KR102310449B1 - 개선된 구조의 다면 비전 검사 시스템 및 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 물체의 표면을 촬영하여 검사하는 다면 비전 검사 시스템은 상기 물체를 수용하거나 고정하는 베드부, 상기 물체의 표면 영상을 촬영하는 촬영부, 하나 이상의 광원, 상기 광원 또는 물체로부터 반사되는 빛의 경로를 변경하는 복수의 반사부 및 제어부를 포함하며, 상기 촬영부는 하나의 카메라로 마련되고, 상기 반사부는 상기 물체를 둘러싸도록 배치되어 상기 물체의 표면 영상을 반사시켜 상기 촬영부로 수렴되도록 하되, 상기 반사부의 갯수, 각도, 굴곡 및 크기를 제어하는 것을 특징으로 한다.

Description

개선된 구조의 다면 비전 검사 시스템 및 검사 방법{Improved Multi-sided Vision Inspection System}
본 발명은 다면 비전 검사 시스템에 관한 것으로 더욱 상세하게는 복수의 반사부를 제어하여 사용함으로써 하나의 카메라를 이용하여 측정하고자 하는 물체의 다면을 효과적으로 검사 할 수 있는 시스템에 관한 것이다.
물체를 검사 또는 측정하기 위해서는 내부의 성능이나 물성 이외에도 겉에서 보이는 외부 모습을 측정하여 외관 검사를 해야 하며 이를 위해서 물체의 주변을 복수의 카메라를 이용하여 측정하는 5면(전, 후, 좌, 우, 저면) 비전 측정 장치 등이 있다.
특히, 외관 검사가 중요한 반도체의 모듈IC 등과 같은 부품은 중요 부품으로서 그 제품의 신뢰도가 매우 중요하여 엄격한 품질 검사를 통해 제품으로 출하하게 된다. 따라서 PCB(인쇄회로기판), 반도체의 모듈IC 및 반도체 웨이퍼 등은 일련의 공정을 통하여 제조된 후에 출하 전에 정밀한 검사를 마치게 되는데, 이러한 정밀 검사는 내부 불량뿐만 아니라, 그 외관에 미소한 결함이 발생 하더라도 성능에 치명적인 영향을 미치게 되므로, 전기적인 동작 검사뿐만 아니라, 비전 카메라를 이용한 외관 검사와 같은 여러 가지 검사를 수행하게 되는 것이다.
그런데, 종래의 비전 검사 장치 및 시스템은 복수의 카메라를 이동시키면서 물체의 다면을 촬영하여 검사하거나 피검 대상인 물체를 이동하면서 복수의 영상을 수집하고 있다.
따라서, 이와 같이 전, 후, 좌, 우, 저면 등 물체의 복수 표면을 촬영해야 함에도 이를 동시에 효과적으로 검사 또는 측정할 수 있는 장치 및 시스템은 없으며 아래 선행문헌에 개시된 검사 시스템 역시 하나의 물체의 표면을 검사하기 위해 복수의 영상획득부가 마련되고 별도로 동작되어야 하므로 검사의 진행 효율이 저하되고 검사 결과의 정확도가 낮아지는 문제점이 있다.
공개특허 10-2010-0039965호(2010.04.19. 공개)
본 발명은 전술한 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 하나의 카메라를 이용하되 효과적이고 정확한 물체의 다면을 검사하는 시스템 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 물체의 표면을 촬영하여 검사하는 다면 비전 검사 시스템은 상기 물체를 수용하거나 고정하는 베드부, 상기 물체의 표면 영상을 촬영하는 촬영부, 하나 이상의 광원, 상기 광원 또는 물체로부터 반사되는 빛의 경로를 변경하는 복수의 반사부 및 제어부를 포함하며, 상기 촬영부는 하나의 카메라로 마련되고, 상기 반사부는 상기 물체를 둘러싸도록 배치되어 상기 물체의 표면 영상을 반사시켜 상기 촬영부로 수렴되도록 하되, 상기 반사부의 갯수, 각도, 굴곡 및 크기를 제어하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 베드부는 일면에 개구부가 마련되고 내부에 상기 반사부가 설치된 수용부가 형성되어 상기 수용부에 상기 물체를 수용 또는 고정시키며, 상기 촬영부는 상기 베드부 상부에 위치하되 상, 하, 좌, 우 및 회전운동이 가능하여 상기 개구부를 통해 상기 수용부에 출입이 가능하며, 상기 촬영부는 상기 수용부 내부의 반사부를 통해 반사 수렴된 물체의 표면 영상을 촬영하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 수용부는 복수의 반사부가 마련되어 상기 물체의 표면 영상을 상기 촬영부로 보내며, 상기 반사부는 거울로 마련되어 상기 거울의 크기, 반사 각도의 조건을 기 설정된 로직에 따라 상기 제어부가 제어하거나 사용자의 선택에 따라 조정하는 것을 특징으 한다.
또한, 상기 광원은 상기 검사 시스템이 설치된 장소의 외부 광원, 상기 촬영부 일단에 설치되어 상기 수용부 내부의 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 및 상기 수용부 내부에 설치되어 상기 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 중 어느 하나 이상으로 마련되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 촬영부는 카메라로 마련되되, 하나 이상의 렌즈를 포함하고, 상기 렌즈는 어안렌즈, 분할렌즈로 마련되어 상기 물체의 다면 영상을 촬영할 수 있으며, 입수된 복수의 영상은 별도의 편집 툴을 이용하여 하나의 이미지로 편집하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 물체의 종류, 크기 및 측정하고자 하는 표면의 개수에 따라 상기 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도를 제어하되, 제어를 위한 별도의 로직으로 제어하거나 사용자의 선택에 의해 조절하며, 이때 수집된 정보는 DB로 가공되어 저장, 활용됨으로써 물체의 표면 검사 시 자동으로 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도의 조건이 조정되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 물체의 표면을 촬영하여 검사하는 다면 비전 검사방법은 피검 대상인 물체를 고정시키는 단계, 상기 촬영부를 상기 물체에 접근 또는 이격하여 영상 수집을 위한 촬영 조정 단계, 상기 촬영부의 영상을 확인함과 동시에 기 설정된 조건 또는 사용자의 선택에 따라 반사부의 크기, 개수 및 각도를 조절 제어하는 단계, 상기 반사부에서 출사된 상기 물체의 복수의 표면 영상을 상기 촬영부를 통해 촬영하는 단계 및 상기 촬영된 물체의 복수 표면 영상을 통해 물체의 이상 유무를 확인 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 다면 비전 검사 시스템 및 방법은 하나의 카메라를 이용하되 복수의 거울을 효과적으로 제어, 조절함으로써 효율적으로 물체의 다면 표면을 검사할 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 다면 비전 검사 방법의 순서도,
도 2는 본 발명에 따른 다면 비전 검사 방법의 상세 순서도,
도 3은 본 발명에 따른 다면 비전 검사 시스템의 구성 블록도,
도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 다면 비전 검사 시스템의 작동 설명도,
도 6, 도 7 및 도 8은 본 발명에 따른 다면 비전 검사 방법의 작동 원리에 관한 설명도,
도 9는 본 발명에 따른 다면 비전 검사 시스템의 작동 사진이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예에 따른 다면 비전 검사 시스템 및 방법에 관하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시 할 수 있도록 상세히 설명하기로 한다. 본 발명은 여기에서 설명하는 실시예로 한정되지 않으며, 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있다. 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 붙이도록 한다.
본 발명에 따른 다면 비전 검사 시스템은 필수적으로 물체의 표면을 촬영하는 촬영부(300)와 물체의 표면 영상을 반사하여 집중시키는 반사부(700)를 포함한다. 즉, 종래의 검사 시스템이 복수의 촬영장치를 이용하여 물체의 다면 표면을 촬영하다 보니 촬영 사이에 오류, 중복 그리고 경제적 부담, 검사의 시간적인 소요 등으로 비효율적 이었으나, 본 발명에 따른 검사 시스템은 기본적으로 거울(반사부)의 반사를 이용하여 하나의 카메라(촬영부)로 물체의 다면 표면 영상을 습득하는 것이다.
여기서, 검사 시스템은 검사 장치, 검사 유닛으로도 통용될 수 있으며, 그 명칭에 한정되어 해석되지 않는다. 따라서, 구성을 포함하여 물체의 다면 표면을 검사하는 측정 수단에 관한 발명이며, 이러한 측정 수단, 검사 시스템을 이용한 검사 방법에 관한 발명이다.
본 발명에 따른 물체의 표면을 촬영하여 검사하는 다면 비전 검사 시스템(1)은 상기 물체를 수용하거나 고정하는 베드부(100), 상기 물체의 표면 영상을 촬영하는 촬영부(300) 하나 이상의 광원(500), 상기 광원 또는 물체로부터 반사되는 빛의 경로를 변경하는 복수의 반사부(700) 및 제어부(900)를 포함한다.
상기 촬영부(300)는 하나의 카메라로 마련되고, 상기 반사부(700)는 상기 물체를 둘러싸도록 배치되어 상기 물체의 표면 영상을 반사시켜 상기 촬영부(300)로 수렴되도록 하되, 상기 반사부(700)의 갯수, 각도, 굴곡 및 크기를 제어하는 것이다.
상기 카메라는 그 형태나 종류에 상관없이 영상을 수집, 획득할 수 있는 장치라면 모두 이용될 수 있으며, 가능한 위치를 제어할 수 있도록 소형화된 카메라를 이용하는 것이 바람직하다. 또한, 상기 카메라는 하나를 이용하여 사용하되 렌즈를 복 수개 부착하여 사용할 수도 있을 것이다.
상기 베드부(100)는 일면에 개구부가 마련되고 내부에 상기 반사부가 설치된 수용부가 형성되어 상기 수용부에 상기 물체를 수용 또는 고정시킨다. 즉, 피검 대상인 물체를 상기 베드부(100)에 얹어서 촬영할 수도 있으나 바람직하게는 상기 베드부(100)의 내부에 마련된 수용부에 상기 물체를 수용시킨다. 상기 수용부의 내부 둘레에는 반사부가 복 수개 배치됨으로써 상기 물체의 표면 영상을 반사시키거나 수렴하는 것이다.
상기 물체를 상기 수용부에 수용하는 경우 사용자가 직접 이동시킬 수도 있으나 바람직하게는 collet(nozzle) 등으로 집어 넣을 수 있으며, 이때 상기 반사부인 micro mirror array를 활용하여 초점을 맞출 수 있다.
상기 촬영부(300)는 상기 베드부(100) 상부에 위치하되 상, 하, 좌, 우 및 회전운동이 가능하여 상기 개구부를 통해 상기 수용부에 출입이 가능하며, 상기 촬영부는 상기 수용부 내부의 반사부를 통해 반사 수렴된 물체의 표면 영상을 촬영하는 것이다.
상기 촬영부는 바람직하게는 터렛(회전) 방식으로 핸들링 될 수 있으며 상기 collet 하단부에 package가 진공으로 부착될 수 있다. 또한, 상기 collet이 모터나 구동부에 의해 하강하며 상기 물품을 촬영할 수 있다.
상기 수용부는 복수의 반사부가 마련되어 상기 물체의 표면 영상을 상기 촬영부로 보내며, 상기 반사부는 거울로 마련되어 상기 거울의 크기, 반사 각도의 조건을 기 설정된 로직에 따라 상기 제어부가 제어하거나 사용자의 선택에 따라 조정할 수 있다.
상기 반사부는 거울을 이용할 수 있으며, 빛을 반사하는 다양한 구성으로 변경될 수 있다. 특히, 거울을 이용하는 경우 반사부의 크기, 굴곡을 다양하게 설정할 수 있다. 예컨대, 반사부는 유닛, 모듈로 마련하여 복수의 거울이 부착되도록 할 수 있으며, 각각의 작은 거울 들의 반사율, 굴곡도를 다양하게 함으로써 피검 대상 물체의 모든 표면을 정확하게 관찰 할 수 있다.
상기 광원(500)은 상기 검사 시스템(1)이 설치된 장소의 외부 광원, 상기 촬영부 일단에 설치되어 상기 수용부 내부의 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 및 상기 수용부 내부에 설치되어 상기 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 중 어느 하나 이상으로 마련될 수 있다.
즉, 상기 물체의 표면 영상을 촬영하기 위해 상기 광원이 외부광원으로 이용하는 경우 다소 조도가 낮으면, 상기 촬영부 또는 수용부 내부에 별도의 광원을 마련하여 효과적으로 촬영할 수도 있는 것이다.
상기 광원은 상기 반사부를 통해 영상을 습득하기 위한 것이므로 다양한 종류, 형태 등이 선택되어 사용될 수 있으며, 그 위치나 개수 등은 검사하고자 하는 물제의 종류나 크기, 재질 등 다양한 요건에 따라 선택될 수 있다.
상기 촬영부(300)는 카메라로 마련되되, 하나 이상의 렌즈를 포함하고, 상기 렌즈는 어안렌즈, 분할렌즈로 마련되어 상기 물체의 다면 영상을 촬영할 수 있으며, 입수된 복수의 영상은 별도의 편집 툴을 이용하여 하나의 이미지로 편집할 수 있다.
이때, 입수된 복수의 표면 영상은 편집 시 오류를 방지하고 효과적으로 영상을 확인할 수 있도록 별도의 오류 제거 툴을 이용할 수 있으며, 필요 시 영상의 필터링을 위한 과정 또는 장치를 더 이용할 수 있다.
상기 물체의 종류, 크기 및 측정하고자 하는 표면의 개수에 따라 상기 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도를 제어하되, 제어를 위한 별도의 로직으로 제어하거나 사용자의 선택에 의해 조절할 수 있다.
이때 수집된 정보는 DB로 가공되어 저장, 활용됨으로써 물체의 표면 검사 시 자동으로 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도의 조건이 조정될 수 있으며, 사용자는 물체의 종류 등의 요건을 입력하면 자동으로 상기 반사부의 조건이 변경되고 이에 따라 효율적으로 물체의 다면 비전 검사가 가능한 것이다.
본 발명에 따른 다면 비전 검사 방법은 피검 대상인 물체를 고정시키는 단계(S100), 상기 촬영부를 상기 물체에 접근 또는 이격하여 영상 수집을 위한 촬영 조정 단계(S300), 상기 촬영부의 영상을 확인함과 동시에 기 설정된 조건 또는 사용자의 선택에 따라 반사부의 크기, 개수 및 각도를 조절 제어하는 단계(S500), 상기 반사부에서 출사된 상기 물체의 복수의 표면 영상을 상기 촬영부를 통해 촬영하는 단계(S700) 및 상기 촬영된 물체의 복수 표면 영상을 통해 물체의 이상 유무를 확인 검사하는 단계(S900)를 포함한다.
본 발명에 따른 다면 비전 검사 방법에 사용되는 시스템 또는 장치는 상기 물체를 수용하거나 고정하는 베드부(100), 상기 물체의 표면 영상을 촬영하는 촬영부(300) 하나 이상의 광원(500), 상기 광원 또는 물체로부터 반사되는 빛의 경로를 변경하는 복수의 반사부(700) 및 제어부(900)를 포함한다.
상기 촬영부(300)는 하나의 카메라로 마련되고, 상기 반사부(700)는 상기 물체를 둘러싸도록 배치되어 상기 물체의 표면 영상을 반사시켜 상기 촬영부(300)로 수렴되도록 하되, 상기 반사부(700)의 갯수, 각도, 굴곡 및 크기를 제어하는 것이다.
상기 카메라는 그 형태나 종류에 상관없이 영상을 수집, 획득할 수 있는 장치라면 모두 이용될 수 있으며, 가능한 위치를 제어할 수 있도록 소형화된 카메라를 이용하는 것이 바람직하다. 또한, 상기 카메라는 하나를 이용하여 사용하되 렌즈를 복 수개 부착하여 사용할 수도 있을 것이다.
상기 베드부(100)는 일면에 개구부가 마련되고 내부에 상기 반사부가 설치된 수용부가 형성되어 상기 수용부에 상기 물체를 수용 또는 고정시킨다. 즉, 피검 대상인 물체를 상기 베드부(100)에 얹어서 촬영할 수도 있으나 바람직하게는 상기 베드부(100)의 내부에 마련된 수용부에 상기 물체를 수용시킨다. 상기 수용부의 내부 둘레에는 반사부가 복 수개 배치됨으로써 상기 물체의 표면 영상을 반사시키거나 수렴하는 것이다.
상기 물체를 상기 수용부에 수용하는 경우 사용자가 직접 이동시킬 수도 있으나 바람직하게는 collet(nozzle) 등으로 집어 넣을 수 있으며, 이때 상기 반사부인 micro mirror array를 활용하여 초점을 맞출 수 있다.
상기 촬영부(300)는 상기 베드부(100) 상부에 위치하되 상, 하, 좌, 우 및 회전운동이 가능하여 상기 개구부를 통해 상기 수용부에 출입이 가능하며, 상기 촬영부는 상기 수용부 내부의 반사부를 통해 반사 수렴된 물체의 표면 영상을 촬영하는 것이다.
상기 촬영부는 바람직하게는 터렛(회전) 방식으로 핸들링 될 수 있으며 상기 collet 하단부에 package가 진공으로 부착될 수 있다. 또한, 상기 collet이 모터나 구동부에 의해 하강하며 상기 물품을 촬영할 수 있다.
상기 수용부는 복수의 반사부가 마련되어 상기 물체의 표면 영상을 상기 촬영부로 보내며, 상기 반사부는 거울로 마련되어 상기 거울의 크기, 반사 각도의 조건을 기 설정된 로직에 따라 상기 제어부가 제어하거나 사용자의 선택에 따라 조정할 수 있다.
상기 광원(500)은 상기 검사 시스템(1)이 설치된 장소의 외부 광원, 상기 촬영부 일단에 설치되어 상기 수용부 내부의 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 및 상기 수용부 내부에 설치되어 상기 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 중 어느 하나 이상으로 마련될 수 있다.
즉, 상기 물체의 표면 영상을 촬영하기 위해 상기 광원이 외부광원으로 이용하는 경우 다소 조도가 낮으면, 상기 촬영부 또는 수용부 내부에 별도의 광원을 마련하여 효과적으로 촬영할 수도 있는 것이다.
상기 촬영부(300)는 카메라로 마련되되, 하나 이상의 렌즈를 포함하고, 상기 렌즈는 어안렌즈, 분할렌즈로 마련되어 상기 물체의 다면 영상을 촬영할 수 있으며, 입수된 복수의 영상은 별도의 편집 툴을 이용하여 하나의 이미지로 편집할 수 있다.
이때, 입수된 복수의 표면 영상은 편집 시 오류를 방지하고 효과적으로 영상을 확인할 수 있도록 별도의 오류 제거 툴을 이용할 수 있으며, 필요 시 영상의 필터링을 위한 과정 또는 장치를 더 이용할 수 있다.
상기 물체의 종류, 크기 및 측정하고자 하는 표면의 개수에 따라 상기 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도를 제어하되, 제어를 위한 별도의 로직으로 제어하거나 사용자의 선택에 의해 조절할 수 있다.
이때 수집된 정보는 DB로 가공되어 저장, 활용됨으로써 물체의 표면 검사 시 자동으로 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도의 조건이 조정될 수 있으며, 사용자는 물체의 종류 등의 요건을 입력하면 자동으로 상기 반사부의 조건이 변경되고 이에 따라 효율적으로 물체의 다면 비전 검사가 가능한 것이다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서의 단순 치환, 변형 및 변경은 당 분야에서의 통상의 지식을 가진 자에게 명백한 것이다.
본 발명에 따른 다면 비전 검사 시스템 및 방법은 하나의 촬영부를 이용하되 반사부를 이용함으로써 효과적으로 물체의 다면 표면을 검사하는 시스템 및 방법에 이용될 수 있다.
1: 다면 비전 검사 시스템
100: 베드부 300: 촬영부
500: 광원 700: 반사부
900: 제어부 910: 서버
S100: 물체의 고정 단계
S300: 촬영부 조정단계
S500: 반사부 조정단계
S700: 촬영단계
S900: 이상유무 검사 단계

Claims (7)

  1. 하나의 촬영부를 이용하되 반사부를 제어함으로써 물체의 표면을 촬영하여 검사하는 다면 비전 검사 시스템에 있어서,
    상기 물체를 수용하거나 고정하는 베드부;
    상기 물체의 표면 영상을 촬영하는 촬영부;
    하나 이상의 광원;
    상기 광원 또는 물체로부터 반사되는 빛의 경로를 변경하는 복수의 반사부; 및 제어부; 를 포함하며,
    상기 베드부는 일면에 개구부가 마련되고 내부에 상기 반사부가 설치된 수용부가 형성되어 상기 수용부에 상기 물체를 수용 또는 고정시키되, 상기 물체를 collet으로 집어 넣고 상기 반사부인 micro mirror array로 초점을 맞추며,
    상기 촬영부는 카메라로 마련되되, 하나 이상의 어안렌즈, 분할렌즈로 마련되어 상기 물체의 다면 영상을 촬영할 수 있으며, 입수된 복수의 영상은 별도의 편집 툴을 이용하여 하나의 이미지로 편집하고, 터렛 방식으로 핸들링되어 상기 collet 하단부에 package가 진공으로 부착되며,
    상기 반사부는 상기 물체를 둘러싸도록 4면, 6면, 8면 중 어느 하나를 선택하여 배치되고, 상기 반사부에 의한 영상과 상기 물체 자체에 의한 영상이 모두 상기 촬영부로 수렴되도록 수렴 거울이 더 마련되며, 상기 촬영부로 수렴되는 상기 반사부를 통한 영상과 상기 물체 자체의 영상 사이의 광경로 차이를 이용하여 상기 물체의 표면 정보를 수집 및 분석하고,
    상기 물체의 종류, 크기 및 측정하고자 하는 표면의 갯수에 따라 상기 반사부의 갯수, 각도, 굴곡 및 크기를 기 설정된 로직에 따라 상기 제어부가 제어하거나 사용자의 선택에 따라 조정하며, 이때 수집된 정보는 DB로 가공되어 저장, 활용됨으로써 물체의 표면 검사 시 자동으로 반사부의 개수, 크기 및 반사 각도의 조건이 조정하는 것을 특징으로 하는 다면 비전 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 촬영부는 상기 베드부 상부에 위치하되 상, 하, 좌, 우 및 회전운동이 가능하여 상기 개구부를 통해 상기 수용부에 출입이 가능하며, 상기 촬영부는 상기 수용부 내부의 반사부를 통해 반사 수렴된 물체의 표면 영상을 촬영하는 것을 특징으로 하는 다면 비전 검사 시스템.
  3. 삭제
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 광원은 상기 검사 시스템이 설치된 장소의 외부 광원, 상기 촬영부 일단에 설치되어 상기 수용부 내부의 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 및 상기 수용부 내부에 설치되어 상기 물체를 향해 빛을 조사하는 광원 중 어느 하나 이상으로 마련되는 것을 특징으로 하는 다면 비전 검사 시스템.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1항, 제 2항 및 제 4항 중 어느 한 항에 따른 검사 시스템을 이용하여 물체를 검사하는 다면 비전 검사 방법에 있어서,
    피검 대상인 물체를 고정시키는 단계;
    상기 촬영부를 상기 물체에 접근 또는 이격하여 영상 수집을 위한 촬영 조정 단계;
    상기 촬영부의 영상을 확인함과 동시에 기 설정된 조건 또는 사용자의 선택에 따라 반사부의 크기, 개수 및 각도를 조절 제어하는 단계;
    상기 반사부에서 출사된 상기 물체의 복수의 표면 영상을 상기 촬영부를 통해 촬영하는 단계; 및
    상기 촬영된 물체의 복수 표면 영상을 통해 물체의 이상 유무를 확인 검사하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 다면 비전 검사 방법.

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