KR19980081120A - Electronic device and measuring method of the electronic device - Google Patents

Electronic device and measuring method of the electronic device Download PDF

Info

Publication number
KR19980081120A
KR19980081120A KR1019980012028A KR19980012028A KR19980081120A KR 19980081120 A KR19980081120 A KR 19980081120A KR 1019980012028 A KR1019980012028 A KR 1019980012028A KR 19980012028 A KR19980012028 A KR 19980012028A KR 19980081120 A KR19980081120 A KR 19980081120A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test pin
box body
hole
electronic device
circuit pattern
Prior art date
Application number
KR1019980012028A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
몬마유키마사
고세키마사히코
우라타니가즈히로
기누야마히로토
Original Assignee
가다오카마사다카
아루푸스덴키가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가다오카마사다카, 아루푸스덴키가부시키가이샤 filed Critical 가다오카마사다카
Publication of KR19980081120A publication Critical patent/KR19980081120A/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Casings For Electric Apparatus (AREA)

Abstract

종래의 전자 기기는 커버(33)에는 회로 패턴(35)에 대향하는 구멍(33b)만이 마련되는 것이기 때문에 측정시 전자 기기를 이동, 조정하지 않으면 안되어 그 작업이 번거롭고 측정작업에 수고가 든다는 문제가 있다.In the conventional electronic device, since only the hole 33b facing the circuit pattern 35 is provided in the cover 33, the electronic device must be moved and adjusted at the time of the measurement, which is cumbersome and troublesome for the measurement work. have.

본 발명의 전자 기기는 프린트 기판(5)과 커버(3, 4)에 박스체(1)의 상하 방향에서 박스체(1)를 관통하는 구멍(5c, 3c, 4c)을 마련하였기 때문에 이 구멍(5c, 3c, 4c)을 측정시의 위치결정용으로서 이용할 수 있어 측정 작업을 용이하게 하고, 작업의 단축화를 도모할 수 있다.In the electronic device of the present invention, the holes 5c, 3c, 4c penetrating the box body 1 in the up and down direction of the box body 1 are provided in the printed circuit board 5 and the covers 3, 4, and the holes are provided. (5c, 3c, 4c) can be used for positioning at the time of measurement, making measurement work easy, and work can be shortened.

Description

전자 기기 및 그 전자 기기의 측정방법Electronic apparatus and measuring method of the electronic apparatus

본 발명은 텔레비젼 튜너등에 사용되는 전자 기기 및 그 전자 기기의 검사 또는 조정등을 위한 측정방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to electronic devices used in television tuners and the like, and measurement methods for inspecting or adjusting such electronic devices.

종래에 있어서의 튜너등의 전자 기기는 도 4에 나타내는 바와 같이 상하 양쪽에 개방부(31a)를 가지는 口형의 프레임체(31)와, 직사각형을 이루고, 아래쪽으로 접어 구부린 끼워 유지하는 조각(32a)을 가지는 상부의 커버(32)와, 끼워 유지하는 조각(33a)을 가지는 하부의 커버(33)를 구비하고 있다.Conventionally, electronic devices such as tuners, as shown in Fig. 4, have a square frame body 31 having an open portion 31a on both sides of the top and bottom, and pieces 32a that are held in a rectangular shape and bent downward. The upper cover 32 which has (), and the lower cover 33 which has the piece 33a to hold | maintain are provided.

그리고 프레임체(31)의 개방부(31a)를 막도록 상하의 커버(32, 33)를 프레임체(31)에 덮고, 끼워 유지하는 조각(32a, 33a)으로 프레임체(31)를 끼워 유지하여 박스형의 박스체(30)가 구성되어 있다.Then, the upper and lower covers 32 and 33 are covered with the frame 31 so as to block the opening part 31a of the frame 31, and the frame body 31 is sandwiched and held by pieces 32a and 33a to be held therein. The box-shaped box body 30 is comprised.

또 프린트 기판(34)에는 소망의 회로패턴(35)이 형성되고, 여기서는 도시 생략되어 있었으나, 코일, 저항기, 콘덴서등의 전기부품이 프린트 기판(34)에 탑재되어 이들의 전기부품이 회로패턴(35)에 접속된 구성으로 되어 있다.Further, a desired circuit pattern 35 is formed on the printed circuit board 34. Although not shown here, electrical components such as coils, resistors, and capacitors are mounted on the printed circuit board 34, and these electrical components are mounted on the circuit pattern ( 35).

그리고 이와같이 전기 부품이 탑재된 프린트 기판(34)은 박스체(30)내에 수납되어 설치되어 있다.In this way, the printed circuit board 34 on which the electric components are mounted is housed in the box body 30 and installed.

또 하부의 커버(33)에는 박스체(30)내에 설치된 프린트 기판(34)의 일부의 회로패턴(35)과 대향하는 위치에 구멍(33b)이 마련된 구성으로 되어 있다.The lower cover 33 has a structure in which a hole 33b is provided at a position facing the circuit pattern 35 of a part of the printed board 34 provided in the box body 30.

그리고 이와 같은 구성을 가지는 전자 기기는 조립되어 완성후, 소망의 전기적 특성 또는 성능등을 구비하고 있는 지의 여부를 특정 회로의 부분에 의해 측정, 검사된다.Then, the electronic device having such a configuration is assembled and completed, and then measured and inspected by a specific circuit part to determine whether it has desired electrical characteristics or performance.

그리고 이 측정, 검사에 의하여 필요에 따라 코일등의 조정을 행하고, 소망의 특성, 성능의 전자 기기를 얻는 것이다.The coil and the like are adjusted as necessary by this measurement and inspection to obtain an electronic device having desired characteristics and performance.

그리고 상기와 같은 측정을 위한 전자 기기의 측정장치는 도 4에 나타내는 바와 같이 전자 기기를 유지하기 위한 유지대(40)에는 전자 기기를 받기 위한 오목부(40a)와 구멍(40b)이 마련되어 있다.In the measuring device of the electronic device for the measurement as described above, as shown in Fig. 4, the holder 40 for holding the electronic device is provided with a recess 40a and a hole 40b for receiving the electronic device.

또 지그(도시 생략)에 이동 가능하게 설치된 가동부(41)에는 절연체(42)를 개재하여 테스트 핀(43)이 설치되고, 수동에 의하여 가동체(41)를 움직여 테스트 핀(43)을 유지대(40)의 구멍(40b)에 출입 가능하도록 하고 있다.In addition, a test pin 43 is provided on the movable part 41 provided to be movable in a jig (not shown) via an insulator 42, and the movable pin 41 is manually moved to hold the test pin 43. The hole 40b of the 40 is allowed to enter and exit.

그리고 종래의 전자 기기의 측정방법은 도 5에 나타내는 바와 같이 먼저 전자 기기를 유지대(40)의 오목부(40a)내에 얹어 놓는다.In the conventional measuring method of an electronic device, as shown in FIG. 5, an electronic device is first placed in the recess 40a of the holding table 40. As shown in FIG.

다음에 가동체(41)를 도 4의 상태에서 도 5에 나타내는 바와 같이 지그를 가이드로 하여 수동에 의하여 위쪽으로 이동한다.Next, in the state of FIG. 4, the movable body 41 is moved upwards manually by a jig as a guide.

이때 테스트 핀(43)이 커버(33)에 접촉되지 않도록 전자 기기를 손으로 이동하여 조정하면서 커버(33)의 구멍(33b)에 테스트 핀(43)을 삽입하여 테스트 핀(43)의 선단을 회로패턴(35)에 접촉시킨다.At this time, the test pin 43 is inserted into the hole 33b of the cover 33 by adjusting the electronic device by hand so that the test pin 43 does not contact the cover 33. The circuit pattern 35 is brought into contact.

그리고 이 상태에서 전자 기기의 특성, 성능 등을 측정, 검사하고, 필요에 따라 전자 기기의 조정을 행한다.In this state, the characteristics, performance, and the like of the electronic equipment are measured and inspected, and the electronic equipment is adjusted as necessary.

그리고 측정, 검사후, 가동체(41)를 도 4에 나타내는 상태로 이동하면, 전자 기기의 측정이 완료한다.After the measurement and inspection, the movable body 41 is moved to the state shown in FIG. 4, and the measurement of the electronic device is completed.

종래의 전자 기기는 커버(33)에는 회로패턴(35)에 대향하는 구멍(33b)만이 마련되는 것이기 때문에 측정시 전자 기기를 이동, 조정하지 않으면 안되고 그 작업이 번거롭고, 측정작업에 수고가 든다는 문제가 있다.In the conventional electronic device, since only the hole 33b facing the circuit pattern 35 is provided in the cover 33, the electronic device must be moved and adjusted during measurement, which is cumbersome and troublesome for the measurement work. There is.

또 종래의 측정방법은 유지대(40)에 전자 기기를 얹어 놓고, 수동에 의한 가동체(41)에 의하여 테스트 핀(43)을 커버(33)의 구멍(33a)에 삽입하기 때문에 전자 기기의 위치 결정이 불확실하고, 전자 기기의 수동에 의한 조정이 필요하며, 또 가동체(41)가 수동에 의한 이동이기 때문에 그 작업이 번거롭고, 측정작업에 수고가 들어 생산성이 나쁘다는 문제가 있다.In the conventional measuring method, the electronic device is placed on the holder 40, and the test pin 43 is inserted into the hole 33a of the cover 33 by the movable body 41 by manual operation. Since positioning is uncertain, manual adjustment of the electronic device is required, and since the movable body 41 is manually moved, the work is cumbersome, and the measurement work is troublesome, resulting in a problem of poor productivity.

도 1은 본 발명의 전자 기기 및 그 전자기기의 측정장치를 나타내는 요부 단면도,BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The principal part sectional drawing which shows the electronic device of this invention, and the measuring apparatus of the electronic device,

도 2는 본 발명의 전자기기의 측정방법을 나타내는 설명도,2 is an explanatory diagram showing a measuring method of an electronic apparatus of the present invention;

도 3은 본 발명의 전자기기의 다른 실시예를 나타내는 요부 단면도,3 is a sectional view showing the principal parts of another embodiment of an electronic device of the present invention;

도 4는 종래의 전자 기기 및 그 전자기기의 측정장치를 나타내는 요부 단면도,4 is a sectional view showing the principal parts of a conventional electronic apparatus and a measuring apparatus of the electronic apparatus;

도 5는 종래의 전자기기의 측정방법을 나타내는 설명도이다.5 is an explanatory diagram showing a conventional method for measuring an electronic device.

※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of symbols for main parts of drawing

1 : 박스체 2 : 프레임체1: box body 2: frame body

2a : 개방부 2b : 개방부2a: opening 2b: opening

2c : 바닥벽 2d : 구멍2c: bottom wall 2d: hole

2e : 구멍 3 : 커버2e: hole 3: cover

3a : 끼워 유지하는 조각 3c : 구멍3a: piece to keep fit 3c: hole

4 : 커버 4a : 끼워 유지하는 조각4: cover 4a: piece to keep fit

4b : 구멍 4c : 구멍4b: hole 4c: hole

5 : 프린트 기판 5c : 구멍5: printed board 5c: hole

6 : 회로 패턴 10 : 유지대6: circuit pattern 10: holder

10a : 오목부 10b : 구멍10a: recess 10b: hole

11 : 지지부재 12 : 가이드 봉11 support member 12 guide rod

12a : 원추상 부 13 : 테스트 핀12a: Conical part 13: test pin

14 : 절연체 14a : 턱부14: insulator 14a: jaw

15 : 스프링 16 : 고정구15: spring 16: fixture

17 : 구동부재 17a : 가동부17: drive member 17a: movable part

상기 과제를 해결하기 위하여 제 1해결수단으로서 상하 양쪽에 개방부를 가지는 사각 프레임상의 프레임체와, 상기 프레임체의 개방부를 덮는 커버로 형성된 상자형의 박스체와, 상기 박스체내에 배치되고, 회로패턴을 가지는 프린트 기판을 구비하고, 상기 프린트 기판의 회로패턴에 대향하는 위치에서 상기 커버에 구멍을 마련함과 동시에 상기 박스체의 상하방향에서 직선상으로 상기 박스체를 관통하는 구멍을 상기 프린트 기판과 상기 커버에 마련한 구성으로 하였다.In order to solve the above problems, as a first solution, a box-shaped box body formed of a rectangular frame having open portions on both upper and lower sides, a cover covering the open portion of the frame body, and a circuit pattern disposed in the box body, And a hole for penetrating the box body in a straight line in the vertical direction of the box body while providing a hole in the cover at a position facing the circuit pattern of the printed board. It was set as the structure provided in the cover.

또 제 2해결수단으로서 개방부와 바닥벽을 가지는 U자형의 프레임체와, 상기 프레임체의 개방부를 덮는 커버로 형성된 상자형의 박스체와, 상기 박스체내에 배치되고, 회로패턴을 가지는 프린트 기판을 구비하고, 상기 프린트 기판의 회로패턴에 대향하는 위치에서 상기 커버 또는 상기 바닥벽에 구멍을 마련함과 동시에 상기 박스체의 상하 방향에서 직선상으로 상기 박스체를 관통하는 구멍을 상기 프린트 기판과 상기 커버와 상기 바닥벽에 마련한 구성으로 하였다.As a second solution, a U-shaped frame body having an opening and a bottom wall, a box-shaped box body formed of a cover covering the opening of the frame body, and a printed circuit board disposed in the box body and having a circuit pattern And a hole in the cover or the bottom wall at a position opposite to the circuit pattern of the printed board and through the box body in a straight line in the vertical direction of the box body. It was set as the structure provided in the cover and the said bottom wall.

또 제 3해결수단으로서 상기 박스체를 관통하는 상기 구멍을 복수개 마련한 구성으로 하였다.Moreover, as a 3rd solution means, it was set as the structure which provided two or more said holes which penetrate the said box body.

또 제 4해결수단으로서 박스체의 상하방향에서 직선상으로 박스체를 관통하여 마련된 한 개, 또는 복수개의 제 1구멍과, 상기 박스체내에 배치된 프린트 기판에 형성된 회로패턴에 대향하여 커버, 또는 바닥벽에 마련된 제 2구멍을 가지는 전자 기기의 상기 제 1구멍에 가이드 봉을 삽입한 상태에서 제 2구멍에 테스트 핀을 삽입하여 상기 테스트 핀을 상기 회로패턴에 접촉시킨 방법으로 하였다.Further, as a fourth solution means, a cover is provided to face one or more first holes provided through the box body in a straight line in the up and down direction of the box body, and a circuit pattern formed in the printed circuit board disposed in the box body, or In the state where the guide rod was inserted into the first hole of the electronic device having the second hole provided in the bottom wall, a test pin was inserted into the second hole, and the test pin was brought into contact with the circuit pattern.

또 제 5해결수단으로서 상기 가이드 봉과 테스트 핀을 지지한 지지부재를 구동하여 상기 가이드 봉과 상기 테스트 핀을 동시에 구동하도록 한 방법으로 하였다.In addition, as a fifth solution, the support member supporting the guide rod and the test pin was driven to simultaneously drive the guide rod and the test pin.

또 제 6해결수단으로서 상기 가이드 봉의 선단에 마련한 원추상 부측에서 상기 제 1구멍에 가이드 봉을 삽입하도록 한 방법으로 하였다.As a sixth solution, the guide rod was inserted into the first hole at the conical portion provided at the tip of the guide rod.

또한 제 7해결수단으로서 상기 지지부재에 대하여 상기 테스트 핀을 상하 이동 가능하게 하고, 상기 테스트 핀이 상기 회로패턴에 접촉한 후, 테스트 핀은 이동을 정지함과 동시에 상기 지지부재는 이동할 수 있게 한 방법으로 하였다.Further, as a seventh solution, the test pin can be moved up and down with respect to the support member, and after the test pin contacts the circuit pattern, the test pin stops movement and at the same time, the support member can move. It was a method.

(실시예)(Example)

다음에 본 발명의 전자 기기 및 그 전자 기기의 측정방법의 일 실시예를 도 1, 도 2에 의거하여 설명하면, 도 1은 본 발명의 전자 기기 및 전자 기기의 측정장치를 나타내는 요부 단면도, 도 2는 전자 기기의 측정방법을 나타내는 설명도이다.Next, an embodiment of an electronic device of the present invention and a measuring method of the electronic device will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a cross-sectional view showing main parts of an electronic device and a measuring device of the electronic device of the present invention. 2 is an explanatory diagram showing a measuring method of an electronic device.

그리고 본 발명에서의 전자 기기는 도 1에 나타내는 바와 같이 상하 양쪽에 개방부(2a, 2b)를 가지는 사각 프레임상의 프레임체(2)와, 직사각형상을 이루고, 아래쪽에 접어 구부린 끼워 유지하는 조각(3a)을 가지는 상부의 커버(3)와, 끼워 유지하는 조각(4a)을 가지는 하부의 커버(4)를 구비하고 있다.As shown in Fig. 1, the electronic device of the present invention has a rectangular frame-shaped frame body 2 having open portions 2a and 2b on both sides of the upper and lower pieces, which have a rectangular shape and are folded and bent at the bottom to be held ( An upper cover 3 having 3a and a lower cover 4 having pieces 4a to be held therein are provided.

그리고 프레임체(2)의 개방부(2a)를 막도록 상부의 커버(3)를 또 프레임체(2)의 개방부(2b)를 막도록 하부의 커버(4)를 각각 프레임체(2)에 덮고, 끼워 유지하는 조각(3a, 4a)으로 프레임체(2)를 끼워 유지하여 상자형의 박스체(1)가 구성되어 있다.And the upper cover 3 to block the opening 2a of the frame 2 and the lower cover 4 to block the opening 2b of the frame 2, respectively, the frame 2 A box-shaped box body 1 is formed by sandwiching and holding the frame body 2 by pieces 3a and 4a which are covered and held.

또 프린트 기판(5)에는 소망의 배선용 패턴 및 측정용 랜드로 이루어지는 회로패턴(6)이 형성되고, 여기서는 도시 생략하였으나, 코일, 저항기, 콘덴서등의 전기부품이 프린트 기판(5)에 탑재되어 이들의 전기부품이 회로패턴(6)에 접속된 구성으로 되어 있다.In addition, a circuit pattern 6 including a desired wiring pattern and a measuring land is formed on the printed board 5, and although not shown here, electrical components such as coils, resistors, and capacitors are mounted on the printed board 5, Is configured to be connected to the circuit pattern 6.

그리고 이와 같이 전기부품이 탑재된 프린트기판(34)은 박스체(30)내에 수납되어 설치되어 있다.In this way, the printed circuit board 34 on which the electric parts are mounted is housed in the box body 30 and installed.

또 하부의 커버(4)에는 박스체(1)내에 설치된 프린트 기판(5)의 일부 회로패턴(6)과 대향하는 위치에 구멍(4b)이 마련된 구성으로 되어 있다.Further, the lower cover 4 has a configuration in which holes 4b are provided at positions facing the circuit patterns 6 of the printed circuit board 5 provided in the box body 1.

또한 상하의 커버(3, 4) 및 프린트 기판(5)에는 박스체(1)의 상하방향에서 직선상으로 박스체(1)를 관통하는 원형의 구멍(3c, 4c, 5c)이 마련되어 있고, 이 구멍(3c, 4c, 5c)은 박스체(1)에 복수개 형성되어 있고, 이 실시예에서는 2개소 설치한 것으로 되어 있다.In addition, the upper and lower covers 3 and 4 and the printed circuit board 5 are provided with circular holes 3c, 4c and 5c which penetrate the box 1 in a straight line in the vertical direction of the box 1. A plurality of holes 3c, 4c, and 5c are formed in the box body 1, and two holes are provided in this embodiment.

그리고 이와 같은 구성을 가지는 전자 기기는 조립되어 완성후, 소망의 전기적 특성 또는 성능 등을 구비하고 있는 지의 여부를 특정 회로부분에 의해 측정, 검사된다.The electronic device having such a configuration is assembled and completed, and then measured and inspected by a specific circuit part to determine whether the electronic device has the desired electrical characteristics or performance.

그리고 이 측정, 검사에 의하여 필요에 따라 코일등의 조정을 행하고, 소망의 특성, 성능의 전자 기기를 얻는 것이다.The coil and the like are adjusted as necessary by this measurement and inspection to obtain an electronic device having desired characteristics and performance.

그리고 상기와 같은 측정을 위한 전자 기기의 측정장치는 도 1에 나타내는 바와 같이 전자 기기를 유지하기 위한 유지대(10)에는 전자 기기를 받기 위한 오목부(10a)와 구멍(10b)이 마련되어 있다.In the measuring device of the electronic device for the measurement as described above, as shown in Fig. 1, the holder 10 for holding the electronic device is provided with a recess 10a and a hole 10b for receiving the electronic device.

또 설치부(도시 생략)에 이동 가능하게 설치된 지지부재(11)에는 선단에 원추상부(12a)를 가지는 복수개의 원주의 가이드 봉(12)과, 테스트 핀(13)을 설치한 절연체(14)가 설치되어 있다.In addition, the support member 11 provided to be movable in the mounting portion (not shown) includes a plurality of circumferential guide rods 12 having a conical portion 12a at the tip, and an insulator 14 provided with a test pin 13. Is installed.

또 절연체(14)는 그 턱부(14a)와 지지부재(11)사이에 스프링(15)이 설치되고, 지지부재(11)를 끼워 반대측에 고정구(16)를 설치함으로써 테스트 핀(13)과 함께 상하 이동 가능하게 지지부재(11)에 설치되어 있다.The insulator 14 is provided with a test pin 13 by installing a spring 15 between the jaw portion 14a and the support member 11 and inserting the support member 11 to install the fixture 16 on the opposite side. It is provided in the support member 11 so that it can move up and down.

또 모터 등의 구동부재(17)가 설치되고, 이 구동부재(17)에 설치된 가동부(17a)가 지지부재(11)와 연결지어져 구동부재(17)의 구동에 의하여 가동부(17a)를 개재하여 지지부재(11)를 상하 이동하게 되어 있다.In addition, a drive member 17 such as a motor is provided, and the movable part 17a provided on the drive member 17 is connected to the support member 11 to drive the drive member 17 via the movable part 17a. The support member 11 is moved up and down.

그리고 상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 측정장치에서의 전자 기기의 측정방법은 도 2에 나타내는 바와 같이 먼저 전자 기기를 유지대(10)의 오목부(10a)내에 얹어 놓고 유지한다.In the measuring method of the electronic apparatus of the measuring apparatus of the present invention having the above configuration, as shown in FIG. 2, the electronic apparatus is first placed and held in the recess 10a of the holder 10.

다음에 도 1의 상태에서 구동부재(17)를 구동하여 가동부(17A)로 지지부재(11)를 위쪽으로 이동한다.Next, the driving member 17 is driven in the state of FIG. 1 to move the supporting member 11 upward with the movable portion 17A.

그러면 먼저 가이드 봉(12)의 원추상부(12a)가 커버(4)의 구멍(4c)내로 삽입되면서 위쪽으로 이동하여 이 가이드 봉(12)에 의하여 커버(4)의 구멍(4b)과 테스트 핀(13)과의 위치결정이 확실하게 이루어진다.Then, the conical portion 12a of the guide rod 12 is first inserted into the hole 4c of the cover 4 and moved upwards, so that the hole 4b of the cover 4 and the test pin are moved by the guide rod 12. Positioning with (13) is surely performed.

또한 구동부재(17)에 의하여 지지부재(11)를 위쪽으로 이동하면, 가이드 봉(12)은 순차 프린트 기판(5)의 구멍(5c), 커버(3)의 구멍(3c)에 삽입, 관통하여 전자 기기의 위치결정을 정확하게 행하게 된다.In addition, when the support member 11 is moved upward by the drive member 17, the guide rod 12 is inserted and penetrated into the hole 5c of the printed circuit board 5 and the hole 3c of the cover 3 in sequence. The positioning of the electronic device is performed accurately.

그리고 그 사이에 테스트 핀(13)은 커버(4)에 접촉하지 않고 구멍(4b)에 끼워 통하게 되어 그 선단이 회로패턴(6)에 접촉한다.In the meantime, the test pin 13 is inserted into the hole 4b without being in contact with the cover 4, and the tip thereof is in contact with the circuit pattern 6.

또 이 테스트 핀(13)이 회로패턴(6)에 접촉한 후, 지지부재(11)가 위쪽으로 이동한 때는 테스트 핀(13)은 스프링(15)에 의하여 그 위치를 유지될 수 있게 되고 도 2에 나타내는 상태가 된다.After the test pin 13 is in contact with the circuit pattern 6, when the support member 11 is moved upward, the test pin 13 can be held in position by the spring 15. It becomes the state shown in 2.

그리고 이 도 2의 상태에서 전자 기기의 특성, 성능 등을 측정, 검사하고 필요에 따라 전자 기기의 조정을 행한다.In this state of FIG. 2, the characteristics, performances, and the like of the electronic device are measured and inspected, and the electronic device is adjusted as necessary.

그리고 측정, 검사후 구동부재(17)를 구동하여 지지부재(11)를 도 2의 상태에서 도 1의 상태로 이동하면, 전자 기기의 측정이 완료된다.After the measurement and inspection, the driving member 17 is driven to move the support member 11 from the state of FIG. 2 to the state of FIG. 1, and the measurement of the electronic device is completed.

도 3은 본 발명의 전자 기기의 다른 실시예를 나타내며, 상기 실시예의 하부 커버(4)를 대신하여 박스체(1)를 구성하는 프레임체(2)에 바닥벽(2c)을 설치하고, 상기 바닥벽(2c)에 회로 패턴(6)과 대향하는 테스트 핀(13)의 끼워 통하는 구멍(2d)을 마련함과 동시에 프린트 기판(6)의 구멍(5c)에 대향하는 복수개의 구멍(2e)을 마련하고, 이 구멍(2e)을 가이드북(12)의 끼워 통하는 용도로 한 것이며, 그 외의 구성은 상기 실시예와 동일하며, 여기서는 동일 부품에 동일 번호를 붙여 그 설명을 생략한다.Fig. 3 shows another embodiment of the electronic device of the present invention, in which the bottom wall 2c is provided on the frame body 2 constituting the box body 1 in place of the lower cover 4 of the embodiment. A plurality of holes 2e facing the hole 5c of the printed circuit board 6 are provided in the bottom wall 2c while providing the holes 2d through which the test pins 13 oppose the circuit pattern 6. The hole 2e is used for the guide book 12 to fit through, and the other structure is the same as that of the said Example, The same part is attached | subjected here, and the description is abbreviate | omitted.

그리고 이와 같은 전자 기기에서도 상기한 측정장치에 의하여 동일한 방법으로 그 측정을 행하는 것이다.In such electronic equipment, the measurement is performed by the above-described measuring apparatus in the same manner.

또 전자 기기는 각종 크기의 것이 존재하고, 이에 따라 상하방향의 높이가 다른 종류가 존재한다.Electronic devices exist in various sizes, and accordingly, there are kinds of electronic devices having different heights in the vertical direction.

그리고 박스체(1)의 상하방향에서 박스체(1)를 관통하는 구멍을 마련함으로써 높이가 낮은 것은 가이드 봉(12)이 박스체(1)를 관통하고, 높이가 높은 것은 가이드 봉(12)의 선단이 박스체(1)내에 위치함으로써 높이가 다른 박스체(1)이어도 가이드 봉(12)을 공용할 수 있는 것으로 되어 있다.The guide rod 12 penetrates the box body 1 by providing a hole penetrating the box body 1 in the up and down direction of the box body 1, and the guide rod 12 having a high height. Since the tip of is located in the box 1, the guide rod 12 can be shared even with the box 1 having a different height.

본 발명의 전자 기기는 프린트 기판과 커버에 박스체의 상하방향에서 박스체를 관통하는 구멍을 마련하였기 때문에 이 구멍을 측정시의 위치결정용으로서 이용할 수 있어 측정작업을 용이하게 하고 작업의 단축화를 도모할 수 있다.Since the electronic device of the present invention has a hole in the printed circuit board and the cover penetrating the box body in the vertical direction of the box body, the hole can be used for positioning during measurement, which facilitates the measurement work and shortens the work. We can plan.

또 박스체를 관통하는 구멍을 마련함으로써 박스체의 높이가 다른 것에서도 동일 측정장치를 공용할 수 있다.Moreover, the same measuring apparatus can be shared even if the height of a box body differs by providing the hole which penetrates a box body.

또 프린트 기판과 프레임체의 바닥벽에 박스체의 상하방향에서 박스체를 관통하는 구멍을 마련하였기 때문에 이 구멍을 측정시의 위치결정용으로서 이용할 수 있어 측정작업을 용이하게 하고, 작업의 단축화를 도모할 수 있다.In addition, a hole is formed in the bottom wall of the printed circuit board and the frame body to penetrate the box body in the up and down direction of the box body. We can plan.

또 박스체를 관통하는 구멍을 마련함으로써 박스체의 높이가 다른 것에서도 동일 측정장치를 공용할 수 있다.Moreover, the same measuring apparatus can be shared even if the height of a box body differs by providing the hole which penetrates a box body.

또 박스체를 관통하는 구멍을 복수개 마련함으로써 박스체의 위치결정을 보다 정확하게 할 수 있고 또한 작업의 확실성과 단축화를 도모할 수 있다.In addition, by providing a plurality of holes penetrating the box body, the box body can be positioned more accurately, and the work can be secured and shortened.

또 본 발명의 측정방법은 박스체를 관통하는 구멍에 가이드 봉을 삽입하여 측정을 행하도록 하였기 때문에 가이드 봉으로 박스체의 위치결정을 할 수 있고, 측정작업을 용이하게 하여 작업의 단축화를 도모할 수 있다.In addition, in the measuring method of the present invention, the guide rod is inserted into the hole penetrating the box body to perform the measurement, so that the box body can be positioned with the guide rod, which facilitates the measurement work and shortens the work. Can be.

또 가이드 봉과 테스트 핀을 동시에 지지부재로 이동하도록 하였기 때문에 박스체를 소정의 위치로 위치 결정하면서 테스트 핀이 회로패턴에 접촉할 수 있고 그 작업이 매우 간단하고 용이하게 되어 작업성을 향상할 수 있다.In addition, since the guide rod and the test pin are moved to the support member at the same time, the test pin can contact the circuit pattern while positioning the box body to a predetermined position, and the work is very simple and easy, thereby improving workability. .

또 가이드 봉의 선단에 원추모양 부를 마련함으로써 가이드 봉의 구멍으로의 삽입을 용이하게 하고, 구멍에의 가이드 봉의 삽입동작을 보다 확실하게 행할 수 있다.Further, by providing a conical portion at the tip of the guide rod, insertion of the guide rod into the hole can be facilitated, and the insertion operation of the guide rod into the hole can be performed more reliably.

또한 지지부재에 대하여 테스트 핀을 상하 이동 가능하게 함으로써 프린트 기판의 설치오차, 또는 약간의 설치위치의 변경에서도 테스트 핀이 회로패턴을 추종하여 접촉시킬 수 있음과 동시에 테스트 핀이 회로패턴에 접촉한 후에도 지지부재의 이동이 가능하게 되어 가이드 봉의 이동에 융통성을 가지게 할 수 있고, 위치결정과 접촉을 확실하게 할 수 있다.In addition, by allowing the test pin to move up and down with respect to the supporting member, the test pin can follow the circuit pattern and make contact with the printed circuit even in the installation error of the printed board or a slight change in the mounting position, and even after the test pin contacts the circuit pattern. The support member can be moved, which makes it possible to have flexibility in the movement of the guide rod, and can ensure positioning and contact.

Claims (11)

상하 양쪽에 개방부를 가지는 사각 프레임상의 프레임체와, 상기 프레임체의 개방부를 덮는 커버로 형성된 상자형의 박스체와, 상기 박스체내에 배치되고, 회로패턴을 가지는 프린트 기판을 구비하고, 상기 프린트 기판의 회로 패턴에 대향하는 위치에서 상기 커버에 구멍을 마련함과 동시에 상기 박스체의 상하방향에서 직선상으로 상기 박스체를 관통하는 구멍을 상기 프린트 기판과 상기 커버에 마련한 것을 특징으로 하는 전자 기기.A printed circuit board having a rectangular frame on the upper and lower sides and a box-shaped box formed by a cover covering the opening of the frame, and a printed circuit board disposed in the box and having a circuit pattern. The hole is provided in the cover at a position facing the circuit pattern of the electronic device, and the hole is provided in the printed circuit board and the cover in a straight line in the vertical direction of the box body. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 박스체를 관통하는 상기 구멍을 복수개 마련한 것을 특징으로 하는 전자 기기.An electronic device is provided with a plurality of holes passing through the box body. 개방부와 바닥벽을 가지는 U자형의 프레임체와, 상기 프레임체의 개방부를 덮는 커버로 형성된 상자형의 박스체와, 상기 박스체내에 배치되고, 회로 패턴을 가지는 프린트 기판을 구비하고, 상기 프린트 기판의 회로 패턴에 대향하는 위치에서 상기 커버 또는 상기 바닥벽에 구멍을 마련함과 동시에 상기 박스체의 상하 방향에서 직선상으로 상기 박스체를 관통하는 구멍을 상기 프린트 기판과 상기 커버와 상기 바닥벽에 마련한 것을 특징으로 하는 전자 기기.A U-shaped frame body having an opening portion and a bottom wall, a box-shaped box body formed of a cover covering the opening portion of the frame body, and a printed circuit board disposed in the box body and having a circuit pattern. A hole is formed in the cover or the bottom wall at a position facing the circuit pattern of the substrate and a hole penetrating the box body in a straight line in the vertical direction of the box is formed in the printed board, the cover and the bottom wall. An electronic device, which is provided. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 박스체를 관통하는 상기 구멍을 복수개 마련한 것을 특징으로 하는 전자 기기.An electronic device is provided with a plurality of holes passing through the box body. 박스체의 상하 방향에서 직선상으로 박스체를 관통하여 마련된 한 개, 또는 복수개의 제 1구멍과, 상기 박스체내에 배치된 프린트 기판에 형성된 회로 패턴에 대향하여 커버 또는 바닥벽에 마련된 제 2구멍을 가지는 전자 기기의 상기 제 1구멍에 가이드봉을 삽입한 상태에서 상기 제 2구멍에 테스트 핀을 삽입하고, 상기 테스트 핀을 상기 회로 패턴에 접촉시킨 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.One or a plurality of first holes provided through the box body in a straight line in the vertical direction of the box body, and a second hole provided in the cover or the bottom wall facing a circuit pattern formed on the printed board disposed in the box body. And a test pin is inserted into the second hole in a state in which a guide rod is inserted into the first hole of the electronic device having the device, and the test pin is in contact with the circuit pattern. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 가이드 봉과 테스트 핀을 지지한 지지부재를 구동하여 상기 가이드 봉과 상기 테스트 핀을 동시에 구동하도록 한 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.And a driving member supporting the guide rod and the test pin to simultaneously drive the guide rod and the test pin. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 가이드 봉의 선단에 마련한 원추상부 쪽에서부터 상기 제 1구멍에 가이드 봉을 삽입하도록 한 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.And a guide rod inserted into the first hole from a conical portion provided at the tip of the guide rod. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 지지부재에 대하여 상기 테스트 핀을 상하 이동 가능하게 하고, 상기 테스트 핀이 상기 회로패턴에 접촉한 후, 테스트 핀은 이동을 정지함과 동시에 상기 지지부재는 이동할 수 있게 한 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.And the test pin is movable up and down with respect to the support member, and after the test pin contacts the circuit pattern, the test pin stops movement and at the same time, the support member is movable. Method of measurement. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 지지부재에 대하여 상기 테스트 핀을 상하 이동 가능하게 하고, 상기 테스트 핀이 상기 회로패턴에 접촉한 후, 테스트 핀은 이동을 정지함과 동시에 상기 지지부재는 이동할 수 있게 한 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.And the test pin is movable up and down with respect to the support member, and after the test pin contacts the circuit pattern, the test pin stops movement and at the same time, the support member is movable. Method of measurement. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 가이드 봉의 선단에 마련한 원추상부 쪽에서부터 상기 제 1구멍에 가이드 봉을 삽입하도록 한 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.And a guide rod inserted into the first hole from a conical portion provided at the tip of the guide rod. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 지지부재에 대하여 상기 테스트 핀을 상하 이동 가능하게 하고, 상기 테스트 핀이 상기 회로패턴에 접촉한 후, 테스트 핀은 이동을 정지함과 동시에 상기 지지부재는 이동할 수 있게 한 것을 특징으로 하는 전자 기기의 측정방법.And the test pin is movable up and down with respect to the support member, and after the test pin contacts the circuit pattern, the test pin stops movement and at the same time, the support member is movable. Method of measurement.
KR1019980012028A 1997-04-07 1998-04-06 Electronic device and measuring method of the electronic device KR19980081120A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9-087812 1997-04-07
JP9087812A JPH10282172A (en) 1997-04-07 1997-04-07 Electronic apparatus and its measuring method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980081120A true KR19980081120A (en) 1998-11-25

Family

ID=13925398

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980012028A KR19980081120A (en) 1997-04-07 1998-04-06 Electronic device and measuring method of the electronic device

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPH10282172A (en)
KR (1) KR19980081120A (en)
CN (1) CN1102019C (en)
GB (1) GB2326772B (en)
MY (1) MY129515A (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6066957A (en) * 1997-09-11 2000-05-23 Delaware Capital Formation, Inc. Floating spring probe wireless test fixture
DE69924152T2 (en) * 1998-12-04 2006-04-27 Formfactor, Inc., Livermore Method for mounting an electronic bag
JP2006080435A (en) * 2004-09-13 2006-03-23 Mitsubishi Electric Corp Inspection device for circuit board
CN101784166A (en) * 2010-03-05 2010-07-21 苏州工业园区时代华龙科技有限公司 PCB (Printed Circuit Board) art border structure
CN112711244B (en) * 2020-12-18 2022-01-14 上海勤达科技有限公司 Quick detection equipment for automobile electric tail gate control unit

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5928348A (en) * 1982-08-09 1984-02-15 Hitachi Ltd Detecting device for product containable quantity
DE3723570A1 (en) * 1986-08-29 1989-01-26 Siemens Ag CONTACTING DEVICE IN THE FORM OF A SOCIAL NEEDLE CARD FOR HIGH-POLE COMPONENTS OF MICROELECTRONICS TO BE TESTED
JPH0775817B2 (en) * 1989-02-27 1995-08-16 富士機械製造株式会社 Electronic component holding position detector
JP2937785B2 (en) * 1995-02-02 1999-08-23 ヤマハ発動機株式会社 Component state detection device for mounting machine

Also Published As

Publication number Publication date
JPH10282172A (en) 1998-10-23
MY129515A (en) 2007-04-30
MX9802725A (en) 1998-12-31
CN1102019C (en) 2003-02-19
GB2326772B (en) 2001-07-11
GB9805395D0 (en) 1998-05-06
GB2326772A (en) 1998-12-30
CN1195964A (en) 1998-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4535536A (en) Method of assembling adaptor for automatic testing equipment
JPH022547B2 (en)
WO2006030573A1 (en) Circuit board inspecting apparatus
KR101059177B1 (en) Relay connector
CN212749137U (en) Test apparatus with configurable probe fixture
KR19980081120A (en) Electronic device and measuring method of the electronic device
KR20100099065A (en) Test socket
KR20020080113A (en) Apparatus for measuring tension of pogo pin
JP2000031222A (en) Burn-in inspection jig
JP2005507559A (en) Method for calibrating a component mounting machine, a device suitable for carrying out such a method and a calibration unit suitable for use in such a method or device
KR20020093380A (en) Probe card for testing semiconductor
MXPA98002725A (en) Electronic device and method for measuring the electron device
JP2965174B2 (en) Semiconductor device inspection equipment
KR102213077B1 (en) Test socket
KR102598882B1 (en) Working apparatus for wire and method
KR200247133Y1 (en) Apparatus for inspecting PCB
JP3181192B2 (en) Testing equipment
CN218545529U (en) PCB thickness inspection device
JPH0441342Y2 (en)
KR20050067759A (en) A semiconductor test device
JPH0336938Y2 (en)
JPS59147277A (en) Apparatus for measuring semiconductor integrated circuit
KR200421330Y1 (en) Measurement device for the electronic circuit
JP2000329810A (en) Printed wiring board testing device
JPH0631434Y2 (en) Mounted board test jig

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
E902 Notification of reason for refusal
B601 Maintenance of original decision after re-examination before a trial
J121 Written withdrawal of request for trial