KR102170506B1 - Movable jig for PCB test - Google Patents

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KR102170506B1
KR102170506B1 KR1020200026902A KR20200026902A KR102170506B1 KR 102170506 B1 KR102170506 B1 KR 102170506B1 KR 1020200026902 A KR1020200026902 A KR 1020200026902A KR 20200026902 A KR20200026902 A KR 20200026902A KR 102170506 B1 KR102170506 B1 KR 102170506B1
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fixing
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우정희
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(주)뉴씨텍
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Abstract

The present invention relates to a movable jig for substrate inspection, and more particularly, to a movable jig for substrate inspection, which does not need to provide a separate fixing device for each conductive pin for fixing a conductive pin, does not need a separate motor device for fixing the conductive pin, and may minimize the damage to a circuit due to contact of the conductive pin during inspection of a substrate.

Description

기판 검사용 가동식 지그{Movable jig for PCB test}Movable jig for PCB test {Movable jig for PCB test}

본 발명은, 기판 검사용 가동식 지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 도전핀 고정을 위한 별도의 고정 장치를 도전핀마다 각각 구비할 필요가 없고, 도전핀의 고정을 위한 별도의 전동 장치가 불필요하며, 기판의 검사시 도전핀의 접촉에 의한 회로의 손상을 최소화할 수 있는 기판 검사용 가동식 지그에 관한 것이다.The present invention relates to a movable jig for inspection of a substrate, and more particularly, it is not necessary to provide a separate fixing device for each conductive pin for fixing a conductive pin, and a separate transmission device for fixing the conductive pin is not required. And, it relates to a movable jig for board inspection that can minimize damage to a circuit due to contact of a conductive pin during inspection of a board.

인쇄회로기판(PCB)은 절연성의 기판상에 도전성의 회로 패턴이 형성된 것으로, 인쇄회로기판의 제조 공정 중에는 설계된 회로 패턴을 원판 필름상에 형성하고, 노광기를 이용하여 원판 필름상의 회로 패턴을 기판에 전사시키게 된다.In a printed circuit board (PCB), a conductive circuit pattern is formed on an insulating substrate. During the manufacturing process of the printed circuit board, a designed circuit pattern is formed on the original film, and the circuit pattern on the original film is applied to the substrate using an exposure machine. It will be transferred.

이때에 기판은 에폭시 수지와 같은 절연성의 보드 상에 도전성의 동박이 코팅되고, 이 보드의 상면에 감광성의 드라이필름이 커버된 것으로, 노광기에 의한 노광 공정에 의해 보드의 동박 상에 일정한 회로 패턴을 형성한 후에, 식각 공정에 의해 회로 패턴 이외의 동박 부분을 제거하게 된다.At this time, the substrate is coated with a conductive copper foil on an insulating board such as an epoxy resin, and a photosensitive dry film is covered on the upper surface of the board, and a certain circuit pattern is formed on the copper foil of the board by an exposure process by an exposure machine. After formation, portions of the copper foil other than the circuit pattern are removed by an etching process.

이후에는, 회로 패턴의 전기적인 결선 상태를 검사하는 공정을 거치게 되는데, 이 공정에서는 검사용 지그상에 인쇄회로기판을 거치한 상태에서 통전에 의해 전기적인 결합 상태의 이상 유무를 체크하게 된다.Thereafter, a process of inspecting the electrical connection state of the circuit pattern is performed. In this process, an abnormality in the electrical connection state is checked by energization while the printed circuit board is mounted on the inspection jig.

종래의 기판 검사용 지그는 인쇄회로기판을 거치하도록 된 검사용 지그상에 인쇄회로기판의 회로 패턴에 접촉되도록 다수의 도전핀이 구비된 것으로, 이러한 종래의 검사용 지그는 단일의 검사용 지그상에 인쇄회로기판의 회로 패턴에 맞추어 도전핀이 고정 설치된다.The conventional board inspection jig is provided with a plurality of conductive pins on the inspection jig for mounting the printed circuit board to contact the circuit pattern of the printed circuit board, and such a conventional inspection jig is a single inspection jig. Conductive pins are fixedly installed in accordance with the circuit pattern of the printed circuit board.

그러나, 이러한 종래의 검사용 지그는 단일 종류의 인쇄회로기판에만 특정하여 적용되므로, 다른 패턴의 인쇄회로기판을 검사하기 위해서는 새로운 패턴으로 도전핀이 구비된 검사용 지그를 새로이 제작하여야 하는 문제가 있었다.However, since such a conventional inspection jig is specifically applied only to a single type of printed circuit board, there is a problem in that a new inspection jig provided with a conductive pin in a new pattern has to be manufactured in order to inspect a printed circuit board of a different pattern. .

따라서, 검사할 인쇄회로기판의 회로 패턴에 맞추어 도전핀의 배열을 가변할 수 있으면서, 도전핀의 고정을 용이하게 실시할 수 있는 기판 검사용 가동식 지그의 개발이 필요로 하게 되었다.Accordingly, there is a need to develop a movable jig for inspection of a board, which can change the arrangement of the conductive pins according to the circuit pattern of the printed circuit board to be inspected and can easily fix the conductive pins.

KR10-1689478(등록번호) 2016.12.19.KR10-1689478 (registration number) 2016.12.19.

본 발명은, 슬라이딩 블록을 측방으로 이동시키는 것에 의해 도전핀을 견고히 고정할 수 있고, 이러한 슬라이딩 블록의 이동을 상호 어긋나게 형성된 정렬핀 고정홈과 정렬홀에 정렬핀을 삽입하는 것으로 달성 가능하므로, 도전핀 고정을 위한 별도의 고정 장치를 도전핀마다 각각 구비할 필요가 없고, 슬라이딩 블록의 이동을 위한 별도의 전동 장치가 불필요한 기판 검사용 가동식 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.In the present invention, the conductive pin can be firmly fixed by moving the sliding block to the side, and the movement of the sliding block can be achieved by inserting the alignment pin into the alignment pin fixing groove and the alignment hole formed to deviate from each other. An object thereof is to provide a movable jig for inspection of a substrate that does not require a separate fixing device for pin fixing for each conductive pin, and does not require a separate transmission device for moving a sliding block.

또한, 본 발명은, 정렬홀의 내경이 정렬핀 고정홈의 내경보다 크게 형성됨으로써, 정렬핀이 용이하게 삽입 고정되는 기판 검사용 가동식 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a movable jig for inspection of a substrate in which the alignment pin is easily inserted and fixed by forming the inner diameter of the alignment hole larger than the inner diameter of the alignment pin fixing groove.

또한, 본 발명은, 슬라이딩 블록을 하부 블록에 고정하면서도 슬라이딩 블록의 측방 이동이 방해되지 않는 기판 검사용 가동식 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a movable jig for inspecting a substrate in which a sliding block is fixed to a lower block while lateral movement of the sliding block is not obstructed.

또한, 본 발명은, 상부 블록이 하부 블록으로부터 탄성 지지되고, 상부 블록이 연직 방향으로 가압되었을 때에만 도전핀이 상부 블록의 상면 상방으로 돌출되므로, 기판의 검사시 회로의 손상을 최소화할 수 있는 기판 검사용 가동식 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.In addition, in the present invention, since the upper block is elastically supported from the lower block and the conductive pin protrudes upward only when the upper block is pressed in the vertical direction, damage to the circuit can be minimized during inspection of the substrate. An object thereof is to provide a movable jig for board inspection.

또한, 본 발명은, 상부 블록을 하부 블록에 고정하면서도 상부 블록의 상하 이동이 방해되지 않는 기판 검사용 가동식 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a movable jig for inspecting a substrate in which an upper block is fixed to a lower block and the vertical movement of the upper block is not obstructed.

본 발명은, 인쇄회로기판의 배선 패턴의 양불 여부를 판별하는 기판 검사시, 측정 장치와 기판의 배선 패턴 사이를 접촉시키는 기판 검사용 가동식 지그에 있어서, 상기 기판이 상면에 안착되며, 복수의 상부 도전핀 홀이 상하 방향으로 관통 형성되어 상기 상부 도전핀 홀에 도전핀이 삽입되는 상부 블록; 상기 상부 블록의 하부에서 상기 상부 블록에 고정되며, 상기 상부 도전핀 홀과 대응되는 위치에 하부 도전핀 홀이 상하 방향으로 관통 형성되어 상기 하부 도전핀 홀에 상기 도전핀이 삽입되는 하부 블록; 상기 하부 블록의 하부에서 상기 하부 블록에 측방으로 슬라이딩 가능하게 결합되되, 상기 하부 도전핀 홀과 대응되는 위치에 도전핀 고정홀이 상하 방향으로 형성되어 상기 도전핀이 삽입되며, 상기 측정 장치의 상부에 안착되는 슬라이딩 블록;을 포함하되, 상기 하부 블록은 하단으로부터 상방으로 인입된 정렬핀 고정홈이 형성되고, 상기 슬라이딩 블록은 상기 정렬핀 고정홈과 설정 간격 어긋난 위치에 정렬홀이 형성되어서, 정렬핀이 상기 정렬홀의 하방으로부터 상기 정렬홀을 관통하여 상기 정렬핀 고정홈에 삽입 고정될 때, 상기 정렬핀에 의해 상기 정렬핀 고정홈과 상기 정렬홀의 일측 내주연이 일직선상에 정렬됨과 동시에 상기 슬라이딩 블록이 일측 방향으로 슬라이딩된다.The present invention is a movable jig for inspecting a substrate that contacts a measurement device and a wiring pattern of a substrate when inspecting a substrate to determine whether a wiring pattern of a printed circuit board is good or bad, wherein the substrate is mounted on an upper surface, and An upper block having a conductive pin hole formed therethrough in an up-down direction to insert a conductive pin into the upper conductive pin hole; A lower block which is fixed to the upper block at a lower portion of the upper block, and has a lower conductive pin hole formed therethrough in a vertical direction at a position corresponding to the upper conductive pin hole to insert the conductive pin into the lower conductive pin hole; It is slidably coupled to the lower block from the lower part of the lower block, and a conductive pin fixing hole is formed in a vertical direction at a position corresponding to the lower conductive pin hole to insert the conductive pin, and the upper part of the measuring device Including, wherein the lower block has an alignment pin fixing groove inserted upward from the bottom, and the sliding block has an alignment hole formed at a position deviated from the alignment pin fixing groove and a set distance, so that alignment When a pin penetrates the alignment hole from the bottom of the alignment hole and is inserted and fixed into the alignment pin fixing groove, the alignment pin fixing groove and the inner periphery of the alignment hole are aligned in a straight line by the alignment pin, and the sliding The block slides in one direction.

또한, 본 발명의 상기 정렬핀은 상기 정렬핀 고정홈에 억지끼움 고정되고, 상기 정렬홀은 상기 정렬핀 고정홈보다 더 큰 내경을 갖는다.In addition, the alignment pin of the present invention is forcibly fitted into the alignment pin fixing groove, and the alignment hole has a larger inner diameter than the alignment pin fixing groove.

또한, 본 발명은, 상기 슬라이딩 블록의 하방으로부터 상기 슬라이딩 블록을 관통하여 상기 하부 블록에 결합되는 하부 고정 볼트;를 포함하며, 상기 슬라이딩 블록은 상기 하부 고정 볼트가 관통될 수 있도록 하부 고정홀이 형성되되, 상기 하부 고정홀의 내경은 상기 하부 고정 볼트의 몸체 외경보다 크게 형성된다.In addition, the present invention includes; a lower fixing bolt that penetrates the sliding block from below the sliding block and is coupled to the lower block, wherein the sliding block has a lower fixing hole so that the lower fixing bolt can pass therethrough. The inner diameter of the lower fixing hole is formed larger than the outer diameter of the body of the lower fixing bolt.

또한, 본 발명의 상기 상부 블록은 하단으로부터 상방으로 상부 지지홈이 인입 형성되고, 상기 하부 블록은 상기 상부 지지홈과 대응되는 위치에 상단으로부터 하방으로 하부 지지홈이 인입 형성되며, 상기 상부 지지홈 상단과 상기 하부 지지홈 하단에 양단이 밀착되어 상기 상부 블록을 상기 하부 블록으로부터 탄성 지지하는 지지 스프링;을 포함한다.In addition, the upper block of the present invention has an upper support groove retracted from the lower end to the upper side, the lower block has a lower support groove retracted from the upper end to a position corresponding to the upper support groove, and the upper support groove And a support spring having both ends in close contact with the upper end and the lower end of the lower support groove to elastically support the upper block from the lower block.

또한, 본 발명의 상기 도전핀은 최상단이 상기 상부 블록의 상면보다 낮은 높이에 위치하며, 상기 상부 블록이 하방으로 가압될 때 상기 도전핀의 최상단이 상기 상부 블록의 상면보다 높은 위치로 돌출된다.In addition, the uppermost end of the conductive pin of the present invention is located at a height lower than the upper surface of the upper block, and when the upper block is pressed downward, the uppermost end of the conductive pin protrudes to a position higher than the upper surface of the upper block.

또한, 본 발명의 상기 상부 블록은 하단 외측면이 측방으로 연장되어 확장부가 형성되고, 상기 확장부를 상하로 관통하여 상기 하부 블록에 고정되되, 상기 확장부에 슬라이딩 가능하게 구비되는 상부 고정 볼트;를 포함하며, 상기 상부 블록은 상기 상부 고정 볼트가 관통될 수 있도록 상부 고정홀이 형성되되, 상기 상부 고정홀의 내경은 상기 상부 고정 볼트의 헤드부 외경보다 작게 형성된다.In addition, the upper block of the present invention has a lower outer surface extending laterally to form an extension part, and an upper fixing bolt which is fixed to the lower block by penetrating the extension part vertically, and slidably provided to the extension part; Including, the upper block is formed with an upper fixing hole to pass through the upper fixing bolt, the inner diameter of the upper fixing hole is formed smaller than the outer diameter of the head of the upper fixing bolt.

본 발명은, 슬라이딩 블록을 측방으로 이동시키는 것에 의해 도전핀을 견고히 고정할 수 있고, 이러한 슬라이딩 블록의 이동을 상호 어긋나게 형성된 정렬핀 고정홈과 정렬홀에 정렬핀을 삽입하는 것으로 달성 가능하므로, 도전핀 고정을 위한 별도의 고정 장치를 도전핀마다 각각 구비할 필요가 없고, 슬라이딩 블록의 이동을 위한 별도의 전동 장치가 불필요한 효과가 있다.In the present invention, the conductive pin can be firmly fixed by moving the sliding block to the side, and the movement of the sliding block can be achieved by inserting the alignment pin into the alignment pin fixing groove and the alignment hole formed to deviate from each other. There is no need to provide a separate fixing device for fixing the pin for each conductive pin, and there is an effect that a separate transmission device for moving the sliding block is unnecessary.

또한, 본 발명은, 정렬홀의 내경이 정렬핀 고정홈의 내경보다 크게 형성됨으로써, 정렬핀이 용이하게 삽입 고정되는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, since the inner diameter of the alignment hole is formed larger than the inner diameter of the alignment pin fixing groove, the alignment pin is easily inserted and fixed.

또한, 본 발명은, 슬라이딩 블록을 하부 블록에 고정하면서도 슬라이딩 블록의 측방 이동이 방해되지 않는 효과가 있다.In addition, the present invention has an effect that the lateral movement of the sliding block is not obstructed while fixing the sliding block to the lower block.

또한, 본 발명은, 상부 블록이 하부 블록으로부터 탄성 지지되고, 상부 블록이 연직 방향으로 가압되었을 때에만 도전핀이 상부 블록의 상면 상방으로 돌출되므로, 기판의 검사시 회로의 손상을 최소화할 수 있는 효과가 있다.In addition, in the present invention, since the upper block is elastically supported from the lower block and the conductive pin protrudes upward only when the upper block is pressed in the vertical direction, damage to the circuit can be minimized during inspection of the substrate. It works.

또한, 본 발명은, 상부 블록을 하부 블록에 고정하면서도 상부 블록의 상하 이동이 방해되지 않는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, while fixing the upper block to the lower block, the vertical movement of the upper block is not obstructed.

도 1 은 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사용 가동식 지그의 일부 분리 사시도.
도 2 는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사용 가동식 지그의 단면도.
도 3 은 도 2 의 정렬핀이 삽입된 상태의 단면도.
도 4 는 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 검사용 가동식 지그의 정렬핀이 삽입된 상태의 단면도.
도 5 는 도 4 의 상부 블록이 가압된 상태의 단면도.
도 6 은 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사용 가동식 지그의 기판 양면 검사시의 사용 상태도.
도 7 은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 검사용 가동식 지그의 기판 양면 검사시의 사용 상태도.
도 8 은 도 7 을 연직 방향으로 가압한 상태의 사용 상태도.1 is a partially exploded perspective view of a movable jig for inspection of a substrate according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view of a movable jig for inspection of a substrate according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a cross-sectional view of the alignment pin of Figure 2 is inserted.
4 is a cross-sectional view of an alignment pin inserted into a movable jig for inspection of a substrate according to another embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view of a state in which the upper block of FIG. 4 is pressed.
6 is a state diagram of use of a movable jig for inspection of a substrate according to an embodiment of the present invention when inspecting both sides of a substrate.
7 is a state diagram of use of a movable jig for inspection of a substrate according to another embodiment of the present invention when inspecting both sides of a substrate.
Fig. 8 is a use state diagram in a state in which Fig. 7 is pressed in the vertical direction.

이하에서, 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은, 도 1 내지 도 8 에 도시된 바와 같이, 인쇄회로기판(1)의 배선 패턴의 양불 여부를 판별하는 기판(1) 검사시, 측정 장치와 기판(1)의 패턴 사이를 접촉시키는 기판(1) 검사용 지그에 있어서, 기판(1)이 상면에 안착되며, 복수의 상부 도전핀 홀(110)이 상하 방향으로 관통 형성되어 상부 도전핀 홀(110)에 도전핀(10)이 삽입되는 상부 블록(100)과, 상부 블록(100)의 하부에서 상부 블록(100)에 고정되며, 상부 도전핀 홀(110)과 대응되는 위치에 하부 도전핀 홀(210)이 상하 방향으로 관통 형성되어 하부 도전핀 홀(210)에 도전핀(10)이 삽입되는 하부 블록(200)과, 하부 블록(200)의 하부에서 하부 블록(200)에 측방으로 슬라이딩 가능하게 결합되되, 하부 도전핀 홀(210)과 대응되는 위치에 도전핀 고정홀(310)이 상하 방향으로 형성되어 도전핀(10)이 삽입되며, 측정 장치의 상부에 안착되는 슬라이딩 블록(300)을 포함하여 구성된다.The present invention, as shown in Figs. 1 to 8, when inspecting the substrate 1 to determine whether the wiring pattern of the printed circuit board 1 is good or bad, contact between the measuring device and the pattern of the substrate 1 In the jig for inspection of the substrate 1, the substrate 1 is mounted on the upper surface, and a plurality of upper conductive pin holes 110 are formed through the upper conductive pin hole 110 in the vertical direction, so that the conductive pin 10 is formed in the upper conductive pin hole 110. The upper block 100 to be inserted and the upper block 100 is fixed to the upper block 100 from the bottom of the upper block 100, and the lower conductive pin hole 210 penetrates in the vertical direction at a position corresponding to the upper conductive pin hole 110 The lower block 200 is formed and into which the conductive pin 10 is inserted into the lower conductive pin hole 210, and is slidably coupled to the lower block 200 from the lower portion of the lower block 200, and the lower conductive pin A conductive pin fixing hole 310 is formed in a vertical direction at a position corresponding to the hole 210 so that the conductive pin 10 is inserted, and the sliding block 300 is mounted on the top of the measuring device.

상부 블록(100)은, 기판(1)이 안착되어 기판(1)과 도전핀(10)이 접촉될 수 있도록 하는 역할을 하며, 이를 위하여 복수의 상부 도전핀 홀(110)이 상하 방향으로 관통 형성되어 상부 도전핀 홀(110)에 도전핀(10)이 삽입된다.The upper block 100 serves to allow the substrate 1 to be seated so that the substrate 1 and the conductive pin 10 can be in contact, and for this purpose, a plurality of upper conductive pin holes 110 penetrate in the vertical direction. It is formed and the conductive pin 10 is inserted into the upper conductive pin hole 110.

상부 블록(100)은, 기판(1)이 안착되는 제 1 상부 블록(101)과, 하부 블록(200)에 결합되는 제 2 상부 블록(102)으로 구분되어 제 1 상부 블록(101)과 제 2 상부 블록(102)이 결합된 형태로 구성될 수 있다. 이 경우, 상부 도전핀 홀(110)은 제 1 상부 블록(101)에만 형성될 수 있고, 제 1 상부 블록(101)과 제 2 상부 블록(102)에 모두 형성될수도 있다. 만일 상부 도전핀 홀(110)이 제 1 상부 블록(101)에만 형성되는 경우 제 2 상부 블록(102)은 제 1 상부 블록(101)을 하부 블록(200)으로부터 지지하는 형태이면 어느 것이든 가능하며, 내부가 중공된 형태로서 하술할 확장부(120)가 하단 측면에 형성된 기둥 형태 역시 가능하다.The upper block 100 is divided into a first upper block 101 on which the substrate 1 is mounted, and a second upper block 102 coupled to the lower block 200. 2 The upper block 102 may be configured in a combined form. In this case, the upper conductive pin hole 110 may be formed only in the first upper block 101 or may be formed in both the first upper block 101 and the second upper block 102. If the upper conductive pin hole 110 is formed only in the first upper block 101, the second upper block 102 can be any type as long as it supports the first upper block 101 from the lower block 200. In addition, a pillar shape in which the expansion part 120 to be described below is formed on the lower side as the inner hollow shape is also possible.

제 1 상부 블록(101)은 기판(1)의 안착시에 기판(1)의 손상을 최소화할 수 있도록 합성수지 재질로 형성될 수 있으며, 제 2 상부 블록(102)은 제 1 상부 블록(101)을 안정적으로 지지하고, 하부 블록(200)과의 평면도상 위치 가변이 없도록 금속 재질로 형성될 수 있으나, 이를 한정하는 것은 아니다.The first upper block 101 may be formed of a synthetic resin material so as to minimize damage to the substrate 1 when the substrate 1 is seated, and the second upper block 102 is the first upper block 101 It may be formed of a metal material such that it stably supports and does not change its position in a plan view with the lower block 200, but is not limited thereto.

상부 도전핀 홀(110)은 도전핀(10)이 견고히 삽입될 수 있으나, 본 발명의 다른 실시예에서는 상부 블록(100)이 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지되어 상하로 유동될 때 도전핀(10)의 최상단부가 상부 블록(100)의 상면 하방으로부터 상면 상방으로 돌출되어야 하기 때문에, 도전핀(10)이 유동 가능한 형태로 삽입되어 있는 형태인 것이 바람직하다.In the upper conductive pin hole 110, the conductive pin 10 may be firmly inserted, but in another embodiment of the present invention, when the upper block 100 is elastically supported from the lower block 200 and flows up and down, the conductive pin ( Since the uppermost end of 10) must protrude upward from the upper surface of the upper block 100, it is preferable that the conductive pin 10 is inserted in a flowable form.

이러한 상부 블록(100)의 하단 외측면, 상부 블록(100)이 제 1 상부 블록(101)과 제 2 상부 블록(102)으로 구분되는 경우에는 제 2 상부 블록(102)의 하단 외측면은 측방으로 연장되어 플랜지 형태의 확장부(120)가 형성되고, 이러한 확장부(120)의 상방으로부터 상부 고정 볼트(130)가 삽입되어 하부 블록(200)에 고정 결합된다. 이를 위하여 확장부(120)에는 상부 고정 볼트(130)가 관통될 수 있도록 상부 고정홀(131)이 상하 방향으로 관통되어 형성된다. 이때, 상부 블록(100)이 외부로 이탈되는 것을 방지하기 위하여 상부 고정홀(131)의 내경은 상부 고정 볼트(130)의 헤드부 외경보다 작게 형성되어야 한다.When the lower outer surface of the upper block 100 and the upper block 100 are divided into the first upper block 101 and the second upper block 102, the lower outer surface of the second upper block 102 is lateral. It is extended to form a flange-shaped extension 120, the upper fixing bolt 130 is inserted from the upper side of the extension 120 is fixedly coupled to the lower block 200. To this end, an upper fixing hole 131 is formed through the expansion part 120 in the vertical direction so that the upper fixing bolt 130 can be penetrated therethrough. In this case, in order to prevent the upper block 100 from being separated from the outside, the inner diameter of the upper fixing hole 131 should be formed smaller than the outer diameter of the head of the upper fixing bolt 130.

하부 블록(200)은, 상부 블록(100)과 슬라이딩 블록(300)의 사이에서 상부 블록(100)과 슬라이딩 블록(300)을 각각 고정하되, 슬라이딩 블록(300)이 측방으로 유동 가능하도록 하는 역할을 하며, 이를 위하여 상부 블록(100)의 하단에 결합되고, 슬라이딩 블록(300)의 상단에 결합된다.The lower block 200 fixes the upper block 100 and the sliding block 300, respectively, between the upper block 100 and the sliding block 300, but serves to allow the sliding block 300 to flow to the side. To this end, it is coupled to the lower end of the upper block 100 and coupled to the upper end of the sliding block 300.

하부 블록(200)에는 상부 도전핀 홀(110)과 대응되는 위치에 하부 도전핀 홀(210)이 상하 방향으로 관통 형성된다. 이러한 하부 도전핀 홀(210)에 도전핀(10)이 관통 삽입된다.In the lower block 200, a lower conductive pin hole 210 is formed through the upper conductive pin hole 110 in a vertical direction at a position corresponding to the upper conductive pin hole 110. The conductive pin 10 is inserted through the lower conductive pin hole 210.

하부 블록(200)에는 상부 블록(100)의 확장부(120)를 관통한 상부 고정 볼트(130)가 삽입 고정된다. 이를 위하여 상부 고정홀(131)에 대응되는 위치의 하부 블록(200)에는 나사산이 형성된 홈이 상단으로부터 하방으로 인입 형성되고, 이 홈에 상부 고정 볼트(130)가 나사결합된다.In the lower block 200, an upper fixing bolt 130 penetrating the extension 120 of the upper block 100 is inserted and fixed. To this end, in the lower block 200 at a position corresponding to the upper fixing hole 131, a groove with a threaded thread is inserted downward from the top, and the upper fixing bolt 130 is screwed into the groove.

또한, 하부 블록(200)에는 슬라이딩 블록(300)의 하부 고정홀(331)을 관통한 하부 고정 볼트(330)가 삽입 고정된다. 이를 위하여 하부 고정홀(331)에 대응되는 위치의 하부 블록(200)에는 나사산이 형성된 홈이 하단으로부터 상방으로 인입 형성되고, 이 홈에 하부 고정 볼트(330)가 나사결합된다.In addition, a lower fixing bolt 330 through the lower fixing hole 331 of the sliding block 300 is inserted and fixed to the lower block 200. To this end, in the lower block 200 at a position corresponding to the lower fixing hole 331, a threaded groove is inserted upward from the lower end, and the lower fixing bolt 330 is screwed into the groove.

한편, 하부 블록(200)에는 정렬핀(20)이 삽입되어 고정되는 정렬핀 고정홈(220)이 하단으로부터 상방으로 인입되어 형성된다. 정렬핀 고정홈(220)에는 정렬핀(20)이 슬라이딩 블록(300)을 관통하여 하방으로부터 삽입되어 억지끼움 고정되며, 정렬핀 고정홈(220)은 복수로 형성되는 것이 바람직하다.Meanwhile, in the lower block 200, an alignment pin fixing groove 220 into which the alignment pin 20 is inserted and fixed is formed by being inserted upward from the bottom. In the alignment pin fixing groove 220, the alignment pin 20 is inserted from the bottom through the sliding block 300 to be forcibly fitted, and the alignment pin fixing groove 220 is preferably formed in plural.

슬라이딩 블록(300)은, 하부 블록(200)의 하단에서 측방으로 슬라이딩되면서 도전핀(10)의 측방을 가압하여 도전핀(10)을 고정하는 역할을 한다.The sliding block 300 serves to fix the conductive pin 10 by pressing the side of the conductive pin 10 while sliding from the bottom of the lower block 200 to the side.

이를 위하여 슬라이딩 블록(300)은, 하부 블록(200)의 하부에서 하부 블록(200)에 측방으로 슬라이딩 가능하게 결합되되, 하부 도전핀 홀(210)과 대응되는 위치에 도전핀 고정홀(310)이 상하 방향으로 관통 형성된다. 그리고 도전핀 고정홀(310)에 도전핀(10)이 삽입된다.To this end, the sliding block 300 is slidably coupled to the lower block 200 from the bottom of the lower block 200 in a lateral direction, and a conductive pin fixing hole 310 at a position corresponding to the lower conductive pin hole 210 It is formed through in the vertical direction. In addition, the conductive pin 10 is inserted into the conductive pin fixing hole 310.

이러한 슬라이딩 블록(300)은 측방으로 슬라이딩되었을 때 하부 도전핀 홀(210)과 도전핀 고정홀(310)의 중심이 어긋나면서 도전핀(10)이 하부 도전핀 홀(210) 및 도전핀 고정홀(310)의 서로 대향되는 방향의 내주연에 각기 가압되면서 고정되며, 이를 위하여 정렬핀 고정홈(220)과 설정 간격 어긋난 위치에 정렬홀(320)이 형성된다. 따라서, 정렬홀(320)의 하방으로부터 정렬핀(20)이 삽입 관통되어 하부 블록(200)의 정렬핀 고정홈(220)에 삽입될 때, 정렬핀 고정홈(220)과 정렬홀(320)의 위치가 어긋나있기 때문에, 정렬핀(20)이 정렬홀(320)을 정렬핀 고정홈(220) 방향으로 밀어내게 된다. 그리고, 이에 따라 슬라이딩 블록(300)이 측방으로 이동되고, 결과적으로 하부 도전핀 홀(210)과 동일한 위치에 위치되어 있던 도전핀 고정홀(310)이 하부 도전핀 홀(210)과 어긋나면서 도전핀(10)의 측방을 가압하여 도전핀(10)이 고정되게 된다. 이때, 도전핀(10)의 파손을 방지하고, 또한, 본 발명의 도전핀(10)은 도면에 도시된 것 이상으로 매우 촘촘하게 배열되기 때문에, 도전핀(10)간의 쇼트를 방지하기 위하여 도전핀(10)의 상하단을 제외한 설정 구간에 피복(11)이 형성될 수 있다.When the sliding block 300 is laterally slid, the center of the lower conductive pin hole 210 and the conductive pin fixing hole 310 is shifted, and the conductive pin 10 is moved to the lower conductive pin hole 210 and the conductive pin fixing hole. Each of the inner peripheries in the opposite directions of the 310 is fixed while being pressed, and for this purpose, an alignment hole 320 is formed at a position deviated from the alignment pin fixing groove 220 and a set distance. Therefore, when the alignment pin 20 is inserted from the lower side of the alignment hole 320 and is inserted into the alignment pin fixing groove 220 of the lower block 200, the alignment pin fixing groove 220 and the alignment hole 320 Because the position of the misalignment, the alignment pin 20 pushes the alignment hole 320 in the direction of the alignment pin fixing groove 220. And, accordingly, the sliding block 300 is moved to the side, and as a result, the conductive pin fixing hole 310 located at the same position as the lower conductive pin hole 210 is shifted from the lower conductive pin hole 210 The conductive pin 10 is fixed by pressing the side of the pin 10. At this time, since the conductive pin 10 is prevented from being damaged, and the conductive pins 10 of the present invention are arranged very tightly than those shown in the drawings, the conductive pins 10 to prevent a short circuit between the conductive pins 10 The covering 11 may be formed in the set section except for the upper and lower ends of (10).

이때, 정렬홀(320)은 정렬핀(20)이 용이하게 관통될 수 있도록 정렬핀 고정홈(220)의 직경보다 더 큰 직경을 갖도록 구성되는 것이 바람직하다. 그리고, 슬라이딩 블록(300)은 정렬홀(320)이 형성된 위치의 하단으로부터 상방으로 인입된 정렬핀 탈착홈(321)이 형성된다. 정렬핀 탈착홈(321)은 정렬홀(320)의 내경보다 더 큰 내경을 갖도록 형성되며, 이를 통해 정렬핀(20)을 탈거할 때 정렬핀(20)의 외주연을 탈거 도구가 가압하여 탈거할 수 있도록 탈거 도구의 삽입 공간을 제공하는 역할을 한다.At this time, the alignment hole 320 is preferably configured to have a larger diameter than the diameter of the alignment pin fixing groove 220 so that the alignment pin 20 can be easily penetrated. In addition, the sliding block 300 has an alignment pin detachable groove 321 inserted upward from the lower end of the position where the alignment hole 320 is formed. The alignment pin removal groove 321 is formed to have an inner diameter larger than the inner diameter of the alignment hole 320, and when removing the alignment pin 20 through this, the removal tool presses the outer periphery of the alignment pin 20 to remove it. It serves to provide an insertion space for the removal tool so that it can be performed.

이러한 슬라이딩 블록(300)은 하부 고정홀(331)이 형성되어, 하부 고정홀(331)의 하방으로부터 하부 고정 볼트(330)가 하부 고정홀(331)을 관통하여 하부 블록(200)에 결합된다. 이때, 슬라이딩 블록(300)은 하부 고정 볼트(330)에 의해 하부 블록(200)에 고정되어 있으므로, 슬라이딩 블록(300)이 측방으로 이동하려면 하부 고정 볼트(330)에 가로막히게 된다. 따라서, 하부 고정홀(331)의 내경은 하부 고정 볼트(330)의 몸체 외경보다 크게 형성되어야 한다. 바람직하게는, 정렬핀(20)에 의해 슬라이딩 블록(300)이 이동되는 간격 이상 하부 고정홀(331)의 내경이 하부 고정 볼트(330)의 몸체부 외경보다 크게 형성된다. 즉, 정렬핀(20)에 의해 슬라이딩 블록(300)이 측방으로 이동될 때 하부 고정 볼트(330)의 몸체부에 의해 이동이 제한되지 않도록 구성되는 것이다.In the sliding block 300, a lower fixing hole 331 is formed, and the lower fixing bolt 330 from the lower side of the lower fixing hole 331 passes through the lower fixing hole 331 and is coupled to the lower block 200. . At this time, since the sliding block 300 is fixed to the lower block 200 by the lower fixing bolt 330, the sliding block 300 is blocked by the lower fixing bolt 330 in order to move laterally. Therefore, the inner diameter of the lower fixing hole 331 should be formed larger than the outer diameter of the body of the lower fixing bolt 330. Preferably, the inner diameter of the lower fixing hole 331 is formed larger than the outer diameter of the body portion of the lower fixing bolt 330 more than the interval at which the sliding block 300 is moved by the alignment pin 20. That is, when the sliding block 300 is moved laterally by the alignment pin 20, the movement is not restricted by the body portion of the lower fixing bolt 330.

그리고, 슬라이딩 블록(300)은 측정 장치의 상면에 안착되어야 하기 때문에, 경우에 따라 하부 고정 볼트(330)가 슬라이딩 블록(300)의 하단 외측으로 돌출되지 않아야 하는 경우가 있다. 이 경우, 슬라이딩 블록(300)의 하부 고정홀(331)이 형성된 위치에는 슬라이딩 블록(300)의 하단으로부터 상방으로 인입된 하부 인입부(332)가 형성된다. 하부 인입부(332)는 하부 고정 볼트(330)의 헤드부 외경보다 더 큰 내경을 갖도록 형성되며, 바람직하게는 하부 고정홀(331)의 경우와 마찬가지로 정렬핀(20)에 의해 슬라이딩 블록(300)이 이동되는 간격 이상 하부 인입부(332)의 내경이 하부 고정 볼트(330)의 헤드부 외경보다 크게 형성된다. 즉, 정렬핀(20)에 의해 슬라이딩 블록(300)이 측방으로 이동될 때 하부 고정 볼트(330)의 헤드부에 의해 이동이 제한되지 않도록 구성되는 것이다.In addition, since the sliding block 300 must be seated on the upper surface of the measuring device, in some cases, the lower fixing bolt 330 should not protrude outside the lower end of the sliding block 300. In this case, at the position where the lower fixing hole 331 of the sliding block 300 is formed, a lower lead-in portion 332 inserted upward from the lower end of the sliding block 300 is formed. The lower inlet portion 332 is formed to have an inner diameter larger than the outer diameter of the head portion of the lower fixing bolt 330, and preferably, the sliding block 300 by the alignment pin 20 as in the case of the lower fixing hole 331 The inner diameter of the lower inlet portion 332 is formed larger than the outer diameter of the head portion of the lower fixing bolt 330 more than the distance at which the) is moved. That is, when the sliding block 300 is moved laterally by the alignment pin 20, the movement is not restricted by the head of the lower fixing bolt 330.

상술한 구성의 경우, 도전핀(10)이 상부 블록(100)의 상면 외측으로 돌출되어야 기판(1)이 상부 블록(100)의 상면에 안착되었을 때 기판(1)의 회로와 도전핀(10)이 접촉될 수 있다. 그러나, 이러한 경우 기판(1)의 검사를 위한 과정에 본의아니게 기판(1)에 손상을 줄 수 있다. 따라서, 기판(1)의 회로와 도전핀(10)을 필요한 만큼만 접촉되도록 하여 기판(1)의 손상을 최소화할 수 있는 구성이 필요하게 된다.In the case of the above-described configuration, the conductive pin 10 must protrude outward from the upper surface of the upper block 100 so that when the substrate 1 is seated on the upper surface of the upper block 100, the circuit of the substrate 1 and the conductive pin 10 ) Can be contacted. However, in this case, the substrate 1 may be unintentionally damaged during the inspection of the substrate 1. Accordingly, there is a need for a configuration capable of minimizing damage to the substrate 1 by making the circuit of the substrate 1 and the conductive pins 10 contact only as much as necessary.

본 발명의 다른 실시예는 이러한 문제를 해결하기 위하여, 도 4, 도 5, 도 7 및 도 8 에 도시된 바와 같이, 상부 블록(100)이 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지되고, 상부 블록(100)이 가압되었을 때에만 도전핀(10)이 상부 블록(100)의 상면 상방으로 돌출되도록 구성된다.Another embodiment of the present invention is to solve this problem, as shown in Figs. 4, 5, 7 and 8, the upper block 100 is elastically supported from the lower block 200, the upper block ( Only when 100) is pressed, the conductive pin 10 is configured to protrude upward from the upper surface of the upper block 100.

본 발명의 다른 실시예에서는, 동일한 구성에 대한 설명은 생략하고 기본 실시예에서 변화된 구성에 대해서만 설명하기로 한다.In other embodiments of the present invention, description of the same configuration will be omitted, and only the configuration changed from the basic embodiment will be described.

본 발명의 다른 실시예에서는, 상부 블록(100)을 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지하기 위하여, 상부 블록(100)의 하단으로부터 상방으로 상부 지지홈(140)이 인입 형성되고, 상부 지지홈(140)과 대응되는 위치에 하부 블록(200)의 상단으로부터 하방으로 하부 지지홈(240)이 인입 형성된다. 그리고, 이러한 상부 지지홈(140) 상단과 하부 지지홈(240) 하단에 밀착되어 상부 블록(100)을 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지하는 지지 스프링(40)이 구비된다.In another embodiment of the present invention, in order to elastically support the upper block 100 from the lower block 200, the upper support groove 140 is retracted upwardly from the lower end of the upper block 100, and the upper support groove ( A lower support groove 240 is inserted downward from the upper end of the lower block 200 at a position corresponding to the 140). Further, a support spring 40 is provided in close contact with the upper end of the upper support groove 140 and the lower end of the lower support groove 240 to elastically support the upper block 100 from the lower block 200.

따라서, 기본 상태에서는 지지 스프링(40)에 의해 상부 블록(100)이 하부 블록(200)으로부터 이격되어 탄성 지지되고, 상부 블록(100)이 가압될 때 지지 스프링(40)이 압축되면서 상부 블록(100)과 하부 블록(200)의 이격 간격이 줄어들게 된다. 그리고, 도전핀(10)은 슬라이딩 블록(300)과 하부 블록(200)에 의해 고정된 상태이고 상부 블록(100)만 하부 블록(200) 방향으로 이동하는 구조이기 때문에, 기본 상태에서는 도전핀(10)의 최상단이 상부 블록(100)의 상면보다 낮은 위치에 위치하고, 상부 블록(100)이 하방으로 가압될 때에만 도전핀(10)의 최상단이 상부 블록(100)의 상면보다 높은 위치로 돌출되게 된다. 따라서, 기판(1)을 상부 블록(100)에 안착시킨 후 테스트를 진행할 때에만 적절히 가압하여 도전핀(10)에 의해 기판(1)이 손상되는 것을 최소화할 수 있게 된다.Therefore, in the basic state, the upper block 100 is elastically supported by being spaced apart from the lower block 200 by the support spring 40, and when the upper block 100 is pressed, the support spring 40 is compressed and the upper block ( 100) and the lower block 200 is separated from each other is reduced. In addition, since the conductive pin 10 is in a fixed state by the sliding block 300 and the lower block 200 and only the upper block 100 moves in the direction of the lower block 200, the conductive pin ( 10) is located at a position lower than the upper surface of the upper block 100, and only when the upper block 100 is pressed downward, the uppermost end of the conductive pin 10 protrudes to a position higher than the upper surface of the upper block 100 It will be. Therefore, it is possible to minimize damage to the substrate 1 by the conductive pins 10 by properly pressing the substrate 1 only when performing a test after mounting the substrate 1 on the upper block 100.

그리고, 이를 위하여 상부 블록(100)이 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지되어 상하로 유동될 때 도전핀(10)의 최상단부가 상부 블록(100)의 상면 하방으로부터 상면 상방으로 돌출되어야 하기 때문에, 도전핀(10)이 유동 가능한 형태로 삽입되어 있는 형태인 것이 바람직하다.And, for this purpose, when the upper block 100 is elastically supported from the lower block 200 and flows up and down, the uppermost end of the conductive pin 10 must protrude from the upper surface of the upper block 100 to the upper surface. It is preferable that the pin 10 is inserted in a flowable form.

또한, 상부 블록(100)의 확장부(120)의 상방으로부터 상부 고정 볼트(130)가 삽입되어 하부 블록(200)에 고정 결합될 때, 상부 고정홀(131)에는 상부 고정 볼트(130)가 슬라이딩 가능하게 관통 삽입되고, 상부 고정 볼트(130)가 하부 블록(200)에 결합된 후에도 상부 블록(100)은 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지되며, 도전핀(10)이 상부 블록(100)의 상면 상방으로 돌출되지 않도록 구성되는 것이 바람직하다. 이때, 상부 블록(100)이 외부로 이탈되는 것을 방지하기 위하여 상부 고정홀(131)의 내경은 상부 고정 볼트(130)의 헤드부 외경보다 작게 형성되어야 한다.In addition, when the upper fixing bolt 130 is inserted from the upper side of the extension 120 of the upper block 100 and fixedly coupled to the lower block 200, the upper fixing bolt 130 is in the upper fixing hole 131 The upper block 100 is elastically supported from the lower block 200 even after it is inserted slidably through and the upper fixing bolt 130 is coupled to the lower block 200, and the conductive pin 10 is the upper block 100 It is preferable that it is configured not to protrude above the upper surface of the. In this case, in order to prevent the upper block 100 from being separated from the outside, the inner diameter of the upper fixing hole 131 should be formed smaller than the outer diameter of the head of the upper fixing bolt 130.

한편, 인쇄회로기판(1)은 기판(1)의 일면에만 회로가 형성될 수 있으나, 최근의 인쇄회로기판(1)은 기판(1)의 양면에 회로가 형성되는 것이 일반적이며, 따라서, 본 발명에서도 기판(1)의 양면을 동시에 테스트할 수 있도록 구성된다.On the other hand, the printed circuit board 1 may have a circuit formed on only one side of the board 1, but the recent printed circuit board 1 generally has circuits formed on both sides of the board 1, In the invention, it is also configured to test both sides of the substrate 1 at the same time.

도 6 에는 본 발명의 실시예에 따른 기판(1) 검사용 지그가 기판(1)의 상하부에서 동시에 기판(1)에 접촉하여 기판(1)을 테스트하는 과정이 도시되어 있고, 도 7 및 도 8 에는 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판(1) 검사용 지그가 기판(1)의 상하부에서 동시에 기판(1)에 접촉하여 기판(1)을 테스트하는 과정이 도시되어 있다. 이때, 도 7 은 기판(1)의 상하부에 기판(1) 검사용 지그가 접촉된 상태, 도 8 은 이러한 기판(1) 검사용 지그를 상방으로부터 가압하여 도전핀(10)이 기판(1)의 회로에 접촉된 상태를 각각 도시하고 있다.6 shows a process of testing the substrate 1 by simultaneously contacting the substrate 1 at the upper and lower portions of the substrate 1 by a jig for inspection of the substrate 1 according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 7 and 7 8 shows a process of testing the substrate 1 by simultaneously contacting the substrate 1 at the upper and lower portions of the substrate 1 by the jig for testing the substrate 1 according to another embodiment of the present invention. At this time, FIG. 7 is a state in which the substrate 1 inspection jig is in contact with the upper and lower portions of the substrate 1, and FIG. 8 is a state in which the inspection jig of the substrate 1 is pressed from above so that the conductive pin 10 is transferred to the substrate 1 Each of the states in contact with the circuit is shown.

상술한 구성으로 이루어진 본 발명은, 슬라이딩 블록(300)을 측방으로 이동시키는 것에 의해 도전핀(10)을 견고히 고정할 수 있고, 이러한 슬라이딩 블록(300)의 이동을 상호 어긋나게 형성된 정렬핀 고정홈(220)과 정렬홀(320)에 정렬핀(20)을 삽입하는 것으로 달성 가능하므로, 도전핀(10) 고정을 위한 별도의 고정 장치를 도전핀(10)마다 각각 구비할 필요가 없고, 슬라이딩 블록(300)의 이동을 위한 별도의 전동 장치가 불필요한 효과가 있다.In the present invention made of the above-described configuration, it is possible to firmly fix the conductive pin 10 by moving the sliding block 300 to the side, and the alignment pin fixing grooves formed to shift the movement of the sliding block 300 to each other ( 220) and the alignment hole 320 by inserting the alignment pin 20, so there is no need to provide a separate fixing device for each of the conductive pins 10 for fixing the conductive pin 10, sliding block There is an effect that a separate transmission device for moving 300 is unnecessary.

또한, 본 발명은, 정렬홀(320)의 내경이 정렬핀 고정홈(220)의 내경보다 크게 형성됨으로써, 정렬핀(20)이 용이하게 삽입 고정되는 효과가 있다.In addition, in the present invention, since the inner diameter of the alignment hole 320 is formed larger than the inner diameter of the alignment pin fixing groove 220, there is an effect that the alignment pin 20 is easily inserted and fixed.

또한, 본 발명은, 슬라이딩 블록(300)을 하부 블록(200)에 고정하면서도 슬라이딩 블록(300)의 측방 이동이 방해되지 않는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, while fixing the sliding block 300 to the lower block 200, the lateral movement of the sliding block 300 is not obstructed.

또한, 본 발명은, 상부 블록(100)이 하부 블록(200)으로부터 탄성 지지되고, 상부 블록(100)이 연직 방향으로 가압되었을 때에만 도전핀(10)이 상부 블록(100)의 상면 상방으로 돌출되므로, 기판(1)의 검사시 회로의 손상을 최소화할 수 있는 효과가 있다.In addition, in the present invention, only when the upper block 100 is elastically supported from the lower block 200 and the upper block 100 is pressed in the vertical direction, the conductive pin 10 moves upward from the upper surface of the upper block 100. Since it protrudes, there is an effect of minimizing damage to the circuit during inspection of the substrate 1.

또한, 본 발명은, 상부 블록(100)을 하부 블록(200)에 고정하면서도 상부 블록(100)의 상하 이동이 방해되지 않는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, while fixing the upper block 100 to the lower block 200, the vertical movement of the upper block 100 is not obstructed.

1: 기판 10 : 도전핀
20 : 정렬핀 30 : 지지 스프링
100 : 상부 블록 101 : 제 1 상부 블록
102 : 제 2 상부 블록 110 : 상부 도전핀 홀
120 : 확장부 130 : 상부 고정 볼트
131 : 상부 고정홀 140 : 상부 지지홈
200 : 하부 블록 210 : 하부 도전핀 홀
220 : 정렬핀 고정홈 240 : 하부 지지홈
300 : 슬라이딩 블록 310 : 도전핀 고정홀
320 : 정렬홀 330 : 하부 고정 볼트
331 : 하부 고정홀1: substrate 10: conductive pin
20: alignment pin 30: support spring
100: upper block 101: first upper block
102: second upper block 110: upper conductive pin hole
120: extension part 130: upper fixing bolt
131: upper fixing hole 140: upper support groove
200: lower block 210: lower conductive pin hole
220: alignment pin fixing groove 240: lower support groove
300: sliding block 310: conductive pin fixing hole
320: alignment hole 330: lower fixing bolt
331: lower fixing hole

Claims (6)

인쇄회로기판의 배선 패턴의 양불 여부를 판별하는 기판 검사시, 측정 장치와 기판의 배선 패턴 사이를 접촉시키는 기판 검사용 가동식 지그에 있어서,
상기 기판이 상면에 안착되며, 복수의 상부 도전핀 홀이 상하 방향으로 관통 형성되어 상기 상부 도전핀 홀에 도전핀이 삽입되는 상부 블록;
상기 상부 블록의 하부에서 상기 상부 블록에 고정되며, 상기 상부 도전핀 홀과 대응되는 위치에 하부 도전핀 홀이 상하 방향으로 관통 형성되어 상기 하부 도전핀 홀에 상기 도전핀이 삽입되는 하부 블록;
상기 하부 블록의 하부에서 상기 하부 블록에 측방으로 슬라이딩 가능하게 결합되되, 상기 하부 도전핀 홀과 대응되는 위치에 도전핀 고정홀이 상하 방향으로 형성되어 상기 도전핀이 삽입되며, 상기 측정 장치의 상부에 안착되는 슬라이딩 블록;
을 포함하되,
상기 하부 블록은 하단으로부터 상방으로 인입된 정렬핀 고정홈이 형성되고, 상기 슬라이딩 블록은 상기 정렬핀 고정홈과 설정 간격 어긋난 위치에 정렬홀이 형성되어서, 정렬핀이 상기 정렬홀의 하방으로부터 상기 정렬홀을 관통하여 상기 정렬핀 고정홈에 삽입 고정될 때, 상기 정렬핀에 의해 상기 정렬핀 고정홈과 상기 정렬홀의 일측 내주연이 일직선상에 정렬됨과 동시에 상기 슬라이딩 블록이 일측 방향으로 슬라이딩되고,
상기 슬라이딩 블록의 하방으로부터 상기 슬라이딩 블록을 관통하여 상기 하부 블록에 결합되는 하부 고정 볼트;를 포함하며,
상기 슬라이딩 블록은 상기 하부 고정 볼트가 관통될 수 있도록 하부 고정홀이 형성되되, 상기 슬라이딩 블록의 측방 이동이 가능하도록 상기 하부 고정홀의 내경은 상기 하부 고정 볼트의 몸체 외경보다 크게 형성되고,
상기 상부 블록은 하단으로부터 상방으로 상부 지지홈이 인입 형성되고, 상기 하부 블록은 상기 상부 지지홈과 대응되는 위치에 상단으로부터 하방으로 하부 지지홈이 인입 형성되며,
상기 상부 지지홈 상단과 상기 하부 지지홈 하단에 양단이 밀착되어 상기 상부 블록을 상기 하부 블록으로부터 탄성 지지하는 지지 스프링;을 포함하고,
상기 도전핀은 최상단이 상기 상부 블록의 상면보다 낮은 높이에 위치하며, 상기 상부 블록이 하방으로 가압될 때 상기 도전핀의 최상단이 상기 상부 블록의 상면보다 높은 위치로 돌출되며,
상기 상부 블록은 하단 외측면이 측방으로 연장되어 확장부가 형성되고,
상기 확장부를 상하로 관통하여 상기 하부 블록에 고정되되, 상기 확장부에 슬라이딩 가능하게 구비되는 상부 고정 볼트;를 포함하며,
상기 상부 블록은 상기 상부 고정 볼트가 관통될 수 있도록 상부 고정홀이 형성되되, 상기 상부 블록이 이탈되지 않도록 상기 상부 고정홀의 내경은 상기 상부 고정 볼트의 헤드부 외경보다 작게 형성되는 기판 검사용 가동식 지그.
In a substrate inspection movable jig for contacting between a measuring device and a wiring pattern of the substrate at the time of inspection of a substrate to determine whether a wiring pattern of a printed circuit board is good or bad,
An upper block in which the substrate is seated on an upper surface, a plurality of upper conductive pin holes are formed through vertically, and a conductive pin is inserted into the upper conductive pin hole;
A lower block which is fixed to the upper block at a lower portion of the upper block, and has a lower conductive pin hole formed therethrough in a vertical direction at a position corresponding to the upper conductive pin hole to insert the conductive pin into the lower conductive pin hole;
It is slidably coupled to the lower block from the lower part of the lower block, and a conductive pin fixing hole is formed in a vertical direction at a position corresponding to the lower conductive pin hole to insert the conductive pin, and the upper part of the measuring device A sliding block seated on;
Including,
The lower block has an alignment pin fixing groove inserted upward from the lower end, and the sliding block has an alignment hole formed at a position deviated from the alignment pin fixing groove and a set distance, so that the alignment pin is the alignment hole from the bottom of the alignment hole. When inserted and fixed into the alignment pin fixing groove through the alignment pin, the alignment pin fixing groove and the inner circumference of one side of the alignment hole are aligned in a straight line by the alignment pin, and the sliding block slides in one direction,
Includes; a lower fixing bolt that penetrates the sliding block from below the sliding block and is coupled to the lower block,
The sliding block has a lower fixing hole formed to allow the lower fixing bolt to pass therethrough, and the inner diameter of the lower fixing hole is larger than the outer diameter of the body of the lower fixing bolt so that the sliding block can be laterally moved,
The upper block has an upper support groove retracted from the lower end to the upper side, and the lower block has a lower support groove retracted from the upper end to a position corresponding to the upper support groove,
A support spring having both ends in close contact with an upper end of the upper support groove and a lower end of the lower support groove to elastically support the upper block from the lower block; and
The conductive pin is located at a height lower than the upper surface of the upper block, and when the upper block is pressed downward, the uppermost end of the conductive pin protrudes to a position higher than the upper surface of the upper block,
The upper block has a lower outer surface extending laterally to form an extension part,
Includes; an upper fixing bolt fixed to the lower block by penetrating the expansion part vertically and slidably provided on the expansion part,
The upper block has an upper fixing hole formed to allow the upper fixing bolt to pass therethrough, and the inner diameter of the upper fixing hole is smaller than the outer diameter of the head portion of the upper fixing bolt so that the upper block is not separated. .
 제 1 항에 있어서,
상기 정렬핀은 상기 정렬핀 고정홈에 억지끼움 고정되고, 상기 정렬홀은 상기 정렬핀 고정홈보다 더 큰 내경을 갖는 기판 검사용 가동식 지그.
The method of claim 1,
The alignment pin is forcibly fitted into the alignment pin fixing groove, and the alignment hole is a movable jig for inspection of a substrate having a larger inner diameter than the alignment pin fixing groove.
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