KR20210008253A - Socket for testing product - Google Patents

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KR20210008253A
KR20210008253A KR1020190084312A KR20190084312A KR20210008253A KR 20210008253 A KR20210008253 A KR 20210008253A KR 1020190084312 A KR1020190084312 A KR 1020190084312A KR 20190084312 A KR20190084312 A KR 20190084312A KR 20210008253 A KR20210008253 A KR 20210008253A
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KR
South Korea
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connector
product
test
nest
base plate
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Application number
KR1020190084312A
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Korean (ko)
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김현환
김명준
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삼성디스플레이 주식회사
위드시스템 주식회사
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Abstract

Provided is a socket for inspecting a product which comprises: a base plate including a seating groove wherein a product to be inspected is seated and a nest wherein a connector of the product is seated; and a cover including a cover body hingedly-coupled to the base plate, a test connector provided on the cover body and electrically connected to the connector of the product when the cover body moves to the base plate, and a test module connected to the test connector and transmitting a test signal to the test connector. The nest may be provided on a surface of the base plate on which the seating groove is provided.

Description

제품 검사용 소켓{SOCKET FOR TESTING PRODUCT}Socket for product inspection{SOCKET FOR TESTING PRODUCT}

본 발명은 제품 검사용 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a socket for product inspection.

일반적으로 대부분의 전자 제품은 다수개의 전자 부품들이 조립되어 하나의 완성된 전자 제품을 이루며, 이와 같은 방식으로 전자 제품을 제조할 경우 제조 시간 및 생산 원가를 크게 감소시킬 수 있게 된다.In general, in most electronic products, a plurality of electronic components are assembled to form one completed electronic product, and when electronic products are manufactured in this manner, manufacturing time and production cost can be greatly reduced.

이와 같은 효과를 구현하기 위해서는 완성된 전자 제품을 이루는 각 전자 부품의 신뢰성을 테스트 해야 하며 전자 부품의 빠르고 정확한 테스트를 수행하기 위해서는 전자 부품을 테스트하는 검사용 소켓(test socket)을 필요로 한다.In order to implement such an effect, the reliability of each electronic component constituting a completed electronic product must be tested, and in order to perform a quick and accurate test of the electronic component, a test socket for testing the electronic component is required.

검사용 소켓을 이용하여 디스플레이 장치의 디스플레이 패널, 휴대폰의 카메라 부품, 디지털 TV의 부품, 반도체 칩 등 다양한 부품들을 테스트할 수 있다.Various parts such as a display panel of a display device, a camera part of a mobile phone, a part of a digital TV, and a semiconductor chip can be tested using the test socket.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 검사 대상인 제품을 보다 용이하게 테스트할 수 있는 제품 검사용 소켓을 제공하는 것이다.The problem to be solved by the present invention is to provide a socket for product inspection that can more easily test a product to be inspected.

본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓은 검사가 수행될 제품이 안착되는 안착홈과 상기 제품의 커넥터가 안착되는 네스트를 포함하는 베이스 플레이트; 및 상기 베이스 플레이트와 힌지 결합되는 커버 몸체, 상기 커버 몸체에 제공되며 상기 커버 몸체가 상기 베이스 플레이트로 이동 시에 상기 제품의 커넥터와 전기적으로 접속되는 테스트 커넥터, 및 상기 테스트 커넥터와 연결되며 상기 테스트 커넥터에 테스트 신호를 전달하는 테스트 모듈을 포함하는 커버를 포함할 수 있다. 상기 네스트는 상기 안착홈이 제공되는 상기 베이스 플레이트의 면 상에 제공될 수 있다.The socket for product inspection according to an embodiment of the present invention includes a base plate including a seating groove in which a product to be inspected is seated and a nest in which a connector of the product is seated; And a cover body hinged to the base plate, a test connector provided on the cover body and electrically connected to a connector of the product when the cover body moves to the base plate, and a test connector connected to the test connector and the test connector. It may include a cover including a test module for transmitting a test signal to. The nest may be provided on the surface of the base plate provided with the seating groove.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제품 검사용 소켓은 상기 제품 커넥터와 접하는 상기 네스트 면에 제공되며, 상기 제품 커넥터를 얼라인하는 자성 부재를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the product inspection socket is provided on the nest surface in contact with the product connector, and may further include a magnetic member for aligning the product connector.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제품 검사용 소켓은 상기 제품 커넥터와 접하는 상기 네스트 면의 반대면과 상기 베이스 플레이트 사이에 제공되는 탄성 부재를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the product inspection socket may further include an elastic member provided between the base plate and a surface opposite to the nest surface in contact with the product connector.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 탄성 부재는 2 이상의 스프링을 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the elastic member may include two or more springs.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 네스트는 상기 제품 커넥터의 일단부가 안착되는 제1 네스트와 상기 제품 커넥터의 타단부가 안착되는 제2 네스트를 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the nest may include a first nest on which one end of the product connector is seated and a second nest on which the other end of the product connector is seated.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 커넥터는 상기 제1 네스트에 안착된 상기 제품 커넥터의 일단부와 접속되는 제1 테스트 커넥터와 상기 제2 네스트에 안착된 상기 제품 커넥터의 타단부와 접속되는 제2 테스트 커넥터를 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the test connector is connected to a first test connector connected to one end of the product connector seated in the first nest and the other end of the product connector seated on the second nest. It may include a second test connector.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제품 검사용 소켓은 상기 테스트 커넥터 상에 제공되며, 상기 제품 커넥터와 전기적으로 컨택되는 도전성 부재를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the product inspection socket may further include a conductive member provided on the test connector and electrically contacting the product connector.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 모듈은 상기 제1 테스트 커넥터에 연결되어 테스트 신호를 전달하는 제1 테스트 모듈과 상기 제2 테스트 커넥터에 연결되어 테스트 신호를 전달하는 제2 테스트 모듈을 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the test module includes a first test module connected to the first test connector to transmit a test signal and a second test module connected to the second test connector to transmit a test signal. can do.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제품 검사용 소켓은 상기 안착홈이 제공되는 상기 베이스 플레이트 면의 반대면에 제공되며, 상기 테스트 모듈과 전기적으로 연결되어 외부로부터 공급 받는 테스트 신호를 상기 테스트 모듈로 전달하는 회로 기판을 더 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the product inspection socket is provided on the opposite surface of the base plate surface where the mounting groove is provided, and is electrically connected to the test module to transmit a test signal supplied from the outside to the test module. It may further include a circuit board transferred to.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제품 검사용 소켓은 상기 회로 기판의 단자와 상기 테스트 모듈의 단자를 전기적으로 연결하는 연성회로기판을 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the product inspection socket may further include a flexible circuit board electrically connecting a terminal of the circuit board and a terminal of the test module.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 베이스 플레이트의 동일 면 상에 안착홈과 네스트가 마련됨으로써, 제품 검사 시간을 단축시킬 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by providing a seating groove and a nest on the same surface of the base plate, it is possible to shorten the product inspection time.

도 1a 및 도 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 정면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 측면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 배면도이다.
도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓에서 베이스 플레이트와 네스트를 분해한 사시도이다.
도 6b는 본 발명의 일 실시예에 따른 네스트의 하면을 나타낸 사시도이다.
도 7a 및 도 7b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓을 이용하여 제품을 검사하는 것을 나타낸 도면이다.1A and 1B are perspective views of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.
3 is a front view of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.
4 is a side view of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.
5 is a rear view of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.
6A is an exploded perspective view of a base plate and a nest in a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.
6B is a perspective view showing a lower surface of a nest according to an embodiment of the present invention.
7A and 7B are diagrams illustrating a product inspection using a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.In the present invention, various modifications may be made and various forms may be applied, and specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to a specific form disclosed, it should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.

각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. In describing each drawing, similar reference numerals have been used for similar elements. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown to be enlarged than actual for clarity of the present invention. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. These terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another component. For example, without departing from the scope of the present invention, a first element may be referred to as a second element, and similarly, a second element may be referred to as a first element. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise.

본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 또한, 본 명세서에 있어서, 어느 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 상(on)에 형성되었다고 할 경우, 상기 형성된 방향은 상부 방향만 한정되지 않으며 측면이나 하부 방향으로 형성된 것을 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "아래에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.In the present application, terms such as "comprise" or "have" are intended to designate the presence of features, numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but one or more other features. It is to be understood that the presence or addition of elements or numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof, does not preclude in advance the possibility of being added. Further, when a part such as a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on" another part, this includes not only the case where the other part is "directly above", but also the case where there is another part in the middle. In addition, in the present specification, when a portion of a layer, film, region, plate, etc. is formed on another portion, the formed direction is not limited only to the upper direction, and includes those formed in the side or lower direction. . Conversely, when a part such as a layer, film, region, plate, etc. is said to be "below" another part, this includes not only the case where the other part is "directly below", but also the case where there is another part in the middle.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a 및 도 1b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 평면도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 정면도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 측면도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓의 배면도이다.1A and 1B are perspective views of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. It is a front view of the socket for product inspection according to, Figure 4 is a side view of the socket for product inspection according to an embodiment of the present invention, Figure 5 is a rear view of the socket for product inspection according to an embodiment of the present invention.

도 1a 내지 도 5를 참조하면, 제품 검사용 소켓(1)은 베이스 플레이트(10)와 커버(20)를 포함할 수 있다.1A to 5, the socket 1 for product inspection may include a base plate 10 and a cover 20.

베이스 플레이트(10)는 판상의 형태를 가질 수 있으며, 피검사체인 제품(P)의 형태에 따라 직사각형, 원형 등의 다양한 형태를 가질 수 있다. 이때, 제품(P)은 다양한 전자부품일 수 있으며, 예를 들면 제품(P)은 표시 장치의 표시 패널일 수 있다.The base plate 10 may have a plate shape, and may have various shapes, such as a rectangle or a circle, depending on the shape of the product P that is to be inspected. In this case, the product P may be various electronic components. For example, the product P may be a display panel of a display device.

베이스 플레이트(10)의 일면 상에는 검사를 수행하고자 하는 제품(P)이 안착되는 안착홈(11)이 제공될 수 있다. 안착홈(11)의 형태는 제품(P)의 형태와 실질적으로 동일할 수 있고, 안착홈(11)의 깊이는 제품(P)의 두께와 실질적으로 동일할 수 있다. 제품(P)을 안착홈(11)에 용이하게 위치시키거나 안착홈(11)에서 빼낼 수 있도록 하는 다수의 홈 또는 홀이 베이스 플레이트(10)에 제공될 수 있다.On one surface of the base plate 10, a seating groove 11 in which a product P to be inspected is seated may be provided. The shape of the seating groove 11 may be substantially the same as the shape of the product P, and the depth of the seating groove 11 may be substantially the same as the thickness of the product P. A plurality of grooves or holes may be provided in the base plate 10 to allow the product P to be easily positioned in the seating groove 11 or removed from the seating groove 11.

본 발명의 다양한 실시예에서, 제품 검사용 소켓(1)은 안착홈(11)이 제공되는 베이스 플레이트(10)의 면에 제공되며, 안착홈(11)에 위치하는 제품(P)을 고정하는 제품 고정부(14)를 더 포함할 수 있다. 제품 고정부(14)는 안착홈(11)에 인접하여 제공될 수 있으며, 안착홈(11)에 위치한 제품(P)을 임시적으로 안착홈(11)에 고정시킬 수 있다. 이때, 제품 고정부(14)에 의해 제품(P)이 안착홈(11)에 고정되면 제품 고정부(14)의 버튼(141)이 돌출될 수 있고, 제품(P)의 검사가 완료된 후에 버튼(141)을 누름으로써 제품(P)의 고정을 해제할 수 있다.In various embodiments of the present invention, the socket for product inspection (1) is provided on the surface of the base plate (10) provided with the seating groove (11), and fixes the product (P) located in the seating groove (11). It may further include a product fixing portion 14. The product fixing part 14 may be provided adjacent to the seating groove 11, and the product P located in the seating groove 11 may be temporarily fixed to the seating groove 11. At this time, when the product P is fixed to the mounting groove 11 by the product fixing part 14, the button 141 of the product fixing part 14 may protrude, and after the product P is inspected, the button By pressing (141), the fixing of the product (P) can be released.

베이스 플레이트(10)의 일면 상에는 안착홈(11)에 위치한 제품의 커넥터(PT)가 안착되는 네스트(12)가 제공될 수 있다. 이때, 안착홈(11)과 네스트(12)는 베이스 플레이트(10)의 동일 면 상에 제공될 수 있다. 안착홈(11)과 네스트(12)를 베이스 플레이트(10)의 동일 면 상에 제공함으로써, 제품(P)을 안착홈(11)에 위치시키고 바로 제품의 커넥터(PT)를 네스트(12)에 안착시킬 수 있다. 이를 통해, 제품(P) 검사 시간을 효과적으로 단축시킬 수 있다. 네스트(12)는 안착홈(11)에 인접하여 제공되며, 네스트(12)의 형태는 제품 커넥터(PT)의 형태에 따라 변경될 수 있다.On one surface of the base plate 10, a nest 12 on which the connector PT of the product located in the mounting groove 11 is mounted may be provided. In this case, the seating groove 11 and the nest 12 may be provided on the same surface of the base plate 10. By providing the seating groove (11) and the nest (12) on the same side of the base plate (10), the product (P) is placed in the seating groove (11) and the connector (PT) of the product is immediately attached to the nest (12). Can be settled. Through this, it is possible to effectively shorten the inspection time of the product P. The nest 12 is provided adjacent to the seating groove 11, and the shape of the nest 12 may be changed according to the shape of the product connector PT.

본 발명의 다양한 실시예에서, 제품의 커넥터(PT)와 접하는 네스트(12) 면에는 자성 부재(13)가 제공될 수 있다. 자성 부재(13)는 제품 커넥터(PT)에 인력을 가하여, 네스트(12)의 소정 위치에 제품 커넥터(PT)를 임시적으로 고정시킬 수 있다. 즉, 자성 부재(13)는 후술하는 테스트 커넥터(22)와 정밀하게 컨택할 수 있는 위치로 제품 커넥터(PT)를 얼라인시킬 수 있다.In various embodiments of the present invention, a magnetic member 13 may be provided on the surface of the nest 12 in contact with the connector PT of the product. The magnetic member 13 may temporarily fix the product connector PT at a predetermined position of the nest 12 by applying an attractive force to the product connector PT. That is, the magnetic member 13 may align the product connector PT to a position capable of making precise contact with the test connector 22 to be described later.

자성 부재(13)는 제품 커넥터(PT)가 접하는 네스트(12) 면 상으로 돌출되지 않도록, 네스트(12)에 삽입되는 형태로 제공될 수 있다. 이 때, 자성 부재(13)의 일부가 네스트(12) 표면에 노출되는 형태로 네스트(12)에 삽입되거나 또는 네스트(12) 내부에 자성 부재(13)가 삽입된 형태로 제공될 수 있다. 또한, 자성 부재(13)는 네스트(12)에 복수로 제공될 수 있다.The magnetic member 13 may be provided in a form inserted into the nest 12 so that the product connector PT does not protrude onto the surface of the nest 12 in contact with the product connector PT. In this case, a part of the magnetic member 13 may be inserted into the nest 12 in a form exposed to the surface of the nest 12 or may be provided in a form in which the magnetic member 13 is inserted inside the nest 12. In addition, the magnetic member 13 may be provided in plural in the nest 12.

자성 부재(13)가 제품 커넥터(PT)가 접하는 네스트(12) 면 상으로 돌출되지 않도록 함으로써, 네스트(12)에 안착된 제품 커넥터(PT)와 테스트 커넥터(22)의 컨택에 공차가 발생되는 것을 방지할 수 있다.By preventing the magnetic member 13 from protruding onto the surface of the nest 12 in contact with the product connector PT, a tolerance is generated in the contact between the product connector PT seated on the nest 12 and the test connector 22. Can be prevented.

자성 부재(13)는 당업계에서 사용되는 자석을 제한 없이 사용할 수 있으며, 예를 들면 알리코 자석, 훼라이트 자석, 네오디움 자석, 고무 자석 등을 사용할 수 있으나, 자석의 종류를 한정하는 것은 아니다.The magnetic member 13 may use a magnet used in the art without limitation, and for example, an alico magnet, a ferrite magnet, a neodium magnet, a rubber magnet, etc. may be used, but the type of magnet is not limited.

제품 커넥터(PT)는 일단부와 타단부를 가질 수 있으며, 네스트(12)는 제품 커넥터(PT)의 일단부가 안착하는 제1 네스트(12A)와 제품 커넥터(PT)의 타단부가 안착하는 제2 네스트(12B)를 포함할 수 있다.The product connector PT may have one end and the other end, and the nest 12 includes a first nest 12A on which one end of the product connector PT is seated and a second end on which the other end of the product connector PT is seated. It may include 2 nests 12B.

베이스 플레이트(10) 상에 제1 네스트(12A)와 제2 네스트(12B)를 제공함으로써, 제품 커넥터(PT)의 일단부와 타단부를 효과적으로 얼라인 및 고정시킬 수 있다. 또한, 제1 네스트(12A)와 제2 네스트(12B)를 서로 분리시켜 베이스 플레이트(10) 상에 제공함으로써, 제품 커넥터(PT)의 일단부와 타단부를 네스트(12)에 안착할 때 서로 영향을 미치는 것을 최소화할 수 있다.By providing the first nest 12A and the second nest 12B on the base plate 10, one end and the other end of the product connector PT can be effectively aligned and fixed. In addition, the first nest 12A and the second nest 12B are separated from each other and provided on the base plate 10, so that one end and the other end of the product connector PT are placed on the nest 12. You can minimize the impact.

본 발명의 다양한 실시예에서 제품 검사용 소켓(1)은 베이스 플레이트(10)를 컨베이어 벨트 또는 작업대에 고정하는 고정홀(15)을 포함할 수 있다. 고정홀(15)은 베이스 플레이트(10)의 모서리 부분에 제공될 수 있으며, 적어도 2 개의 고정홀(15)이 마련될 수 있다.In various embodiments of the present invention, the socket for product inspection 1 may include a fixing hole 15 for fixing the base plate 10 to a conveyor belt or a worktable. The fixing hole 15 may be provided at a corner portion of the base plate 10, and at least two fixing holes 15 may be provided.

커버(20)는 힌지부(30)를 통해 베이스 플레이트(10)와 힌지 결합될 수 있다. 힌지부(30)는 힌지축(31), 힌지 블록(32), 탄성체(33)를 포함할 수 있다. 테스트 커넥터(22)가 제공되는 커버 몸체(21)의 면 상에 힌지 블록(32)이 구비될 수 있고, 네스트(12)가 제공되는 베이스 플레이트(10)의 면 상에 단턱이 구비될 수 있다. 힌지 블록(32)과 단턱에는 힌지축(31)이 삽입되는 힌지홀이 형성될 수 있고, 힌지축(31)이 힌지 블록(32)과 단턱의 힌지홀에 삽입됨으로써, 커버(20)는 베이스 플레이트(10)와 힌지 결합될 수 있다. 힌지부(30)를 통해 커버(20)는 베이스 플레이트(10)에 대하여 힌지 이동될 수 있다.The cover 20 may be hinged to the base plate 10 through the hinge part 30. The hinge part 30 may include a hinge shaft 31, a hinge block 32, and an elastic body 33. A hinge block 32 may be provided on the surface of the cover body 21 on which the test connector 22 is provided, and a stepped may be provided on the surface of the base plate 10 on which the nest 12 is provided. . A hinge hole into which the hinge shaft 31 is inserted may be formed in the hinge block 32 and the stepped jaw, and the hinge shaft 31 is inserted into the hinge block 32 and the hinge hole of the stepped jaw, so that the cover 20 is It may be hinged to the plate 10. The cover 20 may be hinged with respect to the base plate 10 through the hinge part 30.

탄성체(33)는 커버(20)를 베이스 플레이트(10)와 이격되도록 하는 복원력을 가지고 있으며, 후술하는 커버 고정 부재(261)가 커버 고정 부재 체결부(16)로부터 해제 시에 탄성체(33)의 복원력을 통해 커버(20)가 원위치로 복귀할 수 있다. The elastic body 33 has a restoring force to separate the cover 20 from the base plate 10, and when the cover fixing member 261 to be described later is released from the cover fixing member fastening part 16, the elastic body 33 The cover 20 may return to its original position through the restoring force.

이때, 도 1a를 참조하면 탄성체(33)는 힌지축(31)에 끼워지며, 커버 몸체(21)와 베이스 플레이트(10) 사이에 제공될 수 있다. 또한 도면에는 도시하지 않았으나, 서로 마주하는 커버 몸체(21)의 면과 베이스 플레이트(10) 면을 연결하는 형태로 탄성체(33)가 제공될 수도 있다. 탄성체(33)는 2 이상의 코일 스프링을 포함할 수 있다.In this case, referring to FIG. 1A, the elastic body 33 is fitted to the hinge shaft 31 and may be provided between the cover body 21 and the base plate 10. In addition, although not shown in the drawings, the elastic body 33 may be provided in a form that connects the surface of the cover body 21 and the surface of the base plate 10 facing each other. The elastic body 33 may include two or more coil springs.

커버(20)는 외력을 통해 베이스 플레이트(10)로 힌지 이동될 수 있다. 예를 들면, 작업자가 힘을 가하여 커버(20)를 베이스 플레이트(10) 측으로 이동시킬 수 있고, 별도의 모터와 같은 구동부(미도시)가 마련되어 커버(20)를 베이스 플레이트(10) 측으로 이동시킬 수도 있다.The cover 20 may be hingedly moved to the base plate 10 through an external force. For example, an operator may apply force to move the cover 20 toward the base plate 10, and a drive unit (not shown) such as a separate motor is provided to move the cover 20 toward the base plate 10. May be.

커버(20)는 테스트 커넥터(22)와 테스트 모듈(24)을 포함할 수 있다. 테스트 커넥터(22)는 베이스 플레이트(10)를 마주하는 커버 몸체(21) 면 상에 제공될 수 있으며, 네스트(12)와 대응되는 위치의 커버 몸체(21) 영역에 구비될 수 있다. 즉, 커버(20)를 베이스 플레이트(10) 측으로 힌지 이동 시, 테스트 커넥터(22)는 제품 커넥터(PT)가 안착된 네스트(12)와 접촉될 수 있다.The cover 20 may include a test connector 22 and a test module 24. The test connector 22 may be provided on a surface of the cover body 21 facing the base plate 10, and may be provided in an area of the cover body 21 at a position corresponding to the nest 12. That is, when the cover 20 is hinged toward the base plate 10, the test connector 22 may contact the nest 12 on which the product connector PT is seated.

본 발명의 다양한 실시예에서, 테스트 커넥터(22)는 제1 네스트(12A)에 안착된 제품 커넥터(PT)의 일단부와 접속되는 제1 테스트 커넥터(22A) 및 제2 네스트(12B)에 안착된 제품 커넥터(PT)의 타단부와 접속되는 제2 테스트 커넥터(22B)를 포함할 수 있다.In various embodiments of the present invention, the test connector 22 is seated in the first test connector 22A and the second nest 12B connected with one end of the product connector PT seated in the first nest 12A. It may include a second test connector 22B connected to the other end of the product connector PT.

커버 몸체(21) 상에 제1 테스트 커넥터(22A)와 제2 테스트 커넥터(22B)를 제공함으로써, 네스트(12)에 안착되는 제품 커넥터(PT)의 일단부와 타단부에 테스트 신호를 보다 효과적으로 전달할 수 있다. 또한, 제1 테스트 커넥터(22A)와 제2 테스트 커넥터(22B)를 서로 분리시켜 커버 몸체(21) 상에 제공함으로써, 제품 커넥터(PT)와 접촉 시의 공차를 효과적으로 억제할 수 있다.By providing the first test connector 22A and the second test connector 22B on the cover body 21, the test signal is more effectively transmitted to one end and the other end of the product connector PT seated on the nest 12. I can deliver. In addition, by separating the first test connector 22A and the second test connector 22B from each other and providing them on the cover body 21, the tolerance when contacting the product connector PT can be effectively suppressed.

본 발명의 다양한 실시예에서, 제품 검사용 소켓(1)은 테스트 커넥터(22) 상에 제공되며, 제품 커넥터(PT)와 전기적으로 컨택되는 도전성 부재(23)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 제1 테스트 커넥터(22A)와 제2 테스트 커넥터(22B) 각각에 도전성 부재(23A, 23B)가 구비될 수 있다. 커버(20)가 베이스 플레이트(10) 측으로 이동하면, 제1 테스트 커넥터(22A)의 제1 도전성 부재(23A)는 제1 네스트(12A)에 안착된 제품 커넥터(PT)의 일단부와 접촉되고, 제2 테스트 커넥터(22B)의 제2 도전성 부재(23B)는 제2 네스트(12B)에 안착된 제품 커넥터(PT)의 타단부와 접촉될 수 있다.In various embodiments of the present invention, the product inspection socket 1 is provided on the test connector 22 and may include a conductive member 23 in electrical contact with the product connector PT. Specifically, conductive members 23A and 23B may be provided in each of the first test connector 22A and the second test connector 22B. When the cover 20 moves toward the base plate 10, the first conductive member 23A of the first test connector 22A is in contact with one end of the product connector PT seated on the first nest 12A. , The second conductive member 23B of the second test connector 22B may contact the other end of the product connector PT seated on the second nest 12B.

도전성 부재(23)는 핀 형태로 제공될 수 있으며, 테스트 커넥터(22)의 도전성 부재(23)가 제품 커넥터(PT)에 접촉하는 방식을 통해 제품(P)의 테스트를 수행할 수 있다.The conductive member 23 may be provided in the form of a pin, and the product P may be tested through a method in which the conductive member 23 of the test connector 22 contacts the product connector PT.

테스트 모듈(24)은 테스트 커넥터(22)와 후술하는 회로 기판(40)을 전기적으로 연결한다. 즉, 테스트 모듈(24)은 회로 기판(40)으로부터 테스트 신호를 공급 받아, 테스트 커넥터(22)로 전달할 수 있다. 테스트 커넥터(22)와 네스트(12)에 안착된 제품 커넥터(PT)의 접속 시, 테스트 커넥터(22)로 공급된 테스트 신호는 제품 커넥터(PT)로 전달될 수 있다.The test module 24 electrically connects the test connector 22 and the circuit board 40 to be described later. That is, the test module 24 may receive a test signal from the circuit board 40 and transmit it to the test connector 22. When the test connector 22 and the product connector PT seated on the nest 12 are connected, a test signal supplied to the test connector 22 may be transmitted to the product connector PT.

테스트 모듈(24)은 테스트 커넥터(22)가 제공된 커버 몸체(21) 면(예를 들면, 커버 몸체(21) 하면)의 반대면(예를 들면, 커버 몸체(21) 상면) 상에 제공될 수 있으며, 회로 소자(미도시), 배선(미도시) 및 단자(25)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 테스트 모듈(24)의 회로 소자 및 배선은 커버 몸체(21) 상면 상에 제공되고, 테스트 모듈(24)의 단자(25)는 커버 몸체(21) 하면 상에 제공될 수 있다.The test module 24 is to be provided on the opposite surface (for example, the upper surface of the cover body 21) of the surface of the cover body 21 (for example, the lower surface of the cover body 21) provided with the test connector 22. In addition, a circuit element (not shown), a wiring (not shown), and a terminal 25 may be included. Specifically, circuit elements and wiring of the test module 24 may be provided on the upper surface of the cover body 21, and the terminal 25 of the test module 24 may be provided on the lower surface of the cover body 21.

테스트 모듈(24)은 제1 테스트 커넥터(22A)와 연결되어 테스트 신호를 전달하는 제1 테스트 모듈(24A) 및 제2 테스트 커넥터(22B)와 연결되어 테스트 신호를 전달하는 제2 테스트 모듈(24B)을 포함할 수 있다. 제1 테스트 모듈(24A)과 제2 테스트 모듈(24B)을 별도로 제공함으로써, 회로 기판(40)에서 공급 받은 테스트 신호를 제1 테스트 커넥터(22A)와 제2 테스트 커넥터(22B)에 효율적으로 전달할 수 있다.The test module 24 is connected to the first test connector 22A to transmit a test signal and a second test module 24B connected to the second test connector 22B to transmit a test signal. ) Can be included. By separately providing the first test module 24A and the second test module 24B, the test signal supplied from the circuit board 40 is efficiently transmitted to the first test connector 22A and the second test connector 22B. I can.

제1 테스트 모듈(24A)의 제1 단자(25A)는 후술하는 회로 기판(40)의 제1 단자(41A)와 전기적으로 연결되고, 제2 테스트 모듈(24B)의 제2 단자(25B)는 후술하는 회로 기판(40)의 제2 단자(41B)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first terminal 25A of the first test module 24A is electrically connected to the first terminal 41A of the circuit board 40 to be described later, and the second terminal 25B of the second test module 24B is It may be electrically connected to the second terminal 41B of the circuit board 40 to be described later.

본 발명의 다양한 실시예에서, 커버(20)는 커버 고정부(26)를 포함할 수 있다. 테스트 커넥터(22)의 도전성 부재(23)가 네스트(12)에 안착된 제품 커넥터(PT)에 접촉하는 위치까지 커버(20)가 베이스 플레이트(10) 측으로 이동하면, 커버 고정부(26)는 커버(20)가 해당 위치에 고정되도록 할 수 있다.In various embodiments of the present invention, the cover 20 may include a cover fixing portion 26. When the cover 20 moves toward the base plate 10 until the conductive member 23 of the test connector 22 contacts the product connector PT seated on the nest 12, the cover fixing portion 26 is The cover 20 can be fixed to the corresponding position.

커버 고정부(26)는 래버(262)와 커버 고정 부재(261)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 커버 고정 부재(261)는 커버 몸체(21) 하면으로부터 돌출된 갈고리 형태로 제공될 수 있다. 커버 고정 부재(261)는 베이스 플레이트(10)의 면 상에 돌출되어 제공된 커버 고정 부재 체결부(16)에 체결될 수 있고, 이를 통해 커버(20)의 위치가 고정될 수 있다. 래버(262)는 커버 고정 부재(261)와 연결되며, 래버(262)를 당김으로써 커버 고정 부재 체결부(16)와 커버 고정 부재(261)의 체결을 해제할 수 있다.The cover fixing part 26 may include a lever 262 and a cover fixing member 261. Specifically, the cover fixing member 261 may be provided in the form of a hook protruding from the lower surface of the cover body 21. The cover fixing member 261 may protrude on the surface of the base plate 10 and be fastened to the provided cover fixing member fastening part 16, through which the position of the cover 20 may be fixed. The lever 262 is connected to the cover fixing member 261, and by pulling the lever 262, the fastening of the cover fixing member fastening part 16 and the cover fixing member 261 can be released.

커버 고정 부재 체결부(16)와 커버 고정 부재(261)의 체결이 해제되면, 전술한 힌지부(30)의 탄성체(33)의 복원력을 통해, 커버(20)는 외력이 가해지기 전의 원위치로 복귀할 수 있다.When the fastening of the cover fixing member 16 and the cover fixing member 261 is released, the cover 20 returns to its original position before the external force is applied through the restoring force of the elastic body 33 of the hinge part 30 described above. You can return.

본 발명의 다양한 실시예에서, 제품 검사용 소켓(1)은 안착홈(11)이 제공되는 베이스 플레이트(10) 면(예를 들면, 베이스 플레이트(10) 상면)의 반대면(예를 들면, 베이스 플레이트(10) 하면)에 제공되며, 테스트 모듈(24)과 전기적으로 연결되어 외부로부터 공급 받는 테스트 신호를 테스트 모듈(24)로 전달하는 회로 기판(40)을 포함할 수 있다.In various embodiments of the present invention, the product inspection socket 1 is a surface opposite to the surface of the base plate 10 (for example, the upper surface of the base plate 10) on which the mounting groove 11 is provided (for example, It is provided on the lower surface of the base plate 10 ), and may include a circuit board 40 electrically connected to the test module 24 to transmit a test signal supplied from the outside to the test module 24.

제품(P)의 테스트를 수행하기 위하여 제품 검사용 소켓(1)을 작업대에 고정 시, 작업대 상에 마련된 테스트 신호 공급 단자(미도시)와 베이스 플레이트(10) 하면에 제공된 회로 기판(40)을 연결할 수 있다. 이후, 테스트 목적에 따라 회로 기판(40)에 다양한 테스트 신호를 공급할 수 있고, 회로 기판(40)에 공급된 테스트 신호는 테스트 모듈(24), 테스트 커넥터(22)를 경유하여 네스트(12)에 안착된 제품 커넥터(PT)로 전달될 수 있다.When fixing the product inspection socket 1 to the workbench to perform the test of the product P, the test signal supply terminal (not shown) provided on the workbench and the circuit board 40 provided on the lower surface of the base plate 10 I can connect. Thereafter, various test signals may be supplied to the circuit board 40 according to the test purpose, and the test signals supplied to the circuit board 40 are transmitted to the nest 12 via the test module 24 and the test connector 22. It can be delivered to the seated product connector (PT).

베이스 플레이트(10)의 하면에 회로 기판(40)이 제공되고, 회로 기판(40)의 단자는 베이스 플레이트(10)의 상면 상에 제공될 수 있다. 회로 기판(40)의 제1 단자(41A)는 제1 테스트 모듈(24A)의 제1 단자(25A)와 전기적으로 연결되고, 회로 기판(40)의 제2 단자(41B)는 제2 테스트 모듈(24B)의 제2 단자(25B)와 전기적으로 연결될 수 있다.The circuit board 40 may be provided on the lower surface of the base plate 10, and the terminals of the circuit board 40 may be provided on the upper surface of the base plate 10. The first terminal 41A of the circuit board 40 is electrically connected to the first terminal 25A of the first test module 24A, and the second terminal 41B of the circuit board 40 is a second test module. It may be electrically connected to the second terminal 25B of (24B).

본 발명의 다양한 실시예에서, 제품 검사용 소켓(1)은 상기 회로 기판(40)의 단자(41)와 테스트 모듈(24)의 단자(25)를 전기적으로 연결하는 연성회로기판(미도시)을 포함할 수 있다. 즉, 회로 기판(40)의 제1 단자(41A)와 제1 테스트 모듈(24A)의 제1 단자(25A)는 제1 연성회로기판(미도시)을 통해 연결되고, 회로 기판(40)의 제2 단자(41B)와 제2 테스트 모듈(24B)의 제2 단자(25B)는 제2 연성회로기판(미도시)을 통해 연결될 수 있다.In various embodiments of the present invention, the product inspection socket 1 is a flexible circuit board (not shown) that electrically connects the terminal 41 of the circuit board 40 and the terminal 25 of the test module 24 It may include. That is, the first terminal 41A of the circuit board 40 and the first terminal 25A of the first test module 24A are connected through a first flexible circuit board (not shown), and the circuit board 40 The second terminal 41B and the second terminal 25B of the second test module 24B may be connected through a second flexible circuit board (not shown).

회로 기판(40)의 단자(41)와 테스트 모듈(24)의 단자(25)를 전기적으로 연결하는 부재로 연성회로기판을 사용함으로써, 커버(20)의 힌지 이동 시에도 연성회로기판이 훼손되는 것을 방지할 수 있고, 테스트 신호를 효과적으로 전달할 수 있다.By using a flexible circuit board as a member that electrically connects the terminal 41 of the circuit board 40 and the terminal 25 of the test module 24, the flexible circuit board is damaged even when the hinge of the cover 20 is moved. Can be prevented, and test signals can be transmitted effectively.

도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓에서 베이스 플레이트와 네스트를 분해한 사시도이고, 도 6b는 본 발명의 일 실시예에 따른 네스트의 하면을 나타낸 사시도이다.6A is an exploded perspective view of a base plate and a nest in a socket for product inspection according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6B is a perspective view showing a lower surface of the nest according to an embodiment of the present invention.

도 6a 및 도 6b를 참조하면, 본 발명의 다양한 실시예에서 제품 커넥터(PT)와 접하는 네스트(12) 면(예를 들면, 네스트(12) 상면)의 반대면(예를 들면, 네스트(12) 하면)과 상기 베이스 플레이트(10) 사이에 탄성 부재(121)가 제공될 수 있다.6A and 6B, in various embodiments of the present invention, a surface opposite to the surface of the nest 12 (for example, the upper surface of the nest 12) in contact with the product connector PT (for example, the nest 12 ) Lower surface) and the base plate 10 may be provided with an elastic member 121 between.

네스트(12)와 베이스 플레이트(10) 사이에 탄성 부재(121)를 제공함으로써, 네스트(12) 상면에 제품 커넥터(PT)가 안착 시에 얼라인 공차가 발생되는 것을 방지하고, 테스트 커넥터(22)의 도전성 부재(23)가 제품 커넥터(PT)에 접촉 시에 접촉 공차가 발생되는 것을 효과적으로 억제할 수 있다. 나아가, 도전성 부재(23)와 제품 커넥터(PT)의 접촉 시에 탄성 부재(121)가 충격을 완화시켜, 제품 커넥터(PT)와 도전성 부재(23)가 훼손되는 것을 방지할 수 있다.By providing an elastic member 121 between the nest 12 and the base plate 10, the alignment tolerance is prevented from occurring when the product connector PT is seated on the upper surface of the nest 12, and the test connector 22 When the conductive member 23 of) contacts the product connector PT, a contact tolerance can be effectively suppressed. Further, when the conductive member 23 and the product connector PT are in contact with each other, the elastic member 121 may mitigate the impact, thereby preventing damage to the product connector PT and the conductive member 23.

상기 탄성 부재(121)는 2 이상의 스프링을 포함할 수 있다. 구체적으로, 제1 네스트(12A)와 제2 네스트(12B) 각각에 2 이상의 코일 스프링(121)이 제공될 수 있다. 도 6a 및 도 6b를 참조하면, 제1 네스트(12A)와 제2 네스트(12B) 각각의 하면에는 끼움부(IP)가 제공될 수 있으며, 베이스 플레이트(10)의 상면에는 상기 끼움부(IP)와 대응되는 형태의 끼움홀(IH)이 제공될 수 있다. 네스트(12)의 끼움부(IP)를 베이스 플레이트(10)의 끼움홀(IH)에 삽입하여, 베이스 플레이트(10) 상에서 네스트(12)의 위치를 고정할 수 있다. 한편, 네스트(12)의 하면과 베이스 플레이트(10) 상면에는 스프링홀(SH)이 제공되며, 스프링(121)이 상기 스프링홀(SH)에 위치할 수 있다. 이때, 네스트(12)의 화면과 베이스 플레이트(10)의 상면은 스프링(121)을 통해 연결될 수 있다.The elastic member 121 may include two or more springs. Specifically, two or more coil springs 121 may be provided in each of the first nest 12A and the second nest 12B. 6A and 6B, a fitting part (IP) may be provided on the lower surfaces of each of the first nest 12A and the second nest 12B, and the fitting part (IP) may be provided on the upper surface of the base plate 10. A fitting hole (IH) having a shape corresponding to) may be provided. By inserting the fitting portion IP of the nest 12 into the fitting hole IH of the base plate 10, the position of the nest 12 on the base plate 10 may be fixed. Meanwhile, a spring hole SH is provided on a lower surface of the nest 12 and an upper surface of the base plate 10, and the spring 121 may be located in the spring hole SH. In this case, the screen of the nest 12 and the upper surface of the base plate 10 may be connected through the spring 121.

도 7a 및 도 7b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓을 이용하여 제품을 검사하는 것을 나타낸 도면이다. 구체적으로, 도 7a는 제품 검사용 소켓(1)의 안착홈(11)에 제품(P)을 위치시키고, 네스트(12)에 제품 커넥터(PT)를 위치시킨 상태를 나타낸 것이다. 도 7b는 커버(20)를 베이스 플레이트(10) 측으로 힌지 이동시켜, 네스트(12)에 안착된 제품 커넥터(PT)와 테스트 커넥터(22)의 도전성 부재(23)를 접촉시켜 제품(P)의 테스트를 진행하는 것을 나타낸 도면이다.7A and 7B are diagrams illustrating a product inspection using a product inspection socket according to an embodiment of the present invention. Specifically, FIG. 7A shows a state in which the product P is positioned in the seating groove 11 of the product inspection socket 1 and the product connector PT is positioned in the nest 12. 7B shows that the cover 20 is hinged toward the base plate 10, and the product connector PT seated on the nest 12 and the conductive member 23 of the test connector 22 are brought into contact with the product P. It is a diagram showing the progress of the test.

이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 제품 검사용 소켓(1)은 보다 쉽고 빠르게 제품(P)의 테스트를 진행할 수 있다.In this way, the socket for product inspection 1 according to an embodiment of the present invention can perform a test of the product P more easily and quickly.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하고 설명하는 것이다. 또한, 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 전술한 바와 같이 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있으며, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한, 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The above detailed description illustrates and describes the present invention. In addition, the above-described content is only to show and describe preferred embodiments of the present invention, and as described above, the present invention can be used in various other combinations, changes and environments, and the scope of the concept of the invention disclosed in the present specification Changes or modifications may be made within the scope of one disclosure and equivalent and/or within the scope of skill or knowledge in the art. Accordingly, the detailed description of the invention is not intended to limit the invention to the disclosed embodiment. In addition, the appended claims should be construed as including other embodiments.

1: 제품 검사용 소켓 10: 베이스 플레이트
11: 안착홈 12: 네스트
121: 탄성 부재 13: 자성 부재
14: 제품 고정부 141: 버튼
15: 고정홀 16: 커버 고정 부재 체결부
20: 커버 21: 커버 몸체
22: 테스트 커넥터 23: 도전성 부재
24: 테스트 모듈 25: 테스트 모듈 단자
26: 커버 고정부 261: 커버 고정 부재
262: 래버 30: 힌지부
31: 힌지축 32: 힌지 블록
33: 탄성체 40: 회로 기판
41: 회로 기판 단자 1: socket for product inspection 10: base plate
11: Seating groove 12: Nest
121: elastic member 13: magnetic member
14: product fixing part 141: button
15: fixing hole 16: cover fixing member fastening part
20: cover 21: cover body
22: test connector 23: conductive member
24: test module 25: test module terminal
26: cover fixing part 261: cover fixing member
262: lever 30: hinge part
31: hinge shaft 32: hinge block
33: elastic body 40: circuit board
41: circuit board terminal

Claims (10)

검사가 수행될 제품이 안착되는 안착홈과 상기 제품의 커넥터가 안착되는 네스트를 포함하는 베이스 플레이트; 및
상기 베이스 플레이트와 힌지 결합되는 커버 몸체, 상기 커버 몸체에 제공되며 상기 커버 몸체가 상기 베이스 플레이트로 이동 시에 상기 제품의 커넥터와 전기적으로 접속되는 테스트 커넥터, 및 상기 테스트 커넥터와 연결되며 상기 테스트 커넥터에 테스트 신호를 전달하는 테스트 모듈을 포함하는 커버를 포함하고,
상기 네스트는 상기 안착홈이 제공되는 상기 베이스 플레이트의 면 상에 제공되는 제품 검사용 소켓.A base plate including a seating groove in which a product to be inspected is seated and a nest in which a connector of the product is seated; And
A cover body hinged to the base plate, a test connector provided on the cover body and electrically connected to the connector of the product when the cover body moves to the base plate, and a test connector connected to the test connector and connected to the test connector Including a cover including a test module for transmitting a test signal,
The nest is a product inspection socket provided on the surface of the base plate in which the seating groove is provided. 제1 항에 있어서,
상기 제품 커넥터와 접하는 상기 네스트 면에 제공되며, 상기 제품 커넥터를 얼라인하는 자성 부재를 더 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 1,
A product inspection socket provided on the nest surface in contact with the product connector and further comprising a magnetic member for aligning the product connector. 제1 항에 있어서,
상기 제품 커넥터와 접하는 상기 네스트 면의 반대면과 상기 베이스 플레이트 사이에 제공되는 탄성 부재를 더 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 1,
Product inspection socket further comprising an elastic member provided between the base plate and the opposite surface of the nest surface in contact with the product connector. 제3 항에 있어서,
상기 탄성 부재는 2 이상의 스프링을 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 3,
The elastic member is a socket for product inspection comprising two or more springs. 제1 항에 있어서,
상기 네스트는 상기 제품 커넥터의 일단부가 안착되는 제1 네스트와 상기 제품 커넥터의 타단부가 안착되는 제2 네스트를 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 1,
The nest is a product inspection socket including a first nest on which one end of the product connector is seated and a second nest on which the other end of the product connector is seated. 제5 항에 있어서,
상기 테스트 커넥터는 상기 제1 네스트에 안착된 상기 제품 커넥터의 일단부와 접속되는 제1 테스트 커넥터와 상기 제2 네스트에 안착된 상기 제품 커넥터의 타단부와 접속되는 제2 테스트 커넥터를 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 5,
The test connector includes a first test connector connected to one end of the product connector seated in the first nest and a second test connector connected to the other end of the product connector seated in the second nest. For socket. 제1 항에 있어서,
상기 테스트 커넥터 상에 제공되며, 상기 제품 커넥터와 전기적으로 컨택되는 도전성 부재를 더 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 1,
A product inspection socket provided on the test connector and further comprising a conductive member in electrical contact with the product connector. 제6 항에 있어서,
상기 테스트 모듈은 상기 제1 테스트 커넥터에 연결되어 테스트 신호를 전달하는 제1 테스트 모듈과 상기 제2 테스트 커넥터에 연결되어 테스트 신호를 전달하는 제2 테스트 모듈을 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 6,
The test module is a product inspection socket including a first test module connected to the first test connector to transmit a test signal and a second test module connected to the second test connector to transmit a test signal. 제1 항에 있어서,
상기 안착홈이 제공되는 상기 베이스 플레이트 면의 반대면에 제공되며, 상기 테스트 모듈과 전기적으로 연결되어 외부로부터 공급 받는 테스트 신호를 상기 테스트 모듈로 전달하는 회로 기판을 더 포함하는 제품 검사용 소켓.The method of claim 1,
A product inspection socket further comprising a circuit board provided on a surface opposite to the surface of the base plate on which the mounting groove is provided, and electrically connected to the test module to transmit a test signal supplied from the outside to the test module. 제9 항에 있어서,
상기 회로 기판의 단자와 상기 테스트 모듈의 단자를 전기적으로 연결하는 연성회로기판을 더 포함하는 제품 검사용 소켓.

The method of claim 9,
Product inspection socket further comprising a flexible circuit board electrically connecting the terminal of the circuit board and the terminal of the test module.
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