KR101773960B1 - 단층합성영상 시스템 - Google Patents

단층합성영상 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR101773960B1
KR101773960B1 KR1020110064892A KR20110064892A KR101773960B1 KR 101773960 B1 KR101773960 B1 KR 101773960B1 KR 1020110064892 A KR1020110064892 A KR 1020110064892A KR 20110064892 A KR20110064892 A KR 20110064892A KR 101773960 B1 KR101773960 B1 KR 101773960B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer composite
vacuum container
ray
single layer
imaging system
Prior art date
Application number
KR1020110064892A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20130003492A (ko
Inventor
정진우
송윤호
Original Assignee
한국전자통신연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국전자통신연구원 filed Critical 한국전자통신연구원
Priority to KR1020110064892A priority Critical patent/KR101773960B1/ko
Priority to US13/524,705 priority patent/US8848864B2/en
Publication of KR20130003492A publication Critical patent/KR20130003492A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101773960B1 publication Critical patent/KR101773960B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/044—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using laminography or tomosynthesis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computerised tomographs
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00—Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/02—Measuring coefficient of friction between materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00—Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/04—Measuring adhesive force between materials, e.g. of sealing tape, of coating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/10—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being confined in a container, e.g. in a luggage X-ray scanners
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/26—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by measuring pressure differences
    • G01N9/28—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by measuring pressure differences by measuring the blowing pressure of gas bubbles escaping from nozzles at different depths in a liquid
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph

Abstract

유지, 보수 등의 관리가 용이한 단층합성영상 시스템이 개시된다. 본 발명에 의한 단층합성영상 시스템은, 진공 용기, 상기 진공 용기에 돌출형으로 결합되어 피검사체 방향으로 엑스선(X-ray)을 발생시키는 다수의 엑스선 발생원 및 상기 피검사체를 통과한 엑스선 투영 영상을 감지하는 영상 감지기를 포함한다.

Description

단층합성영상 시스템{TOMOSYNTHESIS SYSTEM}
본 발명은 단층합성영상 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다수의 엑스선(X-ray) 발생원을 포함하는 단층합성영상 시스템에 관한 것이다.
기존의 컴퓨터 단층촬영(Computed Tomography, CT) 시스템은 하나의 엑스선 발생원을 회전시키면서 피검사체에 조사하여 엑스선 투영 영상을 발생시키고, 이를 합성하여 3차원 영상을 만들어 낸다. 반면에, 최근에는 다수의 엑스선 발생원에서 서로 다른 각도로 피검사체에 조사된 엑스선에 의해 만들어진 다수의 엑스선 투영 영상을 합성하여 3차원의 영상을 얻는 단층합성영상(Tomosynthesis) 시스템이 연구, 개발되고 있다. 이러한 시스템은 기존의 CT 시스템보다 낮은 방사선량으로 연조직(soft tissue)에 대해 겹친 조직이 분리된 단층합성영상을 빠른 시간 내에 생성할 수 있다.
그런데, 종래 제안된 단층합성영상 시스템은 다수의 엑스선 발생원이 하나의 진공 용기(vacuum chamber) 내부에 위치하여 구동되는 형태를 가진다. 이러한 경우, 다수의 엑스선 발생원 중 하나에만 이상이 발생하더라도 수리를 위해 전체 시스템을 분해해야 하는 등 관리의 어려움이 발생한다. 또한, 각각의 엑스선 발생원의 각도 등을 쉽게 조정하기가 어려운 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 유지, 보수 등의 관리 및 엑스선 발생 각도 조절이 용이한 단층합성영상 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. 특히, 시스템 내의 다수의 엑스선 발생원에 대한 관리를 용이하게 하는 데에 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 단층합성영상 시스템은, 진공 용기, 상기 진공 용기에 돌출형으로 결합되어 피검사체 방향으로 엑스선(X-ray)을 발생시키는 다수의 엑스선 발생원 및 상기 피검사체를 통과한 엑스선 투영 영상을 감지하는 영상 감지기를 포함한다.
상기 엑스선 발생원은, 전자를 방출하는 전계 방출원을 포함하며 상기 진공 용기와 결합되는 제 1 결합부, 상기 전자와 충돌하여 엑스선을 방출하는 타겟 금속부 및 상기 결합부와 상기 타겟 금속부 사이에 결합되며, 상기 전자의 진행 경로가 되는 제 2 결합부를 포함할 수 있다.
상기 다수의 엑스선 발생원은 상기 진공 용기 외부에 서로 이격되어 배치되며, 서로 다른 각도에서 순차적으로 상기 피검사체 방향으로 엑스선을 방출할 수 있다. 또한, 상기 진공 용기와 분리가 가능하도록 결합될 수 있고, 상기 엑스선의 방출 각도를 조절할 수 있다.
본 발명에 의한 단층합성영상 시스템은 상기 영상 감지기의 감지 결과를 이용하여 상기 피검사체에 대한 3차원 영상을 생성하는 영상 처리기를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 의하면, 단층합성영상 시스템 내의 다수의 엑스선 발생원을 진공 용기 외부에 돌출형으로 결합함으로써 다수의 엑스선 발생원 중 하나에 문제가 발생할 경우 전체 시스템을 분해할 필요 없이 해당 소자만을 쉽게 수리 또는 교체할 수 있다. 또한, 각각의 엑스선 발생원 내부의 전계 방출원만을 쉽게 분리해낼 수 있다. 따라서, 전체 시스템의 유지, 보수 등 관리가 용이해지는 효과가 있다.
또한, 각각의 엑스선 발생원의 엑스선 방출 각도를 쉽게 조절할 수 있으므로, 방출되는 엑스선의 방향을 최적의 상태로 유지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 의한 단층합성영상 시스템 구성도.
도 2는 본 발명의 제 2 실시예에 의한 단층합성영상 시스템 구성도.
도 3은 방출된 엑스선(140)이 피검사체(120)를 통과하여 영상 감지기(130)에 투영되는 것을 나타낸 도면.
도 4는 엑스선 발생원(100) 및 그 결합 부분을 상세히 나타낸 도면.
도 5a 및 도 5b는 영상 감지기(130)의 다른 실시예 구성도.
전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 의한 단층합성영상 시스템 구성도이고, 도 3은 방출된 엑스선(140)이 피검사체(120)를 통과하여 영상 감지기(130)에 투영되는 것을 나타낸 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 단층합성영상 시스템은, 진공 용기(110), 진공 용기(110)에 돌출형으로 결합되어 피검사체(120) 방향으로 엑스선(140)을 발생시키는 다수의 엑스선 발생원(100) 및 피검사체(120)를 통과한 엑스선 투영 영상을 감지하는 영상 감지기(130)를 포함한다.
다수의 엑스선 발생원(100)은 진공 용기(110)의 외부 면에 돌출형으로 결합되고, 피검사체(120)가 위치한 방향으로 엑스선(140)을 방출한다. 도 3에 도시된 바와 같이, 각각의 엑스선 발생원(100)이 서로 다른 각도에서 피검사체(120)를 향하여 순차적으로 엑스선(140)을 방출하면, 방출된 각각의 엑스선(140)은 피검사체(120)를 통과하여 뒤쪽에 마련된 영상 감지기(130)에 순차적으로 영상이 투영된다. 이 때, 다수의 엑스선 발생원(100)은 엑스선(140)의 방출 각도를 개별적으로 조절할 수 있어, 다수의 엑스선 발생원(100)에서 방출된 엑스선(140)이 정확하게 피검사체(120)를 향하도록 할 수 있다.
진공 용기(110)는 단순한 직선 형태이거나, 도 1과 같은 원호 형태 또는 도 2와 같은 링(ring) 형태 등 다양한 형태를 가질 수 있다. 도 2와 같이 진공 용기(110)를 링 형태로 형성할 경우, 그 외부면에 다수의 엑스선 발생원(100)을 원형으로 배치하여, 진공 용기(110) 사이를 통과하는 피검사체(120)에 조사된 엑스선(140)에 의해 투영된 영상이 영상 감지기(130)에 감지되도록 시스템을 구성할 수 있다. 이러한 형태는 공항이나 박물관 등 다수의 물체에 대해 빠른 시간 내에 비파괴 검사를 수행해야 하는 경우에 폭넓게 적용될 수 있다.
더불어, 본 발명에 의한 단층합성영상 시스템은 영상 감지기(130)의 감지 결과를 이용하여 피검사체(120)에 대한 3차원 영상을 생성하는 영상 처리기(도면에 미도시)를 더 포함할 수 있다. 영상 처리기는 다수의 엑스선 발생원(100)에서 방출된 엑스선(140)에 의해 영상 감지기(130)에 투영된 영상을 컴퓨터 시스템으로 합성, 가공하여 3차원 영상을 생성할 수 있으며, 필요에 따라 특정 에너지 영역의 엑스선을 차단하는 필터를 삽입하여 원하는 목적의 이미지를 얻을 수 있다.
도 4는 도 1 및 도 2의 엑스선 발생원(100) 및 그 결합 부분을 상세히 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 엑스선 발생원(100)은, 전자를 방출하는 전계 방출원(103)을 포함하며, 진공 용기(110)와 결합되는 제 1 결합부(101), 방출된 전자와 충돌하여 엑스선(140)을 방출하는 타겟 금속부(107) 및 제 1 결합부(101)와 타겟 금속부(107) 사이에 결합되며, 방출된 전자의 진행 경로가 되는 제 2 결합부(105)를 포함하여 구성될 수 있다.
전계 방출원(103)은 진공 환경에서 전계(electric field)를 인가하여 캐소드(Cathode) 전극을 통해 전자를 방출시키는 소자로, 탄소나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT)와 같은 나노 에미터(emitter)를 이용하여 형성될 수 있다. 타겟 금속부(107)는 아노드(Anode) 전극에 해당하며, 전계 방출원(103)에서 나온 전자가 제 2 결합부(105)의 전자 이동 통로를 거쳐 타겟 금속부(107)에 충돌하게 되면 특정 방향으로 엑스선(140)이 방출된다. 이 때, 아노드 전극의 전압을 조절하여 방출되는 엑스선의 에너지를 가변할 수 있다. 이러한 엑스선 발생원(100)의 상세 구성 및 동작 방법은 본 발명이 속한 기술 분야에서 널리 알려진 내용이므로, 더 이상의 상세한 설명은 생략하기로 한다.
진공 용기(110)는 진공펌프가 연결되어 장비 구동 시 상시 진공 펌프를 동작시키는 오픈(Open)형태이거나, 진공 용기(110)가 진공 밀봉되어 진공펌프가 필요없는 밀폐(Close)형태가 될 수 있다.
각각의 엑스선 발생원(100)은 진공 용기(110)와 제 1 결합부(101)에 의해 진공 결합되며, 제 1 결합부(101)와 제 2 결합부(105) 또한 진공 결합되어 전계 방출원(103)을 기준으로 서로 분리가 가능하다. 이러한 결합부는 오링(O-ring) 또는 가스켓(Gasket) 등의 진공 결합 구조를 가질 수 있다.
이렇게 진공 용기(110) 외부에 엑스선 발생원(100)을 돌출형으로 결합함으로써, 다수의 엑스선 발생원(100) 중 하나에 문제가 발생할 경우 전체 시스템을 분해할 필요 없이 해당 소자만을 쉽게 교체할 수 있다. 또한, 제 1 결합부(101)와 제 2 결합부(105)도 분리가 가능하므로 전계 방출원(103)만 교체하는 것도 가능하여 시스템의 유지 보수가 용이해진다. 더불어, 각각의 엑스선 발생원(100)의 각도를 쉽게 조절할 수 있으므로 방출되는 엑스선(140)의 방향을 최적의 상태로 유지할 수 있게 된다.
도 5a 및 도 5b는 영상 감지기(130)의 다른 실시예 구성도이다.
본 발명에 의한 단층합성영상 시스템의 영상 감지기(130)는, 도 5a와 같이 원통형으로 구현되거나, 도 5b와 같이 평판 센서 다수를 조합한 구조를 가질 수 있다. 이러한 영상 감지기(130)의 구조 및 형태는 시스템의 목적과 구조에 따라 다양하게 변경될 수 있음은 자명하다.
본 발명의 기술사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 알 수 있을 것이다.
100 : 엑스선 발생원
110 : 진공 용기
120 : 피검사체
130 : 영상 감지기
140 : 엑스선
101 : 제 1 결합부
103 : 전계 방출원
105 : 제 2 결합부
107 : 타겟 금속부

Claims (11)

  1. 진공 용기;
    상기 진공 용기에 돌출형으로 결합되어 피검사체 방향으로 엑스선(X-ray)을 발생시키는 다수의 엑스선 발생원; 및
    상기 피검사체를 통과한 엑스선 투영 영상을 감지하는 영상 감지기를 포함하되,
    상기 엑스선 발생원은:
    상기 진공 용기와 결합되는 제 1 결합부; 및
    전자를 방출하는 전자원을 포함하고,
    상기 제 1 결합부는 상기 진공 용기로부터 돌출되고,
    상기 전자원은 상기 제 1 결합부의 내부에 배치되는 단층합성영상 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 엑스선 발생원은
    상기 전자와 충돌하여 엑스선을 방출하는 타겟 금속부; 및
    상기 제 1 결합부와 상기 타겟 금속부 사이에 결합되며, 상기 전자의 진행 경로가 되는 제 2 결합부를 더 포함하는
    단층합성영상 시스템.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 전자원은 전계 방출원을 포함하고,
    상기 전계 방출원은
    탄소나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT)를 이용하여 형성되는
    단층합성영상 시스템.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 다수의 엑스선 발생원은
    상기 진공 용기 외부에 서로 이격되어 배치되며, 서로 다른 각도에서 순차적으로 상기 피검사체 방향으로 엑스선을 방출하는
    단층합성영상 시스템.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 다수의 엑스선 발생원은
    상기 진공 용기와 분리가 가능하도록 결합되는
    단층합성영상 시스템.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 진공 용기와 상기 다수의 엑스선 발생원은 오링 또는 가스켓 구조로 진공 결합되는
    단층합성영상 시스템.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 다수의 엑스선 발생원은
    상기 엑스선의 방출 각도를 조절할 수 있는
    단층합성영상 시스템.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 진공 용기 및 상기 영상 감지기는
    상기 피검사체가 가운데로 통과할 수 있도록 링 형태로 형성되는
    단층합성영상 시스템.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 피검사체가 상기 진공 용기와 상기 영상 감지기 사이의 특정 위치를 통과할 때 상기 엑스선이 투영되어 상기 영상 감지기에 감지되는
    단층합성영상 시스템.
  10. 제 1항에 있어서,
    상기 영상 감지기의 감지 결과를 이용하여 상기 피검사체에 대한 3차원 영상을 생성하는 영상 처리기
    를 더 포함하는 단층합성영상 시스템.
  11. 제 1항에 있어서,
    상기 진공 용기에 연결되며, 시스템 구동시 상시 동작하는 진공펌프
    를 더 포함하는 단층합성영상 시스템.
KR1020110064892A 2011-06-30 2011-06-30 단층합성영상 시스템 KR101773960B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110064892A KR101773960B1 (ko) 2011-06-30 2011-06-30 단층합성영상 시스템
US13/524,705 US8848864B2 (en) 2011-06-30 2012-06-15 Tomosynthesis system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110064892A KR101773960B1 (ko) 2011-06-30 2011-06-30 단층합성영상 시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130003492A KR20130003492A (ko) 2013-01-09
KR101773960B1 true KR101773960B1 (ko) 2017-09-12

Family

ID=47390697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110064892A KR101773960B1 (ko) 2011-06-30 2011-06-30 단층합성영상 시스템

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8848864B2 (ko)
KR (1) KR101773960B1 (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103308535B (zh) * 2012-03-09 2016-04-13 同方威视技术股份有限公司 用于射线扫描成像的设备和方法
EP3066983A4 (en) * 2013-11-06 2017-08-30 Rayence Co., Ltd. X-ray imaging device including plurality of x-ray sources
US9642581B2 (en) * 2013-11-12 2017-05-09 KUB Technologies, Inc. Specimen radiography with tomosynthesis in a cabinet
US9976971B2 (en) * 2014-03-06 2018-05-22 United Technologies Corporation Systems and methods for X-ray diffraction
KR102385668B1 (ko) 2017-07-24 2022-04-13 한국전자통신연구원 3차원 영상 검사 장비의 교정 장치 및 교정 방법
CN108122723B (zh) 2017-12-25 2020-04-03 北京纳米维景科技有限公司 一种弧形多焦点固定阳极栅控射线源
US11020066B2 (en) * 2018-12-10 2021-06-01 KUB Technologies, Inc. System and method for cabinet x-ray systems with stationary x-ray source array

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000230911A (ja) 1999-02-02 2000-08-22 Samsung Electronics Co Ltd 断層映像撮影装置及び方法

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2658533A1 (de) * 1976-12-23 1978-06-29 Siemens Ag Geraet zur darstellung von durchleuchtungs-koerperschichtbildern
US4289969A (en) * 1978-07-10 1981-09-15 Butler Greenwich Inc. Radiation imaging apparatus
FR2764731A1 (fr) * 1997-06-13 1998-12-18 Commissariat Energie Atomique Tube a rayons x comportant une source d'electrons a micropointes et des moyens de focalisations magnetique
US6333968B1 (en) * 2000-05-05 2001-12-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Transmission cathode for X-ray production
US7082182B2 (en) * 2000-10-06 2006-07-25 The University Of North Carolina At Chapel Hill Computed tomography system for imaging of human and small animal
US7085351B2 (en) * 2000-10-06 2006-08-01 University Of North Carolina At Chapel Hill Method and apparatus for controlling electron beam current
US7192031B2 (en) * 2004-02-05 2007-03-20 General Electric Company Emitter array configurations for a stationary CT system
US7085352B2 (en) * 2004-06-30 2006-08-01 General Electric Company Electron emitter assembly and method for generating electron beams
US7085350B2 (en) * 2004-11-02 2006-08-01 General Electric Company Electron emitter assembly and method for adjusting a power level of electron beams
US7233644B1 (en) * 2004-11-30 2007-06-19 Ge Homeland Protection, Inc. Computed tomographic scanner using rastered x-ray tubes
WO2006130630A2 (en) * 2005-05-31 2006-12-07 The University Of North Carolina At Chapel Hill X-ray pixel beam array systems and methods for electronically shaping radiation fields and modulating radiation field intensity patterns for radiotherapy
US7295651B2 (en) * 2005-06-30 2007-11-13 General Electric Company Stationary computed tomography system and method
US20070189459A1 (en) * 2006-02-16 2007-08-16 Stellar Micro Devices, Inc. Compact radiation source
JP4878311B2 (ja) * 2006-03-03 2012-02-15 キヤノン株式会社 マルチｘ線発生装置
US7627087B2 (en) * 2007-06-28 2009-12-01 General Electric Company One-dimensional grid mesh for a high-compression electron gun
WO2009012453A1 (en) 2007-07-19 2009-01-22 The University Of North Carolina At Chapel Hill Stationary x-ray digital breast tomosynthesis systems and related methods
KR100895067B1 (ko) * 2007-12-17 2009-05-04 한국전자통신연구원 개별 어드레싱이 가능한 대면적 ｘ 선 시스템
KR100911434B1 (ko) * 2007-12-17 2009-08-11 한국전자통신연구원 Ｃｎｔ를 이용한 삼극형 구조의 초소형 ｘ 선관
DE102008004473A1 (de) * 2008-01-15 2009-07-23 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines tomosynthetischen 3D-Röntgenbildes
US7826594B2 (en) * 2008-01-21 2010-11-02 General Electric Company Virtual matrix control scheme for multiple spot X-ray source
US7809114B2 (en) * 2008-01-21 2010-10-05 General Electric Company Field emitter based electron source for multiple spot X-ray
FR2926924B1 (fr) * 2008-01-25 2012-10-12 Thales Sa Source radiogene comprenant au moins une source d'electrons associee a un dispositif photoelectrique de commande
JP5294653B2 (ja) * 2008-02-28 2013-09-18 キヤノン株式会社 マルチｘ線発生装置及びｘ線撮影装置
WO2009112986A2 (en) 2008-03-11 2009-09-17 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Circular tomosynthesis x-ray tube
DE102008033150B4 (de) * 2008-07-15 2012-06-21 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenquelle sowie Mammographieanlage und Röntgenanlage mit einer solchen Röntgenquelle
JP4693884B2 (ja) * 2008-09-18 2011-06-01 キヤノン株式会社 マルチｘ線撮影装置及びその制御方法
US7844032B2 (en) * 2008-10-16 2010-11-30 General Electric Company Apparatus for providing collimation in a multispot X-ray source and method of making same
JP5416426B2 (ja) * 2009-02-03 2014-02-12 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置
DE102009011642A1 (de) * 2009-03-04 2010-09-09 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenröhre mit Multikathode
JP5460106B2 (ja) * 2009-04-03 2014-04-02 キヤノン株式会社 Ｘ線撮影装置及びその制御方法、コンピュータプログラム
JP2011029072A (ja) * 2009-07-28 2011-02-10 Canon Inc Ｘ線発生装置及びそれを備えたｘ線撮像装置。
DE102009040769A1 (de) * 2009-09-09 2011-03-17 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung eines Objektes auf Materialfehler mittels Röntgenstrahlen
DE102009043424A1 (de) * 2009-09-29 2011-04-07 Siemens Aktiengesellschaft Medizinisches Röntgenaufnahmesystem
US8588372B2 (en) * 2009-12-16 2013-11-19 General Electric Company Apparatus for modifying electron beam aspect ratio for X-ray generation
US8594272B2 (en) * 2010-03-19 2013-11-26 Triple Ring Technologies, Inc. Inverse geometry volume computed tomography systems
US8447013B2 (en) * 2010-03-22 2013-05-21 Xinray Systems Inc Multibeam x-ray source with intelligent electronic control systems and related methods
JP5645449B2 (ja) * 2010-04-14 2014-12-24 キヤノン株式会社 Ｘ線源及びｘ線撮影装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000230911A (ja) 1999-02-02 2000-08-22 Samsung Electronics Co Ltd 断層映像撮影装置及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
US8848864B2 (en) 2014-09-30
KR20130003492A (ko) 2013-01-09
US20130003913A1 (en) 2013-01-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101773960B1 (ko) 단층합성영상 시스템
EP1982164B1 (en) Imaging apparatus using distributed x-ray sources and method thereof
JP5677301B2 (ja) 複数ピクセルｘ線源を使用したコンピュータ断層撮影走査システム及び方法
JP2009533151A5 (ko)
US10405813B2 (en) Panoramic imaging using multi-spectral X-ray source
CN101946299B (zh) 多能量x射线源
US20140177808A1 (en) Rapidly switching dual energy x-ray source
JP5681356B2 (ja) 二重エネルギｃｔシステム
US7529344B2 (en) Dual energy X-ray source
CN101313214B (zh) 用于复用计算机层析成像的方法和系统
CN101466313A (zh) 扫描狭槽锥形束计算机断层摄影以及扫描聚焦光斑锥形束计算机断层摄影
JP2006524548A (ja) 人体及び小型動物を撮影するためのコンピュータ断層撮影システム
JP2014518147A5 (ko)
JP2015019987A5 (ko)
US10728996B2 (en) Circular x-ray tube and an x-ray instrument comprising the circular x-ray tube
US10492744B2 (en) System and method for motion-free computed tomography
JP5823178B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP2013000233A5 (ko)

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant