KR102377330B1 - 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치 - Google Patents
인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102377330B1 KR102377330B1 KR1020200090878A KR20200090878A KR102377330B1 KR 102377330 B1 KR102377330 B1 KR 102377330B1 KR 1020200090878 A KR1020200090878 A KR 1020200090878A KR 20200090878 A KR20200090878 A KR 20200090878A KR 102377330 B1 KR102377330 B1 KR 102377330B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pin
- installation groove
- printed circuit
- elastic
- circuit board
- Prior art date
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 51
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 claims description 28
- 239000005060 rubber Substances 0.000 claims description 28
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 8
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 229920003051 synthetic elastomer Polymers 0.000 claims description 6
- 239000005061 synthetic rubber Substances 0.000 claims description 6
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
본 발명은 핀블록이 고정된 상태에서 핀이 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 움직일 수 있도록 하여 핀블록의 핀과 인쇄회로기판의 소켓과의 연결이 간편하면서 신속하게 이루어지도록 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치에 관한 것으로, 본 핀블록 장치는 전면케이스(10)와, 상기 전면케이스(10)의 배면에 장착되는 후면케이스(20)와, 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 요동 가능하게 구비되는 핀결합부재(30)와, 상기 핀결합부재(30)에 장착되고 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 요동 가능하게 구비되는 핀가이드(40)와, 상기 핀결합부재(30)와 핀가이드(40)에 장착되는 다수의 핀소켓(50)과, 상기 핀소켓(50)에 끼워져 장착되는 접속핀(60)과, 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 설치되어 상기 핀결합부재(30)와 핀가이드(40)를 모든 방향으로 요동 가능한 상태로 탄성적으로 고정시키는 탄성고정부(70)를 포함한다.
Description
본 발명은 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 핀블록이 고정된 상태에서 핀이 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 움직일 수 있도록 하여 핀블록의 핀과 인쇄회로기판의 소켓과의 연결이 간편하면서 신속하게 이루어지도록 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치에 관한 것이다.
일반적으로 복수 개의 전자부품이 실장된 인쇄회로기판은 전자부품을 실장하는 과정에서 회로의 단락이나 단선 또는 실장되는 전자부품이 파손되는 불량이 발생한다.
이에 따라, 전자부품을 실장하는 과정 중 또는 실장을 완료한 후 인쇄회로기판의 결함 여부를 정확하게 확인하기 위해 인쇄회로기판 검사기로 검사를 진행하게 된다.
이러한 인쇄회로기판 검사기는 여러 개의 핀블록 장치가 설치되어 있는데, 상기 핀블록 장치는 검사하고자하는 인쇄회로기판에 장착된 소켓의 단자에 핀이 끼워져 연결되면서 통전을 할 수 있도록 하는 것이다.
이와 같은 핀블록 장치는 여러 개가 구비되고 이러한 여러 개의 핀블록 장치는 검사할 인쇄회로기판에 장착된 여러 개의 소켓에 연결되도록 검사기에서 위치를 이동하여 세팅된다.
그런데, 상기와 같은 종래 기술에는 다음과 같은 문제점이 있었다.
종래의 핀블록 장치는 인쇄회로기판에 장착된 여러 개의 소켓에 연결되도록 위치를 이동하여 검사기에 세팅되는데, 이러한 세팅에도 불구하고 인쇄회로기판의 소켓과 미세한 위치 차이가 빈번히 발생하여 소켓과의 연결이 적절히 이루어지지 않게 되면서 핀블록 장치를 반복적으로 다시 세팅해야 하고, 그에 따라 핀블록 장치의 세팅이 상당히 번거로우면서 많은 시간과 인력이 소요되고 검사시간을 연장시키는 요인이 되는 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로,
본 발명의 목적은, 핀블록이 고정된 상태에서 핀이 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 움직일 수 있도록 하여 핀블록의 핀과 인쇄회로기판의 소켓과의 연결이 간편하면서 신속하게 이루어지도록 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치를 제공함에 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"는, 판형으로 형성되고, 배면에 제1 설치홈이 형성되며, 상기 제1 설치홈의 상단에서 수평으로 관통되어 관통공이 형성되는 전면케이스와; 판형으로 형성되고, 상기 전면케이스의 배면에 밀착된 상태로 장착되며, 상기 제1 설치홈에 대응하여 전면에 제2 설치홈이 형성되고, 상기 제2 설치홈의 상단에서 수평으로 관통되어 사각형의 소켓배치공이 형성되는 후면케이스와; 상기 소켓배치공보다 상대적으로 작은 판형으로 형성되어 상기 소켓배치공에 상하좌우로 요동 가능하게 배치되고, 배면에 후방으로 돌출되게 돌출부가 형성되며, 상기 돌출부에서 수평으로 관통되게 다수의 소켓끼움공이 형성되는 핀결합부재와; 상기 핀결합부재의 전면에 밀착된 상태로 장착되고, 상기 제1 설치홈과 제2 설치홈에 의해 형성되는 내부 공간보다 상대적으로 작은 판형으로 형성되어 내부 공간에서 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 배치되며, 상기 소켓끼움공에 대응하여 다수개의 핀끼움공이 수평으로 관통하여 형성되는 핀가이드와; 상기 소켓끼움공에 후단이 끼워져 고정되고, 선단이 상기 핀끼움공을 관통하여 구비되는 다수의 핀소켓과; 각각의 상기 핀소켓에 끼워져 고정되고, 선단이 상기 관통공에 배치되는 접속핀과; 상기 전면케이스와 후면케이스에 의해 형성되는 내부 공간에 설치되고, 내부 공간에서 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 배치된 상태로 상기 핀가이드를 탄성적으로 고정시켜 상기 접속핀이 인쇄회로기판의 소켓에 모든 방향으로 결합 가능하게 하는 탄성고정부를; 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"의 상기 탄성고정부는, 상기 제1 설치홈의 내부 양측에 상호 이격되게 형성되는 고정홈과, 상기 고정홈에 일단이 고정되고 타단이 수평으로 돌출되게 구비되는 스프링과, 상기 스프링이 삽입되도록 상기 핀가이드의 하단 양측에 수평으로 관통되게 형성되는 삽입공을, 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"의 상기 탄성고정부는, 상기 삽입공과 연통되게 상기 후면케이스에 형성되는 연통공을, 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"의 상기 탄성고정부는, 상기 고정홈과 연통되게 상기 전면케이스에 형성되고 내측에 나사산이 형성되는 나선공과, 상기 나선공에 나사 결합되도록 외주면에 나사산이 형성되는 나선몸체와, 상기 나선몸체의 내측단에 형성되고 상기 스프링의 단부가 장착되는 장착부를, 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"의 상기 탄성고정부는, 상기 제1 설치홈의 내부면과 상기 핀가이드의 전면 사이에 배치되고 판형으로 형성되며 신축 가능한 합성고무 재질로 형성되는 제1 탄성고무판과, 상기 제2 설치홈의 내부면과 상기 핀가이드의 배면 사이에 배치되고 판형으로 형성되며 신축 가능한 합성고무 재질로 형성되는 제2 탄성고무판을, 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"의 상기 탄성고정부는, 상기 제1 탄성고무판에 대응하여 상기 제1 설치홈의 내부면으로 상기 전면케이스에 수평으로 형성되는 제1 수평홈과, 상기 제1 수평홈에 끼워져 상기 제1 탄성고무판을 탄성적으로 가압하는 제1 탄성가압부재와, 상기 제2 탄성고무판에 대응하여 상기 제2 설치홈의 내부면으로 상기 후면케이스에 수평으로 형성되는 제2 수평홈과, 상기 제2 수평홈에 끼워져 상기 제2 탄성고무판을 탄성적으로 가압하는 제2 탄성가압부재를, 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 "인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치"의 상기 전면케이스는, 상기 제1 설치홈의 상부로 연통되게 형성되는 상단개구부와, 상기 제1 설치홈의 양측에 수직으로 형성되는 측면홈과, 상기 제1 설치홈의 하부로 수평으로 형성되는 하부홈을, 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같은 본 발명은, 핀블록이 고정된 상태에서 핀이 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 움직일 수 있도록 하여 핀블록의 핀과 인쇄회로기판의 소켓과의 연결이 간편하면서 신속하게 이루어지고, 그에 따라 핀블로 장치의 반복적인 세팅에 따른 불필요한 시간과 인력의 소요가 방지되면서 반복 세팅에 따른 검사 시간의 지연이 원천적으로 방지되는 효과를 갖는다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 배면 사시도,
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 배면 분해 사시도,
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 사시도,
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 평단면도,
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도,
도 6은 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 측면도,
도 7은 도 6의 A-A 선의 개략적인 단면도,
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 요부 평단면도,
도 9는 본 발명의 제3 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 배면 분해 사시도,
도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도,
도 11은 본 발명의 제4 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 배면 분해 사시도,
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 사시도,
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 평단면도,
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도,
도 6은 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 측면도,
도 7은 도 6의 A-A 선의 개략적인 단면도,
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 요부 평단면도,
도 9는 본 발명의 제3 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 배면 분해 사시도,
도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도,
도 11은 본 발명의 제4 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도.
이하 본 발명의 바람직한 실시예가 도시된 첨부 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다. 그러나 본 발명은 다수의 상이한 형태로 구현될 수 있고, 기술된 실시예에 제한되지 않음을 이해하여야 한다.
도 1 내지 도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 도면들이다. 이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치는 전면케이스(10)와, 상기 전면케이스(10)의 배면에 장착되는 후면케이스(20)와, 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 요동 가능하게 구비되는 핀결합부재(30)와, 상기 핀결합부재(30)에 장착되고 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 요동 가능하게 구비되는 핀가이드(40)와, 상기 핀결합부재(30)와 핀가이드(40)에 장착되는 다수의 핀소켓(50)과, 상기 핀소켓(50)에 끼워져 장착되는 접속핀(60)과, 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 설치되어 상기 핀결합부재(30)와 핀가이드(40)를 모든 방향으로 요동 가능한 상태로 탄성적으로 고정시키는 탄성고정부(70)를 포함한다.
상기 전면케이스(10)는 판형으로 형성되고 배면에 제1 설치홈(11)이 형성되며 상기 제1 설치홈(11)의 상단에서 수평으로 관통되어 관통공(12)이 형성되는 것으로, 상기 후면케이스(20)와 결합되면서 상기 핀결합부재(30)와 핀가이드(40)가 모든 방향으로 움직일 수 있는 내부 공간을 형성하는 역할을 하면서 상기 접속핀(60)이 배치되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
상기 제1 설치홈(11)은 상기 전면케이스(10)의 후면으로 내부 공간을 형성하여 상기 핀가이드(40)가 배치되는 장소를 제공하는 역할을 한다. 상기 관통공(12)은 내측에 상기 접속핀(60)이 배치되는 장소를 제공하면서 인쇄회로기판의 소켓(C)이 결합되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
이와 같은 상기 전면케이스(10)는 상기 제1 설치홈(11)의 상부로 연통되게 형성되는 상단개구부(13)와, 상기 제1 설치홈(11)의 양측에 수직으로 형성되는 측면홈(14)과, 상기 제1 설치홈(11)의 하부로 수평으로 형성되는 하부홈(15)을 더 포함한다.
상기 상단개구부(13)는 상기 전면케이스(10)의 후면 내측 상부로 보다 넓은 빈 공간을 확보하여 상기 핀가이드(40)와 접속핀(60)이 상부측으로 원활하면서 안정적으로 굽힘되거나 움직일 수 있도록 하는 것이다.
상기 측면홈(14)은 상기 전면케이스(10)의 후면 내부 양측으로 보다 넓은 빈 공간을 확보하여 상기 핀가이드(40)와 접속핀(60)이 양측면으로 원활하면서 안정적으로 굽힘되거나 움직일 수 있도록 하는 것이다. 상기 하부홈(15)은 상기 전면케이스(10)의 후면 하부로 보다 넓은 빈 공간을 확보하여 상기 핀가이드(40)와 접속핀(60)이 하부측으로 원활하면서 안정적으로 굽힘되거나 움직일 수 있도록 하는 것이다.
상기 후면케이스(20)는 판형으로 형성되고 상기 전면케이스(10)의 배면에 밀착된 상태로 장착되며 상기 제1 설치홈(11)에 대응하여 전면에 제2 설치홈(21)이 형성되고 상기 제2 설치홈(21)의 상단에서 수평으로 관통되어 사각형의 소켓배치공(22)이 형성되는 것으로, 상기 전면케이스(10)의 배면에 장착되어 결합되면서 내부 공간을 형성하는 역할을 하고 상기 핀결합부재(30)가 배치되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
상기 제2 설치홈(21)은 상기 후면케이스(20)의 전면으로 내부 공간을 형성하여 상기 핀가이드(40)가 배치되는 장소를 제공하는 역할을 한다. 상기 소켓배치공(22)은 내측에 상기 핀결합부재(30)와 이에 끼워지는 상기 핀소켓(50)이 배치되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
상기 핀결합부재(30)는 상기 소켓배치공(22)보다 상대적으로 작은 판형으로 형성되어 상기 소켓배치공(22)에 상하좌우로 요동 가능하게 배치되고 배면에 후방으로 돌출되게 돌출부(31)가 형성되며 상기 돌출부(31)에서 수평으로 관통되게 다수의 소켓끼움공(32)이 형성되는 것으로, 전면으로 상기 핀가이드(40)가 나사 등으로 장착되어 고정되는 장소를 제공하면서 내측으로 상기 핀소켓(50)과 접속핀(60)이 끼워져 장착되는 장소를 제공하고 후방으로 상기 돌출부(31)를 통해 전원연결용 플러그가 연결되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
상기 돌출부(31)는 상기 핀소켓(50)의 후단이 상기 후면케이스(20)의 후방으로 돌출된 상태로 배치될 수 있도록 하는 것이고, 상기 소켓끼움공(32)은 다수개의 상기 핀소켓(50)이 끼워져 고정되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
상기 핀가이드(40)는 상기 핀결합부재(30)의 전면에 밀착된 상태로 장착되고 상기 제1 설치홈(11)과 제2 설치홈(21)에 의해 형성되는 내부 공간보다 상대적으로 작은 판형으로 형성되며 상기 소켓끼움공(32)에 대응하여 다수개의 핀끼움공(41)이 수평으로 관통하여 형성되는 것으로, 상기 제1 설치홈(11)과 제2 설치홈(21)에 의해 형성되는 내부 공간에서 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 배치되어 이에 결합되는 상기 접속핀(60)이 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 구비될 수 있도록 하는 것이다.
이와 같이 상기 핀가이드(40)에 의해 상기 접속핀(60)이 모든 방향으로 굽혀지거나 움직일 수 있게 됨으로써, 검사할 인쇄회로기판의 소켓(C)과 상기 접속핀(60) 사이에 위치 오차가 발생하더라도 상기 접속핀(60)이 상기 인쇄회로기판의 소켓(C)에 손쉽고 신속하게 끼워져 접속될 수 있게 된다.
상기 핀끼움공(41)은 다수의 상기 접속핀(60)이 끼워져 고정되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
상기 핀소켓(50)은 상기 소켓끼움공(32)에 후단이 끼워져 고정되고 선단이 상기 핀끼움공(41)을 관통하여 구비되며 다수개로 구비되는 것으로, 선단에는 상기 접속핀(60)이 끼워져 접속된 상태로 고정되도록 하면서 개구된 후단에는 전원연결용 플러그가 끼워져 전원이 연결될 수 있도록 하는 공지의 것이다.
상기 접속핀(60)은 각각의 상기 핀소켓(50)에 끼워져 고정되고 선단이 상기 관통공(12)에 배치되는 것으로, 검사할 인쇄회로기판의 소켓(C)에 끼워져 전원이 연결되면서 검사를 수행할 수 있도록 하는 공지의 것이다.
상기 탄성고정부(70)는 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 설치되는 것으로, 내부 공간에서 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 배치된 상태로 상기 핀가이드(40)를 탄성적으로 고정시켜 상기 접속핀(60)이 인쇄회로기판의 소켓(C)에 모든 방향으로 결합 가능하게 하는 것이다.
이와 같이 상기 탄성고정부(70)에 의해 상기 핀가이드(40)가 모든 방향으로 움직일 수 있게 되고, 그에 따라 상기 핀가이드(40)에 결합된 상기 접속핀(60)이 모든 방향으로 굽혀지거나 움직일 수 있게 됨으로써, 검사할 인쇄회로기판의 소켓(C)과 상기 접속핀(60) 사이에 위치 오차가 발생하더라도 상기 접속핀(60)이 상기 인쇄회로기판의 소켓(C)에 손쉽고 신속하게 끼워져 접속될 수 있게 된다.
이와 같은 상기 탄성고정부(70)는 상기 제1 설치홈(11)의 내부 양측에 상호 이격되게 형성되는 고정홈(71)과, 상기 고정홈(71)에 일단이 고정되고 타단이 수평으로 돌출되게 구비되는 스프링(72)과, 상기 스프링(72)이 삽입되도록 상기 핀가이드(40)의 하단 양측에 수평으로 관통되게 형성되는 삽입공(73)을 포함한다.
상기 고정홈(71)은 상기 스프링(72)의 후단이 장착되는 장소를 제공하는 역할을 하고, 상기 스프링(72)은 상기 핀가이드(40)를 탄성적으로 지지하여 상기 핀가이드(40)가 모든 방향으로 굽힘되거나 이 굽힘 상태가 원래의 상태로 탄성 복원될 수 있도록 하는 것이다. 상기 삽입공(73)은 상기 스프링(72)의 선단이 끼워져 상기 핀가이드(40)를 탄성적으로 지지할 수 있도록 하면서 보다 장기간 동안 탄성지지력이 유지되도록 하는 것이다.
이와 같은 상기 탄성고정부(70)는 상기 삽입공(73)과 연통되게 상기 후면케이스(20)에 형성되는 연통공(74)을 더 포함한다. 상기 연통공(74)은 상기 후면케이스(20)의 배면을 통해 상기 스프링(72)을 삽입하여 설치하는 통로를 제공하는 역할을 하면서 동시에 상기 스프링(72)이 길게 구비되어 상기 연통공(74)까지 배치됨으로써 상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 상기 스프링(72)이 지지되어 보다 강한 탄성지지력을 가지도록 하면서 보다 장기간 동안 탄성지지력이 유지되도록 하는 것이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 요부 평단면도이다. 이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치의 상기 탄성고정부(70)는 상기 고정홈(71)과 연통되게 상기 전면케이스(10)에 형성되고 내측에 나사산이 형성되는 나선공(75)과, 상기 나선공(75)에 나사 결합되도록 외주면에 나사산이 형성되는 나선몸체(76)와, 상기 나선몸체(76)의 내측단에 형성되고 상기 스프링(72)의 단부가 장착되는 장착부(77)를 더 포함한다.
상기 나선공(75)은 상기 나선몸체(76)가 상기 전면케이스(10)의 전면을 통해 나사 결합되어 분해 가능하게 고정될 수 있도록 하는 것이고, 상기 나선몸체(76)는 상기 나선공(75)에 나사 결합으로 장착되거나 분해될 수 있으면서 상기 장착부(77)가 형성되는 장소를 제공하는 역할을 한다. 상기 장착부(77)는 상기 스프링(72)의 단부가 끼워져 교체 가능하게 장착되는 장소를 제공하는 역할을 한다.
이와 같이 사용자는 상기 나선몸체(76)를 분해할 수 있으므로 상기 스프링(72)을 상기 핀가이드(40)에 대한 탄성지지력의 크기에 따라 필요한 크기나 길이의 스프링으로 교체하여 사용할 수 있게 된다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 도면들이다. 이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제3 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치의 상기 탄성고정부(70)는 상기 제1 설치홈(11)의 내부면과 상기 핀가이드(40)의 전면 사이에 배치되고 판형으로 형성되며 신축 가능한 합성고무 재질로 형성되는 제1 탄성고무판(71a)과, 상기 제2 설치홈(21)의 내부면과 상기 핀가이드(40)의 배면 사이에 배치되고 판형으로 형성되며 신축 가능한 합성고무 재질로 형성되는 제2 탄성고무판(72a)을 포함한다.
상기 제1 탄성고무판(71a)은 상기 핀가이드(40)의 배면을 탄성적으로 지지하여 상기 핀가이드(40)가 모든 방향으로 굽힘되거나 이 굽힘 상태가 원래의 상태로 탄성 복원될 수 있도록 하는 것이다.
상기 제2 탄성고무판(72a)은 상기 핀가이드(40)의 전면을 탄성적으로 지지하여 상기 핀가이드(40)가 모든 방향으로 굽힘되거나 움직일 있도록 하면서 이 굽힘이나 움직임 상태가 원래의 상태로 탄성 복원될 수 있도록 하는 것이다.
이와 같이 상기 제1 탄성고무판(71a)과 제2 탄성고무판(72a)에 의해 상기 핀가이드(40)의 전면과 배면이 탄성적으로 지지됨으로써, 상기 핀가이드(40)과 이에 결합된 상기 접속핀(60)의 모든 방향으로의 움직임이 안정적으로 이루어지게 되면서 인쇄회로기판의 소켓(C)과의 위치 오차가 적절히 해소되면서 안정적으로 접속된다.
도 11은 본 발명의 제4 실시예에 따른 핀블록 장치의 개략적인 종단면도이다. 이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제4 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치의 상기 탄성고정부(70)는 상기 제1 탄성고무판(71a)에 대응하여 상기 제1 설치홈(11)의 내부면으로 상기 전면케이스(10)에 수평으로 형성되는 제1 수평홈(73a)과, 상기 제1 수평홈(73a)에 끼워져 상기 제1 탄성고무판(71a)을 탄성적으로 가압하는 제1 탄성가압부재(74a)와, 상기 제2 탄성고무판(72a)에 대응하여 상기 제2 설치홈(21)의 내부면으로 상기 후면케이스(20)에 수평으로 형성되는 제2 수평홈(75a)과, 상기 제2 수평홈(75a)에 끼워져 상기 제2 탄성고무판(72a)을 탄성적으로 가압하는 제2 탄성가압부재(76a)를 더 포함한다.
상기 제1 수평홈(73a)은 상기 제1 탄성가압부재(74a)가 끼워져 고정되는 장소를 제공하는 역할을 하고, 상기 제1 탄성가압부재(74a)는 상기 핀가이드(40)의 전면을 탄성적으로 지지하는 상기 제1 탄성고무판(71a)의 배면을 탄성적으로 가압하여 상기 제1 탄성고무판(71a)의 탄성지지력을 보완하거나 보강하는 역할을 한다.
상기 제2 수평홈(75a)은 상기 제2 탄성가압부재(76a)가 끼워져 고정되는 장소를 제공하는 역할을 하고, 상기 제2 탄성가압부재(76a)는 상기 핀가이드(40)의 배면을 탄성적으로 지지하는 상기 제2 탄성고무판(72a)의 배면을 탄성적으로 가압하여 상기 제2 탄성고무판(72a)의 탄성지지력을 보완하거나 보강하는 역할을 한다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였으나, 본 발명은 다양한 변화와 변경 및 균등물을 사용할 수 있다. 본 발명은 상기 실시예를 적절히 변형하여 동일하게 응용할 수 있음이 명확하다. 따라서 상기 기재 내용은 하기 특허청구범위의 한계에 의해 정해지는 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니다.
한편, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함을 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명하다할 것이다.
10 : 전면케이스
11 : 제1 설치홈 12 : 관통공
13 : 상단개구부 14 : 측면홈
15 : 하부홈
20 : 후면케이스
21 : 제2 설치홈 22 : 소켓배치공
30 : 핀결합부재
31 : 돌출부 32 : 소켓끼움공
40 : 핀가이드
41 : 핀끼움공
50 : 핀소켓
60 : 접속핀
70 : 탄성고정부
71 : 고정홈 72 : 스프링
73 : 삽입공 74 : 연통공
75 : 나선공 76 : 나선몸체
77 : 장착부
71a : 제1 탄성고무판 72a : 제2 탄성고무판
73a : 제1 수평홈 74a : 제1 탄성가압부재
75a : 제2 수평홈 76a : 제2 탄성가압부재
11 : 제1 설치홈 12 : 관통공
13 : 상단개구부 14 : 측면홈
15 : 하부홈
20 : 후면케이스
21 : 제2 설치홈 22 : 소켓배치공
30 : 핀결합부재
31 : 돌출부 32 : 소켓끼움공
40 : 핀가이드
41 : 핀끼움공
50 : 핀소켓
60 : 접속핀
70 : 탄성고정부
71 : 고정홈 72 : 스프링
73 : 삽입공 74 : 연통공
75 : 나선공 76 : 나선몸체
77 : 장착부
71a : 제1 탄성고무판 72a : 제2 탄성고무판
73a : 제1 수평홈 74a : 제1 탄성가압부재
75a : 제2 수평홈 76a : 제2 탄성가압부재
Claims (7)
- 판형으로 형성되고, 배면에 제1 설치홈(11)이 형성되며, 상기 제1 설치홈(11)의 상단에서 수평으로 관통되어 관통공(12)이 형성되는 전면케이스(10)와;
판형으로 형성되고, 상기 전면케이스(10)의 배면에 밀착된 상태로 장착되며, 상기 제1 설치홈(11)에 대응하여 전면에 제2 설치홈(21)이 형성되고, 상기 제2 설치홈(21)의 상단에서 수평으로 관통되어 사각형의 소켓배치공(22)이 형성되는 후면케이스(20)와;
상기 소켓배치공(22)보다 상대적으로 작은 판형으로 형성되어 상기 소켓배치공(22)에 상하좌우로 요동 가능하게 배치되고, 배면에 후방으로 돌출되게 돌출부(31)가 형성되며, 상기 돌출부(31)에서 수평으로 관통되게 다수의 소켓끼움공(32)이 형성되는 핀결합부재(30)와;
상기 핀결합부재(30)의 전면에 밀착된 상태로 장착되고, 상기 제1 설치홈(11)과 제2 설치홈(21)에 의해 형성되는 내부 공간보다 상대적으로 작은 판형으로 형성되어 내부 공간에서 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 배치되며, 상기 소켓끼움공(32)에 대응하여 다수개의 핀끼움공(41)이 수평으로 관통하여 형성되는 핀가이드(40)와;
상기 소켓끼움공(32)에 후단이 끼워져 고정되고, 선단이 상기 핀끼움공(41)을 관통하여 구비되는 다수의 핀소켓(50)과;
각각의 상기 핀소켓(50)에 끼워져 고정되고, 선단이 상기 관통공(12)에 배치되는 접속핀(60)과;
상기 전면케이스(10)와 후면케이스(20)에 의해 형성되는 내부 공간에 설치되고, 내부 공간에서 전후, 상하, 좌우를 포함하는 모든 방향으로 요동 가능하게 배치된 상태로 상기 핀가이드(40)를 탄성적으로 고정시켜 상기 접속핀(60)이 인쇄회로기판의 소켓에 모든 방향으로 결합 가능하게 하는 탄성고정부(70)를; 포함하고,
상기 전면케이스(10)는,
상기 제1 설치홈(11)의 상부로 연통되게 형성되는 상단개구부(13)와,
상기 제1 설치홈(11)의 양측에 수직으로 형성되는 측면홈(14)과,
상기 제1 설치홈(11)의 하부로 수평으로 형성되는 하부홈(15)을, 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 탄성고정부(70)는,
상기 제1 설치홈(11)의 내부 양측에 상호 이격되게 형성되는 고정홈(71)과,
상기 고정홈(71)에 일단이 고정되고 타단이 수평으로 돌출되게 구비되는 스프링(72)과,
상기 스프링(72)이 삽입되도록 상기 핀가이드(40)의 하단 양측에 수평으로 관통되게 형성되는 삽입공(73)을,
포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치.
- 제2항에 있어서,
상기 탄성고정부(70)는,
상기 삽입공(73)과 연통되게 상기 후면케이스(20)에 형성되는 연통공(74)을,
더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치.
- 제2항에 있어서,
상기 탄성고정부(70)는,
상기 고정홈(71)과 연통되게 상기 전면케이스(10)에 형성되고 내측에 나사산이 형성되는 나선공(75)과,
상기 나선공(75)에 나사 결합되도록 외주면에 나사산이 형성되는 나선몸체(76)와,
상기 나선몸체(76)의 내측단에 형성되고 상기 스프링(72)의 단부가 장착되는 장착부(77)를,
더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 탄성고정부(70)는,
상기 제1 설치홈(11)의 내부면과 상기 핀가이드(40)의 전면 사이에 배치되고 판형으로 형성되며 신축 가능한 합성고무 재질로 형성되는 제1 탄성고무판(71a)과,
상기 제2 설치홈(21)의 내부면과 상기 핀가이드(40)의 배면 사이에 배치되고 판형으로 형성되며 신축 가능한 합성고무 재질로 형성되는 제2 탄성고무판(72a)을,
포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치.
- 제5항에 있어서,
상기 탄성고정부(70)는,
상기 제1 탄성고무판(71a)에 대응하여 상기 제1 설치홈(11)의 내부면으로 상기 전면케이스(10)에 수평으로 형성되는 제1 수평홈(73a)과,
상기 제1 수평홈(73a)에 끼워져 상기 제1 탄성고무판(71a)을 탄성적으로 가압하는 제1 탄성가압부재(74a)와,
상기 제2 탄성고무판(72a)에 대응하여 상기 제2 설치홈(21)의 내부면으로 상기 후면케이스(20)에 수평으로 형성되는 제2 수평홈(75a)과,
상기 제2 수평홈(75a)에 끼워져 상기 제2 탄성고무판(72a)을 탄성적으로 가압하는 제2 탄성가압부재(76a)를,
더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치.
- 삭제
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020200090878A KR102377330B1 (ko) | 2020-07-22 | 2020-07-22 | 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020200090878A KR102377330B1 (ko) | 2020-07-22 | 2020-07-22 | 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220011962A KR20220011962A (ko) | 2022-02-03 |
| KR102377330B1 true KR102377330B1 (ko) | 2022-03-22 |
Family
ID=80268736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020200090878A KR102377330B1 (ko) | 2020-07-22 | 2020-07-22 | 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102377330B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114952706B (zh) * | 2022-03-28 | 2024-07-09 | 中国人民解放军陆军装甲兵学院 | 特种装备车辆悬架销拆卸安装装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010156717A (ja) * | 2002-08-29 | 2010-07-15 | Three M Innovative Properties Co | 高密度プローブデバイス |
| KR101807098B1 (ko) | 2017-06-12 | 2017-12-11 | 프라임텍 주식회사 | 접촉 면적을 확대한 접속핀 및 이를 포함하는 핀 블럭 |
| JP6352510B2 (ja) * | 2016-09-15 | 2018-07-04 | 株式会社Ｓｄｋ | コンタクト装置および測定用ソケット |
| KR101963723B1 (ko) * | 2018-04-27 | 2019-08-01 | 주식회사 메카텍시스템즈 | 카메라 모듈용 테스트 소켓 |
| KR102012745B1 (ko) | 2018-08-17 | 2019-08-21 | (주) 나노에이스 | 테스트 핸들러 매치플레이트를 위한 헤드 교체 및 변위형 푸싱유닛 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1019991A (ja) * | 1996-07-09 | 1998-01-23 | Yokowo Co Ltd | 回路基板検査装置のテストヘッド |
| KR100991162B1 (ko) * | 2008-11-25 | 2010-11-01 | 주식회사 엔티에스 | 카메라모듈의 이미지센서 검사용 소켓 |
| KR20160092366A (ko) | 2015-01-27 | 2016-08-04 | 유니퀘스트 주식회사 | 핀블록 및 이를 구비하는 검사 장치 |
-
2020
- 2020-07-22 KR KR1020200090878A patent/KR102377330B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010156717A (ja) * | 2002-08-29 | 2010-07-15 | Three M Innovative Properties Co | 高密度プローブデバイス |
| JP6352510B2 (ja) * | 2016-09-15 | 2018-07-04 | 株式会社Ｓｄｋ | コンタクト装置および測定用ソケット |
| KR101807098B1 (ko) | 2017-06-12 | 2017-12-11 | 프라임텍 주식회사 | 접촉 면적을 확대한 접속핀 및 이를 포함하는 핀 블럭 |
| KR101963723B1 (ko) * | 2018-04-27 | 2019-08-01 | 주식회사 메카텍시스템즈 | 카메라 모듈용 테스트 소켓 |
| KR102012745B1 (ko) | 2018-08-17 | 2019-08-21 | (주) 나노에이스 | 테스트 핸들러 매치플레이트를 위한 헤드 교체 및 변위형 푸싱유닛 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20220011962A (ko) | 2022-02-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101406033B1 (ko) | 핀 블록 교체가 가능한 검사용 소켓 | |
| KR102377330B1 (ko) | 인쇄회로기판 검사기용 핀블록 장치 | |
| KR100648014B1 (ko) | 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 ｐｃｂ 접속용지그 | |
| KR20130037754A (ko) | 엘이디 바 검사 장치 | |
| KR101186204B1 (ko) | 연성회로기판 검사 장치 | |
| KR100767191B1 (ko) | 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치 | |
| KR20210124365A (ko) | 프로브 모듈 | |
| US6828777B2 (en) | Fixture for test cards of testing machine | |
| CN204203401U (zh) | 一种公座连接器测试装置 | |
| CN213633714U (zh) | 一种用于柔性线路板的射频测试探针模块 | |
| KR200388336Y1 (ko) | 컨택트 프로브 | |
| KR200372568Y1 (ko) | Fpc 검사용 지그 | |
| US6441632B1 (en) | Spring probe contactor for testing PGA devices | |
| US20030092300A1 (en) | Method for electrically connecting a circuit board connector to an external device | |
| KR101981653B1 (ko) | 기판 테스트 장비 | |
| US6437557B1 (en) | PC card clamping device for automated test fixture | |
| KR101033978B1 (ko) | 롬 라이터용 아이씨 소켓 | |
| CN215868338U (zh) | 一种口袋式电子系统设计模块 | |
| TW404084B (en) | Test socket | |
| CN221199857U (zh) | 新型集成电路测试装置 | |
| KR200153742Y1 (ko) | 컨넥터 검사장치 | |
| CN213816476U (zh) | 一种PCBA B2B Connector转接结构 | |
| JP3090255U (ja) | プローブ構造 | |
| CN218770206U (zh) | 一种用于pcb板快插测试的射频连接器 | |
| CN217181009U (zh) | 一种电路板一体式检测装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |