KR102376154B1 - Composition for forming a release layer - Google Patents

Composition for forming a release layer Download PDF

Info

Publication number
KR102376154B1
KR102376154B1 KR1020197004723A KR20197004723A KR102376154B1 KR 102376154 B1 KR102376154 B1 KR 102376154B1 KR 1020197004723 A KR1020197004723 A KR 1020197004723A KR 20197004723 A KR20197004723 A KR 20197004723A KR 102376154 B1 KR102376154 B1 KR 102376154B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
release layer
aromatic group
composition
resin substrate
substrate
Prior art date
Application number
KR1020197004723A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20190038846A (en
Inventor
카즈야 신도
카즈야 에바라
Original Assignee
닛산 가가쿠 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 filed Critical 닛산 가가쿠 가부시키가이샤
Publication of KR20190038846A publication Critical patent/KR20190038846A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102376154B1 publication Critical patent/KR102376154B1/en

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G69/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carboxylic amide link in the main chain of the macromolecule
    • C08G69/02Polyamides derived from amino-carboxylic acids or from polyamines and polycarboxylic acids
    • C08G69/26Polyamides derived from amino-carboxylic acids or from polyamines and polycarboxylic acids derived from polyamines and polycarboxylic acids
    • C08G69/32Polyamides derived from amino-carboxylic acids or from polyamines and polycarboxylic acids derived from polyamines and polycarboxylic acids from aromatic diamines and aromatic dicarboxylic acids with both amino and carboxylic groups aromatically bound
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G73/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
    • C08G73/06Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
    • C08G73/10Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08G73/1003Preparatory processes
    • C08G73/1007Preparatory processes from tetracarboxylic acids or derivatives and diamines
    • C08G73/1028Preparatory processes from tetracarboxylic acids or derivatives and diamines characterised by the process itself, e.g. steps, continuous
    • C08G73/1032Preparatory processes from tetracarboxylic acids or derivatives and diamines characterised by the process itself, e.g. steps, continuous characterised by the solvent(s) used
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G73/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
    • C08G73/06Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
    • C08G73/10Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08G73/1039Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors comprising halogen-containing substituents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G73/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
    • C08G73/06Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
    • C08G73/10Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08G73/1067Wholly aromatic polyimides, i.e. having both tetracarboxylic and diamino moieties aromatically bound
    • C08G73/1071Wholly aromatic polyimides containing oxygen in the form of ether bonds in the main chain
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G73/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
    • C08G73/06Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
    • C08G73/10Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08G73/12Unsaturated polyimide precursors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/16Nitrogen-containing compounds
    • C08K5/20Carboxylic acid amides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/16Nitrogen-containing compounds
    • C08K5/34Heterocyclic compounds having nitrogen in the ring
    • C08K5/3412Heterocyclic compounds having nitrogen in the ring having one nitrogen atom in the ring
    • C08K5/3415Five-membered rings
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L77/00Compositions of polyamides obtained by reactions forming a carboxylic amide link in the main chain; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L77/10Polyamides derived from aromatically bound amino and carboxyl groups of amino-carboxylic acids or of polyamines and polycarboxylic acids
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L79/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon only, not provided for in groups C08L61/00 - C08L77/00
    • C08L79/04Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain; Polyhydrazides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08L79/08Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 박리층 형성용 조성물을 제공한다. (식 중, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다.)

Figure 112019016725128-pct00024
A polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamide represented by the following formula (4), and an organic solvent A composition for forming a release layer is provided. (Wherein, X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, X 3 represents a divalent aromatic group not having a fluorine atom, Y 1 is a fluorine atom represents a divalent aromatic group having , Y 2 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, and m represents a natural number.)
Figure 112019016725128-pct00024

Description

박리층 형성용 조성물 Composition for forming a release layer

본 발명은 박리층 형성용 조성물에 관한 것으로, 상세하게 서술하면 기체 상에 마련하는 박리층을 형성하기 위한 박리층 형성용 조성물에 관한 것이다. The present invention relates to a composition for forming a release layer, and more particularly, to a composition for forming a release layer for forming a release layer provided on a substrate.

최근, 전자 디바이스에는 박형화 및 경량화라는 특성에 더해, 구부릴 수 있다는 기능을 부여하는 것이 요구되고 있다. 이 점에서, 종래의 무겁고 취약하며 구부릴 수 없는 유리 기판을 대신하여 경량의 플렉서블 플라스틱 기판을 사용하는 것이 요구된다. In recent years, in addition to the characteristics of thickness reduction and weight reduction, it is calculated|required to provide the function of being bendable to an electronic device. In this regard, it is required to use a lightweight flexible plastic substrate instead of the conventional heavy, brittle and inflexible glass substrate.

특히, 신세대 디스플레이에서는 경량의 플렉서블 플라스틱 기판(이하, 수지 기판이라고 표기한다)을 사용한 액티브 매트릭스형 풀 컬러 TFT 디스플레이 패널의 개발이 요구되고 있다. 이 신세대 디스플레이에 관한 기술은 플렉서블 디스플레이나 플렉서블 스마트폰, 미러 디스플레이 등의 다양한 분야로의 전용이 기대되고 있다. In particular, development of an active matrix type full-color TFT display panel using a lightweight flexible plastic substrate (hereinafter, referred to as a resin substrate) is required for a new generation display. This new-generation display technology is expected to be diverted to various fields such as flexible displays, flexible smart phones, and mirror displays.

그래서, 수지 필름을 기판으로 한 전자 디바이스의 제조 방법이 다양하게 검토되기 시작하여, 신세대 디스플레이에서는 기존의 TFT 디스플레이 패널 제조용의 설비가 전용 가능한 프로세스의 검토가 진행되고 있다. 또 터치패널식 디스플레이에 있어서는 디스플레이 패널에 조합하여 사용되는 터치패널의 투명 전극용의 수지 기판 등을 효율적으로 제조하기 위한 방책이 검토되고 있다. 일반적으로 터치패널에 사용되는 수지 기판은 TFT 디스플레이 패널 등과 마찬가지로, 유리와 동등 정도의 투명성을 가지는 폴리이미드 수지 기판이나 아크릴 수지 기판, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 수지 기판, 사이클로올레핀 수지 기판 등의 필름 기판이 사용되고 있다. Then, the manufacturing method of the electronic device which used the resin film as a board|substrate variously began to be examined, and examination of the process which can divert the existing equipment for TFT display panel manufacturing in a new-generation display is progressing. Moreover, in a touch panel type display, the method for efficiently manufacturing the resin substrate for transparent electrodes of a touch panel used in combination with a display panel, etc. is examined. In general, resin substrates used in touch panels are film substrates such as polyimide resin substrates or acrylic resin substrates, polyethylene terephthalate (PET) resin substrates, cycloolefin resin substrates, and the like, having transparency equivalent to glass, similar to TFT display panels. this is being used

예를 들면, 특허문헌 1, 2 및 3에서는 유리 기판 상에 아몰퍼스 실리콘 박막층을 형성하고, 그 박막층 상에 플라스틱 기판을 형성한 후에, 유리면측으로부터 레이저를 조사하여, 아몰퍼스 실리콘의 결정화에 따라 발생하는 수소 가스에 의해 플라스틱 기판을 유리 기판으로부터 박리하는 방법이 개시되어 있다. 또 특허문헌 4에서는 특허문헌 1~3에 개시된 기술을 사용하여 피박리층(특허문헌 4에 있어서 「피전사층」이라고 기재되어 있다.)을 플라스틱 필름에 첩부하여 액정 표시 장치를 완성시키는 방법이 개시되어 있다. For example, in Patent Documents 1, 2 and 3, an amorphous silicon thin film layer is formed on a glass substrate, a plastic substrate is formed on the thin film layer, and then a laser is irradiated from the glass surface side, A method of peeling a plastic substrate from a glass substrate by hydrogen gas is disclosed. Moreover, in Patent Document 4, a method of affixing a layer to be peeled (in Patent Document 4, it is described as a "transferred layer") to a plastic film using the technique disclosed in Patent Documents 1 to 3 to complete a liquid crystal display device. has been disclosed.

그러나 특허문헌 1~4에서 개시된 방법, 특히 특허문헌 4에서 개시된 방법에서는 레이저광을 투과시키기 위해서 투광성이 높은 기판을 사용하는 것이 필수인 것, 기판을 통과시키고, 또한 아몰퍼스 실리콘에 포함되는 수소를 방출시키기에 충분한 비교적 큰 에너지의 레이저광의 조사가 필요하게 되는 것, 레이저광의 조사에 의해 피박리층에 손상을 주어버리는 경우가 있는 것과 같은 문제가 있다. However, in the methods disclosed in Patent Documents 1 to 4, particularly in the method disclosed in Patent Document 4, it is essential to use a substrate with high light transmittance in order to transmit laser light, allowing the substrate to pass through, and also releasing hydrogen contained in amorphous silicon. There are problems such as that it is necessary to irradiate a laser beam with a relatively large energy sufficient to cause the fusion, and that the layer to be peeled may be damaged by the irradiation of the laser beam.

게다가, 피박리층이 대면적인 경우에는 레이저 처리에 장시간을 요하기 때문에, 디바이스 제작의 생산성을 높이는 것이 어렵다. In addition, when the layer to be peeled has a large area, laser processing takes a long time, so it is difficult to increase the productivity of device manufacturing.

일본 특개 평10-125929호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-125929 일본 특개 평10-125931호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 10-125931 국제공개 제2005/050754호International Publication No. 2005/050754 일본 특개 평10-125930호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 10-125930

본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판, 특히 폴리이미드 수지나 아크릴 수지, 사이클로올레핀 폴리머 수지 등으로 형성되는 수지 기판을 손상하지 않고 박리하는 것이 가능하게 되는 박리층을 부여하는 박리층 형성용 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been made in view of the above circumstances, and a release layer that can be peeled off without damaging a resin substrate of a flexible electronic device, particularly a resin substrate formed of a polyimide resin, an acrylic resin, a cycloolefin polymer resin, etc. is provided. An object of the present invention is to provide a composition for forming a release layer.

본 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토를 거듭한 결과, 특정의 구조를 가지는 폴리아믹산 또는 폴리아마이드와 유기 용제를 포함하는 조성물이 유리 기판 등의 기체와의 우수한 밀착성 및 플렉서블 전자 디바이스로서 사용되는 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가지는 박리층을 부여하는 것을 알아내어 본 발명을 완성시켰다. As a result of repeated studies to solve the above problems, the present inventors have found that a composition containing a polyamic acid or polyamide having a specific structure and an organic solvent has excellent adhesion to a substrate such as a glass substrate and is used as a flexible electronic device. This invention was completed by discovering providing the peeling layer which has suitable adhesiveness with a resin substrate, and suitable peeling property.

즉, 본 발명은 That is, the present invention

1. 하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물, 1. A polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamide represented by the following formula (4), and an organic solvent A composition for forming a release layer, comprising:

Figure 112019016725128-pct00001
Figure 112019016725128-pct00001

(식 중, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다.) (Wherein, X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, X 3 represents a divalent aromatic group not having a fluorine atom, Y 1 is a fluorine atom represents a divalent aromatic group having , Y 2 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, and m represents a natural number.)

2. 상기 Y1이 하기 식(5)~(9)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 방향족기인 1의 박리층 형성용 조성물, 2. The composition for forming a release layer of 1 wherein Y 1 is an aromatic group selected from the group consisting of the following formulas (5) to (9);

Figure 112019016725128-pct00002
Figure 112019016725128-pct00002

3. 상기 Y1이 하기 식(10)으로 표시되는 방향족기인 2의 박리층 형성용 조성물, 3. The composition for forming a release layer of 2 wherein Y 1 is an aromatic group represented by the following formula (10);

Figure 112019016725128-pct00003
Figure 112019016725128-pct00003

4. 상기 X2가 하기 식(11) 또는 (12)으로 표시되는 방향족기인 1 내지 3 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 4. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 3, wherein X 2 is an aromatic group represented by the following formula (11) or (12);

Figure 112019016725128-pct00004
Figure 112019016725128-pct00004

5. 상기 X1이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 1 내지 4 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 5. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 4, wherein X 1 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings;

6. 상기 X3이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 1 내지 5 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 6. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 5, wherein X 3 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings;

7. 상기 Y2가 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 1 내지 6 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 7. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 6, wherein Y 2 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings;

8. 상기 유기 용매가 식(S1)으로 표시되는 아마이드류, 식(S2)으로 표시되는 아마이드류 및 식(S3)으로 표시되는 아마이드류로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 1 내지 7 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 8. Any one of 1 to 7 wherein the organic solvent contains at least one selected from amides represented by formula (S1), amides represented by formula (S2), and amides represented by formula (S3) composition for forming a release layer of

Figure 112019016725128-pct00005
Figure 112019016725128-pct00005

(식 중, R1 및 R2는 서로 독립적으로 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. R3은 수소 원자 또는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. h는 자연수를 나타낸다.) (Wherein, R 1 and R 2 each independently represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. h represents a natural number.)

9. 1 내지 8 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물을 사용하여 형성되는 박리층, 9. A release layer formed using the composition for forming a release layer according to any one of 1 to 8;

10. 9의 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법, 10. A method for manufacturing a flexible electronic device comprising a resin substrate comprising the use of the release layer of 9;

11. 9의 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 터치패널 센서의 제조 방법, 11. Method of manufacturing a touch panel sensor having a resin substrate, characterized in that using the release layer of 9;

12. 상기 수지 기판이 폴리이미드 수지 기판 또는 파장 400nm의 광 투과율이 80% 이상인 수지 기판인 10 또는 11의 제조 방법 12. The manufacturing method of 10 or 11, wherein the resin substrate is a polyimide resin substrate or a resin substrate having a light transmittance of 80% or more at a wavelength of 400 nm

을 제공한다. provides

본 발명의 박리층 형성용 조성물을 사용함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가지는 막을 재현성 좋게 얻을 수 있다. 본 발명의 조성물을 사용함으로써, 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 기체 상에 형성된 수지 기판이나, 또한 그 위에 설치되는 회로 등에 손상을 주지 않고, 당해 회로 등과 함께 당해 수지 기판을 당해 기체로부터 분리하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 본 발명의 박리층 형성용 조성물은 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스의 간편화나 그 수율 향상 등에 기여할 수 있다. By using the composition for forming a release layer of the present invention, it is possible to obtain a film having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate peelability, with good reproducibility. By using the composition of the present invention, in the manufacturing process of a flexible electronic device, the resin substrate formed on the substrate or the circuit installed thereon is not damaged, and the resin substrate is separated from the substrate together with the circuit etc. thing becomes possible Therefore, the composition for forming a release layer of the present invention can contribute to simplification of the manufacturing process of a flexible electronic device including a resin substrate, improvement of its yield, and the like.

이하, 본 발명에 대해서, 보다 상세하게 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in more detail.

본 발명의 박리층 형성용 조성물은 하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 것이다. The composition for forming a release layer of the present invention is a polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamic acid represented by the following formula (4) It contains polyamide and an organic solvent.

본 발명에 있어서, 박리층은 수지 기판이 형성되는 기체(유리 기체 등) 바로 위에 마련되는 층이다. 그 전형예로서는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 상기 기체와, 폴리이미드 수지나 아크릴 수지, 사이클로올레핀 폴리머 수지 등으로 형성되는 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판과의 사이에 당해 수지 기판을 소정의 프로세스 중에 있어서 고정하기 위해서 마련되고, 또한 당해 수지 기판 상에 전자 회로 등을 형성한 후에 있어서 당해 수지 기판을 당해 기체로부터 용이하게 박리할 수 있도록 하기 위해서 마련되는 박리층을 들 수 있다. In the present invention, the release layer is a layer provided directly on the substrate (eg, glass substrate) on which the resin substrate is formed. As a typical example thereof, in a manufacturing process of a flexible electronic device, the resin substrate is transferred between the substrate and a resin substrate of a flexible electronic device formed of a polyimide resin, an acrylic resin, a cycloolefin polymer resin, or the like in a predetermined process. A peeling layer provided in order to be fixed and provided in order to be able to peel the said resin substrate from the said base|substrate easily after forming an electronic circuit etc. on the said resin substrate is mentioned.

Figure 112019016725128-pct00006
Figure 112019016725128-pct00006

상기 식(1)~(4)에 있어서, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다. In the formulas (1) to (4), X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, and X 3 is a divalent aromatic group having no fluorine atom. group, Y 1 represents a divalent aromatic group having a fluorine atom, Y 2 represents a divalent aromatic group not having a fluorine atom, and m represents a natural number.

상기 X1은 불소 원자를 가지지 않고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하다. 또한 상기 X1은 에스터 결합 및 에터 결합의 어느 한쪽 또는 양쪽을 포함해도 된다. Said X< 1 > does not have a fluorine atom, and the aromatic group which contains 1-5 benzene rings is preferable. Moreover, said X< 1 > may contain either or both of an ester bond and an ether bond.

상기 Y1은 불소 원자를 가지고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 하기 식(5)~(9)으로 이루어지는 군이 선택되는 방향족기가 보다 바람직하며, 하기 식(5)으로부터 선택되는 방향족기가 한층 더 바람직하고, 하기 식(10)으로 표시되는 방향족기가 더욱 바람직하다. Y 1 is preferably an aromatic group having a fluorine atom and containing 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group selected from the group consisting of the following formulas (5) to (9), and the following formula (5) An aromatic group selected from is still more preferable, and an aromatic group represented by the following formula (10) is still more preferable.

Figure 112019016725128-pct00007
Figure 112019016725128-pct00007

Figure 112019016725128-pct00008
Figure 112019016725128-pct00008

상기 X2는 불소 원자를 가지고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 하기 식(11) 또는 (12)으로 표시되는 방향족기가 보다 바람직하다. X 2 is preferably an aromatic group having a fluorine atom and containing 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group represented by the following formula (11) or (12).

Figure 112019016725128-pct00009
Figure 112019016725128-pct00009

상기 Y2는 불소 원자를 가지지 않고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 1~3개 포함하는 방향족기가 보다 바람직하다. 또한 상기 Y2는 에스터 결합 및 에터 결합의 어느 한쪽 또는 양쪽을 포함해도 된다. Y 2 is preferably an aromatic group that does not have a fluorine atom and contains 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group containing 1 to 3 benzene rings. Moreover, said Y2 may contain either or both of an ester bond and an ether bond.

상기 X3은 불소 원자를 가지지 않고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 벤젠환을 1~2개 포함하는 방향족기가 보다 바람직하며, 바이페닐기가 더욱 바람직하다. X 3 is preferably an aromatic group that does not have a fluorine atom and contains 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group containing 1 to 2 benzene rings, and still more preferably a biphenyl group.

상기 m은 자연수이면 되는데, 100 이하의 자연수가 바람직하고, 2~100의 자연수가 보다 바람직하다. Although m may be a natural number, a natural number of 100 or less is preferable, and a natural number of 2-100 is more preferable.

[폴리아믹산 1] [Polyamic Acid 1]

상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산은 불소 원자를 가지지 않는 방향족 테트라카복실산 이무수물과, 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. 이하, 상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 방향족 테트라카복실산 이무수물 및 방향족 다이아민에 대해서 상세하게 서술한다. The polyamic acid represented by the said Formula (1) is obtained by making the aromatic tetracarboxylic dianhydride which does not have a fluorine atom react with the aromatic diamine which has a fluorine atom. Hereinafter, the aromatic tetracarboxylic dianhydride and aromatic diamine which can be used for the synthesis|combination of the polyamic acid represented by said Formula (1) are described in detail.

본 발명에 있어서, 상기 방향족 테트라카복실산 이무수물은 불소 원자를 가지지 않고, 또한 분자 내에 2개의 다이카복실산 무수물 부위를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족 테트라카복실산 이무수물이 바람직하다. In the present invention, the aromatic tetracarboxylic dianhydride is not particularly limited as long as it does not have a fluorine atom and has two dicarboxylic acid anhydride moieties in the molecule, but an aromatic tetracarboxylic dianhydride containing 1 to 5 benzene rings This is preferable.

방향족 테트라카복실산 이무수물의 구체예로서는 피로멜리트산 이무수물, 벤젠-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-2,3,5,6-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,4,5,8-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-2,2',3,3'-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-2,3,3',4'-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-3,3',4,4'-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,9,10-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,9,10-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-3,4,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-3,4,9,10-테트라카복실산 이무수물, 하기 식(B1)~(B12)으로 표시되는 방향족 테트라카복실산 이무수물 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic tetracarboxylic dianhydride include pyromellitic dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, and naphthalene-1,2,5 ,6-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-2,2',3,3'-tetracarboxylic dianhydride , Biphenyl-2,3,3',4'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-3,3',4,4'-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride Water, anthracene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, anthracene-2 ,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2 ,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,9,10-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-2,3,5 ,6-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-2,3,9,10-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-3,4,5,6 -tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-3,4,9,10-tetracarboxylic dianhydride, aromatic tetracarboxylic dianhydride represented by the following formulas (B1) to (B12), etc., but are not limited thereto . These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

Figure 112019016725128-pct00010
Figure 112019016725128-pct00010

한편, 방향족 다이아민으로서는 불소 원자를 가지고, 또한 분자 내에 방향환에 직결되는 2개의 아미노기를 가지고 있으면, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민이 바람직하다. 또 플루오로알킬기 또는 퍼플루오로알킬기를 가지는 것이 보다 바람직하고, 퍼플루오로알킬기가 더욱 바람직하다. 상기 퍼플루오로알킬기로서는 예를 들면 트라이플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, n-헵타플루오로프로필기 및 i-헵타플루오로프로필기 등을 들 수 있다. On the other hand, the aromatic diamine is not particularly limited as long as it has a fluorine atom and has two amino groups directly linked to an aromatic ring in the molecule, but an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene rings is preferable. Moreover, it is more preferable to have a fluoroalkyl group or a perfluoroalkyl group, and a perfluoroalkyl group is still more preferable. Examples of the perfluoroalkyl group include a trifluoromethyl group, a pentafluoroethyl group, an n-heptafluoropropyl group and an i-heptafluoropropyl group.

상기 방향족 다이아민의 구체예로서는 5-트라이플루오로메틸벤젠-1,3-다이아민, 5-트라이플루오로메틸벤젠-1,2-다이아민, 2-트라이플루오로메틸벤젠-1,4-다이아민, 3,5-비스(트라이플루오로메틸)벤젠-1,2-다이아민, 2,2'-비스(트라이플루오로메틸)-4,4'-다이아미노바이페닐, 2,2-비스(3-아미노페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로페인, 2,2-비스(4-아미노페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로페인, 3,3'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이아민, 3,3',5,5'-테트라플루오로바이페닐-4,4'-다이아민, 4,4'-다이아미노옥타플루오로바이페닐, 하기 식(A1)~(A5)으로 표시되는 방향족 다이아민 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic diamine include 5-trifluoromethylbenzene-1,3-diamine, 5-trifluoromethylbenzene-1,2-diamine, and 2-trifluoromethylbenzene-1,4-diamine. , 3,5-bis(trifluoromethyl)benzene-1,2-diamine, 2,2'-bis(trifluoromethyl)-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2-bis( 3-Aminophenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis(4-aminophenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoro Ropropane, 3,3'-bis(trifluoromethyl)biphenyl-4,4'-diamine, 3,3',5,5'-tetrafluorobiphenyl-4,4'-diamine , 4,4'-diaminooctafluorobiphenyl, and aromatic diamines represented by the following formulas (A1) to (A5), but are not limited thereto. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

Figure 112019016725128-pct00011
Figure 112019016725128-pct00011

[폴리아믹산 2] [Polyamic Acid 2]

상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산은 불소 원자를 가지는 방향족 테트라카복실산 이무수물과, 불소 원자를 가지지 않는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. 이하, 상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 방향족 테트라카복실산 이무수물 및 방향족 다이아민에 대해서 상세하게 서술한다. The polyamic acid represented by the said Formula (2) is obtained by making the aromatic tetracarboxylic dianhydride which has a fluorine atom react with the aromatic diamine which does not have a fluorine atom. Hereinafter, the aromatic tetracarboxylic dianhydride and aromatic diamine which can be used for the synthesis|combination of the polyamic acid represented by said Formula (2) are described in detail.

방향족 테트라카복실산 이무수물로서는 불소 원자를 가지고, 또한 분자 내에 2개의 다이카복실산 무수물 부위를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아니다. 또 플루오로알킬기 또는 퍼플루오로알킬기를 가지는 것이 보다 바람직하고, 퍼플루오로알킬기가 더욱 바람직하다. 상기 퍼플루오로알킬기로서는 예를 들면 트라이플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, n-헵타플루오로프로필기 및 i-헵타플루오로프로필기 등을 들 수 있다. The aromatic tetracarboxylic dianhydride is not particularly limited as long as it has a fluorine atom and has two dicarboxylic acid anhydride moieties in the molecule. Moreover, it is more preferable to have a fluoroalkyl group or a perfluoroalkyl group, and a perfluoroalkyl group is still more preferable. Examples of the perfluoroalkyl group include a trifluoromethyl group, a pentafluoroethyl group, an n-heptafluoropropyl group and an i-heptafluoropropyl group.

상기 방향족 테트라카복실산 이무수물의 구체예로서는 4,4'-(헥사플루오로아이소프로필리덴)다이프탈산 무수물, N,N'-[2,2'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이일]비스(1,3-다이옥소-1,3-다이하이드로아이소벤조퓨란-5-카보아마이드), 3,6-다이플루오로피로멜리트산 이무수물, 3,6-비스(트라이플루오로메틸)피로멜리트산 이무수물, 3,6-비스(트라이플루오로메톡시)피로멜리트산 이무수물, 3-플루오로피로멜리트산 이무수물, 3-트라이플루오로메틸피로멜리트산 이무수물, 3-트라이플루오로메톡시피로멜리트산 이무수물, 9,9-비스-(트라이플루오로메틸)잔텐테트라카복실산 이무수물, 9-페닐-9-(트라이플루오로메틸)잔텐테트라카복실산 이무수물, 3,3',5,5',6,6'-헥사플루오로옥시-4,4'-다이프탈산 이무수물 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic tetracarboxylic dianhydride include 4,4'-(hexafluoroisopropylidene)diphthalic anhydride, N,N'-[2,2'-bis(trifluoromethyl)biphenyl-4,4' -diyl]bis(1,3-dioxo-1,3-dihydroisobenzofuran-5-carbamide), 3,6-difluoropyromellitic dianhydride, 3,6-bis(trifluoro Rhomethyl) pyromellitic dianhydride, 3,6-bis (trifluoromethoxy) pyromellitic dianhydride, 3-fluoropyromellitic dianhydride, 3-trifluoromethylpyromellitic dianhydride, 3- Trifluoromethoxypyromellitic dianhydride, 9,9-bis-(trifluoromethyl)xanthenetetracarboxylic dianhydride, 9-phenyl-9-(trifluoromethyl)xanthenetetracarboxylic dianhydride, 3,3' ,5,5',6,6'-hexafluorooxy-4,4'-diphthalic dianhydride etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

한편, 방향족 다이아민으로서는 불소 원자를 가지지 않고, 또한 분자 내에 방향환에 직결되는 2개의 아미노기를 가지고 있으면 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민이 바람직하다. On the other hand, the aromatic diamine is not particularly limited as long as it does not have a fluorine atom and has two amino groups directly linked to an aromatic ring in the molecule, but an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene rings is preferable.

방향족 다이아민의 구체예로서는 1,4-다이아미노벤젠(p-페닐렌다이아민), 1,3-다이아미노벤젠(m-페닐렌다이아민), 1,2-다이아미노벤젠(o-페닐렌다이아민), 2,4-다이아미노톨루엔, 2,5-다이아미노톨루엔, 2,6-다이아미노톨루엔, 4,6-다이메틸-m-페닐렌다이아민, 2,5-다이메틸-p-페닐렌다이아민, 2,6-다이메틸-p-페닐렌다이아민, 2,4,6-트라이메틸-1,3-페닐렌다이아민, 2,3,5,6-테트라메틸-p-페닐렌다이아민, m-자일릴렌다이아민, p-자일릴렌다이아민 등의 벤젠환을 1개 포함하는 다이아민; 1,2-나프탈렌다이아민, 1,3-나프탈렌다이아민, 1,4-나프탈렌다이아민, 1,5-나프탈렌다이아민, 1,6-나프탈렌다이아민, 1,7-나프탈렌다이아민, 1,8-나프탈렌다이아민, 2,3-나프탈렌다이아민, 2,6-나프탈렌다이아민, 4,4'-바이페닐다이아민, 3,3'-다이메틸-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 3,3'-다이카복시-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 4,4'-다이아미노벤즈아닐라이드, 3,3'-다이클로로벤지딘, 3,3'-다이메틸벤지딘, 2,2'-다이메틸벤지딘, 3,3'-다이아미노다이페닐메테인, 3,4'-다이아미노다이페닐메테인, 4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 2,2-비스(3-아미노페닐)프로페인, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로페인, 3,3'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 3,4'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 4,4'-다이아미노다이페닐설폭사이드 등의 벤젠환을 2개 포함하는 다이아민; 1,5-다이아미노안트라센, 2,6-다이아미노안트라센, 9,10-다이아미노안트라센, 1,8-다이아미노페난트렌, 2,7-다이아미노페난트렌, 3,6-다이아미노페난트렌, 9,10-다이아미노페난트렌, 1,3-비스(3-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,4-비스(3-아미노페닐)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페닐설폰)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐설폰)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐설폰)벤젠, 1,3-비스[2-(4-아미노페닐)아이소프로필]벤젠, 1,4-비스[2-(3-아미노페닐)아이소프로필]벤젠, 1,4-비스[2-(4-아미노페닐)아이소프로필]벤젠 등의 벤젠환을 3개 포함하는 다이아민, 하기 식(A6)~(A44)으로 표시되는 방향족 다이아민 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic diamine include 1,4-diaminobenzene (p-phenylenediamine), 1,3-diaminobenzene (m-phenylenediamine), 1,2-diaminobenzene (o-phenylenediamine) Min), 2,4-diaminotoluene, 2,5-diaminotoluene, 2,6-diaminotoluene, 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p- Phenylenediamine, 2,6-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,4,6-trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl-p- diamines containing one benzene ring, such as phenylenediamine, m-xylylenediamine, and p-xylylenediamine; 1,2-naphthalenediamine, 1,3-naphthalenediamine, 1,4-naphthalenediamine, 1,5-naphthalenediamine, 1,6-naphthalenediamine, 1,7-naphthalenediamine, 1, 8-naphthalenediamine, 2,3-naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine, 4,4'-biphenyldiamine, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane Phosphorus, 3,3'-dicarboxy-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3',5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4 '-Diaminobenzanilide, 3,3'-dichlorobenzidine, 3,3'-dimethylbenzidine, 2,2'-dimethylbenzidine, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4 '-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 2,2-bis(3-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 3 diamine containing two benzene rings, such as 3'-diaminodiphenyl sulfoxide, 3,4'-diaminodiphenyl sulfoxide, and 4,4'-diaminodiphenyl sulfoxide; 1,5-diaminoanthracene, 2,6-diaminoanthracene, 9,10-diaminoanthracene, 1,8-diaminophenanthrene, 2,7-diaminophenanthrene, 3,6-diaminophenanthrene , 9,10-diaminophenanthrene, 1,3-bis(3-aminophenyl)benzene, 1,3-bis(4-aminophenyl)benzene, 1,4-bis(3-aminophenyl)benzene, 1 ,4-bis(4-aminophenyl)benzene, 1,3-bis(3-aminophenylsulfide)benzene, 1,3-bis(4-aminophenylsulfide)benzene, 1,4-bis(4-aminophenyl) Sulfide)benzene, 1,3-bis(3-aminophenylsulfone)benzene, 1,3-bis(4-aminophenylsulfone)benzene, 1,4-bis(4-aminophenylsulfone)benzene, 1,3- Bis[2-(4-aminophenyl)isopropyl]benzene, 1,4-bis[2-(3-aminophenyl)isopropyl]benzene, 1,4-bis[2-(4-aminophenyl)isopropyl ] Although diamines containing three benzene rings, such as benzene, aromatic diamines represented by following formula (A6) - (A44), etc. are mentioned, It is not limited to these. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

Figure 112019016725128-pct00012
Figure 112019016725128-pct00012

Figure 112019016725128-pct00013
Figure 112019016725128-pct00013

Figure 112019016725128-pct00014
Figure 112019016725128-pct00014

Figure 112019016725128-pct00015
Figure 112019016725128-pct00015

Figure 112019016725128-pct00016
Figure 112019016725128-pct00016

Figure 112019016725128-pct00017
Figure 112019016725128-pct00017

[폴리아믹산 3] [Polyamic Acid 3]

상기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산은 불소 원자를 가지는 방향족 테트라카복실산 이무수물과, 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. The polyamic acid represented by the said Formula (3) is obtained by making the aromatic tetracarboxylic dianhydride which has a fluorine atom react with the aromatic diamine which has a fluorine atom.

방향족 테트라카복실산 이무수물로서는 상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 것과 마찬가지의 불소 원자를 가지는 방향족 테트라카복실산 이무수물을 사용할 수 있다. As aromatic tetracarboxylic dianhydride, the aromatic tetracarboxylic dianhydride which has the same fluorine atom as what can be used for the synthesis|combination of the polyamic acid represented by said Formula (2) can be used.

방향족 다이아민으로서는 상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 것과 마찬가지의 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 사용할 수 있다. As aromatic diamine, the aromatic diamine which has a fluorine atom similar to what can be used for the synthesis|combination of the polyamic acid represented by said Formula (1) can be used.

[폴리아마이드] [Polyamide]

상기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드는 불소 원자를 가지지 않는 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체와, 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. 이하, 상기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드의 합성에 사용할 수 있는 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체 및 방향족 다이아민에 대해서 상세하게 서술한다. The polyamide represented by the formula (4) is obtained by reacting an aromatic dicarboxylic acid having no fluorine atom or a derivative thereof with an aromatic diamine having a fluorine atom. Hereinafter, the aromatic dicarboxylic acid or its derivative(s) and aromatic diamine which can be used for the synthesis|combination of the polyamide represented by said Formula (4) are described in detail.

본 발명에 있어서, 상기 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체는 불소 원자를 가지지 않고, 또한 분자 내에 2개의 카복실기 또는 그 유도기를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개, 특히 1~2개, 또한 2개 포함하는 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체가 바람직하다. In the present invention, the aromatic dicarboxylic acid or its derivative is not particularly limited as long as it does not have a fluorine atom and has two carboxyl groups or a derivative thereof in the molecule, but 1 to 5 benzene rings, particularly 1 to 2 Aromatic dicarboxylic acids containing two or two or a derivative thereof are preferred.

방향족 다이카복실산 또는 그 유도체의 구체예로서는 o-프탈산, 아이소프탈산, 테레프탈산, 5-메틸아이소프탈산, 5-tert-뷰틸아이소프탈산, 5-아미노아이소프탈산, 5-하이드록시아이소프탈산, 2,5-다이메틸테레프탈산, 테트라메틸테레프탈산, 1,4-나프탈렌다이카복실산, 1,6-나프탈렌다이카복실산, 2,5-나프탈렌다이카복실산, 2,6-나프탈렌다이카복실산, 2,7-나프탈렌다이카복실산, 1,4-안트라센다이카복실산, 1,6-안트라센다이카복실산, 2,6-안트라센다이카복실산, 1,4-안트라퀴논다이카복실산, 2,5-바이페닐다이카복실산, 4,4'-바이페닐다이카복실산, 2,2'-바이페닐다이카복실산, 3,4'-바이페닐다이카복실산, 1,5-바이페닐렌다이카복실산, 4,4''-터페닐다이카복실산, 4,4'-다이페닐메테인다이카복실산, 4,4'-다이페닐에테인다이카복실산, 4,4'-다이페닐프로페인다이카복실산, 4,4'-다이페닐헥사플루오로프로페인다이카복실산, 4,4'-다이페닐에터다이카복실산, 4,4'-바이벤질다이카복실산, 4,4'-스틸벤다이카복실산, 4,4'-톨란다이카복실산, 4,4'-카보닐이벤조산, 4,4'-설포닐이벤조산, 4,4'-다이티오이벤조산, p-페닐렌이아세트산, 3,3'-p-페닐렌다이프로피온산, 4-카복시신남산, p-페닐렌다이아크릴산, 3,3'-[4,4'-(메틸렌다이-p-페닐렌)]다이프로피온산, 4,4'-[4,4'-(옥시다이-p-페닐렌)]다이프로피온산, 4,4'-[4,4'-(옥시다이-p-페닐렌)]이뷰티르산, (아이소프로필리덴다이-p-페닐렌다이옥시)이뷰티르산, 비스(p-카복시페닐)다이메틸실레인 등의 다이카복실산; Specific examples of the aromatic dicarboxylic acid or its derivative include o-phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, 5-methylisophthalic acid, 5-tert-butylisophthalic acid, 5-aminoisophthalic acid, 5-hydroxyisophthalic acid, 2,5-di Methyl terephthalic acid, tetramethyl terephthalic acid, 1,4-naphthalenedicarboxylic acid, 1,6-naphthalenedicarboxylic acid, 2,5-naphthalenedicarboxylic acid, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 2,7-naphthalenedicarboxylic acid, 1,4 -Anthracendicarboxylic acid, 1,6-anthracendicarboxylic acid, 2,6-anthracendicarboxylic acid, 1,4-anthraquinonedicarboxylic acid, 2,5-biphenyldicarboxylic acid, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 2 ,2'-biphenyldicarboxylic acid, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 1,5-biphenylenedicarboxylic acid, 4,4''-terphenyldicarboxylic acid, 4,4'-diphenylmethanedi Carboxylic acid, 4,4'-diphenylethanedicarboxylic acid, 4,4'-diphenylpropanedicarboxylic acid, 4,4'-diphenylhexafluoropropanedicarboxylic acid, 4,4'-diphenyletherdicarboxylic acid , 4,4'-bibenzyldicarboxylic acid, 4,4'-stilbendicarboxylic acid, 4,4'-tolandicarboxylic acid, 4,4'-carbonyldibenzoic acid, 4,4'-sulfonyldibenzoic acid, 4 ,4'-dithiodibenzoic acid, p-phenylenediacetic acid, 3,3'-p-phenylenedipropionic acid, 4-carboxycinnamic acid, p-phenylenediacrylic acid, 3,3'-[4,4' -(methylenedi-p-phenylene)]dipropionic acid, 4,4'-[4,4'-(oxydi-p-phenylene)]dipropionic acid, 4,4'-[4,4'-( dicarboxylic acids such as oxydi-p-phenylene)]ibutyric acid, (isopropylidenedi-p-phenylenedioxy)dibutyric acid, and bis(p-carboxyphenyl)dimethylsilane;

아이소프탈산다이클로라이드, 테레프탈산다이클로라이드, 3-클로로아이소프탈산다이클로라이드, 3-메톡시아이소프탈산다이클로라이드, 2,5-다이클로로테레프탈산다이클로라이드, 트라이클로로테레프탈산다이클로라이드, 테트라클로로테레프탈산다이클로라이드, 1,4-나프탈렌다이카복실산다이클로라이드, 2,6-나프탈렌다이카복실산다이클로라이드, 3,3'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드, 4,4'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드, 2,2'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드, 3,4'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드 등의 상기 각종 다이카복실산의 할로겐화물 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 또한 상기 각종 다이카복실산은 무수의 구조인 것이어도 된다. Isophthalic acid dichloride, terephthalic acid dichloride, 3-chloroisophthalic acid dichloride, 3-methoxyisophthalic acid dichloride, 2,5-dichloroterephthalic acid dichloride, trichloroterephthalic acid dichloride, tetrachloroterephthalic acid dichloride, 1, 4-naphthalenedicarboxylic acid dichloride, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid dichloride, 3,3'-biphenyldicarboxylic acid dichloride, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid dichloride, 2,2'-biphenyldi Halides of said various dicarboxylic acids, such as carboxylic acid dichloride and 3,4'- biphenyl dicarboxylic acid dichloride, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. In addition, the said various dicarboxylic acid may be a thing of an anhydrous structure.

방향족 다이아민으로서는 상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 것과 마찬가지의 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 사용할 수 있다. As aromatic diamine, the aromatic diamine which has a fluorine atom similar to what can be used for the synthesis|combination of the polyamic acid represented by said Formula (1) can be used.

상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산 및 상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산을 합성할 때의 전체 테트라카복실산 이무수물 성분의 몰수와 전체 다이아민 성분의 몰수의 비는 테트라카복실산 성분/다이아민 성분=0.8~1.2인 것이 바람직하다. 또 상기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드를 합성할 때의 전체 다이카복실산 성분의 몰수와 전체 다이아민 성분의 몰수의 비는 다이카복실산 성분/다이아민 성분=0.8~1.2인 것이 바람직하다. When synthesizing the polyamic acid represented by the formula (1) and the polyamic acid represented by the formula (2), the ratio of the number of moles of all tetracarboxylic dianhydride components to the number of moles of all diamine components is tetracarboxylic acid component/diamine It is preferable that it is component =0.8-1.2. In addition, it is preferable that the ratio of the number of moles of the total dicarboxylic acid component to the number of moles of the total diamine component when synthesizing the polyamide represented by the formula (4) is dicarboxylic acid component/diamine component = 0.8 to 1.2.

이상 설명한 방향족 다이아민과 방향족 테트라카복실산 이무수물을 반응시킴으로써, 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물에 포함되는 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산 및 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산을 얻을 수 있다. 또 상기한 방향족 다이아민과 방향족 다이카복실산을 반응시킴으로써, 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물에 포함되는 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드를 얻을 수 있다. The polyamic acid represented by Formula (1), the polyamic acid represented by Formula (2), and Formula (3) contained in the composition for forming a release layer according to the present invention by reacting the aromatic diamine described above with the aromatic tetracarboxylic dianhydride ) can be obtained. Further, by reacting the aromatic diamine with the aromatic dicarboxylic acid, the polyamide represented by the formula (4) contained in the composition for forming a release layer according to the present invention can be obtained.

[유기 용매] [Organic solvent]

이와 같은 반응에 사용하는 유기 용매는 반응에 악영향을 끼치지 않는 한 특별히 한정되지 않지만, 그 구체예로서는 m-크레졸, 2-피롤리돈, N-메틸-2-피롤리돈, N-에틸-2-피롤리돈, N-바이닐-2-피롤리돈, N,N-다이메틸아세트아마이드, N,N-다이메틸폼아마이드, 3-메톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-에톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-프로폭시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-아이소프로폭시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-sec-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-tert-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, γ-뷰티로락톤 등을 들 수 있다. 또한 유기 용매는 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. The organic solvent used for such a reaction is not particularly limited as long as it does not adversely affect the reaction, and specific examples thereof include m-cresol, 2-pyrrolidone, N-methyl-2-pyrrolidone, and N-ethyl-2 -Pyrrolidone, N-vinyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylacetamide, N,N-dimethylformamide, 3-methoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-E Toxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-propoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-isopropoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-butoxy-N,N-di methylpropylamide, 3-sec-butoxy-N,N-dimethylpropylamide, 3-tert-butoxy-N,N-dimethylpropylamide, γ-butyrolactone, and the like. In addition, an organic solvent may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type.

특히, 반응에 사용하는 유기 용매는 상기 서술한 다이아민, 테트라카복실산 이무수물, 다이카복실산, 폴리아믹산 및 폴리아마이드를 잘 용해하는 점에서, 식(S1)으로 표시되는 아마이드류, (S2)으로 표시되는 아마이드류 및 식(S3)으로 표시되는 아마이드류로부터 선택되는 적어도 1종이 바람직하다. In particular, the organic solvent used for the reaction dissolves well the above-mentioned diamine, tetracarboxylic dianhydride, dicarboxylic acid, polyamic acid and polyamide, so the amides represented by the formula (S1), (S2) At least one selected from the amides used and the amides represented by the formula (S3) is preferable.

Figure 112019016725128-pct00018
Figure 112019016725128-pct00018

식 중, R1 및 R2는 서로 독립적으로 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. R3은 수소 원자 또는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. h는 자연수를 나타내는데, 바람직하게는 1~3, 보다 바람직하게는 1 또는 2이다. In the formula, R 1 and R 2 each independently represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. Although h represents a natural number, Preferably it is 1-3, More preferably, it is 1 or 2.

탄소수 1~10의 알킬기로서는 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 아이소프로필기, n-뷰틸기, 아이소뷰틸기, s-뷰틸기, t-뷰틸기, n-펜틸기, n-헥실기, n-헵틸기, n-옥틸기, n-노닐기, n-데실기 등을 들 수 있다. 이들 중, 탄소수 1~3의 알킬기가 바람직하고, 탄소수 1 또는 2의 알킬기가 보다 바람직하다. Examples of the alkyl group having 1 to 10 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, s-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n -heptyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n-decyl group, etc. are mentioned. Among these, a C1-C3 alkyl group is preferable, and a C1-C2 alkyl group is more preferable.

반응 온도는 사용하는 용매의 융점으로부터 비점까지의 범위에서 적절히 설정하면 되고, 통상 0~100℃정도인데, 예를 들면 얻어지는 폴리아믹산의 용액 중에서의 이미드화를 막고 폴리아믹산 단위의 고함유량을 유지하기 위해서는 바람직하게는 0~70℃정도이며, 보다 바람직하게는 0~60℃정도이며, 한층 더 바람직하게는 0~50℃정도이다. The reaction temperature may be appropriately set in the range from the melting point to the boiling point of the solvent to be used, and is usually about 0 to 100 ° C. For example, to prevent imidization in the solution of the polyamic acid obtained and to maintain a high content of the polyamic acid unit Preferably it is about 0 to 70 degreeC, More preferably, it is about 0-60 degreeC, More preferably, it is about 0-50 degreeC.

또한 폴리아마이드의 제조에 있어서, 중합의 효율을 높이기 위해서 중합 촉매를 사용해도 된다. 중합 촉매로서는 예를 들면 인산, 아인산, 차아인산 또는 그들의 염, 피리딘을 들 수 있다. 중합 촉매의 첨가량은 통상적으로 폴리아마이드를 구성하는 전체 모노머에 대하여 2몰% 이하로 사용하는 것이 바람직하다. Further, in the production of polyamide, a polymerization catalyst may be used in order to increase polymerization efficiency. Examples of the polymerization catalyst include phosphoric acid, phosphorous acid, hypophosphorous acid or salts thereof, and pyridine. It is preferable to use the polymerization catalyst in an amount of usually 2 mol% or less based on the total monomers constituting the polyamide.

반응 시간은 반응 온도나 원료 물질의 반응성에 의존하기 때문에 일괄적으로 규정할 수 없지만, 통상 1~100시간정도이다. The reaction time cannot be defined collectively because it depends on the reaction temperature or the reactivity of the raw material, but is usually about 1 to 100 hours.

이상 설명한 방법에 의해, 목적으로 하는 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 포함하는 반응 용액을 얻을 수 있다. By the method demonstrated above, the reaction solution containing the target polyamic acid or polyamide can be obtained.

상기 폴리아믹산 또는 폴리아마이드의 중량 평균 분자량은 5,000~1,000,000이 바람직하고, 6,000~500,000이 보다 바람직하며, 핸들링성의 관점에서 7,000~200,000이 한층 더 바람직하다. 또한 본 발명에 있어서 중량 평균 분자량은 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(GPC) 분석에 의한 표준 폴리스타이렌 환산으로 얻어지는 평균 분자량이다. 5,000-1,000,000 are preferable, as for the weight average molecular weight of the said polyamic acid or polyamide, 6,000-500,000 are more preferable, and 7,000-200,000 are still more preferable from a handleability viewpoint. In addition, in this invention, a weight average molecular weight is the average molecular weight obtained by standard polystyrene conversion by gel permeation chromatography (GPC) analysis.

본 발명에 있어서는 통상적으로 상기 반응 용액을 여과한 후, 그 여과액을 그대로 또는 희석 혹은 농축하여 얻어지는 용액을 본 발명의 박리층 형성용 조성물로서 사용할 수 있다. 이와 같이 함으로써, 얻어지는 박리층의 밀착성, 박리성 등의 악화의 원인이 될 수 있는 불순물의 혼입을 저감할 수 있을 뿐만아니라, 효율적으로 박리층 형성용 조성물을 얻을 수 있다. 또 상기 반응 용액으로부터 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 단리한 후, 다시 용매에 용해하여 박리층 형성용 조성물로 해도 된다. 이 경우의 용매로서는 상기 서술한 반응에 사용하는 유기 용매 등을 들 수 있다. In the present invention, usually after filtering the reaction solution, the filtrate can be used as it is, or a solution obtained by diluting or concentrating can be used as the composition for forming a release layer of the present invention. By doing in this way, not only can the mixing of impurities which can cause deterioration of adhesiveness, peelability, etc. of the peeling layer obtained be reduced, but also the composition for peeling layer formation can be obtained efficiently. Moreover, after isolating a polyamic acid or a polyamide from the said reaction solution, it is good also as a composition for peeling layer formation by dissolving in a solvent again. As a solvent in this case, the organic solvent etc. used for reaction mentioned above are mentioned.

희석에 사용하는 용매는 특별히 한정되지 않고, 그 구체예로서는 상기 반응의 반응 용매의 구체예와 마찬가지의 것을 들 수 있다. 희석에 사용하는 용매는 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 그 중에서도 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 잘 용해하는 점에서, N,N-다이메틸폼아마이드, N,N-다이메틸아세트아마이드, N-메틸-2-피롤리돈, 1,3-다이메틸-2-이미다졸리다이논, N-에틸-2-피롤리돈, γ-뷰티로락톤이 바람직하고, N-메틸-2-피롤리돈이 보다 바람직하다. The solvent used for dilution is not specifically limited, The thing similar to the specific example of the reaction solvent of the said reaction is mentioned as the specific example. The solvent used for dilution may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type. Among them, from the viewpoint of dissolving polyamic acid or polyamide well, N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1,3-dimethyl-2 -Imidazolidinone, N-ethyl-2-pyrrolidone, and (gamma)-butyrolactone are preferable, and N-methyl-2-pyrrolidone is more preferable.

또 단독으로는 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 용해하지 않는 용매여도 폴리아믹산 또는 폴리아마이드가 석출되지 않는 범위이면, 본 발명의 박리층 형성용 조성물에 혼합할 수 있다. 특히, 에틸셀로솔브, 뷰틸셀로솔브, 에틸카비톨, 뷰틸카비톨, 에틸카비톨아세테이트, 에틸렌글라이콜, 1-메톡시-2-프로판올, 1-에톡시-2-프로판올, 1-뷰톡시-2-프로판올, 1-페녹시-2-프로판올, 프로필렌글라이콜모노아세테이트, 프로필렌글라이콜다이아세테이트, 프로필렌글라이콜-1-모노메틸에터-2-아세테이트, 프로필렌글라이콜-1-모노에틸에터-2-아세테이트, 다이프로필렌글라이콜, 2-(2-에톡시프로폭시)프로판올, 락트산메틸, 락트산에틸, 락트산n-프로필, 락트산n-뷰틸, 락트산아이소아밀 등의 저표면장력을 가지는 용매를 적절히 혼재시킬 수 있다. 이것에 의해 기판으로의 도포시에 도막 균일성이 향상되는 것이 알려져 있고, 본 발명의 박리층 형성용 조성물에 있어서도 적합하게 사용된다. Moreover, even if it is a solvent which does not dissolve polyamic acid or polyamide independently, as long as it is a range in which polyamic acid or polyamide does not precipitate, it can be mixed with the composition for release layer formation of this invention. In particular, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, ethyl carbitol, butyl carbitol, ethyl carbitol acetate, ethylene glycol, 1-methoxy-2-propanol, 1-ethoxy-2-propanol, 1- Butoxy-2-propanol, 1-phenoxy-2-propanol, propylene glycol monoacetate, propylene glycol diacetate, propylene glycol-1-monomethyl ether-2-acetate, propylene glycol -1-Monoethyl ether-2-acetate, dipropylene glycol, 2-(2-ethoxypropoxy)propanol, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-butyl lactate, isoamyl lactate, etc. A solvent having a low surface tension of It is known that coating-film uniformity improves at the time of application|coating to a board|substrate by this, and it is used suitably also in the composition for peeling layer formation of this invention.

본 발명의 박리층 형성용 조성물에 있어서의 폴리아믹산 또는 폴리아마이드의 농도는 제작하는 박리층의 두께, 조성물의 점도 등을 감안하여 적절하게 설정하는 것인데, 통상 1~30질량%정도, 바람직하게는 1~20질량%정도이다. 이와 같은 농도로 함으로써, 0.05~5μm정도의 두께의 박리층을 재현성 좋게 얻을 수 있다. 또한 폴리아믹산 또는 폴리아마이드의 농도는 이들의 원료인 다이아민과 테트라카복실산 이무수물 또는 다이카복실산의 사용량을 조정하거나, 상기 반응 용액을 여과한 후 그 여과액을 희석 또는 농축하거나, 단리한 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 용매에 용해시킬 때 그 양을 조정하거나 하여 조정할 수 있다. The concentration of the polyamic acid or polyamide in the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, the viscosity of the composition, etc., and is usually about 1 to 30 mass%, preferably It is about 1-20 mass %. By setting it as such a density|concentration, the peeling layer with a thickness of about 0.05-5 micrometers can be obtained with good reproducibility. In addition, the concentration of polyamic acid or polyamide is adjusted by adjusting the amount of diamine and tetracarboxylic dianhydride or dicarboxylic acid, which are their raw materials, or diluting or concentrating the filtrate after filtering the reaction solution, or isolated polyamic acid or When dissolving a polyamide in a solvent, it can adjust by adjusting the quantity.

또 박리층 형성용 조성물의 점도는 제작하는 박리층의 두께 등을 감안하여 적절히 설정하는 것인데, 특히 0.05~5μm정도의 두께의 막을 재현성 좋게 얻는 것을 목적으로 하는 경우, 통상, 25℃에서 10~10,000mPa·s정도, 바람직하게는 20~5,000mPa·s정도이다. 여기서 점도는 시판되는 액체의 점도 측정용 점도계를 사용하여, 예를 들면 JIS K7117-2에 기재된 순서를 참조하여, 조성물의 온도 25℃의 조건에서 측정할 수 있다. 바람직하게는 점도계로서는 원추평판형(콘 플레이트형) 회전 점도계를 사용하고, 바람직하게는 동형의 점도계로 표준 콘 로터로서 1°34'×R24를 사용하여, 조성물의 온도 25℃의 조건에서 측정할 수 있다. 이와 같은 회전 점도계로서는 예를 들면 도키산교(주)제 TVE-25L을 들 수 있다. In addition, the viscosity of the composition for forming a release layer is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced. In particular, when the purpose of obtaining a film with a thickness of about 0.05 to 5 μm with good reproducibility is usually 10 to 10,000 at 25°C. It is about mPa*s, Preferably it is about 20-5,000 mPa*s. Here, the viscosity can be measured using a commercially available viscometer for measuring the viscosity of a liquid, for example, referring to the procedure described in JIS K7117-2, and measuring the composition at a temperature of 25°C. Preferably, a conical plate type (cone plate type) rotational viscometer is used as the viscometer, and 1°34'×R24 is used as a standard cone rotor as a viscometer of the same type, and the composition is measured at a temperature of 25°C. can As such a rotational viscometer, Toki Sangyo Co., Ltd. TVE-25L is mentioned, for example.

또한 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물은 폴리아믹산 또는 폴리아마이드와 유기 용매 이외에 예를 들면 막 강도를 향상시키기 위해서 가교제 등의 성분을 포함해도 된다. In addition to the polyamic acid or polyamide and the organic solvent, the composition for forming a release layer according to the present invention may contain components such as a crosslinking agent in order to improve film strength, for example.

이상 설명한 본 발명의 박리층 형성 조성물을 기체에 도포하고, 얻어진 도막을 가열함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가지는 박리층을 얻을 수 있다. By applying the release layer-forming composition of the present invention described above to a substrate and heating the obtained coating film, a release layer having excellent adhesion to the substrate, appropriate adhesion to the resin substrate, and appropriate release property can be obtained.

본 발명의 박리층을 기체 상에 형성하는 경우, 박리층은 기체의 일부 표면에 형성되어 있어도 되고, 전체면에 형성되어 있어도 된다. 기체의 일부 표면에 박리층을 형성하는 태양으로서는 기체 표면 중 소정의 범위에만 박리층을 형성하는 태양, 기체 표면 전체면에 도트 패턴, 라인 앤드 스페이스 패턴 등의 패턴 형상으로 박리층을 형성하는 태양 등이 있다. 또한 본 발명에 있어서, 기체는 그 표면에 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물이 칠해지는 것으로서, 플렉서블 전자 디바이스 등의 제조에 사용되는 것을 의미한다. When the release layer of the present invention is formed on a substrate, the release layer may be formed on a part of the surface of the substrate or may be formed on the entire surface of the substrate. As an aspect of forming the release layer on a part of the surface of the substrate, the release layer is formed only in a predetermined range on the surface of the substrate, and the release layer is formed on the entire surface of the substrate in a pattern shape such as a dot pattern, a line and space pattern, etc. There is this. In addition, in the present invention, the substrate is applied to the surface of the composition for forming a release layer according to the present invention, which means that it is used in the manufacture of a flexible electronic device or the like.

기체(기재)로서는 예를 들면 유리, 플라스틱(폴리카보네이트, 폴리메타크릴레이트, 폴리스타이렌, 폴리에스터, 폴리올레핀, 에폭시, 멜라민, 트라이아세틸셀룰로스, ABS, AS, 노보넨계 수지 등), 금속(실리콘 웨이퍼 등), 목재, 종이, 슬레이트 등을 들 수 있는데, 특히 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물로부터 얻어지는 박리층이 그것에 대한 충분한 밀착성을 가지는 점에서 유리가 바람직하다. 또한 기체 표면은 단일의 재료로 구성되어 있어도 되고, 2 이상의 재료로 구성되어 있어도 된다. 2 이상의 재료로 기체 표면이 구성되는 태양으로서는 기체 표면 중 어느 범위는 어느 재료로 구성되고, 그 나머지 표면은 그 밖의 재료로 구성되어 있는 태양, 기체 표면 전체에 도트 패턴, 라인 앤드 스페이스 패턴 등의 패턴 형상으로 어느 재료가 그 밖의 재료 중에 존재하는 태양 등이 있다. As the substrate (substrate), for example, glass, plastic (polycarbonate, polymethacrylate, polystyrene, polyester, polyolefin, epoxy, melamine, triacetylcellulose, ABS, AS, norbornene-based resin, etc.), metal (silicon wafer, etc.) ), wood, paper, slate, etc., in particular, glass is preferable because the release layer obtained from the composition for forming a release layer according to the present invention has sufficient adhesion thereto. In addition, the base|substrate surface may be comprised from a single material, and may be comprised from two or more materials. In an aspect in which the surface of the base body is composed of two or more materials, a mode in which a certain range of the base surface is constituted of a certain material and the remaining surface is constituted of other materials, a pattern such as a dot pattern, a line and space pattern, etc. on the entire surface of the base body There is an aspect in which a certain material is present among other materials as a shape, and the like.

도포하는 방법은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 캐스트 코트법, 스핀 코트법, 블레이드 코트법, 딥 코트법, 롤 코트법, 바 코트법, 다이 코트법, 잉크젯법, 인쇄법(철판, 요판, 평판, 스크린 인쇄 등) 등을 들 수 있다. The coating method is not particularly limited, but for example, a cast coating method, a spin coating method, a blade coating method, a dip coating method, a roll coating method, a bar coating method, a die coating method, an inkjet method, a printing method (iron plate, intaglio, flat plate, screen printing, etc.) and the like.

이미드화하기 위한 가열 온도는 통상 50~550℃의 범위 내에서 적절하게 결정되는데, 바람직하게는 200℃ 이상, 또 바람직하게는 500℃ 이하이다. 가열 온도를 이와 같이 함으로써, 얻어지는 막의 취약화를 막으면서, 이미드화 반응을 충분히 진행시키는 것이 가능하게 된다. 가열 시간은 가열 온도에 따라 상이하기 때문에 일괄적으로 규정할 수 없지만, 통상 5분~5시간이다. 또 이미드화율은 50~100%의 범위이면 된다. The heating temperature for imidization is normally determined appropriately within the range of 50 to 550°C, but is preferably 200°C or higher, and preferably 500°C or lower. By setting the heating temperature in this way, it becomes possible to sufficiently advance the imidization reaction while preventing the resulting film from becoming brittle. Since the heating time varies depending on the heating temperature, it cannot be defined collectively, but is usually 5 minutes to 5 hours. Moreover, what is necessary is just that the imidation ratio should just be 50 to 100% of range.

본 발명에 있어서의 가열 태양의 바람직한 일례로서는 50~100℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 그대로 단계적으로 가열 온도를 상승시켜 최종적으로 375℃ 초과~450℃에서 30분~4시간 가열하는 수법을 들 수 있다. 특히, 50~100℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 100℃ 초과~375℃에서 5분간~2시간, 마지막으로 375℃ 초과~450℃에서 30분~4시간 가열하는 것이 바람직하다. As a preferred example of the heating mode in the present invention, after heating at 50 to 100°C for 5 minutes to 2 hours, the heating temperature is raised stepwise as it is, and finally heating at over 375°C to 450°C for 30 minutes to 4 hours. can be heard In particular, it is preferable to heat at 50 to 100° C. for 5 minutes to 2 hours, then at over 100° C. to 375° C. for 5 minutes to 2 hours, and finally, at more than 375° C. to 450° C. for 30 minutes to 4 hours.

가열에 사용하는 기구로서는 예를 들면 핫플레이트, 오븐 등을 들 수 있다. 가열 분위기는 공기하여도 되고 불활성 가스하여도 되며, 또 상압하여도 되고 감압하여도 된다. As a mechanism used for heating, a hot plate, an oven, etc. are mentioned, for example. The heating atmosphere may be air or inert gas, and may be under normal pressure or reduced pressure.

박리층의 두께는 통상 0.01~50μm정도, 생산성의 관점에서 바람직하게는 0.05~20μm정도, 보다 바람직하게는 0.05~5μm정도이며, 가열 전의 도막의 두께를 조정하여 원하는 두께를 실현한다. The thickness of the release layer is usually about 0.01 to 50 µm, preferably about 0.05 to 20 µm from the viewpoint of productivity, more preferably about 0.05 to 5 µm, and the desired thickness is achieved by adjusting the thickness of the coating film before heating.

이상 설명한 박리층은 기체, 특히 유리의 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가진다. 그 때문에 본 발명에 따른 박리층은 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 당해 디바이스의 수지 기판에 손상을 주지 않고, 당해 수지 기판을 그 수지 기판 상에 형성된 회로 등과 함께 기체로부터 박리시키기 위해서 적합하게 사용할 수 있다. The release layer described above has excellent adhesion to a substrate, particularly glass, and an appropriate adhesion to a resin substrate and an appropriate release property. Therefore, in the manufacturing process of a flexible electronic device, the release layer according to the present invention is suitably used in order to release the resin substrate from the base together with the circuit formed on the resin substrate without damaging the resin substrate of the device. can

이하, 본 발명의 박리층을 사용한 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법의 일례에 대해서 설명한다. Hereinafter, an example of the manufacturing method of the flexible electronic device using the peeling layer of this invention is demonstrated.

본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물을 사용하여, 상기 서술한 방법에 의해 유리 기체 상에 박리층을 형성한다. 이 박리층 상에 수지 기판을 형성하기 위한 수지 용액을 도포하고, 이 도막을 가열함으로써, 본 발명에 따른 박리층을 개재시켜 유리 기체에 고정된 수지 기판을 형성한다. 이 때, 박리층을 모두 덮도록 하여, 박리층의 면적과 비교하여 큰 면적으로 수지 기판을 형성한다. 상기 수지 기판으로서는 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판으로서 대표적인 폴리이미드 수지나 아크릴 수지, 사이클로올레핀 폴리머 수지로 이루어지는 수지 기판 등을 들 수 있고, 그것을 형성하기 위한 수지 용액으로서는 폴리이미드 용액, 폴리아믹산 용액, 아크릴 폴리머 용액 및 사이클로올레핀 폴리머 용액을 들 수 있다. 당해 수지 기판의 형성 방법은 상법에 따르면 된다. 또 투명성이 높은 수지 기판으로서는 아크릴 수지나 사이클로올레핀 폴리머 수지로 형성되는 수지 기판을 예시할 수 있고, 특히 파장 400nm의 광 투과율이 80% 이상인 것이 바람직하다. Using the composition for forming a release layer according to the present invention, a release layer is formed on the glass substrate by the method described above. A resin solution for forming a resin substrate is applied on the release layer, and the coating film is heated to form a resin substrate fixed to the glass substrate through the release layer according to the present invention. At this time, the resin substrate is formed with a large area compared to the area of the release layer so as to cover all of the release layer. Examples of the resin substrate include resin substrates made of polyimide resins, acrylic resins, and cycloolefin polymer resins, which are typical as resin substrates for flexible electronic devices, and resin solutions for forming them include polyimide solution, polyamic acid solution, and acrylic polymer. solutions and cycloolefin polymer solutions. What is necessary is just to follow a conventional method for the formation method of the said resin substrate. Moreover, as a resin substrate with high transparency, the resin substrate formed from an acrylic resin or a cycloolefin polymer resin can be illustrated, In particular, it is preferable that the light transmittance of wavelength 400nm is 80 % or more.

이어서 본 발명에 따른 박리층을 개재시켜 기체에 고정된 당해 수지 기판 상에 원하는 회로를 형성하고, 그 후, 예를 들면 박리층을 따라 수지 기판을 커트하고, 이 회로와 함께 수지 기판을 박리층으로부터 박리하여, 수지 기판과 기체를 분리한다. 이 때, 기체의 일부를 박리층과 함께 커트해도 된다. Next, a desired circuit is formed on the resin substrate fixed to the base through the release layer according to the present invention, and then, for example, the resin substrate is cut along the release layer, and the resin substrate with this circuit is applied as a release layer. It is peeled from the resin substrate and the base material is separated. At this time, you may cut a part of base|substrate together with a peeling layer.

한편, 플렉서블 디스플레이의 제조에 있어서, 지금까지 고휘도 LED나 삼차원 반도체 패키지 등의 제조에 있어서 사용되어온 레이저 리프트 오프법(LLO법)을 사용하여 유리 캐리어로부터 폴리머 기판을 적합하게 박리할 수 있는 것이 보고되어 있다(일본 특개 2013-147599호 공보). 플렉서블 디스플레이의 제조에서는 유리 캐리어 상에 폴리이미드 등으로 이루어지는 폴리머 기판을 마련하고, 이어서 그 기판 상에 전극 등을 포함하는 회로 등을 형성하고, 최종적으로 이 회로 등과 함께 기판을 유리 캐리어로부터 박리할 필요가 있다. 이 박리 공정에 있어서 LLO법을 채용하고, 즉, 회로 등이 형성된 면과는 반대의 면으로부터, 파장 308nm의 광선을 유리 캐리어에 조사하면, 당해 파장의 광선이 유리 캐리어를 투과하고, 유리 캐리어 근방의 폴리머(폴리이미드 수지)만이 이 광선을 흡수하여 증발(승화)한다. 그 결과, 디스플레이의 성능을 결정짓게 되는, 기판 상에 설치된 회로 등에 영향을 주지 않고, 유리 캐리어로부터의 기판의 박리를 선택적으로 실행 가능하다고 보고되어 있다. On the other hand, in the manufacture of flexible displays, it has been reported that the polymer substrate can be appropriately peeled from the glass carrier using the laser lift-off method (LLO method), which has been used in the manufacture of high-brightness LEDs and three-dimensional semiconductor packages, etc. Yes (Japanese Patent Laid-Open No. 2013-147599). In the manufacture of a flexible display, it is necessary to prepare a polymer substrate made of polyimide or the like on a glass carrier, then to form a circuit including electrodes or the like on the substrate, and finally to peel the substrate together with the circuit from the glass carrier. there is In this peeling step, the LLO method is employed, that is, when a light beam having a wavelength of 308 nm is irradiated to a glass carrier from a surface opposite to the surface on which a circuit or the like is formed, the light beam of the wavelength passes through the glass carrier and is near the glass carrier. Only the polymer (polyimide resin) of As a result, it is reported that peeling of the substrate from the glass carrier is selectively feasible without affecting the circuitry installed on the substrate, etc., which determines the performance of the display.

본 발명에 따른 박리층을 개재시켜 기체에 고정된 당해 수지 기판 상에 원하는 회로를 형성하고, 그 후, LLO법을 채용하면, 이 박리층만이 이 광선을 흡수하여 증발(승화)한다. 즉, 이 박리층이 희생이 되어(희생층으로서 작용하여), 유리 캐리어로부터의 기판의 박리를 선택적으로 실행 가능하게 된다. 본 발명의 박리층 형성용 조성물은 LLO법의 적용이 가능하게 되는 특정 파장(예를 들면 308nm)의 광선을 충분히 흡수한다는 특징을 가지기 때문에, LLO법의 희생층으로서 사용할 수 있다. If a desired circuit is formed on the resin substrate fixed to the base with the release layer according to the present invention interposed therebetween, and after that, when the LLO method is employed, only the release layer absorbs this light and evaporates (sublimes). That is, this release layer becomes sacrificial (acting as a sacrificial layer), making it possible to selectively perform peeling of the substrate from the glass carrier. Since the composition for forming a release layer of the present invention has the feature of sufficiently absorbing light of a specific wavelength (eg, 308 nm) to which the LLO method can be applied, it can be used as a sacrificial layer for the LLO method.

(실시예) (Example)

이하, 합성예, 비교 합성예, 실시예 및 비교예를 들어 본 발명을 더욱 상세하게 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예에 한정되지 않는다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Synthesis Examples, Comparative Synthesis Examples, Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to these Examples.

[1] 화합물의 약어 [1] Abbreviations of compounds

p-PDA : p-페닐렌다이아민 p-PDA: p-phenylenediamine

DDE ; 4,4'-옥시다이아닐린 DDE; 4,4'-oxydianiline

TFMB : 2,2'-비스(트라이플루오로메틸)벤지딘 TFMB: 2,2'-bis(trifluoromethyl)benzidine

BPTP : 비스(4-아미노페녹시)테레프탈레이트 BPTP: Bis(4-aminophenoxy)terephthalate

HFBAPP : 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로페인 HFBAPP: 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane

Bis-F : 2,2-비스(4-아미노페닐)헥사플루오로프로페인 Bis-F: 2,2-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane

BTFDPE : 4,4-옥시비스[(3-트라이플루오로메틸)벤젠아민] BTFDPE: 4,4-oxybis[(3-trifluoromethyl)benzeneamine]

6FAPB : 4,4'-비스(4-아미노-2-트라이플루오로메틸페녹시)바이페닐 6FAPB: 4,4'-bis(4-amino-2-trifluoromethylphenoxy)biphenyl

FDA : 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌 FDA: 9,9-bis(4-aminophenyl)fluorene

TPDA : 4,4'''-다이아미노-p-터페닐 TPDA: 4,4'''-diamino-p-terphenyl

a-ODPA : 3,4'-옥시다이프탈산 무수물 a-ODPA: 3,4'-oxydiphthalic anhydride

6FDA : 4,4'-(헥사플루오로아이소프로필리덴)다이프탈산 무수물 6FDA: 4,4'-(hexafluoroisopropylidene)diphthalic anhydride

DPDOC : 바이페닐-4,4'-다이카복실산클로라이드 DPDOC: Biphenyl-4,4'-dicarboxylic acid chloride

PMDA : 피로멜리트산 이무수물 PMDA: pyromellitic dianhydride

CF3-BP-TMA : N,N'-[2,2'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이일]비스(1,3-다이옥소-1,3-다이하이드로아이소벤조퓨란-5-카보아마이드) CF3-BP-TMA: N,N'-[2,2'-bis(trifluoromethyl)biphenyl-4,4'-diyl]bis(1,3-dioxo-1,3-dihydro isobenzofuran-5-carbamide)

BTDA : 3,3',4,4'-벤조페논테트라카복실산 이무수물 BTDA: 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride

BPDA : 3,3',4,4'-바이페닐테트라카복실산 이무수물 BPDA: 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride

BPTME : p-바이페닐렌비스(트리멜리트산모노에스터산 무수물) BPTME: p-biphenylenebis (trimellitic acid monoester acid anhydride)

MMA : 메타크릴산메틸 MMA: methyl methacrylate

MAA : 메타크릴산 MAA: methacrylic acid

HEMA : 메타크릴산2-하이드록시에틸 HEMA: 2-hydroxyethyl methacrylate

AIBN : 아조비스아이소뷰티로나이트릴 AIBN : Azobisisobutyronitrile

CHMI : 사이클로헥실말레이미드 CHMI: cyclohexylmaleimide

에포리드 GT-401 : 에폭시화뷰테인테트라카복실산테트라키스-(3-사이클로헥세닐메틸) 수식 ε-카프로락톤, (주)다이셀제 Epolide GT-401: epoxidized butanetetracarboxylic acid tetrakis-(3-cyclohexenylmethyl) modified ε-caprolactone, manufactured by Daicel Corporation

NMP : N-메틸-2-피롤리돈 NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

PGMEA : 프로필렌글라이콜모노메틸에터아세테이트 PGMEA: Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate

BCS : 뷰틸셀로솔브 BCS : Butyl Cellosolve

[2] 중량 평균 분자량 및 분자량 분포의 측정 방법 [2] Method for measuring weight average molecular weight and molecular weight distribution

폴리머의 중량 평균 분자량(이하 Mw로 줄인다) 및 분자량 분포의 측정은 니혼분코(주)제 GPC 장치(칼럼 : Shodex제 KD801 및 KD805; 용리액 : 다이메틸폼아마이드/LiBr·H2O(29.6mM)/H3PO4(29.6mM)/THF(0.1질량%); 유량 : 1.0mL/분; 칼럼 온도 : 40℃; Mw : 표준 폴리스타이렌 환산값)를 사용하여 행했다. Measurement of the polymer weight average molecular weight (hereinafter abbreviated as Mw) and molecular weight distribution was performed using a GPC apparatus manufactured by Nippon Bunko Co., Ltd. (Column: KD801 and KD805 manufactured by Shodex; Eluent: dimethylformamide/LiBr·H 2 O (29.6 mM) /H 3 PO 4 (29.6 mM)/THF (0.1 mass %); flow rate: 1.0 mL/min; column temperature: 40° C.; Mw: standard polystyrene conversion value).

[3] 폴리머의 합성 [3] Synthesis of polymers

이하의 방법에 의해, 실시예 및 비교예에서 사용하는 각종 폴리머를 합성했다. Various polymers used in Examples and Comparative Examples were synthesized by the following method.

또한 얻어진 폴리머 함유 반응액으로부터 폴리머를 단리하지 않고, 후술하는 바와 같이 반응액을 희석함으로써, 수지 기판 형성용 조성물 또는 박리층 형성용 조성물을 조제했다. Furthermore, a composition for forming a resin substrate or a composition for forming a release layer was prepared by diluting the reaction liquid as described later without isolating the polymer from the obtained polymer-containing reaction liquid.

<합성예 S1 아크릴 폴리머(S1)의 합성> <Synthesis Example S1 Synthesis of acrylic polymer (S1)>

MMA 7.20g(0.0719mol), HEMA 7.20g(0.0553mol), CHMI 10.8g(0.0603mol), MAA 4.32g(0.0502mol), AIBN 2.46g(0.0150mol)을 PGMEA 46.9g에 용해하고, 60~100℃에서 20시간 반응시킴으로써 아크릴 중합체 용액(고형분 농도 40질량%)을 얻었다. 얻어진 아크릴 중합체의 Mn은 3,800, Mw는 7,300이었다. MMA 7.20 g (0.0719 mol), HEMA 7.20 g (0.0553 mol), CHMI 10.8 g (0.0603 mol), MAA 4.32 g (0.0502 mol), AIBN 2.46 g (0.0150 mol) were dissolved in 46.9 g of PGMEA, 60-100 The acrylic polymer solution (solid content concentration: 40 mass %) was obtained by making it react at degreeC for 20 hours. Mn of the obtained acrylic polymer was 3,800, and Mw was 7,300.

<합성예 S2 폴리아믹산(S2)의 합성> <Synthesis Example S2 Synthesis of polyamic acid (S2)>

p-PDA 20.3g(188mmol)과 TPDA 12.2g(46.9mmol)을 NMP 617g에 용해하고, 15℃로 냉각 후, PMDA 50.1g(230mmol)을 첨가하고, 질소 분위기하 50℃에서 48시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 82,100, 분자량 분포는 2.7이었다. 20.3 g (188 mmol) of p-PDA and 12.2 g (46.9 mmol) of TPDA were dissolved in 617 g of NMP, cooled to 15 ° C., 50.1 g (230 mmol) of PMDA was added, and reacted at 50 ° C. under nitrogen atmosphere for 48 hours. Mw of the obtained polymer was 82,100, and molecular weight distribution was 2.7.

<합성예 S3 폴리아믹산(S3)의 합성> <Synthesis Example S3 Synthesis of polyamic acid (S3)>

p-PDA 3.22g(29.8mmol)을 NMP 88.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPDA 8.58g(29.2mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 107,300, 분자량 분포는 4.6이었다. 3.22 g (29.8 mmol) of p-PDA was dissolved in 88.2 g of NMP. BPDA 8.58 g (29.2 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. Mw of the obtained polymer was 107,300, and molecular weight distribution was 4.6.

<합성예 L1 폴리아믹산(L1)의 합성> <Synthesis Example L1 Synthesis of polyamic acid (L1)>

DDE 1.74g(8.70mmol)을 NMP 14.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 CF3-BP-TMA 1.17g(1.74mmol)과 6FDA 3.09g(6.96mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 19,600, 분자량 분포 2.1이었다. 1.74 g (8.70 mmol) of DDE was dissolved in 14.0 g of NMP. To the obtained solution, 1.17 g (1.74 mmol) of CF3-BP-TMA and 3.09 g (6.96 mmol) of 6FDA were added, followed by reaction at 23° C. under a nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had a Mw of 19,600 and a molecular weight distribution of 2.1.

<합성예 L2 폴리아믹산(L2)의 합성> <Synthesis Example L2 Synthesis of polyamic acid (L2)>

HFBAPP 2.82g(5.43mmol)을 NMP 10.5g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 a-ODPA 1.69g(5.43mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 33,800, 분자량 분포 2.0이었다. 2.82 g (5.43 mmol) of HFBAPP was dissolved in 10.5 g of NMP. 1.69 g (5.43 mmol) of a-ODPA was added to the obtained solution, and the reaction was carried out at 23° C. under a nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had a Mw of 33,800 and a molecular weight distribution of 2.0.

<합성예 L3 폴리아믹산(L3)의 합성> <Synthesis Example L3 Synthesis of polyamic acid (L3)>

HFBAPP 1.62g(3.12mmol)을 NMP 7.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 6FDA 1.38g(3.12mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 56,600, 분자량 분포 1.8이었다. 1.62 g (3.12 mmol) of HFBAPP was dissolved in 7.0 g of NMP. To the obtained solution, 1.38 g (3.12 mmol) of 6FDA was added, and the reaction was carried out at 23° C. under a nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had a Mw of 56,600 and a molecular weight distribution of 1.8.

<합성예 L4 폴리아믹산(L4)의 합성> <Synthesis Example L4 Synthesis of polyamic acid (L4)>

BTFDPE 1.92g(5.70mmol)을 NMP 35.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPTME 2.99g(5.59mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 38,300, 분자량 분포 2.3이었다. 1.92 g (5.70 mmol) of BTFDPE was dissolved in 35.6 g of NMP. BPTME 2.99 g (5.59 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. Mw of the obtained polymer was 38,300, and molecular weight distribution was 2.3.

<합성예 L5 폴리아믹산(L5)의 합성> <Synthesis Example L5 Synthesis of polyamic acid (L5)>

BPTP 1.67g(4.80mmol)을 NMP 35.8g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 CF3-BP-TMA 3.21g(4.78mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 7,300, 분자량 분포 1.9였다. 1.67 g (4.80 mmol) of BPTP was dissolved in 35.8 g of NMP. 3.21 g (4.78 mmol) of CF3-BP-TMA was added to the obtained solution, and the reaction was carried out at 23° C. under a nitrogen atmosphere for 24 hours. Mw of the obtained polymer was 7,300, and molecular weight distribution was 1.9.

<합성예 L6 폴리아믹산(L6)의 합성> <Synthesis Example L6 Synthesis of polyamic acid (L6)>

HFBAPP 1.70g(3.3mmol)을 NMP 17.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 0.70g(3.2mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 48,300, 분자량 분포 2.6이었다. 1.70 g (3.3 mmol) of HFBAPP was dissolved in 17.6 g of NMP. To the obtained solution, 0.70 g (3.2 mmol) of PMDA was added, and the reaction was carried out at 23° C. under a nitrogen atmosphere for 24 hours. Mw of the obtained polymer was 48,300, and molecular weight distribution was 2.6.

<합성예 L7 폴리아믹산(L7)의 합성> <Synthesis Example L7 Synthesis of polyamic acid (L7)>

Bis-F 1.46g(4.4mmol)을 NMP 17.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 0.93g(4.3mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 16,000, 분자량 분포 1.6이었다. 1.46 g (4.4 mmol) of Bis-F was dissolved in 17.6 g of NMP. 0.93 g (4.3 mmol) of PMDA was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had a Mw of 16,000 and a molecular weight distribution of 1.6.

<합성예 L8 폴리아믹산(L8)의 합성> <Synthesis Example L8 Synthesis of polyamic acid (L8)>

TFMB 2.86g(8.9mmol)을 NMP 35.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 1.95g(8.9mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 70,300, 분자량 분포 1.7이었다. 2.86 g (8.9 mmol) of TFMB was dissolved in 35.2 g of NMP. PMDA 1.95 g (8.9 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. Mw of the obtained polymer was 70,300, and molecular weight distribution was 1.7.

<합성예 L9 폴리아믹산(L9)의 합성> <Synthesis Example L9 Synthesis of polyamic acid (L9)>

TFMB 1.18g(3.7mmol)과 p-PDA 0.93g(8.6mmol)을 NMP 35.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 2.69g(12.3mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 60,700, 분자량 분포 3.3이었다. 1.18 g (3.7 mmol) of TFMB and 0.93 g (8.6 mmol) of p-PDA were dissolved in 35.2 g of NMP. PMDA 2.69 g (12.3 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. Mw of the obtained polymer was 60,700, and molecular weight distribution was 3.3.

<합성예 L10 폴리아믹산(L10)의 합성> <Synthesis Example L10 Synthesis of polyamic acid (L10)>

6FAPB 2.16g(5.04mmol)을 NMP 35.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPTME 2.64g(4.94mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 87,700, 분자량 분포 3.3이었다. 2.16 g (5.04 mmol) of 6FAPB was dissolved in 35.2 g of NMP. BPTME 2.64 g (4.94 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had a Mw of 87,700 and a molecular weight distribution of 3.3.

<합성예 P1 폴리아마이드(P1)의 합성> <Synthesis Example P1 Synthesis of polyamide (P1)>

HFBAPP 2.34g(4.51mmol)을 NMP 26.4g에 용해시키고, 피리딘 0.90g(11.28mmol)을 첨가했다. 얻어진 용액에 DPDOC 1.26g(4.51mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 그 후, 얻어진 용액을 순수 500mL에 투입했다. 얻어진 침전물을 여별 후, 70℃에서 24시간 감압 건조시켜, 목적으로 하는 폴리아마이드 P1을 얻었다. 얻어진 폴리머의 Mw는 88,200, 분자량 분포 1.8이었다. 2.34 g (4.51 mmol) of HFBAPP was dissolved in 26.4 g of NMP, and 0.90 g (11.28 mmol) of pyridine was added. DPDOC 1.26g (4.51mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. Thereafter, the obtained solution was poured into 500 mL of pure water. The obtained precipitate was filtered and dried under reduced pressure at 70°C for 24 hours to obtain the target polyamide P1. The obtained polymer had a Mw of 88,200 and a molecular weight distribution of 1.8.

<비교 합성예 HL1 폴리아믹산(HL1)의 합성> <Synthesis of Comparative Synthesis Example HL1 Polyamic Acid (HL1)>

FDA 1.56g(4.47mmol)을 NMP 7.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BTDA 1.44g(4.47mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 67,300, 분자량 분포 2.0이었다. 1.56 g (4.47 mmol) of FDA was dissolved in 7.0 g of NMP. BTDA 1.44 g (4.47 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had Mw of 67,300 and a molecular weight distribution of 2.0.

<비교 합성예 HL2 폴리아믹산(HL2)의 합성> <Synthesis of Comparative Synthesis Example HL2 Polyamic Acid (HL2)>

p-PDA 0.98g(9.02mmol)을 NMP 36.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BTDA 3.03g(9.39mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 67,600, 분자량 분포 1.8이었다. 0.98 g (9.02 mmol) of p-PDA was dissolved in 36.0 g of NMP. BTDA 3.03 g (9.39 mmol) was added to the obtained solution, and it was made to react at 23 degreeC in nitrogen atmosphere for 24 hours. The obtained polymer had a Mw of 67,600 and a molecular weight distribution of 1.8.

[4] 수지 기판 형성용 조성물의 조제 [4] Preparation of a composition for forming a resin substrate

이하의 방법에 의해 수지 기판 형성용 조성물을 조제했다. The composition for resin substrate formation was prepared with the following method.

<조제예 1 수지 기판 형성용 조성물 F1> <Preparation Example 1 Composition F1 for forming a resin substrate>

합성예 S1에서 얻어진 반응액 10g에 GT-401 0.61g과 PGMEA 5.06g을 첨가하고, 23℃에서 24시간 교반하여, 수지 기판 형성용 조성물 F1을 조제했다. 0.61 g of GT-401 and 5.06 g of PGMEA were added to 10 g of the reaction liquid obtained by synthesis example S1, and it stirred at 23 degreeC for 24 hours, and the composition F1 for resin substrate formation was prepared.

<조제예 2 수지 기판 형성용 조성물 F2> <Preparation Example 2 Composition F2 for forming a resin substrate>

합성예 S2에서 얻어진 반응액을 그대로 수지 기판 형성용 조성물 F2로서 사용했다. The reaction solution obtained in Synthesis Example S2 was used as it was as the composition F2 for forming a resin substrate.

<조제예 3 수지 기판 형성용 조성물 F3> <Preparation Example 3 Composition F3 for forming a resin substrate>

합성예 S3에서 얻어진 반응액을 그대로 수지 기판 형성용 조성물 F3로서 사용했다. The reaction solution obtained in Synthesis Example S3 was used as it was as the composition F3 for forming a resin substrate.

<조제예 4 수지 기판 형성용 조성물 F4> <Preparation Example 4 Composition F4 for forming a resin substrate>

사염화탄소 100g을 넣은 가지 플라스크에 제오노아(등록상표) 1020R(닛폰제온(주)제, 사이클로올레핀 폴리머 수지) 10g 및 GT-401 3g을 첨가했다. 이 용액을 질소 분위기하 24시간 교반하여 용해시키고, 수지 기판 형성용 조성물 F4를 조제했다. To an eggplant flask containing 100 g of carbon tetrachloride, 10 g of Zeonoa (registered trademark) 1020R (manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd., cycloolefin polymer resin) and 3 g of GT-401 were added. This solution was stirred and dissolved in a nitrogen atmosphere for 24 hours to prepare a composition F4 for forming a resin substrate.

<조제예 5 수지 기판 형성용 조성물 F5> <Preparation Example 5 Composition F5 for forming a resin substrate>

사염화탄소 100g을 넣은 가지 플라스크에 제오노아(등록상표) 1060R(닛폰제온(주)제, 사이클로올레핀 폴리머 수지) 10g을 첨가했다. 이 용액을 질소 분위기하 24시간 교반하여 용해시키고, 수지 기판 형성용 조성물 F5를 조제했다. 10 g of Zeonoa (registered trademark) 1060R (manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd., cycloolefin polymer resin) was added to an eggplant flask containing 100 g of carbon tetrachloride. This solution was stirred and dissolved in a nitrogen atmosphere for 24 hours to prepare a composition F5 for forming a resin substrate.

[5] 박리층 형성용 조성물의 조제 [5] Preparation of a composition for forming a release layer

[실시예 1-1] [Example 1-1]

합성예 L1에서 얻어진 반응액에 BCS와 NMP를 가하고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 L1을 얻었다. BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Synthesis Example L1, and the mixture was diluted so that the polymer concentration was 5% by mass and BCS was 20% by mass to obtain a composition L1 for forming a release layer.

[실시예 1-2~1-10] [Examples 1-2 to 1-10]

합성예 L1에서 얻어진 반응액 대신에 각각 합성예 L2~L10에서 얻어진 반응액을 사용한 것 이외에는 실시예 1-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 형성용 조성물 L2~L10을 얻었다. Compositions L2 to L10 for forming a release layer were obtained in the same manner as in Example 1-1 except that the reaction solutions obtained in Synthesis Examples L2 to L10 were used instead of the reaction solution obtained in Synthesis Example L1.

[실시예 1-11] [Example 1-11]

합성예 P1에서 얻어진 폴리아마이드 0.5g에 BCS와 NMP를 가하여 용해시키고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 P1을 얻었다. BCS and NMP were added to and dissolved in 0.5 g of the polyamide obtained in Synthesis Example P1, and diluted so that the polymer concentration was 5% by mass and BCS was 20% by mass to obtain a composition P1 for forming a release layer.

[비교예 1-1] [Comparative Example 1-1]

비교 합성예 HL1에서 얻어진 반응액에 BCS와 NMP를 가하고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 HL1을 얻었다. BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Comparative Synthesis Example HL1, and the mixture was diluted so that the polymer concentration was 5% by mass and BCS was 20% by mass to obtain a composition HL1 for forming a release layer.

[비교예 1-2] [Comparative Example 1-2]

비교 합성예 HL2에서 얻어진 반응액에 BCS와 NMP를 가하고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 HL2를 얻었다. BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Comparative Synthesis Example HL2, and the mixture was diluted so that the polymer concentration was 5% by mass and BCS was 20% by mass to obtain a composition HL2 for forming a release layer.

[6] 박리층 및 수지 기판의 제작 [6] Preparation of release layer and resin substrate

[실시예 2-1] [Example 2-1]

스핀 코터(조건 : 회전수 3,000rpm으로 약30초)를 사용하여, 실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1을 유리 기체로서의 100mm×100mm 유리 기판(이하 동일) 상에 도포했다. Using a spin coater (condition: rotation speed of 3,000 rpm for about 30 seconds), the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1 was applied onto a 100 mm×100 mm glass substrate (the same hereinafter) as a glass substrate.

그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 300℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 400℃까지 높여(10℃/분), 추가로 400℃에서 30분간 가열하여, 유리 기판 상에 두께 약0.1μm의 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 또한 온도를 높이는 동안, 유리 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고, 오븐 내에서 가열했다. Then, the obtained coating film was heated at 80°C for 10 minutes using a hot plate, and then heated at 300°C for 30 minutes using an oven, the heating temperature was raised to 400°C (10°C/min), and further 400°C was heated for 30 minutes to form a release layer with a thickness of about 0.1 µm on the glass substrate to obtain a glass substrate with a release layer. Moreover, while raising the temperature, the glass substrate was heated within the oven, without taking it out of the oven.

스핀 코터(조건 : 회전수 500rpm으로 약10초)를 사용하여, 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F1을 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후, 핫플레이트를 사용하여 230℃에서 30분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약5μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 그 후, 자외 가시 분광 광도계((주)시마즈세이사쿠쇼제 UV-2600)를 사용하여 광 투과율을 측정한 결과, 수지 기판은 400nm에서 80% 이상의 투과율을 나타냈다. The composition F1 for resin substrate formation was apply|coated on the peeling layer (resin thin film) on a glass substrate using the spin coater (condition: rotation speed 500 rpm about 10 second). Then, the obtained coating film was heated at 80 ° C. for 10 minutes using a hot plate, and then heated at 230 ° C. for 30 minutes using a hot plate to form a resin substrate having a thickness of about 5 μm on the release layer, and a resin substrate · A glass substrate with a release layer was obtained. Thereafter, the light transmittance was measured using an ultraviolet and visible spectrophotometer (UV-2600 manufactured by Shimadzu Corporation). As a result, the resin substrate exhibited transmittance of 80% or more at 400 nm.

[실시예 2-2~2-5] [Example 2-2-2-5]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-2~1-5에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L2~L5를 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. The release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 except that the compositions L2 to L5 for forming a release layer obtained in Examples 1-2 to 1-5 were used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. And the resin substrate was formed, and the glass substrate with a peeling layer and the resin substrate and the glass substrate with a peeling layer were produced.

[실시예 2-6] [Example 2-6]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-6에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L6을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 using the composition L6 for forming a release layer obtained in Example 1-6 instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1, and the release layer was formed. An adhered glass substrate was obtained.

이어서 바 코터(갭 : 250μm)를 사용하여, 상기에서 얻어진 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F2를 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 30분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 140℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 210℃까지 높여(10℃/분, 이하 동일), 210℃에서 30분간, 가열 온도를 300℃까지 높여, 300℃에서 30분간, 가열 온도를 400℃까지 높여, 400℃에서 60분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약20μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 또한 온도를 높이는 동안, 유리 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고, 오븐 내에서 가열했다. Next, the composition F2 for resin substrate formation was apply|coated on the peeling layer (resin thin film) on the glass substrate obtained above using the bar coater (gap: 250 micrometers). Then, the obtained coating film is heated at 80° C. for 30 minutes using a hot plate, and then heated at 140° C. for 30 minutes using an oven, and the heating temperature is raised to 210° C. (10° C./min, hereinafter the same), 210 For 30 minutes at °C, the heating temperature is increased to 300 °C, the heating temperature is increased at 300 °C for 30 minutes, the heating temperature is raised to 400 °C, and heated at 400 °C for 60 minutes to form a resin substrate having a thickness of about 20 µm on the release layer, the resin A glass substrate with a substrate and a peeling layer was obtained. Moreover, while raising the temperature, the glass substrate was heated within the oven, without taking it out of the oven.

[실시예 2-7] [Example 2-7]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-7에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L7을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 using the composition L7 for forming a release layer obtained in Example 1-7 instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1, and the release layer was formed. An adhered glass substrate was obtained.

이어서 바 코터(갭 : 250μm)를 사용하여, 상기에서 얻어진 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F3을 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 30분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 140℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 210℃까지 높여(2℃/분, 이하 동일), 210℃에서 30분간, 가열 온도를 300℃까지 높여, 300℃에서 30분간, 가열 온도를 400℃까지 높여, 400℃에서 60분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약20μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 또한 온도를 높이는 동안, 유리 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고, 오븐 내에서 가열했다. Next, the composition F3 for resin substrate formation was apply|coated on the peeling layer (resin thin film) on the glass substrate obtained above using the bar coater (gap: 250 micrometers). Then, the obtained coating film is heated at 80° C. for 30 minutes using a hot plate, and then heated at 140° C. for 30 minutes using an oven, and the heating temperature is raised to 210° C. (2° C./min, the same hereinafter), 210 For 30 minutes at °C, the heating temperature is increased to 300 °C, the heating temperature is increased at 300 °C for 30 minutes, the heating temperature is raised to 400 °C, and heated at 400 °C for 60 minutes to form a resin substrate having a thickness of about 20 µm on the release layer, and the resin A glass substrate with a substrate and a peeling layer was obtained. Moreover, while raising the temperature, the glass substrate was heated within the oven, without taking it out of the oven.

[실시예 2-8] [Example 2-8]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용한 것 이외에는 실시예 2-6과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-6 except that the composition L8 for forming a release layer obtained in Example 1-8 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were produced.

[실시예 2-9] [Example 2-9]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the composition L8 for forming a release layer obtained in Example 1-8 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were produced.

[실시예 2-10] [Example 2-10]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-9에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L9를 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7, except that the composition L9 for forming a release layer obtained in Example 1-9 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were produced.

[실시예 2-11] [Example 2-11]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-10에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L10을 사용한 것 이외에는 실시예 2-6과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-6, except that the composition L10 for forming a release layer obtained in Example 1-10 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were produced.

[실시예 2-12] [Example 2-12]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-10에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L10을 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the composition L10 for forming a release layer obtained in Example 1-10 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were produced.

[실시예 2-13] [Example 2-13]

스핀 코터(조건 : 회전수 3,000rpm으로 약30초)를 사용하여, 실시예 1-11에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 P1을 유리 기체로서의 100mm×100mm 유리 기판 상에 도포했다. Using a spin coater (condition: rotational speed: about 30 seconds at 3,000 rpm), the composition P1 for forming a release layer obtained in Example 1-11 was applied onto a 100 mm×100 mm glass substrate as a glass substrate.

그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 300℃에서 30분간 가열하여, 유리 기판 상에 두께 약0.1μm의 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Then, the obtained coating film was heated at 80° C. for 10 minutes using a hot plate, and then heated at 300° C. for 30 minutes using an oven to form a release layer with a thickness of about 0.1 μm on the glass substrate, and the release layer was adhered. A glass substrate was obtained.

이어서 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 수지 기판을 형성하여, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Next, the resin substrate was formed by the method similar to Example 2-1, and the resin substrate and the glass substrate with a peeling layer were obtained.

[실시예 2-14] [Example 2-14]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Using the composition L8 for peeling layer formation obtained in Example 1-8, the peeling layer was formed by the method similar to Example 2-1, and the glass substrate with a peeling layer was obtained.

그 후, 바로 스핀 코터(조건 : 회전수 200rpm으로 약15초)를 사용하여, 상기 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F4를 도포했다. 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 2분간 가열하고, 그 후, 핫플레이트를 사용하여 230℃에서 30분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약3μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 그 후, 자외 가시 분광 광도계((주)시마즈세이사쿠쇼제 UV-2600)를 사용하여 광 투과율을 측정한 결과, 수지 기판은 400nm에서 80% 이상의 투과율을 나타냈다. Thereafter, the composition F4 for forming a resin substrate was immediately applied on the release layer (resin thin film) on the glass substrate using a spin coater (condition: about 15 seconds at 200 rpm). The resulting coating film was heated at 80°C for 2 minutes using a hot plate, and then heated at 230°C for 30 minutes using a hot plate to form a resin substrate having a thickness of about 3 μm on the release layer, and the resin substrate and peeling A glass substrate with a layer was obtained. Thereafter, the light transmittance was measured using an ultraviolet and visible spectrophotometer (UV-2600 manufactured by Shimadzu Corporation). As a result, the resin substrate exhibited a transmittance of 80% or more at 400 nm.

[실시예 2-15] [Example 2-15]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8 대신에 실시예 1-9에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L9를 사용한 것 이외에는 실시예 2-14와 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 제작하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were prepared in the same manner as in Example 2-14, except that the composition L9 for forming a release layer obtained in Example 1-9 was used instead of the composition L8 for forming a release layer obtained in Example 1-8. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were obtained.

[실시예 2-16] [Example 2-16]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Using the composition L8 for peeling layer formation obtained in Example 1-8, the peeling layer was formed by the method similar to Example 2-1, and the glass substrate with a peeling layer was obtained.

그 후, 바로 스핀 코터(조건 : 회전수 200rpm으로 약15초)를 사용하여, 상기 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F5를 도포했다. 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 2분간 가열하고, 그 후, 핫플레이트를 사용하여 230℃에서 30분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약3μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 그 후, 자외 가시 분광 광도계((주)시마즈세이사쿠쇼제 UV-2600)를 사용하여 광 투과율을 측정한 결과, 수지 기판은 400nm에서 80% 이상의 투과율을 나타냈다. Thereafter, the composition F5 for forming a resin substrate was immediately applied on the release layer (resin thin film) on the glass substrate using a spin coater (condition: about 15 seconds at 200 rpm). The resulting coating film was heated at 80°C for 2 minutes using a hot plate, and then heated at 230°C for 30 minutes using a hot plate to form a resin substrate having a thickness of about 3 μm on the release layer, and the resin substrate and peeling A glass substrate with a layer was obtained. Thereafter, the light transmittance was measured using an ultraviolet and visible spectrophotometer (UV-2600 manufactured by Shimadzu Corporation). As a result, the resin substrate exhibited a transmittance of 80% or more at 400 nm.

[실시예 2-17] [Example 2-17]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8 대신에 실시예 1-9에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L9를 사용한 것 이외에는 실시예 2-16과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 제작하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were prepared in the same manner as in Example 2-16, except that the composition L9 for forming a release layer obtained in Example 1-9 was used instead of the composition L8 for forming a release layer obtained in Example 1-8. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were obtained.

[비교예 2-1] [Comparative Example 2-1]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 비교예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 HL1을 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-1 except that the composition HL1 for forming a release layer obtained in Comparative Example 1-1 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were obtained.

[비교예 2-2] [Comparative Example 2-2]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 비교예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 HL1을 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the composition HL1 for forming a release layer obtained in Comparative Example 1-1 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were obtained.

[비교예 2-3] [Comparative Example 2-3]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 비교예 1-2에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 HL2를 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-1 except that the composition HL2 for forming a release layer obtained in Comparative Example 1-2 was used instead of the composition L1 for forming a release layer obtained in Example 1-1. , a glass substrate with a release layer and a resin substrate and a glass substrate with a release layer were obtained.

[7] 박리성의 평가 [7] Evaluation of peelability

상기 실시예 2-1~2-17 및 비교예 2-1~2-3에서 얻어진 박리층 부착 유리 기판에 대해서 박리층과 유리 기판과의 박리성을, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판에 대해서 박리층과 수지 기판과의 박리성을 하기 수법으로 확인했다. About the glass substrate with a peeling layer obtained in said Examples 2-1 to 2-17 and Comparative Examples 2-1 to 2-3, the peelability of a peeling layer and a glass substrate about the glass substrate with a resin substrate and a peeling layer The peelability of a peeling layer and a resin substrate was confirmed by the following method.

<수지 박막의 크로스커트 시험 박리성 평가> <Cross cut test peelability evaluation of resin thin film>

실시예 2-1~2-17 및 비교예 2-1~2-3에서 얻어진 박리층 부착 유리 기판 상의 박리층, 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판 상의 박리층 및 수지 기판을 크로스커트(가로세로 2mm 간격, 이하 동일)하여, 25 바둑판 커트를 행했다. 즉, 이 크로스커트에 의해 사방 2mm의 바둑판눈을 25개 형성했다. The peeling layer on the glass substrate with a peeling layer obtained in Examples 2-1 to 2-17 and Comparative Examples 2-1 to 2-3, and the peeling layer on the glass substrate with a resin substrate and a peeling layer, and a resin substrate were crosscut (horizontal) At intervals of 2 mm in length, the same hereinafter) was performed, and 25 checkerboard cuts were performed. That is, 25 checkers of 2 mm square were formed by this crosscut.

그리고 이 25 바둑판 커트 부분에 점착 테이프를 붙이고, 그 테이프를 떼어내어, 이하의 기준(5B~0B, B, A, AA)에 기초하여 박리의 정도를 평가했다. And the adhesive tape was affixed on this 25 grid-cut part, the tape was peeled off, and the grade of peeling was evaluated based on the following criteria (5B-0B, B, A, AA).

또한 모두 박리된 기판 중, 실시예 2-14~2-17에서 제작한 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 사용하여 박리력 평가 시험을 실시했다. 시험 방법은 수지 기판·박리층 부착 유리 기판의 수지 기판을 25mm×50mm 폭의 직사각형으로 커터 나이프로 수지 기판의 배면까지 관통하도록 슬릿을 넣어 스트립을 제작했다. 또한 제작한 스트립 상에 셀로테이프(등록상표, 니치반 CT-24)를 붙인 후, 오토그래프 AG-500N((주)시마즈세이사쿠쇼제)을 사용하여, 기판의 면에 대하여 90℃로 즉 수직 방향으로 박리하여 박리력을 측정하고, 100% 박리(모두 박리)이며 또한 박리력이 0.1N/25mm 미만인 것을 AAA로 했다. Moreover, the peeling force evaluation test was done using the glass substrate with a resin substrate and peeling layer produced in Examples 2-14 - 2-17 among the board|substrates from which all were peeled. The test method put a slit so that the resin substrate of a glass substrate with a resin substrate and a peeling layer might be penetrated to the back surface of a resin substrate with a cutter knife in the rectangle of 25 mm x 50 mm width, and produced the strip. Also, after attaching Cello Tape (registered trademark, Nichiban CT-24) on the produced strip, using Autograph AG-500N (manufactured by Shimadzu Corporation), at 90°C, that is, perpendicular to the surface of the substrate The peeling force was measured by peeling in the direction, and it was 100% peeling (all peeling), and the thing of less than 0.1 N/25 mm of peeling force was made into AAA.

이상의 결과를 표 1에 나타낸다. Table 1 shows the above results.

<판정 기준> <Judgment Criteria>

5B : 0% 박리(박리 없음) 5B: 0% peeling (no peeling)

4B : 5% 미만의 박리 4B: less than 5% peeling

3B : 5~15% 미만의 박리 3B: peeling less than 5-15%

2B : 15~35% 미만의 박리 2B: Peeling less than 15-35%

1B : 35~65% 미만의 박리 1B: peeling less than 35-65%

0B : 65%~80% 미만의 박리 0B: Peeling less than 65% to 80%

B : 80%~95% 미만의 박리 B: 80% to less than 95% peeling

A : 95%~100% 미만의 박리 A: Peeling of 95% to less than 100%

AA : 100% 박리(모두 박리) AA: 100% peeling (all peeling)

AAA : 100% 박리이며 박리력이 0.1N/25mm 미만 AAA: 100% peeling and peeling force less than 0.1N/25mm

박리층의 종류Type of release layer 수지 기판의 종류Types of resin substrates 박리층과 유리 기체의 박리성Peelability of the release layer and the glass substrate 박리층과 수지 기판의 박리성Peelability between the release layer and the resin substrate 실시예2-1Example 2-1 L1L1 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-2Example 2-2 L2L2 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-3Example 2-3 L3L3 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-4Example 2-4 L4L4 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-5Example 2-5 L5L5 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-6Example 2-6 L6L6 F2F2 5B5B AAAA 실시예2-7Example 2-7 L7L7 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-8Example 2-8 L8L8 F2F2 5B5B AAAA 실시예2-9Example 2-9 L8L8 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-10Example 2-10 L9L9 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-11Example 2-11 L10L10 F2F2 5B5B AAAA 실시예2-12Example 2-12 L10L10 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-13Example 2-13 P1P1 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-14Example 2-14 L8L8 F4F4 5B5B AAAAAA 실시예2-15Example 2-15 L9L9 F4F4 5B5B AAAAAA 실시예2-16Example 2-16 L8L8 F5F5 5B5B AAAAAA 실시예2-17Example 2-17 L9L9 F5F5 5B5B AAAAAA 비교예2-1Comparative Example 2-1 HL1HL1 F1F1 5B5B 5B5B 비교예2-2Comparative Example 2-2 HL1HL1 F3F3 5B5B 5B5B 비교예2-3Comparative Example 2-3 HL2HL2 F1F1 5B5B 5B5B

표 1에 나타내는 바와 같이, 실시예 2-1~2-17의 박리층은 유리 기판과의 밀착성이 우수하며, 수지막과는 용이하게 벗겨지는 것이 확인되었다. 한편, 비교예 2-1~2-3의 박리층은 유리 기판과의 밀착성이 우수하지만, 수지 기판과의 박리성이 떨어지고 있는 것이 확인되었다. As shown in Table 1, the peeling layer of Examples 2-1 to 2-17 was excellent in adhesiveness with a glass substrate, and it was confirmed that it peels off easily with a resin film. On the other hand, although the peeling layer of Comparative Examples 2-1 to 2-3 was excellent in adhesiveness with a glass substrate, it was confirmed that it is inferior in peelability with a resin substrate.

Claims (12)

기체와,
하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 박리층 형성용 조성물로부터 형성된 박리층과,
폴리이미드 수지, 아크릴 수지 또는 사이클로올레핀 폴리머로부터 선택되는 투명 수지로 형성된 수지 기판이 순서대로 적층되어 이루어지는 적층체.
Figure 112021103972672-pct00019

(식 중, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다.)
gas and
A polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamide represented by the following formula (4), and an organic solvent A release layer formed from the composition for forming a release layer;
A laminate in which a resin substrate formed of a transparent resin selected from a polyimide resin, an acrylic resin or a cycloolefin polymer is sequentially laminated.
Figure 112021103972672-pct00019

(Wherein, X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, X 3 represents a divalent aromatic group not having a fluorine atom, Y 1 is a fluorine atom represents a divalent aromatic group having , Y 2 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, and m represents a natural number.)
제 1 항에 있어서, 상기 Y1이 하기 식(5)~(9)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 방향족기인 것을 특징으로 하는 적층체.
Figure 112021103972672-pct00020
The laminate according to claim 1, wherein Y 1 is an aromatic group selected from the group consisting of the following formulas (5) to (9).
Figure 112021103972672-pct00020
제 1 항에 있어서, 상기 Y1이 하기 식(10)으로 표시되는 방향족기인 것을 특징으로 하는 적층체.
Figure 112021103972672-pct00021
The laminate according to claim 1, wherein Y 1 is an aromatic group represented by the following formula (10).
Figure 112021103972672-pct00021
제 1 항에 있어서, 상기 X2가 하기 식(11) 또는 (12)으로 표시되는 방향족기인 것을 특징으로 하는 적층체.
Figure 112021103972672-pct00022
The laminate according to claim 1, wherein X 2 is an aromatic group represented by the following formula (11) or (12).
Figure 112021103972672-pct00022
제 1 항에 있어서, 상기 X1이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 것을 특징으로 하는 적층체. The laminate according to claim 1, wherein X 1 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings. 제 1 항에 있어서, 상기 X3이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 것을 특징으로 하는 적층체. The laminate according to claim 1, wherein X 3 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings. 제 1 항에 있어서, 상기 Y2가 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 것을 특징으로 하는 적층체. The laminate according to claim 1, wherein Y 2 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings. 제 1 항에 있어서, 상기 유기 용매가 식(S1)으로 표시되는 아마이드류, 식(S2)으로 표시되는 아마이드류 및 식(S3)으로 표시되는 아마이드류로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것을 특징으로 하는 적층체.
Figure 112021103972672-pct00023

(식 중, R1 및 R2는 서로 독립적으로 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. R3은 수소 원자 또는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. h는 자연수를 나타낸다.)
The organic solvent according to claim 1, wherein the organic solvent contains at least one selected from amides represented by formula (S1), amides represented by formula (S2), and amides represented by formula (S3). A laminate made of
Figure 112021103972672-pct00023

(Wherein, R 1 and R 2 each independently represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. h represents a natural number.)
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 기재된 적층체를 경유하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법. The manufacturing method of the flexible electronic device provided with the resin substrate characterized by the above-mentioned via the laminated body in any one of Claims 1-8. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 기재된 적층체를 경유하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 터치패널 센서의 제조 방법. It passes through the laminated body in any one of Claims 1-8, The manufacturing method of the touch panel sensor provided with the resin substrate characterized by the above-mentioned. 삭제delete 삭제delete
KR1020197004723A 2016-08-03 2017-08-03 Composition for forming a release layer KR102376154B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016152490 2016-08-03
JPJP-P-2016-152490 2016-08-03
PCT/JP2017/028212 WO2018025955A1 (en) 2016-08-03 2017-08-03 Composition for forming releasing layer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190038846A KR20190038846A (en) 2019-04-09
KR102376154B1 true KR102376154B1 (en) 2022-03-18

Family

ID=61073036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020197004723A KR102376154B1 (en) 2016-08-03 2017-08-03 Composition for forming a release layer

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP7135857B2 (en)
KR (1) KR102376154B1 (en)
CN (1) CN109476913B (en)
TW (1) TWI746611B (en)
WO (1) WO2018025955A1 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020226118A1 (en) * 2019-05-07 2020-11-12 積水化学工業株式会社 Multifunctional active ester compound, resin composition, cured product and buildup film
CN110628024A (en) * 2019-09-24 2019-12-31 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Polyimide material, preparation method and application thereof
WO2022054765A1 (en) * 2020-09-10 2022-03-17 三菱瓦斯化学株式会社 Polymer composition, varnish, and polyimide film

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016086158A (en) * 2014-10-22 2016-05-19 セントラル硝子株式会社 Laminate for wafer processing, temporary adhesive material for wafer processing and method of manufacturing thin wafer

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2767505B2 (en) * 1991-08-06 1998-06-18 キヤノン株式会社 Liquid crystal element
JPH05323329A (en) * 1992-05-26 1993-12-07 Canon Inc Liquid crystal device
JP4619462B2 (en) 1996-08-27 2011-01-26 セイコーエプソン株式会社 Thin film element transfer method
JP4619461B2 (en) 1996-08-27 2011-01-26 セイコーエプソン株式会社 Thin film device transfer method and device manufacturing method
JP3809681B2 (en) 1996-08-27 2006-08-16 セイコーエプソン株式会社 Peeling method
US6830803B2 (en) * 1999-12-16 2004-12-14 Datacard Corporation Printed substrate made by transfer of ink jet printed image from a printable transfer film
JP3631105B2 (en) * 2000-05-31 2005-03-23 キヤノン株式会社 Fixing film and image heating apparatus using the same
GB0327093D0 (en) 2003-11-21 2003-12-24 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix displays and other electronic devices having plastic substrates
JP2010221523A (en) 2009-03-24 2010-10-07 Toray Ind Inc Method for manufacturing metallic layer laminated film
CN102167824B (en) * 2011-01-24 2014-10-29 中国科学院化学研究所 Polyimide film and preparation method and applications thereof
JP2013153122A (en) * 2011-10-20 2013-08-08 Nitto Denko Corp Method for manufacturing semiconductor device
AU2012362983B2 (en) * 2011-12-30 2016-11-10 Cytec Technology Corp. Peel ply, method of surface preparation and bonding composite structures using the same
CN102629519B (en) * 2012-04-25 2014-08-27 中国科学院化学研究所 Method for producing diaphragm of super capacitor
TWI664087B (en) 2012-09-27 2019-07-01 日商日鐵化學材料股份有限公司 Manufacturing method of display device
JP2014139296A (en) 2012-12-21 2014-07-31 Toray Ind Inc Aromatic polyamide, aromatic polyamide film and laminate
CN105392821B (en) * 2013-07-26 2018-10-23 日产化学工业株式会社 The manufacturing method of display base plate resin combination, display base plate resin film and display base plate resin film
JP6333560B2 (en) * 2014-01-23 2018-05-30 旭化成株式会社 Substrate applied to flexible electronic device having predetermined structure and method for manufacturing the same
KR102310011B1 (en) * 2014-03-31 2021-10-06 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 Composition for forming release layer
KR102467105B1 (en) * 2014-03-31 2022-11-14 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 Composition for forming releasing layer
JP6153571B2 (en) * 2014-08-07 2017-06-28 アクロン ポリマー システムズ,インク. Method for producing polyamide
CN111234217A (en) 2015-02-10 2020-06-05 日产化学工业株式会社 Composition for forming release layer
CN105061764B (en) * 2015-09-02 2018-03-02 中国科学院化学研究所 A kind of thermoset polyimide resin and its composite laminate and their preparation method and application

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016086158A (en) * 2014-10-22 2016-05-19 セントラル硝子株式会社 Laminate for wafer processing, temporary adhesive material for wafer processing and method of manufacturing thin wafer

Also Published As

Publication number Publication date
TW201835158A (en) 2018-10-01
CN109476913B (en) 2022-03-01
CN109476913A (en) 2019-03-15
KR20190038846A (en) 2019-04-09
TWI746611B (en) 2021-11-21
JPWO2018025955A1 (en) 2019-06-13
JP7135857B2 (en) 2022-09-13
WO2018025955A1 (en) 2018-02-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7131651B2 (en) Manufacturing method of touch panel sensor
TWI758245B (en) Manufacturing method of flexible electronic device
KR102365302B1 (en) Composition for forming a release layer for a transparent resin substrate
KR102376154B1 (en) Composition for forming a release layer
KR102410266B1 (en) Composition for forming a release layer
KR102500563B1 (en) Composition for Forming a Substrate Protection Layer
KR102439479B1 (en) Method for producing a release layer
KR102608548B1 (en) Composition for forming a temporary adhesive layer and temporary adhesive layer
KR102439472B1 (en) Method for producing a release layer
KR20190037265A (en) The composition for forming a peel layer and the peel layer

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant