KR102225546B1 - Probe Pin Block - Google Patents

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KR102225546B1
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Abstract

The present invention relates to a probe pin block, which includes: a case forming an outer body while enclosing a front end of a flexible circuit board; a plurality of probe pins accommodated and mounted on a pedestal in the case so as to be in contact with an object to be inspected by a front tip and in contact with the flexible circuit board by a rear tip to be connected to a control device; a probe pin cover mounted on the case so as to cover the front end of the flexible printed circuit board while pressing and constraining the probe pin accommodated in the pedestal; and a pogo pin is mounted through the probe pin cover without causing interference with the probe pin so that a lower tip is in elastic contact with the object to be inspected by a spring built therein, and an upper tip is connected to the control device. Since the probe pin and the pogo pin can be used simultaneously without interfering with each other to contact the object to be inspected, the object to be inspected can be inspected at once even when a contact surface of the probe pin block has different positions and shapes.

Description

프로브핀블록{Probe Pin Block}Probe Pin Block

본 발명은 프로브핀블록에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 프로브핀과 포고핀이 함께 장착되어, 검사하는 대상물과 접촉하는 부분이 공간의 제약 없이 모두 활용될 수 있도록 한 프로브핀블록에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin block, and more particularly, to a probe pin block in which a probe pin and a pogo pin are mounted together so that a portion in contact with an object to be inspected can be used without space constraints.

일반적으로 프로브 어레이블록은 LCD 패널 등을 제조하는 과정에서 그로스 테스트(gross test)를 시행할 때 사용하는 기기로서, 니들형, 블레이드형, 필름형 등 다양한 형태로 개발되어 왔다.In general, a probe array block is a device used to perform a gross test in the process of manufacturing an LCD panel, and has been developed in various forms such as a needle type, a blade type, and a film type.

특히, 니들형 어레이블록은 검사팁을 이루는 복수의 프로브가 상호 인접하도록 배치되어, 대상물 검사시에 프로브가 검사 대상물의 일면에 얇고 촘촘하게 배치된 접촉부에 각각 접촉되어 검사하는 것이 일반적이다.In particular, in the needle-type array block, a plurality of probes constituting an inspection tip are disposed so as to be adjacent to each other, so that when inspecting an object, it is common for the probes to contact each of the contact portions that are thin and densely disposed on one surface of the object to be inspected.

그 일 예로서, 등록특허공보 제10-1558256호의 프로브 블록이 제시된 바 있다. 프로브 블록(100)은 도 1에 도시된 바와 같이, 프로브핀(110)을 수직부(121) 및 수평부(122)와 제2유동방지부(130)의 사이에 끼워넣어 프로브핀(110)이 움직이지 않도록 고정하고, 다수의 프로브핀(110)을 동일한 방법으로 배열하여 결합한 후, 각각의 프로브핀(110)의 사이를 제1유동방지부(140)로 매꿔 이웃하는 프로브핀(110) 끼리의 유격만큼 유동하여 쇼트가 일어나는 것을 방지하도록 하였다.As an example, the probe block of Korean Patent Publication No. 10-1558256 has been proposed. As shown in FIG. 1, the probe block 100 inserts the probe pin 110 between the vertical portion 121 and the horizontal portion 122 and the second flow prevention portion 130 to provide the probe pin 110. After fixing so as not to move, arranging and combining a plurality of probe pins 110 in the same way, the adjacent probe pins 110 are filled with the first flow prevention unit 140 between each of the probe pins 110 It flowed as much as the gap between each other to prevent a short circuit from occurring.

그러나, 검사 대상물의 또 다른 접속부가 다른 위치에 추가로 구비되어 있을 경우에는, 위와 같이 한쪽에만 프로브핀이 장착된 프로브 블록으로는 검사할 수 없는 불편함이 있다.However, when another connection part of the object to be inspected is additionally provided at another location, there is an inconvenience that it cannot be inspected with a probe block in which only one probe pin is mounted as described above.

또한, 다른 접촉부가 얇고 촘촘하게 배치되어 있지 않고 다른 형태로 제조되어 프로브핀이 사용불가능할 수 있는 문제점이 있는데, 그 일 예로서, 정사각형으로 형성된 다수의 접속부가 평면에서 보았을 때, 예컨대, 바둑판과 같은 배열로 형성되어 프로브핀의 길이방향 위치가 겹치게 되는 접속부가 있으면, 가로로 돌출되는 프로브핀은 같은 선상의 접속부와 접하기 위해 프로브핀을 겹쳐서 위치시켜 동시에 접속시킬 수 없으므로, 프로브핀과 같은 가로방향으로 돌출되지 않고 하방으로 돌출되는 포고핀을 사용하여야 하는데, 이렇게 프로브핀과 포고핀을 함께 사용하는 프로브 블록이 종래에는 사용되지 않았다.In addition, there is a problem that the other contact portions are not arranged thin and densely, and the probe pins may not be used because they are manufactured in different shapes.As an example, when viewed from a plane, a plurality of connection portions formed in a square shape, for example, an arrangement such as a checkerboard If there is a connection part formed by overlapping the lengthwise position of the probe pin, the probe pin protruding horizontally cannot be connected by overlapping the probe pin in order to contact the connection part on the same line, so that the probe pin can be connected in the same horizontal direction as the probe pin. It is necessary to use a pogo pin that does not protrude but protrudes downward, and thus a probe block using both a probe pin and a pogo pin has not been used in the past.

한국등록특허공보 KR 10-1558256Korean Registered Patent Publication KR 10-1558256

본 발명은 위와 같은 종래의 프로브핀블록이 가지고 있는 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 그 목적은 검사 대상물의 접촉부분이 각각 위치와 생김새가 다를 때, 프로브핀과 포고핀을 동시에 사용하여 검사 대상물을 검사할 수 있는 프로브핀블록을 제공함에 있다.The present invention has been proposed to solve the problems of the conventional probe pin block as described above, and its object is to use a probe pin and a pogo pin at the same time when the contact portions of the object to be inspected are different in position and shape. It is to provide a probe pin block that can inspect

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브핀블록은, 연성회로기판의 선단부분을 둘러싸면서 외부 몸체를 이루는 케이스; 선단팁에 의해 검사 대상물과 접촉하고, 후단팁에 의해 상기 연성회로기판과 접촉하여 제어장치로 연결되도록, 상기 케이스 내에서 받이대에 수납되어 장착되는 복수의 프로브핀; 상기 받이대에 수납된 상기 프로브핀을 가압하여 구속하면서, 상기 연성회로기판의 선단부분을 덮도록 상기 케이스에 장착되는 프로브핀커버; 및 하단팁이 자체에 내장된 스프링에 의해 검사 대상물과 탄력적으로 접촉하고, 상단팁이 제어장치로 연결되도록, 상기 프로브핀과 간섭을 일으키지 않으면서 상기 프로브핀커버를 관통하여 장착되는 포고핀;을 포함하여 이루어진다.A probe pin block according to the present invention for achieving this object includes: a case forming an outer body while surrounding a tip portion of a flexible circuit board; A plurality of probe pins accommodated and mounted on a receiving stand in the case so as to be in contact with an object to be inspected by a tip tip and to the flexible circuit board by a rear tip to be connected to a control device; A probe pin cover mounted on the case so as to cover the front end of the flexible circuit board while pressing and restraining the probe pins accommodated in the receiving stand; And a pogo pin that is mounted through the probe pin cover without causing interference with the probe pin so that the lower tip is in elastic contact with the object to be inspected by a spring built into it and the upper tip is connected to the control device. Including.

또한, 상기 프로브핀은 상기 케이스와 상기 프로브핀커버 사이에 개재되는 패턴필름의 패턴에 접촉하도록 되어 있으며, 상기 포고핀은 상기 케이스와 상기 프로브핀커버 사이에 개재되되, 상기 패턴필름을 둘러싸고 있는 상기 연성회로기판의 선단부분에 직접 접촉하도록 되어 있는 것이 바람직하다.In addition, the probe pin is adapted to contact a pattern of a pattern film interposed between the case and the probe pin cover, and the pogo pin is interposed between the case and the probe pin cover, and the pogo pin surrounds the pattern film. It is preferable to make direct contact with the tip of the flexible circuit board.

본 발명의 프로브핀블록에 따르면, 프로브핀이 케이스 내의 받이대에 수납되어 장착되고 프로브핀의 후단팁이 연성회로기판과 접촉하며 프로브핀의 선단팁이 검사 대상물과 접촉하여 제어장치로 연결되고, 포고핀이 프로브핀커버를 관통하여 장착되고 상단팁이 연성회로기판과 연결된 패턴필름과 접촉하며 하단팁이 검사 대상물과 접촉하여 제어장치로 연결되도록 하여, 프로브핀과 포고핀이 서로 간섭하지 않고 동시에 사용되어 검사 대상물에 접촉할 수 있게 할 수 있으므로, 프로브핀블록의 접촉면이 다른 위치 및 형상으로 제작되어도 검사 대상물을 단번에 검사할 수 있게 되는 이점이 있다.According to the probe pin block of the present invention, the probe pin is accommodated and mounted on a support in the case, the rear tip of the probe pin contacts the flexible circuit board, and the tip of the probe pin contacts the object to be inspected and is connected to the control device, The pogo pin is mounted through the probe pin cover, the upper tip is in contact with the pattern film connected to the flexible circuit board, and the lower tip is in contact with the object to be inspected and connected to the control device, so that the probe pin and the pogo pin do not interfere with each other and at the same time. Since it can be used to make contact with the object to be inspected, there is an advantage that the object to be inspected can be inspected at once even if the contact surface of the probe pin block is manufactured in a different position and shape.

도 1은 종래의 프로브핀블록의 측면도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀블록의 저면사시도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀블록의 분해사시도 및 확대도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀블록의 프로브핀 커버가 보이도록 케이스를 은선으로 도시한 저면확대도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브핀블록의 포고핀 및 프로브핀이 보이도록 도시한 측단면도.1 is a side view of a conventional probe pin block.
Figure 2 is a bottom perspective view of a probe pin block according to an embodiment of the present invention.
3 is an exploded perspective view and an enlarged view of a probe pin block according to an embodiment of the present invention.
4 is an enlarged bottom view showing a case with a silver line so that the probe pin cover of the probe pin block according to an embodiment of the present invention is visible.
5 is a side cross-sectional view showing a pogo pin and a probe pin of a probe pin block according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명에 의한 프로브핀블록의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, an embodiment of a probe pin block according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 프로브핀과 포고핀을 함께 구비하는 프로브핀블록에 관한 것으로서, 도 2에 도시된 바와 같이, 케이스(10), 프로브핀(20), 프로브핀커버(40) 및 포고핀(70)을 포함하여 이루어진다.The present invention relates to a probe pin block having a probe pin and a pogo pin together, as shown in FIG. 2, a case 10, a probe pin 20, a probe pin cover 40, and a pogo pin 70 It is made including.

케이스(10)는 프로브핀블록(1)의 외부 몸체를 이루는 것으로서, 도 2에 도시된 바와 같이, 외부의 전기적 신호를 전달하는 연성회로기판(C)의 선단부분을 둘러싸도록 도 3에 도시된 바와 같이, 프로브핀블록(1)의 가장 상부에서 결합되면서 도 4와 같이, 프로브핀커버(40)의 후술할 기둥부(42)와 받이대(30)의 사이에 모서리부(11)가 삽입되어 결합되며, 도 2에 도시된 바와 같이, 모서리부(11)와 이격된 돌출부(12)가 형성되어 모서리부(11)와의 사이에 기둥부(42)가 삽입되어 결합된다.The case 10 constitutes the outer body of the probe pin block 1 and, as shown in FIG. 2, is shown in FIG. 3 so as to surround the tip of the flexible circuit board C that transmits an external electrical signal. As shown in Fig. 4, while being coupled from the uppermost portion of the probe pin block 1, the edge portion 11 is inserted between the post portion 42 and the receiving stand 30, which will be described later, of the probe pin cover 40 As shown in FIG. 2, a protrusion 12 spaced apart from the corner 11 is formed, and the column 42 is inserted and coupled between the corner 11 and the corner 11.

프로브핀(20)은 검사 대상물을 검사하기 위해 접촉되는 것으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 프로브핀블록(1)의 외부에 위치할 선단부에 검사 대상물과 접촉하는 선단팁(21)이 구비하고, 연성회로기판(C)과 접촉하도록 선단팁(21)에 대응되는 후단부에 후단팁(22)을 구비하여, 연성회로기판(C)과 연결된 제어장치와 연결되며, 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, 받이대(30)의 하측에 형성된 다수의 홈에 복수개가 수납되고 받이대(30)의 하측 공간에 일부분이 결합된다.The probe pin 20 is contacted to inspect the object to be inspected, and as shown in FIG. 3, a tip tip 21 in contact with the object to be inspected is provided at a tip portion to be located outside the probe pin block 1 , A rear tip 22 is provided at a rear end corresponding to the tip tip 21 so as to contact the flexible circuit board C, and is connected to a control device connected to the flexible circuit board C, and shown in FIGS. 2 and 4 As shown, a plurality of the plurality of grooves formed on the lower side of the receiving table 30 are accommodated, and a part is coupled to the lower space of the receiving table 30.

또한, 프로브핀(20)은 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 케이스(10)와 프로브핀커버(40) 사이에 개재되는 패턴필름(50)의 패턴에 접촉되도록 되어 있는데, 패턴필름(50)은 연성회로기판(C)과 일체로 접착되어 전기적으로 연결되므로, 패턴필름(50)에서 연성회로기판(C)으로 접촉되어 제어장치와 연결되게 된다.In addition, the probe pin 20 is to be in contact with the pattern of the pattern film 50 interposed between the case 10 and the probe pin cover 40, as shown in Figs. 3 and 5, the pattern film ( 50) is integrally bonded to the flexible circuit board C to be electrically connected, so that the pattern film 50 contacts the flexible circuit board C to be connected to the control device.

프로브핀커버(40)는 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 프로브핀(20)을 가압하는 것으로서, 연성회로기판(C)의 하측에 결합되며, 덮개부(41), 기둥부(42) 및 홈부(43)를 포함하여 이루어진다.As shown in Figs. 3 and 4, the probe pin cover 40 presses the probe pin 20 and is coupled to the lower side of the flexible circuit board C, and the cover part 41 and the column part 42 ) And a groove 43.

덮개부(41)는 도 3에 도시된 바와 같이, 프로브핀(20)을 가압하는 부분으로서, 케이스(10)의 폭방향으로 연장되어 프로브핀커버(40)의 몸체를 이루며, 그 몸체의 전면(41a)으로 프로브핀(20)을 전방으로 가압하여, 도 4에 도시된 바와 같이, 프로브핀(20)의 받이대(30)와 결합된 부분이 가압되므로, 프로브핀(20)이 받이대(30)와 결합된 상태로 구속되게 된다.As shown in FIG. 3, the cover part 41 is a part that presses the probe pin 20 and extends in the width direction of the case 10 to form the body of the probe pin cover 40, and the front surface of the body By pressing the probe pin 20 forward with (41a), as shown in FIG. 4, the part coupled with the support 30 of the probe pin 20 is pressed, so that the probe pin 20 You are bound to be bound with (30).

기둥부(42)는 도 2에 도시된 바와 같이, 케이스(10)와 결합되는 부분으로서, 케이스(10)의 모서리부(11)와 돌출부(12)의 사이에 개재되어 케이스(10)의 상측과 결합되며, 양측단 저면에서 상방으로 돌출되어, 도 3에 도시된 바와 같이, 케이스(10)와의 사이에 받이대(30) 후단 부분과, 패턴필름(50)의 상부를 덮어 패턴필름(50)을 지지하는 패턴필름판(60)의 선단 부분을 개재할 수 있는 공간을 확보할 수 있도록 한다.As shown in FIG. 2, the column part 42 is a part that is coupled to the case 10, and is interposed between the edge part 11 and the protrusion part 12 of the case 10 to the upper side of the case 10. It is combined with, and protrudes upward from the bottom of both ends, as shown in FIG. 3, covering the rear end of the receiving stand 30 and the upper portion of the pattern film 50 between the case 10 and the pattern film 50 ) To secure a space that can interpose the front end of the pattern film plate 60 that supports it.

홈부(43)는 도 3에 도시된 바와 같이, 후단팁(22)을 포함하는 프로브핀(20)의 상단 부분을 수용하여 지지하도록, 덮개부(41)의 상면에서 전방모서리를 따라 오목하게 형성되며, 기둥부(42)와 사이에 포고핀(70)의 삽입자리(44)를 확보하여, 포고핀(70)이 프로브핀커버(40)에 결합될 수 있게 한다.The groove part 43 is formed concave along the front edge from the upper surface of the cover part 41 to accommodate and support the upper part of the probe pin 20 including the rear end tip 22, as shown in FIG. 3 And, by securing the insertion seat 44 of the pogo pin 70 between the pillar portion 42, the pogo pin 70 can be coupled to the probe pin cover (40).

여기서, 포고핀(70)의 삽입자리(44)는 포고핀(70)이 삽입되어 고정되는 부분으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 기둥부(42)와 홈부(43)의 사이에 위치하며, 상측에는 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 연성회로기판(C)의 양측 부분이 얹어지게 된다.Here, the insertion seat 44 of the pogo pin 70 is a portion to which the pogo pin 70 is inserted and fixed, and is located between the pillar portion 42 and the groove portion 43, as shown in FIG. On the upper side, as shown in FIGS. 3 and 5, both side portions of the flexible circuit board C are mounted.

포고핀(70)은 검사 대상물을 검사하기 위해 프로브핀(20)이 접할 수 없는 부분에서 접촉되는 것으로서, 하단팁(71)이 자체에 내장된 스프링에 의해 검사 대상물과 탄력적으로 접촉하고, 상단팁(72)이 제어장치로 연결되도록 결합되는데, 프로브핀(20)과 간섭을 일으키지 않도록 프로브핀(20)이 위치하는 홈부(43)의 외측에 위치한 프로브핀커버(40)의 삽입자리(44)에 프로브핀커버(40)를 관통하여 장착된다.The pogo pin 70 is in contact with a portion where the probe pin 20 cannot be contacted in order to inspect the object to be inspected, and the lower tip 71 is in elastic contact with the object to be inspected by a spring built in itself, and the upper tip (72) is coupled to be connected to the control device, the insertion seat 44 of the probe pin cover 40 located outside the groove 43 where the probe pin 20 is located so as not to cause interference with the probe pin 20 It is mounted through the probe pin cover (40).

또한, 포고핀(70)은 연성회로기판(C)과 접촉하여야 하는데, 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 케이스(10)와 프로브핀커버(40)의 사이에 개재되되 패턴필름(50)을 둘러싸고 있는 연성회로기판(C)의 선단부분이 삽입자리(44)의 상부에 위치하므로, 포고핀의 상단팁(72)에 직접 접촉하도록 되어 있다.In addition, the pogo pin 70 must be in contact with the flexible circuit board (C). As shown in FIGS. 3 and 5, the pattern film 50 is interposed between the case 10 and the probe pin cover 40. ), the leading end of the flexible circuit board (C) surrounding it is located on the upper portion of the insertion seat 44, so that it is in direct contact with the upper tip 72 of the pogo pin.

따라서, 위와 같이 형성된 프로브핀블록은 도 4에 도시된 바와 같이, 받이대(30)에 수납되고, 덮개부(41)의 홈부에 지지되어 덮개부(41)로 구속되며, 연성회로기판(C)과 접착되어 연결된 패턴필름(50)과 연결되는 프로브핀(20)을 구비하는 동시에, 프로브핀(20)과 간섭되지 않도록 홈부(43)의 외측에 위치한 삽입자리(44)에 삽입되어 연성회로기판(C)과 연결되는 포고핀(70)을 구비할 수 있게 되므로, 검사 대상물의 접촉부분이 프로브핀(20)을 사용할 수 없는 형태 및 배치로 이루어 졌을 때, 예컨대, 다수의 접촉부분의 패턴이 바둑판형태로 겹쳐 있어 수평으로 뻗은 상태로 접촉하는 프로브핀(20)으로는 접촉하기 어려우면, 포고핀(70)을 사용하여 수직방향에서 접촉부분과 접할 수 있게 되므로, 프로브핀(20)과 포고핀(70)이 서로 간섭하지 않고 동시에 사용하여 검사 대상물에 접촉할 수 있기 때문에, 프로브핀블록의 접촉면이 다른 위치 및 형상으로 제작되어도 단번에 검사 대상물을 검사할 수 있게 된다.Therefore, the probe pin block formed as above is accommodated in the receiving stand 30, as shown in FIG. 4, is supported by the groove of the cover part 41 and constrained by the cover part 41, and the flexible circuit board C ) And a probe pin 20 connected to the pattern film 50 attached and connected, and at the same time, it is inserted into the insertion seat 44 located outside the groove 43 so as not to interfere with the probe pin 20 to prevent a flexible circuit. Since the pogo pin 70 connected to the substrate C can be provided, when the contact portion of the object to be inspected has a shape and arrangement in which the probe pin 20 cannot be used, for example, a pattern of a plurality of contact portions If it is difficult to contact with the probe pins 20 that are in contact in a horizontally extended state because they are overlapped in a checkerboard shape, the pogo pin 70 can be used to contact the contact part in the vertical direction, so that the probe pin 20 and the probe pin 20 Since the pogo pins 70 do not interfere with each other and can be used at the same time to contact the object to be inspected, even if the contact surface of the probe pin block is manufactured in a different position and shape, the object to be inspected can be inspected at once.

이상에서 본 발명의 구체적인 실시를 예로 들어 설명하였으나, 이들은 단지 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명의 보호 범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.In the above, a specific implementation of the present invention has been described as an example, but these are for illustrative purposes only and are not intended to limit the protection scope of the present invention. It will be apparent to those of ordinary skill in the art that various substitutions, modifications and changes are possible within the scope of the technical spirit of the present invention.

1: 프로브핀블록 10: 케이스
20: 프로브핀 21: 선단팁
22: 후단팁 30: 받이대
40: 프로브핀커버 50: 패턴필름
70: 포고핀1: probe pin block 10: case
20: probe pin 21: tip tip
22: rear tip 30: stand
40: probe pin cover 50: pattern film
70: pogopin

Claims (2)

연성회로기판(C)의 선단부분을 둘러싸면서 외부 몸체를 이루는 케이스(10);
선단팁(21)에 의해 검사 대상물과 접촉하고, 후단팁(22)에 의해 상기 연성회로기판(C)과 접촉하여 제어장치로 연결되도록, 상기 케이스(10) 내에서 받이대(30)에 수납되어 장착되는 복수의 프로브핀(20);
상기 받이대(30)에 수납된 상기 프로브핀(20)을 가압하여 구속하면서, 상기 연성회로기판(C)의 선단부분을 덮도록 상기 케이스(10)에 장착되는 프로브핀커버(40); 및
하단팁(71)이 자체에 내장된 스프링에 의해 검사 대상물과 탄력적으로 접촉하고, 상단팁(72)이 제어장치로 연결되도록, 상기 프로브핀(20)과 간섭을 일으키지 않으면서 상기 프로브핀커버(40)를 관통하여 장착되는 포고핀(70);을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브핀블록.A case 10 surrounding the front end of the flexible circuit board C and forming an outer body;
The front tip 21 contacts the object to be inspected, and the rear tip 22 contacts the flexible circuit board C to be connected to the control device. A plurality of probe pins 20 to be mounted;
A probe pin cover 40 mounted on the case 10 to cover the tip portion of the flexible circuit board C while pressing and restraining the probe pin 20 accommodated in the receiving stand 30; And
The probe pin cover (without causing interference with the probe pin 20) so that the lower tip 71 elastically contacts the object to be inspected by a spring built in itself and the upper tip 72 is connected to the control device A probe pin block comprising: a pogo pin 70 mounted through 40). 청구항 1에 있어서,
상기 프로브핀(20)은 상기 케이스(10)와 상기 프로브핀커버(40) 사이에 개재되는 패턴필름(50)의 패턴에 접촉하도록 되어 있으며,
상기 포고핀(70)은 상기 케이스(10)와 상기 프로브핀커버(40) 사이에 개재되되, 상기 패턴필름(50)을 둘러싸고 있는 상기 연성회로기판(C)의 선단부분에 직접 접촉하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀블록.The method according to claim 1,
The probe pin 20 is adapted to contact the pattern of the pattern film 50 interposed between the case 10 and the probe pin cover 40,
The pogo pin 70 is interposed between the case 10 and the probe pin cover 40, and is adapted to directly contact the tip of the flexible circuit board C surrounding the pattern film 50. Probe pin block, characterized in that.
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