KR20190038846A - Composition for releasing layer - Google Patents

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Abstract

하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 박리층 형성용 조성물을 제공한다. (식 중, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다.)

Figure pct00024
A polyimide resin composition comprising a polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamide represented by the following formula (4) To provide a composition for forming a release layer. (Wherein X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, X 3 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, Y 1 represents a fluorine atom Y 2 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, and m represents a natural number.)
Figure pct00024

Description

박리층 형성용 조성물 Composition for releasing layer

본 발명은 박리층 형성용 조성물에 관한 것으로, 상세하게 서술하면 기체 상에 마련하는 박리층을 형성하기 위한 박리층 형성용 조성물에 관한 것이다. The present invention relates to a composition for forming a release layer, and more particularly, to a composition for forming a release layer for forming a release layer on a substrate.

최근, 전자 디바이스에는 박형화 및 경량화라는 특성에 더해, 구부릴 수 있다는 기능을 부여하는 것이 요구되고 있다. 이 점에서, 종래의 무겁고 취약하며 구부릴 수 없는 유리 기판을 대신하여 경량의 플렉서블 플라스틱 기판을 사용하는 것이 요구된다. [0002] In recent years, electronic devices are required to have a function of bending in addition to the characteristics of thinning and lightening. In this respect, it is required to use a lightweight flexible plastic substrate in place of the conventional heavy, fragile and non-bendable glass substrate.

특히, 신세대 디스플레이에서는 경량의 플렉서블 플라스틱 기판(이하, 수지 기판이라고 표기한다)을 사용한 액티브 매트릭스형 풀 컬러 TFT 디스플레이 패널의 개발이 요구되고 있다. 이 신세대 디스플레이에 관한 기술은 플렉서블 디스플레이나 플렉서블 스마트폰, 미러 디스플레이 등의 다양한 분야로의 전용이 기대되고 있다. Particularly, it is required to develop an active matrix type full color TFT display panel using a lightweight flexible plastic substrate (hereinafter referred to as a resin substrate) in a new generation display. This new generation display technology is expected to be used in various fields such as flexible display, flexible smart phone, and mirror display.

그래서, 수지 필름을 기판으로 한 전자 디바이스의 제조 방법이 다양하게 검토되기 시작하여, 신세대 디스플레이에서는 기존의 TFT 디스플레이 패널 제조용의 설비가 전용 가능한 프로세스의 검토가 진행되고 있다. 또 터치패널식 디스플레이에 있어서는 디스플레이 패널에 조합하여 사용되는 터치패널의 투명 전극용의 수지 기판 등을 효율적으로 제조하기 위한 방책이 검토되고 있다. 일반적으로 터치패널에 사용되는 수지 기판은 TFT 디스플레이 패널 등과 마찬가지로, 유리와 동등 정도의 투명성을 가지는 폴리이미드 수지 기판이나 아크릴 수지 기판, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 수지 기판, 사이클로올레핀 수지 기판 등의 필름 기판이 사용되고 있다. Therefore, various methods for manufacturing an electronic device using a resin film as a substrate have started to be examined variously, and a process capable of reusing a facility for manufacturing a conventional TFT display panel in a new-generation display is being studied. In addition, in a touch panel type display, a measure for efficiently manufacturing a resin substrate for a transparent electrode of a touch panel used in combination with a display panel has been studied. Generally, the resin substrate used for the touch panel is made of a film substrate such as a polyimide resin substrate or an acrylic resin substrate, a polyethylene terephthalate (PET) resin substrate, a cycloolefin resin substrate or the like having transparency equivalent to that of glass, Has been used.

예를 들면, 특허문헌 1, 2 및 3에서는 유리 기판 상에 아몰퍼스 실리콘 박막층을 형성하고, 그 박막층 상에 플라스틱 기판을 형성한 후에, 유리면측으로부터 레이저를 조사하여, 아몰퍼스 실리콘의 결정화에 따라 발생하는 수소 가스에 의해 플라스틱 기판을 유리 기판으로부터 박리하는 방법이 개시되어 있다. 또 특허문헌 4에서는 특허문헌 1~3에 개시된 기술을 사용하여 피박리층(특허문헌 4에 있어서 「피전사층」이라고 기재되어 있다.)을 플라스틱 필름에 첩부하여 액정 표시 장치를 완성시키는 방법이 개시되어 있다. For example, in Patent Documents 1, 2 and 3, an amorphous silicon thin film layer is formed on a glass substrate, a plastic substrate is formed on the thin film layer, a laser is irradiated from the glass surface side, Discloses a method of peeling a plastic substrate from a glass substrate by hydrogen gas. In Patent Document 4, a method of completing a liquid crystal display device by attaching a layer to be peeled (referred to as "transfer layer" in Patent Document 4) to a plastic film using the technique disclosed in Patent Documents 1 to 3 Lt; / RTI >

그러나 특허문헌 1~4에서 개시된 방법, 특히 특허문헌 4에서 개시된 방법에서는 레이저광을 투과시키기 위해서 투광성이 높은 기판을 사용하는 것이 필수인 것, 기판을 통과시키고, 또한 아몰퍼스 실리콘에 포함되는 수소를 방출시키기에 충분한 비교적 큰 에너지의 레이저광의 조사가 필요하게 되는 것, 레이저광의 조사에 의해 피박리층에 손상을 주어버리는 경우가 있는 것과 같은 문제가 있다. However, in the methods disclosed in Patent Documents 1 to 4, in particular, in the method disclosed in Patent Document 4, it is necessary to use a substrate having high light transmittance in order to transmit laser light. It is necessary to pass through a substrate and emit hydrogen contained in amorphous silicon There is a problem in that irradiation with a laser beam having a relatively large energy sufficient to cause the layer to be peeled off may be required and that the layer to be peeled may be damaged by irradiation with laser light.

게다가, 피박리층이 대면적인 경우에는 레이저 처리에 장시간을 요하기 때문에, 디바이스 제작의 생산성을 높이는 것이 어렵다. In addition, when the layer to be peeled is in a large area, it takes a long time to perform the laser processing, so it is difficult to increase the productivity of device manufacture.

일본 특개 평10-125929호 공보Japanese Patent Publication No. 10-125929 일본 특개 평10-125931호 공보Japanese Patent Publication No. 10-125931 국제공개 제2005/050754호International Publication No. 2005/050754 일본 특개 평10-125930호 공보Japanese Patent Publication No. 10-125930

본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판, 특히 폴리이미드 수지나 아크릴 수지, 사이클로올레핀 폴리머 수지 등으로 형성되는 수지 기판을 손상하지 않고 박리하는 것이 가능하게 되는 박리층을 부여하는 박리층 형성용 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a resin substrate for a flexible electronic device, particularly a resin substrate formed of polyimide resin, acrylic resin, cycloolefin polymer resin or the like, And to provide a composition for forming a release layer.

본 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토를 거듭한 결과, 특정의 구조를 가지는 폴리아믹산 또는 폴리아마이드와 유기 용제를 포함하는 조성물이 유리 기판 등의 기체와의 우수한 밀착성 및 플렉서블 전자 디바이스로서 사용되는 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가지는 박리층을 부여하는 것을 알아내어 본 발명을 완성시켰다. As a result of intensive investigations to solve the above problems, the present inventors have found that a composition comprising a polyamic acid or a polyamide having a specific structure and an organic solvent has excellent adhesion with a substrate such as a glass substrate and is used as a flexible electronic device A release layer having appropriate adhesiveness to a resin substrate and appropriate releasability is provided, thereby completing the present invention.

즉, 본 발명은 That is,

1. 하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물, 1. A polyamic acid composition comprising a polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamide represented by the following formula (4) A composition for forming a release layer,

Figure pct00001
Figure pct00001

(식 중, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다.) (Wherein X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, X 3 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, Y 1 represents a fluorine atom Y 2 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, and m represents a natural number.)

2. 상기 Y1이 하기 식(5)~(9)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 방향족기인 1의 박리층 형성용 조성물, 2. The composition for forming a peel layer 1, wherein Y 1 is an aromatic group selected from the group consisting of the following formulas (5) to (9)

Figure pct00002
Figure pct00002

3. 상기 Y1이 하기 식(10)으로 표시되는 방향족기인 2의 박리층 형성용 조성물, 3. The composition for forming a peel layer, wherein Y 1 is an aromatic group represented by the following formula (10)

Figure pct00003
Figure pct00003

4. 상기 X2가 하기 식(11) 또는 (12)으로 표시되는 방향족기인 1 내지 3 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 4. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 3, wherein X < 2 > is an aromatic group represented by the following formula (11) or (12)

Figure pct00004
Figure pct00004

5. 상기 X1이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 1 내지 4 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 5. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 4, wherein X < 1 > is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings,

6. 상기 X3이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 1 내지 5 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 6. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 5, wherein X < 3 > is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings,

7. 상기 Y2가 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 1 내지 6 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 7. The composition for forming a release layer according to any one of 1 to 6, wherein Y < 2 > is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings,

8. 상기 유기 용매가 식(S1)으로 표시되는 아마이드류, 식(S2)으로 표시되는 아마이드류 및 식(S3)으로 표시되는 아마이드류로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 1 내지 7 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물, 8. The organic solvent as described in any one of 1 to 7, wherein the organic solvent comprises at least one selected from amides represented by the formula (S1), amides represented by the formula (S2) and amides represented by the formula (S3) A composition for forming a release layer,

Figure pct00005
Figure pct00005

(식 중, R1 및 R2는 서로 독립적으로 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. R3은 수소 원자 또는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. h는 자연수를 나타낸다.) (Wherein R 1 and R 2 represent, independently of each other, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and h denotes a natural number.)

9. 1 내지 8 중 어느 하나의 박리층 형성용 조성물을 사용하여 형성되는 박리층, 9. A peeling layer formed by using any one of the peeling layer forming compositions 1 to 8,

10. 9의 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법, 10. A method of manufacturing a flexible electronic device having a resin substrate,

11. 9의 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 터치패널 센서의 제조 방법, 11. A method of manufacturing a touch panel sensor comprising a resin substrate characterized by using a release layer,

12. 상기 수지 기판이 폴리이미드 수지 기판 또는 파장 400nm의 광 투과율이 80% 이상인 수지 기판인 10 또는 11의 제조 방법 12. The method for producing a resin substrate as described above, wherein the resin substrate is a polyimide resin substrate or a resin substrate having a light transmittance of at least 80%

을 제공한다. .

본 발명의 박리층 형성용 조성물을 사용함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가지는 막을 재현성 좋게 얻을 수 있다. 본 발명의 조성물을 사용함으로써, 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 기체 상에 형성된 수지 기판이나, 또한 그 위에 설치되는 회로 등에 손상을 주지 않고, 당해 회로 등과 함께 당해 수지 기판을 당해 기체로부터 분리하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 본 발명의 박리층 형성용 조성물은 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스의 간편화나 그 수율 향상 등에 기여할 수 있다. By using the composition for forming a release layer of the present invention, it is possible to obtain a film having good adhesion with a substrate, suitable adhesiveness to a resin substrate, and appropriate releasability with good reproducibility. By using the composition of the present invention, in the process of manufacturing a flexible electronic device, the resin substrate is separated from the substrate together with the circuit and the like without damaging the resin substrate formed on the substrate or the circuit provided thereon Lt; / RTI > Therefore, the composition for forming a release layer of the present invention can contribute to simplification of a manufacturing process of a flexible electronic device having a resin substrate and improvement of the yield thereof.

이하, 본 발명에 대해서, 보다 상세하게 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

본 발명의 박리층 형성용 조성물은 하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 것이다. The composition for forming a release layer comprises a polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamic acid represented by the following formula (4) Polyamide, and an organic solvent.

본 발명에 있어서, 박리층은 수지 기판이 형성되는 기체(유리 기체 등) 바로 위에 마련되는 층이다. 그 전형예로서는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 상기 기체와, 폴리이미드 수지나 아크릴 수지, 사이클로올레핀 폴리머 수지 등으로 형성되는 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판과의 사이에 당해 수지 기판을 소정의 프로세스 중에 있어서 고정하기 위해서 마련되고, 또한 당해 수지 기판 상에 전자 회로 등을 형성한 후에 있어서 당해 수지 기판을 당해 기체로부터 용이하게 박리할 수 있도록 하기 위해서 마련되는 박리층을 들 수 있다. In the present invention, the release layer is a layer provided directly on a substrate (glass substrate or the like) on which the resin substrate is formed. As a typical example thereof, in the manufacturing process of a flexible electronic device, the resin substrate is sandwiched between the substrate and a resin substrate of a flexible electronic device formed of polyimide resin, acrylic resin, cycloolefin polymer resin or the like in a predetermined process And a release layer provided for fixing the resin substrate to the substrate after the formation of an electronic circuit or the like on the resin substrate.

Figure pct00006
Figure pct00006

상기 식(1)~(4)에 있어서, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다. In the formulas (1) to (4), X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, and X 3 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom Y 1 is a bivalent aromatic group having a fluorine atom, Y 2 is a bivalent aromatic group having no fluorine atom, and m is a natural number.

상기 X1은 불소 원자를 가지지 않고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하다. 또한 상기 X1은 에스터 결합 및 에터 결합의 어느 한쪽 또는 양쪽을 포함해도 된다. X 1 is preferably an aromatic group having no fluorine atom and containing 1 to 5 benzene rings. X 1 may contain either or both of an ester bond and an ether bond.

상기 Y1은 불소 원자를 가지고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 하기 식(5)~(9)으로 이루어지는 군이 선택되는 방향족기가 보다 바람직하며, 하기 식(5)으로부터 선택되는 방향족기가 한층 더 바람직하고, 하기 식(10)으로 표시되는 방향족기가 더욱 바람직하다. Y 1 is preferably an aromatic group having a fluorine atom and 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group selected from the group consisting of the following formulas (5) to (9) Is more preferable, and an aromatic group represented by the following formula (10) is further preferable.

Figure pct00007
Figure pct00007

Figure pct00008
Figure pct00008

상기 X2는 불소 원자를 가지고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 하기 식(11) 또는 (12)으로 표시되는 방향족기가 보다 바람직하다. X 2 is preferably an aromatic group having a fluorine atom and further containing 1 to 5 benzene rings, and more preferably an aromatic group represented by the following formula (11) or (12).

Figure pct00009
Figure pct00009

상기 Y2는 불소 원자를 가지지 않고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 1~3개 포함하는 방향족기가 보다 바람직하다. 또한 상기 Y2는 에스터 결합 및 에터 결합의 어느 한쪽 또는 양쪽을 포함해도 된다. Y 2 is preferably an aromatic group having no fluorine atom and containing 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group containing 1 to 3 carbon atoms. Y 2 may include either or both of an ester bond and an ether bond.

상기 X3은 불소 원자를 가지지 않고, 또한 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기가 바람직하고, 벤젠환을 1~2개 포함하는 방향족기가 보다 바람직하며, 바이페닐기가 더욱 바람직하다. X 3 is preferably an aromatic group having no fluorine atom and containing 1 to 5 benzene rings, more preferably an aromatic group containing 1 to 2 benzene rings, and more preferably a biphenyl group.

상기 m은 자연수이면 되는데, 100 이하의 자연수가 바람직하고, 2~100의 자연수가 보다 바람직하다. The m may be a natural number, preferably a natural number of 100 or less, more preferably a natural number of 2 to 100.

[폴리아믹산 1] [Polyamic acid 1]

상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산은 불소 원자를 가지지 않는 방향족 테트라카복실산 이무수물과, 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. 이하, 상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 방향족 테트라카복실산 이무수물 및 방향족 다이아민에 대해서 상세하게 서술한다. The polyamic acid represented by the above formula (1) is obtained by reacting an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having no fluorine atom with an aromatic diamine having a fluorine atom. Hereinafter, the aromatic tetracarboxylic dianhydrides and aromatic diamines usable for the synthesis of the polyamic acid represented by the formula (1) will be described in detail.

본 발명에 있어서, 상기 방향족 테트라카복실산 이무수물은 불소 원자를 가지지 않고, 또한 분자 내에 2개의 다이카복실산 무수물 부위를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족 테트라카복실산 이무수물이 바람직하다. In the present invention, the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride is not particularly limited as long as it does not have a fluorine atom and has two dicarboxylic acid anhydride moieties in the molecule, but an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having 1 to 5 benzene rings .

방향족 테트라카복실산 이무수물의 구체예로서는 피로멜리트산 이무수물, 벤젠-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-2,3,5,6-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌-1,4,5,8-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-2,2',3,3'-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-2,3,3',4'-테트라카복실산 이무수물, 바이페닐-3,3',4,4'-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 안트라센-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,3,4-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,7,8-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-1,2,9,10-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,6,7-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-2,3,9,10-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-3,4,5,6-테트라카복실산 이무수물, 페난트렌-3,4,9,10-테트라카복실산 이무수물, 하기 식(B1)~(B12)으로 표시되는 방향족 테트라카복실산 이무수물 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride include pyromellitic dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,5 , 6-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid Dianhydride, naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyl-2,2 ', 3,3'-tetracarboxylic acid dianhydride , Biphenyl-2,3,3 ', 4'-tetracarboxylic dianhydride, biphenyl-3,3', 4,4'-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride Water, anthracene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene- , 3,6,7-tetracarboxylic acid Anhydride, phenanthrene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenanthrene-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene -2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-2,3,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-3,4,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-3 , 4,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, aromatic tetracarboxylic acid dianhydrides represented by the following formulas (B1) to (B12), and the like. These may be used singly or in combination of two or more kinds.

Figure pct00010
Figure pct00010

한편, 방향족 다이아민으로서는 불소 원자를 가지고, 또한 분자 내에 방향환에 직결되는 2개의 아미노기를 가지고 있으면, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민이 바람직하다. 또 플루오로알킬기 또는 퍼플루오로알킬기를 가지는 것이 보다 바람직하고, 퍼플루오로알킬기가 더욱 바람직하다. 상기 퍼플루오로알킬기로서는 예를 들면 트라이플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, n-헵타플루오로프로필기 및 i-헵타플루오로프로필기 등을 들 수 있다. On the other hand, the aromatic diamine is not particularly limited as long as it has a fluorine atom and two amino groups directly linked to the aromatic ring in the molecule, but an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene rings is preferable. Further, it is more preferable to have a fluoroalkyl group or a perfluoroalkyl group, and a perfluoroalkyl group is more preferable. Examples of the perfluoroalkyl group include a trifluoromethyl group, a pentafluoroethyl group, an n-heptafluoropropyl group, and an i-heptafluoropropyl group.

상기 방향족 다이아민의 구체예로서는 5-트라이플루오로메틸벤젠-1,3-다이아민, 5-트라이플루오로메틸벤젠-1,2-다이아민, 2-트라이플루오로메틸벤젠-1,4-다이아민, 3,5-비스(트라이플루오로메틸)벤젠-1,2-다이아민, 2,2'-비스(트라이플루오로메틸)-4,4'-다이아미노바이페닐, 2,2-비스(3-아미노페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로페인, 2,2-비스(4-아미노페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로페인, 3,3'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이아민, 3,3',5,5'-테트라플루오로바이페닐-4,4'-다이아민, 4,4'-다이아미노옥타플루오로바이페닐, 하기 식(A1)~(A5)으로 표시되는 방향족 다이아민 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic diamine include 5-trifluoromethylbenzene-1,3-diamine, 5-trifluoromethylbenzene-1,2-diamine, 2-trifluoromethylbenzene- , 3,5-bis (trifluoromethyl) benzene-1,2-diamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) -4,4'- diaminobiphenyl, 2,2-bis 3-aminophenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis (4-aminophenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoro (Trifluormethyl) biphenyl-4,4'-diamine, 3,3 ', 5,5'-tetrafluorobiphenyl-4,4'-diamine , 4,4'-diaminooctafluorobiphenyl, aromatic diamines represented by the following formulas (A1) to (A5), and the like, but are not limited thereto. These may be used singly or in combination of two or more kinds.

Figure pct00011
Figure pct00011

[폴리아믹산 2] [Polyamic acid 2]

상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산은 불소 원자를 가지는 방향족 테트라카복실산 이무수물과, 불소 원자를 가지지 않는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. 이하, 상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 방향족 테트라카복실산 이무수물 및 방향족 다이아민에 대해서 상세하게 서술한다. The polyamic acid represented by the formula (2) is obtained by reacting an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having a fluorine atom with an aromatic diamine having no fluorine atom. Hereinafter, the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride and the aromatic diamine usable for the synthesis of the polyamic acid represented by the formula (2) will be described in detail.

방향족 테트라카복실산 이무수물로서는 불소 원자를 가지고, 또한 분자 내에 2개의 다이카복실산 무수물 부위를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아니다. 또 플루오로알킬기 또는 퍼플루오로알킬기를 가지는 것이 보다 바람직하고, 퍼플루오로알킬기가 더욱 바람직하다. 상기 퍼플루오로알킬기로서는 예를 들면 트라이플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, n-헵타플루오로프로필기 및 i-헵타플루오로프로필기 등을 들 수 있다. The aromatic tetracarboxylic acid dianhydride is not particularly limited as long as it has a fluorine atom and also has two dicarboxylic acid anhydride sites in the molecule. Further, it is more preferable to have a fluoroalkyl group or a perfluoroalkyl group, and a perfluoroalkyl group is more preferable. Examples of the perfluoroalkyl group include a trifluoromethyl group, a pentafluoroethyl group, an n-heptafluoropropyl group, and an i-heptafluoropropyl group.

상기 방향족 테트라카복실산 이무수물의 구체예로서는 4,4'-(헥사플루오로아이소프로필리덴)다이프탈산 무수물, N,N'-[2,2'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이일]비스(1,3-다이옥소-1,3-다이하이드로아이소벤조퓨란-5-카보아마이드), 3,6-다이플루오로피로멜리트산 이무수물, 3,6-비스(트라이플루오로메틸)피로멜리트산 이무수물, 3,6-비스(트라이플루오로메톡시)피로멜리트산 이무수물, 3-플루오로피로멜리트산 이무수물, 3-트라이플루오로메틸피로멜리트산 이무수물, 3-트라이플루오로메톡시피로멜리트산 이무수물, 9,9-비스-(트라이플루오로메틸)잔텐테트라카복실산 이무수물, 9-페닐-9-(트라이플루오로메틸)잔텐테트라카복실산 이무수물, 3,3',5,5',6,6'-헥사플루오로옥시-4,4'-다이프탈산 이무수물 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride include 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride, N, N' - [2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl- -Diiyl] bis (1,3-dioxo-1,3-dihydroisobenzofuran-5-carboamide), 3,6-difluoropyromellitic dianhydride, 3,6-bis 3-fluoropyrimellitic acid dianhydride, 3-trifluoromethyl pyromellitic acid dianhydride, 3-fluoro-3-methylimidazolium dianhydride, 3- 9-phenyl-9- (trifluoromethyl) xanthene tetracarboxylic acid dianhydride, 3,3 ', 4'-bis (trifluoromethyl) xanthene tetracarboxylic dianhydride, , 5,5 ', 6,6'-hexafluorooxy-4,4'-diphthalic acid dianhydride and the like. These may be used singly or in combination of two or more kinds.

한편, 방향족 다이아민으로서는 불소 원자를 가지지 않고, 또한 분자 내에 방향환에 직결되는 2개의 아미노기를 가지고 있으면 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족 다이아민이 바람직하다. On the other hand, the aromatic diamine is not particularly limited as long as it has no fluorine atom and has two amino groups directly linked to the aromatic ring in the molecule, but an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene rings is preferable.

방향족 다이아민의 구체예로서는 1,4-다이아미노벤젠(p-페닐렌다이아민), 1,3-다이아미노벤젠(m-페닐렌다이아민), 1,2-다이아미노벤젠(o-페닐렌다이아민), 2,4-다이아미노톨루엔, 2,5-다이아미노톨루엔, 2,6-다이아미노톨루엔, 4,6-다이메틸-m-페닐렌다이아민, 2,5-다이메틸-p-페닐렌다이아민, 2,6-다이메틸-p-페닐렌다이아민, 2,4,6-트라이메틸-1,3-페닐렌다이아민, 2,3,5,6-테트라메틸-p-페닐렌다이아민, m-자일릴렌다이아민, p-자일릴렌다이아민 등의 벤젠환을 1개 포함하는 다이아민; 1,2-나프탈렌다이아민, 1,3-나프탈렌다이아민, 1,4-나프탈렌다이아민, 1,5-나프탈렌다이아민, 1,6-나프탈렌다이아민, 1,7-나프탈렌다이아민, 1,8-나프탈렌다이아민, 2,3-나프탈렌다이아민, 2,6-나프탈렌다이아민, 4,4'-바이페닐다이아민, 3,3'-다이메틸-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 3,3'-다이카복시-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 4,4'-다이아미노벤즈아닐라이드, 3,3'-다이클로로벤지딘, 3,3'-다이메틸벤지딘, 2,2'-다이메틸벤지딘, 3,3'-다이아미노다이페닐메테인, 3,4'-다이아미노다이페닐메테인, 4,4'-다이아미노다이페닐메테인, 2,2-비스(3-아미노페닐)프로페인, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로페인, 3,3'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 3,4'-다이아미노다이페닐설폭사이드, 4,4'-다이아미노다이페닐설폭사이드 등의 벤젠환을 2개 포함하는 다이아민; 1,5-다이아미노안트라센, 2,6-다이아미노안트라센, 9,10-다이아미노안트라센, 1,8-다이아미노페난트렌, 2,7-다이아미노페난트렌, 3,6-다이아미노페난트렌, 9,10-다이아미노페난트렌, 1,3-비스(3-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,4-비스(3-아미노페닐)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐설파이드)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페닐설폰)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐설폰)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페닐설폰)벤젠, 1,3-비스[2-(4-아미노페닐)아이소프로필]벤젠, 1,4-비스[2-(3-아미노페닐)아이소프로필]벤젠, 1,4-비스[2-(4-아미노페닐)아이소프로필]벤젠 등의 벤젠환을 3개 포함하는 다이아민, 하기 식(A6)~(A44)으로 표시되는 방향족 다이아민 등을 들 수 있는데, 이들에 한정되지 않는다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. Specific examples of the aromatic diamine include 1,4-diaminobenzene (p-phenylenediamine), 1,3-diaminobenzene (m-phenylenediamine), 1,2- Dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p-toluenesulfonic acid, 2,5-dimethylaniline, 2,6- Phenylenediamine, 2,6-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,4,6-trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl- Diamines including one benzene ring such as phenylene diamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, and the like; 1,2-naphthalene diamine, 1,3-naphthalene diamine, 1,4-naphthalene diamine, 1,5-naphthalene diamine, 1,6-naphthalene diamine, Naphthalene diamine, 2,6-naphthalene diamine, 4,4'-biphenyldiamine, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane , 3,3'-dicarboxy-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3 ', 5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, '-Diaminobenzanilide, 3,3'-dichlorobenzidine, 3,3'-dimethylbenzidine, 2,2'-dimethylbenzidine, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4 (3-aminophenyl) propane, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 3'-diaminodiphenylmethane, , 3'-diaminodiphenylsulfoxide, 3,4'-diaminodiphenylsulfoxide, and 4,4'-diaminodiphenylsulfoxide. A diamine containing 2; 1,5-diaminoanthracene, 1,5-diaminoanthracene, 1,5-diaminoanthracene, 2,6-diaminoanthracene, 1,5-diaminoanthracene, 1,5- (3-aminophenyl) benzene, 1, 3-bis (3-aminophenyl) benzene, Benzene, 1,3-bis (4-aminophenylsulfide) benzene, 1,4-bis (4-aminophenyl) Benzene, 1,3-bis (3-aminophenylsulfone) benzene, 1,3-bis (4-aminophenylsulfone) Bis [2- (4-aminophenyl) isopropyl] benzene, 1,4-bis [2- ] Benzene, and aromatic diamines represented by the following formulas (A6) to (A44), and the like, but not limited thereto It is. These may be used singly or in combination of two or more kinds.

Figure pct00012
Figure pct00012

Figure pct00013
Figure pct00013

Figure pct00014
Figure pct00014

Figure pct00015
Figure pct00015

Figure pct00016
Figure pct00016

Figure pct00017
Figure pct00017

[폴리아믹산 3] [Polyamic acid 3]

상기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산은 불소 원자를 가지는 방향족 테트라카복실산 이무수물과, 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. The polyamic acid represented by the formula (3) is obtained by reacting an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having a fluorine atom with an aromatic diamine having a fluorine atom.

방향족 테트라카복실산 이무수물로서는 상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 것과 마찬가지의 불소 원자를 가지는 방향족 테트라카복실산 이무수물을 사용할 수 있다. As the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride, an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having a fluorine atom similar to that usable for the synthesis of the polyamic acid represented by the formula (2) can be used.

방향족 다이아민으로서는 상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 것과 마찬가지의 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 사용할 수 있다. As the aromatic diamine, an aromatic diamine having a fluorine atom similar to that usable for the synthesis of the polyamic acid represented by the formula (1) can be used.

[폴리아마이드] [Polyamide]

상기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드는 불소 원자를 가지지 않는 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체와, 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 반응시킴으로써 얻어지는 것이다. 이하, 상기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드의 합성에 사용할 수 있는 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체 및 방향족 다이아민에 대해서 상세하게 서술한다. The polyamide represented by the formula (4) is obtained by reacting an aromatic dicarboxylic acid having no fluorine atom or a derivative thereof with an aromatic diamine having a fluorine atom. Hereinafter, the aromatic dicarboxylic acid or its derivative and aromatic diamine which can be used for the synthesis of the polyamide represented by the formula (4) will be described in detail.

본 발명에 있어서, 상기 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체는 불소 원자를 가지지 않고, 또한 분자 내에 2개의 카복실기 또는 그 유도기를 가지는 한 특별히 한정되는 것은 아니지만, 벤젠환을 1~5개, 특히 1~2개, 또한 2개 포함하는 방향족 다이카복실산 또는 그 유도체가 바람직하다. In the present invention, the aromatic dicarboxylic acid or derivative thereof is not particularly limited as long as it does not have a fluorine atom and has two carboxyl groups or a derivative thereof in the molecule. However, it is preferable that the aromatic dicarboxylic acid or its derivative has 1 to 5, And two aromatic dicarboxylic acids or derivatives thereof are preferable.

방향족 다이카복실산 또는 그 유도체의 구체예로서는 o-프탈산, 아이소프탈산, 테레프탈산, 5-메틸아이소프탈산, 5-tert-뷰틸아이소프탈산, 5-아미노아이소프탈산, 5-하이드록시아이소프탈산, 2,5-다이메틸테레프탈산, 테트라메틸테레프탈산, 1,4-나프탈렌다이카복실산, 1,6-나프탈렌다이카복실산, 2,5-나프탈렌다이카복실산, 2,6-나프탈렌다이카복실산, 2,7-나프탈렌다이카복실산, 1,4-안트라센다이카복실산, 1,6-안트라센다이카복실산, 2,6-안트라센다이카복실산, 1,4-안트라퀴논다이카복실산, 2,5-바이페닐다이카복실산, 4,4'-바이페닐다이카복실산, 2,2'-바이페닐다이카복실산, 3,4'-바이페닐다이카복실산, 1,5-바이페닐렌다이카복실산, 4,4''-터페닐다이카복실산, 4,4'-다이페닐메테인다이카복실산, 4,4'-다이페닐에테인다이카복실산, 4,4'-다이페닐프로페인다이카복실산, 4,4'-다이페닐헥사플루오로프로페인다이카복실산, 4,4'-다이페닐에터다이카복실산, 4,4'-바이벤질다이카복실산, 4,4'-스틸벤다이카복실산, 4,4'-톨란다이카복실산, 4,4'-카보닐이벤조산, 4,4'-설포닐이벤조산, 4,4'-다이티오이벤조산, p-페닐렌이아세트산, 3,3'-p-페닐렌다이프로피온산, 4-카복시신남산, p-페닐렌다이아크릴산, 3,3'-[4,4'-(메틸렌다이-p-페닐렌)]다이프로피온산, 4,4'-[4,4'-(옥시다이-p-페닐렌)]다이프로피온산, 4,4'-[4,4'-(옥시다이-p-페닐렌)]이뷰티르산, (아이소프로필리덴다이-p-페닐렌다이옥시)이뷰티르산, 비스(p-카복시페닐)다이메틸실레인 등의 다이카복실산; Specific examples of the aromatic dicarboxylic acid or a derivative thereof include aromatic dicarboxylic acids such as o-phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, 5-methylisophthalic acid, 5-tert-butylisophthalic acid, 5-aminoisophthalic acid, Naphthalene dicarboxylic acid, 1,4-naphthalene dicarboxylic acid, 1,6-naphthalene dicarboxylic acid, 2,5-naphthalene dicarboxylic acid, 2,6-naphthalene dicarboxylic acid, 2,7-naphthalene dicarboxylic acid, 1,4 Anthracene dicarboxylic acid, 2,5-biphenyl dicarboxylic acid, 4,4'-biphenyl dicarboxylic acid, 2-anthracene dicarboxylic acid, 2-anthracene dicarboxylic acid, , 2'-biphenyldicarboxylic acid, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 1,5-biphenylene dicarboxylic acid, 4,4'-terphenyl dicarboxylic acid, 4,4'- Carboxylic acid, 4,4'-diphenylethane dicarboxylic acid, 4,4'-diphenylpropane dicarboxyl Acid, 4,4'-diphenylhexafluoropropane dicarboxylic acid, 4,4'-diphenyl ethanedicarboxylic acid, 4,4'-bibenzyl dicarboxylic acid, 4,4'-stilbene dicarboxylic acid, '-Tolandicarboxylic acid, 4,4'-carbonyl dibenzoic acid, 4,4'-sulfonyl dibenzoic acid, 4,4'-dithiobenzoic acid, p-phenylene diacetic acid, 3,3'- 4,4 '- [4, 4' - (4,4 '- (methylene di-p-phenylene)] dicopropionic acid, 4,4'-dibromophenylacetic acid, - (oxydi-p-phenylene)] dicopropionic acid, 4,4 '- [4,4' - (oxydi-p-phenylene)] dibutyrate, (isopropylidene di- Dioxane) dicarboxylic acids such as butyric acid and bis (p-carboxyphenyl) dimethylsilane;

아이소프탈산다이클로라이드, 테레프탈산다이클로라이드, 3-클로로아이소프탈산다이클로라이드, 3-메톡시아이소프탈산다이클로라이드, 2,5-다이클로로테레프탈산다이클로라이드, 트라이클로로테레프탈산다이클로라이드, 테트라클로로테레프탈산다이클로라이드, 1,4-나프탈렌다이카복실산다이클로라이드, 2,6-나프탈렌다이카복실산다이클로라이드, 3,3'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드, 4,4'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드, 2,2'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드, 3,4'-바이페닐다이카복실산다이클로라이드 등의 상기 각종 다이카복실산의 할로겐화물 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 또한 상기 각종 다이카복실산은 무수의 구조인 것이어도 된다. Terephthalic acid dichloride, tetrachloroterephthalic acid dichloride, terephthalic acid dichloride, isophthalic acid dichloride, terephthalic acid dichloride, 3-chloroisophthalic acid dichloride, 3-methoxyisophthalic acid dichloride, 2,5-dichloroterephthalic acid dichloride, 4-naphthalene dicarboxylic acid dichloride, 2,6-naphthalene dicarboxylic acid dichloride, 3,3'-biphenyldicarboxylic acid dichloride, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid dichloride, 2,2'- Carboxylic acid dichloride, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid dichloride, and the like. These may be used singly or in combination of two or more kinds. In addition, the various dicarboxylic acids may be a water-free structure.

방향족 다이아민으로서는 상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산의 합성에 사용할 수 있는 것과 마찬가지의 불소 원자를 가지는 방향족 다이아민을 사용할 수 있다. As the aromatic diamine, an aromatic diamine having a fluorine atom similar to that usable for the synthesis of the polyamic acid represented by the formula (1) can be used.

상기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산 및 상기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산을 합성할 때의 전체 테트라카복실산 이무수물 성분의 몰수와 전체 다이아민 성분의 몰수의 비는 테트라카복실산 성분/다이아민 성분=0.8~1.2인 것이 바람직하다. 또 상기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드를 합성할 때의 전체 다이카복실산 성분의 몰수와 전체 다이아민 성분의 몰수의 비는 다이카복실산 성분/다이아민 성분=0.8~1.2인 것이 바람직하다. When the polyamic acid represented by the formula (1) and the polyamic acid represented by the formula (2) are synthesized, the ratio of the mole number of the total tetracarboxylic dianhydride component to the total number of moles of the diamine component is the tetracarboxylic acid component / diamine Component = 0.8 to 1.2. The ratio of the number of moles of the total dicarboxylic acid component to the total number of moles of the diamine component in synthesizing the polyamide represented by the formula (4) is preferably 0.8 to 1.2 in terms of the dicarboxylic acid component / diamine component.

이상 설명한 방향족 다이아민과 방향족 테트라카복실산 이무수물을 반응시킴으로써, 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물에 포함되는 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산 및 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산을 얻을 수 있다. 또 상기한 방향족 다이아민과 방향족 다이카복실산을 반응시킴으로써, 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물에 포함되는 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드를 얻을 수 있다. The polyamic acid represented by the formula (1), the polyamic acid represented by the formula (2) and the polyamic acid represented by the formula (3) contained in the composition for forming a peel layer according to the present invention, by reacting the aromatic diamine described above with the aromatic tetracarboxylic dianhydride, ) Can be obtained. Further, by reacting the above aromatic diamine with an aromatic dicarboxylic acid, the polyamide represented by the formula (4) contained in the composition for forming a release layer according to the present invention can be obtained.

[유기 용매] [Organic solvents]

이와 같은 반응에 사용하는 유기 용매는 반응에 악영향을 끼치지 않는 한 특별히 한정되지 않지만, 그 구체예로서는 m-크레졸, 2-피롤리돈, N-메틸-2-피롤리돈, N-에틸-2-피롤리돈, N-바이닐-2-피롤리돈, N,N-다이메틸아세트아마이드, N,N-다이메틸폼아마이드, 3-메톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-에톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-프로폭시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-아이소프로폭시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-sec-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, 3-tert-뷰톡시-N,N-다이메틸프로필아마이드, γ-뷰티로락톤 등을 들 수 있다. 또한 유기 용매는 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. The organic solvent used in such a reaction is not particularly limited so long as it does not adversely affect the reaction, and specific examples thereof include m-cresol, 2-pyrrolidone, N-methyl-2-pyrrolidone, Pyrrolidone, N-vinyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N- dimethylformamide, 3-methoxy- Isopropoxy-N, N-dimethyl propylamide, 3-propoxy-N, N-dimethyl propylamide, Methylpropylamide, 3-sec-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-tert-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, and γ-butyrolactone. The organic solvents may be used alone or in combination of two or more.

특히, 반응에 사용하는 유기 용매는 상기 서술한 다이아민, 테트라카복실산 이무수물, 다이카복실산, 폴리아믹산 및 폴리아마이드를 잘 용해하는 점에서, 식(S1)으로 표시되는 아마이드류, (S2)으로 표시되는 아마이드류 및 식(S3)으로 표시되는 아마이드류로부터 선택되는 적어도 1종이 바람직하다. Particularly, the organic solvent to be used in the reaction is an amide represented by the formula (S1), a compound represented by the formula (S2) in that the diamine, the tetracarboxylic acid dianhydride, the dicarboxylic acid, the polyamic acid and the polyamide described above are dissolved well. Amides and amides represented by the formula (S3) are preferable.

Figure pct00018
Figure pct00018

식 중, R1 및 R2는 서로 독립적으로 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. R3은 수소 원자 또는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. h는 자연수를 나타내는데, 바람직하게는 1~3, 보다 바람직하게는 1 또는 2이다. In the formula, R 1 and R 2 independently represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. h represents a natural number, preferably 1 to 3, more preferably 1 or 2.

탄소수 1~10의 알킬기로서는 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 아이소프로필기, n-뷰틸기, 아이소뷰틸기, s-뷰틸기, t-뷰틸기, n-펜틸기, n-헥실기, n-헵틸기, n-옥틸기, n-노닐기, n-데실기 등을 들 수 있다. 이들 중, 탄소수 1~3의 알킬기가 바람직하고, 탄소수 1 또는 2의 알킬기가 보다 바람직하다. Examples of the alkyl group having 1 to 10 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, a n-butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group, -Hexyl group, n-octyl group, n-nonyl group, and n-decyl group. Of these, an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is preferable, and an alkyl group having 1 or 2 carbon atoms is more preferable.

반응 온도는 사용하는 용매의 융점으로부터 비점까지의 범위에서 적절히 설정하면 되고, 통상 0~100℃정도인데, 예를 들면 얻어지는 폴리아믹산의 용액 중에서의 이미드화를 막고 폴리아믹산 단위의 고함유량을 유지하기 위해서는 바람직하게는 0~70℃정도이며, 보다 바람직하게는 0~60℃정도이며, 한층 더 바람직하게는 0~50℃정도이다. The reaction temperature may be appropriately set in the range from the melting point of the solvent to be used to the boiling point, and is usually about 0 to 100 ° C. For example, imidization in a solution of the obtained polyamic acid is inhibited and a high content of polyamic acid units is maintained The temperature is preferably about 0 to 70 ° C, more preferably about 0 to 60 ° C, even more preferably about 0 to 50 ° C.

또한 폴리아마이드의 제조에 있어서, 중합의 효율을 높이기 위해서 중합 촉매를 사용해도 된다. 중합 촉매로서는 예를 들면 인산, 아인산, 차아인산 또는 그들의 염, 피리딘을 들 수 있다. 중합 촉매의 첨가량은 통상적으로 폴리아마이드를 구성하는 전체 모노머에 대하여 2몰% 이하로 사용하는 것이 바람직하다. Further, in the production of the polyamide, a polymerization catalyst may be used to increase the polymerization efficiency. Examples of the polymerization catalyst include phosphoric acid, phosphorous acid, hypophosphoric acid or a salt thereof, and pyridine. The addition amount of the polymerization catalyst is usually preferably not more than 2 mol% based on the total monomers constituting the polyamide.

반응 시간은 반응 온도나 원료 물질의 반응성에 의존하기 때문에 일괄적으로 규정할 수 없지만, 통상 1~100시간정도이다. Since the reaction time depends on the reaction temperature and the reactivity of the starting material, it can not be defined collectively, but is usually about 1 to 100 hours.

이상 설명한 방법에 의해, 목적으로 하는 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 포함하는 반응 용액을 얻을 수 있다. By the above-described method, a reaction solution containing a desired polyamic acid or polyamide can be obtained.

상기 폴리아믹산 또는 폴리아마이드의 중량 평균 분자량은 5,000~1,000,000이 바람직하고, 6,000~500,000이 보다 바람직하며, 핸들링성의 관점에서 7,000~200,000이 한층 더 바람직하다. 또한 본 발명에 있어서 중량 평균 분자량은 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(GPC) 분석에 의한 표준 폴리스타이렌 환산으로 얻어지는 평균 분자량이다. The weight average molecular weight of the polyamic acid or polyamide is preferably 5,000 to 1,000,000, more preferably 6,000 to 500,000, and still more preferably 7,000 to 200,000 from the viewpoint of handling. In the present invention, the weight average molecular weight is an average molecular weight obtained by standard gel electrophoresis chromatography (GPC) analysis in terms of polystyrene standards.

본 발명에 있어서는 통상적으로 상기 반응 용액을 여과한 후, 그 여과액을 그대로 또는 희석 혹은 농축하여 얻어지는 용액을 본 발명의 박리층 형성용 조성물로서 사용할 수 있다. 이와 같이 함으로써, 얻어지는 박리층의 밀착성, 박리성 등의 악화의 원인이 될 수 있는 불순물의 혼입을 저감할 수 있을 뿐만아니라, 효율적으로 박리층 형성용 조성물을 얻을 수 있다. 또 상기 반응 용액으로부터 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 단리한 후, 다시 용매에 용해하여 박리층 형성용 조성물로 해도 된다. 이 경우의 용매로서는 상기 서술한 반응에 사용하는 유기 용매 등을 들 수 있다. In the present invention, a solution obtained by filtering the reaction solution and then directly or diluting or concentrating the filtrate can be used as the composition for forming a release layer of the present invention. By doing so, it is possible not only to reduce the incorporation of impurities which may cause deterioration of the adhesion and peelability of the obtained release layer, but also to obtain a composition for forming a release layer efficiently. The polyamic acid or polyamide may be isolated from the reaction solution and then dissolved in a solvent to prepare a composition for forming a release layer. Examples of the solvent in this case include an organic solvent used in the above-described reaction.

희석에 사용하는 용매는 특별히 한정되지 않고, 그 구체예로서는 상기 반응의 반응 용매의 구체예와 마찬가지의 것을 들 수 있다. 희석에 사용하는 용매는 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 그 중에서도 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 잘 용해하는 점에서, N,N-다이메틸폼아마이드, N,N-다이메틸아세트아마이드, N-메틸-2-피롤리돈, 1,3-다이메틸-2-이미다졸리다이논, N-에틸-2-피롤리돈, γ-뷰티로락톤이 바람직하고, N-메틸-2-피롤리돈이 보다 바람직하다. The solvent used for the dilution is not particularly limited, and specific examples thereof are the same as specific examples of the reaction solvent for the above reaction. The solvent used for dilution may be used alone or in combination of two or more. Among them, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1,3-dimethyl- Imidazololidinone, N-ethyl-2-pyrrolidone and? -Butyrolactone are preferable, and N-methyl-2-pyrrolidone is more preferable.

또 단독으로는 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 용해하지 않는 용매여도 폴리아믹산 또는 폴리아마이드가 석출되지 않는 범위이면, 본 발명의 박리층 형성용 조성물에 혼합할 수 있다. 특히, 에틸셀로솔브, 뷰틸셀로솔브, 에틸카비톨, 뷰틸카비톨, 에틸카비톨아세테이트, 에틸렌글라이콜, 1-메톡시-2-프로판올, 1-에톡시-2-프로판올, 1-뷰톡시-2-프로판올, 1-페녹시-2-프로판올, 프로필렌글라이콜모노아세테이트, 프로필렌글라이콜다이아세테이트, 프로필렌글라이콜-1-모노메틸에터-2-아세테이트, 프로필렌글라이콜-1-모노에틸에터-2-아세테이트, 다이프로필렌글라이콜, 2-(2-에톡시프로폭시)프로판올, 락트산메틸, 락트산에틸, 락트산n-프로필, 락트산n-뷰틸, 락트산아이소아밀 등의 저표면장력을 가지는 용매를 적절히 혼재시킬 수 있다. 이것에 의해 기판으로의 도포시에 도막 균일성이 향상되는 것이 알려져 있고, 본 발명의 박리층 형성용 조성물에 있어서도 적합하게 사용된다. Insofar as the polyamic acid or the polyamide can not be solely precipitated, it can be mixed with the release layer forming composition of the present invention even if it is a solvent that does not dissolve the polyamic acid or polyamide. Particularly preferred are ethylcellosolve, butylcellosolve, ethylcarbitol, butylcarbitol, ethylcarbitol acetate, ethylene glycol, 1-methoxy-2-propanol, 1- 2-propanol, propylene glycol monoacetate, propylene glycol diacetate, propylene glycol-1-monomethyl ether-2-acetate, propylene glycol Propyl alcohol, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-butyl lactate, isoamyl lactate, and the like can be used. Can suitably be mixed with a solvent having a low surface tension. As a result, it is known that the coating film uniformity is improved during coating onto a substrate, and it is suitably used also in the composition for forming a release layer of the present invention.

본 발명의 박리층 형성용 조성물에 있어서의 폴리아믹산 또는 폴리아마이드의 농도는 제작하는 박리층의 두께, 조성물의 점도 등을 감안하여 적절하게 설정하는 것인데, 통상 1~30질량%정도, 바람직하게는 1~20질량%정도이다. 이와 같은 농도로 함으로써, 0.05~5μm정도의 두께의 박리층을 재현성 좋게 얻을 수 있다. 또한 폴리아믹산 또는 폴리아마이드의 농도는 이들의 원료인 다이아민과 테트라카복실산 이무수물 또는 다이카복실산의 사용량을 조정하거나, 상기 반응 용액을 여과한 후 그 여과액을 희석 또는 농축하거나, 단리한 폴리아믹산 또는 폴리아마이드를 용매에 용해시킬 때 그 양을 조정하거나 하여 조정할 수 있다. The concentration of the polyamic acid or polyamide in the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced and the viscosity of the composition and is usually about 1 to 30 mass% About 1 to 20% by mass. With such a concentration, a peel layer having a thickness of about 0.05 to 5 mu m can be obtained with good reproducibility. The concentration of the polyamic acid or polyamide may be adjusted by adjusting the amount of diamine and tetracarboxylic dianhydride or dicarboxylic acid as the raw material of these, or by diluting or concentrating the filtrate after the reaction solution is filtered, When the polyamide is dissolved in a solvent, it can be adjusted by adjusting its amount.

또 박리층 형성용 조성물의 점도는 제작하는 박리층의 두께 등을 감안하여 적절히 설정하는 것인데, 특히 0.05~5μm정도의 두께의 막을 재현성 좋게 얻는 것을 목적으로 하는 경우, 통상, 25℃에서 10~10,000mPa·s정도, 바람직하게는 20~5,000mPa·s정도이다. 여기서 점도는 시판되는 액체의 점도 측정용 점도계를 사용하여, 예를 들면 JIS K7117-2에 기재된 순서를 참조하여, 조성물의 온도 25℃의 조건에서 측정할 수 있다. 바람직하게는 점도계로서는 원추평판형(콘 플레이트형) 회전 점도계를 사용하고, 바람직하게는 동형의 점도계로 표준 콘 로터로서 1°34'×R24를 사용하여, 조성물의 온도 25℃의 조건에서 측정할 수 있다. 이와 같은 회전 점도계로서는 예를 들면 도키산교(주)제 TVE-25L을 들 수 있다. The viscosity of the composition for forming a release layer is suitably set in view of the thickness of the release layer to be produced. Particularly when it is intended to obtain a film having a thickness of about 0.05 to 5 탆 with good reproducibility, mPa 占 퐏, and preferably about 20 to 5,000 mPa 占 퐏. Here, the viscosities can be measured using a commercially available viscometer for viscosity measurement of liquid, for example, at a temperature of 25 ° C of the composition, with reference to the procedure described in JIS K7117-2. Preferably, a cone-plate type (cone plate type) rotational viscometer is used as the viscometer, preferably 1 ° 34 '× R24 is used as a standard cone rotor as a viscometer of the same type, . An example of such a rotational viscometer is TVE-25L manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.

또한 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물은 폴리아믹산 또는 폴리아마이드와 유기 용매 이외에 예를 들면 막 강도를 향상시키기 위해서 가교제 등의 성분을 포함해도 된다. The composition for forming a release layer according to the present invention may contain a component such as a cross-linking agent in order to improve the film strength in addition to the polyamic acid or the polyamide and the organic solvent.

이상 설명한 본 발명의 박리층 형성 조성물을 기체에 도포하고, 얻어진 도막을 가열함으로써, 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가지는 박리층을 얻을 수 있다. By applying the peeling layer forming composition of the present invention described above to a substrate and heating the obtained coating film, it is possible to obtain a peeling layer having good adhesion with a substrate, suitable adhesiveness to a resin substrate, and appropriate releasability.

본 발명의 박리층을 기체 상에 형성하는 경우, 박리층은 기체의 일부 표면에 형성되어 있어도 되고, 전체면에 형성되어 있어도 된다. 기체의 일부 표면에 박리층을 형성하는 태양으로서는 기체 표면 중 소정의 범위에만 박리층을 형성하는 태양, 기체 표면 전체면에 도트 패턴, 라인 앤드 스페이스 패턴 등의 패턴 형상으로 박리층을 형성하는 태양 등이 있다. 또한 본 발명에 있어서, 기체는 그 표면에 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물이 칠해지는 것으로서, 플렉서블 전자 디바이스 등의 제조에 사용되는 것을 의미한다. When the release layer of the present invention is formed on a substrate, the release layer may be formed on a part of the surface of the substrate or on the entire surface. Examples of the method of forming the release layer on a part of the surface of the base include a method of forming a release layer only in a predetermined range of the surface of the substrate, a method of forming a release layer in a pattern of a dot pattern, a line and space pattern, . Further, in the present invention, the base means that the base is coated with the composition for forming a release layer according to the present invention on the surface thereof, and used for manufacturing a flexible electronic device or the like.

기체(기재)로서는 예를 들면 유리, 플라스틱(폴리카보네이트, 폴리메타크릴레이트, 폴리스타이렌, 폴리에스터, 폴리올레핀, 에폭시, 멜라민, 트라이아세틸셀룰로스, ABS, AS, 노보넨계 수지 등), 금속(실리콘 웨이퍼 등), 목재, 종이, 슬레이트 등을 들 수 있는데, 특히 본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물로부터 얻어지는 박리층이 그것에 대한 충분한 밀착성을 가지는 점에서 유리가 바람직하다. 또한 기체 표면은 단일의 재료로 구성되어 있어도 되고, 2 이상의 재료로 구성되어 있어도 된다. 2 이상의 재료로 기체 표면이 구성되는 태양으로서는 기체 표면 중 어느 범위는 어느 재료로 구성되고, 그 나머지 표면은 그 밖의 재료로 구성되어 있는 태양, 기체 표면 전체에 도트 패턴, 라인 앤드 스페이스 패턴 등의 패턴 형상으로 어느 재료가 그 밖의 재료 중에 존재하는 태양 등이 있다. Examples of the base material include glass, plastic (polycarbonate, polymethacrylate, polystyrene, polyester, polyolefin, epoxy, melamine, triacetyl cellulose, ABS, AS and norbornene resins) ), Wood, paper, and slate. In particular, the release layer obtained from the composition for forming a release layer according to the present invention is preferably free from the viewpoint of having sufficient adhesion to the release layer. The surface of the substrate may be composed of a single material or may be composed of two or more materials. As a mode in which the surface of the base is composed of two or more materials, any of the surfaces of the base is composed of any material, and the remaining surface is composed of other materials; a pattern such as a dot pattern, a line and space pattern, And a material in which a material is present in other materials.

도포하는 방법은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 캐스트 코트법, 스핀 코트법, 블레이드 코트법, 딥 코트법, 롤 코트법, 바 코트법, 다이 코트법, 잉크젯법, 인쇄법(철판, 요판, 평판, 스크린 인쇄 등) 등을 들 수 있다. The coating method is not particularly limited, and examples thereof include a cast coating method, a spin coating method, a blade coating method, a dip coating method, a roll coating method, a bar coating method, a die coating method, an ink jet printing method, Flat plate, screen printing, etc.).

이미드화하기 위한 가열 온도는 통상 50~550℃의 범위 내에서 적절하게 결정되는데, 바람직하게는 200℃ 이상, 또 바람직하게는 500℃ 이하이다. 가열 온도를 이와 같이 함으로써, 얻어지는 막의 취약화를 막으면서, 이미드화 반응을 충분히 진행시키는 것이 가능하게 된다. 가열 시간은 가열 온도에 따라 상이하기 때문에 일괄적으로 규정할 수 없지만, 통상 5분~5시간이다. 또 이미드화율은 50~100%의 범위이면 된다. The heating temperature for imidization is appropriately determined within a range of usually 50 to 550 ° C, preferably 200 ° C or more, and more preferably 500 ° C or less. By performing the heating temperature in this way, it becomes possible to sufficiently progress the imidization reaction while preventing the obtained film from being weakened. Since the heating time differs depending on the heating temperature, it can not be defined collectively, but is usually 5 minutes to 5 hours. The imidization ratio may be in the range of 50 to 100%.

본 발명에 있어서의 가열 태양의 바람직한 일례로서는 50~100℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 그대로 단계적으로 가열 온도를 상승시켜 최종적으로 375℃ 초과~450℃에서 30분~4시간 가열하는 수법을 들 수 있다. 특히, 50~100℃에서 5분간~2시간 가열한 후에 100℃ 초과~375℃에서 5분간~2시간, 마지막으로 375℃ 초과~450℃에서 30분~4시간 가열하는 것이 바람직하다. As a preferred example of the heating method of the present invention, heating is carried out at 50 to 100 ° C for 5 minutes to 2 hours, followed by heating stepwise as it is, and finally heating at 375 ° C to 450 ° C for 30 minutes to 4 hours . Particularly, it is preferable to heat at 50 to 100 ° C for 5 minutes to 2 hours, then to heat at more than 100 ° C to 375 ° C for 5 minutes to 2 hours, and finally to heat at 375 ° C to 450 ° C for 30 minutes to 4 hours.

가열에 사용하는 기구로서는 예를 들면 핫플레이트, 오븐 등을 들 수 있다. 가열 분위기는 공기하여도 되고 불활성 가스하여도 되며, 또 상압하여도 되고 감압하여도 된다. Examples of a mechanism used for heating include a hot plate and an oven. The heating atmosphere may be air or inert gas, or may be atmospheric pressure or reduced pressure.

박리층의 두께는 통상 0.01~50μm정도, 생산성의 관점에서 바람직하게는 0.05~20μm정도, 보다 바람직하게는 0.05~5μm정도이며, 가열 전의 도막의 두께를 조정하여 원하는 두께를 실현한다. The thickness of the release layer is usually about 0.01 to 50 mu m, preferably about 0.05 to 20 mu m, more preferably about 0.05 to 5 mu m from the viewpoint of productivity, and the desired thickness is achieved by adjusting the thickness of the coating film before heating.

이상 설명한 박리층은 기체, 특히 유리의 기체와의 우수한 밀착성 및 수지 기판과의 적절한 밀착성과 적절한 박리성을 가진다. 그 때문에 본 발명에 따른 박리층은 플렉서블 전자 디바이스의 제조 프로세스에 있어서, 당해 디바이스의 수지 기판에 손상을 주지 않고, 당해 수지 기판을 그 수지 기판 상에 형성된 회로 등과 함께 기체로부터 박리시키기 위해서 적합하게 사용할 수 있다. The peeling layer described above has excellent adhesion with a base body, in particular, with a base body of glass, appropriate adhesiveness to a resin substrate, and appropriate releasability. Therefore, in the process of manufacturing a flexible electronic device, the release layer according to the present invention can be suitably used for peeling the resin substrate of the device from the substrate together with a circuit formed on the resin substrate without damaging the resin substrate of the device .

이하, 본 발명의 박리층을 사용한 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법의 일례에 대해서 설명한다. Hereinafter, an example of a method of manufacturing a flexible electronic device using the release layer of the present invention will be described.

본 발명에 따른 박리층 형성용 조성물을 사용하여, 상기 서술한 방법에 의해 유리 기체 상에 박리층을 형성한다. 이 박리층 상에 수지 기판을 형성하기 위한 수지 용액을 도포하고, 이 도막을 가열함으로써, 본 발명에 따른 박리층을 개재시켜 유리 기체에 고정된 수지 기판을 형성한다. 이 때, 박리층을 모두 덮도록 하여, 박리층의 면적과 비교하여 큰 면적으로 수지 기판을 형성한다. 상기 수지 기판으로서는 플렉서블 전자 디바이스의 수지 기판으로서 대표적인 폴리이미드 수지나 아크릴 수지, 사이클로올레핀 폴리머 수지로 이루어지는 수지 기판 등을 들 수 있고, 그것을 형성하기 위한 수지 용액으로서는 폴리이미드 용액, 폴리아믹산 용액, 아크릴 폴리머 용액 및 사이클로올레핀 폴리머 용액을 들 수 있다. 당해 수지 기판의 형성 방법은 상법에 따르면 된다. 또 투명성이 높은 수지 기판으로서는 아크릴 수지나 사이클로올레핀 폴리머 수지로 형성되는 수지 기판을 예시할 수 있고, 특히 파장 400nm의 광 투과율이 80% 이상인 것이 바람직하다. Using the composition for forming a release layer according to the present invention, a release layer is formed on a glass substrate by the above-described method. A resin solution for forming a resin substrate is applied on the release layer and the resin film is fixed to the glass substrate via the release layer according to the present invention by heating the coating film. At this time, the entirety of the release layer is covered, and the resin substrate is formed with a large area as compared with the area of the release layer. Examples of the resin substrate include a polyimide resin, a resin substrate made of an acrylic resin and a cycloolefin polymer resin, which are typical resin substrates for a flexible electronic device, and resin solutions for forming the resin substrate include polyimide solutions, polyamic acid solutions, Solutions and cycloolefin polymer solutions. The method of forming the resin substrate may be according to a conventional method. As the resin substrate having high transparency, a resin substrate formed of acrylic resin or cycloolefin polymer resin can be exemplified. In particular, it is preferable that the light transmittance at a wavelength of 400 nm is 80% or more.

이어서 본 발명에 따른 박리층을 개재시켜 기체에 고정된 당해 수지 기판 상에 원하는 회로를 형성하고, 그 후, 예를 들면 박리층을 따라 수지 기판을 커트하고, 이 회로와 함께 수지 기판을 박리층으로부터 박리하여, 수지 기판과 기체를 분리한다. 이 때, 기체의 일부를 박리층과 함께 커트해도 된다. Then, a desired circuit is formed on the resin substrate fixed on the base body with the release layer according to the present invention interposed therebetween. Thereafter, the resin substrate is cut along the peeling layer, for example, To separate the resin substrate from the gas. At this time, a part of the base may be cut together with the release layer.

한편, 플렉서블 디스플레이의 제조에 있어서, 지금까지 고휘도 LED나 삼차원 반도체 패키지 등의 제조에 있어서 사용되어온 레이저 리프트 오프법(LLO법)을 사용하여 유리 캐리어로부터 폴리머 기판을 적합하게 박리할 수 있는 것이 보고되어 있다(일본 특개 2013-147599호 공보). 플렉서블 디스플레이의 제조에서는 유리 캐리어 상에 폴리이미드 등으로 이루어지는 폴리머 기판을 마련하고, 이어서 그 기판 상에 전극 등을 포함하는 회로 등을 형성하고, 최종적으로 이 회로 등과 함께 기판을 유리 캐리어로부터 박리할 필요가 있다. 이 박리 공정에 있어서 LLO법을 채용하고, 즉, 회로 등이 형성된 면과는 반대의 면으로부터, 파장 308nm의 광선을 유리 캐리어에 조사하면, 당해 파장의 광선이 유리 캐리어를 투과하고, 유리 캐리어 근방의 폴리머(폴리이미드 수지)만이 이 광선을 흡수하여 증발(승화)한다. 그 결과, 디스플레이의 성능을 결정짓게 되는, 기판 상에 설치된 회로 등에 영향을 주지 않고, 유리 캐리어로부터의 기판의 박리를 선택적으로 실행 가능하다고 보고되어 있다. On the other hand, it has been reported that the polymer substrate can be suitably peeled off from the glass carrier by using the laser lift-off method (LLO method), which has been used in the production of a high-brightness LED or a three- (JP-A-2013-147599). In the manufacture of a flexible display, a polymer substrate made of polyimide or the like is provided on a glass carrier, a circuit including electrodes and the like is formed on the substrate, and finally the substrate is peeled off from the glass carrier together with this circuit . When the LLO method is employed in this peeling step, that is, when a glass carrier is irradiated with a light beam having a wavelength of 308 nm from the surface opposite to the surface on which the circuit or the like is formed, the light beam of the wavelength is transmitted through the glass carrier, Only the polymer (polyimide resin) absorbs this light and evaporates (sublimes). As a result, it has been reported that the peeling of the substrate from the glass carrier can be selectively performed without affecting the circuit mounted on the substrate or the like, which determines the performance of the display.

본 발명에 따른 박리층을 개재시켜 기체에 고정된 당해 수지 기판 상에 원하는 회로를 형성하고, 그 후, LLO법을 채용하면, 이 박리층만이 이 광선을 흡수하여 증발(승화)한다. 즉, 이 박리층이 희생이 되어(희생층으로서 작용하여), 유리 캐리어로부터의 기판의 박리를 선택적으로 실행 가능하게 된다. 본 발명의 박리층 형성용 조성물은 LLO법의 적용이 가능하게 되는 특정 파장(예를 들면 308nm)의 광선을 충분히 흡수한다는 특징을 가지기 때문에, LLO법의 희생층으로서 사용할 수 있다. When a desired circuit is formed on the resin substrate fixed on the substrate via the release layer according to the present invention and then the LLO method is employed, only this release layer absorbs the light and evaporates (sublimes). That is, this peeling layer is sacrificed (serving as a sacrificial layer), and the peeling of the substrate from the glass carrier can be selectively performed. The composition for forming a release layer of the present invention is characterized in that it sufficiently absorbs light of a specific wavelength (for example, 308 nm) at which the LLO method can be applied, so that it can be used as a sacrifice layer of the LLO method.

(실시예) (Example)

이하, 합성예, 비교 합성예, 실시예 및 비교예를 들어 본 발명을 더욱 상세하게 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예에 한정되지 않는다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Synthesis Examples, Comparative Synthesis Examples, Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to these Examples.

[1] 화합물의 약어 [1] Abbreviation for Compound

p-PDA : p-페닐렌다이아민 p-PDA: p-phenylenediamine

DDE ; 4,4'-옥시다이아닐린 DDE; 4,4'-oxydianiline

TFMB : 2,2'-비스(트라이플루오로메틸)벤지딘 TFMB: 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine

BPTP : 비스(4-아미노페녹시)테레프탈레이트 BPTP: bis (4-aminophenoxy) terephthalate

HFBAPP : 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로페인 HFBAPP: 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane

Bis-F : 2,2-비스(4-아미노페닐)헥사플루오로프로페인 Bis-F: 2,2-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane

BTFDPE : 4,4-옥시비스[(3-트라이플루오로메틸)벤젠아민] BTFDPE: 4,4-oxybis [(3-trifluoromethyl) benzenamine]

6FAPB : 4,4'-비스(4-아미노-2-트라이플루오로메틸페녹시)바이페닐 6FAPB: 4,4'-bis (4-amino-2-trifluoromethylphenoxy) biphenyl

FDA : 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌 FDA: 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene

TPDA : 4,4'''-다이아미노-p-터페닐 TPDA: 4,4 " -diamino-p-terphenyl

a-ODPA : 3,4'-옥시다이프탈산 무수물 a-ODPA: 3,4'-oxydiphthalic anhydride

6FDA : 4,4'-(헥사플루오로아이소프로필리덴)다이프탈산 무수물 6FDA: 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride

DPDOC : 바이페닐-4,4'-다이카복실산클로라이드 DPDOC: biphenyl-4,4'-dicarboxylic acid chloride

PMDA : 피로멜리트산 이무수물 PMDA: pyromellitic dianhydride

CF3-BP-TMA : N,N'-[2,2'-비스(트라이플루오로메틸)바이페닐-4,4'-다이일]비스(1,3-다이옥소-1,3-다이하이드로아이소벤조퓨란-5-카보아마이드) CF3-BP-TMA: N, N'- [2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl-4,4'-diyl] bis (1,3-dioxo-1,3-dihydro Isobenzofuran-5-carboamide)

BTDA : 3,3',4,4'-벤조페논테트라카복실산 이무수물 BTDA: 3,3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride

BPDA : 3,3',4,4'-바이페닐테트라카복실산 이무수물 BPDA: 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride

BPTME : p-바이페닐렌비스(트리멜리트산모노에스터산 무수물) BPTME: p-biphenylene bis (trimellitic acid monoester acid anhydride)

MMA : 메타크릴산메틸 MMA: methyl methacrylate

MAA : 메타크릴산 MAA: methacrylic acid

HEMA : 메타크릴산2-하이드록시에틸 HEMA: 2-hydroxyethyl methacrylate

AIBN : 아조비스아이소뷰티로나이트릴 AIBN: azobisisobutyronitrile

CHMI : 사이클로헥실말레이미드 CHMI: cyclohexylmaleimide

에포리드 GT-401 : 에폭시화뷰테인테트라카복실산테트라키스-(3-사이클로헥세닐메틸) 수식 ε-카프로락톤, (주)다이셀제 Epolide GT-401: epoxidated vitaetetracarboxylic acid tetrakis- (3-cyclohexenylmethyl) ε-caprolactone,

NMP : N-메틸-2-피롤리돈 NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

PGMEA : 프로필렌글라이콜모노메틸에터아세테이트 PGMEA: propylene glycol monomethyl ether acetate

BCS : 뷰틸셀로솔브 BCS:

[2] 중량 평균 분자량 및 분자량 분포의 측정 방법 [2] Method of measuring weight average molecular weight and molecular weight distribution

폴리머의 중량 평균 분자량(이하 Mw로 줄인다) 및 분자량 분포의 측정은 니혼분코(주)제 GPC 장치(칼럼 : Shodex제 KD801 및 KD805; 용리액 : 다이메틸폼아마이드/LiBr·H2O(29.6mM)/H3PO4(29.6mM)/THF(0.1질량%); 유량 : 1.0mL/분; 칼럼 온도 : 40℃; Mw : 표준 폴리스타이렌 환산값)를 사용하여 행했다. The measurement of the weight average molecular weight of the polymer (hereinafter referred to as Mw) and the molecular weight distribution were performed using a GPC apparatus (column: KD801 and KD805, column: Shimadzu; dimethylformamide / LiBr.H 2 O (29.6 mM) / H 3 PO 4 (29.6 mM) / THF (0.1 mass%), flow rate: 1.0 mL / min; column temperature: 40 ° C; Mw: standard polystyrene conversion value).

[3] 폴리머의 합성 [3] Synthesis of polymers

이하의 방법에 의해, 실시예 및 비교예에서 사용하는 각종 폴리머를 합성했다. Various polymers used in Examples and Comparative Examples were synthesized by the following methods.

또한 얻어진 폴리머 함유 반응액으로부터 폴리머를 단리하지 않고, 후술하는 바와 같이 반응액을 희석함으로써, 수지 기판 형성용 조성물 또는 박리층 형성용 조성물을 조제했다. Further, the polymer-containing reaction solution was diluted with the reaction solution as described later without isolating the polymer to prepare a composition for forming a resin substrate or a composition for forming a release layer.

<합성예 S1 아크릴 폴리머(S1)의 합성> Synthesis Example S1 Synthesis of acrylic polymer (S1)

MMA 7.20g(0.0719mol), HEMA 7.20g(0.0553mol), CHMI 10.8g(0.0603mol), MAA 4.32g(0.0502mol), AIBN 2.46g(0.0150mol)을 PGMEA 46.9g에 용해하고, 60~100℃에서 20시간 반응시킴으로써 아크릴 중합체 용액(고형분 농도 40질량%)을 얻었다. 얻어진 아크릴 중합체의 Mn은 3,800, Mw는 7,300이었다. (0.0503 mol) of MAA and 2.46 g (0.0150 mol) of AIBN were dissolved in 46.9 g of PGMEA, and a solution of 60 to 100 g Deg.] C for 20 hours to obtain an acrylic polymer solution (solid content concentration: 40% by mass). The obtained acrylic polymer had Mn of 3,800 and Mw of 7,300.

<합성예 S2 폴리아믹산(S2)의 합성> Synthesis Example S2 Synthesis of polyamic acid (S2)

p-PDA 20.3g(188mmol)과 TPDA 12.2g(46.9mmol)을 NMP 617g에 용해하고, 15℃로 냉각 후, PMDA 50.1g(230mmol)을 첨가하고, 질소 분위기하 50℃에서 48시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 82,100, 분자량 분포는 2.7이었다. 20.3 g (188 mmol) of p-PDA and 12.2 g (46.9 mmol) of TPDA were dissolved in 617 g of NMP. After cooling to 15 캜, 50.1 g (230 mmol) of PMDA was added and the mixture was reacted at 50 캜 for 48 hours under a nitrogen atmosphere. The polymer obtained had Mw of 82,100 and a molecular weight distribution of 2.7.

<합성예 S3 폴리아믹산(S3)의 합성> Synthesis Example S3 Synthesis of polyamic acid (S3)

p-PDA 3.22g(29.8mmol)을 NMP 88.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPDA 8.58g(29.2mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 107,300, 분자량 분포는 4.6이었다. 3.22 g (29.8 mmol) of p-PDA was dissolved in 88.2 g of NMP. To the obtained solution, 8.58 g (29.2 mmol) of BPDA was added and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The Mw of the obtained polymer was 107,300 and the molecular weight distribution was 4.6.

<합성예 L1 폴리아믹산(L1)의 합성> Synthesis Example L1 Synthesis of Polyamic acid (L1)

DDE 1.74g(8.70mmol)을 NMP 14.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 CF3-BP-TMA 1.17g(1.74mmol)과 6FDA 3.09g(6.96mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 19,600, 분자량 분포 2.1이었다. 1.74 g (8.70 mmol) of DDE was dissolved in 14.0 g of NMP. 1.17 g (1.74 mmol) of CF3-BP-TMA and 3.09 g (6.96 mmol) of 6FDA were added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer obtained had Mw of 19,600 and a molecular weight distribution of 2.1.

<합성예 L2 폴리아믹산(L2)의 합성> Synthesis Example L2 Synthesis of polyamic acid (L2)

HFBAPP 2.82g(5.43mmol)을 NMP 10.5g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 a-ODPA 1.69g(5.43mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 33,800, 분자량 분포 2.0이었다. 2.82 g (5.43 mmol) of HFBAPP was dissolved in 10.5 g of NMP. 1.69 g (5.43 mmol) of a-ODPA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 33,800 and a molecular weight distribution of 2.0.

<합성예 L3 폴리아믹산(L3)의 합성> <Synthesis Example L3> Synthesis of polyamic acid (L3)

HFBAPP 1.62g(3.12mmol)을 NMP 7.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 6FDA 1.38g(3.12mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 56,600, 분자량 분포 1.8이었다. 1.62 g (3.12 mmol) of HFBAPP was dissolved in 7.0 g of NMP. To the obtained solution, 1.38 g (3.12 mmol) of 6FDA was added and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 56,600 and a molecular weight distribution of 1.8.

<합성예 L4 폴리아믹산(L4)의 합성> Synthesis Example L4 Synthesis of polyamic acid (L4)

BTFDPE 1.92g(5.70mmol)을 NMP 35.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPTME 2.99g(5.59mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 38,300, 분자량 분포 2.3이었다. 1.92 g (5.70 mmol) of BTFDPE was dissolved in 35.6 g of NMP. 2.99 g (5.59 mmol) of BPTME was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 占 폚 in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 38,300 and a molecular weight distribution of 2.3.

<합성예 L5 폴리아믹산(L5)의 합성> Synthesis Example L5 Synthesis of polyamic acid (L5)

BPTP 1.67g(4.80mmol)을 NMP 35.8g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 CF3-BP-TMA 3.21g(4.78mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 7,300, 분자량 분포 1.9였다. 1.67 g (4.80 mmol) of BPTP was dissolved in 35.8 g of NMP. 3.21 g (4.78 mmol) of CF3-BP-TMA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 7,300 and a molecular weight distribution of 1.9.

<합성예 L6 폴리아믹산(L6)의 합성> Synthesis Example L6 Synthesis of polyamic acid (L6)

HFBAPP 1.70g(3.3mmol)을 NMP 17.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 0.70g(3.2mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 48,300, 분자량 분포 2.6이었다. 1.70 g (3.3 mmol) of HFBAPP was dissolved in 17.6 g of NMP. 0.70 g (3.2 mmol) of PMDA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 占 폚 in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The Mw of the obtained polymer was 48,300 and the molecular weight distribution was 2.6.

<합성예 L7 폴리아믹산(L7)의 합성> Synthesis Example L7 Synthesis of polyamic acid (L7)

Bis-F 1.46g(4.4mmol)을 NMP 17.6g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 0.93g(4.3mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 16,000, 분자량 분포 1.6이었다. 1.46 g (4.4 mmol) of Bis-F was dissolved in 17.6 g of NMP. 0.93 g (4.3 mmol) of PMDA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 占 폚 in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 16,000 and a molecular weight distribution of 1.6.

<합성예 L8 폴리아믹산(L8)의 합성> Synthesis Example L8 Synthesis of polyamic acid (L8)

TFMB 2.86g(8.9mmol)을 NMP 35.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 1.95g(8.9mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 70,300, 분자량 분포 1.7이었다. 2.86 g (8.9 mmol) of TFMB was dissolved in 35.2 g of NMP. 1.95 g (8.9 mmol) of PMDA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 70,300 and a molecular weight distribution of 1.7.

<합성예 L9 폴리아믹산(L9)의 합성> Synthesis Example L9 Synthesis of polyamic acid (L9)

TFMB 1.18g(3.7mmol)과 p-PDA 0.93g(8.6mmol)을 NMP 35.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 PMDA 2.69g(12.3mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 60,700, 분자량 분포 3.3이었다. 1.18 g (3.7 mmol) of TFMB and 0.93 g (8.6 mmol) of p-PDA were dissolved in 35.2 g of NMP. 2.69 g (12.3 mmol) of PMDA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 60,700 and a molecular weight distribution of 3.3.

<합성예 L10 폴리아믹산(L10)의 합성> Synthesis Example L10 Polyamic acid (L10)

6FAPB 2.16g(5.04mmol)을 NMP 35.2g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BPTME 2.64g(4.94mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 87,700, 분자량 분포 3.3이었다. 2.16 g (5.04 mmol) of 6FAPB was dissolved in 35.2 g of NMP. 2.64 g (4.94 mmol) of BPTME was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 87,700 and a molecular weight distribution of 3.3.

<합성예 P1 폴리아마이드(P1)의 합성> Synthesis Example P1 Synthesis of polyamide (P1)

HFBAPP 2.34g(4.51mmol)을 NMP 26.4g에 용해시키고, 피리딘 0.90g(11.28mmol)을 첨가했다. 얻어진 용액에 DPDOC 1.26g(4.51mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 그 후, 얻어진 용액을 순수 500mL에 투입했다. 얻어진 침전물을 여별 후, 70℃에서 24시간 감압 건조시켜, 목적으로 하는 폴리아마이드 P1을 얻었다. 얻어진 폴리머의 Mw는 88,200, 분자량 분포 1.8이었다. 2.34 g (4.51 mmol) of HFBAPP was dissolved in 26.4 g of NMP, and 0.90 g (11.28 mmol) of pyridine was added. 1.26 g (4.51 mmol) of DPDOC was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. Thereafter, the obtained solution was poured into 500 mL of pure water. The resulting precipitate was filtered and dried under reduced pressure at 70 ° C for 24 hours to obtain the desired polyamide P1. The Mw of the obtained polymer was 88,200 and the molecular weight distribution was 1.8.

<비교 합성예 HL1 폴리아믹산(HL1)의 합성> &Lt; Comparative Synthesis Example > Synthesis of HL1 polyamic acid (HL1)

FDA 1.56g(4.47mmol)을 NMP 7.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BTDA 1.44g(4.47mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 67,300, 분자량 분포 2.0이었다. 1.56 g (4.47 mmol) of FDA was dissolved in 7.0 g of NMP. 1.44 g (4.47 mmol) of BTDA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 67,300 and a molecular weight distribution of 2.0.

<비교 합성예 HL2 폴리아믹산(HL2)의 합성> &Lt; Comparative Synthesis Example > Synthesis of HL2 polyamic acid (HL2)

p-PDA 0.98g(9.02mmol)을 NMP 36.0g에 용해시켰다. 얻어진 용액에 BTDA 3.03g(9.39mmol)을 가하고, 질소 분위기하 23℃에서 24시간 반응시켰다. 얻어진 폴리머의 Mw는 67,600, 분자량 분포 1.8이었다. 0.98 g (9.02 mmol) of p-PDA was dissolved in 36.0 g of NMP. 3.03 g (9.39 mmol) of BTDA was added to the obtained solution, and the reaction was allowed to proceed at 23 deg. C in a nitrogen atmosphere for 24 hours. The polymer thus obtained had Mw of 67,600 and a molecular weight distribution of 1.8.

[4] 수지 기판 형성용 조성물의 조제 [4] Preparation of composition for resin substrate formation

이하의 방법에 의해 수지 기판 형성용 조성물을 조제했다. A composition for forming a resin substrate was prepared by the following method.

<조제예 1 수지 기판 형성용 조성물 F1> &Lt; Preparation Example 1 Composition F1 for resin substrate formation >

합성예 S1에서 얻어진 반응액 10g에 GT-401 0.61g과 PGMEA 5.06g을 첨가하고, 23℃에서 24시간 교반하여, 수지 기판 형성용 조성물 F1을 조제했다. 0.61 g of GT-401 and 5.06 g of PGMEA were added to 10 g of the reaction solution obtained in Synthesis Example S1 and stirred at 23 占 폚 for 24 hours to prepare a resin composition F1 for forming a substrate.

<조제예 2 수지 기판 형성용 조성물 F2> &Lt; Preparation Example 2 Composition F2 for resin substrate formation >

합성예 S2에서 얻어진 반응액을 그대로 수지 기판 형성용 조성물 F2로서 사용했다. The reaction solution obtained in Synthesis Example S2 was directly used as the resin composition for forming a substrate F2.

<조제예 3 수지 기판 형성용 조성물 F3> &Lt; Preparation Example 3 Composition for resin substrate formation F3 >

합성예 S3에서 얻어진 반응액을 그대로 수지 기판 형성용 조성물 F3로서 사용했다. The reaction solution obtained in Synthesis Example S3 was directly used as the resin composition for forming a substrate F3.

<조제예 4 수지 기판 형성용 조성물 F4> &Lt; Preparation Example 4 Composition F4 for resin substrate formation >

사염화탄소 100g을 넣은 가지 플라스크에 제오노아(등록상표) 1020R(닛폰제온(주)제, 사이클로올레핀 폴리머 수지) 10g 및 GT-401 3g을 첨가했다. 이 용액을 질소 분위기하 24시간 교반하여 용해시키고, 수지 기판 형성용 조성물 F4를 조제했다. 10 g of Zeonoa (registered trademark) 1020R (cycloolefin polymer resin, manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.) and 3 g of GT-401 were added to a branch flask containing 100 g of carbon tetrachloride. This solution was stirred and dissolved in a nitrogen atmosphere for 24 hours to prepare a composition F4 for resin substrate formation.

<조제예 5 수지 기판 형성용 조성물 F5> &Lt; Preparation Example 5 Composition F5 for resin substrate formation >

사염화탄소 100g을 넣은 가지 플라스크에 제오노아(등록상표) 1060R(닛폰제온(주)제, 사이클로올레핀 폴리머 수지) 10g을 첨가했다. 이 용액을 질소 분위기하 24시간 교반하여 용해시키고, 수지 기판 형성용 조성물 F5를 조제했다. 10 g of Zeonor (registered trademark) 1060R (cycloolefin polymer resin, manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.) was added to a flask containing 100 g of carbon tetrachloride. This solution was stirred and dissolved in a nitrogen atmosphere for 24 hours to prepare a resin composition for forming a substrate F5.

[5] 박리층 형성용 조성물의 조제 [5] Preparation of composition for forming release layer

[실시예 1-1] [Example 1-1]

합성예 L1에서 얻어진 반응액에 BCS와 NMP를 가하고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 L1을 얻었다. BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Synthesis Example L1 and diluted to a polymer concentration of 5% by mass and a BCS of 20% by mass to obtain a composition L1 for forming a release layer.

[실시예 1-2~1-10] [Examples 1-2 to 1-10]

합성예 L1에서 얻어진 반응액 대신에 각각 합성예 L2~L10에서 얻어진 반응액을 사용한 것 이외에는 실시예 1-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 형성용 조성물 L2~L10을 얻었다. The compositions L2 to L10 for forming a release layer were obtained in the same manner as in Example 1-1 except that the reaction solutions obtained in Synthesis Examples L2 to L10 were used instead of the reaction solutions obtained in Synthesis Example L1.

[실시예 1-11] [Example 1-11]

합성예 P1에서 얻어진 폴리아마이드 0.5g에 BCS와 NMP를 가하여 용해시키고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 P1을 얻었다. BCS and NMP were added to and dissolved in 0.5 g of the polyamide obtained in Synthesis Example P1 to dilute the polymer to a concentration of 5% by mass and a BCS of 20% by mass to obtain a release layer composition P1.

[비교예 1-1] [Comparative Example 1-1]

비교 합성예 HL1에서 얻어진 반응액에 BCS와 NMP를 가하고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 HL1을 얻었다. BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Comparative Synthesis Example HL1 and diluted to a polymer concentration of 5% by mass and a BCS of 20% by mass to obtain a release layer composition HL1.

[비교예 1-2] [Comparative Example 1-2]

비교 합성예 HL2에서 얻어진 반응액에 BCS와 NMP를 가하고, 폴리머 농도가 5질량%, BCS가 20질량%가 되도록 희석하여, 박리층 형성용 조성물 HL2를 얻었다. BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Comparative Synthesis Example HL2 and diluted to a polymer concentration of 5 mass% and a BCS of 20 mass% to obtain a release layer composition HL2.

[6] 박리층 및 수지 기판의 제작 [6] Fabrication of release layer and resin substrate

[실시예 2-1] [Example 2-1]

스핀 코터(조건 : 회전수 3,000rpm으로 약30초)를 사용하여, 실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1을 유리 기체로서의 100mm×100mm 유리 기판(이하 동일) 상에 도포했다. Using a spin coater (condition: about 30 seconds at 3,000 rpm), the release layer forming composition L1 obtained in Example 1-1 was applied on a 100 mm x 100 mm glass substrate (hereinafter the same) as a glass substrate.

그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 300℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 400℃까지 높여(10℃/분), 추가로 400℃에서 30분간 가열하여, 유리 기판 상에 두께 약0.1μm의 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 또한 온도를 높이는 동안, 유리 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고, 오븐 내에서 가열했다. Then, the obtained coating film was heated at 80 DEG C for 10 minutes using a hot plate, and then heated at 300 DEG C for 30 minutes using an oven. The heating temperature was increased to 400 DEG C (10 DEG C / min) For 30 minutes to form a release layer having a thickness of about 0.1 mu m on the glass substrate to obtain a glass substrate with a release layer. While the temperature was raised, the glass substrate was not taken out of the oven but heated in an oven.

스핀 코터(조건 : 회전수 500rpm으로 약10초)를 사용하여, 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F1을 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후, 핫플레이트를 사용하여 230℃에서 30분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약5μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 그 후, 자외 가시 분광 광도계((주)시마즈세이사쿠쇼제 UV-2600)를 사용하여 광 투과율을 측정한 결과, 수지 기판은 400nm에서 80% 이상의 투과율을 나타냈다. The resin composition F1 for forming a substrate was applied on a release layer (resin thin film) on a glass substrate using a spin coater (condition: about 10 seconds at a revolution of 500 rpm). The obtained coating film was heated at 80 캜 for 10 minutes using a hot plate and then heated at 230 캜 for 30 minutes using a hot plate to form a resin substrate having a thickness of about 5 탆 on the peeling layer, A glass substrate with a peel layer was obtained. Thereafter, the light transmittance was measured using an ultraviolet visible spectrophotometer (UV-2600, Shimadzu Corporation), and as a result, the resin substrate exhibited a transmittance of 80% or more at 400 nm.

[실시예 2-2~2-5] [Examples 2-2 to 2-5]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-2~1-5에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L2~L5를 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. Except that the release layer forming compositions L2 to L5 obtained in Examples 1-2 to 1-5 were used in place of the release layer forming composition L1 obtained in Example 1-1, And a resin substrate were formed, and a glass substrate with a peeling layer and a glass substrate with a resin substrate and a peeling layer were produced.

[실시예 2-6] [Example 2-6]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-6에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L6을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 by using the release layer forming composition L6 obtained in Example 1-6 instead of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1, An attached glass substrate was obtained.

이어서 바 코터(갭 : 250μm)를 사용하여, 상기에서 얻어진 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F2를 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 30분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 140℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 210℃까지 높여(10℃/분, 이하 동일), 210℃에서 30분간, 가열 온도를 300℃까지 높여, 300℃에서 30분간, 가열 온도를 400℃까지 높여, 400℃에서 60분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약20μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 또한 온도를 높이는 동안, 유리 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고, 오븐 내에서 가열했다. Subsequently, using a bar coater (gap: 250 mu m), the composition F2 for forming a resin substrate was coated on the release layer (resin thin film) on the glass substrate obtained above. Then, the obtained coating film was heated at 80 DEG C for 30 minutes using a hot plate, then heated at 140 DEG C for 30 minutes using an oven, heated to 210 DEG C (10 DEG C / The heating temperature was raised to 300 DEG C for 30 minutes at 300 DEG C for 30 minutes and the heating temperature was increased to 400 DEG C and heated at 400 DEG C for 60 minutes to form a resin substrate having a thickness of about 20 mu m on the peeling layer, A glass substrate having a substrate and a release layer was obtained. While the temperature was raised, the glass substrate was not taken out of the oven but heated in an oven.

[실시예 2-7] [Example 2-7]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-7에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L7을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 by using the release layer forming composition L7 obtained in Example 1-7 instead of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1, An attached glass substrate was obtained.

이어서 바 코터(갭 : 250μm)를 사용하여, 상기에서 얻어진 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F3을 도포했다. 그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 30분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 140℃에서 30분간 가열하고, 가열 온도를 210℃까지 높여(2℃/분, 이하 동일), 210℃에서 30분간, 가열 온도를 300℃까지 높여, 300℃에서 30분간, 가열 온도를 400℃까지 높여, 400℃에서 60분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약20μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 또한 온도를 높이는 동안, 유리 기판을 오븐으로부터 취출하지는 않고, 오븐 내에서 가열했다. Subsequently, using a bar coater (gap: 250 mu m), the composition F3 for forming a resin substrate was coated on the release layer (resin thin film) on the glass substrate obtained above. Then, the obtained coating film was heated at 80 ° C for 30 minutes using a hot plate, then heated at 140 ° C for 30 minutes using an oven, heated to 210 ° C (2 ° C / The heating temperature was raised to 300 DEG C for 30 minutes at 300 DEG C for 30 minutes and the heating temperature was increased to 400 DEG C and heated at 400 DEG C for 60 minutes to form a resin substrate having a thickness of about 20 mu m on the peeling layer, A glass substrate having a substrate and a release layer was obtained. While the temperature was raised, the glass substrate was not taken out of the oven but heated in an oven.

[실시예 2-8] [Example 2-8]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용한 것 이외에는 실시예 2-6과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-6 except that the release layer forming composition L8 obtained in Example 1-8 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were produced.

[실시예 2-9] [Example 2-9]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the release layer forming composition L8 obtained in Example 1-8 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were produced.

[실시예 2-10] [Example 2-10]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-9에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L9를 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the release layer forming composition L9 obtained in Example 1-9 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were produced.

[실시예 2-11] [Example 2-11]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-10에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L10을 사용한 것 이외에는 실시예 2-6과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-6 except that the release layer forming composition L10 obtained in Example 1-10 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were produced.

[실시예 2-12] [Example 2-12]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 실시예 1-10에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L10을 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 제작했다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the release layer forming composition L10 obtained in Example 1-10 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were produced.

[실시예 2-13] [Example 2-13]

스핀 코터(조건 : 회전수 3,000rpm으로 약30초)를 사용하여, 실시예 1-11에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 P1을 유리 기체로서의 100mm×100mm 유리 기판 상에 도포했다. Using a spin coater (condition: about 30 seconds at 3,000 rpm of revolution), the composition P1 for peeling layer formation obtained in Example 1-11 was applied on a 100 mm x 100 mm glass substrate as a glass substrate.

그리고 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 10분간 가열하고, 그 후, 오븐을 사용하여 300℃에서 30분간 가열하여, 유리 기판 상에 두께 약0.1μm의 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. The obtained coating film was heated at 80 DEG C for 10 minutes using a hot plate and then heated at 300 DEG C for 30 minutes using an oven to form a release layer having a thickness of about 0.1 mu m on the glass substrate, A glass substrate was obtained.

이어서 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 수지 기판을 형성하여, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Subsequently, a resin substrate was formed in the same manner as in Example 2-1 to obtain a glass substrate having a resin substrate and a release layer.

[실시예 2-14] [Examples 2-14]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Using the composition for forming a release layer L8 obtained in Example 1-8, a release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 to obtain a glass substrate with a release layer.

그 후, 바로 스핀 코터(조건 : 회전수 200rpm으로 약15초)를 사용하여, 상기 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F4를 도포했다. 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 2분간 가열하고, 그 후, 핫플레이트를 사용하여 230℃에서 30분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약3μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 그 후, 자외 가시 분광 광도계((주)시마즈세이사쿠쇼제 UV-2600)를 사용하여 광 투과율을 측정한 결과, 수지 기판은 400nm에서 80% 이상의 투과율을 나타냈다. Subsequently, the composition F4 for forming a resin substrate was coated on the release layer (resin thin film) on the glass substrate using a spin coater (condition: about 15 seconds at a revolution of 200 rpm). The obtained coating film was heated at 80 캜 for 2 minutes using a hot plate and then heated at 230 캜 for 30 minutes using a hot plate to form a resin substrate having a thickness of about 3 탆 on the peeling layer, Thereby obtaining a layered glass substrate. Thereafter, the light transmittance was measured using an ultraviolet visible spectrophotometer (UV-2600, Shimadzu Corporation), and as a result, the resin substrate exhibited a transmittance of 80% or more at 400 nm.

[실시예 2-15] [Example 2-15]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8 대신에 실시예 1-9에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L9를 사용한 것 이외에는 실시예 2-14와 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 제작하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were prepared in the same manner as in Example 2-14 except that the release layer forming composition L9 obtained in Example 1-9 was used in place of the release layer formation composition L8 obtained in Example 1-8 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were obtained.

[실시예 2-16] [Examples 2-16]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8을 사용하여, 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층을 형성하고, 박리층 부착 유리 기판을 얻었다. Using the composition for forming a release layer L8 obtained in Example 1-8, a release layer was formed in the same manner as in Example 2-1 to obtain a glass substrate with a release layer.

그 후, 바로 스핀 코터(조건 : 회전수 200rpm으로 약15초)를 사용하여, 상기 유리 기판 상의 박리층(수지 박막) 상에 수지 기판 형성용 조성물 F5를 도포했다. 얻어진 도막을 핫플레이트를 사용하여 80℃에서 2분간 가열하고, 그 후, 핫플레이트를 사용하여 230℃에서 30분간 가열하여, 박리층 상에 두께 약3μm의 수지 기판을 형성하고, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. 그 후, 자외 가시 분광 광도계((주)시마즈세이사쿠쇼제 UV-2600)를 사용하여 광 투과율을 측정한 결과, 수지 기판은 400nm에서 80% 이상의 투과율을 나타냈다. Subsequently, the composition F5 for forming a resin substrate was coated on the release layer (resin thin film) on the glass substrate using a spin coater (condition: about 15 seconds at a revolution of 200 rpm). The obtained coating film was heated at 80 캜 for 2 minutes using a hot plate and then heated at 230 캜 for 30 minutes using a hot plate to form a resin substrate having a thickness of about 3 탆 on the peeling layer, Thereby obtaining a layered glass substrate. Thereafter, the light transmittance was measured using an ultraviolet visible spectrophotometer (UV-2600, Shimadzu Corporation), and as a result, the resin substrate exhibited a transmittance of 80% or more at 400 nm.

[실시예 2-17] [Example 2-17]

실시예 1-8에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L8 대신에 실시예 1-9에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L9를 사용한 것 이외에는 실시예 2-16과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 제작하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were prepared in the same manner as in Example 2-16 except that the release layer forming composition L9 obtained in Example 1-9 was used in place of the release layer formation composition L8 obtained in Example 1-8 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were obtained.

[비교예 2-1] [Comparative Example 2-1]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 비교예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 HL1을 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-1 except that the release layer forming composition HL1 obtained in Comparative Example 1-1 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were obtained.

[비교예 2-2] [Comparative Example 2-2]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 비교예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 HL1을 사용한 것 이외에는 실시예 2-7과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-7 except that the release layer forming composition HL1 obtained in Comparative Example 1-1 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were obtained.

[비교예 2-3] [Comparative Example 2-3]

실시예 1-1에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 L1 대신에 비교예 1-2에서 얻어진 박리층 형성용 조성물 HL2를 사용한 것 이외에는 실시예 2-1과 마찬가지의 방법으로 박리층 및 수지 기판을 형성하여, 박리층 부착 유리 기판 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 얻었다. A release layer and a resin substrate were formed in the same manner as in Example 2-1 except that the release layer forming composition HL2 obtained in Comparative Example 1-2 was used in place of the release layer formation composition L1 obtained in Example 1-1 , A glass substrate with a release layer, and a glass substrate with a resin substrate and release layer were obtained.

[7] 박리성의 평가 [7] Evaluation of peelability

상기 실시예 2-1~2-17 및 비교예 2-1~2-3에서 얻어진 박리층 부착 유리 기판에 대해서 박리층과 유리 기판과의 박리성을, 수지 기판·박리층 부착 유리 기판에 대해서 박리층과 수지 기판과의 박리성을 하기 수법으로 확인했다. The peelability of the release layer and the glass substrate with respect to the glass substrate with the release layer obtained in Examples 2-1 to 2-17 and Comparative Examples 2-1 to 2-3 was measured with respect to the glass substrate with resin substrate and release layer The peeling property between the release layer and the resin substrate was confirmed by the following method.

<수지 박막의 크로스커트 시험 박리성 평가> &Lt; Evaluation of peeling property of a resin thin film in a cross-

실시예 2-1~2-17 및 비교예 2-1~2-3에서 얻어진 박리층 부착 유리 기판 상의 박리층, 및 수지 기판·박리층 부착 유리 기판 상의 박리층 및 수지 기판을 크로스커트(가로세로 2mm 간격, 이하 동일)하여, 25 바둑판 커트를 행했다. 즉, 이 크로스커트에 의해 사방 2mm의 바둑판눈을 25개 형성했다. The peeling layer on the glass substrate with the peeling layer obtained in Examples 2-1 to 2-17 and the comparative examples 2-1 to 2-3 and the peeling layer and the resin substrate on the glass substrate with resin substrate / 25 mm apart at intervals of 2 mm, the same applies hereinafter). In other words, 25 checkerboards of 2 mm in each side were formed by the cross skirt.

그리고 이 25 바둑판 커트 부분에 점착 테이프를 붙이고, 그 테이프를 떼어내어, 이하의 기준(5B~0B, B, A, AA)에 기초하여 박리의 정도를 평가했다. Then, an adhesive tape was attached to the 25th checkerboard cut portion and the tape was peeled off to evaluate the degree of peeling based on the following criteria (5B to 0B, B, A, AA).

또한 모두 박리된 기판 중, 실시예 2-14~2-17에서 제작한 수지 기판·박리층 부착 유리 기판을 사용하여 박리력 평가 시험을 실시했다. 시험 방법은 수지 기판·박리층 부착 유리 기판의 수지 기판을 25mm×50mm 폭의 직사각형으로 커터 나이프로 수지 기판의 배면까지 관통하도록 슬릿을 넣어 스트립을 제작했다. 또한 제작한 스트립 상에 셀로테이프(등록상표, 니치반 CT-24)를 붙인 후, 오토그래프 AG-500N((주)시마즈세이사쿠쇼제)을 사용하여, 기판의 면에 대하여 90℃로 즉 수직 방향으로 박리하여 박리력을 측정하고, 100% 박리(모두 박리)이며 또한 박리력이 0.1N/25mm 미만인 것을 AAA로 했다. Of the peeled substrates, peelability evaluation tests were conducted using the resin substrates and release layer-attached glass substrates produced in Examples 2-14 to 2-17. In the test method, a resin substrate of a glass substrate with a release layer and a release layer was formed into a rectangular shape with a width of 25 mm x 50 mm by inserting a slit through a cutter knife to the backside of the resin substrate. Cellotape (registered trademark, Nichiban CT-24) was affixed on the prepared strip, and the surface of the substrate was polished at 90 占 폚, that is, perpendicular to the surface of the substrate, using an Autograph AG-500N (manufactured by Shimadzu Corporation) And the peel force was measured. The peel force was 100% peel (all peel), and the peel force was less than 0.1 N / 25 mm.

이상의 결과를 표 1에 나타낸다. Table 1 shows the above results.

<판정 기준> <Criteria>

5B : 0% 박리(박리 없음) 5B: 0% peeling (no peeling)

4B : 5% 미만의 박리 4B: Less than 5% exfoliation

3B : 5~15% 미만의 박리 3B: peeling less than 5 ~ 15%

2B : 15~35% 미만의 박리 2B: peeling less than 15 ~ 35%

1B : 35~65% 미만의 박리 1B: peeling less than 35 to 65%

0B : 65%~80% 미만의 박리 0B: exfoliation of less than 65% to less than 80%

B : 80%~95% 미만의 박리 B: 80% to less than 95% exfoliation

A : 95%~100% 미만의 박리 A: peeling less than 95% to less than 100%

AA : 100% 박리(모두 박리) AA: 100% peeling (all peeling)

AAA : 100% 박리이며 박리력이 0.1N/25mm 미만 AAA: 100% peel, peel force less than 0.1N / 25mm

박리층의 종류Type of release layer 수지 기판의 종류Type of resin substrate 박리층과 유리 기체의 박리성Peelability of peeling layer and glass substrate 박리층과 수지 기판의 박리성Peelability of peeling layer and resin substrate 실시예2-1Example 2-1 L1L1 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-2Example 2-2 L2L2 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-3Example 2-3 L3L3 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-4Examples 2-4 L4L4 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-5Example 2-5 L5L5 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-6Examples 2-6 L6L6 F2F2 5B5B AAAA 실시예2-7Examples 2-7 L7L7 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-8Examples 2-8 L8L8 F2F2 5B5B AAAA 실시예2-9Examples 2-9 L8L8 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-10Examples 2-10 L9L9 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-11Examples 2-11 L10L10 F2F2 5B5B AAAA 실시예2-12Examples 2-12 L10L10 F3F3 5B5B AAAA 실시예2-13Examples 2-13 P1P1 F1F1 5B5B AAAA 실시예2-14Examples 2-14 L8L8 F4F4 5B5B AAAAAA 실시예2-15Examples 2-15 L9L9 F4F4 5B5B AAAAAA 실시예2-16Examples 2-16 L8L8 F5F5 5B5B AAAAAA 실시예2-17Examples 2-17 L9L9 F5F5 5B5B AAAAAA 비교예2-1Comparative Example 2-1 HL1HL1 F1F1 5B5B 5B5B 비교예2-2Comparative Example 2-2 HL1HL1 F3F3 5B5B 5B5B 비교예2-3Comparative Example 2-3 HL2HL2 F1F1 5B5B 5B5B

표 1에 나타내는 바와 같이, 실시예 2-1~2-17의 박리층은 유리 기판과의 밀착성이 우수하며, 수지막과는 용이하게 벗겨지는 것이 확인되었다. 한편, 비교예 2-1~2-3의 박리층은 유리 기판과의 밀착성이 우수하지만, 수지 기판과의 박리성이 떨어지고 있는 것이 확인되었다. As shown in Table 1, it was confirmed that the peeling layers of Examples 2-1 to 2-17 had excellent adhesion to the glass substrate and easily peeled off from the resin film. On the other hand, it was confirmed that the peeling layers of Comparative Examples 2-1 to 2-3 were excellent in adhesion to a glass substrate, but were inferior in peelability to a resin substrate.

Claims (12)

하기 식(1)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(2)으로 표시되는 폴리아믹산, 하기 식(3)으로 표시되는 폴리아믹산 또는 하기 식(4)으로 표시되는 폴리아마이드와, 유기 용매를 포함하는 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물.
Figure pct00019

(식 중, X1은 불소 원자를 가지지 않는 4가의 방향족기를 나타내고, X2는 불소 원자를 가지는 4가의 방향족기를 나타내고, X3은 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, Y1은 불소 원자를 가지는 2가의 방향족기를 나타내고, Y2는 불소 원자를 가지지 않는 2가의 방향족기를 나타내고, m은 자연수를 나타낸다.)
A polyimide resin composition comprising a polyamic acid represented by the following formula (1), a polyamic acid represented by the following formula (2), a polyamic acid represented by the following formula (3) or a polyamide represented by the following formula (4) By weight based on the total weight of the composition.
Figure pct00019

(Wherein X 1 represents a tetravalent aromatic group having no fluorine atom, X 2 represents a tetravalent aromatic group having a fluorine atom, X 3 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, Y 1 represents a fluorine atom Y 2 represents a divalent aromatic group having no fluorine atom, and m represents a natural number.)
제 1 항에 있어서, 상기 Y1이 하기 식(5)~(9)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 방향족기인 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물.
Figure pct00020
The composition for forming a release layer according to claim 1, wherein Y 1 is an aromatic group selected from the group consisting of the following formulas (5) to (9).
Figure pct00020
제 2 항에 있어서, 상기 Y1이 하기 식(10)으로 표시되는 방향족기인 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물.
Figure pct00021
The composition for forming a release layer according to claim 2, wherein the Y 1 is an aromatic group represented by the following formula (10).
Figure pct00021
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 X2가 하기 식(11) 또는 (12)으로 표시되는 방향족기인 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물.
Figure pct00022
The composition for forming a release layer according to any one of claims 1 to 3, wherein X 2 is an aromatic group represented by the following formula (11) or (12).
Figure pct00022
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 X1이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물. The composition for forming a release layer according to any one of claims 1 to 4, wherein X 1 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 X3이 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물. The composition for forming a release layer according to any one of claims 1 to 5, wherein X 3 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 Y2가 벤젠환을 1~5개 포함하는 방향족기인 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물. The composition for forming a release layer according to any one of claims 1 to 6, wherein the Y 2 is an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유기 용매가 식(S1)으로 표시되는 아마이드류, 식(S2)으로 표시되는 아마이드류 및 식(S3)으로 표시되는 아마이드류로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것을 특징으로 하는 박리층 형성용 조성물.
Figure pct00023

(식 중, R1 및 R2는 서로 독립적으로 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. R3은 수소 원자 또는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타낸다. h는 자연수를 나타낸다.)
The method according to any one of claims 1 to 7, wherein the organic solvent is selected from amides represented by the formula (S1), amides represented by the formula (S2) and amides represented by the formula (S3) At least one kind of a release layer.
Figure pct00023

(Wherein R 1 and R 2 represent, independently of each other, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and h denotes a natural number.)
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 기재된 박리층 형성용 조성물을 사용하여 형성되는 박리층. A release layer formed by using the composition for forming a release layer according to any one of claims 1 to 8. 제 9 항에 기재된 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 플렉서블 전자 디바이스의 제조 방법. A manufacturing method of a flexible electronic device comprising a resin substrate characterized by using the release layer according to claim 9. 제 9 항에 기재된 박리층을 사용하는 것을 특징으로 하는 수지 기판을 구비하는 터치패널 센서의 제조 방법. A manufacturing method of a touch panel sensor comprising a resin substrate characterized by using the peeling layer according to claim 9. 제 10 항 또는 제 11 항에 있어서, 상기 수지 기판이 폴리이미드 수지 기판 또는 파장 400nm의 광 투과율이 80% 이상인 수지 기판인 것을 특징으로 하는 제조 방법. The method according to claim 10 or 11, wherein the resin substrate is a polyimide resin substrate or a resin substrate having a light transmittance of 400 nm or more at 80% or more.
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