KR100991511B1 - 5면 비전 검사 시스템 - Google Patents
5면 비전 검사 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100991511B1 KR100991511B1 KR1020080098970A KR20080098970A KR100991511B1 KR 100991511 B1 KR100991511 B1 KR 100991511B1 KR 1020080098970 A KR1020080098970 A KR 1020080098970A KR 20080098970 A KR20080098970 A KR 20080098970A KR 100991511 B1 KR100991511 B1 KR 100991511B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- image acquisition
- acquisition unit
- transfer
- measurement object
- vision inspection
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
- 표면 영상을 촬영하고 촬영 결과에 따라 불량 여부를 자동으로 검사하는 비전 검사 시스템에 있어서,본체(100);와,상기 본체(100)의 전방 양측에 각각 설치되며 측정대상물(580)이 수납된 다수의 트레이(210)가 상승 또는 하강 될 수 있도록 적재된 제 1로더(200a) 및 제 2로더(200b);상기 각각의 로더(200a,200b) 후방에 전후 방향으로 구비되어 트레이(210)를 전후 방향으로 이송하는 제 1이송레일(300a) 및 제 2이송레일(300b);상기 각 이송레일(300a,300b) 사이에 구비되어 측정대상물(580)의 전/후면 영상을 촬영하는 한쌍의 제 1영상획득부(410) 및 제 2영상획득부(420)가 구비된 제 1비전검사부(400);상기 각 이송레일(300a,300b) 사이에 구비되어 측정대상물(580)의 좌/우면 영상과 저면 영상을 촬영하는 제 3영상획득부(530), 제 4영상획득부(540) 및 제 5영상획득부(550)가 구비된 제 2비전검사부(500);상기 각 이송레일(300a,300b) 상의 트레이(210)로부터 비전 검사될 측정대상물(580)를 픽업하여 좌우 수평 이동을 통해 이송하도록 구비되는 제 1이송픽커(600a) 및 제 2이송픽커(600b);상기 각 이송레일(300a,300b) 사이에 구비되어 상기 각 이송픽커(600a,600b) 의 좌우 수평 이동을 안내하는 제 1픽커이동수단(700a) 및 제 2픽커이동수단(700b);상기 각각의 로더(200a,200b) 후방의 제 1이송레일(300a) 및 제 2이송레일(300b) 사이에 구비되며 불량품 측정대상물(580)이 수납되는 리젝트 트레이(800); 및비전 검사 완료된 측정대상물(580)을 리젝트 트레이(800)이 및 각 로더(200a,200b)로부터 반출되는 트레이(210)로 분류하는 소팅 장치(900)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 5면 비전 검사 시스템.
- 제 1항에 있어서,제 2비전검사부(500)는,상기 제 1이송레일(300a) 및 제 2이송레일(300b) 사이에 고정되는 가이드판(510)과,상기 가이드판(510)에 상부에 슬라이딩결합되어 상기 각 이송레일(300a,300b)로 이송되는 이송판(520)과,상기 이송판(520)의 상부 중앙 양측에 직립 배치되는 사각프레임으로 구성되는 제 1조명부(531) 및 제 2조명부(541)와,상기 제 1조명부(531) 및 제 2조명부(541)의 사이에 상기 이송판(520)과 동일 방향으로 수평 배치되는 사각프레임으로 구성되는 제 3조명부(551)와,상기 제 1조명부(531) 및 제 2조명부(541)의 측면에 배치되는 반사판(560)을 통해 측정대상물(580)의 좌측과 우측 표면 영상을 획득하는 제 3영상획득부(530) 및 제 4영상획득부(540)와,상기 제 3조명부(551)의 저면에 배치되는 반사판(560)을 통해 측정대상물(580)의 저면 표면 영상을 획득하는 제 5영상획득부(550)로 구성되는 것을 특징으로 하는 5면 비전 검사 시스템.
- 제 2항에 있어서,상기 제 1조명부(531) 및 제 2조명부(541)는 이송실린더(570)에 연결되는 것을 특징으로 하는 5면 비전 검사 시스템.
- 제 2항에 있어서,상기 가이드판(510)은 이송판(520)의 저면에 부착되는 제 5영상획득부(550) 및 반사판(560)의 간섭을 피하기 위해 중앙이 절개된 절개부(511)가 더 형성되는 것을 특징으로 하는 5면 비전 검사 시스템.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080098970A KR100991511B1 (ko) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | 5면 비전 검사 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080098970A KR100991511B1 (ko) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | 5면 비전 검사 시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100039965A KR20100039965A (ko) | 2010-04-19 |
KR100991511B1 true KR100991511B1 (ko) | 2010-11-04 |
Family
ID=42216193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080098970A KR100991511B1 (ko) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | 5면 비전 검사 시스템 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100991511B1 (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102142687B1 (ko) * | 2018-02-06 | 2020-08-07 | (주) 인텍플러스 | 반도체 소자 외관 검사장치 |
KR102000906B1 (ko) * | 2019-02-20 | 2019-07-16 | 김성직 | 페라이트 외관 비전 검사시스템 |
KR102000907B1 (ko) * | 2019-02-20 | 2019-07-16 | 김성직 | 페라이트 외관 비전 검사방법 |
KR102303073B1 (ko) | 2019-11-14 | 2021-09-17 | 아나나스엘엘씨 유한책임회사 | 다면 비전 검사 알고리즘 및 이를 이용한 시스템 |
KR102310449B1 (ko) | 2019-11-14 | 2021-10-12 | 아나나스엘엘씨 유한책임회사 | 개선된 구조의 다면 비전 검사 시스템 및 검사 방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100596505B1 (ko) | 2004-09-08 | 2006-07-05 | 삼성전자주식회사 | 소잉/소팅 시스템 |
KR100833716B1 (ko) | 2007-03-30 | 2008-05-29 | (주) 인텍플러스 | 반도체 소자 비전 검사 시스템 |
-
2008
- 2008-10-09 KR KR1020080098970A patent/KR100991511B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100596505B1 (ko) | 2004-09-08 | 2006-07-05 | 삼성전자주식회사 | 소잉/소팅 시스템 |
KR100833716B1 (ko) | 2007-03-30 | 2008-05-29 | (주) 인텍플러스 | 반도체 소자 비전 검사 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100039965A (ko) | 2010-04-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100991511B1 (ko) | 5면 비전 검사 시스템 | |
KR100833716B1 (ko) | 반도체 소자 비전 검사 시스템 | |
TWI597227B (zh) | Electronic parts conveying apparatus, electronic parts inspection apparatus, test piece for inspection of condensation or frosting, and inspection method of condensation or frosting | |
KR100873672B1 (ko) | 반도체 소자의 비전 검사 시스템 | |
CN112394071A (zh) | 基板缺陷检查装置及方法 | |
JP2006329714A (ja) | レンズ検査装置 | |
JP2019086320A (ja) | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 | |
TW201712325A (zh) | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 | |
JP4767302B2 (ja) | ベアチップ用両面検査設備 | |
KR100862883B1 (ko) | 반도체 소자 인-트레이 검사 장치 및 그를 이용한 검사방법 | |
KR100705645B1 (ko) | 반도체 소자 분류 방법 | |
KR100969349B1 (ko) | 에이오아이(aoi) 장치 | |
JP2017015483A (ja) | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 | |
KR100933467B1 (ko) | 에이오아이(aoi) 장치 | |
WO1996011392A1 (fr) | Automate programmable et son procede de mise en application dans la mesure de dispositifs | |
KR101496994B1 (ko) | 휴대폰 부품의 후면 검사장치 | |
KR100705649B1 (ko) | 반도체 패키지의 인트레이 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR101305338B1 (ko) | 고속 검사모듈 및 이를 이용한 싱귤레이션 장치 | |
JP5954757B2 (ja) | 外観検査装置 | |
KR20130135582A (ko) | 비전검사모듈 및 그를 가지는 소자검사장치, 비전검사방법 | |
CN116964430A (zh) | 验蛋装置 | |
JP2017015479A (ja) | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 | |
KR101551351B1 (ko) | 엘이디 리드프레임 검사 방법 | |
KR100856528B1 (ko) | 전자부품의 자동검사 시스템 | |
JP2017015482A (ja) | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131004 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141010 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151002 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161007 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181004 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191002 Year of fee payment: 10 |