KR102385668B1 - 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치 및 교정 방법 - Google Patents

3차원 영상 검사 장비의 교정 장치 및 교정 방법 Download PDF

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Abstract

3차원 영상 검사 장비의 교정 장치는 제1 패턴으로 배열된 제1 비드들을 포함하는 제1 비드 그룹, 및 제1 패턴과 상이한 제2 패턴으로 배열된 제2 비드들을 포함하는 제2 비드 그룹을 포함하되, 제1 및 제2 비드 그룹들은 서로 상이한 교차율(Cross Ratio)들 또는 서로 상이한 부분 비율(Segment Ratio)들을 갖고, 제1 비드들은 일렬로 배열되고, 제2 비드들은 일렬로 배열된다.

Description

3차원 영상 검사 장비의 교정 장치 및 교정 방법{CALIBRATION DEVICE AND CALIBRATION METHOD FOR CALIBRATING 3 DIMENSION IMAGING EXAMINATION DEVICE}
본 발명은 영상 검사 장비의 교정 장치 및 영상 검사 장비의 교정 방법에 관한 것이다.
3차원 영상 검사 장비는 미리 정해진 원형 궤도를 돌며 물체를 촬영할 수 있다. 상기 검사 장비의 갠트리(gantry)가 정확한 원형 궤도를 따라 회전하게 되면, 소스, 디텍터 및 피사체 사이의 위치관계는 몇 가지 파라미터로 (예를 들어, 갠트리 회전각, 소스-디텍터 거리, 소스-회전축 거리, 디텍터 회전각 등의 파라미터들) 간단하게 정의될 수 있다. 상기 파라미터가 정확할 경우, 디텍터에 의해 검출된 2차원 이미지는 용이하게 3차원 이미지로 재건될 수 있다. 그러나 갠트리는 크고 무겁기 때문에 완전한 원형 궤도를 따라 회전하게 만드는 것이 쉬운 일이 아니다. 예를 들어, 구조적으로 처짐이나 변형이 발생하기 쉬워 소스, 디텍터 및 피사체 사이의 위치관계는 갠트리 회전각과 몇몇 파라미터들로 간단하게 기술되지 않는다. 구조적 처짐이나 변형이 발생하였음에도, 갠트리 회전각과 몇몇 파라미터를 이용하여 3차원 이미지를 재건할 경우, 이미지의 초점이 흐려지게 된다.
그런데 엑스선 소스, 디텍터 및 피사체 사이의 위치관계가 회전각 및 몇몇 파라미터에 의해 기술되지 않는다 하여도, 갠트리의 회전 궤적이 충분하게 반복적이라면, 영상 검사 장비는 간단하고 정밀하게 기하학적으로 보정될 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는 투영 영상에서 비드들이 용이하게 분리 인식되는 장치 및 방법을 제공하는 것에 있다.
다만, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 상기 개시에 한정되지 않는다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치는 제1 패턴으로 배열된 제1 비드들을 포함하는 제1 비드 그룹; 및 상기 제1 패턴과 상이한 제2 패턴으로 배열된 제2 비드들을 포함하는 제2 비드 그룹을 포함하되, 상기 제1 및 제2 비드 그룹들은 서로 상이한 교차율(Cross Ratio)들 또는 서로 상이한 부분 비율(Segment Ratio)들을 갖고, 상기 제1 비드들은 일렬로 배열되고, 상기 제2 비드들은 일렬로 배열될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 다각 기둥 형상을 갖는 몸체를 더 포함하되, 상기 몸체는 사각 형상을 갖는 제1 측면 및 제2 측면을 포함하고, 상기 제1 및 제2 비드 그룹들은 상기 제1 및 제2 측면들 상에 각각 제공될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 제1 비드들은 상기 제1 측면의 제1 꼭지점으로부터 제1 대각선 방향으로 마주하는 제2 꼭지점을 향하는 제1 직선 방향으로 배열되고, 상기 제2 비드들은 상기 제2 측면의 제3 꼭지점으로부터 제2 대각선 방향으로 마주하는 제4 꼭지점을 향하는 제2 직선 방향으로 배열될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 제1 비드들은 적어도 4개이고, 상기 제2 비드들은 적어도 4개일 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 제1 비드들 사이의 배열 간격들은 상기 제2 비드들 사이의 배열 간격들과 다를 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 다면체 형상을 갖는 몸체를 더 포함하되, 상기 몸체는 서로 다른 제1 측면 및 제2 측면을 포함하고, 상기 제1 및 제2 비드 그룹들은 상기 제1 및 제2 측면들 상에 각각 제공될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 제1 및 제2 측면들의 각각은 삼각형일 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 제1 비드들은 상기 제1 측면의 제1 꼭지점으로부터 상기 제1 꼭지점과 마주하는 변의 중심을 향하는 제1 직선 방향으로 배열되고, 상기 제2 비드들은 상기 제2 측면의 제2 꼭지점으로부터 상기 제2 꼭지점과 마주하는 변의 중심을 향하는 제2 직선 방향으로 배열될 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 3차원 영상 검사 장비의 교정 방법은 복수의 비드 그룹들에 대한 투영 이미지를 형성하는 것; 상기 투영 이미지로부터 복수의 투영 그룹들을 결정하는 것; 상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것; 및 상기 복수의 투영 그룹들과 상기 복수의 비드 그룹들의 대응 정보에 기초하여, 투영 행렬을 구하는 것을 포함하되, 상기 복수의 비드 그룹들의 각각은 일렬로 배열된 복수의 비드들을 포함하고, 상기 복수의 투영 그룹들의 각각은 일렬로 배열된 복수의 투영 비드들을 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것은: 상기 복수의 비드 그룹들의 각각의 부분 비율을 이용하여 수행될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것은: 상기 복수의 투영 그룹들 중 하나를 형성하는 가상의 비드 그룹들을 제공하는 것; 상기 가상의 비드 그룹들의 제1 부분 비율들에 대한 데이터를 생성하는 것; 상기 복수의 비드 그룹들의 제2 부분 비율들에 대한 데이터를 생성하는 것; 상기 복수의 비드 그룹들 중 일 비드 그룹을 선택하되, 상기 선택된 비드 그룹의 제2 부분 비율은 상기 제1 부분 비율들의 각각과의 차이가 최소가 되는 것; 및 상기 선택된 비드 그룹을 상기 복수의 투영 그룹들 중 상기 하나에 대응시키는 것을 포함하되, 상기 가상의 비드 그룹들의 각각은 일렬로 배열되는 가상의 비드들을 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 가상의 비드 그룹들을 제공하는 것은: 가상의 소스부를 제공하는 것; 상기 복수의 투영 그룹들 중 상기 하나에 포함된 복수의 투영 비드들과 상기 가상의 소스부를 연결하는 가상의 광 경로들을 제공하는 것; 상기 가상의 광 경로들을 지나는 가상의 비드선들을 제공하는 것; 및 상기 가상의 비드선들의 각각과 상기 가상의 광 경로들의 교차점들에 상기 가상의 비드들을 배치하는 것을 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 복수의 투영 그룹들 중 상기 하나에 포함된 상기 복수의 투영 비드들은 일 직선에 의해 서로 연결되되, 상기 가상의 소스부는 상기 직선의 중심으로부터 수직한 방향으로 이격되도록 제공될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것은: 상기 복수의 비드 그룹들의 교차율들과 상기 복수의 투영 그룹들의 교차율들을 이용하여 수행될 수 있다.
예시적인 실시예들에 따르면, 상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것은: 상기 복수의 투영 그룹들의 교차율들에 대한 데이터를 생성하는 것; 상기 복수의 비드 그룹들의 교차율들에 대한 데이터를 생성하는 것; 및 상기 복수의 투영 그룹들과 상기 복수의 비드 그룹들 중, 서로 동일한 교차율을 갖는 투영 그룹과 비드 그룹을 선택하는 것을 포함할 수 있다.
본 발명의 개념에 따르면, 정밀한 투영 행렬의 해가 획득될 수 있다.
본 발명의 개념에 따르면, 비드들이 디텍터부 상에 서로 분리되어 투영될 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 개시에 한정되지 않는다.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 3차원 영상 검사 장비의 교정 시스템의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 팬텀부의 사시도이다.
도 3은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 투영 이미지의 개념도이다.
도 4는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 3차원 영상 검사 장비의 교정 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 5는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 부분 비율을 이용하여 비드 그룹들과 투영 그룹들의 대응시키는 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 6 내지 도 9은 도 5의 대응 과정을 설명하기 위한 개념도들이다.
도 10은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 교차율을 이용하여 비드 그룹들과 투영 그룹들의 대응시키는 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 11은 도 10의 대응 과정을 설명하기 위한 개념도이다.
도 12는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 팬텀의 사시도이다.
본 발명의 기술적 사상의 구성 및 효과를 충분히 이해하기 위하여, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 기술적 사상의 바람직한 실시예들을 설명한다. 그러나 본 발명 기술적 사상은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라, 여러 가지 형태로 구현될 수 있고 다양한 변경을 가할 수 있다. 단지, 본 실시예들의 설명을 통해 본 발명의 기술적 사상의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위하여 제공되는 것이다.
명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호로 표시된 부분은 동일한 구성요소들을 나타낸다. 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 기술적 사상의 이상적인 예시도인 단면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서, 도면에서 예시된 영역들은 개략적인 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 소자의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다. 본 명세서의 다양한 실시예들에서 다양한 용어가 다양한 구성요소들을 기술하기 위해서 사용되었지만, 이들 구성요소들이 이 같은 용어들에 의해서 한정되어서는 안 된다. 이들 용어들은 단지 어느 구성요소를 다른 구성요소와 구별시키기 위해서 사용되었을 뿐이다. 여기에 설명되고 예시되는 실시예들은 그것의 상보적인 실시예들도 포함한다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소는 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 기술적 사상의 바람직한 실시예들을 설명함으로써 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 3차원 영상 검사 장비의 교정 시스템의 블록도이다. 도 2는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 팬텀의 사시도이다. 도 3은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 투영 이미지의 개념도이다.
도 1을 참조하면, 소스부(100), 팬텀부(200), 디텍터부(300), 및 제어부(400)를 포함하는 3차원 영상 검사 장비의 교정 시스템(10)이 제공될 수 있다. 소스부(100)는 팬텀부(200)를 향해 방사선(110)을 방출하도록, 제어부(400)에 의해 제어될 수 있다. 예를 들어, 방사선(110)은 x선일 수 있다.
도 2를 참조하면, 팬텀부(200)는 몸체(210) 및 상기 몸체(210)의 표면에 배치된 비드들(220)을 포함할 수 있다. 예시적인 실시예들에서, 몸체(210)는 n각 기둥 형상을 가질 수 있다. 이때, n은 3 이상의 정수일 수 있다. 이하에서 설명되는 몸체(210)는 오각 기둥 형상을 가질 수 있다. 몸체(210)의 상면(212) 및 바닥면(214)은 각각 오각형일 수 있다. 상기 상면(212) 및 바닥면(214)은 수직적으로 서로 완전히 중첩될 수 있다. 몸체(210)는 비드(220)보다 방사선(110)을 조금 흡수하는 물질을 포함할 수 있다. 포함할 수 있다. 예를 들어, 몸체(210)는 플라스틱을 포함할 수 있다.
비드들(220)은 몸체(210)의 측면들(216) 상에 제공될 수 있다. 비드들(220)은 몸체(210)의 방사선 흡수율보다 높은 방사선 흡수율을 갖는 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 비드들(220)은 전이금속(예를 들어, 철(Fe), 니켈(Ni), 구리(Cu), 탄탈륨(Ta), 텅스텐(W), 금(Au)), 전이후금속(예를 들어, 납(Pb), 탈륨금속(Tl)), 또는 이들의 합금을 포함할 수 있다. 몸체(210)와 비드들(220)은 서로 다른 방사선 흡수율을 가지므로, 디텍터부(300) 상에 투영된 이미지 상에서 구별될 수 있다.
측면들(216)의 각각에 적어도 4 개의 비드들(220)이 제공될 수 있다. 이하에선 측면들(216)의 각각에 제공된 4개의 비드들(220)을 포함하는 팬텀부(200)가 설명된다. 상기 4개의 비드들(220)은 일렬로 배열될 수 있다. 예를 들어, 상기 비드들(220)은 측면들(216)의 각각의 제1 꼭지점으로부터 상기 제1 꼭지점과 대각선 방향으로 마주보는 제2 꼭지점을 향하는 직선 방향으로 배열될 수 있다. 측면들(216)의 각각에 제공된 점선은 4개의 비드들(220)이 일렬로 배열된다는 것을 보여주기 위해 도시된 가상의 선이다.
측면들(216)의 각각에 제공된 4개의 비드들(220)은 비드 그룹으로 정의될 수 있다. 측면들(216) 상에 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)이 각각 제공될 수 있다. 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5) 중 하나의 비드 그룹(일예로 제1 비드 그룹(BG1))의 비드들(220)은, 나머지 비드 그룹들(일예로, 제2 내지 제5 비드 그룹들(BG2-BG5))의 각각의 비드들(220)과 다른 '부분 비율들(Segment Ratio)' 및 다른 '교차율들(Cross Ratio)'을 가지도록 배치될 수 있다. 즉, 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5) 중 하나의 비드 그룹(일예로 제1 비드 그룹(BG1))의 비드들(220)의 배열 패턴은 나머지 비드 그룹들(일예로, 제2 내지 제5 비드 그룹들(BG2-BG5))의 각각의 비드들(220)의 배열 패턴과 다를 수 있다. 예를 들어, 제1 비드 그룹(BG1)의 비드들(220)의 배열 간격은, 제2 내지 제5 비드 그룹들(BG2 내지 BG5)의 각각의 비드들(220)의 배열 간격과 다를 수 있다. 부분 비율들 및 교차율들은 상세히 후술된다. 본 명세서에서, 팬텀부(200)는 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치로 지칭될 수 있다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 디텍터부(300)는 팬텀부(200)를 관통한 방사선(110)을 수용하여, 투영 이미지를 생성할 수 있다. 투영 이미지는 비드들(220)이 디텍터부(300) 상에 투영되어 형성된 투영 비드들(PB)을 포함할 수 있다. 도시된 투영 이미지는 예시적인 것이므로, 한정적으로 해석되어서는 안 된다. 소스부(100)과 디텍터부(300)는 팬텀부(200) 주위를 회전하며, 복수의 투영 이미지들을 생성할 수 있다.
제어부(400)는 투영 비드들(PB)을 제1 투영 그룹(PG1) 내지 제5 투영 그룹(PG5)으로 그룹화할 수 있다. 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5)의 각각의 투영 비드들(PB)은 일렬로 배열될 수 있다. 디텍터부(300) 상에 도시된 점선들은 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5)의 투영 비드들(PB)이 일렬로 배열되는 것을 나타내기 위해 도시된 가상의 선들이다. 제어부(400)는 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5)을 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)에 각각 대응시킬 수 있다. 예를 들어, 제3 비드 그룹(BG3)이 디텍터부(300) 상에 투영되어, 제1 투영 그룹(PG1)을 형성한 경우, 제어부(400)는 상기 제1 투영 그룹(PG1)을 상기 제3 비드 그룹(BG3)에 대응시킬 수 있다. 상기 대응 과정은 상세히 후술된다.
제어부(400)는 상기 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5) 및 상기 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5) 사이의 대응 정보에 기초하여, 투영 행렬(Projection Matrix, PM) 데이터를 생성할 수 있다. 투영 행렬은 피투영체와 상기 피투영체의 투영 이미지 사이의 관계를 나타낼 수 있다. 투영 이미지는 투영 행렬에 의해 3차원 이미지로 복원(역투영)될 수 있다. 투영 행렬은 상세히 후술된다.
일반적으로, 복수의 비드들은 디텍터부 상의 동일한 위치에 투영될 수 있다. 즉, 복수의 비드들이 투영 이미지 상에서 겹쳐있는 것처럼 감지될 수 있다. 이에 따라, 정확한 투영 행렬을 얻기 어려울 수 있다.
본 발명의 개념에 따른 비드들(220)은 디텍터부(300) 상의 서로 다른 위치들에 각각 투영될 수 있다. 이에 따라, 비드들(220)은 디텍터부(300) 상에서 서로 이격되어 인식되고, 정확한 투영 행렬이 획득될 수 있다.
도 4는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 3차원 영상 검사 장비의 교정 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 5는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 부분 비율을 이용하여 비드 그룹들과 투영 그룹들의 대응시키는 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 6 내지 도 9은 도 5의 대응 과정을 설명하기 위한 개념도들이다. 설명의 명확함을 위해, 도 5 내지 도 9는 도 3의 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5) 중 제3 투영 그룹(PG3)만 도시되었다.
도 1, 도 3, 도 4를 참조하면, 소스부(100)와 디텍터부(300) 사이에 팬텀부(200)가 배치될 수 있다.(S100) 팬텀부(200)는 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)을 포함할 수 있다. 상기 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)의 각각은 4개의 비드들(220)을 포함할 수 있다. 소스부(100)로부터 방출된 방사선(110)이 팬텀부(200)를 관통하여, 디텍터부(300)에 도달할 수 있다. 디텍터부(300)는 상기 방사선(110)의 입사 위치에 관한 데이터를 생성하여, 제어부(400)에 제공할 수 있다.
제어부(400)는 상기 방사선(110)의 입사 위치에 관한 데이터에 기초하여, 투영 이미지를 생성할 수 있다.(S200) 투영 이미지는 비드들(220)이 디텍터부(300) 상에 투영되어 형성된 투영 비드들(PB)을 포함할 수 있다.
제어부(400)는 투영 비드들(PB)을 그룹화하여, 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5)을 정의할 수 있다. 이 후, 상기 제1 내지 제5 투영 그룹들(PG1 내지 PG5)과 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)을 대응시킬 수 있다.(S300) 이하에서, 투영 그룹과 비드 그룹의 대응 방법에 대해 상세히 설명된다.
도 6을 참조하면, 소스부(100), 디텍터부(300), 상기 소스부(100)와 디텍터부(300) 사이에 배치된 비드 그룹(BG), 상기 디텍터부(300) 상에 상기 비드 그룹(BG)이 투영되어 형성된 투영 그룹(PG)이 제공될 수 있다. 비드 그룹(BG)은 일렬로 배열된 4개의 비드들(220)을 포함할 수 있다. 투영 그룹(PG)은 일렬로 배열된 4개의 투영 비드들(PB)을 포함할 수 있다.
도 5 및 도 7을 참조하면, 가상의 소스부(1)가 제공될 수 있다.(S310) 가상의 소스부(1)는 가상의 광 경로(ILP)로 진행하는 가상의 방사선을 방출할 수 있다. 가상의 소스부(1)는 투영 비드들(PB) 중 서로 가장 멀리 이격된 한 쌍의 투영 비드들(PB) 사이의 중심점(CP)으로부터 디텍터부(300)의 상면에 수직한 방향으로 이격될 수 있다. 가상의 소스부(1)와 상기 한 쌍의 투영 비드들(PB) 사이의 거리들은 서로 동일할 수 있다.
제어부(400)에 의해, 투영 그룹(PG)을 생성하는 제1 가상의 비드 그룹(IBG1)이 제공될 수 있다.(S320) 제1 가상의 비드 그룹(IBG1)은 가상의 소스부(1)와 투영 비드들(PB) 사이에 배치될 수 있다. 제1 가상의 비드 그룹(IBG1)을 관통한 가상의 방사선은 디텍터부(300) 상에 투영 그룹(PG)을 형성할 수 있다. 제1 가상의 비드 그룹(IBG1)은 4개의 가상의 비드들(222)을 포함할 수 있다. 이하에서, 제1 가상의 비드 그룹(IBG1)을 형성하는 방법이 상세히 설명된다.
가상의 소스부(1)와 투영 비드들(PB)의 각각이 직선으로 연결되어, 가상의 광 경로들(ILP)을 제공할 수 있다. 이후, 상기 가상의 광 경로들(ILP)과 교차하는 직선인 제1 가상의 비드선(IBL1)이 제공될 수 있다. 상기 가상의 광 경로들(ILP)과 제1 가상의 비드선(IBL1)이 교차하여, 4개의 교차점들이 형성될 수 있다. 제1 가상의 비드 그룹(IBG1)은 상기 교차점들에 각각 배치된 가상의 비드들(222)을 포함할 수 있다.
도 8을 참조하면, 상기 가상의 광 경로들(ILP)과 교차하되, 상기 제1 가상의 비드선(IBL1)과 다른 제2 가상의 비드선(IBL2)이 제공될 수 있다. 예를 들어, 제1 가상의 비드선(IBL1)과 제2 가상의 비드선(IBL2)은 동일 평면 상에 있되, 디텍터부(300)의 상면에 대하여, 제1 가상의 비드선(IBL1)의 기울기와 제2 가상의 비드선(IBL2)의 기울기는 서로 다를 수 있다. 가상의 광 경로들(ILP)과 제2 가상의 비드선(IBL2)이 교차하여, 4개의 교차점들이 획득될 수 있다. 제2 가상의 비드 그룹(IBG2)은 상기 교차점들에 각각 배치된 가상의 비드들(222)을 포함할 수 있다.
도 9를 참조하면, 상기 가상의 광 경로들(ILP)과 교차하되, 상기 제1 및 제2 가상의 비드선들(IBL1, IBL2)과 다른 제3 가상의 비드선(IBL3)이 정의될 수 있다. 예를 들어, 제1 가상의 비드선(IBL1), 제2 가상의 비드선(IBL2), 및 제3 가상의 비드선(IBL3)은 동일 평면 상에 있되, 디텍터부(300)의 상면에 대하여, 제1 및 제2 가상의 비드선들(IBL1, IBL2)의 각각의 기울기와 제3 가상의 비드선(IBL3)의 기울기는 서로 다를 수 있다. 가상의 광 경로들(ILP)과 제3 가상의 비드선(IBL3)이 교차하여, 4개의 교차점들이 획득될 수 있다. 제3 가상의 비드 그룹(IBG3)은 상기 교차점들에 각각 배치된 제1 내지 제4 가상의 비드들(a1, a2, a3, a4)을 포함할 수 있다.
위와 동일한 방식으로, 제1 내지 제3 가상의 비드 그룹(IBG1, IBG2, IBG3) 외의 추가적인 가상의 비드 그룹들이 제공될 수 있다. 이에 따라, 투영 그룹(PG)을 형성하는 서로 다른 가상의 비드 그룹들에 대한 데이터가 생성될 수 있다. 가상의 비드 그룹들에 대한 데이터는 가상의 비드 그룹들 내에 포함되는 상기 가상의 비드들의 각각의 위치 정보를 포함할 수 있다.
제어부(400)는 상기 가상의 비드 그룹들에 대한 데이터에 기초하여, 가상의 비드 그룹들의 각각의 부분 비율에 대한 데이터를 생성할 수 있다.(S330) 도 9를 참조하여, 제1 내지 제4 가상의 비드들(a1 내지 a4)을 포함하는 제3 가상의 비드 그룹(IBG3)에 대한 부분 비율(Segment Ratio)이 설명된다.
제1 내지 제4 가상의 비드들(a1 내지 a4)의 부분 비율(Segment Ratio)은 제1 내지 제4 가상의 비드들(a1 내지 a4) 중 두 개의 가상의 비드들(예를 들어, 제1 가상의 비드(a1) 및 제4 가상의 비드(a4)) 사이의 거리와 그와 다른 두 개의 가상의 비드들(예를 들어, 제1 가상의 비드(a1) 및 제2 가상의 비드(a2)) 사이의 거리의 비율일 수 있다.
부분 비율은 다음과 같이 표현될 수 있다.
Figure 112017071149161-pat00001
(
Figure 112017071149161-pat00002
: 제1 및 제2 가상의 비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00003
: 제1 및 제4 가상의 비드들 사이의 거리)
제1 내지 제4 가상의 비드들(a1 내지 a4)로부터 서로 독립적인 제1 부분 비율 값 및 제2 부분 비율 값이 생성될 수 있다. 예를 들어, 제1 부분비율과 제2 부분비율은 아래와 같을 수 있다.
Figure 112017071149161-pat00004
(
Figure 112017071149161-pat00005
:제1 및 제2 가상의 비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00006
:제1 및 제4 가상의 비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00007
:제1 및 제3 가상의 비드들 사이의 거리)
즉, 상기 가상의 비드 그룹들의 각각의 부분 비율에 대한 데이터는 상기 가상의 비드 그룹들의 각각의 제1 부분 비율 값 및 제2 부분 비율 값을 포함할 수 있다. 제어부(400)는 도 3을 참조하여 설명된 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)의 각각의 부분 비율에 대한 데이터를 생성할 수 있다.(S340) 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5)의 각각의 각각의 부분 비율에 대한 데이터는 서로 독립적인 제3 부분 비율 값 및 제4 부분 비율 값을 포함할 수 있다. 상기 제3 및 제4 부분 비율 값들은 상기 제1 및 제2 부분 비율 값들의 생성 방식과 실질적으로 동일한 방식에 의해 생성될 수 있다. 제3 부분 비율 값은 제1 부분 비율 값에 대응되고, 제4 부분 비율 값은 제2 부분 비율 값에 대응될 수 있다. 제어부(400)는 가상의 비드 그룹들의 부분 비율들에 대한 데이터와 비드 그룹들의 부분 비율들에 대한 데이터의 차이값 데이터들을 생성할 수 있다.(S350) 상기 차이값 데이터들은 가상의 비드 그룹들의 각각의 제1 부분 비율과 비드 그룹들의 각각의 제3 부분 비율의 제1 차이값 및 가상의 비드 그룹들의 각각의 제2 부분 비율과 비드 그룹들의 각각의 제4 부분 비율의 제2 차이값을 포함할 수 있다.
제어부(400)는 제1 내지 제5 비드 그룹들(BG1 내지 BG5) 중 최소 제1 차이값 및 최소 제2 차이값을 발생시키는 하나의 비드 그룹을 선택할 수 있다. 최소 제1 차이값 및 최소 제2 차이값은 동일한 비드 그룹에서 발생될 수 있다. 제어부(400)는 상기 선택된 비드 그룹을 상기 투영 그룹에 대응되는 것으로 결정할 수 있다.(S360)
제어부(400)는 서로 대응되는 비드들(220)과 투영 비드들(PB)의 위치에 관한 데이터를 이용하여, 투영 행렬(PM)에 대한 데이터를 생성할 수 있다.(S400) 투영 행렬(PM)은 3차원 물체인 피검체(예를 들어, 비드)가 2차원 투영 이미지 상에 어떻게 투영되는지에 관한 정보를 포함할 수 있다. 투영 행렬(PM)은 3X4 행렬이고, 아래의 식으로부터 획득될 수 있다.
Figure 112017071149161-pat00008
Figure 112017071149161-pat00009
(Pnm (n: 1, 2, 또는 3, m:1, 2, 3 또는 4):투영 행렬(PM)의 성분, (x, y, z):피검체(비드)의 3차원 위치 좌표, (u, v):투영 비드의 투영 이미지 상의 2차원 좌표)
비드의 3차원 위치 좌표(x, y, z)는 미리 정해진 값이고, 투영 비드의 2차원 좌표는 측정값이다. 따라서, 상기 x, y, z, u, v의 값들을 대입한 후, 특이값 분해(Singular Value Decomposition) 방식을 적용할 경우, 투영 행렬의 해가 획득될 수 있다. 이때, (x, y, z)와 (u, v)는 각각 서로 대응되는 비드의 3차원 위치 좌표와 투영 비드의 투영 이미지 상의 2차원 위치 좌표일 수 있다. 상기 투영 행렬은 3차원 영상 검사 장비에서 2차원 투영 이미지를 3차원 상에 역투영하여, 3차원 영상으로 복원하기 위한 정보로 이용될 수 있다. 3차원 영상은 아래의 식으로부터 획득될 수 있다.
Figure 112017071149161-pat00010
(PM:투영 행렬, yc:배율(scale factor))
상기 획득된 투영 행렬(PM)과 이미 알고있는 x, y, z 값을 상기 식에 대입하여, 투영 이미지 상의 2차원 좌표값이 u, v 및 배율값인 yc를 얻을 수 있다. 따라서, 투영 행렬(PM)이 획득된 경우, 2차원 투영 이미지가 3차원 상으로 역투영될 수 있다. 이에 따라, 3차원 영상이 획득될 수 있다.
일반적으로, 3차원 영상 검사 장비를 사용함에 따라, 장비의 정렬 상태가 변할 수 있다. 이에 따라, 투영 행렬(PM)의 값이 변하여, 영상의 품질이 저하될 수 있다. 정밀한 영상을 얻기 위해선, 지속적으로 투영 행렬(PM)의 값을 보정해주어야 한다. 일반적인 3차원 영상 검사 장비 교정 방법에선 비드들이 겹쳐서 인식되어 정확한 투영 행렬(PM)의 해를 얻기 어려울 수 있다. 또한, 일반적인 3차원 영상 검사 장비 교정 방법은 복잡한 연산 과정을 거쳐야하므로, 긴 교정 시간이 요구될 수 있다.
본 발명의 개념에 따른 비드들은 투영 이미지 상에서 용이하게 분리 인식될 수 있고, 투영 그룹과 비드 그룹이 대응 정확도가 개선되어, 정밀한 투영 행렬(PM)의 해가 획득될 수 있다. 또한, 간단한 연산을 수행하여 투영 행렬(PM)이 획득되므로, 교정 시간이 단축될 수 있다.
도 10은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 교차율을 이용하여 비드 그룹들과 투영 그룹들의 대응시키는 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 11은 도 10의 대응 과정을 설명하기 위한 개념도들이다. 설명의 간결함을 위하여, 도 4 내지 도 9을 참조하여 설명된 것과 실질적으로 동일한 내용은 설명되지 않을 수 있다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 소스부(100), 디텍터부(300), 상기 소스부(100)와 디텍터부(300) 사이에 배치된 비드 그룹(BG), 상기 디텍터부(300) 상에 상기 비드 그룹(BG)이 투영되어 형성된 투영 그룹(PG)이 제공될 수 있다. 비드 그룹(BG)은 일렬로 배열된 제1 내지 제4 비드들(b1, b2, b3, b4)을 포함할 수 있다. 투영 그룹(PG)은 상기 비드 그룹(BG)이 디텍터부(300) 상에 투영된 것일 수 있다. 투영 그룹(PG)은 일렬로 배열된 제1 내지 제4 투영 비드들(PB1, PB2, PB3, PB4)을 포함할 수 있다. 디텍터부(300)는 제1 내지 제4 투영 비드들(PB1 내지 PB4)의 투영 이미지 상의 위치에 관한 데이터를 생성하여 제어부(400)에 제공할 수 있다.
제어부(400)는 비드 그룹(BG)의 교차율(Cross Ratio) 및 투영 그룹(PG)의 교차율 데이터를 생성할 수 있다.(S310A) 비드 그룹(BG)의 교차율 및 투영 그룹(PG)의 교차율은 아래의 식으로 표현될 수 있다.
Figure 112017071149161-pat00011
(
Figure 112017071149161-pat00012
:제1 및 제3 비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00013
:제2 및 제4 비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00014
:제2 및 제3 비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00015
:제1 및 제4 비드들 사이의 거리)
Figure 112017071149161-pat00016
(
Figure 112017071149161-pat00017
:제1 및 제3 투영비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00018
:제2 및 제4 투영비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00019
:제2 및 제3 투영비드들 사이의 거리,
Figure 112017071149161-pat00020
:제1 및 제4 투영비드들 사이의 거리)
한 점으로부터 서로 다른 방향으로 연장되는 복수 개의 직선들과 교차하는 제1 직선의 교차점들의 교차율 및 상기 직선들과 교차하는 제2 직선의 교차점들의 교차율은 서로 동일하다. 따라서, 비드 그룹(BG)의 교차율과 투영 그룹(PG)의 교차율은 서로 동일하다. 제어부(400)는 상기 투영 그룹(PG)을 상기 투영 그룹(PG)의 교차율과 동일한 교차율을 갖는 비드 그룹(BG)에 대응시킬 수 있다.(S320A)
본 발명의 개념에 따른 비드들은 투영 이미지 상에서 용이하게 분리 인식될 수 있고, 투영 그룹과 비드 그룹이 대응 정확도가 개선되어, 정밀한 투영 행렬의 해가 획득될 수 있다.
도 12는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 팬텀의 사시도이다. 설명의 간결함을 위해, 도 2를 참조하여 설명된 것과 실질적으로 동일한 내용은 설명되지 않을 수 있다.
도 12를 참조하면, 다면체 형상의 몸체(210)를 갖는 팬텀부(200A)가 제공될 수 있다. 상기 몸체(210)의 상면(212) 및 바닥면(214)의 각각은 오각형일 수 있다. 상기 상면(212) 및 바닥면(214)은 서로 어긋나게 마주보고 있을 수 있다. 예를 들어, 상기 상면(212) 및 바닥면(214)은 서로 수직적으로 완전히 중첩되지 않을 수 있다.
몸체(210)의 측면들(216)은 삼각형일 수 있다. 상기 측면들(216)의 각각은 상면(212)의 꼭지점 하나와 이에 바로 인접한 바닥면(214)의 한 쌍의 꼭지점들을 연결한 것 또는 상기 바닥면(214)의 꼭지점 하나와 이에 바로 인접한 상면(212)의 한 쌍의 꼭지점들을 연결한 것일 수 있다.
도 2를 참조하여 설명된 팬텀부(200)와 같이, 상기 측면들(216)의 각각에 적어도 4 개의 비드들(220)이 제공될 수 있다. 상기 4개의 비드들(220)은 일렬로 배열될 수 있다. 예를 들어, 상기 비드들(220)은 측면들(216)의 각각의 꼭지점 하나로부터 상기 꼭지점 하나와 마주하는 변의 중심을 향하는 직선 방향으로 배열될 수 있다. 측면들(216)의 각각에 제공된 점선은 4개의 비드들(220)이 일렬로 배열된다는 것을 보여주기 위해 도시된 가상의 선이다.
측면들(216)의 각각에 제공된 4개의 비드들(220)은 비드 그룹으로 정의될 수 있다. 측면들(216) 상에 제1 내지 제10 비드 그룹들(BG1 내지 BG10)이 각각 제공될 수 있다. 제1 내지 제10 비드 그룹들(BG1 내지 BG10) 중 하나의 비드 그룹(일예로 제1 비드 그룹(BG1))의 비드들(220)은, 나머지 비드 그룹들(일예로, 제2 내지 제10 비드 그룹들(BG2-BG10))의 각각의 비드들(220)과 다른 ‘부분 비율들(Segment Ratio)’ 및 다른 ‘교차율들(Cross Ratio)’을 가지도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 비드 그룹(BG1)의 비드들(220)의 배열 간격은, 제2 내지 제10 비드 그룹들(BG2 내지 BG10)의 각각의 비드들(220)의 배열 간격과 다를 수 있다.
일반적으로, 복수의 비드들은 디텍터부 상의 동일한 위치에 투영될 수 있다. 즉, 복수의 비드들이 투영 이미지 상에서 겹쳐있는 것처럼 감지될 수 있다. 이에 따라, 정확한 투영 행렬을 얻기 어려울 수 있다.
본 발명의 개념에 따른 비드들(220)은 디텍터부(300) 상의 서로 다른 위치들에 각각 투영될 수 있다. 이에 따라, 비드들(220)은 디텍터부(300) 상에서 서로 이격되어 인식되고, 정확한 투영 행렬(PM)이 생성될 수 있다. 투영 행렬의 생성 과정은 위에서 설명한 바와 실질적으로 동일할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 대한 이상의 설명은 본 발명의 설명을 위한 예시를 제공한다. 따라서 본 발명은 이상의 실시예들에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 상기 실시예들을 조합하여 실시하는 등 여러 가지 많은 수정 및 변경이 가능함은 명백하다.
1:가상의 소스부 10:3차원 영상 검사 장비의 교정 시스템
100:소스부 200, 200A:팬텀부
210:몸체 220:비드
222:가상의 비드 300:디텍터부
400:제어부 BG:비드 그룹
IBG:가상의 비드 그룹 IBL:비드선
ILP:광 경로 PG:투영 그룹
PM:투영 행렬

Claims (15)

  1. 몸체, 상기 몸체는 서로 다른 제1 측면 및 제2 측면을 포함하고;
    상기 제1 측면 상에서 제1 패턴으로 배열된 제1 비드들을 포함하는 제1 비드 그룹; 및
    상기 제2 측면 상에서 상기 제1 패턴과 상이한 제2 패턴으로 배열된 제2 비드들을 포함하는 제2 비드 그룹을 포함하되,
    상기 제1 및 제2 비드 그룹들은 서로 상이한 교차율(Cross Ratio)들 또는 서로 상이한 부분 비율(Segment Ratio)들을 갖고,
    상기 제1 비드들은 일렬로 배열되고,
    상기 제2 비드들은 일렬로 배열되되,
    상기 제1 비드들은 상기 제1 측면의 제1 꼭지점으로부터 제1 대각선 방향으로 배열되고,
    상기 제2 비드들은 상기 제2 측면의 제2 꼭지점으로부터 제2 대각선 방향으로 배열되며,
    상기 제2 꼭지점은 상기 제1 측면 및 상기 제2 측면이 공유하는 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 몸체는 다각 기둥 형상을 갖고,
    상기 제1 측면 및 상기 제2 측면은 사각 형상을 갖는 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 비드들은 상기 제1 측면의 제1 꼭지점으로부터 상기 제1 대각선 방향으로 마주하는 제3 꼭지점을 향하는 방향으로 배열되고,
    상기 제2 비드들은 상기 제2 측면의 상기 제2 꼭지점으로부터 상기 제2 대각선 방향으로 마주하는 제4 꼭지점을 향하는 방향으로 배열되는 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 비드들은 적어도 4개이고,
    상기 제2 비드들은 적어도 4개인 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 비드들 사이의 배열 간격들은 상기 제2 비드들 사이의 배열 간격들과 다른 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 몸체는 다면체 형상을 갖는 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 측면들의 각각은 삼각형인 3차원 영상 장비의 교정 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제1 비드들은 상기 제1 측면의 상기 제1 꼭지점으로부터 상기 제1 꼭지점과 마주하는 변의 중심을 향하는 방향으로 배열되고,
    상기 제2 비드들은 상기 제2 측면의 상기 제2 꼭지점으로부터 상기 제2 꼭지점과 마주하는 변의 중심을 향하는 방향으로 배열되는 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치.
  9. 복수의 비드 그룹들에 대한 투영 이미지를 형성하는 것;
    상기 투영 이미지로부터 복수의 투영 그룹들을 결정하는 것;
    상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것; 및
    상기 복수의 투영 그룹들과 상기 복수의 비드 그룹들의 대응 정보에 기초하여, 투영 행렬을 구하는 것을 포함하되,
    상기 복수의 비드 그룹들의 각각은 일렬로 배열된 복수의 비드들을 포함하고,
    상기 복수의 투영 그룹들의 각각은 일렬로 배열된 복수의 투영 비드들을 포함하되,
    상기 복수의 투영 그룹들을 상기 복수의 비드 그룹들에 각각 대응시키는 것은:
    상기 복수의 투영 그룹들 중 하나를 형성하는 가상의 비드 그룹들을 제공하는 것;
    상기 가상의 비드 그룹들의 제1 부분 비율들에 대한 데이터를 생성하는 것;
    상기 복수의 비드 그룹들의 제2 부분 비율들에 대한 데이터를 생성하는 것;
    상기 복수의 비드 그룹들 중 일 비드 그룹을 선택하되, 상기 선택된 비드 그룹의 제2 부분 비율은 상기 제1 부분 비율들의 각각과의 차이가 최소가 되는 것; 및
    상기 선택된 비드 그룹을 상기 복수의 투영 그룹들 중 상기 하나에 대응시키는 것을 포함하되,
    상기 가상의 비드 그룹들의 각각은 일렬로 배열되는 가상의 비드들을 포함하는 3차원 영상 검사 장비의 교정 방법.
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 가상의 비드 그룹들을 제공하는 것은:
    가상의 소스부를 제공하는 것;
    상기 복수의 투영 그룹들 중 상기 하나에 포함된 복수의 투영 비드들과 상기 가상의 소스부를 연결하는 가상의 광 경로들을 제공하는 것;
    상기 가상의 광 경로들을 지나는 가상의 비드선들을 제공하는 것; 및
    상기 가상의 비드선들의 각각과 상기 가상의 광 경로들의 교차점들에 상기 가상의 비드들을 배치하는 것을 포함하는 3차원 영상 검사 장비의 교정 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 복수의 투영 그룹들 중 상기 하나에 포함된 상기 복수의 투영 비드들은 일 직선에 의해 서로 연결되되,
    상기 가상의 소스부는 상기 직선의 중심으로부터 수직한 방향으로 이격되도록 제공되는 3차원 영상 검사 장비의 교정 방법.
  14. 삭제
  15. 삭제
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102020213678A1 (de) 2020-10-30 2022-05-05 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Geometriekalibrierung für eine bildgebende Vorrichtung
CN114882124B (zh) * 2022-07-06 2022-09-30 季华实验室 标定器具和标定方法、装置、电子设备和存储介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017053856A (ja) * 2015-09-11 2017-03-16 タレス Ｘ線撮像装置の較正用テストパターンおよび方法
US20170103505A1 (en) 2015-10-08 2017-04-13 Biosense Webster (Israel) Ltd. Identification and Registration of Multi-marker Jig

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2700909B1 (fr) 1993-01-27 1995-03-17 Gen Electric Cgr Dispositif et procédé automatique de calibration géométrique d'un système d'imagerie par rayons X.
EP2156790B1 (de) 2008-08-22 2012-03-28 BrainLAB AG Zuordnung von Röntgenmarkern zu im Röntgenbild abgebildeten Bildmarkern
US8666133B2 (en) 2009-09-14 2014-03-04 Institut National De La Santé Et De La Recherche Médicale (Inserm) Calibration phantom and method for measuring and correcting geometric distortions in medical images
KR101773960B1 (ko) 2011-06-30 2017-09-12 한국전자통신연구원 단층합성영상 시스템
KR20140145019A (ko) 2013-06-12 2014-12-22 한국전자통신연구원 컴퓨터 단층 촬영 시스템의 엑스선 발생 방법 및 장치
KR101524937B1 (ko) * 2013-10-25 2015-06-02 중앙대학교 산학협력단 방사선 캘리브레이션 방법 및 그에 의한 캘리브레이션 장치
KR20170061516A (ko) * 2015-11-26 2017-06-05 한국전기연구원 광학 영상용 팬텀 및 그 제조 방법
US10492755B2 (en) * 2016-07-13 2019-12-03 Carestream Health, Inc. Calibration phantom comprising a reflectance calibration target and a plurality of radio-opaque markers

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017053856A (ja) * 2015-09-11 2017-03-16 タレス Ｘ線撮像装置の較正用テストパターンおよび方法
US20170103505A1 (en) 2015-10-08 2017-04-13 Biosense Webster (Israel) Ltd. Identification and Registration of Multi-marker Jig

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