KR20170005781A - 마이크로칩 x선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법 - Google Patents

마이크로칩 x선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법 Download PDF

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Abstract

마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법이 개시된다. 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템은 피검체에 X선을 방사하여 투과영상 데이터를 검출하는 X선 단층영상 촬영장치 및 검출된 투과영상 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 제어부를 포함하되, X선 단층영상 촬영장치는, 피검체를 향하여 X선을 방사하는 X선 발생원, 피검체를 상부에 배치하고, X선 발생원과 대향되도록 형성되며, 피검체를 회전시키는 제1 회전부, 피검체를 통과한 X선에 포함된 투과영상 데이터를 검출하는 검출부 및 제1 회전부를 회전시키는 제2 회전부를 포함한다.

Description

마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법{MICROCHIP X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME}
본 발명은 X선 단층촬영 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법에 관한 것이다.
종래의 원형(circular) 스캔 콘빔 단층촬영(Computed Tomography, CT) 시스템은 한 번의 스캔으로부터 피검체의 3차원적 해부학적 정보를 획득할 수 있으며, 특히 최근 넓은 면적을 갖는 평판형 검출기 기술의 발달에 힘입어 콘빔 단층촬영(Cone-beam CT)은 다양한 분야에서 사용되고 있다.
상기 장치들은, 피검체가 금속 재질의 넓은 판일 경우, 상기 CT를 사용하게 되면 가장 두꺼운 부분이 X선 발생원에서 나온 광자를 대부분 흡수하게 되어 획득하는 데이터가 없거나 거의 희박하게 된다. 이런 현상은 단층영상 재건에 어려움을 야기한다.
또한 피검체에 대해 X선 발생원과 검출기가 동시에 원형을 이루며 이동해야 한다는 점에 의해 제조 시 공정이 복잡하게 되며, 반경이 큰 CT시스템이 필요하게 되므로 건설비용도 증가하게 된다.
일반적으로, 라미노그래피(laminography) 기술은 넓은 피사체의 단면도를 구하는데 널리 사용되고 있다. 종래의 라미노그래피 기술은 라미노그래피 시스템을 이루는 X선 발생원과 검출기의 연동된 움직임을 필요로 한다. 연동된 움직임은 다양한 패턴을 포함하는데 선형, 원형, 타원형, 랜덤 패턴 등이 있다. 이런 여러 패턴의 움직임을 가져도, X선 발생원의 특정 지점에서부터 그은 직선은 항상 검출기의 같은 특정 지점을 가리켜야 한다.
하지만 라미노그래피에서는 초점면이 매우 얇아, 초점면을 벗어나는 단면이 영상을 정확히 재건하는데 어려움이 있으며, 흐린 재건영상을 얻게 된다.
또한 반도체 같은 밀도가 높고, 크기가 매우 작은 피검체는 라미노그래피 방식으로 영상을 얻을 때, 과도한 X선에 노출되어 내부 회선이 손상될 수 있다. 크기가 작은 피검체는 높은 배율을 가져야 육안으로 확인할 수 있는 단면영상을 얻을 수 있다. 재건된 영상의 배율을 높이기 위해, 피검체를 X선 발생원 에 매우 가까운데 두고 X선 검출기를 상대적으로 멀리 위치하게 한다. X선 발생원과 피 검체 사이의 거리가 매우 짧기 때문에 종래 라미노그래피 시스템의 스캔궤도를 구현하기에도 어려움이 있다.
종래 라미노그래피 시스템의 스캔궤도는 원호형, 사선형 등이 있는데, X선 발생원과 피검체가 거의 맞닿아있는 구조에서 종래의 궤도를 하게 되면 피검체가 X선 발생원에 부딪히게 된다. 그리고 토모그래피와 라미노그래피의 피검체 단면 영상을 재건하는 방법에는 해석적 알고리즘(analytic algorithm)이 있는데, 해석적 알고리즘은 영상을 재건하는데 충분한 데이터가 필요하여 X선량을 줄이는데 어려움이 있다.
따라서, 라미노그래피 시스템의 정확성을 향상시키며 X선량을 줄이는 검사방법의 필요성이 존재한다.
한국등록특허공보 제10-1190801호는 FOV 및 복셀의 크기에 따라 최적을 확대율로 피검체를 촬영하는 X선 단층 촬영 장치 및 그 영상 촬영 방법에 관한 것이다.
한국등록특허공보 제10-1255224호는 피검체의 원형 스캔 회전축과 평행하게 정렬된 빔차단 스트립을 사용하여 원형 스캔 X선 콘빔 단층촬영으로 얻어지는 데이터를 역투영 필터링 방법으로 이미지를 재건하는 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 산란 보정 방법에 관한 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 작은 피검체를 검사하기 위하여 간단하면서도 다양한 궤적으로 피검체를 검사하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법을 제공하는데 목적이 있다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 피검체의 형태에 따라 올바른 단면영상을 재건하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법을 제공하는데 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위해,
본 발명에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템은,
피검체에 X선을 방사하여 투과영상 데이터를 검출하는 X선 단층영상 촬영장치 및 상기 검출된 투과영상 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 제어부를 포함하되, 상기 X선 단층영상 촬영장치는, 상기 피검체를 향하여 X선을 방사하는 X선 발생원, 상기 피검체를 상부에 배치하고, 상기 X선 발생원과 대향되도록 형성되며, 상기 피검체를 회전시키는 제1 회전부, 상기 피검체를 통과한 X선에 포함된 투과영상 데이터를 검출하는 검출부 및 상기 제1 회전부를 회전시키는 제2 회전부를 포함한다.
상기 X선 발생원 및 상기 검출부는 고정되는 것을 특징으로 한다.
상기 X선 발생원은, 상기 제1 회전부가 상기 피검체에 수직인 축과 X축 간의 끼인각으로 회전할 경우, 상기 제1 회전부와 부딪치지 않도록 형성된다.
상기 제1 회전부는, 상기 피검체가 상부에 배치되어 회전하는 회전판을 포함한다.
상기 회전판은, 상기 피검체에 수직인 축을 기준으로 회전 가능한 것을 특징으로 한다.
상기 제2 회전부는, 상기 제1 회전부를 X축 방향으로 상하이동을 시키는 것을 특징으로 한다.
상기 검출부는, 2차원 배열(array) 구조로 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.
상기 제어부는, 상기 검출된 투과영상 데이터를 기초로 반복적인 영상처리를 수행하여 상기 피검체의 단층영상을 재건하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 이용한 검사방법은,
피검체를 제1 회전부의 상부에 배치하는 단계, X선 발생원과 검출부를 연결하는 축이 유지된 상태에서 상기 검출부를 통과된 제1 투과영상의 데이터를 수신하는 단계, 제2 회전부를 이용하여 상기 피검체를 기 설정된 각도로 회전시키고, 상기 회전된 상태에서 상기 검출부를 통과된 제2 투과영상의 데이터를 수신하는 단계 및 상기 수신된 제1 및 제2 투과영상의 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 단계를 포함한다.
상기 제2 투과영상의 데이터를 수신하는 단계는, 상기 제2 회전부를 Y축 기준으로 시계방향 및 반시계방향 중 어느 한 방향으로 적어도 한 번 회전시켜 투과영상을 수신하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법에 의하면, 작은 피검체를 검사하기 위하여 간단하면서도 다양한 궤적으로 피검체를 검사할 수 있다.
또한 피검체의 형태에 따라 올바른 단면영상을 재건할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 설명하기 위한 정면 구성도다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 단층영상 촬영장치를 3D 그래픽으로 설명하기 위한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 단층영상 촬영장치가 구현 가능한 궤도를 설명하기 위한 예시도다.
도 4는 도 3의 구현 가능한 궤도에 대한 X선 발생원의 실제 위치를 설명하기 위한 예시도다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 이용한 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
이하 본 발명의 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의한다. 또한 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 당업자에게 자명하거나 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 설명하기 위한 정면 구성도다.
도 1을 참조하면, 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템(1)은 작은 피검체를 검사하기 위하여 간단하면서도 다양한 궤적으로 피검체를 검사할 수 있다. 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템(1)은 피검체의 형태에 따라 올바른 단면영상을 재건할 수 있다. 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템(1)은 X선 단층영상 촬영장치(10), 제어부(20), 출력부(30), 저장부(40)를 포함한다.
마이크로칩 X선 단층촬영 장치(10)는 피검체에 X선을 방사하여 투과영상 데이터를 검출한다. 마이크로칩 X선 단층촬영 장치(10)는 X선 발생원(100), 검출부(300), 제1 회전부(400), 제2 회전부(500)를 포함한다.
X선 발생원(100)은 피검체(200)를 향하여 X선을 방사한다. X선 발생원(100)은 콘빔 X선을 방사할 수 있으며, 상기 콘빔 X선은 기 설정된 원뿔형 빔으로 정의될 수 있다. 여기서, 상기 콘빔은 반드시 원형 단면을 가질 필요는 없다. 또한 상기 피검체(200)는 마이크로 단위의 칩일 수 있다.
검출부(300)는 피검체(200)를 통과한 X선에 포함된 투과영상 데이터를 검출한다. 이 때, 검출부(300)는 다각도에서 투과된 투과영상 데이터를 검출할 수 있다.
제1 회전부(400)는 피검체(200)를 상부에 배치하고, X선 발생원(100)과 대향되도록 형성된다. 제1 회전부(400)는 피검체(200)에 수직인 축을 회전축으로 하여 회전을 한다. 이 때, 제1 회전부(400)는 시계방향 또는 반시계방향으로 회전될 수 있다.
제2 회전부(500)는 피검체(200)에 수직인 축과 X축 간의 끼인각을 기 설정된 각도로 조절하기 위해 제1 회전부(400)를 회전시킨다.
제어부(20)는 검출부(300)에서 검출된 투과영상 데이터를 기초로 피검체(200)의 단면영상을 제건한다. 상기 투과영상 데이터는 다각도에서 수신된 다수의 투과영상일 수 있다. 이를 통해, 제어부(20)는 반복적인 영상처리를 수행하여 피검체(200)의 단층영상을 재건할 수 있다.
예를 들면, 제어부(20)는 투과영상을 반복형 알고리즘(iterative algorithm) 중 하나인 총 변량 최소화(total variation minimization, TV)라고 알려진 수학적 방법을 사용하여 단면영상을 재건할 수 있다.
출력부(30)는 제어부(20)에서 재건된 단면영상을 출력한다. 출력부(30)는 액정, 모니터, 프로젝터, 프린터 등일 수 있다.
저장부(40)는 검출부(300)에서 검출된 다각도에서 수신된 다수의 투과영상 데이터가 저장된다. 저장부(40)는 제어부(20)에서 재건된 단면영상도 저장된다. 특히, 저장부(40)는 상기 투과영상을 단면영상으로 재건하기 위한 알고리즘이 저장된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 단층영상 촬영장치를 3D 그래픽으로 설명하기 위한 사시도이다.
도 2를 참조하면, X선 단층영상 촬영장치(10)는 X선 발생원(100), 검출부(300), 제1 회전부(400), 제2 회전부(500)를 포함한다.
X선 발생원(100)은 제1 회전부(400)가 피검체(200)에 수직인 축과 X축 간의 끼인각으로 회전할 경우, 제1 회전부(400)와 부딪치지 않는 위치에 형성된다.
검출부(300)는 피검체(200)의 다각도에서 투과된 투과영상 데이터를 검출한다. 이를 위해, 검출부(300)는 2차원 배열(array) 구조로 형성될 수 있다. 검출부(300)는 X선 발생원(100)의 끝단과 일직선상에 배치될 수 있다. 특히, X선 발생원(100)과 검출부(300)은 고정된 상태를 유지할 수 있으며, 서로간에 연장선으로 연결을 하면 상기 연장선의 방향은 X축이다.
제1 회전부(400)는 평평한 테이블 형상으로 형성된다. 제1 회전부(400)는 피검체(200)가 상부에 구비되어 회전되는 회전판(450)을 포함한다. 여기서, 회전판(450)은 제1 회전부(400)의 중앙에 형성될 수 있다. 회전판(450)은 피검체(200)에 수직인 축을 회전축으로 하여 360°회전을 할 수 있다. 이 때, 회전판(450)은 회전방향을 시계방향 또는 반시계방향을 선택적으로 선택할 수 있다.
제2 회전부(500)는 제1 회전부(400)를 Y축 기준으로 회전을 하여 제1 회전부(400)에 배치된 피검체(200)를 회전시킬 수 있다. 이를 통해, 피검체(200)는 다각도로 X선에 투과될 수 있다.
제2 회전부(500)는 제1 회전부(400)를 X축 방향으로 상하이동을 한다. 즉, 제2 회전부(500)는 피검체(200)가 X선 발생원(100)과의 거리를 조절할 수 있다. 이는 피검체(200)가 X선에 투사되는 위치를 조절하는 것을 의미한다. 따라서, 제2 회전부(500)는 피검체(200)의 종류에 따라 X선이 투사되는 위치를 조절하여 검출부(300)가 최적의 투사영상 데이터를 검출할 수 있게 한다.
제2 회전부(500)는 시계방향 및 반시계방향 중 어느 하나의 방향으로 적어도 한번 회전할 수 있다.
( 실시예 : X선 단층영상 촬영장치가 구현 가능한 궤도)
*도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 단층영상 촬영장치가 구현 가능한 궤도를 설명하기 위한 예시도고, 도 4는 도 3의 구현 가능한 궤도에 대한 X선 발생원의 실제 위치를 설명하기 위한 예시도다.
도 3 및 도 4를 참조하면, X선 단층영상 촬영장치(10)는 다양한 궤도로 X선을 방사하여 피검체(200)의 투과영상 데이터를 검출할 수 있다. 여기서, X선 단층영상 촬영장치(10)는 X선 발생원(100)과 검출부(300)가 고정된 상태에서 제1 및 제2 회전부(400, 500)가 회전을 하여 다양한 형상의 궤도를 발생할 수 있다.
도 3(a)는 제1 궤도를 도시한 것으로, 제1 회전부(400)가 검출부(300)의 평면과 평행이 아닌 기 설정된 각도를 이루도록 제2 회전부(500)를 회전하는 방법이다. 따라서, 제1 궤도는 원호 형상을 나타낸다. 제1 궤도의 X선 발생(120)은 원호를 그리며 발생되고, 이에 따라 X선 검출(320)은 X선 발생(120)과 반대되는 원호를 그리며 검출된다.
도 3(b)는 제2 궤도를 도시한 것으로, 투사영상의 50%는 제1 회전부(400)을 고정시킨 제2 회전부(500)가 기 설정된 각도로 회전시켜 데이터를 검출하고, 나머지 50%는 피검체(200)를 90°회전시켜 이전 데이터를 검출하는 방식과 동일하게 데이터를 검출하는 방법이다. 따라서, 제2 궤도는 이중 원호 형상을 나타낸다. 제2 궤도의 X선 발생(140)은 이중 원호를 그리며 발생되고, 이에 따라 X선 검출(340)은 X선 발생(140)과 반대되는 이중 원호를 그리며 검출된다.
도 3(c)는 제3 궤도를 도시한 것으로, 제1 회전부(400)가 검출부(300) 평면과 평행이 아닌 기 설정된 각도를 이루도록 제2 회전부(500)를 고정시킨 상태에서 피검체(200)에 X선을 투사를 하는 방법이다. 따라서, 제3 궤도는 X선 발생원(100)과 검출부(300)가 각각 원 궤도를 그리는 형상을 나타낸다. 제3 궤도의 X선 발생(160)은 원 궤도를 그리며 발생되고, 이에 따라 X선 검출(360)은 X선 발생(160)과 반대되는 원 궤도를 그리며 검출된다.
도 3(d)는 제4 궤도를 도시한 것으로, 제1 회전부(400)가 검출부(300) 평면과 평행이 아닌 기 설정된 각도를 이루도록 제2 회전부(500)를 기 설정된 범위 안에서 회전시키며 피검체(200)에 X선을 투사하는 방법이다. 따라서, 제4 궤도는 X선 발생원(100)과 검출부(300) 사이 거리를 일정하게 유지하면서 축으로부터의 각도가 변하며 각각 원 궤도를 그리는 형상을 나타낸다. 제4 궤도의 X선 발생(120)은 상기 원 궤도를 그리며 발생되고, 이에 따라 X선 검출(320)은 X선 발생(120)과 반대되는 상기 원 궤도 그리며 검출된다.
특히, 도 4(a) 내지 도 4(d)는 도 3(a) 내지 도 3(d)에서 나타낸 궤도에서 X선 발생원(100)의 실제 위치를 표시된 것이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 이용한 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 5를 참조하면, 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 이용한 검사방법은 다각도에서 검출된 다수의 투사영상을 이용하여 피검체의 단면을 재건할 수 있다.
제1 단계는 피검체 배치한다(S100). 제1 단계는 피검체(200)를 제1 회전부(400)의 상부에 배치한다. 즉, 피검체(200)는 제1 회전부(400)의 회전판(450)에 배치되며, 이를 통해 피검체(200)에 수직인 축을 기준으로 회전을 할 수 있다.
제2 단계는 X선 발생원과 검출부가 이어진 축이 일정하게 유지된 상태의 제1 투사영상을 수신한다(S200). 제2 단계는 제1 단계에서 배치된 피검체(200)에 X선을 방사한다. 이 때, X선 발생원(100)과 검출부(300)이 이어진 축은 X축이다. 따라서, 제2 단계는 피검체(200)를 수직으로 X선을 투과하며, 이를 통해 검출부(300)는 제1 투사영상을 수신한다.
제3 단계는 피검체가 기설정된 각도로 회전된 상태의 제2 투사영상을 수신한다(S300). 제3 단계는 제2 단계와 달리 제1 회전부(400)와 제2 회전부(400)를 기 설정된 방법에 따라 회전을 시키면서 피검체(200)에 X 선을 투과한다. 따라서, 제3 단계에서 검출부(300)는 피검체(200)에 대한 다각도의 제2 투사영상을 수신할 수 있다.
특히, 제3 단계는 제2 회전부(500)를 Y축 기준으로 시계방향 및 반시계방향 중 어느 한 방향으로 적어도 한 번 회전시켜 투과영상을 수신하는
제4 단계는 수신된 제1 및 제2 투사영상을 기초로 피검체의 단면영상을 재건한다(S400). 제4 단계는 제2 및 제3 단계에서 수신된 투과영상에 대한 데이터를 분석하여 피검체(200)의 단면영상을 재건한다. 제4 단계는 투과영상을 반복형 알고리즘 중 하나인 총 변량 최소화라고 알려진 수학적 방법을 사용하여 단면영상을 재건할 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.
1: 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
10: X선 단층영상 촬영장치
20: 제어부
30: 출력부
40: 저장부
100: X선 발생원
120: 제1 궤도의 X선 발생
140: 제2 궤도의 X선 발생
160: 제3 궤도의 X선 발생
180: 제4 궤도의 X선 발생
200: 피검체
300: 검출부
320: 제1 궤도의 검출
340: 제2 궤도의 검출
360: 제3 궤도의 검출
380: 제4 궤도의 검출
400: 제1 회전부
450: 회전판
500: 제2 회전부

Claims (6)

  1. 피검체에 X선을 방사하여 투과영상 데이터를 검출하는 X선 단층영상 촬영장치; 및
    상기 검출된 투과영상 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 제어부를 포함하되,
    상기 X선 단층영상 촬영장치는,
    상기 피검체를 향하여 X선을 방사하는 X선 발생원;
    상기 피검체를 상부에 배치하고, 상기 X선 발생원과 대향되도록 형성되며, 상기 피검체를 회전시키는 제1 회전부;
    상기 피검체를 통과한 X선에 포함된 투과영상 데이터를 검출하는 검출부;
    상기 제1 회전부를 Y축 기준으로 회전시키는 제2 회전부; 및
    상기 제2 회전부의 일면에 형성되고 상기 제2 회전부를 X축 방향으로 상하이동 시키는 높이조절부;를 포함하고, 상기 제2 회전부는 상기 제2 회전부의 타면에 형성되고 제1 회전부와 연결되고, 상기 제1 회전부가 Y축 기준으로 회전함과 동시에 상기 제2 회전부가 X축 방향으로 상하이동하도록 하는 접합부를 포함하고,
    상기 X선 발생원은 상기 제1 회전부가 상기 피검체에 수직인 축과 X축 간의 끼인각으로 회전할 경우, 상기 제1 회전부와 부딪히지 않도록 형성되는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 X선 발생원 및 상기 검출부는 고정되는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 제1 회전부는,
    상기 피검체가 상부에 배치되어 회전하는 회전판을 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 회전판은,
    상기 피검체에 수직인 축을 기준으로 회전 가능한 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 검출부는,
    2차원 배열(array) 구조로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 검출된 투과영상 데이터를 기초로 반복적인 영상처리를 수행하여 상기 피검체의 단층영상을 재건하는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템.
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