KR102286817B1 - 스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램 - Google Patents

스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램 Download PDF

Info

Publication number
KR102286817B1
KR102286817B1 KR1020197025561A KR20197025561A KR102286817B1 KR 102286817 B1 KR102286817 B1 KR 102286817B1 KR 1020197025561 A KR1020197025561 A KR 1020197025561A KR 20197025561 A KR20197025561 A KR 20197025561A KR 102286817 B1 KR102286817 B1 KR 102286817B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wavelength
hematite
scale
temperature
wavelengths
Prior art date
Application number
KR1020197025561A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20190113883A (ko
Inventor
히로시 다네이
마사토 스기우라
슈이치 야마자키
야스미츠 곤도
Original Assignee
닛폰세이테츠 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 닛폰세이테츠 가부시키가이샤 filed Critical 닛폰세이테츠 가부시키가이샤
Publication of KR20190113883A publication Critical patent/KR20190113883A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102286817B1 publication Critical patent/KR102286817B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0846—Optical arrangements having multiple detectors for performing different types of detection, e.g. using radiometry and reflectometry channels
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
    • G01N17/006—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light of metals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0003—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21B—ROLLING OF METAL
    • B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21C—MANUFACTURE OF METAL SHEETS, WIRE, RODS, TUBES OR PROFILES, OTHERWISE THAN BY ROLLING; AUXILIARY OPERATIONS USED IN CONNECTION WITH METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL
    • B21C51/00—Measuring, gauging, indicating, counting, or marking devices specially adapted for use in the production or manipulation of material in accordance with subclasses B21B - B21F
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/20—Metals
    • G01N33/202—Constituents thereof
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
    • G01J2005/0029—Sheet
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/48—Thermography; Techniques using wholly visual means
    • G01J5/485—Temperature profile

Abstract

스케일 조성 판정 장치(10)는 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정된 강재 SM의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인 경우에, 스케일(SC)의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 스케일(SC)의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판정한다.

Description

스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램
본 발명은 스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램에 관한 것으로, 특히, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하기 위해 사용하는 데 적합한 것이다.
강재를 가열하면 표면에 스케일(철산화물의 피막)이 생긴다. 강재의 표면에 생성되는 스케일에는 단층 스케일과, 복층 스케일이 있다. 단층 스케일이란, 뷔스타이트(FeO)만으로 이루어지는 스케일이다. 복층 스케일이란, 헤마타이트(Fe2O3), 마그네타이트(Fe3O4) 및 뷔스타이트(FeO)로 이루어지는 스케일이다. 복층 스케일에서는, 표층으로부터, 헤마타이트(Fe2O3), 마그네타이트(Fe3O4) 및 뷔스타이트(FeO)가 이 순서로 배치된다. 특허문헌 1에 기재되어 있는 바와 같이, 단층 스케일 및 복층 스케일의 어느 스케일이 될지는, 강재의 온도나, 강재의 주위의 분위기 중 산소 농도 등에 따라 정해진다. 또한, 스케일의 밀착성은 그 조성에 관계되어 있다. 예를 들어, 열간 압연 공정에 있어서, 블리스터링 등에 의해 발생하는 스케일의 박리의 발생 빈도는 스케일의 최표층에 Fe2O3가 존재하면 비약적으로 높아진다.
열간 압연 공정에 있어서 스케일이 박리되면, 그 후의 압연에서, 박리된 스케일이 강재에 압입됨으로써 강재의 표면에 흠집이 형성될 우려가 있다. 또한, 박리된 스케일이 강재에 압입되지 않는 경우라도, 산세 후, 강재의 표면에 스케일의 모양이 생길 우려가 있다. 따라서, 스케일의 조성을 판별하고, 그 결과를, 조업에 활용할 것이 요망된다.
스케일의 조성을 판별하는 방법으로서, X선 회절 측정이 고려된다. X선 회절 측정에서는, 스케일이 성장하고 있는 강재를 수㎝ 정도의 크기로 절단한 시험편을 제작하고, 이 시험편의 X선 회절 패턴을 측정한다. 스케일의 결정 구조에 따라 다른 X선 회절 패턴이 얻어진다. 따라서, X선 회절 패턴으로부터, 스케일의 최표층에 Fe2O3가 있는지 여부(즉, 전술한 단층 스케일인지, 복층 스케일인지)를 판별할 수 있다.
그러나, X선 회절 측정에서는, 강재를 절단하여 시험편을 제작할 필요가 있다. 또한, 강재가 냉각된 후밖에 X선 회절 패턴을 측정할 수 없다. 따라서, 조업 중인 강재의 표면에 생성되어 있는 스케일의 조성을 온라인(리얼타임)으로 판별할 수 없다.
그래서, 특허문헌 1에 기재된 기술에서는, 강재의 표면에 있어서의 산화의 율속 과정이, 산소 분자가 강판의 표면의 산화막으로 공급되는 과정과, 철 원자가 강재의 표면에서 산화되는 과정 중, 어느 것에 율속되고 있는지에 따라, 스케일의 최표층에 Fe2O3가 있는지 여부를 판별한다.
일본 특허 공개 제2012-93177호 공보
사이토 야스토시, 아타케 도오루, 마루야마 도시오 편역, 「금속의 고온 산화」, 우치다 로카쿠호, p.32 내지 p.34, 2013년
그러나, 특허문헌 1에 기재된 기술에서는, 강재의 표면에 있어서의 산화의 율속 과정을 판별하기 위해 모델식을 사용할 필요가 있다. 따라서, 판별의 정밀도는 모델식의 정밀도에 의존한다. 또한, 초기의 산화층의 두께를 가정할 필요가 있다. 또한, 복수의 모델 상수를 모델식에 설정할 필요가 있다. 이 때문에, 모델 상수를 고정밀도로 정할 필요가 있다. 따라서, 조업 중의 강재의 표면에 생성되어 있는 스케일의 조성을 고정밀도로 온라인(리얼타임)으로 판별하는 것이 용이하지 않다는 문제점이 있다.
본 발명은 이상의 문제점을 감안하여 이루어진 것이고, 조업 중의 강재의 표면에 생성되어 있는 스케일의 조성을 온라인으로 고정밀도로 판별할 수 있도록 할 것을 목적으로 한다.
본 발명의 스케일 조성 판정 시스템의 제1 예는, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 시스템이며, 서로 다른 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 수단과, 상기 측정 수단에 의해 측정된 상기 강재의 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 수단을 갖고, 상기 두 파장 중 제1 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선과, 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선의 교점에 있어서의 헤마타이트의 두께가, 상기 스케일의 최표층에 생성되는 헤마타이트의 두께로서 상정되는 두께의 상한값을 상회하도록 정해져 있고, 상기 헤마타이트 곡선은, 헤마타이트의 두께와 헤마타이트의 온도의 관계를 나타내는 곡선인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 스케일 조성 판정 시스템의 제2 예는, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 시스템이며, 서로 다른 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 수단과, 상기 측정 수단에 의해 측정된 상기 강재의 온도 중 두 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 수단을 갖고, 상기 N개의 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 N개의 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고, 상기 헤마타이트 곡선은, 헤마타이트의 두께와 헤마타이트의 온도의 관계를 나타내는 곡선이고, 상기 N은 3 이상의 정수인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 스케일 조성 판정 방법의 제1 예는, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 방법이며, 서로 다른 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 공정과, 상기 측정 공정에 의해 측정된 상기 강재의 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 갖고, 상기 두 파장 중 제1 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선과, 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선의 교점에 있어서의 헤마타이트의 두께가, 상기 스케일의 최표층에 생성되는 헤마타이트의 두께로서 상정되는 두께의 상한값을 상회하도록 정해져 있고, 상기 헤마타이트 곡선은, 헤마타이트의 두께와 헤마타이트의 온도의 관계를 나타내는 곡선인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 스케일 조성 판정 방법의 제2 예는, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 방법이며, 서로 다른 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 공정과, 상기 측정 공정에 의해 측정된 상기 강재의 온도 중 두 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 갖고, 상기 N개의 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 N개의 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고, 상기 헤마타이트 곡선은, 헤마타이트의 두께와 헤마타이트의 온도의 관계를 나타내는 곡선이고, 상기 N은 3 이상의 정수인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 프로그램의 제1 예는, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 것을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램이며, 방사 측온법에 의해 측정된, 서로 다른 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 취득하는 취득 공정과, 상기 취득 공정에 의해 취득된 상기 강재의 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 컴퓨터에 실행시키고, 상기 두 파장 중 제1 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선과, 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선의 교점에 있어서의 헤마타이트의 두께가, 상기 스케일의 최표층에 생성되는 헤마타이트의 두께로서 상정되는 두께의 상한값을 상회하도록 정해져 있고, 상기 헤마타이트 곡선은, 헤마타이트의 두께와 헤마타이트의 온도의 관계를 나타내는 곡선인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 프로그램의 제2 예는, 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 것을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램이며, 방사 측온법에 의해 측정된, 서로 다른 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 취득하는 취득 공정과, 상기 취득 공정에 의해 취득된 상기 강재의 온도 중 두 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 컴퓨터에 실행시키고, 상기 N개의 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 N개의 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고, 상기 헤마타이트 곡선은, 헤마타이트의 두께와 헤마타이트의 온도의 관계를 나타내는 곡선이고, 상기 N은 3 이상의 정수인 것을 특징으로 한다.
도 1은 열간 압연 라인의 개략 구성의 일례를 도시하는 도면이다.
도 2는 스케일 조성 판정 시스템의 구성의 제1 예를 도시하는 도면이다.
도 3은 강재의 온도와, 단층 스케일의 두께의 관계의 일례를 도시하는 도면이다.
도 4는 강재의 온도와, 복층 스케일의 최표층 Fe2O3의 두께의 관계의 일례를 도시하는 도면이다.
도 5는 Fe2O3가 생성되는 시간과, 강재의 온도의 관계의 일례를 도시하는 도면이다.
도 6은 스케일 조성 판정 장치의 동작의 일례를 설명하는 흐름도이다.
도 7은 스케일 조성 판정 장치의 하드웨어의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.
도 8은 스케일 조성 판정 시스템의 구성의 제2 예를 도시하는 도면이다.
이하, 도면을 참조하면서, 본 발명의 실시 형태를 설명한다.
(제1 실시 형태)
먼저, 제1 실시 형태를 설명한다.
<열간 압연 라인의 구성의 개략>
도 1은 스케일 조성 판정 장치(10)의 적용처의 일례인 열간 압연 라인의 개략 구성의 일례를 도시하는 도면이다.
도 1에 있어서, 열간 압연 라인은, 가열로(11)와, 디스케일러(12a 내지 12f)와, 폭 방향 압연기(13)와, 조압연기(14)와, 마무리 압연기(15)와, 냉각 장치(런아웃 테이블)(16)와, 권취 장치(코일러)(17)를 갖는다.
가열로(11)는 슬래브(강재) S를 가열한다.
디스케일러(12a 내지 12f)는 강재의 표면에 생성되어 있는 스케일을 제거한다. 스케일의 두께는, 예를 들어 10[㎛] 내지 100[㎛]이다. 디스케일러(12a 내지 12f)는, 예를 들어 가압수를 강재의 표면에 분사함으로써, 디스케일링(스케일의 제거)을 행한다. 또한, 강재는 고온이기 때문에, 스케일을 제거해도 강재는 즉시 재산화된다. 따라서, 강재는 항상 스케일이 표면에 존재한 상태로 압연된다.
폭 방향 압연기(13)는 가열로(11)에서 가열된 슬래브 S를 폭 방향으로 압연한다.
조압연기(14)는 폭 방향 압연기(13)에서 폭 방향으로 압연된 슬래브 S를 상하 방향으로부터 압연하여 조바아로 한다. 도 1에 도시하는 예에서는, 조압연기(14)는 워크 롤만으로 이루어지는 압연 스탠드(14a)와, 워크 롤과 백업 롤을 갖는 압연 스탠드(14b 내지 14e)를 갖는다.
마무리 압연기(15)는 조압연기(14)에서 제조된 조바아를 다시 소정의 두께까지 연속하여 열간 마무리 압연을 행한다. 도 1에 도시하는 예에서는, 마무리 압연기(15)는 7개의 압연 스탠드(15a 내지 15g)를 갖는다.
냉각 장치(16)는 마무리 압연기(15)에 의해 열간 마무리 압연이 행해진 열연 강판 H를 냉각수에 의해 냉각한다.
권취 장치(17)는 냉각 장치(16)에 의해 냉각된 열연 강판 H를 코일형으로 권취한다.
또한, 열간 압연 라인은 공지의 기술로 실현할 수 있고, 도 1에 도시하는 구성에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 마무리 압연기(15)의 7개의 압연 스탠드(15a 내지 15g) 중, 상류측의 압연 스탠드 사이[예를 들어, 압연 스탠드(15a, 15b) 사이 및 압연 스탠드(15b, 15c) 사이]에 디스케일러를 배치해도 된다.
본 실시 형태에서는, 열간 압연 라인에 대하여, 두 방사 온도계를 1조로 하는 방사 온도계의 조를 적어도 하나 배치한다. 방사 온도계는 방사 측온법에 의해, 강재의 온도를 비접촉으로 측정한다.
도 1에 도시하는 예에서는, 디스케일러(12b)와, 압연 스탠드(14b) 사이의 영역의 1조의 방사 온도계(20a, 20b)를 배치하는 경우를 도시한다. 압연 스탠드(14b)는 워크 롤과 백업 롤을 갖는 압연 스탠드 중 최상류에 마련된 압연 스탠드이다.
도 2에 도시하는 스케일 조성 판정 장치(10)는 방사 온도계(20a, 20b)에서 측정된 강재 SM의 온도를 입력한다. 스케일 조성 판정 장치(10)는 입력한 강재 SM의 온도에 기초하여, 당해 강재 SM의 표면에, 단층 스케일 및 복층 스케일의 어느 스케일 SC가 생성되어 있는지를 판정한다. 전술한 바와 같이, 단층 스케일은 FeO만으로 이루어지는 스케일이다. 복층 스케일은 헤마타이트(Fe2O3), 마그네타이트(Fe3O4) 및 뷔스타이트(FeO)로 이루어지는 스케일이다. 복층 스케일에서는, 표층으로부터, 헤마타이트(Fe2O3), 마그네타이트(Fe3O4) 및 뷔스타이트(FeO)가, 이 순서로 배치된다.
도 2는 스케일 조성 판정 시스템의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 도 2에서는, 방사 온도계(20a, 20b)의 배치와, 스케일 조성 판정 장치(10)의 기능적인 구성의 일례를 도시한다.
<방사 온도계(20a, 20b)>
먼저, 방사 온도계(20a, 20b)의 배치의 일례에 대하여 설명한다. 도 2에서는, 강재 SM의 옆에 붙어 있는 화살표선의 방향이 강재 SM의 반송 방향인 경우를 예로 들어 도시한다. 또한, 강재 SM의 표면에는 스케일 SC가 생성되어 있는 것으로 한다.
도 2에 있어서, 방사 온도계(20a, 20b)의 축(수광 렌즈의 광축)의, 강재 SM(의 표면)의 통과 위치와의 교점이 대략 일치하도록, 방사 온도계(20a, 20b)를 배치한다. 또한, 도 2에서는, 강재 SM의 반송 방향으로 방사 온도계(20a, 20b)를 나열하는 경우를 예로 들어 도시한다. 그러나, 방사 온도계(20a, 20b)의 축(수광 렌즈의 광축)의, 강재 SM(의 표면)의 통과 위치와의 교점이 대략 일치하도록 하고 있으면, 방사 온도계(20a, 20b)를 이와 같이 배치할 필요는 없다. 예를 들어, 강재 SM의 폭 방향으로 방사 온도계(20a, 20b)를 나열해도 된다.
이어서, 방사 온도계(20a, 20b)에 있어서 검출하는 파장의 일례에 대하여 설명한다.
방사 온도계(20a, 20b)와 강재 SM 사이의 영역(분위기)에는, 수증기(H2O)나 이산화탄소(CO2) 등의 가스가 있다. 스케일 SC로부터 방사되는 광(적외선)에는, 이 가스에 의해, 흡수되는 파장 대역이 있다.
본 발명자들은 열간 압연 공정의 환경 하에 있어서, 측정 대상으로부터 방사 온도계까지의 광로에 있어서의 방사광의 감쇠의 유무와, 당해 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ의 관계를 조사했다. 그 결과, 본 발명자들은 방사 온도계(20a, 20b)에서 검출하는 파장 λ를, 이하 (a1) 내지 (c1)의 파장 대역 중 어느 것에서 선택하면, 방사 온도계(20a, 20b)는 분위기 중의 가스에 큰 영향을 받지 않고 분광 방사 휘도를 측정할 수 있음을 확인했다. 즉, (a1) 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛], (b1) 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛], 및 (c1) 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 파장 대역 중에서, 방사 온도계(20a, 20b)에서 검출하는 파장 λ를 선택한다. 이와 같이 하면, 방사 온도계(20a, 20b)는 분위기 중의 가스에 큰 영향을 받지 않고 분광 방사 휘도를 측정할 수 있다. 또한, 분광 방사 휘도는 파장 λ[㎛]에 있어서의, 단위 파장당, 단위 면적당, 단위 입체각당 방사 다발[W·㎛-1·sr-1·m-2]이다. 또한, 방사 온도계(20a, 20b) 각각에서 검출하는 파장 λ는, 서로 다른 파장 대역에서 선택하는 것으로 한다. 예를 들어, 방사 온도계(20a)에서 계측하는 파장 λ를 (a1)의 파장 대역에서 선택한 경우는, 방사 온도계(20b)에서 계측하는 파장 λ를 (b1)이나 (c1)의 어느 것에서 선택한다.
여기서, 전술한 (a1)의 하한값은, 방사 온도계에 있어서 분광 방사 휘도를 측정하는 것이 가능한 파장 λ의 하한값(측정 대상의 강재 SM의 온도의 하한값)으로부터 정해진다. 이 분광 방사 휘도를 측정하는 것이 가능한 파장 λ의 하한값은 측정 대상의 강재 SM의 온도에 따라 정해진다. 예를 들어, 측정 대상의 강재 SM의 온도로서 900[℃] 이상의 온도를 측정하는 것으로 한 경우, 방사 온도계에 있어서 분광 방사 휘도를 측정하는 것이 가능한 파장 λ의 하한값은 0.6[㎛]가 된다. 그래서, 여기서는 (a1)의 하한값을 0.6[㎛]라고 했다. 또한, 측정 대상의 강재 SM의 온도의 하한값을 600[℃]라고 하는 경우에는, 전술한 (a1)의 하한값은 0.9[㎛]로 된다. 또한, (c1)의 상한값은 방사 온도계에 있어서의 광 검출 소자의 성능(장파장의 적외선의 검출 능력)의 제약으로부터 정해진다.
이어서, 본 발명자들은 전술한 (a1) 내지 (c1)의 파장 대역에 속하는 파장 λ에 있어서, 이하의 검토를 행하였다.
도 3은 강재 SM의 온도의 측정값과, 단층 스케일의 두께의 관계의 일례를 도시하는 도면이다. 도 3에 도시한 바와 같이, 여기서는 온도가 900[℃]인 강재 SM을 예로 들어 검토한다.
도 3에 도시한 바와 같이, 파장 λ에 따른 FeO의 분광 방사율 εw를 방사 온도계에 설정함으로써, 단층 스케일(FeO)의 온도로서, 단층 스케일(FeO)의 두께에 관계 없이 일정한 온도가 측정값으로서 방사 온도계에 의해 측정되는 것을 알 수 있다. 또한, 파장 λ에 관계없이, 단층 스케일(FeO)의 온도로서, 동일한 값의 온도가 방사 온도계에 의해 측정되는 것을 알 수 있다. 이것은 FeO가 불투명해서, 분광 방사율이 그 두께에 따라 변화되는 경우가 없기 때문이다. 또한, FeO의 분광 방사율 εw는 실험적으로 측정하거나, 광학 상수 데이터베이스를 참조하거나 함으로써 구할 수 있다.
또한, 본 발명자들은 표면에 복층 스케일을 갖는 강재 SM의 온도와, 당해 복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께의 관계를, (a1), (b1), (c1) 각각의 파장 대역에 속하는 각 파장 λ에 있어서 조사했다. 전술한 바와 같이, 파장 λ는 방사 온도계에서 검출하는 파장이다.
각 파장 λ에 있어서의, 표면에 복층 스케일을 갖는 강재 SM의 온도의 측정값과, 당해 복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께의 관계의 일례를 도 4에 도시한다. 전술한 바와 같이, 복층 스케일의 최표층에는 Fe2O3가 존재한다. 도 4에 있어서, Fe2O3 두께란, 복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께를 가리킨다. 또한, 각 파장 λ에 있어서의 강재의 온도를 도출할 때는, 당해 파장 λ에 있어서의 전술한 FeO의 분광 방사율 εw를 사용했다.
도 4에 있어서, 곡선(401, 402, 403)은 파장 λ가, 각각 (a1), (b1), (c1)의 파장 대역에 속하는 경우의, 강재 SM의 온도의 측정값과, Fe2O3 두께(복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께)의 관계를 나타낸다. 본 실시 형태에 있어서는, 이와 같이, 각 파장 λ에 있어서의, 강재 SM의 온도의 측정값과 헤마타이트(Fe2O3 두께)의 관계를 나타내는 곡선을 필요에 따라 「헤마타이트 곡선」이라고 칭한다.
도 4에 도시한 바와 같이, 표면에 복층 스케일을 갖는 강재 SM의 온도의 방사 온도계에 의한 측정값은 Fe2O3의 두께에 따라 다르다. 이것은, Fe2O3에 의한 광의 간섭의 영향에 의해, Fe2O3의 두께에 따라, Fe2O3의 분광 방사율이 변화되고, 또한 그 파형(분광 방사율과 Fe2O3의 두께의 관계를 나타내는 파형)도, 파장 λ에 따라 다르기 때문이라고 생각된다. 또한, Fe2O3에 의한 광의 간섭의 영향에 의해, Fe2O3의 두께에 따라, Fe2O3의 분광 방사율이 변화된다는 현상 자체는, 특허문헌 1에 기재되어 있다. 본 실시 형태에서는, Fe2O3의 두께에 의한 분광 방사율의 변화가 파장에 따라 다르다는 신규 지견을 이용한다.
도 4에 도시하는 결과로부터, Fe2O3의 두께가 적어도 1.5[㎛] 이하인 경우, 헤마타이트 곡선(401, 402, 403) 모두가 1점에서 교차하는 일이 없음을 알 수 있다. 이 때문에 Fe2O3의 두께가 적어도 1.5[㎛] 이하인 경우는, 헤마타이트 곡선(401, 402, 403) 중 두 곡선의 조이며, 서로 교차하지 않는 두 곡선의 조가 적어도 하나 존재한다. 도 4로부터는 구체적으로, 이하의 (a2) 내지 (c2)임을 알 수 있다.
(a2) Fe2O3의 두께가 1.5[㎛] 이하인 경우, 헤마타이트 곡선(401)과 헤마타이트 곡선(403)이 교차하지 않는다.
(b2) Fe2O3의 두께가 0.86[㎛] 미만인 경우, 헤마타이트 곡선(401)과 헤마타이트 곡선(402)이 교차하지 않고, 또한 헤마타이트 곡선(401)과 헤마타이트 곡선(403)이 교차하지 않는다.
(c2) Fe2O3의 두께가 0.29[㎛] 미만인 경우, 어느 헤마타이트 곡선(401 내지 403)도 교차하지 않는다.
또한, 스케일 SC의 최표층에 생성되는 Fe2O3의 두께는 이하와 같이 하여 구해진다. 먼저, 디스케일링에 의한 스케일 제거 시의 강재 SM의 온도와 그 후의 경과 시간을 사용하여, 공지의 스케일 두께 계산식으로부터 스케일 SC 전체의 두께를 구한다. 스케일 두께 계산식은, 온도와 시간의 함수로부터 스케일 SC의 전체의 두께를 구하는 식이다. 그리고, 열간 압연 라인에 있어서 생성되는 것이 상정되는 Fe2O3의 두께로서, 스케일 SC의 전체 두께의 1[％]의 두께를 구한다. 본 실시 형태에서는, 이와 같이 하여, Fe2O3의 두께가 추정되는 경우를 예로 들어 설명한다. 이하의 설명에서는, 이와 같이 하여 추정되는 Fe2O3의 두께를 필요에 따라 Fe2O3의 추정 두께라고 칭한다. 또한, 실제의 온도 이력을 상정한 스케일 생성의 연구소 실험을 행함으로써, Fe2O3의 추정 두께를 구해도 된다. 본 실시 형태에 있어서 상정하고 있는 강재 SM의 온도(600[℃] 내지 1200[℃])의 범위에서는, 스케일 SC의 최표층에 생성되는 Fe2O3의 추정 두께는 두꺼워도 0.50[㎛]이다. 마무리 압연기(15)를 통과 중인 강재 SM에 있어서는, 스케일 SC의 최표층에 생성되는 Fe2O3의 두께는 두꺼워도 0.18[㎛]이다.
본 실시 형태에 있어서 상정하고 있는 강재 SM의 온도(600[℃] 내지 1200[℃])의 범위에 있어서는, 이상의 「Fe2O3의 추정 두께와, 서로 교차하지 않는 두 헤마타이트 곡선의 조합의 관계」를 나타내는 (a2) 내지 (c2)는, 전술한 (a1) 내지 (c1)의 파장 대역의 그 밖의 파장의 조합에서도 마찬가지였다. 단, 그 밖의 파장의 조합에 있어서는, 헤마타이트 곡선(401, 402, 403) 각각이 교차하는 점이, 상술한 도 4, 및 (a2) 내지 (c2)에 예시한 교점과는 다르다.
예를 들어, 전술한 (a2)의 설명에 있어서의 Fe2O3의 추정 두께의 상한은 (a1)의 파장 대역 중에서 선택된 파장 λ로부터 구해진 헤마타이트 곡선(제1 헤마타이트 곡선)과, (a2)의 파장 대역 중에서 선택된 파장 λ로부터 구해진 헤마타이트 곡선(제2 헤마타이트 곡선)의 교점으로부터 산출된다.
그리고, Fe2O3의 추정 두께인 1.5[㎛]와, 제1 헤마타이트 곡선과 제2 헤마타이트 곡선의 교점으로부터 산출된 두께 중, 큰 쪽의 두께를 제1 두께라고 하고, 최소의 두께를 제2 두께라고 한다.
제1 두께와 제2 두께 사이에 차가 있는 경우는, 작은 쪽의 두께인 제2 두께를 (a2)의 「헤마타이트 곡선(401)과 헤마타이트 곡선(403)이 교차하지 않는」 경우의 상한으로서 채용한다.
마찬가지로, (b2)의 「헤마타이트 곡선(401)과 헤마타이트 곡선(402)이 교차하지 않고, 헤마타이트 곡선(401)과 헤마타이트 곡선(403)이 교차하지 않는」 영역의 상한(도 4에 도시하는 예에서는 0.86[㎛])도, 선택한 파장 λ에 따라 각 헤마타이트 곡선(401 내지 403)을 산출하여 채용한다.
(c2)의 「어느 헤마타이트 곡선(401 내지 403)도 교차하지 않는」 영역에 대해서도 마찬가지로, 헤마타이트 곡선(402)과 헤마타이트 곡선(403)의 교점으로부터, 그 상한(도 4에 도시하는 예에서는 0.29[㎛])을 정하면 된다. 또한, 전술한 바와 같이 본 실시 형태에서는, 열간 압연 라인에 있어서, 온도가 600[℃] 내지 1200[℃]의 범위의 강재 SM이 반송되는 것을 상정하고 있다. 이와 같은 온도 범위에서는, (a2)에 있어서의 상한 1.5[㎛] 대신에 채용되는 Fe2O3의 두께는, 1.5[㎛]에 비해 크게 바뀌는 경우는 없다. (b2) 내지 (c2)의 설명에 있어서의 Fe2O3의 두께에 대해서도 마찬가지로, 도 4에 도시한 상한 및 하한으로부터 크게 바뀌는 경우는 없다.
이상으로부터, 이하의 (a3) 내지 (c3)의 것을 말할 수 있다.
(a3) Fe2O3의 추정 두께가 1.5[㎛](또는 전술한 바와 같이 하여 1.5[㎛]보다도 작은, Fe2O3의 제2 두께) 미만인 경우, 전술한 (a1) 및 (c1)의 파장 대역 중에서 각각 하나씩 파장 λ를 선택한다. 이와 같이 하면, 그들 파장 λ에 있어서 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정되는 제1 온도와 제2 온도 사이에 차가 있는 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 있다고 판정할 수 있고, 도 3에 도시한 바와 같이 제1 온도와 제2 온도 사이에 차가 없는 경우는 FeO가 최표층에 있기 때문에, Fe2O3가 없다고 판정할 수 있다.
(b3) Fe2O3의 추정 두께가 0.86[㎛](또는 전술한 바와 같이 하여 0.86[㎛] 대신에 채용되는 Fe2O3의 두께) 미만인 경우, 전술한 (a1) 및 (c1)의 파장 대역 중에서 각각 하나씩 파장 λ를 선택하는 것과, 전술한 (a1) 및 (b1)의 파장 대역 중에서 하나씩 파장 λ를 선택하는 것의 어느 한쪽을 채용한다. 이와 같이 하면, 그들 파장 λ에 있어서 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정되는 온도의 차가 있는 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 있다고 판정할 수 있고, 차가 없는 경우에, Fe2O3가 없다고 판정할 수 있다.
(c3) Fe2O3의 추정 두께가 0.29[㎛](또는 전술한 바와 같이 하여 0.29[㎛] 대신에 채용되는 Fe2O3의 두께) 미만인 경우, 전술한 (a1) 내지 (c1)의 어느 두 파장 대역 중에서 각각 하나씩 파장 λ를 선택한다. 이와 같이 하면, 그들 파장 λ에 있어서 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정되는 온도의 차가 있는 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 있다고 판정할 수 있고, 차가 없는 경우에, Fe2O3가 없다고 판정할 수 있다.
이상과 같이, 판정의 대상이 되는 Fe2O3의 추정 두께의 상한값(제2 두께)에 따라, 전술한 (a1) 내지 (c1)의 파장 대역 중에서 두 파장 대역을 선택한다. 여기서, 판정의 대상이 되는 Fe2O3의 추정 두께의 상한값이란, 열간 압연 라인에서 열간 압연이 행해지는 강재 SM의 표면에 생성되는 스케일 SC의 최표층의 Fe2O3의 추정 두께로서 상정되는 두께의 최댓값이다. 그리고, (a1) 내지 (c1)의 파장 대역 중에서 선택한 두 파장 대역 중에서 각각 하나씩 선택한 서로 다른 파장 λ(제1 파장 λ와 제2 파장 λ)를 측정 대상의 파장이라고 한다. 이 각 파장의 측정에 있어서는, 방사 온도계(20a, 20b)를 각각 사용한다. 그리고, 선택한 파장 λ에 있어서의 FeO의 분광 방사율을 방사 온도계(20a, 20b)에 설정한다. 이와 같이 하여 방사 온도계(20a, 20b)를 구성한다. 그렇게 하면, 제1 파장에 대응하는 방사 온도계(20a)에 의해 측정되는 강재 온도의 측정값(제1 강재 온도)과, 제2 파장에 대응하는 방사 온도계(20b)에 의해 측정되는 강재 온도의 측정값(제2 강재 온도) 사이에 차가 있으면, 강재 SM의 표면에 생성되어 있는 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판정된다. 그에 반해, 제1 강재 온도와 제2 강재 온도 사이에 차가 없으면, 스케일 SC의 최표층은 FeO이고, Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판정할 수 있다.
단, 실제의 방사 온도계에서는, 측정에 변동이 발생하기(공차 등이 있기) 때문에, 스케일 SC의 최표층이 FeO라도, 제1 강재 온도와 제2 강재 온도가 완전히 일치하지 않는 경우가 있다. 따라서, 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정되는 제1 강재 온도와 제2 강재 온도의 차의 절댓값이 소정 값 이상이면, 강재 SM의 표면에 생성되어 있는 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않으면, Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판정하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 온도의 변동이 ±10[℃]인 경우, 제1 강재 온도와 제2 강재 온도의 차의 절댓값으로서 20[℃]를 채용할 수 있다.
도 5는 Fe2O3가 생성되는 시간과, 강재 SM의 온도의 관계의 일례를 도시하는 도면이다.
도 5에 있어서의 온도는, 디스케일링되었을 때의 강재 SM의 온도를 나타낸다. 여기서는, 디스케일링되었을 때의 강재 SM의 온도가 1000[℃], 1050[℃], 1100[℃], 1150[℃], 1200[℃]일 때에, 디스케일링을 행하고 나서, 강재 SM의 표면에 생성되는 스케일 SC의 최표층의 Fe2O3의 두께가 1.5[㎛]로 될 때까지의 시간을 각각 도출했다. 그 값이 도 5에 도시하는 플롯이다. 또한, 도출에 사용한 식은, 비특허문헌 1에 기재되어 있으므로, 여기서는, 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 여기서는, Fe2O3의 두께가, 스케일 SC의 두께의 1[％]라고 가정했다.
디스케일링을 행하고 나서 스케일 SC의 최표층에 생성되는 Fe2O3의 두께가 1.5[㎛]로 될 때까지의 시간을 tB[초]라고 하고, 3차식으로 근사시키면, 이하의 (1)식이 된다. 여기서, Ts는 강재 SM의 온도[℃]이다.
Figure 112019089488089-pct00001
도 4를 참조하면서 설명한 바와 같이, Fe2O3의 추정 두께가 1.5[㎛] 이하이면, 전술한 바와 같이 하여, 방사 온도계(20a, 20b)에서 검출하는 파장 λ와, 방사 온도계(20a, 20b)에 설정하는 분광 방사율을 정함으로써, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있는지 여부를 판정할 수 있다[전술한 (a3) 내지 (c3)을 참조]. 그리고, 실제의 열간 압연 공정에서는, 디스케일링이 행해지는 시간 간격은, (1) 식에 나타내는 시간 tB보다도 짧은 시간에 행해지는 경우가 많다. 따라서, 전술한 바와 같이 하여 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 방법을, 열간 압연 라인 중, 디스케일링이 행해지는 시간 간격이, (1)식에 나타내는 시간 tB보다도 짧은 개소에 적용할 수 있다.
단, 마무리 압연기(15)보다도 하류측을 반송 중인 강재 SM에 있어서는, 온도가 낮게 되어 있다는 점과, 연속 압연된다는 점과, 냉각수가 분사된다는 점에서, 스케일 SC의 최표층에 생성되는 Fe2O3의 두께는 두꺼워도 0.1[㎛]이다. 따라서, 마무리 압연기(15)보다도 하류측에 있어서는, (1)식에 나타내는 시간 tB와는 무관계로, 방사 온도계(20a, 20b)를 배치할 장소를 결정할 수 있다.
<스케일 조성 판정 장치(10)>
이어서, 스케일 조성 판정 장치(10)의 상세의 일례에 대하여 설명한다. 스케일 조성 판정 장치(10)의 하드웨어는, 예를 들어 CPU, ROM, RAM, HDD, 및 각종 인터페이스를 구비하는 정보 처리 장치, 또는 전용의 하드웨어를 사용함으로써 실현할 수 있다.
도 6은 스케일 조성 판정 장치(10)의 동작의 일례를 설명하는 흐름도이다. 도 2 및 도 6을 참조하면서, 스케일 조성 판정 장치(10)의 기능의 일례를 설명한다. 또한, 도 6의 흐름도는 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 강재 SM의 온도가 측정될 때마다 실행된다.
스텝 S601에 있어서, 온도 취득부(201)는 방사 온도계(20a, 20b)에서 측정된 강재 SM의 온도를 취득한다.
이어서, 스텝 S602에 있어서, 판정부(202)는 스텝 S601에서 취득된 강재 SM의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인지 여부를 판정한다. 소정의 온도는, 도 6의 흐름도의 실행을 개시하기 전에, 스케일 조성 판정 장치(10)에 설정되어 있다. 또한, 전술한 바와 같이, 예를 들어 온도의 변동이 ±10[℃]인 경우, 소정 값으로서 20[℃]를 채용할 수 있다.
이 판정의 결과, 강재 SM의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인 경우에는, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판단된다(즉, 강재 SM의 표면에 복층 스케일이 생성되어 있다고 판단됨). 그래서, 스텝 S603에 있어서, 출력부(203)는, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있음(강재 SM의 표면에 복층 스케일이 생성되어 있음)을 나타내는 정보를 출력한다. 그리고, 도 6의 흐름도에 의한 처리를 종료한다.
한편, 강재 SM의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상이 아닌 경우에는, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판단된다(즉, 강재 SM의 표면에 단층 스케일이 생성되어 있다고 판단된다). 그래서, 스텝 S604에 있어서, 출력부(203)는, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않음(강재 SM의 표면에 단층 스케일이 생성되어 있음)을 나타내는 정보를 출력한다. 그리고, 도 6의 흐름도에 의한 처리를 종료한다.
또한, 출력부(203)에 의한 상기 정보의 출력 형태로서는, 예를 들어 컴퓨터 디스플레이로의 표시, 외부 장치로의 송신, 및 스케일 조성 판정 장치(10)의 내부 또는 외부의 기억 매체로의 기억의 적어도 어느 하나를 채용할 수 있다.
도 7은 스케일 조성 판정 장치(10)의 하드웨어의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.
도 7에 있어서, 스케일 조성 판정 장치(10)는 CPU(701), 주기억 장치(702), 보조 기억 장치(703), 통신 회로(704), 신호 처리 회로(705), 화상 처리 회로(706), I/F 회로(707), 유저 인터페이스(708), 디스플레이(709), 및 버스(710)를 갖는다.
CPU(701)는 스케일 조성 판정 장치(10)의 전체를 통괄 제어한다. CPU(701)는 주기억 장치(702)를 워크 에어리어로서 사용하여, 보조 기억 장치(703)에 기억되어 있는 프로그램을 실행한다. 주기억 장치(702)는 데이터를 일시적으로 저장한다. 보조 기억 장치(703)는 CPU(701)에 의해 실행되는 프로그램 외에, 각종 데이터를 기억한다. 보조 기억 장치(703)는 전술한 소정의 온도 등, 도 6에 도시한 흐름도의 처리에 필요한 정보를 기억한다.
통신 회로(704)는 스케일 조성 판정 장치(10)의 외부와의 통신을 행하기 위한 회로이다.
신호 처리 회로(705)는 통신 회로(704)에서 수신된 신호나, CPU(701)에 의한 제어에 따라 입력한 신호에 대하여, 각종 신호 처리를 행한다. 온도 취득부(201)는, 예를 들어 CPU(701), 통신 회로(704), 및 신호 처리 회로(705)를 사용함으로써 그 기능을 발휘한다. 또한, 판정부(202)는, 예를 들어 CPU(701) 및 신호 처리 회로(705)를 사용함으로써 그 기능을 발휘한다.
화상 처리 회로(706)는 CPU(701)에 의한 제어에 따라 입력한 신호에 대하여, 각종 화상 처리를 행한다. 이 화상 처리가 행해진 신호는, 디스플레이(709)에 출력된다.
유저 인터페이스(708)는 오퍼레이터가 스케일 조성 판정 장치(10)에 대하여 지시를 행하는 부분이다. 유저 인터페이스(708)는, 예를 들어 버튼, 스위치 및 다이얼 등을 갖는다. 또한, 유저 인터페이스(708)는 디스플레이(709)를 사용한 그래피컬 유저 인터페이스를 갖고 있어도 된다.
디스플레이(709)는 화상 처리 회로(706)로부터 출력된 신호에 기초하는 화상을 표시한다. I/F 회로(707)는 I/F 회로(707)에 접속되는 장치와의 사이에서 데이터의 교환을 행한다. 도 7에서는, I/F 회로(707)에 접속되는 장치로서, 유저 인터페이스(708) 및 디스플레이(709)를 도시한다. 그러나, I/F 회로(707)에 접속되는 장치는 이들에 한정되지 않는다. 예를 들어, 가반형 기억 매체가 I/F 회로(707)에 접속되어도 된다. 또한, 유저 인터페이스(708)의 적어도 일부 및 디스플레이(709)는 스케일 조성 판정 장치(10)의 외부에 있어도 된다.
출력부(203)는, 예를 들어 통신 회로(704) 및 신호 처리 회로(705)와, 화상 처리 회로(706), I/F 회로(707), 및 디스플레이(709)의 적어도 어느 한쪽을 사용함으로써 그 기능을 발휘한다.
또한, CPU(701), 주기억 장치(702), 보조 기억 장치(703), 신호 처리 회로(705), 화상 처리 회로(706) 및 I/F 회로(707)는 버스(710)에 접속된다. 이들 구성 요소간의 통신은 버스(710)를 통해 행해진다. 또한, 스케일 조성 판정 장치(10)의 하드웨어는 전술한 스케일 조성 판정 장치(10)의 기능을 실현할 수 있으면, 도 7에 도시하는 것에 한정되지 않는다.
이상과 같이 본 실시 형태에서는, 스케일 조성 판정 장치(10)는, 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정된 강재 SM의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판정한다. 그때, 방사 온도계(20a, 20b)에 의한 측정에 분위기 중의 가스의 영향을 받지 않는 파장 대역 중에서 선택한 파장 λ의 각각에 대하여, 헤마타이트 곡선을 사전에 구해 둔다. 본 실시 형태에서는, 헤마타이트 곡선은 FeO의 분광 방사율을 설정한 방사 온도계에서 측정되는 강재 SM의 온도(Fe2O3의 온도)와, Fe2O3의 두께의 관계를 나타내는 곡선이다. 그리고, 측정 대상의 Fe2O3의 두께의 상한값이, 그들 곡선의 교점에서의 Fe2O3의 두께 미만이 되는 파장 λ의 조를 구한다. 그리고, 방사 온도계(20a, 20b)에서 검출하는 파장 λ, 방사 온도계(20a, 20b)에 설정하는 분광 방사율을, 각각, 구한 파장 λ, 당해 파장 λ에 있어서의 FeO의 분광 방사율이라고 한다. 따라서, 두 방사 측온을 행함으로써, 조업 중인 강재 SM의 표면에 생성되어 있는 스케일 SC가 단층 스케일인지 복층 스케일인지를 온라인에서 정확하게 판별할 수 있다. 이에 의해, 예를 들어 조업상의 관리를 신속하고 또한 정확하게 행하거나, 스케일 SC의 조성의 판별 결과를 조업에 신속하고 또한 정확하게 반영시키거나 할 수 있다.
<변형예>
[변형예 1]
본 실시 형태에서는, 둘의 방사 온도계(20a, 20b)를 사용하는 경우를 예로 들어 설명했다. 그러나, 둘의 다른 파장에서 방사 측온법에 의한 온도를 측정하도록 하고 있으면, 반드시 이와 같이 할 필요는 없다. 예를 들어, 2색 온도계에 있어서의 광학계의 부분을 사용하여 1대의 방사 온도계로 해도 된다. 구체적으로 설명하면, 예를 들어, 동일한 수광 렌즈로부터 입광한 광을 하프 미러에 의해 둘로 분광한다. 그리고, 분광한 광을, 서로 다른 파장의 광만을 통과시키는 두 파장 선택 필터의 어느 한쪽에 통과시킨다. 이 파장 선택 필터를 통과한 광에 대하여 방사 측온법에 의해 온도를 측정한다. 이와 같이 하면, 방사 온도계의 공간 절약화를 도모할 수 있다.
[변형예 2]
본 실시 형태에서는, 디스케일러(12b)와, 워크 롤과 백업 롤을 갖는 압연 스탠드 중 최상류에 마련된 압연 스탠드(14b) 사이의 영역에 1조의 방사 온도계(20a, 20b)를 배치하는 경우를 예로 들어 나타냈다. 그러나, 열간 압연 공정의, 최상류의 디스케일러(12a)보다도 하류측의 장소라면[가열로(11)로부터 추출되고, 적어도 1회의 디스케일링이 행해진 강판의 온도를 측정해 두었다면], 방사 온도계의 조를 배치하는 장소는, 이 장소에 한정되지 않는다. 예를 들어, 디스케일러와, 당해 디스케일러에 대하여 하류측에 있어서 가장 가까운 위치에 있는 압연 스탠드 사이의 장소에, 방사 온도계의 조를 배치할 수 있다. 또한, 이와 같은 장소의 복수의 위치에, 방사 온도계의 조를 각각 배치해도 된다(즉, 방사 온도계의 조를 복수 배치해도 됨). 이 경우, 스케일 조성 판정 장치(10)는 각각의 방사 온도계의 조에 대하여, 도 6에 도시하는 흐름도를 행하여, 방사 온도계의 조가 배치되는 각각의 장소에 있어서, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있는지 여부를 판정한다.
[변형예 3]
본 실시 형태에서는, 방사 온도계(20a, 20b)에 설정하는 분광 방사율로서, 방사 온도계(20a, 20b)에서 검출하는 파장 λ에 따른 FeO의 분광 방사율을 설정하는 경우를 예로 들어 설명했다. 그러나, 반드시 이와 같이 할 필요는 없다. 예를 들어, 방사 온도계(20a, 20b)의 분광 방사율로서, 파장 λ에 관계없이 동일한 값을 설정해도 된다(예를 들어, 어떤 파장 λ에 있어서도 0.78로 하거나, 초기 설정 값으로 하거나 해도 됨). 이와 같이 하는 경우, 본래의 FeO의 분광 방사율과 다른 분광 방사율이 방사 온도계(20a, 20b)에 설정된다. 따라서, 그만큼, 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정되는 온도도 변화된다. 그래서, 이 온도의 변화 분도 고려하여, 방사 온도계(20a, 20b)에 의해 측정되는 온도의 차의 절댓값과 비교할 소정 값의 크기를 결정한다.
[변형예 4]
본 실시 형태에서는, 스케일 조성 판정 장치(10)를 박판의 열간 압연 라인에 적용하는 경우를 예로 들어 설명했다. 그러나, 스케일 조성 판정 장치(10)의 적용처는 박판의 열간 압연 라인에 한정되지 않는다. 이 경우, 전술한 (a1) 내지 (c1)에 규정하는 파장 범위의 내용은, 스케일 조성 판정 장치(10)의 적용처에 따른 내용이 된다. 또한, Fe2O3의 두께 등, 전술한 (a3) 내지 (c3)에 규정하는 내용도, 스케일 조성 판정 장치(10)의 적용처에 따른 내용이 된다. 단, 이 경우에도, 도 4에 도시한 곡선(401, 403)과 같이, 서로 다른 두 파장 λ에 있어서 방사 측온법에 의해 얻어지는 강재 SM의 온도(Fe2O3의 온도)와, Fe2O3의 두께의 관계를 나타내는 두 곡선의 교점에서의 Fe2O3의 두께가, 측정 대상의 Fe2O3의 두께의 상한값을 상회하는 두 파장 λ를, 방사 온도계(20a, 20b)에서 검출하는 파장 λ로 한다. 스케일 조성 판정 장치(10)의 다른 적용처로서는, 예를 들어 특허문헌 1에 기재된 가열로를 들 수 있다.
[변형예 5]
본 실시 형태에서는, 방사 온도계(20a, 20b)로 온도를 측정하는 경우를 예로 들어 설명했다. 그러나, 반드시 방사 온도계(20a, 20b)로 온도까지 구할 필요는 없다. 예를 들어, 방사계에 의해 분광 방사 휘도를 검출하고, 검출한 분광 방사 휘도에 기초하여 스케일 조성 판정 장치(10)에서 온도를 측정(도출)해도 된다. 온도계에 파손의 우려가 없으면, 접촉식의 온도계를 사용해도 된다.
(제2 실시 형태)
이어서, 제2 실시 형태에 대하여 설명한다. 제1 실시 형태에서는, 두 방사 온도계(20a, 20b)를 사용하는 경우를 예로 들어 설명했다. 이에 비해, 본 실시 형태에서는, 셋 이상의 방사 온도계를 사용하는 경우에 대하여 설명한다. 이와 같이 본 실시 형태와 제1 실시 형태는, 방사 온도계의 수가 다르다는 것과, 방사 온도계의 수가 다른 것에 의한 스케일 조성 판정 장치(10)의 처리의 일부가 주로 다르다. 따라서, 본 실시 형태의 설명에 있어서, 제1 실시 형태와 동일한 부분에 대해서는, 도 1 내지 도 7에 붙인 부호와 동일한 부호를 붙이거나 하여 상세한 설명을 생략한다.
도 8은 스케일 조성 판정 시스템의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 도 8에서는, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)의 배치와, 스케일 조성 판정 장치(10)의 기능적인 구성의 일례를 도시한다. 도 8은 도 2에 대응하는 도면이다.
<방사 온도계(20a, 20b, 20c)>
먼저, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)의 배치의 일례에 대하여 설명한다. 도 8에 있어서, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)의 축(수광 렌즈의 광축)의, 강재 SM(의 표면)의 통과 위치와의 교점이 대략 일치하도록, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)를 배치한다. 또한, 도 8에서는, 강재 SM의 반송 방향으로 방사 온도계(20a, 20b, 20c)를 나열하는 경우를 예로 들어 도시한다. 그러나, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)의 축(수광 렌즈의 광축)의, 강재 SM(의 표면)의 통과 위치와의 교점이 대략 일치하도록 하고 있으면, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)를 이와 같이 배치할 필요는 없다. 예를 들어, 강재 SM의 폭 방향으로 방사 온도계(20a, 20b, 20c)를 나열해도 된다.
이어서, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 있어서 검출하는 파장의 일례에 대하여 설명한다.
방사 온도계(20a)는 제1 실시 형태에서 설명한 (a1)의 파장 대역 중에서 선택된 파장 λ를 측정 대상의 파장으로 하는 방사 온도계이다. 방사 온도계(20b)는 제1 실시 형태에서 설명한 (b1)의 파장 대역 중에서 선택된 파장 λ를 측정 대상의 파장으로 하는 방사 온도계이다. 방사 온도계(20c)는 제1 실시 형태에서 설명한 (c1)의 파장 대역 중에서 선택된 파장 λ를 측정 대상의 파장으로 하는 방사 온도계이다.
또한, 파장 λ에 따른 FeO의 분광 방사율 εw를 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 설정한다.
이상과 같은 방사 온도계(20a, 20b, 20c)를 사용함으로써, 표면에 복층 스케일을 갖는 강재 SM의 온도와, 당해 복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께의 관계의 일례로서, 도 4의 헤마타이트 곡선(401, 402, 403)을 얻을 수 있다.
도 4에 도시하는 예에서는, 복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께가 1.5[㎛] 이하이면, 곡선(401, 402, 403) 모두가 교차하는 교점은 존재하지 않는다. 따라서, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 의해 측정되는 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도에 차가 발생한다. 따라서, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 의해 측정되는 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도에 차가 있는 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 있다고 판정할 수 있고, 모든 조합에 있어서 차가 없는 경우에, Fe2O3가 없다고 판정할 수 있다. 이와 같이 하면, 판정 대상의 Fe2O3의 추정 두께의 범위를 확대할 수 있다. 또한, Fe2O3의 추정 두께에 따라서, 방사 온도계를 바꿀 필요가 없어진다.
단, 제1 실시 형태에서 설명한 바와 같이, 실제의 방사 온도계에서는, 측정에 변동이 발생한다(공차 등이 있다). 따라서, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 의해 측정되는 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도의 차의 절댓값이 소정 값 이상이면, 강재 SM의 표면에 생성되어 있는 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않으면, Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판정하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 온도의 변동이 ±10[℃]인 경우, 소정 값으로서 20[℃]를 채용할 수 있다.
또한, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)를 배치하는 개소는, 제1 실시 형태에서 설명한 개소와 동일하다.
<스케일 조성 판정 장치(10)>
스케일 조성 판정 장치(10)의 구성은 제1 실시 형태의 스케일 조성 판정 장치(10)와 동일하다. 도 6의 흐름도를 참조하면서, 본 실시 형태의 스케일 조성 판정 장치(10)의 기능의 일례를 설명한다. 또한, 도 6의 흐름도는 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 의해 강재 SM의 온도가 측정될 때마다 실행된다.
스텝 S601에 있어서, 온도 취득부(201)는 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에서 측정된 강재 SM의 온도를 취득한다.
이어서, 스텝 S602에 있어서, 판정부(202)는 스텝 S601에서 취득된 강재 SM의 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인지 여부를 판정한다.
이 판정의 결과, 스텝 S601에서 취득된 강재 SM의 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인 경우에는, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판단된다(즉, 강재 SM의 표면에 복층 스케일이 생성되어 있다고 판단된다). 그래서, 스텝 S603에 있어서, 출력부(203)는 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있음(강재 SM의 표면에 복층 스케일이 생성되어 있음)을 나타내는 정보를 출력한다. 그리고, 도 6의 흐름도에 의한 처리를 종료한다.
한편, 스텝 S601에서 취득된 강재 SM의 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상이 아닌 경우에는, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판단된다(즉, 강재 SM의 표면에 단층 스케일이 생성되어 있다고 판단된다). 그래서, 스텝 S604에 있어서, 출력부(203)는 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않음(강재 SM의 표면에 단층 스케일이 생성되어 있음)을 나타내는 정보를 출력한다. 그리고, 도 6의 흐름도에 의한 처리를 종료한다.
도 4에 도시하는 예에서는, 곡선(401, 402, 403) 모두가 교차하는 교점은 존재하지 않는다. 그러나, 예를 들어 스케일 조성 판정 장치(10)의 적용처에 따라서는, 강재 SM의 온도와, 당해 복층 스케일의 최표층의 Fe2O3의 두께의 관계를 나타내는 3개의 곡선이 교차하는 교점이 생길 수 있다. 따라서, 제1 실시 형태와 마찬가지로, 이와 같은 교점이 생기지 않는 것을 사전에 확인한다. 구체적으로는, 이하와 같이 한다.
(a1)의 파장 대역 중에서 선택한 파장 λ를 방사 온도계(20a)에 있어서의 측정 파장으로 한다. 또한, 이 파장 λ에 따른 FeO의 분광 방사율을 방사 온도계(20a)에 설정한다. (b1)의 파장 대역 중에서 선택한 파장 λ를 방사 온도계(20b)에 있어서의 측정 파장으로 한다. 또한, 이 파장 λ에 따른 FeO의 분광 방사율을 방사 온도계(20b)에 설정한다. (c1)의 파장 대역 중에서 선택한 파장 λ를 방사 온도계(20c)에 있어서의 측정 파장으로 한다. 또한, 이 파장 λ에 따른 FeO의 분광 방사율을 방사 온도계(20c)에 설정한다.
이상의 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에서 측정되는 강재 SM의 온도(Fe2O3의 온도)와, Fe2O3의 추정 두께의 관계를 나타내는 헤마타이트 곡선을 각각 작성한다. 그리고, Fe2O3의 추정 두께의 범위 내에서, 3개의 헤마타이트 곡선이 교차하는 교점이 있는지 여부를 판정한다. 3개의 헤마타이트 곡선이 교차하는 교점이 있는 경우에는, 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 있어서의 측정 파장의 적어도 하나를 변경한다. 그리고, 전술한 것과 마찬가지로, Fe2O3의 추정 두께의 범위 내에서, 3개의 헤마타이트 곡선이 교차하는 교점이 있는지 여부를 판정한다. 이상의 공정을, Fe2O3의 추정 두께의 범위 내에서, 3개의 헤마타이트 곡선이 교차하는 교점이 없어질 때까지 행한다. 그리고, Fe2O3의 추정 두께의 범위 내에서, 3개의 헤마타이트 곡선이 교차하는 교점이 없는 경우, 당해 3개의 헤마타이트 곡선을 작성했을 때의 방사 온도계(20a, 20b, 20c)의 측정 파장을 채용한다.
이상과 같이 본 실시 형태에서는, 스케일 조성 판정 장치(10)는 방사 온도계(20a, 20b, 20c)에 의해 측정된 강재 SM의 온도 중 두 온도의 복수의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도의 차의 절댓값이 소정의 온도 이상인 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 생성되어 있지 않다고 판정한다. 따라서, 제1 실시 형태에서 설명한 효과에 더하여, 이하의 효과가 얻어진다. 즉, 판정 대상의 Fe2O3의 추정 두께의 범위를 확대할 수 있다. 또한, 상정되는 Fe2O3의 추정 두께에 따라, 방사 온도계를 바꿀 필요가 없어진다.
제1 실시 형태에서는, 방사 온도계의 수는 둘이다. 이에 비해, 본 실시 형태에서는, 방사 온도계의 수는 셋이다. 이 때문에, 제1 실시 형태의 쪽이, 제2 실시 형태보다도, 시스템을 저렴하게 구성할 수 있다. 또한, 제1 실시 형태의 쪽이, 제2 실시 형태보다도, 방사 온도계의 설치 스페이스를 콤팩트하게 할 수 있다. 한편, 제2 실시 형태에서는, 상정되는 Fe2O3의 추정 두께가 변경되는 경우라도, 스케일 SC의 최표층에 Fe2O3가 있는지 여부를 확실하게 판정할 수 있다. 예를 들어, 이상의 점을 고려하여, 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태 중 어느 형태를 채용할지를 결정할 수 있다.
<변형예>
[변형예 6]
본 실시 형태에서는, 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ의 수가 셋인 경우를 예로 들어 설명했다. 그러나, 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ의 수는 셋 이상이면 된다. 예를 들어, 제1 실시 형태에서 설명한 (a1), (b1) 및 (c1)의 파장 대역 중, 둘 이상의 파장 대역 중에서, 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ를 선택 해도 된다. 단, 이때, 합계 셋 이상의 파장을 선택한다. 이와 같이, (a1), (b1) 및 (c1)의 파장 대역의 모두로부터 파장 λ를 선택하지 않아도 된다.
또한, 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ의 수가 둘인 경우라도, 본 실시 형태의 방법을 채용할 수 있다. 이 경우, 두 방사 온도계에서 측정되는 강재 SM의 온도(Fe2O3의 온도)와, Fe2O3의 두께의 관계를 나타내는 두 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록, 두 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ를 선택한다. 도 4에 도시하는 예에서는, 헤마타이트 곡선(401, 403)을 선택하는 것이, 이것에 대응한다. 예를 들어, (a1), (b1) 및 (c1)의 파장 대역 중, 두 파장 대역 중에서, 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ로서, 합계 둘의 파장을 선택해도 된다.
이상의 점에서, (a1), (b1) 및 (c1)의 파장 대역을 사용하는 경우, 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ는, (a1), (b1) 및 (c1)의 파장 대역 중, 둘 이상의 파장 대역의 파장이 된다.
이상의 사실을 일반화하면, Fe2O3의 추정 두께의 범위 내에서, N개의 방사 온도계에서 측정되는 강재 SM의 온도(Fe2O3의 온도)와, Fe2O3의 두께의 관계를 나타내는 N개의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록, N개의 방사 온도계에서 검출하는 파장 λ를 선택한다.
구체적으로는, N개의 파장을, 제1 파장 내지 제N 파장이라고 하고, 이들 제1 파장 내지 제N 파장으로부터 하나씩 선택된 파장을 제n 파장으로 한다(제n 파장으로서, 제1 파장 내지 제N 파장을 하나씩 차례로 선택함). 그렇게 하면, 제n 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제n 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 당해 제n 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이 된다. 여기서, 제1 파장 내지 제N 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 제1 파장 내지 제N 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해진다. 그리고, 분광 방사율을 당해 제n 파장에 있어서의 뷔스타이트의 분광 방사율로 하여 당해 제n 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정한다. 이와 같은 측정을 제1 파장 내지 제N 파장의 각각에 대하여 행한다.
이상의 설명에 있어서, N은 3 이상의 정수인 것이 바람직하지만, 2 이상의 정수여도 된다.
[변형예 7]
본 실시예에서도 제1 실시 형태에서 설명한 변형예를 채용할 수 있다.
[그 밖의 변형예]
또한, 이상 설명한 본 발명의 실시 형태는, 컴퓨터가 프로그램을 실행함으로써 실현할 수 있다. 또한, 상기 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 및 상기 프로그램 등의 컴퓨터 프로그램 프로덕트도 본 발명의 실시 형태로서 적용할 수 있다. 기록 매체로서는, 예를 들어 플렉시블 디스크, 하드 디스크, 광 디스크, 광자기 디스크, CD-ROM, 자기 테이프, 불휘발성의 메모리 카드, ROM 등을 사용할 수 있다.
또한, 이상 설명한 본 발명의 실시 형태는, 모두 본 발명을 실시하는 데 있어서의 구체화의 예를 나타낸 것에 지나지 않고, 이들에 의해 본 발명의 기술적 범위가 한정적으로 해석되어서는 안되는 것이다. 즉, 본 발명은 그 기술 사상, 또는 그 주요한 특징으로부터 일탈하지 않고, 다양한 형태로 실시할 수 있다.
본 발명은 강재를 제조하는 것 등에 이용할 수 있다.

Claims (17)

  1. 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 시스템이며,
    서로 다른 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 수단과,
    상기 측정 수단에 의해 측정된 상기 강재의 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 수단을 갖고,
    상기 두 파장에 있어 제1 파장 및 제2 파장은, 상기 제1 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선과, 상기 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선의 교점에 있어서의 헤마타이트의 두께가, 상기 스케일의 최표층에 생성되는 헤마타이트의 두께로서 상정되는 두께의 상한값을 상회하도록 정해져 있고,
    상기 두 파장은, 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛]의 범위 내의 파장과, 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛]의 범위 내의 파장과, 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 범위 내의 파장의 어느 2개이고,
    상기 제1 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제1 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제1 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제2 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제2 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 측정 수단은, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 상기 제1 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 것과, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 상기 제2 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법으로 측정하는 것을 행하고,
    상기 판정 수단은, 상기 측정 수단에 의해 측정된 상기 강재의 온도 차의 절댓값이 소정 값 이상인 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있지 않다고 판정하는 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 측정 수단은, 분광 방사율을 상기 제1 파장에 있어서의 뷔스타이트의 분광 방사율로 하여 상기 제1 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 것과, 분광 방사율을 상기 제2 파장에 있어서의 뷔스타이트의 분광 방사율로 하여 상기 제2 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 것을 행하는 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  3. 삭제
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 온도의 측정 대상인 상기 강재는, 열간 압연 공정에 있어서의 가열로에서 추출되고, 또한 적어도 1회의 디스케일링이 행해진 후의 강재인 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  5. 삭제
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 측정 수단은, 수광 렌즈와, 상기 수광 렌즈를 통해 입광한 광을 둘로 분광하는 분광 수단과, 상기 분광 수단에 의해 분광된 광으로부터 상기 두 파장의 광을 추출하는 추출 수단을 갖고, 상기 추출 수단에 의해 추출된 상기 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  7. 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 시스템이며,
    서로 다른 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 수단과,
    상기 측정 수단에 의해 측정된 상기 강재의 온도 중 두 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 수단을 갖고,
    상기 N개의 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 N개의 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고,
    상기 N개의 파장은, 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛]의 범위 내의 파장과, 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛]의 범위 내의 파장과, 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 범위 내의 파장 중, 어느 둘 이상의 범위 내의 파장이고,
    상기 N개의 파장은, 제1 파장 내지 제N 파장이고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장으로부터 하나씩 선택된 파장을 제n 파장이라고 하고,
    상기 제n 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제n 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제n 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 측정 수단은, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 상기 제n 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 제1 파장 내지 제N 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고,
    상기 판정 수단은, 상기 측정 수단에 의해 측정되는 상기 강재의 온도 중 두 온도의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도 차의 절댓값이 소정의 값 이상인 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있지 않다고 판정하고,
    상기 N은 3 이상의 정수인 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  8. 제7항에 있어서, 상기 측정 수단은, 분광 방사율을 상기 제n 파장에 있어서의 뷔스타이트의 분광 방사율로 하여 상기 제n 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 제1 파장 내지 제N 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있는 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  9. 삭제
  10. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 온도의 측정 대상인 상기 강재는, 열간 압연 공정에 있어서의 가열로에서 추출되고, 또한 적어도 1회의 디스케일링이 행해진 후의 강재인 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  11. 삭제
  12. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 측정 수단은, 수광 렌즈와, 상기 수광 렌즈를 통해 입광한 광을 N개로 분광하는 분광 수단과, 상기 분광 수단에 의해 분광된 광으로부터 상기 N개의 파장의 광을 추출하는 추출 수단을 갖고, 상기 추출 수단에 의해 추출된 상기 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 시스템.
  13. 삭제
  14. 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 방법이며,
    서로 다른 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 공정과,
    상기 측정 공정에 의해 측정된 상기 강재의 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 갖고,
    상기 두 파장에 있어 제1 파장 및 제2 파장은, 상기 제1 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선과, 상기 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선의 교점에 있어서의 헤마타이트의 두께가, 상기 스케일의 최표층에 생성되는 헤마타이트의 두께로서 상정되는 두께의 상한값을 상회하도록 정해져 있고,
    상기 두 파장은, 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛]의 범위 내의 파장과, 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛]의 범위 내의 파장과, 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 범위 내의 파장의 어느 2개이고,
    상기 제1 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제1 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제1 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제2 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제2 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 측정 공정은, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 상기 제1 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 것과, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 상기 제2 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법으로 측정하는 것을 행하고,
    상기 판정 공정은, 상기 측정 수단에 의해 측정된 상기 강재의 온도 차의 절댓값이 소정 값 이상인 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있지 않다고 판정하는 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 방법.
  15. 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 스케일 조성 판정 방법이며,
    서로 다른 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하는 측정 공정과,
    상기 측정 공정에 의해 측정된 상기 강재의 온도 중 두 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 갖고,
    상기 N개의 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 N개의 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고,
    상기 N개의 파장은, 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛]의 범위 내의 파장과, 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛]의 범위 내의 파장과, 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 범위 내의 파장 중, 어느 둘 이상의 범위 내의 파장이고,
    상기 N개의 파장은, 제1 파장 내지 제N 파장이고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장으로부터 하나씩 선택된 파장을 제n 파장이라고 하고,
    상기 제n 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제n 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제n 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 측정 공정은, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 상기 제n 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 방사 측온법에 의해 측정하고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 제1 파장 내지 제N 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고,
    상기 판정 공정은, 상기 측정 공정에 의해 측정되는 상기 강재의 온도 중 두 온도의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도 차의 절댓값이 소정의 값 이상인 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있지 않다고 판정하고,
    상기 N은 3 이상의 정수인 것을 특징으로 하는 스케일 조성 판정 방법.
  16. 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 것을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기억하는 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체이며,
    상기 프로그램은,
    방사 측온법에 의해 측정된, 서로 다른 두 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 취득하는 취득 공정과,
    상기 취득 공정에 의해 취득된 상기 강재의 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 컴퓨터에 실행시키고,
    상기 두 파장에 있어 제1 파장 및 제2 파장은, 상기 제1 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선과, 상기 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선의 교점에 있어서의 헤마타이트의 두께가, 상기 스케일의 최표층에 생성되는 헤마타이트의 두께로서 상정되는 두께의 상한값을 상회하도록 정해져 있고,
    상기 두 파장은, 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛]의 범위 내의 파장과, 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛]의 범위 내의 파장과, 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 범위 내의 파장의 어느 2개이고,
    상기 제1 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제1 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제1 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 제2 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제2 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제2 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 취득 공정은, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 방사 측온법에 의해 측정된 상기 제1 파장에 있어서의 상기 강재의 온도와, 분광 방사율을 소정의 분광 방사율로 하여 방사 측온법에 의해 측정된 상기 제2 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 취득하고,
    상기 판정 공정은, 상기 취득 공정에 의해 취득된 상기 강재의 온도 차의 절댓값이 소정 값 이상인 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있지 않다고 판정하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체.
  17. 강재의 표면에 생성되는 스케일의 조성을 판정하는 것을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기억하는 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체이며,
    상기 프로그램은,
    방사 측온법에 의해 측정된, 서로 다른 N개의 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 취득하는 취득 공정과,
    상기 취득 공정에 의해 취득된 상기 강재의 온도 중 두 온도의 차에 기초하여, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트(Fe2O3)가 생성되어 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 컴퓨터에 실행시키고,
    상기 N개의 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 N개의 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고,
    상기 N개의 파장은, 0.6[㎛] 내지 1.6[㎛]의 범위 내의 파장과, 3.3[㎛] 내지 5.0[㎛]의 범위 내의 파장과, 8.0[㎛] 내지 14.0[㎛]의 범위 내의 파장 중, 어느 둘 이상의 범위 내의 파장이고,
    상기 N개의 파장은, 제1 파장 내지 제N 파장이고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장으로부터 하나씩 선택된 파장을 제n 파장이라고 하고,
    상기 제n 파장에 있어서의 상기 헤마타이트 곡선은, 분광 방사율을 상기 제n 파장에 있어서의 뷔스타이트(FeO)의 분광 방사율로 설정하고 측정 파장을 상기 제n 파장으로 하여 방사 측온법에 의해 얻어지는 헤마타이트의 온도와, 헤마타이트의 두께와의 관계를 나타내는 곡선이고,
    상기 취득 공정은, 분광방사율을 소정의 분광방사율로 하여 방사 측온법에 의해 측정된 상기 제n 파장에 있어서의 상기 강재의 온도를 취득하고,
    상기 제1 파장 내지 제N 파장은, 상정되는 헤마타이트(Fe2O3)의 두께의 범위 내에서, 상기 제1 파장 내지 제N 파장에 있어서의 헤마타이트 곡선 모두가 교차하는 교점이 존재하지 않도록 정해져 있고,
    상기 판정 공정은, 상기 취득 공정에 의해 취득되는 상기 강재의 온도 중 두 온도의 조합 중, 적어도 하나의 조합에 있어서의 온도 차의 절댓값이 소정의 값 이상인 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에, 상기 스케일의 최표층에 헤마타이트가 생성되어 있지 않다고 판정하고,
    상기 N은 3 이상의 정수인 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체.
KR1020197025561A 2017-04-25 2018-04-25 스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램 KR102286817B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2017-086161 2017-04-25
JP2017086161 2017-04-25
PCT/JP2018/016868 WO2018199188A1 (ja) 2017-04-25 2018-04-25 スケール組成判定システム、スケール組成判定方法、およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190113883A KR20190113883A (ko) 2019-10-08
KR102286817B1 true KR102286817B1 (ko) 2021-08-09

Family

ID=63918423

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020197025561A KR102286817B1 (ko) 2017-04-25 2018-04-25 스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램

Country Status (9)

Country Link
US (2) US11029212B2 (ko)
EP (1) EP3616802B1 (ko)
JP (1) JP6477984B1 (ko)
KR (1) KR102286817B1 (ko)
CN (1) CN110536760B (ko)
BR (1) BR112019019166B1 (ko)
CA (1) CA3057055C (ko)
TW (1) TWI665432B (ko)
WO (1) WO2018199188A1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6424998B1 (ja) * 2017-04-25 2018-11-21 新日鐵住金株式会社 スケール組成判定システム、スケール組成判定方法、およびプログラム
TWI728743B (zh) * 2020-03-12 2021-05-21 中國鋼鐵股份有限公司 高爐內壁結塊之監視方法
CN111678478B (zh) * 2020-05-11 2022-05-17 首钢集团有限公司 一种高强钢镀锌产线氧化膜厚度检测方法
CN113848233B (zh) * 2020-06-28 2023-11-14 宝山钢铁股份有限公司 熔态铸余渣氧化性测定装置及方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012093177A (ja) 2010-10-26 2012-05-17 Nippon Steel Corp 炉内における鋼材の表面温度測定方法および表面温度測定装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0197157B1 (en) * 1984-10-05 1991-07-10 Kawasaki Steel Corporation Method of determining thickness and composition of alloy film
US5314249A (en) * 1991-11-19 1994-05-24 Kawasaki Steel Corporation Surface condition measurement apparatus
JPH05142051A (ja) * 1991-11-19 1993-06-08 Kawasaki Steel Corp ２色多重式放射温度計
US5235840A (en) * 1991-12-23 1993-08-17 Hot Rolling Consultants, Ltd. Process to control scale growth and minimize roll wear
JPH0777465A (ja) * 1993-09-08 1995-03-20 Sumitomo Metal Ind Ltd 表層部平均温度および厚さ方向温度分布測定方法
JPH07270130A (ja) 1994-03-31 1995-10-20 Nippon Steel Corp 酸化膜厚さ測定方法
JPH0933464A (ja) 1995-07-21 1997-02-07 Kawasaki Steel Corp 鋼板の表面スケール測定方法及び材質測定方法
JPH10282020A (ja) 1997-04-02 1998-10-23 Kawasaki Steel Corp 鋼板の酸化スケールの組成・厚さの測定方法とその装置
JPH11325839A (ja) * 1998-05-13 1999-11-26 Kawasaki Steel Corp 鋼板表面の酸化膜厚測定方法及び装置
WO2003073055A1 (fr) 2002-02-28 2003-09-04 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Systeme de mesure de la temperature, dispositif de chauffage utilisant le systeme, procede de production d'une plaquette a semi-conducteurs, element translucide de protection contre les rayons calorifiques, element reflechissant la lumiere visible, miroir reflechissant utilisant un systeme d'exposition, dispositif a semi-co
JP2007010476A (ja) * 2005-06-30 2007-01-18 Jfe Steel Kk 鋼板温度計測方法及び装置
JP2008233020A (ja) 2007-03-23 2008-10-02 Nippon Steel Corp 表面温度測定システム、加熱炉、表面温度測定方法、及びコンピュータプログラム
CN201072410Y (zh) * 2007-08-17 2008-06-11 南京钢铁股份有限公司 板坯炉生氧化皮在线监测装置
JP4846741B2 (ja) * 2008-02-06 2011-12-28 新日本製鐵株式会社 酸化膜厚測定方法及び酸化膜厚測定装置
CN101879530B (zh) * 2010-06-25 2013-03-13 东北大学 热连轧带钢表面氧化铁皮厚度软测量方法
JP5777881B2 (ja) * 2010-12-31 2015-09-09 株式会社Sumco シリカガラスルツボの製造方法
CN103028608A (zh) * 2011-09-30 2013-04-10 鞍钢股份有限公司 一种热轧带钢表面氧化铁皮组分和厚度控制方法
IN2015DN01425A (ko) 2012-08-22 2015-07-03 Nippon Steel & Sumitomo Metal Corp

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012093177A (ja) 2010-10-26 2012-05-17 Nippon Steel Corp 炉内における鋼材の表面温度測定方法および表面温度測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN110536760B (zh) 2021-10-01
CA3057055A1 (en) 2018-11-01
BR112019019166A2 (pt) 2020-04-14
US20210247235A1 (en) 2021-08-12
EP3616802A4 (en) 2021-01-27
TWI665432B (zh) 2019-07-11
WO2018199188A1 (ja) 2018-11-01
JPWO2018199188A1 (ja) 2019-06-27
BR112019019166B1 (pt) 2023-10-24
US11454542B2 (en) 2022-09-27
KR20190113883A (ko) 2019-10-08
CA3057055C (en) 2021-11-16
CN110536760A (zh) 2019-12-03
JP6477984B1 (ja) 2019-03-06
EP3616802B1 (en) 2021-12-29
US20200103285A1 (en) 2020-04-02
US11029212B2 (en) 2021-06-08
TW201842311A (zh) 2018-12-01
EP3616802A1 (en) 2020-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102286817B1 (ko) 스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 프로그램
KR102197962B1 (ko) 스케일 조성 판정 시스템, 스케일 조성 판정 방법, 및 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체
TWI458572B (zh) 控制裝置及控制方法
KR102226160B1 (ko) 강 스트립의 가열 또는 냉각 이후의 페라이트 상 분율의 판정
JP4622742B2 (ja) 金属帯の渦流探傷方法および装置
Yang et al. EM sensor array system and performance evaluation for in-line measurement of phase transformation in steel
JP2009078289A (ja) 熱間圧延における近赤外線カメラを用いた熱延金属帯の欠陥検出方法およびそれを用いた熱延金属帯の製造方法
JP6493315B2 (ja) 圧下レベリング制御装置および圧下レベリング制御方法
JP2021128013A (ja) 測温システム及び測温方法
KR101220573B1 (ko) 가열로 로온 설정 방법 및 장치
KR100832434B1 (ko) 열연강판의 표면결함에 따른 오알지 자동 제어방법
JP4597006B2 (ja) 圧延材の探傷方法
BMet The Production of Quality Bars
CA3213513A1 (en) Cleaning plant for metal products
KR20090006178U (ko) 코일 고정용 클램프

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant