)을 반송한다. 열처리 챔버(3200)에는 기판(W)의 가열 공정 및 냉각 공정이 순차적으로 수행한다. 냉각 공정이 완료되면, 기판(W)은 반송 로봇(3422)에 의해 현상 챔버(3600)로 반송한다. Thereafter, the first robot 4602 unloads the substrate W from the interface buffer 4400 and transfers the substrate W to the downstream buffer 3804 . The transfer robot 3422 transfers the substrate W to the heat treatment chamber 3200 by unloading the substrate W from the downstream buffer 3804 . In the heat treatment chamber 3200 , a heating process and a cooling process of the substrate W are sequentially performed. When the cooling process is completed, the substrate W is transferred to the developing chamber 3600 by the transfer robot 3422 .

현상 챔버(3600)에는 기판(W) 상에 현상액을 공급하여 현상 공정을 수행한다. A developing process is performed by supplying a developer onto the substrate W to the developing chamber 3600 .

기판(W)은 반송 로봇(3422)에 의해 현상 챔버(3600)에서 반출되어 열처리 챔버(3200)로 반입된다. 기판(W)은 열처리 챔버(3200)에서 가열 공정 및 냉각 공정이 순차적으로 수행된다. 냉각 공정이 완료되면, 기판(W)은 반송 로봇(3422)에 의해 열처리 챔버(3200)에서 기판(W)을 반출되어 전단 버퍼(3802)로 반송한다. The substrate W is unloaded from the developing chamber 3600 by the transfer robot 3422 and loaded into the heat treatment chamber 3200 . A heating process and a cooling process are sequentially performed on the substrate W in the heat treatment chamber 3200 . When the cooling process is completed, the substrate W is unloaded from the heat treatment chamber 3200 by the transfer robot 3422 and transferred to the front end buffer 3802 .

이후, 인덱스 로봇(2200)이 전단 버퍼(3802)에서 기판(W)을 꺼내어 용기(10)로 반송한다. Thereafter, the index robot 2200 takes out the substrate W from the shear buffer 3802 and transfers it to the container 10 .

상술한 기판 처리 장치(1)의 처리 블럭은 도포 처리 공정과 현상 처리 공정을 수행하는 것으로 설명하였다. 그러나 이와 달리 기판 처리 장치(1)는 인터페이스 모듈 없이 인덱스 모듈(20)과 처리 블럭(37)만을 구비할 수 있다. 이 경우, 처리 블럭(37)은 도포 처리 공정만을 수행하고, 기판(W) 상에 도포되는 막은 스핀 온 하드마스크막(SOH)일 수 있다.The processing block of the above-described substrate processing apparatus 1 has been described as performing a coating processing process and a developing processing process. However, unlike this, the substrate processing apparatus 1 may include only the index module 20 and the processing block 37 without an interface module. In this case, the processing block 37 performs only the coating process, and the film applied on the substrate W may be a spin-on hard mask film (SOH).

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 상술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내어 설명하는 것이며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 저술한 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 최선의 상태를 설명하는 것이며, 본 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The above detailed description is illustrative of the present invention. In addition, the above description shows and describes preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications, and environments. That is, changes or modifications are possible within the scope of the concept of the invention disclosed herein, the scope equivalent to the written disclosure, and/or within the scope of skill or knowledge in the art. The written embodiment describes the best state for implementing the technical idea of the present invention, and various changes required in the specific application field and use of the present invention are possible. Therefore, the detailed description of the present invention is not intended to limit the present invention to the disclosed embodiments. Also, the appended claims should be construed as including other embodiments.

1100: 챔버 1110: 처리 공간
1900: 제어기 3210: 하우징
3212: 내부 공간 3220: 냉각 유닛
32320(1000): 가열 유닛 3250: 기류 형성 유닛
D₁; 제1거리 D₂; 제1거리1100: chamber 1110: processing space
1900: controller 3210: housing
3212: interior space 3220: cooling unit
32320 (1000): heating unit 3250: airflow forming unit
D ₁ ; first distance D ₂ ; first street

Claims

A method of cooling a heating plate disposed in a processing space of a chamber to heat a substrate, the method comprising:
In the processing space, the processing space is opened to remove the substrate, and an airflow formed outside the processing space is introduced into the processing space to cool the heating plate,
A method for cooling the heating plate, wherein a flow velocity of an airflow formed outside the processing space when cooling the heating plate is provided faster than a flow velocity of an airflow formed outside of the processing space when processing the substrate in the processing space.

delete

According to claim 1,
The processing space is formed by a combination of an upper body and a lower body,
The opening and closing of the processing space is made by the elevation of the upper body or the lower body,
and a distance between the upper body and the lower body when cooling the heating plate is provided to be greater than the distance between the upper body and the lower body when processing the substrate in the processing space.

5. The method of claim 4,
Substrates belonging to the first group are heat-treated to a first temperature by the heating plate,
The cooling of the heating plate is made after the heat treatment is finished for the substrates belonging to the first group,
While the heat treatment is performed on the substrates belonging to the first group, the power connected to the heater provided to the heating plate is continuously turned on,
A heating plate cooling method of turning off the power when cooling the heating plate.

A housing having an internal space, a heating unit disposed in the internal space and having a processing space for heating and processing a substrate, a cooling unit disposed in the internal space for cooling the substrate, and an airflow forming in the internal space A method of processing the substrate using an apparatus comprising a unit, the method comprising:
heating the substrate by placing the substrate on a heating plate of the heating unit;
cooling the heating plate after removing the substrate from the processing space;
In the cooling step, the processing space is opened, and the airflow formed outside the processing space flows into the processing space to cool the heating plate,
In the cooling step, a flow rate of the air stream is provided faster than in the heat treatment step.

delete

7. The method of claim 6,
The processing space is formed by a combination of an upper body and a lower body,
The opening and closing of the processing space is made by the elevation of the upper body or the lower body,
The spaced distance between the upper body and the lower body in the cooling step is provided to be greater than the spaced distance in the heat treatment step.

An apparatus for processing a substrate, comprising:
a housing having an interior space;
a heating unit disposed in the inner space and heat-processing the substrate;
an airflow forming unit for forming an airflow in the inner space;
a controller for controlling the heating unit and the airflow forming unit;
The heating unit is
a chamber having a processing space therein;
a heating plate for heating the substrate in the processing space;
The controller opens the processing space to the interior space so that an airflow formed in the interior space flows into the processing space when the heating plate is cooled in a state in which the substrate is removed from the processing space, and by the airflow, the heating plate to cool,
and controlling the heating unit and the airflow forming unit such that a flow velocity of the airflow is faster when cooling the heating plate than when heating the substrate in the processing space.

delete

10. The method of claim 9,
The chamber is
an upper body and a lower body combined with each other to form the processing space therein;
The heating unit is
Further comprising a lifting unit for adjusting the relative height between the upper body and the lower body by elevating one of the lower body and the upper body,
and the controller controls the lifting unit so that a separation distance between the lower body and the upper body when cooling the heating plate is greater than the separation distance when processing the substrate in the processing space.

12. The method of claim 11,
The heating plate is
a support plate on which the substrate is placed;
a heater for heating the substrate placed on the support plate;
Including a power source for turning the heater on (On) or off (Off),
The controller turns off the heater when cooling the heating plate, and turns on the heater while heat treatment of the substrates belonging to the first group is continuously performed in the processing space. .

12. The method of claim 11,
The airflow forming unit,
a fan unit supplying air to the inner space;
an exhaust unit exhausting the interior space;
A substrate processing apparatus in which the heating unit and the cooling unit are positioned between the fan unit and the exhaust unit when viewed from above.

14. The method of claim 13,
A carry-out port through which the substrate is carried in and out is formed on one side wall of the housing,
The fan unit is located closer to the inlet than the exhaust unit,
the cooling unit is located closer to the fan unit than the heating unit,
wherein the heating unit is located closer to the exhaust unit than to the cooling unit.

15. The method of claim 14,
When viewed from above, the fan unit, the cooling unit, the heating unit, and the exhaust unit are sequentially arranged in one direction.