KR102357377B1 - Probe pin and probe unit with them - Google Patents

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KR102357377B1
KR102357377B1 KR1020210118539A KR20210118539A KR102357377B1 KR 102357377 B1 KR102357377 B1 KR 102357377B1 KR 1020210118539 A KR1020210118539 A KR 1020210118539A KR 20210118539 A KR20210118539 A KR 20210118539A KR 102357377 B1 KR102357377 B1 KR 102357377B1
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inspection
elastic
block
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probe
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KR1020210118539A
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박현상
고명용
맹근영
백승근
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가온솔루션 주식회사
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Abstract

The present invention includes: a body part supported by a guide block provided in a probe unit and made of a conductive material; an inspection contact part integrally formed on one end of the body part and in contact with an inspection object to transmit an electrical signal; a connection contact part integrally formed on the other end of the body part and in contact with a flexible printed circuit (FPC) to transmit an electrical signal; an inspection elastic part provided between the body part and the inspection contact part to offset the impact generated during an inspection operation; and a connection elastic part provided between the body part and the connection contact part to provide an elastic force for pressing the connection contact part to the FPC. Therefore, a plurality of probe pins can be installed in an accurate position with a constant interval, and the reliability of an inspection device can be improved.

Description

프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛 {Probe pin and probe unit with them}Probe pin and probe unit having the same {Probe pin and probe unit with them}

본 발명은 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 복수 개의 탄성부를 구비하여 검사작동 중에 발생되는 충격량을 저감시켜 검사대상물에 생성되는 스크럽의 길이 및 깊이를 감소시키므로 검사작동에 의해 검사대상물이 변형되거나 파손되는 것을 억제하고, 복수 개의 프로브핀이 설치되는 프로브유닛과 프로브핀 사이에 프로브핀을 고정시키는 복수 개의 안착고정부가 구비되어 복수 개의 프로브핀이 일정한 간격을 유지하며 정확한 위치에 설치될 수 있으며, 검사장치의 신뢰도가 향상될 수 있는 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin and a probe unit having the same, and more particularly, by providing a plurality of elastic parts to reduce the amount of impact generated during the inspection operation, thereby reducing the length and depth of the scrub generated on the inspection object. Prevents deformation or damage of the object to be inspected by the It relates to a probe pin that can be installed at a location and the reliability of an inspection device can be improved, and a probe unit having the same.

일반적으로 프로브 어레이블록은 DISPLAY(LCD, OLED, MICRO LED) 등을 제조하는 과정에서 그로스 테스트(gross test)를 시행할 때 사용하는 기기로서, 니들형, 블레이드형, 필름형 등 다양한 형태로 개발되어 왔다.In general, the probe array block is a device used to perform a gross test in the process of manufacturing DISPLAY (LCD, OLED, MICRO LED), etc. come.

특히, 니들형 어레이블록은 검사팁을 이루는 복수의 프로브가 상호 인접하도록 배치되어, 대상물 검사 시에 프로브가 검사 대상물의 일면에 얇고 촘촘하게 배치된 접촉부에 각각 접촉되어 검사하는 것이 일반적이다.In particular, in the needle-type array block, a plurality of probes constituting an inspection tip are arranged to be adjacent to each other, so that when inspecting an object, the probe is in contact with each of the contact portions arranged thinly and densely on one surface of the object to be inspected.

그 일 예로서, 등록특허공보 제10-1558256호의 프로브 블록이 제시되었고, 종래기술에 따른 프로브 블록은, 프로브핀을 수직부 및 수평부와 제2유동방지부의 사이에 끼워 넣어 프로브핀이 움직이지 않도록 고정하고, 다수의 프로브핀을 동일한 방법으로 배열하여 결합한 후, 각각의 프로브핀의 사이를 제1유동방지부로 메워 이웃하는 프로브핀 끼리의 유격만큼 유동하여 쇼트가 일어나는 것을 방지하도록 하였다.As an example, the probe block of Korean Patent Publication No. 10-1558256 is presented, and the probe block according to the prior art inserts the probe pin between the vertical and horizontal portions and the second flow preventing portion so that the probe pin does not move. After arranging and bonding a plurality of probe pins in the same way, a first flow preventing part was used to fill in the gap between each probe pin to prevent a short circuit by flowing as much as the clearance between the neighboring probe pins.

그러나 검사 대상물의 또 다른 접속부가 다른 위치에 추가로 구비되어 있을 경우에는, 위와 같이 한쪽에만 프로브핀이 장착된 프로브 블록으로는 검사할 수 없는 불편함이 있다.However, when another connection part of the object to be inspected is additionally provided at another position, there is an inconvenience in that inspection cannot be performed with a probe block having a probe pin mounted on only one side as described above.

또한, 다른 접촉부가 얇고 촘촘하게 배치되어 있지 않고 다른 형태로 제조되어 프로브핀이 사용 불가능할 수 있는 문제점이 있는데, 그 일 예로서, 정사각형으로 형성된 다수의 접속부가 평면에서 보았을 때, 예컨대, 바둑판과 같은 배열로 형성되어 프로브핀의 길이방향 위치가 겹치게 되는 접속부가 있으면, 가로로 돌출되는 프로브핀은 같은 선상의 접속부와 접하기 위해 프로브핀을 겹쳐서 위치시켜 동시에 접속시킬 수 없으므로, 프로브핀과 같은 가로방향으로 돌출되지 않고 하방으로 돌출되는 포고핀을 사용하여야 하는데, 이렇게 프로브핀과 포고핀을 함께 사용하는 프로브 블록이 종래에는 사용되지 않았다.In addition, there is a problem that the probe pin may be unusable because other contact portions are not arranged thinly and densely and manufactured in a different shape. If there is a connection part where the longitudinal positions of the probe pins overlap, the probe pins protruding horizontally cannot be connected simultaneously by overlapping the probe pins in order to contact the connection part on the same line. It is necessary to use a pogo pin that protrudes downward instead of protruding, but a probe block using a probe pin and a pogo pin together has not been used in the prior art.

상기한 문제점을 해결하기 위해 프로브핀블록이 개발되었으며, 종래기술에 따른 프로브핀블록은, 연성회로기판의 선단부분을 둘러싸면서 외부 몸체를 이루는 케이스와, 선단팁에 의해 검사 대상물과 접촉하고, 후단팁에 의해 연성회로기판과 접촉하여 제어장치로 연결되도록, 케이스 내에서 받이대에 수납되어 장착되는 복수의 프로브핀과, 받이대에 수납된 상기 프로브핀을 가압하여 구속하면서, 연성회로기판의 선단부분을 덮도록 케이스에 장착되는 프로브핀커버와, 프로브핀커버를 관통하여 장착되는 포고핀을 포함한다.A probe pin block has been developed to solve the above problems, and the probe pin block according to the prior art has a case that forms an outer body while surrounding the front end of the flexible circuit board, and is in contact with the object to be inspected by the front tip, and the rear end A plurality of probe pins accommodated and mounted on the holder in the case so that the tip contacts the flexible circuit board and connects to the control device, and the tip of the flexible circuit board while pressing and constraining the probe pins accommodated in the holder It includes a probe pin cover mounted on the case to cover the portion, and a pogo pin mounted through the probe pin cover.

본 발명의 배경기술은 대한민국 등록특허공보 제10-2266367호(2021년 06월 17일 공고, 발명의 명칭 : 프로브핀블록)에 개시되어 있다.The background technology of the present invention is disclosed in Korean Patent No. 10-2266367 (published on June 17, 2021, title of the invention: probe pin block).

종래기술에 따른 프로브핀블록은, 복수 개의 프로브핀을 각각 개별적으로 지지하는 기술구성이 구비되지 않기 때문에 다수 개의 프로브핀을 정확한 위치에 설치하기 어려워 프로브핀의 정렬 정밀도를 향상시키기 어려운 문제점이 있다.Since the probe pin block according to the prior art does not have a technical configuration for individually supporting a plurality of probe pins, it is difficult to install a plurality of probe pins at an accurate position, so that it is difficult to improve the alignment accuracy of the probe pins.

또한, 종래기술에 따른 프로브핀블록은, 프로브핀의 접점부가 검사대상물에 접촉될 때에 프로브핀에 탄성력을 제공하는 별도의 기술구성이 구비되지 않기 때문에 검사작동이 이루어진 후에 검사대상물에 프로브핀이 가압되면서 발생되는 흔적의 크기를 줄이기 어려운 문제점이 있다.In addition, since the probe pin block according to the prior art does not have a separate technical configuration for providing an elastic force to the probe pin when the contact portion of the probe pin is in contact with the object to be inspected, the probe pin is pressed to the object to be inspected after the inspection operation is performed. There is a problem in that it is difficult to reduce the size of the traces that are generated.

따라서 이를 개선할 필요성이 요청된다.Therefore, there is a need to improve it.

본 발명은 복수 개의 탄성부를 구비하여 검사작동 중에 발생되는 충격량을 저감시켜 검사대상물에 생성되는 스크럽의 길이 및 깊이를 감소시키므로 검사작동에 의해 검사대상물이 변형되거나 파손되는 것을 억제하고, 복수 개의 프로브핀이 설치되는 프로브유닛과 프로브핀 사이에 프로브핀을 고정시키는 복수 개의 안착고정부가 구비되어 복수 개의 프로브핀이 일정한 간격을 유지하며 정확한 위치에 설치될 수 있으며, 검사장치의 신뢰도가 향상될 수 있는 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention is provided with a plurality of elastic parts to reduce the amount of impact generated during the inspection operation, thereby reducing the length and depth of the scrub generated on the inspection object, thereby suppressing deformation or damage to the inspection object by the inspection operation, and a plurality of probe pins A plurality of seating and fixing parts for fixing the probe pin are provided between the installed probe unit and the probe pin, so that the plurality of probe pins can be installed at an accurate position while maintaining a constant distance, and the reliability of the inspection device can be improved. An object of the present invention is to provide a pin and a probe unit having the same.

본 발명은, 프로브유닛에 구비되는 가이드블록에 의해 지지되고, 전도성재질로 이루어지는 본체부; 상기 본체부 일단에 일체로 형성되고, 검사대상물에 접촉되어 전기적신호를 전달하는 검사접점부; 상기 본체부 타단에 일체로 형성되고, FPC(Flexible Printed Circuit)에 접촉되어 전기적신호를 전달하는 연결접점부; 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키도록 상기 본체부와 상기 검사접점부 사이에 구비되는 검사탄성부; 및 상기 연결접점부를 상기 FPC에 가압하는 탄성력을 제공하도록 상기 본체부와 상기 연결접점부 사이에 구비되는 연결탄성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention is supported by a guide block provided in the probe unit, the body portion made of a conductive material; an inspection contact part integrally formed on one end of the body part and in contact with an inspection object to transmit an electrical signal; a connection contact part integrally formed on the other end of the body part and in contact with a flexible printed circuit (FPC) to transmit an electrical signal; an inspection elastic part provided between the body part and the inspection contact part to offset the impact generated during the inspection operation; and a connection elastic part provided between the body part and the connection contact part to provide an elastic force for pressing the connection contact part to the FPC.

또한, 본 발명의 상기 본체부는, 상기 프로브유닛의 블록본체 중앙부에 설치되는 상기 가이드블록의 제1블록과 제1커버 사이에 개재되는 제1본체부; 및 상기 블록본체 양측부에 설치되는 상기 가이드블록의 제2블록과 제2커버 사이에 개재되는 제2본체부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the main body portion of the present invention, the first body portion interposed between the first block and the first cover of the guide block installed in the central portion of the block body of the probe unit; and a second body portion interposed between the second block and the second cover of the guide block installed on both sides of the block body.

또한, 본 발명의 상기 검사접점부는, 상기 제1본체부 일단으로부터 연장되고, 검사작동에 의해 상기 프로브유닛이 검사대상물에 안착되면 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결되는 제1검사접점부; 및 상기 제2본체부 일단으로부터 연장되고, 검사작동에 의해 상기 프로브유닛이 검사대상물에 안착되면 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결되는 제2검사접점부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the inspection contact portion of the present invention, the first inspection contact portion extending from one end of the first body portion, and electrically connected to contact with the inspection object when the probe unit is seated on the inspection object by the inspection operation; and a second inspection contact portion extending from one end of the second body portion and electrically connected to the inspection object by being in contact with the inspection object when the probe unit is seated on the inspection object by an inspection operation.

또한, 본 발명의 상기 연결접점부는, 상기 제1본체부의 타단으로부터 연장되고, 상기 프로브유닛에 설치되는 상기 FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되는 제1연결접점부; 및 상기 제2본체부 타단으로부터 연장되고, 상기 프로브유닛에 설치되는 상기 FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되는 제2연결접점부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the connection contact portion of the present invention, the first connection contact portion extending from the other end of the first body portion, in contact with the FPC installed in the probe unit to be electrically connected; and a second connection contact part extending from the other end of the second body part and electrically connected to the FPC installed in the probe unit.

또한, 본 발명의 상기 검사탄성부는, 상기 제1본체부와 상기 제1검사접점부 사이에 구비되고, 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키는 제1검사탄성부; 및 상기 제2본체부와 상기 제2검사접점부 사이에 구비되고, 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키는 제2검사탄성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the inspection elastic portion of the present invention, the first inspection elastic portion is provided between the first body portion and the first inspection contact portion, to offset the impact generated during the inspection operation; And it is provided between the second body portion and the second inspection contact portion, characterized in that it comprises a second inspection elastic portion for offsetting the impact generated during the inspection operation.

또한, 본 발명의 상기 제1검사탄성부는, 상기 제1검사접점부를 따라 길게 형성되는 제1탄성홀부; 및 상기 제1탄성홀부가 상기 제1본체부 측으로 굴곡되어 이루어지는 탄성굴곡부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the first elastic inspection portion of the present invention, a first elastic hole portion formed long along the first inspection contact portion; and an elastically curved part formed by bending the first elastic hole toward the first body part.

또한, 본 발명의 상기 제2검사탄성부는, 상기 제2검사접점부와 상기 제2본체부 사이의 형성되는 굴곡부가 내측 방향으로 오목하게 형성되어 이루어지는 탄성홈부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the second inspection elastic portion of the present invention, the second inspection contact portion and the second body portion formed between the bent portion is characterized in that it comprises an elastic groove portion is formed concave in the inward direction.

또한, 본 발명의 상기 연결탄성부는, 상기 제1본체부와 상기 제1연결접점부 사이에 구비되고, 상기 제1연결접점부를 상기 FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하는 제1연결탄성부; 및 상기 제2본체부와 상기 제2연결접점부 사이에 구비되고, 상기 제2연결접점부를 상기 FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하는 제2연결탄성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the elastic connection portion of the present invention, the first connection elastic portion provided between the first body portion and the first connection contact portion, providing an elastic force for pressing the first connection contact portion to the FPC side; and a second connection elastic part provided between the second body part and the second connection contact part and providing an elastic force for pressing the second connection contact part toward the FPC.

또한, 본 발명의 상기 제1연결탄성부는, 상기 제1연결접점부가 상기 제1본체부에 연결되는 부위에 형성되는 제2탄성홀부; 및 상기 제2탄성홀부 외측에 상기 제2탄성홀부를 감싸는 모양으로 간격을 유지하도록 형성되는 제3탄성홀부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the first connection elastic portion of the present invention, a second elastic hole portion formed in the portion where the first connection contact portion is connected to the first body portion; and a third resilient hole portion formed outside the second resilient hole portion to maintain a gap in a shape surrounding the second resilient hole portion.

또한, 본 발명의 상기 제2연결탄성부는, 상기 제2본체부와 상기 제2연결접점부를 물결모양으로 연결하는 주름패널을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the second connection elastic portion of the present invention, it characterized in that it comprises a corrugated panel for connecting the second body portion and the second connection contact portion in a wave shape.

또한, 본 발명은, 프로브 검사기에 설치되고, 검사작동이 진행되면 검사대상물에 안착되는 블록본체; 상기 블록본체에 안착되고, 일측으로 연장되어 전기적신호를 전달하는 FPC조립체; 상기 블록본체에 설치되는 가이드블록; 상기 가이드블록에 안착되고, 일단은 검사대상물 측으로 연장되고, 타단은 상기 FPC와 연결되어 검사대상물과 상기 FPC를 전기적으로 연결하는 프로브핀; 및 상기 프로브핀이 상기 가이드블록 또는 상기 블록본체의 정확한 부분에 설치되도록 상기 프로브핀을 구속하는 안착고정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention, the block body installed on the probe inspection machine, which is seated on the inspection object when the inspection operation is in progress; an FPC assembly seated on the block body and extending to one side to transmit an electrical signal; a guide block installed on the block body; a probe pin seated on the guide block, one end extending toward the inspection object, and the other end being connected to the FPC to electrically connect the inspection object and the FPC; and a seating fixing part for restraining the probe pin so that the probe pin is installed in the correct part of the guide block or the block body.

또한, 본 발명의 상기 가이드블록은, 상기 블록본체 중앙부에 설치되고, 상기 프로브핀의 제1핀부재를 지지하는 제1블록; 및 상기 블록본체의 양측부에 설치되고, 상기 프로브핀의 제2핀부재를 지지하는 제2블록을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the guide block of the present invention is installed in the central portion of the block body, the first block for supporting the first pin member of the probe pin; and a second block installed on both sides of the block body and supporting the second pin member of the probe pin.

또한, 본 발명의 상기 제1블록은, 상기 제1핀부재의 제1검사접점부를 지지하는 제1돌출부; 상기 제1검사접점부 및 제1탄성부를 지지하는 제2돌출부; 상기 제1핀부재의 제1본체부를 지지하는 제3돌출부; 상기 제1핀부재의 제1고정홈부에 삽입되어 상기 제1본체부를 지지하는 제1고정돌기; 및 상기 제1본체부를 상기 제1고정돌기 측으로 가압하여 고정시키는 고정블록을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the first block of the present invention, a first protrusion for supporting the first inspection contact portion of the first pin member; a second protrusion for supporting the first inspection contact portion and the first elastic portion; a third protrusion for supporting the first body of the first pin member; a first fixing protrusion inserted into the first fixing groove of the first pin member to support the first body portion; And it characterized in that it comprises a fixing block for fixing the first body by pressing toward the first fixing projection.

또한, 본 발명의 상기 제2블록은, 상기 제2핀부재의 제2검사접점부의 단부를 지지하는 제4돌출부; 상기 제2검사접점부의 중앙부를 지지하는 제5돌출부; 상기 제2핀부재의 제2연결접점부 및 제2연결탄성부를 지지하는 제6돌출부; 및 상기 제2핀부재의 제2고정홈부에 삽입되어 상기 제2본체부를 지지하는 제2고정돌기를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the second block of the present invention, a fourth protrusion for supporting the end of the second inspection contact portion of the second pin member; a fifth protrusion supporting a central portion of the second inspection contact portion; a sixth protrusion for supporting the second connecting contact portion and the second connecting elastic portion of the second pin member; and a second fixing protrusion inserted into the second fixing groove of the second pin member to support the second body portion.

또한, 본 발명의 상기 안착고정부는, 상기 제1블록에 구비되고, 상기 제1핀부재의 복수 부분을 고정시키는 제1안착고정부; 및 상기 제2블록에 구비되고, 상기 제2핀부재의 복수 부분을 고정시키는 제2안착고정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the seating fixing part of the present invention, the first seating fixing part is provided in the first block, for fixing the plurality of parts of the first pin member; And it is provided in the second block, characterized in that it comprises a second seating fixing portion for fixing the plurality of parts of the second pin member.

또한, 본 발명의 상기 제1안착고정부는, 상기 제1돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1검사접점부를 구속하는 제1안착홈부; 상기 제2돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1검사접점부 및 상기 제1검사탄성부를 구속하는 제2안착홈부; 상기 제3돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1연결접점부를 구속하는 제3안착부; 상기 제1고정돌기에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1고정홈부를 구속하는 제4안착홈부; 및 상기 고정블록에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1본체부를 구속하는 제5안착홈부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the first seating fixing portion of the present invention, a plurality of the first protrusion is formed while maintaining a constant interval, the first seating groove portion constraining the first inspection contact portion; a second seating groove portion formed in a plurality of the second protrusions at regular intervals and constraining the first inspection contact portion and the first inspection elastic portion; a plurality of third seating portions formed at regular intervals on the third protrusion and constraining the first connecting contact portion; a plurality of fourth seating grooves formed on the first fixing protrusions at regular intervals and constraining the first fixing grooves; and a plurality of fifth seating grooves formed in the fixing block at regular intervals and constraining the first body.

또한, 본 발명의 상기 제2안착고정부는, 상기 제4돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2검사접점부의 단부를 구속하는 제6안착홈부; 상기 제5돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2검사접점부의 중앙부를 구속하는 제7안착홈부; 상기 제2고정돌기에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2고정홈부를 구속하는 제8안착홈부; 및 상기 제6돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2연결접점부를 구속하는 제9안착홈부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the second seating fixing portion of the present invention, a plurality of the fourth protrusion is formed while maintaining a constant interval, the sixth seating groove portion constraining the end of the second inspection contact portion; a seventh seating groove portion formed in a plurality of the fifth protrusion at regular intervals and constraining a central portion of the second inspection contact portion; an eighth seating groove portion formed in a plurality of the second fixing protrusions at regular intervals and constraining the second fixing groove; and a ninth seating groove portion formed in a plurality of the sixth protrusion at regular intervals and constraining the second connection contact portion.

본 발명에 따른 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛은, 가이드블록에 설치되는 본체부와, 가이드본체 외측으로 돌출되어 검사대상물 또는 FPC와 접촉되는 접점부 사이에 탄성부가 구비되므로 검사작동 중에 검사대상물 또는 FPC와 접점부가 접촉될 때에 발생되는 충격량을 감소시킬 수 있어 검사작동에 의해 검사대상물이 변형되거나 파손되는 오작업을 방지할 수 있는 이점이 있다.The probe pin and the probe unit having the same according to the present invention are provided with an elastic part between the body part installed on the guide block and the contact part protruding outside the guide body to come into contact with the inspection object or FPC, so that the inspection object or It is possible to reduce the amount of impact generated when the FPC and the contact part come into contact, so there is an advantage in that it is possible to prevent a malfunction in which the inspection object is deformed or damaged by the inspection operation.

또한, 본 발명에 따른 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛은, 가이드블록에 복수 개의 프로브핀이 일정한 간격을 유지하며 정확한 위치에 설치되도록 안내하는 안착고정부가 구비되므로 다양한 형상으로 이루어지는 복수 개의 프로브핀이 설치되어도 복수 개의 프로브핀 사이의 간격이 일정하게 유지되고, 복수 개의 프로브핀이 정확한 위치에 설치되어 프로브핀의 정렬 정밀도를 향상시킬 수 있는 이점이 있다.In addition, the probe pin and the probe unit having the same according to the present invention are provided with a mounting fixing part for guiding the plurality of probe pins to be installed at an accurate position while maintaining a constant distance on the guide block, so that a plurality of probe pins having various shapes are provided. Even when installed, the spacing between the plurality of probe pins is kept constant, and the plurality of probe pins are installed at accurate positions to improve alignment accuracy of the probe pins.

또한, 본 발명에 따른 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛은, 복수 개의 안착고정부가 하나의 프로브핀을 지지하도록 복수 개의 안착고정부가 가이드블록 또는 커버부재에 구비되므로 프로브핀을 보다 더 정확한 위치에 안착시켜 고정시킬 수 있고, 검사작동 중에 발생되는 충격에 의해 프로브핀이 유동되는 것을 방지하여 프로브유닛의 검사작동에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있는 이점이 있다.In addition, in the probe pin and the probe unit having the same according to the present invention, a plurality of seating fixing parts are provided on the guide block or the cover member so that the plurality of seating fixing parts support one probe pin, so that the probe pin is mounted at a more accurate position. There is an advantage in that the reliability of the inspection operation of the probe unit can be improved by preventing the probe pin from flowing due to the impact generated during the inspection operation.

또한, 본 발명에 따른 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛은, 블록본체에 설치되는 가이드블록 및 커버부재에 안착고정부가 구비되어 복수 개의 프로브핀을 고정시키므로 프로브핀의 수명이 종료되어 교체작업을 진행할 때에 블록본체로부터 커버부재 및 가이드블록을 해제하여 프로브핀 교체를 손쉽게 진행할 수 있고, 프로브유닛 유지보수에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있는 이점이 있다.In addition, the probe pin and the probe unit having the same according to the present invention are provided with a seating and fixing part on the guide block and the cover member installed in the block body to fix the plurality of probe pins, so that the life of the probe pins is over and replacement work is to be carried out. When the cover member and the guide block are released from the block body, it is possible to easily replace the probe pin, and there is an advantage in that the time and cost required for the maintenance of the probe unit can be reduced.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛이 도시된 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛이 도시된 분해 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛이 도시된 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제1안착홈부가 도시된 사시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제4안착홈부가 도시된 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제1고정홈부와 제1고정돌기의 연결구조가 도시된 사시도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제6안착홈부 및 제7안착홈부가 도시된 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제1핀부재 연결구조가 도시된 분해 사시도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제2핀부재 연결구조가 도시된 분해 사시도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 딸느 프로브핀의 시뮬레이션 작업이 도시된 도면이다.
1 is a perspective view illustrating a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view illustrating a probe unit including a probe pin according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view illustrating a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
4 is a perspective view illustrating a first seating groove of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
5 is a perspective view illustrating a fourth seating groove portion of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
6 is a perspective view illustrating a connection structure between a first fixing groove and a first fixing protrusion of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
7 is a perspective view showing a sixth seating groove portion and a seventh seating groove portion of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
8 is an exploded perspective view illustrating a first pin member connection structure of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
9 is an exploded perspective view illustrating a second pin member connection structure of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.
10 is a diagram illustrating a simulation operation of a probe pin according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛의 일 실시예를 설명한다.Hereinafter, an embodiment of a probe pin and a probe unit having the same according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

이러한 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.In this process, the thickness of the lines or the size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation.

또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다.In addition, the terms to be described later are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to intentions or customs of users and operators.

그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Therefore, definitions of these terms should be made based on the content throughout this specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛이 도시된 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛이 도시된 분해 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛이 도시된 단면도이다.1 is a perspective view showing a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded perspective view showing a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.

또한, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제1안착홈부가 도시된 사시도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제4안착홈부가 도시된 사시도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제1고정홈부와 제1고정돌기의 연결구조가 도시된 사시도이다.In addition, FIG. 4 is a perspective view showing a first seating groove portion of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention. 6 is a perspective view showing a fourth seating groove, and FIG. 6 is a perspective view illustrating a connection structure between the first fixing groove and the first fixing protrusion of the probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention.

또한, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제6안착홈부 및 제7안착홈부가 도시된 사시도이고, 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제1핀부재 연결구조가 도시된 분해 사시도이고, 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛의 제2핀부재 연결구조가 도시된 분해 사시도이고, 도 10은 본 발명의 일 실시예에 딸느 프로브핀의 시뮬레이션 작업이 도시된 도면이다.7 is a perspective view showing a sixth seating groove and a seventh seating groove of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a probe pin according to an embodiment of the present invention. 9 is an exploded perspective view illustrating a connection structure of a second pin member of a probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention; 10 is a diagram illustrating a simulation operation of a probe pin according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 10을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀을 구비하는 프로브유닛은, 프로브 검사기에 설치되고, 검사작동이 진행되면 검사대상물에 안착되는 블록본체(10)와, 블록본체(10)에 안착되고, 일측으로 연장되어 전기적신호를 전달하는 FPC조립체(12)와, 블록본체(10)에 설치되는 가이드블록과, 가이드블록에 안착되고, 일단은 검사대상물 측으로 연장되고, 타단은 FPC와 연결되어 검사대상물과 FPC를 전기적으로 연결하는 프로브핀과, 프로브핀이 가이드블록 또는 블록본체(10)의 정확한 부분에 설치되도록 프로브핀을 구속하는 안착고정부를 포함한다.1 to 10, the probe unit having a probe pin according to an embodiment of the present invention is installed in the probe inspection machine, and when the inspection operation is in progress, the block body 10 is seated on the object to be inspected, and the block The FPC assembly 12 seated on the main body 10 and extending to one side to transmit an electrical signal, a guide block installed on the block body 10, and the guide block are seated on the guide block, and one end is extended to the inspection object side, The other end includes a probe pin connected to the FPC to electrically connect the object to be inspected and the FPC, and a seating fixing part for constraining the probe pin so that the probe pin is installed on the guide block or the correct part of the block body 10 .

따라서 복수 개의 프로브핀을 블록본체(10)에 조립할 때에 블록본체(10) 저면에 복수 개의 가이드블록을 설치한 후에 가이드블록에 프로브핀을 일정한 간격을 유지하여 설치하고, 프로브핀이 고정되도록 블록본체(10)에 커버부재를 설치하여 복수 개의 프로브핀이 설치되고, 이때, 가이드블록에 구비되는 안착고정부에 의해 복수 개의 프로브핀이 일정한 간격을 유지하며 정확한 위치에 설치될 수 있게 된다.Therefore, when assembling a plurality of probe pins to the block body 10, after installing a plurality of guide blocks on the bottom surface of the block body 10, the probe pins are installed on the guide blocks at regular intervals, and the probe pins are fixed to the block body. A plurality of probe pins are installed by installing a cover member in (10), and at this time, the plurality of probe pins can be installed at an accurate position while maintaining a constant interval by a seating and fixing part provided in the guide block.

따라서 본 실시예는, 프로브핀의 핀 정렬 정밀도를 종래의 xyz축 오차 ㅁ8~10㎛인 것을 xyz축 오차 ㅁ5㎛까지 정밀하게 향상시킬 수 있게 된다.Therefore, in this embodiment, the pin alignment precision of the probe pin can be precisely improved from the conventional xyz-axis error of 8 to 10 μm to the xyz-axis error of 5 μm.

본 실시예의 프로브핀은, 블록본체(10)의 중앙부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 설치되는 제1핀부재(30)와, 블록본체(10)의 양측부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 설치되는 제2핀부재(50)를 포함한다.The probe pins of this embodiment are installed with a plurality of first pin members 30 installed at regular intervals in the central part of the block body 10, and a plurality of probe pins on both sides of the block body 10 at regular intervals. and a second pin member 50 that is

제1핀부재(30)는, 블록본체(10) 중앙부에 설치되는 가이드블록의 제1블록(70)과 제1커버(14) 사이에 개재되는 제1본체부(31)와, 제1본체부(31) 일단으로부터 연장되고, 검사작동에 의해 프로브유닛이 검사대상물에 안착되면 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결되는 제1검사접점부(32)와, 제1본체부(31)의 타단으로부터 연장되고, 프로브유닛에 설치되는 FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되는 제1연결접점부(33)와, 제1본체부(31)와 제1검사접점부(32) 사이에 구비되고, 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키는 제1검사탄성부(34)와, 제1본체부(31)와 제1연결접점부(33) 사이에 구비되고, 제1연결접점부(33)를 FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하는 제1연결탄성부(35)를 포함한다.The first pin member 30 includes a first body part 31 interposed between the first block 70 and the first cover 14 of the guide block installed in the central part of the block body 10, and the first body From the first inspection contact part 32 extending from one end of the part 31 and electrically connected to the inspection object when the probe unit is seated on the inspection object by the inspection operation, and the other end of the first body part 31 . It extends and is provided between the first connection contact part 33 electrically connected to the FPC installed in the probe unit, and the first body part 31 and the first inspection contact part 32, and during the inspection operation. It is provided between the first inspection elastic part 34 to offset the generated shock, and the first body part 31 and the first connection contact part 33, and presses the first connection contact part 33 to the FPC side. It includes a first connection elastic part 35 that provides an elastic force.

제1핀부재(30)는 블록본체(10)의 저면 중앙부에 설치되는 제1블록(70)에 구비되는 제1안착고정부(100)에 의해 4개의 지점이 지지되면서 고정되고, 블록본체(10)에 설치되는 FPC조립체(12)의 채널FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되므로 프로브 검사기가 하강하여 복수 개의 프로브유닛이 검사대상물에 접촉되는 검사작동이 이루어지면 검사대상물과 채널FPC를 전기적으로 연결하여 전기적 신호를 전달하면서 디스플레이패널 또는 반도체 등의 검사대상물의 테스트를 진행하게 된다.The first pin member 30 is fixed while being supported at four points by the first seating fixing part 100 provided in the first block 70 installed in the central part of the bottom surface of the block body 10, and the block body ( 10) is in contact with the channel FPC of the FPC assembly 12 installed in the FPC assembly 12 and is electrically connected, so the probe inspector descends and a plurality of probe units come into contact with the inspection object. While transmitting an electrical signal, a test object such as a display panel or a semiconductor is tested.

본 실시예의 제1본체부(31)는, 하단이 전방으로 돌출되는 경사를 형성하고, 제1본체부(31)의 하단으로부터 전방 측으로 굴곡되어 제1검사접점부(32)가 일체로 형성되고, 제1본체부(31)의 상단으로부터 제1본체부(31)와 동일한 연장방향으로 연장되는 제1연결접점부(33)가 일체로 형성된다.The first body part 31 of this embodiment forms an inclination with the lower end protruding forward, and is bent from the lower end of the first body part 31 to the front side so that the first inspection contact part 32 is integrally formed and , the first connecting contact portion 33 extending from the upper end of the first body portion 31 in the same extension direction as the first body portion 31 is integrally formed.

제1본체부(31)의 전면측 단부에는 'ㄷ'모양으로 오목하게 제1고정홈부(36)가 형성되어 제1블록(70)의 제1고정돌기(74)가 삽입되면서 제1본체부(31)가 정확한 위치에 안착될 수 있도록 한다.A first fixing groove 36 is formed concavely in a 'C' shape at the front end of the first body part 31 , and the first fixing protrusion 74 of the first block 70 is inserted while the first body part is inserted. (31) to be seated in the correct position.

또한, 본 실시예의 제1본체부(31)는 블록본체(10) 내측 방향으로 경사지게 형성되어 제1경사면(37)이 형성되고, 제1경사면(37)에는 고정블록(75)에 형성되는 제5안착홈부(108)에 삽입되는 고정리브(38)가 형성된다.In addition, the first body part 31 of this embodiment is formed to be inclined in the inner direction of the block body 10 to form a first inclined surface 37, and the first inclined surface 37 is formed on the fixed block 75 on the first inclined surface 37. 5 A fixing rib 38 inserted into the seating groove 108 is formed.

제1검사접점부(32)의 외측 단부는 하측 방향으로 뾰족하게 모서리가 형성되고, 하단의 모서리로부터 하측 방향으로 핀 모양의 돌출부가 추가로 더 형성되어 프로브유닛이 하강하여 검사대상물에 안착되면 제1검사접점부(32)의 외측 단부에 형성되는 돌출부가 검사대상물에 접촉되면서 전기적인 연결이 이루어지게 된다.The outer end of the first inspection contact portion 32 is sharply formed in a downward direction, and a pin-shaped protrusion is further formed in the downward direction from the lower edge. Electrical connection is made while the protrusion formed at the outer end of the first inspection contact portion 32 comes into contact with the object to be inspected.

또한, 본 실시예의 제1검사탄성부(34)는, 제1검사접점부(32)를 따라 길게 형성되는 제1탄성홀부(34a)와, 제1탄성홀부(34a)가 제1본체부(31) 측으로 굴곡되어 이루어지는 탄성굴곡부(34b)를 포함한다.In addition, in the first inspection elastic portion 34 of this embodiment, the first elastic hole portion 34a formed long along the first inspection contact portion 32, and the first elastic hole portion 34a are the first body portion ( 31) and an elastically curved portion 34b formed by bending to the side.

따라서 검사작동이 진행되어 제1검사접점부(32)가 검사대상물에 접촉되면 제1탄성홀부(34a) 및 굴곡부가 변형되면서 제1검사접점부(32)와 검사대상물이 접촉되면서 발생되는 충격을 상쇄시켜 검사대상물에 생성되는 패드 스크럽(pad scrub)의 길이를 종래의 27~30㎛에서 7㎛까지 감소시킬 수 있게 된다.Therefore, when the inspection operation proceeds and the first inspection contact portion 32 comes into contact with the object to be inspected, the first elastic hole portion 34a and the bent portion are deformed to reduce the impact generated by the contact between the first inspection contact portion 32 and the object to be inspected. By offsetting, the length of the pad scrub generated on the object to be inspected can be reduced from the conventional 27-30㎛ to 7㎛.

이는 도 10에 도시된 시뮬레이션 결과와 같이 검사작동의 스트로크가 0.15~0.3mm일 때에 본 실시예의 제1핀부재(30)에 가해지는 핀 하중이 2.2g/f이고, 본 실시예의 제2핀부재(50)에 가해지는 핀 하중이 8g/f이므로 도 10에 도시된 바와 같이 스크럽을 0.00699mm까지 감소시킬 수 있게 된다.As shown in the simulation results shown in FIG. 10, when the stroke of the inspection operation is 0.15 to 0.3 mm, the pin load applied to the first pin member 30 of this embodiment is 2.2 g/f, and the second pin member of this embodiment Since the pin load applied to 50 is 8 g/f, it is possible to reduce the scrub to 0.00699 mm as shown in FIG. 10 .

또한, 본 실시예의 제1연결탄성부(35)는, 제1연결접점부(33)가 제1본체부(31)에 연결되는 부위에 형성되는 제2탄성홀부(35a)와, 제2탄성홀부(35a) 외측에 제2탄성홀부(35a)를 감싸는 모양으로 간격을 유지하도록 형성되는 제3탄성홀부(35b)를 포함한다.In addition, the first connecting elastic portion 35 of the present embodiment includes a second elastic hole portion 35a formed in a portion where the first connecting contact portion 33 is connected to the first body portion 31, and the second elastic portion It includes a third elastic hole portion (35b) formed outside the hole portion (35a) to maintain a gap in a shape surrounding the second elastic hole portion (35a).

제1본체부(31)의 상당에는 원형의 제1탄성홀부(34a)가 형성되고, 제1탄성홀부(34a)와 간격을 유지하며 제1탄성홀부(34a)를 감싸는 모양으로 링 모양의 제2탄성홀부(35a)가 형성되고, 제1탄성홀부(34a)와 제2탄성홀부(35a)를 연결하는 연결부가 구비되므로 제1연결접점부(33)가 제1탄성홀부(34a)와 제2탄성홀부(35a)의 연결부에 일체로 형성된다.A circular first resilient hole portion 34a is formed in a corresponding portion of the first body portion 31, and a ring-shaped first elastic hole portion 34a is formed while maintaining a distance from the first elastic hole portion 34a and surrounding the first elastic hole portion 34a. Since the second elastic hole portion 35a is formed, and a connection portion connecting the first elastic hole portion 34a and the second elastic hole portion 35a is provided, the first connection contact portion 33 is connected to the first elastic hole portion 34a and the second elastic hole portion 34a. It is formed integrally with the connection part of the 2 elastic hole part (35a).

따라서 직선의 막대 모양으로 형성되는 제1연결접점부(33)는 제1본체부(31)에 유동 가능하게 연결되고, 제1연결접점부(33)가 채널FPC에 접촉될 때에 제1연결접점부(33)를 채널FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하게 되어 검사작동 중에 발생되는 충격 또는 유동에 의해 제1연결접점부(33)가 채널FPC로부터 분리되는 것을 방지할 수 있게 되고, 검사작동 중에 발생되는 충격 또는 유동에 의해 제1본체부(31)와 제1연결접점부(33) 사이의 연결부위가 변형되거나 파손되는 것을 방지할 수 있게 된다.Therefore, the first connection contact part 33 formed in a straight bar shape is movably connected to the first body part 31, and when the first connection contact part 33 comes into contact with the channel FPC, the first connection contact point By providing an elastic force for pressing the part 33 to the channel FPC side, it is possible to prevent the first connection contact part 33 from being separated from the channel FPC by an impact or flow generated during the inspection operation, and occurs during the inspection operation It is possible to prevent the connection part between the first body part 31 and the first connection contact part 33 from being deformed or damaged by the impact or flow.

또한, 본 실시예의 제2핀부재(50)는, 블록본체(10) 양측부에 설치되는 가이드블록의 제2블록(80)과 제2커버(16) 사이에 개재되는 제2본체부(51)와, 제2본체부(51) 일단으로부터 연장되고, 검사작동에 의해 프로브유닛이 검사대상물에 안착되면 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결되는 제2검사접점부(52)와, 제2본체부(51) 타단으로부터 연장되고, 프로브유닛에 설치되는 FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되는 제2연결접점부(53)와, 제2본체부(51)와 제2검사접점부(52) 사이에 구비되고, 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키는 제2검사탄성부(54)와, 제2본체부(51)와 제2연결접점부(53) 사이에 구비되고, 제2연결접점부(53)를 FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하는 제2연결탄성부(55)를 포함한다.In addition, the second pin member 50 of this embodiment is a second body portion 51 interposed between the second block 80 and the second cover 16 of the guide block installed on both sides of the block body 10 . ), a second inspection contact part 52 extending from one end of the second body part 51 and electrically connected to the inspection object by contacting the probe unit when the probe unit is seated on the inspection object by the inspection operation, and the second body part (51) provided between the second connection contact part 53 extending from the other end and electrically connected to the FPC installed in the probe unit, and the second body part 51 and the second inspection contact part 52 and a second inspection elastic part 54 for offsetting the impact generated during the inspection operation, and provided between the second body part 51 and the second connection contact part 53, the second connection contact part 53 It includes a second connection elastic part 55 that provides an elastic force for pressing the FPC side.

여기서, 제2본체부(51)는, 수직방향으로 직립되게 형성되고, 상단에 제2연결탄성부(55)가 일체로 형성되어 제2연결접점부(53)와 연결되며, 하단에 제2검사접점부(52)가 측 방향으로 굴곡되게 일체로 연결되고, 제2본체부(51)와 제2검사접점부(52) 사이의 연결부위에 제2검사탄성부(54)가 구비된다.Here, the second body part 51 is formed to be upright in the vertical direction, and the second connecting elastic part 55 is integrally formed at the upper end and connected to the second connecting contact part 53, and the second connecting contact part 53 is formed at the lower end. The inspection contact portion 52 is integrally connected to be bent in the lateral direction, and a second inspection elastic portion 54 is provided at a connection portion between the second body portion 51 and the second inspection contact portion 52 .

본 실시예의 제2검사탄성부(54)는, 제2검사접점부(52)와 제2본체부(51) 사이의 형성되는 굴곡부가 내측 방향으로 오목하게 형성되어 이루어지는 탄성홈부를 포함하므로 검사작동에 의해 제2검사접점부(52)가 검사대상물에 접촉되면서 가압되면 탄성홈부가 내측 방향으로 변형되면서 제2검사접점부(52)가 제2본체부(51) 측으로 후퇴되면서 검사대상물과 제2검사접점부(52) 사이에서 발생되는 충격을 상쇄시키게 된다.Since the second inspection elastic part 54 of this embodiment includes an elastic groove part in which the bent part formed between the second inspection contact part 52 and the second body part 51 is concave in the inward direction, the inspection operation is performed When the second inspection contact portion 52 is pressed while in contact with the inspection object, the elastic groove portion is deformed inwardly by the The impact generated between the inspection contact parts 52 is offset.

또한, 제2본체부(51)의 중앙부에는 제2고정돌기(84)가 삽입되어 제2본체부(51)를 정확한 위치에 배치시키는 제2고정홈부(56)가 형성되고, 제2블록(80) 및 제2안착고정부(110)에 의해 정확한 위치에 설치되도록 한다.In addition, a second fixing protrusion 84 is inserted into the central portion of the second body portion 51 to form a second fixing groove portion 56 for arranging the second body portion 51 in an accurate position, and a second block ( 80) and the second seating and fixing part 110 to be installed in the correct position.

또한, 본 실시예의 제2연결탄성부(55)는, 제2본체부(51)와 제2연결접점부(53)를 물결모양으로 연결하는 주름패널을 포함하므로 제2연결접점부(53)를 비주얼FPC에 접촉되게 설치할 때에 제2연결접점부(53)를 비주얼FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하므로 검사작동 중에 발생되는 충격 또는 유동에 의해 제2연결접점부(53)가 비주얼FPC로부터 분리되는 것을 방지할 수 있게 된다.In addition, since the second connection elastic part 55 of this embodiment includes a corrugated panel connecting the second body part 51 and the second connection contact part 53 in a wavy shape, the second connection contact part 53 When installing in contact with the visual FPC, it provides an elastic force for pressing the second connection contact part 53 toward the visual FPC, so that the second connection contact part 53 is separated from the visual FPC by an impact or flow generated during the inspection operation. it can be prevented

또한, 본 실시예의 가이드블록은, 블록본체(10) 중앙부에 설치되고, 프로브핀의 제1핀부재(30)를 지지하는 제1블록(70)과, 블록본체(10)의 양측부에 설치되고, 프로브핀의 제2핀부재(50)를 지지하는 제2블록(80)을 포함한다.In addition, the guide block of this embodiment is installed in the central portion of the block body 10 , the first block 70 supporting the first pin member 30 of the probe pin, and installed on both sides of the block body 10 . and a second block 80 supporting the second pin member 50 of the probe pin.

따라서 블록본체(10)의 저면 중앙부에는 제1블록(70)이 설치되어 다수 개의 제1핀부재(30)를 지지하고, 제1블록(70)의 양단부로부터 블록본체(10)의 양단부까지 한 쌍의 제2블록(80)이 설치되어 다수 개의 제2핀부재(50)가 블록본체(10)의 정확한 위치에 설치되도록 한다.Therefore, the first block 70 is installed in the central portion of the bottom surface of the block body 10 to support the plurality of first pin members 30, from both ends of the first block 70 to both ends of the block body 10. A pair of second blocks 80 are installed so that a plurality of second pin members 50 are installed at the correct positions of the block body 10 .

본 실시예의 제1블록(70)은, 제1핀부재(30)의 제1검사접점부(32)를 지지하는 제1돌출부(71)와, 제1검사접점부(32) 및 제1탄성부를 지지하는 제2돌출부(72)와, 제1핀부재(30)의 제1본체부(31)를 지지하는 제3돌출부(73)와, 제1핀부재(30)의 제1고정홈부(36)에 삽입되어 제1본체부(31)를 지지하는 제1고정돌기(74)와, 제1본체부(31)를 제1고정돌기(74) 측으로 가압하여 고정시키는 고정블록(75)을 포함한다.The first block 70 of this embodiment includes a first protrusion 71 supporting the first inspection contact portion 32 of the first pin member 30 , the first inspection contact portion 32 and the first elasticity The second protrusion 72 for supporting the part, the third protrusion 73 for supporting the first body part 31 of the first pin member 30, and the first fixing groove part of the first pin member 30 ( 36) is inserted into the first fixing protrusion 74 for supporting the first body part 31, and a fixing block 75 for pressing and fixing the first body part 31 toward the first fixing projection 74 side. include

제1블록(70)은 블록본체(10)와 비교하여 길이가 짧은 막대 형상으로 이루어지고, 블록본체(10)의 저면 전방 측 단부에 설치되어 제1블록(70)에 다수 개의 제1핀부재(30)가 설치되면 제1핀부재(30)의 제1검사접점부(32)가 블록본체(10)의 하측 방향으로 돌출되게 설치된다.The first block 70 is made of a bar shape having a shorter length than that of the block body 10 , and is installed at the front end of the bottom surface of the block body 10 to provide a plurality of first pin members to the first block 70 . When the 30 is installed, the first inspection contact portion 32 of the first pin member 30 is installed to protrude in the lower direction of the block body 10 .

따라서 검사작동이 개시되어 블록본체(10)가 하강하면 블록본체(10)의 저면 외측 단부에 돌출되게 설치되는 제1핀부재(30)의 제1검사접점부(32)가 하강하면서 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결된다.Therefore, when the inspection operation is started and the block body 10 descends, the first inspection contact part 32 of the first pin member 30 installed to protrude from the bottom surface outer end of the block main body 10 descends while the inspection object and contacted and electrically connected.

또한, 본 실시예의 제1블록(70)은 상기한 바와 같이 복수 개의 돌출부가 구비되어 제1핀부재(30)의 다수 부분을 지지하게 되므로 제1핀부재(30)를 정확한 위치에 안착되도록 지지할 수 있게 되고, 후술하는 제1안착고정부(100)에 의해 제1핀부재(30)를 정확한 위치에 고정시킬 수 있게 된다.In addition, the first block 70 of this embodiment is provided with a plurality of protrusions as described above to support a plurality of portions of the first pin member 30 , so that the first pin member 30 is supported to be seated in an accurate position. This can be done, and the first pin member 30 can be fixed at an accurate position by the first seating and fixing part 100 to be described later.

여기서, 제2돌출부(72)는, 제1블록(70)에 형성되는 결합홈부(72a)와, 결합홈부(72a)에 안착되고, 제2안착홈부(104)가 형성되는 결합블록(72b)으로 이루어진다.Here, the second protrusion 72 is seated on the coupling groove portion 72a formed in the first block 70, the coupling groove portion 72a, and the coupling block 72b in which the second seating groove portion 104 is formed. is made of

본 실시예의 제2블록(80)은, 제2핀부재(50)의 제2검사접점부(52)의 단부를 지지하는 제4돌출부(81)와, 제2검사접점부(52)의 중앙부를 지지하는 제5돌출부(82)와, 제2핀부재(50)의 제2연결접점부(53) 및 제2연결탄성부(55)를 지지하는 제6돌출부(83)와, 제2핀부재(50)의 제2고정홈부(56)에 삽입되어 제2본체부(51)를 지지하는 제2고정돌기(84)를 포함한다.The second block 80 of this embodiment includes a fourth protrusion 81 supporting the end of the second inspection contact portion 52 of the second pin member 50 and the central portion of the second inspection contact portion 52 . a fifth protrusion 82 supporting It includes a second fixing protrusion 84 inserted into the second fixing groove portion 56 of the member 50 to support the second body portion (51).

본 실시예의 제2블록(80)은 제1블록(70)과 비교하여 짧은 막대 모양으로 형성되어 제1블록(70)의 양단부 외측으로부터 블록본체(10)의 단부까지 연장되게 설치되고, 각각 다수 개의 제2핀부재(50)를 지지하게 된다.The second block 80 of this embodiment is formed in a short bar shape compared to the first block 70 and is installed to extend from the outside of both ends of the first block 70 to the end of the block body 10, each of a plurality The second pin member 50 is supported.

본 실시예의 안착고정부는, 제1블록(70)에 구비되고, 제1핀부재(30)의 복수 부분을 고정시키는 제1안착고정부(100)와, 제2블록(80)에 구비되고, 제2핀부재(50)의 복수 부분을 고정시키는 제2안착고정부(110)를 포함한다.The seating and fixing part of this embodiment is provided in the first block 70 and provided in the first seating fixing part 100 for fixing a plurality of parts of the first pin member 30 and the second block 80, A second seating fixing part 110 for fixing a plurality of parts of the second pin member 50 is included.

여기서, 제1안착고정부(100)는, 제1돌출부(71)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제1검사접점부(32)를 구속하는 제1안착홈부(102)와, 제2돌출부(72)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제1검사접점부(32) 및 제1검사탄성부(34)를 구속하는 제2안착홈부(104)와, 제3돌출부(73)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제1연결접점부(33)를 구속하는 제3안착홈부(106)와, 제1고정돌기(74)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제1고정홈부(36)를 구속하는 제4안착홈부(107)와, 고정블록(75)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제1본체부(31)를 구속하는 제5안착홈부(108)를 포함한다.Here, the first seating fixing part 100 is formed with a plurality of first protrusions 71 at regular intervals, and a first seating groove part 102 constraining the first inspection contact part 32, and a first A plurality of the two protrusions 72 are formed at regular intervals, and a second seating groove 104 constraining the first inspection contact portion 32 and the first inspection elastic portion 34, and a third protrusion 73 ), a plurality of pieces are formed while maintaining a constant interval, and a plurality of third seating grooves 106 constraining the first connection contact portion 33 and the first fixing protrusion 74 are formed with constant intervals therebetween, A fourth seating groove portion 107 for constraining the first fixing groove portion 36, and a fifth seating groove portion ( 108).

따라서 제1핀부재(30)를 제1블록(70)에 설치할 때에 제1돌출부(71) 및 제2돌출부(72)에 제1검사접점부(32)를 안착시키고, 이때, 제1검사접점부(32)는 제1안착홈부(102) 및 제2안착홈부(104)에 삽입되면서 정확한 위치에 안착되고, 제1연결접점부(33)는 제3돌출부(73)에 안착되고 고정블록(75)에 의해 지지되어 제3안착홈부(106) 및 제5안착홈부(108)에 삽입되어 고정되고, 제1본체부(31)는 제4안착홈부(107)에 삽입되면서 고정된다.Therefore, when the first pin member 30 is installed in the first block 70, the first inspection contact portion 32 is seated on the first protrusion 71 and the second protrusion 72, and at this time, the first inspection contact The part 32 is seated at the correct position while being inserted into the first seating groove 102 and the second seating groove 104, and the first connection contact part 33 is seated on the third protrusion part 73 and fixed block ( 75) and is inserted into and fixed to the third and fifth seating grooves 106 and 108, and the first body 31 is fixed while being inserted into the fourth seating groove 107.

본 실시예의 제2안착고정부(110)는, 제4돌출부(81)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제2검사접점부(52)의 단부를 구속하는 제6안착홈부(112)와, 제5돌출부(82)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제2검사접점부(52)의 중앙부를 구속하는 제7안착홈부(114)와, 제2고정돌기(84)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제2고정홈부(56)를 구속하는 제8안착홈부(116)와, 제6돌출부(83)에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 제2연결접점부(53)를 구속하는 제9안착홈부(118)를 포함한다.The second seating fixing part 110 of this embodiment is formed with a plurality of the fourth protrusion part 81 at regular intervals, and a sixth seating groove part 112 for constraining the end of the second inspection contact part 52 . And, a plurality of pieces are formed on the fifth protrusion 82 at regular intervals, and a seventh seating groove 114 constraining the central portion of the second inspection contact portion 52, and a plurality of the second fixing protrusions 84 Dogs are formed while maintaining a constant distance, and a plurality of dogs are formed in an eighth seating groove portion 116 that restrains the second fixing groove portion 56 and a sixth protrusion portion 83 while maintaining a constant interval, and a second connecting contact portion It includes a ninth seating groove portion 118 for restraining the 53 .

따라서 제2핀부재(50)를 제2블록(80)에 지지하여 고정시키면 제4돌출부(81) 및 제5돌출부(82)에 의해 제2검사접점부(52)가 지지되고, 제6돌출부(83)에 의해 제2연결접점부(53)가 지지되고, 제2고정돌기(84)가 제2고정홈부(56)에 삽입되어 제2핀부재(50)가 정확한 위치에 안착될 수 있도록 한다.Therefore, when the second pin member 50 is supported and fixed to the second block 80 , the second inspection contact part 52 is supported by the fourth protrusion 81 and the fifth protrusion 82 , and the sixth protrusion part The second connecting contact part 53 is supported by the 83 , and the second fixing protrusion 84 is inserted into the second fixing groove 56 so that the second pin member 50 can be seated in the correct position. do.

또한, 제4돌출부(81) 및 제5돌출부(82)에 안착되는 제2검사접점부(52)는 제6안착홈부(112) 및 제7안착홈부(114)에 삽입되어 정확한 위치에 안착되고, 제2고정돌기(84)에 안착되는 제2고정홈부(56)는 제8안착홈부(116)에 삽입되며, 제6돌출부(83)에 안착되는 제2연결접점부(53)는 제9안착홈부(118)에 삽입되어 정확한 위치에 안착될 수 있게 된다.In addition, the second inspection contact portion 52, which is seated on the fourth protrusion 81 and the fifth protrusion 82, is inserted into the sixth seating groove portion 112 and the seventh seating groove portion 114 and is seated in an accurate position. , the second fixing groove portion 56 seated on the second fixing projection 84 is inserted into the eighth seating groove portion 116 , and the second connecting contact portion 53 seated on the sixth projection portion 83 is a ninth It is inserted into the seating groove 118 so that it can be seated in an accurate position.

상기한 바와 같이 본 실시예의 제1핀부재(30) 및 제2핀부재(50)는 4곳 이상의 부위가 안착홈부에 의해 정확한 위치로 안내되어 지지되므로 정렬 정밀도의 오차를 ㅁ5㎛(xyz축)까지 감소시킬 수 있게 된다.As described above, in the first pin member 30 and the second pin member 50 of this embodiment, four or more parts are guided and supported to the correct positions by the seating grooves, so the error in alignment accuracy is reduced by 5㎛ (xyz axis). ) can be reduced to

이로써, 복수 개의 탄성부를 구비하여 검사작동 중에 발생되는 충격량을 저감시켜 검사대상물에 생성되는 스크럽의 길이 및 깊이를 감소시키므로 검사작동에 의해 검사대상물이 변형되거나 파손되는 것을 억제하고, 복수 개의 프로브핀이 설치되는 프로브유닛과 프로브핀 사이에 프로브핀을 고정시키는 복수 개의 안착고정부가 구비되어 복수 개의 프로브핀이 일정한 간격을 유지하며 정확한 위치에 설치될 수 있으며, 검사장치의 신뢰도가 향상될 수 있는 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛을 제공할 수 있게 된다.Accordingly, the plurality of elastic parts are provided to reduce the amount of impact generated during the inspection operation, thereby reducing the length and depth of the scrub generated on the inspection object, thereby preventing the inspection object from being deformed or damaged by the inspection operation, and the plurality of probe pins A plurality of mounting and fixing parts for fixing the probe pin are provided between the installed probe unit and the probe pin, so that the plurality of probe pins can be installed at an accurate position while maintaining a constant distance, and the probe pin can improve the reliability of the inspection device And it is possible to provide a probe unit having the same.

본 발명은 도면에 도시되는 일 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the drawings, this is merely exemplary, and various modifications and equivalent other embodiments are possible by those skilled in the art to which the art pertains. will understand

또한, 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛을 예로 들어 설명하였으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛이 아닌 다른 제품에도 본 발명의 프로브유닛이 사용될 수 있다.In addition, although a probe pin and a probe unit having the same have been described as an example, this is only exemplary, and the probe unit of the present invention may be used for products other than the probe pin and the probe unit having the same.

따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.Accordingly, the true technical protection scope of the present invention should be defined by the following claims.

10 : 블록본체 12 : FPC조립체
14 : 제1커버 16 : 제2커버
30 : 제1핀부재 31 : 제1본체부
32 : 제1검사접점부 33 : 제1연결접점부
34 : 제1검사탄성부 34a : 제1탄성홀부
34b : 탄성굴곡부 35 : 제1연결탄성부
35a : 제2탄성홀부 35b : 제3탄성홀부
36 : 제1고정홈부 37 : 제1경사면
38 : 고정리브 50 : 제2핀부재
51 : 제2본체부 52 : 제2검사접점부
53 : 제2연결접점부 54 : 제2검사탄성부
55 : 제2연결탄성부 56 : 제2고정홈부
70 : 제1블록 71 : 제1돌출부
72 : 제2돌출부 72a : 결합홈부
72b : 결합블록 73 : 제3돌출부
73a : 제2경사면 74 : 제1고정돌기
75 : 고정블록 80 : 제2블록
81 : 제4돌출부 82 : 제5돌출부
83 : 제6돌출부 84 : 제2고정돌기
100 : 제1안착고정부 102 : 제1안착홈부
104 : 제2안착홈부 106 : 제4안착홈부
107 : 제3안착홈부 108 : 제5안착홈부
110 : 제2안착고정부 112 : 제6안착홈부
114 : 제7안착홈부 116 : 제8안착홈부
118 : 제9안착홈부
10: block body 12: FPC assembly
14: first cover 16: second cover
30: first pin member 31: first body part
32: first inspection contact portion 33: first connection contact portion
34: first inspection elastic part 34a: first elastic hole part
34b: elastic bent portion 35: first connection elastic portion
35a: second resilient hole portion 35b: third resilient hole portion
36: first fixing groove 37: first inclined surface
38: fixed rib 50: second pin member
51: second body part 52: second inspection contact part
53: second connection contact part 54: second inspection elastic part
55: second connection elastic part 56: second fixing groove part
70: first block 71: first protrusion
72: second protrusion 72a: coupling groove
72b: coupling block 73: third protrusion
73a: second inclined surface 74: first fixing projection
75: fixed block 80: second block
81: fourth protrusion 82: fifth protrusion
83: sixth protrusion 84: second fixing protrusion
100: first seating fixing part 102: first seating groove part
104: second seating groove 106: fourth seating groove
107: third seating groove 108: fifth seating groove
110: second seating fixing part 112: sixth seating groove part
114: seventh seating groove 116: eighth seating groove
118: ninth seating groove

Claims (17)

프로브유닛에 구비되는 가이드블록에 의해 지지되고, 전도성재질로 이루어지는 본체부;
상기 본체부 일단에 일체로 형성되고, 검사대상물에 접촉되어 전기적신호를 전달하는 검사접점부;
상기 본체부 타단에 일체로 형성되고, FPC(Flexible Printed Circuit)에 접촉되어 전기적신호를 전달하는 연결접점부;
검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키도록 상기 본체부와 상기 검사접점부 사이에 구비되는 검사탄성부; 및
상기 연결접점부를 상기 FPC에 가압하는 탄성력을 제공하도록 상기 본체부와 상기 연결접점부 사이에 구비되는 연결탄성부를 포함하고,
상기 검사탄성부는,
상기 본체부의 제1본체부와 상기 검사접점부의 제1검사접점부 사이에 구비되고, 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키는 제1검사탄성부; 및
상기 본체부의 제2본체부와 상기 검사접점부의 제2검사접점부 사이에 구비되고, 검사작동 중에 발생되는 충격을 상쇄시키는 제2검사탄성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
a body part supported by a guide block provided in the probe unit and made of a conductive material;
an inspection contact part integrally formed on one end of the body part and in contact with an inspection object to transmit an electrical signal;
a connection contact part integrally formed on the other end of the body part and in contact with a flexible printed circuit (FPC) to transmit an electrical signal;
an inspection elastic part provided between the body part and the inspection contact part to offset the impact generated during the inspection operation; and
and a connection elastic part provided between the main body part and the connection contact part to provide an elastic force for pressing the connection contact part to the FPC,
The inspection elastic unit,
a first inspection elastic part provided between the first body part of the body part and the first inspection contact part of the inspection contact part, and for offsetting an impact generated during the inspection operation; and
and a second inspection elastic part provided between the second body part of the main body and the second inspection contact part of the inspection contact part, and a second inspection elastic part for canceling an impact generated during the inspection operation.
제1항에 있어서, 상기 본체부는,
상기 프로브유닛의 블록본체 중앙부에 설치되는 상기 가이드블록의 제1블록과 제1커버 사이에 개재되는 상기 제1본체부; 및
상기 블록본체 양측부에 설치되는 상기 가이드블록의 제2블록과 제2커버 사이에 개재되는 상기 제2본체부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
According to claim 1, wherein the body portion,
the first body portion interposed between the first block and the first cover of the guide block installed in the central portion of the block body of the probe unit; and
and the second body portion interposed between the second block and the second cover of the guide block installed on both sides of the block body.
제2항에 있어서, 상기 검사접점부는,
상기 제1본체부 일단으로부터 연장되고, 검사작동에 의해 상기 프로브유닛이 검사대상물에 안착되면 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결되는 상기 제1검사접점부; 및
상기 제2본체부 일단으로부터 연장되고, 검사작동에 의해 상기 프로브유닛이 검사대상물에 안착되면 검사대상물과 접촉되어 전기적으로 연결되는 상기 제2검사접점부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
According to claim 2, wherein the inspection contact portion,
the first inspection contact part extending from one end of the first body part and electrically connected to the inspection object by being in contact with the inspection object when the probe unit is seated on the inspection object by an inspection operation; and
and the second inspection contact part extending from one end of the second body part and electrically connected to the inspection object by being in contact with the inspection object when the probe unit is seated on the inspection object by an inspection operation.
제3항에 있어서, 상기 연결접점부는,
상기 제1본체부의 타단으로부터 연장되고, 상기 프로브유닛에 설치되는 상기 FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되는 제1연결접점부; 및
상기 제2본체부 타단으로부터 연장되고, 상기 프로브유닛에 설치되는 상기 FPC와 접촉되어 전기적으로 연결되는 제2연결접점부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
The method of claim 3, wherein the connecting contact portion,
a first connection contact part extending from the other end of the first body part and electrically connected to the FPC installed in the probe unit; and
and a second connection contact part extending from the other end of the second body part and electrically connected to the FPC installed in the probe unit.
삭제delete 제4항에 있어서, 상기 제1검사탄성부는,
상기 제1검사접점부를 따라 길게 형성되는 제1탄성홀부; 및
상기 제1탄성홀부가 상기 제1본체부 측으로 굴곡되어 이루어지는 탄성굴곡부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
According to claim 4, The first inspection elastic portion,
a first elastic hole formed long along the first inspection contact portion; and
The probe pin according to claim 1, wherein the first elastic hole portion includes an elastically curved portion formed by bending toward the first body portion.
제4항에 있어서,
상기 제2검사탄성부는, 상기 제2검사접점부와 상기 제2본체부 사이의 형성되는 굴곡부가 내측 방향으로 오목하게 형성되어 이루어지는 탄성홈부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
5. The method of claim 4,
The second inspection elastic part includes an elastic groove part in which a bent part formed between the second inspection contact part and the second body part is concave in an inward direction.
제4항에 있어서, 상기 연결탄성부는,
상기 제1본체부와 상기 제1연결접점부 사이에 구비되고, 상기 제1연결접점부를 상기 FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하는 제1연결탄성부; 및
상기 제2본체부와 상기 제2연결접점부 사이에 구비되고, 상기 제2연결접점부를 상기 FPC 측으로 가압하는 탄성력을 제공하는 제2연결탄성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
According to claim 4, wherein the connection elastic portion,
a first connection elastic part provided between the first body part and the first connection contact part and providing an elastic force for pressing the first connection contact part toward the FPC; and
and a second connection elastic part provided between the second body part and the second connection contact part and providing an elastic force for pressing the second connection contact part toward the FPC.
제8항에 있어서, 상기 제1연결탄성부는,
상기 제1연결접점부가 상기 제1본체부에 연결되는 부위에 형성되는 제2탄성홀부; 및
상기 제2탄성홀부 외측에 상기 제2탄성홀부를 감싸는 모양으로 간격을 유지하도록 형성되는 제3탄성홀부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
The method of claim 8, wherein the first connection elastic portion,
a second elastic hole portion formed in a portion where the first connection contact portion is connected to the first body portion; and
and a third resilient hole portion formed outside the second resilient hole portion to maintain a gap in a shape surrounding the second resilient hole portion.
제8항에 있어서,
상기 제2연결탄성부는, 상기 제2본체부와 상기 제2연결접점부를 물결모양으로 연결하는 주름패널을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀.
9. The method of claim 8,
The second connecting elastic portion, probe pin, characterized in that it comprises a corrugated panel for connecting the second body portion and the second connecting contact portion in a wavy shape.
프로브 검사기에 설치되고, 검사작동이 진행되면 검사대상물에 안착되는 블록본체;
상기 블록본체에 안착되고, 일측으로 연장되어 전기적신호를 전달하는 FPC조립체;
상기 블록본체에 설치되는 가이드블록;
상기 가이드블록에 안착되고, 일단은 검사대상물 측으로 연장되고, 타단은 상기 FPC와 연결되어 검사대상물과 상기 FPC를 전기적으로 연결하는 프로브핀; 및
상기 프로브핀이 상기 가이드블록 또는 상기 블록본체의 정확한 부분에 설치되도록 상기 프로브핀을 구속하는 안착고정부를 포함하고,
상기 가이드블록은,
상기 블록본체 중앙부에 설치되고, 상기 프로브핀의 제1핀부재를 지지하는 제1블록; 및
상기 블록본체의 양측부에 설치되고, 상기 프로브핀의 제2핀부재를 지지하는 제2블록을 포함하고,
상기 제1블록은,
상기 제1핀부재의 제1검사접점부를 지지하는 제1돌출부;
상기 제1검사접점부 및 제1탄성부를 지지하는 제2돌출부;
상기 제1핀부재의 제1본체부를 지지하는 제3돌출부;
상기 제1핀부재의 제1고정홈부에 삽입되어 상기 제1본체부를 지지하는 제1고정돌기; 및
상기 제1본체부를 상기 제1고정돌기 측으로 가압하여 고정시키는 고정블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비하는 프로브유닛.
a block body installed on the probe inspection machine and seated on the inspection object when the inspection operation is in progress;
an FPC assembly seated on the block body and extending to one side to transmit an electrical signal;
a guide block installed on the block body;
a probe pin seated on the guide block, one end extending toward the inspection object, and the other end connected to the FPC to electrically connect the inspection object and the FPC; and
and a seating fixing part for restraining the probe pin so that the probe pin is installed on the guide block or an exact part of the block body,
The guide block is
a first block installed in the central portion of the block body and supporting the first pin member of the probe pin; and
and a second block installed on both sides of the block body and supporting the second pin member of the probe pin,
The first block is
a first protrusion for supporting the first inspection contact portion of the first pin member;
a second protrusion for supporting the first inspection contact portion and the first elastic portion;
a third protrusion for supporting the first body of the first pin member;
a first fixing protrusion inserted into the first fixing groove of the first pin member to support the first body portion; and
A probe unit having a probe pin, characterized in that it includes a fixing block for fixing the first body portion by pressing toward the first fixing protrusion.
삭제delete 삭제delete 제11항에 있어서, 상기 제2블록은,
상기 제2핀부재의 제2검사접점부의 단부를 지지하는 제4돌출부;
상기 제2검사접점부의 중앙부를 지지하는 제5돌출부;
상기 제2핀부재의 제2연결접점부 및 제2연결탄성부를 지지하는 제6돌출부; 및
상기 제2핀부재의 제2고정홈부에 삽입되어 상기 제2핀부재의 제2본체부를 지지하는 제2고정돌기를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비하는 프로브유닛.
The method of claim 11, wherein the second block,
a fourth protrusion for supporting an end of the second inspection contact portion of the second pin member;
a fifth protrusion supporting a central portion of the second inspection contact portion;
a sixth protrusion for supporting the second connecting contact portion and the second connecting elastic portion of the second pin member; and
and a second fixing protrusion inserted into the second fixing groove of the second pin member to support the second body of the second pin member.
제14항에 있어서, 상기 안착고정부는,
상기 제1블록에 구비되고, 상기 제1핀부재의 복수 부분을 고정시키는 제1안착고정부; 및
상기 제2블록에 구비되고, 상기 제2핀부재의 복수 부분을 고정시키는 제2안착고정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비하는 프로브유닛.

15. The method of claim 14, wherein the seating fixing portion,
a first seating fixing part provided in the first block and fixing a plurality of parts of the first pin member; and
A probe unit having a probe pin, which is provided in the second block and includes a second seating fixing part for fixing a plurality of parts of the second pin member.

제15항에 있어서, 상기 제1안착고정부는,
상기 제1돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1검사접점부를 구속하는 제1안착홈부;
상기 제2돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1검사접점부 및 상기 제1핀부재의 제1검사탄성부를 구속하는 제2안착홈부;
상기 제3돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1핀부재의 제1연결접점부를 구속하는 제3안착부;
상기 제1고정돌기에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1고정홈부를 구속하는 제4안착홈부; 및
상기 고정블록에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제1본체부를 구속하는 제5안착홈부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비하는 프로브유닛.
The method of claim 15, wherein the first seating fixing part,
a first seating groove portion formed in a plurality of the first protrusion at regular intervals and constraining the first inspection contact portion;
a second seating groove portion formed in a plurality of the second protrusion at regular intervals and constraining the first inspection contact portion and the first inspection elastic portion of the first pin member;
a third seating portion formed in a plurality of the third protrusion at regular intervals and constraining the first connection contact portion of the first pin member;
a plurality of fourth seating grooves formed on the first fixing protrusions at regular intervals and constraining the first fixing grooves; and
A probe unit having a probe pin, characterized in that the plurality of fixing blocks are formed at regular intervals and include a fifth seating groove portion for restraining the first body portion.
제15항에 있어서, 상기 제2안착고정부는,
상기 제4돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2검사접점부의 단부를 구속하는 제6안착홈부;
상기 제5돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2검사접점부의 중앙부를 구속하는 제7안착홈부;
상기 제2고정돌기에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2고정홈부를 구속하는 제8안착홈부; 및
상기 제6돌출부에 복수 개가 일정한 간격을 유지하며 형성되고, 상기 제2연결접점부를 구속하는 제9안착홈부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀을 구비하는 프로브유닛.
16. The method of claim 15, wherein the second seating fixing part,
a sixth seating groove portion formed in a plurality of the fourth protrusion at regular intervals and constraining an end of the second inspection contact portion;
a seventh seating groove portion formed in a plurality of the fifth protrusion at regular intervals and constraining a central portion of the second inspection contact portion;
an eighth seating groove portion formed in a plurality of the second fixing protrusions at regular intervals and constraining the second fixing groove; and
A probe unit having a probe pin, characterized in that a plurality of the sixth protrusions are formed at regular intervals and include a ninth seating groove portion for restraining the second connection contact portion.
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