KR100853766B1 - PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually - Google Patents

PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually Download PDF

Info

Publication number
KR100853766B1
KR100853766B1 KR1020070004289A KR20070004289A KR100853766B1 KR 100853766 B1 KR100853766 B1 KR 100853766B1 KR 1020070004289 A KR1020070004289 A KR 1020070004289A KR 20070004289 A KR20070004289 A KR 20070004289A KR 100853766 B1 KR100853766 B1 KR 100853766B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
fixture
support plate
pcb
circuit board
fixtures
Prior art date
Application number
KR1020070004289A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20080067110A (en
Inventor
옥순봉
Original Assignee
옥순봉
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 옥순봉 filed Critical 옥순봉
Priority to KR1020070004289A priority Critical patent/KR100853766B1/en
Publication of KR20080067110A publication Critical patent/KR20080067110A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100853766B1 publication Critical patent/KR100853766B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets

Abstract

종래 리플로우 솔더링 공정에 의해 PCB기판의 변형이나 뒤틀림으로 인해 또는 하우징(사출플라스틱)에 안착시키는 과정에서의 작업공정 오차로 인해 발생될 수 있는데, 본 발명은 상부 픽스쳐(20)에 대한 PCB기판의 상대적 위치가 맞지 않는 문제를 해결하기 위하여 안출된 발명으로서, It may occur due to deformation or distortion of the PCB substrate by the conventional reflow soldering process or due to a work process error in the process of seating on the housing (injection plastic), the present invention is a PCB substrate for the upper fixture 20 As an invention devised to solve the problem of relative position mismatch,

테스트 핀이 장착된 픽스쳐(20)(Fixture)의 승하강 작동에 의해 지그플레이트(10)에 장착된 다수 개의 회로기판을 검사하는 PCB 검사장치에 있어서, 상기 픽스쳐(20)(Fixture)를 각 PCB회로기판에 대응되도록 다수 개로 분할하고, 이 분할된 픽스쳐(20)들을 고정하기 위한 지지판(40)을 구비하여 구성하되, 상기한 각각의 상부 픽스쳐(20)가 지지판(40)에 대해 상하방향으로는 이동이 제한되는 반면에 수평방향으로는 미세 이동을 가능하게 하는 결합수단이 상부 픽스쳐(20)와 지지판(40) 사이에 구비되는 것을 특징으로 한다.In the PCB inspection apparatus for inspecting a plurality of circuit boards mounted on the jig plate 10 by the lifting and lowering operation of the fixture (20) equipped with a test pin, the fixture (20) (Fixture) to each PCB It is divided into a plurality of pieces to correspond to the circuit board, and is provided with a support plate 40 for fixing the divided fixtures 20, each of the upper fixtures 20 described above in the vertical direction with respect to the support plate 40 While the movement is limited, the coupling means for allowing fine movement in the horizontal direction is characterized in that it is provided between the upper fixture 20 and the support plate 40.

피씨비, 인쇄회로기판, 픽스츄어, 위치이동, 미세이동 PCB, printed circuit board, fixture, position shift, fine shift

Description

상부 픽스쳐의 미세 수평이동이 가능한 PCB 검사장치 {PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually}PCB tester for fine horizontal movement of upper fixtures {PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually}

도 1은 종래 일반적인 PCB검사장치의 개념을 도시한 설명도1 is an explanatory view showing the concept of a conventional general PCB inspection apparatus

도 2는 여러 종류의 PCB 회로기판이 지그플레이트에 장착되는 유형을 설명하기 위한 개략적 사시도Figure 2 is a schematic perspective view for explaining the type of the various types of PCB circuit board mounted on the jig plate

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 상부 픽스쳐와 PCB 회로기판과의 관계를 나타내는 사시도Figure 3 is a perspective view showing the relationship between the upper fixture and the PCB circuit board according to a preferred embodiment of the present invention

도 4는 본 발명의 작동과정을 설명하기 위한 단면도Figure 4 is a cross-sectional view for explaining the operation of the present invention

도 5는 본 발명의 제1 실시예에 의한 PCB검사장치의 구성 및 동작 설명도5 is a configuration and operation explanatory diagram of a PCB inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention

도 6은 본 발명의 제2 실시예에 의한 PCB검사장치의 구성 및 동작 설명도6 is a diagram illustrating the configuration and operation of a PCB inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 제3 실시예에 의한 PCB검사장치의 구성 및 동작 설명도7 is a diagram illustrating the configuration and operation of a PCB inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *      Explanation of symbols on the main parts of the drawings

1 : PCB기판 2 : 위치결정구멍1: PCB 2: Positioning hole

5 : 플라스틱 하우징 10: 지그플레이트(10)5: plastic housing 10: jig plate 10

11: 지그플레이트 고정홈 15: 이송가이드11: Jig Plate Fixing Groove 15: Feed Guide

20,20a,20b: 상부 픽스쳐 21: 위치조절핀20, 20a, 20b: upper fixture 21: positioning pin

22: 테스트 핀 23: 관통공22: test pin 23: through hole

30: 하부 픽스쳐 31: 위치고정핀30: lower fixture 31: positioning pin

32: 테스트 핀 40: 지지판32: test pin 40: support plate

41: 공간부 42: 관통공41: space portion 42: through hole

49: 상부프레임 체결공 50: 체결볼트49: upper frame fastening hole 50: fastening bolt

1. 등록실용신안 공고번호 제20-0219802호(2001.04.16.공고) : 인쇄회로기판 앗세이 검사용 지그의 누름판 고정구 개폐장치에 관한 것으로, 누름판이 설치되는 고정구를 지지판과 받침편 및 가동판으로 구성하되, 공압실린더는 상기 가동판의 힌지편과 뚜껑체의 힌지편 사이에서 전후방으로 회동하게 설치하여 누름판 고정구 자체가 승하강되면서 가동판만 일정 각도 이내에서 개폐되도록 함으로써 지그의 전체 높이를 포함하여 지그 전체의 크기를 줄일 수 있어 제품의 생산원가를 절감시킬 수 있음은 물론 작업장을 공간을 유용하게 활용할 수 있고, 인쇄회로기판 앗세이들에 대한 검사시 작업성을 향상시킨 것을 특징으로 한다.(이하 '종래기술1'이라 한다) 1. Registered Utility Model Publication No. 20-0219802 (Announced on April 16, 2001) , which relates to a pressurizing plate opening and closing device of a jig for inspection of a printed circuit board . The pneumatic cylinder is configured to rotate back and forth between the hinge piece of the movable plate and the hinge piece of the lid body to include the entire height of the jig by opening and closing only the movable plate within a predetermined angle while the pressing plate fixture itself is raised and lowered. It can reduce the size of the entire jig to reduce the production cost of the product, as well as to utilize the space of the workshop usefully, it is characterized by improved workability when inspecting printed circuit board assemblies. (Hereinafter referred to as 'prior art 1')

2. 공개특허 공개번호 제2000-0054963호(2000.09.05.공개) : 검사대상 PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 갖는 픽스쳐를 포함하며, 특히, 상기 PCB를 사이에 두고 상기 픽스쳐의 대향측에 배치되어 상기 PCB상에 자기장을 형성시키는 자기장발생부와; 상기 자기장에 의해 상기 테스트핀에 유기되는 전압을 계측하는 전압계측부와; 상기 전압계측부의 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 오류판단부를 포함하는 것을 특징으로 한다.(이하 '종래기술2'라 한다) 2. Publication No. 2000-0054963 (published Sep. 05, 2000) includes a fixture having a plurality of test pins electrically contacting each contact portion of an inspection target PCB, and in particular, with the PCB interposed therebetween. A magnetic field generator disposed on an opposite side of the fixture to form a magnetic field on the PCB; A voltage measuring unit measuring a voltage induced in the test pin by the magnetic field; And an error determining unit for determining a predetermined error from the measurement result of the voltage measuring unit (hereinafter, referred to as 'prior art 2').

3. 등록특허공보 등록번호 제10-0524085호(2005.10.26.공고) : PCB가 안치되는 베이스픽스쳐 또는 하부픽스쳐(30)를 에어실린더를 이용하는 작동장치에 의해 구동픽스쳐의 내/외측으로 진입 및 배출시키고, 전자부 품인입공이 중앙에 통공된 서포트패널을 다단으로 설치되는 에어실린더에 의해 단속적으로 하향 작동시켜 통상의 테스트핀(프로브)을 이용하여 테스트를 실시하며, 동시에 서포트패널의 중앙 상측에 적외선카메라를 설치하여 테스트를 실시하고 있는 PCB의 각 전자부품의 온도변화를 측정하여 정상작동 여부를 판단할 수 있도록 된 것을 특징으로 한다.(이하 '종래기술3'이라 한다) 3. Registered Patent Publication No. 10-0524085 (announced on October 26, 2005) : The base fixture or lower fixture 30, on which the PCB is placed, enters into and out of the driving fixture by an operating device using an air cylinder. After discharging, the support panel with the electronic part hole in the center is intermittently operated by air cylinders installed in multiple stages and tested using a normal test pin (probe). It is characterized by being able to determine the normal operation by measuring the temperature change of each electronic component of the PCB under test by installing an infrared camera (hereinafter referred to as 'prior art 3').

본 발명은 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board)에 살장되어 있는 전자부품(회로소자)을 테스트핀으로 측정하여 전자부품의 삽입여부와 부품 및 회로 상태 등을 측정하는 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a printed circuit board inspection apparatus for measuring the electronic component (circuit device) mounted on a printed circuit board (PCB) with a test pin to measure whether the electronic component is inserted and the state of the component and the circuit. will be.

일반적으로 인쇄회로기판(PCB)은 크림(Cream) 형태의 납이 인쇄된 회로기판에 IC칩, 저항 등의 전자부품이 장착된 상태에서 약 240~290 ℃ 내외의 납땜온도가 설정되어 있는 노(爐)를 통과하면서 열풍에 의해 납이 용융되어 남땜이 이루어지게 하는 표면실장기술(SMT; Surface Mount Technology)에 의해 제조된다. In general, a printed circuit board (PCB) is a furnace in which a soldering temperature of about 240 to 290 ° C. is set when an electronic component such as an IC chip or a resistor is mounted on a cream printed circuit board. It is manufactured by Surface Mount Technology (SMT), in which lead is melted by hot air while passing through i), and the solder is made.

특히, 인쇄회로기판의 회로소자는 그 크기가 매우 미세할 뿐만 아니라, 고온에서 작업을 수행하기 때문에 불량품을 줄이고 생산성을 향상시키기 위해 인쇄회로 기판을 고정하기 위한 지그플레이트(10)에 인쇄회로기판을 장착하여 솔더링 작업 및 ICT(In-circuit Test) 및 FT(Function Test)을 수행하고 있다.In particular, since the circuit elements of the printed circuit board are not only very fine but also work at a high temperature, the printed circuit board is mounted on the jig plate 10 for fixing the printed circuit board to reduce defects and improve productivity. It is equipped with soldering and in-circuit test (ICT) and function test (FT).

이러한 공정에 의해 생산된 인쇄회로기판(PCB)은 이송가이드를 따라 이송되어, 지정위치에 도달하면 지그플레이트 고정홈(11)에 위치고정핀(31)이 삽입되어 위치가 고정된다. 설정위치에 지그플레이트가 세팅되면, 상기 지그플레이트(10) 상에 안착되어 있는 인쇄회로기판(PCB)에 대하여 부품소자의 납땜 불량은 없는지, 각 부품이 정상적으로 작동하고 있는지, 정상적인 성능을 나타내는지 등을 종합적으로 테스트하는 공정을 거치게 되는데, 도 1에 도시된 바와 같은 방식에 의하여 ICT(In-circuit Test) 및 FT(Function Test)작업이 이루어지게 된다.The printed circuit board (PCB) produced by such a process is transferred along the transfer guide, and when the position reaches the designated position, the position fixing pin 31 is inserted into the jig plate fixing groove 11 to fix the position. When the jig plate is set at the set position, whether there is a poor soldering of the component elements with respect to the printed circuit board (PCB) seated on the jig plate 10, whether each component is operating normally or exhibiting normal performance, etc. In the process of comprehensively testing, ICT (In-circuit Test) and FT (Function Test) work is performed by the method as shown in FIG.

그런데, 종래의 일반적인 PCB검사장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 하나의 일체형 상부 픽스쳐에 테스트핀을 장착한 구조로 되어 있으며, 도 2a 및 도 2b에 도시되어 있는 바와 같이, 지그플레이트에 장착되는 PCB기판의 개수는 지그플레이트의 모델마다 각기 달라지게 되며, 검사대상 PCB기판의 모델과, 지그플레이트에 장착되는 PCB기판의 갯수 등에 맞춰 상부 픽스쳐가 제조되어 사용된다. 도 2a는 지그플레이트(10)에 3개의 PCB 회로기판이 장착된 사례를 그림으로 도시한 것이며, 도 2b는 하우징(5) 내에 몰딩된 인쇄회로기판(PCB)(10) 2개가 지그플레이트(10)에 고정되어 있는 사례를 그림으로 도시한 것이다.By the way, the conventional PCB inspection apparatus, as shown in Figure 1, has a structure in which a test pin is mounted on one integrated upper fixture, as shown in Figure 2a and 2b, mounted on a jig plate The number of PCB boards to be changed will vary for each model of the jig plate, and the upper fixtures are manufactured and used according to the model of the PCB board to be inspected and the number of PCB boards mounted on the jig plate. FIG. 2A illustrates a case in which three PCB circuit boards are mounted on a jig plate 10, and FIG. 2B shows two printed circuit boards (PCBs) 10 molded in a housing 5. Figure shows a fixed case.

그런데, 지금까지의 모든 PCB검사장치의 상부 픽스쳐(20)는, 지그플레이 트(10)에 장착되는 PCB기판이 몇 개이건, 검사대상 PCB기판의 특성에 관계없이 일체형 플레이트에 테스트 핀을 장착시켜 제조되고 있다. 예를 들어, 도 2a에 도시되어 있는 바와 같이, 지그플레이트(10)에 3개의 PCB기판을 장착하여 한꺼번에 3개의 PCB기판을 검사하기 위한 검사장치를 제조하는 경우에는, 지그플레이트 정도 크기의 단일 플레이트 상에 3벌의 검사회로(테스트 핀)를 장착시켜 상부 픽스쳐를 구성하고 있다. By the way, the upper fixture 20 of all the PCB inspection apparatus so far, no matter how many PCB substrates are mounted on the jig plate 10, the test pins are mounted on the integrated plate regardless of the characteristics of the PCB substrate to be inspected. Is being manufactured. For example, as shown in Figure 2a, when mounting the three PCB boards on the jig plate 10 to manufacture an inspection apparatus for inspecting three PCB boards at once, a single plate of the size of the jig plate Three inspection circuits (test pins) are mounted on the upper portion of the fixture.

그러나, 이와 같이 하나의 단일 플레이트에 3벌의 검사회로를 구성하는 경우에는 다음과 같은 많은 문제점이 제기되고 있다.However, in the case of configuring three test circuits in one single plate as described above, many problems are raised.

즉, 리플로우 솔더링 머신에 결합되어 솔더링 공정이 완료된 후에 PCB의 회로 적합성 여부를 검사하는 것이 일반적인데, 솔더링 공정에서 발생되는 고열에 의해 회로기판이 미세하나마 변형되거나 뒤틀림이 발생한 경우에는 PCB검사장치의 상부 픽스쳐의 일부 테스트핀(22)이 어느 하나의 회로기판(1)에 정확한 위치에 안착되지 못하는 경우가 발생되고 있다.In other words, it is common to check the suitability of the PCB after the soldering process is completed by soldering to the reflow soldering machine.If the circuit board is deformed or warped due to the high temperature generated in the soldering process, Some test pins 22 of the upper fixture may not be seated in the correct position on any one circuit board 1.

물론 이러한 문제를 방지하기 위하여, 솔더링 공정이 완료된 인쇄회로기판을 충분히 냉각시킨 후에, PCB 검사를 수행하는 방법이 사용되고는 있으나, 연속적인 생산이 불가능할 뿐만 아니라, PCB 검사작업의 지연으로 인하여 많은 경제적인 손실이 빚어지고 있는 실정이다.Of course, in order to prevent such a problem, a method of performing PCB inspection after sufficiently cooling the printed circuit board after the soldering process has been used, but it is impossible to continuously produce, and due to the delay of PCB inspection work, many economic Loss is incurred.

특히, 도 2b에 도시되어 있는 바와 같은, 플라스틱 하우징(5) 내에 몰딩된 인쇄회로기판(PCB)(10)인 경우에는, 회로기판(1)을 하우징의 내부에 결합하는 과정에서 하우징의 수축 또는 변형, 가공오차 등의 이유로 인하 1 ~ 5mm 내외의 공차가 발생되기 때문에, 회로기판의 위치를 정확하게 셋팅하기가 어려운 문제점이 있다. In particular, in the case of the printed circuit board (PCB) 10 molded in the plastic housing 5, as shown in Figure 2b, shrinkage of the housing in the process of coupling the circuit board 1 to the interior of the housing or Since a tolerance of about 1 to 5 mm is generated due to deformation, processing error, etc., it is difficult to accurately set the position of the circuit board.

이와 같이 하우징(5) 내에 몰딩된 인쇄회로기판(PCB)의 공차는 하우징의 위치는 정확히 설정위치에 셋팅이 되었다 하더라도, 하우징의 내부에 몰딩된 PCB 회로기판(1)의 위치가 미세하게나마 제각기 틀리게 된다는 문제점을 야기하게 되는데, 이러한 문제로 인해 상부 픽스쳐에 장착된 일부 테스트핀(22)은 부정확하게 조립된 일부 회로기판(1)에 대해서는 정확한 PCB검사작업이 불가능하게 되는 것이다.As such, the tolerances of the PCB molded in the housing 5 may be slightly different from each other in the position of the PCB circuit board 1 molded in the inside of the housing, even if the position of the housing is set at the correct setting position. This problem causes some test pins 22 mounted on the upper fixture to be unable to accurately inspect the PCB for some circuit boards 1 incorrectly assembled.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위하여 안출된 PCB 검사장치로서, 픽스쳐(20)(Fixture)가 수평방향으로 자유롭게 미세 이동이 가능하도록 함으로써, 표면실장이 완료된 PCB기판(1)의 변형 또는 뒤틀림 등이 발생된 경우에도 정확한 위치에 테스트 핀(22)이 안착될 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.The present invention is a PCB inspection apparatus devised to solve the above problems, by allowing the fixture 20 (Fixture) to be freely fine movement in the horizontal direction, deformation or distortion of the PCB substrate (1) surface mounting is complete Even if a back is generated, an object of the test pin 22 is to be seated in the correct position.

본 발명은 종래의 리플로우 솔더링 공정에 의해 PCB기판의 변형 또는 뒤틀림으로 인해 상부 픽스쳐(20)에 대한 PCB기판의 상대적 위치가 맞지 않는 문제를 해결하기 위하여 안출된 발명으로서, 테스트 핀이 장착된 픽스쳐(20)(Fixture)의 승하강 작동에 의해 지그플레이트(10)에 장착된 다수 개의 회로기판(1)을 검사하는 PCB 검사장치에 있어서, 상기 픽스쳐(20)(Fixture)를 각 PCB회로기판(1)에 대응되도록 다수 개로 분할하고, 이 분할된 픽스쳐(20)들을 고정하기 위한 지지판(40)을 구비하여 구성하되, 상기한 각각의 상부 픽스쳐(20)가 지지판(40)에 대해 상하방향으로는 이동이 제한되는 반면에 수평방향으로는 미세 이동을 가능하게 하는 결합수단이 상부 픽스쳐(20)와 지지판(40) 사이에 구비되는 것을 특징으로 한다.The present invention has been made in order to solve the problem that the relative position of the PCB substrate relative to the upper fixture 20 due to deformation or distortion of the PCB substrate by a conventional reflow soldering process, a fixture equipped with a test pin (20) In the PCB inspection apparatus for inspecting a plurality of circuit boards 1 mounted on the jig plate 10 by the lifting and lowering operation of the fixture, the fixture 20 is fixed to each PCB circuit board ( It is divided into a plurality of pieces to correspond to 1), and comprises a support plate 40 for fixing the divided fixtures 20, each of the upper fixtures 20 described above in the vertical direction with respect to the support plate 40 While the movement is limited, the coupling means for allowing fine movement in the horizontal direction is characterized in that it is provided between the upper fixture 20 and the support plate 40.

상부픽스쳐를 분할하는 방법은 하나의 PCB기판마다 하나의 상부픽스쳐가 대응되도록 분할하는 것도 가능하며, 하나의 PCB기판을 테스트하기 위한 상부 픽스쳐를 2개 이상으로 분할하여 구성할 수도 있다.The method of dividing the upper fixture may be divided so that one upper fixture corresponds to each PCB substrate, and the upper fixture for testing one PCB substrate may be divided into two or more.

이하에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참고로 하여 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in detail.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 상부 픽스쳐와 PCB 회로기판과의 관계를 나타내는 사시도로서, 상부 픽스쳐를 다수 개로 분할하여 분할된 각각의 상부 픽스쳐가 독립적으로 미세하게 수평이동이 가능하도록 한 것을 특징으로 한다.3 is a perspective view illustrating a relationship between an upper fixture and a PCB circuit board according to a preferred embodiment of the present invention, wherein the upper fixtures are divided into a plurality of pieces so that each of the divided upper fixtures can independently independently move horizontally. It features.

즉, 도 3에 도시되어 있는 본 발명의 실시예는, 하나의 PCB기판을 테스트하기 위하여 상부 픽스쳐를 2개로 분할하여 구성한 것을 예시적으로 도시한 것이다.That is, the embodiment of the present invention shown in FIG. 3 illustrates an example in which the upper fixture is divided into two to test one PCB substrate.

상부 픽스쳐(20)가 다수 개로 분할되기 때문에 이들 각각의 픽스쳐(20a)(20b)들을 지지하기 위한 지지판(40)을 구비하여 다수 개의 상부 픽스쳐들이 각각 자유롭게 미세 수평이동이 가능하도록 지지한다. 상기 지지판(40)에는 상부 픽스쳐에 구비된 테스트 핀들이 통과될 수 있도록 하기 위해 상부 픽스쳐가 위 치하는 곳에 공간부(41a,41b)들을 형성하여야 한다.Since the upper fixtures 20 are divided into plural pieces, the upper fixtures 20 are provided with support plates 40 for supporting the respective fixtures 20a and 20b so that the plurality of upper fixtures can freely move horizontally. In order to allow the test pins provided in the upper fixture to pass through the support plate 40, spaces 41a and 41b should be formed at the position where the upper fixture is located.

도 4는 이와 같이 이루어진 본 발명의 PCB검사장치의 작동과정을 설명하는 단면도로서, 도 4a는 테스트가 시작되기 전의 상태를 도시한 것이다. 도 4a의 부분확대그림에 도시되어 있는 바와 같이, PCB기판의 위치가 부정확한 경우에는 상부 픽스쳐의 테스트 핀이 정확한 접촉위치의 상부에 있지 않게 되고 약간 어긋난 위치의 상부에 테스트 핀이 위치하게 된다.Figure 4 is a cross-sectional view illustrating the operation of the PCB inspection apparatus of the present invention made as described above, Figure 4a shows a state before the test is started. As shown in the partial enlarged view of FIG. 4A, when the position of the PCB substrate is incorrect, the test pin of the upper fixture is not at the top of the correct contact point, and the test pin is positioned at the top of the slightly displaced position.

도 4b는 상부 실린더의 하강작동에 의해 상부 픽스쳐(20) 및 지지판(40)이 하강하는 상태를 도시한 것이며, 도 4c는 하강하던 상부 픽스쳐(20)가 수평방향으로 움직이면서 정확한 위치로 세팅되는 과정을 도시한 것이다. PCB기판의 위치에 오차가 존재하는 경우에는, 도 4c에 도시되어 있는 바와 같이 상부 픽스쳐(20)의 위치조절핀(21)('스프링가이드 핀'이라고도 함. 이하 같다)의 끝단부에 경사면이 형성되어 있기 때문에, PCB기판의 위치결정구멍(2)에 삽입되면서 위치조절핀을 좌우(수평방향)로 밀어내는 작용력이 생기게 되므로 결국 상부 픽스쳐(20)는 수평방향으로 정확한 위치로 이동하게 되는 것이다.4B illustrates a state in which the upper fixture 20 and the support plate 40 are lowered by the lowering operation of the upper cylinder, and FIG. 4C is a process in which the lower fixture 20 is lowered and set to an accurate position while moving in the horizontal direction. It is shown. If there is an error in the position of the PCB substrate, as shown in Fig. 4c, the inclined surface at the end of the position adjusting pin 21 (also referred to as a 'spring guide pin') of the upper fixture 20. Since it is formed, since the insertion force is inserted into the positioning hole 2 of the PCB substrate to push the positioning pin to the left and right (horizontal direction), the upper fixture 20 is moved to the correct position in the horizontal direction. .

도 4d는 이러한 과정에 의해 상부 픽스쳐(20)가 정확하게 PCb기판의 테스팅 접촉지점에 위치이동된 상태를 도시한 것이다.FIG. 4D shows a state in which the upper fixture 20 is accurately moved to the testing contact point of the PCb substrate by this process.

본 발명에 있어서, 상부 픽스쳐(20)를 지지판에 수평방향으로 미세이동이 가능하도록 하는 구체적인 실시 유형은 여려 방식으로 구현될 수 있는데, 이하에서는 몇 가지의 실시예를 예시적으로 설명하기로 한다.In the present invention, a specific embodiment of enabling the micro-movement of the upper fixture 20 to the support plate in the horizontal direction may be implemented in various ways. Hereinafter, some embodiments will be described.

도 5a 내지 도 5d는 본 발명의 바람직한 제1 실시예를 도시한 것으로서, 테스트 핀(22)이 구비된 상부 픽스쳐(20)의 크기보다 약간 작은 공간부(41)가 다수 개 형성된 지지판(40) 위에 상기 픽스쳐(20)가 얹혀져서 겹쳐진 상태로 구성하되, 겹쳐져서 포개진 부분의 적당한 위치에 지지판(40)과 픽스쳐(20)를 관통하는 2개 이상의 관통공(23)(42)을 형성되도록 하고, 이 관통공을 관통하는 체결볼트(50)를 삽입하여 상하로 움직임이 발생되지 않도록 너트로 고정함으로써, 상부 픽스쳐(20)가 상하로는 움직이지 않도록 하면서도 수평방향으로는 자유롭게 움직일 수 있도록 구성된 PCB검사장치를 개시하고 있다. 즉, 상부 픽스쳐(20)의 크기가 지지판(40)의 공간부(41)보다 약간 크므로, 상부 픽스쳐(20)의 가장자리 부분이 지지판(40) 위에 얹혀서 겹쳐진 상태가 된다.5A to 5D illustrate a first preferred embodiment of the present invention, and the support plate 40 having a plurality of spaces 41 slightly smaller than the size of the upper fixture 20 having the test pins 22 is provided. The fixture 20 is placed thereon and is in an overlapped state, but at least two through holes 23 and 42 penetrating the support plate 40 and the fixture 20 are formed at a proper position of the overlapped portion. By inserting the fastening bolt 50 penetrating the through hole and fixed with a nut so that movement does not occur up and down, the upper fixture 20 is configured to move freely in the horizontal direction while not moving up and down. A PCB inspection apparatus is disclosed. That is, since the size of the upper fixture 20 is slightly larger than the space portion 41 of the support plate 40, the edge portion of the upper fixture 20 is placed on the support plate 40 so as to overlap.

본 발명의 제1 실시예에 있어서, 상기 픽스쳐(20)에 형성된 관통공(23)의 직경을 상기 체결볼트(50)의 외경보다 더 크게 형성되어 구성함으로써, 지지판(40)의 상부에 얹혀진 상태에 있는 상부 픽스쳐(20)가 수평방향으로 움직일 수 있도록 구성하는 것이 중요하다. 이 때, 상기 체결볼트(50)를 세게 죄게 되면 수평방향으로의 움직임이 제약을 받게 되므로 강한 힘으로 체결볼트(50)를 죄지 않도록 하여야 한다. 실무적 관점에서 상하방향으로 약간의 움직임이 있다 하더라도 테스팅 작업에 영향을 미치는 것은 아니므로 약간 헐거운 상태가 되게 체결하여도 전혀 무방하다. 본 발명의 제1실시예에서는 상기 픽스쳐(20)에 형성된 관통공(23)의 직경이 상기 체결볼트(50)의 외경보다 더 큰 것을 예시적으로 설명하였으나, 이와 반대로 지지판(40)에 형성된 관통공의 직경을 상기 체결볼트(50)의 외경보다 더 크게 형성하여 구성함으로써, 지지판(40)의 상부에 얹혀진 상태에 있는 상부 픽스쳐(20)가 체결볼트와 함께 수평방향으로 움직일 수 있도록 변경하는 것도 본 발명의 실시예에 포함될 수 있다.In the first embodiment of the present invention, the diameter of the through hole 23 formed in the fixture 20 is formed to be larger than the outer diameter of the fastening bolt 50, so that the state mounted on the upper portion of the support plate 40 It is important to configure the upper fixture 20 to be movable in the horizontal direction. At this time, if the fastening bolt 50 is tightened hardly, the movement in the horizontal direction is restricted so that the fastening bolt 50 should not be tightened with a strong force. From a practical point of view, even if there is a slight movement in the up and down direction, it does not affect the testing work, so it can be tightened in a loose state at all. In the first exemplary embodiment of the present invention, the diameter of the through hole 23 formed in the fixture 20 is larger than the outer diameter of the fastening bolt 50, but the through hole formed in the support plate 40 is exemplarily described. By forming the diameter of the ball larger than the outer diameter of the fastening bolt 50, by changing the upper fixture 20 in the state mounted on the upper portion of the support plate 40 to move horizontally with the fastening bolt It may be included in embodiments of the present invention.

본 발명은 종래의 리플로우 솔더링 공정에 의해 PCB기판(1)의 변형 또는 뒤 틀림 또는 하우징과의 결합과정에서 발생되는 조립오차 등으로 인하여 상부 픽스쳐(20)에 대한 PCB기판(1)의 상대적 위치가 맞지 않는 문제를 해결하기 위한 것이므로, 상부 픽스쳐(20)는 수평방향으로 이동이 자유롭도록 유지하는 것이 가장 중요하다.According to the present invention, the relative position of the PCB substrate 1 with respect to the upper fixture 20 may be due to the deformation or duplication of the PCB substrate 1 or the assembly error generated during the bonding process with the housing by a conventional reflow soldering process. Since it is to solve the problem that does not fit, it is most important to keep the upper fixture 20 free to move in the horizontal direction.

상기 픽스쳐(20)가 수평 방향으로 움직일 수 있는 이동 거리는 관통공(23)의 직경과 체결볼트(50)의 직경의 차이에 해당하는 틈새 거리만큼 이동이 가능해지게 된다. 픽스쳐(20)의 미세 움직임을 무제한적으로 허용하는 것은 아니며, 바람직한 틈새 간격은 약 0.2 ~ 0.9mm 정도의 범위이면 충분하다. 그러나, 하우징(5) 내부에 몰딩된 PCB기판을 테스트하는 경우에는 그 허용공차가 5mm까지 발생되는 경우가 있으므로, PCB기판(1)의 크기(크기에 따른 변형량 또는 뒤틀림 량이 달라짐), 검사대상 PCB의 모델별, 지그플레이트에 장착된 PCb기판의 개수 등을 충분히 감안하여 모델별로 적정한 틈새 간격을 결정하여야 할 것이다.The moving distance in which the fixture 20 can move in the horizontal direction can be moved by a gap distance corresponding to the difference between the diameter of the through hole 23 and the diameter of the fastening bolt 50. It does not allow the fine movement of the fixture 20 indefinitely, and a preferable clearance gap is sufficient in the range of about 0.2 to 0.9 mm. However, when testing the PCB substrate molded in the housing 5, the tolerance may occur up to 5mm, so the size (deformation amount or amount of distortion depending on the size) of the PCB substrate 1, PCB to be inspected Considering the number of PCb boards mounted on the jig plate by model, the appropriate clearance gap should be determined for each model.

미설명된 도면부호 49는 실린더의 작동에 의해 승하강하는 상부프레임(미도시)에 지지판(40)을 체결하기 위한 체결공을 도시한 것이다.Unexplained reference numeral 49 shows a fastening hole for fastening the support plate 40 to the upper frame (not shown) to move up and down by the operation of the cylinder.

도 6a 내지 도 6d는 본 발명의 바람직한 제2 실시예를 도시한 것으로서, 테스트 핀이 구비된 상부 픽스쳐(20)의 크기보다 약간 더 큰 공간부(41)를 지지판(40)에 형성하여 이 공간부(41) 속에 상기 픽스쳐(20)를 삽입하되, 이 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이에 형성된 틈새(t) 사이로 체결볼트(50)를 삽입하여 상기 픽스쳐(20)가 상하로 움직임이 발생되지 않도록 너트로 고정함으로써, 픽스쳐(20)가 상하로는 움직이지 않도록 하면서도 수평방향으로는 미세하게나마 자유롭게 움직일 수 있도록 구성된 PCB검사장치를 개시하고 있다.6A to 6D illustrate a second preferred embodiment of the present invention, in which a space 41 is formed in the support plate 40 which is slightly larger than the size of the upper fixture 20 with test pins. The fixture 20 is inserted into the part 41, and the fastening bolt 50 is inserted between the space t formed between the peripheral surface of the space part 41 and the outer circumferential surface of the fixture 20 to fix the fixture ( By fixing the nut 20 so that the movement does not occur up and down, it discloses a PCB inspection apparatus configured to move freely in the horizontal direction while the fixture 20 does not move up and down.

본 발명의 제2 실시예에 있어서, 수평방향의 이동을 가능하게 하기 위해서는 상기 틈새의 간격보다 적은 직경의 체결볼트(50)를 사용하는 것이 중요하며, 상기 픽스쳐(20)가 수평 방향으로 움직일 수 있는 이동 거리는, 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이의 간격과 체결볼트(50)의 직경과의 차이 간격, 또는 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이에 형성된 틈새(t) 간격에 해당하는 거리만큼 이동이 가능해지게 된다.In the second embodiment of the present invention, in order to enable movement in the horizontal direction, it is important to use a fastening bolt 50 having a diameter smaller than the gap between the gaps, and the fixture 20 can move in the horizontal direction. The distance of movement is the distance between the circumferential surface of the space portion 41 and the outer circumferential surface of the fixture 20 and the diameter of the fastening bolt 50, or the circumferential surface of the space portion 41 and the fixture 20. It is possible to move by a distance corresponding to the gap (t) formed between the outer peripheral surface of the).

물론, 상기 체결볼트(50)는 최소 2군데 이상의 위치에 설치되어야 하며, 바람직하게는 3군데 또는 4군데에 체결볼트(50)를 삽입하는 것이 상기 픽스쳐(20)의 흔들임 방지에 유리하다. Of course, the fastening bolt 50 should be installed in at least two locations, preferably inserting the fastening bolt 50 in three or four locations is advantageous to prevent the shake of the fixture (20).

제2 실시예에 있어서도, 제1 실시예의 경우와 마찬가지로, 체결볼트(50)를 세게 죄게 되면 수평방향으로의 움직임이 제약을 받게 되므로 강한 힘으로 체결볼트(50)를 죄지 않도록 하는 것이 필요하다.Also in the second embodiment, as in the case of the first embodiment, when tightening the fastening bolt 50 is restricted to the movement in the horizontal direction it is necessary not to tighten the fastening bolt 50 with a strong force.

본 발명의 제2 실시예에 있어서, 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이의 간격이 매우 좁은 경우에는 직경이 매우 적은 체결볼트(50)를 확보해야 하는 번거로움이 있을 수 있기 때문에, 체결볼트(50)가 삽입될 곳의 공간부(41) 둘레면과 이에 대응되는 상기 픽스쳐(20)의 외주면에 각각 반원형 호(44)(24)를 형성하여 체결볼트(50)가 삽입될 수 있는 공간을 충분하게 만들어 주는 것이 바람직하다. 이렇게 함으로써, 상기 픽스쳐(20)가 수평 방향으로 움직일 수 있는 이동 거리를 정확하게 설정하기가 쉬어지게 된다.In the second embodiment of the present invention, when the distance between the circumferential surface of the space portion 41 and the outer peripheral surface of the fixture 20 is very narrow, troublesome to secure the fastening bolt 50 having a very small diameter is secured. Since there may be, fastening bolts 50 by forming semicircular arcs 44 and 24 on the circumferential surface of the space portion 41 where the fastening bolt 50 is to be inserted and the outer circumferential surface of the fixture 20 corresponding thereto. It is desirable to make enough space for) to be inserted. By doing so, it becomes easier to accurately set the moving distance that the fixture 20 can move in the horizontal direction.

도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 제3 실시예를 도시한 것으로서, 테스트 핀이 구비된 상부 픽스쳐(20)의 크기보다 약간 더 큰 공간부(41)를 지지판(40)에 형성하여 이 공간부(41) 속에 상기 픽스쳐(20)를 삽입하되, 볼(53)이 구비된 지지구(52)를 지지판(40)의 하부에 설치하여 이 볼(53) 위에 픽스쳐(20)가 얹혀지도록 하고, 상기 픽스쳐(20)가 지지판(40)의 상부로 움직이지 못하도록 하는 고정편(51)을 상기 지지판(40)의 상부에 설치하여서 구성된 PCB검사장치를 개시하고 있다.7A to 7C illustrate a third embodiment of the present invention, in which a space portion 41 slightly larger than the size of the upper fixture 20 provided with the test pin is formed in the support plate 40. Insert the fixture 20 into the 41, the support 52 with the ball 53 is installed in the lower portion of the support plate 40 so that the fixture 20 is placed on the ball 53, Disclosed is a PCB inspection apparatus configured by installing a fixing piece 51 on the upper portion of the supporting plate 40 to prevent the fixture 20 from moving to the upper portion of the supporting plate 40.

제3 실시예에 의한 본 발명은 상기 픽스쳐(20)의 수평방향 움직임이 보다 원할하게 되도록 하기 위하여 착안된 것이다. 상기 제1 실시예 및 제2실시예에서 설명한 결합수단은 체결볼트(50)를 예시적으로 설명하였으나, 픽스쳐(20)가 지지판(40)에 대하여 상대적인 수평운동이 부드럽고 자유롭게 이루어지도록 하기 위해서는 체결볼트(50)의 체결력을 적정하게 조절하여야 하는데, 제조과정에서의 조립 오차 등으로 인하여 원하는 품질확보가 어려울 가능성이 있다. The present invention according to the third embodiment is conceived to make the horizontal movement of the fixture 20 smoother. Although the coupling means described in the first and second embodiments described the fastening bolt 50 by way of example, in order for the fixture 20 to have a relatively horizontal movement with respect to the support plate 40 smoothly and freely. The fastening force of (50) should be adjusted appropriately, and there is a possibility that it is difficult to secure the desired quality due to assembly errors in the manufacturing process.

따라서, 본 발명의 제3 실시예는 이러한 가능성을 최소화하고 픽스쳐(20)와 체결수단 사이의 수평이동 마찰력을 최소화하기 위하여, 일측에는 상기 픽스쳐(20)의 하부면을 지지하는 볼(53)이 구비되고, 타측은 상기 지지판(40)의 하부면에 고정되는 지지구(52)와,Therefore, in the third embodiment of the present invention, in order to minimize this possibility and minimize the horizontal frictional friction force between the fixture 20 and the fastening means, a ball 53 supporting the lower surface of the fixture 20 is provided on one side. Is provided, the other side and the support 52 is fixed to the lower surface of the support plate 40,

일측은 상기 지지판(40)의 상부면에 고정되고 타측은 상기 피스쳐의 상부면에 밀착되어 상기 픽스쳐(20)가 지지판(40)의 상부로 움직이지 못하도록 하는 고정 편(51)에 의해 상기 픽스쳐(20)와 지지판(40)을 체결하도록 한 것을 특징으로 한다.One side is fixed to the upper surface of the support plate 40 and the other side is in close contact with the upper surface of the fixture to prevent the fixture 20 from moving to the upper portion of the support plate 40 by the fixing piece 51 It characterized in that the fastening plate 20 and the support plate 40.

상기 지지판(40)의 하부면에 고정되어서 픽스쳐(20)를 떠 받치는 지지구(52)는 구름운동하는 볼(53)이 삽입되어 있기 때문에 이 볼(53)의 구름운동에 의해 상부 픽스쳐(20)의 수평운동을 자유롭고 부드럽게 되도록 하는 역할을 하게 된다.The supporter 52 fixed to the lower surface of the support plate 40 to support the fixture 20 has a ball 53 for rolling motion, so the upper fixture 20 is driven by the rolling motion of the ball 53. ) Makes the horizontal movement free and smooth.

제3 실시예의 경우에 픽스쳐(20)가 수평 방향으로 움직일 수 있는 이동 거리는, 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이에 형성된 틈새(t) 간격에 해당하는 거리만큼 이동이 가능해지게 된다.In the case of the third embodiment, the movement distance that the fixture 20 can move in the horizontal direction is moved by the distance corresponding to the gap t formed between the circumferential surface of the space portion 41 and the outer circumferential surface of the fixture 20. This becomes possible.

상기한 본 발명의 상세한 설명은 첨부된 도면에 따른 바람직한 실시형태를 예시적으로 설명한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위는 본 발명의 명세서에서 언급한 실시형태에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어남이 없이 다양한 형태로 변형된 것은 당연히 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.The above detailed description of the present invention is merely illustrative of the preferred embodiments according to the accompanying drawings, the scope of the present invention is not limited to the embodiments mentioned in the specification of the present invention, the technical spirit of the present invention Modifications in various forms without departing from the scope of the present invention will of course be included.

이상에서 설명한 바와 같이, 지그플레이트(10)에 장착된 다수 개의 PCB회로기판(1)을 동시에 검사하는 PCB검사장치에 있어서, 종래에는 상부 픽스쳐(20)가 하나의 프레임(하나의 플레이트)으로 구성되는 일체형이었기 때문에, 지그플레이트(10)에 장착된 어느 하나의 PCB회로기판(1)이 위치변경된 경우에는 해당 회로기판(1)에 대해서는 검사작업이 불가능하였으나,As described above, in the PCB inspection apparatus for simultaneously inspecting a plurality of PCB circuit boards 1 mounted on the jig plate 10, conventionally, the upper fixture 20 is composed of one frame (one plate) Since it was an integral type, when any one of the PCB circuit board 1 mounted on the jig plate 10 has been changed in position, the inspection work on the circuit board 1 was impossible.

본 발명에 의한 PCB검사장치는 상부 픽스쳐(20)를 각각의 검사대상 PCB회로기판(1)에 대응되도록 각각으로 분할하여, 각각의 픽스쳐(20)가 독립적으로 미세하게 수평 움직임이 가능하도록 함으로써, 지그플레이트(10)에 장착된 어느 하나의 PCB회로기판(1)이 위치변경된 경우에 이에 대응되는 상부 픽스쳐(20)만 미세하게 수평으로 움직일 수 있게 함으로써 검사작업의 효율성 제고와 정확한 PCB검사가 가능하다는 장점이 있다.PCB inspection apparatus according to the present invention by dividing the upper fixture 20 to each corresponding to each inspection target PCB circuit board 1, by allowing each fixture 20 to be independently finely horizontal movement, When any one of the PCB circuit board 1 mounted on the jig plate 10 is changed in position, only the upper fixture 20 corresponding to it can be moved finely and horizontally, thus improving the efficiency of inspection work and accurate PCB inspection. Has the advantage.

Claims (4)

삭제delete 테스트 핀(22)과 위치조절핀(21)이 장착된 픽스쳐(20)(Fixture)의 승하강 작동에 의해 지그플레이트(10)에 장착된 다수 개의 회로기판(1)을 검사하는 PCB 검사장치에 있어서,PCB inspection apparatus for inspecting a plurality of circuit boards 1 mounted on the jig plate 10 by the lifting and lowering operation of the fixture 20 equipped with the test pin 22 and the positioning pin 21. In 상기 회로기판(1)에는 상기 위치조절핀(21)에 대응되는 위치결정구멍(2)이 형성되며,The circuit board 1 has a positioning hole 2 corresponding to the positioning pin 21, 상기 픽스쳐(20)(Fixture)를 각 PCB회로기판(1)에 대응되도록 다수 개로 분할하고, 이 분할된 픽스쳐(20)들을 고정하기 위한 지지판(40)을 구비하여 구성하되, The fixture 20 is divided into a plurality of pieces to correspond to each PCB circuit board 1, and is provided with a support plate 40 for fixing the divided fixtures 20, 상기 지지판(40)에는 상기 픽스쳐(20)의 외형 크기보다 더 크게 공간부(41)가 형성되어, 이 공간부(41) 내에 테스트 핀(22)과 위치조절핀(21)들이 위치되고, 상기 픽스쳐(20)의 가장자리는 지지판(40) 위에 얹혀지게 구성되며, 상기 지지판(40)과 각 픽스쳐(20)를 관통하는 2개 이상의 관통공이 형성되며,The support plate 40 is formed with a space portion 41 larger than the outer size of the fixture 20, the test pin 22 and the positioning pins 21 are located in the space portion 41, An edge of the fixture 20 is configured to be mounted on the support plate 40, and two or more through holes penetrating the support plate 40 and each fixture 20 are formed. 상기 지지판(40)과 픽스쳐(20)를 관통하는 관통공에 삽입되어 상기한 각 상부 픽스쳐(20)가 지지판(40)에 대하여 수평방향으로 이동을 허용하는 결합수단으로서 체결볼트(50)가 구비되며,The fastening bolt 50 is provided as a coupling means inserted into the through-hole penetrating the support plate 40 and the fixture 20 to allow the upper fixture 20 to move in the horizontal direction with respect to the support plate 40. , 상기 픽스쳐(20)에 형성된 관통공의 직경은 상기 체결볼트(50)의 외경보다 더 크게 형성되어 구성되는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치.PCB inspection apparatus, characterized in that the diameter of the through-hole formed in the fixture 20 is formed larger than the outer diameter of the fastening bolt (50). 테스트 핀(22)과 위치조절핀(21)이 장착된 픽스쳐(20)(Fixture)의 승하강 작동에 의해 지그플레이트(10)에 장착된 다수 개의 회로기판(1)을 검사하는 PCB 검사장치에 있어서,PCB inspection apparatus for inspecting a plurality of circuit boards 1 mounted on the jig plate 10 by the lifting and lowering operation of the fixture 20 equipped with the test pin 22 and the positioning pin 21. In 상기 회로기판(1)에는 상기 위치조절핀(21)에 대응되는 위치결정구멍(2)이 형성되며,The circuit board 1 has a positioning hole 2 corresponding to the positioning pin 21, 상기 픽스쳐(20)(Fixture)를 각 PCB회로기판(1)에 대응되도록 다수 개로 분할하고, 이 분할된 픽스쳐(20)들을 고정하기 위한 지지판(40)을 구비하여 구성하되, The fixture 20 is divided into a plurality of pieces to correspond to each PCB circuit board 1, and is provided with a support plate 40 for fixing the divided fixtures 20, 상기 지지판(40)에는 상기 픽스쳐(20)의 외형 크기보다 더 크게 공간부(41)를 형성하여 이 공간부(41) 내에 상기 픽스쳐(20)가 삽입될 수 있도록 하여, 상기 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이에 틈새가 형성되도록 구성하며,The space portion 41 is formed in the support plate 40 to allow the fixture 20 to be inserted into the space portion 41 so as to form a space portion 41 larger than the outer size of the fixture 20. Is configured to form a gap between the circumferential surface of the and the outer peripheral surface of the fixture 20, 상기 틈새 사이에 삽입되어 지지판(40)에 대해 각 상부 픽스쳐(20)가 수평방향으로 이동 가능한 상태로 결합시키는 결합수단으로서 체결볼트(50)가 구비되며,A fastening bolt 50 is provided as a coupling means inserted between the gaps to couple the upper fixtures 20 to the support plate 40 in a horizontally movable state. 상기 틈새의 거리는 상기 체결볼트(50)의 외경보다 더 크게 형성되어 구성되는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치.PCB clearance device, characterized in that the gap is formed larger than the outer diameter of the fastening bolt (50). 테스트 핀(22)과 위치조절핀(21)이 장착된 픽스쳐(20)(Fixture)의 승하강 작동에 의해 지그플레이트(10)에 장착된 다수 개의 회로기판(1)을 검사하는 PCB 검사장치에 있어서,PCB inspection apparatus for inspecting a plurality of circuit boards 1 mounted on the jig plate 10 by the lifting and lowering operation of the fixture 20 equipped with the test pin 22 and the positioning pin 21. In 상기 회로기판(1)에는 상기 위치조절핀(21)에 대응되는 위치결정구멍(2)이 형성되며,The circuit board 1 has a positioning hole 2 corresponding to the positioning pin 21, 상기 픽스쳐(20)(Fixture)를 각 PCB회로기판(1)에 대응되도록 다수 개로 분할하고, 이 분할된 픽스쳐(20)들을 고정하기 위한 지지판(40)을 구비하여 구성하되,The fixture 20 is divided into a plurality of pieces to correspond to each PCB circuit board 1, and is provided with a support plate 40 for fixing the divided fixtures 20, 상기 지지판(40)에는 상기 픽스쳐(20)의 외형 크기보다 더 크게 공간부(41)를 형성하여 이 공간부(41) 내에 상기 픽스쳐(20)가 삽입될 수 있도록 하여, 상기 공간부(41)의 둘레면과 상기 픽스쳐(20)의 외주면 사이에 틈새가 형성되도록 구성하며,The space portion 41 is formed in the support plate 40 to allow the fixture 20 to be inserted into the space portion 41 so as to form a space portion 41 larger than the outer size of the fixture 20. Is configured to form a gap between the circumferential surface of the and the outer peripheral surface of the fixture 20, 일측에는 상기 픽스쳐(20)의 하부면을 지지하는 볼(53)이 구비되고 타측은 상기 지지판(40)의 하부면에 고정되는 지지구(52)와, 일측은 상기 지지판(40)의 상부면에 고정되고 타측은 상기 피스쳐의 상부면에 밀착되어 상기 픽스쳐(20)가 지지판(40)의 상부로 움직이지 못하도록 하는 고정편(51)으로 구성되는 결합수단을 갖는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치.One side is provided with a ball 53 for supporting the lower surface of the fixture 20, the other side is the support 52 is fixed to the lower surface of the support plate 40, and one side is the upper surface of the support plate 40 Is fixed to the other side is in close contact with the upper surface of the fixture having a coupling means consisting of a fixing piece 51 to prevent the fixture 20 from moving to the top of the support plate 40 .
KR1020070004289A 2007-01-15 2007-01-15 PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually KR100853766B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070004289A KR100853766B1 (en) 2007-01-15 2007-01-15 PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070004289A KR100853766B1 (en) 2007-01-15 2007-01-15 PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080067110A KR20080067110A (en) 2008-07-18
KR100853766B1 true KR100853766B1 (en) 2008-08-25

Family

ID=39821490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070004289A KR100853766B1 (en) 2007-01-15 2007-01-15 PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100853766B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104535914A (en) * 2014-11-05 2015-04-22 中山市智牛电子有限公司 Tester for buffer protection circuit board
KR20230132652A (en) 2022-03-08 2023-09-18 경남대학교 산학협력단 Testing method for PCB
KR20230132651A (en) 2022-03-08 2023-09-18 경남대학교 산학협력단 Testing apparatus for PCB

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101645088B1 (en) 2014-07-10 2016-08-02 김연성 A prefabricated Boat
KR101981653B1 (en) 2018-06-29 2019-05-24 한국알프스 주식회사 PCB test apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030041908A (en) * 2003-04-15 2003-05-27 (주) 세이켄코리아 Universal test jig, test unit for printed circuit board and cassette for test jig

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030041908A (en) * 2003-04-15 2003-05-27 (주) 세이켄코리아 Universal test jig, test unit for printed circuit board and cassette for test jig

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104535914A (en) * 2014-11-05 2015-04-22 中山市智牛电子有限公司 Tester for buffer protection circuit board
KR20230132652A (en) 2022-03-08 2023-09-18 경남대학교 산학협력단 Testing method for PCB
KR20230132651A (en) 2022-03-08 2023-09-18 경남대학교 산학협력단 Testing apparatus for PCB

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080067110A (en) 2008-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5572144A (en) Test jig and method for probing a printed circuit board
KR100853766B1 (en) PCB Tester which having devided fixtures in order to move individually
JPH07209386A (en) Tester and method for printed circuit board
JP2007158345A (en) Electric inspection apparatus for inspecting electric component to be inspected, and method for inspecting same
WO2006030573A1 (en) Circuit board inspecting apparatus
JPH10501331A (en) Printed circuit board test set having test adapter and method of setting the adapter
KR20200007659A (en) Circuit device, tester, inspection device, and method of adjusting bending of circuit board
JPH1164426A (en) Inspection device of printed circuit board and assembly kit of inspection device of printed circuit board
KR100582925B1 (en) Jig for testing of printed circuit board
US20070103179A1 (en) Socket base adaptable to a load board for testing ic
KR101623566B1 (en) Jig for PCB inspection and assembling method thereof
KR100995811B1 (en) Probe unit being capable of delicate adjustment of probe
KR101722403B1 (en) the pin block with adjustable pitch control
JP6721302B2 (en) Double-sided circuit board inspection device
US6896546B2 (en) Method for assembling semiconductor device socket
KR101689478B1 (en) Printed circuit board testing jig
KR101539006B1 (en) PCB(Printed Circuit Board) test device
JP2004061264A (en) In-circuit tester and method for testing printed board
KR100906345B1 (en) Probe card of semiconductor device test apparatus and method for positioning correction of probe block in the probe card
KR101511175B1 (en) position adjustable pin block
KR101250306B1 (en) Probe card
KR101230626B1 (en) Socket for inspecting an electromagnetic module chip
KR101656047B1 (en) Jig for Circuit Board Inspection
KR101410991B1 (en) Jig
KR20130064402A (en) Cis probe card

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120820

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130816

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140818

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150612

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160617

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180820

Year of fee payment: 11