KR102183326B1 - Contact And Test Socket Using Same - Google Patents

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Abstract

The present invention discloses a contact electrically connecting a first contact and a second contact. The contact includes: a first contact portion in contact with a first contact point; a second contact portion in contact with a second contact point; and an elastic portion including a vertical bar connecting other elastic units adjacent to a plurality of mutually continuous elastic units connecting the first contact portion and the second contact portion along an axial direction, a pair of horizontal bars in which the elastic units are spaced apart from each other in the axial direction, and a connection loop forming a closed section interconnecting both ends of the horizontal bars and having a connection distance greater than the axial distance.

Description

컨택트 및 그를 사용한 검사소켓{Contact And Test Socket Using Same}Contact and test socket using same

본 발명은 피검사체와 검사회로기판 사이의 전기적 특성을 검사하기 위한 컨택트 및 그를 사용한 검사소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a contact for inspecting electrical characteristics between an object to be inspected and an inspection circuit board, and to an inspection socket using the same.

반도체 칩 패키지 등을 테스트하기 위한 검사소켓 등이 널리 사용되고 있다. Inspection sockets for testing semiconductor chip packages, etc. are widely used.

이러한 검사소켓은 반도체 등과 같은 피검사체의 전기적 특성이나 적정성 여부의 검사를 위하여 피검사체의 피검사접점(단자, 범프)와 검사회로의 검사접점(패드) 사이의 전기적인 통로가 되는 컨택트를 포함한다. These test sockets include contacts that serve as an electrical path between the test contact (terminal, bump) of the test subject and the test contact (pad) of the test circuit for testing the electrical characteristics or appropriateness of the test subject such as a semiconductor. .

한편, 한국특허공개공보 제10-2007-7021307는 상부 팁부 및 하부 팁부 사이에 상하 방향으로 신축되는 탄성부를 포함하는 도전성 접촉자(프로브핀)을 개시하고 있다. 탄성부는 지그재그 형상으로 연장한다. 이때, 탄성부는 검사를 위해 상부 팁부 또는 하부 팁부에 피검사체의 피검사접점을 접촉한 상태에서 도전성 접촉자의 축선방향으로 가압함에 따라 탄성 압축될 수 있다. Meanwhile, Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2007-7021307 discloses a conductive contactor (probe pin) including an elastic portion extending and contracting in the vertical direction between an upper tip portion and a lower tip portion. The elastic portion extends in a zigzag shape. At this time, the elastic portion may be elastically compressed by pressing in the axial direction of the conductive contactor in a state in which the contact point to be inspected is in contact with the upper or lower tip portion for inspection.

그러나, 이러한 종래의 도전성 접촉자는 축선방향의 가압에도 불구하고 축선라인을 벗어나는 좌굴현상에 의해 탄성력 저하를 초래할 뿐만 아니라 가압된 팁부가 축선을 따라 이동하지 않고 오프셋될 수 있다. However, such a conventional conductive contactor causes a decrease in elastic force due to a buckling phenomenon that deviates from the axial line despite pressing in the axial direction, and the pressed tip portion may be offset without moving along the axial line.

이렇듯, 가압되는 팁부의 오프셋 이동 현상은 피검사체의 피검사접점이 BGA(ball grid array) 타입일 경우 접촉의 에러가 발생하여 검사의 신뢰성을 저하시키는 요인이 되고 있다.As described above, the offset movement of the pressed tip portion is a factor that degrades the reliability of the inspection by generating a contact error when the inspection target contact of the object is a ball grid array (BGA) type.

본 발명의 목적은 탄성력이 우수하고 검사신뢰성을 향상시킬 수 있는 컨택트 및 그를 사용한 검사소켓을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a contact having excellent elasticity and improving inspection reliability and an inspection socket using the same.

상기한 과제를 해결하기 위한, 본 발명의 실시예에 따른 컨택트가 제공된다. 컨택트는 제1접점과 제2접점을 전기적으로 연결한다. 컨택트는, 상기 제 1접점과 접촉하는 제1 접촉부와, 상기 제2 접점과 접촉하는 제2 접촉부, 및 상기 제1 접촉부와 상기 제2 접촉부를 축선방향을 따라 연결하는 다수의 상호 연속된 탄성유니트와 인접한 다른 탄성유니트들을 연결하는 세로바아를 가진다. 상기 탄성유니트는 상호 축방향 간격을 두고 배치되는 한 쌍의 가로바아와, 상기 가로바아의 양측 단부를 상호 연결하는 폐구간을 형성하며, 상기 축방향 간격보다 큰 연결간격을 갖는 연결루프를 갖는 탄성부를 포함한다.In order to solve the above problems, a contact according to an embodiment of the present invention is provided. The contact electrically connects the first contact and the second contact. The contact includes a first contact portion in contact with the first contact point, a second contact portion in contact with the second contact point, and a plurality of mutually continuous elastic units connecting the first contact portion and the second contact portion in an axial direction. It has a vertical bar that connects the other elastic units adjacent to it. The elastic unit forms a pair of horizontal bars arranged at mutually axial distances, and a closed section interconnecting both ends of the horizontal bar, and has a connection loop having a connection distance greater than the axial distance. Includes wealth.

상기 연결루프는, 구형상으로 형성될 수 있다.The connection loop may be formed in a spherical shape.

상기 세로바아의 폭이 상기 가로바아의 폭보다 클 수 있다.The width of the vertical bar may be larger than the width of the horizontal bar.

상기 한 쌍의 가로바아는 중앙을 향하여 축방향 간격이 작아질 수 있다.The pair of horizontal bars may have a smaller axial distance toward the center.

상기 가로바아에는, 상기 세로바를 향해 오목한 홈부가 형성될 수 있다.In the horizontal bar, a groove portion concave toward the vertical bar may be formed.

상기 제1 접촉부 또는 제2 접촉부에 인접한 탄성유니트는 상기 제1 접촉부 또는 제2 접촉부에 인접한 가로바아가 다른 가로바아 보다 더 넓을 수 있다.In the elastic unit adjacent to the first contact portion or the second contact portion, a horizontal bar adjacent to the first contact portion or the second contact portion may be wider than other horizontal bars.

상기 제1 접촉부 및 상기 제2 접촉부 중 적어도 하나는 축선 방향으로 마련된 복수의 방열공이 형성될 수 있다.At least one of the first contact portion and the second contact portion may have a plurality of radiating holes provided in an axial direction.

본 발명의 일 실시예에 따른 검사소켓이 제공된다. 검사소켓은 전술한 컨택트 및 상기 컨택트의 양단이 돌출하도록 지지하는 컨택트지지부를 포함한다.An inspection socket according to an embodiment of the present invention is provided. The inspection socket includes the above-described contact and a contact support portion supporting the contact so that both ends of the contact protrude.

본 발명은, 컨택트가 축선방향으로 가압될 때 탄성부에 힘의 균형이 동일하게 분포됨에 따라 가압방향과 압축방향을 일치시킬 수 있어 탄성력을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라 접촉에러를 줄여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한, 컨택트의 탄성부는 가압방향, 즉 축선방향으로부터 벗어나지 않고 압축됨으로써 내구성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다. In the present invention, when the contact is pressed in the axial direction, the force balance is equally distributed to the elastic portion, so that the pressing direction and the compression direction can be matched, thereby improving the elastic force and reducing contact errors to improve the reliability of inspection. Can be improved. In addition, the elastic portion of the contact is compressed without deviating from the pressing direction, that is, the axial direction, thereby improving durability.

도1은 본 발명에 따른 검사소켓를 나타내는 사시도,
도2는 도1의 "A-A'"를 나타내는 단면도,
도3은 도2의 "A"를 확대하여 나타낸 부분확대도,
도 4는 도3의 "B"를 확대하여 나타낸 부분확대도,
도 5는 본 발명에 따른 탄성유니트의 다른 실시예를 나타내는 도면,
도 6은 본 발명에 따라 2 이상의 컨택트를 중첩한 상태를 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view showing an inspection socket according to the present invention,
Fig. 2 is a cross-sectional view showing "A-A'" in Fig. 1;
Fig. 3 is a partially enlarged view showing an enlarged view of "A" in Fig. 2;
4 is a partially enlarged view showing an enlarged "B" of FIG. 3;
5 is a view showing another embodiment of the elastic unit according to the present invention,
6 is a perspective view showing a state in which two or more contacts are overlapped according to the present invention.

이하, 본 발명의 일 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In connection with the description of the drawings, similar reference numerals may be used for similar elements.

도 1은 본 발명에 따른 검사소켓을 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view showing an inspection socket according to the present invention.

도 1을 참조하여 설명하면, 검사소켓(1)은 복수의 컨택트(10) 및 복수의 컨택트를 지지하는 컨택트지지부(20)를 포함한다. 검사소켓(1)은 피검사체로서, 반도체 칩, IC, 카메라모듈, 디스플레이 기판, 인쇄회로기판, 전기접속장치, 웨이퍼 등의 전기적 특성을 검사할 수 있다. 컨택트(10)는 피검사체의 제1접점과 검사회로기판의 제2접점 사이를 전기적으로 연결할 수 있다. Referring to FIG. 1, the inspection socket 1 includes a plurality of contacts 10 and a contact support part 20 supporting the plurality of contacts. The inspection socket 1 is an object to be inspected and can inspect electrical characteristics of a semiconductor chip, an IC, a camera module, a display substrate, a printed circuit board, an electrical connection device, a wafer, and the like. The contact 10 may electrically connect the first contact point of the test object and the second contact point of the test circuit board.

검사소켓(1)은 검사 시에 컨택트(10)의 양단을 피검사체의 제1접점과 검사회로기판의 제2접점에 접촉시킨 상태에서 피검사체를 가압하여 검사를 수행할 수 있다. 이때, 가압은 컨택트(10)의 축선방향으로 이루질 수 있다.The test socket 1 may perform the test by pressing the test subject while the both ends of the contact 10 are brought into contact with the first contact point of the test subject and the second contact point of the test circuit board during the test. In this case, the pressing may be performed in the axial direction of the contact 10.

도2는 도1의 "A-A'"를 나타내는 단면도이다.Fig. 2 is a cross-sectional view showing "A-A" in Fig. 1;

도 2 를 참조하여 설명하면, 검사소켓은 제1접촉부(12)와 제2접촉부(14)를 가진 컨택트(10) 및 제1접촉부(12)와 제2접촉부(14)가 부분 돌출하도록 지지하는 컨택트지지부(20)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the inspection socket supports the contact 10 having the first contact portion 12 and the second contact portion 14, and the first contact portion 12 and the second contact portion 14 to partially protrude. It includes a contact support (20).

컨택트(10)는 전기 전도성이 좋은 금속재질의 도전성 판재에 MEMS공정으로 만들어 진다. 이와 같이 제조된 컨택트(10)는 예를 들면 금, 은, 등의 도전성 재료로 도금될 수 있다. 컨택트(10)는 각각 제1 접점과 접촉하는 제1 접촉부(12)와, 제2 접점과 접촉하는 제2 접촉부(14) 및 제1 접촉부(12)와 제2 접촉부(14) 사이에 마련된 탄성부(16)를 포함한다. The contact 10 is made by a MEMS process on a conductive plate made of a metal material having good electrical conductivity. The contact 10 manufactured as described above may be plated with a conductive material such as gold, silver, or the like. Each of the contacts 10 includes a first contact portion 12 in contact with the first contact point, a second contact portion 14 in contact with the second contact point, and elasticity provided between the first contact portion 12 and the second contact portion 14. Includes part 16.

제1 접촉부(12)는 제1 접촉팁(122) 및 제1 방열공(124)을 포함한다. The first contact portion 12 includes a first contact tip 122 and a first heat dissipation hole 124.

제1 접촉팁(122)은 BGA(ball grid array) 타입의 제1 접점에 접촉하기 적합한 예를 들면 'V'형으로 형성될 수 있다. The first contact tip 122 may be formed in, for example, a'V' shape suitable for contacting the first contact point of a ball grid array (BGA) type.

제1 방열공(124)은 제1 접촉부(12)의 두께방향으로 관통시켜 형성될 수 있다. 제1 방열공(124)은 제1 접촉부(12)에 축선방향으로 복수개가 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1 방열공(124)은, 검사 시 제1 접촉부(12)에 발생하는 열을 방열시킬 수 있다. 또한, 제1 방열공(124)은 접촉부(12)의 표면적을 줄여 컨택트(10)를 전기 도금할 때 탄성부(16)와의 표면적 차이에 의한 저항 편차를 줄일 수 있고, 결과적으로 도금 층의 두께를 전체적으로 일정하게 할 수 있다.The first heat dissipation hole 124 may be formed to penetrate in the thickness direction of the first contact portion 12. A plurality of first radiating holes 124 may be formed in the first contact part 12 in the axial direction. Accordingly, the first heat dissipation hole 124 may dissipate heat generated in the first contact part 12 during inspection. In addition, the first heat dissipation hole 124 reduces the surface area of the contact portion 12 to reduce the resistance deviation due to the difference in the surface area from the elastic portion 16 when the contact 10 is electroplated, and as a result, the thickness of the plating layer Can be made uniform throughout.

제2 접촉부(14)는 제2 접촉팁(142), 제2 방열공(144) 및 타이바연결부(146)를 가진다. The second contact part 14 has a second contact tip 142, a second heat dissipation hole 144 and a tie bar connection part 146.

제2접촉팁(142)은 패드 타입의 제2접점에 접촉하기 적합한 뽀죡한 형태로 형성될 수 있다. The second contact tip 142 may be formed in a sharp shape suitable for contacting the pad-type second contact point.

제2 방열공(144)은 제2 접촉부(14)에 축선방향으로 복수개가 형성될 수 있다. A plurality of second heat radiating holes 144 may be formed in the second contact portion 14 in the axial direction.

타이바연결부(146)는 MEMS공정을 통하여 제작된 컨택트 어레이(미도시)의 타이바를 연결할 수 있다. 타이바연결부(146)는 제1 접촉부(12)에도 형성될 수 있다.The tie bar connector 146 may connect a tie bar of a contact array (not shown) manufactured through a MEMS process. The tie bar connection part 146 may also be formed in the first contact part 12.

탄성부(16)는 제1 접촉부(12)와 제2 접촉부(14) 사이에 축방향을 따라 마련된 다수의 탄성유니트(162,164,166) 및 인접한 탄성유니트(162,164,166)들을 서로 연결하는 세로바아(168)를 가진다.The elastic part 16 includes a plurality of elastic units 162,164,166 provided in the axial direction between the first contact part 12 and the second contact part 14 and a vertical bar 168 connecting the adjacent elastic units 162,164,166 to each other. Have.

탄성유니트(162,164,166)는 제1 접촉부(12)와 인접한 제1 탄성유니트(162), 제2 접촉부(14)와 인접한 제3 탄성유니트(166) 및 제1 탄성유니트(162)와 제3 탄성유니트(166) 사이에 마련된 복수의 제2 탄성유니트(164)를 포함한다. The elastic units 162, 164, 166 are a first elastic unit 162 adjacent to the first contact portion 12, a third elastic unit 166 adjacent to the second contact portion 14, and the first elastic unit 162 and a third elastic unit. It includes a plurality of second elastic units 164 provided between (166).

세로바아(168)는 인접한 탄성유니트(162,164,166)들을 서로 연결시킨다. 세로바아(168)는 축선방향을 따라 연장할 수 있다.The vertical bar 168 connects adjacent elastic units 162, 164, and 166 to each other. The vertical bar 168 may extend along the axial direction.

컨택트지지부(20)는 컨택트(10)를 지지하는 컨택트지지블럭(22), 컨택트지지블럭(22)의 일면에 배치되는 커버블록(24) 및 컨택트지지블럭(22)과 커버블록(24)를 지지하는 블럭지지부(26)을 포함한다.The contact support part 20 includes a contact support block 22 supporting the contact 10, a cover block 24 disposed on one surface of the contact support block 22, and the contact support block 22 and the cover block 24. It includes a supporting block (26).

컨택트지지블럭(22)는 탄성체수용부(222)와 제1 통과부(224) 및 탄성부(16)가 타면으로 돌출되지 않도록 타면측에 마련된 걸림부(226)를 포함할 수 있다. The contact support block 22 may include an elastic body receiving portion 222, a first passage portion 224, and a locking portion 226 provided on the other surface so that the elastic portion 16 does not protrude to the other surface.

탄성체수용부(222)는 일면에서 타면의 걸림부(226)까지 연장하여 탄성부(16)를 수용한다. 제1 통과부(224)는 탄성체수용부(222)와 연통하여 제1 접촉부(12)를 수용한다. 걸림부(225)는 탄성체수용부(222)보다 작은 직경의 제1 통과부(224)에 의해 형성되는 단차로 이루어질 수 있다.The elastic body receiving portion 222 extends from one side to the locking portion 226 of the other side to accommodate the elastic portion 16. The first passage part 224 communicates with the elastic body receiving part 222 to receive the first contact part 12. The locking portion 225 may be formed of a step formed by the first passage portion 224 having a smaller diameter than the elastic body receiving portion 222.

커버블럭(24)는 컨택트(10)의 제2 접촉부(14)가 통과하는 제2 통과부(244) 및 탄성부(16)의 통과를 제한하는 제2 걸림부(246)를 포함한다. 제2 통과부(244)는 탄성체수용부(222)로부터 제1 통과부(224)와 대응되게 연통되어 제2 접촉부(14)를 수용한다. The cover block 24 includes a second passage portion 244 through which the second contact portion 14 of the contact 10 passes, and a second locking portion 246 that restricts passage of the elastic portion 16. The second passage portion 244 is in correspondence with the first passage portion 224 from the elastic body receiving portion 222 to receive the second contact portion 14.

도 3은 도2의 "A"를 확대하여 나타낸 부분확대도이다.3 is a partially enlarged view showing an enlarged view of “A” of FIG. 2.

도 3을 참조하여 설명하면, 제1 탄성유니트(162)는 제1 접촉부(12)와 근접한 제1 가로바아(1622), 제1 가로바아(1622)와 상호 축방향 간격(h1)을 두고 배치된 제2 가로바아(1624) 및 제1 가로바아(1622)와 제2 가로바아(1624)의 양단을 연결하는 한 쌍의 연결루프(1626,1628)를 포함한다. Referring to FIG. 3, the first elastic unit 162 is disposed with the first horizontal bar 1622 and the first horizontal bar 1622 adjacent to the first contact part 12 at a mutual axial distance h1 And a pair of connection loops 1626 and 1628 connecting both ends of the second horizontal bar 1624 and the first horizontal bar 1622 and the second horizontal bar 1624.

제1 가로바아(1622)의 폭(w1)은 제2 가로바아(1644)의 폭(w2) 보다 넓다. 이와 같이 상대적으로 넓은 제1 가로바아(1622)는 검사 시에 발생하는 열 또는 탄성부(16)의 압력에 의한 변형을 방지할 수 있다. 한편, 제1 가로바아(1622) 및 제2 가로바아(1624)에는 세로바아(168)를 향하여 오목한 형상의 제1 홈부(16222)와 제2 홈부(16242)가 각각 구비될 수 있다.The width w1 of the first horizontal bar 1622 is wider than the width w2 of the second horizontal bar 1644. As such, the relatively wide first horizontal bar 1622 may prevent deformation due to heat generated during inspection or pressure of the elastic portion 16. Meanwhile, the first horizontal bar 1622 and the second horizontal bar 1624 may be provided with a first groove portion 16222 and a second groove portion 16242 having a concave shape toward the vertical bar 168, respectively.

제2 탄성유니트(164)는 제3 가로바아(1642) 및 제4 가로바아(1644)가 상호 축방향으로 간격(h1)을 두고 배치된다. 제2 탄성유니트(164)는 제3 가로바아(1642)와 제4 가로바아(1644)의 양단을 소정의 연결간격(h2)으로 각각 연결하는 연결루프(1646,1648)를 포함한다. 여기서, 제3 가로바아(1642), 제4 가로바아(1644) 및 한 쌍의 연결루프(1646,1648)는 폐루프를 형성한다.In the second elastic unit 164, the third horizontal bar 1642 and the fourth horizontal bar 1644 are disposed at a distance h1 in the mutual axial direction. The second elastic unit 164 includes connection loops 1646 and 1648 respectively connecting both ends of the third horizontal bar 1642 and the fourth horizontal bar 1644 at a predetermined connection interval h2. Here, the third horizontal bar 1642, the fourth horizontal bar 1644, and the pair of connection loops 1646 and 1648 form a closed loop.

제3 가로바아(1642) 및 제4 가로바아(1644)는 축선방향의 가로방향으로 서로 평행하게 연장할 수 있다. 제3 연결루프(1646)와 제4 연결루프(1648)는 예를 들면 일측이 개방된 구형상으로 형성될 수 있다. 따라서, 제3 가로바아(1642), 제4 가로바아(1644) 및 한 쌍의 연결루프(1646,1648)에 의해 형성된 폐루프는 아령형상을 가질 수 있다.The third horizontal bar 1642 and the fourth horizontal bar 1644 may extend parallel to each other in a horizontal direction in the axial direction. The third connection loop 1646 and the fourth connection loop 1648 may be formed in, for example, a spherical shape with one side open. Accordingly, the closed loop formed by the third horizontal bar 1642, the fourth horizontal bar 1644, and the pair of connection loops 1646 and 1648 may have a dumbbell shape.

제3 연결루프(1646)와 제4 연결루프(1648)는 제3 가로바아(1642)와 제4 가로바아(1644) 사이의 축방향 간격(h1)보다 큰 연결간격(h2)을 가질 수 있다. 따라서, 검사 시 세로바아(168)를 통해 축선방향으로 힘이 전달되면, 제3 가로바아(1642) 및 제4 가로바아(1644) 사이의 간격(h1)은 세로바아(168)측이 연결루프(1646,1648)측보다 더 좁아진다. 한편, 연결루프(1646,1648)의 연결간격(h2)는 개방된 부분이 좁아지면서 구형상에 더 가깝게 변형된다. The third connection loop 1646 and the fourth connection loop 1648 may have a connection interval h2 greater than an axial distance h1 between the third horizontal bar 1642 and the fourth horizontal bar 1644. . Therefore, when the force is transmitted in the axial direction through the vertical bar 168 during inspection, the distance h1 between the third horizontal bar 1642 and the fourth horizontal bar 1644 is the vertical bar 168 side It becomes narrower than the (1646,1648) side. On the other hand, the connection spacing h2 of the connection loops 1646 and 1648 is deformed closer to a spherical shape as the open portion becomes narrower.

결과적으로, 탄성변형은 축선방향을 따른 가압방향으로 집중되어, 좌굴이 방지될 수 있다. 또한, 제1 접촉부(12)는 축선방향을 따라 일정하게 움직일 수 있다. As a result, the elastic deformation is concentrated in the pressing direction along the axial direction, so that buckling can be prevented. In addition, the first contact portion 12 may move constantly along the axial direction.

제3 가로바아(1642)와 제4 가로바아(1644)에는 세로바아(168)를 향하여 오목한 형상의 제3 홈부(16422)와 제4 홈부(16442)가 각각 구비될 수 있다.A third and fourth grooves 16422 and 16442 having a concave shape toward the vertical bar 168 may be provided in the third horizontal bar 1642 and the fourth horizontal bar 1644, respectively.

제3 홈부(16422) 및 제4 홈부(16442)는 제3 및 제4 가로바아(1642,1644)가 축선방향으로 더 원활하게 움직일 수 있게 할 수 있다.The third and fourth grooves 16422 and 16442 may allow the third and fourth horizontal bars 1642 and 1644 to move more smoothly in the axial direction.

세로바아(168)는 가압력을 축선방향으로 가로바아에 전달이 용이하도록 세로바아(168)의 폭(w3)을 제2, 제3 및 제4 가로바아(1624,1642,1644)의 폭(w2)보다 더 넓게 형성할 수 있다. The vertical bar 168 has the width (w3) of the vertical bar 168 and the width (w2) of the second, third, and fourth horizontal bars (1624,1642, 1644) to facilitate transmission of the pressing force to the horizontal bar in the axial direction. ) Can be formed wider.

도 4는 도3의 'B'를 확대하여 나타낸 부분확대도이다.FIG. 4 is a partially enlarged view showing an enlarged'B' of FIG. 3.

도 4를 참조하여 설명하면, 제3 탄성유니트(166)는 제2 접촉부(14)와 근접한 제5 가로바아(1664), 제5 가로바아(1664)와 상호 축방향 간격(h1)을 두고 이격 배치된 제6 가로바아(1662) 및 제5 가로바아(1664)와 제6 가로바아(1662) 양단을 연결하는 연결루프(1666,1668)를 포함한다.Referring to FIG. 4, the third elastic unit 166 is spaced apart from the fifth horizontal bar 1664 and the fifth horizontal bar 1664 close to the second contact portion 14 by a mutual axial distance h1 It includes connection loops 1666 and 1668 connecting both ends of the arranged sixth horizontal bar 1662 and the fifth horizontal bar 1664 and the sixth horizontal bar 1662.

제5 가로바아(1664)는 검사 시 축방향으로 가압될 때, 상술한 제2 걸림부(246)에 의해 이동이 제지되어 다른 가로바아보다 하중이 가장 크게 집중된다. 이에 따라, 제5 가로바아(1664)의 넓이(w4)는 제1 가로바아(1622)의 넓이(w1)보다 크게 하여 가압에 따른 하중으로부터 비틀림 등의 변형을 방지할 수 있다.When the fifth horizontal bar 1664 is pressed in the axial direction during inspection, the movement of the fifth horizontal bar 1664 is restrained by the above-described second locking portion 246 so that the load is concentrated most than other horizontal bars. Accordingly, the width w4 of the fifth horizontal bar 1664 is larger than the width w1 of the first horizontal bar 1622 to prevent deformation such as torsion from a load caused by pressure.

도 5는 본 발명에 따른 탄성유니트의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.5 is a view showing another embodiment of the elastic unit according to the present invention.

도 5를 참조하면, 탄성유니트는 제7 가로바아(1692)와, 제7 가로바아(1692)로부터 축방향 간격(h1)을 두고 이격 배치된 제8 가로바아(1694), 제7 가로바아(1692)와 제8 가로바아(1694)를 양단에서 상호 연결하는 연결루프(1666,1668)를 포함한다.Referring to FIG. 5, the elastic unit includes a seventh horizontal bar 1692, an eighth horizontal bar 1694 and a seventh horizontal bar ( 1692) and the eighth transverse bar 1694 are connected to each other at both ends (1666, 1668).

제7 가로바아(1692)는 연결루프(1696,1698)측에서 세로바아(168)측을 향해 하향 경사지게 연장된다. 제8 가로바아(1694)는 연결루프(1696,1698)측에서 세로바아(168)측을 향해 상향 경사지게 연장된다. 이와 같이 경사진 제7 가로바아(1692) 및 제8 가로바아(1694)는 탄성변형을 축선방향에 따른 가압방향으로 더욱 집중시킬 수 있다.The seventh horizontal bar 1692 extends downwardly inclined toward the vertical bar 168 from the connection loops 1696 and 1698. The eighth horizontal bar 1694 extends inclined upwardly toward the vertical bar 168 from the connection loops 1696 and 1698. The seventh horizontal bar 1692 and the eighth horizontal bar 1694 inclined as described above can further concentrate the elastic deformation in the pressing direction along the axial direction.

변형실시예로서, 제7 가로바아(1692)와 제8 가로바아(1694)는 소정의 곡률을 갖고 연장될 수도 있다.As a modified embodiment, the seventh horizontal bar 1692 and the eighth horizontal bar 1694 may be extended with a predetermined curvature.

도 6은 본 발명에 따라 2 개의 컨택트를 중첩한 상태를 나타내는 사시도이다. 검사소켓(1)은 이와 같이 복수 개의 컨택트(10)를 두께방향으로 적층하여 사용할 수 있다.6 is a perspective view showing a state in which two contacts are overlapped according to the present invention. The inspection socket 1 may be used by stacking a plurality of contacts 10 in the thickness direction.

상술한 설명은 본 발명의 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시예의 다양한 변경(Modification), 균등물(Equivalent), 및/또는 대체물(Alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The above description is not intended to be limited to a specific embodiment of the present invention, and it should be understood to include various modifications, equivalents, and/or alternatives of the embodiments of the present invention.

1 : 검사소켓
10 : 컨택트
12 : 제1 접촉부
14 : 제2 접촉부
16 : 탄성부
162: 제1 탄성유니트
164: 제2 탄성유니트
166: 제3 탄성유니트
20: 컨택트지지부
22: 컨택트지지블럭
24: 커버블럭
26: 블럭지지부1: Inspection socket
10: contact
12: first contact portion
14: second contact portion
16: elastic part
162: first elastic unit
164: second elastic unit
166: third elastic unit
20: contact support
22: contact support block
24: cover block
26: block support

Claims (8)

제1접점과 제2접점을 전기적으로 연결하는 컨택트에 있어서,
상기 제 1접점과 접촉하는 제1 접촉부;
상기 제2 접점과 접촉하는 제2 접촉부; 및
상기 제1 접촉부와 상기 제2 접촉부를 축선방향을 따라 연결하는 다수의 상호 연속된 탄성유니트와, 인접한 탄성유니트들을 연결하는 세로바아를 가지며, 상기 탄성유니트는 상호 축방향 간격을 두고 배치되는 한 쌍의 가로바아, 및 상기 한 쌍의 가로바아의 양측 단부를 상호 연결하는 폐구간을 형성하며 상기 축방향 간격보다 큰 연결간격을 갖는 연결루프를 갖는 탄성부를 포함하며,
상기 제1 접촉부 및 상기 제2 접촉부 중 적어도 하나는 상기 제1 및 제2접촉부의 표면적을 줄여 상기 탄성부와의 표면적 차이에 의한 저항 편차를 줄이고 발생되는 열을 방출하도록 축선 방향으로 복수의 방열공이 형성된 컨택트.In the contact electrically connecting the first contact and the second contact,
A first contact portion in contact with the first contact point;
A second contact portion in contact with the second contact point; And
A pair of mutually continuous elastic units connecting the first contact portion and the second contact portion along an axial direction, and vertical bars connecting adjacent elastic units, wherein the elastic units are arranged at mutual axial intervals And an elastic portion having a connection loop having a connection gap greater than the axial gap and forming a closed section for interconnecting the horizontal bars of the pair of horizontal bars, and
At least one of the first contact portion and the second contact portion reduces the surface area of the first and second contact portions to reduce resistance deviation due to the difference in surface area from the elastic portion and a plurality of radiating holes in the axial direction to dissipate generated heat Formed contact. 제1항에 있어서,
상기 연결루프는, 구형상으로 형성된 컨택트.The method of claim 1,
The connection loop is a contact formed in a spherical shape. 제1항에 있어서,
상기 세로바아의 폭이 상기 가로바아의 폭보다 큰 컨택트.The method of claim 1,
A contact in which the width of the vertical bar is greater than the width of the horizontal bar. 제1항에 있어서,
상기 한 쌍의 가로바아는 중앙을 향하여 축방향 간격이 작아지는 컨택트.The method of claim 1,
The contact of the pair of horizontal bars having a smaller axial distance toward the center. 제1항에 있어서,
상기 가로바아에는, 상기 세로바를 향해 오목한 홈부가 형성된 컨택트.The method of claim 1,
A contact formed on the horizontal bar with a concave groove toward the vertical bar. 제1항에 있어서,
상기 제1 접촉부 또는 제2 접촉부에 인접한 탄성유니트는 상기 제1 접촉부 또는 제2 접촉부에 인접한 가로바아가 다른 가로바아 보다 더 넓은 컨택트.The method of claim 1,
The elastic unit adjacent to the first contact portion or the second contact portion is a contact in which a horizontal bar adjacent to the first contact portion or the second contact portion is wider than other horizontal bars. 삭제delete 피검사체의 전기적 특성을 검사하는 검사소켓에 있어서,
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 컨택트; 및
상기 컨택트의 양단이 검사소켓의 외부로 일부 돌출되게 지지하는 컨택트지지부를 포함하는 컨택트를 사용한 검사소켓.

In the test socket for checking the electrical characteristics of the test subject,
The contact according to any one of claims 1 to 6; And
Inspection socket using a contact comprising a contact support portion for supporting the both ends of the contact to partially protrude to the outside of the inspection socket.
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